JPH057748B2 - - Google Patents

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JPH057748B2
JPH057748B2 JP5102583A JP5102583A JPH057748B2 JP H057748 B2 JPH057748 B2 JP H057748B2 JP 5102583 A JP5102583 A JP 5102583A JP 5102583 A JP5102583 A JP 5102583A JP H057748 B2 JPH057748 B2 JP H057748B2
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JP
Japan
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mask
singular point
image
singular
point
Prior art date
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Application number
JP5102583A
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Japanese (ja)
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JPS59176878A (en
Inventor
Hiroshi Ito
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
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Publication of JPH057748B2 publication Critical patent/JPH057748B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 <発明の技術分野> 本発明は、例えば小切手等に押された印鑑の真
偽を判別する場合において、小切手から印影を読
み取つて画像化し、印影画像から輪郭線が急峻に
変化する点(以下特異点という)を抽出して、印
影等の照合処理を実行する画像の特異点抽出方法
に関する。
[Detailed Description of the Invention] <Technical Field of the Invention> The present invention, for example, when determining the authenticity of a seal stamped on a check, etc., reads the stamp imprint from the check and converts it into an image, and detects a steep outline from the stamp image. The present invention relates to a method for extracting a singular point of an image, which extracts a point that changes to a specific point (hereinafter referred to as a singular point) and performs a matching process for a seal imprint or the like.

<発明の背景> 従来この種特異点抽出方法は、例えば印影を画
像化した後、画像全体につき印影の輪郭線をデー
タ抽出し、然る後輪郭線をデータ追跡することに
より、輪郭線が急峻に変化する部分を検出して、
これを特異点としている。これがため特異点の抽
出処理が複雑化して、処理効率が悪く、またメモ
リの大容量化を招く等の不利があつた。
<Background of the Invention> Conventionally, this type of singularity extraction method has been used, for example, to image a seal imprint, extract data on the contour line of the seal imprint from the entire image, and then trace the contour line with data, so that the contour line is sharp. Detect the part that changes to
This is considered a singularity. This has resulted in disadvantages such as the complexity of singular point extraction processing, poor processing efficiency, and increased memory capacity.

そこで発明者は、画像化された図形に対し、矩
形状視野をもつマスクを設定して画面を走査する
と共に、マスクの4辺を走査して、マスクの1辺
のみまたは隣接する2辺のみと交叉する画像の部
分パターンを検出した後、マスクの視野内の部分
パターンにつき条件判定を行つて特異点の存在を
認定し、然る後、特異点の存在位置を算出する特
異点抽出方法を開発した。
Therefore, the inventor scanned the screen by setting a mask with a rectangular field of view for the imaged figure, and also scanned the four sides of the mask to detect only one side of the mask or only two adjacent sides. After detecting intersecting partial patterns of images, we have developed a singular point extraction method that determines the existence of singular points by making conditional judgments on the partial patterns within the field of view of the mask, and then calculates the location of the singular points. did.

この方法によれば、画像全体の輪郭線を抽出す
る必要がなく、また輪郭線上をデータ追跡してゆ
く必要もないから、特異点抽出処理が簡略化さ
れ、処理効率の向上、メモリ容量の節減を実現で
きる。ところがこの方法において、マスク内に着
目する字画部分の他に周辺の字画部分が含まれる
ことがある。かかる場合には字画部分がマスクの
多数辺と交叉することになつて、特異点の抽出が
不能となり、これがため、特異点の抽出数が少な
く、印鑑等の照合精度が低下する不利があつた。
According to this method, there is no need to extract the contour line of the entire image, and there is no need to track data on the contour line, so the singular point extraction process is simplified, processing efficiency is improved, and memory capacity is saved. can be realized. However, in this method, in addition to the stroke of interest, peripheral strokes may be included in the mask. In such a case, the stroke portion intersects with many sides of the mask, making it impossible to extract singular points, which has the disadvantage of reducing the number of singular points extracted and lowering the accuracy of matching seals, etc. .

<発明の目的> 本発明は、矩形状マスクを用いた特異点の抽出
方法に更に改良を加えて、特異点の抽出数を増す
ことによつて、特異点抽出処理の効率向上並びに
メモリ容量の節減を実現すると共に、印鑑等の照
合精度を向上させた画像の特異点抽出方法を提供
することを目的とする。
<Objective of the Invention> The present invention improves the singular point extraction method using a rectangular mask and increases the number of singular points extracted, thereby improving the efficiency of singular point extraction processing and reducing memory capacity. It is an object of the present invention to provide a method for extracting singular points in images that achieves savings and improves the accuracy of matching seal stamps and the like.

