JPH0526665A - Water level measuring device - Google Patents

Water level measuring device

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Publication number
JPH0526665A
JPH0526665A JP18450991A JP18450991A JPH0526665A JP H0526665 A JPH0526665 A JP H0526665A JP 18450991 A JP18450991 A JP 18450991A JP 18450991 A JP18450991 A JP 18450991A JP H0526665 A JPH0526665 A JP H0526665A
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JP
Japan
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slit
image
light source
water level
water surface
Prior art date
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Application number
JP18450991A
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Japanese (ja)
Inventor
Hajime Hachisuga
一 蜂須賀
Kazuya Kikawada
一弥 木川田
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OOMU DENKI KK
Hazama Corp
Original Assignee
OOMU DENKI KK
Hazama Gumi Ltd
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Publication date
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  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

PURPOSE:To measure the water level in the noncontact state with the water surface without disturbing the flow of a fluid and the state of waves, measure the water level at many points with one measuring device, and precisely measure the high-frequency wave height. CONSTITUTION:A water level measuring device is constituted of a slit light source device 1 projecting the light from a light source 2 to the water surface via a slit plate 4, an image pickup device 11 photographing slit images 9a, 9b obtained when the slit light from the slit light source device 1 is reflected on the water surface, and an image processor 12 calculating the height of the water surface based on the data of the slit image obtained by the image pickup device 11.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、水面の高さや波高を
画像処理手段を用いて計測する水位計測装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a water level measuring device for measuring the height and wave height of a water surface by using image processing means.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の波高計測装置としては、容量式波
高計およびサーボ式波高計が知られている。まず、容量
式波高計は、図7に示すように、サポート31に支持し
た検出線32を検出部33から水中34に挿し込み、こ
の検出部33が、水面の上下により検出線32が水に浸
漬される高さを検出し、この検出値を電気容量の変化に
変えて、波高計本体35にて波高値に変換し、かつ表示
するものである。
2. Description of the Related Art Capacitance type wave height meters and servo type wave height meters are known as conventional wave height measuring devices. First, in the capacitive wave height meter, as shown in FIG. 7, the detection line 32 supported by the support 31 is inserted into the water 34 from the detection unit 33, and the detection unit 33 moves the detection line 32 to water by moving the water surface above and below. The height to be immersed is detected, and the detected value is converted into a change in electric capacity, converted into a peak value by the crest meter main body 35, and displayed.

【0003】一方、サーボ式波高計は、図8に示すよう
に、サーボモータ内蔵の検出部41に検出針42を設け
て、この検出針42の下端を2ミリ程度水中43に浸漬
し、水底に埋設したアース棒44と上記検出針42との
間の電気抵抗の変化を上記検出部41で監視しながら、
その電気抵抗が常に一定になるように、サーボモータで
検出針42を上下に移動させるものである。これによ
り、検出針42の上下移動量から、波高計本体45にお
いて波高を演算により求め、これを表示することができ
る。
On the other hand, in the servo wave height meter, as shown in FIG. 8, a detection needle 42 is provided in a detection portion 41 having a built-in servo motor, and the lower end of the detection needle 42 is immersed in water 43 for about 2 mm to form a water bottom. While monitoring the change in electric resistance between the earth rod 44 embedded in the
The detection needle 42 is moved up and down by a servo motor so that the electric resistance is always constant. Thereby, the wave height can be calculated in the wave height meter main body 45 from the vertical movement amount of the detection needle 42 and displayed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来の波高計測装置は、上述のように構成されているの
で、水面に検出線32や検出針42を浸漬させねばなら
ず、水や液体の流れや波の状態を乱してしまうために正
確な測定値が得られず、特に、狭い流路での計測や多点
測定では、大きな問題となるほか、計測誤差が±0.3
ミリ程度であるため、0.1ミリオーダの微小波高値を
計測できないなどの問題点があった。
However, since such a conventional wave height measuring device is constructed as described above, the detection wire 32 and the detection needle 42 must be immersed in the water surface, and the flow of water or liquid is to be diminished. Accurate measurement values cannot be obtained due to disturbance of the wave condition and wave condition, which is a serious problem especially in measurement in a narrow channel or multi-point measurement, and a measurement error of ± 0.3
Since it is about millimeter, there is a problem that a minute peak value of 0.1 milli-order cannot be measured.

