JPH05506739A - 部分的に拘束された最少エネルギー状態制御装置 - Google Patents

部分的に拘束された最少エネルギー状態制御装置

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JPH05506739A
JPH05506739A JP91510840A JP51084091A JPH05506739A JP H05506739 A JPH05506739 A JP H05506739A JP 91510840 A JP91510840 A JP 91510840A JP 51084091 A JP51084091 A JP 51084091A JP H05506739 A JPH05506739 A JP H05506739A
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JP91510840A
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ジュデル,ネイル,エイチ.
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ハンプシャー インスツルメンツ,インコーポレイテッド
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 8、 半導体装置を接続する方法の1つの工程として一回に抵抗体被覆の半導体 のウェファ−(26)の1つの部分を露光させる信号を発生するリトグラフ機械 (10)において、前記機械(10)が少なくとも1つの平らな表面を存するベ ース(I2)と、前記ベース(12)および機械的な土台の間に固定されて前記 ベース(12)が成る減衰はね復帰力を有して土台に対して動き得るようになす 絶縁装置t (32)と、前記ベース(12)に強固に固定され、与えられた通 路に沿って露光エネルギーを発生する装置(20)と、前記1つの表面上を動か されるように配置され、前記ウェファ−(26)を保持するステッパー(16) と、前記ベース(12)および前記ステッパー(16)に連結され、与えられる 制御信号によって決定される運動を行うように前記ステッパー(I6)を前記ベ ース(12)に対して相対的に初期位置から所望の位置に動かすモーター装置( 18)と、前記ステッパー(16)の運動の終端において前記ステッパー(16 )および前記ベース(12)の速度の差か零になるように前記制御信号を発生す る装置(34,38,40)とを有することを特徴とするリトグラフィー機械( 10)。
9、 前記制御信号を発生する装置(34,38,40)かフィルターの式およ び前記ステッパー(16)を前記所望の位置に動かすのに前記モーター装置(1 8)によって消費されるエネルギーを減少させるようにして前記制御信号を発生 させる軌道の式に応答するようになされていることを特徴とする請求の範囲第8 項に記載された発明。
10、前記制御信号を発生する装置(34,38,40)が前記ステッパー(1 6)および前記ベース(12)の初期速度にば答するように定められていること を特徴とする請求の範囲第8項に記載された発明。
11、前記制御信号を発生する装置(34,38,40)が時間の変化するフィ ルターの式および前記ステッパー(16)を前記所望の位置に動かすのに前記モ ーター装置(18)によって消費されるエネルギーを減少させるようにして前記 制御信号を発生させる軌道の式に応答し、前記フィルターの式が前記ステッパー (16)および前記ベース(12)の初期速度に基づくようになされていること を特徴とする請求の範囲第8項、第9項または第10項に記載された発明。
12、前記フィルターの式が前記ベース(12)および前記ベース(12)が同 じ速度で運動する初期条件に基づくようになされていることを特徴とする請求の 範囲第11項に記載された発明。
13、固定されていないベース(12)の1つの表面(14)上で部材(16) を動かす方法において、前記ベース(12)に対して相対的な前記部材(16) の位置を検出し、前記運動可能の部材(16)を前記ベース(12)上の所望の 位置に動かすための制御信号を前記運動可能の部材(I6)に与える諸工程を有 し、前記制御信号が、前記運動可能の部材(16)が前記所望の位置に達する時 に前記ベース(12)および前記運動可能の部材(16)の速度の相対的な差が 零になるようになされていることを特徴とする方法。
