JPH0519100A - Electron beam irradiation device - Google Patents

Electron beam irradiation device

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Publication number
JPH0519100A
JPH0519100A JP19747791A JP19747791A JPH0519100A JP H0519100 A JPH0519100 A JP H0519100A JP 19747791 A JP19747791 A JP 19747791A JP 19747791 A JP19747791 A JP 19747791A JP H0519100 A JPH0519100 A JP H0519100A
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JP
Japan
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energy
electrons
electron
electron beam
vacuum duct
Prior art date
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Pending
Application number
JP19747791A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuyuki Hanakawa
和之 花川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0519100A publication Critical patent/JPH0519100A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain the device with a wide variable range of electron energy by upward and downward movably providing an absorber of the electron energy in a vacuum duct and setting an electromagnet for converging the direction of an election absorbing the energy with the use of the absorber on the circumference of a duct. CONSTITUTION:An energy absorber 7 is upward and downward movably provided in a vacuum duct 31. A covergent electromagnet 8 is provided on the circumference of the duct 31. An electron passing the absorber 7 is converged with the electromagnet 8 to eliminate the dispersion of the direction, taken out from an electron beam taking-out window 4, scattered by the use of a flattening filter 5, an electron speed is made constant and electron beam energy on an electron beam irradiation face 12 is uniformed. As the result of the structure, even if the variable range of the electron energy caused by the increase and reduction of microwave energy input in an accelerating tube 2 is made wide, an irradiation face 12 can be irradiated by uniform energy.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、電子加速器を用いた
電子線照射装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electron beam irradiation device using an electron accelerator.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は従来の電子線照射装置の断面図で
あり、図において、1は電子銃、2は電子銃1の先に取
り付けられた電子を加速する加速管、2aは加速管2内
に多数設けられ、マイクロ波を入力することにより電界
を発生する空胴、3は加速管2の出口に取り付けられた
真空ダクト、4は薄い金属ホイルからできた電子線取り
出し窓、5は電子線線量分布を平坦化させる平坦化フィ
ルター、6は電子線軌道、12は電子線照射面である。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a sectional view of a conventional electron beam irradiation apparatus, in which 1 is an electron gun, 2 is an accelerating tube for accelerating electrons attached to the tip of the electron gun 1, and 2a is an accelerating tube. A plurality of cavities that are provided in 2 to generate an electric field by inputting a microwave, 3 are vacuum ducts attached to the exit of the accelerating tube 2, 4 are electron beam extraction windows made of thin metal foil, and 5 are A flattening filter for flattening the electron beam dose distribution, 6 is an electron beam trajectory, and 12 is an electron beam irradiation surface.

【0003】次に動作について説明する。電子銃1より
放出された電子は加速管2に入る。一方、加速管2内に
多数段設けられた空胴2aにはマイクロ波を入力し、こ
のマイクロ波により加速管2内に電界を発生させ電子を
加速させる。このとき各段の空胴2aへ入力されるマイ
クロ波は、加速管2内で加速される電子の速度と発生し
た電界による電子に与えるエネルギーの大きさとを考慮
して、後段に進むごとに順次最大電界を発生させるよう
に位相の遅らせた定在波を入力する。このようにして各
段の空胴2aからの電界によりタイミング良くエネルギ
ーを受け加速された電子は、加速管2の出口で60Me
V〜20MeVの高エネルギーになる。
Next, the operation will be described. The electrons emitted from the electron gun 1 enter the accelerating tube 2. On the other hand, microwaves are input to the cavities 2a provided in a large number of stages in the acceleration tube 2, and the microwaves generate an electric field in the acceleration tube 2 to accelerate electrons. At this time, the microwaves input to the cavities 2a of each stage are sequentially considered as they proceed to the subsequent stages in consideration of the velocity of the electrons accelerated in the accelerating tube 2 and the amount of energy given to the electrons by the generated electric field. A standing wave with a delayed phase is input to generate the maximum electric field. In this way, the electrons accelerated by receiving energy in good timing by the electric field from the cavities 2a of each stage are 60 Me at the exit of the acceleration tube 2.
It becomes a high energy of V to 20 MeV.

