JPH05334457A - Noise analyzing device - Google Patents

Noise analyzing device

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JPH05334457A
JPH05334457A JP4140187A JP14018792A JPH05334457A JP H05334457 A JPH05334457 A JP H05334457A JP 4140187 A JP4140187 A JP 4140187A JP 14018792 A JP14018792 A JP 14018792A JP H05334457 A JPH05334457 A JP H05334457A
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countermeasure
noise
circuit configuration
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attenuation
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真司 渡辺
Masami Nonaka
正巳 野中
Noboru Kato
昇 加藤
Yoshihiro Mochizuki
義弘 望月
Atsushi Ishizuka
篤 石塚
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Abstract

PURPOSE:To obtain an optimum noise counterplan within a short time by retrieving a database when noise measuring data measured from a device to be counterplanned is larger than a standard value, selecting counterplan parts (a counterplan method) corresponding to the noise and including the value of the selected parts within the standard value. CONSTITUTION:A system controller 4 is provided with a counterplan information extracting processing 41 for comparing noise measuring data measured from the device to be counterplanned with a specified standard value and extracting a frequency range and attenuation amount necessary for a counterplan and counterplan information determining processing 42 for selecting circuit constitution based upon the extracted frequency rang(and attenuation amount, determining a constant corresponding to the noise and repeating the determination and selection of the succeeding constant and circuit constitution until the calculated attenuation amount is satisfied and constituted so that the circuit constitution and the constant satisfying the frequency range and attenuation amount extracted by the processing 42 are displayed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、被対策装置のノイズ解
析するノイズ解析装置に関するものである。コンピュー
タ、エアコンなどの電子機器のノイズを解析し、その対
策をコンピュータシステムを使用して行うことが望まれ
ている。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a noise analysis device for analyzing noise of a device to be protected. It is desired to analyze noise in electronic devices such as computers and air conditioners and take countermeasures against it by using a computer system.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、コンピュータなどの装置が発生す
るノイズを解析して対策を立てる場合、技術者がスペク
トル・アナライザなどの測定器によってノイズ発生レベ
ルを測定し、規格のノイズレベルより高ければ思考錯誤
的に過去の経験をもとに部品、構造を変えながら繰り返
し行い、ノイズが規格内に収まるように対策していた。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a noise is generated by a device such as a computer and a countermeasure is taken, an engineer measures the noise generation level with a measuring instrument such as a spectrum analyzer, and if the noise level is higher than the standard noise level, the engineer thinks. It was erroneously repeated based on past experience while changing the parts and structure to take measures to keep the noise within the standard.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来は上述したよう
に、技術者が装置の発生するノイズを測定して思考錯誤
的に部品、構造を変えて規格内に収まるように対策を立
てていたため、1機種当たりに要するノイズ対策時間が
長時間(例えば24時間位)必要となってしまうと共
に、いずれの部品を交換したり、どのような構造に変え
たら発生するノイズが規格内に収まるかの知識が必要と
なってしまい、熟練者でないと対策を迅速に行えないと
いう問題もあった。
Conventionally, as described above, an engineer measures the noise generated by the device and changes the parts and the structure by thinking and error to take measures so that the noise falls within the standard. Noise countermeasure time required for one model requires a long time (for example, about 24 hours), and knowledge of which component will be replaced and what kind of structure will generate the generated noise within the standard However, there is also a problem in that measures cannot be swiftly implemented unless the user is skilled.

【0004】本発明は、これらの問題を解決するため、
被対策装置から測定したノイズの測定データが規格値よ
りも大のときに、データベースを検索して雑音に応じた
対策部品(対策方法)を選定して規格値内に収め、最適
なノイズ対策を短時間に得ることを目的としている。
The present invention solves these problems by
When the noise measurement data measured from the device to be measured is larger than the standard value, the database is searched and the countermeasure component (countermeasure method) according to the noise is selected and kept within the standard value to provide the optimum noise countermeasure. The purpose is to get in a short time.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】図1を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図1において、対策情報
抽出処理41は、被対策装置から測定したノイズの測定
データおよび指示された規格値とを比較し、対策必要な
周波数範囲および減衰量を抽出するものである。
[Means for Solving the Problems] Means for solving the problems will be described with reference to FIG. In FIG. 1, the countermeasure information extraction processing 41 compares the measured data of the noise measured from the countermeasure target device with the instructed standard value, and extracts the frequency range and the attenuation amount that require countermeasures.

【0006】対策情報決定処理42は、対策情報抽出処
理41によって抽出した周波数範囲および減衰に対し
て、回路構成を選定して雑音に対応する定数を決定し、
その算出した減衰量が満足するまで次の候補の定数、回
路構成について繰り返したり、対策方法を設定して雑音
に対応する減衰量が満足するまで次の候補の対策方法の
選定を繰り返したりなどするものである。
The countermeasure information determining process 42 selects a circuit configuration for the frequency range and attenuation extracted by the countermeasure information extracting process 41 and determines a constant corresponding to noise,
Repeat the next candidate constant and circuit configuration until the calculated attenuation is satisfied, or set a countermeasure and repeat the selection of the next candidate countermeasure until the attenuation corresponding to noise is satisfied. It is a thing.

【0007】回路構成リスト51は、回路構成のリスト
を登録するものである。対策部品リスト52は、回路構
成リスト51に登録した回路構成の部品を登録するもの
である。
The circuit configuration list 51 is for registering a list of circuit configurations. The countermeasure component list 52 is for registering the components having the circuit configuration registered in the circuit configuration list 51.

【0008】対策部品特性データ53は、対策部品リス
ト52に登録した部品の定数を登録したり、対策方法デ
ータ54に登録した対策方法の減衰量を登録したりなど
するものである。
The countermeasure component characteristic data 53 is used for registering the constants of the components registered in the countermeasure component list 52 and the attenuation amount of the countermeasure method registered in the countermeasure method data 54.

【0009】[0009]

【作用】本発明は、図1に示すように、対策情報抽出処
理41が被対策装置から測定したノイズの測定データお
よび指示された規格値とを比較し、対策必要な周波数範
囲および減衰量(例えば電圧)を抽出し、対策情報決定
処理42が抽出した対策必要な周波数範囲および減衰量
に対して、回路構成を選定して雑音に対応する定数を決
定し、その算出した減衰量が満足するまで次の候補の定
数、回路構成について繰り返し、満足する回路構成およ
び定数を表示などするようにしている。この際、対策情
報決定処理42が回路構成リスト51から優先順位の高
い1つの回路構成を選定し、対策部品リスト52からこ
の選定した回路構成の部品を取り出すと共に対策部品特
性データ53からこの部品について雑音に対応する定数
を取り出し、この取り出した定数をもとに減衰量を計算
し、満足しないときに部品対策リスト52、対策部品特
性データ53、更に回路構成リスト51から次の候補に
ついて繰り返し、満足する回路構成、部品および定数を
決定するようにしている。
According to the present invention, as shown in FIG. 1, the countermeasure information extraction processing 41 compares the noise measurement data measured from the countermeasure target apparatus with the instructed standard value, and measures the frequency range and the attenuation amount ( For example, the voltage) is extracted, the circuit configuration is selected for the frequency range and the attenuation amount required for the countermeasure extracted by the countermeasure information determination processing 42, the constant corresponding to the noise is determined, and the calculated attenuation amount is satisfied. Until the next candidate constant and circuit configuration are repeated, the satisfied circuit configuration and constant are displayed. At this time, the countermeasure information determination processing 42 selects one circuit configuration having a high priority from the circuit configuration list 51, takes out the component having the selected circuit configuration from the countermeasure component list 52, and extracts this component from the countermeasure component characteristic data 53. A constant corresponding to noise is taken out, the attenuation is calculated based on the taken out constant, and when it is not satisfied, the parts countermeasure list 52, the countermeasure parts characteristic data 53, and the circuit configuration list 51 are repeated for the next candidate, and the satisfaction is satisfied. The circuit configuration, components and constants to be determined are determined.

