JPH0477650A - Dust detector - Google Patents

Dust detector

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JPH0477650A
JPH0477650A JP19207890A JP19207890A JPH0477650A JP H0477650 A JPH0477650 A JP H0477650A JP 19207890 A JP19207890 A JP 19207890A JP 19207890 A JP19207890 A JP 19207890A JP H0477650 A JPH0477650 A JP H0477650A
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隆幸 加藤
Yozo Ito
陽三 伊藤
Shoji Fukami
深見 昌二
Takashi Ota
太田 高史
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Toyota Motor Corp
Toyota Central R&D Labs Inc
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Amano Corp
Toyota Motor Corp
Toyota Central R&D Labs Inc
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Abstract

PURPOSE:To enable continuous measurement of dust in an exhaust within an exhaust duct with a high accuracy and in a highly stable manner by extracting components varying beyond a specified value in a microscopic time unit of a signal according to the quantity of light transmitted to be integrated over a specified time and then, to be compared with a specified value. CONSTITUTION:Light beam irradiated from a light emitter 10 is made to irradiate a light emitter 12 passing through a dust path 20 of a container 18 and a photocurrent is outputted. When a large amount of dust passes continuously through the dust path 20 caused by breakage of filter or the like, an output signal of a photo detector 12 changes rapidly in a microscopic time unit and the amplitude of the change is large. In this case, a signal level to be outputted from a rectifier circuit 65 via a differentiation circuit 64 always becomes large than a reference value e1 and the signal level to be outputted from an integration circuit 68 is also larger than a reference value e2. Abnormality is determined with a judging circuit 69 to be shown on a display means 70. This enables continuous measurement of dust with a high accuracy and in a highly stable manner in the exhaust within an exaust duct thereby achieving detection of abnormality of a dust condition.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は粉塵検出装置に係り、特に工場等の排気ダクト
における排気中の粉塵量を高精度でかつ連続的に測定し
粉塵状態が異常か否かを判定する光透過式の粉塵検出装
置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a dust detection device, and in particular, it is used to continuously and accurately measure the amount of dust in the exhaust air in the exhaust duct of a factory, etc., and to detect whether the dust condition is abnormal. The present invention relates to a light transmission type dust detection device that determines whether or not the dust is present.

〔従来技術及び発明が解決しようとする課題〕特開昭6
1−196140号公報の第4図には、光透過式で粉塵
を検出する装置の原理図が開示されている。この装置は
、粉塵が通過する煙道の両側に発光部と受光部とを対向
するように取付け、発光部と受光部との間の光路を粉塵
が遮断することによって生ずる光透過率の変化から粉塵
の濃度を測定するものである。しかしながら、この装置
においては、以下に列挙する問題点がある。すなわち、
(1)発光部と受光部とが分離しているため光軸合わせ
が困難である。(2)煙道の熱歪みや機械的振動によっ
て光軸ずれが生じ易く安定性に欠ける。
[Prior art and problems to be solved by the invention] Japanese Patent Application Laid-open No. 6
FIG. 4 of Japanese Patent No. 1-196140 discloses a principle diagram of a device for detecting dust using a light transmission type. This device has a light-emitting part and a light-receiving part installed facing each other on both sides of the flue through which dust passes, and prevents changes in light transmittance caused by dust blocking the optical path between the light-emitting part and the light-receiving part. It measures the concentration of dust. However, this device has the following problems. That is,
(1) Since the light emitting part and the light receiving part are separated, it is difficult to align the optical axis. (2) Optical axis misalignment is likely to occur due to thermal distortion and mechanical vibration of the flue, resulting in lack of stability.

(3)発光部、受光部等を構成する光学レンズの表面が
粉塵によって汚損され易く、長期安定性に欠ける。(4
)発光部の発光量、受光部の受光感度が環境温度によっ
て変化を受は易く、高精度な粉塵濃度測定ができない。
(3) The surfaces of the optical lenses constituting the light emitting section, the light receiving section, etc. are easily contaminated by dust and lack long-term stability. (4
) The amount of light emitted by the light-emitting part and the light-receiving sensitivity of the light-receiving part are susceptible to changes depending on the environmental temperature, making it impossible to measure dust concentration with high precision.

これらの問題点を解決する目的で、特開昭591366
39号公報には光軸の安定性と発光部、受光部の光学レ
ンズ等の汚損とを防止する光透過式の塵埃濃度測定装置
が開示されている。この装置では、塵埃による発光部及
び受光部の汚損防止のために煙道と発光部との間及び煙
道と受光部との間にピンホールを備えた仕切板を設ける
と共に、清浄気体を前記ピンホールを介して煙道へ吹き
出すようにしている。さらに、中央に塵埃通路が形成さ
れた容器内に発光部と受光部とを対向配置させ、発光部
、受光部及び容器を一体とすることによって光軸安定性
及び光軸調整の容易性を確保している。また、この塵埃
濃度測定装置には温度変化による発光部の出力変動を補
正する目的で、発光部出力をハーフミラ−によって別途
設けられた参照光用受光部に照射して出力変化を補正し
たり、発光部から受光部への直接光と塵埃による散乱光
とを異なる受光部によって測定し、演算によって発光部
出力の温度変化を補正することが開示されている。かか
る装置においては、次のような問題点がある。(1)受
光部の温度補正をしていないため受光部の温度変化によ
る感度変化に伴う測定上の不安定性が発生する。(2)
複数の受光部やハーフミラ−等の光学装置を用いている
ため装置の複雑さ、不安定さ、あるいは参照光測定や直
接光と散乱光の演算など光出力信号の処理が複雑化する
In order to solve these problems, Japanese Patent Application Laid-Open No. 591366
Publication No. 39 discloses a light transmission type dust concentration measuring device that stabilizes the optical axis and prevents contamination of the optical lenses of the light emitting section and the light receiving section. In this device, a partition plate with pinholes is provided between the flue and the light emitting part and between the flue and the light receiving part to prevent contamination of the light emitting part and the light receiving part by dust. The air is blown out into the flue through a pinhole. Furthermore, by arranging the light emitting part and the light receiving part facing each other in a container with a dust passage formed in the center, and by integrating the light emitting part, the light receiving part, and the container, optical axis stability and ease of optical axis adjustment are ensured. are doing. In addition, in order to correct output fluctuations of the light emitting section due to temperature changes, this dust concentration measuring device uses a half mirror to irradiate the output of the light emitting section onto a separately provided reference light receiving section to correct output changes. It is disclosed that direct light from a light emitting part to a light receiving part and light scattered by dust are measured by different light receiving parts, and temperature changes in the output of the light emitting part are corrected by calculation. Such devices have the following problems. (1) Since the temperature of the light receiving section is not corrected, measurement instability occurs due to changes in sensitivity due to temperature changes in the light receiving section. (2)
The use of optical devices such as a plurality of light receiving units and half mirrors increases the complexity and instability of the device, and complicates the processing of optical output signals such as reference light measurement and calculation of direct light and scattered light.

上記で説明した欠点の1つである発光部及び受光部の温
度変化による感度変化を補正する目的で、特開平1.−
307641号公報には定温発熱体でかつ正の温度特性
を持つPTCサーミスタと温度センサとによって発光器
及び受光器の温度安定化を図った粉度濃度測定装置が開
示されている。この装置は測温素子によって測定された
発光器及び受光器の温度に基づいて加熱体としてのPT
Cサーミスタの作動をフィードバック制御することによ
って発光器及び受光器の動作温度を一定に保ち、発光器
の発光出力及び受光器の受光感度の温度安定化を図って
いる。
In order to correct the sensitivity change due to temperature change of the light emitting part and the light receiving part, which is one of the drawbacks explained above, JP-A No. −
Japanese Patent No. 307641 discloses a powder density measuring device in which the temperatures of a light emitter and a light receiver are stabilized using a PTC thermistor which is a constant temperature heating element and has positive temperature characteristics, and a temperature sensor. This device uses PT as a heating element based on the temperature of the emitter and receiver measured by the temperature measuring element.
By feedback-controlling the operation of the C thermistor, the operating temperatures of the light emitter and light receiver are kept constant, and the temperature of the light emission output of the light emitter and the light receiving sensitivity of the light receiver is stabilized.

しかし、この粉塵検出装置においては、PTCサーミス
タと温度センサとで構成するフィードバック制御回路の
ヒステリシス特性によって温度安定化には限界があり、
発光器及び受光器の温度は通常用いられるオンオフ制御
で数℃、PI(比例・積分)制御で±1℃程度変動する
。この精度における温度安定性では、光透過率の微小変
化(1%以下)に対して誤差を与えるため高精度な粉塵
計測が行えない。
However, in this dust detection device, there is a limit to temperature stabilization due to the hysteresis characteristics of the feedback control circuit composed of a PTC thermistor and a temperature sensor.
The temperature of the light emitter and light receiver fluctuates by several degrees Celsius under normally used on/off control, and by about ±1 degree Celsius under PI (proportional/integral) control. With temperature stability at this level of accuracy, highly accurate dust measurement cannot be performed because an error occurs due to minute changes (1% or less) in light transmittance.

