JPH05215797A - Automatically measuring apparatus for non-linear distortion - Google Patents
Automatically measuring apparatus for non-linear distortionInfo
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- JPH05215797A JPH05215797A JP32110892A JP32110892A JPH05215797A JP H05215797 A JPH05215797 A JP H05215797A JP 32110892 A JP32110892 A JP 32110892A JP 32110892 A JP32110892 A JP 32110892A JP H05215797 A JPH05215797 A JP H05215797A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の利用分野】この発明は請求項1の前提部に記し
たように、相互変調法または差音法(Intermod
ulations−oder Differenzto
n−Verfahren)による、測定対象物の非直線
ひずみの自動測定用装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention, as described in the preamble of claim 1, uses an intermodulation method or an intermodulation method (Intermod method).
operations-oder Differentzto
The present invention relates to a device for automatically measuring non-linear strain of a measurement object by n-Verfahren).
【0002】[0002]
【従来の技術】電気音響学における非直線ひずみの測定
は、差音法についてはドイツ工業規格DIN45403
の第3葉により、また相互変調法については同第4葉に
よって規定されている。差音法の場合、周波数f1、f
2および指定の周波数間隔をもつ同じ振幅の二つの信号
が測定対象物の入力端に供給され、測定対象物の非対称
ひずみにより、周波数ゼロから周波数間隔の整数倍の間
隔にある差音が生じる。DIN規格では偶数次数または
奇数次数の差音含有率をいかにして測定するかが正確に
定められている。相互変調法の場合は、低い周波数f1
で大きい振幅の信号と、高い周波数f2で小さい振幅の
信号とが、測定対象物の入力端に供給される。測定対象
物の出力端には、本来の信号の他にさらに追加の変調周
波数が生じ、これらの周波数と振幅が測定される。個々
の側帯波周波数(Seitenfrequenzen)
と高い方の周波数の測定信号の測定実効値から、DIN
規格にしたがい相互変調率(Intermodulat
ionsfaktor)が算出される。差音法または相
互変調法を行うのに必要な周波数成分の測定は、従来は
大部分がたとえばアナログ測定技術で行われていた。そ
れはヘテロダインアナライザを用い、これによって周波
数スペクトルのすべての成分の周波数と振幅を測定し、
このようにして測定された実効値から差音含有率または
相互変調率を計算するものである。そしてこれらの方法
を、たとえば高速フーリエ変換(FFT)での全スペク
トルの計算によるデジタル測定技術で行うことは既知で
ある。しかし既知のすべてのアナログまたはデジタル測
定法では常に予め定めた測定順序に従うことが必要であ
り、このため長い測定時間が必要となる。つまり個々の
周波数成分の周波数位置の自動測定と識別は、既知の方
法では長い測定時間をもってしかできない。SMPTE
またはCCIF多重音法(CCIF−Mehrton
Methode)による被検体の相互変調率の選択的測
定のための構成もすでに既知である(例えばDE−PS
3114008またはFunkschau誌の1981
年25−26号、79−81ページ参照)。この方法の
場合は周波数の分離に高域通過フィルタと低域通過フィ
ルタが利用され、したがってこの既知の構成による測定
は比較的不正確である。と言うのはフィルタによるこの
おおまかな分では、妨害のレベル(Storgross
en)も共に測定されるためである。したがって本発明
の課題は、これらの測定を差音法または相互変調法によ
り自動的に、より迅速にまた正確に測定することができ
る構成を提供することにある。上述の課題は請求項1に
記載の前提部から出発しその特徴部によって解決され
る。有利な詳細構成は差音法あるいは相互変調法にそれ
ぞれ適応した従属請求項から明らかとなる。2. Description of the Related Art Nonlinear distortion in electroacoustics is measured by the German Industrial Standard DIN 45403 for the difference sound method.
