JPH05312735A - Method and apparatus for computed x-ray tomography - Google Patents

Method and apparatus for computed x-ray tomography

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JPH05312735A
JPH05312735A JP4158121A JP15812192A JPH05312735A JP H05312735 A JPH05312735 A JP H05312735A JP 4158121 A JP4158121 A JP 4158121A JP 15812192 A JP15812192 A JP 15812192A JP H05312735 A JPH05312735 A JP H05312735A
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Japan
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ray
optical image
rotating
rotation
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JP4158121A
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Hiroya Koshishiba
洋哉 越柴
Mihoko Yoshii
美保子 吉井
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Hitachi Ltd
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Abstract

PURPOSE:To take a computed tomography image clearly and with a high resolution while the images of the parts other than a focus plane in an object are shaded off. CONSTITUTION:An X-ray 27 generated by an X-ray tube 35 is applied to an object 2 aslant. The rotary axis 5 of the object 2 is so provided as to be in parallel with the rotary axis 6 of an X-ray detection system. A transmitted X-ray image is detected by an X-ray image intensifier 40. An image rotator 42 is inserted into the midway of an optical system which detects the output image of the X-ray image intensifier 40 with a solid-state image sensing device 45. An object 2 and the image rotator 42 are made to rotate with the ratio of respective revolutions 2:1 and the exposure time of the solid-state image sensing device 45 equal to the time necessary for one turn of the image to obtain the clear tomography image of a focus plane 4. With this constitution, the tomography image of an arbitrary cross section can be obtained easily and a multilayer board having complex internal structure can be tested easily.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、透過X線による断層像
撮影方法とその装置に係り、特に多層構造の回路基板の
内部構造の検査および測定に適したX線断層撮影方法と
その装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tomographic image capturing method and apparatus using transmission X-rays, and more particularly to an X-ray tomographic capturing method and apparatus suitable for inspecting and measuring the internal structure of a circuit board having a multilayer structure. ..

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から透過X線により対象物内部のあ
る着目焦点面での断層像を検出する技術として、ラミノ
グラフィが知られている。この技術は、X線源、対象
物、検出器の3つの要素のうち2つの要素を同期させて
動かし、断層像を検出するものである。
2. Description of the Related Art Conventionally, laminography is known as a technique for detecting a tomographic image on a focal plane of interest inside an object by means of transmitted X-rays. This technique detects two tomographic images by synchronously moving two elements out of three elements of an X-ray source, an object, and a detector.

【0003】この種の技術として例えば特開昭59−1
16040号公報記載のものが公知である。この技術
は、物体を固定放射線源によって照射する段階にして、
前記物体と、放射線を感受するとともに放射線源に関し
て前記物体の次に位置し、かつ一つの面内に含まれてい
る表面とをそれぞれ第1軸線および第2軸線のまわりに
おいて同じ方向に同期的に回転させるようになってお
り、このとき第1軸線および第2軸線が相互に平行であ
り、かつ前記第1軸線が正の比の相似変換および放射線
源の中心によって第2軸線に変換されるように配設さ
れ、前記放射線源、物体および感受面がその回転時に放
射線にさらされる状態にとどまるように配置されている
段階と、前記物体の断面を含む面が前記第1軸線を第2
軸線に変換する相似変換によって前記感受面を含む面に
変換されるようになった段階と、前記面が前記軸線と0
度またはこれより大にして90度より小なる同じ値の角
度を形成し、前記感受面上に前記断面の少なくとも一部
分の像を形成するようになった段階とを有し、これによ
り一つの面内に含まれる物体の断面に沿って該物体の断
層撮影を行うように構成されたものである。この技術
は、簡単に言えば、対象物とフィルムを同期回動させて
断面撮像を行なう方法に関するものである。
A technique of this kind is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 59-1.
The thing described in the 16040 gazette is known. This technique takes the stage of illuminating an object with a fixed radiation source,
Synchronously in the same direction about the first axis and a second axis respectively the object and a surface which is sensitive to radiation and which is located next to the object with respect to the radiation source and which is contained in one plane. Adapted to rotate so that the first axis and the second axis are parallel to each other and said first axis is transformed into a second axis by a positive ratio similarity transformation and the center of the radiation source. And the radiation source, the object and the sensitive surface are arranged to remain exposed to the radiation during rotation thereof, and the surface including the cross section of the object defines the first axis as the second axis.
When the surface is converted to a surface including the sensitive surface by the similarity conversion to convert the surface to the axis, the surface is aligned with the axis.
To form an image of at least a portion of the cross-section on the sensitive surface, forming an angle of the same value less than 90 degrees or greater than 90 degrees, whereby one surface It is configured to take a tomographic image of an object contained therein along a cross-section of the object. Briefly, this technique relates to a method of synchronously rotating an object and a film to perform cross-section imaging.

【0004】また、さらに、特開平2−501411号
公報記載の公知例は、電子ビームを回転偏向すること
で、X線源を円形パターンで動かすと共に、蛍光スクリ
ーンを円形経路に沿って進むようにすることで、断層撮
像を行なっている。
Further, in the known example described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-501411, by rotating and deflecting an electron beam, the X-ray source is moved in a circular pattern and the fluorescent screen is advanced along a circular path. By doing so, tomographic imaging is performed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記第1の従
来技術では、検出部にフィルムを使用しているため、実
時間で検出画像を見ることができない。また、像はフィ
ルム面上で平行移動するため、移動する方向にのびる線
状の構造体は、焦点面以外の面にあってもその像はぼや
けずに鮮明に検出される欠点がある。
However, in the above-mentioned first prior art, since the film is used for the detecting portion, the detected image cannot be viewed in real time. Further, since the image moves in parallel on the film surface, the linear structure extending in the moving direction has a drawback that the image is not blurred even if it is on a surface other than the focal plane and is clearly detected.

【0006】また、第2の従来技術では、電子ビームを
回転偏向しているため、電子光学系に収差が発生し、微
細な電子ビームを得ることができない。このため、微小
焦点のX線源を得ることができず、検出解像度が低い。
Further, in the second conventional technique, since the electron beam is rotationally deflected, an aberration occurs in the electron optical system, and a fine electron beam cannot be obtained. Therefore, an X-ray source having a minute focus cannot be obtained, and the detection resolution is low.

【0007】この発明は、このような従来技術の実情に
鑑みてなされたもので、その第1の目的は、焦点面以外
の面にある直線状の構造体の像ををぼかすことができる
X線断層撮影方法及び装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances of the prior art, and its first object is to make it possible to blur an image of a linear structure on a plane other than the focal plane. An object of the present invention is to provide a linear tomography method and apparatus.

【0008】また、第2の目的はフィルムを使用するこ
となく実時間で断層像を表示することができるX線断層
撮影装置を提供することにある。
A second object of the present invention is to provide an X-ray tomography apparatus capable of displaying a tomographic image in real time without using a film.

【0009】さらに、第3の目的は解像度の高いX線断
層撮影装置を提供することにある。加えて、第4の目的
は多層構造の回路基板に対して、はんだ付け部等の回路
接続部を自動検査する装置を提供することにある。
Further, a third object is to provide an X-ray tomography apparatus having high resolution. In addition, a fourth object is to provide an apparatus for automatically inspecting a circuit connecting portion such as a soldering portion on a multilayer circuit board.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記第1の目的は、X線
源から発生するX線の光軸に対して傾斜した回転軸の回
りに撮影対象となる対象物を回転させる手段と、対象物
を透過したX線像を光学像に変換する手段と、変換され
た光学像を回転させる手段と、光学像を映像情報となる
電気信号に変換する手段とからなるX線検出系を使用し
てX線断層像を得るX線断層撮影方法において、前記光
学像に変換する手段の回転軸と対象物の回転軸を平行に
し、光学像を回転させる手段により光学像の回転を対象
物の回転と同期させる第1の手段によって達成される。
The first object is to rotate an object to be photographed about a rotation axis inclined with respect to an optical axis of X-rays generated from an X-ray source, and to obtain the object. An X-ray detection system including means for converting an X-ray image transmitted through an object into an optical image, means for rotating the converted optical image, and means for converting the optical image into an electric signal serving as image information is used. In an X-ray tomography method for obtaining an X-ray tomographic image by rotating the optical image by means for rotating the optical image by rotating the optical image in parallel with the rotational axis of the means for converting the optical image. Is achieved by the first means of synchronizing with.

【0011】上記第1および第2の目的は、X線源と、
撮影対象となる対象物を回転させる回転ステージと、対
象物を透過したX線像を光学像に変換する手段と、光学
像を回転させる手段と、光学像の回転と対象物の回転を
同期させる手段と、光学像を映像情報となる電気信号に
変換する手段と、変換された電気信号を表示する手段と
を備えた第2の手段によって達成される。
The above first and second objects are an X-ray source,
A rotary stage that rotates an object to be imaged, a unit that converts an X-ray image that has passed through the object into an optical image, a unit that rotates the optical image, and a rotation of the optical image and a rotation of the object. It is achieved by a second means including a means, a means for converting an optical image into an electric signal which becomes image information, and a means for displaying the converted electric signal.

【0012】この場合、第2の手段における対象物を透
過したX線像を光学像に変換する手段をX線イメージイ
ンテンシファイアから、光学像を回転させる手段を回転
ステージによって回転するイメージローテータから、光
学像を映像信号となる電気信号に変換する手段を固体撮
像素子からそれぞれ構成にすることができる。
In this case, the means for converting the X-ray image transmitted through the object in the second means into an optical image is an X-ray image intensifier, and the means for rotating the optical image is an image rotator rotated by a rotary stage. The means for converting an optical image into an electric signal that becomes a video signal can be configured by a solid-state image sensor.

【0013】さらに、イメージローテータを使用した場
合、対象物とイメージローテータとを回転数2:1の比
率で回転させ、固体撮像素子の露光時間を光学像が1回
転に要する時間と同一、あるいは、それ以上の時間に設
定することが好ましい。
Further, when the image rotator is used, the object and the image rotator are rotated at a rotation ratio of 2: 1 and the exposure time of the solid-state image pickup device is the same as the time required for one rotation of the optical image, or It is preferable to set the time longer than that.