また、特開昭61−221634号公報には、発光器と
受光器とを備えた煙量検出装置において、受光器の出力
信号のピーク値を検出し、これを長時間の積分時定数で
積分した値と比較することによって煙による変化分のみ
を検出する反射型の煙量検出装置が開示されている。
Furthermore, Japanese Patent Application Laid-open No. 61-221634 discloses that in a smoke amount detection device equipped with a light emitter and a light receiver, the peak value of the output signal of the light receiver is detected, and this is integrated with a long integration time constant. A reflection-type smoke amount detection device has been disclosed that detects only the change due to smoke by comparing the amount of smoke with a value determined by the amount of smoke.

これは大きな不要反射光雰囲気内で煙による微小な信号
光のみを検出する技術に関し、発光器や受光器の劣化や
温度による特性変化及び光学系の汚損等による感度変化
を除去できるという特徴をもっている。しかし、この煙
量検出装置を用いて煙による信号光のみを高精度に検出
するためには、信号光の周波数成分に応じた最適な積分
時定数を設定する必要があり、汎用性に欠ける。
This is a technology that detects only minute signal light due to smoke in an atmosphere of large amounts of unwanted reflected light, and has the feature of being able to eliminate changes in sensitivity due to deterioration of the emitter and receiver, changes in characteristics due to temperature, and contamination of the optical system. . However, in order to use this smoke amount detection device to detect only the signal light caused by smoke with high precision, it is necessary to set an optimal integration time constant according to the frequency component of the signal light, which results in a lack of versatility.

本発明は上記事実を考慮して成されたもので、排気ダク
ト内の排気中の粉塵を高精度かつ高安定に連続測定する
ことができ、粉塵状態が異常か否かを判定することがで
きる耐環境性に優れた粉塵検出装置を得ることを目的と
している。
The present invention has been made in consideration of the above facts, and it is possible to continuously measure dust in the exhaust gas in the exhaust duct with high precision and high stability, and to determine whether or not the dust condition is abnormal. The aim is to obtain a dust detection device with excellent environmental resistance.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的を達成するために本発明に係る粉塵検出装置は
、発光部及び受光部を備え、前記発光部から照射され粉
塵を介して前記受光部で検出される光量に基づいて前記
粉塵の状態を検出する粉塵検出装置であって、前記受光
部から出力される光量に応じた信号の微小時間単位で所
定値以上変動する変動成分を抽出する抽出手段と、前記
抽出手段によって抽出された変動成分を所定時間に亘っ
て積分または積算する演算手段と、前記演算手段の演算
結果と予め定められた所定値とを比較して粉塵状態が異
常であるか否かを判定する判定手段と、を有することを
特徴としている。
In order to achieve the above object, a dust detection device according to the present invention includes a light emitting section and a light receiving section, and detects the state of the dust based on the amount of light irradiated from the light emitting section and detected by the light receiving section through the dust. A dust detection device for detecting dust, comprising an extracting means for extracting a fluctuation component that fluctuates by a predetermined value or more in a minute time unit of a signal according to the amount of light output from the light receiving section, and a fluctuating component extracted by the extraction means. It has a calculating means that integrates or integrates over a predetermined time, and a determining means that compares the calculation result of the calculating means with a predetermined value and determines whether or not the dust condition is abnormal. It is characterized by

〔作用〕[Effect]

煙突等のダクト内を通過する粉塵は、粉塵粒径が不均一
であること、さらにダクト内の気流が乱流であること等
の理由からダクト内における分布が不均一となり、発光
部と受光部と間の光路を通過する粉塵量はランダムに変
化する。これに伴って、発光部から照射され粉塵を透過
して受光部で検出される透過光量が第1図に示すように
微小時間単位で所定値以上変動することを発明者等は実
験によって確認している。なお、発光部と受光部との間
の光路上に粉塵が存在しない場合、受光部から出力され
る信号は一定のレベルとなる。また、粉塵によって反射
された光を検出する場合にも同様に変化する。
Dust that passes through a duct such as a chimney is unevenly distributed in the duct due to uneven dust particle size and turbulent airflow within the duct, resulting in uneven distribution between the light emitting part and the light receiving part. The amount of dust passing through the optical path between and changes randomly. Along with this, the inventors have confirmed through experiments that the amount of transmitted light that is emitted from the light emitting part, passes through the dust, and is detected by the light receiving part fluctuates by a predetermined value or more in minute time units, as shown in Figure 1. ing. Note that if there is no dust on the optical path between the light emitting section and the light receiving section, the signal output from the light receiving section will be at a constant level. A similar change also occurs when detecting light reflected by dust.

従って本発明では受光部から出力される光量に応じた信
号の微小時間単位で所定値以上変動する変動成分を粉塵
による変動とみなし、抽出手段によってこれを抽出する
。例えば、発光部及び受光部の温度変化、汚損、劣化等
の環境の変化によって受光部から出力される信号が緩や
かに変化した場合、信号の微小時間単位の変動量は所定
値未満で極めて小さく、抽出手段から出力される信号が
影響を受けることはない。従って、環境の変化を受ける
ことなく粉塵による変動成分のみを抽出できる。この微
小時間単位で所定値以上変動する変動成分を抽出する方
法としては、受光部から出力される信号を時定数の小さ
い微分回路を通過させた後、振幅が所定値以上の信号成
分を抽出したり、前記信号を微小時間毎にサンプリング
して差分、すなわち変化率を演算した後、所定値以上の
変化率の信号成分を抽出することによって行うことがで
きる。
Therefore, in the present invention, a fluctuation component that fluctuates by a predetermined value or more in a minute time unit of a signal corresponding to the amount of light output from the light receiving section is regarded as a fluctuation due to dust, and is extracted by the extraction means. For example, when the signal output from the light receiving section changes gradually due to changes in the environment such as temperature changes, contamination, and deterioration of the light emitting section and the light receiving section, the amount of fluctuation in the minute time unit of the signal is extremely small and is less than a predetermined value. The signal output from the extraction means is not affected. Therefore, only the fluctuation components due to dust can be extracted without being affected by changes in the environment. A method for extracting fluctuation components that fluctuate by a predetermined value or more in minute time units is to pass the signal output from the light receiving section through a differentiating circuit with a small time constant, and then extract signal components whose amplitude is a predetermined value or more. Alternatively, it can be performed by sampling the signal at minute intervals, calculating the difference, that is, the rate of change, and then extracting the signal component having a rate of change equal to or higher than a predetermined value.

抽出手段によって抽出された変動成分は演算手段によっ
て所定時間に亘って積分または積算される。演算手段の
演算結果は、判定手段において所定値と比較され粉塵状
態が異常か否かが判断される。例えば、集塵機のフィル
タのメインテナンスを行う場合の脱塵動作時に一時的、
瞬間的に排出される粉塵に対しては、抽出手段によって
抽出される値が第1図に矢印Aで示すように一時的に変
化するが、演算手段による所定時間に亘る積分または積
算により前記演算結果の値が所定時間内で平均化される
ことによって変化が小さくされるため粉塵状態が異常と
判定されることはない。
The fluctuation component extracted by the extraction means is integrated or integrated over a predetermined time by the calculation means. The calculation result of the calculation means is compared with a predetermined value in the determination means to determine whether or not the dust condition is abnormal. For example, during dust removal operation when performing maintenance on the filter of a dust collector,
For dust that is emitted instantaneously, the value extracted by the extraction means changes temporarily as shown by arrow A in FIG. Since the resulting values are averaged over a predetermined period of time, the change is reduced, so that the dust condition is not determined to be abnormal.

しかし、フィルタ破損時に排出される粉塵は少量でも連
続的に排出されるため、演算結果に太き(反映され適確
に異常として判定することができ、高精度の測定を行う
ことができる。
However, since the dust emitted when the filter is damaged is continuously emitted, even in small amounts, it is reflected in the calculation results and can be accurately determined as an abnormality, making it possible to perform highly accurate measurements.

また、前記のように温度変化等の環境の変化の影響を受
けないので、長期間に亘って安定して連続測定を行うこ
とができる。
Furthermore, as described above, since it is not affected by environmental changes such as temperature changes, continuous measurements can be performed stably over a long period of time.

