JPH05243843A - Plane antenna and its production - Google Patents

Plane antenna and its production

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JPH05243843A
JPH05243843A JP4390892A JP4390892A JPH05243843A JP H05243843 A JPH05243843 A JP H05243843A JP 4390892 A JP4390892 A JP 4390892A JP 4390892 A JP4390892 A JP 4390892A JP H05243843 A JPH05243843 A JP H05243843A
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JP
Japan
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substrate
oxide superconductor
layer
antenna
region
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4390892A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaru Ihara
賢 井原
Tomoji Nakamura
友二 中村
Hideki Yamawaki
秀樹 山脇
Hiroshi Nakao
宏 中尾
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To obtain the plane antenna which can use an oxide superconductor as a conductor part. CONSTITUTION:The plane antenna is constituted by forming semiconductor layers 3a, 3b, and conductor parts 4, 4a and consisting of an oxide superconductor on a sapphire substrate 1. The sapphire substrate works as a crystal growth substrate being satisfactory to both of the oxide superconductor and a silicon semiconductor, therefore, the desired purpose can be attained.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は平面アンテナ、特に電子
デバイスとアンテナパターンとを同一の基板上に集積化
した構造の平面アンテナに関する。マイクロ波通信シス
テム用アンテナは、移動体通信,特に宇宙衛星通信シス
テムなどに使用されることから、小型,軽量でなお且つ
高性能,高信頼性であることが望まれている。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a planar antenna, and more particularly to a planar antenna having a structure in which an electronic device and an antenna pattern are integrated on the same substrate. An antenna for a microwave communication system is used in mobile communication, especially in a space satellite communication system, and therefore, it is desired to be small in size, light in weight, high in performance, and highly reliable.

【0002】[0002]

【従来の技術】平面アンテナの構造を図2に示す。平面
アンテナは、図2から明らかなように、GaAsよりな
る絶縁性(半絶縁性)基板1の表面上に矩形のアンテナ
パターン2を設けるとともに、基板1の内部に選択的に
動作領域3を設けた構造を有している。
2. Description of the Related Art The structure of a planar antenna is shown in FIG. As is clear from FIG. 2, the planar antenna has a rectangular antenna pattern 2 provided on the surface of an insulating (semi-insulating) substrate 1 made of GaAs, and an operating region 3 selectively provided inside the substrate 1. It has a different structure.

【0003】また、アンテナパターン2と動作領域3と
は高周波的にマッチングされた配線4によって接続され
ている。そして動作領域3には、FETや抵抗,容量素
子などの電子素子が設けられており、これらによってア
ンプやミキサ,局部発振器などを構成することで、アン
テナパターン2で受信したマイクロ波信号を直接に処理
することが可能に構成されている。
Further, the antenna pattern 2 and the operating region 3 are connected by a wiring 4 matched in high frequency. Further, electronic elements such as FETs, resistors, and capacitive elements are provided in the operating region 3, and by configuring an amplifier, a mixer, a local oscillator, etc., the microwave signal received by the antenna pattern 2 is directly It is configured to be able to process.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の平面アンテナ
は、アンテナと信号処理部が一体化されており、またア
ンテナパターンや信号処理部と接続するための配線がエ
ッチング等の半導体製造技術で実現できるため、小型化
が容易でなお且つ信頼性の高いものが得られる。しか
し、前記のように基板としてGaAsを使用していたた
め、機械的強度が低く、この点で信頼性が劣化してい
た。
In the conventional planar antenna, the antenna and the signal processing unit are integrated, and the antenna pattern and the wiring for connecting to the signal processing unit can be realized by a semiconductor manufacturing technique such as etching. Therefore, it is possible to obtain a highly reliable device that can be easily downsized. However, since GaAs is used as the substrate as described above, the mechanical strength is low and the reliability is degraded in this respect.

【0005】また、GaAsは誘電率が比較的高い(ε
=12.5)ため、この表面にアンテナパターンを設け
ると、受信効率または送信効率が低下するという問題を
有している。また、その対策のために基板を薄くして静
電容量を増大すると、基板強度が益々低下するという問
題を発生してしまう。さらに、アンテナパターンや配線
を薄膜成長した高温超伝導体で構成することでアンテナ
の性能向上を図ることが考えられているが、GaAsと
高温超伝導体(例えばビスマス系高温超伝導体:BiS
rCaCuO)は、反応を起こしやすく、所期の超伝導
特性を達成することができない。
GaAs has a relatively high dielectric constant (ε
Therefore, if an antenna pattern is provided on this surface, there is a problem that reception efficiency or transmission efficiency is reduced. Further, if the substrate is thinned to increase the electrostatic capacitance as a countermeasure, the problem that the substrate strength is further reduced occurs. Further, it is considered to improve the performance of the antenna by forming the antenna pattern and the wiring by a high temperature superconductor which is a thin film grown. However, GaAs and a high temperature superconductor (for example, bismuth high temperature superconductor: BiS
rCaCuO) is liable to react and cannot achieve the desired superconducting properties.