【0004】加速管2によって加速され高エネルギーを
持った電子は電子線6を成し、真空ダクト3の中を通
り、薄い金属ホイルからできた電子線取り出し窓4から
空気中へ飛び出し、平坦化フィルター5で散乱されるこ
とにより電子の速度を一定にし、電子線照射面12まで
到達する。
Electrons accelerated by the accelerating tube 2 and having high energy form an electron beam 6, which passes through the vacuum duct 3 and jumps out into the air through an electron beam extraction window 4 made of a thin metal foil and flattened. The velocity of the electrons is made constant by being scattered by the filter 5, and reaches the electron beam irradiation surface 12.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来の電子線照射装置
は以上のように構成されているので、電子のエネルギー
を変化させるのに加速管2の空胴2aに入力するマイク
ロ波のエネルギー変化だけで行っていた。しかしこれで
は加速管2内の電子が各段の空胴2aより発生する電界
より受けるエネルギーのタイミングを守るために、マイ
クロ波のエネルギー可変範囲を限定しなければならず、
また加速管2長は固定されているため電子のエネルギー
可変範囲を狭くしなければならないなどの問題点があっ
た。
Since the conventional electron beam irradiation apparatus is constructed as described above, it is necessary to change only the energy of the microwave input to the cavity 2a of the accelerating tube 2 to change the energy of the electron. I was going there. However, in this case, in order to protect the timing of the energy received by the electrons in the acceleration tube 2 from the electric field generated by the cavities 2a at each stage, the variable range of the microwave energy must be limited,
Further, since the length of the accelerating tube 2 is fixed, there is a problem that the variable range of electron energy must be narrowed.

【0006】なお、近似する技術文献として、電子ライ
ナック利用の現状(加速器科学、第1巻第1号、198
4年4月発行、ページ29〜37、藤田彪太著)があ
る。
As an approximate technical literature, the current state of use of electronic linac (accelerator science, Vol. 1, No. 1, 198)
Published April 4, pp. 29-37, by Bita Fujita).

【0007】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、電子のエネルギー可変範囲の広
い電子線照射装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to obtain an electron beam irradiation apparatus having a wide electron energy variable range.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この請求項1に記載の発
明に係る電子線照射装置は、電子のエネルギーを吸収す
るエネルギー吸収体を真空ダクト内に上下に移動自在に
設け、またこのエネルギー吸収体によりエネルギーを吸
収された電子の方向を磁界により収束させる収束電磁石
を真空ダクト周囲に設けたものである。
In the electron beam irradiation apparatus according to the invention described in claim 1, an energy absorber for absorbing electron energy is provided in a vacuum duct so as to be vertically movable, and the energy absorption is performed. A focusing electromagnet that converges the direction of electrons whose energy is absorbed by the body by a magnetic field is provided around the vacuum duct.

【0009】この請求項2に記載の発明に係る電子線照
射装置は、請求項1に記載の発明の真空ダクトに、電子
を磁界により偏向させる偏向磁石と、この偏向により分
散した電子を最大の分散位置で遮断する高エネルギー電
子カット用スリットと低エネルギー電子カット用スリッ
トとを設けた偏向系用真空ダクトを取り付けたものであ
る。
In the electron beam irradiation apparatus according to the invention described in claim 2, the vacuum duct of the invention described in claim 1 has a deflection magnet for deflecting electrons by a magnetic field, and a maximum of the electrons dispersed by the deflection. A vacuum duct for a deflection system provided with a slit for cutting high-energy electrons and a slit for cutting low-energy electrons for blocking at the dispersion position is attached.

【0010】[0010]

【作用】この請求項1に記載の発明におけるエネルギー
吸収体は、電子のエネルギーを吸収し、透過後の電子の
エネルギーを減少させ、上下に移動することにより電子
のエネルギーの可変範囲を拡大する。
The energy absorber according to the first aspect of the invention absorbs the energy of the electron, reduces the energy of the electron after passing through it, and moves up and down to expand the variable range of the energy of the electron.

