JPH05185597A - Manufacture of ink jet recording head - Google Patents

Manufacture of ink jet recording head

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JPH05185597A
JPH05185597A JP17871692A JP17871692A JPH05185597A JP H05185597 A JPH05185597 A JP H05185597A JP 17871692 A JP17871692 A JP 17871692A JP 17871692 A JP17871692 A JP 17871692A JP H05185597 A JPH05185597 A JP H05185597A
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JP
Japan
Prior art keywords
ink
cavity plate
plasma etching
recording head
area ratio
Prior art date
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Pending
Application number
JP17871692A
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Japanese (ja)
Inventor
Mikihiko Matsuda
幹彦 松田
Shinichi Soma
伸一 相馬
Masahiko Takei
正彦 武居
Akihiko Kadowaki
昭彦 門脇
Hirozo Matsumoto
浩造 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
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  • Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the machining accuracy in providing groove-shaped ink passages to be formed on a silicone substrate serving as a cavity plate and improve therewith the printing quality and yield rate. CONSTITUTION:When applying dry plasma etching to an ink reservoir 7 and each of ink passages communicating with the ink reservoir, grooves 12 for adjusting processing area, isolated from each of the ink passages, are formed in the neighborhood of the ink passages so that gas reaction velocity in the plasma etching becomes uniform.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、キャビティ板として
のシリコン基板に形成される溝状のインク流路の加工精
度向上ひいては印字品質向上と、歩留まり率向上とが図
れるインクジェット記録ヘッドの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing an ink jet recording head which can improve the processing accuracy of a groove-shaped ink flow path formed on a silicon substrate as a cavity plate and thus improve the printing quality and the yield rate. ..

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、微細なノズル孔よりインクを噴射
して紙などの記録媒体上に付着させて記録を行う方法
は、インクジェット記録方法として知られている。そし
て、その原理の一つとしてオン・デマンド型インクジェ
ット記録ヘッドがある。この方式の両面形インクジェッ
ト記録ヘッドは、高解像度を得るため両面にインク噴射
用ノズルを千鳥状に配置するもので、一般的にはキャビ
ティ板の溝側から見た平面図である図4と、断面図であ
る図5とに示すように、シリコン,ガラスまたは金属板
などの板部材の両面に、エッチングや機械加工等により
複数のインク噴射用ノズル2,噴射流路3,インク加圧
室5,インク供給路6および共通なインク溜め7を形成
したキャビティ板31と、振動板9とを積層,一体化した
のち、振動板9の外側面のインク加圧室5に対向する位
置に電気機械変換素子としての圧電素子10が導電性膜11
を介して接合される構造をとっている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a method of ejecting ink from fine nozzle holes and adhering it onto a recording medium such as paper for recording is known as an ink jet recording method. And as one of the principles, there is an on-demand type ink jet recording head. In this type of double-sided ink jet recording head, ink ejection nozzles are arranged in a zigzag pattern on both sides in order to obtain high resolution. Generally, FIG. 4 is a plan view seen from the groove side of the cavity plate. As shown in FIG. 5 which is a cross-sectional view, a plurality of ink ejection nozzles 2, ejection channels 3, ink pressurization chambers 5 are formed on both surfaces of a plate member such as silicon, glass or a metal plate by etching or machining. After the cavity plate 31 having the ink supply path 6 and the common ink reservoir 7 and the vibrating plate 9 are laminated and integrated, the electric machine is provided on the outer surface of the vibrating plate 9 at a position facing the ink pressurizing chamber 5. The piezoelectric element 10 as the conversion element is a conductive film 11
It has a structure that is joined through.

【0003】加えて、図5の右端部に、コ字状のゴム成
形品またはプラスチック成形品である供給治具32が密閉
的に嵌め込まれ、接着される。供給治具32には、図示し
てないインクチューブが接続される孔33があけられ、こ
れに連通する前置空間35がインク溜め7につながる形で
設けられる。この前置空間35は、文字どおりインク溜め
7の前段に設置され、孔33から流入,供給されるインク
に対して緩衝機能、つまりインクの勢いを緩和する機能
をもつものである。
In addition, a supply jig 32, which is a U-shaped rubber molded product or a plastic molded product, is hermetically fitted and adhered to the right end portion of FIG. The supply jig 32 is provided with a hole 33 to which an ink tube (not shown) is connected, and a front space 35 communicating with this is provided so as to be connected to the ink reservoir 7. The front space 35 is literally installed in the front stage of the ink reservoir 7 and has a buffering function for the ink flowing in and supplied from the hole 33, that is, a function of relaxing the momentum of the ink.

