JPH05238875A - Pull apparatus for single crystal - Google Patents

Pull apparatus for single crystal

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JPH05238875A
JPH05238875A JP7535692A JP7535692A JPH05238875A JP H05238875 A JPH05238875 A JP H05238875A JP 7535692 A JP7535692 A JP 7535692A JP 7535692 A JP7535692 A JP 7535692A JP H05238875 A JPH05238875 A JP H05238875A
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JP
Japan
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single crystal
melt
convection
silicon
quartz crucible
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Pending
Application number
JP7535692A
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Japanese (ja)
Inventor
Junichi Matsubara
順一 松原
Hitoshi Sasaki
斉 佐々木
Yasushi Shimanuki
康 島貫
Takayuki Shingyouchi
隆之 新行内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Materials Corp
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Publication date
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  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide the subject apparatus designed to uniformize the in-plane oxygen concentration distribution for a single crystal rod by controlling, through a convection control means, the direction of a convection developed within a specified range of depth just under the surface of a crystal melt due to the revolution of a quartz crucible. CONSTITUTION:A quartz crucible 5 is put revolvably in a chamber 2 and loaded with polycrystalline silicon followed by heating with a heater 5 to produce a silicon melt 13; concurrently, a convection control jig 15 made of quartz is suspended with four wires 16 and immersed in the melt 13. This jig 15 is virtually cylindrical, the lower end side of the cylindrical part 15A is provided with plural curved plates 15C of guide blade form, and each of the curved plates 15C is specifically tilted relatively to the radial direction of the cylindrical form. Thereby, the direction of a convection developed within a specified range of depth just under the surface of the melt 13 due to the revolution of the crucible 5 can be controlled. Thence, a single crystal rod 14 is pulled from the melt 13 and grown.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えばシリコン単結晶
棒の面内の酸素濃度分布を均質化し、または、シリコン
単結晶棒とシリコン融液との固液界面の形状を制御して
シリコン単結晶棒の面内のドーパント濃度を均質化する
ことができるCZ(Czochralski)法の単結晶引上装置
に関するものである。
The present invention relates to, for example, homogenizing the oxygen concentration distribution in the plane of a silicon single crystal rod, or controlling the shape of the solid-liquid interface between the silicon single crystal rod and the silicon melt. The present invention relates to a CZ (Czochralski) method single crystal pulling apparatus capable of homogenizing the in-plane dopant concentration of a crystal rod.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、大口径の円柱状シリコン単結晶棒
の製造に適したCZ法による単結晶引上装置は、チャン
バと、このチャンバ内に回動自在に設けられシリコン融
液を保持する石英坩堝と、この石英坩堝を取り囲むよう
に設けられシリコン融液を加熱するヒータと、石英坩堝
の上方に回転自在に設けられシリコン単結晶棒を引き上
げる引上機構と、で構成されている。そして、この単結
晶引上装置は、シリコン融液にシリコン単結晶の種結晶
を浸し、この種結晶を回転させながら徐々に引き上げ、
種結晶と同一方位の大口径のシリコン単結晶棒を成長さ
せるものである。
2. Description of the Related Art Conventionally, an apparatus for pulling a single crystal by the CZ method, which is suitable for manufacturing a cylindrical silicon single crystal ingot having a large diameter, holds a chamber and a silicon melt rotatably provided in the chamber. A quartz crucible, a heater that surrounds the quartz crucible and heats the silicon melt, and a pulling mechanism that is rotatably provided above the quartz crucible and that pulls up a silicon single crystal rod. And, this single crystal pulling apparatus, a seed crystal of a silicon single crystal is immersed in a silicon melt, and the seed crystal is gradually pulled up while rotating,
A large-diameter silicon single crystal ingot having the same orientation as the seed crystal is grown.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
CZ法の単結晶引上装置にあっては、石英坩堝の回転数
と、引き上げ時のシリコン単結晶棒の回転数と、をそれ
ぞれ変化させて、シリコン単結晶棒の面内酸素濃度の均
質性制御が行われているのみであった。その結果、石英
坩堝内で発生した溶融酸素濃度の異なるシリコン融液の
対流同士が、シリコン単結晶棒とシリコン融液との固液
界面近傍において衝突し、この固液界面近傍におけるシ
リコン融液中の溶融酸素の濃度を制御することができな
いという課題があった。また、この単結晶引上装置にあ
っては、引き上げ時にシリコン融液の表面直下の浅い位
置に発生するマランゴニ対流を制御することができなか
った。その上、シリコン単結晶棒とシリコン融液との界
面でのシリコン単結晶棒の形状を平坦化できないため、
そのドーパント濃度がシリコン単結晶棒の面内で不均質
になるという課題もあった。
However, in the conventional CZ method single crystal pulling apparatus, the rotation speed of the quartz crucible and the rotation speed of the silicon single crystal rod at the time of pulling are changed respectively. However, the homogeneity control of the in-plane oxygen concentration of the silicon single crystal ingot was only performed. As a result, convections of the silicon melts having different molten oxygen concentrations generated in the quartz crucible collide with each other near the solid-liquid interface between the silicon single crystal rod and the silicon melt, and in the silicon melt near the solid-liquid interface. However, there is a problem that the concentration of molten oxygen cannot be controlled. In addition, in this single crystal pulling apparatus, it was not possible to control Marangoni convection that occurs at a shallow position just below the surface of the silicon melt during pulling. Moreover, since the shape of the silicon single crystal rod at the interface between the silicon single crystal rod and the silicon melt cannot be flattened,
There is also a problem that the dopant concentration becomes inhomogeneous in the plane of the silicon single crystal rod.