【0011】この請求項2に記載の発明における偏向系
用真空ダクトは、偏向磁石の磁界により電子を偏向さ
せ、高エネルギー電子カット用スリットと低エネルギー
電子カット用スリットにより偏向により分散した電子を
遮断し、ある決まったエネルギーをもつ電子だけを選択
する。
In the deflection system vacuum duct according to the second aspect of the invention, electrons are deflected by the magnetic field of the deflection magnet, and the high energy electron cutting slits and the low energy electron cutting slits block the electrons dispersed by the deflection. Then, select only the electrons with a certain energy.

【0012】[0012]

【実施例】【Example】

実施例1.以下、この発明の一実施例を図について説明
する。なお、図中、従来技術である図3に示したものと
同一の構成部分には同一の符号を付して、その重複する
説明を省略する。図1はこの請求項1に記載の発明の一
実施例による電子線照射装置を示す断面図であり、図に
おいて、7は真空ダクト31内に設けられ上下に移動自
在なエネルギー吸収体、8は真空ダクト31の周囲に設
けられ電子線の方向を収束させる収束電磁石、31はエ
ネルギー吸収体を納めた真空ダクトである。
Example 1. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the figure, the same components as those shown in FIG. 3, which is a conventional technique, are designated by the same reference numerals, and the duplicate description thereof will be omitted. FIG. 1 is a cross-sectional view showing an electron beam irradiation apparatus according to an embodiment of the invention described in claim 1. In the figure, 7 is an energy absorber provided in a vacuum duct 31 and movable up and down, and 8 is an energy absorber. A focusing electromagnet that is provided around the vacuum duct 31 to converge the direction of the electron beam, and 31 is a vacuum duct that houses an energy absorber.

【0013】次に動作について説明する。加速管2へ入
力するマイクロ波エネルギーの加減により、電子のエネ
ルギー可変範囲は6MeV〜20MeVまで可能であっ
た。加速管2の出口の真空ダクト31内に、例えばアル
ミニウム5mm厚のエネルギー吸収体7を用いれば、エネ
ルギー吸収体7を透過後の電子のエネルギー可変範囲
は、4MeV〜18MeVとエネルギー可変範囲幅はエ
ネルギー吸収体7を用いなかったときと変わりはない
が、全体的に減衰する。これによりエネルギー吸収体7
を上下に移動することにより電子のエネルギー可変範囲
は4MeV〜20MeVと拡大することができる。
Next, the operation will be described. By varying the microwave energy input to the accelerating tube 2, the electron energy variable range was 6 MeV to 20 MeV. If, for example, an energy absorber 7 having a thickness of 5 mm of aluminum is used in the vacuum duct 31 at the outlet of the acceleration tube 2, the energy variable range of the electrons after passing through the energy absorber 7 is 4 MeV to 18 MeV, and the energy variable range width is energy. It is the same as when the absorber 7 is not used, but it attenuates as a whole. As a result, the energy absorber 7
By moving up and down, the energy variable range of electrons can be expanded to 4 MeV to 20 MeV.

【0014】エネルギー吸収体7を透過した電子は、散
乱角度に広がりをもつとともに吸収エネルギーに関して
も広がりをもつ。いわば方向と速度にばらつきが生じ
る。これを修正するために収束電磁石8を用いて磁界に
より電子の方向を収束させる。この収束電磁石8の磁界
により方向にのみばらつきがなくなった電子を電子線取
り出し窓4から取り出し、平坦化フィルター5で散乱さ
せることにより電子の速度を一定にし、電子線照射面1
2で電子線エネルギーを均一化させる。
The electrons transmitted through the energy absorber 7 have a broad scattering angle and a broad absorption energy. In other words, there are variations in direction and speed. In order to correct this, the focusing electromagnet 8 is used to converge the direction of the electrons by the magnetic field. Electrons whose variations in direction are eliminated by the magnetic field of the converging electromagnet 8 are taken out from the electron beam extraction window 4 and scattered by the flattening filter 5 so that the speed of the electrons is constant and the electron beam irradiation surface 1
At 2, the electron beam energy is made uniform.

