JPH0461657B2 - - Google Patents

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JPH0461657B2
JPH0461657B2 JP60272470A JP27247085A JPH0461657B2 JP H0461657 B2 JPH0461657 B2 JP H0461657B2 JP 60272470 A JP60272470 A JP 60272470A JP 27247085 A JP27247085 A JP 27247085A JP H0461657 B2 JPH0461657 B2 JP H0461657B2
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JP
Japan
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discharge
probe
circuit
voltage
fuse
Prior art date
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Application number
JP60272470A
Other languages
Japanese (ja)
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JPS62148659A (en
Inventor
Shuichi Takayama
Koji Tanigawa
Ryoji Masubuchi
Kunio Kinoshita
Minoru Shinozuka
Kenichiro Maki
Naoki Uchama
Yoshio Shishido
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Publication of JPS62148659A publication Critical patent/JPS62148659A/en
Publication of JPH0461657B2 publication Critical patent/JPH0461657B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、結石破壊装置、特に、放電による
衝撃波を利用した放電形結石壊装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a stone-breaking device, and particularly to a discharge-type stone-breaking device that utilizes shock waves caused by electrical discharge.

〔従来技術〕[Prior art]

放電結石破壊装置はプローブの電極間に高電圧
を印加することにより電極間に生じる放電の衝撃
波により結石を破壊するように構成されている。
このような結合破壊装置によると放電によりプロ
ーブの電極が消耗し放電回数が増すに従つて放電
が弱くなり、最終的には放電しなくなる。このた
めに、プローブが所定期間使用されるとプローブ
が交換される。プローブの交換に際しては、従来
では、放電電極間の放電開始電圧が検出され、こ
の電圧値から電極の消耗度合いが判断される。電
極消耗がかなり進んでいると判断されるとプロー
ブが交換される。
The discharge calculus destruction device is configured to destroy calculus by applying a high voltage between the electrodes of a probe and using a shock wave of discharge generated between the electrodes.
According to such a bond breaking device, the electrode of the probe is worn out by the discharge, and as the number of discharges increases, the discharge becomes weaker, and eventually no discharge occurs. For this purpose, the probe is replaced after it has been used for a predetermined period of time. Conventionally, when replacing the probe, the discharge starting voltage between the discharge electrodes is detected, and the degree of wear of the electrodes is determined from this voltage value. The probe is replaced when it is determined that electrode wear has progressed considerably.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上記のようにして交換時期を判断するために
は、放電電極間に電圧検出器を挿入する必要が有
るがこの場合この電圧検出器は極めて高インピー
ダンスであることが必要である。しかし、高イン
ピーダンスの電圧検出器は雑音に弱い欠点があ
り、このために測定結果が不正確となり、交換時
期を間違うことが起こる。
In order to determine when to replace the battery as described above, it is necessary to insert a voltage detector between the discharge electrodes, but in this case, this voltage detector must have extremely high impedance. However, high impedance voltage detectors have the disadvantage of being susceptible to noise, which can lead to inaccurate measurement results and incorrect replacement timing.

この発明の目的は放電回数またはプローブ使用
回数を計数し、この計数値からプローブの寿命を
判断する結石破壊装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a calculus destruction device that counts the number of discharges or the number of times the probe is used, and determines the life of the probe from the counted value.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明によると、放電電極を有するプローブ
と、前記放電電極に放電を発生させるために前記
プローブに放電電圧を印加する給電手段と、前記
プローブの放電回数を計数する計数手段と、前記
計数手段からの値が設定値を越えたら前記給電手
段を停止させる停止手段とを具備する放電結石破
壊装置が提供される。
According to this invention, there is provided a probe having a discharge electrode, a power feeding means for applying a discharge voltage to the probe to cause the discharge electrode to generate a discharge, a counting means for counting the number of times the probe is discharged, and A discharge calculus destruction device is provided, comprising a stop means for stopping the power supply means when the value of exceeds a set value.

この発明によると、放電電極を有するプローブ
と、前記放電電極に放電を発生させるために前記
プローブに放電電圧を印加する給電手段と、前記
プローブの放電時間を積算計数する計数手段と、
前記計数手段からの値が設定値を越えたら前記給
電手段を停止させる停止手段とを具備する放電結
合破壊装置が提供される。
According to this invention, a probe having a discharge electrode, a power supply means for applying a discharge voltage to the probe to cause discharge to occur in the discharge electrode, and a counting means for cumulatively counting the discharge time of the probe;
A discharge coupling breaking device is provided, comprising a stop means for stopping the power supply means when the value from the counting means exceeds a set value.

この発明によると、放電電極を有するプローブ
と、前記放電電極に放電を発生させるために前記
プローブに放電電圧を印加する給電手段と、前記
プローブと前記給電手段との着脱回数を計数する
計数手段と、前記計数手段からの値が設定値を越
えたら前記給電手段を停止させる停止手段とを具
備する放電結石破壊装置が提供される。
According to the present invention, there is provided a probe having a discharge electrode, a power supply means for applying a discharge voltage to the probe in order to generate a discharge in the discharge electrode, and a counting means for counting the number of times the probe and the power supply means are attached and detached. and a stop means for stopping the power supply means when the value from the counting means exceeds a set value.