【0010】対策情報抽出処理41が被対策装置から測
定したノイズの測定データおよび指示された規格値とを
比較し、対策必要な周波数範囲および減衰量(例えば電
界強度)を抽出し、対策情報決定処理42が抽出した対
策必要な周波数範囲および減衰量に対して、対策方法を
設定して雑音に対応する減衰量が満足するまで次の候補
の対策方法を設定することを繰り返し、満足する対策方
法を表示などするようにしている。この際、対策情報決
定処理42が対策必要な周波数範囲および減衰量に対し
て、対策方法データ54から優先順位の高い1つの対策
方法を設定し、対策部品特性データ53からこの設定し
た対策方法の減衰量を取り出し、満足しないときに対策
方法データ54、対策部品特性データ53の次の候補に
ついて繰り返し、満足する対策方法を決定するようにし
ている。
The countermeasure information extraction processing 41 compares the noise measurement data measured from the countermeasure target apparatus with the instructed standard value, extracts the frequency range and the attenuation amount (for example, the electric field strength) required for the countermeasure, and determines the countermeasure information. The countermeasure method is set for the frequency range and the attenuation amount required for the countermeasure extracted by the process 42, and the countermeasure method for the next candidate is repeatedly set until the attenuation amount corresponding to the noise is satisfied, and the countermeasure method is satisfied. Is displayed. At this time, the countermeasure information determination process 42 sets one countermeasure method having a higher priority from the countermeasure method data 54 for the frequency range and the attenuation amount that require countermeasures, and the countermeasure component characteristic data 53 indicates the countermeasure method thus set. The attenuation amount is extracted, and when it is not satisfied, the next candidate of the countermeasure method data 54 and the countermeasure component characteristic data 53 is repeated, and the satisfied countermeasure method is determined.

【0011】従って、被対策装置から測定したノイズの
測定データが規格値よりも大のときに、データベースを
検索して雑音(周波数範囲、電圧、電界強度)に応じた
対策部品(対策方法)を選定して規格値内に収め、最適
なノイズ対策を短時間に表示などすることが可能とな
る。
Therefore, when the noise measurement data measured from the device to be countermeasure is larger than the standard value, the database is searched to find a countermeasure component (countermeasure method) corresponding to the noise (frequency range, voltage, electric field strength). It is possible to select and fit within the standard value and display the optimum noise countermeasure in a short time.

【0012】[0012]

【実施例】次に、図1から図12を用いて本発明の実施
例の構成および動作を順次詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the construction and operation of an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

【0013】図1は、本発明の1実施例構成図を示す。
図1において、被対策装置1は、ノイズ(雑音)の強さ
を測定して規格内に収めるように対策を行う装置であ
る。
FIG. 1 shows a block diagram of an embodiment of the present invention.
In FIG. 1, the device to be treated 1 is a device that measures the intensity of noise and takes countermeasures so that the noise falls within the standard.

【0014】雑音測定システム2は、被対策装置1が電
源に放射したり、電波として放射したりするノイズを測
定するものであって、スペクトルアナライザーなどであ
る。この雑音測定システム2は、ここでは、後述するよ
うに、周波数に対する雑音(電圧、電界強度)を測定す
る(図7の(a)、図11の(a)参照)。
The noise measuring system 2 measures noise radiated by the device to be countered 1 to a power source or as a radio wave, and is a spectrum analyzer or the like. The noise measuring system 2 measures noise (voltage, electric field strength) with respect to frequency, as described later (see (a) of FIG. 7 and (a) of FIG. 11).

【0015】情報端末3は、雑音測定システム2から測
定データを受け取り、この測定データをシステムコント
ローラ4に渡し、対策情報(測定データが規格を越えて
いたときに当該規格内に収めるための回路構成、部品、
定数、あるいは対策方法、減衰量など)を受け取って表
示などする端末である。技術者は、この情報端末3に表
示された対策情報を見て、被対策装置1の回路構成、部
品、定数を変えたり、あるいは対策方法で指示された部
品に交換し、再度、雑音測定し、規格内に収まるか判定
する。収まらないときは、再度、測定データをシステム
コントローラ4に渡し、繰り返し対策情報を受け取り、
対策を行うことを繰り返す。
The information terminal 3 receives the measurement data from the noise measuring system 2, passes the measurement data to the system controller 4, and measures information (a circuit configuration for keeping the measurement data within the standard when the measurement data exceeds the standard). ,parts,
It is a terminal that receives and displays constants, countermeasures, attenuation, etc.). The engineer looks at the countermeasure information displayed on the information terminal 3 and changes the circuit configuration, parts, and constants of the device to be countermeasure 1, or replaces it with the component instructed by the countermeasure method, and measures the noise again. , Determine if it is within specifications. If it does not fit, again pass the measurement data to the system controller 4 and repeatedly receive the countermeasure information,
Repeat taking measures.

【0016】システムコントローラ4は、被対策装置1
の雑音の測定データをもとに、対策部品データベース5
を参照して規格内に収めるような回路構成、部品、定
数、あるいは対策方法、減衰量などを求めるものであっ
て、対策情報抽出処理41および対策情報決定処理42
などから構成されるものである。この求めた結果は、対
策情報として情報端末3に渡して表示し、技術者に提供
する。
The system controller 4 is the device to be protected 1
Based on the noise measurement data of the
Is used to obtain the circuit configuration, parts, constants, countermeasure method, attenuation amount, etc. so as to be within the standard. Countermeasure information extraction processing 41 and countermeasure information determination processing 42
It is composed of etc. The obtained result is passed to the information terminal 3 as countermeasure information, displayed, and provided to the engineer.

【0017】対策情報抽出処理41は、被対策装置1か
ら測定したノイズの測定データおよび指示された規格値
とを比較し、対策必要な周波数範囲および減衰量を抽出
するものである(図7の(a)、図11の(a)参
照)。
The countermeasure information extraction processing 41 compares the noise measurement data measured from the countermeasure target device 1 with the instructed standard value, and extracts the frequency range and the attenuation amount that require countermeasures (see FIG. 7). (A), (a) of FIG. 11).

【0018】対策情報決定処理42は、対策情報抽出処
理41によって抽出した周波数データ(周波数範囲)お
よび減衰に対して、回路構成を設定して雑音に対応する
定数を決定し、その算出した減衰量が満足するまで次の
候補の定数、回路構成について繰り返したり(図4参
照)、あるいは対策方法を設定して雑音に対応する減衰
量が満足するまで次の候補の対策方法の設定を繰り返し
たり(図10参照)などするものである。
The countermeasure information determination processing 42 sets a circuit configuration for the frequency data (frequency range) and attenuation extracted by the countermeasure information extraction processing 41, determines a constant corresponding to noise, and calculates the calculated attenuation amount. Repeat the constants and circuit configuration of the next candidate until the above is satisfied (see FIG. 4), or set the countermeasure method and repeat the setting of the next candidate countermeasure method until the attenuation corresponding to noise is satisfied ( (See FIG. 10).

【0019】対策部品データベース5は、雑音の測定デ
ータが規格値を越えているときに、越えないようにする
回路構成、部品、定数、あるいは対策方法、減衰量など
を求めるためのデータベースであって、回路構成リスト
51、対策部品リスト52、対策部品特性データ53、
対策方法データ54などから構成されるものである。
The countermeasure component database 5 is a database for obtaining the circuit configuration, components, constants, countermeasure method, attenuation, etc., which prevent noise measurement data from exceeding the standard value when the measured data exceeds the standard value. , Circuit configuration list 51, countermeasure component list 52, countermeasure component characteristic data 53,
It is composed of countermeasure method data 54 and the like.