【0004】そこで、本発明は、シリコン単結晶棒の面
内の酸素濃度分布を均質化するとともに、シリコン単結
晶棒の面内のドーパント濃度を均質化することができ、
これらの結果、シリコン単結晶棒の品質を向上させるこ
とができる単結晶引上装置を提供することを、その目的
とする。
Therefore, according to the present invention, it is possible to homogenize the oxygen concentration distribution in the plane of the silicon single crystal ingot and the dopant concentration in the plane of the silicon single crystal ingot.
As a result of these, an object is to provide a single crystal pulling apparatus capable of improving the quality of a silicon single crystal ingot.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の単結晶
引上装置においては、結晶融液を保持する回動自在の石
英坩堝と、この結晶融液から単結晶棒を引き上げる引上
機構と、上記結晶融液を加熱するヒータと、を備えた単
結晶引上装置において、上記石英坩堝の回動により上記
結晶融液の表面直下の所定深さ範囲に発生する対流の方
向を制御する対流制御手段を備えるものである。
In a single crystal pulling apparatus according to claim 1, a rotatable quartz crucible for holding a crystal melt and a pulling mechanism for pulling a single crystal rod from the crystal melt. And a heater for heating the crystal melt, in a single crystal pulling apparatus, which controls the direction of convection generated in a predetermined depth range immediately below the surface of the crystal melt by rotating the quartz crucible. It is provided with a convection control means.

【0006】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載の単結晶引上装置において、上記対流制御手段
が、上記結晶融液の表面直下の所定深さ範囲に、上記単
結晶棒を囲むように設けられた複数の案内羽根形状の治
具を有するものである。
The invention described in claim 2 is the same as claim 1
In the single crystal pulling apparatus according to, the convection control means, within a predetermined depth range immediately below the surface of the crystal melt, a plurality of guide blade-shaped jigs provided so as to surround the single crystal rod. I have.

【0007】[0007]

【作用】本発明に係る単結晶引上装置にあっては、石英
坩堝の回動により結晶融液に対流が発生する。この対流
の方向を、対流制御手段、例えば結晶融液内に設けた案
内羽根形状の治具により、制御する。例えば単結晶棒と
結晶融液との界面近傍での結晶融液の対流の向きを向心
方向にまたは遠心方向に変える。この対流を遠心流とす
ることにより、該界面近傍の結晶融液中の酸素濃度を均
一化することができるとともに、マランゴニ流の発生を
防止することができる。一方、向心方向への対流に制御
した結果、単結晶棒との界面近傍で結晶融液の温度分布
を均一化することができ、単結晶棒の固液界面の形状を
平坦化することができる。
In the single crystal pulling apparatus according to the present invention, convection is generated in the crystal melt by the rotation of the quartz crucible. The direction of this convection is controlled by a convection control means, for example, a guide blade-shaped jig provided in the crystal melt. For example, the direction of convection of the crystal melt near the interface between the single crystal rod and the crystal melt is changed to the centripetal direction or the centrifugal direction. By making this convection a centrifugal flow, the oxygen concentration in the crystal melt in the vicinity of the interface can be made uniform, and the Marangoni flow can be prevented from occurring. On the other hand, as a result of controlling convection in the centripetal direction, the temperature distribution of the crystal melt can be made uniform near the interface with the single crystal rod, and the shape of the solid-liquid interface of the single crystal rod can be flattened. it can.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図3は本発明の一実施例に係る単結晶引上装置の
断面図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 3 is a sectional view of a single crystal pulling apparatus according to an embodiment of the present invention.

