JPH05264776A - System for testing plant control equipment - Google Patents

System for testing plant control equipment

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JPH05264776A
JPH05264776A JP4091443A JP9144392A JPH05264776A JP H05264776 A JPH05264776 A JP H05264776A JP 4091443 A JP4091443 A JP 4091443A JP 9144392 A JP9144392 A JP 9144392A JP H05264776 A JPH05264776 A JP H05264776A
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test
plant
protection system
control device
signal
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Takehiro Matsubara
武廣 松原
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Abstract

PURPOSE:To obtain a testing system for testing plant control equipment which makes it possible to expand the extent of an automatic test and also to automatic judgement on start and discontinuation of the test. CONSTITUTION:A general control apparatus 18 for testing is provided. A signal inputted to a plant computer 11 from each part of plant control equipment 6 is thereby taken in and a signal necessary for a test is transmitted from this general control apparatus 18 to each of testing devices. Besides, the signal necessary for the test is taken directly in the testing devices 19 to 21 directly from the plant computer 11 without being passed through the general control apparatus 18 for testing. Together with checkup of the soundness of the inside of an object of the test, checkup of the soundness of associated devices and a control apparatus can be executed as well. Thereby the extent of an automatic test can be expanded and further judgement on start and discontinuation of the test can be automated as well.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、プラント制御装置内
の各部における動作の健全性を自動確認するプラント制
御装置の試験システムに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test system for a plant control device for automatically confirming the soundness of the operation of each part in the plant control device.

【0002】[0002]

【従来の技術】図5は従来のプラント制御装置の試験シ
ステムを示すブロック図である。図において、1はプラ
ントの各現場に設置され、温度、流量、圧力、水位など
のプロセス状態を検知して電気信号にて送出するトラン
スミッタ、2はトランスミッタ1に接続された試験対象
としての保護系計器ラック、3は保護系計器ラック2に
接続された試験対象としての保護系ロジック盤、4は保
護系ロジック盤3に接続された試験対象としての保護系
補機制御盤であり、5はこの保護系補機制御盤4の出力
によって制御される電磁弁、電動弁などの補機である。
6はこれらトランスミッタ1、保護系計器ラック2、保
護系ロジック盤3、保護系補機制御盤4および補機5を
含むプラント制御装置である。
2. Description of the Related Art FIG. 5 is a block diagram showing a conventional test system for a plant controller. In the figure, 1 is a transmitter installed at each site of the plant, which detects process conditions such as temperature, flow rate, pressure, and water level and sends out by an electric signal, 2 is a protection system connected to the transmitter 1 as a test object Instrument rack 3, 3 is a protection system logic board connected to the protection system instrument rack 2 as a test object, 4 is a protection system accessory control panel connected to the protection system logic board 3 as a test object, and 5 is this It is an auxiliary machine such as a solenoid valve or a motor-operated valve which is controlled by the output of the protection system auxiliary machine control panel 4.
Reference numeral 6 denotes a plant control device including the transmitter 1, a protection system instrument rack 2, a protection system logic panel 3, a protection system accessory control panel 4 and an accessory 5.

【0003】7は前記保護系計器ラック2、保護系ロジ
ック盤3、保護系補機制御盤4の入出力信号および内部
の主要信号、さらには補機5の状態信号の収集を行うD
ASプロセッサ、8はDASプロセッサ7の収集した信
号の計算処理を行うエンジニアリングプロセッサであ
り、9はDASプロセッサ7で収集された信号およびエ
ンジニアリングプロセッサで処理された信号の表示を制
御するCRTプロセッサである。10はこのDASプロ
セッサ7、エンジニアリングプロセッサ8、およびCR
Tプロセッサ9を接続しているユニットバスであり、1
1はユニットバス10で接続されたこれら各プロセッサ
7〜9を含むプラント計算機である。
Reference numeral 7 is a D for collecting the input / output signals of the protection system instrument rack 2, the protection system logic panel 3, the protection system accessory control panel 4 and internal main signals, and the status signal of the accessory 5.
An AS processor, 8 is an engineering processor for calculating the signals collected by the DAS processor 7, and 9 is a CRT processor for controlling the display of the signals collected by the DAS processor 7 and the signals processed by the engineering processor. 10 is this DAS processor 7, engineering processor 8, and CR
A unit bus to which the T processor 9 is connected.
Reference numeral 1 is a plant computer including these processors 7 to 9 connected by a unit bus 10.

