JPH0567446A - 荷電粒子軌道計算方法 - Google Patents

荷電粒子軌道計算方法

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JPH0567446A
JPH0567446A JP25430791A JP25430791A JPH0567446A JP H0567446 A JPH0567446 A JP H0567446A JP 25430791 A JP25430791 A JP 25430791A JP 25430791 A JP25430791 A JP 25430791A JP H0567446 A JPH0567446 A JP H0567446A
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JP
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electromagnetic field
charged particle
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area
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JP25430791A
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Kenichi Saito
賢一 斎藤
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 計算区画を順次、入れ子状に小さく設定する
ことによって、要素の大きさを2〜3桁の範囲で変化さ
せ、高精度の計算を行えるようにする。 【構成】 荷電粒子発生装置のほぼ全体の含む1次領域
101の境界条件を基にその1次領域101の電磁界分
布を算出し、1次領域101に含まれそれより狭い2次
領域103の境界条件を1次領域101の電磁界分布を
基に算出し、この操作を2次領域103が所望の大きさ
105になるまで続け、各領域の電磁界分布を基に荷電
粒子の軌道を計算する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子ビーム露光装置等
に搭載されている電子銃中の電子軌道を高精度に算出す
る荷電粒子軌道計算方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の荷電粒子軌道計算方法として文献
(ジャーナル・オブ・バキューム・サイエンス・アンド
・テクノロジー、A4巻、1913頁、1986年、 Kenich Saito、Tsuneo Okub
o、KiichiTakamoto、Yasumich
i Uno、Mamoru Kondo、J.Vac.
Thechnol.A4、1913(1986))に記
載されている。
【0003】これは図9に示すように電子光学系中を進
む電子の軌道を模式的に記載したものの中で、記号20
1は電子光学系の光軸、202は電子光学系を構成する
レンズ、203は電子光学系を構成する偏向器、204
は電子光学系の物面、205は電子光学系の像面、20
6は近軸軌道方程式を解くことにより得られる電子の近
軸軌道Wp、207は一般軌道方程式を解くことにより
得られる電子の一般軌道W、208は幾何収差Ugであ
る。
【0004】電子は電子光学系中を物面204から像面
205に向かって進む。一般軌道W(207)、近軸軌
道Wp(206)、幾何収差Ug(208)の間には次
の関係が成り立つ。 Ug=W−Wp・・・・・・・・・・・(1)
【0005】この電子軌道計算方法では、一般軌道W、
幾何収差Ugを図10に示す手順で求めている。この方
法では予め、一般軌道方程式と近軸軌道方程式との差を
とることによって幾何収差Ugに関する方程式を作り、
この方程式をルングゲッタ方により解いている。また、
3次アイソパラメトリック要素を用いた有限要素法で電
子光学系中の電磁界を求めることにより、幾何収差Ug
の方程式中に存在する電界、および磁束密度の項を要素
境界で滑らかにつながるようにしている。
【0006】従来の電子軌道計算方法では、以上述べた
方法をとることにより、幾何収差Ugを求める際の桁落
ち誤差を低減させ、電子光学系中の幾何収差、および一
般軌道を高精度に求めていた。また、色収差に関しても
同様な方法で高精度に算出していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら以上述べ
てきた従来の荷電粒子軌道計算方法を用いて静電レンズ
および磁界レンズを含んだ電子銃の収差、一般軌道を求
めようとすると、エミッタ先端半径は約0.1μm、ポ
ールピースの厚さは約10mmであり、その間に5桁以
上の開きがあるため、エミッタ先端付近の要素を十分細
かく分割することができなかった。
【0008】即ち、図10の手順で収差、一般軌道を高
精度に求めるためには有限要素法における要素をエミッ
タ先端付近では0.01μm程度、ポールピース付近で
は1mm程度に分割する必要があり、両要素の寸法差は
5桁程異なる。しかし、従来の分割方法では計算機のメ
モリ容量の関係上、要素の大きさは2〜3桁程度しか変
化させることができない。このため、従来の方法ではエ
ミッタ先端の電磁界を精度良く求めることができず、収