[作用] この発明によると、プローブの放電回数、プロ
ーブの放電時間の積算値またはプローブと給電手
段との着脱回数を計数する計数手段およびこの計
数手段の計数値が設定値を越えるとプローブへの
給電を停止させる停止手段が設けられているの
で、プローブの劣化により結石を破壊するに十分
な放電が得られない状態でプローブが使用される
ことが防止され、結石破壊手術が安全に行える。
[Function] According to the present invention, there is a counting means for counting the number of discharges of the probe, the integrated value of the discharge time of the probe, or the number of times the probe is attached and detached from the power supply means, and when the count value of this counting means exceeds a set value, the Since the stop means for stopping the power supply is provided, the probe is prevented from being used in a state where sufficient discharge to destroy the stone cannot be obtained due to deterioration of the probe, and stone destruction surgery can be performed safely.

〔実施例〕〔Example〕

第1図に示す実施例によると、電源プラグ1は
スイツチ2を介してトランス3に接続される。ト
ランス3の二次巻線は倍電圧整流回路4を介して
トランジスタスイツチ回路5に接続される。この
トランジスタスイツチ回路5の出力は抵抗6を介
してキヤパシタ7及び放電管8に接続される。放
電管8のトリガ電極にはトリガトランス9が接続
される。放電管8の出力部はコネクタ10を介し
てプローブ11の放電電極11aに接続される。
トリガトランス9にはトリガ回路12が接続され
る。
According to the embodiment shown in FIG. 1, a power plug 1 is connected to a transformer 3 via a switch 2. In the embodiment shown in FIG. The secondary winding of the transformer 3 is connected to a transistor switch circuit 5 via a voltage doubler rectifier circuit 4. The output of this transistor switch circuit 5 is connected to a capacitor 7 and a discharge tube 8 via a resistor 6. A trigger transformer 9 is connected to the trigger electrode of the discharge tube 8 . The output part of the discharge tube 8 is connected to the discharge electrode 11a of the probe 11 via the connector 10.
A trigger circuit 12 is connected to the trigger transformer 9.

放電開始スイツチ13はリレー14を介してパ
ルス発生器15に接続される。パルス発生器の出
力端はトランジスタスイツチ回路5及び単安定マ
ルチバイブレータ16に接続される。単安定マル
チバイブレータ16の出力単は単安定マルチバイ
ブレータ17を介してトリガ回路12に接続され
る。
Discharge start switch 13 is connected to pulse generator 15 via relay 14 . The output of the pulse generator is connected to a transistor switch circuit 5 and a monostable multivibrator 16. The output of monostable multivibrator 16 is connected to trigger circuit 12 via monostable multivibrator 17 .

パルス発生器15の出力端はカウンタ18に接
続される。カウンタ18はパルス発生器の出力パ
ルスに応答して放電回路をカウントしカウント値
を出力する出力端とカウント値が所定値になると
出力信号を発生する出力端とを有する。カウント
値出力端は表示器19に接続され、所定値出力端
はリレー14及びブザー20に接続される。ま
た、カウンタ18にはリセツトスイツチ21及び
設定スイツチ24が接続される。
The output end of pulse generator 15 is connected to counter 18 . The counter 18 has an output terminal that counts the discharge circuit in response to the output pulse of the pulse generator and outputs a count value, and an output terminal that generates an output signal when the count value reaches a predetermined value. The count value output terminal is connected to the display 19, and the predetermined value output terminal is connected to the relay 14 and the buzzer 20. Further, a reset switch 21 and a setting switch 24 are connected to the counter 18.

第2図には放電結石破壊装置の操作面が示され
ており、この操作面にはコネクタ10、放電開始
スイツチ13、表示器19、ブザー20、リセツ
トスイツチ21及び設定スイツチ24が設けられ
る。コネクタ10にはプローブ11が接続され
る。
FIG. 2 shows the operation surface of the discharge calculus destruction device, and this operation surface is provided with a connector 10, a discharge start switch 13, a display 19, a buzzer 20, a reset switch 21, and a setting switch 24. A probe 11 is connected to the connector 10.

上記放電結石破壊装置の動作を第3図のタイム
チヤートを参照して説明する。
The operation of the discharge stone destruction device will be explained with reference to the time chart of FIG.

電源スイツチ2が投入されると倍電圧整流回路
4は高電圧を出力する。この時、放電開始スイツ
チ13がオンされるとパルス発生器15は所定周
期のパルスAを発生する。このパルスAに応答し
てトランジスタスイツチ回路5がオンすると倍電
圧整流回路4の高電圧が抵抗6を介してキヤパシ
タ7に印加されキヤパシタ7を電圧Dに充電す
る。
When the power switch 2 is turned on, the voltage doubler rectifier circuit 4 outputs a high voltage. At this time, when the discharge start switch 13 is turned on, the pulse generator 15 generates a pulse A of a predetermined period. When the transistor switch circuit 5 is turned on in response to this pulse A, the high voltage of the voltage doubler rectifier circuit 4 is applied to the capacitor 7 via the resistor 6, and the capacitor 7 is charged to the voltage D.

