JPH05300438A - Image pickup device - Google Patents

Image pickup device

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JPH05300438A
JPH05300438A JP4097987A JP9798792A JPH05300438A JP H05300438 A JPH05300438 A JP H05300438A JP 4097987 A JP4097987 A JP 4097987A JP 9798792 A JP9798792 A JP 9798792A JP H05300438 A JPH05300438 A JP H05300438A
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JP
Japan
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data
sensitivity
correction
arithmetic
correction data
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4097987A
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Japanese (ja)
Inventor
Taro Yamamoto
太郎 山本
Takuya Sashide
拓也 指出
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

PURPOSE:To generate corrected data with a fixed judge reference in a short time by automatically generating sensitivity correction data at the image pickup device to perform image pickup by using a multi-element photoelectric conversion device. CONSTITUTION:An arithmetic means 20 generates the sensitivity correction data, specifies a detective photodetector and generates replacement data from the output electric signals of a multi-element photoelectric conversion device 10. A corrected data storage part 30 respectively stores the sensitivity correction data and the replacement data corresponding to the defective photodetector. Then, a correcting arithmetic circuit 40 outputs corrected video signals.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は撮像装置に係り、特に多
素子光電変換デバイスを用いて撮像を行なう撮像装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image pickup device, and more particularly, to an image pickup device for picking up an image using a multi-element photoelectric conversion device.

【0002】多素子光電変換デバイス、すなわち複数個
の受光素子を一定のピッチで直線状に配列した受光装置
を有する撮像装置においては、近年の感度向上の要求に
より、TDI(Time Delay & Integration)処理を行
なうものがある。
In a multi-element photoelectric conversion device, that is, in an image pickup apparatus having a light-receiving device in which a plurality of light-receiving elements are linearly arranged at a constant pitch, a TDI (Time Delay & Integration) process has been performed due to recent demand for improved sensitivity. There is something to do.

【0003】このTDI処理は例えば各列複数の受光素
子の配列方向と直交方向に光学走査を行ない、複数の受
光素子の夫々から取り出された電気信号を対応するアン
プで増幅し更に遅延した後、対応する受光素子同士の出
力信号を加算合成する。これにより、被写体の同一走査
地点での信号が夫々加算合成されて大レベルになるのに
対し、ノイズはランダムな変化をするので上記加算によ
っても大レベルとはならないから、全体としてS/Nの
改善された映像信号を得ることができる。
In this TDI processing, for example, optical scanning is performed in a direction orthogonal to the arrangement direction of a plurality of light receiving elements in each column, and electric signals extracted from each of the plurality of light receiving elements are amplified by corresponding amplifiers and further delayed, The output signals of the corresponding light receiving elements are added and combined. As a result, the signals at the same scanning point of the subject are added and synthesized to have a large level, but the noise does not change to a large level even with the above addition because the noise changes randomly. An improved video signal can be obtained.

【0004】かかるTDI処理を行なう撮像装置では、
複数ある受光素子の互いの感度ばらつきを補正するため
のデータを効率的に取得する必要がある。
In the image pickup apparatus which performs such TDI processing,
It is necessary to efficiently acquire data for correcting the sensitivity variations of a plurality of light receiving elements.

【0005】[0005]

【従来の技術】図4は従来の撮像装置の一例のブロック
図を示す。同図中、多素子光電変換デバイス1は一定ピ
ッチで配列された複数の受光素子からなる列が複数列配
列された構成であって、図示しない走査ミラーによって
被写体からの光が各列の複数の受光素子の配列方向と直
交する方向に走査されて入射される。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows a block diagram of an example of a conventional image pickup apparatus. In the figure, the multi-element photoelectric conversion device 1 has a configuration in which a plurality of rows of a plurality of light receiving elements arranged at a constant pitch are arranged, and light from an object is arranged in a plurality of rows by a scanning mirror (not shown). The light is scanned and incident in the direction orthogonal to the arrangement direction of the light receiving elements.