【0005】また、各検出部33,41の応答性が例え
ば5Hz程度と低く、高周波の波高値を計測できないば
かりか、多点計測では、その計測点数と同数の計測装置
を用意したり、一台または複数台の計測装置を設置替え
するなど、面倒な作業が必要になるなどの問題点があっ
た。
Further, the responsiveness of each of the detection units 33 and 41 is low, for example, about 5 Hz, so that not only the peak value of a high frequency cannot be measured, but in multipoint measurement, the same number of measuring devices as the number of measuring points are prepared, or There was a problem that a troublesome work was required, such as changing the installation of one or more measuring devices.

【0006】さらに、細長い水路のような場所で、横一
列の多点計測をしようとする場合には、検出部33,4
1の大きさや設置数による制約があり、多点計測が行え
ないなどの問題点があった。
Further, in the case where a multipoint measurement in a horizontal row is to be performed in a place such as a long and narrow waterway, the detection units 33 and 4 are used.
There is a problem that multi-point measurement cannot be performed because there is a restriction due to the size of 1 and the number of installations.

【0007】この発明は上記のような従来の問題点に着
目してなされたものであり、水面に対して非接触にて、
しかも多点における波高や水位の測定を一台の測定装置
で可能にするとともに、高周波の波高測定をも高精度に
測定可能にする水位計測装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made by paying attention to the conventional problems as described above.
Moreover, it is an object of the present invention to provide a water level measuring device that enables measurement of wave heights and water levels at multiple points with a single measuring device and high-frequency wave height measurement with high accuracy.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この発明に係る水位計測
装置は、光源からの光をスリット板を介して水面に投射
するスリット光源装置と、該スリット光源装置からのス
リット光により水面上に得られるスリット像を撮像する
撮像装置とを備え、該撮像装置で得られたスリット画像
の位置データまたは面積データに基づいて、画像処理装
置により上記水面の高さを演算によって求めるようにし
たものである。
A water level measuring device according to the present invention provides a slit light source device for projecting light from a light source onto a water surface through a slit plate, and a slit light from the slit light source device to obtain on the water surface. An image pickup device for picking up a slit image formed by the image pickup device, and the height of the water surface is calculated by an image processing device based on position data or area data of the slit image obtained by the image pickup device. ..

【0009】[0009]

【作用】この発明における撮像装置は、スリット光源装
置によって水面上に得られるスリット像を撮像し、この
スリット像の位置データまたは面積データとしての画像
データに基づいて、画像処理装置が水面の高さである水
位や波高値を、演算により求め、この演算結果を必要に
応じてモニタやプリントアウトした用紙等に表させるよ
うに動作する。
In the image pickup device according to the present invention, the slit light source device takes an image of the slit image obtained on the water surface, and the image processing device makes the height of the water surface based on the image data as the position data or area data of the slit image. The water level and the peak value are calculated, and the calculation result is displayed on a monitor, printed paper, or the like as needed.

【0010】[0010]

【実施例】以下、この発明の一実施例を添付図面を参照
して詳細に説明する。図1において、1はスリット光源
装置であり、これがハロゲンランプなどの光源2,スリ
ット3を有するスリット板4,集光レンズ5からなり、
これらが同一光軸上に配置されている。6はスリット光
源装置1の下部に配置された水槽で、この水槽6にはス
リット光を反射させるべく白色に着色した水(その他の
液体を含む)7が収容されている。8はスリット光源装
置1から投射されるスリット光、9a,9bは水面上に
作られたスリット像の反射光、10はこのスリット像9
a,9bを撮像する撮像装置であるCCDカメラ11の
撮像素子、12は撮像素子から得られたスリット画像の
位置データや面積データに基づいて、水面の高さを演算
する画像処理装置、13は画像処理装置12に取り付け
られた、CCDカメラ11による画像や処理結果である
水位データ等を適宜表示するモニタである。また、14
はCCDカメラ11と画像処理装置12とを接続するケ
ーブルである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. In FIG. 1, 1 is a slit light source device, which comprises a light source 2 such as a halogen lamp, a slit plate 4 having a slit 3, and a condenser lens 5,
These are arranged on the same optical axis. Reference numeral 6 denotes a water tank arranged below the slit light source device 1. The water tank 6 contains water 7 (including other liquids) colored in white so as to reflect the slit light. 8 is slit light projected from the slit light source device 1, 9a and 9b are reflected light of a slit image formed on the water surface, and 10 is this slit image 9
The image pickup device of the CCD camera 11, which is an image pickup device for picking up images a and 9b, 12 is an image processing device that calculates the height of the water surface based on the position data and area data of the slit image obtained from the image pickup device, and 13 is It is a monitor attached to the image processing device 12, which appropriately displays an image by the CCD camera 11, water level data as a processing result, and the like. Also, 14
Is a cable connecting the CCD camera 11 and the image processing device 12.