14、フィルターの式を与える工程を含み、前記制御信号が前記フィルターの式 および前記検出された位置に応答して与えられるようになされていることを特徴 とする請求の範囲第13項に記載された方法。
15、前記フィルターの式を与える工程が前記フィルター信号を計算して前記運 動可能の部材(16)の所望の移動および実際の移動の間の誤差を減少させ、前 記計算された信号を制御信号を発生する装置(34,38,40)に与えるよう になされていることを特徴とする請求の範囲第14項に記載された方法。
16、前記フィルター信号を計算する工程か成る時間内に前記部材(16)をこ れの初期位置から前記所望の位置に動かすエネルギーを減少させることを含むよ う(こなされていることを特徴とする請求の範[第15項に記載された方法。
17、前記制御信号が、前記運動可能の部材(16)および前記ベース(12) の速度が、前記運動可能の部材(16)か前記所望の位置に達する時に育成であ るように前記運動可能の部材(16)を動かすようになされていることを特徴と する請求の範囲第16項に記載された方法。
18、前記制御信号が、前記運動可能の部材(16)および前記ベース(12) の速度が、前記運動可能の部材(16)が前記所望の位置に達する時に育成であ るように前記運動可能の部材(16)を動かすようになされていることを特徴と する請求の範囲第13項、第14項または第15項に記載された方法。
明 細 書 部分的に拘束された最少エネルギー状態制御装置本発明はモーターの制御装置に 関し、さらに詳しくは、1つの機素を土台の運動から絶縁されるベース上のリト グラフのステッパーのような浮遊する第2の機素上を動かして、最少限のエネル ギーしか利用しないで、与えられた時間内にこれらの2つの機素を相対的な静止 状態になすために使用されるサーボ装置を存する制御装置に関られた著しく重い 、1つの甚だ平らな平滑な表面を有する堅固なブロックを含む大きいベースを利 用して構成されていた。大抵のリトグラフ装置は、別々の工程にてウェファ−を 堅固なベースの平らな表面上に保持して動かし、−回にウェファ−の1つの部分 がエネルギーを受けるようになすための通常ステッパーとして知られる機構を含 んでいる。過去において、選択されていたエネルギーは紫外線であった。しかし 、最近の半導体技術の進歩は、ウェファ−上にさらに一層小さい形状のパターン を作るためにX線のような短い波長のエネルギーを利用することを必要とするよ うになって来た。
半導体のウェファ−上に小さいパターンを作る能力はリトグラフ装置に対する全 体的に新しい一連の拘束条件を生じさせたのである。このような拘束条件の1つ は、半導体の製造工程で必要となる高度の精密性のために堅固なブロックを簡単 な日常の土台の運動から絶縁することを必要とする。例えばこのような運動はリ トグラフ機械が使用されている場所に近接した大型トラックまたは列車のような 車輌から生じる恐れがある。伝統的なリトグラフ機械の構成によれば、極く僅か な土台の運動でさえ直接に機械に伝達されて、今日の精密機械に誤整合またはそ の他の問題を生じさせる恐れがあるのである。さらに、点光源のX線リトグラフ 装置の場合には、マスクおよびウェファ−の間の間隙が重要で、通常20ミクロ ンに保持されるのである。従って、極く僅かな土台の運動もウェファ−に対する マスクの間隙の完全性を保持するのに問題を生じさせる恐れがある。
上述のような土台の運動の問題に対する1つの解決方法は、大重量の車輌に使用 される衝撃吸収装置と構造が同様の絶縁脚部によって堅固なベースを土台から絶 縁する4とである。しかし、これらの衝撃吸収装置を有することはステッパーが 動かされる時に何時でも堅固なベースに減衰振動を生じる新しい問題を生じさせ るのである。
過去において、サーボ制御装置がこれらの問題を解決するために使用され、ベー スの振動を減少させるために、運動体に対して逆の加速信号を与えることによっ て大体作動するようになっていた。しかし、これらの技術は全体の装置を静止さ せて役立たせるようになすために著しい時間及びエネルギーを必要としたのであ る。現在要望されているものは、さらに頻繁な運動を許し、しかも利用するエネ ルギーを少なくできるさらに都合のよい装置である。