【0006】複数の受光素子により夫々被写体からの光
を光電変換して得られた電気信号は受光素子対応に設け
られたアンプ2で増幅された後、受光素子対応に設けら
れたA/D変換器3により別々にディジタルデータ(画
像データ)に変換される。このディジタルデータは素子
切り換え部4を介して演算部6に供給され、ここで前回
走査された相隣る列の受光素子からの信号を1ライン遅
延して得た信号と、今回の走査により得た信号とが加算
合成され、前記のTDI処理された画像データとされ
る。この画像データはD/A変換器7によりアナログ映
像信号に変換される。
An electric signal obtained by photoelectrically converting light from a subject by each of a plurality of light receiving elements is amplified by an amplifier 2 provided for the light receiving element, and then A / D converted provided for the light receiving element. It is converted into digital data (image data) separately by the device 3. This digital data is supplied to the calculation unit 6 via the element switching unit 4, and the signal obtained by delaying the signal from the light receiving element in the adjacent column scanned last time by one line and the signal obtained by this scanning are obtained. The added signal is added and combined to obtain the image data subjected to the TDI processing. This image data is converted into an analog video signal by the D / A converter 7.

【0007】ここで、多素子光電変換デバイス1を構成
する多数の受光素子のどれかに欠陥がある場合、その欠
陥受光素子の出力信号は正常なものと異なるから、上記
のTDI処理をそのまま実行するとかえってS/Nを低
下させてしまうことがある。また、各受光素子間に感度
ばらつきがあると、均一な被写体を撮像しても表示画像
が均一に表示されない。
If any of a large number of light receiving elements constituting the multi-element photoelectric conversion device 1 is defective, the output signal of the defective light receiving element is different from the normal one, and therefore the above TDI processing is executed as it is. Then, on the contrary, the S / N may be lowered. Further, if there is sensitivity variation among the light receiving elements, the display image will not be displayed uniformly even if a uniform subject is imaged.

【0008】そこで、従来の撮像装置では予め均一背景
の被写体を撮像して各受光素子の感度を測定し、全受光
素子の感度が同じになるように演算部6で補正演算を行
なうための感度補正データを受光素子対応に作成してデ
ータ記憶部5に記憶し、また感度が所定値以下の欠陥受
光素子に対してはその出力データに置き換えるためのデ
ータを作成してデータ記憶部5に記憶する。
Therefore, in the conventional image pickup apparatus, an object having a uniform background is imaged in advance to measure the sensitivities of the respective light receiving elements, and the sensitivity for performing the correction calculation in the arithmetic unit 6 so that the sensitivities of all the light receiving elements are the same. The correction data is created corresponding to the light receiving element and stored in the data storage unit 5, and for the defective light receiving element whose sensitivity is equal to or lower than a predetermined value, data for replacing the output data is created and stored in the data storage unit 5. To do.

【0009】そして、欠陥受光素子からのデータは素子
切り換え部4でデータ記憶部5からの置き換えデータに
切り換え、また演算部6ではデータ記憶部5からの感度
補正データに基づいて補正演算を行なう。これにより、
従来装置は欠陥受光素子の影響を受けることなくTDI
処理を実行することができ、また感度ばらつきも補正す
ることができる。
Then, the data from the defective light receiving element is switched to the replacement data from the data storage section 5 by the element switching section 4, and the calculation section 6 performs the correction calculation based on the sensitivity correction data from the data storage section 5. This allows
The conventional device has TDI without being affected by the defective light receiving element.
Processing can be executed, and sensitivity variations can be corrected.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来装置で
は欠陥受光素子の判定を作業者がすべての受光素子につ
いて順次行なっているために時間がかかり、また判定基
準が作業者によって異なるためにあいまいであり、更に
同一作業者の場合であっても時間と共に判定基準が変化
してしまうこともある。更に、例え感度補正データを正
確に設定して撮像装置を出荷したとしても、経年変化に
よって感度が変化するため、経年変化により感度が劣化
し、補正データが合わなくなり、結果として受光素子の
感度が劣化する等の課題がある。
However, in the conventional device, it takes time because the operator sequentially determines all the light receiving elements for the defective light receiving elements, and the determination criteria are different depending on the operator, which is ambiguous. Even if the same operator is used, the determination standard may change with time. Furthermore, even if the sensitivity correction data is accurately set and the imaging device is shipped, the sensitivity changes due to aging, so the sensitivity deteriorates due to aging, and the correction data does not match, and as a result, the sensitivity of the light receiving element There are problems such as deterioration.

