JPH0483421A - Complementary semiconductor device - Google Patents

Complementary semiconductor device

Info

Publication number
JPH0483421A
JPH0483421A JP2198839A JP19883990A JPH0483421A JP H0483421 A JPH0483421 A JP H0483421A JP 2198839 A JP2198839 A JP 2198839A JP 19883990 A JP19883990 A JP 19883990A JP H0483421 A JPH0483421 A JP H0483421A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistance means
output
semiconductor device
semiconductor
level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2198839A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Nakada
章 中田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2198839A priority Critical patent/JPH0483421A/en
Publication of JPH0483421A publication Critical patent/JPH0483421A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To suppress power consumption by inserting a voltage amplitude restricting MOSFET in addition to two MOSFETs and inserting a resistance means into a current route connecting between power sources. CONSTITUTION:One conductive electrode of a 3rd semiconductor transistor(TR) 5 is connected to an output terminal 1 and a control electrode is connected to a constant voltage source 4. A 1st resistance means 16 is connected between the drain electrode of a 1st semiconductor TR 6 and the other conductive electrode of the TR 5. On the other hand, a 2nd resistance means 17 is connected between the drain electrode of a 2nd conductive semiconductor 7 and the other conductive electrode of the TR 5. Since the p-channel side resistance means 16 and the n-channel side resistance means 17 are inserted in series into a route in which a through current is allowed to flow, the through current is suppressed to a small value. Consequently, a high speed and low power consumption can be attained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、C−Mo5s!に代表される相補型半導体装
置において、該半導体装置から電気信号を出力するため
の、出力端子の回路形成方法に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides C-Mo5s! The present invention relates to a method for forming an output terminal circuit for outputting an electrical signal from a complementary semiconductor device represented by the above semiconductor device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

現在、C−MO3型半導体装置は、多くの半導体製造者
によって製造され、各産業分野において広く使用されて
いる。その背景には、C−MO3型半導体装置が本質的
に有している数々の利点、例えば、小さな消費電力、大
きなノイズマージン、高い入力インピーダンス、高い集
積度などがユーザーから高く評価されてきたからである
Currently, C-MO3 type semiconductor devices are manufactured by many semiconductor manufacturers and are widely used in various industrial fields. The reason for this is that C-MO3 type semiconductor devices have been highly praised by users for their many inherent advantages, such as low power consumption, large noise margin, high input impedance, and high degree of integration. be.

近年、半導体装置の高集積度化が進むにつれて、集積さ
れる回路及び入力・出力の端子数は増大する傾向にある
。しかしパッケージの許容できる電力には自ずから限度
があり、そのためC−MOS型であっても、許容される
消費電力によって集積度や動作周波数が制限される場合
が発生する事が判明した。そこで、C−MO3型半導体
装置でも、単位回路当りの消費電力を更に小さく抑える
様に要求されるようになってきた。
In recent years, as semiconductor devices have become more highly integrated, the number of integrated circuits and input/output terminals has tended to increase. However, it has been found that there is a limit to the power that a package can allow, and therefore even for a C-MOS type, there are cases where the degree of integration and operating frequency are limited by the allowable power consumption. Therefore, even in C-MO3 type semiconductor devices, there has been a demand to further reduce power consumption per unit circuit.

第3図は、従来の技術によってC−MO3型半導体装置
の出力回路を形成した例である。この回路形式は現在広
く使用されているC−MO3型半導体装置における標準
的回路である0図中、抵抗手段19は、半導体装置の静
電気破壊とラッチアップ現象を抑制するために必要な物
である。すなわち、1氏抗手段19によって、出力端子
のインピーダンスを大きくし、外部からの静電気放電エ
ネルギーを減衰させ、またラッチアップを引き起こすト
リが電流を流れにくくする働きを担っている。
FIG. 3 shows an example in which an output circuit of a C-MO3 type semiconductor device is formed using a conventional technique. This circuit type is a standard circuit in C-MO3 type semiconductor devices that are currently widely used. In the figure, the resistor means 19 is necessary to suppress electrostatic damage and latch-up phenomena in semiconductor devices. . That is, the 1-resistance means 19 increases the impedance of the output terminal, attenuates the electrostatic discharge energy from the outside, and also serves to make it difficult for current to flow, which may cause latch-up.

