JPH0475152A - Nonvolatile memory system - Google Patents

Nonvolatile memory system

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JPH0475152A
JPH0475152A JP2190011A JP19001190A JPH0475152A JP H0475152 A JPH0475152 A JP H0475152A JP 2190011 A JP2190011 A JP 2190011A JP 19001190 A JP19001190 A JP 19001190A JP H0475152 A JPH0475152 A JP H0475152A
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JP
Japan
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page
circuit
replacement page
nonvolatile memory
write
Prior art date
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Pending
Application number
JP2190011A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeru Takeuchi
滋 竹内
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0475152A publication Critical patent/JPH0475152A/en
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Abstract

PURPOSE:To realize a stable nonvolatile memory system by reducing influence by dispersion in the service life of the element of nonvolatile memory by automatically substituting a prescribed spare area for the area of nonvolatile memory in which a write error occurs by using dedicated hardware. CONSTITUTION:A write circuit 13 writes the content of memory 11 on the nonvolatile memory 12 corresponding to a supplied write request, and issues a readout/inspection request. A readout and inspection circuit 14 reads out the content of the nonvolatile memory 12 accordingly, and issues a substitution page decision request when the content is incorrect. A substitution page decision circuit 15 designates the substitution page of a page in which an error occurs accordingly, and sends out substitution page designation information. The write circuit 13 writes the same content of the memory 11 on the substitution page corresponding to the substitution page designation information, and issues the readout/inspection request. Thereby, it is possible to substitute the prescribed spare area for the area in which the write error occurs by reducing the influence due to the dispersion in the service life of the element and a load on software.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 停電あるいは保守運用に伴う動作の中断後にその中断以
前に生成された情報に基づいて処理を行う情報処理シス
テムにおいて、停電中に所定の情報を保持する不揮発メ
モリシステムに関し、素子寿命のバラツキの影響および
ソフトウェアの負荷を軽減して、書き込みエラーが生じ
た領域を所定の予備領域に置換できることを目的とし、
所定のデータが格納されるメモリと、一定サイズの領域
を含むページ毎にアクセスされ、書き込みエラーが生じ
たページを代替する置換ページとして適宜割り付けられ
る予備領域を含む不揮発メモリと、与えられる書き込み
要求または置換べ−ジ指定情報に応じてメモリの内容を
不揮発メモリに格納し、かつ読み出し・検査要求を発す
る書き込み回路と、与えられる読み出し・検査要求およ
び置換ページ指定情報に応じて不揮発メモリの内容を読
み出し、その内容の正否に応じて置換ページ決定要求を
発する読み出し・検査回路と、置換ページ決定要求に応
じて置換ページを指定し、その置換ページへの書き込み
を要求する置換ページ指定情報を送出する置換ページ決
定回路とを備えて構成される。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] In an information processing system that performs processing based on information generated before the interruption of operation due to a power outage or maintenance operation, a non-volatile system that retains predetermined information during a power outage is used. With regard to memory systems, the purpose is to reduce the effects of variations in element life and the software load, and to replace areas where write errors have occurred with predetermined spare areas.
A memory in which predetermined data is stored, a non-volatile memory including a spare area that is accessed for each page containing an area of a certain size and is appropriately allocated as a replacement page to replace a page in which a write error has occurred, and a write request or A write circuit that stores the contents of the memory in a nonvolatile memory according to replacement page specification information and issues a read/inspection request, and reads out the contents of the nonvolatile memory according to the given read/inspection request and replacement page specification information. , a reading/inspection circuit that issues a replacement page determination request depending on whether the content is correct, and a replacement circuit that specifies a replacement page in response to the replacement page determination request and sends out replacement page designation information that requests writing to the replacement page. and a page determination circuit.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、停電あるいは保守運用に伴う動作の中断後に
その中断以前に生成された情報に基づいて処理を行う情
報処理システムにおいて、停電中に所定の情報を保持す
る不揮発メモリシステムに関する。
The present invention relates to a nonvolatile memory system that retains predetermined information during a power outage in an information processing system that performs processing based on information generated before the interruption of operation after a power outage or maintenance operation.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

停電前に生成されたデータに基づいて復電後に所定の処
理を行う情報処理システムでは、停電中に復電後の処理
に必要なデータを保持するために、不揮発メモリが用い
られる。このような不揮発メモリは、例えば、書き込み
可能なE”FROM半導体記憶素子により構成され、書
き込み・更新回数が一定回数以上に達すると、素子の特
性により正常な書き込み・更新動作が保証されない。
In an information processing system that performs predetermined processing after power restoration based on data generated before a power outage, a nonvolatile memory is used to hold data necessary for processing after power restoration during a power outage. Such a non-volatile memory is constituted by, for example, a writable E''FROM semiconductor memory element, and when the number of writes/updates reaches a certain number of times, normal write/update operations are not guaranteed due to the characteristics of the element.

