JPH0498957A - Subscriber circuit test system in exchange - Google Patents

Subscriber circuit test system in exchange

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JPH0498957A
JPH0498957A JP2216156A JP21615690A JPH0498957A JP H0498957 A JPH0498957 A JP H0498957A JP 2216156 A JP2216156 A JP 2216156A JP 21615690 A JP21615690 A JP 21615690A JP H0498957 A JPH0498957 A JP H0498957A
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JP
Japan
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interface
subscriber
test
circuit
terminal
Prior art date
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Application number
JP2216156A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiromi Takahashi
ひろみ 高橋
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Publication of JPH0498957A publication Critical patent/JPH0498957A/en
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Abstract

PURPOSE:To test both interface subscriber circuits with simple constitution by providing either of a U interface simulating terminal equipment or an S interface simulating terminal equipment to the system. CONSTITUTION:When a maintenance personnel enters a test request and a tested subscriber number by a test control terminal equipment 13, the inputted information is analyzed by a test controller 12. The controller 12 sends the tested subscriber number at first to a central processing unit 8. When the tested subscriber is a subscriber of a U interface, the central processing unit 8 activates a relay 2 and a relay 10 to connect a U interface subscriber circuit 3 and a U interface simulating terminal equipment 11. Similarly, when the tested subscriber is a subscriber of an S interface, the central processing unit 8 activates a relay 5 and the relay 10 to connect an S interface subscriber circuit 6 and an S interface simulating terminal equipment 14 via a 2/4-wire conversion circuit 9.

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はl5DN加入者を収容するデジタル交換機の保
守、試験システムに関し、特にl5DNベーシツクアク
セスのUインタフェース加入者回路及びSインタフェー
ス加入者回路を共に収容した交換機に対するしインタフ
ェース加入者回路及びSインタフェース加入者回路の試
験方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field The present invention relates to a maintenance and testing system for a digital exchange accommodating l5DN subscribers, and particularly for an exchange accommodating both an l5DN basic access U-interface subscriber circuit and an S-interface subscriber circuit. This invention relates to a test method for S-interface subscriber circuits and S-interface subscriber circuits.

従来技術 第3図は従来のしインタフェース加入者とSインタフェ
ース加入者を共に収容する交換機における加入者回路の
試験システムの一実施例を示すブロック図である。
Prior Art FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of a conventional subscriber circuit testing system in an exchange accommodating both S interface subscribers and S interface subscribers.

2線式のしインタフェース加入者線1はリレー2を介し
てUインタフェース加入者回路3に接続されている。リ
レー2は通常はUインタフェース加入者線1とUインタ
フェース加入者回路3とを接続しており、Uインタフェ
ース加入者回路3の試験時は、Uインタフェース擬似端
末11とUインタフェース加入者回路3とをUインタフ
ェース引込み線を介して接続する。
A two-wire interface subscriber line 1 is connected via a relay 2 to a U-interface subscriber circuit 3. The relay 2 normally connects the U interface subscriber line 1 and the U interface subscriber circuit 3, and when testing the U interface subscriber circuit 3, it connects the U interface pseudo terminal 11 and the U interface subscriber circuit 3. Connect via U interface drop-in wire.

同様に4線式のSインタフェース加入者線4はリレー5
を介してSインタフェース加入者回路6に接続されてい
る。リレー5は通常はSインタフェース加入者線4とS
インタフェース加入者回路6を接続しており、Sインタ
フェース加入者回路6の試験時は、Sインタフェース擬
似端末14とSインタフェース加入者回路6とをSイン
タフェース引込み線を介して接続する。
Similarly, the 4-wire S interface subscriber line 4 is connected to the relay 5.
via an S-interface subscriber circuit 6. Relay 5 normally connects S interface subscriber line 4 and S
An interface subscriber circuit 6 is connected thereto, and when testing the S interface subscriber circuit 6, the S interface pseudo terminal 14 and the S interface subscriber circuit 6 are connected via an S interface drop-in line.

Uインタフェース加入者回路3およびSインタフェース
加入者回路6はそれぞれスイッチ7に接続されている。
The U-interface subscriber circuit 3 and the S-interface subscriber circuit 6 are each connected to a switch 7.