本発明の■つの特徴によって、固定されていないベースの表面上を制置可能の動 かす装置によって動かされる運動可能の部材を有し、ベースに対して相対的な前 記動かす装置の位置を示す信号を与える位置検出装置をさらに有する制御装置に おいて、前記動かす装置をベース上の所望の位置に動かすために運動可能の部材 に対して制御信号を与える装置を有することを特徴とする制御装置が提供される のである。この制御信号は、ベースおよび運動可能の部材の速度の相対的な差が 、運動可能の部材が所望の位置に達した時に零になるような信号である。
本発明の1つの望ましい実施例が次に示す図面を特に参照して以下に説明される が、これらの図面の肉筆1図はリトグラフ装置の種々の機素の機械的な構成図で あり、 第2(a)図および第2(b)図は従来技術の制御装置を利用した力Fに応答し て第1図に示されるステッパー組立体によって動かされる距離dの時間に対する 一対の線図を構成する図面であり、 第3(a)図および第3(b)図は本発明の制御装置を利用した時の力Fに応答 して第1図に示されるステッパー組立体によって動かされる距離dの時間に対す る一対の線図を構成する図面である。
さて第1図を参照すれば、リトグラフ機械1oの機械的な構成図が示されている 。例えばリトグラフ機械10はロバート・ディー・フランケルその池の名前の、 「リトグラフ機械のための間隔感知/直接装置および方法」と題する米国特許第 4,870,668号に記載されているX線リトグラフ機械と同様のものになし 得る。機械IOが組立られる基本的な構造機素は甚だ平らで平滑になるように磨 かれた上面14を有する堅固なブロックのような大型で重量のあるベース12で ある。ステッパー組立体I6が、内蔵されている空気軸受によってこの表面14 上を運動可能に配置されている。従って、このステッパー組立体16および表面 14の間には極く小さい、一定の量の摩擦しか存在しない。誘導モーター18が さらにベース12上に取付けられていて、通常の方法で14ス勢されて、ステッ パー組立体16をXおよびYの両方向に駆動し得るようになっている。
エネルギー供給源20もまたこのリトグラフ機械l。
に含まれている。この供給源20は前記フランケルその他の特許に記載されてい るようなXJiR供給源になすことができ、または紫外線供給源になすこともで きる。この供給源20は供給源20およびベース12の同の破線によって示され るようにベース12に対して機械的に固定されている。この供給源20はマスク 22を含んでいて、このマスクを通してX線24のようなエネルギーが通過して 1つのパターンを抵抗体被覆のウェファ−26上に露光させるようになっている 。このマスク22はウェファ−26上に1ミクロンの半分のような小さい点が露 光され得るようなものでなければならない。半導体装置はこのようなものの種々 の層によって作られているから、マスク22をウェファ−26に対して1ミクロ ンの十分の一以内またはそれ以下で整合させ得ることが必要である。さらに、リ トグラフ機械IOがxmu式のリトグラフ機械である場合には、マスク22およ びウェファ−26の間の間隙を精密な一定の値に保持することが重要である。
ベース12の表面14上にはまた干渉計28が配置され、この干渉計に組合され るミラー30がステッパー組立体16上に配置されている。第1図にはそれぞれ 1つだけしか示されていないが、実際上、それぞれ1つがX方向で池の1つがY 方向に対するようになされた2つの干渉計28および2つのミラー30が設けら れるのである。公知のように、干渉計およびこれに組合されるミラーは距離を甚 だ正確に測定するようになっている。従って、ステッパー組立体16の初期位置 を知ることによって、ステッパー組立体16の運動を監視できるのである。
ベース12は土台の上方に6つ(3つだけしか示されていない)の絶縁脚部32 によって保持されるようになっている。それぞれの脚部32はサーボ弁助勢のガ スばね(servo valve assisted gas spring  )を含むことができ、これらの脚部32は2724kg(60001b)または それ以上の重量までの負荷を支持できるように設計されている。それぞれの脚部 32がベース12に固定される時に、父およびYの両方の横方向の減衰運動が生 じ得るようになっている。従って、ベース12は土台から絶縁されるのである。
これらの脚部32の目的は、土台の運動を吸収し、これにより、このような土台 の運動が半導体の構成要素を製造するのに必要な精密性に悪影響を与えるのを阻 止することである。