差および一般軌道の計算精度が著しく劣化するという課
題を有していた。
【0009】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
もので、計算区画を順次、入れ子状に小さく設定するこ
とによって、要素の大きさを2〜3桁の範囲で変化さ
せ、高精度の計算を行えるようにしたものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために第1の発明は、荷電粒子発生装置のほぼ全体の
含む一次領域の境界条件を基にその1次領域の電磁界分
布を算出し、1次領域に含まれそれより狭い2次領域の
領域の境界条件を1次領域の電磁界分布を基に算出し、
この操作を2次領域が所望の大きさになるまで続け、各
領域の電磁界分布を基に荷電粒子の軌道を計算するよう
にしたものである。
【0011】第2の発明は第1の発明において、ある微
小距離ステップにおける軌道計算時に用いる電磁界分布
の値は荷電粒子が存在する最小領域の値を使用するよう
にしたものである。
【0012】
【作用】磁界レンズと静電レンズとで構成されている典
型的な電子銃の構造を図11に示しており、記号401
はエミッタ、402は陽極、403および404は電極
であり、陽極402、電極403、404によって静電
レンズ405を形成している。406はポールピース、
407はコイルである。ポールピース406とコイル4
07とで磁界レンズ408を構成している。409は電
子銃の光軸、410はエミッタ先端、411はエミッタ
先端410から出た電子の軌道である。
【0013】図11の電子銃の電界を求める方法を第1
図に示している。図1においてエミッタ401、陽極4
02、電極403および404は光軸409に対して回
転対称となっている。ポールピース406、コイル40
7は電界の算出には関係ないので図1では記載を省略し
ている。
【0014】記号101はエミッタ先端410、陽極4
02、電極403および404を含むように設定された
境界線、102は境界線101に囲まれた第1領域、1
03はエミッタ先端410を囲み、かつ領域102に含
まれるように設定された境界線、104は境界線103
に囲まれた第2領域領域、105はエミッタ先端410
を含み、かつ領域104に含まれるように設定された境
界線、106は境界線105に囲まれた第3領域であ
る。
【0015】そして電磁界、即ち電界または磁界を求め
る計算を行うが、どちらを求めるかはそのときの必要性
によって決めれば良い。しかし、電界または磁界は何れ
か一方のみに統一して計算を行う。
【0016】例えば電界を求めるとすると、以下の手順
で電子銃中の電位分布を算出する。 (1)エミッタ401、陽極402、電極403および
404の供給電圧に基づいて境界線101上の電位を設
定する。 (2)境界線101上の電位を基に、領域102の電位
分布を有限要素法により計算する。 (3)領域102の電位分布より境界線103上の電位
を求める。 (4)境界線103上の電位を基に、領域104の電位
分布を有限要素法により計算する。 (5)領域104の電位分布より境界線105上の電位
を求める。 (6)境界線105上の電位を基に、領域106の電位
分布を有限要素法により計算する。 (7)必要に応じて領域106の中に、境界線103、
105と同様な境界線を設定し、エミッタ410を含む
より小さい領域の電位分布を求める。
【0017】すなわち、1次領域内の電位分布を求め、
1次領域内にその1次領域より小さい2次領域を入れ子
状に設定し、その2次領域内の電位分布を求め、この操
作を順次行う。この操作は最後に求められた2次領域の
内の物体の寸法と最初に求められた1次領域内の物体の
寸法の比が5桁程度開くまでこの操作を続ける。また隣
接する領域内の物体寸法の比は2〜3桁程度となるよう
に設定する。また、2次領域の境界は1次領域内の電位
分布を基に求める。
【0018】このように隣接する領域102、104、
106の要素分割数をほぼ同じ程度にできることから、
すなわち寸法比を2〜3桁程度の開きにできるため、順
次隣接する領域方向に計算をしていけば、エミッタ先端
410を含む最小の領域(図1では領域106)の要素
の大きさと、電子銃全体を含む領域102の要素の大き
さとが5桁以上はなれていても、現在の計算機のメモリ
容量でエミッタ先端付近の電界を精度良く求めることが
できる。
【0019】図11の電子銃の磁界を求める方法を図2
に示す。ポールピース406、コイル407は光軸40
9に対して回転対称であって、エミッタ401、陽極4
02電極403および404は磁界の算出には関係がな
いので、図2では省略している。501はポールピース
406、コイル406を含むように設定された境界線5
02は境界線501に囲まれた領域、503はエミッタ
先端410を含み、かつ領域502に含まれるように設
定された境界線、504は境界線503に囲まれた領域
である。以下の手順で電子銃中の磁位分布を算出する。
【0020】(1)境界線501上のベクトルポテンシ
ャルをゼロに設定する。 (2)コイル407に所望の電流量を設定し、領域50
2のベクトルポテンシャル分布を有限要素法により計算
する。磁界を求める有限要素法にはスカラポテンシャル
による方法と、ベクトルポテンシャルによる方法がある
が、ポールピースのB−H曲線を計算に取り入れるた
め、この段階ではベクトルポテンシャルによる有限要素