また、パルスAは単安定マルチバイブレータ1
6及び17を介してトリガ回路12に供給される
がこのとき、マルチバイブレータ16はパルスA
の立下りに応答するパルスBを出力し、マルチバ
イブレータ17はパルスBの立下りに応答するパ
ルスCを出力する。このパルスCがトリガ回路1
2に供給されることにより放電管8がトリガされ
る。即ち、トランジスタ回路5がオフしてから所
定時間経過した後放電管8がオンされる。これに
より、トランジスタ回路5と放電管8とは同時に
オンにされることはない。
In addition, pulse A is monostable multivibrator 1
6 and 17 to the trigger circuit 12, but at this time, the multivibrator 16 receives the pulse A
The multivibrator 17 outputs a pulse B in response to the falling edge of the pulse B, and the multivibrator 17 outputs a pulse C in response to the falling edge of the pulse B. This pulse C is the trigger circuit 1
2, the discharge tube 8 is triggered. That is, the discharge tube 8 is turned on after a predetermined period of time has elapsed since the transistor circuit 5 was turned off. Thereby, the transistor circuit 5 and the discharge tube 8 are not turned on at the same time.

放電管8がトリガされると放電管8を介してキ
ヤパシタ7の充電電圧が放電され、プローブ11
の電極11aに高電圧Eが印加される。この結
果、ブローブ11の先端において放電が生じ、そ
のとき発生する衝撃波により結石22が破壊され
る。一方、パルス発生器15のパルスAはカウン
タ18に供給され、計数される。カウンタ18の
計数値は表示器19に表示される。このカウンタ
18は設定スイツチ24により放電プローブの寿
命に対応する所定値に設定されており、カウンタ
18の計数値が設定値に達すると出力信号をリレ
ー14及びブザー20へ出力する。リレー14は
カウンタ18の出力信号に応答して作動しパルス
発生器15の発振を停止させる。ブザー20は鳴
りプローブ寿命を知らせる。
When the discharge tube 8 is triggered, the charging voltage of the capacitor 7 is discharged through the discharge tube 8, and the probe 11
A high voltage E is applied to the electrode 11a. As a result, electric discharge occurs at the tip of the probe 11, and the calculus 22 is destroyed by the shock wave generated at that time. On the other hand, pulse A from the pulse generator 15 is supplied to a counter 18 and counted. The count value of the counter 18 is displayed on the display 19. This counter 18 is set to a predetermined value corresponding to the life of the discharge probe by a setting switch 24, and when the count value of the counter 18 reaches the set value, an output signal is output to the relay 14 and the buzzer 20. Relay 14 operates in response to the output signal of counter 18 to stop oscillation of pulse generator 15. The buzzer 20 sounds to notify the end of the probe life.

上記のようにプローブはその近接電極間に放電
電圧を印加することにより、電極間に放電を発生
させ、この放電によりプローブ周囲の水分が瞬時
に蒸発されるとともに衝撃波が発生し、この衝撃
波により結石を破壊するために使用される。この
ようなプローブの電極は放電が繰り返されること
により消耗し、即ち短くなり、電極間の距離が
徐々に広がる。この結果、結石を破壊するに十分
な放電が起こらなくなり、プローブとしての機能
が果たせなくなる。このような状態、即ち、結石
を破壊するに十分な放電が得られなくなるほどに
プローブの電極が消耗した状態がプローブの寿命
が尽きた状態となる。即ち、プローブの新品状態
から結石破壊に十分な放電が得られないほどにプ
ローブ電極が消耗した状態に至るまでの期間がプ
ローブの寿命と定義される。
As mentioned above, the probe generates a discharge between the electrodes by applying a discharge voltage between adjacent electrodes, and this discharge instantly evaporates the water around the probe and generates a shock wave, which causes stones to form. used to destroy. The electrodes of such a probe wear out, or shorten, due to repeated discharges, and the distance between the electrodes gradually increases. As a result, sufficient electrical discharge will not occur to destroy the stone, and the probe will no longer function as a probe. Such a state, ie, a state in which the electrode of the probe is worn out to the extent that sufficient discharge to destroy the stone cannot be obtained, is a state in which the life of the probe has come to an end. That is, the life span of the probe is defined as the period from when the probe is new to when the probe electrode is worn out to such an extent that sufficient discharge cannot be obtained to destroy the stone.

上述のようにプローブ電極の消耗は放電回数に
比例する。即ち、プローブの寿命は放電回数によ
つて決まる。従つて、寿命に相当するプローブの
放電回数をカウンタ18に設定することによりプ
ローブの寿命が自動的に判定できる。
As mentioned above, the wear of the probe electrode is proportional to the number of discharges. That is, the life of the probe is determined by the number of discharges. Therefore, by setting the number of discharges of the probe corresponding to the life in the counter 18, the life of the probe can be automatically determined.