【0020】回路構成リスト51は、回路構成のリスト
を登録するものであって、ここでは優先順に登録したも
のである(図8参照)。対策部品リスト52は、回路構
成リスト51に登録した回路構成の部品を登録したもの
である(図9参照)。
The circuit configuration list 51 is for registering a list of circuit configurations, and is registered here in the order of priority (see FIG. 8). The countermeasure component list 52 is a list of components having the circuit configuration registered in the circuit configuration list 51 (see FIG. 9).

【0021】対策部品特性データ53は、対策部品リス
ト52に登録した部品の定数を登録したり、対策方法デ
ータ54に登録した対策方法の減衰量を登録したりなど
するものである(図9参照)。
The countermeasure component characteristic data 53 is for registering the constants of the components registered in the countermeasure component list 52, and for registering the attenuation amount of the countermeasure method registered in the countermeasure method data 54 (see FIG. 9). ).

【0022】次に、図2を用いて、図1の全体の構成の
動作を説明する。図2において、S1は、雑音の測定を
行う。これは、図1の雑音測定システム2である例えば
スペクトルアナライザが被対策装置1から検出した電圧
あるいは電波について、周波数分析を行い、周波数デー
タとそのときの電圧(あるいは電界強度)とを対にし
た、図7の(b)あるいは図11の(b)の測定データ
を生成する。
Next, the operation of the entire configuration of FIG. 1 will be described with reference to FIG. In FIG. 2, S1 measures noise. This is a noise measurement system 2 of FIG. 1, for example, a spectrum analyzer detects a voltage or a radio wave detected from the device 1 to be subjected to frequency analysis, and the frequency data is paired with the voltage (or electric field strength) at that time. , (B) of FIG. 7 or (b) of FIG. 11 is generated.

【0023】S2は、規格を満足するか判別する。これ
は、S1で測定した雑音の測定データ(周波数データと
そのときの電圧/電界強度の対)と、予め指定された規
格値とを比較し、当該測定データの全ての周波数データ
において規格値を満足するか判別する。YESの場合に
は、雑音の測定データの全ての周波数データにおいて、
規格値を満足するので、終了する。一方、NOの場合に
は、雑音の測定データが規格値を満足していないと判明
したので、S3で情報に基づく雑音対策を行う。
In step S2, it is determined whether the standard is satisfied. This is to compare the noise measurement data (frequency data and voltage / electric field strength pair at that time) measured in S1 with a standard value specified in advance, and to determine the standard value for all frequency data of the measurement data. Determine if you are satisfied. If YES, in all frequency data of the noise measurement data,
Since the standard value is satisfied, the process ends. On the other hand, in the case of NO, it is found that the measured data of noise does not satisfy the standard value, so that the noise countermeasure based on the information is taken in S3.

【0024】以上によって、被対策装置1からの雑音の
測定データをもとに規格値と比較し、満足しないときに
この測定データをノイズ解析装置側に渡し、対策部品デ
ータベース5を参照して解析し対策情報を生成し、これ
を受け取り、被対策装置1に対策として例えばL型1段
のフィルタを実装する。そして、再度、繰り返し雑音測
定を行い、測定データが規格値を満足するまで繰り返
す。
Based on the above, the measured data of noise from the device to be countered 1 is compared with the standard value, and when not satisfied, this measured data is passed to the noise analysis device side and analyzed by referring to the countermeasure component database 5. Then, countermeasure information is generated, the countermeasure information is received, and, for example, an L-type one-stage filter is mounted as a countermeasure in the countermeasure target device 1. Then, the noise measurement is repeated and repeated until the measured data satisfies the standard value.

【0025】次に、雑音測定システム側から雑音の測定
データを渡されたノイズ解析装置側の動作を説明する。
図2のS11は、対策目標の設定を行う。これは、対策
を行う例えば規格(規格コード)を設定する。
Next, the operation of the noise analysis device side, to which the noise measurement data is passed from the noise measurement system side, will be described.
In S11 of FIG. 2, a countermeasure target is set. This sets, for example, a standard (standard code) for which measures are taken.

【0026】S12は、雑音データの入力を行う。これ
は、S1で測定した雑音の測定データの取り込みを行
う。S13は、雑音に応じた対策方法(部品)の選定を
行う。これは、対策部品データベース5を参照し、後述
する図3、図4(あるいは図10)で説明するように、
雑音の測定データのうちの規格を越えている部分の周波
数で、規格値を越えないようにするための対策品(例え
ばフィルタ(回路構成、部品、定数)など)の選定を行
う。
In step S12, noise data is input. This captures the measurement data of the noise measured in S1. In S13, a countermeasure method (component) is selected according to the noise. This will be described with reference to the countermeasure component database 5 as described later with reference to FIG. 3 and FIG. 4 (or FIG. 10).
Select a countermeasure (such as a filter (circuit configuration, parts, constants)) that prevents the measured value of noise from exceeding the standard at the frequency that exceeds the standard.

【0027】S14は、対策情報の表示を行う。これ
は、S13で選定した対策部品をディスプレイ上に例え
ば図4の右下(あるいは図10の右下)に示すように表
示する。
In step S14, countermeasure information is displayed. This causes the countermeasure component selected in S13 to be displayed on the display as shown in the lower right part of FIG. 4 (or the lower right part of FIG. 10), for example.

【0028】S15は、続けるか判別する。これは、S
14で表示した対策情報を技術者が見て、被対策装置1
に対策品(例えばフィルタ)を実装し、再度、S11に
戻って繰り返すように指示があったか判別する。YES
の場合には、S11以降を繰り返す。NOの場合には、
終了する。
In step S15, it is determined whether to continue. This is S
The technician sees the countermeasure information displayed in 14, and the countermeasure target device 1
A countermeasure product (for example, a filter) is mounted on, and it is determined again whether or not there is an instruction to return to S11 and repeat. YES
In the case of, S11 and subsequent steps are repeated. If no,
finish.

【0029】以上によって、設定された対策目標(規格
コード)および被対策装置からの測定データを取り込
み、対策部品データベース5を参照し、規格を越えてい
る周波数の部分について、規格を越えないようにするた
めの回路構成、部品、定数(あるいは対策方法、減衰
量)を求めて対策情報として表示し、これを見た技術者
が被対策装置1に当該対策情報で指示された内容、例え
ばL型1段のフィルタを実装する。そして、再度、繰り
返して雑音を測定し、確認する。雑音の測定データが規
格値を越えている場合には、再度繰り返す。以下雑音の
測定データをもとに回路構成、部品、定数を選定すると
きの動作を詳細に説明する。
As described above, the set countermeasure target (standard code) and the measured data from the countermeasure target device are taken in, the countermeasure component database 5 is referred to, and the frequency part exceeding the standard is prevented from exceeding the standard. The circuit configuration, components, and constants (or countermeasure method, attenuation amount) for obtaining the countermeasure information are displayed as countermeasure information, and the engineer who sees this displays the content instructed to the countermeasure target device 1 by the countermeasure information, for example, L type. Implement a one-stage filter. Then, the noise is repeatedly measured and confirmed again. If the noise measurement data exceeds the standard value, repeat again. The operation for selecting the circuit configuration, parts, and constants based on the noise measurement data will be described in detail below.

【0030】図3は、本発明の動作説明図を示す。これ
は、図2のS11からS14の詳細なフローチャートで
ある。図3において、S21は、適用する規格コードを
入力する。これは、技術者が対策目標の設定を行うため
に、規格コードを入力する。この規格コードの入力によ
り、周波数データとそのときの電圧が例えば図6の規格
データ例に示すように決まる。
FIG. 3 shows an operation explanatory diagram of the present invention. This is a detailed flowchart of S11 to S14 of FIG. In FIG. 3, in S21, the standard code to be applied is input. For this, the engineer inputs the standard code in order to set the countermeasure target. By inputting this standard code, the frequency data and the voltage at that time are determined as shown in the standard data example of FIG. 6, for example.