従来、このような不揮発メモリ素子の特性に対応したメ
モリ領域の管理方法として、書き込むべきデータに所定
の検査コードを付加して書き込み、書き込み後にそのデ
ータおよび検査コードを読み出し、その検査コードの正
否判断により書き込みエラーの有無をチエツクする方法
が採用されている。また、このような方法では、書き込
みエラーが検出されたデータに不揮発メモリ上の別の領
域を割り付ける二面管理が、ソフトウェアの制御によっ
て行われる。
Conventionally, as a memory area management method that corresponds to the characteristics of such nonvolatile memory elements, a predetermined test code is added to the data to be written and written, and after writing, the data and test code are read out to determine whether the test code is correct or not. A method is adopted in which the presence or absence of a write error is checked. Further, in such a method, two-sided management in which data in which a write error has been detected is allocated to another area on the nonvolatile memory is performed under software control.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

ところで、このような従来のメモリ領域の管理方法テハ
、二面管理を行うために、システムが本来的に必要とす
るメモリ容量の2倍の不揮発メモリが必要であった。ま
た、不揮発メモリが正常に書き込み・更新できなくなる
までの期間(素子寿命)は個々の素子によってバラツキ
があり、二面管理により割り付けられた別領域の単位ピ
ットセルが素子寿命に達すれば、竿の面は使用不可能と
なる。
By the way, in order to carry out two-sided management in such a conventional memory area management method, a nonvolatile memory twice the memory capacity originally required by the system is required. In addition, the period until the nonvolatile memory can no longer be written or updated normally (element lifespan) varies depending on the individual element, and if a unit pit cell in a separate area allocated by two-sided management reaches its element lifespan, becomes unusable.

このように、従来方法では、二面管理による二重化の効
果が素子のバラツキによって必ずしも充分に得られない
にもかかわらずコスト高であり、また、二面管理により
別領域を割り付ける制御動作がソフトウェアの負荷とな
っていた。
As described above, in the conventional method, although the redundancy effect due to two-sided management cannot always be obtained sufficiently due to variations in elements, the cost is high, and the control operation to allocate another area by two-sided management is difficult to achieve in software. It was becoming a burden.

さらに、大量のデータを不揮発メモリ上に保持すること
が要求されるシステムでは、従来方法は上述の性能およ
びコストの両面から適用性に乏しかった。
Further, in systems where large amounts of data are required to be held in non-volatile memory, the conventional methods have poor applicability in terms of both performance and cost.

本発明は、素子寿命のバラツキによる影響およびソフト
ウェアの負荷を軽減して、書き込みエラーが生じた領域
を所定の予備領域に置換できる不揮発メモリシステムを
擢供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a nonvolatile memory system that can replace an area where a write error has occurred with a predetermined spare area while reducing the influence of variations in element life and the software load.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図は、本発明の原理ブロック図である。 FIG. 1 is a block diagram of the principle of the present invention.

図において、メモリ11は、所定のデータが格納される
In the figure, a memory 11 stores predetermined data.

不揮発メモリ12は、一定サイズの領域を含むページ毎
にアクセスされ、書き込みエラーが生じたページを代替
する置換ページとして適宜割り付けられる予備領域を含
む。
The nonvolatile memory 12 includes a spare area that is accessed for each page that includes an area of a fixed size and is allocated as a replacement page for a page in which a write error has occurred.

書き込み回路13は、与えられる書き込み要求または置
換ページ指定情報に応じてメモリ11の内容を不揮発メ
モリ12に格納し、かつ読み出し・検査要求を発する。
The write circuit 13 stores the contents of the memory 11 in the nonvolatile memory 12 according to the write request or replacement page designation information given, and issues a read/inspection request.

読み出し・検査回路14は、与えられる読み出し・検査
要求および置換ページ指定情報に応して不揮発メモリ1
2の内容を読み出し、その内容の正否に応じて置換ペー
ジ決定要求を発する。
The readout/inspection circuit 14 reads the nonvolatile memory 1 in response to the readout/inspection request and replacement page designation information provided.
2 and issues a replacement page determination request depending on whether the content is correct or not.

置換ページ決定回路15は、置換ページ決定要求に応じ
て置換ページを指定し、その置換ページへの書き込みを
要求する置換ページ指定情報を送出する。
The replacement page determination circuit 15 specifies a replacement page in response to the replacement page determination request, and sends out replacement page designation information requesting writing to the replacement page.

