JPH05215819A - Timing set allocation treating method - Google Patents

Timing set allocation treating method

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Publication number
JPH05215819A
JPH05215819A JP4017441A JP1744192A JPH05215819A JP H05215819 A JPH05215819 A JP H05215819A JP 4017441 A JP4017441 A JP 4017441A JP 1744192 A JP1744192 A JP 1744192A JP H05215819 A JPH05215819 A JP H05215819A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
timing
timing set
specifications
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4017441A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Jiyunko Konishi
潤子 小西
Shinichi Arai
信一 荒井
Kouichi Nakura
康一 那倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP4017441A priority Critical patent/JPH05215819A/en
Publication of JPH05215819A publication Critical patent/JPH05215819A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To allocate timing sets in reduced manhours while taking users into consideration by inputting specifications of various kinds of testers and information on the user designated timing sets, and allocating automatically the timing sets according to specifications of tests. CONSTITUTION:Data being a treating object are taken in from a test specification data file 10 from which respective signals are outputted in a periodic unit of respective tests and to which operation data values for tester resources are inputted, a tester specification data file 11 to which specifications of various kinds of testers are inputted and a timing set data file 12 being designated by users, and a timing set allocation treatment 13 is carried out so as to satisfy specifications of tests, and the result is outputted to a file 14. This output result becomes an input data for a test program.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はLSIをテストするテス
トプログラム生成時の入力データとなるテスト仕様を自
動生成する処理の中で、タイミングセットの配分処理方
式に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a timing set distribution processing method in a process of automatically generating a test specification which is input data when a test program for testing an LSI is generated.

【0002】[0002]

【従来の技術】類似している部品を1つにグループ化す
ることで、部品の挿入機に対する段取り回数を削減しよ
うとする方式が特開昭60−80299に記載されてい
る。
2. Description of the Related Art Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 60-80299 discloses a method for grouping similar parts into one group to reduce the number of setups for the inserter.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術ではグループの作成時の制約は、1つのグループ
に属する部品数に制限があり、最終的に求めたグループ
数には制限がない。また、ユーザの希望を反映すること
ができなかった。
However, in the above-mentioned conventional technique, the limitation at the time of creating a group is that the number of parts belonging to one group is limited, and the finally obtained number of groups is not limited. Moreover, the user's wishes could not be reflected.

【0004】本発明は各種テスタの仕様と、ユーザの指
定タイミングセット情報を入力データとすることで、其
の仕様に基づいたタイミングセットの配分処理を自動で
行うことを可能とする方式を提供することを目的とす
る。
The present invention provides a method for automatically performing timing set distribution processing based on specifications of various testers and user-specified timing set information as input data. The purpose is to

【0005】[0005]

【作用】本発明は、入力データであるテスタ仕様に従っ
たタイミングセットの自動配分を行う。従って、テスタ
仕様を変えることで複数機種のテスタに対応するタイミ
ングセットの配分を行うことができる。
According to the present invention, the timing set is automatically distributed according to the tester specifications which are the input data. Therefore, by changing the tester specifications, it is possible to distribute the timing set corresponding to a plurality of types of testers.

【0006】[0006]

【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。EXAMPLES Examples of the present invention will be described below.

【0007】図1は本発明によるタイミングセット配分
処理の実施例を示すシステム構成である。各テスト周期
単位での各信号を出力するためのテスタ資源への動作デ
ータ値が入力されているテスト仕様データファイル1
0、各種テスタの仕様が入力してあるテスタ仕様データ
ファイル11、及びユーザが指定したタイミングセット
データファイル12から処理の対象となるデータを取り
込んでテスト仕様を満たすようなタイミングセットの配
分処理を行い13、その結果をファイル14に出力す
る。この出力結果は、テストプログラム生成の入力デー
タとなる。
FIG. 1 is a system configuration showing an embodiment of timing set distribution processing according to the present invention. Test specification data file 1 in which the operation data value to the tester resource for outputting each signal in each test cycle unit is input
0, the tester specification data file 11 in which the specifications of various testers are input, and the timing set data file 12 specified by the user are taken in, and the timing set distribution processing is performed so as to satisfy the test specifications. 13, the result is output to the file 14. This output result becomes the input data for generating the test program.

