JPH05282178A - Software quality evaluating system - Google Patents
Software quality evaluating systemInfo
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- JPH05282178A JPH05282178A JP4081904A JP8190492A JPH05282178A JP H05282178 A JPH05282178 A JP H05282178A JP 4081904 A JP4081904 A JP 4081904A JP 8190492 A JP8190492 A JP 8190492A JP H05282178 A JPH05282178 A JP H05282178A
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- test
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- test coverage
- quality
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はソフトウェア開発におけ
るテスト工程での品質評価方式に係り、特にテスト十分
性を考慮した品質評価方式に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a quality evaluation method in a test process in software development, and more particularly to a quality evaluation method considering test sufficiency.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、ソフトウェアの品質評価の方法と
して、開発規模(総ステップ数)に対する不良件数およ
び不良内容での分析により品質を評価する方法がある。
また、特開昭62−6332号公報および特開昭62−
28845号公報に開示されているように、不良内容の
工程別分類による評価方法、また予測される不良摘出の
目標値までの充足率による評価方法がある。2. Description of the Related Art Conventionally, as a software quality evaluation method, there is a method of evaluating quality by analyzing the number of defects and the contents of defects with respect to the development scale (total number of steps).
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 6332/1987 and Japanese Patent Laid-Open No. 62-632
As disclosed in Japanese Patent No. 28845, there is an evaluation method by classification of defect contents by process, and an evaluation method by a satisfaction rate up to a predicted defect extraction target value.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、通常、ソフ
トウェア開発ではテスト工程の進行と共に不良件数が増
加し、また修正が加えられることに伴って総ステップ数
も変化する。By the way, usually, in software development, the number of defects increases as the testing process progresses, and the total number of steps also changes as corrections are made.
【0004】しかしながら、上記従来技術においては、
いずれにおいてもテスト工程進行途中における不良件数
の値をテスト完了時点での目標値と比較することにより
品質評価を行っている。このため、テスト工程の進捗度
合いとテスト進行と共に変化する不良密度との関係がわ
からず、さらにソフトウェアを構成する各要素(プログ
ラム/モジュール等)個別の評価がわからないという問
題がある。However, in the above prior art,
In both cases, quality evaluation is performed by comparing the value of the number of defects during the progress of the test process with the target value at the time of completion of the test. Therefore, there is a problem in that the relationship between the degree of progress of the test process and the defect density that changes with the progress of the test cannot be known, and the individual evaluation of each element (program / module etc.) that constitutes the software cannot be known.
【0005】本発明の目的は、不良密度の値がテスト進
捗状況に対して適切な値であるかどうかを判定し、かつ
ソフトウェアを構成する各要素の評価を行うことができ
るソフトウェア品質評価方式を提供することである。An object of the present invention is to provide a software quality evaluation method capable of judging whether or not the value of the defect density is an appropriate value for the test progress and evaluating each element constituting the software. Is to provide.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、ソフトウェア開発におけるテスト工程での
テストカバレジ率と、開発規模に対する不良件数を表わ
す不良密度との関係を求め、この関係により品質評価を
行うようにした。In order to achieve the above object, the present invention obtains a relationship between a test coverage rate in a test process in software development and a defect density representing the number of defects with respect to a development scale. The quality is evaluated.