〔作 用〕[For production]

本発明は、書き込み回路13が、与えられる書き込み要
求に応じてメモリ1工の内容を不揮発メモリ12に書き
込み、読み出し・検査要求を発する。読み出し・検査回
路14は、その検査要求に応じて不揮発メモリ12の内
容を読み出し、その内容が正しくない場合番こは置換ペ
ージ決定要求を発する。置換ページ決定回路15は、そ
の置換ページ決定要求に応じて、書き込みエラーが生じ
たページの置換ページを指定し、その置換ページへの書
き込みを要求する置換ページ指定情報を送出する。書き
込み回路13は、この置換ページ指定情報に応じてメモ
リ11の同じ内容を置換ページに書き込み、読み出し・
検査要求を発する。なお、このような動作は、不揮発メ
モリ12に正しいデータが書き込まれるまで反復される
In the present invention, a write circuit 13 writes the contents of a memory 1 into the nonvolatile memory 12 in response to a given write request, and issues a read/inspection request. The readout/inspection circuit 14 reads the contents of the nonvolatile memory 12 in response to the inspection request, and issues a replacement page determination request if the contents are incorrect. In response to the replacement page determination request, the replacement page determination circuit 15 specifies a replacement page for the page in which the write error has occurred, and sends out replacement page designation information requesting writing to the replacement page. The write circuit 13 writes the same contents of the memory 11 to the replacement page according to this replacement page designation information, and performs read/write operations.
Issue an inspection request. Note that such operations are repeated until correct data is written into the nonvolatile memory 12.

また、不揮発メモリ12の読み出し動作では、読み出し
・検査回路14は、与えられる読み出し・検査要求に応
じて不揮発メモリ12の内容を読み出し、その内容が正
しい場合には読み出された内容をメモリ11に格納し、
読み出された内容が正しくない場合には置換ページ決定
要求を発する。
In addition, in the read operation of the nonvolatile memory 12, the readout/inspection circuit 14 reads out the contents of the nonvolatile memory 12 in response to the given readout/inspection request, and if the contents are correct, transfers the readout contents to the memory 11. store,
If the read content is incorrect, a replacement page determination request is issued.

置換ページ決定回路15は、その置換ページ決定要求に
応して、該当するページに割り付けられた置換ページの
読み出しを要求する置換ページ指定情報を送出する。読
み出し・検査回路14は、この置換ページ指定情報に応
じて置換ページの内容を読み出す。なお、このような動
作は、不揮発メモリ12から正しいデータが読み出され
るまで反復される。
In response to the replacement page determination request, the replacement page determination circuit 15 sends replacement page designation information requesting reading of the replacement page allocated to the corresponding page. The readout/inspection circuit 14 reads out the contents of the replacement page according to this replacement page designation information. Note that such operations are repeated until correct data is read from the nonvolatile memory 12.

したがって、不揮発メモリ12の何れの領域においても
、専用のハードウェアを用いて自動的にかつ高速に書き
込みエラーの発生領域を他の空領域に置換することがで
きる。
Therefore, in any area of the nonvolatile memory 12, an area where a write error has occurred can be automatically and quickly replaced with another empty area using dedicated hardware.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail based on the drawings.

第2図は、本発明の一実施例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

図において、所定のプログラムにしたがって情報を処理
するプロセッサ(CPU)21は、アドレス・データバ
スを介して所定の制御信号を保持する制御レジスタ22
、プロセッサ21に通知すべきステータス情報を保持す
るステータスレジスタ23およびソフトウェアに応じた
種々の情報を配位する書き込み・読み出しメモリ24に
接続される。書き込み・読み出しメモリ24は、ダイレ
クトメモリアクセス(DMA)方式により高速データ転
送を行うローカルバスを介して格納データを停電中に保
持する不揮発メモリ251〜25N、書き込み・読み出
しメモリ24に格納されたデータを不揮発メモリ251
〜25sの所定領域に格納する格納回路26、不揮発メ
モリ25.〜25Nに格納されたデータを書き込み・読
み出しメモリ24の所定領域に格納する読み出し・検査
回路27、書き込みエラーが発生した領域に代えて不揮
発メモリ25t〜25、上の空領域を割り当てる置換ペ
ージ作成回路28および書き込みエラーが発生した領域
に既に割り当てられた領域を不揮発メモリ25.〜25
Nの所定領域から探索する置換ページ探索回路29に接
続される。
In the figure, a processor (CPU) 21 that processes information according to a predetermined program has a control register 22 that holds predetermined control signals via an address/data bus.
, a status register 23 that holds status information to be notified to the processor 21, and a write/read memory 24 that arranges various information depending on the software. The write/read memory 24 is a nonvolatile memory 251 to 25N that retains stored data during a power outage via a local bus that performs high-speed data transfer using a direct memory access (DMA) method, and a nonvolatile memory 251 to 25N that retains data stored in the write/read memory 24. Nonvolatile memory 251
A storage circuit 26 and a nonvolatile memory 25 for storing data in a predetermined area for ~25 seconds. A read/inspection circuit 27 stores the data stored in ~25N in a predetermined area of the write/read memory 24, a replacement page creation circuit 28 that allocates an empty area above the nonvolatile memory 25t~25 in place of the area where a write error has occurred; The area already allocated to the area where the write error occurred is saved in the non-volatile memory 25. ~25
It is connected to a replacement page search circuit 29 that searches from N predetermined areas.