【0014】また、第2の手段における光学像を映像情
報となる電気信号に変換する手段を撮像管と電気信号を
加算する回路とから構成することもできる。
Further, the means for converting the optical image in the second means into an electric signal which becomes image information may be constituted by an image pickup tube and a circuit for adding the electric signals.

【0015】また、第2の手段における対象物を透過し
たX線像を光学像に変換する手段を蛍光スクリーンと光
学像の明るさを増幅するイメージインテンシファイアと
から、光学像を回転させる手段を回転ステージによって
回転するイメージローテータから、光学像を映像情報と
なる電気信号に変換する手段を固体撮像素子からそれぞ
れ構成することもできる。この場合、対象物とイメージ
ローテータとを回転数2:1の比率で回転させ、固体撮
像素子の露光時間を光学像が1回転に要する時間と同
一、あるいは、それ以上の時間に設定することが好まし
い。
The means for converting the X-ray image transmitted through the object into the optical image in the second means is a means for rotating the optical image from a fluorescent screen and an image intensifier for amplifying the brightness of the optical image. The means for converting an optical image into an electric signal that serves as image information can also be configured by a solid-state image sensor from an image rotator rotated by a rotating stage. In this case, it is possible to rotate the object and the image rotator at a rotation speed ratio of 2: 1 and set the exposure time of the solid-state image pickup device to the same as or longer than the time required for one rotation of the optical image. preferable.

【0016】また、第2の手段における対象物を回転さ
せる手段を回転ステージから、対象物を透過したX線像
を光学像に変換する手段を蛍光スクリーンと蛍光スクリ
ーン上で変換された光学像の明るさを増幅するイメージ
インテンシファイアとから、光学像を回転させる手段を
回転ステージによって回転するイメージローテータか
ら、光学像を映像情報となる電気信号に変換する手段を
撮像管と映像情報となる電気信号を加算する回路とから
それぞれ構成することもできる。
The means for rotating the object in the second means is a rotary stage, and the means for converting the X-ray image transmitted through the object into an optical image is a fluorescent screen and an optical image converted on the fluorescent screen. An image intensifier that amplifies brightness, an image rotator that rotates a means for rotating an optical image by a rotating stage, and a means that converts an optical image into an electric signal that becomes image information, and an image tube and an electricity that becomes image information. It can also be configured with a circuit for adding signals.

【0017】また、第2の手段における対象物を回転さ
せる手段を回転ステージから、対象物を透過したX線像
を光学像に変換する手段を回転ステージによって回転す
る蛍光スクリーンから、光学像を回転させる手段を回転
ステージによって回転するイメージローテータから、光
学像を映像情報となる電気信号に変換する手段が撮像管
と映像情報となる電気信号を加算する回路とからそれぞ
れ構成することもできる。
Further, the means for rotating the object in the second means is rotated from the rotating stage, and the means for converting the X-ray image transmitted through the object into the optical image is rotated from the fluorescent screen by the rotating stage to rotate the optical image. The means for converting the image rotator rotated by the rotating stage to the means for converting the optical image into the electric signal for the image information may be composed of the image pickup tube and the circuit for adding the electric signal for the image information.

【0018】上記第1および第2の目的は、X線源と、
撮影対象となる対象物を回転させる回転ステージと、対
象物を透過したX線像を対象物の回転と同期するように
回転処理しながら検出する手段と、検出画像を加算する
手段と、加算手段によって加算された映像情報を画像と
して表示する手段とを備えた第3の手段によっても達成
される。
The above first and second objects are an X-ray source,
A rotary stage for rotating an object to be imaged, a means for detecting an X-ray image transmitted through the object while performing rotation processing in synchronization with the rotation of the object, a means for adding detected images, and an adding means. It is also achieved by a third means including a means for displaying the video information added by the above as an image.

【0019】この場合、X線像を検出する手段をX線撮
像管、およびX線イメージインテンシファイアと撮像管
からそれぞれ構成することができ、画像を回転処理する
手段を撮像管のラスタ走査を回転させる回路から構成す
ることができる。
In this case, the means for detecting the X-ray image can be composed of the X-ray image pickup tube, and the X-ray image intensifier and the image pickup tube, respectively, and the means for rotating the image is the raster scan of the image pickup tube. It can consist of a rotating circuit.

【0020】上記第1および第2の目的は、X線源と、
撮影対象となる対象物を回転させる回転ステージと、対
象物を透過したX線像を映像情報となる電気信号に変換
する手段と、映像情報である電気信号をA/D変換する
手段と、画像を回転処理するデジタル画像処理手段と、
画像を加算する手段と、加算手段によって加算された映
像情報を画像として表示する手段とを備えた第4の手段
によっても達成される。 さらに、第3の目的は、第
1、第2、第3および第4の手段におけるX線源を、透
過型ターゲットを偏心させ、回転させる手段を有するマ
イクロフォーカスX線管によって構成することによって
達成される。
The above first and second objects are an X-ray source,
A rotary stage that rotates an object to be imaged, a unit that converts an X-ray image that has passed through the object into an electric signal that is video information, a unit that A / D converts the electric signal that is video information, and an image. A digital image processing means for rotating the
It is also achieved by a fourth means including means for adding images and means for displaying the video information added by the adding means as an image. Furthermore, the third object is achieved by constructing the X-ray source in the first, second, third and fourth means by a microfocus X-ray tube having means for eccentricizing and rotating the transmissive target. To be done.

【0021】この場合、マイクロフォーカスX線管に含
まれる透過型ターゲットを、X線発生層と支持層との少
なくとも2層から構成することが好ましい。
In this case, it is preferable that the transmission type target included in the microfocus X-ray tube is composed of at least two layers of an X-ray generation layer and a support layer.

【0022】加えて、第4の目的は、第1ないし第4の
手段に、さらに映像情報となる電気信号から被検査物の
欠陥を検出する画像処理回路を設けることによって達成
される。
In addition, the fourth object is achieved by providing the first to fourth means with an image processing circuit for detecting a defect of an object to be inspected from an electric signal serving as image information.

【0023】[0023]

【作用】本発明によるX線断層撮影の原理を図1にした
がって説明する。この図から分かるように、固定された
X線源1から放射状にX線27が発生し、撮影対象とな
る対象物2は、光軸7に対して傾斜した回転軸5の回り
に回転する。検出器3は回転軸5と平行な回転軸6の回
りに対象物2と同期して回転する。光軸7と回転軸5の
交点を含み、かつ、回転軸5に垂直な平面(以下、焦点
面と称する)4の投影像は、検出器3により静止した像
として検出されるが、焦点面4以外の投影像は回転して
いる像として検出されるためぼやけている。このため、
当該焦点面4外にある構造体の像をぼかすことができ、
当該焦点面4のX線断層像のみが鮮明に得られる。
The principle of X-ray tomography according to the present invention will be described with reference to FIG. As can be seen from this figure, X-rays 27 are radially generated from the fixed X-ray source 1, and the object 2 to be imaged rotates around a rotation axis 5 inclined with respect to the optical axis 7. The detector 3 rotates about a rotation axis 6 parallel to the rotation axis 5 in synchronization with the object 2. A projected image of a plane (hereinafter referred to as a focal plane) 4 including an intersection of the optical axis 7 and the rotation axis 5 and perpendicular to the rotation axis 5 is detected as a still image by the detector 3, Projected images other than 4 are blurred because they are detected as rotating images. For this reason,
The image of the structure outside the focal plane 4 can be blurred,
Only the X-ray tomographic image of the focal plane 4 can be clearly obtained.

【0024】本発明によるX線断層撮影装置の原理的構
成を図2に示す。この図から分かるように、固定された
X線源1より放射状にX線27が発生し、撮影対象とな
る対象物2は、光軸7に対して傾斜した回転軸5の回り
に回転する。X線検出系は、X線像を光学像に変換する
手段8と、光学像を回転させる手段9と、光学像を映像
信号となる電気信号に変換する手段10とからなり、光
学的な補助手段として光学像を伝達する手段12,13
が設けられている。光学像は光学像を回転させる手段9
により対象物2と同期して回転させ、電気信号を映像情
報として表示する手段11により実時間でX線断層像を
得る。
FIG. 2 shows the basic configuration of the X-ray tomography apparatus according to the present invention. As can be seen from this figure, X-rays 27 are radially generated from the fixed X-ray source 1, and the object 2 to be imaged rotates around a rotation axis 5 inclined with respect to the optical axis 7. The X-ray detection system includes a unit 8 for converting an X-ray image into an optical image, a unit 9 for rotating the optical image, and a unit 10 for converting the optical image into an electric signal which serves as a video signal, and an optical assist. Means 12, 13 for transmitting an optical image as means
Is provided. Optical image means 9 for rotating the optical image
Thus, the X-ray tomographic image is obtained in real time by means of rotating the object 2 in synchronization with it and displaying the electric signal as image information.

【0025】本発明による微小焦点X線源の原理的構成
を図3に示す。この手段は、解像度を向上させるための
もので、解像度を向上させるには、投影像の半影ぼけを
小さくする必要があり、微小な焦点サイズのX線源が必
要である。このX線源の動作原理は、以下のようなもの
である。
FIG. 3 shows the principle configuration of the micro focus X-ray source according to the present invention. This means is for improving the resolution, and in order to improve the resolution, it is necessary to reduce the penumbra blur of the projected image, and an X-ray source having a minute focus size is required. The operating principle of this X-ray source is as follows.

【0026】すなわち、陰極20から発生した電子線2
1をレンズ22で集束させてターゲット23に照射する
とX線27が発生する。ターゲット23は、重金属のX
線発生層24と、軽元素の支持層25から構成される。
この場合、例えば重金属としてタングステン、軽元素と
してベリリウムが選択される。このとき、電子線21を
十分に小さく集束させ、また、X線発生層24を薄くす
ることで、微小な焦点サイズを実現できる。さらに、電
子線21が衝突する際に発生する熱によってターゲット
23が破損することを防止するため、回転軸26の回り
にターゲット23を回転させる。
That is, the electron beam 2 generated from the cathode 20
When 1 is focused by the lens 22 and irradiated on the target 23, X-rays 27 are generated. The target 23 is a heavy metal X
It is composed of a line generation layer 24 and a light element support layer 25.
In this case, for example, tungsten is selected as the heavy metal and beryllium is selected as the light element. At this time, by focusing the electron beam 21 sufficiently small and thinning the X-ray generation layer 24, a minute focus size can be realized. Further, in order to prevent the target 23 from being damaged by the heat generated when the electron beam 21 collides, the target 23 is rotated around the rotation shaft 26.