パルス発生器15の発振停止によりブロープ1
1には高電圧が供給されず、従つてプローブ11
は放電しない。使用回数の表示またはブザーによ
りプローブ11の寿命を知つてプローブを交換
し、結石破壊装置を再び作動する場合には、リセ
ツトスイツチ21が作動されカウンタ18がリセ
ツトされる。これにより、表示器19が0000にリ
セツトされ同時にブザー20が停止する。また、
リレー14が消勢され常閉接点が閉成する。この
状態で放電結石破壊装置は動作可能な状態とな
る。
Blope 1 is generated by stopping the oscillation of the pulse generator 15.
1 is not supplied with high voltage and therefore probe 11
does not discharge. When the life of the probe 11 is known from the display of the number of uses or the buzzer and the probe is replaced and the stone destruction device is to be operated again, the reset switch 21 is operated and the counter 18 is reset. As a result, the display 19 is reset to 0000 and the buzzer 20 is stopped at the same time. Also,
Relay 14 is deenergized and the normally closed contacts are closed. In this state, the discharge stone destruction device becomes operable.

放電プローブ11が交換したばかりで使用され
た場合には、寿命以前に使用が終了するのでこの
場合には使用終了時の使用回数、即ち放電回数を
表示器19の表示で確認し、その放電回数を第4
図に示すようにプローブ11のソケツトに張付け
られた記録紙23に記入し記録に止どめる。この
プローブを再度使用するとき記録紙23に記録さ
れた放電回数、例えば“57”を寿命回数、例えば
“1234”から差引いた値、即ち“1177”が設定ス
イツチ24によつてカウンタ18に設定される。
従つて、この後、寿命が1177としてブロープの使
用状態が監視される。
If the discharge probe 11 has just been replaced and is used, its use will end before its service life. The fourth
As shown in the figure, the information is written on the recording paper 23 attached to the socket of the probe 11 and recorded. When this probe is used again, the value obtained by subtracting the number of discharges recorded on the recording paper 23, e.g., "57", from the number of lifetimes, e.g., "1234", that is, "1177" is set in the counter 18 by the setting switch 24. Ru.
Therefore, after this, the usage status of the brobe is monitored with the lifespan set to 1177.

第5図の実施例によると、パルスAを計数する
カウンタ25は計数開始値が設定できるカウンタ
で構成され、プローブ11にはメモリ26が設け
られる。メモリ26は電池27でバツクアツプさ
れる。
According to the embodiment shown in FIG. 5, the counter 25 for counting the pulses A is constituted by a counter in which a counting start value can be set, and the probe 11 is provided with a memory 26. The memory 26 is backed up by a battery 27.

上記の装置によると、カウンタ25の計数値が
表示器19に入力され表示されると共にメモリ2
6に入力され記憶される。メモリ26に記憶され
た計数値はカウンタ25に戻されカウンタ25の
計数値と比較される。メモリ内容とカウンタ内容
とが同じであると何等変化は生じない。
According to the above device, the count value of the counter 25 is inputted and displayed on the display 19, and the memory 2
6 and stored. The count value stored in the memory 26 is returned to the counter 25 and compared with the count value of the counter 25. If the memory contents and the counter contents are the same, no change will occur.

別のプローブ11が装着され、この新たなプロ
ーブの目盛りの内容がカウンタ25の内容と異な
るとカウンタ25はメモリ26の内容に更新され
る。カウンタ25は更新された放電回数から計数
を開始し計数結果を表示器19及びメモリ26に
入力する。即ち、この実施例では、装着されるプ
ローブの使用回数に応じてカウンタの内容が更新
され放電回数が監視される。
When another probe 11 is attached and the contents of the scale of this new probe differ from the contents of the counter 25, the counter 25 is updated to the contents of the memory 26. The counter 25 starts counting from the updated number of discharges and inputs the counting result to the display 19 and memory 26. That is, in this embodiment, the contents of the counter are updated according to the number of times the attached probe is used, and the number of discharges is monitored.

尚、プローブ11に設けられるメモリ26及び
電池27は第6図に示されるようにプローブのプ
ラグに内蔵される。
Note that the memory 26 and battery 27 provided in the probe 11 are built into the plug of the probe as shown in FIG.

第7図の実施例によると、パルス発生器15の
出力が抵抗28を介してトランジスタ29のベー
スに接続される。トランジスタ29のコレクタは
抵抗30を介してプローブ11に内蔵される電池
40の正極に接続されると共にオペアンプ31の
一方入力に接続される。オペアンプ31の出力は
抵抗32及びメータ33を介してトランジスタ2
9のエミツタに接続されると共にプローブ11の
電池40の負極に接続される。また、オペアンプ
31の出力は他方入力に接続されると共に抵抗3
4を介してオペアンプ37の一方入力に接続され
る。この一方入力は抵抗35及び基準電源36を
介してトランジスタ29のエミツタに接続され
る。オペアンプ37の出力は抵抗38,39の直
列に介して基準電源36の負極に接続されると共
にダイオード42を介してリレー14及びブザー
20に接続される。
According to the embodiment of FIG. 7, the output of the pulse generator 15 is connected via a resistor 28 to the base of a transistor 29. The collector of the transistor 29 is connected via a resistor 30 to the positive electrode of a battery 40 built into the probe 11 and to one input of an operational amplifier 31 . The output of the operational amplifier 31 is connected to the transistor 2 via a resistor 32 and a meter 33.
9 and the negative electrode of the battery 40 of the probe 11. Further, the output of the operational amplifier 31 is connected to the other input, and the resistor 3
4 to one input of the operational amplifier 37. This one input is connected to the emitter of the transistor 29 via a resistor 35 and a reference power supply 36. The output of the operational amplifier 37 is connected to the negative electrode of the reference power source 36 via resistors 38 and 39 in series, and is also connected to the relay 14 and the buzzer 20 via a diode 42.

