JPH0567914B2 - - Google Patents

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JPH0567914B2
JPH0567914B2 JP28034787A JP28034787A JPH0567914B2 JP H0567914 B2 JPH0567914 B2 JP H0567914B2 JP 28034787 A JP28034787 A JP 28034787A JP 28034787 A JP28034787 A JP 28034787A JP H0567914 B2 JPH0567914 B2 JP H0567914B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sweep
measurement unit
data table
sweep step
step signal
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP28034787A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH01123165A (en
Inventor
Seiichi Sugiura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、コンピユータ支援の計測システムに
おけるアナログスイープ信号出力の際の、スイー
プステツプ信号発生方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for generating a sweep step signal when outputting an analog sweep signal in a computer-assisted measurement system.

[従来の技術] 従来より、アナログ回路で構成された被試験対
象物に電圧あるいは電流を与え、そのときの出力
を測定し、その測定出力から被試験対象物の良否
を判断することのできる、コンピユータ援用の試
験装置がある。
[Prior Art] Conventionally, it has been possible to apply a voltage or current to an object under test composed of an analog circuit, measure the output at that time, and judge whether the object under test is good or bad from the measured output. There is a computer-aided testing device.

この試験装置は、第5図に示すように、ホス
ト・コンピユータを内蔵した主コントローラ51
と、ドライバ52を介して主コントローラ51に
より駆動し制御される計測ユニツト53より構成
される。
As shown in FIG. 5, this test device consists of a main controller 51 containing a host computer.
and a measurement unit 53 that is driven and controlled by a main controller 51 via a driver 52.

計測ユニツト53は、被検査物54にアナログ
電圧あるいは電流を与え、また被検査物からの出
力電圧あるいは出力電流を測定することができる
ようになつている。そしてこの計測ユニツトに
は、第6図に示すような一定の傾きを持つたアナ
ログスイープ電圧を出力する機能があり、このよ
うな出力を発生させる時には通常次のような手続
きを踏んでいる。
The measurement unit 53 is capable of applying an analog voltage or current to the object to be inspected 54 and measuring the output voltage or current from the object to be inspected. This measurement unit has a function of outputting an analog sweep voltage with a constant slope as shown in FIG. 6, and the following procedure is usually followed when generating such an output.

スイープ・スタート電圧からスイープ・エンド
電圧まで一定のスイープ・ステツプ(ΔV)で増
加するテーブルを計測ユニツトに内蔵のデータテ
ーブル上に作成すると共に、これを参照しつつ別
途実行テーブルを作成する。
A table that increases at a constant sweep step (ΔV) from the sweep start voltage to the sweep end voltage is created on the data table built into the measurement unit, and a separate execution table is created by referring to this table.

実行テーブルには、スイープモード、スイープ
スタートのテーブルアドレス、スイープラストの
テーブルアドレス、およびクロツク(これにより
スイープ間隔が定まる)の各値が登録される。
In the execution table, the values of the sweep mode, sweep start table address, sweep last table address, and clock (which determines the sweep interval) are registered.

このような設定の後、計測ユニツトにトリガ命
令を与えると実行テーブルの内容に従つてスイー
プ動作が開始され、アナログスイープ電圧出力が
開始する。
After such settings, when a trigger command is given to the measurement unit, a sweep operation is started according to the contents of the execution table, and analog sweep voltage output is started.

[発明が解決しようとする問題点] このようなスイープ電圧発生方式において、ス
イープの傾き(スイープステツプΔVとスイープ
間隔Δt)の異なるスイープ電圧を発生させる場
合にはそれぞれ別々のテーブルを作成する必要が
ある。
[Problems to be Solved by the Invention] In such a sweep voltage generation method, when generating sweep voltages with different sweep slopes (sweep step ΔV and sweep interval Δt), it is necessary to create separate tables for each. be.