【0027】本発明によるX線断層撮影装置を応用した
自動検査装置の原理的構成を図4に示す。図4に示すよ
うに、X線源1と回路基板30を保持する試料ステージ
31と回路基板30のX線断層像を検出する検出部32
と欠陥判定部33から構成される。試料ステージ31
は、回路基板30を回転軸5の回りに回転駆動させる回
転機能と、検出視野をステップアンドリピートに変える
ための回路基板30を送る機能とを有する。検査の手順
は、まず、検査を対象となるはんだ付け部等のある断面
に焦点面を合わせ、断層像を検出する。次いで、検出さ
れた画像を欠陥判定部33で処理し、欠陥部を抽出す
る。次に、試料ステージ31を送って検出視野を変え、
変えられた検出視野における断層像を検出し、欠陥部を
抽出する。同様の操作を繰り返して回路基板30の全面
を検査する。なお、検出部32は、図2に示した構成に
なっている。
The principle structure of an automatic inspection apparatus to which the X-ray tomography apparatus according to the present invention is applied is shown in FIG. As shown in FIG. 4, a sample stage 31 that holds the X-ray source 1 and the circuit board 30 and a detector 32 that detects an X-ray tomographic image of the circuit board 30.
And the defect determination section 33. Sample stage 31
Has a rotation function of driving the circuit board 30 to rotate about the rotation axis 5, and a function of sending the circuit board 30 to change the detection field of view to step and repeat. In the inspection procedure, first, the focal plane is focused on a cross section having a soldering portion or the like to be inspected, and a tomographic image is detected. Then, the detected image is processed by the defect determination unit 33 to extract the defective part. Next, send the sample stage 31 to change the detection field of view,
A tomographic image in the changed detection visual field is detected, and a defective portion is extracted. The same operation is repeated to inspect the entire surface of the circuit board 30. The detector 32 has the configuration shown in FIG.

【0028】[0028]

【実施例】以下、図面を参照し、本発明の実施例につい
て説明する。なお、以下の説明において、これまでに説
明した各構成要素と同一と見なせる構成要素には同一の
参照符号を付し、重複する説明は省略する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the following description, constituent elements that can be regarded as the same as the constituent elements described above are designated by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

【0029】図5は本発明による断層撮影装置の一例を
示す図である。この断層撮影装置は、X線検出系、試料
ステージ系および表示系から基本的に構成される。試料
ステージ系は、XYステージ37と回転ステージ38と
Zステージ39とから構成されており、XYステージ3
7に回路基板などの対象物2をチャック36を介して保
持する。各々のステージ37,38,39は光軸7を遮
らない透過型のものである。X線検出系は、X線源たる
X線管35側からX線イメージインテンシファイア4
0、レンズ41、イメージローテータ42、レンズ44
および固体撮像素子(CCD)45から構成される。ま
た、表示系はディスプレイ46からなっている。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a tomography apparatus according to the present invention. This tomography apparatus basically comprises an X-ray detection system, a sample stage system and a display system. The sample stage system includes an XY stage 37, a rotation stage 38, and a Z stage 39.
An object 2 such as a circuit board is held on a substrate 7 via a chuck 36. Each of the stages 37, 38, 39 is a transmissive type that does not block the optical axis 7. The X-ray detection system includes an X-ray image intensifier 4 from the side of the X-ray tube 35 serving as an X-ray source.
0, lens 41, image rotator 42, lens 44
And a solid-state image sensor (CCD) 45. The display system comprises a display 46.

【0030】このように大略構成された断層撮影装置で
は、X線管35から発生したX線27は対象物2側に出
射し、対象物2を透過してX線イメージインテンシファ
イア40に入射する。X線像はX線イメージインテンシ
ファイア40で明るさが増幅され、光学像に変換され
る。この光学像はレンズ41とレンズ44とによりCC
D45に結像し、CCD45で映像情報として電気信号
に変換され、ディスプレイ46に表示される。
In the tomography apparatus generally constructed as described above, the X-rays 27 generated from the X-ray tube 35 are emitted to the object 2 side, transmitted through the object 2 and incident on the X-ray image intensifier 40. To do. The brightness of the X-ray image is amplified by the X-ray image intensifier 40 and converted into an optical image. This optical image is CC by the lens 41 and the lens 44.
An image is formed on D45, converted into an electric signal as image information by the CCD 45, and displayed on the display 46.

【0031】断層像を得る手順を以下に示す。対象物2
とX線イメージインテンシファイア40は、各々の回転
軸5,6が平行になるように位置し、回転軸5に対して
光軸7が傾斜するようにする。回転ステージ38により
対象物2を回転させ、同時に回転ステージ43によりイ
メージローテータ42を回転させる。
The procedure for obtaining a tomographic image is shown below. Object 2
The X-ray image intensifier 40 and the X-ray image intensifier 40 are positioned so that the respective rotation axes 5 and 6 are parallel to each other, and the optical axis 7 is inclined with respect to the rotation axis 5. The object 2 is rotated by the rotating stage 38, and at the same time, the image rotator 42 is rotated by the rotating stage 43.

【0032】イメージローテータ42には、ダブプリズ
ム(像回転プリズム)と3枚のミラーで構成される像回
転ミラーとが挙げられ、両者とも使用できる。ダブプリ
ズムを使用するときは、収差の発生を抑えるため、ダブ
プリズムに入射する光線が平行光となるようにしなけれ
ばならない。レンズ41でコリメートした光を、ダブプ
リズムに入射させ、レンズ44でCCD45に結像させ
る様にする。図5は、ダブプリズムを使用した例を示し
ている。像回転ミラーを使用するときは、必ずしも、平
行光とする必要はない。イメージローテータ42を1回
転させると光学像が2回転するため、ドライバ47で回
転ステージ43の速度が回転ステージ38の速度の半分
となるように制御し、対象物2と光学像を同期回転させ
る。この制御としては、例えばステッピングモータを使
用して、駆動パルスの周波数を2:1に制御するか、あ
るいは、エンコーダ付のモータを使用して回転を監視
し、同期するようにモータ回転を制御することも可能で
ある。
The image rotator 42 includes a Dove prism (image rotating prism) and an image rotating mirror composed of three mirrors, both of which can be used. When using the Dove prism, the light rays incident on the Dove prism must be collimated in order to suppress the occurrence of aberration. The light collimated by the lens 41 is made incident on the Dove prism, and the lens 44 forms an image on the CCD 45. FIG. 5 shows an example using a Dove prism. When using the image rotating mirror, it is not always necessary to make parallel light. When the image rotator 42 rotates once, the optical image rotates twice. Therefore, the driver 47 controls the speed of the rotary stage 43 to be half the speed of the rotary stage 38 to rotate the object 2 and the optical image synchronously. As this control, for example, a stepping motor is used to control the frequency of the drive pulse to 2: 1 or a motor with an encoder is used to monitor the rotation and control the motor rotation so as to be synchronized. It is also possible.

【0033】次に、CCD45の蓄積時間を回転ステー
ジ38が1回転に要する時間とし、像が1回転する毎に
画像を読み出すようにする。したがって、焦点面4以外
の像はCCD45面上で回転してぼけるため、焦点面4
のみのX線断層像が得られる。もちろん、CCD45の
読み出し周期を像の1回転以上に長くすることも可能で
あるが、長時間露光で使用すると熱雑音が多くなるた
め、CCD45を冷却して熱雑音を減らすことは有効で
ある。焦点面4は、光軸7と回転ステージ38の回転軸
5との交点を含む平面であるので、上下方向の移動を行
うZステージ39を上下させれば対象物2の任意の平面
における断層像が得られる。また、視野は、XYステー
ジ37を移動させて任意に変えることができる。これに
より、多層構造の回路基板であっても、任意の位置の断
層面の検査が可能になる。
Next, the accumulation time of the CCD 45 is set to the time required for the rotation stage 38 to make one rotation, and the image is read every time the image makes one rotation. Therefore, the image other than the focal plane 4 is rotated and blurred on the surface of the CCD 45.
Only an X-ray tomographic image is obtained. Of course, the read cycle of the CCD 45 can be made longer than one rotation of the image, but thermal noise increases when used in long-time exposure, so cooling the CCD 45 to reduce the thermal noise is effective. Since the focal plane 4 is a plane including the intersection of the optical axis 7 and the rotation axis 5 of the rotary stage 38, if the Z stage 39 that moves in the vertical direction is moved up and down, a tomographic image of the object 2 on an arbitrary plane is obtained. Is obtained. Further, the visual field can be arbitrarily changed by moving the XY stage 37. As a result, it becomes possible to inspect a tomographic plane at an arbitrary position even with a circuit board having a multilayer structure.

【0034】X線管35は、検出解像度を向上させるた
め、マイクロフォーカスタイプが好適である。X線管3
5と試料ステージ及びX線検出系をそれぞれ移動可能に
すると、検出倍率の変更や断層像の合焦点範囲の調節が
できる。この場合、試料ステージをX線管35に近づけ
ると高倍率になり、離すと低倍率になる。また、光軸7
と回転軸5のなす角度を大きくすると合焦点範囲が狭く
なり、小さくすると合焦点範囲が広くなる。
The X-ray tube 35 is preferably a microfocus type in order to improve the detection resolution. X-ray tube 3
5 and the sample stage and the X-ray detection system are movable, the detection magnification can be changed and the focusing range of the tomographic image can be adjusted. In this case, when the sample stage is brought close to the X-ray tube 35, the magnification becomes high, and when it is separated, the magnification becomes low. Also, the optical axis 7
When the angle formed by the rotary shaft 5 is increased, the focus range is narrowed, and when it is decreased, the focus range is widened.

