JPH052251B2 - - Google Patents

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JPH052251B2
JPH052251B2 JP26528286A JP26528286A JPH052251B2 JP H052251 B2 JPH052251 B2 JP H052251B2 JP 26528286 A JP26528286 A JP 26528286A JP 26528286 A JP26528286 A JP 26528286A JP H052251 B2 JPH052251 B2 JP H052251B2
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JP
Japan
Prior art keywords
circuit
vibration
electrical signal
vibration level
level
Prior art date
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Application number
JP26528286A
Other languages
Japanese (ja)
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JPS63120229A (en
Inventor
Akira Oshitani
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
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Publication of JPS63120229A publication Critical patent/JPS63120229A/en
Publication of JPH052251B2 publication Critical patent/JPH052251B2/ja
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  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、電動機など、機械構造物の振動を
電気信号として検出し、振動のレベルを計測する
ための小形に形成された振動計に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a small-sized vibration meter for detecting vibrations of mechanical structures such as electric motors as electrical signals and measuring the level of vibrations.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

電動機など、機械構造物の運転中に生じる振動
は、回転体自体の加工誤差や組立誤差などに基づ
く不釣合い状態だけでなく、構成する部材の機械
的、電気的な経年変化たとえば部材相互間に生じ
るがたや、電動機の巻線溝内の絶縁層の枯れによ
つて生ずる隙間などにも適確な反応を示すことか
ら、構造物の振動レベルの計測は構造物の異常を
監視するために不可欠とされている。
Vibrations that occur during the operation of mechanical structures such as electric motors are caused not only by unbalanced conditions due to processing errors and assembly errors of the rotating body itself, but also due to mechanical and electrical aging of the constituent parts, such as between parts. Measuring the vibration level of a structure is useful for monitoring structural abnormalities because it shows an appropriate response to cracks that occur or gaps that occur due to drying of the insulating layer in the motor winding groove. considered essential.

従来、機械振動の振動レベルは、一般に、振動
の速度や加速度を電気的に検出し、この検出され
た電気量を振動の大きさを指示する振動計に入力
して計測している。回転機械を多数使用する電
力,鉄鋼,化学などの産業分野における大型プラ
ントでは、プラントの稼働率を向上させかつ保
守、修理を効果的に実施するため、振動による機
械の状態の監視が積極的に行われ、通常、監視員
が定期的に巡回して振動を計測している。しかし
ながら、 (1) 振動のセンサをそのつど取り付けて計測する
から、振動の計測位置やセンサの設置方法など
が必ずしも一定せず、個人差が生じる。
Conventionally, the vibration level of mechanical vibrations has generally been measured by electrically detecting the speed and acceleration of vibrations, and inputting the detected electrical quantity into a vibration meter that indicates the magnitude of vibrations. In large-scale plants in industrial fields such as the electric power, steel, and chemical industries that use a large number of rotating machines, the condition of machines using vibrations is actively monitored in order to improve plant availability and effectively carry out maintenance and repairs. Normally, lifeguards patrol regularly and measure vibrations. However, (1) Since vibration sensors are attached and measured each time, the vibration measurement position and sensor installation method are not necessarily constant, resulting in individual differences.

(2) 振動のセンサと振動計本体とが分離している
ため、計測に労力と時間とを要する。
(2) Since the vibration sensor and the vibration meter body are separated, measurement requires labor and time.

(3) 被計測対象がほとんど回転機械であり、セン
サの取付けや振動の計測が機械の運転中に行わ
れるため、危険を伴う場合があり、ときとして
計測が不可能な場合も生ずる。
(3) Most of the objects to be measured are rotating machines, and sensor installation and vibration measurement are done while the machine is in operation, which can be dangerous and sometimes make measurement impossible.

(4) 振動計の操作に専門の技術と経験とが必要で
ある。
(4) Specialized skills and experience are required to operate the vibration meter.