【0004】12は前記CRTプロセッサ9から送られ
てくる信号を表示するCRTを備えた中央制御盤であ
り、13は前記エンジニアリングプロセッサ8が接続さ
れるステーションバス、14はこのステーションバス1
3に接続されたテクニカルサポートセンタである。ま
た、15は前記保護系計器ラック2に接続されてその動
作の健全性を自動確認する試験装置であり、16は同じ
く保護系ロジック盤3の動作の健全性を自動確認する試
験装置、17は保護系補機制御盤4の動作の健全性を自
動確認する試験装置である。
Reference numeral 12 is a central control panel equipped with a CRT for displaying signals sent from the CRT processor 9, 13 is a station bus to which the engineering processor 8 is connected, and 14 is the station bus 1
It is a technical support center connected to 3. Further, 15 is a test device which is connected to the protection system instrument rack 2 to automatically check the soundness of its operation, 16 is a test device which also automatically checks the soundness of the operation of the protection system logic board 3, and 17 is It is a testing device for automatically confirming the soundness of the operation of the protection system accessory control panel 4.

【0005】さらに、図6は前記保護系計器ラック2お
よびその試験装置15の内部構成を示すブロック図であ
る。保護系計器ラック2内において、31はトランスミ
ッタ1からの信号の電流/電圧変換を行う変換器、32
は変換器31の出力に対して平方根、リード/ラグ、加
減算等の演算を行う演算器であり、33は演算器32の
出力に基づくバイステーブル出力信号を発生する双安定
器である。34〜37はこれら変換器31、演算器32
および双安定器33の入出力端を試験装置15に接続す
るインタフェース用のリレーであり、38は変換器31
に入力される電流信号を電圧信号に変換してDASプロ
セッサ7に取り込むための電流/電圧変換抵抗、39は
演算器32、あるいは双安定器33の入力信号をDAS
プロセッサ7に取り込むための保護抵抗である。なお、
40はその一部を図示した保護系ロジック盤3の入力リ
レーであり、41はそのロジックカードである。
Further, FIG. 6 is a block diagram showing the internal constructions of the protection instrument rack 2 and its testing device 15. In the protection system instrument rack 2, 31 is a converter that performs current / voltage conversion of a signal from the transmitter 1, 32
Is a calculator for performing operations such as square root, lead / lag, addition and subtraction on the output of the converter 31, and 33 is a bistable device for generating a bistable output signal based on the output of the calculator 32. 34 to 37 are these converters 31 and calculators 32
And 38 is a relay for an interface that connects the input and output ends of the bistable device 33 to the test apparatus 15, and 38 is a converter 31.
A current / voltage conversion resistor for converting a current signal input to the voltage signal into a DAS processor 7 and inputting the signal to the DAS processor 7, 39 is an input signal of the computing unit 32 or the bistable device 33.
It is a protection resistor to be taken into the processor 7. In addition,
Reference numeral 40 is an input relay of the protection system logic board 3, a part of which is shown, and 41 is a logic card thereof.

【0006】また、試験装置15内において、42は当
該試験装置15の全体制御を行うCPU、43はプログ
ラムなどが格納されたROM、44はCPU42の処理
過程におけるデータなどが格納されるRAMであり、4
5はアナログ電流による信号が出力されるアナログ出力
装置、46はアナログ電圧による信号が入力されるアナ
ログ入力装置、47はディジタル信号が入力されるディ
ジタル入力装置、48はディジタル信号が出力されるデ
ィジタル出力装置であり、49はこれら各機器42〜4
8を接続している内部バスである。
Further, in the test apparatus 15, 42 is a CPU for controlling the test apparatus 15 as a whole, 43 is a ROM in which programs and the like are stored, and 44 is a RAM in which data in the process of the CPU 42 is stored. Four
Reference numeral 5 is an analog output device for outputting a signal based on an analog current, 46 is an analog input device for receiving a signal based on an analog voltage, 47 is a digital input device for receiving a digital signal, and 48 is a digital output for outputting a digital signal. Is a device, and 49 is each of these devices 42 to 4
It is an internal bus connecting 8 to each other.

【0007】次に動作について説明する。ここで、図5
はPWR原子力発電プラントの原子炉保護系について示
したものであり、プラント制御装置6内の保護系計器ラ
ック2、保護系ロジック盤3、および保護系補機制御盤
4の入出力信号および内部の主要信号と、補機5の状態
信号とは、プラント計算機11のDASプロセッサ7で
収集され、ユニットバス10を介してエンジニアリング
プロセッサ8およびCRTプロセッサ9に送られる。こ
の場合、保護系計器ラック2等の入出力信号や内部の主
要信号は電流/電圧変換抵抗38や保護抵抗39を介し
てDASプロセッサ7に取り込まれる。
Next, the operation will be described. Here, FIG.
Shows the reactor protection system of the PWR nuclear power plant, and the input / output signals of the protection system instrument rack 2, the protection system logic panel 3 and the protection system auxiliary machine control panel 4 in the plant control device 6 and the internal The main signal and the status signal of the auxiliary machine 5 are collected by the DAS processor 7 of the plant computer 11 and sent to the engineering processor 8 and the CRT processor 9 via the unit bus 10. In this case, input / output signals of the protection system instrument rack 2 and the like and internal main signals are taken into the DAS processor 7 via the current / voltage conversion resistance 38 and the protection resistance 39.