【0008】[0008]

【表1】 [Table 1]

【0009】表1は図1に記述した3つの入力データの
内のテスト仕様データファイルの例である。これらは各
テスト周期単位に、そのテスト周期で使用するテスタ資
源の種類、及びその資源に設定した値、また定義してあ
ればその変数、及び値を求めるための演算式から成り立
っている。タイミングセットとは、このテスト周期単位
でテスタ資源に設定されたデータをひと纏まりとして表
すものである。本発明ではこのテスト周期の各テスタ資
源への値等を参照して、各テスト周期に同じタイミング
セットが配分できるかをチェックして、使用するタイミ
ングセット数を最少にする様に配分することである。
Table 1 is an example of the test specification data file among the three input data described in FIG. In each test cycle unit, these consist of the type of tester resource used in the test cycle, the value set in the resource, the variable if defined, and an arithmetic expression for obtaining the value. The timing set represents a set of data set in the tester resource in units of this test cycle. In the present invention, the value of each test cycle for each tester resource is referenced to check whether the same timing set can be distributed to each test cycle, and to allocate the number of timing sets to be used to the minimum. is there.

【0010】[0010]

【表2】 [Table 2]

【0011】表2は図1に記述した入力データのうちテ
スタ仕様データファイルの例である。各テスタ機種の制
約事項、例えば、タイミングセット種類や数、タイミン
グセットを配分する上での規則等を定義しておく。配分
処理を実行する前に対象とするテスタを決め、その情報
を読み込みそれに従って処理を行う。このデータファイ
ルをテスタ機種単位で用意しておけば、テスタの機種が
変わっても、処理実行時に読み込むファイルをそのテス
タ用のファイルにするだけで内部の処理を変更する必要
がない。
Table 2 is an example of a tester specification data file of the input data described in FIG. Restrictions for each tester model, such as the type and number of timing sets, rules for allocating timing sets, etc., are defined. Before executing the distribution processing, the target tester is determined, the information is read, and the processing is performed according to the information. If this data file is prepared for each tester model, even if the model of the tester changes, it is not necessary to change the internal processing by only changing the file read at the time of processing to the file for that tester.

【0012】[0012]

【表3】 [Table 3]

【0013】表3は入力データのうちユーザ指定タイミ
ングセットデータである。この表は、各テスト周期のデ
ータと、テスト周期に指定するユーザ指定フラグをセツ
トするデータと、実際にセットするタイミングセット名
を入力する項目から成り立っている。この表に入力する
タイミングセットの指定方法としては4種類の方法があ
る。1つは、単独配分である。これは、指定したテスト
周期は、他のテスト周期と共通のタイミングセットを配
分可能であっても単独で1つタイミングセットを割り当
てることを意味する。2つ目は、配分せずという指定が
できる。これは、あるテスト周期にタイミングセットを
配分する必要がないときに使用する。3つ目は、タイミ
ングセット番号をテスト周期で指定する場合である。最
後は、共通配分の指定である。複数のテスト周期で同じ
タイミングセットを指定する場合に使用する。
Table 3 shows user-specified timing set data among the input data. This table consists of data for each test cycle, data for setting a user-specified flag specified in the test cycle, and items for inputting the timing set name to be actually set. There are four methods for specifying the timing set to be input in this table. One is single allocation. This means that the designated test cycle independently allocates one timing set even if a common timing set with another test cycle can be allocated. The second option is to specify no allocation. This is used when it is not necessary to allocate a timing set for a test cycle. The third is a case where the timing set number is designated by the test cycle. The last is the designation of common allocation. Used when specifying the same timing set in multiple test cycles.

【0014】どのテスト周期とどのテスト周期とが同じ
タイミングセットを配分できるかを求めるための評価関
数としてテスト周期間の類似度を使用することとした。
The similarity between test cycles is used as an evaluation function for determining which test cycle and which test cycle can allocate the same timing set.

【0015】このテスト周期間の類似度の計算方法を示
す。これは、表1のテスト仕様データファイルを使用し
て行う。表4は各テスト周期でテスタ資源データに設定
した値を示したものである。
A method of calculating the similarity between the test cycles will be described. This is done using the test specification data file in Table 1. Table 4 shows the values set in the tester resource data in each test cycle.

【0016】[0016]

【表4】 [Table 4]

【0017】テスタ資源に設定するものは、実際の値の
みだけではなくその値を求めた時の演算式、及び設定し
てある変数があるが、今回の類似度の計算で対象とする
データは設定した値のみとした。
What is set in the tester resource is not only an actual value, but also an arithmetic expression when the value is obtained, and a variable that has been set. Only the set value was used.

【0018】ここで、テスト周期間に類似度があるとい
うことは以下の3つの条件のうちいずれかを満たしてい
る場合である。
Here, the fact that there is a similarity between the test cycles means that one of the following three conditions is satisfied.