などの問題がある。このため、重要度の高い機械
では、振動計のセンサのみを機械の被計測部位に
固定し、遠方で集中的に振動レベルを計測して機
械の異常を監視する集中監視方式がとられる傾向
にあるが、機械のすぐ傍で計測したい場合には、
機械にはセンサしか取り付けられていないことか
ら、別の振動計が必要になる。このため、振動セ
ンサから振動レベルの表示回路までの、振動レベ
ルの計測、表示に必要なすべての回路と電源とが
ケース内に一体化された小形振動計が同一出願人
によつて考案されこの問題の解決がはかられてい
る(特願昭60−205581号)。さらに、表示される
振動レベルを読取りやすくするため、表示装置の
みをケースから着脱可能とし、あらかじめ定めら
れたケース上の複数位置に移動できる、改良され
た小形振動計も提案されている(特願昭60−
289736号)。
There are problems such as. For this reason, for highly important machines, there is a tendency to use a centralized monitoring method in which only the vibration meter sensor is fixed to the part of the machine to be measured, and the vibration level is centrally measured from a distance to monitor machine abnormalities. However, if you want to measure right next to the machine,
Since the machine is only equipped with a sensor, a separate vibration meter is required. For this reason, the same applicant devised a compact vibration meter in which all the circuits and power supply necessary for measuring and displaying vibration levels, from the vibration sensor to the vibration level display circuit, were integrated into the case. Efforts are being made to resolve the problem (Patent Application No. 1986-205581). Furthermore, in order to make it easier to read the displayed vibration level, an improved compact vibration meter has been proposed in which only the display device is removable from the case and can be moved to multiple predetermined positions on the case (patent application). Showa 60-
No. 289736).

また、この小形振動計を集中監視用に転用する
ため、構造物の振動レベルに比例した電気信号を
外部へ出力する機能をもつた小形振動計が同一出
願人によつて提案されている(特願昭61−022255
号)。
In addition, in order to repurpose this small vibration meter for intensive monitoring, the same applicant has proposed a small vibration meter that has the function of outputting an electrical signal proportional to the vibration level of the structure to the outside (particularly Gansho 61-022255
issue).

さらに、沢山の機械を有する大形のプラントで
は、計測された振動レベル自体でなく、個々の機
械がそれぞれに設定された振動レベル以下で運転
されているか否かを判別できれば通常運転監視の
目的を達成し得ることから、前記設定レベルとの
比較機能を有し、計測されたレベルがこの設定レ
ベルを越えたときに発光ダイオードを点滅させ、
この点滅を警報とする小形振動計が同一出願人に
よつて提案されている(特願昭61−187211)。
Furthermore, in large plants with many machines, the purpose of normal operation monitoring would be to be able to determine whether or not each machine is operating at a vibration level set for each machine, rather than the measured vibration level itself. To achieve this, it has a comparison function with the set level, and blinks a light emitting diode when the measured level exceeds the set level;
The same applicant has proposed a small-sized vibration meter that uses this flashing as an alarm (Japanese Patent Application No. 1872-11-1982).

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上に述べた、従来の小形振動計を多数の機械構
造物の集中監視用として使用する場合に解決すべ
き問題点はつぎの通りである。すなわち、振動レ
ベルを表示する表示装置をケースから着脱可能と
したもの(特願昭60−289736号)や振動レベルに
比例した電気信号を外部へ出力する機能をもつた
もの(特願昭61−022255号)では、機械構造物ご
とに取り付けた振動計個々の外部出力を常時監視
することになり、配線工事などに膨大な費用が必
要になる。また、計測された振動レベルが設定値
を越えたときに発光ダイオードを点滅させ、この
点滅を警報とするもの(特願昭61−187211)で
は、警報を目視によつて確認するため、機械構造
物が多数存在する場合には監視が困難であり、こ
のため機械の異常を迅速に発見するのが難しい。
The problems to be solved when using the above-mentioned conventional small-sized vibration meter for centralized monitoring of a large number of mechanical structures are as follows. In other words, there are devices in which a display device that displays the vibration level is removable from the case (Japanese Patent Application No. 60-289736), and devices that have the function of outputting an electrical signal proportional to the vibration level to the outside (Japanese Patent Application No. 61-1989). 022255), the external output of each vibration meter attached to each mechanical structure must be constantly monitored, which requires enormous costs for wiring work. In addition, when the measured vibration level exceeds a set value, a light emitting diode blinks, and this blinking is used as an alarm (patent application 187211/1987), in which the mechanical structure is designed to visually confirm the alarm. It is difficult to monitor when a large number of objects are present, and therefore it is difficult to quickly discover abnormalities in the machine.

