JPH05161048A - Automatic dimmer device - Google Patents

Automatic dimmer device

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Publication number
JPH05161048A
JPH05161048A JP3348771A JP34877191A JPH05161048A JP H05161048 A JPH05161048 A JP H05161048A JP 3348771 A JP3348771 A JP 3348771A JP 34877191 A JP34877191 A JP 34877191A JP H05161048 A JPH05161048 A JP H05161048A
Authority
JP
Japan
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shutter speed
image
signal
shutter
image pickup
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP3348771A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsuneo Hasegawa
恒夫 長谷川
Seiji Mitani
清治 三谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP3348771A priority Critical patent/JPH05161048A/en
Publication of JPH05161048A publication Critical patent/JPH05161048A/en
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Abstract

PURPOSE:To optimize an exposure with respect to a picture input device at a high speed by calculating a proper shutter speed from plural reflection level signals obtained through a changed shutter speed. CONSTITUTION:A reflected luminous quantity detection section 7 detects a signal whose level is highest among image pickup signals P1 fed from a picture input device 3 as a reflecting level signal P6. A shutter speed calculation section 8 changes the shutter speed of the device 3 through a shutter speed control section 9 to obtain a proportional coefficient between plural obtained signals P6 and the shutter speed thereby calculating an optimum shutter speed based on the proportional coefficient and the desired signal P6. In this case, since a radiation quantity of the lighting means 2 having a slow response speed is constant, the exposure is optimized at a high speed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えば工業用顕微鏡の
ような露光量の調整を必要とする画像処理装置に適用し
て好適な自動調光装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic light control device suitable for application to an image processing apparatus such as an industrial microscope which requires adjustment of an exposure amount.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば半導体基板を検査するための工業
用顕微鏡のような画像処理装置においては、照明された
測定対象物からの反射光が対物レンズを介して撮像素子
の受光面上に結像される。そして、その撮像素子から出
力される撮像信号を用いてモニター受像機等に測定対象
物の拡大像が表示されると共に、その撮像信号に所定の
画像処理を加えることにより欠陥検出等が行われる。こ
の場合、測定対象物により照明光の反射率は異なると共
に、対物レンズの倍率等によっても撮像素子の受光面上
での照度は変化するので、撮像素子から出力される撮像
信号のレベルのばらつきを少なくして安定な測定を行う
には、その撮像素子に対する露光量を調整する調光機構
が必要である。
2. Description of the Related Art In an image processing apparatus such as an industrial microscope for inspecting a semiconductor substrate, reflected light from an illuminated object to be measured forms an image on a light receiving surface of an image pickup device through an objective lens. To be done. Then, an enlarged image of the object to be measured is displayed on a monitor image receiver or the like using the image pickup signal output from the image pickup device, and defect detection or the like is performed by applying predetermined image processing to the image pickup signal. In this case, the reflectance of the illumination light varies depending on the measurement target, and the illuminance on the light-receiving surface of the image sensor changes depending on the magnification of the objective lens, etc. In order to carry out stable measurement with a small amount of light, a dimming mechanism for adjusting the exposure amount for the image pickup device is required.

【0003】図3は従来の調光機構を備えた画像処理装
置を示し、この図3において、1は顕微鏡であり、この
顕微鏡1内の測定対象物がランプを有する照明系2によ
り適当な光量で照明されている。3は2次元の電荷結合
型撮像素子(CCD)を用いたカメラよりなる画像入力
装置を示し、測定対象物からの反射光は顕微鏡1の対物
レンズを介して画像入力装置3の撮像素子の受光面上に
結像され、この画像入力装置3から撮像信号P1が出力
されている。撮像信号P1は画像処理部4及び反射光量
検出部5に供給される。
FIG. 3 shows an image processing apparatus having a conventional dimming mechanism. In FIG. 3, reference numeral 1 denotes a microscope, and an object to be measured in the microscope 1 has an appropriate light quantity by an illumination system 2 having a lamp. It is illuminated by. Reference numeral 3 denotes an image input device including a camera using a two-dimensional charge-coupled image pickup device (CCD). Reflected light from the measurement object is received by the image pickup device of the image input device 3 via the objective lens of the microscope 1. An image is formed on the surface, and an image pickup signal P1 is output from the image input device 3. The image pickup signal P1 is supplied to the image processing unit 4 and the reflected light amount detection unit 5.