<発明の構成および効果> 上記目的を達成するため、本発明では、対象物
の画像を矩形状視野をもつ大マスクおよび大マス
クの視野内に含まれる矩形状視野をもつ小マスク
により走査しつつ各走査位置で大マスクおよび小
マスクの小なくとも一方の4辺を走査することに
より、いずれかマスクの1辺のみまたは隣接する
2辺のみと交叉する前記画像の部分パターンを検
出したとき、そのマスク内の部分パターンに特異
点が存在するものと推定する推定工程と、前記推
定工程で特異点の存在が推定されたとき、前記マ
スク内の部分パターンよりその部分パターンの形
状的特徴を表す所定のパラメータを計測してその
計測値から特異点の存在を認定するための条件判
定を行う条件判定工程と、前記条件判定工程で特
異点の存在が認定されたとき、特異点の位置を計
測する位置計測工程とを一連に実施して画像の特
異点を抽出するようにした。
<Configuration and Effects of the Invention> In order to achieve the above object, the present invention scans an image of an object using a large mask having a rectangular field of view and a small mask having a rectangular field of view included within the field of view of the large mask. By scanning at least one of the four sides of the large mask and the small mask at each scanning position, when a partial pattern of the image that intersects only one side or only two adjacent sides of either mask is detected, an estimation step of estimating that a singular point exists in a partial pattern within the mask; and when the existence of a singular point is estimated in the estimation step, a predetermined method that represents a shape feature of the partial pattern from a partial pattern within the mask; a condition determination step in which a condition is determined to determine the existence of a singular point based on the measured parameters by measuring the parameters of the parameter, and when the existence of a singular point is determined in the condition determination step, the position of the singular point is measured. A series of position measurement steps were performed to extract singular points in the image.

本発明によれば、画像全体の輪郭線をデータ抽
出する旧来の方式に比較して、特異点抽出処理が
簡略化され、処理効率の向上、メモリ容量の節減
を実現し得ると共に、特異点の抽出数減少による
印鑑等の照合精度の低下を防止できる等、発明目
的を達成した優れた効果を奏する。
According to the present invention, compared to the conventional method of extracting data from the outline of the entire image, the singular point extraction process is simplified, processing efficiency is improved, memory capacity is reduced, and the singular point extraction process is simplified. This invention achieves the excellent effects of achieving the purpose of the invention, such as being able to prevent a decline in the verification accuracy of seals, etc. due to a decrease in the number of extractions.

<実施例の説明> 第1図は、小切手に押された印鑑が真正印鑑
か、偽造印鑑かを判別する装置例を示している。
<Description of Embodiments> FIG. 1 shows an example of a device for determining whether a stamp stamped on a check is a genuine stamp or a counterfeit stamp.

図示例の装置は、ケース10内に収容した複数
枚の小切手1を最下部より1枚づつ取り出して、
搬送ベルト11上へ送り出す。
The illustrated device takes out a plurality of checks 1 stored in a case 10 one by one from the bottom, and
It is sent onto the conveyor belt 11.

各小切手1は、その搬送途中において、小切手
に押された印影がチエツクされ、搬送路下流の振
分け装置2が判別結果に基づき、真正印鑑が使用
された小切手、偽造印鑑が使用された小切手およ
び、判別不能な小切手の3種に振り分け、夫々回
収ケース21,22,23へ送り込む。
During transportation, each check 1 is checked for the stamp imprinted on the check, and a sorting device 2 downstream of the transportation path determines whether a genuine stamp was used, a check with a counterfeit stamp, or a check with a fake stamp. The checks are sorted into three types of unidentifiable checks and sent to collection cases 21, 22, and 23, respectively.