【0031】S22は、雑音の測定データの取り込みを
行う。これは、図2のS1で測定した雑音の測定データ
を取り込む(図5参照) S23は、変数i=0と初期設定する。これは、i=0
からi=1000まで順次インクリメントし、周波数デ
ータf0 の雑音の電圧V0 から周波数データf 1000の雑
音の電圧V1000まで順次取り込むためである。
In step S22, the noise measurement data is captured.
To do. This is the noise measurement data measured in S1 of FIG.
(See FIG. 5) In S23, a variable i = 0 is initialized. This is i = 0
To i = 1000, the frequency
Data f0 Noise voltage V0 To frequency data f 1000Miscellaneous
Sound voltage V1000This is to sequentially capture up to.

【0032】S24は、規格値と比較する。これは、測
定データの周波数データfiと電圧vi(i=0から10
00のいずれか)と、S21で設定した規格値の周波数
データfLiと規格電圧VLi(i=0から1000)の該
当する周波数の規格電圧と比較する。
In step S24, the standard value is compared. This is the frequency data f i of the measurement data and the voltage v i (i = 0 to 10).
00)) and the frequency data f Li of the standard value set in S21 and the standard voltage of the corresponding frequency of the standard voltage V Li (i = 0 to 1000).

【0033】S25は、測定データが規格値よりも大か
判別する。YESの場合には、雑音の測定データが規格
値よりも大であり、対策の必要があるので、規格値割れ
データとして保存する。
In step S25, it is determined whether the measured data is larger than the standard value. In the case of YES, the noise measurement data is larger than the standard value, and it is necessary to take measures.

【0034】S26は、i=i+1する。S27は、終
わりか判別する。YESの場合、即ちi=1000とな
り全ての測定データについて、規格データと比較を終了
した場合、S28で対策の必要な周波数範囲、減衰量を
決定する。即ちS25で規格値割れデータとして保存し
ておいた周波数データfと電圧vをもとに、対策の必要
な周波数範囲と、測定データ(電圧)が規格を越えた部
分の電圧を規格内に減衰させるために必要な減衰量とを
決定する(図7の(a)のΔV参照)。そして、図4の
S31以降の対策情報決定処理を行い、対策情報(回路
構成、部品、定数)を求めて表示する。一方、S27で
NOの場合には、次の測定データについてS24以降を
繰り返し実行する。
In S26, i = i + 1 is set. In S27, it is determined whether the end. In the case of YES, that is, when i = 1000 and the comparison with the standard data is completed for all the measured data, the frequency range and the attenuation amount that require countermeasures are determined in S28. That is, based on the frequency data f and the voltage v stored as the data whose values are below the standard value in S25, the frequency range in which countermeasures are required and the voltage at the portion where the measured data (voltage) exceeds the standard are attenuated within the standard. The amount of attenuation necessary for this is determined (see ΔV in FIG. 7A). Then, the countermeasure information determination process after S31 in FIG. 4 is performed, and the countermeasure information (circuit configuration, parts, constants) is obtained and displayed. On the other hand, if NO in S27, S24 and subsequent steps are repeatedly executed for the next measurement data.

【0035】以上によって、規格データと測定データと
を比較し、規格値を越えた周波数範囲および必要な減衰
量を決定し、図4の対策情報決定処理を起動する。図4
は、本発明の対策情報処理の動作説明フローチャートを
示す。
As described above, the standard data and the measured data are compared, the frequency range exceeding the standard value and the necessary attenuation amount are determined, and the countermeasure information determination process of FIG. 4 is started. Figure 4
FIG. 8 shows a flowchart for explaining the operation of the countermeasure information processing of the present invention.

【0036】図4において、S31は、回路構成の設定
を行う。これは、右側に記載したように、L型1段、T
型、π型、L型2段など、回路構成を、回路構成リスト
51から優先順位に従って選定する。例えば図8の回路
構成リスト51から先頭のフィルター1(L型1段のフ
ィルタ)を取り出す。
In FIG. 4, S31 sets the circuit configuration. This is an L-shaped single stage, T
Type, π type, L type two stages, etc., circuit configurations are selected from the circuit configuration list 51 according to priority. For example, the first filter 1 (L-type one-stage filter) is taken out from the circuit configuration list 51 of FIG.

【0037】S32は、最大の雑音に対応する定数の決
定を行う。これは、右側に記載したように、回路の部品
を対策部品リスト52から選定し、定数(L、C)を対
策部品特性データ53から読み込む。具体的に言えば、
図8の回路構成リスト51から取り出した回路構成(例
えばフィィルター1)の部品を、図9の対策部品リース
ト52から部品(例えばコモンコイル1)として取り出
し、更に図9の対策部品特性データ53からその定数を
取り出す。
In step S32, the constant corresponding to the maximum noise is determined. As described on the right side, this selects a circuit component from the countermeasure component list 52 and reads constants (L, C) from the countermeasure component characteristic data 53. Specifically,
The component of the circuit configuration (for example, the filter 1) extracted from the circuit configuration list 51 of FIG. 8 is extracted as a component (for example, the common coil 1) from the countermeasure component list 52 of FIG. 9, and the component of the countermeasure component characteristic data 53 of FIG. Get a constant.

【0038】S33は、減衰量の算出を行う。これは、
右側に記載したように、回路構成(例えばL型1段)と
定数から減衰量を計算により算出する。S34は、評価
を行う。
In step S33, the amount of attenuation is calculated. this is,
As described on the right side, the amount of attenuation is calculated from the circuit configuration (for example, L-shaped one stage) and the constant. S34 evaluates.

【0039】S35は、良いか判別する。これは、S3
1、S32で選定した回路構成、部品、定数をもとに算
出した減衰量が、図3のS28で決定した対策に必要な
減衰量よりも大きいか判別する。YESの場合には、対
策に必要な減衰量を満たすので、S36で対策情報の表
示を、右側の対策情報メッセージに示すように行う。こ
こで、対策情報メッセージの左側は、S31で選定した
回路構成(L型1段)を判り易く表示すると共に、部品
(L1、C1)と、その定数(3mH、4700pF)を
合わせて表示する。また、対策情報メッセージの右側に
は、雑音の測定データを棒グラフで表示し、折れ線グラ
フで規格値を表示する。ここで、横軸は周波数、縦軸は
電圧を表す。一方、S35でNOの場合には、選定した
回路構成、部品、定数によっては対策に必要な減衰量を
得られなかったので、次の部品、定数についてS32以
下を行ったり、更に次の候補の回路構成についてS31
以降を行ったり繰り返し、対策に必要な減衰量を得るよ
うにする。
In step S35, it is determined whether it is good. This is S3
1, it is determined whether or not the attenuation amount calculated based on the circuit configuration, components and constants selected in S32 is larger than the attenuation amount required for the countermeasure determined in S28 of FIG. In the case of YES, the amount of attenuation required for the countermeasure is satisfied, so the countermeasure information is displayed in S36 as shown in the countermeasure information message on the right side. On the left side of the countermeasure information message, the circuit configuration selected in S31 (1 stage L type) is displayed in an easy-to-understand manner, and the components (L 1 , C 1 ) and their constants (3 mH, 4700 pF) are also displayed. To do. On the right side of the countermeasure information message, the noise measurement data is displayed as a bar graph and the standard value is displayed as a line graph. Here, the horizontal axis represents frequency and the vertical axis represents voltage. On the other hand, in the case of NO in S35, the attenuation amount necessary for the countermeasure cannot be obtained depending on the selected circuit configuration, parts, and constants, so S32 and the following steps are performed for the next parts and constants, and the next candidate is selected. Circuit configuration S31
Do the following and repeat to obtain the attenuation required for countermeasures.