抵抗手段には多結晶シリコンの薄膜が主に使用され、そ
の値は通常5乃至50オームの範囲が用いられる。
A thin film of polycrystalline silicon is mainly used as the resistance means, and its value is usually in the range of 5 to 50 ohms.

ユーザーが半導体装置を使用してシステムを横築する際
には、現在ではTTLレベルでインターフェイスを行な
うのが主流である。具体的に電圧レベルを示すと、電源
電圧5■、論理ハイレベルは2,4■、論理ロウレベル
は0.4vが一般的な値である。
When a user uses semiconductor devices to build a system horizontally, it is currently mainstream to interface at the TTL level. Specifically, the voltage levels are generally 5V for the power supply voltage, 2.4V for the logic high level, and 0.4V for the logic low level.

第3図に示す様な、従来のC−MO3型半導体装置の出
力電圧レベルは、通常は論理ハイレベル側力は5■、論
理ロウレベル出力は0■である。
As shown in FIG. 3, the output voltage level of a conventional C-MO3 type semiconductor device is normally 5■ for a logic high level side output and 0■ for a logic low level output.

従ってC−M 03 型半導体装置であっても、TTL
レヘレベインターフェイスを行なうことが可能である。
Therefore, even if it is a C-M 03 type semiconductor device, TTL
It is possible to perform a level interface.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

前記の様に、従来のC−MO3型半導体装置でも、TT
Lレベルでインターフェイスを行なう事は可能ではある
が、しかしハイレベル側においては、TTLレベルのた
めに必要な電圧振幅よりも大きな振幅が出力されてしま
う。必要以上の電圧振幅は、状態遷移のために余分なエ
ネルギーと応答時間を必要とするので、半導体装置の高
速化と低消費電力化を1指して行くための障害となって
しまっている。また、余分に消費されるエネルギーの一
部は電磁波となって輻射し、他の電子機器に悪影響を与
える場合がある。
As mentioned above, even in the conventional C-MO3 type semiconductor device, TT
Although it is possible to interface at the L level, on the high level side, a voltage amplitude larger than that required for the TTL level is output. A voltage amplitude that is larger than necessary requires extra energy and response time for state transition, and thus becomes an obstacle to increasing the speed and reducing power consumption of semiconductor devices. Further, a part of the extra energy consumed becomes electromagnetic waves and is radiated, which may adversely affect other electronic devices.

また、第3図の回路では、出力端子1の電圧レベルが変
化する時、Pチャネル側出力MO3FET6とNチャネ
ル側MO3FET7の双方が瞬間的に導通状態となり、
電源端子2と接地端子3の間に電源間貫通電流と呼ばれ
る過渡的電流が流れる事が知られている。特に、出力端
子1の負荷容量に対して出力MO3FET6と7の負荷
駆動能力が不適当な場合には、レベルの変化に要する時
間が延びるので、過渡電流が増加する。
In addition, in the circuit shown in FIG. 3, when the voltage level of the output terminal 1 changes, both the P-channel side output MO3FET 6 and the N-channel side output MO3FET 7 become conductive,
It is known that a transient current called an inter-power supply through current flows between the power supply terminal 2 and the ground terminal 3. In particular, if the load driving ability of the output MO3FETs 6 and 7 is inappropriate for the load capacity of the output terminal 1, the time required for the level to change will be extended, resulting in an increase in transient current.

負荷容量を正確に見積って半導体装置を設計する事も理
論上では可能ではあるが、使用される環境が限定される
ので汎用性に欠けるし、根本的解決になっていない、ま
たPチャネル側出力MO8FETとNチャネル側MO3
FETの双方が瞬間的に導通状態となるのは、C−MO
3型半導体装置の特性であり、完全に回避するのは難し
いとされている。
Although it is theoretically possible to design a semiconductor device by accurately estimating the load capacity, it lacks versatility because the environment in which it will be used is limited, and it has not been fundamentally solved. MO8FET and N-channel side MO3
The reason why both FETs are momentarily conductive is C-MO.
This is a characteristic of Type 3 semiconductor devices, and is said to be difficult to completely avoid.

消費電力を小さく抑えるには、消費電流のうち大きな部
分を占める出力MO3FETでの電源間貫通電流を小さ
くする事及び不必要に大きい電圧Wt幅を出さない様に
する事が必要である。
In order to keep power consumption low, it is necessary to reduce the through current between the power supplies in the output MO3FET, which accounts for a large portion of the current consumption, and to prevent an unnecessarily large voltage Wt width from being generated.