法を用いる。 (3)領域502のベクトルポテンシャル分布によって
境界線503上の磁位を求める。 (4)境界線503上の磁位を基に、領域504の磁位
分布を有限要素法により計算する。 (5)必要に応じて領域504の中に境界線503と同
様な境界線を設定し、エミッタ先端410を含むより小
さい領域の磁位分布を求める。
【0021】以上の手順では領域502、504の要素
分割数をほぼ同じにできるため、エミッタ先端410を
含む最小の領域(図2では領域504)の要素の大きさ
を、磁界レンズ408全体を含む領域502の要素の大
きさに比べて大幅に小さくできる。このため、現状の計
算機のメモリ容量でエミッタ先端付近の磁界を精度良く
求めることができる。なお、磁界分布を求める場合はエ
ミッタ先端の寸法は考慮しなくても良いので、領域50
2と領域504の要素の大きさの差は3桁程度でよい。
【0022】本方法では、以上の手順で電子の軌道41
1(即ち一般軌道、近軸軌道、幾何収差)を求める。こ
の際、収差および軌道の方程式をルングゲッタ法で解い
ているため、電子軌道411はエミッタ先端410から
右側に向かって微小距離ステップ毎に求まることにな
る。本方法では各ステップ毎にそのステップの最小の領
域を選択し、その領域の電磁界を代入して収差の方程式
および軌道方程式を解き次のステップの電子の位置を計
算している。
【0023】即ち図1の場合であれば、領域106、1
04、102の順に軌道を計算するが、各軌道における
電子の軌道計算には電子が存在する領域の値を使用する
事になる。このとき領域106は領域104および領域
102の中に入っているが最小の領域は領域106であ
るからその領域の値を使用する。領域104も同様に領
域102に入っているが最小の領域は領域104である
から、その領域の値を使用する。
【0024】このようにすれば電子の通過する領域にあ
る電子光学部品(エミッタ、電極、ポールピース等)の
寸法が大きく異なっていても、各部品の寸法に応じた最
適の電磁界分布の利用が可能となっている。
【0025】以上のように、電子銃中の電子軌道を計算
する場合に、電子銃のほぼ全体を含む1次領域の境界条
件を基に有限要素法を用いて領域1の電磁界分布を算出
する課程と、1次領域に含まれるそれより小さい2次領
域の境界条件を1次領域の電磁界分布を基に算出する課
程と、2次領域の境界条件を基に2次領域の電磁界分布
を有限要素法によって算出する課程を取り、必要に応じ
て同様の方法を繰り返し、更に狭い2次領域を設定する
方法を取っている。また、ルングゲッタ法では微小距離
ステップ毎に電子の位置を計算して電子軌道を求めてい
るが、その各ステップの電子位置を含む最小の領域の電
磁界を収差の方程式および軌道方程式に代入して、次の
ステップの電子の位置を計算している。このため、電子
銃中の電子軌道の計算精度を従来のものよりも向上させ
ることができる。
【0026】
【実施例】本発明の実施例である荷電粒子軌道計算方法
を図3に示す電子銃を対象に説明する。図3の電子銃は
オプテーク誌81巻、103頁、1989年(A.De
long J.Chmelik、V.Kolarik、
J.Komuraka、J.Optik81、103、
(1989))に掲載されているものであり、静電レン
ズと磁界レンズにより構成されている。
【0027】記号601は電子銃の光軸、602はエミ
ッタ、603および604はポールピース、605はコ
イル、606および607は静電レンズを形成するため
の電極、608は陽極である。エミッタ602、ポール
ピース603および604、コイル605、電極606
および607、陽極608は光軸601に対して回転対
称となっている。
【0028】本実施例では図1で示した手順を用いて電
界分布を、図2で示した手順を用いて磁界分布を求めて
いる。電界分布を求めるに際して設定した領域と、その
要素分割を図4に示す。図4(a)は図1の領域102
に、(b)は領域104に、(c)は領域106に対応
している。図4(a)では要素の寸法を最大2mmに
し、図4(c)では要素の寸法を最小0.02μmに分
割している。磁界分布を求めるに際し設定した領域と、
その要素分割を図5に示す。図5(a)は図2の領域5
02に、(b)は領域504に対応している。図5
(a)では要素の寸法を最大8.5mmに、図5(b)
では要素の寸法を最小5μmに分割している。
【0029】以上述べたように、本実施例では電界算出
において要素の大きさを5桁、磁界算出において要素の
大きさを3桁変化させているため、電子銃中の電磁界分
布(電界および磁界のそれぞれの分布)を高精度に算出
することができる。しかし、従来はメモリ容量の制約か
らこのように桁数の離れた計算は不可能であったが、本
願では順次入れ子状に領域を形成し、隣接する領域では
2〜3桁程度の桁数の差にとどめていることから、従来
と同様のメモリ容量を使用しても高精度の計算が可能に
なった。
【0030】このようにして求めた電磁界分布を用いて
電子軌道を計算した結果を図6に示す。図6(b)は図
6(a)のエミッタ602付近を拡大した図である。記
号901は電子軌道、902は等電位線である。電子軌
道を求める手順は作用の項で述べたとおりである。前記
の軌道を基に求めた電子銃の球面収差を図7に、色収差
を図8に示す。球面収差はビーム開き角の3乗に、色収
差はビームのエネルギ分散の1乗にほぼ比例しているこ