【0019】1つは同一のテスタ資源において同じ値が
設定されているか、2つ目は片方のテスト周期のみ値が
セットしてある、3つ目はどちらも値がセットしていな
い場合である。この3つのうちいずれかを全てのテスト
資源で満たす場合、この2つのテスト周期の類似度を計
算することができる。この3つの条件を全て満たさない
場合には、即ち、同一のテスタ資源に2つのテスト周期
が違う値を設定していれば、それらは1つのタイミング
セットを配分することができない。この場合2つのテス
ト周期の類似度はなしというこひとで−1を設定する。
One is when the same value is set in the same tester resource, the second is when a value is set only in one test cycle, and the third is when neither value is set. .. If any of the three test resources is satisfied by all the test resources, the similarity between the two test cycles can be calculated. If all three conditions are not satisfied, that is, if two test cycles have different values set for the same tester resource, they cannot allocate one timing set. In this case, -1 is set based on the fact that there is no similarity between the two test cycles.

【0020】上記の3つの条件を全てのテスト資源につ
いて満たしている時、その2つのテスト周期でどちらの
テスタ資源でも値が設定していないテスタ資源数をその
類似度とする方法で計算した例を表5に示す。
An example in which the above three conditions are satisfied for all test resources, and the number of tester resources for which no value is set in either tester resource in the two test cycles is used as the similarity. Is shown in Table 5.

【0021】[0021]

【表5】 [Table 5]

【0022】すなわち、表4のテスト周期TO_1とTO_5と
の類似度は、TEST_RES_5,TEST_RES_7の2となる。
That is, the similarity between the test periods TO_1 and TO_5 in Table 4 is 2 of TEST_RES_5 and TEST_RES_7.

【0023】この類似度の計算方法には、値と演算式の
両方を見て、値が同じであっても演算式が異なれば、そ
の設定値は違うものと見做す場合もある。これは、この
処理を実行する前に、どの類似度を使用するかを選択で
きる様になっている。
In this method of calculating the degree of similarity, there are cases where both the value and the arithmetic expression are viewed, and even if the values are the same, if the arithmetic expression is different, the set value is different. This allows the user to select which similarity to use before executing this process.

【0024】上記の類似度の計算方法を使用して、タイ
ミングセットの配分処理の流れを図2で説明する。
The flow of the timing set distribution process using the above similarity calculation method will be described with reference to FIG.

【0025】まず、21で本処理の入力データとなる3
つのファイルを読み込む。つぎに、22でその入力ファ
イルのうちユーザ指定仕様ファイルの整合性をチェック
する。入力データとなる各テスト周期に未配分フラグを
立てる23。ユーザ指定情報から、指定周期に指定タイ
ミングセットを割り当てる24。25で全てのテスト周
期にタイミングセットを配分したか、又はタイミングセ
ット数が足りなくなるまで次の26から28の処理を繰
り返し行う。26で、未配分フラグの立っているテスト
周期間で類似度を計算し、その類似度の最大の組み合せ
のテスト周期の片方1つを選び、これと核周期と呼ぶ。
27において、核周期と同一グループにできるテスト周
期がなくなるまで次の29から210の処理を行う。2
9で核周期と未配分テスト周期との類似度を計算する。
210で計算した類似が最大となるテスト周期を選択
し、そのテスト周期を同一グループとする。更に、その
テスト周期のデータと核周期のデータから新たな核周期
データを作成し、選択したテスト周期に配分済みフラグ
を付ける。この27の処理が終わった時点で、同じタイ
ミングセットで定義できるテスト周期が決まる。
First, 3 which becomes the input data of this processing at 21
Read two files. Next, at 22 the consistency of the user-specified specification file among the input files is checked. An unallocated flag is set 23 in each test cycle that is input data. The designated timing set is assigned to the designated period from the user designated information 24. The following processes from 26 to 28 are repeated until the timing set is distributed to all the test periods at 25.25 or the number of timing sets becomes insufficient. At 26, the similarity is calculated between the test cycles in which the unallocated flag is set, and one of the test cycles having the maximum combination of the similarities is selected, which is called a nuclear cycle.
At 27, the following processes from 29 to 210 are performed until there are no more test cycles that can be grouped with the nuclear cycle. Two
At 9, the similarity between the nuclear cycle and the unallocated test cycle is calculated.
The test cycle having the maximum similarity calculated in 210 is selected, and the test cycle is set as the same group. Further, new nuclear cycle data is created from the data of the test cycle and the data of the nuclear cycle, and the distributed flag is attached to the selected test cycle. When the processing of 27 is finished, the test cycle that can be defined by the same timing set is determined.

