JPH05216141A - Method for processing radiographic image and radiographic imaging device - Google Patents
Method for processing radiographic image and radiographic imaging deviceInfo
- Publication number
- JPH05216141A JPH05216141A JP4020344A JP2034492A JPH05216141A JP H05216141 A JPH05216141 A JP H05216141A JP 4020344 A JP4020344 A JP 4020344A JP 2034492 A JP2034492 A JP 2034492A JP H05216141 A JPH05216141 A JP H05216141A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- energy
- image processing
- ratio
- subject
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 55
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 21
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 7
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は工業用分析装置または医
療用放射線診断装置などに用いられる放射線画像処理方
法および放射線画像装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a radiation image processing method and a radiation image processing apparatus used in an industrial analyzer or a medical radiation diagnostic apparatus.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、被写体の一方向から放射線を照射
し、被写体を透過した放射線により得られる透過像の成
分は、基本的に被写体の吸収係数と厚さの積からなって
いる。2. Description of the Related Art Conventionally, a component of a transmission image obtained by radiating radiation from one direction of a subject and transmitting the radiation through the subject basically consists of a product of an absorption coefficient and a thickness of the subject.
【０００３】ここで、異なる放射線エネルギーをＥ1 ，
Ｅ2 、入射放射線の強度をＩO （Ｅ 1 ），Ｉ
O （Ｅ2 ）、被写体を透過した放射線の強度をＩ1 （Ｅ
1 ），Ｉ2 （Ｅ 2 ）、被写体の吸収係数をμ（Ｅ1 ），
μ（Ｅ2 ）、被写体の厚さをＸとすると、被写体を透過
した画像の透過画像濃度情報は次のようになる。Here, different radiation energies E1，
E2, The intensity of the incident radiation is IO(E 1), I
O(E2), I is the intensity of the radiation transmitted through the subject1(E
1), I2(E 2), The absorption coefficient of the subject is μ (E1),
μ (E2), Letting the thickness of the subject be X, the subject is transparent
The transmitted image density information of the formed image is as follows.
【０００４】[0004]
【数１】 [Equation 1]
【０００５】[0005]
【数２】 [Equation 2]
【０００６】この画像の対数変換画像は次のような式で
表される。なお、対数変換は自然対数変換を使用する。A logarithmically transformed image of this image is expressed by the following equation. The logarithmic conversion uses natural logarithmic conversion.
【０００７】[0007]
【数３】 [Equation 3]
【０００８】[0008]
【数４】 [Equation 4]
【０００９】対数変換画像における被写体の画像濃度情
報はエネルギーＥ1 ，Ｅ2 に対して次式のようになる。The image density information of the object in the logarithmic conversion image is as follows for the energies E 1 and E 2 .
【００１０】[0010]
【数５】 [Equation 5]
【００１１】[0011]
【数６】 [Equation 6]
【００１２】このとき、ＩO （Ｅ）は入射放射線強度で
あり、画面全体に均一に入射するので、定数として取り
扱うことが可能である。そこで、数５、数６の式を用い
て被写体の画像濃度情報の比を計算すると次式のように
なり、被写体の画像濃度情報の比はμ（Ｅ1 ）／μ（Ｅ
2 ）に比例する。At this time, I O (E) is the incident radiation intensity, which is uniformly incident on the entire screen and can be treated as a constant. Therefore, when the ratio of the image density information of the subject is calculated using the formulas 5 and 6, the following formula is obtained, and the ratio of the image density information of the subject is μ (E 1 ) / μ (E
2 ) proportional to
【００１３】[0013]
【数７】 [Equation 7]
【００１４】数７の式から判るように、被写体の画像濃
度情報の比をとることにより被写体の厚さＸの情報を消
去することができる。すなわち、被写体の物性そのもの
のパラメータとして画像を表示することが可能となる。
多くの元素、材料のエネルギーＥ1 ，Ｅ2 に対する吸収
係数μ（Ｅ1 ），μ（Ｅ2 ）があらかじめ判っているの
で、被写体の画像濃度情報の比から被写体を構成する元
素、材料の同定が可能となる。As can be seen from the equation (7), the information of the thickness X of the subject can be erased by taking the ratio of the image density information of the subject. That is, the image can be displayed as a parameter of the physical properties of the subject itself.
