JPH0466827A - 光ファイバ形温度センサの標本化方式 - Google Patents

光ファイバ形温度センサの標本化方式

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JPH0466827A
JPH0466827A JP2177582A JP17758290A JPH0466827A JP H0466827 A JPH0466827 A JP H0466827A JP 2177582 A JP2177582 A JP 2177582A JP 17758290 A JP17758290 A JP 17758290A JP H0466827 A JPH0466827 A JP H0466827A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
sampling
cycle
optical
resolution
Prior art date
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Pending
Application number
JP2177582A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuichi Fujieda
藤枝 秀一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
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Publication of JPH0466827A publication Critical patent/JPH0466827A/ja
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  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、ラマン散乱光を利用した0TDR(Opti
cal Ti1e Dolain Reflecton
etry)法による光ファイバ形温度センサ、特にその
標本化方式に関するものである。
[従来の技術] 第5図に、従来性なわれてきた0TDR法による光ファ
イバ形温度センサの構成を示す。
発振器1から出力されるタロツク信号を、カウンタ回路
2によって分周して所定の周期に延ばしたクロック信号
を生成し、駆動回路3により幅の狭い電圧パルスを発生
させ、レーザダイオード4により光パルスを発生させる
。当該パルスは、結合用光ファイバ5.光分波器6を経
由して、センサ体として使用する光ファイバ7へ導かれ
、ラマン散乱光を発生させる。この散乱光は光入射端へ
戻ってくるので、これを光分波器6によってストークス
光とアンチストークス光とに分離し、結合用光ファイバ
5でフォトダイオード8に導き、光電変換した信号を増
幅器9によって所定の電圧に増幅する。
上記ストークス光及びアンチストークス光は非常に微弱
であるため、増幅器9の信号をアナログ/デジタル変換
器10によって量子化した後、平均化処理回路11で平
均化処理を行い、実用的な温度精度を算出することにな
る。
このためアナログ/デジタル変換器10の変換周期、即
ち発振器1が出力するクロック信号の周期が光ファイバ
の長さ方向の分解能を決定することになる。
第6図の(a)は光出力パルス波形を、(b)は散乱光
を増幅した波形を、そして(C)は標本化波形を横軸を
時間にして表したものである。
[発明が解決しようとする課題] 従来、長さ方向の分解能を向上させる方法として、発振
器1の周波数を高くするか、又はアナログ/デジタル変
換器10へ入力するクロック信号の位相を遅延素子によ
って変えることが行なわれてきた。
しかしながら、入手できるアナログ/デジタル変換器の
変換周波数には限界があるばかりでなく、発振器の周波
数を上げる方法では、コストの大幅増加にも拘らず分解
能の飛躍的な向上は望めない。
またタロツク信号の位相を遅延素子で変える場合には、
遅延時間のバラツキによって長さ方向の精度が上がらな
いという問題が生じる。
本発明の目的は、前記した従来技術の欠点を解消し、製
作コストの上昇を伴わずに長さ方向の分解能を飛躍的に
向上させる標本化方式を提供することにある。
口課題を解決するための手段〕 本発明の光ファイバ形温度センサの標本化方式は、光フ
ァイバの一端より光パルスを送出し、当該光ファイバ中
で発生したラマン散乱光を光ファイバの同一端あるいは
他端で受信し、その光強度を標本化して演算処理し、当
該光ファイバが布設された場所の温度を計測するセンサ
において、前記光パルスを出力する周期を、上記受信後
に行う標本化周期の非整数倍とするものである。
[作用] 光パルス出力周期を標本化周期の非整数倍とすること、
つまり両者の周期を決める周波数を互いに僅かに変える
と、光ファイバの長さ方向の位相は、光パルスを発生す
るごとに僅かづつ、例えば0、IUT(l旧は標本化ク
ロック1周期)づつずれずれて行く。即ち、標本化周期
によって決まる距離分解能の1/10の距離分解能が実
現できる。
従って、光ファイバの長さ方向の分解能を飛躍的に向上
させることができる。
「実施例〕 第1図に本発明の実施例を示す。
第1図に示す光ファイバ形温度センサの構成は、大部分
は第5図と同じ構成であり、レーザダイオード4及びフ
ォトダイオード8.8は、光分波器6を介して、センサ
体として使用する石英光ファイバ7の片端末に接続され
る。ここでは詳細な説明は省略するが、第5図の場合と
同様に、光ファイバ7中へ光パルスが出射され、光ファ
イバ7中で発生したラマン散乱光の2成分であるストー
クス光とアンチストークス光とがフォトダイオード88
により受光され、その光強度に応じた信号が増幅器9.
9からアナログ/デジタル変換器10に入力され、ここ
で量子化される。そして、平均化処理回路11で平均化
処理されて、当該光ファイバ7が布設された場所の温度
、即ち光ファイバ7に沿った温度分布が計測される。
しかし第5図の場合と異なり、レーザダイオード4が光