以上述べたように、本発明では、環境の変化による受光
器出力信号の長期間に亙るゆるやかな変動は、抽出手段
において前記信号の微小時間単位で所定値以上変動する
変動成分を抽出することにより除去され、一方、脱塵動
作等による一時的な変動は、演算手段及び判定手段にお
いて、抽出された変動成分の所定時間に亙る積分または
積算演算により平均化して、所定値に対し実質的に小さ
な値とすることにより除去される。この結果、判定手段
からは、所定時間に亙って定常的にランダムに変動する
異常粉塵状態を反映する信号のみが正確に出力されるの
である。
As described above, in the present invention, gradual fluctuations in the photoreceiver output signal over a long period of time due to changes in the environment can be resolved by extracting fluctuation components of the signal that fluctuate by a predetermined value or more in minute time units in the extraction means. On the other hand, temporary fluctuations due to dust removal operations, etc. are averaged by integrating or accumulating the extracted fluctuation components over a predetermined time in the calculation means and judgment means, and are substantially smaller than the predetermined value. It is removed by setting it to a value. As a result, the determining means accurately outputs only a signal that reflects the abnormal dust state that constantly and randomly fluctuates over a predetermined period of time.

〔実施例〕〔Example〕

第1実施例 以下、図面を参照して本発明の第1実施例を説明する。 First example A first embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

なお、以下の実施例では本発明に支障のない数値を用い
て説明するが本発明は以下の数値に限定されるものでは
ない。
In addition, although the following examples are explained using numerical values that do not hinder the present invention, the present invention is not limited to the following numerical values.

第2図に示すように、本実施例の粉塵検出装置は、発光
ダイオード(LED)から成る発光素子を備えた発光器
10と、ホトダイオード(P D)から成る受光素子を
備えた受光器12と、発光器10と受光器12とが対向
されて一体的に固定配置されると共に発光器10と受光
器12とを結ぶ光軸28上に粉塵通路20が形成された
容器18と、を備えている。この容器18は、粉塵通路
20が集塵装置に連結された排気ダクト22内に位置す
るように配設されている。
As shown in FIG. 2, the dust detection device of this embodiment includes a light emitter 10 equipped with a light emitting element made of a light emitting diode (LED), and a light receiver 12 equipped with a light receiving element made of a photodiode (PD). , a container 18 in which a light emitter 10 and a light receiver 12 are integrally fixed so as to face each other, and a dust passage 20 is formed on an optical axis 28 connecting the light emitter 10 and the light receiver 12. There is. This container 18 is arranged such that a dust passage 20 is located in an exhaust duct 22 connected to a dust collector.

発光器10の発光ダイオードのカソード及びアノードは
制御装置60のLED駆動回路61に接続されており、
発光器10はLED駆動回路61によって受光器12へ
向けて一定の光量の光線を照射する。受光器12のホト
ダイオードのカソード及びアノードは制御装置60の電
流増幅回路62の入力端子に接続されている。受光器1
2は発光器10から発射され粉塵を透過した光線を受光
し、該光線の光量に応じた信号を電流増幅回路62へ出
力する。電流増幅回路62では受光器12から出力され
た信号を増幅する。電流増幅回路62の出力端子は、抽
出手段63の一部を構成する微分回路64の入力端子に
接続されている。微分回路64は時定数が小さく (例
えば1秒以下)なるように各素子の値が設定されている
。このため、微分回路64から出力される信号は、電流
増幅回路62から出力された信号の微小時間単位の変動
成分を抽出した信号になる。
The cathode and anode of the light emitting diode of the light emitter 10 are connected to the LED drive circuit 61 of the control device 60,
The light emitter 10 emits a constant amount of light toward the light receiver 12 by the LED drive circuit 61. The cathode and anode of the photodiode of the photoreceiver 12 are connected to the input terminal of a current amplification circuit 62 of the control device 60 . Receiver 1
2 receives the light beam emitted from the light emitter 10 and transmitted through the dust, and outputs a signal corresponding to the amount of the light beam to the current amplification circuit 62. The current amplification circuit 62 amplifies the signal output from the light receiver 12. The output terminal of the current amplification circuit 62 is connected to the input terminal of a differentiating circuit 64 that constitutes a part of the extraction means 63. In the differentiating circuit 64, the values of each element are set so that the time constant is small (eg, 1 second or less). Therefore, the signal output from the differentiating circuit 64 is a signal obtained by extracting the minute time unit fluctuation component of the signal output from the current amplification circuit 62.

微分回路64の出力端子は整流回路65の入力端子に接
続されている。整流回路65は微分回路64から出力さ
れた信号を全波整流して出力する。
The output terminal of the differentiator circuit 64 is connected to the input terminal of the rectifier circuit 65. The rectifier circuit 65 performs full-wave rectification on the signal output from the differentiating circuit 64 and outputs the resultant signal.

整流回路65の出力端子は比較回路67の2つの入力端
子の一方に接続されている。比較回路67の2つの入力
端子の他方には基準値e1が人力される。比較回路67
は整流回路65から出力された信号と基準値e1とを比
較し、基準値e1以上の信号成分、すなわち微小時間単
位で所定値以上変動する変動成分を粉塵による信号とし
て出力する。
The output terminal of the rectifier circuit 65 is connected to one of the two input terminals of the comparator circuit 67. The reference value e1 is manually input to the other of the two input terminals of the comparison circuit 67. Comparison circuit 67
compares the signal output from the rectifier circuit 65 with a reference value e1, and outputs a signal component greater than or equal to the reference value e1, that is, a fluctuation component that fluctuates by a predetermined value or more in minute time units as a signal due to dust.

比較回路67の出力端子は演算手段である積分回路68
の入力端子に接続されている。積分回路68は時定数が
大きく (例えば5分〜lO分)なるように各素子の値
が設定されている。積分回路は比較回路67の出力信号
を時定数に対応する一定時間で積分した結果を信号とし
て出力する。このため、積分回路68から出力される信
号のレベルは時定数に対応する一定時間内の粉塵量に相
当する。
The output terminal of the comparator circuit 67 is an integrator circuit 68 which is an arithmetic means.
is connected to the input terminal of The values of each element of the integrating circuit 68 are set so that the time constant is large (for example, 5 minutes to 10 minutes). The integrating circuit integrates the output signal of the comparing circuit 67 over a fixed time corresponding to a time constant and outputs the result as a signal. Therefore, the level of the signal output from the integrating circuit 68 corresponds to the amount of dust within a certain period of time corresponding to the time constant.

積分回路68の出力端子は判定手段である比較判定回路
69の2つの入力端子の一方に接続されている。比較判
定回路69の2つの入力端子の他方には基準値e2が入
力される。また、比較判定回路69の出力端子にはラン
プやブザー等を備えた表示手段70が接続されている。
The output terminal of the integrating circuit 68 is connected to one of the two input terminals of a comparison/determination circuit 69 which is a determination means. The reference value e2 is input to the other of the two input terminals of the comparison/judgment circuit 69. Further, a display means 70 including a lamp, a buzzer, etc. is connected to the output terminal of the comparison/judgment circuit 69.

比較判定回路69は積分回路68から出力された信号と
基準値e2とを比較し、積分回路68の出力信号のレベ
ルが基準値02以下の場合に粉塵状態が正常であると判
定すると共に出力信号のレベルが基準値よりも大きい場
合に粉塵状態が異常であると判定する。比較判定回路6
9の判定結果は前記表示手段70に出力され、判定結果
が異常の場合には警告が出力される。
The comparison/determination circuit 69 compares the signal output from the integration circuit 68 with a reference value e2, and determines that the dust condition is normal when the level of the output signal of the integration circuit 68 is less than the reference value 02, and also outputs the output signal. It is determined that the dust condition is abnormal when the level of the dust is higher than the reference value. Comparison judgment circuit 6
The determination result of step 9 is output to the display means 70, and if the determination result is abnormal, a warning is output.

次に本第1実施例の作用を説明する。Next, the operation of the first embodiment will be explained.

発光器10から照射された光線は、容器18の粉塵通路
20を通過して受光器12に照射され、受光器12から
は光電流が出力される。従って、発光器IOと受光器1
2との間の光路を粉塵が通過して光線を遮光することに
よってこの光路の透過率が変化するため、受光器12の
光電流(出力信号)が変化する。
The light beam emitted from the light emitter 10 passes through the dust passage 20 of the container 18 and is irradiated onto the light receiver 12, and the light receiver 12 outputs a photocurrent. Therefore, the emitter IO and the receiver 1
Since the transmittance of this optical path changes when dust passes through the optical path between the two and blocks the light beam, the photocurrent (output signal) of the light receiver 12 changes.

粉塵通路20を通過する粉塵が無い場合、例として第3
図(A)に示すように、受光器12の出力信号は一定値
V。となる。この場合、微分回路64の出力信号は常に
0となり、微小時間単位で基準値61以上変動する変動
成分は抽出されない。
For example, if there is no dust passing through the dust passage 20,
As shown in Figure (A), the output signal of the light receiver 12 is a constant value V. becomes. In this case, the output signal of the differentiating circuit 64 is always 0, and a fluctuation component that fluctuates by more than the reference value 61 in minute time units is not extracted.