【0007】[0007]
【作用】例えばモジュ−ルレベルのテストカバレジ率
は、S0(全モジュ−ルに対する走行モジュ−ル数比
率)・S1(全てのモジュ−ル間呼出しに対する呼出し
比率)で表わされる。従って、上記手段によれば、各モ
ジュールの総ステップ数と不良件数とから不良密度(件
/Kstep=1000ステップ当りの不良件数)を計
算し、この不良密度と該不良密度が計算されたモジュー
ルに対応するテストカバレジ率を計算し、これらの関係
に基づいて品質評価を行うため、修正が加えられること
に伴って総ステップ数が変化しても、テスト進捗状態と
不良密度の関係が明確になり、不良密度の値がテスト進
捗状況に対して適切な値であるかどうかを正確に判定す
ることができたうえ、各モジュ−ルの個別の品質評価を
行うことができる。For example, the test coverage rate at the module level is expressed by S0 (ratio of running modules to all modules) and S1 (call ratio to all inter-module calls). Therefore, according to the above means, the defect density (cases / Kstep = the number of defects per 1000 steps) is calculated from the total number of steps and the number of defects of each module, and the defect density and the module in which the defect density is calculated are calculated. Since the corresponding test coverage rate is calculated and the quality is evaluated based on these relationships, the relationship between the test progress status and the defect density becomes clear even if the total number of steps changes due to corrections. In addition, it is possible to accurately determine whether or not the value of the defect density is an appropriate value for the test progress, and it is possible to individually evaluate the quality of each module.
【0008】この場合、命令レベルあるいはプログラム
レベルについても同様に評価することができる。In this case, the instruction level or the program level can be evaluated similarly.
【0009】[0009]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を用いて具体
的に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings.
【0010】図1は本発明の品質評価方式を実現するシ
ステムの一実施例を示す構成図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a system for realizing the quality evaluation method of the present invention.
【0011】図1において、1はテスト工程で摘出した
不良情報(不良原因、不良モジュ−ルの名称、不良現象
など)を登録する端末装置、2はソフトウェアを構成す
るソースファイル中の各モジュール毎のステップ数をカ
ウントするステップ数カウントツール、3はテスト工程
におけるテストカバレジ率計測ツールであり、例えば、
特開昭61−169944号に記載されているツ−ルを
使用することができる。In FIG. 1, 1 is a terminal device for registering defect information (cause of defect, name of defect module, defect phenomenon, etc.) extracted in a test process, and 2 is each module in a source file constituting software. The step number counting tool 3 for counting the number of steps of 3 is a test coverage rate measuring tool in the test process.
The tools described in JP-A-61-169944 can be used.
【0012】4は上記各々のデータ(不良情報、モジュ
ール毎のステップ数、テストカバレジ率)を格納する情
報格納用データベース、5はプロット図を作成するため
の素データを出力する中間ファイル、6は中間ファイル
5の内容を入力し、プロット図を作成するグラフ作成ツ
ール、7は作成されたプロット図を出力するプリンタで
ある。Reference numeral 4 is an information storage database for storing each of the above data (defect information, number of steps for each module, test coverage rate), 5 is an intermediate file for outputting raw data for creating a plot, and 6 is A graph creation tool for creating a plot drawing by inputting the contents of the intermediate file 5, and a printer 7 for outputting the created plot drawing.
【0013】以上の構成において、まず、テスト工程に
おいて不良が発生したならば、端末装置1から不良情報
(不良原因、不良モジュ−ルの名称、不良現象など)を
入力し、データベース4に登録する。これに並行して、
ステップ数カウントツール2には、各モジュール毎のス
テップ数をカウントさせ、またテストカバレジ率計測ツ
ール3には、テスト工程におけるテストカバレジ率をモ
ジュ−ル別に計測させ、それぞれのカウント値およびテ
ストカバレジ率をデータベース4に順次格納させる。In the above configuration, first, if a defect occurs in the test process, defect information (cause of defect, name of defective module, defective phenomenon, etc.) is input from the terminal device 1 and registered in the database 4. .. In parallel with this,
The step number counting tool 2 is used to count the number of steps for each module, and the test coverage rate measuring tool 3 is used to measure the test coverage rate in the test process for each module, and the respective count values and test coverage rates are measured. Are sequentially stored in the database 4.