【0008】一方、エンジニアリングプロセッサ8は受
け取った信号を計算処理し、処理結果をユニットバス1
0およびステーションバス13に出力する。CRTプロ
セッサ9はユニットバス10よりDASプロセッサ7お
よびエンジニアリングプロセッサ8からの信号の取り込
みを行い、当該信号を中央制御盤12に送ってそのCR
Tの画面への表示を制御する。なお、初期のプラントで
は、このプラント計算機11は1台のプロセッサで形成
されていたが、最近のプラントでは機能分担がはかられ
て、図示のような複数のプロセッサ7〜9によって形成
されている。
On the other hand, the engineering processor 8 calculates the received signal and outputs the processed result to the unit bus 1.
0 and station bus 13. The CRT processor 9 takes in signals from the DAS processor 7 and the engineering processor 8 from the unit bus 10, sends the signals to the central control panel 12, and sends the signals to the CR.
Controls the display of T on the screen. In the initial plant, the plant computer 11 was formed by one processor, but in recent plants, the functions are divided, and it is formed by a plurality of processors 7 to 9 as shown in the figure. ..

【0009】このように構成されたプラントにて、試験
対象である保護系計器ラック2、保護系ロジック盤3、
保護系補機制御盤4の動作の健全性を確認する場合、図
示のように、それぞれの試験対象に対して個別に開発さ
れた試験装置15〜17が接続され、それらの試験装置
15〜17によって各試験対象単位でその動作の健全性
が確認されていた。次に図6に従って、試験装置15に
よる保護系計器ラック2の健全性の確認動作を例に、試
験動作を説明する。
In the plant constructed in this way, the protection system instrument rack 2, the protection system logic panel 3, which is the test object,
When confirming the soundness of the operation of the protection system auxiliary equipment control panel 4, as shown in the figure, the test devices 15 to 17 developed individually for each test target are connected, and the test devices 15 to 17 are connected. The soundness of the operation was confirmed by each test target unit by. Next, the test operation will be described with reference to FIG. 6 by taking as an example the operation of confirming the soundness of the protection system instrument rack 2 by the test apparatus 15.

【0010】通常時、保護系計器ラック2はトランスミ
ッタ1から入力される実プロセス信号(4−20mA)
を変換器31で電圧信号に変換後、演算器32で所定の
演算を行い、双安定器33よりバイステーブル出力信号
(ノーマル/トリップ)を保護系ロジック盤3に出力し
ている。このため試験以外の通常運転時にはリレー34
〜37は非励磁となっている。ここで、保護系計器ラッ
ク2の健全性をチェックするために、変換器31および
演算器32の特性を含めた双安定器33の設定値(トリ
ップ電圧、リセット電圧)確認試験が実施される。
At normal times, the protection instrument rack 2 receives the actual process signal (4-20 mA) input from the transmitter 1.
Is converted into a voltage signal by the converter 31, a predetermined calculation is performed by the calculator 32, and a bistable output signal (normal / trip) is output from the bistable 33 to the protection system logic board 3. Therefore, during normal operation other than the test, the relay 34
No. 37 to 37 are not excited. Here, in order to check the soundness of the protection system instrument rack 2, a set value (trip voltage, reset voltage) confirmation test of the bistable 33 including the characteristics of the converter 31 and the calculator 32 is performed.

【0011】試験時には、まず試験装置15のディジタ
ル出力装置48から信号を出力してリレー34〜37を
励磁し、トランスミッタ1からの実プロセス信号を切り
離して、試験装置15のアナログ出力装置45からの模
擬入力信号を保護系計器ラック2の変換器31に印加す
るとともに、双安定器33の出力信号を切り離す。一
方、双安定器33の入力信号をリレー36の接点を通し
て試験装置15のアナログ入力装置46へ取り込み、双
安定器33の出力状態信号をリレー37の接点を通して
試験装置15のディジタル入力装置47へ取り込む。そ
の後、アナログ出力装置45からの模擬入力信号を変化
させ、双安定器33の出力状態が変化(リセット→トリ
ップ、トリップ→リセット)したときの双安定器33の
入力電圧(トリップ、リセット電圧)をアナログ入力装
置46に取り込んで測定する。この測定値は予め設定さ
れた規定値と比較されてその良否が判定される。
In the test, first, a signal is output from the digital output device 48 of the test apparatus 15 to excite the relays 34 to 37, the actual process signal from the transmitter 1 is disconnected, and the analog output device 45 of the test apparatus 15 is output. The simulated input signal is applied to the converter 31 of the protection system instrument rack 2 and the output signal of the bistable device 33 is disconnected. On the other hand, the input signal of the bistable device 33 is taken into the analog input device 46 of the test device 15 through the contact of the relay 36, and the output state signal of the bistable device 33 is taken into the digital input device 47 of the test device 15 through the contact of the relay 37. .. After that, the simulated input signal from the analog output device 45 is changed, and the input voltage (trip, reset voltage) of the bistable device 33 when the output state of the bistable device 33 is changed (reset → trip, trip → reset). It is taken into the analog input device 46 and measured. This measured value is compared with a preset specified value to determine its quality.