【0011】本発明は上記の点に鑑みなされたもので、
感度補正等を自動化することにより上記の課題を解決し
た撮像装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above points,
An object of the present invention is to provide an imaging device that solves the above problems by automating sensitivity correction and the like.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理構成
図を示す。同図に示すように、本発明は多素子光電変換
デバイス10,演算手段20,補正データ記憶部30及
び補正演算回路40よりなる。多素子光電変換デバイス
10は複数の受光素子が所定方向に配列され、被写体か
らの光を光電変換する。
FIG. 1 is a block diagram showing the principle of the present invention. As shown in the figure, the present invention comprises a multi-element photoelectric conversion device 10, a calculation means 20, a correction data storage section 30, and a correction calculation circuit 40. The multi-element photoelectric conversion device 10 has a plurality of light receiving elements arranged in a predetermined direction and photoelectrically converts light from a subject.

【0013】演算手段20は多素子変換デバイス10の
出力電気信号から感度補正データの生成と欠陥受光素子
の特定と置換データの生成を行なう。補正データ記憶部
30は演算手段20により得られた感度補正データと欠
陥受光素子に対する置換データとが夫々格納される。補
正演算回路40は補正データ記憶部30からのデータと
前記演算手段20からの電気信号とから補正演算された
映像信号を出力する。
The calculating means 20 performs generation of sensitivity correction data, identification of defective light receiving elements, and generation of replacement data from the output electric signal of the multi-element conversion device 10. The correction data storage unit 30 stores the sensitivity correction data obtained by the calculating unit 20 and the replacement data for the defective light receiving element, respectively. The correction arithmetic circuit 40 outputs a video signal which has been subjected to a correction arithmetic operation from the data from the correction data storage section 30 and the electric signal from the arithmetic means 20.

【0014】また、演算手段20は所定の処理アルゴリ
ズムに従って演算を行なう演算部24と、多素子光電変
換デバイス10からの電気信号をディジタルデータに変
換するA/D変換器21と、A/D変換器21の並列出
力ディジタルデータを演算手段24の出力信号に基づい
て素子列毎に切り換える素子列切り換え部22と、素子
列切り換え部22の出力ディジタルデータを感度データ
として格納するデータ記憶部23とよりなり、演算部2
4はデータ記憶部23から読み出した感度データに基づ
いて前記感度補正データを生成すると共に、前記欠陥受
光素子の出力データに置き換える置換データとを生成す
る。
The arithmetic means 20 includes an arithmetic unit 24 for performing arithmetic operations according to a predetermined processing algorithm, an A / D converter 21 for converting an electric signal from the multi-element photoelectric conversion device 10 into digital data, and an A / D conversion. An element array switching unit 22 that switches the parallel output digital data of the device 21 for each element array based on the output signal of the arithmetic unit 24, and a data storage unit 23 that stores the output digital data of the element array switching unit 22 as sensitivity data. Become, operation unit 2
Reference numeral 4 generates the sensitivity correction data based on the sensitivity data read from the data storage unit 23, and also generates replacement data to replace the output data of the defective light receiving element.