粉塵通路20内を少量の粉塵が通過している場合、例と
して第3図(B)に示すように、受光器12の出力信号
は一定値V。よりも低いレベルで微小時間単位に変動す
る。この場合、微分回路64は前記変動に対応した信号
を出力する。しかし、粉塵通路20を通過する粉塵量が
少量であるため受光器12の出力信号の前記変動の振幅
αは小さく、上記と同様に変動成分は抽出されない。
When a small amount of dust is passing through the dust passage 20, the output signal of the light receiver 12 is a constant value V, as shown in FIG. 3(B), for example. fluctuates in minute time units at a level lower than . In this case, the differentiating circuit 64 outputs a signal corresponding to the fluctuation. However, since the amount of dust passing through the dust passage 20 is small, the amplitude α of the fluctuation in the output signal of the light receiver 12 is small, and similarly to the above, the fluctuation component is not extracted.

また、集塵機のフィルタの脱塵動作によって一時的、瞬
間的に粉塵が排出された場合、例として第3図(C)に
矢印Aで示すように、受光器12の出力信号は一時的に
大きく変動する。これにより、微分回路64を経て整流
回路65から出力される信号レベルが基準値e1より一
時的に大きくなるが、積分回路68の時定数が大きくさ
れているため、積分回路68から出力される信号のレベ
ルは平均化されて小さ(なり、粉塵状態は正常であると
判定される。
In addition, when dust is temporarily or instantaneously discharged by the dust removal operation of the filter of the dust collector, the output signal of the light receiver 12 temporarily becomes large, as shown by arrow A in FIG. 3(C), for example. fluctuate. As a result, the signal level output from the rectifier circuit 65 via the differentiating circuit 64 temporarily becomes higher than the reference value e1, but since the time constant of the integrating circuit 68 is increased, the signal level output from the integrating circuit 68 The level of dust is averaged to a small level, and the dust condition is determined to be normal.

フィルタの破損等によって粉塵通路20内を大量の粉塵
が継続して通過した場合には、例として第3図(D)に
示すように、受光器12の出力信号は微小時間単位に激
しく変動し、かつ変動の振幅αが大きい。このような場
合は、微分回路64を経て整流回路65から出力される
信号レベルが基準値e1より常に大きくなり、積分回路
68から出力される信号レベルも基準値e2よりも大き
くなるので、比較判定回路69で粉塵状態が異常である
と判定されて、表示手段70に警告メツセージ等が表示
される。
If a large amount of dust continues to pass through the dust passage 20 due to damage to the filter, etc., the output signal of the light receiver 12 will fluctuate drastically in minute time units, as shown in FIG. 3(D), for example. , and the amplitude α of the fluctuation is large. In such a case, the signal level output from the rectifier circuit 65 via the differentiating circuit 64 will always be higher than the reference value e1, and the signal level output from the integrating circuit 68 will also be higher than the reference value e2, so the comparison judgment The circuit 69 determines that the dust condition is abnormal, and a warning message or the like is displayed on the display means 70.

また、粒径の小さい微小な粉塵が粉塵通路20内を大量
にかつ継続して通過した場合は、例として第3図(E)
に示すように、受光器12の出力信号は微小時間単位の
変動数が多くなると共に変動の振幅αも大きめとなる。
In addition, if a large amount of fine dust with a small particle size continues to pass through the dust passage 20, as shown in FIG. 3(E), for example.
As shown in FIG. 2, the output signal of the light receiver 12 has a large number of fluctuations in minute time units, and the amplitude α of the fluctuations also becomes large.

このような場合は、受光器12の出力信号の振幅αが、
微分回路64を経て整流回路65から出力される信号レ
ベルが基準値e1を超えるような大きさであれば、前記
変動数が多いために積分結果(積分回路68から出力さ
れる信号レベル)が大きくなり、粉塵状態が異常である
と判定される。従って微小な粉塵であっても高精度に検
出することができる。
In such a case, the amplitude α of the output signal of the optical receiver 12 is
If the signal level output from the rectifier circuit 65 via the differentiating circuit 64 exceeds the reference value e1, the integration result (signal level output from the integrating circuit 68) will be large due to the large number of fluctuations. The dust condition is determined to be abnormal. Therefore, even minute dust can be detected with high precision.

発光器10及び受光器12に温度変化にあった場合、例
として第3図(F)に示すように、受光器12の出力信
号は緩やかに変化する。ここで、前記積分の時定数は、
脱塵動作時に排出される粉塵量の大きさに応じて、比例
的に大きくすることにより、粉塵量の大きさに拘わらず
適切な積分値の平均化処理を行うことができ、粉塵異常
のみを正確に判別することができる。このように受光器
12の出力信号が微分回路64の時定数に対して充分大
きな時間で緩やかに変化した場合は微分回路64の出力
信号に影響を与えないので誤って粉塵状態が異常である
と判定することはない。これは、発光器10、受光器1
2等の光学系の汚損、発光器10及び受光器の劣化等の
経時的、経年的な変化に対しても同様である。
When there is a temperature change in the light emitter 10 and the light receiver 12, the output signal of the light receiver 12 changes gradually, as shown in FIG. 3(F), for example. Here, the time constant of the integration is
By increasing the amount proportionally according to the amount of dust emitted during dust removal operation, it is possible to perform appropriate averaging processing of the integral value regardless of the amount of dust, and only dust abnormalities can be detected. Can be accurately determined. In this way, if the output signal of the photodetector 12 changes slowly over a sufficiently large time period with respect to the time constant of the differentiating circuit 64, it will not affect the output signal of the differentiating circuit 64, so it may be mistakenly assumed that the dust condition is abnormal. There is no judgment. This is a light emitter 10, a light receiver 1
The same applies to changes over time such as contamination of the second optical system, deterioration of the light emitter 10 and the light receiver, etc.

このように、本第1実施例では微分回路64によって微
分を行って微小時間単位の変動成分を粉塵による変動と
みなして抽出するようにしているので、発光器10及び
受光器12の温度変化や汚損、発光器10及び受光器1
2の劣化等の環境の変化に影響されることなく長期間に
亘って安定して粉塵を検出することができる。
In this way, in the first embodiment, the differential circuit 64 performs differentiation and extracts minute time unit fluctuation components by regarding them as fluctuations due to dust. Contamination, emitter 10 and receiver 1
Dust can be detected stably over a long period of time without being affected by environmental changes such as deterioration of the dust.

また、本第1実施例では積分回路68によって時定数に
応じた時間に亘って積分を行っているため、脱塵動作等
によって一時的、瞬間的に排出された粉塵に対しては積
分値が平均化されて粉塵状態を異常と判定することはな
く、フィルタの破損等による粉塵のみを正確に検出する
ことができる。
In addition, in the first embodiment, since the integration circuit 68 performs integration over a period of time according to the time constant, the integral value is not correct for dust that is temporarily and instantaneously discharged by a dust removal operation, etc. The dust state is not determined to be abnormal due to averaging, and only dust caused by damage to the filter or the like can be accurately detected.

なお、本第1実施例において整流回路65は全波整流を
行っていたが、微分回路64から出力された信号のうち
粉塵による変動分に相当する部分が検出できればよ(、
例えば半波整流等を行うようにしてもよい。
In the first embodiment, the rectifier circuit 65 performed full-wave rectification, but it is only necessary to detect the portion of the signal output from the differentiator circuit 64 that corresponds to the variation due to dust.
For example, half-wave rectification or the like may be performed.

第2実施例 以下、本発明の第2実施例を説明する。なお、第1実施
例と同一の部分には同一の符号を付し、説明を省略する
Second Embodiment A second embodiment of the present invention will be described below. Note that the same parts as in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

第4図に示すように、本第2実施例において電流増幅回
路62の出力端子は、抽出手段71の一部を構成するサ
ンプルホールド回路72.73の各々の入力端子に接続
されている。サンプルホールド回路72.73には第5
図(A)に示すような受光器12の出力信号が人力され
る。
As shown in FIG. 4, in the second embodiment, the output terminal of the current amplification circuit 62 is connected to each input terminal of sample and hold circuits 72 and 73 forming a part of the extraction means 71. The sample and hold circuits 72 and 73 have a fifth
The output signal of the light receiver 12 as shown in FIG.