【0012】なお、このとき保護系計器ラック2、保護
系ロジック盤3、および保護系補機制御盤4の入出力信
号と補機5の状態信号は、運転監視のためにプラント計
算機11へ入力されているが、これらの信号は試験装置
15〜17による試験対象2〜4の自動試験には使用さ
れていない。また、図6において、リレー37を励磁し
てバイステーブル出力信号を切り離した時、保護系ロジ
ック盤3の入力リレー40は励磁から非励磁に変わる
が、これは保護系計器ラック2の試験装置15では確認
できず、この変化を確認するためには、中央制御盤12
の警報表示灯かCRT表示で操作員が目視確認するしか
方法がなかった。
At this time, the input / output signals of the protection system instrument rack 2, the protection system logic panel 3, and the protection system accessory control panel 4 and the status signal of the accessory 5 are input to the plant computer 11 for operation monitoring. However, these signals are not used in the automatic test of the test objects 2 to 4 by the test devices 15 to 17. Further, in FIG. 6, when the relay 37 is excited to separate the bistable output signal, the input relay 40 of the protection system logic board 3 changes from energized to non-excited. However, in order to confirm this change, the central control panel 12
The only option was for the operator to visually check the warning indicator light or CRT display.

【0013】一方、保護系ロジック盤3の試験装置16
では、ロジックカード41の入力から模擬入力信号を印
加するため、保護系計器ラック2の双安定器33の出力
から信号ケーブルも含めた保護系ロジック盤3の入力リ
レー40の接点までの確認試験を自動で行うことができ
ず、人手に頼る範囲があり、また保護系補機制御装置4
の試験には、補機5を実動作させる試験と実動作させな
い試験があるが、補機5を実動作させた場合の良否判定
は、試験装置17まで補機5の状態信号を取り込めれば
可能であるが、実際には難しいため自動試験を行うこと
ができない部分があった。
On the other hand, the test device 16 for the protection logic board 3
Since a simulated input signal is applied from the input of the logic card 41, a confirmation test from the output of the bistable device 33 of the protection instrument rack 2 to the contact of the input relay 40 of the protection logic panel 3 including the signal cable is performed. It cannot be performed automatically, and there is a range that requires manual labor. In addition, the protection system accessory control device 4
There are tests for actually operating the auxiliary device 5 and tests for not actually operating the auxiliary device 5. However, the pass / fail judgment when the auxiliary device 5 is actually operated is determined by taking in the status signal of the auxiliary device 5 to the test apparatus 17. Although it is possible, there were some parts that could not be tested automatically because it was difficult in practice.

【0014】さらに従来の試験装置15〜17は試験対
象の装置とのみ信号の授受を行っていたため、上流側お
よび下流側の装置の状態がわからないため、試験を実施
可能な状態かどうか、試験を途中で中止すべき状態かど
うかは操作員の判断に頼っていた。従って操作員はプラ
ントの運転状態や装置の状態を常時確認しておく必要が
あった。
Further, since the conventional test devices 15 to 17 exchange signals only with the device under test, the states of the upstream and downstream devices are unknown, so it is necessary to test whether or not the test can be performed. It depended on the operator's judgment as to whether or not it should be stopped on the way. Therefore, the operator had to constantly check the operating status of the plant and the status of the equipment.

【0015】なお、このような従来のプラント制御装置
の試験システムにおける試験装置に関する技術が記載さ
れた文献としては、例えば特開昭59−136806号
公報などがある。
Note that, as a document describing a technique relating to a test apparatus in such a conventional plant control apparatus test system, there is, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 59-136806.

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】従来のプラント制御装
置の試験システムは以上のように構成されているので、
各試験装置15〜17は独立であり、試験対象の装置単
位で健全性の確認をとっており、従って試験で確認でき
る範囲が装置内部に限定され、試験開始および中止の判
断を操作員が行う必要があるという問題点があった。
Since the conventional test system for the plant control device is configured as described above,
Each of the test devices 15 to 17 is independent, and the soundness is confirmed for each device to be tested. Therefore, the range that can be confirmed by the test is limited to the inside of the device, and the operator determines whether to start or stop the test. There was a problem that it was necessary.