【0004】画像処理部4は、撮像信号P1に所定の画
像処理を施し、この処理により得られた欠陥情報等を図
示省略した計算機等に供給する。また、その撮像信号P
1は反射光量検出部5にも供給され、反射光量検出部5
においては例えばその撮像信号P1の平均化により測定
対象物からの反射光量のレベルに対応する信号P4が生
成され、この信号P4が照明系調光部6に供給される。
照明系調光部6では、その信号P4が所定のレベルにな
るように照明系2の照度を調整する。即ち、従来は照明
系2の照射光量を変化させることにより、画像入力装置
3内の撮像素子への入力光量(露光量)の制御が行われ
ていた。
The image processing section 4 subjects the image pickup signal P1 to predetermined image processing and supplies defect information and the like obtained by this processing to a computer (not shown). In addition, the image pickup signal P
1 is also supplied to the reflected light amount detection unit 5, and the reflected light amount detection unit 5
In, the signal P4 corresponding to the level of the amount of reflected light from the measurement object is generated by, for example, averaging the image pickup signal P1, and this signal P4 is supplied to the illumination system light control unit 6.
The illumination system light control section 6 adjusts the illuminance of the illumination system 2 so that the signal P4 becomes a predetermined level. That is, conventionally, the amount of light (exposure amount) input to the image pickup device in the image input device 3 is controlled by changing the amount of light emitted from the illumination system 2.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
画像処理装置においては照明系2を構成するランプの応
答性が悪いので、照明系2の照射光量を変化させた直後
から画像入力装置3内の撮像素子に入る測定対象物から
の反射光量が安定するまでに非常に長い例えば秒単位の
時間がかかり、結果として測定時間が長くなる不都合が
あった。本発明は斯かる点に鑑み、画像入力装置に対す
る露光量を高速に最適化できる自動調光装置を提供する
ことを目的とする。
However, in the conventional image processing apparatus, since the responsiveness of the lamps constituting the illumination system 2 is poor, the image input apparatus 3 is immediately conditioned immediately after the irradiation light amount of the illumination system 2 is changed. It takes a very long time, for example, seconds, until the amount of reflected light from the measuring object entering the image pickup element becomes stable, resulting in a problem that the measuring time becomes long. The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an automatic light control device capable of optimizing an exposure amount for an image input device at high speed.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明による自動調光装
置は、例えば図1に示す如く、測定対象物を照明する照
明手段(2)と、この照明された測定対象物からの反射
光を積分する時間であるシャッタースピードを調整する
シャッター機能を有し、シャッタースピードに応じたそ
の測定対象物の画像データを得る画像入力手段(3)
と、その照明された測定対象物からの反射光の量に対応
する反射レベル信号P6を生成する反射光量検出手段
(7)と、その画像入力手段(3)のシャッタースピー
ドを制御するシャッタースピード制御手段(9)と、シ
ャッタースピードを変化させて得られた複数個の反射レ
ベル信号P6より適切なシャッタースピードを算出する
シャッタースピード算出手段(8)とを有するものであ
る。
The automatic light control device according to the present invention, for example, as shown in FIG. 1, includes an illumination means (2) for illuminating an object to be measured, and a reflected light from the illuminated object to be measured. Image input means (3) having a shutter function for adjusting the shutter speed that is the integration time and obtaining image data of the object to be measured according to the shutter speed.
And a reflected light amount detection means (7) for generating a reflected level signal P6 corresponding to the amount of reflected light from the illuminated measurement object, and shutter speed control for controlling the shutter speed of the image input means (3). It has a means (9) and a shutter speed calculation means (8) for calculating an appropriate shutter speed from a plurality of reflection level signals P6 obtained by changing the shutter speed.