一方、抽出手段71は発振回路74を備えており、発振
回路74からは第5図(B)に示すような一定周期のパ
ルスであるゲート信号Gが出力される。発振回路74の
出力端子はタイミングパルス発生回路75の入力端子に
接続されている。タイミングパルス発生回路75は2つ
の出力端子を有し、一方の出力端子からはゲート信号G
の立上がりに同期したサンプリング信号S、 (第5図
(C)参照)を出力し、他方の出力端子からはゲート信
号Gの立下がりに同期したサンプリング信号S2 (第
5図(E)参照)を出力する。タイミングパルス発生回
路75の2つの出力端子はサンプルホールド回路72.
73の同期信号入力端子に接続されている。
On the other hand, the extraction means 71 includes an oscillation circuit 74, and the oscillation circuit 74 outputs a gate signal G, which is a pulse with a constant period as shown in FIG. 5(B). An output terminal of the oscillation circuit 74 is connected to an input terminal of a timing pulse generation circuit 75. The timing pulse generation circuit 75 has two output terminals, and one output terminal outputs the gate signal G.
The sampling signal S, synchronized with the rising edge of gate signal G (see FIG. 5 (C)) is output, and the sampling signal S2 synchronized with the falling edge of gate signal G (see FIG. 5 (E)) is output from the other output terminal. Output. The two output terminals of the timing pulse generation circuit 75 are connected to a sample hold circuit 72.
It is connected to the synchronization signal input terminal of 73.

サンプルホールド回路72は、同期信号入力端子から入
力されるサンプリング信号SIの立上がりと同期して受
光器12の出力信号をサンプリングし、サンプリング時
の出力信号レベルを保持(ホールド)した信号v1を出
力する。従って第5図(D>に示すように、信号v1は
階段状にレベルが変化する。また、サンプルホールド回
路73は、同期信号入力端子から人力されるサンプリン
グ信号S2の立下がりと同期して受光器12の出力信号
のサンプリングし、サンプリング時の出力信号レベルを
保持(ホールド)した信号v2を出力する。従って第5
図(F)に示すように、信号v2は信号v、と同様に階
段状にレベルが変化する。従って、ゲート信号Gの1パ
ルス毎にサンプルホールド回路72.73が交互に作動
してサンプリングを行う。
The sample and hold circuit 72 samples the output signal of the light receiver 12 in synchronization with the rise of the sampling signal SI input from the synchronization signal input terminal, and outputs a signal v1 that holds the output signal level at the time of sampling. . Therefore, as shown in FIG. 5 (D>), the level of the signal v1 changes stepwise.The sample and hold circuit 73 receives light in synchronization with the fall of the sampling signal S2 inputted from the synchronization signal input terminal. It samples the output signal of the device 12 and outputs a signal v2 that holds the output signal level at the time of sampling.
As shown in Figure (F), the level of the signal v2 changes in a stepwise manner similar to the signal v. Therefore, the sample and hold circuits 72 and 73 operate alternately every pulse of the gate signal G to perform sampling.

サンプルホールド回路72の出力端子はゲート回路76
の出力端子に接続されている。ゲート回路76の同期信
号入力端子には、前記発振回路74のゲート信号Gが入
力される。また、サンプルホールド回路73の出力端子
はゲート回路77の出力端子に接続されている。ゲート
回路77の同期信号入力端子にもゲート信号Gが人力さ
れる。
The output terminal of the sample hold circuit 72 is connected to the gate circuit 76.
is connected to the output terminal of The gate signal G of the oscillation circuit 74 is input to the synchronization signal input terminal of the gate circuit 76 . Further, the output terminal of the sample hold circuit 73 is connected to the output terminal of the gate circuit 77. The gate signal G is also input manually to the synchronization signal input terminal of the gate circuit 77.

ゲート回路76.77はゲート信号Gがオン(レベルが
1)のときにのみ人力信号v1またはv2を通過させる
The gate circuits 76 and 77 allow the human input signal v1 or v2 to pass only when the gate signal G is on (level 1).

ゲート回路76の出力端子は差動回路78の2つの入力
端子の一方に接続され、ゲート回路77の出力端子は差
動回路78の入力端子の他方に接続されている。差動回
路78は第5図(G)に示すように入力された2つの信
号v1及びv2の差分v、−v2(ΔVとする)を出力
する。差動回路78の出力端子は絶対値演算回路79の
入力端子に接続されている。絶対値演算回路79は入力
信号ΔVの絶対値1Δv1を演算し、増幅率にで増幅し
た信号K・1Δv1を出力する。
The output terminal of the gate circuit 76 is connected to one of the two input terminals of the differential circuit 78, and the output terminal of the gate circuit 77 is connected to the other input terminal of the differential circuit 78. The differential circuit 78 outputs the difference v, -v2 (denoted as ΔV) between the two input signals v1 and v2, as shown in FIG. 5(G). The output terminal of the differential circuit 78 is connected to the input terminal of the absolute value calculation circuit 79. The absolute value calculation circuit 79 calculates the absolute value 1Δv1 of the input signal ΔV and outputs a signal K·1Δv1 amplified by an amplification factor.

絶対値演算回路79の出力端子は第1実施例と同様な比
較回路67の2つの入力端子の一方に接続されている。
The output terminal of the absolute value calculation circuit 79 is connected to one of the two input terminals of a comparison circuit 67 similar to the first embodiment.

比較回路67の2つの入力端子の他方には基準値e3が
入力される。比較回路67は、絶対値演算回路79から
出力された信号K・ΔV と基準値e3とを比較し、基
準値03以上の信号成分、すなわち微小時間単位で所定
値以上変動する変動成分を粉塵による信号として出力す
る。
The reference value e3 is input to the other of the two input terminals of the comparison circuit 67. The comparison circuit 67 compares the signal K·ΔV outputted from the absolute value calculation circuit 79 with the reference value e3, and detects the signal component of the reference value 03 or more, that is, the fluctuation component that fluctuates by a predetermined value or more in minute time units, due to dust. Output as a signal.

比較回路67の出力端子は第1実施例の積分回路68に
代わって設けられた積算回路80の入力端子に接続され
ている。積算回路80は比較回路67から出力された信
号を所定時間(5分〜10分程度)に亘って積算した結
果を出力する。積算回路80は第1実施例と同様に比較
判定回路69の2つの入力端子の一方に接続されている
。比較判定回路69は入力された積算結果が基準値e4
よりも大きいか否か判定する。積算結果が基準値e4以
下の場合には粉塵状態が正常であると判定し、積算結果
が基準値よりも大きい場合には粉塵状態が異常であると
判定する。比較判定回路690判定結果は表示手段70
へ出力される。本第2実施例では表示手段70がランプ
とされ、異常であると判定された場合に点灯される。
The output terminal of the comparison circuit 67 is connected to the input terminal of an integration circuit 80 provided in place of the integration circuit 68 of the first embodiment. The integration circuit 80 integrates the signal output from the comparison circuit 67 over a predetermined period of time (approximately 5 minutes to 10 minutes) and outputs the result. The integration circuit 80 is connected to one of the two input terminals of the comparison/judgment circuit 69 as in the first embodiment. The comparison/judgment circuit 69 uses the input integration result as the reference value e4.
Determine whether it is larger than . If the integration result is less than or equal to the reference value e4, it is determined that the dust condition is normal, and if the integration result is greater than the reference value, it is determined that the dust condition is abnormal. The comparison judgment circuit 690 judgment result is displayed on the display means 70.
Output to. In the second embodiment, the display means 70 is a lamp, which is turned on when it is determined that there is an abnormality.

次に本第2実施例の作用を説明する。Next, the operation of the second embodiment will be explained.

本第2実施例ではゲート信号の1パルス毎、すなわち微
小時間単位に受光器12の出力信号の差分を演算し、絶
対値演算回路79において前記演算結果の絶対値を増幅
し、比較回路67で所定値以上変動する変動成分を抽出
手段71の出力信号としている。従って、本第2実施例
の抽出手段71の出力信号は、第1実施例の抽出手段6
3から出力される信号と同様に受光器12の出力信号の
うち粉塵による変動成分に相当する。例えば、粉塵通路
20内に粉塵が存在しない場合は前記ΔVが常に零にな
るので、抽出手段71の出力信号K・1Δv1も零にな
る。粉塵通路20内を粉塵が通過している場合、前記Δ
Vは粉塵量の多少に応じて値が増減する。発光器10、
受光器12の温度変化や光学系の汚損等の緩やかな変化
に対しては、微小時間単位の変化が微小であるため出力
信号が影響を受けることはない。
In the second embodiment, the difference between the output signals of the light receiver 12 is calculated for each pulse of the gate signal, that is, in minute time units, the absolute value of the calculation result is amplified in the absolute value calculation circuit 79, and the absolute value of the calculation result is amplified in the comparison circuit 67. A fluctuation component that fluctuates by a predetermined value or more is used as an output signal of the extraction means 71. Therefore, the output signal of the extraction means 71 of the second embodiment is the same as that of the extraction means 6 of the first embodiment.
Similarly to the signal output from the light receiver 3, this corresponds to a fluctuation component due to dust in the output signal of the light receiver 12. For example, when there is no dust in the dust passage 20, the ΔV is always zero, so the output signal K·1Δv1 of the extraction means 71 is also zero. When dust is passing through the dust passage 20, the above Δ
The value of V increases or decreases depending on the amount of dust. light emitter 10,
The output signal is not affected by gradual changes such as temperature changes in the light receiver 12 or contamination of the optical system because the changes in minute time units are minute.

