JPH05177822A - オフセット印刷機のインクレベル制御システム - Google Patents
オフセット印刷機のインクレベル制御システムInfo
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- JPH05177822A JPH05177822A JP3153960A JP15396091A JPH05177822A JP H05177822 A JPH05177822 A JP H05177822A JP 3153960 A JP3153960 A JP 3153960A JP 15396091 A JP15396091 A JP 15396091A JP H05177822 A JPH05177822 A JP H05177822A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41F—PRINTING MACHINES OR PRESSES
- B41F31/00—Inking arrangements or devices
- B41F31/02—Ducts, containers, supply or metering devices
- B41F31/022—Ink level control devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F23/00—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
- G01F23/22—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water
- G01F23/28—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water by measuring the variations of parameters of electromagnetic or acoustic waves applied directly to the liquid or fluent solid material
- G01F23/296—Acoustic waves
- G01F23/2962—Measuring transit time of reflected waves
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D9/00—Level control, e.g. controlling quantity of material stored in vessel
- G05D9/12—Level control, e.g. controlling quantity of material stored in vessel characterised by the use of electric means
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- Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 オフセット印刷機におけるインク溜のインク
表面のレベルを、監視し、制御するための回路およびソ
フトウェアプログラムを備えた装置。 【構成】 インク溜ＩＦのインク波面ＩＷの上方に超音
波トランスデューサＸＤが配置される。超音波トランシ
ーバＵＸの送信部からトランスデューサＸＤに電気信号
が伝送され、トランスデューサＸＤはインク溜ＩＦから
の超音波の反射を生ぜしめる。トランシーバＵＸの受信
部は、トランスデューサＸＤを介してインク溜ＩＦから
反射された信号を受信する。マイクロプロセッサコント
ローラＣＥが、電気信号の送信および反射された電気信
号の受信を制御し、インク溜ＩＦのインクレベルを決定
するために、送信および受信された信号の時間発生セグ
メントを処理する。マイクロプロセッサコントローラＣ
Ｅから信号を受信し、インク溜ＩＦへのインクを制御す
る制御バルブＣＶが配置される。
表面のレベルを、監視し、制御するための回路およびソ
フトウェアプログラムを備えた装置。 【構成】 インク溜ＩＦのインク波面ＩＷの上方に超音
波トランスデューサＸＤが配置される。超音波トランシ
ーバＵＸの送信部からトランスデューサＸＤに電気信号
が伝送され、トランスデューサＸＤはインク溜ＩＦから
の超音波の反射を生ぜしめる。トランシーバＵＸの受信
部は、トランスデューサＸＤを介してインク溜ＩＦから
反射された信号を受信する。マイクロプロセッサコント
ローラＣＥが、電気信号の送信および反射された電気信
号の受信を制御し、インク溜ＩＦのインクレベルを決定
するために、送信および受信された信号の時間発生セグ
メントを処理する。マイクロプロセッサコントローラＣ
Ｅから信号を受信し、インク溜ＩＦへのインクを制御す
る制御バルブＣＶが配置される。
Description
【０００１】
【発明の背景】本発明は、オフセット印刷機のインク溜
におけるインクレベルを制御するための装置および方法
に関するものである。
におけるインクレベルを制御するための装置および方法
に関するものである。
【０００２】オフセット印刷機において、インクが、像
を印刷プレートからインプレッションブランケットロー
ラ、さらに用紙に転写するために使用される。インクは
インク溜または容器中に貯えられ、インクに間接的に接
触するインク溜ローラに送られる。印刷される像の濃度
は、インク処理ローラ上のインクフィルムの厚さによっ
て大きく影響を受ける。インクフィルムの厚さは、イン
ク溜において露出するインク面の大きさによってある程
度制御される。したがって、オフセット印刷機による印
刷物の画質を維持するためには、インク溜中のインクレ
ベルおよびインク補給量を常時監視することが必要であ
る。
を印刷プレートからインプレッションブランケットロー
ラ、さらに用紙に転写するために使用される。インクは
インク溜または容器中に貯えられ、インクに間接的に接
触するインク溜ローラに送られる。印刷される像の濃度
は、インク処理ローラ上のインクフィルムの厚さによっ
て大きく影響を受ける。インクフィルムの厚さは、イン
ク溜において露出するインク面の大きさによってある程
度制御される。したがって、オフセット印刷機による印
刷物の画質を維持するためには、インク溜中のインクレ
ベルおよびインク補給量を常時監視することが必要であ
る。
【０００３】フロート（米国特許第３，０２５，７９８
号参照）、触知性のまたは機械的なセンサ（米国特許第
３，３７３，０５２号、および同第３，８４８，５２９
号参照）、および空気式センサ（米国特許第４，０１
０，６８３号参照）並びに超音波センサを有するいくつ
かの技術が、オフセット印刷機におけるインクレベルの