【0006】本発明は上記の問題に鑑み、機械的強度が
高く、高温超伝導体をアンテナパターンあるいは配線と
して使用することが可能な平面アンテナの構成を提供す
ることを目的とする。
In view of the above problems, it is an object of the present invention to provide a planar antenna structure having high mechanical strength and capable of using a high temperature superconductor as an antenna pattern or wiring.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明では、上記の目的
を達成するため、サフアイアよりなる絶縁基板と、前記
基板上の第1の領域に選択的に設けられ、内部に電子デ
バイスを有する半導体層と、前記基板上の第2の領域に
選択的に設けられたアンテナパターンと、前記電子デバ
イスとアンテナパターンとを接続する配線層とを備え、
前記アンテナパターンまたは配線層の少なくとも一方を
酸化物超伝導体よって形成するものである。
According to the present invention, in order to achieve the above object, an insulating substrate made of sapphire and a semiconductor selectively provided in a first region on the substrate and having an electronic device therein. A layer, an antenna pattern selectively provided in a second region on the substrate, and a wiring layer connecting the electronic device and the antenna pattern,
At least one of the antenna pattern and the wiring layer is formed of an oxide superconductor.

【0008】またその製造工程では、前記酸化物超伝導
体の形成工程を前記半導体層を第1の領域に選択的に形
成した後に実行するものである。
In the manufacturing process, the step of forming the oxide superconductor is performed after selectively forming the semiconductor layer in the first region.

【0009】[0009]

【作用】本発明では、基板としてサフアイアを使用して
いる。サフアイアは高い絶縁性と、機械的強度を有して
いることは公知である。しかし、それにも増してサフア
イアは、高温超伝導体と半導体層の両方に対して良好な
結晶成長用基板として作用することから、高温超伝導体
と半導体層の両方を必要とする平面アンテナの基板とし
て好適なのである。
In the present invention, sapphire is used as the substrate. It is known that sapphire has high insulation and mechanical strength. However, more than that, since sapphire acts as a good substrate for crystal growth for both the high temperature superconductor and the semiconductor layer, the substrate for a planar antenna that requires both the high temperature superconductor and the semiconductor layer. Is suitable as.

【0010】しかも、誘電率が低く(ε=9.6)アン
テナ部分における受信あるいは送信効率の劣化を招来す
ることがない。本発明は上記の点に着目し、サフアイア
を基板として使用することで、平面アンテナとして要求
される各種特性を満足するのである。またその製造工程
では、酸化物超伝導体の成長工程を半導体層の成長工程
の後に実行するため、半導体層の成長時の熱損傷を酸化
物超伝導体が被ることがなく、良好な特性の平面アンテ
ナを得ることができる。
Moreover, the permittivity is low (ε = 9.6), and the reception or transmission efficiency in the antenna portion is not deteriorated. The present invention pays attention to the above points, and by using the sapphire as a substrate, various characteristics required as a planar antenna are satisfied. In addition, in the manufacturing process, the oxide superconductor growth step is performed after the semiconductor layer growth step, so the oxide superconductor does not suffer from thermal damage during the growth of the semiconductor layer, and the good characteristics A planar antenna can be obtained.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。図1は本
発明の実施例を説明する図であり、図2に示される平面
アンテナについて本発明を適用した場合の動作領域3と
配線4を含む領域の斜視断面を示している。
EXAMPLES Examples of the present invention will be described below. FIG. 1 is a diagram for explaining an embodiment of the present invention, and shows a perspective cross-section of a region including an operation region 3 and a wiring 4 when the present invention is applied to the planar antenna shown in FIG.