また、本第2実施例では抽出手段71から出力された信
号を積算回路80で所定時間に亘って積算しており、こ
の積算は第1実施例の積分回路68による積分に相当す
る。例えば、脱塵動作等によって粉塵が一時的、瞬間的
に排出された場合には積算回路80による積算値が大し
て大きくならないので、比較判定回路69で粉塵状態が
異常と判定されることはない。また、フィルタの破損等
によって粉塵が大量かつ連続的に排出された場合には、
積算回路80による積算値が充分に大きくなり比較判定
回路69で粉塵状態が異常と判定される。
Furthermore, in the second embodiment, the signal output from the extraction means 71 is integrated over a predetermined time by the integration circuit 80, and this integration corresponds to the integration by the integration circuit 68 in the first embodiment. For example, when dust is temporarily or instantaneously discharged by a dust removal operation, the integrated value by the integration circuit 80 does not increase significantly, so the comparison/determination circuit 69 does not determine that the dust condition is abnormal. In addition, if a large amount of dust is continuously emitted due to filter damage, etc.
When the integrated value by the integrating circuit 80 becomes sufficiently large, the comparison/determination circuit 69 determines that the dust condition is abnormal.

第3実施例 次に、本発明の第3実施例を説明する。なお、第1実施
例及び第2実施例と同一の部分には同一の符号を付し、
説明を省略する。
Third Embodiment Next, a third embodiment of the present invention will be described. Note that the same parts as in the first embodiment and the second embodiment are denoted by the same reference numerals.
The explanation will be omitted.

第6図に示すように、発光器10と粉塵通路20との間
及び受光器12と粉塵通路20との間には、中心にピン
ホール24が穿設された仕切板26が各々複数枚配置さ
れている。これらの仕切板26は、発光器10と受光器
12とを結ぶ光軸28がピンホール24の中心を通るよ
うに配置されている。発光器IOは、温調器46を構成
する断熱材ケース14内に固定配置され、断熱材ケース
14によって容器18と一体的に保持されている。
As shown in FIG. 6, a plurality of partition plates 26 each having a pinhole 24 in the center are arranged between the light emitter 10 and the dust passage 20 and between the light receiver 12 and the dust passage 20. has been done. These partition plates 26 are arranged so that an optical axis 28 connecting the light emitter 10 and the light receiver 12 passes through the center of the pinhole 24. The light emitter IO is fixedly arranged within the heat insulating case 14 that constitutes the temperature controller 46, and is held integrally with the container 18 by the heat insulating case 14.

また、受光器12も同様に温調器48を構成する断熱材
ケース16内に固定配置され、断熱材ケース16によっ
て容器18と一体的に保持されている。容器18の発光
器10の近傍と受光器12の近傍には各々導入口36が
形成されており、これらの導入口36は配管、エアーフ
ィルタ34及び減圧弁32を介して工場エアー等のエア
ー供給源に接続されている。
Further, the light receiver 12 is similarly fixedly arranged within the heat insulating case 16 that constitutes the temperature controller 48, and is held integrally with the container 18 by the heat insulating case 16. Inlet ports 36 are formed in the vicinity of the light emitter 10 and the receiver 12 of the container 18, respectively, and these inlets 36 are used to supply air such as factory air through piping, an air filter 34, and a pressure reducing valve 32. connected to the source.

第7図に示すように、発光器10は制御装置82のLE
D駆動回路61に接続されており、受光器12は制御装
置82の電流増幅回路62に接続されている。また、温
調器46は、断熱材ケース14内に固定保持された発光
器10を加熱するためのPTCサーミスタ等の定温発熱
体から構成されたヒータ52と、断熱材ケース14内の
温度を検出するサーミスタ等で構成された測温素子50
と、を備えている。発光器10にはヒータ52から発生
した熱が図示しない伝熱板を介して伝達されて加熱され
る。また、測温素子50は断熱材ケース14内の温度を
測定する。なお、温調器48も温調器46と同様にヒー
タ56及び測温素子54を備えている。
As shown in FIG.
The light receiver 12 is connected to the D drive circuit 61 , and the light receiver 12 is connected to the current amplification circuit 62 of the control device 82 . The temperature controller 46 also detects the temperature inside the insulation case 14 and a heater 52 configured of a constant temperature heating element such as a PTC thermistor for heating the light emitting device 10 fixedly held within the insulation case 14. Temperature measuring element 50 composed of a thermistor etc.
It is equipped with. Heat generated from the heater 52 is transmitted to the light emitting device 10 via a heat transfer plate (not shown), and the light emitting device 10 is heated. Further, the temperature measuring element 50 measures the temperature inside the heat insulating material case 14. Note that the temperature controller 48 also includes a heater 56 and a temperature measuring element 54 similarly to the temperature controller 46.

ヒータ52は、リレー等で構成されヒータ52をオンオ
フするスイッチ回路83に接続されている。ヒータ56
はスイッチ回路84に接続されている。スイッチ回路8
3.84はマイクロコンピュータ85に接続されマイク
ロコンピュータ85によって作動が制御される。また、
測温素子50及び測温素子54もマイクロコンピュータ
85に接続されている。マイクロコンピュータ85は、
測温素子50.54の出力に基づいて断熱材ケース14
.16内の温度が予め設定された温度に達したか否かを
判定し、達したときにはヒータ52.56への電力を遮
断しかつ達しないときにはヒータ52.56へ電力を供
給するようスイッチ回路83.84を制御する。
The heater 52 is connected to a switch circuit 83 that is configured with a relay or the like and turns the heater 52 on and off. Heater 56
is connected to the switch circuit 84. switch circuit 8
3.84 is connected to a microcomputer 85 and its operation is controlled by the microcomputer 85. Also,
The temperature measuring element 50 and the temperature measuring element 54 are also connected to the microcomputer 85. The microcomputer 85 is
Insulating material case 14 based on the output of temperature measuring element 50.54
.. A switch circuit 83 determines whether the temperature inside the heater 52.56 has reached a preset temperature, cuts off power to the heater 52.56 when the temperature has reached a preset temperature, and supplies power to the heater 52.56 when the temperature has not reached the preset temperature. .84 control.

電流増幅回路62の出力端子はゲイン調整回路86の入
力端子に接続されている。ゲイン調整回路86には粉塵
検出装置の排気ダクトへの初期取付は時における光透過
率100%のときの透過光信号レベルが基準レベルとし
て予め記憶されており、電流増幅回路62から出力され
た受光器12の透過光信号を光透過率として表現するた
約に、出力信号のレベルが前記基準レベルを100%と
する光透過率に対応するレベルとなるように調整する。
The output terminal of the current amplification circuit 62 is connected to the input terminal of a gain adjustment circuit 86. The gain adjustment circuit 86 stores in advance the transmitted light signal level when the light transmittance is 100% when the dust detection device is initially installed in the exhaust duct as a reference level, and the received light output from the current amplification circuit 62. In order to express the transmitted light signal of the device 12 as a light transmittance, the level of the output signal is adjusted to a level corresponding to the light transmittance with the reference level as 100%.

ゲイン調整回路86の出力端子には透過率表示部87及
びAD変換回路88が接続されている。
A transmittance display section 87 and an AD conversion circuit 88 are connected to the output terminal of the gain adjustment circuit 86 .

透過率表示部87はゲイン調整回路86から出力された
信号を光透過率に変換して%表示で液晶デイスプレィま
たはメータ等に表示する。また、AD変換回路88の出
力端子はマイクロコンピュータ85に接続されており、
ゲイン調整回路86から出力された光透過早信号をデジ
タル信号に変換してマイクロコンピュータ85へ出力す
る。
The transmittance display unit 87 converts the signal output from the gain adjustment circuit 86 into a light transmittance and displays it in percentage on a liquid crystal display or a meter. Further, the output terminal of the AD conversion circuit 88 is connected to the microcomputer 85,
The light transmission signal output from the gain adjustment circuit 86 is converted into a digital signal and output to the microcomputer 85.