【0009】この図に示すように、単結晶引上装置1
は、チャンバ2を有している。このチャンバ2の中央部
には、モータ(図示略)で回転する軸3が設けられてい
る。この軸3の上端には、有底円筒状の黒鉛サセプタ4
が取り付けられている。この黒鉛サセプタ4の内部に、
石英坩堝5が着脱可能に保持されている。この石英坩堝
5は、略半球形状をなしている。この石英坩堝5の内部
にはシリコン融液13が溶融している。このシリコン融
液13中には、石英製の対流制御治具15が、チャンバ
2の上部から吊下られた4本の吊下ワイヤ16により懸
吊されている。
As shown in this figure, a single crystal pulling apparatus 1
Has a chamber 2. A shaft 3 which is rotated by a motor (not shown) is provided at the center of the chamber 2. At the upper end of the shaft 3, a cylindrical graphite susceptor 4 with a bottom is provided.
Is attached. Inside this graphite susceptor 4,
The quartz crucible 5 is detachably held. The quartz crucible 5 has a substantially hemispherical shape. A silicon melt 13 is melted inside the quartz crucible 5. In this silicon melt 13, a convection control jig 15 made of quartz is suspended by four suspending wires 16 suspended from the upper part of the chamber 2.

【0010】この対流制御治具15は、図1に示すよう
に、略円筒体形状であって、上端側に所定口径の円筒部
15Aを有している。この円筒部15Aの下端側には、
案内羽根形状の曲板15Cが複数枚形成されている。こ
れらの曲板15Cのそれぞれは円筒体の放射方向に対し
て所定の傾きを有するよう形成されており、さらに、各
曲板15Cは所定の曲率を有して湾曲している。また、
これらの曲板15Cは円筒体の軸線を含む平面、すなわ
ち鉛直面を有して構成されており、その長さは所定の
値、例えば対流を効果的に制御できる程度の長さに設
定、垂下されている。さらに、各曲板15Cの間には円
筒体の内部とその外部とを連通する所定の隙間が画成さ
れている。したがって、この対流制御治具15は、上記
曲板15Cがシリコン融液13表面から所定の深さに位
置するようにシリコン融液13内に挿入され、この深さ
範囲でのシリコン融液13を石英坩堝5の中心部とその
周辺部とに区画するものである。そして、この対流制御
治具15の曲板15Cに、石英坩堝5およびシリコン単
結晶棒14の相対的な回転により発生するシリコン融液
13の対流が当接することにより、この対流の向きが制
御されるものである。例えば通常は水平面内で円形をな
して流れる対流を、周辺部から中心部に向かって流れる
向心流、または、その逆に中心部から周辺部に向かって
流れる遠心流のいずれかに制御するものである。
As shown in FIG. 1, the convection control jig 15 has a substantially cylindrical shape and has a cylindrical portion 15A having a predetermined diameter on the upper end side. On the lower end side of the cylindrical portion 15A,
A plurality of guide vane-shaped curved plates 15C are formed. Each of these curved plates 15C is formed to have a predetermined inclination with respect to the radial direction of the cylindrical body, and each curved plate 15C is curved with a predetermined curvature. Also,
These curved plates 15C are configured to have a plane including the axis of the cylindrical body, that is, a vertical plane, and the length thereof is set to a predetermined value, for example, a length such that convection can be effectively controlled. Has been done. Further, a predetermined gap is formed between the curved plates 15C so that the inside of the cylindrical body communicates with the outside thereof. Therefore, the convection control jig 15 is inserted into the silicon melt 13 so that the curved plate 15C is located at a predetermined depth from the surface of the silicon melt 13, and the silicon melt 13 in this depth range is inserted. The quartz crucible 5 is divided into a central portion and a peripheral portion. Then, the convection of the silicon melt 13 generated by the relative rotation of the quartz crucible 5 and the silicon single crystal ingot 14 comes into contact with the curved plate 15C of the convection control jig 15, whereby the direction of the convection is controlled. It is something. For example, a convection that normally flows in a circle in a horizontal plane is controlled either by a centripetal flow that flows from the peripheral part toward the central part, or conversely by a centrifugal flow that flows from the central part toward the peripheral part. Is.