【0004】このような構造において、圧電素子10に電
気信号としての電圧を印加すると、振動板9がインク加
圧室5の内側に変位してインク加圧室5の容積を急激に
減少させ、その容積分に相当するインクがノズル2から
噴射され、それがインク滴となって、対向する記録紙に
点着して印字される。
In such a structure, when a voltage as an electric signal is applied to the piezoelectric element 10, the vibrating plate 9 is displaced inside the ink pressurizing chamber 5 and the volume of the ink pressurizing chamber 5 is rapidly reduced, Ink corresponding to the volume is ejected from the nozzle 2 and becomes an ink droplet, which is spotted and printed on the opposing recording paper.

【0005】図4 において、さらに若干、具体的に補足
説明すると、ノズル2は、一方の表面に間隔( ピッチ)2
54μmで24本配設され、他方の表面に千鳥状に配設され
るものとともに、両面で合計48本がピッチ127 μmで配
設され、200dpiの解像度に対応する。このときのノズル
形状は、一般的に幅が50μm、深さが40μmである。こ
の加工は、ドライプラズマエッチング法による。この方
法は、所定のガス雰囲気に置かれた電極間に高周波の電
界を印加し、そのときに励起されるプラズマによりガス
から分離するイオンまたは励起原子が、シリコンウェハ
の表面と反応してシリコンを除去することで、その部分
を溝状に彫り込む。
In FIG. 4, a slightly more specific supplementary explanation will be given. The nozzle 2 has a space (pitch) 2 on one surface.
Twenty-four of 54 μm are arranged, and the other surface is arranged in a staggered manner, and a total of 48 on both sides are arranged at a pitch of 127 μm, which corresponds to a resolution of 200 dpi. The nozzle shape at this time is generally 50 μm in width and 40 μm in depth. This processing is based on the dry plasma etching method. In this method, a high-frequency electric field is applied between electrodes placed in a predetermined gas atmosphere, and ions or excited atoms separated from the gas by plasma excited at that time react with the surface of a silicon wafer to remove silicon. By removing it, that part is carved into a groove.

【0006】また、シリコンウェハは高価であるから、
一つのシリコンウェハから無駄なく複数個取りすること
がおこなわれる。図6の配置図において、寸法が35×45
mmの記録ヘッドに対するキャビティ板41の4個が、円環
状に配置されて1個の直径4インチのシリコンウェハ20
から取られる。この円環状配置された4個のキャビティ
板41のインク溜め,インク加圧室,ノズルなどの溝が、
同時にドライプラズマエッチング法によって彫り込まれ
る。
Since silicon wafers are expensive,
It is possible to take a plurality of silicon wafers without waste. In the layout of Fig. 6, the dimensions are 35 x 45
The four cavity plates 41 for the mm recording head are arranged in an annular shape to form one 4-inch diameter silicon wafer 20.
Taken from. Grooves such as ink reservoirs, ink pressurizing chambers and nozzles of the four cavity plates 41 arranged in an annular shape are
At the same time, it is engraved by the dry plasma etching method.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】一般に、キャビティ板
のインク溜め,インク加圧室,ノズルなどの溝が、ドラ
イプラズマエッチング法によって加工されるとき、各箇
所の単位領域内における加工部分(非マスク部)と非加
工部分(マスク部)との面積比率が大きく異なると、プ
ラズマによるガスの反応速度が不均一になって加工精度
にバラツキを生じる。すなわち、プラズマによるガスの
反応速度が大きいと、一般に加工速度が増す傾向があ
る。図4に示したように、従来のキャビティ板では、加
工部分と非加工部分との面積比率が部分的に大きく変動
するから、プラズマによるガスの反応速度が大きく不均
一になって、それだけエッチング速度の制御が困難にな
り、その結果、加工精度に大きなバラツキを生じる。す
なわち、インク流路の加工寸法が部分的に変動して、イ
ンク噴射特性ひいては印字品質に直接に悪い影響を及ぼ
す。このことは、言いかえれば、キャビティ板の歩留ま
り率を低下させる。
Generally, when the grooves such as the ink reservoir of the cavity plate, the ink pressurizing chamber, and the nozzle are processed by the dry plasma etching method, the processed part (non-masked part) in each unit area is processed. If the area ratio between the portion) and the non-processed portion (mask portion) is significantly different, the reaction rate of the gas by the plasma becomes non-uniform, and the processing accuracy varies. That is, when the reaction rate of gas by plasma is high, the processing rate generally tends to increase. As shown in FIG. 4, in the conventional cavity plate, the area ratio between the processed portion and the non-processed portion largely fluctuates, so that the reaction rate of the gas by the plasma becomes large and non-uniform, and the etching rate is accordingly large. Becomes difficult to control, resulting in a large variation in processing accuracy. In other words, the processing dimensions of the ink flow path partly change, which directly affects the ink ejection characteristics and thus the print quality. In other words, this lowers the yield rate of the cavity plate.