【0012】図1において、1はサフアイア基板,3a
はシリコン層,3bはGaAs層,4は配線,4aはス
タブ,4bはカプラ,6は酸化シリコン,7はグランド
プレーンである。また、5aはトランジスタ部,5bは
キャパシタ部である。本実施例では、(1012)面の
サフアイア基板1上にトランジスタ部5aとそれに接続
されるキャパシタ部5bが設けられており、図示しない
アンテナパターンとは、BiSrCaCuO系の高温超
伝導体で構成された配線4,マッチング用スタブ4a,
カプラ4bなどで接続されている。
In FIG. 1, 1 is a sapphire substrate, 3a
Is a silicon layer, 3b is a GaAs layer, 4 is a wiring, 4a is a stub, 4b is a coupler, 6 is silicon oxide, and 7 is a ground plane. Further, 5a is a transistor section, and 5b is a capacitor section. In this embodiment, the transistor portion 5a and the capacitor portion 5b connected to the transistor portion 5a are provided on the (1012) plane sapphire substrate 1. The antenna pattern (not shown) is made of a BiSrCaCuO-based high temperature superconductor. Wiring 4, matching stub 4a,
They are connected by a coupler 4b or the like.

【0013】次に図1に示す平面アンテナの製造方法を
説明する。 (工程1)両面を鏡面研磨した面指数が(1012)の
サフアイア基板1の表面上に気相成長法によってシリコ
ン層3aを成長する。条件は次のとおりである。 原料ガス:ジシラン(Si2 6 ) 成長温度:950度 成長膜厚500nm このシリコン層3aは、次に成長されるGaAs層3b
のバッフア層として作用するものである。
Next, a method for manufacturing the planar antenna shown in FIG. 1 will be described. (Step 1) A silicon layer 3a is grown on the surface of the sapphire substrate 1 having a surface index (1012) of which both surfaces are mirror-polished by a vapor phase growth method. The conditions are as follows. Source gas: disilane (Si 2 H 6 ) Growth temperature: 950 degrees Growth thickness 500 nm This silicon layer 3a is a GaAs layer 3b to be grown next.
It acts as a buffer layer.

【0014】(工程2)シリコン層3a上に気相成長法
よって 図示しないAlAs層を成長した後、電子素子
が形成されるGaAs層3bを成長する。条件は次のと
おりである。 (AlAsについて) 原料ガス: アルシン(AsH4 ) トリメチルアルミニウム((CH3 )3Al) 成長温度:550度 成長膜厚:10nm (GaAsについて) 原料ガス: アルシン(AsH3 ) トリメチルガリウム((CH3 )3Ga) 成長温度:550度 成長膜厚:500nm AlAs層は、GaAs層3bとシリコン層3bとの間
でバッフア層として作用するものである。
(Step 2) After growing an AlAs layer (not shown) on the silicon layer 3a by a vapor phase growth method, a GaAs layer 3b on which an electronic element is formed is grown. The conditions are as follows. (Regarding AlAs) Source gas: arsine (AsH 4 ) Trimethyl aluminum ((CH 3 ) 3 Al) Growth temperature: 550 degrees Growth film thickness: 10 nm (Regarding GaAs) Source gas: Arsine (AsH 3 ) Trimethylgallium ((CH 3 ) 3Ga) Growth temperature: 550 degrees Growth film thickness: 500 nm The AlAs layer acts as a buffer layer between the GaAs layer 3b and the silicon layer 3b.

【0015】(工程3)フオトリソグラフにより、電子
素子(本実施例ではトランジスタ部5aおよびキャパシ
タ部5b)となる領域を残してエッチング除去する。 (工程4)気相成長法により保護膜となる図示しない酸
化シリコンを成長する。条件は次のとおりである。 原料ガス: モノシラン(SiH) 酸素ガス(O2 ) 成長温度:400度 成長膜厚:200nm この保護膜は、次に実行される酸化物超伝導体の成長時
にシリコン層3aおよびGaAs層3bの表面を保護す
るものである。また、シリコン層3aおよびGaAs層
3bの表面以外に形成された保護膜は除去されてサフア
イア基板1が露出している。
(Step 3) By photolithography, etching is performed while leaving regions to be electronic elements (transistor portion 5a and capacitor portion 5b in this embodiment). (Step 4) Silicon oxide (not shown) to be a protective film is grown by a vapor phase growth method. The conditions are as follows. Source gas: monosilane (SiH) Oxygen gas (O 2 ) Growth temperature: 400 degrees Growth film thickness: 200 nm This protective film is the surface of the silicon layer 3a and the GaAs layer 3b when the oxide superconductor is grown next. Is to protect. Further, the protective film formed on the surfaces other than the surfaces of the silicon layer 3a and the GaAs layer 3b is removed and the sapphire substrate 1 is exposed.