更に、同時に多数の出力端子の出力電圧レベルが変化す
る場合には、電#を問責通電流と負荷容量に対しての充
放電電流が、電源ライン上に大きな電圧変動を引き起こ
すので、動作特性の変動を招き、甚だしい場合は誤動作
に至る場合も報告されている。
Furthermore, when the output voltage levels of multiple output terminals change simultaneously, the current flowing through the voltage and the charging/discharging current for the load capacitance cause large voltage fluctuations on the power supply line, which may affect the operating characteristics. It has been reported that this can lead to fluctuations in the operating temperature, and in severe cases, even malfunctions.

本発明は、この様な従来技術の不具合点を解消するもの
で、最小限の素子の追加によって出力電圧振幅を適止化
し、かつ、出力MO3FETにおいての電源間*4m流
を効果的に減少させるもので、それによってC−MO5
型半導体装置の応答速度と?CI費電力を改善する事を
目的としている。
The present invention solves the problems of the prior art, and optimizes the output voltage amplitude by adding a minimum number of elements, and effectively reduces the current between the power supplies *4m in the output MO3FET. , thereby C-MO5
What is the response speed of type semiconductor devices? The purpose is to improve CI cost electricity.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の相補型半導体1i1i厘は、第一の導電性を有
する第一の半導体)・ランジスタと、第一の導電型とは
反対の導電型である第二の導電性を有する第二の半導体
トランジスタと、第三の半導体トランジスタと、電気信
号を半導体装置から出力するための出力端子とを有する
相補型半導体装置において、 第三の半導体トランジスタは、一方の導電電極が該出力
端子に接続され、制御電極が定電圧源に接続されており
、 前記第一の導電性を有する第一の半導体トランジスタの
ドレイン電極と前記第三の半導体トランジスタの他方の
導電電極との間に第一の抵抗手段を有し、前記第二の導
電性を有する第二の半導体トランジスタのドレイン電極
と前記第三の半導体トランジスタの前記他方の導電電極
との間に第二の抵抗手段を有することを特徴としている
The complementary semiconductor 1i1i of the present invention includes a first semiconductor having a first conductivity, a transistor, and a second semiconductor having a second conductivity, which is a conductivity type opposite to the first conductivity type. In a complementary semiconductor device including a transistor, a third semiconductor transistor, and an output terminal for outputting an electric signal from the semiconductor device, the third semiconductor transistor has one conductive electrode connected to the output terminal, A control electrode is connected to a constant voltage source, and a first resistance means is provided between the drain electrode of the first semiconductor transistor having the first conductivity and the other conductive electrode of the third semiconductor transistor. and a second resistance means is provided between the drain electrode of the second semiconductor transistor having the second conductivity and the other conductive electrode of the third semiconductor transistor.

〔実施例〕〔Example〕

以下、実施例に基づいて本発明の詳細な説明する。第1
図は、本発明を実施した相補型半導体装置の出力回路の
例である。
Hereinafter, the present invention will be described in detail based on Examples. 1st
The figure shows an example of an output circuit of a complementary semiconductor device implementing the present invention.

イネーブル入力端子15の論理レベルがハイレベルであ
ればデータ入力端子14の論理レベルに関係なく出力端
子1の論理レベルはハイレベルでもロウレベルでもない
ハイインピーダンス状態となる。
If the logic level of the enable input terminal 15 is high, the logic level of the output terminal 1 will be in a high impedance state, neither high nor low, regardless of the logic level of the data input terminal 14.