ステッパー組立体16はモーター18によって動かされ、またモーター18は主 モータ−・干渉計制帥装置34によって与えられる信号によって制御されるよう になっている。この主制御装置34はまた干渉計28から信号を受取り、この干 渉計28により示される情報およびその他の以下に説明される情報を利用してモ ーター18に与える適当なモーター制御信号を決定するようになっている。
脚部32およびベース12の間の連結のため、および成る大きさの摩擦がステッ パー組立体16および表面14の間にあることによって、ステッパー組立体16 が動く度毎に成る大きさの力がベース12に伝達され、これによってベース12 がステッパー組立体16の運動方向に動くようになされるのである。ベース12 の運動は勿論絶縁脚部32があることを考えれば判る通り土台に強固に固定され ていないことによるのである。ベース12の運動はまた力がステッパー組立体1 6に伝達され、これによってステッパー組立体16の附加的な運動を生じさせる のである。勿論、伝達された運動は時間に対して減衰され、最後にはリトグラフ 機械10が静止して安定した状態になるのである。
ステッパー組立体16を所望の位置に動かして、パターンをウェファ−26の所 望の部分に露光させるためには全体の装置が静止するまで待ち、その後でステッ パー組立体16に対する調節を行ってステッパー組立体I6およびベース12の 間を伝達される力によって生じた運動に対する修正を行わなければならない。静 止するまでの時間は勿論モーター18のトルク定数、ステッパー組立体16およ びベース12の質量、絶縁脚部32のばね定数復帰力および減衰復帰力およびそ の他の装置の共鳴のような装置の物理的特性に関係する。勿論これらの特性はそ れぞれ測定でき、モーター18に与えられるエネルギーの正しい量はリトグラフ 装置t10を最も早(静止させるように計算することができる。このような場合 、外部の制御装置38がフィルター信号を発生し、モーター+8を制御するため に使用される信号を発生する時に主制御装置34によって使用されるフィルター 信号を主制御装置34に与えるために使用できるのである。
本発明によって、モーター18に与えられるエネルギーは、与えられた時間内に 与えられて静止させるのを可能になすエネルギーを最少限になすために計算され ることができる。さらに詳しくは、本発明はステッパー組立体16が追従すべき 通路および許された時間内に表面14上の正しい位置にステッパー組立体16を 到達させる正しいモーター制御信号を発生させるのに使用されるフィルターの形 態を選択することを含んでいる。
最近の制御理論においては、装置の状態は次のようなベクトルとして説明される ことができる。すなわちもし絶縁脚部32の横方向のばね復帰力がKとして定義 され、絶縁脚部32の横方向のばね減衰復帰力がDとして定義され、ステッパー 組立体16の質量がMsとして、ベースの質量がMbとして定義される場合には 、ここでUはモーター18に与えられる力で、実際上、上述のベクトル等式は、 装置の別々の時間サンプル(discrete time sample)が使 用されることを考慮して計算されなければならないので、従って次の形態になる のである。すなわち x (n) =Mx (n −1) +13u (n)制引装#34のような近 代的な状態制御装置を使用する場合には、装置の最初の状態はX (0)であっ て、目標は、時間の最終の瞬間、n=Nfにて所望の最終状態Xfを生じさせる モーター制御信号u (n)の順序を見出すことである。通常この最終状態Xf は、に選ばれるのである。
このような拘束条件において、所望の結果を得るために装置に与えられ得る最少 エネルギーは、これが次の等式を導き出すのである。すなわちu (k) =B T (M (Nf−k) ) TG・ これは制御理論のよく知られた結果であ る。
ステッパー組立体16を所望の位置に動かすための上述の解を使用するに際し、 ベース12を原位置の静止位置に戻し、同時にステッパー組立体16を所望の位 置に達するようになすことは時間および/またはエネルギー・ 両方において無 駄が多いのである。しかし、上述で説明したリトグラフへの応用のためには、余 計な条件は必要がない。必要なことは、露光が行なわれる時に、ステッパー組立 体16の相対的位置がベース12上の所望の位置にあって、ステッパー組立体1 6およびベース12が互いに対して静止状態にあることである。このことは最終 的な拘束条件と考えられることができる。すなわちK (Xf−Xd)+0 ここでXfは装置の最終的状態で、 また 一般に、もしKが縦の行が横の列の数に等しい何れかのマトリックスである場合 には、部分的な拘束状態におけるエネルギーの最少化が次のラグランシュ乗数法 (Lagrangian multipliers)によって解かれることがで きる。すなわち 但し拘束条件 K (Xf−Xd)=0 この等式は直線マトリックスに解かれることができる。