【0014】そして、一連のテストが終了したならば、
データベース4に登録されている不良情報(不良原因、
不良モジュ−ルの名称、不良現象など)を読み込み、そ
の情報中のモジュール名称単位に不良件数をカウントす
る。次に、そのカウントしたモジュールに対応するステ
ップ数、テストカバレジ率を読み込む。読み込まれたス
テップ数と不良件数から不良密度を計算し、各モジュー
ル毎の不良密度のデータを作成する。この作成したデー
タは順次中間ファイル5に出力する。When the series of tests are completed,
Defect information registered in database 4 (defect cause,
The name of the defective module, defective phenomenon, etc.) is read, and the number of defectives is counted for each module name unit in the information. Next, the number of steps and the test coverage rate corresponding to the counted module are read. The defect density is calculated from the read number of steps and the number of defects, and defect density data for each module is created. The created data is sequentially output to the intermediate file 5.
【0015】この結果、中間ファイル5には図2の示す
ような構成のデータが格納される。As a result, the data having the structure shown in FIG. 2 is stored in the intermediate file 5.
【0016】そこで、このようにして作成された中間フ
ァイル5の内容を実際にプロット図にするために、汎用
的なグラフ作成ツール6を利用し、テストカバレジ率に
対する不良密度の関係を示す図3に示すようなプロット
図を作成する。そして、作成したプロット図をプリンタ
7から出力させる。Therefore, in order to actually plot the contents of the intermediate file 5 created in this way into a plot, a general-purpose graph creating tool 6 is used, and the relationship between the defect density and the test coverage rate is shown in FIG. Create a plot as shown in. Then, the created plot diagram is output from the printer 7.
【0017】図3においては、横軸にテストカバレジ率
301をとり、縦軸に不良密度302を設定し、ソフト
ウェアを構成する各モジュールの不良密度のデータを点
305でプロットしている。In FIG. 3, the test coverage rate 301 is plotted on the abscissa and the defect density 302 is set on the ordinate, and the defect density data of each module constituting the software is plotted at a point 305.
【0018】ここで、評価基準となるテストカバレジ率
100%の線304とシステム全体の平均不良密度の値
303との交点からテストカバレジ率0%の位置まで結
んだ基準線306がテスト工程における各カバレジ率に
対する妥当な不良密度である。Here, a reference line 306 connecting from the intersection point of the line 304 of the test coverage rate of 100% and the average defect density value 303 of the entire system to the position of the test coverage rate of 0%, which is the evaluation standard, is defined in each test process. It is a reasonable defect density for the coverage rate.
【0019】従って、図3で基準線306に対して近い
値を示しているモジュールの品質は安定していると言え
る。また、システム全体を考えた場合、分布している各
モジュールの不良密度の値は基準線306に対し正規分
布となり、標準偏差の値を示す線307を引くことがで
きる。標準偏差の値はグラフ作成ツールが統計計算を行
うことによって引くことができる。この標準偏差の値に
より引かれた上下の線307の内側に分布しているモジ
ュールほど品質は安定しているといえる。Therefore, it can be said that the quality of the module showing a value close to the reference line 306 in FIG. 3 is stable. Further, when considering the entire system, the value of the defect density of each distributed module has a normal distribution with respect to the reference line 306, and the line 307 showing the value of the standard deviation can be drawn. The standard deviation value can be subtracted by the graphing tool performing statistical calculations. It can be said that the modules distributed more inside the upper and lower lines 307 drawn by the value of the standard deviation have more stable quality.
【0020】逆に線307の外側にあるモジュールは異
常な品質であるといえる。Conversely, the modules outside line 307 are said to be of abnormal quality.
【0021】従って、この実施例によれば、修正が加え
られることに伴って総ステップ数が変化しても、モジュ
−ル別に、点305の分布位置によって品質が一目瞭然
となる。また、不良密度の値がテスト進捗状況に対して
適切な値であるかどうかを正確に判定することができ
る。Therefore, according to this embodiment, even if the total number of steps changes due to the correction, the quality becomes obvious at each module depending on the distribution position of the points 305. Further, it is possible to accurately determine whether the value of the defect density is an appropriate value for the test progress.