しかしメモリ(データテーブル用のメモリとし
ては例えば8Kワード)の制約上あまり多くのス
イープテーブルを作ることはできず(ステツプ数
の合計がそれぞれ最大8192までという制限があ
る)、また異なる態様のスイープごとに、スイー
プの直前にその都度スイープテーブルを作成する
必要があり、計測シーケンス内でそのようなスイ
ープテーブル作成処理を行う結果、全体としての
計測速度が低下するという欠点がある。
However, due to memory constraints (e.g. 8K words for data table memory), it is not possible to create too many sweep tables (the total number of steps is limited to a maximum of 8192), and Another disadvantage is that it is necessary to create a sweep table each time immediately before a sweep, and as a result of performing such sweep table creation processing within a measurement sequence, the overall measurement speed decreases.

本発明の目的は、このような欠点を解消するも
ので、データテーブルを持つだけで広範囲にわた
る傾きのスイープに対応することができるスイー
プステツプ信号発生方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a sweep step signal generation method capable of handling a wide range of slope sweeps simply by having a data table.

[問題点を解決するための手段] この様な目的を達成するために、本発明では、
計測ユニツトのデータテーブルに基準となる特定
のスイープステツプデータを格納し、 指定されたスイープスタート電圧、スイープエ
ンド電圧、スイープステツプ(ΔV)およびスイ
ープ間隔(Δt)を基に、参照する前記データテ
ーブルのアドレス範囲のトツプとラストおよびク
ロツクを求めて実行テーブルに格納し、 その後トリガ命令が与えられたとき、前記実行
テーブルの各パラメータを基にして前記データテ
ーブルを参照しつつスイープステツプ信号を発生
するようにしたことを特徴とする。
[Means for solving the problems] In order to achieve such an objective, the present invention
Store specific sweep step data as a reference in the data table of the measurement unit, and set the reference data table based on the specified sweep start voltage, sweep end voltage, sweep step (ΔV), and sweep interval (Δt). The top, last, and clock of the address range are determined and stored in an execution table, and then when a trigger command is given, a sweep step signal is generated while referring to the data table based on each parameter in the execution table. It is characterized by the following.

[実施例] 以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。
本発明では、基準となるスイープテーブルを作成
しておき、これを参照して所望のスイープステツ
プ信号を発生するようにしている。スイープテー
ブルを参照する際のステツプ間隔(クロツク)
ΔtおよびスイープステツプΔVは各スイープごと
に決定するが、実際に出力されるスイープステツ
プ信号はその傾斜だけがこのステツプ間隔Δtお
よびスイープステツプΔVに基づいて決定された
ものである。出力信号中の各ステツプ自体は前記
スイープ・テーブルのステツプに基づくものであ
る。
[Example] The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
In the present invention, a reference sweep table is prepared in advance, and a desired sweep step signal is generated by referring to this table. Step interval (clock) when referring to the sweep table
Although Δt and sweep step ΔV are determined for each sweep, only the slope of the sweep step signal that is actually output is determined based on the step interval Δt and sweep step ΔV. Each step in the output signal is itself based on a step in the sweep table.

以下第1図に示すフローを参照して本発明のス
イープステツプ信号発生方法について説明する。
The sweep step signal generation method of the present invention will be explained below with reference to the flow shown in FIG.

まず、データテーブルを作成する。データテー
ブルには、第2図に示すようにアドレス0から
8192までに、−2048から+2047まで1ずつ増加し
てゆく値と、+2047から−2048まで1ずつ減少し
てゆく値とが逸れ逸れ格納される。この値は最終
的な出力電圧値の−1Vから+0.9995Vまでと、+
0.9995Vから−1Vまでそれぞれ対応している。こ
のテーブルの内容は、あらゆるスイープに共通に
使用される基準テーブルであり、一度設定すれば
従来のようにスイープごとに設定変更する必要は
ない。
First, create a data table. The data table starts from address 0 as shown in Figure 2.
By 8192, values that increase by 1 from -2048 to +2047 and values that decrease by 1 from +2047 to -2048 are stored separately. This value ranges from the final output voltage value of -1V to +0.9995V and +
Each corresponds to voltages from 0.9995V to -1V. The contents of this table are a reference table that is commonly used for all sweeps, and once set, there is no need to change the settings for each sweep as in the past.