スイッチ7及び試験制御装置12に接続された中央処理
装置8は、スイッチ7の制御及び試験制御装置12から
の要求によりリレー2及び5の制御を行う。
A central processing unit 8 connected to the switch 7 and the test control device 12 controls the relays 2 and 5 based on the control of the switch 7 and requests from the test control device 12.

試験制御端末13は保守者か加入者回路の試験を行うた
めのマンマシンインタフェースであり、試験制御装置1
2は試験制御端末13から入力された試験要求を解析し
、中央処理装置8に被試験加入者番号を通知したり、擬
似端末に対して擬似発信、着信などの試験を要求するな
との試験を司る装置である。
The test control terminal 13 is a man-machine interface used by maintenance personnel to test subscriber circuits, and is a test control device 1.
2 analyzes the test request input from the test control terminal 13, and notifies the central processing unit 8 of the subscriber number to be tested, or requests the pseudo terminal to perform tests such as pseudo calling and receiving calls. It is a device that controls the

Uインタフェース擬似端末11及びSインタフェース擬
似端末14はそれぞれUインタフェース加入者回路3及
びSインタフェース加入者回路6に対して、発信、着信
などの試験を行う。
The U-interface pseudo-terminal 11 and the S-interface pseudo-terminal 14 perform outgoing and incoming tests on the U-interface subscriber circuit 3 and the S-interface subscriber circuit 6, respectively.

次に、第3図を用いて、加入者回路の試験を行う場合の
動作を説明する。保守者が試験制御端末13より、試験
要求、被試験加入者番号などを入力すると、入力された
情報は試験制御装置12により解析される。
Next, the operation when testing a subscriber circuit will be explained using FIG. 3. When a maintenance person inputs a test request, a subscriber number to be tested, etc. from the test control terminal 13, the input information is analyzed by the test control device 12.

試験制御装置12はまず中央処理装W8に対して、被試
験加入者番号を送出する。中央処理装置8は、被試験加
入者がUインタフェースの加入者であればリレー2を動
作させ、Uインタフェース加入者回路3とUインタフェ
ース擬似端末11とを接続すると共に、試験制御装置1
2に対して、被試験加入者がUインタフェース加入者で
あることを示す信号を送出する。
The test control device 12 first sends the subscriber number to be tested to the central processing unit W8. If the subscriber under test is a U-interface subscriber, the central processing unit 8 operates the relay 2 to connect the U-interface subscriber circuit 3 and the U-interface pseudo terminal 11, and also connects the test control device 1
2, a signal indicating that the subscriber under test is a U-interface subscriber is sent.

Uインタフェース加入者回路3とUインタフェース擬似
端末11とが接続され、中央処理装置8より被試験加入
者がUインタフェース加入者であることを示す信号を受
信すると、試験制御装置12はUインタフェース擬似端
末11に対して、発信又は着信などの試験要求を行なう
When the U-interface subscriber circuit 3 and the U-interface pseudo-terminal 11 are connected and a signal indicating that the subscriber under test is a U-interface subscriber is received from the central processing unit 8, the test control device 12 connects the U-interface pseudo-terminal to the U-interface pseudo-terminal. 11, a test request such as outgoing or incoming call is made.

Uインタフェース擬似端末11は試験制御装置12より
試験要求を受信すると、要求された試験を行いUインタ
フェース加入者回路3の市営性を試験し、結果を試験制
御装置12に報告する。試験制御装置12はUインタフ
ェース擬似端末]1より試験結果を受信すると、試験制
御端末13に結果を表示する。
When the U-interface pseudo terminal 11 receives a test request from the test control device 12, it performs the requested test, tests the municipality of the U-interface subscriber circuit 3, and reports the results to the test control device 12. When the test control device 12 receives the test results from the U interface pseudo terminal]1, the test control device 12 displays the results on the test control terminal 13.

同様に、試験制御端末13から人力された被試験加入者
番号かSインタフェース加入者である場合は、中央処理
装置8はリレー5を動作させ、Sインタフェース加入者
回路6とSインタフェース擬似端末14とを接続すると
共に、試験制御装置12に対して、被試験加入者がSイ
ンタフェース加入者であることを示す信号を送出する。
Similarly, if the subscriber number to be tested manually entered from the test control terminal 13 is an S interface subscriber, the central processing unit 8 operates the relay 5 and connects the S interface subscriber circuit 6 and the S interface pseudo terminal 14. At the same time, a signal indicating that the subscriber under test is an S interface subscriber is sent to the test control device 12.