前記の搬送路途中には、小切手1に印字された
コード番号を光学的若しくは磁気的方法にて読み
取る読取装置50と、小切手1に押印された印影
を画像化するカメラ装置3とが配備してあり、読
取装置50の出力は外部メモリ5へ、またカメラ
装置3の出力は画像プロセツサ4へ、夫々データ
バス40を介して送られる。前記外部メモリ5に
は、複数個の参照印影が格納されており、読取装
置50で読み取られたコード番号に基づき、対応
する参照印影の画像データが取り出されて、画像
プロセツサ4へ送られる。
A reading device 50 that reads the code number printed on the check 1 using an optical or magnetic method, and a camera device 3 that images the stamp imprinted on the check 1 are installed along the conveyance path. The output of the reading device 50 is sent to the external memory 5, and the output of the camera device 3 is sent to the image processor 4 via the data bus 40, respectively. The external memory 5 stores a plurality of reference seal impressions, and based on the code number read by the reading device 50, the image data of the corresponding reference seal impression is extracted and sent to the image processor 4.

前記カメラ装置3は、第2図に示す如く、読取
ラインセンサ31と二値化回路32とを含み、読
取ラインセンサ31は被照合印影を画像化し、こ
の印影画像を行毎に走査することにより画像構成
に応じた光信号を取り出すと共に、この光信号を
光電変換してアナログ量の画像信号i1を出力す
る。また二値化回路32は、画像信号を二値化
し、この二値信号i2を列対応のビツトシリアルに
データパス40を介して画像プロセツサ4へ送出
する。図中発振器33は、読取ライシセンサ31
に読出しパルスを供給すると共に、現信号のポイ
ント座標を計算するためのX軸座標カウンタ34
にクロツクパルスを供給する。更にこのX軸座標
カウンタ34からは桁上げ信号i3が出力され、こ
の桁上げ信号i3はY軸座標を計算するためのY軸
座標カウンタ35に供給され、これらX軸座標カ
ウンタ34およびY軸座標カウンタ35の各出力
は、データパス40を介して画像プロセツサ4に
入力される。
The camera device 3 includes a reading line sensor 31 and a binarization circuit 32, as shown in FIG. An optical signal corresponding to the image configuration is extracted, and this optical signal is photoelectrically converted to output an analog image signal i1 . Further, the binarization circuit 32 binarizes the image signal and sends this binary signal i2 to the image processor 4 via the data path 40 in a bit serial format corresponding to columns. In the figure, the oscillator 33 is the reading sensor 31.
an X-axis coordinate counter 34 for supplying readout pulses and calculating point coordinates of the current signal;
Supplies clock pulses to Furthermore, a carry signal i3 is output from this X-axis coordinate counter 34, and this carry signal i3 is supplied to a Y-axis coordinate counter 35 for calculating the Y-axis coordinate, and these X-axis coordinate counters 34 and Y Each output of the axis coordinate counter 35 is input to the image processor 4 via a data path 40.

画像プロセツサ4は、第6図および第7図に示
す特異点抽出用プログラム、更には印影の照合や
真偽判別に必要な各種プログラムを格納するプロ
グラムメモリ41と、印影画像をXY座標と対応
させて特定するためのデータをストアするエリア
A(第10図に示す)、後記するマスクのサイズや
各辺の座標に関するデータをストアするエリア
B,Cおよび、特異点に関するデータをストアす
るエリアD,Eを有する画像メモリ43と、画像
メモリ43よりデータを読み出しプログラムを解
読実行して特異点抽出更には印影照合にかかる各
種演算や一連の処理を制御する演算制御部42
(以下単にCPUという)とから構成され、CPU4
3は更に印鑑の真偽判別結果に基づき、出力機器
24を介して前記振分け装置2へ制御命令を下
す。
The image processor 4 has a program memory 41 that stores the singular point extraction program shown in FIGS. 6 and 7, as well as various programs necessary for collating seal impressions and determining authenticity. Area A (shown in Figure 10) stores data for specifying the mask, areas B and C store data related to the size of the mask and the coordinates of each side, and area D stores data related to singular points. an image memory 43 having E, and an arithmetic control unit 42 that reads data from the image memory 43, decodes and executes a program, extracts singular points, and controls various operations and a series of processes related to seal imprint verification.
(hereinafter simply referred to as CPU), consists of CPU4
3 further issues a control command to the sorting device 2 via the output device 24 based on the result of determining the authenticity of the seal.