【0007】また、その画像入力手段(3)は、電荷蓄
積型撮像素子(例えば2次元CCD)でその測定対象物
の画像データを得ると共に、その電荷蓄積型撮像素子の
電荷蓄積時間を変化させることによりそのシャッター機
能を実現するようにしてもよい。
The image input means (3) obtains image data of the object to be measured by a charge storage type image pickup device (for example, a two-dimensional CCD) and changes the charge storage time of the charge storage type image pickup device. By doing so, the shutter function may be realized.

【0008】[0008]

【作用】斯かる本発明では、画像入力手段(3)のシャ
ッタースピードを速くすれば画像入力手段(3)に入射
する光量の総和、即ち露光量は少なくなり、逆にそのシ
ャッタースピードを遅くすれば画像入力手段(3)に対
する露光量は多くなるという原理を利用している。即
ち、本発明はシャッタースピードと露光量に対応する反
射レベル信号P6との間には比例関係があることを利用
したものである。
According to the present invention, if the shutter speed of the image input means (3) is increased, the total amount of light incident on the image input means (3), that is, the exposure amount is decreased, and conversely, the shutter speed can be decreased. For example, the principle that the amount of exposure to the image input means (3) increases is used. That is, the present invention utilizes the fact that there is a proportional relationship between the shutter speed and the reflection level signal P6 corresponding to the exposure amount.

【0009】従って、測定対象物に対する照明手段
(2)からの照射光量が一定であっても、画像入力手段
(3)のシャッタースピードを変えてその画像入力手段
(3)に対する露光量を検出することにより、そのシャ
ッタースピードと反射レベル信号P6との比例係数が求
められる。そして、この比例係数と所望の反射レベル信
号P6とから最適なシャッタースピードが求められる。
この場合、応答速度の遅い照明手段(2)の照射光量は
一定であり、露光量は高速に最適化される。
Therefore, even if the amount of light emitted from the illumination means (2) to the object to be measured is constant, the shutter speed of the image input means (3) is changed to detect the exposure amount to the image input means (3). Thus, the proportional coefficient between the shutter speed and the reflection level signal P6 can be obtained. Then, the optimum shutter speed is obtained from the proportional coefficient and the desired reflection level signal P6.
In this case, the irradiation light amount of the illumination means (2) having a slow response speed is constant, and the exposure amount is optimized at high speed.

【0010】また、その画像入力手段(3)が電荷蓄積
型撮像素子の電荷蓄積時間を変化させることによりその
シャッター機能を実現する場合とは、所謂電子シャッタ
ーが用いられることを意味する。この場合には、シャッ
ター機構は撮像素子と一体化され非常に小型であると共
に、シャッタースピードは撮像素子の1回の走査時間毎
に変化させることができ、露光量が更に高速に最適化さ
れる。
When the image input means (3) realizes the shutter function by changing the charge storage time of the charge storage type image pickup device, it means that a so-called electronic shutter is used. In this case, the shutter mechanism is integrated with the image sensor and is very small, and the shutter speed can be changed for each scanning time of the image sensor, so that the exposure amount is optimized at a higher speed. ..

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明による自動調光装置の一実施例
につき図1及び図2を参照して説明する。この図1にお
いて図3の画像処理装置に対応する部分には同一符号を
付してその詳細説明を省略する。図1は本例の画像処理
装置を示し、この図1において、顕微鏡1内にある測定
対象物に照明系2より適当な光量の照明光を照射する。
照明系2による照度は一定である。その測定対象物から
の反射光を顕微鏡1内の対物レンズを介して画像入力装
置3の撮像素子の受光面上に結像する。本例では画像入
力装置3の撮像素子として2次元CCDが使用されてい
る。また、その2次元CCDの各走査毎の電荷蓄積時間
がシャッタースピードとして外部から制御できるように
なっている。即ち、画像入力装置3は電子シャッター機
能を有する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of an automatic light control device according to the present invention will be described below with reference to FIGS. In FIG. 1, parts corresponding to those of the image processing apparatus of FIG. 3 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. FIG. 1 shows an image processing apparatus of this example. In FIG. 1, an object to be measured in a microscope 1 is illuminated with an appropriate amount of illumination light from an illumination system 2.
The illuminance by the illumination system 2 is constant. The reflected light from the measuring object is imaged on the light receiving surface of the image pickup device of the image input device 3 through the objective lens in the microscope 1. In this example, a two-dimensional CCD is used as an image sensor of the image input device 3. Further, the charge accumulation time for each scan of the two-dimensional CCD can be controlled externally as a shutter speed. That is, the image input device 3 has an electronic shutter function.