検出のために使用される。インク溜内のインクに間接的
に接触することが必要な技術（フロート、触知性のおよ
び空気式のセンサ）は、信頼のおけるものではないこと
がこれまでに明らかにされている。静電容量式および超
音波式のセンサは、インク溜のレベルを測定するために
種々の装置において使用されていきている。静電容量式
の装置は、第１のプレートとしての電極および第２のプ
レートとしての金属性インク溜から形成されたコンデン
サの比誘電率の変化を監視することによって、インクレ
ベルの変化を測定する。２枚のプレートの間に存在する
空気およびインクが誘電体として機能する。
号参照）、触知性のまたは機械的なセンサ（米国特許第
３，３７３，０５２号、および同第３，８４８，５２９
号参照）、および空気式センサ（米国特許第４，０１
０，６８３号参照）並びに超音波センサを有するいくつ
かの技術が、オフセット印刷機におけるインクレベルの
検出のために使用される。インク溜内のインクに間接的
に接触することが必要な技術（フロート、触知性のおよ
び空気式のセンサ）は、信頼のおけるものではないこと
がこれまでに明らかにされている。静電容量式および超
音波式のセンサは、インク溜のレベルを測定するために
種々の装置において使用されていきている。静電容量式
の装置は、第１のプレートとしての電極および第２のプ
レートとしての金属性インク溜から形成されたコンデン
サの比誘電率の変化を監視することによって、インクレ
ベルの変化を測定する。２枚のプレートの間に存在する
空気およびインクが誘電体として機能する。
【０００４】超音波センサを使用する装置は、トランス
デューサから放射される音響エネルギーの送信と、前記
放射されたエネルギーのエコーの受信との間の時間を測
定することによって、インクレベルの変化を検出する。
エコーは、インク表面からの反射である。典型的には、
トランスデューサは、送信の際に電気的エネルギーを機
械的エネルギーに変換するために使用され、受信の際に
機械的エネルギーを電気的エネルギーに変換するため使
用される、圧電セラミック素子からなる。室温での大気
中の音速に関する知識によって、離れたトランスデュー
サおよびインク表面の間の距離を計算することができ、
よって、インク表面の高さの変化を検出することができ
る。インク表面のレベルが望ましいレベルまたは設定レ
ベル以下に低下したとき、電気的に作動するバルブを開
放せしめる電気信号が発せられる。バルブが開放された
とき、インクは、貯蔵タンクからインク溜へ流れるよう
になる。インクレベルが望ましレベルまたは設定レベル
以上に上昇したとき、電気的に作動するバルブを閉鎖せ
しめる電気信号が発せられ、貯蔵タンクからインク溜へ
のインクの流れが遮断される。超音波トランスデューサ
を用いたインク溜の監視は、相対的に複雑である。イン
ク表面の気泡、表面の起伏（高粘性の、混合されないイ
ンクの表面に対する乱れが、長時間にわたって継続す
る）、インキ溜内で使用される機械的なインクミキサに
よって引き起こされる大きな乱れ、およびトランスデュ
ーサおよびインク表面の間に存在する空気の運動等の因
子が、インク表面から反射されるエコーを、読み取りか
ら次の読み取りまでに、断続的に消失させ、あるいは著
しく変化させ得る。この測定の不安定性は、制御回路お
よび（使用される場合には）ソフトウェアプログラムの
複雑さを著しく増大させる。
デューサから放射される音響エネルギーの送信と、前記
放射されたエネルギーのエコーの受信との間の時間を測
定することによって、インクレベルの変化を検出する。
エコーは、インク表面からの反射である。典型的には、
トランスデューサは、送信の際に電気的エネルギーを機
械的エネルギーに変換するために使用され、受信の際に
機械的エネルギーを電気的エネルギーに変換するため使
用される、圧電セラミック素子からなる。室温での大気
中の音速に関する知識によって、離れたトランスデュー
サおよびインク表面の間の距離を計算することができ、
よって、インク表面の高さの変化を検出することができ
る。インク表面のレベルが望ましいレベルまたは設定レ
ベル以下に低下したとき、電気的に作動するバルブを開
放せしめる電気信号が発せられる。バルブが開放された
とき、インクは、貯蔵タンクからインク溜へ流れるよう
になる。インクレベルが望ましレベルまたは設定レベル
以上に上昇したとき、電気的に作動するバルブを閉鎖せ
しめる電気信号が発せられ、貯蔵タンクからインク溜へ
のインクの流れが遮断される。超音波トランスデューサ
を用いたインク溜の監視は、相対的に複雑である。イン
ク表面の気泡、表面の起伏（高粘性の、混合されないイ
ンクの表面に対する乱れが、長時間にわたって継続す
る）、インキ溜内で使用される機械的なインクミキサに
よって引き起こされる大きな乱れ、およびトランスデュ
ーサおよびインク表面の間に存在する空気の運動等の因
子が、インク表面から反射されるエコーを、読み取りか
ら次の読み取りまでに、断続的に消失させ、あるいは著
しく変化させ得る。この測定の不安定性は、制御回路お
よび（使用される場合には）ソフトウェアプログラムの
複雑さを著しく増大させる。
【０００５】
【発明の要約】したがって、本発明の目的は、オフセッ
ト印刷機におけるインク溜のインク表面のレベルを、正
確かつ信頼性を伴った方法で、監視し、制御するための
回路およびソフトウェアプログラムを備えた装置を提供
することである。かかる装置によって実現される効果
は、制御バルブの消耗を最小限に抑え、製造コストを減
少させることを含んでいる。
ト印刷機におけるインク溜のインク表面のレベルを、正
確かつ信頼性を伴った方法で、監視し、制御するための
回路およびソフトウェアプログラムを備えた装置を提供
することである。かかる装置によって実現される効果
は、制御バルブの消耗を最小限に抑え、製造コストを減
少させることを含んでいる。
【０００６】本発明によって、オフセット印刷機のイン
ク溜におけるインク表面のレベルを監視し、制御するた
めの装置が提供される。この装置は、インクおよびトラ
ンスデューサの間の距離を測定する超音波トランスデュ
ーサを使用する。トランスデューサ、そのケーブルおよ
び超音波トランシーバからなる共振システムが臨界的に
減衰せしめられないとき、送信放射オーバーリング（す
なわち、トランスデューサ起動エネルギー源が取り除か
れた後に継続する自己発振）が、約５インチ（１２．７
cm）またはそれ以内距離にある標的からのエコーを不明
瞭にする。同調可能な送信ラインフィルターによって、
調整される共振システムが、音響送信バーストオーバー
リングを最小限に押さえ、距離測定が、トランスデュー
サから５インチ（１２．７cm）以内の距離にある表面に
対する距離測定を十分に可能とする。
ク溜におけるインク表面のレベルを監視し、制御するた
めの装置が提供される。この装置は、インクおよびトラ
