JPH05187990A - 微粒子計 - Google Patents

微粒子計

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JPH05187990A
JPH05187990A JP4022137A JP2213792A JPH05187990A JP H05187990 A JPH05187990 A JP H05187990A JP 4022137 A JP4022137 A JP 4022137A JP 2213792 A JP2213792 A JP 2213792A JP H05187990 A JPH05187990 A JP H05187990A
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JP
Japan
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optical cell
cell
fluid
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failure
Prior art date
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JP4022137A
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English (en)
Inventor
Nobuyoshi Iwasaki
信義 岩崎
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Rion Co Ltd
Original Assignee
Rion Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は微粒子計において、光学セルの破損を
いち早く検知し、被検流体の漏出による事故拡大を確実
に防止できる微粒子計を提案する。 【構成】光学セルと一体に電路部材を設けたことによ
り、光学セルに何らかの破損が生じると同時に電路部材
の抵抗値が増大する。これにより電路部材に電流を流し
その導通状態を調べれば、光学セルの破損をいち早く検
知することができ、被検流体の漏出による事故拡大を確
実に防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は微粒子計に関し、特に危
険ガス中の微粒子を計数する光散乱式微粒子計数器に適
用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の微粒子計として図3に示
すような原理構成をもつものが提案されている(特願平
2-109241号)。図3において、1は全体として光散乱式
微粒子計数器を構成する微粒子計を示し、導入部2の流
路2Aから被検流体FLを光学セル3の流路3Aに流し
込んで排出部4の流路4Aから排出させると共に、レー
ザ光源でなる照射光源5から射出される照射光束LA1
を収束光学系6及び反射ミラー7によつて光学セル3の
流路3Aに収束させることにより被検流体FL内に微粒
子が浮遊しているとき、当該微粒子によつて照射光束L
A1を散乱させるようになされている。
【0003】当該散乱光LA2は集光光学系8によつて
光検出器9に集光され、かくして流路3Aに微粒子が通
過するごとに光検出器9から電気的な粒子検出信号S1
を送出する。実際上この粒子検出信号S1は後段の検出
信号処理回路(図示せず)において処理され、かくして
例えば光学セル3の流路3Aを単位容積の被検流体FL
が通過したときの粒子数によつて浮遊粒子の濃度を判定
したり、微粒子の粒径を判別したりするようになされて
いる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
光散乱式の微粒子計1によつて、例えばシラン、ジボラ
ン等のように爆発性があつたり、人体に有害ないわゆる
危険ガスを被検流体FLとする場合にも、危険ガスに侵
されずかつ光学的に透明な材料を用いて光学セル3を構
成する必要がある。
【0005】しかしながらこのような必要条件を実用上
十分に満足する材料は、ガラス、石英、サフアイアなど
のように機械的強度がぜい弱なものが多く、このような
ぜい弱な材料を用いて光学セル3を作つた場合には光学
セル3が破損して危険ガスが漏出するおそれがある。こ
の点について従来、圧力計、ガス検知器により又は目視
により危険ガスの漏出を判別して光学セル3が破損した
ことを認定する対策が考えられている。
【0006】ところが圧力計での検出は、ガスの圧力が
運転状態により変動することが多かつたり、外部との圧
力差が微弱であつたりして判定が困難な場合が多く、ま
た他の従来の対策は、光学セル3が破損した後ガスの漏
出を判別するまでの応答に若干の遅れがあるため、危険
ガスの漏出に対する対策が遅れるという問題があつた。
【0007】これに加えて、特にガス検知器は検知すべ
きガスの種類によつてはセンサの種類を変えなければな
らない煩雑さがあると共に、装置全体がかなり大きくな
るという問題があつた。また目視により光学セルの破損
を認定しようとする場合、微粒子計自体がガスボツクス
やレギユレータボツクス内に設置されることが多いた
め、その動作状態を常時監視することは困難であり、ま
た仮に危険ガスの漏出を目視し得たとしても即座に対応
することは実際上極めて困難である。
【0008】尚、微粒子計の動作中はレーザ光が放射さ
れているので衛生上目視することはできない。また外部
から光が入れば計数の誤動作の原因となるので微粒子計
は光学的に密閉されていなければならない。従つて目視
するとすれば運転休止時に制約される。
【0009】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、比較的簡易な構成によつて光学セルの破損をいち早
く検知することにより、被検流体の漏出による事故拡大
を確実に防止できる微粒子計を提案しようとするもので