この発明の目的は、構造物の被監視部位にあら
かじめ取り付けておき、構造物の傍で振動レベル
の読取りが可能であるとともに、遠方から構造物
の異常の有無のみを容易にかつ膨大な費用を招く
ことなく集中監視せしめうる小形振動計を提供す
ることである。
The purpose of this invention is to install it in advance at the part of the structure to be monitored, so that it is possible to read the vibration level near the structure, and to easily check whether or not there is an abnormality in the structure from a distance, without spending a huge amount of money. It is an object of the present invention to provide a small-sized vibration meter that can be centrally monitored without inviting people.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記目的を達成するために、この発明によれ
ば、小形振動計が、共通のケース内に、構造物の
振動を電気信号として検出する振動センサと、前
記検出された電気信号を増幅する回路と、前記増
幅された電気信号を積分する回路と、前記積分さ
れた電気信号を検波する回路と、前記検波回路か
ら出力されるアナログ電気信号をデジタル電気信
号に変換する回路と、このアナログ−デジタル変
換回路を制御しながら前記デジタル電気信号を用
いて構造物の振動レベルを演算するとともに該振
動レベルを外部に表示する表示回路を駆動しかつ
該振動レベルをあらかじめ設定された振動レベル
と比較して該設定レベルを越えた場合は近赤外発
光ダイオードの点灯回路を駆動するマイクロコン
ピユータと、このマイクロコンピユータにより駆
動される前記表示回路および点灯回路と、前記の
各回路を動作させる電源とを備えるものとする。
In order to achieve the above object, according to the present invention, a small vibration meter includes a vibration sensor that detects vibrations of a structure as an electrical signal, and a circuit that amplifies the detected electrical signal, in a common case. , a circuit that integrates the amplified electrical signal, a circuit that detects the integrated electrical signal, a circuit that converts the analog electrical signal output from the detection circuit into a digital electrical signal, and this analog-to-digital conversion. While controlling the circuit, the digital electric signal is used to calculate the vibration level of the structure, drive a display circuit that displays the vibration level externally, and compare the vibration level with a preset vibration level to determine the vibration level. A microcomputer that drives a lighting circuit for a near-infrared light emitting diode when a set level is exceeded, the display circuit and lighting circuit driven by the microcomputer, and a power source that operates each of the circuits. do.

〔作用〕[Effect]

このように、計測された振動レベルがあらかじ
め設定された振動レベルを越えた場合に近赤外発
光ダイオードを発光させ、近赤外線を警報信号と
して用いることにより、個々の構造物から集中監
視位置までの配線工事などの膨大な費用を必要と
せず、また、近赤外線の点滅の周波数を構造物ご
とに異周波数として近赤外線の受光位置において
電気信号に変換される警報信号の周波数を構造物
ごとに変えることができるから、周波数を分離す
る回路を用いて異常を生じた構造物を精度よく特
定するとともに、前記異周波数をそれぞれ、たと
えば構造物が設置されている環境の照明に用いら
れている適用電源周波数の2倍すなわち水銀灯や
螢光灯の明暗の周波数と異なる周波数に設定する
ことにより、外光などの影響の少ない集中監視が
可能となる。なお、近赤外発光ダイオードを用い
るのは、発光スペクトルが赤外領域にあり、寿命
が長くかつ応答速度が速いという理由によるもの
である。
In this way, when the measured vibration level exceeds a preset vibration level, near-infrared light emitting diodes are activated, and near-infrared light is used as an alarm signal, which can be used to monitor signals from individual structures to centralized monitoring locations. It does not require huge costs such as wiring work, and the frequency of the blinking near-infrared rays is different for each structure, and the frequency of the alarm signal that is converted to an electrical signal at the receiving position of the near-infrared rays is changed for each structure. Therefore, a circuit that separates frequencies can be used to accurately identify a structure in which an abnormality has occurred, and each of the different frequencies can be used to identify, for example, the applicable power source used for lighting the environment in which the structure is installed. By setting the frequency to twice the frequency, that is, to a frequency different from the light/dark frequency of a mercury lamp or fluorescent lamp, intensive monitoring with less influence from external light etc. is possible. The reason why a near-infrared light emitting diode is used is that its emission spectrum is in the infrared region, its life is long, and its response speed is fast.