もし Xn (GKTK)+MNf x (0)であるならば、 但し て、 Q= (KGK’T) −1(KXd−KMNfX (0)であるならば、 第1図を再度参照すれば、最良のエネルギー/時間性) 能を得る方法が主制御 装置11j34に接続される外部の開園装置38を設けることによって行われる のである。主制御装置34は駆動モーター18に対して与えられる信号に対する 修正因数を与えるためのデジタルフィルターを含んでいる。外部制御装置38は デジタルフィルターの式を計算してこの式を主制御装置134のデジタルフィル ターに与えるのに使用される。さらに、この外部制御装置1138はステッパー 組立体16の運動に必要な軌道を計算するのである。運動に対して要求される時 間に、主制御装置34は外部制御装置38からの計算されたフィルター情報およ び軌道tR報を受取ってモーター18に正しいモーター制御信号を与えるのであ る。
さて、第2 (a)図、第2(b)図、第3(a)図および第3(b)図を参照 すれば、ステッパー組立体16の移動(d)の時間(1)に対する曲線およびこ のような移動を生じさせるのに必要な力(F)が示されている。詳しくは、第2 (a)図は軌道、すなわちステッパー組立体!6の運動が第2(b)図に示され るように最少のカまたはエネルギー量を利用する場合にステッパー組立体16が 距離りの運動に接近する時のミラー3oおよび干渉計28の間の相対的な距離を 示している。この図にて判るように、総ての運動が停止されるのに必要な時間は 主としてベース12の運動のために比較的長い。第3(a)図は附加的なエネル ギーを使用するが、遥かに短い軌道を必要とする場合のステッパー組立体16の 運動に対する軌道を示している。この図から判るように、この軌道は比較的平滑 で、時rI!ITにて所望の位置りに接近する。第3(a)図の軌道を運動する ためにモーター18に与えられる力F(エネルギー)の曲線が第3 (b)図に 示されている。図示されるように、大体型まれる方向の小さいカがあり、その後 にこの望まれる方向とは反対の負のカが続き、最後に望まれる方向の大きいカが 続くのである。一般に、Tが小さい程消費されるエネルギーの全量が大きくなる のである。従って、所望の時間内に所望の運動を得るのに必要な最少のエネルギ ーしか利用しないようにするためには外部の制御装置138によって最後の与え られた等式の計算を行うのに正しい値のTを使用するようにしなければならない のである。
若干の例においては、許容されない大量のエネルギーが消費されるようになる程 時1fffTが短くなるのである。
エネルギーを減少させるために、この計算は実際の情況の組合せを考慮するよう に修正されることができる。ステッパー組立体16か露光の前に完全に静止する ような簡単な情況においては、計算は基礎的であって、外部制御装置138内の 通常のマイクロプロセッサ−によって処理されることができる。しかし、時間T が短くなるにつれて、他の因子が考慮されなければならなくなる。例えば、運動 の間にステッパー組立体16は土台に対して相対的に完全に静止状態になること は必要がない。ステッパー組立体が所望の位置に達して、ステッパー組立体16 およびベース12の間の相対速度が零になることだけが必要なのである。従って 、ベースI2およびステッパー組立体16の両者が、マスク22およびウェファ −26の正しい部分が整合されて露光される時に一体的に動き得ることが可能に なる。
このような附加的な拘束条件が除去されると、さらに短い時間Tを可能になすフ ィルターの式が計算できるようになる。しかし、このことは変化可能の初期条件 に関係して時間が変化する式および軌道の変化する状態で計算を行うことを含む ようになる。この計算に対する計算上の負荷は通常のマイクロプロセッサ−の容 量を超過するようになり、これらの計算を助けるために浮遊点協働プロセッサー (floatfng co−processor ) 40が設けられるのであ る。この協働プロセッサー40は主制御装置34に直接に接続され、実際時間の 干渉計28の位置の読みを与えられる。この情報によって、協働プロセッサー4 0は必要な軌道およびフィルターの式を計算し、この情報を主制御装置34に与 えるのである。