Sインタフェース加入者回路6とSインタフェース擬似
端末14とが接続され、中央処理装置8より被試験加入
者がSインタフェース加入者であることを示す信号を受
信すると、試験制御装置12はSインタフェース擬似端
末14に対して、発信又は着信などの試験要求を行う。
When the S-interface subscriber circuit 6 and the S-interface pseudo-terminal 14 are connected and a signal indicating that the subscriber under test is an S-interface subscriber is received from the central processing unit 8, the test control device 12 connects the S-interface pseudo-terminal to the S-interface pseudo-terminal. 14, a test request such as outgoing or incoming call is made.

Sインタフェース擬似端末14は試験制御装置12より
試験要求を受信すると、要求された試験を行いSインタ
フェース加入者回路6の正常性を試験し、結果を試験制
御装置12に報告する。試験制御装置12はSインタフ
ェース擬似端末14より試験結果を受信すると、試験制
御端末13に結果を表示する。
When the S-interface pseudo terminal 14 receives a test request from the test control device 12, it performs the requested test to test the normality of the S-interface subscriber circuit 6, and reports the result to the test control device 12. When the test control device 12 receives the test results from the S interface pseudo terminal 14, it displays the results on the test control terminal 13.

上記試験方式では、Uインタフェース擬似端末及びSイ
ンタフェース擬似端末の両方か必要であるという問題点
がある。また、試験制御装置か、加入者の情報をもつ中
央処理装置に対して、被試験加入者がUインタフェース
であるかSインタフェースであるかの問い合せを行い、
結果によってUインタフェース擬似端末あるいはSイン
タフェース擬似端末を選択し試験を行わなければならす
、手順か複雑であるという問題点がある。
The above test method has a problem in that it requires both a U interface pseudo terminal and an S interface pseudo terminal. In addition, an inquiry is made to the test control device or the central processing unit that has subscriber information as to whether the subscriber under test is a U interface or an S interface.
There is a problem in that the procedure is complicated because a U interface pseudo terminal or an S interface pseudo terminal must be selected and tested depending on the result.

発明の目的 本発明の目的は、単一の擬似端末を用いる簡単な構成で
試験手順を簡素化するようにした交換機の加入者回路試
験システムを提供することである。
OBJECTS OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a subscriber circuit testing system for an exchange that simplifies the test procedure with a simple configuration using a single pseudo terminal.

発明の構成 本発明によれば、l5DNのUインタフェース加入者回
路及びSインタフェース加入者回路を共に収容する交換
機における加入者回路の試験システムであって、前記U
インタフェース加入者回路及びSインタフェース加入者
回路に対しての試験を行うUインタフェース擬似端末と
、加入者回路の試験指示に応答して、前記Uインタフェ
ース加入者回路とUインタフェース引込み線とを接続す
る接続手段と、前記試験指示に応答して、前記Sインタ
フェース加入者回路とSインタフェース引込み線とを接
続する接続手段と、前記Uインタフェース擬似端末と前
記Uインタフェース引込み線とを接続する接続手段と、
前記Uインタフェース擬似端末と前記Sインタフェース
引込み線とを接続する2線/4線変換回路とを含むこと
を特徴とする加入者回路試験システムが得られる。
According to the present invention, there is provided a test system for a subscriber circuit in an exchange that accommodates both a U-interface subscriber circuit and an S-interface subscriber circuit of an I5DN.
A U-interface pseudo-terminal for testing the interface subscriber circuit and the S-interface subscriber circuit, and a connection for connecting the U-interface subscriber circuit and the U-interface drop line in response to a subscriber circuit test instruction. connecting means for connecting the S-interface subscriber circuit and the S-interface drop line in response to the test instruction; and connecting means for connecting the U-interface pseudo terminal and the U-interface drop line;
There is obtained a subscriber circuit testing system characterized in that it includes a 2-wire/4-wire conversion circuit that connects the U-interface pseudo terminal and the S-interface drop-in line.