〔実施例〕〔Example〕

第1図に本発明に基づく振動計の回路構成の実
施例を示す。図において、1は機械構造物の振動
を電気信号として検出するための振動センサであ
つて、機械振動の電気信号への変換には、振動の
加速度を検出する圧電型振動素子を使用する。こ
の振動センサ1で検出された、振動加速度に比例
した電気信号は増幅回路2において増幅される。
この増幅された電気信号は、積分回路3および4
により2回積分されることになるが、 (1) VDIやISOなどの国際規格において規格化さ
れ機械振動の評価に使用される基準レベルすな
わち危険度に応じて分類された振動レベルの範
囲をそれぞれ代表して示す振動レベルが、振動
速度や振動変位を用いて設定されている。
FIG. 1 shows an embodiment of the circuit configuration of a vibration meter based on the present invention. In the figure, reference numeral 1 denotes a vibration sensor for detecting the vibration of a mechanical structure as an electric signal, and a piezoelectric vibrating element that detects the acceleration of vibration is used to convert the mechanical vibration into an electric signal. An electrical signal proportional to vibration acceleration detected by this vibration sensor 1 is amplified in an amplifier circuit 2.
This amplified electrical signal is transmitted to integrating circuits 3 and 4.
(1) Each of the standard levels standardized by international standards such as VDI and ISO and used to evaluate mechanical vibrations, that is, the range of vibration levels classified according to the degree of danger, is integrated twice. The representative vibration levels are set using vibration speed and vibration displacement.

(2) 機械の強度評価や人体への影響評価には振動
加速度が使用される。
(2) Vibration acceleration is used to evaluate the strength of machines and the impact on the human body.

などの理由から、加速度と速度と変位の3種類の
振動のうちいずれかの振動レベルを計測するかに
より、入力された電気信号の積分回数がきめら
れ、この回数によつては積分回路3,4がともに
短絡されることもあれば、積分回路4が短絡され
ることもある。いま、振動の加速度をx‥、速度を
x・、変位をxとし、振動の最大変位をA、角速度
をω、時間をtとすると、各回路における信号の
大きさと位相の関係は、 相幅回路2では x‥=Aω2sinωt 積分回路3では x・=∫x‥dt=−Aωcosωt 成分回路4では x=∫x・dt=−Asinωt で表わされる。
For these reasons, the number of integrations of the input electrical signal is determined depending on which vibration level is measured among the three types of vibrations: acceleration, velocity, and displacement. 4 may be shorted together, or the integrating circuit 4 may be shorted. Now, if the acceleration of vibration is x..., the speed is x・, the displacement is x, the maximum displacement of vibration is A, the angular velocity is ω, and the time is t, the relationship between the magnitude and phase of the signal in each circuit is as follows: Phase width In circuit 2, x‥=Aω 2 sinωt, in integrator circuit 3, x・=∫x‥dt=−Aωcosωt, and in component circuit 4, x=∫x・dt=−Asinωt.

増幅回路2、積分回路3および4からの出力信
号はいずれも角速度ωをもつた交流信号のため、
増幅回路5が付加された検波回路6で直流信号に
変換する。この変換された直流のアナログ信号
は、アナログ−デジタル変換回路(以下、A/D
変換回路と記す)7に入力されて8ビツトのデジ
タル信号に変換され、マイクロコンピユータ(以
下マイコンと記す)8に入力される。本例のマイ
コン8では、 (1) データを0.2秒間隔でサンプリングするよう
サンプリング開始と停止とをA/D変換回路に
指示する。
Since the output signals from amplifier circuit 2 and integration circuits 3 and 4 are all AC signals with angular velocity ω,
A detection circuit 6 to which an amplifier circuit 5 is added converts the signal into a DC signal. This converted DC analog signal is processed by an analog-to-digital conversion circuit (hereinafter referred to as A/D).
The signal is input to a converter circuit (hereinafter referred to as "microcomputer") 7, where it is converted into an 8-bit digital signal, and which is input to a microcomputer (hereinafter referred to as "microcomputer") 8. The microcomputer 8 of this example (1) instructs the A/D conversion circuit to start and stop sampling so as to sample data at 0.2 second intervals;

(2) A/D変換回路から入力されたサンプリング
10回のデータ平均値を2秒間平均の振動レベル
として求める。
(2) Sampling input from the A/D conversion circuit
The average value of the 10 data is determined as the average vibration level for 2 seconds.