第3図は特異点抽出方法の一例を示すもので、
本考案は印影画像を含む画面60上に縦Aビツ
ト、横Bビツトの矩形状視野をもつ大マスク6A
と、大マスク6Aの視野内に含まれる縦aビツト
(a<A)、横bビツト(b<B)の矩形状視野を
もつ小マスク6Bを設定し、両マスク6A,6B
を一体に横方向へ走査してゆき、走査過程におい
て、第4図1,2に示す如く、いずれかマスクの
視野内に特異点を有する字画部分7が含まれたと
き、マスク内を走査して特異点の存在位置を検出
するようにしたものである。
Figure 3 shows an example of the singular point extraction method.
The present invention has a large mask 6A having a rectangular field of view of A bits vertically and B bits horizontally on the screen 60 containing the seal image.
Then, a small mask 6B with a rectangular visual field of vertical a bits (a<A) and horizontal b bits (b<B) included in the visual field of the large mask 6A is set, and both masks 6A, 6B are
are scanned together in the horizontal direction, and during the scanning process, as shown in FIG. The position of the singular point is detected using the method.

第5図はマスク内に含まれた特異点Pを有する
字画部分7がパターン例を示し、第5図1〜4に
示す第1〜第4のパターンは特異点Pが字画部分
7の右端、下端、左端、上端に夫々存在位置し、
第5図5〜8に示す第5〜第8のパターンは字画
部分7の右下端、左下端、左上端、右上端に夫々
存在位置する。
FIG. 5 shows an example of a pattern in which a stroke portion 7 having a singular point P included in the mask is used. In the first to fourth patterns shown in FIGS. 1 to 4, the singular point P is at the right end of the stroke portion 7. Located at the bottom, left, and top, respectively.
The fifth to eighth patterns shown in FIGS. 5 to 8 are located at the lower right end, lower left end, upper left end, and upper right end of the stroke portion 7, respectively.

上記の各パターンにおいて、第1〜第4のパタ
ーンは字画部分7がマスクの1辺のみと交叉し、
第5〜第8のパターンは字画部分7がマスクの隣
接する2辺のみと交叉している。
In each of the above patterns, in the first to fourth patterns, the stroke portion 7 intersects only one side of the mask,
In the fifth to eighth patterns, the stroke portion 7 intersects only two adjacent sides of the mask.

第6図および第7図は特異点抽出動作の具体例
を示す。
FIGS. 6 and 7 show specific examples of singular point extraction operations.

まず第6図のステツプ80において、前記大マス
ク6Aおよび小マスク6Bの視野サイズ等、各種
初期値が画像メモリ43のエリアA等に設定され
た後、ステツプ81で小マスク6Bを含む大マスク
6A(以下単に大マスク6Aという)が画面60
上を1列分走査したか否かをチエツクする。図示
例の場合、CPU42内のメモリエリア44(第
9図に示す)に列カウンタMを設定し、列カウン
タMの内容が設定値mに達したか否かを判定する
ことにより、画面1列分の走査完了を判断してい
る。この場合、ステツプ81の判定は“NO”であ
るから、ステツプ82へ進み、つぎに横フラグFH
がセツト済か否かをチエツクする。この横フラグ
FHは、マスク内に第1〜第8のいずれかパター
ンが含まれたときにセツトされるフラグであり、
この場合、ステツプ82の「FH=1」の判定は
“NO”となつて、ステツプ83へ進み、大マスク
6Aが1 2マスク分(1/2Bビツト)横移動し、更
にステツプ84で列カウンタMの内容が1加算され
る。
First, in step 80 of FIG. 6, various initial values such as the field of view size of the large mask 6A and the small mask 6B are set in area A of the image memory 43, and then in step 81, the large mask 6A including the small mask 6B is set. (hereinafter simply referred to as large mask 6A) is screen 60
Check whether the top has been scanned one column. In the illustrated example, by setting a column counter M in the memory area 44 (shown in FIG. 9) in the CPU 42 and determining whether or not the contents of the column counter M have reached the set value m, one column on the screen is It is determined that the scan for the minute has been completed. In this case, since the determination at step 81 is "NO", the process advances to step 82, where the horizontal flag F H
Check whether it has been set. This horizontal flag
FH is a flag that is set when any of the first to eighth patterns is included in the mask,
In this case, the determination of "F H = 1" in step 82 is "NO", and the process proceeds to step 83, where the large mask 6A is moved laterally by 12 masks (1/2B bits), and further in step 84, it is moved horizontally. The contents of counter M are incremented by 1.