【0035】イメージローテータ42に、3枚ミラーで
構成した像回転ミラーを使用した実施例を図6に示す。
像回転ミラー94は、3枚のミラー95から構成されて
いる。像回転ミラーは、ダブプリズムと違い入射光を平
行光にする必要が無いので、X線イメージインテンシフ
ァイア40の出力像をCCD45に結像させる光学系
を、コリメータレンズとイメージングレンズに分ける必
要がなく、1本のレンズ41で実現できる。
FIG. 6 shows an embodiment in which the image rotator 42 uses an image rotating mirror composed of three mirrors.
The image rotating mirror 94 is composed of three mirrors 95. Unlike the Dove prism, the image rotation mirror does not need to make the incident light parallel light. Therefore, the optical system for forming the output image of the X-ray image intensifier 40 on the CCD 45 needs to be divided into a collimator lens and an imaging lens. Instead, it can be realized with one lens 41.

【0036】X線断層撮影装置で使用されるX線検出系
については、上記実施例の他にいくつかの実施例が挙げ
られるので、引き続いてX線検出系の他の実施例につい
て説明する。なお、以下に示すX線検出系の実施例は、
図5に示したX線検出系(以下、X線検出系の第1の実
施例とも称する)と該当する構成要素を交換すること
で、そのままX線断層撮影装置となる。
As for the X-ray detection system used in the X-ray tomography apparatus, there are several examples other than the above-mentioned examples, so another example of the X-ray detection system will be described subsequently. The following examples of the X-ray detection system are
By replacing the X-ray detection system shown in FIG. 5 (hereinafter also referred to as the first embodiment of the X-ray detection system) and the corresponding components, the X-ray tomography apparatus can be used as it is.

【0037】図7にX線検出系の第2の実施例を示す。
この実施例では、X線像をX線イメージインテンシファ
イア40で光学像に変換し、その光学像をレンズ41,
44で撮像管50の検出面に結像させる。光路の途中に
はイメージローテータ42が挿入され、回転ステージ4
3を介してこのイメージローテータ42を回転させるこ
とができるようになっている。これにより、変換された
光学像が回転する。イメージローテータ42を回転させ
る回転ステージ43は、対象物を回転させる回転ステー
ジ38の半分の速度で回転するようにドライバ47によ
り制御されている。さらに、光学像は撮像管50で映像
情報となる電気信号(映像信号)に変換される。撮像管
50はTVレート、すなわち1/30秒毎に映像を出力
しているため、光学像が1回転する時間の映像を加算回
路51で加算する。例えば、回転の周期が0.5秒とす
ると、15枚の画像を加算する。加算回路51は、例え
ば、映像信号をA/Dコンバータでデジタル信号に換え
てサンプリングし、フレームメモリに15枚分の画像を
加算し、D/Aコンバータで映像信号に戻すことで実現
でき、加算された画像はディスプレイ46に表示され
る。
FIG. 7 shows a second embodiment of the X-ray detection system.
In this embodiment, the X-ray image is converted into an optical image by the X-ray image intensifier 40, and the optical image is converted into a lens 41,
At 44, an image is formed on the detection surface of the image pickup tube 50. The image rotator 42 is inserted in the middle of the optical path, and the rotary stage 4
The image rotator 42 can be rotated via the control unit 3. This causes the converted optical image to rotate. The rotary stage 43 that rotates the image rotator 42 is controlled by the driver 47 so as to rotate at half the speed of the rotary stage 38 that rotates the object. Further, the optical image is converted by the image pickup tube 50 into an electric signal (video signal) which becomes video information. Since the image pickup tube 50 outputs the image at the TV rate, that is, every 1/30 seconds, the addition circuit 51 adds the images at the time when the optical image makes one rotation. For example, if the rotation cycle is 0.5 seconds, 15 images are added. The adding circuit 51 can be realized by, for example, converting a video signal into a digital signal by an A / D converter, sampling, adding 15 images to a frame memory, and returning to a video signal by the D / A converter. The displayed image is displayed on the display 46.

【0038】図8にX線検出系の第3の実施例を示す。
この実施例では、蛍光スクリーン52によってX線像を
光学像に変換する。第1および第2の実施例で使用した
X線イメージインテンシファイア40は、像歪が約5%
もあり、解像度が約5lp(line pair)/m
mと低い。しかし、蛍光スクリーン52は、像歪が無
く、解像度も20lp/mm程度まで得られる。蛍光ス
クリーン52としては、解像度の向上を図るため、単結
晶シンチレータ、例えば、CsI(Tl)(タリウム活
性化ヨウ化セシウム)、あるいは、CaF2(Eu)な
どを0.4mm程度の薄さに研磨したものが好ましい。
また、X線照射により励起された光は微弱なため、十分
な光量の光学像が得られない。このため、蛍光スクリー
ン52の像をレンズ53でイメージインテンシファイア
54に結像させ、このイメージンテンシファイア54で
明るさを増幅させる。イメージインテンシファイア54
には、像歪の無い近接型イメージインテンシファイアが
好適である。また、ここで、レンズ53の代わりにイメ
ージファイバを使用してもよいことはいうまでもない。
イメージインテンシファイア54で増幅された光学像
は、レンズ41とレンズ44によりCCD45に結像さ
れ、光路の途中にあるイメージローテータ42により像
は回転する。そして、CCD45で電気信号(映像信
号)に変換され、ディスプレイ46に表示される。イメ
ージインテンシファイア54以後の構成は、X線検出系
の第1の実施例(図5)と同一である。この場合、CC
D45の代わりにX線検出系の第2の実施例(図7)に
示したような撮像管の使用も可能である。 図9にX線
検出系の第4の実施例を示す。この実施例では、X線検
出系の第3の実施例(図8)と同様に蛍光スクリーン5
2によりX線像を光学像に変換する。蛍光スクリーン5
2は回転ステージ55により回転可能に構成され、ドラ
イバ47によって対象物2と同じ速度で回転するように
制御される。蛍光スクリーン52と対象物2とを同期回
転させることにより、対象物2の焦点面4の像が蛍光ス
クリーン52上に静止する。このため、蛍光スクリーン
52に残光時間の長い材質を使用することで、焦点面4
の像が明るく検出される。そして、蛍光スクリーン52
上の光学像はレンズ41とレンズ44によりCCD45
に結像され、光路の途中に挿入したイメージローテータ
42によりその像は回転することになる。CCD45
は、像が1回転に要する時間を露光時間とし、検出した
電気信号(映像信号)をディスプレイ46に表示する。
レンズ41以後の構成はX線検出系の第1の実施例(図
5)の構成と同様である。また、光路の途中にイメージ
インテンシファイアを挿入して、明るさを増幅すること
も可能である。また、CCD45の代わりにX線検出系
の第3の実施例(図7)に示したような撮像管を使用す
ることも可能である。撮像管は高感度のものが好適であ
り、例えば、SIT(Silicon Intensi
fied Target)管やアバランシュ増倍型撮像
管、あるいはICCD(Image Intensif
ied CCD)カメラなどが挙げられる。
FIG. 8 shows a third embodiment of the X-ray detection system.
In this embodiment, the fluorescent screen 52 converts the X-ray image into an optical image. The X-ray image intensifier 40 used in the first and second embodiments has an image distortion of about 5%.
Also, the resolution is about 5 lp (line pair) / m
m is low. However, the fluorescent screen 52 has no image distortion and a resolution of up to about 20 lp / mm. As the fluorescent screen 52, in order to improve the resolution, a single crystal scintillator, for example, CsI (Tl) (thallium activated cesium iodide), or CaF 2 (Eu) is polished to a thickness of about 0.4 mm. Those obtained are preferred.
Further, since the light excited by the X-ray irradiation is weak, an optical image with a sufficient light quantity cannot be obtained. Therefore, the image of the fluorescent screen 52 is formed on the image intensifier 54 by the lens 53, and the brightness is amplified by the image intensifier 54. Image intensifier 54
For this purpose, a proximity image intensifier having no image distortion is suitable. Further, it goes without saying that an image fiber may be used instead of the lens 53.
The optical image amplified by the image intensifier 54 is formed on the CCD 45 by the lens 41 and the lens 44, and the image is rotated by the image rotator 42 located in the middle of the optical path. Then, it is converted into an electric signal (video signal) by the CCD 45 and displayed on the display 46. The configuration after the image intensifier 54 is the same as that of the first embodiment (FIG. 5) of the X-ray detection system. In this case CC
Instead of D45, it is also possible to use an image pickup tube as shown in the second embodiment (FIG. 7) of the X-ray detection system. FIG. 9 shows a fourth embodiment of the X-ray detection system. In this embodiment, the fluorescent screen 5 is used similarly to the third embodiment (FIG. 8) of the X-ray detection system.
2 converts the X-ray image into an optical image. Fluorescent screen 5
2 is configured to be rotatable by a rotary stage 55, and is controlled by a driver 47 so as to rotate at the same speed as the object 2. By rotating the fluorescent screen 52 and the object 2 synchronously, the image of the focal plane 4 of the object 2 stands still on the fluorescent screen 52. Therefore, by using a material having a long afterglow time for the fluorescent screen 52, the focal plane 4
Image is detected brightly. And the fluorescent screen 52
The upper optical image is the CCD 45 by the lens 41 and the lens 44.
The image is rotated by the image rotator 42, which is formed in the middle of the optical path. CCD45
Displays the detected electric signal (video signal) on the display 46 with the exposure time being the time required for the image to make one rotation.
The configuration after the lens 41 is similar to that of the first embodiment (FIG. 5) of the X-ray detection system. It is also possible to insert an image intensifier in the middle of the optical path to amplify the brightness. Further, instead of the CCD 45, it is possible to use an image pickup tube as shown in the third embodiment (FIG. 7) of the X-ray detection system. It is preferable that the image pickup tube has high sensitivity. For example, SIT (Silicon Intensi)
fied Target) tube, avalanche multiplication type imaging tube, or ICCD (Image Intensif)
ied CCD) camera and the like.