Is defined by the third leaf of the above, and the intermodulation method is defined by the fourth leaf of the same. In the case of the difference tone method, the frequencies f1 and f
Two signals of the same amplitude with 2 and a specified frequency interval are fed to the input of the object to be measured, and the asymmetrical distortion of the object to be measured causes a difference tone from zero frequency to an integer multiple of the frequency interval. According to the DIN standard, how to measure the difference sound content of even-order or odd-order is accurately defined. In the case of the intermodulation method, the low frequency f1
A signal having a large amplitude at and a signal having a small amplitude at a high frequency f2 are supplied to the input end of the measurement object. In addition to the original signal, additional modulation frequencies occur at the output of the object to be measured, and these frequencies and amplitudes are measured. Individual sideband frequency (Seitenfrequency)
From the measured RMS value of the measured signal of the higher frequency to DIN
Intermodulation rate according to the standard
ionsfactor) is calculated. The measurement of the frequency components necessary for performing the difference tone method or the intermodulation method has heretofore mostly been performed by analog measurement techniques. It uses a heterodyne analyzer, which measures the frequency and amplitude of all components of the frequency spectrum,
The difference sound content rate or the intermodulation rate is calculated from the thus-measured effective value. It is known to carry out these methods with digital measurement techniques, for example by calculating the full spectrum with a fast Fourier transform (FFT). However, all known analog or digital measuring methods always require that a predetermined measuring sequence be followed, which requires a long measuring time. In other words, the automatic measurement and identification of the frequency positions of the individual frequency components can only be performed with known methods with a long measuring time. SMPTE
Or CCIF multiple tone method (CCIF-Mehrton
A configuration for the selective measurement of the intermodulation rate of the object by means of a method is already known (for example, DE-PS).
3114008 or 1981 in the Funkschau magazine.
25-26, page 79-81). In this method, a high-pass filter and a low-pass filter are used for frequency separation, and the measurement with this known arrangement is therefore relatively inaccurate. This is because this filter is roughly the level of disturbance (Storgross).
This is because en) is also measured. Therefore, an object of the present invention is to provide a configuration capable of automatically, more quickly and accurately measuring these measurements by the difference tone method or the intermodulation method. The above-mentioned problem is solved starting from the preamble of claim 1 and by its features. Advantageous details emerge from the subclaims which are adapted to the difference tone method or the intermodulation method, respectively.
【0003】[0003]
【課題を解決するための手段】本発明の非直線ひずみの
自動測定装置は、異なる周波数の二つの信号(f1,f
2)を測定対象物の出力端に供給する時に生じる周波数
スペクトルの評価により測定対象物の非直線ひずみの自
動測定をするための構成であって、直列につないだ第1
と第2の二つの周波数分析器(1、2)を有し、第1の
周波数分析器(1)は測定対象物(4)の出力端(3)
から供給される測定信号のうちで最大振幅の周波数の成
分(たとえばf1)を識別し、その周波数(f1)を決
定して、この周波数分を測定信号から分離して残留信号
を作り、これを第2の周波数分析器(2)に供給するも
のであり、第2の周波数分析器(2)はこの残留信号か
ら最大振幅の周波数成分(たとえばf2)を識別し、そ
の周波数(f2)を決定し、この周波数f2の成分を残
留信号から分離するものであり、それらにより、最大振
幅の、これら測定した両周波数(f1,f2)から、相
互変調法または2音法の原理で、第2の周波数分析器
(2)からの測定信号(7)の実効値を測定する周波数
の成分(たとえば差音法による周波数成分D=f2−f
1)を決定し、その周波数成分について測定信号(7)
の実効値を測定する。SUMMARY OF THE INVENTION An automatic non-linear strain measuring apparatus according to the present invention comprises two signals (f1, f1) having different frequencies.
The configuration for automatically measuring the non-linear strain of the measurement target by evaluating the frequency spectrum generated when 2) is supplied to the output end of the measurement target, which is connected in series.
And a second frequency analyzer (1, 2), and the first frequency analyzer (1) is the output end (3) of the measurement object (4).