つぎのステツプ85は大マスク6Aが画面60上
の全行に亘る走査を完了したか否かをチエツクす
るものであり、図示例の場合、メモリエリア44
内に設定された行カウンタNの内容が設定値nに
達したか否かをもつて判断する。この場合ステツ
プ85の判定は“NO”であるから、ステツプ86
へ進み、大マスク6A内に第1〜第8のいずれか
パターンが含まれているが否かの判断処理に移
る。この処理は、まず大マスク6Aの各辺を順次
走査し、第11図1に示す如く、4辺の内1辺ま
たは隣接する2辺にのみ印影の構成点(以下「黒
画素」と称する)が存在する場合に、マスク6A
内に特異点を有する字画部分7が含まれていると
推定する。そしてこの条件を充足するとき、ステ
ツプ876判定が“YES”となり、ステツプ90へ進
む。一方第11図2に示す如く、大マスク6A内
に着目する字画部分7の他の周辺の字画部分7
0,71が含まれ、これがため大マスク6Aの4
辺の内、3辺に印影の構成点が存在するような場
合には、ステツプ87の判定が“NO”となり、ス
テツプ88へ進み、つぎに小マスク6Bの各辺を順
次走査する。そして小マスク6Bの4辺の内、1
辺または隣接する2辺にのみ印影の構成点が存在
する場合には、ステツプ89の判定が“YES”と
なり、ステツプ90へ進む。
The next step 85 is to check whether the large mask 6A has completed scanning all the lines on the screen 60.
A judgment is made based on whether the contents of the row counter N set within have reached the set value n. In this case, the determination at step 85 is "NO", so step 86 is performed.
The process then proceeds to a process of determining whether any of the first to eighth patterns is included in the large mask 6A. In this process, first, each side of the large mask 6A is sequentially scanned, and as shown in FIG. is present, mask 6A
It is estimated that a stroke portion 7 having a singular point is included within the stroke. When this condition is satisfied, the determination in step 876 becomes "YES" and the process proceeds to step 90. On the other hand, as shown in FIG. 11, other stroke portions 7 around the stroke portion 7 of interest within the large mask 6A.
0,71 is included, which is why the large mask 6A 4
If there are constituent points of the seal impression on three of the sides, the determination at step 87 is "NO" and the process proceeds to step 88, where each side of the small mask 6B is sequentially scanned. And one of the four sides of the small mask 6B
If the constituent points of the seal impression exist only on the side or two adjacent sides, the determination at step 89 becomes "YES" and the process proceeds to step 90.

尚ステツプ87、89の何れもが“NO”の判定の
場合、ステツプ81へ戻り、同様の操作が繰り返し
実行される。そして画面1列分の走査が完了する
と、列カウンタMの内容が設定値mに達して、ス
テツプ81の判定が“YES”となり、ステツプ92
へ進み、つぎに縦フラグFvがセツトされている
か否かをチエツクする。この縦フラグFvは、各
行の走査において、特異点Pが抽出されたときに
セツトされるフラグであり、ステツプ92の「Fv
=1」の判定が“NO”の場合、ステツプ93へ進
み、大マスク6Aが1/2マスク分(1/2Aビツト)
縦移動し、更にステツプ94で行カウンタNの内容
が1加算される。
If the determination in both steps 87 and 89 is "NO", the process returns to step 81 and the same operation is repeated. When scanning for one column of the screen is completed, the content of the column counter M reaches the set value m, the determination in step 81 becomes "YES", and the process proceeds to step 92.
Next, it is checked whether the vertical flag Fv is set. This vertical flag Fv is a flag that is set when a singular point P is extracted in scanning each row, and is set as "Fv " in step 92.
= 1” is “NO”, proceed to step 93, and large mask 6A is used for 1/2 mask (1/2A bit).
After vertical movement, the contents of the row counter N are incremented by 1 in step 94.