ンスデューサの間の距離を測定する超音波トランスデュ
ーサを使用する。トランスデューサ、そのケーブルおよ
び超音波トランシーバからなる共振システムが臨界的に
減衰せしめられないとき、送信放射オーバーリング（す
なわち、トランスデューサ起動エネルギー源が取り除か
れた後に継続する自己発振）が、約５インチ（１２．７
cm）またはそれ以内距離にある標的からのエコーを不明
瞭にする。同調可能な送信ラインフィルターによって、
調整される共振システムが、音響送信バーストオーバー
リングを最小限に押さえ、距離測定が、トランスデュー
サから５インチ（１２．７cm）以内の距離にある表面に
対する距離測定を十分に可能とする。
【０００７】本発明の効果の１つは、制御システムのダ
イナミックな応答がインク溜内のインクの粘性に一致
し、よってインク表面のレベルを制御すべき設定値に正
確に維持できるように改善がなされることである。記憶
された制御ソフトウェアエコータイム処理アルゴリズム
が、インクをインクトレーンに供給すること、または制
御バルブを通じて貯蔵タンクから供給することによる減
少の後、（インクの粘性に関係する）新たなレベルを確
立するためにインクが必要とする時間間隔を考慮する。
また、このアルゴリズムは、トランスデューサの測定領
域の下を機械的なインクミキサが通過することによって
引き起こされる大きな乱れの影響を消失させる。インク
レベルの長期的なふるまいは、連続するインクレベルの
測定値の周期的なサンプリングに基づいて平均値をとる
ことによって計算される。サンプリング技術の時間基準
は、校正の間にコントローラに入力され、校正データ記
憶装置に記憶されるインクの粘性に直接関係している。
イナミックな応答がインク溜内のインクの粘性に一致
し、よってインク表面のレベルを制御すべき設定値に正
確に維持できるように改善がなされることである。記憶
された制御ソフトウェアエコータイム処理アルゴリズム
が、インクをインクトレーンに供給すること、または制
御バルブを通じて貯蔵タンクから供給することによる減
少の後、（インクの粘性に関係する）新たなレベルを確
立するためにインクが必要とする時間間隔を考慮する。
また、このアルゴリズムは、トランスデューサの測定領
域の下を機械的なインクミキサが通過することによって
引き起こされる大きな乱れの影響を消失させる。インク
レベルの長期的なふるまいは、連続するインクレベルの
測定値の周期的なサンプリングに基づいて平均値をとる
ことによって計算される。サンプリング技術の時間基準
は、校正の間にコントローラに入力され、校正データ記
憶装置に記憶されるインクの粘性に直接関係している。
【０００８】本発明の別の効果は、制御ソフトウェア
が、エコータイム処理アルゴリズムを、インク表面に発
生する気胞、または隆起によって引き起こされる不安定
性の程度を適当に考慮するように変更する、インク表面
アルゴリズムを用いることによって、インク表面の変動
を監視することである。インクレベルの短期間のふるま
いは、インクレベルの測定の間における連続する差の周
期的なサンプリングに基づく平均値形成アルゴリズムを
用いることによって監視される。長期的なインクレベル
の変動と短期的なインクレベルの変動をバランスさせる
ことによって、インク供給サイクルの最適の繰り返し率
を決定し、許容し得る正確さでもって制御レベルを確立
し、制御バルブの寿命をのばすことができる。
が、エコータイム処理アルゴリズムを、インク表面に発
生する気胞、または隆起によって引き起こされる不安定
性の程度を適当に考慮するように変更する、インク表面
アルゴリズムを用いることによって、インク表面の変動
を監視することである。インクレベルの短期間のふるま
いは、インクレベルの測定の間における連続する差の周
期的なサンプリングに基づく平均値形成アルゴリズムを
用いることによって監視される。長期的なインクレベル
の変動と短期的なインクレベルの変動をバランスさせる
ことによって、インク供給サイクルの最適の繰り返し率
を決定し、許容し得る正確さでもって制御レベルを確立
し、制御バルブの寿命をのばすことができる。
【０００９】本発明の他の目的、特徴および効果が、開
示された本発明の範囲から逸脱することなく種々の変形
例が可能であるが、以下の、添付図面を参照した本発明
の好ましい実施例の説明から容易に理解されるだろう。
示された本発明の範囲から逸脱することなく種々の変形
例が可能であるが、以下の、添付図面を参照した本発明
の好ましい実施例の説明から容易に理解されるだろう。
【００１０】
【好ましい実施例の説明】図１において、オフセット印
刷機上のインク溜ＩＦは、インクを（図示はしない）印
刷プレートに供給し、インクトレーンＩＴのインク溜ロ
ーラＤＲを介して像を（図示はしない）ブランケットロ
ーラに転写する。インク溜ローラＤＲの回転運動によっ
て生じるインク波面ＩＷの上方に取付けられた超音波ト
ランスデューサＸＤが、インク波面ＩＷの上方におけ
る、トランスデューサからインク表面に至る距離を測定
するためのセンサとして使用される。
刷機上のインク溜ＩＦは、インクを（図示はしない）印
刷プレートに供給し、インクトレーンＩＴのインク溜ロ
ーラＤＲを介して像を（図示はしない）ブランケットロ
ーラに転写する。インク溜ローラＤＲの回転運動によっ
て生じるインク波面ＩＷの上方に取付けられた超音波ト
ランスデューサＸＤが、インク波面ＩＷの上方におけ
る、トランスデューサからインク表面に至る距離を測定
するためのセンサとして使用される。
【００１１】マイクロプロセッサコントローラＣＥにお
いて、パルスジェネレータＰＧは送信パルスＴＰを発生
し、超音波トランシーバＵＸの送信部を起動し、同時に
クロックジェネレータＣＫによるタイマレジスタＴＲの
クロッキングをスタートさせる。超音波トランシーバＵ
Ｘから送信される電気振動は、送信ラインフィルタＴＦ
によってろ波され、超音波トランスデューサＸＤに与え
られる。超音波トランスデューサＸＤは、受信した信号
を音波ＴＷとして伝播するエネルギーバーストに変換す
る。送信波ＴＷがインク溜ＴＦ内のインク表面ＩＫにあ
たると、その結果生じた反射エコーＲＥが、超音波トラ
ンスデューサＸＤにあたり、順次送信ラインフィルタＴ
Ｆによってろ波される電気振動に変換される。超音波ト
ランシーバＵＸの受信部は、反射エコーの電気振動を変
換し、マイクロプロセッサコントローラＣＥ内のタイマ
レジスタＴＲのクロッキングを停止させるために使用さ
れる検出エコーパルスＤＰを発生する。十分大きい振幅
を有する送信エネルギーバーストは、受信部によって検
出され得る多重再反射エコーを発生するかもしれない。
その結果生じる好ましくない検出エコーパルスは、マイ
クロプロセッサコントローラＣＥ内の送信パルス消失器
によって除去される。
いて、パルスジェネレータＰＧは送信パルスＴＰを発生