(3) この2秒間平均の振動レベルをそのつど表示
するため、液晶または発光ダイオードによる表
示部を有する表示回路9を駆動する。
(3) In order to display the average vibration level for these two seconds each time, the display circuit 9 having a display section using a liquid crystal or a light emitting diode is driven.

(4) この表示回路9の駆動と同時に、2秒間平均
の振動レベルはそのつど、予めマイコンのメモ
リに設定された振動の警報値と比較される。振
動レベルが警報値を越えると、近赤外発光ダイ
オードを一定周波数で点滅させるため、発振回
路10を駆動する。なお、マイコン8に設定さ
れた警報値のレベルは、前述のように、VDIや
ISOの評価基準レベルにより決める。
(4) At the same time as this display circuit 9 is driven, the two-second average vibration level is compared with a vibration alarm value preset in the microcomputer's memory each time. When the vibration level exceeds the alarm value, the oscillation circuit 10 is driven to blink the near-infrared light emitting diode at a constant frequency. Note that the level of the alarm value set in the microcomputer 8 is determined by the VDI and
Determined by ISO evaluation standard level.

振動レベルがマイコン8のメモリに設定された
警報値を越え、マイコン8により発振回路10が
駆動されると、発振回路10から一定の周波数
(本例では80Hz)をもつた矩形波信号が出力され、
その周波数でトランジスタ12がオン、オフ動作
を行ない、近赤外発光ダイオード11が点滅を繰
り返し、近赤外線が空に放射される。従つて発振
回路10は近赤外発光ダイオード11に対する点
灯回路を構成する。電源13は小形振動計の動作
電源であつて、*印で示す正極と**で示す負極
とがそれぞれの回路の同一記号端子に接続され
る。
When the vibration level exceeds the alarm value set in the memory of the microcomputer 8 and the oscillation circuit 10 is driven by the microcomputer 8, the oscillation circuit 10 outputs a rectangular wave signal with a constant frequency (80Hz in this example). ,
At that frequency, the transistor 12 turns on and off, the near-infrared light emitting diode 11 repeatedly blinks, and near-infrared light is emitted into the sky. Therefore, the oscillation circuit 10 constitutes a lighting circuit for the near-infrared light emitting diode 11. The power source 13 is an operating power source for the small vibration meter, and the positive electrode indicated by * and the negative electrode indicated by ** are connected to terminals with the same symbol of the respective circuits.

第2図は、本発明の小形振動計が発する近赤外
線を受光して電気信号に変換する受信回路の一例
を示す。一定の周波数で点滅を繰り返す近赤外発
光ダイオード11からの光線は空中を介して受信
回路のフオトトランジスタ14で受光され抵抗1
6の両端子から矢印のように電気信号として出力
される。この電気信号の周波数は近赤外発光ダイ
オードの点滅周波数と一致しており、かつ、この
周波数が本例のように80Hzであれば、受信回路が
置かれている環境の照明に用いられている水銀灯
や螢光灯のように明暗の周波数が商用電源周波数
の2倍となる場合や太陽光のような直流光と比較
して周波数が異なるから、受信回路(第2図)の
出力側に80Hzを分離して取り出す回路を設けるこ
とにより、近赤外発光ダイオードの点滅周波数が
80Hzである小形振動計が取り付けられた構造物を
精度よく特定することができる。
FIG. 2 shows an example of a receiving circuit that receives near-infrared rays emitted by the small vibrometer of the present invention and converts them into electrical signals. A light beam from a near-infrared light emitting diode 11 that repeatedly blinks at a constant frequency is received by a phototransistor 14 in a receiving circuit through the air, and then passed through a resistor 1.
An electrical signal is output from both terminals of 6 as shown by the arrow. The frequency of this electrical signal matches the blinking frequency of the near-infrared light emitting diode, and if this frequency is 80Hz as in this example, it is used for lighting the environment where the receiving circuit is placed. In cases where the frequency of light and darkness is twice the commercial power supply frequency, such as in mercury lamps and fluorescent lamps, and because the frequency is different compared to direct current light such as sunlight, the output side of the receiving circuit (Figure 2) is 80 Hz. By providing a circuit that separates and extracts the light, the blinking frequency of the near-infrared light emitting diode can be reduced.
It is possible to accurately identify structures to which a small vibration meter with a frequency of 80Hz is attached.