上記大マスク6Aの走査過程において、ステツ
プ87またはステツプ89のいずれか判定が“YES”
となつて、いずれかマスク6A,6B内に特異点
を有する字画部分が存在する可能性があると判断
されたとき、ステツプ90へ進み、特異点としての
条件を充足すれば、その特異点の座標データを算
出し、更につぎのステツプ91で横フラグFHおよ
び縦フラグFvが夫々セツトされる。これにより
ステツプ82の「FH=1」の判定が“YES”とな
り、ステツプ95で横フラグFHがクリアされた後、
ステツプ96で大マスク6Aは1マスク分(bビツ
ト)横移動し、ステツプ97で列カウンタMの内容
が2加算される。かかるステツプ96、97の処理
は、各マスク6A,6Bが同一の特異点を2度抽
出しないことを考慮したものである。また前記ス
テツプ91で縦フラグFvがツトされているから、
走査がつぎの行へ進む際ステツプ92の「Fv=1」
の判定が“YES”となり、同様の趣旨から、ス
テツプ98で縦フラグFvをクリアした後、ステツ
プ99で大マスク6Aを1マスク分(Aビツト)縦
移動し、ステツプ100で列カウンタNの内容を2
加算する。
In the scanning process of the large mask 6A, the judgment in either step 87 or step 89 is "YES".
Therefore, when it is determined that there is a possibility that there is a stroke part with a singular point in either mask 6A or 6B, the process proceeds to step 90, and if the conditions for a singular point are satisfied, that singular point is detected. After calculating the coordinate data, in the next step 91, a horizontal flag F H and a vertical flag F v are respectively set. As a result, the determination of "F H = 1" in step 82 becomes "YES", and after the horizontal flag F H is cleared in step 95,
In step 96, the large mask 6A is moved laterally by one mask (b bits), and in step 97, the contents of the column counter M are incremented by two. The processing in steps 96 and 97 takes into consideration that each mask 6A and 6B does not extract the same singular point twice. Also, since the vertical flag Fv is turned off in step 91,
"F v = 1" in step 92 when scanning advances to the next row
The result is "YES", and for the same purpose, after clearing the vertical flag Fv in step 98, the large mask 6A is moved vertically by one mask (A bit) in step 99, and the column counter N is cleared in step 100. Contents 2
to add.

第7図のフローチヤートは特異点抽出動作の詳
細を示す。まずステツプ110において、第4図
1,2に示す如く、字画部分7を含むマスク6A
(6B)の1辺若しくは隣接2辺につき、両端に
位置する黒画素の点Q,Rを検出した後、線分
QR間の長さSを算出する。つぎのステツプ111
は長さSと設定値THとを比較するものであり、
「S×TH」の条件を充足するとき、ステツプ111
が“YES”となつて、つぎのステツプ112へ進
み、線分QRの中心点Cの相対座標(x0,y0)を
算出する。一方ステツプ111の条件を充足しない
とき、その判定が“NO”となり、特異点存在せ
ずとして特異点抽出動作を終了する。ついでステ
ツプ113において、字画部分7の各輪郭点の相対
的座標を(xi,yi)(但しi=1、2、……、n)
とすると、中心点Cから各輪郭点までの距離diを
次式をもつて算出して、画像メモリ43のエリア
Eへストアする。
The flowchart in FIG. 7 shows details of the singular point extraction operation. First, in step 110, as shown in FIG.
After detecting black pixel points Q and R located at both ends of one side or two adjacent sides of (6B), line segment
Calculate the length S between QRs. Next step 111
compares the length S and the set value T H ,
When the condition of “S × T H ” is satisfied, step 111
becomes "YES" and the process proceeds to the next step 112, where the relative coordinates (x 0 , y 0 ) of the center point C of the line segment QR are calculated. On the other hand, when the condition of step 111 is not satisfied, the determination becomes "NO", and the singular point extraction operation is terminated, assuming that no singular point exists. Next, in step 113, the relative coordinates of each contour point of the stroke portion 7 are determined as (xi, yi) (where i = 1, 2, ..., n).
Then, the distance di from the center point C to each contour point is calculated using the following equation and stored in area E of the image memory 43.

つぎにステツプ114において、上記の各距離値
中、その最大値Tを抽出し、つぎのステツプ115
において、T/S値と設定値TH2とを比較する。そ
してステツプ115の「T/S〉TH22」の判定が
“NO”のとき、特異点存在せずとして特異点抽
出動作を完了し、一方ステツプ115の判定が
“YES”のとき、ステツプ116へ進み、最大値T
にかかる輪郭点を特異点Pとして、マスク6A
(6B)内の相対的座標を算出する(ステツプ
116)。今特異点Pの相対的座標を(xi,yi)とす
ると、つぎのステツプ117ではこの相対座標を画
面60における絶対座標(Xi,Yi)に変換する。
この絶対座標(Xi,Yi)は画面60上における
マスク6A(6B)の始端点Z(第8図に示す)の
絶対座標を(i,j)、画面60の原点0の絶対
座標を(1,1)とすると、次式で与えられる。
Next, in step 114, the maximum value T is extracted from among the above distance values, and in the next step 115, the maximum value T is extracted.
, the T/S value and the set value T H2 are compared. When the determination of "T/S>T H22 " in step 115 is "NO", the singular point extraction operation is completed assuming that no singular point exists; on the other hand, when the determination in step 115 is "YES", the process proceeds to step 116. advance, maximum value T
The contour point on the mask 6A is defined as the singular point P.
Calculate the relative coordinates in (6B) (step
116). Now, assuming that the relative coordinates of the singular point P are (xi, yi), in the next step 117, these relative coordinates are converted into absolute coordinates (Xi, Yi) on the screen 60.
These absolute coordinates (Xi, Yi) are the absolute coordinates of the starting point Z (shown in FIG. 8) of the mask 6A (6B) on the screen 60 (i, j), and the absolute coordinates of the origin 0 of the screen 60 (1 , 1), it is given by the following equation.