【0008】この発明の課題は、従来の技術がもつ以上
の問題点を解消し、キャビティ板としてのシリコン基板
に形成される溝状のインク流路の加工精度向上ひいては
印字品質向上と、歩留まり率向上とが図れるインクジェ
ット記録ヘッドの製造方法を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above problems of the prior art, to improve the processing accuracy of a groove-shaped ink flow path formed in a silicon substrate as a cavity plate, and thus to improve the printing quality and the yield rate. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an inkjet recording head that can be improved.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1に係るインクジ
ェット記録ヘッドの製造方法は、共通なインク溜めと、
これに連通しインク加圧室およびインク噴射用ノズルを
具備するインク流路の複数個とが表面にドライプラズマ
エッチングにより溝状に形成されるシリコン基板をキャ
ビティ板とする記録ヘッドの製造方法において、前記シ
リコン基板表面の前記各インク流路近傍に、この各イン
ク流路に連通しないで孤立した調整溝を前記ドライプラ
ズマエッチングによって同時に形成し、この形成によっ
て前記シリコン基板表面に係る各部分領域の面積に対す
る、その部分領域内で形成される全溝部の面積比率を均
一化するようにする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing an ink jet recording head, comprising: a common ink reservoir;
In a method of manufacturing a recording head having a cavity plate made of a silicon substrate on which a plurality of ink flow paths including an ink pressurizing chamber and an ink jetting nozzle communicated with this are formed in a groove by dry plasma etching, In the vicinity of each ink channel on the surface of the silicon substrate, an adjustment groove that is not connected to each ink channel and is isolated at the same time is formed by the dry plasma etching, and by this formation, the area of each partial region on the surface of the silicon substrate is formed. With respect to, the area ratio of all the groove portions formed in the partial region is made uniform.

【0010】請求項2に係るインクジェット記録ヘッド
の製造方法は、1個のシリコンウェハからキャビティ板
の複数個取りがおこなわれる場合であって、この各キャ
ビティ板の共通なインク溜めと、これに連通しインク加
圧室およびインク噴射用ノズルを具備するインク流路
が、ドライプラズマエッチングによって形成されると
き、隣り合う前記各キャビティ板の中間領域に孤立した
調整凹部を前記ドライプラズマエッチングによって同時
に形成し、この形成によって前記シリコンウェハ表面に
係る前記複数個取りの各キャビティ板の面積に対する、
そのキャビティ板内で形成される全溝部の面積比率と、
前記各キャビティ板の中間領域の面積に対する、その中
間領域内で形成される前記調整凹部の面積比率とが等し
くなるようにする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an ink jet recording head, wherein a plurality of cavity plates are taken from one silicon wafer, and a common ink reservoir of each cavity plate and a common ink reservoir for communicating with the ink reservoir. When the ink flow path including the ink pressurizing chamber and the ink jetting nozzle is formed by dry plasma etching, the adjustment recesses isolated in the intermediate regions of the adjacent cavity plates are simultaneously formed by the dry plasma etching. , By this formation, for the area of each cavity plate of the plurality of taking on the surface of the silicon wafer,
The area ratio of all grooves formed in the cavity plate,
The area ratio of the adjustment recess formed in the intermediate region to the area of the intermediate region of each cavity plate is equal.

【0011】[0011]

【作用】請求項1に係るインクジェット記録ヘッドの製
造方法では、シリコン基板表面の各インク流路近傍に、
この各インク流路に連通しないで孤立した調整溝を形成
させることによって、加工部分と非加工部分との面積比
率が一様化され、ドライプラズマエッチングのプラズマ
によるガスの反応速度が均一化される。
In the method of manufacturing the ink jet recording head according to the first aspect, in the vicinity of each ink flow path on the surface of the silicon substrate,
By forming isolated adjustment grooves that do not communicate with the respective ink flow paths, the area ratio between the processed portion and the non-processed portion is made uniform, and the gas reaction rate by the plasma of dry plasma etching is made uniform. ..