また、制御レジスタ22の一方の出力は、不揮発メモリ
25、〜25Nのアドレスを生成するマツプレジスタ設
定回路30に接続される。マツプレジスタ設定回路30
の出力は、不揮発メモリ25、〜25gの物理アドレス
を生成するマツプレジスタ31に接続される。マツプレ
ジスタ3工の出力は、格納回路26および読み出し・検
査回路27に接続される。格納回路26の出力は、ステ
ータスレジスタ23および読み出し・検査回路27に接
続される。読み出し・検査回路27の出力は、ステータ
スレジスタ23、置換ページ作成回路2日および置換ペ
ージ探索回路29に接続される。置換ページ作成回路2
8および置換ページ探索回路29の出力は、いずれもマ
ツプレジスタ31に接続される。
Further, one output of the control register 22 is connected to a map register setting circuit 30 that generates addresses of the nonvolatile memories 25, .about.25N. Map register setting circuit 30
The output of is connected to a map register 31 which generates the physical address of the non-volatile memory 25, to 25g. The output of the three map registers is connected to a storage circuit 26 and a readout/inspection circuit 27. The output of the storage circuit 26 is connected to the status register 23 and the read/test circuit 27. The output of the readout/inspection circuit 27 is connected to the status register 23, the replacement page creation circuit 2, and the replacement page search circuit 29. Replacement page creation circuit 2
8 and the output of the replacement page search circuit 29 are both connected to a map register 31.

なお、本実施例と第1図に示す本発明の原理ブロック図
との対応関係については、書き込み・読み出しメモリ2
4はメモリ11に対応し、格納回路26は書き込み回路
13に対応し、読み出し・検査回路27は読み出し・検
査回路14に対応し、置換ページ作成回路28および置
換ページ探索回路29は置換ページ決定回路15に対応
し、不揮発メモリ25□〜25.4は不揮発メモリ12
に対応する。
Regarding the correspondence between this embodiment and the principle block diagram of the present invention shown in FIG.
4 corresponds to the memory 11, the storage circuit 26 corresponds to the write circuit 13, the read/inspect circuit 27 corresponds to the read/inspect circuit 14, and the replacement page creation circuit 28 and replacement page search circuit 29 are replacement page determination circuits. 15, and nonvolatile memories 25□ to 25.4 correspond to nonvolatile memories 12
corresponds to

第3図は、不揮発メモリに設定されるデータの構成例を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the structure of data set in the nonvolatile memory.

回において、不揮発メモリ251〜25Nの領域は、(
a)に示すように、本実施例においてメモリ領域の割り
付は制御に供される予備領域および本実施例を適用する
システムに必要な情報が格納される通常使用領域から構
成される。予備領域および通常使用領域に格納される全
てのデータは、(b)、(C)に示すように、−度に連
続して書き込むことができる最大データ長のブロック(
以下、「ページ」という。)41を基本単位として構成
される。各ページの先頭には、そのページに格納される
データ42の種類を識別するフラグ(以下、「データ識
別フラグ」という。)43が設定される。各ページの末
尾には、そのページに格納されたデータ識別フラグ43
およびデータ42に応じた検査コード44が設定される
。なお、検査コード44は、例えば、水平パリティチエ
ツクコード、CRCコードを用いて生成される。また、
予備領域には、書き込みエラーが発生したページ(以下
、「エラーページ」という。)の置換ページとして適宜
割り付けられる空ページ(データ識別フラグ= rO(
b )既にエラーページに代えて割り付けられた置換ペ
ージ(データ識別フラグ=「FF」)、使用が禁止され
るべき無効ページ(データ識別フラグ= rlA」)お
よびエラーページと置換ページとの対応関係を示す情報
が設定されるエラーページ管理テーブル(データ識別フ
ラグ= rlo」)が格納される。
At the time, the area of the nonvolatile memories 251 to 25N is (
As shown in a), the memory area allocation in this embodiment consists of a spare area used for control and a normally used area where information necessary for the system to which this embodiment is applied is stored. All data stored in the spare area and the normally used area is stored in blocks of the maximum data length that can be written continuously at - times, as shown in (b) and (C).
Hereinafter referred to as "page". )41 as the basic unit. At the beginning of each page, a flag (hereinafter referred to as "data identification flag") 43 is set that identifies the type of data 42 stored in that page. At the end of each page, there is a data identification flag 43 stored in that page.
and an inspection code 44 corresponding to the data 42. Note that the check code 44 is generated using, for example, a horizontal parity check code or a CRC code. Also,
In the spare area, an empty page (data identification flag = rO(
b) The correspondence between the replacement page (data identification flag = "FF") that has already been allocated in place of the error page, the invalid page whose use should be prohibited (data identification flag = "rlA"), and the error page and the replacement page. An error page management table (data identification flag=rlo") in which information indicating the error page is set is stored.