上記構成によると、パルス発生器15からパル
スAが発生する毎に、即ち、放電が行われる毎に
トランジスタ29がオンとなりプローブ11の電
池40が放電する。このため、プローブ11の使
用頻度が多くなるに従つて電池40の電圧が低下
する。この電池電圧はオペアンプ31で構成され
るバツフアを介してメータ33に表示される。こ
のメータの目盛りが放電回数に対応することにな
りこの目盛りから放電回数が判断できる。メータ
33にはプローブ11の寿命に対応するゾーン4
1が記されており、メータ33の目盛りがこのゾ
ーン41に入るとプローブ11が寿命に達したと
判断する。
According to the above configuration, each time the pulse A is generated from the pulse generator 15, that is, each time a discharge occurs, the transistor 29 is turned on and the battery 40 of the probe 11 is discharged. Therefore, as the frequency of use of the probe 11 increases, the voltage of the battery 40 decreases. This battery voltage is displayed on a meter 33 via a buffer composed of an operational amplifier 31. The scale of this meter corresponds to the number of discharges, and the number of discharges can be determined from this scale. The meter 33 has zone 4 corresponding to the life of the probe 11.
1 is marked, and when the scale of the meter 33 falls within this zone 41, it is determined that the probe 11 has reached the end of its life.

バツフア31の出力、即ち、電池40の電圧は
オペアンプ37で構成される比較器によつて基準
値と比較され、寿命に対応する値に達するとオペ
アンプ37の出力が反転する。これにより、ブザ
ー20が警報音を発し、リレー14は付勢されプ
ローブ11が放電不能となる。
The output of the buffer 31, ie, the voltage of the battery 40, is compared with a reference value by a comparator constituted by an operational amplifier 37, and when it reaches a value corresponding to the lifespan, the output of the operational amplifier 37 is inverted. As a result, the buzzer 20 emits an alarm sound, the relay 14 is energized, and the probe 11 becomes unable to discharge.

第9図の実施例によると、ソケツト10に発光
素子(発光ダイオード)アレー44及び受光素子
(太陽電池)アレー45が上下に平行に配設され、
夫々の素子は同数で互いに対応して配置される。
プローブ11のプラグ11bには電解式積算メー
タ43が設けられている。電解式積算メータ43
は通電されることにより電気化学的に通電量を積
算し積算値を表示マーク53で表示するように構
成されている。この電解式積算メータ43を備え
たプローブプラグ11bがコネクタ10に接続さ
れたとき第10図に示すように表示マーク53は
発光ダイオードアレー44及び受光素子アレー4
5との間に位置する。
According to the embodiment shown in FIG. 9, a light emitting element (light emitting diode) array 44 and a light receiving element (solar cell) array 45 are arranged vertically in parallel in the socket 10.
The respective elements have the same number and are arranged in correspondence with each other.
The plug 11b of the probe 11 is provided with an electrolytic integration meter 43. Electrolytic integration meter 43
is configured to electrochemically integrate the amount of energization when energized, and display the integrated value with a display mark 53. When the probe plug 11b equipped with the electrolytic integrating meter 43 is connected to the connector 10, the display mark 53 is connected to the light emitting diode array 44 and the light receiving element array 4 as shown in FIG.
It is located between 5 and 5.

第11図に示すように、パルス発生器15に抵
抗46を介して接続されるトランジスタ48のエ
ミツタは発光ダイオードアレー44のカソードに
接続されると共に電池49の負極に接続される。
トランジスタ48のコレクタは抵抗47を介して
電解式積算メータ43に接続される。電池49の
正極は抵抗54を介して発光ダイオードアレー4
4のアノードに接続されると共に電解式積算メー
タ43に接続される。
As shown in FIG. 11, the emitter of a transistor 48 connected to the pulse generator 15 via a resistor 46 is connected to the cathode of the light emitting diode array 44 and to the negative electrode of a battery 49.
The collector of transistor 48 is connected to electrolytic integrating meter 43 via resistor 47. The positive electrode of the battery 49 is connected to the light emitting diode array 4 via a resistor 54.
4 and is also connected to an electrolytic integrating meter 43.

太陽電池アレー45の各素子は電流増幅回路5
0の対応する増幅器及び抵抗51を介して発光ダ
イオードアレー52の対応する発光素子に接続さ
れる。発光ダイオードアレー52は第12図に示
すように放電結石破壊装置のパネルに取付けられ
る。
Each element of the solar cell array 45 is a current amplifier circuit 5
0 to corresponding light emitting elements of a light emitting diode array 52 through corresponding amplifiers and resistors 51 . The light emitting diode array 52 is attached to the panel of the discharge stone destruction device as shown in FIG.