【0011】このシリコン融液13の対流の制御を図2
を用いて説明する。図2は、図3の主要部(シリコン単
結晶棒14とシリコン融液13との界面を示す部分)の
拡大図である。この図に示すように、石英坩堝5が一方
向に回転し、シリコン単結晶棒14が他方向に回転して
いるとき、表面から所定深さ範囲のシリコン融液13中
に発生する対流は、対流制御治具15の曲板15Cによ
って向きを変え、図中矢印Bのように、シリコン融液1
3の周辺部から中心部(シリコン単結晶棒14の直下部
分)に向かって流れる(向心流)ものである。反対に、
石英坩堝5が他方向に、シリコン単結晶棒14が一方向
に向かって回転すると、対流制御治具15によって、シ
リコン融液13中の対流は、矢印Bと反対向きに流れる
(遠心流)ものである。
The control of the convection of the silicon melt 13 is shown in FIG.
Will be explained. FIG. 2 is an enlarged view of a main part (a part showing an interface between the silicon single crystal ingot 14 and the silicon melt 13) of FIG. As shown in this figure, when the quartz crucible 5 rotates in one direction and the silicon single crystal ingot 14 rotates in the other direction, convection generated in the silicon melt 13 in a predetermined depth range from the surface is: The direction is changed by the curved plate 15C of the convection control jig 15, and as shown by an arrow B in the figure, the silicon melt 1
It flows from the peripheral portion of 3 toward the central portion (the portion directly below the silicon single crystal ingot 14) (centripetal flow). Conversely,
When the quartz crucible 5 rotates in the other direction and the silicon single crystal ingot 14 rotates in the one direction, the convection control jig 15 causes the convection in the silicon melt 13 to flow in the direction opposite to the arrow B (centrifugal flow). Is.

【0012】また、この単結晶引上装置1にあっては、
従来と同様に、黒鉛サセプタ4の外側には、シリコン融
液13の加熱用ヒータ6および熱シールド部材7がこの
黒鉛サセプタ4を取り囲むように配設されている。さら
に、チャンバ2の上部には、引上機構(図示略)、およ
び、導入口8がそれぞれ設けられている。この導入口8
は、チャンバ2内部にアルゴンガスを導入するためのも
のである。この引上機構によって、引上ワイヤ9が石英
坩堝5の上方で、石英坩堝5と反対方向に回転しつつ上
下動するように構成されている。この引上ワイヤ9の先
端には、シードチャック10を介してシリコン単結晶の
種結晶11が取り付けられている。チャンバ2の下部に
は、アルゴンガス等の排気口12が設けられている。こ
の排気口12は真空装置(図示略)に接続されている。
そして、この種結晶11を、シリコン融液13に浸した
後上昇させる。このことにより、種結晶11を始点とし
て順次成長しこの種結晶11と結晶方位が同じシリコン
単結晶棒14がアルゴン雰囲気中で引き上げられるよう
になっている。
Further, in this single crystal pulling apparatus 1,
As in the conventional case, a heater 6 for heating the silicon melt 13 and a heat shield member 7 are arranged outside the graphite susceptor 4 so as to surround the graphite susceptor 4. Further, a pulling mechanism (not shown) and an inlet 8 are provided on the upper portion of the chamber 2. This inlet 8
Is for introducing argon gas into the chamber 2. By this pulling mechanism, the pulling wire 9 is configured to move up and down above the quartz crucible 5 while rotating in the opposite direction to the quartz crucible 5. A seed crystal 11 of a silicon single crystal is attached to the tip of the pulling wire 9 via a seed chuck 10. An exhaust port 12 for argon gas or the like is provided in the lower portion of the chamber 2. The exhaust port 12 is connected to a vacuum device (not shown).
Then, the seed crystal 11 is immersed in the silicon melt 13 and then raised. As a result, the silicon single crystal ingot 14 that is grown sequentially from the seed crystal 11 as the starting point and has the same crystal orientation as the seed crystal 11 can be pulled in an argon atmosphere.