以下、第2回および第3図を参照して本実施例の動作を
説明する。
The operation of this embodiment will be explained below with reference to the second section and FIG. 3.

不揮発メモリ25.〜25.に対する書き込み動作は、
プロセッサ21が、書き込むべき不揮発メモリ25.〜
25Nの領域の先頭アドレスを示す配列番号(KO)、
書き込むべきデータのサイズ(L)を所望の各ページ毎
に決定し、これらのパラメータと書き込み指令ビットを
制御レジスタ22に設定することによって起動される。
Non-volatile memory 25. ~25. The write operation for
Processor 21 writes to non-volatile memory 25. ~
Array number (KO) indicating the start address of the 25N area,
It is activated by determining the size (L) of data to be written for each desired page and setting these parameters and write command bits in the control register 22.

マツプレジスタ設定回路30は、制御レジスタ22に設
定された情報に応じて各ページに対応する先頭アドレス
を求め、これらの先頭アドレスに対応する不揮発メモリ
25.〜25Nの書き込みアドレスをマツプレジスタ3
1に設定する。
The map register setting circuit 30 determines the start address corresponding to each page according to the information set in the control register 22, and stores the nonvolatile memory 25. Map the write address of ~25N to map register 3.
Set to 1.

一方、格納回路26は、制御レジスタ22に設定された
書き込み指令ビットによって起動され、書き込み・読み
出しメモリ24から書き込みアドレスに対応するページ
の内容を読み出し、所定の検査コードを各ページの末尾
に付加して不揮発メモリ251〜258に書き込む。な
お、マツプレジスタ31に設定される書き込みアドレス
は、不揮発メモリのチップ番号、ページ番号およびこれ
に対応する物理アドレスから構成され、書き込み・読み
出しメモリ24と不揮発メモリ25.〜25Nとのアド
レスの対応関係を示し、かつこれらのメモリ相互間のデ
ータ転送および格納回路26、読み出し・検査回路27
、置換ページ作成回路28、置換ページ探索回路29の
相互間におけるデータ交換に使用される。格納回路26
は、このような書き込み動作を不揮発メモリのチップ単
位に行い、最終チップの書き込み完了時に読み出し・検
査回路27を起動する。読み出し・検査回路27は、マ
ツプレジスタに設定された書き込みアドレスに応じて全
てのデータが正しく書き込まれたか否かの検査を行う。
On the other hand, the storage circuit 26 is activated by the write command bit set in the control register 22, reads the contents of the page corresponding to the write address from the write/read memory 24, and adds a predetermined inspection code to the end of each page. and write into the nonvolatile memories 251 to 258. Note that the write address set in the map register 31 is composed of a chip number, a page number, and a corresponding physical address of the nonvolatile memory, and is written in the write/read memory 24 and the nonvolatile memory 25 . ~25N, and data transfer and storage circuit 26 and readout/inspection circuit 27 between these memories.
, the replacement page creation circuit 28, and the replacement page search circuit 29. Storage circuit 26
performs such a write operation on a chip-by-chip basis of the nonvolatile memory, and activates the readout/inspection circuit 27 when writing to the last chip is completed. The read/check circuit 27 checks whether all data has been correctly written in accordance with the write address set in the map register.

なお、こ9ような検査手順は、後述の不揮発メモリの読
み出し動作に同じであるから、ここではその説明を省略
する。また、その検査結果は、読み出し・検査回路27
によってステータスレジスタ23に設定され、全ページ
の書き込み動作完了時に格納回路26によって設定され
る終了ステータスビットと共にプロセッサ21に通知さ
れる。
It should be noted that these nine testing procedures are the same as the read operation of a nonvolatile memory, which will be described later, so the explanation thereof will be omitted here. In addition, the test results are sent to the readout/test circuit 27
is set in the status register 23 by the write operation for all pages, and is notified to the processor 21 along with the end status bit set by the storage circuit 26 when the write operation for all pages is completed.