【0040】以上によって、雑音対策に必要な周波数範
囲および減衰量(図3のS28)を満たすような回路構
成、部品、定数を、回路構成リスト51、対策部品リス
ト52、対策部品特定データ53を繰り返し検索して決
め、この決めた対策情報を右下に示すように対策情報メ
ッセージとして表示する。この対策情報メッセージを見
た技術者がここで指示された回路構成(L型1段のフィ
ルタ)、部品(L1がコイル1、C1がコンデンサ1)、
定数(3mH、4700pF)を持つ素子(ここではフ
ィルタ)を被対策装置1の例えば電源ラインに実装し、
雑音対策を施す。
By the above, the circuit configuration list 51, the countermeasure component list 52, and the countermeasure component specifying data 53 are set as the circuit configurations, components, and constants that satisfy the frequency range and the attenuation amount (S28 in FIG. 3) necessary for noise countermeasures. It is repeatedly searched and decided, and the decided countermeasure information is displayed as a countermeasure information message as shown in the lower right. The engineer who sees this countermeasure information message instructs the circuit configuration (L-type one-stage filter), parts (L 1 is coil 1, C 1 is capacitor 1),
An element (here, a filter) having a constant (3 mH, 4700 pF) is mounted on, for example, a power supply line of the device 1 to be protected,
Take measures against noise.

【0041】図5は、本発明の測定データ例を示す。図
5の(a)は、測定データを模式的に表現したものであ
る。これは、図2のS1の雑音の測定によって、被対策
装置1から検出した雑音を周波数分析(スペクトル分
析)した測定データである。ここで、横軸は周波数fを
表し、縦軸は電圧(あるいは電界強度)を表す。横軸の
周波数fは、f0からf1000まで1000分割した各周
波数を表す。
FIG. 5 shows an example of measurement data of the present invention. FIG. 5A is a schematic representation of measurement data. This is the measurement data obtained by frequency analysis (spectral analysis) of the noise detected from the device 1 to be protected by the noise measurement of S1 in FIG. Here, the horizontal axis represents frequency f and the vertical axis represents voltage (or electric field strength). The frequency f on the horizontal axis represents each frequency divided into 1000 from f 0 to f 1000 .

【0042】図5の(b)は、図5の(a)の周波数f
i(i=0から1000)とそのときの電圧(電界強
度)をvi(ei)(i=0から1000)とを対にして
表現したものである。
FIG. 5 (b) shows the frequency f of FIG. 5 (a).
i (i = 0 to 1000) and the voltage (electric field strength) at that time are expressed in pairs with v i (e i ) (i = 0 to 1000).

【0043】図6は、本発明の規格値データ例を示す。
図6の(a)は、規格値データを模式的に表現したもの
である。これは、図3のS21で適用する規格コードを
入力したことによって設定した規格値データである。横
軸は周波数を表し、縦軸は電圧(電界強度)を表す。
FIG. 6 shows an example of standard value data of the present invention.
FIG. 6A is a schematic representation of standard value data. This is the standard value data set by inputting the standard code applied in S21 of FIG. The horizontal axis represents frequency, and the vertical axis represents voltage (electric field strength).

【0044】図6の(b)は、規格値データの例を示
す。ここでは、#1、・・・#nは規格コードを表す。
図6の(a)は、規格コード#1について、模式的に表
現したものであって、図示のように周波数fLiと規格値
(電圧)VLi(i=0からn)の対を登録したものであ
る。
FIG. 6B shows an example of standard value data. Here, # 1, ..., #n represent standard codes.
FIG. 6A is a schematic representation of the standard code # 1, in which a pair of frequency f Li and standard value (voltage) V Li (i = 0 to n) is registered as illustrated. It was done.

【0045】図7は、本発明の測定データの具体例を示
す。図7の(a)は、測定データと比較値との関係を示
す。ここで、測定データは、図3のS22で取り込んだ
雑音の測定データである(図7の(b)参照)。規格値
は、図3のS21で設定した規格コードに対応する規格
値である(図7の(c)参照)。ここでは、測定データ
と規格値を比較すると、の周波数f10のときに、測定
データが規格値よりもΔV10だけ大きいので、図3のS
25でYESとなり、このときの周波数f10とΔV10
対にして、図7の(d)に示すように規格値割れデータ
として保存する。
FIG. 7 shows a specific example of the measurement data of the present invention. FIG. 7A shows the relationship between the measurement data and the comparison value. Here, the measurement data is the noise measurement data captured in S22 of FIG. 3 (see FIG. 7B). The standard value is a standard value corresponding to the standard code set in S21 of FIG. 3 (see (c) of FIG. 7). Here, when the measured data is compared with the standard value, the measured data is larger than the standard value by ΔV 10 at the frequency f 10 of, so that S in FIG.
If YES in 25, the frequency f 10 and ΔV 10 at this time are paired, and the data is stored as standard value broken data as shown in FIG. 7D.

【0046】図7の(b)は、測定データを示す。これ
は、雑音の測定データについて、周波数fiと測定デー
タ(電圧)vi(i=0から1000)を対にして記憶
したものである。
FIG. 7B shows the measurement data. In the noise measurement data, the frequency f i and the measurement data (voltage) v i (i = 0 to 1000) are stored in pairs.

【0047】図7の(c)は、規格値データを示す。こ
れは、図3のS21で適用する規格コードを設定したこ
とに対応して、図6の(b)の規格データから該当する
規格コード#1を取り出したものである。この規格値デ
ータを模式的に表示すると、図7の(a)の規格値に示
すようになる。
FIG. 7C shows standard value data. This corresponds to the setting of the standard code applied in S21 of FIG. 3, and the corresponding standard code # 1 is extracted from the standard data of FIG. 6B. When this standard value data is schematically displayed, it becomes as shown in the standard value of FIG.

【0048】図7の(d)は、規格値割れデータを示
す。これは、図3のS25で測定データのある周波数f
iの電圧viが、規格値fLiの電圧vLiよりも大きいとき
のデータである。この規格値割れデータは、図7の
(a)に示すように、測定データが規格値を越えたとき
に、そのときの周波数と規格値を越えた電圧値Δvi
対で表現する。例えば図7の(a)の場合には、f10
Δv10として保存する。
FIG. 7 (d) shows standard value breaking data. This is the frequency f with the measurement data in S25 of FIG.
This is data when the voltage v i of i is larger than the voltage v Li of the standard value f Li . As shown in (a) of FIG. 7, when the measured data exceeds the standard value, the standard value break data is represented by a pair of the frequency at that time and the voltage value Δv i exceeding the standard value. For example, in the case of FIG. 7A, it is saved as f 10 and Δv 10 .

【0049】図8は、本発明の回路構成リスト例を示
す。これは、識別子に対応づけて回路構成を予め登録し
たものである。ここでは、 識別子1:回路構成としてフィルター1(L型1段のフ
ィルタ)と模式的表現を登録する。
FIG. 8 shows an example of the circuit configuration list of the present invention. This is a circuit configuration registered in advance in association with an identifier. Here, the identifier 1: the filter 1 (L-type one-stage filter) and the schematic expression are registered as the circuit configuration.

【0050】同様に、識別子2、3・・・についても予
め登録する。図9は、本発明の対策部品リスト/対策方
法データ/部品特性データ例を示す。
Similarly, the identifiers 2, 3, ... Are registered in advance. FIG. 9 shows an example of a countermeasure component list / countermeasure method data / component characteristic data of the present invention.