【0016】(工程5)気相成長法により、サフアイア
基板1上にアンテナパターン2および配線4,スタブ4
a,カプラ4bなどを構成するためのBiSrCaCu
O系酸化物超伝導体を成長する。条件は次のとおりであ
る。 原料ガス: 塩化ビスマス(BiCl3 ) 沃化銅(CuI) 沃化カルシウム(CaI) 沃化ストロンチウム(SrI) 酸素ガス(O2 ) 成長温度:580度 成長膜厚:500nm この酸化物超伝導薄膜は、サフアイア基板1上に直接に
形成しているが、成長温度が580度と低温であること
から、両者が反応することはほとんど無い。
(Step 5) The antenna pattern 2, the wiring 4, and the stub 4 are formed on the sapphire substrate 1 by the vapor phase growth method.
a, BiSrCaCu for forming the coupler 4b, etc.
Grow an O-based oxide superconductor. The conditions are as follows. Source gas: bismuth chloride (BiCl 3) copper iodide (CuI) calcium iodide (CaI) iodide strontium (SrI) oxygen (O 2) gas Growth Temperature: 580 ° Growth film thickness: 500 nm superconducting thin the oxide Although it is formed directly on the sapphire substrate 1, since the growth temperature is as low as 580 ° C., the two hardly react with each other.

【0017】また、この酸化物超伝導体成長工程は、前
記半導体層の成長工程(工程1,2)の後に行われるた
め、半導体層の成長工程における高温に酸化物超伝導体
が晒されることがなく、超伝導特性の劣化を防止するこ
とができる。 (工程6)前記工程5と同様のプロセスにより、サフア
イア基板1の裏面上にBiSrCaCuO系酸化物超伝
導体を成長する。この酸化物超伝導体はグランドプレー
ン7となる。
Further, since the oxide superconductor growing step is performed after the semiconductor layer growing step (steps 1 and 2), the oxide superconductor is exposed to the high temperature in the semiconductor layer growing step. It is possible to prevent deterioration of superconducting properties. (Step 6) A BiSrCaCuO-based oxide superconductor is grown on the back surface of the sapphire substrate 1 by the same process as the step 5. This oxide superconductor becomes the ground plane 7.

【0018】(工程7)サフアイア基板1の表面側の酸
化物超伝導体をパターンニングすることで、アンテナパ
ターン2および配線4,スタブ4a,カプラ4bなどを
形成する。この場合、各種導体の全てを酸化物超伝導体
で構成することも可能であるし、一部を通常の導体(A
lやAuなど)で構成することも可能である。
(Step 7) By patterning the oxide superconductor on the surface side of the sapphire substrate 1, the antenna pattern 2, the wiring 4, the stub 4a, the coupler 4b, etc. are formed. In this case, all of the various conductors can be made of oxide superconductors, or some of them can be made of ordinary conductors (A
1 and Au).

【0019】通常の導体を一部使用する場合は、上記酸
化物超伝導体のパターンニングの後に通常の導体の成膜
およびパターンニング工程を経てこれを形成すれば良
い。 (工程8)通常の不純物導入,電極形成などの工程を経
ることで、前記工程2で形成したGaAs層3bにトラ
ンジスタ部5aおよびキャパシタ部5bを形成する。
When a part of an ordinary conductor is used, it may be formed by patterning the above oxide superconductor and then performing an ordinary conductor film forming and patterning process. (Step 8) The transistor section 5a and the capacitor section 5b are formed in the GaAs layer 3b formed in the above Step 2 by going through the usual steps such as impurity introduction and electrode formation.

【0020】トランジスタ部5aは、n領域とその両側
のn+ 領域より構成されており、n領域上にゲート電極
が形成されており、またn+ 領域上にソース,ドレイン
電極が接続されている。キャパシタ部5bは、n型のG
aAs層3bの上部に前記ソースまたはドレイン電極が
延在して形成された上部電極と、下側のシリコン層3a
だけを外側に延在して設けられた下部電極とによって構
成されている。
The transistor portion 5a is composed of an n region and n + regions on both sides of the n region, a gate electrode is formed on the n region, and source and drain electrodes are connected on the n + region. .. The capacitor section 5b is an n-type G
An upper electrode formed by extending the source or drain electrode on the aAs layer 3b, and a lower silicon layer 3a.
And a lower electrode extending outwardly.