FIG、 2(a) FIG、2(A)要 約 書 絶縁脚部(32)を使用して土台に取付けられた堅固なブロック(12)上にあ るステッパー(16)を有するリトグラフ装置(10)は、ステッパー(16) と組合されたモーター(18)に信号を与えて、その運動を制御するサーボ制御 装置(34,38,40)を含んでいる。この制御装置(34,38,40)は 前記制御信号を発生させるのに使用されるフィルターの式を計算する装置(38 ,40)を含み、この式がステッパー(16)の初期速度および別々の運動の間 の成る時間に応答して計算されて、最少限の量のエネルギーしか利用しないよう になしている。このフィルターの式は前記ベース(12)および前記ステッパー (16)の速度の差が、前記ステッパー(16)が最終位置に達する時に零にな ることを要求するようになっている。時間が短い状態では、前記ベース(I2) および前記ステッパー(16)が最初同じ速度で動き、同じ速度で運動を終了す るようになされていて、アレープロセッサー(40)が時間が変化するフィルタ ーの式を計算するようになっている。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 専有所有権または特許権が申請される本発明の実施例は次のように限定される。 1.固定されないベース(12)の表面(14)上を制御可能の動かす装置(1 8)によって動かされるようになされた運動可能の部材(16)を有する装置( 10)であって、前記装置(10)がさらに前記ベース(12)に対して相対的 な前記運動可能の部材(16)の位置を示す信号を発生する位置検出装置(28 )を有するようになされている前記装置(10)において、前記運動可能の部材 (16)を前記ベース(12)上の所望の位置に動かす制御信号をこの運動可能 の部材(16)に与える装置(34、38、40)を有し、前記制御信号は、前 記運動可能の部材(16)が前記所望の位置に達した時に前記ベース(12)お よび前記運動可能の部材(16)の速度の相対的な差が零になるようになされて いることを特徴とする装置(10)。 2.前記制御信号を与える装置(34、38、40)がさらに前記制御信号を濾 波するフィルター装置(34)を含むようになされていることを特徴とする請求 の範囲第1項に記載された発明。 3.前記制御信号を与える装置(34、38、40)が前記運動可能の部材(1 6)の位置および前記制御信号を発生するフィルター信号に応答する装置(34 )および前記フィルター信号を計算して発生させ、或る時間内に前記運動可能の 部材(16)をこれの初期位置および前記所望の位置の間で動かすためのエネル ギーを減少させ、前記計算された信号を前記制御信号を発生させる装置(34) に与える装置(38、40)を含むようになされていることを特徴とする請求の 範囲第1項または第2項に記載された発明。 4.前記運動可能の部材(16)および前記ベース(12)の速度が前記運動可 能の部材(16)が前記所望の位置に達した時に有限であるようになされている ことを特徴とする請求の範囲第3項に記載された発明。 5.前記制御信号が前記運動可能の部材(16)の所望の軌道および前記運動可 能の部材(16)が前記所望の位置に達するのに必要な時間に応答して発生され るようになされていることを特徴とする請求の範囲第1項に記載された発明。 6.前記運動可能の部材(16)および前記ベース(12)の速度が、この運動 可能の部材(16)が前記所望の位置に達した時に有限であるようになされてい ることを特徴とする請求の範囲第1項、第2項または第5項に記載された発明。 7.前記制御信号を与える装置(34、38、40)が前記運動可能の部材(1 6)および前記制御信号を発生するフィルター信号に応答する装置(34)およ び前記フィルター信号を計算して発生させ、或る時間内に前記運動可能の部材( 16)をこれの初期位置および前記所望の位置の間で動かすためのエネルギーを 減少させ、前記計算された信号を前記制御信号を発生させる装置(34)に与え る装置(38、40)を含むようになされていることを特徴とする請求の範囲第 6項に記載された発明。 8.