Since the absorption coefficients μ (E 1 ) and μ (E 2 ) for the energies E 1 and E 2 of many elements and materials are known in advance, the elements and materials that make up the object are identified from the ratio of the image density information of the object. Is possible.
【００１５】図６はアルミニウムのＸ線光子エネルギー
と光子減弱係数の関係を示す図である。図６において、
物質内での光子の減弱は主として光電吸収とコンプトン
散乱により生じ、全減弱は両者の和により表される。た
とえば、Ｘ線のエネルギーが45keV と70keV とすると、
それぞれのエネルギーに対する減弱係数は0.33(cm2/g),
0.19(cm2/g) となり、吸収係数比は1.74が得られる。FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the X-ray photon energy of aluminum and the photon attenuation coefficient. In FIG.
Attenuation of photons in a substance is mainly caused by photoelectric absorption and Compton scattering, and the total attenuation is represented by the sum of both. For example, if the X-ray energy is 45keV and 70keV,
The attenuation coefficient for each energy is 0.33 (cm 2 / g),
It becomes 0.19 (cm 2 / g) and the absorption coefficient ratio is 1.74.
【００１６】しかし、Ｘ線のエネルギーは単一ではない
ので、被写体の厚さの増加にともない、実効エネルギー
が高エネルギー側にシフトする。この現象を一般にビー
ムハードニングという。たとえば高低エネルギー分布の
実効エネルギーがそれぞれ５keV シフトすると、減弱係
数は0.28(cm2/g),0.18(cm2/g) となり、吸収係数比は1.
55となる。However, since the X-ray energy is not single, the effective energy shifts to the high energy side as the thickness of the subject increases. This phenomenon is generally called beam hardening. For example, the effective energy of the high and low energy distribution to 5keV shifts respectively, the attenuation coefficient 0.28 (cm 2 /g),0.18(cm 2 / g ) , and the absorption coefficient ratio of 1.
55.
【００１７】[0017]
【発明が解決しようとする課題】上記従来の構成では、
放射線源としてＸ線を使用する場合、Ｘ線は単一エネル
ギーではなく、スペクトル分布を有しており、２つのエ
ネルギー帯に分離する方法として、Ｘ線管電圧を高低に
切り換えて２つのエネルギー帯を交互に発生する方法、
Ｘ線検出器を用いてＸ線を２つのエネルギー帯に分離す
る方法が有るが、いずれもエネルギーに分布を有してい
る。被写体の厚さが変化すると、被写体を透過するＸ線
のエネルギーも変化する。被写体の吸収は低エネルギー
ほど大きいので、低エネルギーのＸ線ほど減衰が大きく
なり、被写体の厚さが厚くなると、エネルギーは実効的
に高い方にシフトする。この現象をビームハードニング
現象といい、被写体の吸収係数μ（Ｅ1 ）、μ（Ｅ2 ）
の値が変化し、計算式の値が被写体の厚さに依存して変
化する。したがって、被写体の厚さが変化した場合、正
しい計算結果としての画像処理結果を得ることができな
いという問題を有していた。SUMMARY OF THE INVENTION In the above conventional configuration,
When using X-rays as a radiation source, the X-rays have not a single energy but a spectral distribution, and as a method of separating into two energy bands, the X-ray tube voltage is switched between high and low to separate the two energy bands. Alternating method,
There is a method of separating X-rays into two energy bands using an X-ray detector, but both have energy distributions. When the thickness of the subject changes, the energy of X-rays transmitted through the subject also changes. The lower the energy of the object is, the larger the absorption of the object is. Therefore, the lower the energy of the X-ray is, the more the attenuation is increased. This phenomenon is called the beam hardening phenomenon, and the absorption coefficient μ (E 1 ) and μ (E 2 ) of the subject
Changes, and the value of the calculation formula changes depending on the thickness of the subject. Therefore, when the thickness of the subject changes, there is a problem in that the image processing result as a correct calculation result cannot be obtained.