不揮発メモリ25.〜25.に格納されたデータの読み
出し動作は、プロセッサ21が、読み出すべき不揮発メ
モリ251〜25.上の先頭アドレスを示す配列番号(
K、)、読み出されるデータのサイズ(L)を所望の各
ページについて決定し、これらのパラメータと読み出し
指令ビ・ントを制御レジスタ22に設定することによっ
て起動される。マツプレジスタ設定回路30は、設定さ
れた配列番号(Ko)を不揮発メモリ25.〜25゜上
の対応する先頭アドレス(読み出しアドレス)に変換し
てマツプレジスタ31に設定する。
Non-volatile memory 25. ~25. The processor 21 performs a read operation of data stored in the nonvolatile memories 251 to 25 . Array number indicating the top address (
K,), the size of the data to be read (L) for each desired page, and setting these parameters and the read command bit in the control register 22. The map register setting circuit 30 stores the set array number (Ko) in the nonvolatile memory 25. It is converted to a corresponding start address (read address) ~25° above and set in the map register 31.

一方、読み出し・検査回路27は、制御レジスタ22に
設定された読み出し指令ビットによって起動され、読み
出しアドレスで示されるページの内容を不揮発メモリ2
5.〜25Nから読み出す。
On the other hand, the readout/inspection circuit 27 is activated by the readout command bit set in the control register 22, and reads the contents of the page indicated by the readout address into the nonvolatile memory 22.
5. Read from ~25N.

また、読み出し・検査回路27は、読み出された各ペー
ジについて、所定の検査コードと読み出されたページの
末尾にある検査コードが一致するか否かを検査し、一致
した場合にはステータスレジスタ23に正常ステータス
を設定する。読み出し・検査回路27は、このような読
み出し・検査動作を制御レジスタ22に設定された全て
のページについて行い、最終ページの読み出し動作が完
了するとステータスレジスタ23に終了ステータスビッ
トを設定し、プロセッサ21に読み出し動作の完了を通
知する。
Further, the readout/inspection circuit 27 checks whether or not a predetermined inspection code matches the inspection code at the end of the read page for each read page, and if they match, the status register 23 is set to normal status. The readout/inspection circuit 27 performs such a readout/inspection operation for all pages set in the control register 22, and when the readout operation of the final page is completed, sets an end status bit in the status register 23, and sends a message to the processor 21. Notifies completion of read operation.

なお、このような各ページの内容についての検査は、上
述の不揮発メモリの書き込み動作時に全てのデータが正
しく書き込まれたか否かを検査する場合にも同様に実施
される。
Note that such checking of the contents of each page is similarly performed when checking whether all data has been correctly written during the write operation of the nonvolatile memory described above.

不揮発メモリに対する書き込み動作では、格納回路26
によって起動された読み出し・検査回路27は、読み出
されたページの末尾にある検査コードが所定の検査コー
ドに一致しない場合に書き込みエラーの発生を認識し、
置換ページ作成回路28にそのページに対応する不揮発
メモリのチップ番号およびページ番号を通知する。置換
ページ作成回路28は、第4図のフローチャートに示す
ように、エラーページ45と同一チップに配置された予
備領域から置換ページとして割り付けるべき空ページ4
6を探索し、そのデータ識別フラグをrFFJに書き換
えて置換ページとして予約する。
In a write operation to nonvolatile memory, the storage circuit 26
The readout/inspection circuit 27 activated by , recognizes that a write error has occurred if the inspection code at the end of the read page does not match a predetermined inspection code,
The replacement page creation circuit 28 is notified of the nonvolatile memory chip number and page number corresponding to the page. As shown in the flowchart of FIG. 4, the replacement page creation circuit 28 creates an empty page 4 to be allocated as a replacement page from a spare area located on the same chip as the error page 45.
6 is searched for, its data identification flag is rewritten to rFFJ, and the page is reserved as a replacement page.