マイクロコンピュータ85ではAD変換回路88から入
力された信号に基づいて、第2実施例の抽出手段71、
積算回路80及び比較判定回路69と同様な動作を行う
アルゴリズムに基づいて粉塵状態が異常か否か判定する
。マイクロコンピュータ85にはデータ人力、設定用の
キースイッチ89が接続されている。キースイッチ89
は各判定を行うための判定基準値等をマイクロコンピュ
ータ85へ入力する。また、マイクロコンピュータ85
には、マイクロコンピュータ85の処理結果を表示する
液晶デイスプレィ等の表示部91、マイクロコンピュー
タ85によって判定された粉塵状態の異常を、例えばラ
ンプを点灯または点滅させることによって作業者に報知
する報知手段90、粉塵状態の異常時に工場の工作機械
等の停止動作を行うためのアラーム信号を出力するアラ
ーム回路92が接続されている。
The microcomputer 85 extracts the extraction means 71 of the second embodiment based on the signal input from the AD conversion circuit 88.
It is determined whether or not the dust condition is abnormal based on an algorithm that operates in the same way as the integration circuit 80 and the comparison and determination circuit 69. A key switch 89 for data input and settings is connected to the microcomputer 85. key switch 89
inputs into the microcomputer 85 determination reference values for making each determination. Also, microcomputer 85
includes a display section 91 such as a liquid crystal display that displays the processing results of the microcomputer 85, and a notification means 90 that notifies the worker of abnormalities in the dust condition determined by the microcomputer 85, for example by lighting or blinking a lamp. , an alarm circuit 92 is connected that outputs an alarm signal for stopping machine tools, etc. in the factory in the event of abnormal dust conditions.

次に、本第3実施例の作用を説明する。Next, the operation of the third embodiment will be explained.

工場エアーはエアーの圧力を低減させる減圧弁32のエ
アー中の水分や油分を除去するエアーフィルタ34とを
通過することによって低圧の清浄空気とされ、導入口3
6から容器18内へ導入される。この清浄空気は、仕切
板26のピンホール24を通って粉塵通路20方向へ流
出し、粉度通路20から発光器10及び受光器12方向
に粉塵が飛散して発光器10及び受光器12に付着して
汚損されるのを防止することができる。
Factory air is made into low-pressure clean air by passing through a pressure reducing valve 32 that reduces the air pressure and an air filter 34 that removes water and oil from the air.
6 into the container 18. This clean air flows out in the direction of the dust passage 20 through the pinhole 24 of the partition plate 26, and the dust is scattered from the dust passage 20 in the direction of the light emitter 10 and the light receiver 12. It can prevent it from sticking and getting dirty.

マイクロコンピュータ85は、スイッチ回路83をオン
させてヒータ52に電力を供給し、ヒータ52を発熱さ
せて発光器10及び受光器12を加熱する。断熱材ケー
ス14内の温度は測温素子50によって測定され、マイ
クロコンピュータ85は測温素子50で測定された温度
と予め設定された設定温度とを比較し、断熱材ケース1
4内が設定温度に達するとスイッチ回路83をオフして
ヒータ52への電力の供給を遮断する。そして、上記の
動作を繰り返して行うことによって断熱材ケース14内
の温度が一定温度に保持される。また、受光器12を収
容する断熱材ケース16内の温度も上記と同様にマイク
ロコンピュータ85によってスイッチ回路84がオンオ
フされて制御される。従って、それぞれ断熱ケース内に
収容された発光器10及び受光器12の動作温度が一定
に保持されて、発光出力あるいは受光感度の温度安定化
が容易に達成できる。
The microcomputer 85 turns on the switch circuit 83 to supply power to the heater 52, causing the heater 52 to generate heat to heat the light emitter 10 and the light receiver 12. The temperature inside the insulation case 14 is measured by the temperature measurement element 50, and the microcomputer 85 compares the temperature measured by the temperature measurement element 50 with a preset temperature.
When the temperature inside the heater 52 reaches the set temperature, the switch circuit 83 is turned off to cut off the power supply to the heater 52. By repeating the above operations, the temperature inside the heat insulating case 14 is maintained at a constant temperature. Further, the temperature inside the heat insulating case 16 that houses the light receiver 12 is also controlled by the microcomputer 85 by turning on and off the switch circuit 84 in the same manner as described above. Therefore, the operating temperatures of the light emitter 10 and the light receiver 12 housed in the heat insulating case are maintained constant, and temperature stabilization of the light emitting output or light receiving sensitivity can be easily achieved.

受光器12からの透過光信号はゲイン調整回路86で光
透過率に対応するレベルに調整され、光透過率として%
表示で透過率表示部87に表示される。このため、粉塵
通路20内に粉塵が無く、かつ透過率表示部87に表示
された透過率が100%でない場合は、発光器10及び
受光器12の劣化等の不都合が発生していると判断でき
る。このため、透過率表示部87に表示された透過率か
らメインテナンスの時期等を判断することができる。
The transmitted light signal from the light receiver 12 is adjusted by a gain adjustment circuit 86 to a level corresponding to the light transmittance, and the light transmittance is expressed as %.
It is displayed on the transmittance display section 87. Therefore, if there is no dust in the dust passage 20 and the transmittance displayed on the transmittance display section 87 is not 100%, it is determined that a problem such as deterioration of the light emitter 10 and the light receiver 12 has occurred. can. Therefore, it is possible to determine the timing of maintenance, etc. from the transmittance displayed on the transmittance display section 87.

次に、第8図のフローチャートを参照してマイクロコン
ピュータ85による粉塵状態の判定処理を説明する。
Next, the process of determining the dust state by the microcomputer 85 will be explained with reference to the flowchart of FIG.

ステップ100ではキースイッチ89、温調器46.4
8、エアー供給源等の周辺機器とのインターフェースが
正常か否かを判定する。本第3実施例においてマイクロ
コンピュータ85は周辺機器等をチエツクする機能を有
している。インターフェースが正常でないと判定した場
合には前記周辺機器とのインターフェースまたは周辺機
器自体に故障が発生したと判断し、ステップ122へ移
行する。インターフェースが正常であると判定された場
合は、ステップ102でキースイッチ89から入力され
る異常粉塵等を判定するための設定値等を確認し、表示
部91等に表示する。
In step 100, key switch 89, temperature controller 46.4
8. Determine whether the interface with peripheral equipment such as an air supply source is normal. In the third embodiment, the microcomputer 85 has a function of checking peripheral devices and the like. If it is determined that the interface is not normal, it is determined that a failure has occurred in the interface with the peripheral device or the peripheral device itself, and the process moves to step 122. If it is determined that the interface is normal, in step 102, the setting values for determining abnormal dust, etc. input from the key switch 89 are checked and displayed on the display unit 91 or the like.

次のステップ104では温調器46.48による温度コ
ントロールが正常か否か判定する。この正常か否かの判
定は、断熱材ケース14.16内の温度が設定温度付近
か、または大きく外れているかによって判定することが
できる。温度コントロールが正常であると判定した場合
はステップ108へ移行する。また、温度コントロール
が正常でないと判定した場合は、ステップ106でヒー
タ52.56の予熱状態等の加熱準備中であるか否か判
定する。加熱準備中でないと判定した場合には温調器4
6.48に故障が発生したと判断し、ステップ122へ
移行する。加熱準備中であると判定した場合にはステッ
プ108へ移行する。
In the next step 104, it is determined whether the temperature control by the temperature regulators 46, 48 is normal. Whether this is normal or not can be determined based on whether the temperature inside the heat insulating material case 14, 16 is close to the set temperature or significantly deviates from the set temperature. If it is determined that the temperature control is normal, the process moves to step 108. If it is determined that the temperature control is not normal, it is determined in step 106 whether or not the heaters 52, 56 are in a preheating state or in preparation for heating. If it is determined that the heating preparation is not in progress, the temperature controller 4
It is determined that a failure has occurred at 6.48, and the process moves to step 122. If it is determined that heating preparation is in progress, the process moves to step 108.

ステップ108ではAD変換回路88から出力されるデ
ジタルの光透過率信号を取り込む。ステップ110では
透過率値が許容範囲内か否か判定する。この許容範囲は
、各装置に過大なレベルの信号等が人力されて故障が発
生することがないように定められており、許容範囲外で
ある場合にはステップ122へ移行する。許容範囲内で
ある場合にはステップ112で光透過率信号の変化分を
抽出する。すなわち、マイクロコンピュータ85は前回
取り込んだ光透過率信号を記憶しており、前回取り込ん
だ光透過率信号と今回取り込んだ光透過率信号との差分
△Vを演算し、この差分ΔVの絶対値1△V1を変化分
として演算する。次のステップ114ではこの変化分が
キースイッチ89等によって設定された基準値よりも小
さいか否か判定する。変化分が基準値よりも大きい場合
には、ステップI五6で変化分を積算して積算用・リア
に格納しステップ122へ移行する。変化分が設定値よ
りも小さい場合には、ステップ118で変化分をOとし
てオフセットし、ステップ120へ移行する。
In step 108, the digital light transmittance signal output from the AD conversion circuit 88 is taken in. In step 110, it is determined whether the transmittance value is within a permissible range. This permissible range is determined to prevent failures due to manual input of signals of excessive levels to each device, and if the permissible range is outside the permissible range, the process moves to step 122. If it is within the allowable range, the change in the light transmittance signal is extracted in step 112. That is, the microcomputer 85 stores the previously captured light transmittance signal, calculates the difference ΔV between the previously captured light transmittance signal and the currently captured light transmittance signal, and calculates the absolute value 1 of this difference ΔV. Calculate ΔV1 as the amount of change. In the next step 114, it is determined whether this amount of change is smaller than a reference value set by the key switch 89 or the like. If the amount of change is larger than the reference value, the amount of change is integrated in step I56 and stored in the integration rear, and the process proceeds to step 122. If the amount of change is smaller than the set value, the amount of change is offset as O in step 118, and the process proceeds to step 120.