半導体装置を接続する方法の1つの工程として一回に抵抗体被覆の半導体の ウェファー(26)の1つの部分を露光させる信号を発生するリトグラフ機械( 10)において、前記機械(10)が少なくとも1つの平らな表面を有するベー ス(12)と、前記ベース(12)および機械的な土台の間に固定されて前記ベ ース(12)が或る減衰ばね復帰力を有して土台に対して動き得るようになす絶 縁装置(32)と、前記ベース(12)に強固に固定され、与えられた通路に沿 って露光エネルギーを発生する装置(20)と、前記1つの表面上を動かされる ように配置され、前記ウェファー(26)を保持するステッパー(16)と、前 記ベース(12)および前記ステッパー(16)に連結され、与えられる制御信 号によって決定される運動を行うように前記ステッパー(16)を前記ベース( 12)に対して相対的に初期位置から所望の位置に動かすモーター装置(18) と、前記ステッパー(16)の運動の終端において前記ステッパー(16)およ び前記ベース(12)の速度の差が零になるように前記制御信号を発生する装置 (34、38、40)とを有することを特徴とするリトグラフィー機械(10) 。 9.前記制御信号を発生する装置(34、38、40)がフィルターの式および 前記ステッパー(16)を前記所望の位置に動かすのに前記モーター装置(18 )によって消費されるエネルギーを減少させるようにして前記制御信号を発生さ せる軌道の式に応答するようになされていることを特徴とする請求の範囲第8項 に記載された発明。 10.前記制御信号を発生する装置(34、38、40)が前記ステッパー(1 6)および前記ベース(12)の初期速度に応答するように定められていること を特徴とする請求の範囲第8項に記載された発明。 11.前記制御信号を発生する装置(34、38、40)が時間の変化するフィ ルターの式および前記ステッパー(16)を前記所望の位置に動かすのに前記モ ーター装置(18)によって消費されるエネルギーを減少させるようにして前記 制御信号を発生させる軌道の式に応答し、前記フィルターの式が前記ステッパー (16)および前記ベース(12)の初期速度に基づくようになされていること を特徴とする請求の範囲第8項、第9項または第10項に記載された発明。 12.前記フィルターの式が前記ベース(12)および前記ベース(12)が同 じ速度で運動する初期条件に基づくようになされていることを特徴とする請求の 範囲第11項に記載された発明。 13.固定されていないベース(12)の1つの表面(14)上で部材(16) を動かす方法において、前記ベース(12)に対して相対的な前記部材(16) の位置を検出し、前記運動可能の部材(16)を前記ベース(12)上の所望の 位置に動かすための制御信号を前記運動可能の部材(16)に与える諸工程を有 し、前記制御信号が、前記運動可能の部材(16)が前記所望の位置に達する時 に前記ベース(12)および前記運動可能の部材(16)の速度の相対的な差が 零になるようになされていることを特徴とする方法。 14.フィルターの式を与える工程を含み、前記制御信号が前記フィルターの式 および前記検出された位置に応答して与えられるようになされていることを特徴 とする請求の範囲第13項に記載された方法。 15.前記フィルターの式を与える工程が前記フィルター信号を計算して前記運 動可能の部材(16)の所望の移動および実際の移動の間の誤差を減少させ、前 記計算された信号を制御信号を発生する装置(34、38、40)に与えるよう になされていることを特徴とする請求の範囲第14項に記載された方法。 16.前記フィルター信号を計算する工程が或る時間内に前記部材(16)をこ れの初期位置から前記所望の位置に動かすエネルギーを減少させることを含むよ うになされていることを特徴とする請求の範囲第15項に記載された方法。 17.前記制御信号が、前記運動可能の部材(16)および前記ベース(12) の速度が、前記運動可能の部材(16)が前記所望の位置に達する時に有限であ るように前記運動可能の部材(16)を動かすようになされていることを特徴と する請求の範囲第16項に記載された方法。 18.前記制御信号が、前記運動可能の部材(16)および前記ベース(12) の速度が、前記運動可能の部材(16)が前記所望の位置に達する時に有限であ るように前記運動可能の部材(16)を動かすようになされていることを特徴と する請求の範囲第13項、第14項または第15項に記載された方法。
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