【0012】請求項2に係るインクジェット記録ヘッド
の製造方法では、隣り合う各キャビティ板の中間領域に
孤立した調整凹部を形成させることによって、加工部分
と非加工部分との面積比率が一様化され、ドライプラズ
マエッチングのプラズマによるガスの反応速度が均一化
される。
In the method of manufacturing an ink jet recording head according to a second aspect of the invention, the area ratio between the processed portion and the non-processed portion is made uniform by forming isolated adjusting recesses in the intermediate regions of the adjacent cavity plates. The reaction rate of gas by the plasma of dry plasma etching is made uniform.

【0013】[0013]

【実施例】この発明に係るインクジェット記録ヘッドの
製造方法の実施例について、以下に図を参照しながら説
明する。図1は第1実施例におけるキャビティ板の要部
の模式的平面図である。図1において、加工部分(非マ
スク部)と非加工部分(マスク部)との面積比率がとく
に異なる箇所、言いかえれば非加工部分がとくに広くな
る箇所は、インク供給路6の隣り合う中間領域と、イン
ク加圧室5が隣り合うときの、これにつながる噴射流路
3の中間領域とである。なお、インク加圧室5が千鳥状
にずれて隣り合うときには、これにつながる噴射流路3
の中間領域はとくに広くはならない。そこで、以上の二
つの箇所に面積比率を均一化するための各調整溝12,
13(強調するためハッチング表示した)を形成させる
ように非マスク部を設けるようにする。すなわち、調整
溝12は、インク供給路6の隣り合う中間領域に位置
し、調整溝13は、インク加圧室5が隣り合うときの、
これにつながる噴射流路3の中間領域に位置する。
Embodiments of the method for manufacturing an ink jet recording head according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic plan view of a main part of a cavity plate in the first embodiment. In FIG. 1, a portion where the area ratio between the processed portion (non-masked portion) and the non-processed portion (masked portion) is particularly different, in other words, a portion where the non-processed portion is particularly wide is an intermediate region adjacent to the ink supply path 6. And an intermediate region of the ejection flow path 3 connected to the ink pressurizing chambers 5 adjacent to each other. When the ink pressurizing chambers 5 are staggered and are adjacent to each other, the ejection passages 3 connected to them are connected.
The intermediate region of is not particularly wide. Therefore, the adjustment grooves 12 for equalizing the area ratio in the above two places,
The non-mask portion is provided so as to form 13 (hatched display for emphasis). That is, the adjustment groove 12 is located in the adjacent intermediate region of the ink supply path 6, and the adjustment groove 13 is provided when the ink pressurizing chambers 5 are adjacent to each other.
It is located in the intermediate region of the injection flow path 3 connected to this.

【0014】各調整溝12,13を形成させることによ
って、加工部分と非加工部分との面積比率が一様化さ
れ、ドライプラズマエッチングのプラズマによるガスの
反応速度が均一化される。言いかえれば、この各調整溝
12,13の寸法,形状は、その箇所における加工部分
と非加工部分との面積比率が一様化されるように定めら
れる。調整溝が適切に設定されるときには、インク流路
の加工精度は±5μmにすることができる。
By forming the adjustment grooves 12 and 13, the area ratio between the processed portion and the non-processed portion is made uniform, and the reaction rate of gas by the plasma of dry plasma etching is made uniform. In other words, the size and shape of each of the adjustment grooves 12 and 13 are determined so that the area ratio between the processed portion and the non-processed portion at that portion is made uniform. When the adjustment groove is properly set, the processing accuracy of the ink flow path can be set to ± 5 μm.