上記の放電結石破壊装置によると、パルス発生
器15からパルスが発生される毎にトランジスタ
48がオンとなり電解式積算メータ43に電池4
9からの電流が流れる。この電流によつて電解式
積算メータ43の表示マーク53が移動し放電回
数に対応する値を示す。この表示マーク53は発
光ダイオードアレー44と太陽電池アレー45と
によつて光電検出される。即ち、表示マーク53
がその位置に対応する発光素子と受光素子とで検
出される。受光素子の出力は電流増幅回路50の
対応する増幅器を介して発光ダイオードアレー5
2の対応する発光ダイオードを駆動する。発光ダ
イオードアレー52の発光した発光ダイオードか
ら放電回数を知ることができプローブ11の残り
寿命が判断できる。寿命に対応する発光ダイオー
ドが点灯したときブザーが鳴り、かつ放電を不能
にするためリレーが付勢されてもよい。
According to the above-described discharge calculus destruction device, the transistor 48 is turned on every time a pulse is generated from the pulse generator 15, and the battery 4 is detected in the electrolytic integrating meter 43.
Current from 9 flows. This current moves the display mark 53 of the electrolytic integration meter 43 to indicate a value corresponding to the number of discharges. This display mark 53 is photoelectrically detected by a light emitting diode array 44 and a solar cell array 45. That is, the display mark 53
is detected by the light emitting element and light receiving element corresponding to that position. The output of the light receiving element is transmitted to the light emitting diode array 5 via the corresponding amplifier of the current amplification circuit 50.
2 corresponding light emitting diodes are driven. The number of discharges can be determined from the light emitting diodes of the light emitting diode array 52, and the remaining life of the probe 11 can be determined. A buzzer may sound when the light emitting diode corresponding to the end of life is illuminated, and a relay may be energized to disable discharge.

第13図の実施例では、電解式積算メータ43
がプローブプラグ11bの外部から見えるように
設けられ、電池49はプローブプラグ11bに内
蔵される。これによると、放電回数がメータを直
接読取ることにより知ることができる。
In the embodiment of FIG. 13, the electrolytic integrating meter 43
is provided so as to be visible from the outside of the probe plug 11b, and a battery 49 is built in the probe plug 11b. According to this, the number of discharges can be known by directly reading the meter.

第14図に示す実施例によると、プローブ61
はフレキシブル部材により形成される。このプロ
ーブ61の先端には、一対の放電電極62a,6
2bが取付けられる。これら電極62a,62b
はプローブ61の後端に設けられた端子63a,
63bに電気的に接続される。このプローブ61
の後端部には、抵抗ユニツト64が内蔵される。
この抵抗ユニツト64の両端はプローブ61の後
端に設けられた端子63c,63dに接続され
る。プローブ61は結石破壊装置に着脱自在に接
続される。
According to the embodiment shown in FIG.
is formed by a flexible member. At the tip of this probe 61, a pair of discharge electrodes 62a, 6
2b is attached. These electrodes 62a, 62b
are terminals 63a provided at the rear end of the probe 61,
63b. This probe 61
A resistance unit 64 is built into the rear end of the unit.
Both ends of this resistance unit 64 are connected to terminals 63c and 63d provided at the rear end of the probe 61. The probe 61 is detachably connected to the stone destruction device.

交流電源65は電源スイツチ66を介してトラ
ンス67の一次巻線67aに接続される。トラン
ス67の二次巻線67bはダイオードブリツジ整
流回路68を介して充放電回路69に接続され
る。充放電回路69は例えば、CPUで構成され
る制御部71から放電指令信号を受けるとこの信
号に応答してパルス状の電圧を出力するように構
成され、その出力端子はプローブ61に接続され
る。
AC power source 65 is connected to primary winding 67a of transformer 67 via power switch 66. A secondary winding 67b of the transformer 67 is connected to a charge/discharge circuit 69 via a diode bridge rectifier circuit 68. The charging/discharging circuit 69 is configured to output a pulsed voltage in response to receiving a discharge command signal from a control unit 71 composed of a CPU, for example, and its output terminal is connected to the probe 61. .

トランス67の二次巻線67cは定電圧回路7
0に接続される。この定電圧回路70の出力端子
は制御部71に接続される。この制御部71は、
また、放電スイツチ72、発光ダイオード73、
抵抗溶断回路74、抵抗値検知回路75に接続さ
れる。発光ダイオード73はプローブ61の放電
電極の寿命を報知するために設けられている。
The secondary winding 67c of the transformer 67 is the constant voltage circuit 7
Connected to 0. An output terminal of this constant voltage circuit 70 is connected to a control section 71. This control section 71 is
In addition, a discharge switch 72, a light emitting diode 73,
It is connected to a resistance blowing circuit 74 and a resistance value detection circuit 75. The light emitting diode 73 is provided to notify the life span of the discharge electrode of the probe 61.