次にスイープのトツプとラストを決めるスイー
プスタート電圧とスイープエンド電圧、スイープ
ステツプΔVおよびスイープ間隔Δtをそれぞれ設
定する。
Next, set the sweep start voltage and sweep end voltage, which determine the top and last of the sweep, the sweep step ΔV, and the sweep interval Δt.

このスイープスタート電圧とスイープエンド電
圧からデータテーブルの参照すべきアドレス範囲
のトツプとラストを次式により求める。
From the sweep start voltage and sweep end voltage, the top and last addresses of the address range to be referenced in the data table are determined using the following equations.

トツプ=2048×(スイープスタート電圧)/
(レンジのフルスケール値) ラスト=2048×(スイープラスト電圧)/(レ
ンジのフルスケール値) またスイープステツプΔVとスイープ間隔Δtか
ら次式によりクロツクを求める。
Top = 2048 x (sweep start voltage) /
(Full scale value of range) Last = 2048 x (Sweep last voltage) / (Full scale value of range) Also, calculate the clock from the sweep step ΔV and sweep interval Δt using the following formula.

クロツク=Δt/(ΔV/ΔV0 ただし、V0は最小分解能(固定値) (1Vレンジの時は0.49mV) このようにして求めたトツプ、ラストおよびク
ロツクを実行テーブルに格納する。
Clock = Δt/(ΔV/ΔV0 where V0 is the minimum resolution (fixed value) (0.49mV for 1V range) Store the top, last, and clock determined in this way in the execution table.

スイープ実行のためのトリガ命令TRIGを与え
ることにより、前記実行テーブルのパラメータに
基づきスイープが開始され、第3図に示すような
スイープステツプ信号が発生する。
By providing a trigger command TRIG for executing a sweep, a sweep is initiated based on the parameters of the execution table, and a sweep step signal as shown in FIG. 3 is generated.

第4図はこのような本発明の方法を実施する計
測ユニツトの一例を示す構成図である。なお、計
測ユニツト以外は従来の構成として示した第5図
のものと同等である。第4図において、1はデー
タテーブル、2は演算処理回路、3は実行テーブ
ル、4は制御回路、5はデイジタル・アナログ変
換回路である。
FIG. 4 is a block diagram showing an example of a measurement unit that implements the method of the present invention. Note that the configuration other than the measurement unit is the same as that shown in FIG. 5 as a conventional configuration. In FIG. 4, 1 is a data table, 2 is an arithmetic processing circuit, 3 is an execution table, 4 is a control circuit, and 5 is a digital-to-analog conversion circuit.

演算処理回路2は前記トツプ、ラストおよびク
ロツクを求める際に行う演算処理部である。な
お、トツプ、ラストおよびクロツクの演算に必要
なスイープスタート電圧、スイープエンド電圧お
よびスイープ間隔Δtは、主コントローラ側に設
けられたキーボードなどの入力装置からオペレー
タにより入力され、ドライバを経由して計測ユニ
ツトに入力される。
The arithmetic processing circuit 2 is an arithmetic processing section that performs the calculation of the top, last and clock. Note that the sweep start voltage, sweep end voltage, and sweep interval Δt required for top, last, and clock calculations are input by the operator from an input device such as a keyboard installed on the main controller, and are sent to the measurement unit via the driver. is input.

演算処理回路2により求められたトツプ、ラス
トおよびクロツクは制御回路4の制御の下に実行
テーブル3へ格納される。
The top, last and clock determined by the arithmetic processing circuit 2 are stored in the execution table 3 under the control of the control circuit 4.

トリガ命令が主コントローラから入力される
と、制御回路4は実行テーブル3のパラメータを
基にし、データテーブルを参照しつつスイープス
テツプ信号(デイジタル値)を順次発生しする。
この値はデイジタル・アナログ変換回路5でアナ
ログ変換されて被検査物(図示せず)に与えられ
る。
When a trigger command is input from the main controller, the control circuit 4 sequentially generates sweep step signals (digital values) based on the parameters of the execution table 3 and referring to the data table.
This value is converted into analog by the digital-to-analog conversion circuit 5 and applied to the object to be inspected (not shown).