【0013】次に、単結晶引上装置1を使用したシリコ
ン単結晶の引き上げ方法を説明する。引き上げに先立っ
て、黒鉛サセプタ4内にある石英坩堝5内に高純度多結
晶シリコン、および、ボロンを高濃度にドープしたシリ
コン結晶の小片を入れる。これら全体を軸3に取り付け
る。チャンバ2内を真空装置で真空にし、導入口8へア
ルゴンガスを供給し、チャンバ2内を10〜20Tor
rのアルゴン雰囲気にする。ヒータ6に直接通電して石
英坩堝5を加熱し原料のシリコン等を溶融する。次い
で、シードチャック10にシリコン単結晶の種結晶11
を取り付け、この種結晶11をシリコン融液13の中心
部に接触させる。この接触と同時に、モータで軸3を所
定の坩堝回転速度で一方向に回転させるとともに、引上
機構により、所定の結晶回転速度で他方向に回転させな
がら、種結晶11をゆっくり上昇させる。この結果、種
結晶11からシリコン単結晶棒14が成長して引き上げ
られていく。
Next, a method for pulling a silicon single crystal using the single crystal pulling apparatus 1 will be described. Prior to the pulling, high-purity polycrystalline silicon and a small piece of silicon crystal doped with boron at a high concentration are put into a quartz crucible 5 in the graphite susceptor 4. All of these are attached to the shaft 3. The inside of the chamber 2 is evacuated by a vacuum device, an argon gas is supplied to the inlet 8, and the inside of the chamber 2 is 10 to 20 Tor.
The atmosphere of argon is r. The heater 6 is directly energized to heat the quartz crucible 5 and melt the raw material silicon or the like. Then, a seed crystal 11 of silicon single crystal is placed on the seed chuck 10.
The seed crystal 11 is brought into contact with the center of the silicon melt 13. Simultaneously with this contact, the motor rotates the shaft 3 in one direction at a predetermined crucible rotation speed, and the pulling mechanism slowly rotates the seed crystal 11 while rotating in the other direction at a predetermined crystal rotation speed. As a result, the silicon single crystal ingot 14 grows from the seed crystal 11 and is pulled up.

【0014】このとき、シリコン融液13中に発生する
対流は、対流制御治具15の曲板15Cによって向きを
変え、シリコン融液13の上部(表面から所定の深さ範
囲まで)においてはその周辺部から中心部へ向かって流
れるものである。このことにより、シリコン単結晶棒1
4とシリコン融液13との界面直下およびその近傍の温
度は均一化する。よって、シリコン単結晶棒14とシリ
コン融液13との固液界面形状は平坦化する。そして、
石英坩堝5の斜め上方にある直径制御用光センサ(図示
略)でシリコン単結晶棒14の直径を監視し、引上機構
の引き上げ速度を変化(平均1.0〜1.5mm/分)さ
せて、その直径が常に一定になるようにする。
At this time, the convection generated in the silicon melt 13 changes its direction by the curved plate 15C of the convection control jig 15, and at the upper part of the silicon melt 13 (from the surface to a predetermined depth range). It flows from the periphery to the center. As a result, the silicon single crystal rod 1
The temperature just below the interface between 4 and the silicon melt 13 and in the vicinity thereof is made uniform. Therefore, the solid-liquid interface shape between the silicon single crystal ingot 14 and the silicon melt 13 is flattened. And
The diameter of the silicon single crystal ingot 14 is monitored by a diameter control optical sensor (not shown) diagonally above the quartz crucible 5, and the pulling rate of the pulling mechanism is changed (average 1.0 to 1.5 mm / min). So that its diameter is always constant.