第3図は、本発明に基づいて構成された小形振
動計の実施例の外形斜視図を示す。箱形に形成さ
れた振動計の上面には、この振動計によつて計測
された振動レベルをデジタル表示する表示板が設
けられ、構造物の傍で振動レベルを読み取ること
ができるように構成されている。このように構成
された振動計21は、たとえば第4図に示すよう
に、機械構造物である回転機械23〜25に取り
付けられ、回転機械の振動が予め設定された振動
レベルを越えたときに振動計から発せられる近赤
外線が受信器22で受光され電気信号に変換され
る。この電気信号は集中監視システム30まで送
信され、ここで電気信号の周波数を弁別して、異
常を生じている回転機械に対応するランプを点灯
するか、ブザーを動作させて監視員に異常を知ら
せる。ここで、受信器22は小形振動計21を直
視できる範囲に設置され、この範囲にある複数台
の回転機械が1個の受信器を介して監視されるこ
とになる。この場合、それぞれの小形振動計が発
する近赤外発光ダイオードの点滅の周波数は振動
計ごとに異なつた周波数とし、この周波数を弁別
する回路は、集中監視システム30内に設けられ
る。
FIG. 3 shows an external perspective view of an embodiment of a small vibrometer constructed according to the present invention. A display board is provided on the top of the box-shaped vibration meter to digitally display the vibration level measured by the vibration meter, and is configured so that the vibration level can be read near the structure. ing. The vibration meter 21 configured in this way is attached to rotating machines 23 to 25, which are mechanical structures, as shown in FIG. 4, for example, and when the vibration of the rotating machine exceeds a preset vibration level, Near-infrared rays emitted from the vibrometer are received by the receiver 22 and converted into electrical signals. This electrical signal is transmitted to the central monitoring system 30, which distinguishes the frequency of the electrical signal and lights up a lamp corresponding to the rotating machine in which the abnormality is occurring or operates a buzzer to notify a supervisor of the abnormality. Here, the receiver 22 is installed in a range where the small vibration meter 21 can be seen directly, and a plurality of rotating machines within this range are monitored via one receiver. In this case, the frequency of the blinking of the near-infrared light emitting diode emitted by each small vibration meter is set to be a different frequency for each vibration meter, and a circuit for discriminating this frequency is provided in the central monitoring system 30.