【0015】実施例におけるキャビティ板について、図
2を参照しながら、さらに詳しく実際に近い形で説明す
る。図2は実施例におけるキャビティ板の左半分の平面
図である。図2において、図1の対応する箇所には同じ
符号を付けてあり、ハッチング表示した孤立領域が調整
溝を表す。キャビティ板の左半分の領域を、ほぼ扇面形
をなす12個のセグメントAi,Bi,Ci,Di(i
=1,2,3)に細分化し、各セグメントの面積に対す
る、そのセグメント内の加工部分の面積比率の分布を求
めてみた。目的が面積比率の均一化にあるから、面積比
率を指数的に表すことにし、面積比率がもっとも小さい
ものを100 とした。その結果、面積比率の分布は、100
〜140 のバラツキを示し、平均値は130 であった。これ
に対し、図4の従来例におけるキャビティ板で、同様の
領域に係るセグメント化をおこない、面積比率を指数的
に表すことにし、面積比率がもっとも小さいものを100
として面積比率の分布をみると、100 〜240 のバラツキ
を示し、平均値は180 であった。当然ながら、従来例で
の100 と、実施例での100 とは同じ面積比率を表しては
いない。さて、各セグメントに係る面積比率の均一化を
図った効果として、インク噴射に係る初速のバラツキを
測定すると、従来例において±40%あったものが、実
施例では±20%以下に抑えられる好結果が得られた。
With reference to FIG. 2, the cavity plate in the embodiment will be described in more detail in a form closer to the actual condition. FIG. 2 is a plan view of the left half of the cavity plate in the embodiment. In FIG. 2, corresponding portions in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and isolated areas hatched represent adjustment grooves. In the left half area of the cavity plate, twelve segments Ai, Bi, Ci, Di (i
= 1, 2, 3), and the distribution of the area ratio of the processed portion in each segment to the area of each segment was calculated. Since the purpose is to make the area ratio uniform, we decided to express the area ratio exponentially and set the smallest area ratio to 100. As a result, the distribution of area ratio is 100
There was a variation of ~ 140 with an average value of 130. On the other hand, in the conventional cavity plate shown in FIG. 4, the same area is segmented and the area ratio is expressed exponentially.
Looking at the distribution of the area ratio, there was a variation of 100 to 240, and the average value was 180. As a matter of course, 100 in the conventional example and 100 in the example do not represent the same area ratio. Now, as an effect of making the area ratio of each segment uniform, when the variation of the initial velocity related to ink ejection is measured, what is ± 40% in the conventional example is suppressed to ± 20% or less in the example. Results were obtained.

【0016】[0016]

【発明の効果】請求項1に係るインクジェット記録ヘッ
ドの製造方法では、シリコン基板表面の各インク流路近
傍に、この各インク流路に連通しないで孤立した調整溝
を形成させることによって、加工部分と不加工部分との
面積比率が一様化され、ドライプラズマエッチングのプ
ラズマによるガスの反応速度が均一化される。したがっ
て、エッチング速度の制御が正確,容易になり、インク
流路の加工精度ひいては印字品質の向上と、歩留まり率
向上とが図れる。
In the method for manufacturing an ink jet recording head according to the first aspect of the present invention, the processed portion is formed by forming an isolated adjustment groove in the vicinity of each ink channel on the surface of the silicon substrate without communicating with each ink channel. The area ratio between the unprocessed part and the unprocessed part is made uniform, and the reaction rate of the gas by the plasma of the dry plasma etching is made uniform. Therefore, the etching rate can be controlled accurately and easily, and the processing accuracy of the ink flow path and thus the printing quality can be improved and the yield rate can be improved.

【0017】請求項2に係るインクジェット記録ヘッド
の製造方法では、隣り合う各キャビティ板の中間領域に
孤立した調整凹部を形成させることによって、加工部分
と不加工部分との面積比率が一様化され、ドライプラズ
マエッチングのプラズマによるガスの反応速度が均一化
される。したがって、エッチング速度の制御か正確,容
易になり、大幅な加工精度ひいては印字品質の向上と、
歩留まり率向上とが図れる。
In the method of manufacturing an ink jet recording head according to a second aspect of the present invention, by forming isolated adjusting recesses in the intermediate regions of the adjacent cavity plates, the area ratio between the processed portion and the unprocessed portion is made uniform. The reaction rate of gas by the plasma of dry plasma etching is made uniform. Therefore, the control of the etching rate becomes accurate and easy, and the processing accuracy and thus the printing quality are improved.
The yield rate can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る第1実施例におけるキャビティ板
の要部の模式的平面図
FIG. 1 is a schematic plan view of a main part of a cavity plate according to a first embodiment of the invention.

【図2】第1実施例におけるキャビティ板の左半分の平
面図
FIG. 2 is a plan view of the left half of the cavity plate in the first embodiment.