し、超音波トランシーバＵＸの送信部を起動し、同時に
クロックジェネレータＣＫによるタイマレジスタＴＲの
クロッキングをスタートさせる。超音波トランシーバＵ
Ｘから送信される電気振動は、送信ラインフィルタＴＦ
によってろ波され、超音波トランスデューサＸＤに与え
られる。超音波トランスデューサＸＤは、受信した信号
を音波ＴＷとして伝播するエネルギーバーストに変換す
る。送信波ＴＷがインク溜ＴＦ内のインク表面ＩＫにあ
たると、その結果生じた反射エコーＲＥが、超音波トラ
ンスデューサＸＤにあたり、順次送信ラインフィルタＴ
Ｆによってろ波される電気振動に変換される。超音波ト
ランシーバＵＸの受信部は、反射エコーの電気振動を変
換し、マイクロプロセッサコントローラＣＥ内のタイマ
レジスタＴＲのクロッキングを停止させるために使用さ
れる検出エコーパルスＤＰを発生する。十分大きい振幅
を有する送信エネルギーバーストは、受信部によって検
出され得る多重再反射エコーを発生するかもしれない。
その結果生じる好ましくない検出エコーパルスは、マイ
クロプロセッサコントローラＣＥ内の送信パルス消失器
によって除去される。
【００１２】タイマレジスタＴＲにおいてとられたカウ
ントは、ローパスフィルタＬＦによって処理され、電気
的な背景ノイズ、および超音波トランスデューサＸＤと
インク表面との間の空気の運動によって生じるノイズに
よる、高振動数の変動を円滑化する。ローパスフィルタ
を通過したカウント値は、コントローラソフトウェアＳ
Ｗ中のインク表面アルゴリズムＳＡに与えられる。イン
ク表面アルゴリズムは、この最新にフィルタを通過した
カウント値と、その直前に受け取られたフィルターを通
過したカウント値との間の差の絶対値を決定する。平均
値形成アルゴリズムが、この差の絶対値に適用され、表
面変動インデックスＶＩを更新する。平均値形成アルゴ
リズム、ローパスフィルタアルゴリズムおよびインク表
面アルゴリズムのフロー図を、それぞれ、図４、図５お
よび図６に示した。
ントは、ローパスフィルタＬＦによって処理され、電気
的な背景ノイズ、および超音波トランスデューサＸＤと
インク表面との間の空気の運動によって生じるノイズに
よる、高振動数の変動を円滑化する。ローパスフィルタ
を通過したカウント値は、コントローラソフトウェアＳ
Ｗ中のインク表面アルゴリズムＳＡに与えられる。イン
ク表面アルゴリズムは、この最新にフィルタを通過した
カウント値と、その直前に受け取られたフィルターを通
過したカウント値との間の差の絶対値を決定する。平均
値形成アルゴリズムが、この差の絶対値に適用され、表
面変動インデックスＶＩを更新する。平均値形成アルゴ
リズム、ローパスフィルタアルゴリズムおよびインク表
面アルゴリズムのフロー図を、それぞれ、図４、図５お
よび図６に示した。
【００１３】図７に示した、コントローラソフトウェア
ＳＷのエコータイム処理アルゴリズムは、収集されたタ
イマレジスタＴＲカウントを用い、インクレベルの未調
整の長期平均値を計算し、インク供給サイクルのタイミ
ングを決定する。平均値形成アルゴリズムにおいて用い
られるサンプリング時間およびサンプル数は、校正デー
タ記憶装置ＣＦによって与えられるインク応答ＩＲによ
って決定される。インク応答ＩＲは、インク溜ＩＦのイ
ンクＩＫに対して測定され、校正データエントリー装置
ＤＥを通じてマイクロプロセッサコントローラＣＥに入
力される。新たな未調整の長期インクレベルは、表面変
動インデックスＶＩを適用し、平均値形成プロセスにお
いて用いられるサンプリング時間間隔およびサンプル数
を変更し、調整された長期インクレベルＬＬの新たな値
を発生させることによって、インク表面変動に対して補
正される。
ＳＷのエコータイム処理アルゴリズムは、収集されたタ
イマレジスタＴＲカウントを用い、インクレベルの未調
整の長期平均値を計算し、インク供給サイクルのタイミ
ングを決定する。平均値形成アルゴリズムにおいて用い
られるサンプリング時間およびサンプル数は、校正デー
タ記憶装置ＣＦによって与えられるインク応答ＩＲによ
って決定される。インク応答ＩＲは、インク溜ＩＦのイ
ンクＩＫに対して測定され、校正データエントリー装置
ＤＥを通じてマイクロプロセッサコントローラＣＥに入
力される。新たな未調整の長期インクレベルは、表面変
動インデックスＶＩを適用し、平均値形成プロセスにお
いて用いられるサンプリング時間間隔およびサンプル数
を変更し、調整された長期インクレベルＬＬの新たな値
を発生させることによって、インク表面変動に対して補
正される。
【００１４】調整された長期インクレベルＬＬは、コン
トローラソフトウェアＳＷにおけるコンパレータＣＰに
適用される。図８に示したように、調整された長期イン
クレベルＬＬが、校正データ記憶装置ＣＦによって与え
られた設定れべる値ＳＰよりも大きい場合には、インク
レベルが低下したことが示されており、制御バルブＣＶ
を開放すべくバルブドライバＶＤに対して信号が発せら
れ、インク供給サイクルが開始する。設定レベルＳＰ
は、許容し得るインクの適用範囲内に維持すべく正しい
レベルを判断する際の、印刷機のオペレータの経験から
確定され、校正データエントリー装置ＤＥを通じてマイ
クロプロセッサコントローラＣＥ内に入力される。
トローラソフトウェアＳＷにおけるコンパレータＣＰに
適用される。図８に示したように、調整された長期イン
クレベルＬＬが、校正データ記憶装置ＣＦによって与え
られた設定れべる値ＳＰよりも大きい場合には、インク
レベルが低下したことが示されており、制御バルブＣＶ
を開放すべくバルブドライバＶＤに対して信号が発せら
れ、インク供給サイクルが開始する。設定レベルＳＰ
は、許容し得るインクの適用範囲内に維持すべく正しい
レベルを判断する際の、印刷機のオペレータの経験から
確定され、校正データエントリー装置ＤＥを通じてマイ
クロプロセッサコントローラＣＥ内に入力される。
【００１５】供給サイクルは、インクレベルの繰り返さ
れる測定、エコータイム処理アルゴリズムＥＡおよびイ
ンク表面アルゴリズムＳＡの適用によって、設定レベル
ＳＰと制御の安定性のために含まれる微小なヒステリシ
スとの総和よりも小さい調整された長期インクレベルＬ
Ｌが発生するまで、継続する。
れる測定、エコータイム処理アルゴリズムＥＡおよびイ
ンク表面アルゴリズムＳＡの適用によって、設定レベル
ＳＰと制御の安定性のために含まれる微小なヒステリシ
スとの総和よりも小さい調整された長期インクレベルＬ
Ｌが発生するまで、継続する。
【００１６】インク制御システムの、超音波トランスデ
ューサＸＤから約５インチ（１２．７cm) 以内の距離に
位置するインク波面ＩＷからの反射エコーＲＥを検出す
る能力は、送信キーパルスＴＰによる励起の後、超音波
トランスデューサにおいて生じる自己発振オーバーリン
グの持続時間によって影響を受ける。この現象を図２に