【0051】対策部品リスト52は、図8の回路構成リ
スト中の回路構成(例えばフィルター1)の要素を予め
登録したものである。例えば図8の回路構成リスト中の
回路構成としてフィルター1を選定した場合、図9の対
策部品データ52から、L1として例えばコモンコイル
1を選定し、C1としてコンデサ1を選定する。そし
て、これら選定した例えばコモンコイル1、コンデンサ
1は、図示のようなLCRによって構成されている。
The countermeasure component list 52 is a list in which the elements of the circuit configuration (for example, the filter 1) in the circuit configuration list of FIG. 8 are registered in advance. For example, when the filter 1 is selected as the circuit configuration in the circuit configuration list of FIG. 8, for example, the common coil 1 is selected as L 1 and the capacitor 1 is selected as C 1 from the countermeasure component data 52 of FIG. Then, for example, the selected common coil 1 and capacitor 1 are configured by the LCR as shown in the figure.

【0052】対策部品特性データ53は、点線の矢印を
用いて示すように、対策部品リスト52中の部品の定数
を予め登録したものである。例えば対策部品リスト52
の部品であるコモンコイル1はLCRの並列接続によっ
て構成され、これらLCRの値(定数)は矢印を用いて
示したように、対策部品特定データ53中にLa、C
a、Ra(定数)として取り出すことができる。これら
取り出した定数をもとに、図8のフィルター1の減衰量
を算出する(この際、対策に必要な最大の雑音の周波数
に減衰特性が一致する定数の減衰量を算出する)。ま
た、対策方法データ54の対策方法(例えばビーズコア
1)に対応する減衰特性(fmax、Δvmax)を登録す
る。
The countermeasure component characteristic data 53 is obtained by previously registering the constants of the components in the countermeasure component list 52, as indicated by the dotted arrows. For example, the countermeasure parts list 52
The common coil 1, which is a component of the LCR, is configured by parallel connection of LCRs, and the values (constants) of these LCRs are La and C in the countermeasure component identification data 53 as indicated by the arrows.
It can be taken out as a and Ra (constant). Based on these extracted constants, the attenuation amount of the filter 1 of FIG. 8 is calculated (at this time, the attenuation amount of the constant whose attenuation characteristic matches the frequency of the maximum noise required for countermeasures is calculated). Further, the damping characteristics (f max , Δv max ) corresponding to the countermeasure method (for example, the bead core 1) of the countermeasure method data 54 are registered.

【0053】対策方法データ54は、後述する雑音とし
て測定した電界強度の測定データが規格値を越えたとき
の対策方法を予め登録したものである。次に、図10お
よび図11を用いて本発明の他の電界強度の対策情報処
理について詳細に説明する。通常、被対策装置から放射
する雑音は、30MHz以下は電圧で測定し、30MH
z以上は電界強度で測定する規格となっており、ここで
は電界強度の場合のものである。この電界強度で測定す
る場合も、図2、図3は、同様であるので、説明を省略
する。
The countermeasure method data 54 is registered beforehand with the countermeasure method when the measured data of the electric field strength measured as noise, which will be described later, exceeds the standard value. Next, another electric field strength countermeasure information processing of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 10 and 11. Normally, the noise radiated from the device to be protected is measured at voltage of 30MHz or less
z and above are standards for measuring the electric field strength, and here are the cases of electric field strength. 2 and 3 are the same in the case of measuring with this electric field strength, the description thereof will be omitted.

【0054】図10は、本発明の他の動作説明フローチ
ャートを示す。これは、雑音を電圧で測定した図4に対
応するフローチャートである。図10において、S41
は、最大の雑音に対応する対策方法の選定を行う。これ
は、右側に記載したように、対策方法データ54から優
先順位の高い対策方法を1つ取り出す。
FIG. 10 shows another flowchart for explaining the operation of the present invention. This is a flowchart corresponding to FIG. 4 in which noise is measured by voltage. In FIG. 10, S41
Selects the countermeasure method for the maximum noise. For this, as described on the right side, one countermeasure method with a high priority is extracted from the countermeasure method data 54.

【0055】S42は、減衰量を算出する。これらS4
1、S42は、図9の対策方法データ54から優先順位
の高いものを1つ、例えば先頭のビースコア1を取り出
し、このビースコア1に対応する対策部品特性データ5
3中の減衰特性(fmax、Δvmax)を取り出し、減衰量
を算出する。
In step S42, the amount of attenuation is calculated. These S4
In S1 and S42, one of the countermeasure methods data 54 shown in FIG. 9 having a high priority, for example, the first B-score 1 is taken out, and the countermeasure component characteristic data 5 corresponding to the B-score 1 is extracted.
The attenuation characteristic (f max , Δv max ) in 3 is taken out, and the attenuation amount is calculated.

【0056】S43は、評価する。これは、S42で算
出した対策方法の減衰量Δvmaxが、図3のS24で規
格値と比較し、規格値を越えた電界強度Δexよりも大
きく、雑音を規格値に減衰させることができるか評価す
る。
In S43, the evaluation is performed. This is because the attenuation amount Δv max of the countermeasure method calculated in S42 is larger than the electric field strength Δe x exceeding the standard value as compared with the standard value in S24 of FIG. 3, and noise can be attenuated to the standard value. Or evaluate.

【0057】S44は、良いか判別する。YESの場合
には、対策に必要な減衰量を満たすので、S45で対策
情報の表示を、右側の対策情報メッセージに示すように
行う。ここで、対策情報メッセージの左側は、S41で
選定した対策方法(ビーズコア1)を判り易く表示する
と共に、部品名:ビースコア1および減衰量Δvmax
併せて表示する。一方、S44でNOの場合には、他の
対策方法を探し、S41以降を繰り返し行う。
In S44, it is determined whether it is good. In the case of YES, the amount of attenuation required for the countermeasure is satisfied, so that the countermeasure information is displayed in S45 as shown in the countermeasure information message on the right side. Here, on the left side of the countermeasure information message, the countermeasure method (bead core 1) selected in S41 is displayed in an easy-to-understand manner, and the component name: B-core 1 and attenuation amount Δv max are also displayed. On the other hand, in the case of NO in S44, another countermeasure method is searched for, and S41 and subsequent steps are repeated.

【0058】以上によって、雑音対策に必要な周波数範
囲および減衰量(図3のS28)を満たすような対策方
法を、対策方法リスト54、対策部品特定データ53を
繰り返し検索して決め、この決めた対策情報を右下に示
すように対策情報メッセージとして表示する。この対策
情報メッセージを見た技術者がここで指示された対策方
法(ビーズコア1)、減衰特性を持つ素子(ここではビ
ーズコア1)を被対策装置1の例えば電源ラインなどに
実装し、雑音対策を施す。
As described above, the countermeasure method satisfying the frequency range and the attenuation amount (S28 in FIG. 3) necessary for the noise countermeasure is determined by repeatedly searching the countermeasure method list 54 and the countermeasure component specifying data 53, and this is determined. The countermeasure information is displayed as a countermeasure information message as shown in the lower right. The engineer who sees this countermeasure information message mounts the countermeasure method (bead core 1) specified here and the element having the attenuation characteristic (the bead core 1 here) on the power supply line of the device 1 to be countermeasureed against noise. Give.

【0059】図11は、本発明の他の測定データの具体
例を示す。図11の(a)は、測定データと比較値との
関係を示す。ここで、測定データは、図3のS22で取
り込んだ雑音の測定データである(図7の(b)参
照)。規格値は、図3のS21で設定した規格コードに
対応する規格値である(図7の(c)参照)。ここで
は、測定データと規格値を比較すると、の周波数f10
のときに、測定データが規格値よりもΔe10だけ大きい
ので、このときの周波数f 10とΔe10を対にして、図1
1の(d)に示すように規格値割れデータとして保存す
る。
FIG. 11 shows a concrete example of other measurement data of the present invention.
Here is an example: FIG. 11 (a) shows the measured data and the comparison value.
Show the relationship. Here, the measurement data is acquired in S22 of FIG.
This is the measured noise data (see (b) in Fig. 7).
See). The standard value is the standard code set in S21 of Fig. 3.
It is the corresponding standard value (see (c) of FIG. 7). here
Is the frequency f of when comparing the measured data with the standard value.Ten
When, the measured data is ΔeTenOnly big
Therefore, the frequency f at this time TenAnd ΔeTenFigure 1
As shown in 1 (d)
It

【0060】図11の(b)は、測定データを示す。こ
れは、雑音の測定データについて、周波数fiと測定デ
ータ(電界強度)ei(i=0から1000)を対にし
て記憶したものである。
FIG. 11B shows the measurement data. In the noise measurement data, the frequency f i and the measurement data (electric field strength) e i (i = 0 to 1000) are paired and stored.