【0015】[0015]

【作用】請求項1記載の発明では、演算手段20により
多素子光電変換デバイス10からの電気信号に基づい
て、感度補正データと欠陥受光素子に対する置換データ
とを夫々自動的に生成して補正データ記憶部30に格納
することができる。
According to the first aspect of the present invention, the sensitivity correction data and the replacement data for the defective light receiving element are automatically generated by the calculation means 20 based on the electric signal from the multi-element photoelectric conversion device 10, and the correction data is generated. It can be stored in the storage unit 30.

【0016】また、請求項2記載の発明では演算手段2
0はデータ記憶部23に多素子光電変換デバイス10の
受光素子夫々の感度データを格納しているので、演算部
24により感度補正データの生成、欠陥受光素子の判
定、補正演算値の重み付け(ナルシサス/シェーディン
グ等の固定ノイズの除去)、欠陥除去の仮想値設定等が
可能となる。
According to the second aspect of the invention, the computing means 2
Since 0 stores the sensitivity data of each light receiving element of the multi-element photoelectric conversion device 10 in the data storage unit 23, the calculation unit 24 generates sensitivity correction data, determines a defective light receiving element, and weights the correction calculation value (narcissus). / Removal of fixed noise such as shading), and virtual value setting for defect removal.

【0017】[0017]

【実施例】図2は本発明の一実施例の構成図を示す。同
図中、図1と同一構成部分には同一符号を付し、その説
明を省略する。図2において、多素子光電変換デバイス
10は受光素子であるフォトダイオード11が図中、上
下方向に一定ピッチで直線上にN個(Nは2以上の整
数)配列された第1の素子列と、フォトダイオード12
が第1の素子列と平行に一定ピッチでN個配列された第
2の素子列とが基板13上に形成され、更にN個のフォ
トダイオード11及び12の夫々に1対1に対応して電
荷転送素子(CCD)によるシフトレジスタが形成され
た構成とされている。フォトダイオード11及び12は
例えば赤外光を受光して光電変換する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 2 shows a block diagram of an embodiment of the present invention. In the figure, the same components as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. In FIG. 2, the multi-element photoelectric conversion device 10 includes a first element array in which N photodiodes (N is an integer of 2 or more) are arranged in a straight line at a constant pitch in the vertical direction in the figure as photodiodes 11 which are light receiving elements. , Photodiode 12
Is formed on the substrate 13 in parallel with the first element row and N second element rows are arranged at a constant pitch, and each of the N photodiodes 11 and 12 has a one-to-one correspondence. The shift register is formed by a charge transfer device (CCD). The photodiodes 11 and 12 receive, for example, infrared light and perform photoelectric conversion.

【0018】光学走査は図中、水平方向に行なわれ、各
ライン毎にフォトダイオード11及び12が同時に被写
体からの光を受光するが、例えばフォトダイオード12
は1ライン前にフォトダイオード11が撮像していた被
写体位置を撮像し、フォトダイオード11は新たな被写
体位置を撮像する。従って、フォトダイオード11の出
力電気信号を1ライン遅延した信号とフォトダイオード
12の出力電気信号を加算合成することにより、前記し
たTDI処理ができる。
The optical scanning is carried out in the horizontal direction in the figure, and the photodiodes 11 and 12 simultaneously receive the light from the object for each line.
Takes an image of the subject position imaged by the photodiode 11 one line before, and the photodiode 11 takes an image of a new subject position. Therefore, the TDI processing can be performed by adding and synthesizing the signal obtained by delaying the output electric signal of the photodiode 11 by one line and the output electric signal of the photodiode 12.

【0019】フォトダイオード11及び12の夫々によ
り光電変換された電気信号は前記シフトレジスタを通し
て各々シリアルに、かつ、互いに並列に取り出され、2
つのアンプ51で夫々増幅された後2つのA/D変換器
21で夫々アナログ・ディジタル変換されてディジタル
データに変換される。
The electric signals photoelectrically converted by the photodiodes 11 and 12 are taken out serially and in parallel with each other through the shift register, respectively.
After being respectively amplified by one amplifier 51, they are respectively analog-digital converted by the two A / D converters 21 and converted into digital data.