【0015】次に、石英坩堝5の回転方向、および、シ
リコン単結晶棒14の回転方向、を上記とは逆にした場
合について説明する。この場合、シリコン融液13中に
図2の対流の流れ(向心流)とは反対方向の流れ(遠心
流)が発生する。詳しくは、シリコン単結晶棒14とシ
リコン融液13との界面直下およびその近傍に遠心的な
対流が発生する。この結果、シリコン単結晶棒14とシ
リコン融液13との界面直下およびその近傍に流入する
シリコン融液13中の石英坩堝5からの溶融酸素量を制
御することができ、したがって、シリコン単結晶棒14
への酸素の取り込み量を制御することができる。よっ
て、シリコン単結晶棒14の面内の酸素濃度分布は均質
化する。また、上記遠心方向の対流によりマランゴニ流
の発生を抑えることができる。なお、対流制御治具15
の案内羽根形状の曲板15Cの湾曲を逆にしても同様の
効果がある。
Next, the case where the rotation direction of the quartz crucible 5 and the rotation direction of the silicon single crystal ingot 14 are opposite to the above will be described. In this case, a flow (centrifugal flow) in the direction opposite to the convective flow (centripetal flow) of FIG. 2 is generated in the silicon melt 13. More specifically, centrifugal convection occurs just below the interface between the silicon single crystal ingot 14 and the silicon melt 13 and in the vicinity thereof. As a result, it is possible to control the amount of molten oxygen from the quartz crucible 5 in the silicon melt 13 flowing just below the interface between the silicon single crystal ingot 14 and the silicon melt 13, and in the vicinity thereof. 14
It is possible to control the amount of oxygen taken up into. Therefore, the in-plane oxygen concentration distribution of the silicon single crystal ingot 14 is homogenized. In addition, the convection in the centrifugal direction can suppress the generation of Marangoni flow. The convection control jig 15
The same effect can be obtained by reversing the curve of the curved plate 15C having the guide vane shape.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明してきたように本発明に係る単
結晶引上装置によれば、単結晶棒の面内の酸素濃度分布
を均質化することができる。また、単結晶棒と結晶融液
との界面近傍の温度を均一化することができ、その単結
晶棒の固液界面形状を平坦化することができる。この結
果、単結晶棒の品質を向上させることができる。
As described above, the apparatus for pulling a single crystal according to the present invention can homogenize the oxygen concentration distribution in the plane of a single crystal rod. Further, the temperature in the vicinity of the interface between the single crystal rod and the crystal melt can be made uniform, and the solid-liquid interface shape of the single crystal rod can be flattened. As a result, the quality of the single crystal ingot can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る単結晶引上装置の対流
制御治具の斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a convection control jig of a single crystal pulling apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例に係る単結晶引上装置の要部
断面図である。
FIG. 2 is a sectional view of an essential part of a single crystal pulling apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例に係る単結晶引上装置の断面
図である。
FIG. 3 is a sectional view of a single crystal pulling apparatus according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

5 石英坩堝 6 ヒータ 13 シリコン融液(結晶融液) 14 シリコン単結晶棒 15 対流制御治具 5 Quartz Crucible 6 Heater 13 Silicon Melt (Crystal Melt) 14 Silicon Single Crystal Rod 15 Convection Control Jig

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 島貫 康 東京都千代田区岩本町3丁目8番16号 三 菱マテリアルシリコン株式会社内 (72)発明者 新行内 隆之 埼玉県大宮市北袋町一丁目297番地 三菱 マテリアル株式会社中央研究所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Yasushi Shimanuki 3-8-16 Iwamotocho, Chiyoda-ku, Tokyo Sanritsu Material Silicon Co., Ltd. Address Central Research Laboratory, Mitsubishi Materials Corporation

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 結晶融液を保持する回動自在の石英坩堝
と、 この結晶融液から単結晶棒を引き上げる引上機構と、 上記結晶融液を加熱するヒータと、を備えた単結晶引上
装置において、 上記石英坩堝の回動により上記結晶融液の表面直下の所
定深さ範囲に発生する対流の方向を制御する対流制御手
段を備えることを特徴とする単結晶引上装置。
1. A single crystal puller comprising a rotatable quartz crucible for holding a crystal melt, a pulling mechanism for pulling a single crystal rod from the crystal melt, and a heater for heating the crystal melt. The upper apparatus comprises a convection control means for controlling the direction of convection generated in a predetermined depth range immediately below the surface of the crystal melt by rotating the quartz crucible.
【請求項2】 上記対流制御手段は、上記結晶融液の表
面直下の所定深さ範囲に、上記単結晶棒を囲むように設
けられた複数の案内羽根形状の治具を有することを特徴
とする請求項1に記載の単結晶引上装置。
2. The convection control means comprises a plurality of guide blade-shaped jigs provided so as to surround the single crystal rod within a predetermined depth range immediately below the surface of the crystal melt. The single crystal pulling apparatus according to claim 1.
JP7535692A 1992-02-25 1992-02-25 Pull apparatus for single crystal Pending JPH05238875A (en)

Priority Applications (1)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0710692A (en) * 1993-03-25 1995-01-13 Wacker Chemitronic Ges Elektron Grundstoffe Mbh Method and apparatus for decreasing mixing of oxygen in silicon single crystal
EP1201793A4 (en) * 1999-05-22 2003-02-05 Japan Science & Tech Corp Method and apparatus for growing high quality single crystal

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