パルスを出力する周期は、フォトダイオード8.8で受
信された光強度の信号を標本化するアナログ/デジタル
変換器10の標本化周期の非整数倍となっている。
詳述するに、発振器1の出力は、アナログ/デジタル変
換器10の変換クロックとして使用すると共に、カウン
タ回路14によって1/N2に分周され、位相比較器1
6へ入力される。一方、光パルスの周期を決める電圧制
御発振器(VCO)12の発振出力周波数は、カウンタ
回路13によって1/N1に分周されて位相比較器16
へ入力される。
位相比較器16は、この2つの入力信号の位相差に応じ
た出力電圧を作成し、この位相比較器16の出力電圧に
よって電圧制御発振器12の発振周波数が制御される。
換言すれば、位相比較器16からは、上記1/N2に分
周された信号と上記1/N1に分周された信号との位相
が等しくなるような出力電圧を発生する。従って電圧制
御発振器12の発振周波数は、発振器1の出力周波数を
fとすると、f −N1 /N2となる。
この電圧制御発振器12の出力周波数 (f −N1 /N2 ”)は、カウンタ回路15によ
って1/N3に分周された後、レーザーダイオード駆動
回路3へ印加され、レーザーダイオード4より発生され
る光パルスをの周期を決めるごとになる。これにより、
レーザダイオード4が光パルスを出力する周期(N2 
N3/(f−N1 ))は、アナログ/デジタル変換器
10の標本化周期<f>の非整数倍となる。これは、光
パルスを発生させる周期を決める周波数と、アナログ/
デジタル変換を行う周波数とを僅かに変えるためである
第2図は、このような関係にある出力光パルス波形と標
本化クロック波形とを示したものであり、第2図(a)
に示す光パルスの周期は、第2図(b)に示す標本化ク
ロックの整数倍から僅かに0.I UT(I UTは標
本化クロック1周期)だけずれている。
このようなずれかあると、第3図に示すように、光ファ
イバ7の長さ方向の標本化位相は、光パルスを発生する
ごとに0.I UTだけずれて行く、従って、サンプリ
ング周期が1/10に細かくなったと同じ結果となり、
光ファイバ7の長さ方向の分解能を飛躍的に向上させる
ことができる。即ち標本化周期によって決まる距離分解
能に比べ1/10の距離分解能が実現できる。
本発明は上記実施例に限定されない0例えば、上記の僅
かにずれた周期の信号の生成は、第4図に示すように、
発振器1からの基準クロック信号と、これを分周回路1
7に通してずらした周波数の信号とをミキサ19に入れ
、その混合出力周波数を帯域通過フィルタ20を通して
抽出し、これを更に分周回路18により1/M2に分周
して得ることもできる。
[発明の効果] 以上述べたように、本発明の方式によれば、次のよな優
れた効果が得られる。
(1)高速で高価な部品を使用することなく、距離分解
能を飛躍的に向上させることができる。
(2)  また、消費電力の大きい高速素子を使う必要
が無くなるため、低消費電力化が図れ、装置の小型化が
容易となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の標本化方式の実施例に係る光ファイバ
形温度センサのブロック図、第2図はその出力パルス波
形及び標本化クロック波形を示した図、第3図は光ファ
イバの長さ方向の標本化位相をグラフ化した図、第4図
は本発明の他の実施例に係る光ファイバ形温度センサの
ブロック図、第5図は従来性われてきた0TDR法によ
る光ファイバ温度センサのブロック図、第6図はその動
作の説明に供する図である。 図中、1は発振器、2はカウンタ回路、3はレーザダイ
オード駆動回路、4はレーザダイオード、5は結合用フ
ァイバ、6は光分波器、7はセンサ体として使用する光
ファイバ、8はフォトダイト、9は増幅器、10はアナ
ログ/デジタル変換器、11は平均化処理回路、12は
電圧制御発振器、13〜15はカウンタ回路、16は位
相比較器、17.18は分周回路、19はミキサ、20
は帯域通過フィルタを示す。 特許出願人  日立電線株式会社 代理人弁理士  絹 谷 信 雄 1 :発振器 12゛電圧制御発振器 13〜15 カウンタ回路 16:位相比較器 第1図 第2図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、光ファイバの一端より光パルスを送出し、当該光フ
    ァイバ中で発生したラマン散乱光を光ファイバの同一端
    あるいは他端で受信し、その光強度を標本化して演算処
    理し、当該光ファイバが布設された場所の温度を計測す
    るセンサにおいて、前記光パルスを出力する周期を、上
    記受信後に行う標本化周期の非整数倍とすることを特徴
    とする光ファイバ形温度センサの標本化方式。
JP2177582A 1990-07-06 1990-07-06 光ファイバ形温度センサの標本化方式 Pending JPH0466827A (ja)

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JP2177582A Pending JPH0466827A (ja) 1990-07-06 1990-07-06 光ファイバ形温度センサの標本化方式

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JP (1) JPH0466827A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6147632A (en) * 1997-03-12 2000-11-14 Nec Corporation Sampling frequency conversion apparatus and fractional frequency dividing apparatus for sampling frequency conversion

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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