一方、ステップ122では異常と判定されたアラーム対
象に対してアラーム判定条件との照合を行う。このアラ
ーム対象としては、インターフェースの異常、エアー供
給源等の周辺機器の故障、温調器の故障、粉塵状態の異
常等がある。例えば、ステップ114の判定が否定され
て変化分が基準値以上であると判定された場合は、ステ
ップ116の積算結果を異常粉塵に対応する基準値と照
合する。
On the other hand, in step 122, the alarm target determined to be abnormal is checked against the alarm determination conditions. Targets of this alarm include abnormalities in interfaces, failures in peripheral devices such as air supply sources, failures in temperature controllers, and abnormalities in dust conditions. For example, if the determination in step 114 is negative and it is determined that the amount of change is greater than or equal to the reference value, the integration result in step 116 is compared with the reference value corresponding to abnormal dust.

ステップ124では照合したアラーム判定条件からアラ
ームを出力するか否か判断する。アラームを出力する必
要がないと判断した場合にはステップ120・\移行す
る。また、アラームを出力する必要があると判断した場
合は、ステップ126で報知手段90を作動させて、作
業者に対して異常を報知すると共にアラーム回路92に
よってアラーム信号を出力し、ステップ120へ移行す
る。
In step 124, it is determined whether or not to output an alarm based on the collated alarm determination conditions. If it is determined that there is no need to output an alarm, the process moves to step 120. If it is determined that it is necessary to output an alarm, the notification means 90 is activated in step 126 to notify the worker of the abnormality, and the alarm circuit 92 outputs an alarm signal, and the process proceeds to step 120. do.

ステップ120では表示部91によって処理データ、セ
ルフチエツク結果の出力、表示を行ってステップ100
へ戻る。
In step 120, the processing data and self-check results are output and displayed by the display unit 91, and step 100 is performed.
Return to

なお、ステップ100乃至ステップ120の処理は微小
時間単位、例えば0.1〜1秒の時間で繰り返し行われ
る。このため、ステップ112では粉塵による変動成分
、すなわち透過率信号の微小時間単位の変動が抽出され
、ステップ116では微小時間単位で基準値以上変動す
る変動成分が積算される。従ってステップ116の積算
結果を基準値と比較判定することによって、異常粉塵状
態のみを正確に判定することができる。
Note that the processing from step 100 to step 120 is repeatedly performed in minute time units, for example, in a time period of 0.1 to 1 second. Therefore, in step 112, the fluctuation component due to dust, that is, the fluctuation in the transmittance signal in minute time units is extracted, and in step 116, the fluctuation components that fluctuate by more than a reference value in minute time units are integrated. Therefore, by comparing and determining the integration result in step 116 with the reference value, it is possible to accurately determine only the abnormal dust state.

このように、本第3実施例では発光器10および受光器
12の動作温度を一定に保持するようにしているため、
環境温度変化を受けることがなく、発光器lOの発光出
力および受光器12の受光感度を安定化させることがで
きる。
In this way, in the third embodiment, since the operating temperatures of the light emitter 10 and the light receiver 12 are kept constant,
The light emission output of the light emitter 10 and the light receiving sensitivity of the light receiver 12 can be stabilized without being affected by environmental temperature changes.

従って、光透過率の絶対値測定が可能となるので光透過
率と比例関係にある粉塵濃度を正確に知ることができる
Therefore, since it is possible to measure the absolute value of the light transmittance, it is possible to accurately know the dust concentration, which is proportional to the light transmittance.

更に、本第3実施例では、光透過率信号の微小時間単位
の変動成分を抽出するようにしているた必、上記光透過
率信号中に含まれる発光器及び受光器の温調による長周
期の温調変動分や外部から混入するスパイクノイズの影
響を受けることなく、粉塵によるランダムに変動する光
透過早成分のみを抽出することができる。
Furthermore, in the third embodiment, in order to extract minute time unit fluctuation components of the light transmittance signal, it is necessary to extract long-period fluctuation components included in the light transmittance signal due to temperature control of the light emitter and light receiver. It is possible to extract only the light transmission fast component that randomly fluctuates due to dust, without being affected by temperature control fluctuations or spike noise mixed in from the outside.

なお、第3実施例のマイクロコンピュータ85は第2実
施例の抽出手段71、積算回路80及び比較判定回路6
9と同様な動作を行うアルゴリズムに基づいて粉塵状態
が異常か否かを判定するようにしていたが、第1実施例
の抽出手段63、積分回路68及び比較判定回路69と
同様な動作を行うアルゴリズムに基づいて粉塵状態が異
常か否かを判定するようにしてもよい。
Note that the microcomputer 85 of the third embodiment has the extraction means 71, the integration circuit 80, and the comparison/judgment circuit 6 of the second embodiment.
9, it was determined whether the dust condition is abnormal or not based on an algorithm that operates similarly to 9, but the extraction means 63, the integrating circuit 68, and the comparison/judgment circuit 69 operate in the same manner as in the first embodiment. It may be determined whether the dust condition is abnormal based on an algorithm.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明では、透過光量に応じた信号
の微小時間単位で所定値以上変動する変動成分を抽出し
て所定時間に亘って積分または積算し、演算結果を予め
定められた所定値と比較して粉塵状態が異常であるか否
かを判定するようにしたので、排気ダクト内の排気中の
粉塵を高精度かつ高安定に連続測定することができ、粉
塵状態が異常か否かを判定することができる、という優
れた効果を有する。
As explained above, in the present invention, a fluctuation component that fluctuates by a predetermined value or more in a minute time unit of a signal corresponding to the amount of transmitted light is extracted, integrated or accumulated over a predetermined time, and the calculation result is calculated by a predetermined value. Since it is decided whether the dust condition is abnormal or not by comparing it with It has the excellent effect of being able to determine.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の詳細な説明する線図、第2図は第1実
施例に係る粉塵検出装置の概略構成図、第3図(A)乃
至(F)は受光器の出力信号を示す線図、第4図は第2
実施例の粉塵検出装置の概略構成図、第5図(A>乃至
(H)は第2実施例の各回路の出力信号を示す線図、第
6図は第3実施例の粉塵検出装置の概略構成図、第7図
は第6図の制御装置の概略ブロック図、第8図は第6図
の制御装置の作用を説明するフローチャートである。 10・・・発光器、 12・・・受光器、 60.82・・・制御装置、 63.71・・・抽出手段、 64・・・微分回路、 68・・・積分回路、 69・・・比較判定回路、 78・・・差動回路、 80・・・積算回路、 85・・・マイクロコンピュータ。
Fig. 1 is a diagram explaining the present invention in detail, Fig. 2 is a schematic configuration diagram of a dust detection device according to the first embodiment, and Figs. 3 (A) to (F) show output signals of the light receiver. Diagram, Figure 4 is the second
A schematic configuration diagram of the dust detection device of the embodiment, FIG. 5 (A> to (H)) is a diagram showing the output signal of each circuit of the second embodiment, and FIG. 6 is a diagram of the dust detection device of the third embodiment. 7 is a schematic block diagram of the control device shown in FIG. 6, and FIG. 8 is a flowchart explaining the operation of the control device shown in FIG. 6. 10... light emitter, 12... light receiver 60.82...Control device, 63.71...Extraction means, 64...Differential circuit, 68...Integrator circuit, 69...Comparison/judgment circuit, 78...Differential circuit, 80... Integration circuit, 85... Microcomputer.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)発光部及び受光部を備え、前記発光部から照射さ
れ粉塵を介して前記受光部で検出される光量に基づいて
前記粉塵の状態を検出する粉塵検出装置であって、前記
受光部から出力される光量に応じた信号の微小時間単位
で所定値以上変動する変動成分を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された変動成分を所定時間に
亘って積分または積算する演算手段と、前記演算手段の
演算結果と予め定められた所定値とを比較して粉塵状態
が異常であるか否かを判定する判定手段と、を有するこ
とを特徴とする粉塵検出装置。
(1) A dust detection device that includes a light emitting part and a light receiving part, and detects the state of the dust based on the amount of light irradiated from the light emitting part and detected by the light receiving part through the dust. Extracting means for extracting a fluctuation component that fluctuates by a predetermined value or more in minute time units of a signal corresponding to the amount of light to be output;
a calculation means for integrating or accumulating the fluctuation component extracted by the extraction means over a predetermined time; and a calculation means for comparing the calculation result of the calculation means with a predetermined value to determine whether the dust condition is abnormal. A dust detection device characterized by having a determination means for determining.
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