【0012】画像入力装置3より撮像信号P1が出力さ
れ、撮像信号P1は画像処理部4及び反射光量検出部7
に供給される。反射光量検出部7は、撮像信号P1より
レベルの最も高い信号を反射レベル信号P6として検出
し、この反射レベル信号P6をシャッタースピード算出
部8に供給する。撮像信号P1は飽和電圧Ecが750
mV程度の電圧信号であり、反射レベル信号P6も同様
の電圧信号である。シャッタースピード算出部8は、シ
ャッタースピードを指示する信号P7をシャッタースピ
ード制御回路9に供給する。シャッタースピード制御回
路9は制御信号P8によって画像入力装置3の2次元C
CDのシャッタースピードをその信号P7に対応する値
に設定する。
An image pickup signal P1 is output from the image input device 3, and the image pickup signal P1 is supplied to the image processing unit 4 and the reflected light amount detection unit 7.
Is supplied to. The reflected light amount detection unit 7 detects a signal having a highest level than the image pickup signal P1 as a reflection level signal P6, and supplies this reflection level signal P6 to the shutter speed calculation unit 8. The image pickup signal P1 has a saturation voltage Ec of 750.
It is a voltage signal of about mV, and the reflection level signal P6 is a similar voltage signal. The shutter speed calculator 8 supplies a signal P7 instructing the shutter speed to the shutter speed control circuit 9. The shutter speed control circuit 9 controls the two-dimensional C of the image input device 3 by the control signal P8.
The shutter speed of the CD is set to a value corresponding to the signal P7.

【0013】本例でシャッタースピードを最適化する場
合の動作の一例につき説明する。この場合、シャッター
スピード算出部8は先ずシャッタースピード制御部9を
介して画像入力装置3のシャッタースピードSを任意の
或る値Saに設定する。そして、このときに反射光量検
出部7で検出された反射レベル信号P6のレベルEaを
記憶する。次に、シャッタースピード算出部8は画像入
力装置3のシャッタースピードSを他の或る値Sbに変
化させてから、再び反射光量検出部7で検出された反射
レベル信号P6のレベルEbを記憶する。必要に応じて
シャッタースピード算出部8は更に画像入力装置2のシ
ャッタースピードSを変化させて反射レベル信号P6を
記憶する。
In this example, an example of the operation for optimizing the shutter speed will be described. In this case, the shutter speed calculation unit 8 first sets the shutter speed S of the image input device 3 to an arbitrary certain value Sa via the shutter speed control unit 9. Then, at this time, the level Ea of the reflection level signal P6 detected by the reflected light amount detector 7 is stored. Next, the shutter speed calculation unit 8 changes the shutter speed S of the image input device 3 to another certain value Sb, and then stores the level Eb of the reflection level signal P6 detected by the reflected light amount detection unit 7 again. .. If necessary, the shutter speed calculator 8 further changes the shutter speed S of the image input device 2 and stores the reflection level signal P6.

【0014】その後、シャッタースピード算出部8では
直線近似によりそのシャッタースピードSに対する反射
レベル信号P6の傾きを求める。そして、予め設定され
ている最適な反射レベル信号P6の電圧レベルをその近
似直線に当てはめて最適なシャッタースピードSを求め
た後に、シャッタースピード算出部8はシャッタースピ
ード制御部9を介して画像入力装置3の撮像素子のシャ
ッタースピードを最適化する。これ以後は画像入力装置
3から出力される撮像信号P1を用いて画像処理部4に
おいて通常の画像処理が行われる。
Thereafter, the shutter speed calculator 8 obtains the slope of the reflection level signal P6 with respect to the shutter speed S by linear approximation. Then, after the preset voltage level of the optimum reflection level signal P6 is applied to the approximate straight line to obtain the optimum shutter speed S, the shutter speed calculation unit 8 causes the shutter speed control unit 9 to operate the image input device. Optimize the shutter speed of the image sensor of No. 3. After that, the image processing unit 4 performs normal image processing using the image pickup signal P1 output from the image input device 3.