【0015】実施例2.なお、上記実施例ではエネルギ
ー吸収体7を透過した電子を直接平坦化フィルター5に
より散乱させる電子線照射装置を示したが、エネルギー
吸収体7透過後、偏向電磁石等によるエネルギー選択シ
ステムを付け加えることにより、さらに電子線エネルギ
ーを均一化させることができる。
Example 2. Although the electron beam irradiation device in which the electrons that have passed through the energy absorber 7 are directly scattered by the flattening filter 5 has been shown in the above-described embodiment, after passing through the energy absorber 7, an energy selection system such as a deflection electromagnet is added. Further, the electron beam energy can be made uniform.

【0016】図2はこの請求項2に記載の発明の一実施
例による電子線照射装置を示す断面図であり、図におい
て、9は270゜偏向磁石(偏向磁石)、10は高エネ
ルギー電子カット用スリット、11は低エネルギー電子
カット用スリット、32は270゜偏向系用真空ダクト
(偏向系用真空ダクト)である。
FIG. 2 is a sectional view showing an electron beam irradiation apparatus according to an embodiment of the invention described in claim 2. In the figure, 9 is a 270 ° deflection magnet (deflection magnet) and 10 is a high energy electron cut. Is a slit for low energy electron cutting, and 32 is a vacuum duct for a 270 ° deflection system (deflection system vacuum duct).

【0017】次に動作について説明する。エネルギー吸
収体7を透過した電子は、散乱角度に広がりを持つとと
もに吸収エネルギーに関しても広がりを持つ。いわば方
向と速度にばらつきが生じる。この電子を収束電磁石8
で磁界により電子の方向を収束させた後、270゜偏向
電磁石9により270゜偏向し平坦化フィルター5に入
射する。
Next, the operation will be described. The electrons transmitted through the energy absorber 7 have a spread in the scattering angle and a spread in the absorbed energy. In other words, there are variations in direction and speed. This electron is focused by the electromagnet 8
After the direction of the electrons is converged by the magnetic field at 270 °, it is deflected by 270 ° by the 270 ° deflection electromagnet 9 and is incident on the flattening filter 5.

【0018】収束電磁石8で方向を収束された電子は速
度にばらつきがあり、高エネルギー電子カット用スリッ
ト10および低エネルギー電子カット用スリット11の
ある135゜偏向の位置で最大の位置分散が起こる。高
エネルギー電子カット用スリット10は電子速度高側に
分散した電子を遮断し、低エネルギー電子カット用スリ
ット11は電子速度低側に分散した電子を遮断する。高
エネルギー電子カット用スリット10および低エネルギ
ー電子カット用スリット11である決まったエネルギー
を持った電子のみを選択できることにより、電子線照射
面12に到達する電子線エネルギーをさらに均一化させ
ることができる。
The electrons whose directions are converged by the converging electromagnet 8 have variations in speed, and the maximum position dispersion occurs at the 135 ° deflection position where the high energy electron cutting slit 10 and the low energy electron cutting slit 11 are present. The high energy electron cutting slit 10 blocks the electrons dispersed on the high electron velocity side, and the low energy electron cutting slit 11 blocks the electrons dispersed on the low electron velocity side. By selecting only the electrons having the fixed energy, that is, the high-energy electron cutting slit 10 and the low-energy electron cutting slit 11, the electron beam energy reaching the electron beam irradiation surface 12 can be made more uniform.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上のように、請求項1に記載の発明に
よれば、電子のエネルギーを吸収するエネルギー吸収体
を真空ダクト内に上下に移動自在に設け、またこのエネ
ルギー吸収体によりエネルギーを吸収された電子の方向
を磁界により収束させる収束電磁石を真空ダクト周囲に
設けた構成としたので、電子のエネルギーの可変範囲の
広い電子線照射装置が得られる効果がある。
As described above, according to the invention described in claim 1, an energy absorber for absorbing electron energy is provided in the vacuum duct so as to be vertically movable, and the energy is absorbed by the energy absorber. Since the converging electromagnet for converging the direction of the absorbed electrons by the magnetic field is provided around the vacuum duct, there is an effect that an electron beam irradiation device having a wide variable range of electron energy can be obtained.