とから、本方法で収差の高精度な算出が可能であること
が分かる。
【0031】以上、荷電粒子として電子を用いた場合を
例に本発明を説明してきたが、ガリウムイオン等、電子
以外の荷電粒子を用いた場合にも本発明が成り立つのは
自明である。また、3次アイソパラメトリック要素を用
いた有限要素法を用いた場合について本発明を説明して
きたが、1次3角形要素等の他の種類の要素を用いた有
限要素法を用いた場合にも本発明が成り立つのは自明で
ある。
【0032】また、電界を求める際の領域が3つ、磁界
を求める際の領域が2つの場合について本発明を説明し
てきたが、領域数がこれと異なる場合でも本発明が成り
立つのは自明である。また、電磁界を求める際の複数の
領域において内側の領域が外側の領域に完全に含まれる
場合を例に説明してきたが、内側に領域の境界線と外側
の領域の境界線の一部が接触している場合でも本発明が
成り立つのは自明である。また、軌道方程式を解く方法
としてルングゲッタ法を用いた場合について本発明を説
明してきたが、オイラー法など、他の方法で軌道方程式
を解く場合でも本発明が成り立つのは自明である。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように本発明の方法は、計
算領域に順次、入れ子状領域を設定し隣接する領域の寸
法の開きを2〜3桁程度に抑え、各領域の電磁界分布を
計算して、その計算結果を基に電子の軌道を求めるよう
にしたので、荷電粒子源の先端付近の寸法と電極および
ポールピースの寸法との間に5桁以上の開きがあっても
これに対応した要素分割が可能となるという効果を有す
る。
【0034】また、荷電粒子軌道計算に用いるルングゲ
ッタ法の各ステップにおいて、そのステップの荷電粒子
位置を含む最小の領域の電磁界を、収差の方程式および
軌道方程式に代入して次のステップの荷電粒子位置を計
算しているので、荷電粒子の通過する領域にある部品の
寸法が大きく異なっていても、これに応じた最適の電磁
界分布を計算に利用することができる。このため、荷電
粒子の軌道計算精度を著しく向上させることができると
いう効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明において電界分布を求める手順を説明す
るための図
【図2】本発明において磁界分布を求める手順を説明す
るための図
【図3】本発明の実施例の荷電粒子軌道計算方法を適用
した電子銃の構造図
【図4】本発明を適用して電界分布を求める際の要素分
割の様子を示す図
【図5】本発明を適用して磁界分布を求める際の要素分
割の様子を示す図
【図6】本発明を適用して計算した電子軌道の図
【図7】本発明を適用して計算した球面収差とビーム開
き角の関係を示す図
【図8】本発明を適用して計算した色収差とエネルギ分
散との関係を示す図
【図9】従来の荷電粒子軌道計算方法における電子軌道
を示す図
【図10】従来の荷電粒子軌道計算方法における軌道算
出手順を示す図
【図11】磁界レンズと静電レンズから構成される典型
的な電子銃構造の模式図
【符号の説明】
101、103、105、501、503 境界線 102、104、106、502、504 境界線に囲
まれた領域 201、409、601 光軸 202 レンズ 203 偏向器 204 物面 205 像面 206 近軸軌道(Wp) 207 一般軌道(W) 208 幾何収差(Ug) 401、602 エミッタ 402、608 陽極 403、404、606、607 電極 405 静電レンズ 406、603、604 ポールピース 408 磁界レンズ 410 エミッタ先端 411、901 電子軌道 902 等電位線

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 荷電粒子発生装置の荷電粒子軌道を計算
    する荷電粒子計算方法において、 前記荷電粒子発生装置のほぼ全体の含む1次領域の境界
    条件を基にその1次領域の電磁界分布を算出し、 1次領域に含まれそれより狭い2次領域の境界条件を1
    次領域の電磁界分布を基に算出し、 この操作を2次領域が所望の大きさになるまで続け、各
    領域の電磁界分布を基に荷電粒子の軌道を計算すること
    を特徴とする荷電粒子軌道計算方法。
  2. 【請求項2】 請求項1において、ある微小距離ステッ
    プにおける軌道計算時に用いる電磁界分布の値は荷電粒
    子が存在する領域でかつ最小領域の値を使用することを
    特徴とする荷電粒子軌道計算方法。
JP25430791A 1991-09-06 1991-09-06 荷電粒子軌道計算方法 Pending JPH0567446A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016121711A1 (de) 2015-11-20 2017-05-24 Fanuc Corporation Werkzeugmaschine

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DE102016121711A1 (de) 2015-11-20 2017-05-24 Fanuc Corporation Werkzeugmaschine

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