【００１８】本発明は上記従来の問題を解決するもの
で、被写体の厚さが変化しても被写体の厚さに依存しな
いで正しい計算結果を得ることができる放射線画像処理
方法および放射線画像装置を提供することを目的とする
ものである。The present invention solves the above-mentioned conventional problems and provides a radiation image processing method and a radiation image processing apparatus capable of obtaining a correct calculation result without depending on the thickness of the subject even if the thickness of the subject changes. It is intended to be provided.
【００１９】[0019]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の放射線画像処理方法は、同一の被写体に対し
て２種類以上の異なるエネルギーまたはエネルギー帯の
放射線を同一方向から照射して得られる２つのエネルギ
ー帯の放射線透過画像情報を得、前記２つのエネルギー
帯の放射線透過画像情報を用いて画像情報処理を行う放
射線画像処理方法であって、２つのエネルギー帯の前記
被写体を透過する放射線透過強度の比、または前記放射
線透過強度を対数化した値の比、または前記対数化した
値の比のべき数を補正係数として用いて、前記２つのエ
ネルギー帯の放射線透過画像情報における被写体厚さに
依存する放射線スペクトルのビームハードニングを補正
して画像処理するものである。In order to solve the above-mentioned problems, the radiation image processing method of the present invention is obtained by irradiating the same subject with radiation of two or more different energies or energy bands from the same direction. A radiation image processing method for obtaining radiation transmission image information of two energy bands, and performing image information processing using the radiation transmission image information of the two energy bands, the radiation transmitting the object of the two energy bands. The object thickness in the radiation transmission image information of the two energy bands using the ratio of the transmission intensity, the ratio of the logarithmized values of the radiation transmission intensity, or the power of the ratio of the logarithmized values as a correction coefficient. The image processing is performed by correcting the beam hardening of the radiation spectrum depending on the.
【００２０】また、本発明の放射線画像装置は、被写体
を透過した透過放射線を検出する放射線センサと、前記
放射線センサから出力される放射線光子を高エネルギー
以上および低エネルギー以上に分離するディスクリミネ
ータと、前記ディスクリミネータから出力される高エネ
ルギー以上および低エネルギー以上の放射線光子パルス
をそれぞれカウントするカウンタと、前記カウンタから
出力される低エネルギー以上のカウント数から高エネル
ギー以上のカウント数を差し引いた低エネルギー領域の
カウント数と前記高エネルギー以上のカウント数の比、
または前記低エネルギー領域のカウント数と前記高エネ
ルギー以上のカウント数を対数化した値の比、または前
記対数化した値の比のべき数を演算し、前記演算値を放
射線透過画像情報における補正値として用いて画像処理
する画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された画
像情報を表示する表示部とを備えたものである。Further, the radiation image apparatus of the present invention includes a radiation sensor for detecting transmitted radiation that has passed through an object, and a discriminator for separating radiation photons output from the radiation sensor into high energy and high energy and low energy and high energy. A counter for counting radiation photon pulses of high energy or higher and low energy or higher output from the discriminator, and a low count obtained by subtracting a count of high energy or higher from a count of low energy or higher output from the counter. The ratio of the number of counts in the energy region and the number of counts above the high energy,
Alternatively, the ratio of the logarithmic value of the count number of the low energy region and the high energy or more, or the power of the ratio of the logarithmic value is calculated, and the calculated value is a correction value in radiation transmission image information. And an image processing unit for performing image processing and a display unit for displaying image information image-processed by the image processing unit.