更に、本発明によれば、l5DNのUインタフェース加
入者回路及びSインタフェース加入者回路を共に収容す
る交換機における加入者回路の試験システムであって、
前記Uインタフェース加入者回路及びSインタフェース
加入者回路に対しての試験を行うSインタフェース擬似
端末と、加入者回路の試験指示に応答して、前記Uイン
タフエ(−ス加入者回路とUインタフェース引込み線と
を接続する接続手段と、前記試験指示に応答して、前記
Sインタフェース加入者回路とSインタフェース引込み
線とを接続する接続手段と、前記Sインタフェース擬似
端末と前記Sインタフェース引込み線とを接続する接続
手段と、前記Sインタフェース擬似端末と前記Uインタ
フェース引込み線とを接続する4線72線変換回路とを
含むことを特徴とする加入者回路試験システムが得られ
る。
Further, according to the present invention, there is provided a system for testing subscriber circuits in an exchange that accommodates both U-interface subscriber circuits and S-interface subscriber circuits of an I5DN, comprising:
an S-interface pseudo-terminal that tests the U-interface subscriber circuit and the S-interface subscriber circuit; connecting means for connecting the S-interface subscriber circuit and the S-interface drop-in line, and connecting the S-interface pseudo-terminal and the S-interface drop-in line in response to the test instruction; There is obtained a subscriber circuit testing system characterized in that it includes a connecting means and a 4-wire 72-wire conversion circuit that connects the S interface pseudo terminal and the U interface drop-in line.

実施例 次に、本発明について第1図を参照して説明する。Example Next, the present invention will be explained with reference to FIG.

第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図であり、
第3図と同等部分は同一符号にて示す。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention,
Parts equivalent to those in FIG. 3 are designated by the same reference numerals.

2線式のUインタフェース加入者線1はリレー2を介し
てUインタフェース加入者回路3に接続されている。リ
レー2は通常はUインタフェース加入者線1とUインタ
フェース加入者回路3とを接続しており、Uインタフェ
ース加入者回路3の試験時は、Uインタフェース擬似端
末11とUインタフェース加入者回路3とをUインタフ
ェース弓込み線を介して接続する。
A two-wire U-interface subscriber line 1 is connected via a relay 2 to a U-interface subscriber circuit 3 . The relay 2 normally connects the U interface subscriber line 1 and the U interface subscriber circuit 3, and when testing the U interface subscriber circuit 3, it connects the U interface pseudo terminal 11 and the U interface subscriber circuit 3. Connect via U interface bow wire.

同様に4線式のSインタフェース加入者線4はリレー5
を介してSインタフェース加入者回路6に接続されてい
る。リレー5は通常はSインタフェース加入者線4とS
インタフェース加入者回路6とを接続しており、Sイン
タフェース加入者回路6の試験時は、Sインタフェース
加入者回路6と2線−4線変換回路9とをSインタフェ
ース引込み線を介して接続する。
Similarly, the 4-wire S interface subscriber line 4 is connected to the relay 5.
via an S-interface subscriber circuit 6. Relay 5 normally connects S interface subscriber line 4 and S
When testing the S interface subscriber circuit 6, the S interface subscriber circuit 6 and the 2-wire to 4-wire conversion circuit 9 are connected via the S interface drop-in line.

Uインタフェース加入者回路3およびSインタフェース
加入者回路6はそれぞれスイ・ソチ7に接続されている
。スイッチ7及び試験制御装置12に接続された中央処
理装置8は、スイ・ソチ7の制御及び試験制御装置12
からの要求によりリレー2、リレー5及びリレー10の
制御を行なう。
The U-interface subscriber circuit 3 and the S-interface subscriber circuit 6 are each connected to Switzerland 7. The central processing unit 8 connected to the switch 7 and the test control device 12 is connected to the control and test control device 12 of the Swiss-Sochi 7
Relay 2, relay 5, and relay 10 are controlled in response to a request from.