イネーブル入力端子15の論理レベルがロウレベルの時
に、データ入力端子14の論理レベルがロウレベルから
ハイレベルに変化した場合を考えると、Pチャネル側出
力MO3FET6のゲート電圧レベルがハイレベルから
ロウレベルに変化してPチャネル側出力MO3FET6
が導通するのとほぼ同時に、Nチャネル請出力MO3F
ET7のゲート電圧レベルがハイレベルからロウレベル
に変化してNチャネル請出力MO3FET7が非導通と
なる。従って、Pチャネル側抵抗手段16とNチャネル
側抵抗手段17との接続点の電圧レベルは接地電圧レベ
ル(Ov)から電源電圧レベル(5■)に変化する。し
かしこ接合点と出力端子1との間にはNチャネルMO3
FET 5が存在するため、出力端子1の電圧レベルは
電源電圧レベルまでは上昇しない。発明者が通常便用し
ている特性のMOSFETではバックゲートバイアス効
果と呼ばれる効果のため、出力端子の電圧は、定電圧入
力端子4の電圧よりも0.7乃至1.5V低い電圧まで
しか上昇しない、従ってハイレベル出力電圧として3.
Ovを所望するならば3゜7乃至4.5vを定電圧入力
端子4に供給すればよい。
Considering the case where the logic level of the data input terminal 14 changes from low level to high level when the logic level of the enable input terminal 15 is low level, the gate voltage level of the P-channel side output MO3FET 6 changes from high level to low level. P channel side output MO3FET6
Almost at the same time, the N-channel voltage output MO3F becomes conductive.
The gate voltage level of ET7 changes from high level to low level, and N-channel output MO3FET7 becomes non-conductive. Therefore, the voltage level at the connection point between the P-channel side resistance means 16 and the N-channel side resistance means 17 changes from the ground voltage level (Ov) to the power supply voltage level (5■). However, between this junction point and output terminal 1, there is an N-channel MO3
Due to the presence of FET 5, the voltage level at output terminal 1 does not rise to the power supply voltage level. In MOSFETs with characteristics commonly used by the inventor, the voltage at the output terminal rises only to a voltage 0.7 to 1.5 V lower than the voltage at the constant voltage input terminal 4 due to an effect called back gate bias effect. Therefore, as a high level output voltage 3.
If Ov is desired, 3.7 to 4.5V may be supplied to the constant voltage input terminal 4.

また、このPチャネル側出力MO5FET6のゲート電
圧レベルがハイレベルからロウレベルに変化してPチャ
ネル側出力MO3FET 6が導通してNチャネル請出
力MO3FET7のゲート電圧レベルがハイレベルから
ロウレベルに変化してNチャネル請出力MO3FET7
が非導通となる時、−瞬ではあるが双方の出力MO3F
ETが導通状態となり、電源端子2と接地端子3との開
に過渡的な貫通電流が流れる。
Further, the gate voltage level of the P-channel side output MO5FET6 changes from high level to low level, the P-channel side output MO3FET 6 becomes conductive, and the gate voltage level of the N-channel side output MO3FET7 changes from high level to low level. Channel output MO3FET7
When becomes non-conductive, both outputs MO3F, albeit momentarily
ET becomes conductive, and a transient through current flows between the power supply terminal 2 and the ground terminal 3.

イネーブル入力端子15の論理レベルがロウレベルの時
に、データ入力端子14の論理レベルがハイレベルから
ロウレベルに変化した場合も同様である。
The same applies when the logic level of the data input terminal 14 changes from high level to low level while the logic level of enable input terminal 15 is low level.

しかし本発明によるPチャネル側抵抗手段16とNチャ
ネル側抵抗手段17がjj通電流の流れる経路に直列に
入っているため、貫通電流はこれらの抵抗が無い場合に
比較して小さい値に抑えられる。つまり、これらの抵抗
手段16と17は、前述の様な、出力端子のインピーダ
ンスを大きくし、外部からの静電気放電エネルギーを減
衰させ、またラッチアップを引き起こすトIツガ電流を
流れにくくするという従来と同じ働きの他に、x′i!
i電流を抑える働きをも有しているのである。
However, since the P-channel side resistance means 16 and the N-channel side resistance means 17 according to the present invention are in series in the path through which the current flows, the through current can be suppressed to a smaller value than when these resistances are not provided. . In other words, these resistor means 16 and 17 have the conventional function of increasing the impedance of the output terminal, attenuating external electrostatic discharge energy, and making it difficult for the latch-up-causing current to flow. Besides the same function, x′i!
It also has the function of suppressing i-current.