示してあり、この図において、トランスデューサシステ
ムは送信ラインフィルタＴＦを有していない。送信キー
パルスＴＰが持続する間じゅう、超音波トランスデュー
サＸＤ内において発振が生じる。送信キーパルスが励起
されなくなった後も、超音波トランスデューサ素子は発
振し続ける。発振の振幅は、エネルギーが機械的および
電気的損失において消費されるにつれて次第に減少す
る。トランスデューサ、ケーブルおよびドライバ素子を
有する典型的なトランスデューサシステムに対して、こ
れらの発振は、超音波トランシーバＵＸの受信部によっ
て、受信部の感度に依存して４００〜８００マイクロ秒
の間検出され得る。図２において、標的エコー反射ＲＥ
が、送信バーストオーバーリングとともに含まれたもの
として示されている。その結果生じる検出エコーパルス
ＤＰは、標的エコーおよびオーバーリングの間に差異を
有していない。
ューサＸＤから約５インチ（１２．７cm) 以内の距離に
位置するインク波面ＩＷからの反射エコーＲＥを検出す
る能力は、送信キーパルスＴＰによる励起の後、超音波
トランスデューサにおいて生じる自己発振オーバーリン
グの持続時間によって影響を受ける。この現象を図２に
示してあり、この図において、トランスデューサシステ
ムは送信ラインフィルタＴＦを有していない。送信キー
パルスＴＰが持続する間じゅう、超音波トランスデュー
サＸＤ内において発振が生じる。送信キーパルスが励起
されなくなった後も、超音波トランスデューサ素子は発
振し続ける。発振の振幅は、エネルギーが機械的および
電気的損失において消費されるにつれて次第に減少す
る。トランスデューサ、ケーブルおよびドライバ素子を
有する典型的なトランスデューサシステムに対して、こ
れらの発振は、超音波トランシーバＵＸの受信部によっ
て、受信部の感度に依存して４００〜８００マイクロ秒
の間検出され得る。図２において、標的エコー反射ＲＥ
が、送信バーストオーバーリングとともに含まれたもの
として示されている。その結果生じる検出エコーパルス
ＤＰは、標的エコーおよびオーバーリングの間に差異を
有していない。
【００１７】図３は、送信ラインフィルタＴＦがトラン
スデューサシステムに含まれているときに生じる波形を
示したものである。超音波トランスデューサＸＤの自己
発振オーバーリングの持続時間は、フィルタにより、超
音波トランシーバＵＸの受信部において標的エコー反射
ＲＥを区別可能とすることによって、効果的に減じられ
る。検出エコーパルスＤＰの送信バースト部分は、マイ
クロプロセッサＣＥにおける送信パルス消失器ＰＭによ
って除去される。オーバーリングの持続は、送信ライン
フィルタＴＦに十分な静電容量をもたせ、トランスデュ
ーサシステムを臨界的に減衰させることによって制御さ
れる。
スデューサシステムに含まれているときに生じる波形を
示したものである。超音波トランスデューサＸＤの自己
発振オーバーリングの持続時間は、フィルタにより、超
音波トランシーバＵＸの受信部において標的エコー反射
ＲＥを区別可能とすることによって、効果的に減じられ
る。検出エコーパルスＤＰの送信バースト部分は、マイ
クロプロセッサＣＥにおける送信パルス消失器ＰＭによ
って除去される。オーバーリングの持続は、送信ライン
フィルタＴＦに十分な静電容量をもたせ、トランスデュ
ーサシステムを臨界的に減衰させることによって制御さ
れる。
【００１８】本発明の好ましい実施例によれば、インダ
クタンスコイルが、超音波トランスデューサＸＤの通常
の共振振動数の１／３で、送信ラインフィルタＴＦの静
電容量を有するように調整される。十分な利得が、超音
波トランシーバＵＸおよび超音波トランスデューサＸＤ
において維持され、通常の共振振動数の１／２または基
本振動数の代わりに通常の共振振動数の１／３を用いた
場合、利得の減少が補償される。
クタンスコイルが、超音波トランスデューサＸＤの通常
の共振振動数の１／３で、送信ラインフィルタＴＦの静
電容量を有するように調整される。十分な利得が、超音
波トランシーバＵＸおよび超音波トランスデューサＸＤ
において維持され、通常の共振振動数の１／２または基
本振動数の代わりに通常の共振振動数の１／３を用いた
場合、利得の減少が補償される。
【００１９】超音波トランスデューサＸＤ、これはマッ
サ プロダクツ コーポレイション(Massa Products Co
rporation) から入手可能なモデルＥ−１８８／２１５
であるが、このトランスデューサは、約２１５kHz で共
振する。ドライバ素子は、トコ アメリカ インコーポ
レイション カンパニィー (TOKO America, Inc. Compa
ny) から入手可能な、約３７０マイクロヘンリーのイン
ダクタンスおよび約１０対１の巻数比を有する鉄心入り
の同調可能な単巻変圧器である。送信ラインフィルタＴ
Ｆに対する静電容量は、約１３６００ピコファラッドで
ある。これらの素子および接続ケーブルが接続されると
き、単巻変圧器は、通常のトランスデューサシステムの
振動数の１／３で、または約７１kHz の振動数で共振す
るように同調される。共振エンベロープ信号がオシロス
コープを用いて監視され、単巻変圧器が、反射エコーＲ
Ｅ信号に対する最大エンベロープにおいて生じる最小発
振オーバーリングを達成するように同調される。
サ プロダクツ コーポレイション(Massa Products Co
rporation) から入手可能なモデルＥ−１８８／２１５
であるが、このトランスデューサは、約２１５kHz で共
振する。ドライバ素子は、トコ アメリカ インコーポ
レイション カンパニィー (TOKO America, Inc. Compa
ny) から入手可能な、約３７０マイクロヘンリーのイン
ダクタンスおよび約１０対１の巻数比を有する鉄心入り
の同調可能な単巻変圧器である。送信ラインフィルタＴ
Ｆに対する静電容量は、約１３６００ピコファラッドで
ある。これらの素子および接続ケーブルが接続されると
き、単巻変圧器は、通常のトランスデューサシステムの
振動数の１／３で、または約７１kHz の振動数で共振す
るように同調される。共振エンベロープ信号がオシロス
コープを用いて監視され、単巻変圧器が、反射エコーＲ
Ｅ信号に対する最大エンベロープにおいて生じる最小発
振オーバーリングを達成するように同調される。
【００２０】超音波トランスデューサＵＸは、ナショナ
ル セミコンダクター カンパニー(National Semicond
uctor Company) から入手可能な、ＬＭ１８１２タイプ
のものである。マイクロプロセッサコントローラＣＥ
は、モトローラ インコーポライティッド カンパニー
(MOTOROLA, Inc. Company) から入手可能なＭＣ６８Ｈ
Ｃ１１タイプのものであり、アナログ／ディジタルコン
バータ、高速タイマ、および電気的消去可能でかつプロ
グラム組み込み可能な読み出し専用メモリを有してい