【0039】図10にX線検出系の第5の実施例を示
す。この実施例はイメージローテータを使用しないで、
画像処理により像を回転させる例である。この実施例に
おけるX線検出系は、X線イメージセンサ56、A/D
コンバータ57、画像処理部58、フレームメモリ59
およびD/Aコンバータ60から基本的に構成される。
FIG. 10 shows a fifth embodiment of the X-ray detection system. This example does not use an image rotator,
This is an example of rotating an image by image processing. The X-ray detection system in this embodiment is the X-ray image sensor 56, A / D.
Converter 57, image processing unit 58, frame memory 59
And a D / A converter 60.

【0040】このようなX線検出系では、まず、X線像
をX線イメージセンサ56で電気信号(映像信号)に変
換する。X線イメージセンサ56は、TVレート、即ち
1/30秒毎に電気信号(映像信号)を出力する。この
映像信号はA/Dコンバータ57によりデジタル信号に
変換させ、これによりデジタル画像が得られる。次に、
得られたデジタル画像は画像処理部58で対象物の回転
に同期した角度分回転させられ、1回転分の画像がフレ
ームメモリ59に加算されていく。例えば、対象物を周
期2秒で回転させる時、1/30秒間に6°像が回転す
る。そこで、最初に検出した像を0°回転とし、2回目
に検出した像を6°回転させ、n回目に検出した像を6
×(n−1)°回転させる。そして、60回目に検出し
た像までをフレームメモリ59に足し込んでいく。この
ようにして積算されたデジタル画像はD/Aコンバータ
60でアナログの映像信号に変換され、デイスプレイ4
6に表示される。なお、この実施例におけるX線イメー
ジセンサ56は、例えば、X線ビジコン、X線イメージ
インテンシファイアと撮像管を組み合わせた系、蛍光ス
クリーンと撮像管を組み合わせた系などに代えることも
できる。
In such an X-ray detection system, the X-ray image is first converted into an electric signal (video signal) by the X-ray image sensor 56. The X-ray image sensor 56 outputs an electric signal (video signal) every TV rate, that is, every 1/30 second. This video signal is converted into a digital signal by the A / D converter 57, whereby a digital image is obtained. next,
The obtained digital image is rotated by an angle synchronized with the rotation of the object in the image processing unit 58, and the image for one rotation is added to the frame memory 59. For example, when the object is rotated in a cycle of 2 seconds, the image rotates by 6 ° in 1/30 seconds. Therefore, the first detected image is rotated by 0 °, the second detected image is rotated by 6 °, and the nth detected image is rotated by 6 °.
Rotate x (n-1) °. Then, the image detected up to the 60th time is added to the frame memory 59. The digital image thus integrated is converted into an analog video signal by the D / A converter 60, and the display 4
6 is displayed. The X-ray image sensor 56 in this embodiment can be replaced with, for example, an X-ray vidicon, a system combining an X-ray image intensifier and an image pickup tube, a system combining a fluorescent screen and an image pickup tube, and the like.

【0041】図11にX線検出系の第6の実施例を示
す。この実施例は、ロータリーラスタ走査の撮像管を使
用した実施例である。この実施例におけるX線検出系
は、X線イメージインテンシファイア40、レンズ9
0、撮像管50、回転ラスタ波形発生回路91、クロッ
ク発生回路92、加算回路51およびドライバ47から
基本的に構成される。
FIG. 11 shows a sixth embodiment of the X-ray detection system. This embodiment is an embodiment using a rotary raster scanning image pickup tube. The X-ray detection system in this embodiment includes an X-ray image intensifier 40 and a lens 9.
0, the image pickup tube 50, the rotating raster waveform generating circuit 91, the clock generating circuit 92, the adding circuit 51, and the driver 47.

【0042】この実施例では、X線像をX線イメージイ
ンテンシファイア40で光学像に変換し、その光学像を
レンズ90で撮像管50の検出面に結像させる。撮像管
50は、回転ラスタ波形発生回路91で発生したドライ
ブ波形により、ロータリーラスタ走査される。このた
め、回転像が静止像として検出される。X線検出系の第
1の実施例(図5)に示した対象物2を回転させる回転
ステージ38の回転速度と撮像管50のロータリーラス
タ走査の速度を同期させるために、クロック発生回路9
2からのクロック信号にしたがって回転ラスタ波形発生
回路91とドライバ47が駆動される。撮像管50で検
出された画像は加算回路51で像の1回転分以上の時間
の画像が加算され、ディスプレイ46に表示される。こ
の実施例では、X線イメージインテンシファイア40の
代わりに、蛍光スクリーン、あるいは蛍光スクリーンと
イメージインテンシファイアを組み合わせたものを使用
することもできる。
In this embodiment, the X-ray image is converted into an optical image by the X-ray image intensifier 40, and the optical image is formed on the detection surface of the image pickup tube 50 by the lens 90. The image pickup tube 50 is subjected to rotary raster scanning by the drive waveform generated by the rotary raster waveform generation circuit 91. Therefore, the rotated image is detected as a still image. In order to synchronize the rotational speed of the rotary stage 38 for rotating the object 2 shown in the first embodiment (FIG. 5) of the X-ray detection system with the rotary raster scanning speed of the image pickup tube 50, the clock generation circuit 9 is provided.
The rotary raster waveform generating circuit 91 and the driver 47 are driven in accordance with the clock signal from 2. The images detected by the image pickup tube 50 are added by the adding circuit 51 for one rotation or more of the image, and displayed on the display 46. In this embodiment, instead of the X-ray image intensifier 40, a fluorescent screen or a combination of a fluorescent screen and an image intensifier can be used.

【0043】図12にX線検出系の第7の実施例を示
す。この実施例におけるX線検出系は、X線ビジコン9
3、加算回路51、クロック発生回路92、回転ラスタ
波形発生回路91およびドライバ47から基本的に構成
される。
FIG. 12 shows a seventh embodiment of the X-ray detection system. The X-ray detection system in this embodiment is an X-ray vidicon 9
3, an adding circuit 51, a clock generating circuit 92, a rotating raster waveform generating circuit 91 and a driver 47.

【0044】この実施例では、まず、X線像をX線ビジ
コン93で検出する。このとき、回転ラスタ波形発生回
路91で発生したドライブ波形により、ロータリーラス
タ走査することで、回転像が静止像として検出される。
回転ステージ38(図5)の回転速度と撮像管50のロ
ータリーラスタ走査の速度を同期させるために、クロッ
ク発生回路92からのクロック信号にしたがって回転ラ
スタ波形発生回路91とドライバ47が駆動される。撮
像管50で検出した画像は、加算回路51で像の1回転
分以上の時間の画像が加算され、ディスプレイ46に表
示される。
In this embodiment, first, the X-ray image is detected by the X-ray vidicon 93. At this time, the rotation image is detected as a still image by performing a rotary raster scan with the drive waveform generated by the rotation raster waveform generation circuit 91.
In order to synchronize the rotation speed of the rotary stage 38 (FIG. 5) and the speed of the rotary raster scanning of the image pickup tube 50, the rotary raster waveform generating circuit 91 and the driver 47 are driven according to the clock signal from the clock generating circuit 92. The images detected by the image pickup tube 50 are added by the adder circuit 51 for one rotation or more of the image, and displayed on the display 46.

【0045】本発明によるX線断層撮影装置の検出解像
度を向上させるためには、X線源の微小化が必要であ
る。このためには、照射する電子ビームの微小化ととも
に、ターゲットを薄膜透過形にする必要がある。
In order to improve the detection resolution of the X-ray tomography apparatus according to the present invention, it is necessary to miniaturize the X-ray source. For this purpose, it is necessary to miniaturize the irradiation electron beam and to make the target a thin film transmission type.

【0046】図13に、微小焦点サイズを得るためのX
線管の実施例を示す。X線管は、フィラメント61、ウ
エネルト62、電界レンズ63、X線発生層24、支持
層25、ターゲット23から主に構成され、ガラスバル
ブ64内に収容されている。そして、ターゲット23に
対向したガラスバルブ64部分に設けられたX線透過窓
69からX線27が出射できるようになっている。
FIG. 13 shows X for obtaining a fine focus size.
An example of a wire tube is shown. The X-ray tube mainly includes a filament 61, a Wehnelt 62, an electric field lens 63, an X-ray generation layer 24, a support layer 25, and a target 23, and is housed in a glass bulb 64. Then, the X-rays 27 can be emitted from the X-ray transmission window 69 provided in the glass bulb 64 portion facing the target 23.

【0047】すなわち、X線管では、フィラメント61
から発生した電子線21をウエネルト62及び電界レン
ズ63でターゲット23に集束させる。ターゲット23
は、周囲をベアリング軸68に固定されており、ベアリ
ング67により回転可能な構造となっている。ガラスバ
ルブ64の外にはステータ65が設けられ、このステー
タ65を励磁することによって、ガラスバルブ64の内
部のロータ66が回転し、これによってターゲット23
が回転する。電子線21の照射によりターゲット23で
発生したX線27は、前述のようにX線透過窓69から
外部に出射され、取り出される。
That is, in the X-ray tube, the filament 61
The electron beam 21 generated from the electron beam is focused on the target 23 by the Wehnelt 62 and the electric field lens 63. Target 23
Is fixed to the bearing shaft 68 around its circumference and has a structure rotatable by the bearing 67. A stator 65 is provided outside the glass bulb 64, and by exciting the stator 65, the rotor 66 inside the glass bulb 64 rotates, which causes the target 23.
Rotates. The X-rays 27 generated by the target 23 by the irradiation of the electron beam 21 are emitted to the outside from the X-ray transmission window 69 and taken out as described above.