【0011】次に動作について説明する。まず、光源2
から光を放射すると、スリット板4のスリット3を通過
したスリット光は水面に帯状に照射される。いま、水位
がP1で変化がない場合には、その水面上のスリット像
は反射光9aとなってCCDカメラ11に入射する。C
CDカメラ11ではこのスリット像を撮像素子10に受
け、イメージ画像データとして画像処理装置12に入力
する。画像処理装置12ではこの画像データを処理し
て、モニタ13上の略中央にスリット画像D1として表
示する。
Next, the operation will be described. First, the light source 2
When the light is emitted from the slit light, the slit light having passed through the slit 3 of the slit plate 4 is applied to the water surface in a band shape. When the water level is P1 and there is no change, the slit image on the water surface becomes reflected light 9a and enters the CCD camera 11. C
In the CD camera 11, the slit image is received by the image pickup device 10 and is input to the image processing device 12 as image image data. The image processing device 12 processes this image data and displays it as a slit image D1 at substantially the center of the monitor 13.

【0012】一方、水位が変化してP2となった場合に
は、スリット画像は水面上のより高い位置にくるため、
その反射光9bは点線で示すように変化し、CCDカメ
ラ11における撮像素子10の上記とは異なった位置に
結像される。そして、この結像データは画像処理装置1
2に入力されて、上記同様の演算処理が行われる。この
処理結果は、モニタ13上の上記スリット画像D1より
離れた例えば右方に表示される。従って、上記スリット
画像D1からのスリット画像D2の位置やモニタ13上
に表示した目盛を読み取ることで、水位や波高値を容易
に得ることができる。
On the other hand, when the water level changes to P2, the slit image comes to a higher position on the water surface.
The reflected light 9b changes as shown by the dotted line, and is imaged at a position different from the above on the image pickup device 10 in the CCD camera 11. Then, this image formation data is used as the image processing device 1.
2 is input and the same arithmetic processing as above is performed. The processing result is displayed on the monitor 13, for example, on the right side, which is far from the slit image D1. Therefore, by reading the position of the slit image D2 from the slit image D1 and the scale displayed on the monitor 13, the water level and the peak value can be easily obtained.

【0013】なお、この場合において、各スリット画像
D1,D2の位置の読み取りは、これらの左右のエッジ
や中心位置について行うことは任意である。また、予め
高さの判っているブロックゲージ等のスケールで、水位
の変化につき画像がどの程度(何ドット分)移動するか
を確認しておけば、画像処理で得られたスリット画像D
2の移動量にある定数を掛けることにより、水位の変化
値を求めることができる。
In this case, it is optional to read the positions of the slit images D1 and D2 with respect to the left and right edges and the center position of these slit images D1 and D2. In addition, if it is confirmed in advance how much (the number of dots) the image moves due to the change of the water level on a scale such as a block gauge whose height is known, the slit image D obtained by the image processing can be obtained.
By multiplying the movement amount of 2 by a certain constant, the change value of the water level can be obtained.