【0017】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、試験対象の内部の健全性確認を
行うとともに、関連する装置および制御機器の健全性も
あわせて確認でき、さらに試験開始および中止の判断を
自動化できるプラント制御装置の試験システムを得るこ
とを目的とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is possible to confirm the soundness of the inside of a test object and also the soundness of related devices and control equipment. It is an object of the present invention to obtain a plant control device test system capable of automating the judgment of test start and stop.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明に
係るプラント制御装置の試験システムは、通信回線によ
って各試験装置に接続され、プラント制御装置の各部よ
りプラント計算機に入力される信号をプラント計算機よ
り取り込み、必要な信号を通信回線を介して試験装置の
それぞれに伝送する試験統括装置を設けたものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a test system for a plant control device, which is connected to each test device by a communication line, and which receives a signal input from each part of the plant control device to a plant computer. It is equipped with a test supervision device that takes in signals from a plant computer and transmits necessary signals to each of the test devices via a communication line.

【0019】また、請求項2に記載の発明に係るプラン
ト制御装置の試験システムは、各試験装置を通信回線で
プラント計算機に接続し、プラント制御装置の各部より
プラント計算機に入力される信号を直接プラント計算機
より試験装置に取り込むようにしたものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a test system for a plant control device, wherein each test device is connected to a plant computer by a communication line, and a signal input from each part of the plant control device to the plant computer is directly supplied. It is designed to be loaded into the test equipment from the plant computer.

【0020】[0020]

【作用】請求項1に記載の発明における試験統括装置
は、プラント制御装置の各部よりプラント計算機に入力
される信号をプラント計算機より取り込んで、各試験装
置のそれぞれに試験に必要な信号を通信回線を介して伝
送することにより、試験対象の内部の健全性確認を行う
とともに、関連する装置および制御機器の健全性もあわ
せて確認でき、さらに試験開始および中止の判断も自動
化可能なプラント制御装置の試験システムを実現する。
In the test control apparatus according to the invention described in claim 1, the signals inputted to the plant computer from the respective parts of the plant control apparatus are fetched from the plant computer, and the signals required for the test are transmitted to the respective test apparatuses through the communication line. Of the plant control device that can check the soundness of the inside of the test object and the soundness of the related devices and control equipment by transmitting the data via the Implement a test system.

【0021】また、請求項2に記載の発明における試験
装置は、試験に必要な信号を直接プラント計算機から取
り込むことにより、小規模な構成の場合にコストダウン
が可能なプラント制御装置の試験システムを実現する。
The test apparatus according to the second aspect of the present invention is a test system for a plant control apparatus, which enables cost reduction in the case of a small-scale configuration by directly fetching a signal required for the test from the plant computer. To be realized.

【0022】[0022]

【実施例】【Example】

実施例1.以下、この発明の実施例1を図について説明
する。図1は請求項1に記載の発明の一実施例を示すブ
ロック図で、図5と同一の部分には同一符号を付してそ
の説明を省略する。図において、18はプラント計算機
11のユニットバス10に接続され、プラント制御装置
6の保護系計器ラック2、保護系ロジック盤3、保護系
補機制御盤4、補機5等から、プラント計算機11のD
ASプロセッサ7によって収集された信号を取り込み、
試験に必要な信号を後述する試験装置に伝送する試験統
括装置である。19〜21はこの試験統括装置18との
信号のインタフェースを備えている点で、図5に符号1
5〜17を付して示したものとは異なる試験装置であ
り、22はこれら試験装置19〜21と試験統括装置1
8とを接続している、例えばRS422等の通信回線で
ある。
Example 1. Embodiment 1 of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the invention described in claim 1. The same parts as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted. In the figure, reference numeral 18 is connected to the unit bus 10 of the plant computer 11, and from the protection system instrument rack 2, the protection system logic panel 3, the protection system auxiliary machine control panel 4, the auxiliary machine 5, etc. of the plant control device 6 to the plant computer 11 Of D
Capturing the signals collected by the AS processor 7,
It is a test supervision apparatus that transmits a signal necessary for a test to a test apparatus described later. Reference numerals 1 to 19 in FIG. 5 indicate that 19 to 21 are provided with an interface for signals with the test supervision apparatus 18.
5 to 17 is a test device different from that shown, and 22 is these test devices 19 to 21 and the test supervision device 1
8 is a communication line such as RS422 which is connected to