【0015】次に、図2を参照して最適なシャッタース
ピードSの算出方法の具体例につき説明する。図2の横
軸は画像入力装置3の撮像素子のシャッタースピード
S、縦軸は反射レベル信号P6である。反射レベル信号
P6は飽和電圧がEcの撮像信号P1の最大値であるた
め、反射レベル信号P6の飽和電圧もEcである。従っ
て、シャッタースピードSが所定の値Scを超えた飽和
領域SAでは、反射レベル信号P6はその飽和電圧Ec
のままになるが、シャッタースピードSがその所定の値
Sc以下であれば、シャッタースピードSと反射レベル
信号P6とは比例関係にある。
Next, a specific example of a method of calculating the optimum shutter speed S will be described with reference to FIG. The horizontal axis of FIG. 2 represents the shutter speed S of the image sensor of the image input device 3, and the vertical axis represents the reflection level signal P6. Since the reflection level signal P6 is the maximum value of the image pickup signal P1 whose saturation voltage is Ec, the saturation voltage of the reflection level signal P6 is also Ec. Therefore, in the saturation area SA where the shutter speed S exceeds the predetermined value Sc, the reflection level signal P6 has its saturation voltage Ec.
If the shutter speed S is equal to or less than the predetermined value Sc, the shutter speed S and the reflection level signal P6 are in a proportional relationship.

【0016】測定対象物を照明系2により適当な光量で
照明した状態で、画像入力装置3の撮像素子のシャッタ
ースピードSを第1の値Saに設定したときに得られた
アナログ出力電圧としての反射レベル信号P6のレベル
を第1のレベルEaとする。次に撮像素子のシャッター
スピードSを第2の値Sbに設定し、このシャッタース
ピードで得られた反射レベル信号P6のレベルを第2の
レベルEbとする。第1のレベルEa及び第2のレベル
Ebが共に飽和電圧Ecより低ければ、座標(Sa,E
a)と座標(Sb,Eb)とを通る直線10がシャッタ
ースピードSと反射レベル信号P6との比例関係を表す
直線となる。また、この直線10と横軸に平行で値が飽
和電圧Ecに等しい直線11との交点におけるシャッタ
ースピードSの値Scが、比例関係にあるシャッタース
ピードSの最大値である。
An analog output voltage obtained when the shutter speed S of the image pickup device of the image input device 3 is set to the first value Sa in a state where the object to be measured is illuminated by the illumination system 2 with an appropriate amount of light. The level of the reflection level signal P6 is set to the first level Ea. Next, the shutter speed S of the image sensor is set to the second value Sb, and the level of the reflection level signal P6 obtained at this shutter speed is set to the second level Eb. If both the first level Ea and the second level Eb are lower than the saturation voltage Ec, the coordinates (Sa, E
A straight line 10 passing through a) and the coordinates (Sb, Eb) is a straight line representing the proportional relationship between the shutter speed S and the reflection level signal P6. Further, the value Sc of the shutter speed S at the intersection of this straight line 10 and a straight line 11 parallel to the horizontal axis and having a value equal to the saturation voltage Ec is the maximum value of the shutter speed S in a proportional relationship.

【0017】これに対して、第1のレベルEa及び第2
のレベルEbの少なくとも一方が飽和電圧Ecに達して
いるときには、シャッタースピードSの値を小さい側に
変えて飽和電圧Ecよりも値の小さい2個の信号が得ら
れるまで、繰り返して反射レベル信号P6の取り込みが
行われる。従って、シャッタースピードSの設定及び反
射レベル信号P6の取り込みからなる動作を最低2回繰
り返すことにより、図2の直線10を求めることができ
る。
On the other hand, the first level Ea and the second level Ea
When at least one of the levels Eb of the above reaches the saturation voltage Ec, the value of the shutter speed S is changed to the smaller side and the reflection level signal P6 is repeated until two signals whose values are smaller than the saturation voltage Ec are obtained. Is taken in. Therefore, the line 10 in FIG. 2 can be obtained by repeating the operation of setting the shutter speed S and fetching the reflection level signal P6 at least twice.