【００２１】[0021]
【作用】上記構成により、放射線のエネルギー情報を利
用した画像処理結果を、被写体を透過する２つのエネル
ギー帯の放射線透過強度の比、またはこの放射線透過強
度を対数化した値の比、またはこの対数化した値のべき
数を用いて補正をするので、２つのエネルギー帯の放射
線透過画像情報における被写体厚さに依存する放射線ス
ペクトルのビームハードニングが補正されて被写体の厚
さが変化しても被写体の厚さに依存しないで正しい画像
処理結果を得ることが可能となる。With the above configuration, the image processing result utilizing the energy information of the radiation is used as a ratio of the radiation transmission intensities of two energy bands that pass through the object, or a ratio of values obtained by logarithmizing the radiation transmission intensity, or this logarithm. Since the correction is performed using the power of the converted value, the beam hardening of the radiation spectrum, which depends on the subject thickness in the radiation transmission image information of the two energy bands, is corrected and the subject thickness is changed even if the subject thickness changes. It is possible to obtain a correct image processing result without depending on the thickness of the.
【００２２】[0022]
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。図１は本発明の一実施例を示す放射線
画像処理装置のブロック図である。図１において、被写
体を透過する透過Ｘ線のＸ線光子を検出するセンサ１は
増幅器２に接続され、センサ１によりＸ線光子を電流パ
ルスに変換して増幅器２により増幅する。この増幅器２
が接続される２個のディスクリミネータ３ａ，３ｂはそ
れぞれカウンタ４ａ，４ｂに接続され、増幅器２からの
Ｘ線光子パルスをディスクリミネータ３ａ，３ｂで高エ
ネルギー以上および低エネルギー以上に分離し、さら
に、ディスクリミネータ３ａ，３ｂから出力される高エ
ネルギー以上および低エネルギー以上のＸ線光子パルス
をそれぞれカウントする。これらカウンタ４ａ，４ｂが
接続される画像処理部５は表示部６に接続され、カウン
タ４ａ，４ｂから出力される低エネルギー以上のカウン
ト数から高エネルギー以上のカウント数を差し引いた低
エネルギー領域のカウント数と高エネルギー以上のカウ
ント数の比を演算し、この演算値を放射線透過画像情報
における補正値として用いて画像処理し、表示部６にお
いてＸ線透過画像情報を表示する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a radiation image processing apparatus showing an embodiment of the present invention. In FIG. 1, a sensor 1 that detects an X-ray photon of a transmitted X-ray that passes through a subject is connected to an amplifier 2. The sensor 1 converts the X-ray photon into a current pulse and amplifies the current pulse. This amplifier 2
The two discriminators 3a and 3b connected to are connected to counters 4a and 4b, respectively, and separate the X-ray photon pulse from the amplifier 2 into high energy or higher energy and low energy or higher energy by the discriminators 3a and 3b. Further, the X-ray photon pulses of high energy or more and low energy or more output from the discriminators 3a and 3b are respectively counted. The image processing unit 5 to which the counters 4a and 4b are connected is connected to the display unit 6, and counts in a low energy region obtained by subtracting the count number of high energy or more from the count number of low energy or more output from the counters 4a and 4b. The ratio between the number and the count number of high energy or more is calculated, and the calculated value is used as a correction value in the radiation transmission image information to perform image processing, and the display unit 6 displays the X-ray transmission image information.