さらに、置換ページ作成回路28は、予備領域上に配置
され、かつ空領域を含むエラーページ管理テーブル47
を探索し、第3図(b)に示すように、エラーページ管
理テーブル47にエラーページ番号および予約された空
ページ(置換ページ)46の番号を設定する。なお、こ
のようなエラーページ管理テーブル47に対する設定動
作は、予備領域に上述のエラーページ管理テーブルが無
い場合(例えば、システムの始動後に始めて書き込みエ
ラーが発生した場合)には、第4図に示すように、探索
によって求めた新たな空ページのデータ識別フラグを「
10」に設定し、新たなエラーページ管理テーブルを生
成した後に行われる。置換ページ作成回路28は、マツ
プレジスタ31に置換ページ46のページ番号を送出し
、再び格納回路26を起動する。格納回路26は、その
置換ページ番号に対応してマツプレジスタ31から出力
される書き込みアドレスに応じて、置換ページ46に書
き込み・読み出しメモリ24の所定領域に格納されたデ
ータを書き込む。
Furthermore, the replacement page creation circuit 28 generates an error page management table 47 which is arranged on the spare area and includes an empty area.
, and set the error page number and the number of the reserved empty page (replacement page) 46 in the error page management table 47, as shown in FIG. 3(b). Note that the setting operation for the error page management table 47 is as shown in FIG. The data identification flag of the new empty page found through the search is
10'' and generates a new error page management table. The replacement page creation circuit 28 sends the page number of the replacement page 46 to the map register 31 and activates the storage circuit 26 again. The storage circuit 26 writes the data stored in a predetermined area of the write/read memory 24 to the replacement page 46 in accordance with the write address output from the map register 31 corresponding to the replacement page number.

エラーページ45に対応して割り付けられた置換ページ
46からデータを読み出す場合には、読み出し・検査回
路27は、先ず通常の読み出し動作手順にしたがってエ
ラーページ45の内容を読み出す。読み出し・検査回路
27は、読み出された検査コード44に応じてエラーペ
ージであることを認識し、エラーページ45に対応する
不揮発メモリのチップ番号およびページ番号を置換ペー
ジ探索回路29に通知する。置換ページ探索回路29は
、第5図のフローチャートに示すように、予備領域内に
設定された全てのエラーページ管理テーブル(データ識
別フラグ−11oJ )の内容からエラーページ45に
対応するページ番号を探索し、さらに、このページ番号
と共に格納されている置換ページ46の置換ページ番号
を読み出す。
When reading data from the replacement page 46 allocated corresponding to the error page 45, the read/check circuit 27 first reads the contents of the error page 45 according to a normal read operation procedure. The readout/inspection circuit 27 recognizes that it is an error page according to the readout inspection code 44, and notifies the replacement page search circuit 29 of the chip number and page number of the nonvolatile memory corresponding to the error page 45. As shown in the flowchart of FIG. 5, the replacement page search circuit 29 searches for the page number corresponding to the error page 45 from the contents of all error page management tables (data identification flag -11oJ) set in the reserve area. Then, the replacement page number of the replacement page 46 stored together with this page number is read out.

置換ページ探索回路29は、マツプレジスタ31に読み
出された置換ページ番号を送出し、再び読み出し・検査
回路27を起動する。読み出し・検査DOIm27は、
マツプレジスタ31がこの置換ページ番号に対応して出
力する読み出しアドレスに応じて、置換ページ46に格
納されたデータを読み出し、書き込み・読み出しメモリ
24の対応する領域にそのデータを書き込む。
The replacement page search circuit 29 sends the read replacement page number to the map register 31 and activates the readout/inspection circuit 27 again. Readout/inspection DOIm27 is
The data stored in the replacement page 46 is read out in accordance with the read address output by the map register 31 corresponding to this replacement page number, and the data is written in the corresponding area of the write/read memory 24.

また、本実施例では、不揮発メモリの予備領域に配置さ
れたエラーページ管理テーブル、置換ページその他に書
き込みエラーが発生した場合にも、同様の手順にしたが
って他の空ページを置換ページとして割り付ける。なお
、このような予備領域は、ローカルバスを介して接続さ
れる格納回路26その他によってアクセス可能であれば
、その領域の配置には制限がない。
Furthermore, in this embodiment, even if a write error occurs in the error page management table, replacement page, etc. located in the spare area of the nonvolatile memory, another empty page is allocated as a replacement page according to the same procedure. Note that there are no restrictions on the arrangement of such a spare area as long as it can be accessed by the storage circuit 26 or the like connected via the local bus.

このように、本実施例によれば、専用のハードウェアを
用いて自動的に書き込みエラーが生じた不揮発メモリの
領域を所定の予備領域に置換することができる。
In this manner, according to this embodiment, an area of the nonvolatile memory where a write error has occurred can be automatically replaced with a predetermined spare area using dedicated hardware.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

上述したように、本発明によれば、書き込みエラーが生
じた不揮発メモリの何れの領域についても、専用のハー
ドウェアを用いて自動的に所定の予備領域に置換するこ
とができる。
As described above, according to the present invention, any area of the nonvolatile memory where a write error has occurred can be automatically replaced with a predetermined spare area using dedicated hardware.

また、本発明を適用した情報処理装置では、不揮発メモ
リ上に配置された見掛は上のデータ配列が書き込みエラ
ーの発生によって変化しないので、ソフトウェアは一定
のデータ配列に基づいて不揮発メモリにアクセスできる
Furthermore, in the information processing device to which the present invention is applied, the apparent data arrangement arranged on the nonvolatile memory does not change due to the occurrence of a write error, so software can access the nonvolatile memory based on a fixed data arrangement. .