試験制御端末13は保守者が加入者回路の試験を行うた
めのマンマシンインタフェースであり、試験制御装置1
2は試験制御端末13から入力された試験要求を解析し
、中央処理装置8に被試験加入者番号を通知したり、U
インタフェース擬似端末11に対して擬似発信、着信な
どの試験を要求するなど、試験を司る装置である。
The test control terminal 13 is a man-machine interface for maintenance personnel to test subscriber circuits, and is a test control terminal 13.
2 analyzes the test request input from the test control terminal 13, notifies the central processing unit 8 of the subscriber number to be tested, and
This is a device that performs tests such as requesting tests such as pseudo call origination and call reception to the interface pseudo terminal 11.

Uインタフェース擬似端末11はUインタフェース加入
者回路3及びSインタフェース加入者回路6に対して、
発信、着信などの試験を行う。2線−4線変換回路9は
Sインタフェース加入者回路6の試験時、リレー5によ
ってSインタフェース加入者回路6に接続され、4線式
のSインタフェースの信号を2線式のUインタフェース
の信号に変換する。
The U-interface pseudo-terminal 11 provides the following information for the U-interface subscriber circuit 3 and the S-interface subscriber circuit 6:
Perform tests such as outgoing and incoming calls. The 2-wire to 4-wire conversion circuit 9 is connected to the S interface subscriber circuit 6 by the relay 5 when testing the S interface subscriber circuit 6, and converts the 4-wire S interface signal into the 2-wire U interface signal. Convert.

リレー10はUインタフェース加入者回路3の試験時は
、Uインタフェース擬似端末11とUインタフェース加
入者回路3とをリレー2を介して接続し、Sインタフェ
ース加入者回路6の試験時は、Uインタフェース擬似端
末11を2線−4線変換回路9を介してSインタフェー
ス加入者回路6に接続するためのリレーである。
The relay 10 connects the U interface pseudo terminal 11 and the U interface subscriber circuit 3 via the relay 2 when testing the U interface subscriber circuit 3, and connects the U interface pseudo terminal 11 and the U interface subscriber circuit 3 when testing the S interface subscriber circuit 6. This is a relay for connecting the terminal 11 to the S interface subscriber circuit 6 via the 2-wire to 4-wire conversion circuit 9.

次に、第1図を用いて、加入者回路の試験を行う場合の
動作を説明する。保守者が試験制御端末13より、試験
要求、被試験加入者番号などを入力すると、入力された
情報は試験制御装置12により解析される。試験制御装
置12はまず中央処理装W8に対して、被試験加入者番
号を送出する。
Next, the operation when testing a subscriber circuit will be explained using FIG. When a maintenance person inputs a test request, a subscriber number to be tested, etc. from the test control terminal 13, the input information is analyzed by the test control device 12. The test control device 12 first sends the subscriber number to be tested to the central processing unit W8.

中央処理装置8は、被試験加入者がUインタフェースの
加入者であればリレー2及びリレー10を動作させ、U
インタフェース加入者回路3とUインタフェース擬似端
末11とを接続する。
If the subscriber under test is a subscriber of the U interface, the central processing unit 8 operates the relay 2 and the relay 10, and
The interface subscriber circuit 3 and the U interface pseudo terminal 11 are connected.

Uインタフェース加入者回路3とUインタフェース擬似
端末11が接続されると、試験制御装置12はUインタ
フェース擬似端末11に対して、発信又は着信などの試
験要求を行う。Uインタフェース擬似端末11は試験制
御装置12より試験要求を受信すると、要求された試験
を行いUインタフェース加入者回路3の正常性を試験し
、結果を試験制御装W12に報告する。試験制御装置1
2はUインタフェース擬似端末11より試験結果を受信
すると、試験制御端末13に結果を表示する。
When the U-interface subscriber circuit 3 and the U-interface pseudo terminal 11 are connected, the test control device 12 requests the U-interface pseudo-terminal 11 to perform a test such as calling or receiving a call. When the U-interface pseudo terminal 11 receives a test request from the test control device 12, it performs the requested test to test the normality of the U-interface subscriber circuit 3, and reports the result to the test control device W12. Test control device 1
Upon receiving the test results from the U interface pseudo terminal 11, the test control terminal 2 displays the results on the test control terminal 13.