[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、データ
テーブルとしては1種類のテーブルを用意するだ
けでよく、またスイープの異なるごとに実行テー
ブルのみ変更すれば目的とするスイープステツプ
信号を発生させることができる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, it is only necessary to prepare one type of data table, and the desired sweep step signal can be obtained by changing only the execution table for each different sweep. can be generated.

またデータテーブルとしては、−2048〜+2047
+2047〜−2048の2群の簡単なデータ列テーブル
となつているため、デバツグ等も容易である。
Also, as a data table, -2048 to +2047
Since it is a simple data string table with two groups of +2047 to -2048, debugging etc. are easy.

また、スイープステツプがデイジタル・アナロ
グ変換回路の最小分解能(例えば1Vレンジのと
きは0.49mV)としてあるため、滑らかなスイー
プ出力が可能である。
Furthermore, since the sweep step is set to the minimum resolution of the digital-to-analog conversion circuit (for example, 0.49mV for the 1V range), smooth sweep output is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係るスイープステツプ信号発
生方法のフローを示す図、第2図はデータテーブ
ルを説明するための説明図、第3図はスイープス
テツプ信号のパラメータについて説明するための
図、第4図は本発明の方法を実施する計測ユニツ
トの一例を示す構成図、第5図は従来の試験装置
の一例を示す構成図、第6図はスイープステツプ
信号に関する説明図である。 1……データテーブル、2……演算処理回路、
3……実行テーブル、4……制御回路、5……デ
イジタル・アナログ変換回路。
FIG. 1 is a diagram showing the flow of the sweep step signal generation method according to the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining a data table, FIG. 3 is a diagram for explaining the parameters of the sweep step signal, and FIG. FIG. 4 is a block diagram showing an example of a measurement unit implementing the method of the present invention, FIG. 5 is a block diagram showing an example of a conventional test device, and FIG. 6 is an explanatory diagram regarding a sweep step signal. 1...Data table, 2...Arithmetic processing circuit,
3...Execution table, 4...Control circuit, 5...Digital-to-analog conversion circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 コンピユータを内蔵する主コントローラと、
ドライバを介して主コントローラにより駆動され
る計測ユニツトを備え、計測ユニツトにおいてス
イープステツプ信号を発生させかつこれをデイジ
タル・アナログ変換して出力し、これを被検査物
に与えたときの被検査物からの出力を計測ユニツ
トを介して測定し、その測定値より被検査物の良
否等を判別する試験装置において、 計測ユニツトのデータテーブルに基準となる特
定のスイープステツプデータを格納し、 指定されたスイープスタート電圧、スイープエ
ンド電圧、スイープステツプ(ΔV)およびスイ
ープ間隔(Δt)を基に、参照する前記データテ
ーブルのアドレス範囲のトツプとラストおよびク
ロツクを求めて実行テーブルに格納し、 その後トリガ命令が与えられたとき、前記実行
テーブルの各パラメータを基にして前記データテ
ーブルを参照しつつスイープステツプ信号を発生
するようにしたことを特徴とするスイープステツ
プ信号発生方法。
[Claims] 1. A main controller with a built-in computer;
Equipped with a measurement unit driven by the main controller via a driver, the measurement unit generates a sweep step signal, converts it into digital/analog and outputs it, and when this is applied to the object to be inspected, In a test device that measures the output of the object through a measurement unit and determines the quality of the inspected object based on the measured value, specific sweep step data that serves as a reference is stored in the data table of the measurement unit, and the specified sweep step data is stored as a reference in the data table of the measurement unit. Based on the start voltage, sweep end voltage, sweep step (ΔV), and sweep interval (Δt), the top, last, and clock of the address range of the data table to be referenced are determined and stored in the execution table, and then the trigger command is given. 1. A method for generating a sweep step signal, characterized in that when a sweep step signal is generated, the sweep step signal is generated while referring to the data table based on each parameter of the execution table.
JP28034787A 1987-11-06 1987-11-06 Generation of sweep step signal Granted JPH01123165A (en)

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