【0022】[0022]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ソ
フトウェア開発におけるテスト工程でのテストカバレジ
率と、開発規模に対する不良件数を表わす不良密度との
関係を求め、この関係により品質評価を行うようにした
ため、修正が加えられることに伴って総ステップ数が変
化しても、不良密度の値がテスト進捗状況に対して適切
な値であるかどうかを簡単に判定することができる。し
かも、ソフトウェアを構成する各要素品質の評価を行う
ことができるという優れた効果がある。As described above, according to the present invention, the relationship between the test coverage rate in the test process in software development and the defect density representing the number of defects with respect to the development scale is obtained, and the quality is evaluated based on this relationship. Therefore, even if the total number of steps changes due to the correction, it is possible to easily determine whether the value of the defect density is an appropriate value for the test progress. Moreover, there is an excellent effect that the quality of each element that constitutes the software can be evaluated.
【図1】本発明を実現するためのシステムの一実施例を
示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a system for realizing the present invention.
【図2】データベ−スに格納するデ−タの一例を示す構
成図である。FIG. 2 is a block diagram showing an example of data stored in a database.
【図3】品質評価用プロット図の一例を示す説明図であ
る。FIG. 3 is an explanatory diagram showing an example of a quality evaluation plot diagram.
1…端末装置、2…ステップ数カウントツ−ル、3…テ
ストカバレジ率計測ツール、4…データベース、5…中
間ファイル、6…グラフ作成ツール、7…プリンタ、3
01…テストカバレジ率、302…不良密度。1 ... Terminal device, 2 ... Step count tool, 3 ... Test coverage rate measuring tool, 4 ... database, 5 ... intermediate file, 6 ... graph creation tool, 7 ... printer, 3
01 ... Test coverage rate, 302 ... Defect density.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石野 雅巳 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町5030番地 株 式会社日立製作所ソフトウェア開発本部内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Masami Ishino 5030 Totsuka-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Pref., Hitachi Ltd. Software Development Division
Claims (1)
のテストカバレジ率と開発規模に対する不良件数を表わ
す不良密度との関係を求め、この関係により品質評価を
行うことを特徴とするソフトウェア品質評価方式。1. A software quality evaluation method characterized in that a relationship between a test coverage rate in a test process in software development and a defect density representing the number of defects with respect to a development scale is obtained, and the quality is evaluated based on this relationship.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4081904A JPH05282178A (en) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | Software quality evaluating system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4081904A JPH05282178A (en) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | Software quality evaluating system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05282178A true JPH05282178A (en) | 1993-10-29 |
Family
ID=13759435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4081904A Pending JPH05282178A (en) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | Software quality evaluating system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05282178A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010165082A (en) * | 2009-01-14 | 2010-07-29 | Nomura Research Institute Ltd | Development management information collection system |
WO2011129038A1 (en) * | 2010-04-13 | 2011-10-20 | 日本電気株式会社 | System reliability evaluation device |
JP2014123246A (en) * | 2012-12-21 | 2014-07-03 | Mitsubishi Electric Corp | Software reliability evaluation device, software reliability evaluation method, and program |
-
1992
- 1992-04-03 JP JP4081904A patent/JPH05282178A/en active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010165082A (en) * | 2009-01-14 | 2010-07-29 | Nomura Research Institute Ltd | Development management information collection system |
WO2011129038A1 (en) * | 2010-04-13 | 2011-10-20 | 日本電気株式会社 | System reliability evaluation device |
JPWO2011129038A1 (en) * | 2010-04-13 | 2013-07-11 | 日本電気株式会社 | System reliability evaluation device |
JP5614446B2 (en) * | 2010-04-13 | 2014-10-29 | 日本電気株式会社 | System reliability evaluation device |
US9015675B2 (en) | 2010-04-13 | 2015-04-21 | Nec Corporation | System reliability evaluation device |
JP2014123246A (en) * | 2012-12-21 | 2014-07-03 | Mitsubishi Electric Corp | Software reliability evaluation device, software reliability evaluation method, and program |
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