【0023】図2は保護系計器ラック2とそれに接続さ
れた試験装置19の内部構成を示すブロック図で、この
場合にも図6と同一部分には同一符号を付してその説明
を省略する。試験装置19内において、50はプラント
計算機11内のユニットバス10に接続された試験統括
装置18に接続されている通信回線22とのインタフェ
ースを行う通信回線用カードである。また、前記試験統
括装置18内において、51は当該試験統括装置18の
全体制御を行うCPU、52はそのプログラムや処理過
程のデータなどが格納されるメモリ、53は通信回線2
2とのインタフェースを行う通信回線用カード、54は
これらの機器51〜53を接続している内部バスであ
り、55はこの内部バス54とプラント計算機11のユ
ニットバス10とをインタフェースするバスコントロー
ラである。
FIG. 2 is a block diagram showing the internal construction of the protection system instrument rack 2 and the test apparatus 19 connected to it. In this case as well, the same parts as in FIG. .. In the test apparatus 19, 50 is a communication line card for interfacing with the communication line 22 connected to the test supervisory apparatus 18 connected to the unit bus 10 in the plant computer 11. In the test supervision apparatus 18, 51 is a CPU that controls the test supervision apparatus 18 as a whole, 52 is a memory in which programs and data of processing processes are stored, and 53 is a communication line 2.
2 is a communication line card for interfacing with 2; 54 is an internal bus connecting these devices 51 to 53; 55 is a bus controller for interfacing the internal bus 54 with the unit bus 10 of the plant computer 11. is there.

【0024】次に動作について説明する。図1におい
て、保護系計器ラック2、保護系ロジック盤3、および
保護系補機制御盤4の入出力信号、および補機5の状態
信号はプラント計算機11のDASプロセッサ7で収集
され、ユニットバス10を経由してエンジニアリングプ
ロセッサ8に伝送される。試験統括装置18はこのユニ
ットバス10上に伝送されているデータをユニットバス
10のループコントローラを経由して取り込み、各試験
装置19〜21と通信回線22を経由してデータの授受
を行う。
Next, the operation will be described. In FIG. 1, the input / output signals of the protection system instrument rack 2, the protection system logic panel 3, and the protection system auxiliary machine control panel 4, and the status signals of the auxiliary machine 5 are collected by the DAS processor 7 of the plant computer 11, and the unit bus It is transmitted to the engineering processor 8 via 10. The test control device 18 takes in the data transmitted on the unit bus 10 via the loop controller of the unit bus 10 and exchanges the data with each of the test devices 19 to 21 via the communication line 22.

【0025】次に図2を用いて、保護系計器ラック2用
の試験装置19に本発明を適用した場合について説明す
る。トランスミッタ1からの電流信号(4−20mA)
は電流/電圧変換抵抗38を通して、演算器32の入出
力信号は保護抵抗39を通して、それぞれDASプロセ
ッサ7に取り込まれている。一方、双安定器33のバイ
ステーブル出力信号は保護系ロジック盤3の入力リレー
(常時励磁)40のコイル側に接続され、この入力リレ
ー40の接点がロジックカード41の入力に接続されて
いる。なお、このロジックカード41の入力信号は図示
を省略したマルチプレクス/デマルチプレクス装置を経
由してDASプロセッサ7へ送られている。ここで、リ
レー37を励磁してバイステーブル出力信号を切り離し
たとき、保護系ロジック盤3の入力リレー40は励磁か
ら非励磁に変わるが、この変化に関する信号をDASプ
ロセッサ7を経由して取り込んだ試験統括装置18から
試験装置19に入力することによって、その変化を試験
装置19側で自動的に確認することができる。
Next, a case where the present invention is applied to the test device 19 for the protection instrument rack 2 will be described with reference to FIG. Current signal from transmitter 1 (4-20mA)
Are taken into the DAS processor 7 through the current / voltage conversion resistor 38 and the input / output signals of the arithmetic unit 32 through the protection resistor 39. On the other hand, the bistable output signal of the bistable device 33 is connected to the coil side of the input relay (always excited) 40 of the protection system logic board 3, and the contact of this input relay 40 is connected to the input of the logic card 41. The input signal of the logic card 41 is sent to the DAS processor 7 via a multiplex / demultiplex device (not shown). Here, when the relay 37 is excited to disconnect the bistable output signal, the input relay 40 of the protection system logic board 3 changes from excitation to non-excitation, but a signal related to this change is fetched via the DAS processor 7. By inputting from the test control device 18 to the test device 19, the change can be automatically confirmed on the test device 19 side.

【0026】また、保護系補機制御装置4の試験では、
補機5を実動作させる試験において、試験装置21が補
機5の状態信号を、DASプロセッサ7経由で試験統括
装置18から入力することによって、補機5の動作確認
を含めて自動化することができる。さらに、上流側およ
び下流側の試験対象の装置の状態を、試験装置19〜2
1がDASプロセッサ7を経由して試験統括装置18か
ら入力することによって、試験を実施可能な状態かどう
か、試験を途中で中止すべき状態かどうかをそれぞれの
試験装置19〜21にて判断することが可能となるた
め、これを自動化することができる。
Further, in the test of the protection system auxiliary equipment control device 4,
In the test for actually operating the auxiliary machine 5, the test apparatus 21 inputs the status signal of the auxiliary machine 5 from the test supervision apparatus 18 via the DAS processor 7, so that the operation including the operation check of the auxiliary machine 5 can be automated. it can. Furthermore, the states of the devices to be tested on the upstream side and the downstream side are compared with the test devices 19-2.
By inputting 1 from the test supervision apparatus 18 via the DAS processor 7, each of the test apparatuses 19 to 21 determines whether the test can be carried out or whether the test should be stopped midway. This makes it possible to automate this.