【0020】A/D変換器21の出力ディジタルデータ
は素子列切り換え部22によりフォトダイオード11に
よる第1の素子列の出力によるディジタルデータと、フ
ォトダイオード12による第2の素子列の出力によるデ
ィジタルデータのいずれか一方が選択されて中央処理装
置(CPU)54に転送される一方、ランダム・アクセ
ス・メモリ(RAM)52又は53に入力されて記憶さ
れる。RAM52及び53は夫々前記したデータ記憶部
23を構成している。また、CPU54は前記した演算
部24を構成している。
The output digital data of the A / D converter 21 is digital data obtained by the output of the first element array by the photodiode 11 by the element array switching unit 22 and digital data by the output of the second element array by the photodiode 12. One of them is selected and transferred to the central processing unit (CPU) 54, while it is input and stored in the random access memory (RAM) 52 or 53. The RAMs 52 and 53 respectively constitute the data storage unit 23 described above. Further, the CPU 54 constitutes the arithmetic unit 24 described above.

【0021】CPU54はI/Oポート55を介して外
部より入力される補正指令により図3に示すフローチャ
ートに従った動作を行なう。図3において、まず指令判
定を行なって(ステップ101 )、補正指令が入力された
と判定すると、素子列切り換え部22を制御して第1の
素子列のフォトダイオード11の出力信号のA/D変換
ディジタルデータをRAM52に感度データとして格納
させ(ステップ102 )、続いて第2の素子列のフォトダ
イオード12の出力信号のA/D変換ディジタルデータ
をRAM53に感度データとして格納させる(ステップ
103 )。なお、この補正指令入力時には、フォトダイオ
ード11及び12は均一背景の被写体からの光を受光し
ている。
The CPU 54 operates according to the flow chart shown in FIG. 3 according to a correction command input from the outside through the I / O port 55. In FIG. 3, first, a command determination is performed (step 101), and when it is determined that a correction command is input, the element array switching unit 22 is controlled to A / D convert the output signal of the photodiode 11 of the first element array. The digital data is stored in the RAM 52 as sensitivity data (step 102), and subsequently the A / D converted digital data of the output signal of the photodiode 12 of the second element array is stored in the RAM 53 as sensitivity data (step).
103). At the time of inputting this correction command, the photodiodes 11 and 12 receive light from a subject having a uniform background.

【0022】次にCPU54はRAM52と53から感
度データを順次読み出して、夫々についてデータ値が前
記均一背景に対応した或る値より許容範囲を越えて大幅
にずれた値のときは、そのデータを出力しているフォト
ダイオードが欠陥素子であると判定する(ステップ104
)。そして、この欠陥素子が第1の素子列及び第2の
素子列の相隣る2つのフォトダイオードであるか否か判
定し(ステップ105 )、同位置に隣り合う2つのフォト
ダイオードが欠陥素子のときにはそれらに代えて最も近
い別のフォトダイオードの出力を欠陥素子に代えて用い
るべく、最も近い別のフォトダイオードの位置を示す素
子ナンバーを代替素子ナンバーとして指定する(ステッ
プ106 )。
Next, the CPU 54 sequentially reads out the sensitivity data from the RAMs 52 and 53, and when the data value of each of them is a value greatly deviating from the certain value corresponding to the uniform background by exceeding the allowable range, the data is read. It is determined that the output photodiode is a defective element (step 104).
). Then, it is judged whether or not this defective element is two photodiodes adjacent to each other in the first element row and the second element row (step 105), and two photodiodes adjacent in the same position are defective elements. Sometimes, instead of them, the output of another closest photodiode is used instead of the defective element, so that the element number indicating the position of the closest other photodiode is designated as the alternative element number (step 106).