Of the measurement signal supplied from the measurement signal, the frequency component having the maximum amplitude (for example, f1) is identified, its frequency (f1) is determined, and this frequency component is separated from the measurement signal to form a residual signal. The second frequency analyzer (2) supplies the second frequency analyzer (2) with the frequency component (eg, f2) having the maximum amplitude, and determines the frequency (f2) from the residual signal. However, this frequency f2 component is separated from the residual signal, so that from these two measured frequencies (f1, f2) of the maximum amplitude, the second modulation is performed by the intermodulation method or the two-tone method. A frequency component for measuring the effective value of the measurement signal (7) from the frequency analyzer (2) (for example, frequency component D = f2-f by the difference tone method).
1) to determine the measurement signal (7) for the frequency component
The effective value of is measured.
【0004】本発明による構成は、差音法または相互変
調法による測定対象物の被直線ひずみの全自動測定を可
能とする。これは本発明による構成が測定対象物の入力
端に供給される両周波数成分の識別をそれぞれ全自動で
可能とするためである。それから次に既知の方法で、そ
の実効値が測定されるべき測定信号の周波数成分を決定
することができ、これらの値からDIN規格による差音
含有率または相互変調率が計算される。周波数分析器の
使用により、各周波数成分の周波数選択的測定が保証さ
れ、本来の測定周波数の周囲にある、非調和性のひずみ
の測定による測定の不正確性が避けられる。しかも本発
明による構成は、アナログ技術でもデジタル技術でも構
成することができる。アナログ技術では周波数分析器と
してたとえば通常のヘテロダインアナライザが利用さ
れ、これにより希望の周波数f1とf2の成分の周波数
と振幅を決定することが可能となり、また本来の入力信
号からこれらの周波数成分を切離し、残る残留信号をこ
れらの周波数成分なしで作ることも可能となる。しかし
特に簡単なのは、本発明による構成をデジタル技術で構
成することである。この場合、周波数分析器としては、
市販の装置が適している。これらは既知の周波数変換
法、たとえばFFTにしたがって作動する。またデジタ
ル化した入力信号からさらに最大振幅の周波数成分を識
別して分離し、残る残留信号をデジタル信号としてこれ
らの周波数成分なしで作り以後の評価のために供するこ
とができる。このためには原則として既知のすべての周
波数変換法が適している。たとえばH.W.Schus
sler著「信号処理のためのデジタルシステム」”D
igitale Systeme zur Signa
lverarbeitung”,ドイツ国Spring
er出版社1973年刊の、特に165から170ペー
ジに記載されているようなものが適している。本発明に
よる構成は差音含有率または相互変調率の全自動測定を
可能とするばかりでなく、測定を平行的に行えるため、
従来法よりはるかに迅速な測定を可能とする。The arrangement according to the invention enables a fully automatic measurement of the linear distortion of the measuring object by means of the difference tone method or the intermodulation method. This is because the configuration according to the present invention enables the automatic identification of both frequency components supplied to the input end of the measurement object. It is then possible in a known manner to determine the frequency components of the measurement signal whose effective value is to be measured, from which the difference tone content or intermodulation rate according to the DIN standard is calculated. The use of a frequency analyzer ensures a frequency-selective measurement of each frequency component and avoids measurement inaccuracies due to the measurement of anharmonic distortions around the original measurement frequency. Moreover, the arrangement according to the invention can be constructed in analog or digital technology. In analog technology, for example, a normal heterodyne analyzer is used as a frequency analyzer, which makes it possible to determine the frequencies and amplitudes of the desired frequency components f1 and f2, and also to separate these frequency components from the original input signal. It is also possible to create the remaining residual signal without these frequency components. However, it is particularly simple to implement the arrangement according to the invention in digital technology. In this case, the frequency analyzer
Commercially available equipment is suitable. These operate according to known frequency conversion methods, such as FFT. Further, the frequency component having the maximum amplitude can be further identified and separated from the digitized input signal, and the remaining residual signal can be produced as a digital signal without these frequency components and can be used for the subsequent evaluation. In principle, all known frequency conversion methods are suitable for this purpose. For example, H. W. Schus
sler "Digital system for signal processing""D
digital System zur Signa
lverarbeitung ", Spring, Germany
Suitable are those published by er Publishing Company, 1973, in particular as described on pages 165 to 170. The configuration according to the present invention not only enables the fully automatic measurement of the difference sound content rate or the intermodulation rate, but also allows the measurement to be performed in parallel,
It enables much faster measurement than conventional methods.