【図3】第2実施例におけるシリコンウェハ上の4個取
りキャビティ板の配置図
FIG. 3 is a layout view of a four-cavity cavity plate on a silicon wafer in a second embodiment.

【図4】従来例におけるキャビティ板の平面図FIG. 4 is a plan view of a cavity plate in a conventional example.

【図5】同じくその断面図FIG. 5 is a sectional view of the same.

【図6】従来例におけるシリコンウェハ上の4個取りキ
ャビティ板の配置図
FIG. 6 is a layout view of a four-cavity cavity plate on a silicon wafer in a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 キャビティ板 2 ノズル 3 噴射流路 5 インク加圧室 6 インク供給路 7 インク溜め 12 調整溝 13 調整溝 20 シリコンウェハ 21 キャビティ板 22 調整凹部 23 調整凹部 1 Cavity Plate 2 Nozzle 3 Ejection Flow Path 5 Ink Pressurization Chamber 6 Ink Supply Path 7 Ink Reservoir 12 Adjustment Groove 13 Adjustment Groove 20 Silicon Wafer 21 Cavity Plate 22 Adjustment Recess 23

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 門脇 昭彦 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内 (72)発明者 松本 浩造 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Akihiko Kadowaki 1-1, Tanabe Nitta, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Fuji Electric Co., Ltd. No. 1 within Fuji Electric Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】共通なインク溜めと、これに連通しインク
加圧室およびインク噴射用ノズルを具備するインク流路
の複数個とが表面にドライプラズマエッチングによって
溝状に形成されるシリコン基板をキャビティ板とする記
録ヘッドの製造方法において、前記シリコン基板表面の
前記各インク流路近傍に、この各インク流路に連通しな
いで孤立した調整溝を前記ドライプラズマエッチングに
よって同時に形成し、この形成によって前記シリコン基
板表面に係る各部分領域の面積に対する、その部分領域
内で形成される全溝部の面積比率を均一化するようにし
たことを特徴とするインクジェット記録ヘッドの製造方
法。
1. A silicon substrate in which a common ink reservoir and a plurality of ink flow passages which are connected to the ink reservoir and are provided with an ink pressurizing chamber and an ink ejecting nozzle are formed in a groove shape by dry plasma etching on a surface. In a method of manufacturing a recording head using a cavity plate, an adjustment groove which is not in communication with each ink flow path and is isolated in the vicinity of each ink flow path on the surface of the silicon substrate is simultaneously formed by the dry plasma etching. A method for manufacturing an ink jet recording head, wherein an area ratio of all the groove portions formed in the partial region to the area of each partial region on the surface of the silicon substrate is made uniform.
【請求項2】1個のシリコンウェハからキャビティ板の
複数個取りがおこなわれる場合であって、この各キャビ
ティ板の共通なインク溜めと、これに連通しインク加圧
室およびインク噴射用ノズルを具備するインク流路が、
ドライプラズマエッチングによって形成されるとき、隣
り合う前記各キャビティ板の中間領域に孤立した調整凹
部を前記ドライプラズマエッチングによって同時に形成
し、この形成によって前記シリコンウェハ表面に係る前
記複数個取りの各キャビティ板の面積に対する、そのキ
ャビティ板内で形成される全溝部の面積比率と、前記各
キャビティ板の中間領域の面積に対する、その中間領域
内で形成される前記調整凹部の面積比率とが等しくなる
ようにしたことを特徴とするインクジェット記録ヘッド
の製造方法。
2. When a plurality of cavity plates are taken from one silicon wafer, a common ink reservoir of each cavity plate, an ink pressurizing chamber and an ink ejecting nozzle communicating therewith are provided. The ink flow path provided is
When formed by dry plasma etching, the adjustment recesses that are isolated in the intermediate regions of the adjacent cavity plates are simultaneously formed by the dry plasma etching, and by this formation, the cavity plates for taking the plurality of wafers on the surface of the silicon wafer are formed. So that the area ratio of all the groove portions formed in the cavity plate to the area of and the area ratio of the adjustment recesses formed in the intermediate region to the area of the intermediate region of each cavity plate are equal. An ink jet recording head manufacturing method characterized by the above.
JP17871692A 1991-07-25 1992-07-07 Manufacture of ink jet recording head Pending JPH05185597A (en)

Priority Applications (1)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7055242B2 (en) * 2000-03-21 2006-06-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Semiconductor substrate having increased fracture strength

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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