【００２３】上記本発明の放射線画像装置についてさら
に詳しく説明する。図２は図１のディスクリミネータ３
ａ，３ｂにおけるエネルギー分離の方法を示す図であ
り、横軸はディスクリミネートレベル、縦軸はカウント
数すなわちＸ線光子数である。図２のａに示すようにデ
ィスクリミネータ３ａはディスクリミネートレベルＤ１
により低エネルギー以上の全エネルギー範囲のＸ線を検
出する。また、図２のｂに示すようにディスクリミネー
タ３ｂはディスクリミネートレベルＤ２により高エネル
ギー範囲のみのＸ線を検出する。さらに、図２のａの全
エネルギー範囲のＸ線から図２のｂの高エネルギー範囲
のみのＸ線を減じることにより、図２のｃに示すような
低エネルギー範囲のみのＸ線を検出する。このように、
２つのディスクリミネータ３ａ，３ｂを設け、ディスク
リミネートレベルＤ１以上のＸ線光子パルスのカウント
数からディスクリミネートレベルＤ２以上のＸ線光子パ
ルスのカウント数を減算することにより、低エネルギー
レベルのみの測定ができる。本実施例にはセンサ１とし
てＣｄＴｅ半導体検出器を使用し、これらを複数個並べ
てイメージセンサとして使用する。The radiation image apparatus of the present invention will be described in more detail. 2 is a discriminator 3 of FIG.
It is a figure which shows the method of energy separation in a, 3b, and a horizontal axis is a discriminant level and a vertical axis is a count number, ie, an X-ray photon number. As shown in FIG. 2A, the discriminator 3a has a discriminating level D1.
Detects X-rays in the entire energy range of low energy and above. Further, as shown in FIG. 2B, the discriminator 3b detects X-rays only in the high energy range by the discriminating level D2. Further, by subtracting the X-rays only in the high energy range of FIG. 2B from the X-rays of the entire energy range of FIG. 2A, the X-rays only in the low energy range as shown in FIG. 2C are detected. in this way,
By providing two discriminators 3a and 3b and subtracting the count number of the X-ray photon pulses of the discriminant level D2 or more from the count number of the X-ray photon pulses of the discriminant level D1 or more, only the low energy level is obtained. Can be measured. In this embodiment, a CdTe semiconductor detector is used as the sensor 1, and a plurality of CdTe semiconductor detectors are arranged and used as an image sensor.
【００２４】このＸ線イメージセンサにＸ線を照射し、
エネルギー分離を行った。Ｘ線源として、Ｘ線管に100k
V の定電圧を印加して最大エネルギー100keVのＸ線光子
を得た。第１のディスクリミネータ３ａのレベルＤ１を
回路のノイズレベルのカット電圧に、第２のデイスクリ
ミネータ３ｂのレベルＤ２を60keV の光子出力パルスに
設定し、Ｘ線エネルギーの分離を行った。実効エネルギ
ーの測定は、厚さを変えた銅板の透過強度を測定し、銅
の第１半価層の測定から換算した。測定結果から低エネ
ルギーの実効エネルギーは45keV 、高エネルギーの実効
エネルギーは75keV が得られた。The X-ray image sensor is irradiated with X-rays,
Energy separation was performed. 100k for X-ray tube as X-ray source
An X-ray photon with a maximum energy of 100 keV was obtained by applying a constant voltage of V 2. X-ray energy was separated by setting the level D1 of the first discriminator 3a to the cut voltage of the noise level of the circuit and the level D2 of the second discriminator 3b to the photon output pulse of 60 keV. The effective energy was measured by measuring the permeation intensity of copper plates having different thicknesses and converting it from the measurement of the first half-value layer of copper. From the measurement results, the low energy effective energy was 45 keV and the high energy effective energy was 75 keV.
【００２５】以上の条件のもとで異なる厚さのアルミニ
ウムを測定し、数５、数６、数７を用いて計算を行っ
た。パラメータのなかで、ＩO （Ｅ1 ），ＩO （Ｅ2 ）
はアルミニウムの厚さが零のときのカウント数を使用し
た。その結果を図３に示す。画像情報比の値は平均1.8
前後にあり、厚さの変化に対してほぼ平坦になっている
が、薄いところほど値が高くなっている。Under the above conditions, aluminum of different thickness was measured, and the calculation was performed using the equations 5, 6, and 7. Among the parameters, I O (E 1 ) and I O (E 2 )
Used the number of counts when the thickness of aluminum was zero. The result is shown in FIG. Average image information ratio is 1.8
It is in the front and back, and is almost flat with respect to the change in thickness, but the thinner the place, the higher the value.