【0005】[0005]
【実施例】本発明を以下図を参照しつつ、実施例につい
てさらに詳細に説明する。図1はDIN45403の第
3葉に示された差音法による差音ひずみの測定のための
本発明による原理的回路図を示す。この測定構成は直列
につないだ第1及び第2の周波数分析器1と2を有し、
これらは第1の周波数分析器1が測定対象物4の出力端
3から供給された測定信号から、この測定信号中で最大
の振幅を有する周波数成分f1を識別する。差音法の場
合、測定対象物4の入力端に同じ振幅をもつ二つの周波
数f1とf2が供給されるが、第1の周波数分析器1は
これらの同じ大きさの両成分の一つを最大値と識別す
る。図示した例では第1の周波数f1を最大値と識別し
た場合を示す。第1の周波数分析器1は最大周波数成分
を識別するのみならず、同時にその周波数をも測定する
ように構成されている。したがって第1の周波数分析器
1の出力端5には、測定信号の最大振幅の、周波数f1
の値に相当するデジタル信号が生じる。周波数分析器1
はさらに、本来の測定信号からこの第1の周波数成分f
1を分離して、この第1の周波数成分f1をもはや含ま
ない残留信号をも作るように構成されている。この残留
信号は次に分析器1と同じように構成された第2の周波
数分析器2に供給される。第2の周波数分析器2は前記
残留信号からさらにその中での最大振幅の第2の周波数
成分(この例ではf2)を識別し、その第2周波数を測
定し、出力端6で次の処理に供する。さらに同時にこの
周波数成分f2をもはや含まない第2の残留信号が作ら
れ、これは出力端7に出力されて以後の評価に供され
る。こうして測定した第1と第2の周波数値f1とf2
の値から加算回路8において差D=f2−f1の値が得
られる。DIN規格に従えば、2次の差音ひずみが差音
f2−f1の実効値に一致した後なお2次の差音ひずみ
の測定のために必要なステップは、帯域フィルタ9をこ
の周波数D=f2−f1に調節し、この帯域フィルタ9
に供給された残留信号について、実効値測定器10を用
いてこの周波数成分の実効値を測定することだけであ
る。測定対象物の出力端では、上記の他、実効値測定器
11を通じて出力端3での全周波数混合の実効値を電圧
Uaとして測定し、実効値測定器10で測定された周波
数成分f2−f1の実効値と上記実効値Uaとから、図
1にも示した方程式 により、図示されていない公知の計算機でDIN規格に
よる2次差音含有率d2が計算される。Embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a principle circuit diagram according to the invention for the measurement of the difference tone distortion by the difference tone method shown in the third leaf of DIN 45403. This measurement arrangement has first and second frequency analyzers 1 and 2 connected in series,
From the measurement signal supplied by the first frequency analyzer 1 from the output 3 of the object 4 to be measured, the frequency component f1 having the largest amplitude in this measurement signal is identified. In the case of the difference sound method, two frequencies f1 and f2 having the same amplitude are supplied to the input end of the measuring object 4, but the first frequency analyzer 1 outputs one of these two components having the same magnitude. Identify as the maximum value. The illustrated example shows a case where the first frequency f1 is identified as the maximum value. The first frequency analyzer 1 is arranged not only to identify the maximum frequency component, but at the same time to measure its frequency. Therefore, at the output end 5 of the first frequency analyzer 1, the frequency f1 of the maximum amplitude of the measurement signal
A digital signal corresponding to the value of Frequency analyzer 1
From the original measurement signal, this first frequency component f
It is configured to separate 1's and also produce a residual signal that no longer contains this first frequency component f1. This residual signal is then fed to a second frequency analyzer 2, which is constructed similarly to the analyzer 1. The second frequency analyzer 2 further identifies from the residual signal a second frequency component of maximum amplitude therein (f2 in this example), measures its second frequency and at the output 6 the following processing: To serve. At the same time, a second residual signal is produced which no longer contains this frequency component f2, which is output at the output 7 for further evaluation. The first and second frequency values f1 and f2 thus measured