ある。
【0010】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、被検流体FLに光ビームLA1を
照射し、光ビームLA1の散乱光LA2に基づいて流体
FL中の微粒子を検出する微粒子計11において、流体
FLの流路3Aを形成し、光ビームLA1及び散乱光L
A2を透過する光学セル3と、光学セル3と一体化する
ように設けられた電路部材20と、電路部材20の導通
状態を検出することにより光学セル3の破損状態を検出
する破損判定手段22とを設けるようにする。
【0011】
【作用】光学セル3と一体化した電路部材20を設けた
ことにより、光学セル3が破損すると同時に電路部材2
0の抵抗値も増大する。これにより電路部材20に電流
を流しその導通状態を調べれば光学セル3の破損をいち
早く検知することができ、被検流体FLの漏出による事
故拡大を確実に防止できる。
【0012】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
【0013】図3との対応部分に同一符号を付して示す
図1において、微粒子計11は導入部2及び排出部4が
コ字状の金属ベース12の両先端部によつて保持されて
いると共に、導入部2と排出部4との間に石英ガラスか
らなる角筒状の光学セル3が導入部2及び排出部4によ
つて挟圧着された状態で取り付けられ、この状態におい
て光学セル3に照射光LA1を照射することにより散乱
光LA2を得るようになされている。
【0014】図2に示すように、導入部2の光学セル3
との接続面2Bには導入路2Aと同心円状に溝2C及び
2Dが形成されていると共に、排出部4の光学セル3と
の接続面4Bには排出路4Aと同心円状に溝4C及び4
Dが形成され、当該溝2C及び2D並びに4C及び4D
にはそれぞれふつ素ゴム製のOリング11、12、1
3、14が嵌め込まれている。
【0015】これに対して光学セル3の導入部2及び排
出部4との接続面15及び16は、導入部2及び排出部
4の接続面2B及び4Bに対して平坦かつ平行になるよ
うに高精度に加工されている。
【0016】従つて光学セル3においては、導入部2及
び排出部4によつて両側から押圧されて支持されること
により、Oリング11〜14により光学セル3と導入部
2との接続部分並びに光学セル3と排出部4との接続部
分を二重にシールするようになされている。
【0017】さらに接続面2B及び4Bは、それぞれ溝
2C及び2Dで挟まれた円管形状の領域と溝4C及び4
Dで挟まれた円管形状の領域において、接続面2B及び
4B側の端面が当該接続面2B及び4Bからわずかに奥
まるように加工され、これによりOリング11〜14を
押圧した際に、リング状の空間でなる中間空間部17及
び18を形成するようになされている。
【0018】また導入部2及び排出部4においては、上
方から吸排気パイプ19A及び19Bが引き込まれてい
ると共に、当該吸排気パイプ19A及び19Bと中間空
間部17及び18とを連通する連通孔17A及び18A
が穿設されている。
【0019】これにより吸排気パイプ19A及び19B
を介して外部の圧力ポンプ(図示せず)から中間空間部
17及び18に不活性ガス等の気体を送り込み又は排出
することにより、当該中間空間部17及び18を加圧又
は減圧するようになされている。
【0020】従つて流路部2A、3A及び4Aに圧力の
低い被検流体FLが流し込まれた場合には、中間空間部
17及び18を低圧状態にすることにより流路部と中間
空間部17及び18との圧力差を小さくすることがで
き、これによりOリング11及び13を透過して流路部
内に漏れ出す気体の量をほぼ0に低減することができ
る。
【0021】これに対して流路部2A、3A、4Aに圧
力の高い被検流体FLが流し込まれた場合には、中間空
間部17及び18を高圧状態にすることにより流路部と
中間空間部17及び18との圧力差を小さくすることが
でき、これによりOリング11及び13を透過して流路
部内から漏れ出す被検流体FLの量をほぼ0に低減する
ことができる。かくして光学セル3と導入部2及び排出
部4との接続部分において、被検流体FLへの外気の混
入及び被検流体FLの漏出を防止するようになされてい
る。
【0022】かかる構成に加えて、照射光LA1及び散
乱光LA2の妨げにならない光学セル3の外壁面、例え
ば上部外壁面には導入部2との接続部分から排出部4と
の接続部分までの全範囲に亘つて(すなわち全長に亘つ
て)被着するように、破損検出用電路部材20が光学セ
ル3と一体になるように付着されている。
【0023】電路部材20は例えば金又はニツケル等の
導電性の塗料を光学セル3の表面に膜状に塗布又は蒸着
したもので、これにより電路部材20は光学セル3に亀
裂又はそれ以上の破損が生じたとき、当該破損箇所にお
いて伸展ないし破断されるようになされている。
【0024】電路部材20の両端にはリード線21A及
び21Bが接続され、当該リード線21A及び21Bは
検出制御装置22に引き込まれている。リード線21A
及び21Bのうち一方は検出制御装置22に内蔵された
電源回路(図示せず)に接続されていると共に、他方は
電流検出回路(図示せず)に接続され、これにより電路
部材20に常時被検流体FLに影響を与えない程度の微
弱な電流を流し、電路部材20に流れる電流の変化を電
流検出回路によつて検出するようになされている。
【0025】検出制御装置22は、内蔵された電流検出
回路によつて検出される電流値が低下したとき、被検流
体FLの流出量を調節する調整バルブ(図示せず)に制
御信号S2を送出するようになされている。すなわち被
検流体調整バルブは、電路部材20が伸展ないし破断さ
れて検出制御装置22から制御信号S2が送出される
と、当該制御信号S2により導入部2の流路2Aを閉塞
するようになされている。
【0026】以上の構成において、光学セル3が破損す
ると、当該光学セル3上に付着されている電路部材20
が当該破損位置において伸展ないし破断する。その結果