大形のプラントでは監視すべき機械を多数保有
しており、一方、1個の受信器のみではその直視
できる機械の台数はかぎられており、全数を1個
の受信器を介して監視することはできないから、
機械をブロツクに分割し、各ブロツクごとに受信
器を1個づつ設置するとともに同一ブロツク内に
あるそれぞれの小形振動計の発する近赤外線の周
波数も同一として、集中監視システム30内では
ブロツクごとに異常を検出し、異常警報が発生し
たら監視員はそのブロツクに属する機械のみを巡
回し、各機械の振動計に表示された振動レベルを
チエツクすることにより異常を生じている機械を
容易に発見することができる。もちろん、各ブロ
ツクに属する小形振動計の発する近赤外線の周波
数をすべて異周波数とし、集中監視システムにす
べての周波数を入力するようにして、弁別回路に
より直接異常を生じている機械を特定することも
不可能ではない。しかし前述のようにブロツクご
とに監視するようにすれば、採用可能な周波数の
範囲に制限があり、しかも監視される機械の台数
が数十〜数百台の多数にのぼるような場合にも何
ら困難なく異常監視が可能になるというメリツト
がある。
Large plants have many machines to monitor, and on the other hand, the number of machines that can be directly viewed with just one receiver is limited, so it is difficult to monitor all machines through one receiver. Because I can't
The machine is divided into blocks, one receiver is installed in each block, and the frequency of near-infrared rays emitted by each small vibration meter in the same block is the same, so that the centralized monitoring system 30 detects abnormalities in each block. When an abnormality alarm is detected, the supervisor patrols only the machines belonging to that block, and by checking the vibration level displayed on the vibration meter of each machine, the machine that is causing the abnormality can be easily discovered. I can do it. Of course, it is also possible to set the near-infrared rays emitted by the small vibration meters belonging to each block to different frequencies, input all frequencies to the central monitoring system, and directly identify the machine causing the abnormality using the discrimination circuit. It's not impossible. However, if you monitor each block as described above, there is a limit to the range of frequencies that can be used, and even when the number of machines to be monitored is tens to hundreds, there will be no problem. This has the advantage that abnormality monitoring can be performed without difficulty.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上に述べたように、本発明によれば、機械構
造物の振動を計測する小形振動計を、共通のケー
ス内に、構造物の振動を電気信号として検出する
振動センサと、前記検出された電気信号を増幅す
る回路と、前記増幅された電気信号を積分する回
路と、前記積分された電気信号を検波する回路
と、前記検波回路から出力されるアナログ電気信
号をデジタル電気信号に変換する回路と、このア
ナログ−デジタル変換回路を制御しながら前記デ
ジタル電気信号を用いて構造物の振動レベルを演
算するとともに該振動レベルを外部に表示する表
示回路を駆動しかつ該振動レベルをあらかじめ設
定された振動レベルと比較して該設定レベルを越
えた場合は近赤外発光ダイオードの点灯回路を駆
動するマイクロコンピユータと、このマイクロコ
ンピユータにより駆動される前記表示回路および
点灯回路と、前記の各回路を動作させる電源とを
収納して構成したので、この小形振動計を構造物
の被監視部位にあらかじめ取り付けておき、構造
物の傍で振動レベルの読取りが可能となるほか、
複数の構造物を遠方から集中監視する際の集中監
視システムへの入力が、振動計内部で判別された
異常の有無のみの警報信号となり、かつこの警報
信号を、寿命が長く応答速度の速い近赤外発光ダ
イオードが発する近赤外線として、このダイオー
ドの点滅周波数を振動計ごとに、水銀灯や螢光灯
や太陽光などの外光の周波数とそれぞれ異なる周
波数に設定して外乱の影響を低減せしめうるよう
にしたので、 (1) 警報信号の伝達が空中介して行なわれ、構造
物周囲の複雑な配線作業が不要となり、信号伝
達のために膨大な費用を要しない。
As described above, according to the present invention, a small vibration meter that measures the vibration of a mechanical structure is housed in a common case, and a vibration sensor that detects the vibration of the structure as an electric signal, and a vibration sensor that detects the vibration of the structure as an electric signal. A circuit that amplifies an electrical signal, a circuit that integrates the amplified electrical signal, a circuit that detects the integrated electrical signal, and a circuit that converts the analog electrical signal output from the detection circuit into a digital electrical signal. Then, while controlling this analog-digital conversion circuit, the vibration level of the structure is calculated using the digital electric signal, and a display circuit that displays the vibration level externally is driven, and the vibration level is set in advance. If the vibration level exceeds the set level, the microcomputer that drives the near-infrared light emitting diode lighting circuit, the display circuit and lighting circuit driven by this microcomputer, and the respective circuits described above are operated. This compact vibration meter can be installed in advance at the monitored part of a structure and the vibration level can be read near the structure.
When multiple structures are centrally monitored from a distance, the input to the central monitoring system is an alarm signal that indicates only the presence or absence of an abnormality determined inside the vibration meter, and this alarm signal is transmitted to a nearby system with a long life and a fast response speed. As near-infrared light emitted by an infrared light emitting diode, the blinking frequency of this diode can be set for each vibration meter to a frequency that is different from the frequency of external light such as mercury lamps, fluorescent lights, sunlight, etc. to reduce the effects of disturbance. (1) The alarm signal is transmitted through the air, eliminating the need for complicated wiring work around the structure and eliminating the huge expense required for signal transmission.

(2) 集中監視システム内に信号周波数を弁別する
回路を設けることにより、異常を生じている構
造物を精度よくかつ容易に特定することができ
る。
(2) By providing a circuit that discriminates signal frequencies within the centralized monitoring system, it is possible to accurately and easily identify structures that are experiencing abnormalities.