The value of the difference D = f2-f1 is obtained in the adder circuit 8 from the value of. According to the DIN standard, the steps necessary for measuring the second-order difference sound distortion after the second-order difference sound distortion coincides with the effective value of the difference sound f2-f1 are as follows. Adjust to f2-f1 and use this bandpass filter 9
It is only necessary to measure the effective value of this frequency component using the effective value measuring device 10 with respect to the residual signal supplied to. At the output end of the measurement object, in addition to the above, the effective value of all frequency mixing at the output end 3 is measured as the voltage Ua through the effective value measuring device 11, and the frequency components f2-f1 measured by the effective value measuring device 10 are measured. From the rms value of and the rms value Ua, the equation shown in FIG. Thus, the second-order difference sound content rate d2 according to the DIN standard is calculated by a known computer (not shown).
【0006】同様にしてたとえば3次の上下の差音含有
率も計算することができ、このために同調可能な二つの
帯域フィルタ12と13が設けられている。一方の帯域
フィルタ12周波数2f1−f2に調節される。加算器
14において低い方の周波数f1の成分と、両周波数成
分f2−f1の差Dの成分の間の差が形成される。この
ために周波数分析器の出力端5と6に追加の識別回路が
配属され、これから両周波数f1とf2のいずれの方が
それぞれ大きいかを確認決定する。ただしこの確認決定
は主として周波数分析器1と2とで直接容易に行われ、
定義の通りに出力端5が低い方の周波数f1の成分を、
また主力端6が高い方の周波数の成分f2を供給する。
同様にして加算器15では、周波数が高い方の周波数成
分f2と差D(=f2−f1)との間の和(2f2−f
1)が形成され、この周波数に帯域フィルタ13が調節
される。したがって3次の差音含有率の決定のために、
周波数成分に自動的に調節された帯域フィルタ12と1
3が、出力端7の残留信号から対応する周波数成分を濾
過して出力し、実効値測定器16と17を通じて再びこ
れらの周波数成分の対応する実効値が測定される。そし
てその実効値によって図1にも示した方程式 によって、Uaを考慮した3次の上下の差音含有率が、
図示されていない公知の計算機を通じて計算される。In the same way, for example, the third-order upper and lower differential sound content can also be calculated, for which two tunable bandpass filters 12 and 13 are provided. One band filter 12 frequency is adjusted to 2f1-f2. In the adder 14, the difference between the component of the lower frequency f1 and the component of the difference D of both frequency components f2-f1 is formed. For this purpose, an additional identification circuit is assigned to the outputs 5 and 6 of the frequency analyzer, from which it is determined which of the two frequencies f1 and f2 is respectively greater. However, this confirmation decision is mainly made directly and easily by the frequency analyzers 1 and 2,
As defined, the component of the frequency f1 whose output end 5 is lower,
Further, the main force end 6 supplies the component f2 of the higher frequency.
Similarly, in the adder 15, the sum (2f2-f) between the frequency component f2 having the higher frequency and the difference D (= f2-f1) is obtained.