る。メモリは、また、プログラム組み込み可能な読み出
し専用メモリまたはランダムアクセスメモリ等の別のメ
モリ手段によって外部からサポートされ得る。コントロ
ーラソフトウェアＳＷは、プログラム組み込み可能な読
み出し専用メモリ内に存在する。校正データエントリー
装置ＤＥは、標準的な電話式の、＊および＃を備えた１
０進数字のキーパッド、および２進数字のＬＥＤ数値デ
ィスプレイからなっている。
ル セミコンダクター カンパニー(National Semicond
uctor Company) から入手可能な、ＬＭ１８１２タイプ
のものである。マイクロプロセッサコントローラＣＥ
は、モトローラ インコーポライティッド カンパニー
(MOTOROLA, Inc. Company) から入手可能なＭＣ６８Ｈ
Ｃ１１タイプのものであり、アナログ／ディジタルコン
バータ、高速タイマ、および電気的消去可能でかつプロ
グラム組み込み可能な読み出し専用メモリを有してい
る。メモリは、また、プログラム組み込み可能な読み出
し専用メモリまたはランダムアクセスメモリ等の別のメ
モリ手段によって外部からサポートされ得る。コントロ
ーラソフトウェアＳＷは、プログラム組み込み可能な読
み出し専用メモリ内に存在する。校正データエントリー
装置ＤＥは、標準的な電話式の、＊および＃を備えた１
０進数字のキーパッド、および２進数字のＬＥＤ数値デ
ィスプレイからなっている。
【００２１】校正データは、校正データエントリー装置
ＤＥを用いて、マイクロプロセッサコントローラＣＥに
入力され、電気的消去可能でかつプログラム組み込み可
能な読み出し専用メモリ内に、校正データ記憶ＣＦとし
て記憶される。
ＤＥを用いて、マイクロプロセッサコントローラＣＥに
入力され、電気的消去可能でかつプログラム組み込み可
能な読み出し専用メモリ内に、校正データ記憶ＣＦとし
て記憶される。
【００２２】図４には、本発明による平均値形成アルゴ
リズムのフロー図を示した。値Ｘs が、特定の時間間隔
Ｔで周期的にサンプリングされる。各サンプリング時間
間隔毎に得られた値Ｘs は、平均値または全ンサンプル
フィールドＮの算術平均である、形式的平均値Ｘを計算
するために用いられる。計算およびメモリ記憶の効率
が、新たな平均値Ｘ’の計算に対する近似、すなわち、 Ｘ’＝Ｘ＋（Ｘs −Ｘ）／Ｎ を用いることによって達成される。このプロセスは、新
たなＸs がサンプリング時間間隔Ｔの終了時点で得られ
るたび毎に、繰り返される。このプロセスにおるエラー
は、（全ての値の和が、その値の個数で割り算される）
標準的な平均値の計算を行う場合と比較すると、もし、
多数のサンプルが含まれ、形式的な平均値Ｘと新たな値
Ｘs との差が微小であるならば、非常に小さくなる。か
かるエラーは、 エラー＝（Ｘ−Ｘs ）／（Ｎ×Ｘstd ) となる。ここで、Ｘstd は標準的な方法で計算された平
均値である。また、この周期的なサンプリングの技術
は、通常の自然対数的（ネイピアの基底ｅ）な現象にお
ける時定数と同等な時間応答を提示していることがわか
る。自然対数１の時定数に対して、 時定数＝Ｎ×Ｔ×０．９ となる。
リズムのフロー図を示した。値Ｘs が、特定の時間間隔
Ｔで周期的にサンプリングされる。各サンプリング時間
間隔毎に得られた値Ｘs は、平均値または全ンサンプル
フィールドＮの算術平均である、形式的平均値Ｘを計算
するために用いられる。計算およびメモリ記憶の効率
が、新たな平均値Ｘ’の計算に対する近似、すなわち、 Ｘ’＝Ｘ＋（Ｘs −Ｘ）／Ｎ を用いることによって達成される。このプロセスは、新
たなＸs がサンプリング時間間隔Ｔの終了時点で得られ
るたび毎に、繰り返される。このプロセスにおるエラー
は、（全ての値の和が、その値の個数で割り算される）
標準的な平均値の計算を行う場合と比較すると、もし、
多数のサンプルが含まれ、形式的な平均値Ｘと新たな値
Ｘs との差が微小であるならば、非常に小さくなる。か
かるエラーは、 エラー＝（Ｘ−Ｘs ）／（Ｎ×Ｘstd ) となる。ここで、Ｘstd は標準的な方法で計算された平
均値である。また、この周期的なサンプリングの技術
は、通常の自然対数的（ネイピアの基底ｅ）な現象にお
ける時定数と同等な時間応答を提示していることがわか
る。自然対数１の時定数に対して、 時定数＝Ｎ×Ｔ×０．９ となる。
【００２３】図５に示したように、コントローラソフト
ウェアＳＷにおけるローパスフィルタＬＦは、ランダム
な電気的ノイズおよび超音波トランスデューサＸＤとイ
ンク表面ＩＷとの間の空気の短時間の変動によって引き
起こされる変動を円滑化するために使用される。検出エ
コーパルスＤＰを表すカウント値を含むタイマレジスタ
ＴＲが、サンプリングされ、約０．５秒の時定数を用い
て、形式的な平均値が計算される。
ウェアＳＷにおけるローパスフィルタＬＦは、ランダム
な電気的ノイズおよび超音波トランスデューサＸＤとイ
ンク表面ＩＷとの間の空気の短時間の変動によって引き
起こされる変動を円滑化するために使用される。検出エ
コーパルスＤＰを表すカウント値を含むタイマレジスタ
ＴＲが、サンプリングされ、約０．５秒の時定数を用い
て、形式的な平均値が計算される。
【００２４】ローパスフィルタＬＦの出力が、コントロ
ーラソフトウェアＳＷにおけるインク表面アルゴリズム
ＳＡに適用される。インク表面アルゴリズムのフロー図
を図６に示した。ローパスフィルタＬＦの出力の新たな
値のそれぞれに対して、ローパスフィルタＬＦ出力の直
前の値が引き算され、この差の絶対値が新たな値によっ
て割り算される。この商を用いて、形式的な平均値が、
約１０分の時定数を用いて計算される。この結果は、表
面変動インデックスＶＩに対して、１から５までの数を
選択するために用いられる。ここで、１は非常に滑らか
な表面を、５は非常に粗い表面を表す。
ーラソフトウェアＳＷにおけるインク表面アルゴリズム
ＳＡに適用される。インク表面アルゴリズムのフロー図
を図６に示した。ローパスフィルタＬＦの出力の新たな
値のそれぞれに対して、ローパスフィルタＬＦ出力の直
前の値が引き算され、この差の絶対値が新たな値によっ
て割り算される。この商を用いて、形式的な平均値が、
約１０分の時定数を用いて計算される。この結果は、表
面変動インデックスＶＩに対して、１から５までの数を
選択するために用いられる。ここで、１は非常に滑らか
な表面を、５は非常に粗い表面を表す。
【００２５】校正データエントリー装置ＤＥは、望まし
い制御設定値ＳＰおよび（粘性に関係する）インク応答
ＩＲを、マイクロプロセッサコントローラＣＥにおける
コントローラソフトウェアＳＷの校正データ記憶ＣＦ部
に入力するために使用される。制御設定値ＳＰは、超音
波トランスデューサＸＤの真下において測定される、イ
ンキ溜ＩＦの底からインキ表面ＩＷまでの維持されるべ