【0026】表4のデータを使用して、実際のタイミン
グセットを配分する部分の処理を行う。まず、表4の各
テスト周期のデータから、上記に述べた類似度計算方法
で表5に示す類似度計算結果表を作成する。つぎに、そ
の類似度計算結果表から類似度が最大の組合せのテスト
周期を求める。この場合、テスト周期TO_2とTO_4とな
る。このうち片方のTO_2を核周期としてGROUP1に登録す
る。それを表6に示す。
Using the data in Table 4, the process of allocating the actual timing set is performed. First, the similarity calculation result table shown in Table 5 is created from the data of each test cycle of Table 4 by the similarity calculation method described above. Next, the test cycle of the combination having the maximum similarity is obtained from the similarity calculation result table. In this case, the test cycles are TO_2 and TO_4. One of these TO_2 is registered in GROUP1 as a nuclear cycle. It is shown in Table 6.

【0027】[0027]

【表6】 [Table 6]

【0028】[0028]

【表7】 [Table 7]

【0029】またTO_2に配分済フラグを立てる。GROUP1
と未配分フラグの立っているテスト周期即ち TO_1,TO_
3,TO_4,TO_5との類似度を計算する。その結果が表7で
ある。
Further, a distribution completion flag is set in TO_2. GROUP1
And the test cycle in which the unallocated flag is set, that is, TO_1, TO_
Calculate the similarity with 3, TO_4, TO_5. The results are shown in Table 7.

【0030】その結果からGROUP1との類似度が一番高い
テスト周期TO_4を選択する。選択したテスト周期のデー
タをGROUP1に入れ、TO_4に配分済フラグを立てる。この
処理を繰り返して、GROUP1を未配分テスト周期の類似度
が全て-1になった時点で1つのタイミングセットが割り
当てることのできるテスト周期の選択が終了する。即
ち、GROUP1に含まれたテスト周期に同一のタイミングセ
ットを割り当てることができる。この処理を全てのテス
ト周期にタイミングセットを配分するまで、または、テ
スタ仕様データファイル内に定義してあるタイミングセ
ットの数を越えないという条件を満たすまで行う。この
様にして、同じタイミングセットを配分できるテスト周
期を捜し、それらをひと纏め止めにすることでタイミン
グセットの数を最少にすることができる。
From the result, the test cycle TO_4 having the highest similarity to GROUP1 is selected. Put the data of the selected test cycle in GROUP1 and set the allocated flag in TO_4. This process is repeated, and when the similarity of the unallocated test cycle becomes all −1, the selection of the test cycle to which one timing set can be assigned ends. That is, the same timing set can be assigned to the test cycle included in GROUP1. This process is performed until the timing sets are distributed to all the test cycles or until the condition that the number of timing sets defined in the tester specification data file is not exceeded is satisfied. In this way, the number of timing sets can be minimized by searching for test cycles that can distribute the same timing set and locking them together.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明によれば、ユーザの指定情報を考
慮して、テスタ仕様を満たすようなタイミングセットを
自動的に配分することができるので工数削減に効果があ
る。
According to the present invention, the number of man-hours can be reduced because the timing set that satisfies the tester specifications can be automatically distributed in consideration of the user designation information.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のシステム構成図である。FIG. 1 is a system configuration diagram of the present invention.

【図2】本発明の配分処理装置の処理の流れを示した図
である。
FIG. 2 is a diagram showing a processing flow of a distribution processing apparatus of the present invention.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】LSIの機能をテストするテストプログラ
ムを生成する装置において、テストプログラム生成時の
入力データとなるテストタイミングデータを自動生成す
る処理において、各種テスタの仕様と、各テスト周期単
位の各信号の動作データ及び、ユーザの指定した仕様を
入力データとしてそれらを取り込む手段と、各テスト周
期間でテスタの資源に対する類似度を計算する手段と、
求めた類似度から同じタイミングセットで定義できる周
期を求めることによって最小限のタイミングセットを配
分する手段とからなることを特徴とするタイミングセッ
ト配分処理方式。
1. In a device for generating a test program for testing the function of an LSI, in a process for automatically generating test timing data which is input data when a test program is generated, specifications of various testers and each test cycle unit A signal operation data and a means for fetching the specifications specified by the user as input data; a means for calculating the similarity to the resource of the tester during each test cycle;
A timing set distribution processing method, comprising means for allocating a minimum timing set by calculating a period that can be defined by the same timing set from the calculated similarity.
JP4017441A 1992-02-03 1992-02-03 Timing set allocation treating method Pending JPH05215819A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4017441A JPH05215819A (en) 1992-02-03 1992-02-03 Timing set allocation treating method

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JP4017441A JPH05215819A (en) 1992-02-03 1992-02-03 Timing set allocation treating method

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JP4017441A Pending JPH05215819A (en) 1992-02-03 1992-02-03 Timing set allocation treating method

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JP (1) JPH05215819A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005121826A1 (en) * 2004-06-09 2005-12-22 Aldete Corporation Generating device, generating method, program and recording medium

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005121826A1 (en) * 2004-06-09 2005-12-22 Aldete Corporation Generating device, generating method, program and recording medium

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