【0018】そして、本例ではシャッタースピードSの
最適値は、反射レベル信号P6が飽和電圧Ecよりもわ
ずかに小さい値になるときのシャッタースピードに設定
する。これにより設定されるシャッタースピードSは比
例関係にある最大値Scよりもわずかに小さい値にな
る。その反射レベル信号P6は撮像信号P1の最大値で
あるため、画像入力装置3の撮像素子の全画素より出力
される撮像信号の最大値が飽和電圧Ecよりも小さくな
る。このように設定することにより、撮像素子の全画素
の出力の飽和を防止すると共に、SN比の高い良好な撮
像信号P1を常に得ることができる。
In this example, the optimum value of the shutter speed S is set to the shutter speed when the reflection level signal P6 becomes a value slightly smaller than the saturation voltage Ec. The shutter speed S set by this becomes a value slightly smaller than the proportional maximum value Sc. Since the reflection level signal P6 is the maximum value of the image pickup signal P1, the maximum value of the image pickup signal output from all the pixels of the image pickup device of the image input device 3 is smaller than the saturation voltage Ec. By setting in this way, it is possible to prevent the saturation of the output of all the pixels of the image sensor and to always obtain a good image signal P1 having a high SN ratio.

【0019】この場合、撮像素子としての2次元CCD
の1回の走査の時間は例えば33ms程度である。ま
た、本例では2回〜3回の走査で最適なシャッタースピ
ードSが決定できるので、最適な調光を行うまでに要す
る時間は100ms程度である。これに対して、従来の
照明系の照度を調整する方式では秒単位の時間を要する
ので、本例によれば非常に高速に自動的に調光を行える
ことが分かる。また、一般に照明系2に使用されるラン
プは流れる電流が変化すると色温度も変化する。これに
対して本例では照明系の光量は一定であるため、照明系
の色温度が変化しないという利点もある。更に、CCD
は電子シャッター動作時には光量の蓄積時間が短くなり
暗電流の影響を受けにくくなり、SN比に関しても更に
有利になる。
In this case, a two-dimensional CCD as an image pickup device
The time for one scan of is, for example, about 33 ms. Further, in this example, since the optimum shutter speed S can be determined by scanning two to three times, the time required for optimum light control is about 100 ms. On the other hand, since the conventional method for adjusting the illuminance of the illumination system requires time in seconds, it can be understood that the present example can perform automatic dimming at a very high speed. Further, generally, in a lamp used in the illumination system 2, the color temperature changes when the flowing current changes. On the other hand, in this example, since the light amount of the illumination system is constant, there is also an advantage that the color temperature of the illumination system does not change. Furthermore, CCD
In the electronic shutter operation, the accumulation time of the light quantity is shortened, the influence of dark current is less likely to occur, and the SN ratio is further advantageous.

【0020】なお、上述実施例では反射レベル信号P6
として撮像信号P1の最大値を用いているが、その外に
例えば撮像信号P1の平均値を示す信号を用いてもよ
い。また、撮像素子の例えば中央部の所定領域の画素か
ら得られる撮像信号P1を平均化した信号等を用いるこ
ともできる。更に、画像入力装置3におけるシャッター
機構としては2次元CCDの電子シャッターが用いられ
ているが、その外に機械的なシャッターでシャッタース
ピードを制御するようにしてもよい。このように、本発
明は上述実施例に限定されず本発明の要旨を逸脱しない
範囲で種々の構成を取り得る。
In the above embodiment, the reflection level signal P6
Although the maximum value of the image pickup signal P1 is used as, the signal indicating the average value of the image pickup signal P1 may be used instead. Alternatively, for example, a signal obtained by averaging the image pickup signals P1 obtained from pixels in a predetermined area in the center of the image pickup device may be used. Further, although a two-dimensional CCD electronic shutter is used as a shutter mechanism in the image input device 3, a mechanical shutter may be used in addition to the electronic shutter to control the shutter speed. As described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various configurations can be taken without departing from the gist of the present invention.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明によれば、画像入力手段における
シャッタースピードを変えて複数個の反射レベル信号を
得ることにより適切なシャッタースピードが算出される
ので、照明手段の光量を調整する方式に比べて画像入力
手段に対する露光量の最適化を非常に高速に実行できる
利点がある。また、照明手段の光量は変化しないので、
照明光の色温度が変化しない利点もある。
According to the present invention, an appropriate shutter speed is calculated by changing the shutter speed in the image input means to obtain a plurality of reflection level signals. Therefore, there is an advantage that the exposure amount for the image input means can be optimized at a very high speed. Also, since the light quantity of the illumination means does not change,
There is also an advantage that the color temperature of the illumination light does not change.