【0023】次に、CPU54はRAM52及び53か
ら順次読み出した感度データに基づいて、それらの感度
データが正しい、かつ、同一の感度を示すような補正係
数、すなわち感度補正データを夫々演算算出する(ステ
ップ107 )。また、CPU54は同位置に隣り合ってい
ない欠陥フォトダイオードに対しては、その出力に置き
換えるべき置換データを演算算出する(ステップ108
)。
Next, the CPU 54 computes and calculates correction coefficients, that is, sensitivity correction data, in which the sensitivity data are correct and show the same sensitivity, based on the sensitivity data sequentially read from the RAMs 52 and 53 ( Step 107). Further, for the defective photodiodes which are not adjacent to each other at the same position, the CPU 54 calculates and calculates replacement data to be replaced by the output (step 108).
).

【0024】そして、CPU54は最後にこのようにし
て生成した感度補正データ及び置換データを補正用デー
タとして演算処理時に読み出すために図2のRAM56
に格納する(ステップ109 )。この補正用データは図2
のI/Oポート55を介して外部モニタ装置で監視する
こともできる。
Then, the CPU 54 finally reads the sensitivity correction data and the replacement data thus generated as correction data at the time of arithmetic processing, and the RAM 56 of FIG.
(Step 109). This correction data is shown in Figure 2.
It is also possible to monitor with an external monitor device via the I / O port 55 of the above.

【0025】このようにして、本実施例によれば、感度
補正データの生成、欠陥素子の判定及び欠陥素子に対す
る置換データの生成に人的要素が介入せず、自動的に行
なえるため、補正用データの取得時間の短縮化、画一性
を向上することができる。
As described above, according to the present embodiment, since the human factor does not intervene in the generation of the sensitivity correction data, the determination of the defective element and the generation of the replacement data for the defective element, the correction can be automatically performed. It is possible to shorten the acquisition time of the business data and improve the uniformity.

【0026】なお、上記のステップ101 〜109 の処理は
定期的に行なってもよく、撮像装置出荷前に1回だけ行
なってもよい。定期的に行なった場合は経年変化による
フォトダイオード11及び12の感度低下に対応して補
正用データの更新ができるからより長期間画質を高品位
に保つことができる。
The above steps 101 to 109 may be carried out periodically or only once before the shipment of the image pickup apparatus. When it is regularly performed, the correction data can be updated in response to the deterioration of the sensitivity of the photodiodes 11 and 12 due to aging, so that the image quality can be kept high for a longer period of time.

【0027】このようにして、作成され、かつ、RAM
56に補正用データが格納された後は、以後この補正用
データに基づいて補正演算が行なわれる(ステップ110
)。すなわち、図2において、通常の撮像時には、素
子列切り換え部22から交互に切り換え出力された第1
の素子列のフォトダイオード11の出力信号に基づくデ
ィジタルデータ(画素データ)と、第2の素子列のフォ
トダイオード12の出力信号に基づくディジタルデータ
(画素データ)とは、CPU54を通して演算回路41
に供給される。
The RAM created in this way and also in the RAM
After the correction data is stored in 56, a correction calculation is subsequently performed based on this correction data (step 110).
). That is, in FIG. 2, at the time of normal image pickup, the first array alternately switched and output from the element array switching unit 22.
The digital data (pixel data) based on the output signals of the photodiodes 11 of the element array and the digital data (pixel data) based on the output signals of the photodiodes 12 of the second element array are processed by the arithmetic circuit 41 through the CPU 54.
Is supplied to.