【0061】図11の(c)は、規格値データを示す。
これは、適用する規格コードを設定したことに対応し
て、規格データから該当する規格コード#bを取り出し
たものである。この規格値データを模式的に表示する
と、図11の(a)の規格値に示すようになる。
FIG. 11C shows standard value data.
In this case, the corresponding standard code #b is extracted from the standard data corresponding to the setting of the standard code to be applied. When this standard value data is schematically displayed, it becomes as shown in the standard value of FIG.

【0062】図11の(d)は、規格値割れデータを示
す。これは、測定データのある周波数fiの電界強度ei
が、規格値fLiの電界強度eLiよりも大きいときのデー
タである。この規格値割れデータは、図11の(a)に
示すように、測定データが規格値を越えたときに、その
ときの周波数と規格値を越えた電圧値Δeiの対で表現
する。例えば図11の(a)の場合には、f10とΔe10
として保存する。
FIG. 11D shows the standard value break data. This is the electric field strength e i of the frequency f i of the measured data.
There is data is greater than the electric field strength e Li standard value f Li. As shown in (a) of FIG. 11, when the measured data exceeds the standard value, the standard value break data is represented by a pair of the frequency at that time and the voltage value Δe i exceeding the standard value. For example, in the case of FIG. 11A, f 10 and Δe 10
Save as.

【0063】図12は、本発明の装置の構成例を示す。
図12において、被ノイズ対策装置11は、エアコンな
どのノイズの対策を行う装置であるノイズ解析装置12
は、被ノイズ対策装置11のノイズ解析を行う装置であ
って、図示のように、被ノイズ対策装置11のノイズを
測定する装置Aと、装置Aから電話回線などを介して転
送されてきた測定データを解析し、既述した対策情報を
生成する装置Bから構成されている。
FIG. 12 shows a structural example of the apparatus of the present invention.
In FIG. 12, a noise reduction device 11 is a noise analysis device 12 that is a device that takes measures against noise such as air conditioners.
Is a device for performing noise analysis of the noise reduction device 11, and as shown in the figure, a device A for measuring the noise of the noise reduction device 11 and a measurement transferred from the device A via a telephone line or the like. It is composed of a device B that analyzes data and generates the countermeasure information described above.

【0064】装置Aは、図示のように、被ノイズ対策装
置11のノイズを解析するスペクトルアナライザー1
3、およびスペクトルアナライザー13からのノイズ
発生レベル(測定データ)を電話回線などを介して装置
Bに転送するコンピュータ14から構成されるものであ
る。
The device A is, as shown in the figure, a spectrum analyzer 1 for analyzing the noise of the device 11 against noise.
3 and a computer 14 for transferring the noise generation level (measurement data) from the spectrum analyzer 13 to the device B via a telephone line or the like.

【0065】スペクトルアナライザー13は、被ノイズ
対策装置11のノイズを測定し、そのノイズ発生レベ
ルを自身のディスプレイ上に表示するものである。コン
ピュータ14は、スペクトルアナライザー13からのノ
イズ発生レベルの通知を受け、これを電話回線を介して
装置Bに転送したり、自身のディスプレイ上に、ノイ
ズ発生レベル、ノイズ対策部品の情報、ノイズ発生
解析結果の情報などを表示する。これを見て、技術者
は、被ノイズ対策装置11のノイズ対策品(例えばフィ
ルター)を実装し、ノイズの発生を抑止する。
The spectrum analyzer 13 measures the noise of the noise reduction device 11 and displays the noise generation level on its own display. The computer 14 receives the notification of the noise generation level from the spectrum analyzer 13 and transfers it to the device B via a telephone line, or displays the noise generation level, information on noise countermeasure parts, and noise generation analysis on its own display. Display information such as results. Seeing this, the technician mounts a noise countermeasure product (for example, a filter) of the noise reduction countermeasure device 11 to suppress the generation of noise.

【0066】装置Bは、測定データをもとに対策情報を
生成するものであって、図示のように、対策部品データ
ベース5や各種プログラムを格納するハードディスク1
5および各種処理を行うコンピュータ16などから構成
されるものである。
The device B is for generating countermeasure information based on the measurement data, and as shown in the figure, the countermeasure component database 5 and the hard disk 1 for storing various programs.
5 and a computer 16 that performs various processes.

【0067】コンピュータ16は、既述したように、雑
音の測定データについて、規格値を越える周波数範囲、
減衰値を決定し、これを満たす対策品を決定するもので
ある。このコンピュータ16のディスプレイ上にノイ
ズ発生レベル、ノイズ対策部品の情報、ノイズ発生
解析結果の情報、ノイズ解析状況の情報などを表示す
る。
As described above, the computer 16 uses the noise measurement data in the frequency range exceeding the standard value,
The attenuation value is determined, and the countermeasure product that satisfies this is determined. On the display of the computer 16, the noise generation level, noise countermeasure component information, noise generation analysis result information, noise analysis status information, etc. are displayed.

【0068】[0068]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被対策装置から測定したノイズの測定データが規格値よ
りも大のときに、データベースを検索して雑音(周波数
範囲、電圧、電界強度)に応じた対策部品(対策方法)
を選定して規格値内に収め、このときの対策情報を表示
などする構成を採用しているため、被対策装置の雑音対
策情報を迅速に生成して表示などできる。これにより、
雑音対策情報を技術者が見て、被対策装置に雑音対策部
品である例えばフィルタなどを実装し、短時間に雑音対
策を行うことが可能となる。
As described above, according to the present invention,
When the noise measurement data measured from the device to be countermeasure is larger than the standard value, the database is searched and countermeasure components according to the noise (frequency range, voltage, electric field strength) (countermeasure method)
Is selected and stored within the standard value, and the countermeasure information at this time is displayed. Therefore, the noise countermeasure information of the device to be countermeasure can be quickly generated and displayed. This allows
It becomes possible for an engineer to look at the noise countermeasure information, mount a noise countermeasure component such as a filter on the device to be countermeasure, and take noise countermeasures in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の1実施例構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の全体動作説明フローチャートである。FIG. 2 is a flowchart explaining the overall operation of the present invention.

【図3】本発明の動作説明フローチャートである。FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the present invention.

【図4】本発明の対策情報処理の動作説明フローチャー
トである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating the operation of countermeasure information processing according to the present invention.

【図5】本発明の測定データ例である。FIG. 5 is an example of measurement data of the present invention.

【図6】本発明の規格値データ例である。FIG. 6 is an example of standard value data of the present invention.

【図7】本発明の測定データの具体例である。FIG. 7 is a specific example of measurement data of the present invention.

【図8】本発明の回路構成リスト例である。FIG. 8 is an example of a circuit configuration list of the present invention.

【図9】本発明の対策部品リスト/対策方法データ/部
品特性データ例である。
FIG. 9 is an example of a countermeasure component list / countermeasure method data / component characteristic data of the present invention.

【図10】本発明の他の動作説明フローチャート(電
界)である。
FIG. 10 is a flowchart (electric field) for explaining another operation of the present invention.

【図11】本発明の他の測定データの具体例(電界)で
ある。
FIG. 11 is a specific example (electric field) of other measurement data of the present invention.