(3) 警報信号として発せられる近赤外線を1個の
受信回路で複数受信することができるから、集
中監視される構造物が数十〜数百台の多数にの
ぼつても構造物を複数台づつのブロツクに分割
し、各ブロツクを1つの構造物として監視する
群監視が可能となり、異常を生じている構造物
を含むブロツクが発見されたらそのブロツクを
巡回しながら振動レベルを容易に読み取ること
ができるから、多数台の構造物を効率よく監視
することが可能になり、被監視構造物の台数に
より、個別監視と群監視との使い分けが容易に
可能になる。
(3) Since multiple near-infrared rays emitted as alarm signals can be received by one receiving circuit, multiple structures can be monitored even if the number of structures being intensively monitored is tens to hundreds. Group monitoring is possible by dividing the structure into individual blocks and monitoring each block as one structure.If a block containing an abnormal structure is found, the vibration level can be easily read while visiting that block. This makes it possible to efficiently monitor a large number of structures, and it is easy to use either individual monitoring or group monitoring depending on the number of structures to be monitored.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例による小形振動計の回
路構成図、第2図は小形振動計から発せられる警
報信号としての近赤外線を受光して電気信号に変
換する受信器の回路構成を示す受信回路、第3図
は本発明の実施例による小形振動計の外形斜視
図、第4図は本発明の小形振動計を用いて複数の
構造物を集中監視する際の集中監視の方法を示す
説明図である。 1…振動センサ、2…積分回路、3,4…積分
回路、5…増幅回路、6…検波回路、7…A/D
変換回路、8…マイクロコンピユータ、9…表示
回路、10…発振回路(点灯回路)、11…近赤
外発光ダイオード、13…電源、21…小形振動
計、23,24,25…構造物。
Fig. 1 is a circuit configuration diagram of a small-sized vibrometer according to an embodiment of the present invention, and Fig. 2 shows a circuit configuration of a receiver that receives near-infrared rays as an alarm signal emitted from the small-sized vibrometer and converts them into electrical signals. Receiving circuit, FIG. 3 is an external perspective view of a small vibration meter according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 shows a method of intensive monitoring when multiple structures are intensively monitored using the small vibration meter of the present invention. It is an explanatory diagram. 1... Vibration sensor, 2... Integrating circuit, 3, 4... Integrating circuit, 5... Amplifying circuit, 6... Detecting circuit, 7... A/D
Conversion circuit, 8... Microcomputer, 9... Display circuit, 10... Oscillation circuit (lighting circuit), 11... Near-infrared light emitting diode, 13... Power source, 21... Small vibration meter, 23, 24, 25... Structure.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 構造物の振動レベルを計測する装置であつ
て、共通のケース内に、構造物の振動を電気信号
として検出する振動センサと、前記検出された電
気信号を増幅する回路と、前記増幅された電気信
号を積分する回路と、前記積分された電気信号を
検波する回路と、前記検波回路から出力されるア
ナログ電気信号をデジタル電気信号に変換する回
路と、このアナログ−デジタル変換回路を制御し
ながら前記デジタル電気信号を用いて構造物の振
動レベルを演算するとともに該振動レベルを外部
に表示する表示回路を駆動しかつ該振動レベルを
あらかじめ設定された振動レベルと比較して該設
定レベルを越えた場合は近赤外発光ダイオードの
点灯回路を駆動するマイクロコンピユータと、こ
のマイクロコンピユータにより駆動される前記表
示回路および点灯回路と、前記の各回路を動作さ
せる電源とを備えたことを特徴とする小形振動
計。
1 A device for measuring the vibration level of a structure, which includes, in a common case, a vibration sensor that detects the vibration of the structure as an electrical signal, a circuit that amplifies the detected electrical signal, and a circuit that amplifies the detected electrical signal. A circuit that integrates an electrical signal, a circuit that detects the integrated electrical signal, a circuit that converts an analog electrical signal output from the detection circuit into a digital electrical signal, and a circuit that controls the analog-to-digital conversion circuit. Calculates the vibration level of the structure using the digital electric signal, drives a display circuit that displays the vibration level externally, and compares the vibration level with a preset vibration level to determine whether the vibration level exceeds the set level. The case is a compact device characterized by comprising a microcomputer that drives a lighting circuit for a near-infrared light emitting diode, the display circuit and lighting circuit driven by the microcomputer, and a power source that operates each of the circuits. Vibration meter.
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