【0021】また、トランジスタ部5aとキャパシタ部
5bとの間およびキャパシタ部3aの側面と上部電極と
の間には酸化シリコン6よりなる絶縁物が設けられ、分
離されている。本実施例ではトランジスタ部として通常
のMESFETを採用したが、他にもHEMTやHBT
など、必要に応じて種々の選択が可能である。
Further, an insulator made of silicon oxide 6 is provided between the transistor portion 5a and the capacitor portion 5b and between the side surface of the capacitor portion 3a and the upper electrode to separate them. In this embodiment, a normal MESFET is adopted as the transistor part, but HEMT and HBT are also available.
For example, various selections can be made as necessary.

【0022】また、キャパシタ部の他、抵抗素子やダイ
オードなどの受動素子を形成することも可能である。以
上の工程によって形成された平面アンテナは、サフアイ
アを基板としており、超伝導体をその導体部分として使
用し得るため、高効率であり、また、半導体層がサフア
イア基板上に形成されており、いわゆるSOS構造とな
るため、放射線に対する耐性が向上する。
In addition to the capacitor section, it is also possible to form passive elements such as resistance elements and diodes. The planar antenna formed by the above steps has a sapphire substrate as a substrate, and since a superconductor can be used as a conductor portion thereof, it has high efficiency, and a semiconductor layer is formed on a sapphire substrate, so-called The SOS structure improves the resistance to radiation.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、酸化
物超伝導体を導体部分として使用でき、機械的強度が高
く、更に集積化された半導体層の耐放射線性が向上する
ため、高性能,高信頼性である平面アンテナを実現でき
る。
As described above, according to the present invention, since the oxide superconductor can be used as the conductor portion, the mechanical strength is high, and the radiation resistance of the integrated semiconductor layer is improved. A high performance and highly reliable planar antenna can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例を説明する図FIG. 1 is a diagram illustrating an embodiment of the present invention.

【図2】平面アンテナの構成を説明する図FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a planar antenna.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・・・基板 2・・・・・アンテナパターン 3・・・・・動作領域 3a・・・・シリコン層 3b・・・・GaAs層 4・・・・・配線 4a・・・・スタブ 4b・・・・カプラ 5a・・・・トランジスタ部 5b・・・・キャパシタ部 6・・・・・酸化シリコン 7・・・・・グランドプレーン 1 ... Substrate 2 ... Antenna pattern 3 ... Operating area 3a ... Silicon layer 3b ... GaAs layer 4 ... Wiring 4a ... Stub 4b ・ ・ ・ ・ Coupler 5a ・ ・ ・ ・ ・ ・ Transistor part 5b ・ ・ ・ ・ Capacitor part 6 ・ ・ ・ Silicon oxide 7 ・ ・ ・ Ground plane

フロントページの続き (72)発明者 中尾 宏 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内Front page continued (72) Inventor Hiroshi Nakao 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Fujitsu Limited

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】サフアイアよりなる絶縁基板と、 前記基板上の第1の領域に選択的に設けられ、内部に電
子デバイスを有する半導体層と、 前記基板上の第2の領域に選択的に設けられたアンテナ
パターンと、 前記電子デバイスとアンテナパターンとを接続する配線
層とを備え、 前記アンテナパターンまたは配線層の少なくとも一方が
酸化物超伝導体よって形成されてなることを特徴とする
平面アンテナ。
1. An insulating substrate made of sapphire, a semiconductor layer selectively provided in a first region on the substrate and having an electronic device therein, and a semiconductor layer selectively provided in a second region on the substrate. And a wiring layer connecting the electronic device and the antenna pattern, wherein at least one of the antenna pattern and the wiring layer is formed of an oxide superconductor.
【請求項2】前記酸化物超伝導体の形成工程は、前記半
導体層を第1の領域に選択的に形成した後に実行される
ことを特徴とする平面アンテナの製造方法。
2. A method of manufacturing a planar antenna, wherein the step of forming the oxide superconductor is performed after the semiconductor layer is selectively formed in the first region.
JP4390892A 1992-02-28 1992-02-28 Plane antenna and its production Withdrawn JPH05243843A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7476918B2 (en) 2004-11-22 2009-01-13 Panasonic Corporation Semiconductor integrated circuit device and vehicle-mounted radar system using the same
US7495615B2 (en) 2003-03-25 2009-02-24 Fujitsu Limited Antenna coupling module

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