【0020】また、請求項2に記載の発明によれば、請
求項1に記載の発明の真空ダクトに、電子を磁界により
偏向させる偏向磁石とこの偏向により分散した電子を最
大の分散位置で遮断する高エネルギー電子カット用スリ
ットと低エネルギー電子カット用スリットとを設けた偏
向系用真空ダクトを取り付けた構成としたので、ある決
まったエネルギーを持った電子のみを選択することがで
き、電子線エネルギーをさらに均一化できる電子線照射
装置が得られる効果がある。
According to the invention described in claim 2, in the vacuum duct of the invention described in claim 1, the deflection magnet for deflecting the electrons by the magnetic field and the electrons dispersed by this deflection are blocked at the maximum dispersion position. Since a high-energy electron cutting slit and a low-energy electron cutting slit are installed in the deflection system vacuum duct, only electrons with a certain energy can be selected. There is an effect that an electron beam irradiation device capable of further homogenizing the electron beam can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この請求項1に記載の発明の一実施例による電
子線照射装置を示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing an electron beam irradiation apparatus according to an embodiment of the invention described in claim 1.

【図2】この請求項2に記載の発明の一実施例による電
子線照射装置を示す断面図である。
FIG. 2 is a sectional view showing an electron beam irradiation apparatus according to an embodiment of the invention described in claim 2.

【図3】従来の電子線照射装置を示す断面図である。FIG. 3 is a sectional view showing a conventional electron beam irradiation apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 電子銃 2 加速管 2a 空胴 5 平坦化フィルター 7 エネルギー吸収体 8 収束電磁石 9 270゜偏向磁石(偏向磁石) 10 高エネルギー電子カット用スリット 11 低エネルギー電子カット用スリット 31 真空ダクト 32 270゜偏向系用真空ダクト(偏向系用真空ダク
ト)
1 Electron Gun 2 Accelerator 2a Cavity 5 Flattening Filter 7 Energy Absorber 8 Converging Electromagnet 9 270 ° Deflection Magnet (Deflection Magnet) 10 High Energy Electron Cutting Slit 11 Low Energy Electron Cutting Slit 31 Vacuum Duct 32 270 ° Deflection System vacuum duct (deflection system vacuum duct)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子を放出する電子銃と、多数段設けら
れた空胴にマイクロ波を入力することにより電界を発生
させ、この電界により電子銃より放出された電子を加速
させる加速管と、上記加速管の出口に取り付けられた真
空ダクト内に上下に移動自在に設けられ、電子のエネル
ギーを吸収するエネルギー吸収体と、上記真空ダクトの
周囲に設けられ、上記エネルギー吸収体によりエネルギ
ーを吸収された電子の方向を磁界により収束させる収束
電磁石と、上記収束電磁石の磁界により方向が収束され
た電子を散乱させることにより電子のエネルギーを均一
化させる平坦化フィルターとを備えた電子線照射装置。
1. An electron gun for emitting electrons, an accelerator tube for accelerating the electrons emitted from the electron gun by generating an electric field by inputting a microwave into a cavity provided in multiple stages, An energy absorber that is provided movably up and down in a vacuum duct attached to the outlet of the acceleration tube and that absorbs the energy of electrons, and is provided around the vacuum duct, and the energy is absorbed by the energy absorber. An electron beam irradiation apparatus comprising: a converging electromagnet that converges the direction of electrons by a magnetic field; and a flattening filter that scatters the electrons whose directions are converged by the magnetic field of the converging electromagnet to make the energy of the electrons uniform.
【請求項2】 上記真空ダクトに、電子を磁界により偏
向させる偏向磁石と、偏向により分散した電子を最大の
分散位置で遮断する高エネルギー電子カット用スリット
および低エネルギー電子カット用スリットを設けた偏向
系用真空ダクトを取り付けたことを特徴とする請求項1
記載の電子線照射装置。
2. A deflection magnet, wherein the vacuum duct is provided with a deflection magnet for deflecting electrons by a magnetic field, slits for cutting high-energy electrons and slits for cutting low-energy electrons for blocking electrons dispersed by deflection at a maximum dispersion position. A vacuum duct for a system is attached to the system.
The electron beam irradiation apparatus described.
JP19747791A 1991-07-12 1991-07-12 Electron beam irradiation device Pending JPH0519100A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2011158579A1 (en) * 2010-06-14 2011-12-22 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 Objective lens system and electron microscope
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