【図12】本発明の装置の構成例である。FIG. 12 is a structural example of an apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:被対策装置 2:雑音測定システム 3:情報端末 4:システムコントローラ 41:対策情報抽出処理 42:対策情報決定処理 5:対策部品データベース 51:回路構成リスト 52:対策部品リスト 53:対策部品特性データ 54:対策方法データ 11:被ノイズ対策装置 12:ノイズ解析装置 13:スペクトラムアナライザー 14、16:コンピュータ 15:ハードディスク 1: Countermeasure device 2: Noise measurement system 3: Information terminal 4: System controller 41: Countermeasure information extraction process 42: Countermeasure information determination process 5: Countermeasure component database 51: Circuit configuration list 52: Countermeasure component list 53: Countermeasure component characteristics Data 54: Countermeasure method data 11: Noise countermeasure device 12: Noise analyzer 13: Spectrum analyzer 14, 16: Computer 15: Hard disk

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 望月 義弘 東京都港区新橋5丁目36番11号 富士電気 化学株式会社内 (72)発明者 石塚 篤 東京都港区新橋5丁目36番11号 富士電気 化学株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued Front Page (72) Inventor Yoshihiro Mochizuki 5-36-1 Shimbashi, Minato-ku, Tokyo Fuji Electric Chemical Co., Ltd. (72) Inventor Atsushi Ishizuka 5-36-11 Shimbashi, Minato-ku, Tokyo Fuji Electrochemical Co., Ltd.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被対策装置のノイズ解析するノイズ解析装
置において、 被対策装置から測定したノイズの測定データおよび指示
された規格値とを比較し、対策必要な周波数範囲および
減衰量を抽出する対策情報抽出処理(41)と、 この対策情報抽出処理(41)によって抽出した周波数
範囲および減衰に対して、回路構成を選定して雑音に対
応する定数を決定し、これらから算出した減衰量が満足
するまで次の候補の定数、回路構成について繰り返す対
策情報決定処理(42)とを備え、 この対策情報決定処理(42)が上記抽出した周波数範
囲および減衰量を満足する回路構成および定数を表示な
どするように構成したことを特徴とするノイズ解析装
置。
1. A noise analysis device for noise analysis of a device under test, wherein the measured data of noise measured from the device under test is compared with an instructed standard value, and a frequency range and an amount of attenuation required for the measure are extracted. Information extraction processing (41) and the frequency range and attenuation extracted by this countermeasure information extraction processing (41), the circuit configuration is selected, the constant corresponding to noise is determined, and the attenuation amount calculated from these is satisfied. Until next time, a countermeasure information determination process (42) that repeats the next candidate constant and circuit configuration is provided, and the countermeasure information determination process (42) displays the circuit configuration and constants that satisfy the extracted frequency range and attenuation. A noise analysis device characterized by being configured as follows.
【請求項2】回路構成のリストを登録する回路構成リス
ト(51)と、 この回路構成リスト(51)に登録した回路構成の部品
を登録する対策部品リスト(52)と、 この対策部品リスト(52)に登録した部品の定数を登
録する対策部品特性データ(53)とを設け、 上記対策情報決定処理(42)が上記対策必要な周波数
範囲および減衰量に対して、上記回路構成リスト(5
1)から優先順位の高い1つの回路構成を選定し、上記
対策部品リスト(52)からこの選定した回路構成の部
品を取り出すと共に対策部品特性データ(53)からこ
の部品の定数を取り出し、この取り出した定数をもとに
減衰量を計算し、満足しないときに対策部品リスト(5
2)、対策部品特性データ(53)、更に回路構成リス
ト(51)から次の候補について繰り返し、満足する回
路構成、部品および定数を決定するように構成したこと
を特徴とする請求項1記載のノイズ解析装置。
2. A circuit configuration list (51) for registering a circuit configuration list, a countermeasure component list (52) for registering components of the circuit configuration registered in the circuit configuration list (51), and a countermeasure component list (52). The countermeasure component characteristic data (53) for registering the constants of the components registered in 52) is provided, and the countermeasure information determination process (42) determines the circuit configuration list (5) for the frequency range and the attenuation amount required for the countermeasure.
One circuit configuration having a high priority is selected from 1), the component having the selected circuit configuration is extracted from the countermeasure component list (52), the constant of the component is extracted from the countermeasure component characteristic data (53), and the extraction is performed. Calculated the attenuation based on the constant
2) The countermeasure component characteristic data (53) and the circuit configuration list (51) are repeated for the next candidate, and the satisfied circuit configuration, components and constants are determined. Noise analyzer.
【請求項3】上記抽出した周波数範囲および減衰とし
て、周波数範囲および電圧減衰量としたことを特徴とす
る請求項1記載および請求項2記載のノイズ解析装置。
3. The noise analyzer according to claim 1, wherein the extracted frequency range and attenuation are a frequency range and a voltage attenuation amount.
【請求項4】被対策装置のノイズ解析するノイズ解析装
置において、 被対策装置から測定したノイズの測定データおよび指示
された規格値とを比較し、対策必要な周波数範囲および
減衰量を抽出する対策情報抽出処理(41)と、 この対策情報抽出処理(41)によって抽出した周波数
範囲および減衰に対して、対策方法を設定して雑音に対
応する減衰量が満足するまで次の候補の対策方法を設定
することを繰り返す対策情報決定処理(42)とを備
え、 この対策情報決定処理(42)が上記抽出した周波数範
囲および減衰量を満足する対策方法を表示などするよう
に構成したことを特徴とするノイズ解析装置。
4. A noise analysis device for noise analysis of a device to be countermeasure, comparing the measured data of noise measured from the device to be countermeasure and an instructed standard value, and extracting a necessary frequency range and attenuation amount. The information extraction processing (41) and a countermeasure method is set for the frequency range and attenuation extracted by the countermeasure information extraction processing (41), and the next candidate countermeasure method is set until the attenuation amount corresponding to noise is satisfied. A countermeasure information determination process (42) for repeating setting is provided, and the countermeasure information determination process (42) is configured to display a countermeasure method that satisfies the extracted frequency range and attenuation amount. Noise analysis device.
【請求項5】対策方法のリストを登録する対策方法デー
タ(54)と、 この対策方法データ(54)に登録した対策方法の減衰
特性を登録する対策部品特性データ(53)とを設け、 上記対策情報決定処理(42)が上記対策必要な周波数
範囲および減衰量に対して、上記対策方法データ(5
4)から優先順位の高い1つの対策方法を選定し、上記
対策部品特性データ(53)からこの選定した対策方法
の減衰量を取り出し、満足しないときに対策方法データ
(54)、対策部品特性データ(53)の次の候補につ
いて繰り返し、満足する対策方法を決定するように構成
したことを特徴とする請求項4記載のノイズ解析装置。
5. Countermeasure method data (54) for registering a list of countermeasure methods, and countermeasure part characteristic data (53) for registering the attenuation characteristic of the countermeasure method registered in this countermeasure method data (54) are provided. The countermeasure information determination process (42) determines the countermeasure method data (5) for the frequency range and the attenuation amount required for the countermeasure.
4) select one countermeasure method with a high priority, extract the attenuation amount of this selected countermeasure method from the countermeasure component characteristic data (53) above, and when not satisfied, countermeasure method data (54), countermeasure component characteristic data The noise analysis apparatus according to claim 4, wherein the noise analysis apparatus is configured to repeatedly determine a satisfying countermeasure method for the next candidate of (53).
【請求項6】上記抽出した周波数範囲および減衰とし
て、周波数範囲および電界強度減衰量としたことを特徴
とする請求項4記載および請求項5記載のノイズ解析装
置。
6. The noise analyzer according to claim 4, wherein the extracted frequency range and attenuation are a frequency range and an electric field strength attenuation amount.
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