抵抗ユニツト64は互いに並列接続された複数
の抵抗体R1,R2,R3,R4,R5を含んで
いる。これら抵抗体R1,R2,R3,R4,R
5は異なる値の電圧により溶断される特性を有す
る。抵抗溶断回路74は制御部71から溶断指令
信号が供給される毎に異なる値の電圧、例えば、
順次上昇する電圧を出力する回路により構成され
る。抵抗値検知回路75は端子63c,63dを
介してプローブ61の抵抗ユニツト64の抵抗値
を検知し、検知した抵抗値の情報を制御部71に
入力する。
The resistor unit 64 includes a plurality of resistors R1, R2, R3, R4, and R5 connected in parallel. These resistors R1, R2, R3, R4, R
No. 5 has the characteristic of being fused by voltages of different values. The resistance fusing circuit 74 generates a voltage of a different value each time a fusing command signal is supplied from the control unit 71, for example,
It consists of a circuit that outputs a voltage that increases sequentially. The resistance value detection circuit 75 detects the resistance value of the resistance unit 64 of the probe 61 via the terminals 63c and 63d, and inputs information on the detected resistance value to the control section 71.

次に、第14図及び第15図に示す実施例の動
作を説明する。プローブ61が結石破壊装置に装
着され、電源スイツチ66がオンにされると、充
放電回路69は内蔵キヤパシタ(例えば、第1図
に示すキヤパシタ7)を充電し、抵抗値検知回路
75はプローブ61の抵抗ユニツト64の抵抗値
を検出する。抵抗ユニツト64の抵抗値が所定値
以下のときに放電スイツチ72が押圧されると、
制御部71から充放電回路69に放電命令信号が
出力される。充放電回路69は放電指令信号によ
つて内蔵の放電管(第1図の放電管8)を導通さ
せて内蔵キヤパシタをパルス状に放電し、電圧パ
ルスを出力する。電圧パルスはプローブ61の端
子63a,63bを介して放電電極62a,62
bに印加されることにより放電電極62a,62
b間で放電が生じ、この放電により結石が破壊さ
れる。この放電は放電スイツチ72がオンにされ
る毎に行われる。
Next, the operation of the embodiment shown in FIGS. 14 and 15 will be explained. When the probe 61 is attached to the stone destruction device and the power switch 66 is turned on, the charging/discharging circuit 69 charges the built-in capacitor (for example, the capacitor 7 shown in FIG. 1), and the resistance value detection circuit 75 charges the probe 61. The resistance value of the resistance unit 64 is detected. When the discharge switch 72 is pressed when the resistance value of the resistance unit 64 is below a predetermined value,
A discharge command signal is output from the control section 71 to the charging/discharging circuit 69 . The charge/discharge circuit 69 makes the built-in discharge tube (discharge tube 8 in FIG. 1) conductive in response to the discharge command signal, discharges the built-in capacitor in a pulsed manner, and outputs a voltage pulse. The voltage pulse is applied to the discharge electrodes 62a, 62 via the terminals 63a, 63b of the probe 61.
b is applied to the discharge electrodes 62a, 62.
A discharge occurs between b and the stone is destroyed by this discharge. This discharge is performed every time the discharge switch 72 is turned on.

制御部71は放電指令信号を発する毎に内蔵カ
ウンタをカウントアツプし、放電回数を計数す
る。カウンタのカウント値が所定値に達すると、
制御部71は抵抗溶断回路74に溶断指令信号を
入力する。抵抗溶断回路74は溶断指令信号に応
答して溶断電圧を抵抗ユニツト64に入力する。
抵抗ユニツト64においては、抵抗溶断回路74
からの溶断電圧により、例えば、抵抗R1が溶断
される。抵抗溶断回路74は溶断指令信号を受け
る毎に順次高くなる電圧を抵抗ユニツト64に供
給するので、抵抗体R1,R2,R3,R4,R
5が印加電圧により順次溶断される。抵抗体が順
次溶断され、抵抗ユニツト6の抵抗値が所定値以
上になると、抵抗値検知回路15の出力信号に応
答して制御部71は発光ダイオード73を点滅さ
せると共に充放電回路69の放電回路系を放電禁
止状態にする。発光ダイオード73の点滅は操作
者に対して放電電極の寿命によりプローブの交換
の必要性を報知する。
Each time the control unit 71 issues a discharge command signal, it counts up a built-in counter to count the number of discharges. When the count value of the counter reaches a predetermined value,
The control unit 71 inputs a fusing command signal to the resistance fusing circuit 74 . Resistor fusing circuit 74 inputs a fusing voltage to resistor unit 64 in response to the fusing command signal.
In the resistance unit 64, a resistance fusing circuit 74
For example, the resistor R1 is fused by the fusing voltage from . The resistor fusing circuit 74 supplies the resistor unit 64 with a voltage that increases sequentially each time it receives the fusing command signal, so that the resistors R1, R2, R3, R4, R
5 are sequentially fused by the applied voltage. When the resistors are sequentially fused and the resistance value of the resistance unit 6 exceeds a predetermined value, the control section 71 blinks the light emitting diode 73 in response to the output signal of the resistance value detection circuit 15, and also turns on and off the discharge circuit of the charge/discharge circuit 69. Place the system in a discharge inhibited state. The blinking of the light emitting diode 73 notifies the operator of the necessity of replacing the probe due to the end of the life of the discharge electrode.