抵抗手段16と17には、従来と同様に多結晶シリコン
の薄膜を使用することが出来る。あるいは出力MO3F
ET6と7のそれぞれのドレイン領域を引き延ばして抵
抗として使用する事も可能である。標準的なTTLレヘ
レベンターフェイス用には、抵抗手段の値は5乃至50
オームの範囲が適当であり、従来から用いられている値
とほぼ同一の値であるので、実施に当たっては新しい技
術は何も必要としない。
For the resistance means 16 and 17, a thin film of polycrystalline silicon can be used as in the conventional case. Or output MO3F
It is also possible to extend the respective drain regions of ET6 and ET7 and use them as resistors. For a standard TTL lehele venter face, the value of the resistance means is between 5 and 50.
The implementation does not require any new technology, since the ohm range is suitable and approximately the same as previously used values.

第2図は、本発明を実施した相補型半導体装置の他の出
力回路の例である。ハイレベル出力電圧として3.5v
乃至4,3vを所望するならば定電圧入力端子4を使用
して電圧を印加する必要はなく、電源電圧を供給するだ
けでよい。
FIG. 2 is an example of another output circuit of a complementary semiconductor device embodying the present invention. 3.5v as high level output voltage
If 4.3 V is desired, there is no need to apply a voltage using the constant voltage input terminal 4, and it is sufficient to simply supply the power supply voltage.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べてきた様に、本発明によれば、相補型出力回路
を構成する2個のMOSFETに加えて1個の電圧振幅
制限用のMOSFETを挿入した事により、出力端子の
電圧振幅を、効果的に減少させる事が可能になり、かつ
、相補型出力回路を形成する2つのMOSFETの、電
源間賞通電流の流れる経路に抵抗手段を挿入した事によ
り、出力回路での真通電流を、汎用性を損なわずに効果
的に減少させる事が可能になった。
As described above, according to the present invention, by inserting one MOSFET for voltage amplitude limitation in addition to the two MOSFETs constituting the complementary output circuit, the voltage amplitude of the output terminal can be effectively controlled. By inserting a resistor in the path through which the current flows between the power supplies of the two MOSFETs forming the complementary output circuit, it is possible to reduce the true current in the output circuit. It is now possible to effectively reduce the amount without sacrificing versatility.

従って、半導体装置全体としての消費電力の増大を抑制
する事が可能であり、有害な電磁波輻射の発生を抑制し
つつ、消費電力による集積度や動作周波数の限界を拡大
する事が可能になった。
Therefore, it is possible to suppress the increase in power consumption of the semiconductor device as a whole, and it has become possible to expand the limits of integration density and operating frequency due to power consumption while suppressing the generation of harmful electromagnetic radiation. .

また、電源ラインの電圧変動を減少させる効果もあるの
で、特性変動や誤動作発生の低減という効果も期待でき
る。
Furthermore, since it has the effect of reducing voltage fluctuations in the power supply line, it can also be expected to have the effect of reducing characteristic fluctuations and occurrence of malfunctions.

特に、本発明は、多数の出力端子を有する大規模集積回
路において著しく大きな効果を得ることができるであろ
う。
In particular, the invention could be of significant benefit in large scale integrated circuits having a large number of output terminals.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明を実施した相補型半導体装置の出力回
路の例を示す図である。 第2図は、本発明を実施した相補型半導体装置の他の出
力回路の例を示す図である。 第3図は、従来技術による相補型半導体装置の出力回路
の例を示す図である。 1・・・出力端子 2・・・電源端子 3・・・接地端子 4・・・定電圧入力端子 5・・・NチャネルMO3FET 6・・・Pチャネル側出力MO3FET7・・・Nチャ
ネル側出力MO3FET8・・・Pチャネル側MO3F
ET 9 ・Nチャネル67M08FET 10−P f ヤネル側MO3FET 11・・・Nチャネル側MO8FET 12・・・Pチャネル側MO3F”ET13・・・Nチ
ャネル側MO3FET 14・・・データ入力端子 15・・・イネーブル入力端子 16・・・Pチャネルg14抵抗手段 17・・・Nチャネル側抵抗手段 18・・・相補型半導体装置 19・・・抵抗手段   ゛ 以  上 出願人 セイコーエプソン株式会社
FIG. 1 is a diagram showing an example of an output circuit of a complementary semiconductor device embodying the present invention. FIG. 2 is a diagram showing another example of an output circuit of a complementary semiconductor device embodying the present invention. FIG. 3 is a diagram showing an example of an output circuit of a complementary semiconductor device according to the prior art. 1... Output terminal 2... Power supply terminal 3... Ground terminal 4... Constant voltage input terminal 5... N channel MO3FET 6... P channel side output MO3FET 7... N channel side output MO3FET 8 ...P channel side MO3F
ET 9 ・N-channel 67M08FET 10-P f Janel side MO3FET 11...N-channel side MO8FET 12...P-channel side MO3F" ET13...N-channel side MO3FET 14...Data input terminal 15...Enable Input terminal 16...P channel g14 resistance means 17...N channel side resistance means 18...Complementary semiconductor device 19...Resistance means Applicant: Seiko Epson Corporation