【００２６】この補正を本発明による透過情報の比を用
いて行った。補正係数の計算は数８式を用いた。This correction was performed using the ratio of transmission information according to the present invention. Equation 8 was used to calculate the correction coefficient.
【００２７】[0027]
【数８】 [Equation 8]
【００２８】数８の分子は高エネルギーのカウント数を
厚さが零におけるカウント数で正規化した値、分母は低
エネルギーのカウント数を厚さが零におけるカウント数
で正規化した値である。図４にその測定結果を示す。こ
の補正係数の値は厚さの増加とともに単調に増加してい
る。この値を用いて、数９により画像情報比の補正を行
った。この結果を図４に示す。The numerator of equation (8) is a value obtained by normalizing a high energy count number with a count number at zero thickness, and the denominator is a low energy count number normalized by a count number at zero thickness. The measurement result is shown in FIG. The value of this correction coefficient monotonically increases with increasing thickness. Using this value, the image information ratio was corrected by the equation (9). The result is shown in FIG.
【００２９】[0029]
【数９】 [Equation 9]
【００３０】図４から判るように、画像情報比の厚さ依
存性が非常に少なくなり、本発明による補正方法の効果
が実証された。なお、数８において正規化を行ったが、
係数値を変えることにより同様の結果が得られる。ま
た、低エネルギー領域のカウント数と高エネルギー以上
のカウント数を対数化した値の比、またはこの対数化し
た値の比のべき数を用いても同様の補正結果が得られ
た。さらに、本実施例ではアルミニウムを例として行っ
たが、材料を変えても本発明の効果が証明された。さら
に、Ｘ線エネルギー情報を用いた画像処理方法としてエ
ネルギー差分法があるが、この方法もＸ線ビームハード
ニングにより、厚さが厚くなるとコントラストが低下す
る。本発明はエネルギー差分法の補正にも効果がみられ
た。As can be seen from FIG. 4, the thickness dependence of the image information ratio is very small, demonstrating the effect of the correction method according to the present invention. In addition, although the normalization was performed in Equation 8,
Similar results are obtained by changing the coefficient values. Similar correction results were obtained by using the ratio of the logarithmic value of the count numbers in the low energy region and the high energy or higher, or the exponentiation of the ratio of the logarithmic values. Furthermore, although aluminum was used as an example in this example, the effect of the present invention was proved even if the material was changed. Further, there is an energy difference method as an image processing method using the X-ray energy information, but this method also reduces the contrast as the thickness increases due to X-ray beam hardening. The present invention was also effective in correcting the energy difference method.
【００３１】[0031]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、放射線の
エネルギー情報を用いた画像処理において、透過情報の
比を用いて補正を行うことにより、被写体の厚さの変化
に依存したビームハードニング現象の補正を行うことが
できて被写体厚さに依存しない正しい画像処理結果を得
ることができるものである。As described above, according to the present invention, in the image processing using the energy information of the radiation, the correction is performed by using the ratio of the transmission information, so that the beam hardware depending on the change of the thickness of the object is obtained. It is possible to correct the learning phenomenon and obtain a correct image processing result independent of the subject thickness.
【図１】本発明の一実施例を示す放射線画像装置のブロ
ック図である。FIG. 1 is a block diagram of a radiation imaging apparatus showing an embodiment of the present invention.
【図２】図１のディスクリミネータ３ａ，３ｂのエネル
ギー分離法を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an energy separation method of the discriminators 3a and 3b of FIG.
【図３】被写体の厚さに対する画像情報比を示す図であ
る。FIG. 3 is a diagram showing an image information ratio with respect to the thickness of a subject.
【図４】本発明の実施例における被写体の厚さに対する
透過強度比を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a transmission intensity ratio with respect to the thickness of a subject in the embodiment of the present invention.