【0048】X線源径を微小化するためには、ターゲッ
ト23に照射する電子線21のビーム径を微小化しなけ
ればならない。このため、フィラメント61は、高輝度
な物が良く、従来より使用されているタングステンフィ
ラメントより、LaB6 (ランタンヘキサボライト)フ
ィラメントが好適であり、寿命が長いというメリットも
ある。あるいは、電界放射形フィラメントでも良い。ま
た、電子線21を集束する電界レンズ63は、複数枚と
したほうが、微細な電子ビーム径を得やすい。
In order to miniaturize the X-ray source diameter, the beam diameter of the electron beam 21 with which the target 23 is irradiated must be miniaturized. Therefore, the filament 61 is preferably a high-luminance material, and a LaB 6 (lanthanum hexabolite) filament is more suitable than a conventionally used tungsten filament, which also has the advantage of a long life. Alternatively, a field emission type filament may be used. Further, if the number of the electric field lens 63 that focuses the electron beam 21 is plural, it is easy to obtain a fine electron beam diameter.

【0049】ターゲット23に入射した電子は、原子と
衝突・散乱し、ターゲット内部に拡がる。管電圧100
kVにおける拡がりの大きさは5μm程度と言われてお
り、このため、たとえ電子ビームを1点に集束(拡がり
0)させても、X線源径は5μm以上になる。X線源径
を微小化するためには、薄膜のターゲットを用いて、電
子の散乱領域を制限する必要がある。本発明では、ター
ゲット23をX線発生層24と支持層25の多層構造と
する。X線発生層24は、タングステン、あるいは、タ
ングステンとレリウムの合金が最適であり、その膜厚
は、目標とするX線源径に依存するが、0.5から5μ
mである。支持層25は軽元素であるベリリウムが最適
であり、10μm程度で良い。支持層25はターゲット
23の機械的強度を増すと同時に、電子線21の照射に
より発生する熱を逃す作用がある。さらに、ターゲット
23の1ヶ所に電子線21を照射しないようにステータ
65とロータ66でターゲット23を回転させ、熱に対
する強度を増加させ、破損の防止を図る。
The electrons incident on the target 23 collide and scatter with atoms and spread inside the target. Tube voltage 100
The size of the spread at kV is said to be about 5 μm. Therefore, even if the electron beam is focused (spread 0) at one point, the X-ray source diameter becomes 5 μm or more. In order to reduce the X-ray source diameter, it is necessary to use a thin film target to limit the electron scattering region. In the present invention, the target 23 has a multilayer structure of the X-ray generation layer 24 and the support layer 25. The X-ray generation layer 24 is optimally made of tungsten or an alloy of tungsten and rherium, and its film thickness depends on the target X-ray source diameter, but is 0.5 to 5 μm.
m. The support layer 25 is optimally made of beryllium, which is a light element, and may be about 10 μm. The support layer 25 has an action of increasing the mechanical strength of the target 23 and at the same time having a function of releasing heat generated by irradiation of the electron beam 21. Further, the target 23 is rotated by the stator 65 and the rotor 66 so as not to irradiate the electron beam 21 on one place of the target 23, the strength against heat is increased, and damage is prevented.

【0050】図13に示した実施例(以下、X線管の第
1の実施例とも称する)は、電子レンズに電界レンズを
使用した実施例であるが、電磁レンズを使用した実施例
を図14に示す。この実施例では、フィラメント61か
ら発生した電子線21をウエネルト62及び磁界レンズ
70でターゲット23に集束させる。ターゲット23は
周囲をベアリング軸68に固定されており、ベアリング
67により回転可能な構造となっており、X線管の第1
の実施例を同様にステータ65とロータ66により回転
駆動される。ガラスバルブ64の内部は、高真空であ
る。X線管の第1の実施例の電界レンズ63は、ガラス
バルブ64の内部にあったが、この実施例では、電磁レ
ンズ70の中心にガラスバルブ64が通っている。この
ため、フィラメント61あるいは、ターゲット23の寿
命が尽きた時は、ガラスバルブ64を交換するだけで良
く、電磁レンズ70は、そのまま使用できる。
The embodiment shown in FIG. 13 (hereinafter, also referred to as the first embodiment of the X-ray tube) is an embodiment using an electric field lens as an electron lens, but an embodiment using an electromagnetic lens is shown. 14 shows. In this embodiment, the electron beam 21 generated from the filament 61 is focused on the target 23 by the Wehnelt 62 and the magnetic lens 70. The target 23 has a structure in which the periphery is fixed to a bearing shaft 68 and can be rotated by a bearing 67.
In the same manner as the above embodiment, the stator 65 and the rotor 66 rotate the same. The inside of the glass bulb 64 is in high vacuum. The electric field lens 63 of the first embodiment of the X-ray tube was inside the glass bulb 64, but in this embodiment, the glass bulb 64 passes through the center of the electromagnetic lens 70. Therefore, when the life of the filament 61 or the target 23 is exhausted, the glass bulb 64 only needs to be replaced, and the electromagnetic lens 70 can be used as it is.

【0051】また、X線管の第1の実施例と同様、電磁
レンズ70は、複数個のほうが微小な焦点サイズが得や
すい。
Further, as in the first embodiment of the X-ray tube, a plurality of electromagnetic lenses 70 makes it easier to obtain a fine focus size.

【0052】以上の2つの実施例は、ガラスバルブ64
内に諸要素を封じ込めた封じ管式X線管の実施例である
が、開放式のX線管の実施例を図15に示す。このX線
管の実施例は開放式のものであって、X線管の第1の実
施例におけるガラスバルブ64の代わりに真空容器71
を使用し、容器内の空気を真空ポンプ74で吸引して真
空状態を保持させ、ステータ65とロータ66の組み合
わせをモータ72とギア75の組み合わせに置き換え、
さらに、電界レンズ63の代わりに磁界レンズ70を使
用している。
The above two embodiments are the glass bulb 64.
FIG. 15 shows an example of a sealed tube type X-ray tube in which various elements are contained, and an example of an open type X-ray tube. This embodiment of the X-ray tube is of the open type, and instead of the glass bulb 64 in the first embodiment of the X-ray tube, a vacuum container 71 is used.
By using the vacuum pump 74 to suck the air in the container to maintain the vacuum state, and replace the combination of the stator 65 and the rotor 66 with the combination of the motor 72 and the gear 75.
Further, the magnetic field lens 70 is used instead of the electric field lens 63.

【0053】この実施例では、フィラメント61から発
生した電子線21をウエネルト62及び磁界レンズ70
でターゲット23に集束させる。ターゲット23は周囲
をベアリング軸68に固定されており、ベアリング67
により回転可能な構造となっている。ターゲット23
は、真空容器71の外にあるモータ72を回転させ、回
転導入軸73とギヤ75を介して回転駆動される。な
お、ターゲット23はX線管の第1の実施例と同様にス
テータとロータにより回転させても良いことはいうまで
もない。電子線21の照射によりターゲット23で発生
したX線27は、X線透過窓69より、外部に取り出さ
れる。真空容器71は真空ポンプ74により真空に保た
せている。ターゲット23の構造は、前述の図12に示
したX線管の第1の実施例と同じである。
In this embodiment, the electron beam 21 generated from the filament 61 is supplied to the Wehnelt 62 and the magnetic field lens 70.
To focus on the target 23. The target 23 has its periphery fixed to a bearing shaft 68,
It has a rotatable structure. Target 23
Is rotated by a motor 72 outside the vacuum container 71, and is rotated via a rotation introducing shaft 73 and a gear 75. Needless to say, the target 23 may be rotated by the stator and the rotor as in the first embodiment of the X-ray tube. The X-rays 27 generated on the target 23 by the irradiation of the electron beam 21 are taken out through the X-ray transmission window 69. The vacuum container 71 is kept vacuum by a vacuum pump 74. The structure of the target 23 is the same as that of the first embodiment of the X-ray tube shown in FIG.

【0054】また、X線源として、他にシンクロトロン
放射光(SR光)を使用して検出分解能を上げることも
可能である。この場合、SR光は平行光であるため半影
ぼけが生じることがなく、それゆえ解像度が低下するこ
ともない。
It is also possible to use synchrotron radiation light (SR light) as the X-ray source to improve the detection resolution. In this case, since the SR light is parallel light, penumbra blur does not occur, and therefore the resolution does not decrease.

【0055】次に、本発明によるX線断層撮影装置を使
用した回路基板のはんだ付部や回路接続部の自動検査装
置の実施例を図16に示す。この自動検査装置は、X線
管35からCCD45までのX線断層撮影装置の部分
は、図5で説明した第1のX線検出系の実施例と同一で
あり、これにさらに、A/Dコンバータ57、画像処理
部80、結果出力部81および制御コンピュータ82が
付加された構成になっている。
Next, FIG. 16 shows an embodiment of an automatic inspection device for soldering parts and circuit connecting parts of a circuit board using the X-ray tomography apparatus according to the present invention. The part of the X-ray tomography apparatus from the X-ray tube 35 to the CCD 45 of this automatic inspection apparatus is the same as that of the first X-ray detection system of the embodiment described with reference to FIG. A converter 57, an image processing unit 80, a result output unit 81, and a control computer 82 are added.

【0056】この自動検査装置では、CCD45から出
力される映像信号をA/Dコンバータ57によりデジタ
ル画像とし、画像処理部80で欠陥部を抽出し、結果出
力部81より欠陥の位置や種類を出力する。制御コンピ
ュータ82は、検査装置全体の動作を制御し、検査手順
を管理する。
In this automatic inspection apparatus, the video signal output from the CCD 45 is converted into a digital image by the A / D converter 57, the image processing unit 80 extracts the defective portion, and the result output unit 81 outputs the position and type of the defect. To do. The control computer 82 controls the operation of the entire inspection apparatus and manages the inspection procedure.

【0057】以下、検査手順を示す。The inspection procedure will be described below.

【0058】(1)回路基板30をステージにセットす
る。
(1) The circuit board 30 is set on the stage.

【0059】(2)XYステージ37とZステージ39
を動かし、検査部分を視野に入れる。
(2) XY stage 37 and Z stage 39
To move the inspection area into view.

【0060】(3)回転ステージ38と回転ステージ4
3を回転させ、CCD45を露光し、検査部分の断層像
を得る。
(3) Rotating stage 38 and rotating stage 4
3 is rotated and the CCD 45 is exposed to obtain a tomographic image of the inspection portion.