【0014】そして、CCDカメラ11の水平面からの
角度,水面からの距離およびレンズ5を含む光学系を適
当に設計することで、0.05ミリ程度の分解能を容易
に実現でき、逆に分解能を数センチにして計測範囲を大
きくすることも可能となる。
By properly designing the optical system including the angle of the CCD camera 11 from the horizontal plane, the distance from the horizontal plane, and the lens 5, a resolution of about 0.05 mm can be easily realized, and conversely the resolution can be increased. It is also possible to increase the measurement range to several centimeters.

【0015】ところで、かかる水位計測装置では、計測
の応答性は、CCDカメラ11がスリット画像を取り込
む時間と移動座標(位置)を計算する時間によって決ま
り、一般に、タイマにより33ミリ秒に1回スリット画
像を取り込むことができる。従って、この時間に、座標
計算処理時間の5ミリ秒を加えても、66ミリ秒ごとに
画像を得ることができ、結果的に応答性を15ヘルツ程
度まで高めることができる。またさらに、画像処理装置
に拡張メモリー(記憶装置)を搭載して、全画像を記録
させ、後に、座標計算を行うようにすれば、応答性を3
0ヘルツまで高めることも可能になる。なお、高周波の
波の高さを計測する場合には、画像の取り込み時間33
ミリ秒の間に波が大きく変化すると、CCDカメラ11
で撮影した像が振れてしまうので、この場合には、電子
シャッタ付きのカメラやストロボ光源を用いればよい。
By the way, in such a water level measuring device, the responsiveness of the measurement is determined by the time when the CCD camera 11 takes in the slit image and the time when the moving coordinate (position) is calculated, and in general, the timer slits once every 33 milliseconds. Images can be captured. Therefore, even if the coordinate calculation processing time of 5 milliseconds is added to this time, an image can be obtained every 66 milliseconds, and as a result, the responsiveness can be increased to about 15 hertz. Furthermore, if the image processing apparatus is equipped with an extended memory (storage device) to record all the images and then perform coordinate calculation, the responsiveness will be 3
It will be possible to increase it to 0 Hz. When measuring the height of a high frequency wave, the image capture time 33
If the wave changes significantly in milliseconds, the CCD camera 11
In this case, a camera equipped with an electronic shutter or a strobe light source may be used, because the image photographed in (3) will shake.

【0016】図2(a),(b)はスリット板4に一本
のスリット3を設けたものとは異なり、3個のスリット
3aをその長さ方向に一定間隔をあけて設けた多点用の
スリット板4aと、3個の三角形を設けた多点用のスリ
ット板4bをそれぞれ示す。まず、図2(a)に示すス
リット板4aを用いた場合には、図3に示すような静止
水位P3に対して波P4が発生すると、この波P4によ
り生じるスリット画像は、紙面に直交する方向からCC
Dカメラ11で撮像すると、図4に示すように、モニタ
13上には、静止水位のスリット画像D3に対して波に
よるスリット画像D4が表示される。従って、このスリ
ット画像D3に対するスリット画像D4の移動量を画像
処理装置12で求めて、モニタ13上で読み取れば、多
点の波高値を1台の装置で同時かつ高精度に計測できる
ことになる。
2 (a) and 2 (b) are different from those in which one slit 3 is provided on the slit plate 4, three slits 3a are provided at regular intervals in the longitudinal direction. 2 shows a slit plate 4a for use with slits and a slit plate 4b for multiple points provided with three triangles. First, in the case of using the slit plate 4a shown in FIG. 2A, when a wave P4 is generated with respect to the stationary water level P3 as shown in FIG. 3, the slit image generated by this wave P4 is orthogonal to the paper surface. CC from direction
When the image is captured by the D camera 11, as shown in FIG. 4, a slit image D4 by waves is displayed on the monitor 13 with respect to the slit image D3 at the still water level. Therefore, if the amount of movement of the slit image D4 with respect to the slit image D3 is obtained by the image processing device 12 and read on the monitor 13, the peak values of multiple points can be simultaneously and accurately measured by one device.