同様に試験制御端末13から入力された被試験加入者番
号がSインタフェース加入者である場合は、中央処理装
置8はリレー5及びリレー10を動作させ、Sインタフ
ェース加入者回路6を2線−4線変換回路9を介してS
インタフェース擬似端末14に接続する。
Similarly, if the subscriber number to be tested input from the test control terminal 13 is an S interface subscriber, the central processing unit 8 operates the relays 5 and 10, and connects the S interface subscriber circuit 6 to wire 2-4. S through the line conversion circuit 9
Connect to the interface pseudo terminal 14.

Sインタフェース加入者回路6とSインタフェース擬似
端末14とが2線−4線変換回路9を介して接続される
と、試験制御装置12はUインタフェース擬似端末11
に対して、発信又は着信などの試験要求を行なう。Uイ
ンタフェース擬似端末11は試験制御装置12より試験
要求を受信すると、要求された試験を行ないSインタフ
ェース加入者回路6の正常性を試験し、結果を試験制御
装置12に報告する。試験制御装置12はSインタフェ
ース擬似端末14より試験結果を受信すると、試験制御
端末13に結果を表示する。
When the S interface subscriber circuit 6 and the S interface pseudo terminal 14 are connected via the 2-wire to 4-wire conversion circuit 9, the test control device 12 connects the U interface pseudo terminal 11
makes test requests such as outgoing or incoming calls. When the U interface pseudo terminal 11 receives a test request from the test control device 12, it performs the requested test, tests the normality of the S interface subscriber circuit 6, and reports the results to the test control device 12. When the test control device 12 receives the test results from the S interface pseudo terminal 14, it displays the results on the test control terminal 13.

第2図は本発明の他の実施例を示すブロック図であり、
第1図及び第3図と同等部分は同一符号により示してい
る。
FIG. 2 is a block diagram showing another embodiment of the present invention,
Parts equivalent to those in FIGS. 1 and 3 are indicated by the same reference numerals.

本例において、第1図の構成と異なる点は、Sインタフ
ェース擬似端末14のみを設け、Sインタフェース加入
者回路6とこのSインタフェース擬似端末14との間を
、リレー5、Sインタフェース引込み線及びリレー10
を介して接続している。
In this example, the difference from the configuration in FIG. 1 is that only an S interface pseudo terminal 14 is provided, and a relay 5, an S interface drop-in line, and a relay are provided between the S interface subscriber circuit 6 and this S interface pseudo terminal 14. 10
are connected via.

また、Sインタフェース擬似端末14とUインタフェー
ス加入者回路3との間は、リレー2、Uインタフェース
引込み線、4線/2線変換回路15及びリレー10を介
して接続している。
Further, the S interface pseudo terminal 14 and the U interface subscriber circuit 3 are connected via a relay 2, a U interface drop-in line, a 4-wire/2-wire conversion circuit 15, and a relay 10.

こうすることにより、第1図と同様な作用、効果が得ら
れることは明らかである。
It is clear that by doing so, the same actions and effects as in FIG. 1 can be obtained.

発明の効果 以上述べた如く、本発明によれば、Uインタフェース擬
似端末及びSインタフェース擬似端末のうちいずれか1
つを設け、Uインタフェース擬似端末のみを設けた場合
は、Sインタフェース加入者回路に対して2線/4線変
換回路を介して加入者試験を行い、Sインタフェース擬
似端末のみを設けた場合は、Uインタフェース加入者回
路に対して4線/2線変換回路を介して加入者試験を行
うようにしたので、簡単な構成で両インタフェース加入
者回路に対する試験が行えるという効果がある。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, either one of the U interface pseudo terminal and the S interface pseudo terminal
If only the U interface pseudo terminal is provided, the subscriber test is performed on the S interface subscriber circuit via the 2-wire/4-wire conversion circuit, and if only the S interface pseudo terminal is provided, Since the subscriber test is performed on the U interface subscriber circuit via the 4-wire/2-wire conversion circuit, there is an effect that the test can be performed on both interface subscriber circuits with a simple configuration.