【0061】(4)Zステージ39を動かし、検査部分
の第2の断層像を得る。さらに、Zステージ39を少し
ずつ動かし、必要な枚数の断層像を得る。もし、1枚の
断層像のみで十分であれば、この操作は必要無い。
(4) The Z stage 39 is moved to obtain a second tomographic image of the inspection portion. Further, the Z stage 39 is moved little by little to obtain the required number of tomographic images. If only one tomographic image is sufficient, this operation is not necessary.

【0062】(5)n枚の断層像より、良品であるか欠
陥であるかを判定画像処理部80でする。はんだはX線
吸収率が高いので、暗い影として検出される。検出した
影を良品の影と比較したり、検出した影を設計データに
基づいて計算した影と比較したり、検出した影の特徴量
を計算することで、欠陥判定を行う。
(5) From the n tomographic images, the determination image processing unit 80 determines whether the product is a good product or a defect. Since the solder has a high X-ray absorption rate, it is detected as a dark shadow. Defect determination is performed by comparing the detected shadow with a non-defective shadow, comparing the detected shadow with a shadow calculated based on design data, and calculating the feature amount of the detected shadow.

【0063】(6)XYステージ37を動かして検査部
分を変更する。そして、(3)から(5)の操作を繰返
す。さらに、XYステージ37を動かし、回路基板30
の全面の検査を行う。
(6) The XY stage 37 is moved to change the inspection part. Then, the operations (3) to (5) are repeated. Further, the XY stage 37 is moved to move the circuit board 30.
The entire surface of the.

【0064】(7)欠陥の位置及び種類を出力する。(7) The position and type of the defect are output.

【0065】(8)回路基板30を取り外す。(8) The circuit board 30 is removed.

【0066】このような検査手順をとることにより、検
査対象となる回路基板30のX線による断層像を得て、
多層構造であっても確実に欠陥の位置と種類を確実に把
握することができる。
By taking such an inspection procedure, a tomographic image of the circuit board 30 to be inspected by X-ray is obtained,
Even with a multi-layer structure, the position and type of the defect can be surely grasped.

【0067】[0067]

【発明の効果】これまでの説明で明らかなように、本発
明によれば以下のような効果がある。すなわち、光学像
に変換する手段の回転軸と対象物の回転軸を平行にし、
光学像を回転させる手段により光学像の回転を対象物の
回転と同期させるように構成した請求項1記載の発明に
よれば、対象物の回転軸と光軸の交点を含み、回転軸に
垂直な焦点面の投影像のみ静止した像として検出するこ
とができるので、焦点面以外の面にある直線状の構造体
の像はぼけて検出され、検出対象面のみ鮮明に検出する
ことが可能になる。
As is apparent from the above description, the present invention has the following effects. That is, the rotation axis of the means for converting into an optical image and the rotation axis of the object are made parallel,
According to the invention of claim 1, wherein the rotation of the optical image is synchronized with the rotation of the object by the means for rotating the optical image, the rotation axis of the object is perpendicular to the rotation axis. Since only the projected image of the focal plane can be detected as a static image, the image of the linear structure on the surface other than the focal plane is detected as a blur and only the detection target surface can be detected clearly. Become.

【0068】X線源と、撮影対象となる対象物を回転さ
せる手段と、対象物を透過したX線像を光学像に変換す
る手段と、光学像を回転させる手段と、光学像の回転と
対象部の回転とを同期させる手段と、光学像を映像情報
となる電気信号に変換する手段と、変換された電気信号
を表示する手段とを備えてなる請求項2記載の発明によ
れば、上述の理由により焦点面以外の面にある直線状の
構造体の像はぼけて検出され、検出対象面のみ鮮明に検
出することが可能になる。加えて、この検出は映像情報
を表示する手段によって実時間で表示することにより実
行できる。
X-ray source, means for rotating an object to be imaged, means for converting an X-ray image transmitted through the object into an optical image, means for rotating the optical image, and rotation of the optical image. 3. The invention according to claim 2, further comprising: means for synchronizing the rotation of the target portion, means for converting an optical image into an electric signal serving as image information, and means for displaying the converted electric signal. For the above-mentioned reason, the image of the linear structure on the plane other than the focal plane is blurred and detected, and only the detection target surface can be clearly detected. In addition, this detection can be performed by displaying in real time by means of displaying the video information.

【0069】また、上述のように構成された請求項3な
いし13記載の発明によっても上述の理由により請求項
2記載の発明と同様の効果を奏する。
Also, the inventions according to claims 3 to 13 configured as described above have the same effect as the invention according to claim 2 for the above reason.

【0070】また、X線源として、透過型ターゲットを
偏心させ、回転させる手段を有するマイクロフォーカス
X線管を用いた請求項14記載の発明によれば、X線源
径が微小化され、さらにターゲットの1ヶ所に電子線が
照射されないので熱的強度が増し、解像度の高い検出を
安定して行うことが可能になる。
Further, according to the invention of claim 14, wherein the X-ray source is a microfocus X-ray tube having means for eccentrically rotating the transmissive target, the diameter of the X-ray source is reduced, and Since the electron beam is not radiated onto one part of the target, the thermal strength is increased and stable detection with high resolution can be performed.

【0071】また、マイクロフォーカスX線管に含まれ
る透過型ターゲットを、X線発生層と支持層との少なく
とも2層から構成した請求項15記載の発明によれば、
X線発生層を薄くして電子の散乱領域を制限してX線源
径を微小化し、さらにターゲットの機械的強度を支持層
によって確保するとともに電子線の照射によって発生す
る熱を支持層から放射させることができるので、解像度
の高い検出を安定して行うことが可能になる。
Further, according to the invention of claim 15, wherein the transmission type target included in the microfocus X-ray tube is composed of at least two layers of an X-ray generation layer and a support layer.
The X-ray generation layer is made thin to limit the electron scattering region to miniaturize the X-ray source diameter, the mechanical strength of the target is secured by the support layer, and the heat generated by electron beam irradiation is radiated from the support layer. Therefore, it is possible to stably perform high-resolution detection.

【0072】映像情報となる電気信号から被検査物の欠
陥を検出する画像処理回路をさらに備えた請求項16記
載の発明によれば、検査対象物の任意の断面の断層像が
得られるので、当該断層像から画像処理回路により対象
物の複雑な内部構造の欠陥を自動的に検出でき、多層基
板のはんだ付け部等の回路接続部の検査も自動的に行う
ことが可能になる。
According to the invention of claim 16, further comprising an image processing circuit for detecting a defect of the object to be inspected from an electric signal as image information, a tomographic image of an arbitrary cross section of the object to be inspected can be obtained. An image processing circuit can automatically detect a defect in a complicated internal structure of the object from the tomographic image, and an inspection of a circuit connecting portion such as a soldering portion of the multilayer substrate can be automatically performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るX線断層撮影方法の原理を示す図
である。
FIG. 1 is a diagram showing the principle of an X-ray tomography method according to the present invention.

【図2】本発明に係るX線断層撮影装置の原理的構成を
示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a principle configuration of an X-ray tomography apparatus according to the present invention.

【図3】本発明に係る微小X線源の原理的構成を示す図
である。
FIG. 3 is a diagram showing a principle configuration of a micro X-ray source according to the present invention.

【図4】本発明に係る多層構造の回路基板の内部の自動
検査装置の原理的構成を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a principle configuration of an automatic inspection device for an inside of a multilayer circuit board according to the present invention.

【図5】本発明に係るX線断層撮影装置の一実施例の構
成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of an embodiment of an X-ray tomography apparatus according to the present invention.

【図6】イメージローテータの他の1例を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing another example of an image rotator.

【図7】X線検出系の第2の実施例の構成を示す図であ
る。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a second embodiment of an X-ray detection system.

【図8】X線検出系の第3の実施例の構成を示す図であ
る。
FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a third embodiment of an X-ray detection system.

【図9】X線検出系の第4の実施例の構成を示す図であ
る。
FIG. 9 is a diagram showing the configuration of a fourth example of the X-ray detection system.

【図10】X線検出系の第5の実施例の構成を示す図で
ある。
FIG. 10 is a diagram showing the configuration of a fifth example of the X-ray detection system.

【図11】X線検出系の第6の実施例の構成を示す図で
ある。
FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a sixth example of the X-ray detection system.

【図12】X線検出系の第7の実施例の構成を示す図で
ある。
FIG. 12 is a diagram showing the configuration of a seventh embodiment of the X-ray detection system.

【図13】本発明に係る微小焦点X線管の第1の実施例
の構成を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing the configuration of a first embodiment of a microfocus X-ray tube according to the present invention.

【図14】本発明に係る微小焦点X線源の第2の実施例
の構成を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing a configuration of a second embodiment of a micro focus X-ray source according to the present invention.

【図15】本発明に係る微小焦点X線源の第3の実施例
の構成を示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing the configuration of a third embodiment of the micro focus X-ray source according to the present invention.