【図５】本発明の実施例における被写体の厚さに対する
画像情報比を図４の透過強度比で補正した値を示す図で
ある。FIG. 5 is a diagram showing a value obtained by correcting the image information ratio with respect to the thickness of the subject in the embodiment of the present invention by the transmission intensity ratio of FIG.
【図６】アルミニウムのＸ線光子エネルギーと光子減弱
係数の関係を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a relationship between X-ray photon energy and photon attenuation coefficient of aluminum.
１ センサ ３ａ，３ｂ ディスクリミネータ ４ａ，４ｂ カウンタ ５ 画像処理部 ６ 表示部 1 sensor 3a, 3b discriminator 4a, 4b counter 5 image processing unit 6 display unit
Claims (2)
エネルギーまたはエネルギー帯の放射線を同一方向から
照射して得られる２つのエネルギー帯の放射線透過画像
情報を得、前記２つのエネルギー帯の放射線透過画像情
報を用いて画像情報処理を行う放射線画像処理方法であ
って、２つのエネルギー帯の前記被写体を透過する放射
線透過強度の比、または前記放射線透過強度を対数化し
た値の比、または前記対数化した値の比のべき数を補正
係数として用いて、前記２つのエネルギー帯の放射線透
過画像情報における被写体厚さに依存する放射線スペク
トルのビームハードニングを補正して画像処理する放射
線画像処理方法。1. Radiation transmission image information of two energy bands obtained by irradiating the same subject with radiation of two or more kinds of different energies or energy bands from the same direction, and radiation of the two energy bands. A radiation image processing method for performing image information processing using transmission image information, comprising a ratio of radiation transmission intensities that transmit the subject in two energy bands, or a ratio of values obtained by logarithmizing the radiation transmission intensities, or A radiation image processing method for performing image processing by correcting the beam hardening of the radiation spectrum depending on the subject thickness in the radiation transmission image information of the two energy bands by using a power of the ratio of logarithmic values as a correction coefficient. ..
射線センサと、前記放射線センサから出力される放射線
光子を高エネルギー以上および低エネルギー以上に分離
するディスクリミネータと、前記ディスクリミネータか
ら出力される高エネルギー以上および低エネルギー以上
の放射線光子パルスをそれぞれカウントするカウンタ
と、前記カウンタから出力される低エネルギー以上のカ
ウント数から高エネルギー以上のカウント数を差し引い
た低エネルギー領域のカウント数と前記高エネルギー以
上のカウント数の比、または前記低エネルギー領域のカ
ウント数と前記高エネルギー以上のカウント数を対数化
した値の比、または前記対数化した値の比のべき数を演
算し、前記演算値を放射線透過画像情報における補正値
として用いて画像処理する画像処理部と、前記画像処理
部で画像処理された画像情報を表示する表示部とを備え
た放射線画像装置。2. A radiation sensor that detects transmitted radiation that has passed through a subject, a discriminator that separates radiation photons output from the radiation sensor into high energy and low energy, and a discriminator that outputs the radiation photon. A counter for counting radiation photon pulses of high energy or higher and low energy or higher, and a count number in the low energy region obtained by subtracting a count number of high energy or higher from a count number of low energy or higher output from the counter and the high count. The ratio of the number of counts of energy or more, or the ratio of the number of counts of the low energy region and the number of counts of high energy or more, or the exponentiation of the ratio of the number of logarithms, and the calculated value Is used as a correction value in the radiographic image information to perform image processing. The radiation imaging device comprising an image processing unit, a display unit for displaying the image information to image processing by the image processing unit to be.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4020344A JPH05216141A (en) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | Method for processing radiographic image and radiographic imaging device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4020344A JPH05216141A (en) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | Method for processing radiographic image and radiographic imaging device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05216141A true JPH05216141A (en) | 1993-08-27 |
Family
ID=12024522
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4020344A Pending JPH05216141A (en) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | Method for processing radiographic image and radiographic imaging device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05216141A (en) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347328A (en) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Hitachi Ltd | Radiographic apparatus |