1) is formed and the bandpass filter 13 is adjusted to this frequency. Therefore, for the determination of the third-order difference sound content rate,
Bandpass filters 12 and 1 automatically adjusted to frequency components
3 filters and outputs the corresponding frequency components from the residual signal at the output 7, and the corresponding RMS values of these frequency components are measured again via the RMS measuring units 16 and 17. And the equation shown in Fig. 1 by its effective value Thus, the third-order upper and lower differential sound content rates considering Ua are
It is calculated through a known computer (not shown).
【0007】この図1による構成は主としてアナログ技
術で示したが、それはデジタル技術においても同様に完
全に実現される。しかもそれはたとえば通常の既知のF
FT分析器の使用によって可能であり、これが周波数分
析器1と2の機能および同調可能な帯域フィルタ9、1
2、13に代わるものである。測定対象物4の出力信号
のデジタル化により、周波数成分f1とf2のそれぞれ
の残留信号の形成、及びそれぞれ希望の周波数成分への
帯域フィルタ9、12、13の調節が、純デジタル式の
周波数変換により行いうる。それはたとえばFFT方に
より実施できるため、特に簡単な構造で可能である。図
2は相互変調法により測定対象物4の非直線ひずみを自
動測定するための構成を示す。この目的のために、この
実施例でも直列につないだ両周波数分析器1と2が設け
られており、それらには相互変調法の場合は互いに異な
る振幅の二つの信号f1とf2が供給される。これによ
って自動的に第1の周波数分析器1の出力端5で低い方
の周波数f1の成分が識別され、周波数分析器2の出力
端6を通じて高い方の周波数f2の成分が識別される。
加算回路8において差f2−f1が形成され、さらに第
2の加算回路20において和f2+f1が形成される。
加算回路8によって帯域フィルタ21が上記周波数f2
−f1に調節される。加算器20によって帯域フィルタ
22が和f2+f1に調節される。これらの周波数成分
[f2−f1]と[f2+f1]の実効値が、さらに実
効値測定器23と24によって測定される。これらの測
定された実効値から、たとえばDIN規格により、2次
の相互変調率を算出することができる。このために第2
図の回路にはさらに別の実効値測定器25が設けられて
おり、これによってf2の実効値が測定される。周波数
f1とf2との差と和の対応する形成により、このよう
にして3次およびそれ以上の次数の相互変調ひずみも測
定することができる。そのためには3次の周波数成分に
対応して調節できる帯域フィルタが必要なだけである。
図2によるこの構成もまた、アナログ技術でも、純粋の
デジタル技術でも構成することができる。Although the arrangement according to FIG. 1 has been shown mainly in analog technology, it can equally well be realized in digital technology. Moreover, it is the usual known F
This is possible by using an FT analyzer, which is a function of the frequency analyzers 1 and 2 and a tunable bandpass filter 9, 1.
It replaces the two and thirteen. By digitizing the output signal of the measuring object 4, the formation of the residual signals of the frequency components f1 and f2 and the adjustment of the band-pass filters 9, 12, 13 to the desired frequency components respectively are purely digital frequency conversions. Can be done by Since it can be implemented, for example, by the FFT method, a particularly simple structure is possible. FIG. 2 shows a configuration for automatically measuring the non-linear strain of the measuring object 4 by the intermodulation method. For this purpose, both frequency analyzers 1 and 2 connected in series are also provided for this purpose, which in the case of the intermodulation method are supplied with two signals f1 and f2 of different amplitudes. .. As a result, the component of the lower frequency f1 is automatically identified at the output end 5 of the first frequency analyzer 1, and the component of the higher frequency f2 is identified through the output end 6 of the frequency analyzer 2.
The difference f2-f1 is formed in the adder circuit 8, and the sum f2 + f1 is further formed in the second adder circuit 20.
The addition circuit 8 causes the bandpass filter 21 to change the frequency f2.