【0022】また、画像入力手段が電荷蓄積型撮像素子
の電荷蓄積時間を変化させることによりシャッタースピ
ードを変化させるようにした場合には、装置の形状を小
型化できると共に、露光量の最適化に要する時間をその
撮像素子の数回の走査時間程度まで大幅に短縮できる利
点がある。更に、シャッター動作によりその撮像素子が
暗電流の影響を受けにくくなる利点もある。
When the image input means changes the shutter speed by changing the charge storage time of the charge storage type image pickup device, the shape of the apparatus can be downsized and the exposure amount can be optimized. There is an advantage that the required time can be greatly reduced to about several times of scanning time of the image pickup device. Further, there is an advantage that the image pickup device is less likely to be affected by the dark current due to the shutter operation.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による自動調光装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an automatic light control device according to the present invention.

【図2】その実施例におけるシャッタースピードSと反
射レベル信号P6との関係を示す線図である。
FIG. 2 is a diagram showing a relationship between a shutter speed S and a reflection level signal P6 in the embodiment.

【図3】従来の調光機構を備えた画像処理装置を示すブ
ロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing an image processing apparatus including a conventional light control mechanism.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 顕微鏡 2 照明系 3 画像入力装置 4 画像処理部 7 反射光量検出部 8 シャッタースピード算出部 9 シャッタースピード制御部 P1 撮像信号 P6 反射レベル信号 1 microscope 2 illumination system 3 image input device 4 image processing unit 7 reflected light amount detection unit 8 shutter speed calculation unit 9 shutter speed control unit P1 imaging signal P6 reflection level signal

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 測定対象物を照明する照明手段と、 該照明された測定対象物からの反射光を積分する時間で
あるシャッタースピードを調整するシャッター機能を有
し、シャッタースピードに応じた前記測定対象物の画像
データを得る画像入力手段と、 前記照明された測定対象物からの反射光の量に対応する
反射レベル信号を生成する反射光量検出手段と、 前記画像入力手段のシャッタースピードを制御するシャ
ッタースピード制御手段と、 シャッタースピードを変化させて得られた複数個の前記
反射レベル信号より適切なシャッタースピードを算出す
るシャッタースピード算出手段とを有する事を特徴とす
る自動調光装置。
1. An illumination means for illuminating an object to be measured, and a shutter function for adjusting a shutter speed which is a time for integrating reflected light from the illuminated object to be measured, and the measurement according to the shutter speed. Image input means for obtaining image data of the object, reflected light amount detection means for generating a reflection level signal corresponding to the amount of reflected light from the illuminated measurement object, and controlling the shutter speed of the image input means. An automatic light control device comprising: shutter speed control means; and shutter speed calculation means for calculating an appropriate shutter speed from a plurality of the reflection level signals obtained by changing the shutter speed.
【請求項2】 前記画像入力手段は、電荷蓄積型撮像素
子で前記測定対象物の画像データを得ると共に、前記電
荷蓄積型撮像素子の電荷蓄積時間を変化させることによ
り前記シャッター機能を実現している事を特徴とする請
求項1記載の自動調光装置。
2. The image input means realizes the shutter function by changing the charge storage time of the charge storage type image pickup device while obtaining the image data of the object to be measured by the charge storage type image pickup device. The automatic light control device according to claim 1, wherein:
JP3348771A 1991-12-05 1991-12-05 Automatic dimmer device Withdrawn JPH05161048A (en)

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