| JP2008062035A (en) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | General Electric Co <Ge> | Measure and system which form multiplex spectrum image of subject |
| JP2012509697A (en) * | 2008-11-25 | 2012-04-26 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Spectral imaging |
| JP2013236962A (en) * | 2007-08-15 | 2013-11-28 | Fujifilm Corp | Image component separating device, method and program |
| JP2016154577A (en) * | 2015-02-23 | 2016-09-01 | コニカミノルタ株式会社 | Radiographic imaging system, radiographic imaging apparatus, and body thickness estimation method |
| JP2018134205A (en) * | 2017-02-21 | 2018-08-30 | 富士フイルム株式会社 | Energy subtraction processing apparatus, method, and program |
-
1992
- 1992-02-06 JP JP4020344A patent/JPH05216141A/en active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347328A (en) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Hitachi Ltd | Radiographic apparatus |
| JP2008062035A (en) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | General Electric Co <Ge> | Measure and system which form multiplex spectrum image of subject |
| JP2013236962A (en) * | 2007-08-15 | 2013-11-28 | Fujifilm Corp | Image component separating device, method and program |
| JP2012509697A (en) * | 2008-11-25 | 2012-04-26 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Spectral imaging |
| JP2016154577A (en) * | 2015-02-23 | 2016-09-01 | コニカミノルタ株式会社 | Radiographic imaging system, radiographic imaging apparatus, and body thickness estimation method |
| JP2018134205A (en) * | 2017-02-21 | 2018-08-30 | 富士フイルム株式会社 | Energy subtraction processing apparatus, method, and program |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1420618B1 (en) | X-Ray imaging apparatus | |
| US5132998A (en) | Radiographic image processing method and photographic imaging apparatus therefor | |
| US6195413B1 (en) | Method and arrangement for detecting X-rays | |
| Nishikawa et al. | Signal‐to‐noise properties of mammographic film–screen systems | |
| US4870667A (en) | Radiation detector | |
| EP2052279B1 (en) | Apparatus and method for spectral computed tomography | |
| EP2370836B1 (en) | Spectral imaging | |
| Wagner | Fast Fourier digital quantum mottle analysis with application to rare earth intensifying screen systems | |
| WO2017073399A1 (en) | X-ray ct data processing device and x-ray ct device comprising same | |
| US5530735A (en) | On-line measurement of x-ray tube voltage in a CT system | |
| US6329651B1 (en) | Process and device for real time sorting of detection events from a gamma ray detector and correction of the uniformity of detection elements from the detector | |
| WO2016039054A1 (en) | Photon counting ct device and estimated exposure level computation method | |
| US8611625B2 (en) | Tomographic apparatus | |
| JP2000305208A (en) | Method and device for evaluating digital radiation image | |
| EP0346530A1 (en) | Method and structure for optimizing radiographic quality by controlling X-ray tube voltage, current, focal spot size and exposure time | |
| JPH05216141A (en) | Method for processing radiographic image and radiographic imaging device | |
| WO2015146691A1 (en) | X-ray imaging apparatus | |
| Waggener et al. | Measured X-ray spectra from 25 to 110 kVp for a typical diagnostic unit | |
| Illers et al. | Measurement of the detective quantum efficiency (DQE) of digital x-ray imaging devices according to the standard IEC 62220-1 | |
| CA1260160A (en) | Radiation detection apparatus and method | |
| JPH05217689A (en) | Method and device for x-ray photographing | |
| Tsutsui et al. | CdTe semiconductor X-ray imaging sensor and energy subtraction method using X-ray energy information | |
| JPH0341933A (en) | Radiograph processing method and photographing device | |
| Tsutsui et al. | X-ray energy separation method using a CdTe semiconductor X-ray imaging sensor and photon counting method | |
| Wagner et al. | Noise measurements on rare-earth intensifying screen systems |