Claims (1)

【特許請求の範囲】 第一の導電性を有する第一の半導体トランジスタと、第
一の導電型とは反対の導電型である第二の導電性を有す
る第二の半導体トランジスタと、第三の半導体トランジ
スタと、電気信号を半導体装置から出力するための出力
端子とを有する相補型半導体装置において、第三の半導
体トランジスタは、一方の導電電極が該出力端子に接続
され、制御電極が定電圧源に接続されており、 前記第一の導電性を有する第一の半導体トランジスタの
ドレイン電極と前記第三の半導体トランジスタの他方の
導電電極との間に第一の抵抗手段を有し、前記第二の導
電性を有する第二の半導体トランジスタのドレイン電極
と前記第三の半導体トランジスタの前記他方の導電電極
との間に第二の抵抗手段を有することを特徴とする相補
型半導体装置。
[Claims] A first semiconductor transistor having a first conductivity, a second semiconductor transistor having a second conductivity that is an opposite conductivity type to the first conductivity type, and a third semiconductor transistor having a second conductivity type opposite to the first conductivity type. In a complementary semiconductor device having a semiconductor transistor and an output terminal for outputting an electric signal from the semiconductor device, a third semiconductor transistor has one conductive electrode connected to the output terminal, and a control electrode connected to a constant voltage source. a first resistance means between the drain electrode of the first semiconductor transistor having the first conductivity and the other conductive electrode of the third semiconductor transistor; A complementary semiconductor device comprising a second resistance means between the drain electrode of the second semiconductor transistor and the other conductive electrode of the third semiconductor transistor.
JP2198839A 1990-07-26 1990-07-26 Complementary semiconductor device Pending JPH0483421A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2198839A JPH0483421A (en) 1990-07-26 1990-07-26 Complementary semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2198839A JPH0483421A (en) 1990-07-26 1990-07-26 Complementary semiconductor device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0483421A true JPH0483421A (en) 1992-03-17

Family

ID=16397777

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2198839A Pending JPH0483421A (en) 1990-07-26 1990-07-26 Complementary semiconductor device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0483421A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0157096B1 (en) Electronic system semiconductor integrated circuit and termination device
US6844755B2 (en) Methods and systems for sensing and compensating for process, voltage, temperature, and load variations
US5811992A (en) Dynamic clocked inverter latch with reduced charged leakage and reduced body effect
US5559448A (en) CMOS terminating resistor circuit
US6753699B2 (en) Integrated circuit and method of controlling output impedance
JP2666759B2 (en) Input buffer circuit of semiconductor integrated circuit
US20060017457A1 (en) Temperature-compensated output buffer method and circuit
US6492686B1 (en) Integrated circuit having buffering circuitry with slew rate control
KR100220656B1 (en) An input buffer circuit
US5376846A (en) Temperature compensation circuit and method of operation
JPH0224282Y2 (en)
US5394028A (en) Apparatus for transitioning between power supply levels
EP0139904B1 (en) Improved tristate control circuitry for a driver circuit
EP0438706A2 (en) High speed cmos drive circuit
US7157931B2 (en) Termination circuits having pull-down and pull-up circuits and related methods
Sim et al. A 1-Gb/s bidirectional I/O buffer using the current-mode scheme
JP2538669B2 (en) Bias voltage generator for CMOS static circuit
JP3159247B2 (en) Input circuit
JPH0483421A (en) Complementary semiconductor device
EP1341307B1 (en) Logic circuit with compensation for the effects of process, voltage, and temperature variations
US5648734A (en) Buffer circuit and bias circuit
JP3711184B2 (en) CMOS integrated circuit
JP2002533971A (en) Overvoltage protection I / O buffer
US6563342B1 (en) CMOS ECL output buffer
JPH0483423A (en) Complementary semiconductor device