【0028】演算回路41はD/A変換器42と共に前
記した補正演算回路40を構成しており、入力画像デー
タとRAM56から読み出した対応する補正データとの
補正演算(例えば乗算)を行なった後、前記TDI処理
を施す。これにより、感度ばらつきが補正され、また欠
陥素子からのデータはその欠陥素子が正常な場合のデー
タと近似したデータに置き換えられて、またTDI処理
によってS/Nが改善されたデータが演算回路41から
取り出されてD/A変換器42に供給される。D/A変
換器42は入力ディジタルデータをアナログ信号である
映像信号に変換して出力する。
The operation circuit 41 constitutes the above-described correction operation circuit 40 together with the D / A converter 42, and after performing the correction operation (for example, multiplication) between the input image data and the corresponding correction data read from the RAM 56. Then, the TDI process is performed. Thereby, the sensitivity variation is corrected, the data from the defective element is replaced with the data approximate to the data when the defective element is normal, and the SDI is improved by the TDI process. And is supplied to the D / A converter 42. The D / A converter 42 converts the input digital data into a video signal which is an analog signal and outputs it.

【0029】なお、本発明は上記の実施例に限定される
ものではなく、例えば装置規模によってはCPU54の
機能を縮小し、補正用データの演算処理は外部演算処理
部で行なわせて、そのようにして生成した補正用データ
をRAM56に格納してもよい。また、経年変化に対応
した補正はできないが、RAM56の代わりにROMを
用いて補正用データを格納しておいてもよい。
The present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the function of the CPU 54 may be reduced depending on the scale of the device, and the arithmetic processing of the correction data may be performed by the external arithmetic processing section. The correction data thus generated may be stored in the RAM 56. Further, although the correction cannot be performed according to the secular change, the ROM 56 may be used instead of the RAM 56 to store the correction data.

【0030】[0030]

【発明の効果】上述の如く、請求項1記載の発明によれ
ば、補正用データを自動的に生成しているため、人的要
素が補正用データの生成に介入せず、補正用データを従
来に比し短時間で生成できると共に、判定基準が画一的
となるため統一された補正演算により画質の画一性を向
上することができ、また請求項2記載の発明によれば、
感度補正データの生成及び欠陥判定、置換データの生成
などが簡単な回路構成でできる。また、請求項3記載の
発明によれば、経年変化に関係なく常に品質の劣化のな
い安定な画像を得ることができ、更に請求項4記載の発
明によればTDI処理によってS/Nを向上することが
できる等の特長を有するものである。
As described above, according to the first aspect of the invention, since the correction data is automatically generated, the human element does not interfere with the generation of the correction data, and the correction data is not generated. In addition to being able to generate in a shorter time than in the past, since the determination standard is uniform, it is possible to improve the uniformity of the image quality by the unified correction calculation, and according to the invention of claim 2,
Generation of sensitivity correction data, defect determination, generation of replacement data, etc. can be performed with a simple circuit configuration. Further, according to the invention of claim 3, it is possible to always obtain a stable image without quality deterioration irrespective of secular change. Further, according to the invention of claim 4, SDI is improved by TDI processing. It has features such as being able to do.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の原理構成図である。FIG. 1 is a principle configuration diagram of the present invention.

【図2】本発明の一実施例の構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の要部の一実施例の動作説明用フローチ
ャートである。
FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the embodiment of the main part of the present invention.

【図4】従来装置の一例のブロック図である。FIG. 4 is a block diagram of an example of a conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 多素子光電変換デバイス 11,12 フォトダイオード 20 演算手段 21 A/D変換器 22 素子列切り換え部 23 データ記憶部 24 演算部 30 補正データ記憶部 40 補正演算回路 41 演算回路 42 D/A変換器 52,53,56 ランダム・アクセス・メモリ(RA
M) 54 中央処理装置(CPU)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Multi-element photoelectric conversion device 11, 12 Photodiode 20 Arithmetic means 21 A / D converter 22 Element sequence switching unit 23 Data storage unit 24 Arithmetic unit 30 Correction data storage unit 40 Correction arithmetic circuit 41 Arithmetic circuit 42 D / A converter 52, 53, 56 Random access memory (RA
M) 54 central processing unit (CPU)