電路部材20の電気的抵抗値が光学セル3の破損の程度
に応じて高くなり電路部材20を流れる電流値が低下な
いし遮断する。このとき検出制御回路22から制御信号
S2が送出されることにより導入部2の流路2Aが閉塞
され、流路2A、3A及び4A内に被検流体FLが送り
込まれなくなる。これにより光学セル3の破損箇所から
の被検流体FLの漏出が直ちに防止される。
【0027】以上の構成によれば、光学セル3上に電路
部材20を付着して当該電路部材20の導通状態を検出
することにより、光学セル3における破損をいち早く検
出できると共に破損箇所からの被検流体FLの漏出によ
る事故の拡大を確実に防止することができる。
【0028】なお上述の実施例においては、光学セル3
を石英ガラスで形成する場合について述べたが、光学セ
ルの材質はこれに限らず、サフアイア等の透明部材を用
いるようにしても良い。またその形状も角筒形状に限ら
ず、必要に応じて円筒形状等種々の形状の光学セルを広
く適用することができる。また上述の実施例において
は、光学セル3を導入部2及び排出部4と接続する方法
としてOリング11〜14によつて二重にシールする方
法を用いたが、本発明はこれに限らず、種々の接続方法
を適用し得る。
【0029】さらに上述の実施例においては、電路部材
20を光学セル3の上部外壁面に光学セル3の全長に亘
つて被着するように付着させたが、要は電路部材20を
光学セル3に一体化するように設けるようにすれば良
い。例えば電路部材20の付着位置を光学セル3の下部
外壁面又は上部及び下部外壁面の両方、もしくは光学セ
ル3の破損が生じ易い一部分のみに付着しても良く、要
は照射光LA1及び散乱光LA2の妨げとならない位置
に付着すれば良い。
【0030】また電路部材20として光の透過率の良い
透明な電路部材を用いて、照射光LA1及び散乱光LA
2の妨げとならない位置に限らず、例えば全面又は螺旋
状に光学セル3の全長に亘つて付着させるようにする。
又は光学セル3の材質中に埋設する。さらに電路部材2
0の材料として耐食性のものを用いて光学セルの内壁面
に電路を形成する等、種々の構造を適用し得る。
【0031】さらに上述の実施例においては、電路部材
20の導通状態を検出する方法として電流検出回路を用
いたが、本発明はこれに限らず、電圧を検出することに
より電路部材20の導通状態を検出しても良く、電路部
材20の導通状態を検出できるような種々の装置又は回
路を適用し得る。
【0032】さらに上述の実施例においては、検出制御
装置22から送出される制御信号S2に基づいて被検流
体FLの光学セル3内への導入を停止するようにした
が、本発明はこれに限らず、種々の制御手段を適用し得
る。また例えば警報器等を設け、電路部材20の抵抗値
が増大したとき、警報器を鳴らすことにより光学セル3
の破損を知らせるようにしても良い。
【0033】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、光学セル
に当該光学セルが破損するとこれに基づいて導通電流が
変化するような電路部材を設けるようにしたことによ
り、当該電路部材の導通状態に基づいて光学セルの破損
を検知し得、これにより比較的簡易な構成により光学セ
ルの破損をいち早く検知して被検流体の漏出による事故
を防止できるような微粒子計を容易に実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による微粒子計の一実施例の全体構成を
示す斜視図である。
【図2】その光学セルの詳細構成を流路を含む断面とし
て示す断面図である。
【図3】微粒子計の原理を示す原理構成図である。
【符号の説明】
2……導入部、3……光学セル、4……排出部、2A、
3A、4A……流路、20……電路部材、21A、21
B……リード線、22……検出制御装置、LA1……照
射光、LA2……散乱光、S2……制御信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検流体に光ビームを照射し、上記光ビー
    ムの散乱光に基づいて上記流体中の微粒子を検出する微
    粒子計において、 上記流体の流路を形成し、上記光ビーム及び散乱光を透
    過する光学セルと、 上記光学セルと一体化するように設けられた電路部材
    と、 上記電路部材の導通状態を検出することにより上記光学
    セルの破損状態を検出する破損判定手段とを具えること
    を特徴とする微粒子計。
JP4022137A 1992-01-10 1992-01-10 微粒子計 Pending JPH05187990A (ja)

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JP4022137A JPH05187990A (ja) 1992-01-10 1992-01-10 微粒子計

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JP4022137A JPH05187990A (ja) 1992-01-10 1992-01-10 微粒子計

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JP4022137A Pending JPH05187990A (ja) 1992-01-10 1992-01-10 微粒子計

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JP (1) JPH05187990A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010271168A (ja) * 2009-05-21 2010-12-02 Sony Corp 微小粒子測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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