Xi=i+xi−1 Yi=j+y−1 上記の演算によつて、特異点Pの絶対座標が算
出され、かかる座標データは画像メモリ43のエ
リアDへストアされる。
Xi=i+xi-1 Yi=j+y-1 By the above calculation, the absolute coordinates of the singular point P are calculated, and this coordinate data is stored in area D of the image memory 43.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は印鑑照合装置の構成を示す説明図、第
2図はカメラ装置の回路ブロツク図、第3図およ
び第4図(1)(2)は特異点抽出方法を示す説明図、第
5図(1)〜(8)はマスク内のパターン例を示す説明
図、第6図および第7図は特異点抽出動作を示す
フローチヤート、第8図は座標変換の原理を示す
説明図、第9図および第10図はメモリ構成を示
す説明図、第11図1,2は本発明にかかる特異
点抽出方法を示す説明図である。 6A……大マスク、6B……小マスク、P……
特異点。
Fig. 1 is an explanatory diagram showing the configuration of the seal verification device, Fig. 2 is a circuit block diagram of the camera device, Figs. 3 and 4 (1) and (2) are explanatory diagrams showing the singular point extraction method, and Fig. 5 Figures (1) to (8) are explanatory diagrams showing examples of patterns within the mask, Figures 6 and 7 are flowcharts showing the singular point extraction operation, Figure 8 is an explanatory diagram showing the principle of coordinate transformation, 9 and 10 are explanatory diagrams showing the memory configuration, and FIGS. 11 and 11 are explanatory diagrams showing the singular point extraction method according to the present invention. 6A...Large mask, 6B...Small mask, P...
Singularity.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 対象物の画像から輪郭線が急峻に変化する点
を特異点として抽出する画像の特異点抽出方法で
あつて、 対象物の画像を矩形状視野をもつ大マスクおよ
び大マスクの視野内に含まれる矩形状視野をもつ
小マスクにより走査しつつ各走査位置で大マスク
および小マスクの少なくとも一方の4辺を走査す
ることにより、いずれかマスクの1辺のみまたは
隣接する2辺のみと交叉する前記画像の部分パタ
ーンを検出したとき、そのマスク内の部分パター
ンに特異点が存在するものと推定する推定工程
と、 前記推定工程で特異点の存在が推定されたと
き、前記マスク内の部分パターンよりその部分パ
ターンの形状的特徴を表す所定のパラメータを計
測してその計測値から特異点の存在を認定するた
めの条件判定を行う条件判定工程と、 前記条件判定工程で特異点の存在が認定された
とき、特異点の位置を計測する位置計測工程とを
一連に実施して画像の特異点を抽出することを特
徴とする画像の特異点抽出方法。
[Claims] 1. An image singularity extraction method for extracting a point where the outline changes sharply from an image of an object as a singularity, which method comprises: By scanning four sides of at least one of the large mask and the small mask at each scanning position while scanning with a small mask having a rectangular field of view included in the field of view of the mask, it is possible to scan only one side of either mask or two adjacent sides. an estimation step of estimating that a singular point exists in the partial pattern within the mask when a partial pattern of the image that intersects only an edge is detected; and when the existence of a singular point is estimated in the estimation step; a condition determination step of measuring a predetermined parameter representing a shape feature of the partial pattern from the partial pattern in the mask, and determining a condition for determining the existence of a singular point from the measured value; 1. A method for extracting a singular point in an image, which comprises extracting a singular point in an image by sequentially performing a position measurement step of measuring the position of the singular point when the existence of the point is recognized.
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