Adjusted to -f1. The bandpass filter 22 is adjusted to the sum f2 + f1 by the adder 20. The effective values of these frequency components [f2-f1] and [f2 + f1] are further measured by the effective value measuring devices 23 and 24. From these measured effective values, the second-order intermodulation rate can be calculated, for example, according to the DIN standard. Second for this
The circuit shown in the figure is further provided with another effective value measuring device 25, which measures the effective value of f2. Due to the corresponding formation of the difference and the sum of the frequencies f1 and f2, also intermodulation distortions of the third and higher orders can be measured in this way. For that purpose, only a bandpass filter that can be adjusted according to the third-order frequency component is required.
This configuration according to FIG. 2 can also be implemented in analog or purely digital technology.
【図1】差音法による測定のための第1実施例の回路図FIG. 1 is a circuit diagram of a first embodiment for measurement by a difference tone method.
【図2】相互変調法による測定のための第2実施例の回
路図FIG. 2 is a circuit diagram of a second embodiment for measurement by the intermodulation method.
1、2 周波数分析器 3、5、6、7 出力端 4 測定対象物 8、14、15、20 加算回路 10、11、16、17、23、24、25 実効値
測定器 9、12、13、21、22 帯域通過フィルタ1, 2 Frequency analyzer 3, 5, 6, 7 Output terminal 4 Measurement object 8, 14, 15, 20 Addition circuit 10, 11, 16, 17, 23, 24, 25 Effective value measuring device 9, 12, 13 , 21, 22 bandpass filters
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ボルフガング クーフエル ドイツ連邦共和国 デー−8260 ミユール ドルフ パツサウストラーセ 22 (72)発明者 ボルフガング ケルンヒエン ドイツ連邦共和国 デー−8029 ザウエル ラハ ヤズベルクベク 4 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Bolfgang Kufueru Federal Republic of Germany Day-8260 Miurdorf Patz Southtraße 22 (72) Inventor Bolfgang Colognehien Germany Day-8029 Sauerlaha Yazbergbek 4
Claims (4)
2)を測定対象物の出力端に供給する時に生じる周波数
スペクトルの評価により測定対象物の非直線ひずみの自
動測定をするための構成であって、 直列につないだ第1と第2の二つの周波数分析器(1,
2)を有し、 第1の周波数分析器(1)は測定対象物(4)の出力端
(3)から供給される測定信号のうちで最大振幅の周波
数の成分(たとえばf1)を識別し、その周波数(f
1)を決定して、この周波数成分を測定信号から分離し
て残留信号を作り、これを第2の周波数分析器(2)に
供給するものであり、 第2の周波数分析器(2)はこの残留信号から最大振幅
の周波数成分(たとえばf2)を識別し、その周波数
(f2)を決定し、この周波数f2の成分を残留信号か
ら分離するものであり、 それらにより、最大振幅の、これら測定した両周波数
(f1,f2)から、相互変調法または2音法の原理
で、第2の周波数分析器(2)からの測定信号(7)の
実効値を測定する周波数の成分(たとえば差音法による
周波数成分 D=f2−f1)を決定し、その周波数成
分について測定信号(7)の実効値を測定することを特
徴とする非直線ひずみの自動測定装置。1. Two signals of different frequencies (f1, f)
2) is a configuration for automatically measuring the non-linear strain of the measurement object by evaluating the frequency spectrum generated when supplying 2) to the output end of the measurement object. Frequency analyzer (1,
2), the first frequency analyzer (1) identifies the highest amplitude frequency component (eg f1) of the measurement signal supplied from the output (3) of the object (4) to be measured. , Its frequency (f
1) is determined, and this frequency component is separated from the measurement signal to form a residual signal, which is supplied to the second frequency analyzer (2), which second frequency analyzer (2) It identifies the frequency component of maximum amplitude (eg f2) from this residual signal, determines its frequency (f2) and separates this frequency f2 component from the residual signal, whereby these measurements of maximum amplitude are taken. From the two frequencies (f1 and f2), the component of the frequency (for example, the difference tone) for measuring the effective value of the measurement signal (7) from the second frequency analyzer (2) by the principle of the intermodulation method or the two-tone method. Frequency component D = f2-f1) according to the method, and the effective value of the measurement signal (7) is measured for the frequency component.