き距離である。インキ応答ＩＲは、１から５までのイン
デックスであり、この場合、１は低い粘性のインクを、
５は非常に高い粘性のインクを表す。
い制御設定値ＳＰおよび（粘性に関係する）インク応答
ＩＲを、マイクロプロセッサコントローラＣＥにおける
コントローラソフトウェアＳＷの校正データ記憶ＣＦ部
に入力するために使用される。制御設定値ＳＰは、超音
波トランスデューサＸＤの真下において測定される、イ
ンキ溜ＩＦの底からインキ表面ＩＷまでの維持されるべ
き距離である。インキ応答ＩＲは、１から５までのイン
デックスであり、この場合、１は低い粘性のインクを、
５は非常に高い粘性のインクを表す。
【００２６】図７に示したエコータイム処理アルゴリズ
ムＥＡは、ローパスフィルタＬＦ出力を、長期インクレ
ベルＬＬに対する数を生成する形式的な平均値を計算す
るための入力値として用いる。エコータイム処理アルゴ
リズムＥＡは、インク表面変動インデックスＶＩおよび
インク応答ＩＲによって、平均値形成プロセスにおける
時定数を調整する。時定数の選択範囲は、最も滑らかな
表面をもつ最も粘性の低いインクに対する約０．１分か
ら、最も粗い表面をもつ最も粘性の高いインクに対する
約１．５分までの範囲である。平均値形成プロセスの時
定数は、サンプルフィールドの大きさＮおよびサンプリ
ング時間間隔Ｔを調整することによって変化する。
ムＥＡは、ローパスフィルタＬＦ出力を、長期インクレ
ベルＬＬに対する数を生成する形式的な平均値を計算す
るための入力値として用いる。エコータイム処理アルゴ
リズムＥＡは、インク表面変動インデックスＶＩおよび
インク応答ＩＲによって、平均値形成プロセスにおける
時定数を調整する。時定数の選択範囲は、最も滑らかな
表面をもつ最も粘性の低いインクに対する約０．１分か
ら、最も粗い表面をもつ最も粘性の高いインクに対する
約１．５分までの範囲である。平均値形成プロセスの時
定数は、サンプルフィールドの大きさＮおよびサンプリ
ング時間間隔Ｔを調整することによって変化する。
【００２７】マイクロプロセッサコントローラＣＥにお
けるコントローラソフトウェアＳＷのインクサイクル制
御ＣＣ部は、校正データ記憶装置ＣＦからのインク応答
ＩＲを用いることにより、制御バルブＣＶの作動時間と
制御バルブＣＶの非作動時間との和からなる、制御バル
ブＣＶサイクル時間を選択する。サイクル時間の範囲
は、粘性の低いインク（インク応答＝１）に対する約
０．５分から、最も粘性の高いインク（インク応答＝
５）に対する４．５分までであり、インク溜ＩＦ内のイ
ンクＩＫが、インクの供給が、制御バルブＣＶを通じて
貯蔵タンクからなされたとき、新たなインクレベルを探
すことを可能とするように選択される。制御バルブＣＶ
の作動時間は、供給時間ＦＴ制御を用いて、インク供給
特性が個々の印刷機に一致し得るように手動で調整され
る。
けるコントローラソフトウェアＳＷのインクサイクル制
御ＣＣ部は、校正データ記憶装置ＣＦからのインク応答
ＩＲを用いることにより、制御バルブＣＶの作動時間と
制御バルブＣＶの非作動時間との和からなる、制御バル
ブＣＶサイクル時間を選択する。サイクル時間の範囲
は、粘性の低いインク（インク応答＝１）に対する約
０．５分から、最も粘性の高いインク（インク応答＝
５）に対する４．５分までであり、インク溜ＩＦ内のイ
ンクＩＫが、インクの供給が、制御バルブＣＶを通じて
貯蔵タンクからなされたとき、新たなインクレベルを探
すことを可能とするように選択される。制御バルブＣＶ
の作動時間は、供給時間ＦＴ制御を用いて、インク供給
特性が個々の印刷機に一致し得るように手動で調整され
る。
【００２８】マイクロプロセッサコントローラＣＥにお
けるコントローラソフトウェアＳＷのコンパレータＣＰ
部は、エコータイム処理アルゴリズムＥＡおよび校正デ
ータ記憶装置ＣＦからの制御設定値ＳＰによって長期イ
ンクレベルを計算する。図８に示したように、もし、長
期インクレベルＬＬが望ましい制御設定値ＳＰ以下に低
下したならば、供給サイクルが開始され、バルブドライ
バＶＤを用いて制御バルブＣＶが開放されることによっ
て、貯蔵タンクからインクの供給が行われる。もし、長
期インクレベルＬＬが、望ましい制御設定値ＳＰと制御
安定性のための微小なヒステリシスとの和を超えたなら
ば、供給サイクルが終了する。
けるコントローラソフトウェアＳＷのコンパレータＣＰ
部は、エコータイム処理アルゴリズムＥＡおよび校正デ
ータ記憶装置ＣＦからの制御設定値ＳＰによって長期イ
ンクレベルを計算する。図８に示したように、もし、長
期インクレベルＬＬが望ましい制御設定値ＳＰ以下に低
下したならば、供給サイクルが開始され、バルブドライ
バＶＤを用いて制御バルブＣＶが開放されることによっ
て、貯蔵タンクからインクの供給が行われる。もし、長
期インクレベルＬＬが、望ましい制御設定値ＳＰと制御
安定性のための微小なヒステリシスとの和を超えたなら
ば、供給サイクルが終了する。
【００２９】以上、本発明の実施例について説明した
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載した範囲内において、種々の
変形を行うことが可能である。
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載した範囲内において、種々の
変形を行うことが可能である。
【図１】本発明によるインクレベル制御システムに対す
るシステムブロック図である。
るシステムブロック図である。
【図２】本発明による送信波、および送信ラインフィル
タのない場合の受信エコーを示すグラフである。
タのない場合の受信エコーを示すグラフである。
【図３】本発明による送信波、および送信ラインフィル
タを有する場合の受信エコーを示すグラフである。
タを有する場合の受信エコーを示すグラフである。
【図４】本発明によるソフトウェアコントロールに対す
るフロー図である。
るフロー図である。
【図５】本発明によるソフトウェアコントロールに対す
るフロー図である。
るフロー図である。
【図６】本発明によるソフトウェアコントロールに対す
るフロー図である。
るフロー図である。
【図７】本発明によるソフトウェアコントロールに対す
るフロー図である。
るフロー図である。
【図８】本発明によるソフトウェアコントロールに対す
るフロー図である。
るフロー図である。
【図９】本発明によるソフトウェアコントロールに対す
るフロー図である。
るフロー図である。
ＸＤ 超音波トランスデューサ ＩＦ インク溜 ＩＷ インク波面 ＴＦ 送信ラインフィルタ ＵＸ 超音波トランシーバ ＣＥ マイクロプロセッサコントローラ ＳＷ コントローラソフトウェア ＣＶ 制御バルブ ＤＥ 校正データエントリー装置
Claims (18)
- 【請求項１】 電気信号を受信して前記電気信号を超音
波に変換し、超音波を受信して前記超音波を電気信号に