【0017】また、図2(b)のスリット板4bを用い
た場合には、静止水位では図5(a)に示すようなスリ
ット画像D5が得られる。そこで、これに更に画像処理
装置12によりウインドウ処理をかけて、図5(b)に
示すような、スリット画像D6を得ておくと、図3に示
すような波P4が発生した場合には、図5(c)のよう
なスリット画像D7が得られる。そして、この図5
(c)のスリット画像D7の各独立したブロックの面積
を画像処理装置12で求めれば、多点における水位を同
時に得ることができる。ただし、この場合には、事前
に、移動距離と上記面積との関係を求めておく必要があ
る。
Further, when the slit plate 4b of FIG. 2 (b) is used, a slit image D5 as shown in FIG. 5 (a) is obtained at the still water level. Therefore, when the image processing apparatus 12 further applies window processing to this to obtain a slit image D6 as shown in FIG. 5B, when a wave P4 as shown in FIG. 3 occurs, A slit image D7 as shown in FIG. 5C is obtained. And this Figure 5
When the area of each independent block of the slit image D7 in (c) is obtained by the image processing device 12, the water levels at multiple points can be obtained at the same time. However, in this case, it is necessary to obtain the relationship between the moving distance and the area in advance.

【0018】さらに、多点計測ではないが、一本のスリ
ット3を持った上記単純なスリット板4を用いても、縦
幅のウインドウ(図5(b)と90°ずれる方向のウイ
ンドウ)を適当な間隔で設定すれば、計測装置を移動し
なくても、スリット光8が投射されている範囲で、計測
点の移動が可能となる。
Further, although it is not a multipoint measurement, even if the above-mentioned simple slit plate 4 having one slit 3 is used, a vertical width window (window deviated by 90 ° from FIG. 5B) is obtained. If the distance is set at an appropriate interval, the measurement point can be moved within the range where the slit light 8 is projected without moving the measuring device.

【0019】図6はこの発明のスリット光源装置1を更
に詳しく説明するものである。これによれば、複数個の
光源2が支持部材21によってケース22内に取り付け
られ、その後方(上方)には光源2が発生する熱気を排
出する冷却ファン23が設けられ、その前方には光を拡
散するすりガラス板24が配置されている。25はスリ
ット板4の支持部材、26は電源ケーブルである。な
お、このスリット光源装置1の動作は、上記の通りであ
り、ここではその重複する説明を省略する。
FIG. 6 illustrates the slit light source device 1 of the present invention in more detail. According to this, the plurality of light sources 2 are mounted in the case 22 by the supporting member 21, the cooling fan 23 for discharging the hot air generated by the light sources 2 is provided behind (upper) the light source 2, and the cooling fan 23 is provided in front of it. A frosted glass plate 24 for diffusing is disposed. Reference numeral 25 is a support member for the slit plate 4, and 26 is a power cable. The operation of the slit light source device 1 is as described above, and the duplicated description is omitted here.

【0020】なお、上記実施例では画像処理装置12で
信号処理して最終的に得られた波高データを、モニタ1
3で確認する場合について説明したが、その波高データ
をパーソナルコンピュータへ転送し、記憶装置へ記録し
ておくこともでき、この場合には、計測の開始,終了お
よび信号処理の開始,終了などの計測システムの総合的
な管理を容易に実施可能にする。
In the above embodiment, the wave height data finally obtained by signal processing by the image processing device 12 is used as the monitor 1.
Although the case of confirming in 3 was explained, the wave height data can be transferred to a personal computer and recorded in a storage device. In this case, the start and end of measurement and the start and end of signal processing can be performed. Makes comprehensive management of the measurement system easy.