【0027】実施例2.なお、上記実施例では、プラン
ト計算機11より信号を取り込むために、試験統括装置
18をユニットバス10に接続したものを示したが、図
3に示すように試験統括装置18をステーションバス1
3に接続し、エンジニアリングプロセッサ8から伝送さ
れたステーションバス13上のデータを取り込むように
してもよく、実施例1と同様の効果を奏する。なお、こ
の実施例2の利点としては、ユニット対応ではなく、プ
ラント全体で試験統括装置は1台ですむため設備が簡素
化できる。例えば、原子炉が1号機から4号機まである
場合、実施例1の方式では試験統括装置18は4台必要
であるが、この実施例2の方式では1台で対応できる。
Example 2. In the above embodiment, the test supervisory device 18 is connected to the unit bus 10 in order to capture the signal from the plant computer 11. However, as shown in FIG. 3, the test supervisory device 18 is connected to the station bus 1.
3 may be connected and the data on the station bus 13 transmitted from the engineering processor 8 may be taken in, and the same effect as the first embodiment is obtained. It should be noted that the advantage of the second embodiment is that it does not support units, and only one test control device is required for the entire plant, so that the facility can be simplified. For example, when the number of nuclear reactors is from Unit 1 to Unit 4, four test supervision devices 18 are required in the system of the first embodiment, but one system is sufficient in the system of the second embodiment.

【0028】実施例3.また、上記実施例では、試験統
括装置18と各試験装置19〜21との間の信号の授受
を1対1の通信回線22を使用して行う場合について説
明したが、通信回線としてローカルエリアネットワーク
(LAN)などを使用してもよく、上記実施例と同様の
効果を奏する。
Example 3. Further, in the above-described embodiment, the case has been described in which signals are exchanged between the test control device 18 and the test devices 19 to 21 using the one-to-one communication line 22, but a local area network is used as the communication line. (LAN) or the like may be used, and the same effect as that of the above-described embodiment is obtained.

【0029】実施例4.次に、この発明の実施例4を図
に基づいて説明する。図4は請求項2に記載した発明の
一実施例を示すブロック図で、図1および図3と同一部
分には同一符号を付してその説明を省略する。図におい
て、23〜25はプラント計算機11のユニットバス1
0に接続されて、プラント制御装置6の保護系計器ラッ
ク2、保護系ロジック盤3、保護系補機制御盤4、補機
5等からプラント計算機11のDASプロセッサ7が収
集した信号を、試験統括装置を介さずに直接取り込んで
いる点で、図1および図3に符号19〜21を付したも
のとは異なる試験装置である。
Example 4. Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 4 is a block diagram showing an embodiment of the invention described in claim 2. The same parts as those in FIGS. 1 and 3 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted. In the figure, 23 to 25 are unit buses 1 of the plant computer 11.
0, and test the signals collected by the DAS processor 7 of the plant computer 11 from the protection system instrument rack 2, the protection system logic panel 3, the protection system auxiliary machine control panel 4, the auxiliary machine 5, etc. of the plant control device 6. This test device is different from the device denoted by reference numerals 19 to 21 in FIGS. 1 and 3 in that the test device is directly loaded without going through the integrated device.

【0030】この実施例4の場合においても、各試験装
置23〜25が試験に必要な信号をプラント計算機11
より取り込むことによって同様の試験を行い、上記各実
施例と同様の効果を奏する。なお、この実施例は、試験
装置の数が少ない小規模な構成に適用した場合にコスト
の低減がはかれるが、試験装置の数が多い大規模な構成
の場合には、実施例1,2の方式を適用した方が構成も
簡単となり、コストも低減できる。
Also in the case of the fourth embodiment, each of the test devices 23 to 25 outputs a signal required for the test to the plant computer 11.
The same test is performed by taking in more, and the same effect as that of each of the above-described examples is achieved. It should be noted that this embodiment can reduce the cost when applied to a small-scale configuration having a small number of test apparatuses, but in the case of a large-scale configuration having a large number of test apparatuses, the cost of Applying the method simplifies the configuration and reduces the cost.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上のように、請求項1に記載の発明に
よれば、試験統括装置にてプラント制御装置の各部より
プラント計算機に入力される信号をプラント計算機より
取り込み、試験に必要な信号を試験装置のそれぞれに伝
送するように構成したので、試験対象の内部の健全性の
確認とともに、関連する装置および制御機器の健全性の
確認もできて、自動試験の範囲を拡大することができ、
さらに試験開始および中止の判断の自動化も可能なプラ
ント制御装置の試験システムが得られる効果がある。
As described above, according to the invention as set forth in claim 1, the signals required for the test are taken in from the plant computer by the signals input to the plant computer from the respective parts of the plant control device in the test supervision device. Since it is configured to transmit to each of the test equipment, it is possible to confirm the soundness of the inside of the test object as well as the soundness of the related equipment and control equipment, and expand the range of automatic test. ,
Further, there is an effect that a test system of a plant control device capable of automating determination of test start and stop can be obtained.