信号f1とf2の供給により、差音法にしたがい2次の
差音含有率を測定するための請求項1に記載の構成であ
って、 周波数f2−f1での第2の周波数分析器(2)から出
力される残留信号(7)について、実効値を測定する手
段(例えば帯域フィルタ9と実効値測定器10)を具備
することを特徴とする、請求項1に記載の非直線ひずみ
の自動測定装置。2. The structure according to claim 1, wherein the second-order difference sound content is measured according to the difference sound method by supplying two signals f1 and f2 having different frequencies but the same amplitude. A means (for example, bandpass filter 9 and effective value measuring device 10) for measuring an effective value of the residual signal (7) output from the second frequency analyzer (2) at the frequencies f2-f1. The non-linear strain automatic measuring device according to claim 1, which is characterized.
信号f1とf2の供給により、差音法にしたがい3次の
差音含有率を測定するための、請求項1に記載の構成で
あって、 第2の周波数分析器(2)から出力される残留信号
(7)について、周波数2・f2−f1ででも、また周
波数2・f2+f1ででも実効値を測定する手段を具備
することを特徴とする請求項1に記載の非直線ひずみの
自動測定装置。3. The configuration according to claim 1, for measuring the third-order difference sound content according to the difference sound method by supplying two signals f1 and f2 having different frequencies but the same amplitude. And a means for measuring an effective value of the residual signal (7) output from the second frequency analyzer (2) at both frequency 2 · f2-f1 and frequency 2 · f2 + f1. The automatic measuring device for nonlinear strain according to claim 1.
第1の信号と、高い方の周波数f2で且つ小さい振幅の
第2の信号とが、測定対象物(4)の入力端に供給され
るところの、相互変調法による2次の相互変調ひずみの
測定のための構成であって、 第2の周波数分析器(2)から出力される残留信号
(7)について、周波数f2−f1ででもまた周波数f
2+f1ででも実効値を測定する手段(21,23,2
2,24)を有することを特徴とする請求項1に記載の
非直線ひずみの自動測定装置。4. A first signal having a lower frequency f1 and a larger amplitude, and a second signal having a higher frequency f2 and a smaller amplitude are supplied to an input end of an object to be measured (4). However, the residual signal (7) output from the second frequency analyzer (2) has a configuration for measuring second-order intermodulation distortion by the intermodulation method even at frequencies f2-f1. Frequency f
Means (21, 23, 2 for measuring effective value even with 2 + f1
2, 24). The automatic non-linear strain measuring device according to claim 1, further comprising:
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19914134473 DE4134473A1 (en) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | Automatic nonlinear distortion measuring system - uses two frequency analysers to determine max. amplitudes of frequency components before and after decoupling |
DE4134473.1 | 1991-10-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05215797A true JPH05215797A (en) | 1993-08-24 |
JP2647318B2 JP2647318B2 (en) | 1997-08-27 |
Family
ID=6442945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32110892A Expired - Lifetime JP2647318B2 (en) | 1991-10-18 | 1992-10-16 | Automatic measuring device for nonlinear strain |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2647318B2 (en) |
DE (1) | DE4134473A1 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2073894B (en) * | 1980-04-11 | 1984-03-14 | Tektronix Inc | Automatic im distortion test selector |
DE3437303C2 (en) * | 1984-10-11 | 1987-03-05 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Method for measuring distortion effects on an electroacoustic transducer, in particular loudspeakers or headphones |
-
1991
- 1991-10-18 DE DE19914134473 patent/DE4134473A1/en active Granted
-
1992
- 1992-10-16 JP JP32110892A patent/JP2647318B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4134473C2 (en) | 1993-08-19 |
DE4134473A1 (en) | 1993-04-22 |
JP2647318B2 (en) | 1997-08-27 |
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