【0021】また、上記実施例ではCCDカメラ11を
用いてスリット画像を得る場合を示したが、シリコンビ
ジコンその他の撮像素子を持ったビデオカメラなどを撮
像装置として用いて、ビデオテープに記録した画像を処
理することによっても、スリット画像を得ることがで
き、上記実施例と同様の効果が得られる。
In the above embodiment, the case where the slit image is obtained by using the CCD camera 11 is shown. However, an image recorded on a video tape by using a video camera having a silicon vidicon or other image pickup device as an image pickup device. The slit image can also be obtained by processing the above, and the same effect as that of the above-described embodiment can be obtained.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば光源か
らの光をスリット板を介して水面に投射するスリット光
源装置と、該スリット光源装置からのスリット光により
水面上に得られるスリット像を撮像する撮像装置とを備
え、該撮像装置で得られたスリット画像の位置データま
たは面積データに基づいて、画像処理装置により上記水
面の高さを演算によって求めるように構成したので、水
面に対し非接触で、流れや波の状態に影響を与えずに水
位または波高を高精度で計測でき、CCDカメラの位置
やレンズ系を適当に設定することで、0.05ミリの高
分解能を容易に実現することができる。また、計測系の
応答性が良好なため、15ヘルツ程度の高周波の波高計
測も可能になるという効果が得られる。さらに、スリッ
ト光や画像処理ウインドウを適当に設定することによ
り、一台の装置で装置の移動なしに多点の計測を同時に
行なうことができる。
As described above, according to the present invention, the slit light source device for projecting the light from the light source on the water surface through the slit plate, and the slit image obtained on the water surface by the slit light from the slit light source device. Since the image processing device is configured to obtain the height of the water surface by calculation based on the position data or the area data of the slit image obtained by the imaging device, It is non-contact and can measure the water level or wave height with high accuracy without affecting the flow or wave conditions. By setting the CCD camera position and lens system appropriately, it is possible to easily achieve a high resolution of 0.05 mm. Can be realized. Further, since the response of the measurement system is good, there is an effect that it is possible to measure a high-frequency wave height of about 15 hertz. Further, by appropriately setting the slit light and the image processing window, it is possible to simultaneously measure multiple points with one device without moving the device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例による水位計測装置を示す
構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing a water level measuring device according to an embodiment of the present invention.

【図2】(a)及び(b)は、この発明におけるスリッ
トの他の実施例を示す平面図である。
2A and 2B are plan views showing another embodiment of the slit according to the present invention.

【図3】図2(a)に示すスリットを用いて多点での波
のスリット画像を得る方法を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a method of obtaining a slit image of waves at multiple points using the slit shown in FIG.

【図4】図3による方法によって得られたスリット画像
を示すモニタ表示説明図である。
4 is a monitor display explanatory diagram showing a slit image obtained by the method shown in FIG. 3. FIG.

【図5】(a)〜(c)は、図2(b)に示す三角形ス
リットを用いて得られる静止水位時、ウインドウ処理時
および波発生時の各スリット画像を示すモニタ表示説明
図である。
5 (a) to 5 (c) are monitor display explanatory views showing respective slit images at the time of stationary water level, window processing, and wave generation, which are obtained by using the triangular slits shown in FIG. 2 (b). ..

【図6】図1におけるスリット光源の詳細を示す構造図
である。
FIG. 6 is a structural diagram showing details of a slit light source in FIG.

【図7】従来の容量式波高計を示す構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram showing a conventional capacitive wave height meter.

【図8】従来のサーボ式波高計を示す構成図である。FIG. 8 is a configuration diagram showing a conventional servo-type wave height meter.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スリット光源装置 2 光源 3 スリット 4 スリット板 11 撮像装置 12 画像処理装置 13 モニタ 1 Slit light source device 2 Light source 3 Slit 4 Slit plate 11 Imaging device 12 Image processing device 13 Monitor

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 光源からの光をスリット板を介して水面
に投射するスリット光源装置と、該スリット光源装置か
らのスリット光により水面上に得られるスリット像を撮
像する撮像装置と、該撮像装置で得られたスリット画像
の位置データまたは面積データに基づいて、上記水面の
高さを演算によって求める画像処理装置とを備えた水位
計測装置。
Claim: What is claimed is: 1. A slit light source device for projecting light from a light source onto a water surface through a slit plate, and an image pickup for picking up a slit image obtained on the water surface by the slit light from the slit light source device. A water level measuring device comprising: a device; and an image processing device that calculates the height of the water surface based on position data or area data of a slit image obtained by the imaging device.
JP18450991A 1991-07-24 1991-07-24 Water level measuring device Pending JPH0526665A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18450991A JPH0526665A (en) 1991-07-24 1991-07-24 Water level measuring device

Applications Claiming Priority (1)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104048573A (en) * 2014-06-30 2014-09-17 天津二十冶建设有限公司 Precise micrometer measuring tool used for large precision equipment alignment and measuring method thereof

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