また、擬似端末と加入者回路との接続制御は、被試験加
入者がUインタフェースかSインタフェースかという加
入者情報を有する中央処理装置が行うため、試験制御装
置が中央処理装置に対して被試験加入者のインタフェー
ス種別を間合せる必要がなく、試験手順が簡単であると
いう効果がある。
In addition, since the connection control between the pseudo terminal and the subscriber circuit is performed by the central processing unit that has subscriber information such as whether the subscriber under test is a U interface or an S interface, the test control equipment There is no need to adjust the subscriber's interface type, and the test procedure is simple.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は本発
明の他の実施例のブロック図、第3図は従来の加入者回
路試験システムのブロック図である。 主要部分の符号の説明 3・・・・・・Uインタフェース加入者回路6・・・・
・・Sインタフェース加入者回路7・・・・・・スイッ
チ 8・・・・・・中央処理装置 9・・・・・・2線/4線変換回路 11・・・・・・Uインタフェース擬似端末12・・・
・・・試験制御装置 13・・・・・・試験制御端末
FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of another embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a block diagram of a conventional subscriber circuit testing system. Explanation of symbols of main parts 3...U interface subscriber circuit 6...
... S interface subscriber circuit 7 ... Switch 8 ... Central processing unit 9 ... 2-wire/4-wire conversion circuit 11 ... U interface pseudo terminal 12...
...Test control device 13...Test control terminal

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ISDNのUインタフェース加入者回路及びSイ
ンタフェース加入者回路を共に収容する交換機における
加入者回路の試験システムであって、前記Uインタフェ
ース加入者回路及びSインタフェース加入者回路に対し
ての試験を行うUインタフェース擬似端末と、加入者回
路の試験指示に応答して、前記Uインタフェース加入者
回路とUインタフェース引込み線とを接続する接続手段
と、前記試験指示に応答して、前記Sインタフェース加
入者回路とSインタフェース引込み線とを接続する接続
手段と、前記Uインタフェース擬似端末と前記Uインタ
フェース引込み線とを接続する接続手段と、前記Uイン
タフェース擬似端末と前記Sインタフェース引込み線と
を接続する2線/4線変換回路とを含むことを特徴とす
る加入者回路試験システム。
(1) A test system for subscriber circuits in an exchange that accommodates both ISDN U-interface subscriber circuits and S-interface subscriber circuits, which tests the U-interface subscriber circuits and S-interface subscriber circuits. a U-interface pseudo-terminal for testing a subscriber circuit; a connection means for connecting the U-interface subscriber circuit and a U-interface drop-in line in response to a subscriber circuit test instruction; a connecting means for connecting a circuit and an S interface drop-in line; a connecting means for connecting the U interface pseudo terminal and the U interface drop line; and two wires for connecting the U interface pseudo terminal and the S interface drop line. /4-wire conversion circuit.
(2)ISDNのUインタフェース加入者回路及びSイ
ンタフェース加入者回路を共に収容する交換機における
加入者回路の試験システムであって、前記Uインタフェ
ース加入者回路及びSインタフェース加入者回路に対し
ての試験を行うSインタフェース擬似端末と、加入者回
路の試験指示に応答して、前記Uインタフェース加入者
回路とUインタフェース引込み線とを接続する接続手段
と、前記試験指示に応答して、前記Sインタフェース加
入者回路とSインタフェース引込み線とを接続する接続
手段と、前記Sインタフェース擬似端末と前記Sインタ
フェース引込み線とを接続する接続手段と、前記Sイン
タフェース擬似端末と前記Uインタフェース引込み線と
を接続する4線/2線変換回路とを含むことを特徴とす
る加入者回路試験システム。
(2) A test system for subscriber circuits in an exchange that accommodates both ISDN U-interface subscriber circuits and S-interface subscriber circuits, which tests the U-interface subscriber circuits and S-interface subscriber circuits. a connecting means for connecting the U interface subscriber circuit and the U interface drop-in line in response to a test instruction for the subscriber circuit; a connecting means for connecting a circuit and an S interface drop-in line; a connecting means for connecting the S interface pseudo terminal and the S interface drop line; and 4 wires for connecting the S interface pseudo terminal and the U interface drop line. 1. A subscriber circuit testing system comprising: a 2-wire conversion circuit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH02185152A (en) * 1989-01-12 1990-07-19 Nec Corp Testing system for isdn exchange

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JPH02185152A (en) * 1989-01-12 1990-07-19 Nec Corp Testing system for isdn exchange

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