したがって、不揮発メモリの素子寿命のバラツキによる
影響を軽減して安定な不揮発メモリシステムを実現する
ことができ、従来方法において二面管理その他の制御処
理に必要とされたソフトウェアの負荷が大幅に軽減され
る。
Therefore, it is possible to realize a stable nonvolatile memory system by reducing the effects of variations in the lifespan of nonvolatile memory elements, and the software load required for two-sided management and other control processing in conventional methods is significantly reduced. Ru.

さらに、書き込みエラーが発生した領域の置換動作およ
び置換された領域に対するアクセス動作は、専用のハー
ドウェアによって高速に行われるので、システム全体の
処理性能の向上をはかることができる。
Furthermore, since the operation of replacing the area where a write error has occurred and the operation of accessing the replaced area are performed at high speed by dedicated hardware, it is possible to improve the processing performance of the entire system.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理ブロック図、 第2図は本発明の一実施例を示す図、 第3図は不揮発メモリに設定されるデータの構成例を示
す図、 第4図は置換ページ作成処理の手順を示すフローチャー
ト、 第5図は置換ページ探索処理の手順を示すフローチャー
トである。 図において、 lはメモリ、 2.251〜25Nは不揮発メモリ、 3は書き込み回路、 4.27は読み出し・検査回路、 5は置換ページ決定回路、 lはプロセッサ(CPU)、 2は制御レジスタ、 3はステータスレジスタ、 4は書き込み・読み出しメモリ、 6は格納回路、 8は置換ページ作成回路、 9は置換ページ探索回路、 30はマツプレジスタ設定回路、 31はマツプレジスタ、 41はページ、 42はデータ、 43はデータ識別フラグ、 44は検査コード、 45はエラーページ、 46は空ページ(置換ページ)、 47はエラーページ管理テーブルである。
Figure 1 is a block diagram of the principle of the present invention. Figure 2 is a diagram showing an embodiment of the present invention. Figure 3 is a diagram showing an example of the structure of data set in non-volatile memory. Figure 4 is replacement page creation. Flowchart showing the procedure of the process. FIG. 5 is a flowchart showing the procedure of the replacement page search process. In the figure, l is memory, 2.251 to 25N are non-volatile memories, 3 is a write circuit, 4.27 is a read/inspection circuit, 5 is a replacement page determination circuit, l is a processor (CPU), 2 is a control register, 3 is a status register, 4 is a write/read memory, 6 is a storage circuit, 8 is a replacement page creation circuit, 9 is a replacement page search circuit, 30 is a map register setting circuit, 31 is a map register, 41 is a page, 42 is data, 43 is a data identification flag, 44 is an inspection code, 45 is an error page, 46 is an empty page (replacement page), and 47 is an error page management table.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)所定のデータが格納されるメモリ(11)と、一
定サイズの領域を含むページ毎にアクセスされ、書き込
みエラーが生じたページを代替する置換ページとして適
宜割り付けられる予備領域を含む不揮発メモリ(12)
と、 与えられる書き込み要求または置換ページ指定情報に応
じて前記メモリ(11)の内容を前記不揮発メモリ(1
2)に格納し、かつ読み出し・検査要求を発する書き込
み回路(13)と、 与えられる読み出し・検査要求および前記置換ページ指
定情報に応じて前記不揮発メモリ(12)の内容を読み
出し、その内容の正否に応じて置換ページ決定要求を発
する読み出し・検査回路(14)と、 前記置換ページ決定要求に応じて前記置換ページを指定
し、その置換ページへの書き込みを要求する前記置換ペ
ージ指定情報を送出する置換ページ決定回路(15)と を備えたことを特徴とする不揮発メモリシステム。
(1) A memory (11) in which predetermined data is stored, and a non-volatile memory (11) that includes a spare area that is accessed for each page containing an area of a certain size and is allocated as a replacement page to replace a page where a write error has occurred. 12)
and transfer the contents of the memory (11) to the non-volatile memory (11) in response to a given write request or replacement page designation information.
2), and a write circuit (13) that issues a read/inspection request; and a write circuit (13) that reads the contents of the nonvolatile memory (12) according to the given read/inspection request and the replacement page designation information, and determines whether the contents are correct or not. a read/inspection circuit (14) that issues a replacement page determination request in response to the replacement page determination request; and a read/inspection circuit (14) that specifies the replacement page in response to the replacement page determination request and sends out the replacement page designation information that requests writing to the replacement page. A nonvolatile memory system comprising: a replacement page determination circuit (15).
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