変換することができるトランスデューサと、 電気信号を前記トランスデューサに伝送するための送信
器と、 前記トランスデューサに電気信号を伝送し、前記トラン
スデーサにインク溜からの超音波の反射を生じせしめる
送信器と、 前記トランスデューサを介して前記インク溜から反射さ
れた信号を受信する受信器と、 前記電気信号の送信および前記反射された電気信号の受
信を制御し、前記インク溜のインクレベルを決定するた
めに、前記送信および受信された信号の時間発生セグメ
ントを処理するためのマイクロプロセッサ手段と、 前記マイクロプロセッサ手段から信号を受信し、前記イ
ンク溜にインクを供給すべくバルブを開放することがで
きる制御バルブ手段とを有しているものであることを特
徴とするオフセット印刷機のインク溜のインク供給量を
監視するための装置。 - 【請求項２】 前記トランスデューサと、前記送信器お
よび受信器との間において送信され、受信された前記電
気信号を処理するための送信ラインフィルタを有してい
ることを特徴とする請求項１に記載の装置。 - 【請求項３】 前記ラインフィルタが、波のオーバーリ
ングを、前記インク溜のインク表面から、７．６２cm以
内の距離に反射された反射波を十分検出し得る程度まで
減少させることを特徴とする請求項２に記載の装置。 - 【請求項４】 前記マイクロプロセッサ手段が、前記イ
ンク溜の前記インクレベルを制御するための記憶された
制御プログラムを含んでいることを特徴とする請求項１
に記載の装置。 - 【請求項５】 前記マイクロプロセッサ手段が、校正さ
れたデータのメモリ記憶を含んでいることを特徴とする
請求項４に記載の装置。 - 【請求項６】 前記校正されたデータが、制御設定値を
含んでおり、インク応答時間データがユーザーによって
プログラム可能であることを特徴とする請求項５に記載
の装置。 - 【請求項７】 前記マイクロプロセッサ手段が、前記制
御設定時間および前記インク応答時間データからインク
供給の持続時間を計算することを特徴とする請求項６に
記載の装置。 - 【請求項８】 前記マイクロプロセッサ手段が、インク
表面の変動の数量化を行うための記憶されたプログラム
を含んでいることを特徴とする請求項５に記載の装置。 - 【請求項９】 前記マイクロプロセッサ手段が、前記イ
ンクレベルの変化の長期平均を計算することを特徴とす
る請求項５に記載の装置。 - 【請求項１０】 前記マイクロプロセッサ手段が、ロー
パスフィルタを含んでいることを特徴とする請求項５に
記載の装置。 - 【請求項１１】 各インク供給間隔毎にサンプルをと
り、新たにサンプリングされた値から古い形式的な平均
値を引き算して前記平均値を更新し、その結果をサンプ
ル数Ｎによって割り算して、その商に古い形式的な平均
値を加えることによって新たな形式的な平均値が決定さ
れることを特徴とする請求項１０に記載の装置。 - 【請求項１２】 時間を記録された電気信号パルスを発
生するステップと、 前記電気信号パルスを超音波に変換するステップと、 前記超音波をインク溜から反射させるステップと、 前記反射された超音波を反射電気信号に変換するステッ
プと、 前記時間を記録されたパルスおよび前記反射電気信号の
時間発生セグメントを含むデータを処理することによっ
て、前記インク溜のインクレベルを決定するステップ
と、 前記インク溜のインクレベルを、前記インクレベルが所
望のレベル以下となったときに制御バルブを作動させる
ことによって調整するステップとを含んでいることを特
徴とするオフセット印刷機のインク溜におけるインク供
給量を監視するための方法。 - 【請求項１３】 前記データが、制御設定値およびイン
ク応答時間を含む校正されたデータを含んでいることを
特徴とする請求項１２に記載の方法。 - 【請求項１４】 前記制御設定時間および前記インク応
答データから、インク供給持続時間を計算するステップ
を含んでいることを特徴とする請求項１３に記載の方
法。 - 【請求項１５】 前記データを処理するステップが、イ
ンク表面の変動に対する調整を含んでいることを特徴と
する請求項１２に記載の方法。 - 【請求項１６】 前記データが、前記インクレベルの変
化の長期平均を含んでいることを特徴とする請求項１２
に記載の方法。 - 【請求項１７】 ローパスフィルタによってろ波するス
テップを含んでいることを特徴とする請求項１２に記載
の方法。 - 【請求項１８】 各インク供給間隔毎にサンプルをと
り、新たにサンプリングされた値から古い形式的な平均
値を引き算し、その結果をサンプル数Ｎによって割り算
して、その商に古い形式的な平均値を加えることによっ
て新たな形式的な平均値を計算するステップを含んでい
ることを特徴とする請求項１２に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/530,740 US5103728A (en) | 1990-05-29 | 1990-05-29 | Ink level control system for offset printing presses |
| US07/530740 | 1990-05-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05177822A true JPH05177822A (ja) | 1993-07-20 |
| JP2890148B2 JP2890148B2 (ja) | 1999-05-10 |
Family
ID=24114773
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3153960A Expired - Lifetime JP2890148B2 (ja) | 1990-05-29 | 1991-05-28 | オフセット印刷機のインクレベル制御システム |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5103728A (ja) |
| EP (1) | EP0459755B1 (ja) |
| JP (1) | JP2890148B2 (ja) |
| CN (1) | CN1046234C (ja) |
| DE (1) | DE69117585T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH11268245A (ja) * | 1998-02-14 | 1999-10-05 | Heidelberger Druckmas Ag | 印刷機のインキ壷におけるインキを調量する方法 |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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