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の受光素子が所定方向に配列され、
被写体からの光を光電変換する多素子光電変換デバイス
(10)と、 該多素子光電変換デバイス(10)の出力電気信号から
感度補正データの生成と欠陥受光素子の特定と置換デー
タの生成を行なう演算手段(20)と、 該演算手段(20)により得られた感度補正データと欠
陥受光素子に対する置換データとが夫々格納される補正
データ記憶部(30)と、 該補正データ記憶部(30)からのデータと前記演算手
段(20)からの電気信号とから補正演算された映像信
号を出力する補正演算回路(40)と、 を有することを特徴とする撮像装置。
1. A plurality of light receiving elements are arranged in a predetermined direction,
A multi-element photoelectric conversion device (10) for photoelectrically converting light from a subject, and generation of sensitivity correction data, identification of a defective light-receiving element, and generation of replacement data from an electric signal output from the multi-element photoelectric conversion device (10). A calculation means (20), a correction data storage section (30) in which the sensitivity correction data obtained by the calculation means (20) and replacement data for the defective light-receiving element are respectively stored, and the correction data storage section (30). An image pickup device, comprising: a correction arithmetic circuit (40) for outputting a video signal corrected and calculated from the data from the above and the electric signal from the arithmetic means (20).
【請求項2】 前記演算手段(20)は所定の処理アル
ゴリズムに従って演算を行なう演算部(24)と、前記
多素子光電変換デバイス(10)からの電気信号をディ
ジタルデータに変換するA/D変換器(21)と、該A
/D変換器(21)の並列出力ディジタルデータを前記
演算部(24)の出力信号に基づいて素子列毎に切り換
える素子列切り換え部(22)と、該素子列切り換え部
(22)の出力ディジタルデータを感度データとして格
納するデータ記憶部(23)とよりなり、該演算部(2
4)は該データ記憶部(23)から読み出した感度デー
タに基づいて前記感度補正データを生成すると共に、前
記欠陥受光素子の出力データに置き換える置換データと
を生成することを特徴とする請求項1記載の撮像装置。
2. The arithmetic means (20) is an arithmetic unit (24) for performing arithmetic operations according to a predetermined processing algorithm, and an A / D converter for converting electric signals from the multi-element photoelectric conversion device (10) into digital data. Vessel (21) and the A
An element array switching section (22) for switching the parallel output digital data of the D / D converter (21) for each element array based on the output signal of the arithmetic section (24), and an output digital of the element array switching section (22). And a data storage unit (23) for storing data as sensitivity data,
4) generating the sensitivity correction data based on the sensitivity data read from the data storage unit (23) and generating replacement data to replace the output data of the defective light receiving element. The imaging device described.
【請求項3】 前記演算手段(20)による前記感度補
正データ及び置換データの生成は、補正指令に基づき定
期的に行なわれることを特徴とする請求項1記載の撮像
装置。
3. The image pickup apparatus according to claim 1, wherein the generation of the sensitivity correction data and the replacement data by the calculation means (20) is periodically performed based on a correction command.
【請求項4】 前記多素子光電変換デバイス(10)は
複数の受光素子が所定方向に配列された素子列が、該所
定方向と直交する方向に複数配置された構成であり、被
写体からの光が該所定方向と直交する方向に光学走査さ
れて入射され、出力電気信号が前記演算手段(20)で
TDI処理されることを特徴とする請求項1乃至3のう
ちいずれか一項記載の撮像装置。
4. The multi-element photoelectric conversion device (10) has a structure in which a plurality of light-receiving elements arranged in a predetermined direction are arranged in a direction orthogonal to the predetermined direction. 4. The image pickup device according to claim 1, wherein the optical signal is optically scanned and incident in a direction orthogonal to the predetermined direction, and the output electric signal is subjected to TDI processing by the arithmetic means (20). apparatus.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003298949A (en) * 2002-04-05 2003-10-17 Mitsubishi Electric Corp Method for detecting flicker defect, video correction method, and solid-state image pickup apparatus
JP2010213245A (en) * 2009-03-12 2010-09-24 Fuji Mach Mfg Co Ltd Imaging device and electronic circuit component mounting machine

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