【0032】また、請求項2に記載の発明によれば、プ
ラント計算機からの信号を試験統括装置を介することな
く、各試験装置で直接取り込むように構成したので、小
規模な構成の場合にコストダウンがはかれる効果があ
る。
Further, according to the invention described in claim 2, since the signal from the plant computer is directly taken in by each test device without passing through the test control device, the cost is reduced in the case of a small-scale structure. It has the effect of being downed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施例1を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】上記実施例における保護系計器ラックとその試
験装置の内部構成を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an internal configuration of a protection system instrument rack and its testing device in the above-described embodiment.

【図3】この発明の実施例2を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図4】この発明の実施例4を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing a fourth embodiment of the present invention.

【図5】従来のプラント制御装置の試験システムを示す
ブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a conventional test system for a plant control device.

【図6】従来のプラント制御装置の試験システムにおけ
る保護系計器ラックとその試験装置の内部構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 6 is a block diagram showing an internal configuration of a protection system instrument rack and its testing device in a conventional plant control device testing system.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 試験対象(保護系計器ラック) 3 試験対象(保護系ロジック盤) 4 試験対象(保護系補機制御盤) 6 プラント制御装置 11 プラント計算機 18 試験統括装置 19〜21 試験装置 22 通信回線 23〜25 試験装置 26 通信回線 2 Test target (protection system instrument rack) 3 Test target (protection system logic panel) 4 Test target (protection system auxiliary equipment control panel) 6 Plant control device 11 Plant computer 18 Test control device 19-21 Test device 22 Communication line 23- 25 Test equipment 26 Communication line

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プラント制御装置およびプラント計算機
より構成されて、プラントの制御および監視を行うプラ
ント制御・監視システムの、前記プラント制御装置内の
複数の試験対象のそれぞれに試験装置を接続し、当該試
験装置のそれぞれによって前記各試験対象の動作確認を
行うプラント制御装置の試験システムにおいて、前記試
験装置にそれぞれに通信回線にて接続され、前記プラン
ト制御装置の各部より前記プラント計算機に入力される
信号を前記プラント計算機より取り込んで、必要な信号
を前記試験装置のそれぞれに前記通信回線を介して伝送
する試験統括装置を設けたことを特徴とするプラント制
御装置の試験システム。
1. A plant control / monitoring system configured by a plant control device and a plant computer for controlling and monitoring a plant, wherein a test device is connected to each of a plurality of test objects in the plant control device. In the test system of the plant control device for confirming the operation of each of the test targets by each of the test devices, a signal that is connected to the test device by a communication line, and is input to the plant computer from each part of the plant control device. A test control apparatus for taking in the above from the plant computer and transmitting a necessary signal to each of the test apparatuses via the communication line.
【請求項2】 プラント制御装置およびプラント計算機
より構成されて、プラントの制御および監視を行うプラ
ント制御・監視システムの、前記プラント制御装置内の
複数の試験対象のそれぞれに試験装置を接続し、当該試
験装置のそれぞれによって前記各試験対象の動作確認を
行うプラント制御装置の試験システムにおいて、前記試
験装置のそれぞれを通信回線を介して前記プラント計算
機に接続し、前記プラント制御装置の各部より前記プラ
ント計算機に入力される信号を、前記各試験装置が前記
プラント計算機より、前記通信回線を介して直接取り込
むことを特徴とするプラント制御装置の試験システム。
2. A plant control / monitoring system comprising a plant control device and a plant computer for controlling and monitoring a plant, wherein a test device is connected to each of a plurality of test objects in the plant control device, In a test system of a plant control device for confirming the operation of each test target by each of the test devices, each of the test devices is connected to the plant computer via a communication line, and the plant computer from each part of the plant control device. A test system for a plant control device, wherein each of the test devices directly takes in a signal input to the device from the plant computer via the communication line.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2001208885A (en) * 2000-01-27 2001-08-03 Toshiba Corp Surveillance test device and computer readable storage medium
JP2016115161A (en) * 2014-12-16 2016-06-23 三菱電機株式会社 Plant monitoring control system testing device
WO2021082872A1 (en) * 2019-10-30 2021-05-06 航宇救生装备有限公司 Miniaturized circuit for controlling reliable parachute opening of survival parachute and performing online detection

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