【図16】本発明に係る回路基板の内部自動検査装置の
一実施例の構成を示す図である。
FIG. 16 is a diagram showing the configuration of an example of an internal automatic inspection apparatus for a circuit board according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 X線源 2 対象物 4 焦点面 5 回転軸 6 回転軸 7 光軸 27 X線 35 X線管 37 XYテーブル 38 回転ステージ 39 Zステージ 40 X線イメージインテンシファイア 42 イメージローテータ(ダブプリズム) 43 回転ステージ 45 固体撮像素子(CCD) 46 ディスプレイ 47 ドライバ 1 X-ray source 2 Object 4 Focal plane 5 Rotation axis 6 Rotation axis 7 Optical axis 27 X-ray 35 X-ray tube 37 XY table 38 Rotation stage 39 Z stage 40 X-ray image intensifier 42 Image rotator (Dub prism) 43 Rotating stage 45 Solid-state image sensor (CCD) 46 Display 47 Driver

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 X線源から発生するX線の光軸に対して
傾斜した回転軸の回りに撮影対象となる対象物を回転さ
せる手段と、対象物を透過したX線像を光学像に変換す
る手段と、変換された光学像を回転させる手段と、光学
像を映像情報となる電気信号に変換する手段とからなる
X線検出系を使用してX線断層像を得るX線断層撮影方
法において、前記光学像に変換する手段の回転軸と対象
物の回転軸を平行にし、光学像を回転させる手段により
光学像の回転を対象物の回転と同期させることを特徴と
するX線断層撮影方法。
1. A means for rotating an object to be imaged around a rotation axis tilted with respect to an optical axis of X-rays generated from an X-ray source, and an X-ray image transmitted through the object as an optical image. X-ray tomography for obtaining an X-ray tomographic image by using an X-ray detection system including a converting unit, a unit that rotates the converted optical image, and a unit that converts the optical image into an electric signal serving as image information. In the method, the rotation axis of the means for converting into the optical image and the rotation axis of the object are parallel to each other, and the rotation of the optical image is synchronized with the rotation of the object by the means for rotating the optical image. How to shoot.
【請求項2】 X線源と、撮影対象となる対象物を回転
させる手段と、対象物を透過したX線像を光学像に変換
する手段と、光学像を回転させる手段と、光学像の回転
と対象物の回転とを同期させる手段と、光学像を映像情
報となる電気信号に変換する手段と、変換された電気信
号を表示する手段とを備えたX線断層撮影装置。
2. An X-ray source, a means for rotating an object to be imaged, a means for converting an X-ray image transmitted through the object into an optical image, a means for rotating the optical image, and an optical image An X-ray tomography apparatus comprising: a unit that synchronizes rotation with a rotation of an object; a unit that converts an optical image into an electric signal that serves as image information; and a unit that displays the converted electric signal.
【請求項3】 前記対象物を透過したX線像を光学像に
変換する手段がX線イメージインテンシファイアから、
前記光学像を回転させる手段が回転ステージによって回
転するイメージローテータから、光学像を映像信号とな
る電気信号に変換する手段が固体撮像素子からそれぞれ
なる請求項2記載のX線断層撮影装置。
3. A means for converting an X-ray image transmitted through the object into an optical image is an X-ray image intensifier,
The X-ray tomography apparatus according to claim 2, wherein the means for rotating the optical image is an image rotator rotated by a rotary stage, and the means for converting the optical image into an electric signal which is a video signal is a solid-state imaging device.
【請求項4】 イメージローテータが対象物に対して回
転数1:2の比率で回転するように光学像の回転と対象
物の回転とを同期させる手段よって制御し、固体撮像素
子の露光時間を光学像が1回転に要する時間と同一に設
定した請求項3記載のX線断層撮影装置。
4. The exposure time of the solid-state image pickup device is controlled by means for synchronizing the rotation of the optical image and the rotation of the object so that the image rotator rotates with respect to the object at a rotation speed of 1: 2. The X-ray tomography apparatus according to claim 3, wherein the time required for one rotation of the optical image is set to be the same.
【請求項5】 光学像を映像情報となる電気信号に変換
する手段が撮像管と電気信号を加算する回路とからなる
請求項2または3のいずれかに記載のX線断層撮影装
置。
5. The X-ray tomography apparatus according to claim 2, wherein the means for converting the optical image into an electric signal which becomes image information comprises an image pickup tube and a circuit for adding the electric signals.
【請求項6】 対象物を透過したX線像を光学像に変換
する手段が蛍光スクリーンと光学像の明るさを増幅する
イメージインテンシファイアとから、光学像を回転させ
る手段が回転ステージによって回転するイメージローテ
ータから、光学像を映像情報となる電気信号に変換する
手段が固体撮像素子からそれぞれなる請求項2記載のX
線断層撮影装置。
6. The means for converting an X-ray image transmitted through an object into an optical image is a fluorescent screen and an image intensifier for amplifying the brightness of the optical image, and the means for rotating the optical image is rotated by a rotary stage. 3. The X according to claim 2, wherein the means for converting the optical image from the image rotator to an electric signal serving as image information comprises a solid-state image sensor.
X-ray tomography equipment.
【請求項7】 イメージローテータが対象物に対して回
転数1:2の比率で回転するように光学像の回転と対象
物の回転とを同期させる手段によって制御し、固体撮像
素子の露光時間を光学像が1回転に要する時間と同一に
設定した請求項6記載のX線断層撮影装置。
7. The exposure time of the solid-state image pickup device is controlled by means for synchronizing the rotation of the optical image with the rotation of the object so that the image rotator rotates with respect to the object at a rotation ratio of 1: 2. The X-ray tomography apparatus according to claim 6, wherein the optical image is set to have the same time as one rotation.
【請求項8】 対象物を回転させる手段が回転ステージ
から、対象物を透過したX線像を光学像に変換する手段
が蛍光スクリーンと蛍光スクリーン上で変換された光学
像の明るさを増幅するイメージインテンシファイアとか
ら、光学像を回転させる手段が回転ステージによって回
転するイメージローテータから、光学像を映像情報とな
る電気信号に変換する手段が撮像管と映像情報となる電
気信号を加算する回路とからそれぞれなる請求項2記載
のX線断層撮影装置。
8. The means for rotating the object is a rotary stage, and the means for converting an X-ray image transmitted through the object into an optical image amplifies the brightness of the fluorescent screen and the optical image converted on the fluorescent screen. A circuit for adding an image intensifier and an electric signal to be image information by a means for converting the optical image to an electric signal to be image information from an image rotator in which a means to rotate an optical image from an image intensifier is rotated by a rotating stage. The X-ray tomography apparatus according to claim 2, each of which comprises
【請求項9】 対象物を回転させる手段が回転ステージ
から、対象物を透過したX線像を光学像に変換する手段
が回転ステージによって回転する蛍光スクリーンから、
光学像を回転させる手段が回転ステージによって回転す
るイメージローテータから、光学像を映像情報となる電
気信号に変換する手段が撮像管と映像情報となる電気信
号を加算する回路とからそれぞれなる請求項2記載のX
線断層撮影装置。
9. A means for rotating an object is from a rotary stage, and a means for converting an X-ray image transmitted through the object into an optical image is a fluorescent screen rotated by the rotary stage.
The means for rotating the optical image comprises an image rotator rotated by a rotating stage, and the means for converting the optical image into an electric signal which becomes image information respectively comprises an image pickup tube and a circuit for adding the electric signal which becomes image information. X described
X-ray tomography equipment.
【請求項10】 X線源と、撮影対象となる対象物を回
転させる手段と、対象物を透過したX線像を検出する手
段と、検出する手段によって検出された画像が対象物の
回転と同期するように回転処理する手段と、回転処理す
る手段によって回転させた画像を加算する手段と、加算
手段によって加算された映像情報を画像として表示する
手段とを備えたX線断層撮影装置。
10. An X-ray source, a means for rotating an object to be imaged, a means for detecting an X-ray image transmitted through the object, and an image detected by the detecting means for rotating the object. An X-ray tomography apparatus comprising: a unit that performs rotation processing in a synchronized manner; a unit that adds images rotated by the rotation processing unit; and a unit that displays the video information added by the adding unit as an image.
【請求項11】 対象物を回転させる手段が回転ステー
ジから、X線像を検出する手段がX線イメージセンサか
らそれぞれなる請求項10記載のX線断層撮影装置。
11. The X-ray tomography apparatus according to claim 10, wherein the means for rotating the object is a rotary stage and the means for detecting the X-ray image is an X-ray image sensor.
【請求項12】 X線像を検出する手段がX線像を光学
像に変換するX線イメージインテンシファイアと光学像
を検出する撮像管とから、画像を回転処理する手段が撮
像管のラスタ走査を回転させる回路からそれぞれなる請
求項10記載のX線断層撮影装置。
12. An X-ray image intensifier for converting an X-ray image into an optical image by a means for detecting an X-ray image and an image pickup tube for detecting an optical image, and a means for rotating an image is a raster of the image pickup tube. 11. The X-ray tomography apparatus according to claim 10, each comprising a circuit for rotating the scan.
【請求項13】 X線像を検出する手段が撮像管からな
る請求項10記載のX線断層撮影装置。
13. The X-ray tomography apparatus according to claim 10, wherein the means for detecting the X-ray image is an image pickup tube.
【請求項14】 X線源として、透過型ターゲットを偏
心させ、回転させる手段を有するマイクロフォーカスX
線管を用いることを特徴とする請求項2および請求項1
0記載のX線断層撮影装置。
14. A microfocus X having means for eccentrically rotating a transmission target as an X-ray source.
A line tube is used, and claim 2 and claim 1 characterized by the above-mentioned.
The X-ray tomography apparatus described in 0.
【請求項15】 マイクロフォーカスX線管に含まれる
透過型ターゲットが、X線発生層と支持層との少なくと
も2層からなる請求項14記載のX線断層撮影装置。
15. The X-ray tomography apparatus according to claim 14, wherein the transmissive target included in the microfocus X-ray tube comprises at least two layers of an X-ray generation layer and a support layer.
【請求項16】 映像情報となる電気信号から被検査物
の欠陥を検出する画像処理回路をさらに備えた請求項2
ないし15のいずれかに記載のX線断層撮影装置。
16. The image processing circuit according to claim 2, further comprising an image processing circuit for detecting a defect of an object to be inspected from an electric signal serving as video information.
16. The X-ray tomography apparatus according to any one of 1 to 15.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6222903B1 (en) 1998-09-30 2001-04-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Laminography system having a view selector with prism
KR100482513B1 (en) * 2002-03-29 2005-04-14 김후식 Fluoroscopy Camera
JP2007538428A (en) * 2004-05-05 2007-12-27 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Electronic device comprising an array of processing units

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3969337B2 (en) * 2003-04-15 2007-09-05 株式会社島津製作所 Bump inspection device
CN104237268B (en) * 2014-09-30 2016-10-05 四川泛华航空仪表电器有限公司 The lossless detection method of oil level signal device variable cross-section composite workpiece

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6222903B1 (en) 1998-09-30 2001-04-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Laminography system having a view selector with prism
KR100482513B1 (en) * 2002-03-29 2005-04-14 김후식 Fluoroscopy Camera
JP2007538428A (en) * 2004-05-05 2007-12-27 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Electronic device comprising an array of processing units

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