プローブ61が交換されると、抵抗値検知回路
75によつてプローブ61の抵抗ユニツト64の
抵抗値が検出される。プローブの交換により抵抗
ユニツト64の抵抗値は所定値以下となるので発
光ダイオードの点滅はなくなり、放電が再開可能
となる。尚、プローブ61が結石破壊装置のコネ
クタに接続されていない場合には、抵抗値検知回
路75は無限大抵抗値を検出していることになる
ので発光ダイオード73は点滅し、放電電極間で
の放電は禁止される。
When the probe 61 is replaced, the resistance value of the resistance unit 64 of the probe 61 is detected by the resistance value detection circuit 75. By replacing the probe, the resistance value of the resistor unit 64 becomes less than a predetermined value, so that the light emitting diode no longer blinks and the discharge can be resumed. In addition, when the probe 61 is not connected to the connector of the calculus destruction device, the resistance value detection circuit 75 detects an infinite resistance value, so the light emitting diode 73 blinks, and there is no connection between the discharge electrodes. Discharging is prohibited.

抵抗ユニツト64の抵抗体R1,R2,R3,
R4,R5の溶断のアルゴリズムは例えば、次の
ように設定される。
Resistors R1, R2, R3 of the resistance unit 64,
For example, the algorithm for fusing R4 and R5 is set as follows.

1 電源投入後6回目の放電時に第1低抗体R1
を溶断する。
1 The first low antibody R1 at the 6th discharge after turning on the power
fuse.

2 第1回溶断以降は500回目の放電毎に抵抗体
R2,R3,R4及びR5は順次溶断される。
2 After the first blowout, the resistors R2, R3, R4, and R5 are sequentially cut out every 500th discharge.

3 全ての抵抗体が溶断されると、プローブは寿
命に達し、アラームが鳴動する。
3 When all resistors are blown, the probe reaches the end of its life and an alarm sounds.

上記設定条件の下に、例えば、プローブ61の
放電電極の寿命が2000回であるとする。最初の電
源投入後に6回の放電がなされると、抵抗R1は
溶断される。この後に、放電が順次行われ、放電
回数が500回に達すると、抵抗R2が溶断される。
更に放電がなされ、放電回数が1000回、1500回、
2000回と進むに連れて抵抗体R3,R4,R5が
順次溶断される。抵抗体R5が溶断された時点、
即ち、放電電極の寿命に達した時に発光ダイオー
ド73が点滅し、放電動作が禁止される。
Under the above setting conditions, for example, assume that the life of the discharge electrode of the probe 61 is 2000 times. When six discharges occur after the first power is turned on, the resistor R1 is fused. After this, the discharge is performed one after another, and when the number of discharges reaches 500, the resistor R2 is blown out.
Further discharge occurs, and the number of discharges is 1000 times, 1500 times,
As the cycle progresses to 2000 times, resistors R3, R4, and R5 are sequentially blown out. When the resistor R5 is fused,
That is, when the life of the discharge electrode is reached, the light emitting diode 73 blinks and the discharge operation is prohibited.

放電が500回に満たないときには、電源投入毎
に抵抗体は溶断するので5回投入後に発光ダイオ
ード73は点滅する。
When the number of discharges is less than 500, the resistor melts every time the power is turned on, so the light emitting diode 73 blinks after five times.

第16図に他の実施例が示されている。この実
施例によると、抵抗ユニツト64に表示回路76
が接続される。この表示回路76と抵抗ユニツト
64との回路構成が第17図に示されている。第
17図の回路に示すように、互いに並列接続され
た抵抗体R1,R2,R3,R4,R5により構
成される抵抗ユニツト64の一方出力端子は表示
回路76の抵抗R6を介して電源Eに接続され、
他端は抵抗R13に接続されると共に基準電位
極、即ち、接地極に接続される。電源Eは抵抗R
7〜R12を直列に介して抵抗R13に接続され
る。抵抗R7〜R12の接続ノードはコンパレー
タU1〜U6の反転入力端子に夫々接続される。
コンパレータU1〜U6の非反転入力端子は抵抗
R6を介して電源Eに接続される。コンパレータ
U1〜U6の出力端子は抵抗R14〜R19を介
してLED P1〜P6に夫々接続される。
Another embodiment is shown in FIG. According to this embodiment, the display circuit 76 is connected to the resistance unit 64.
is connected. The circuit configuration of the display circuit 76 and the resistor unit 64 is shown in FIG. As shown in the circuit of FIG. 17, one output terminal of a resistance unit 64 constituted by resistors R1, R2, R3, R4, and R5 connected in parallel with each other is connected to a power source E via a resistor R6 of a display circuit 76. connected,
The other end is connected to the resistor R13 and to a reference potential pole, that is, a ground pole. Power source E is resistor R
7 to R12 in series to the resistor R13. Connection nodes of resistors R7 to R12 are connected to inverting input terminals of comparators U1 to U6, respectively.
Non-inverting input terminals of comparators U1 to U6 are connected to power supply E via resistor R6. Output terminals of comparators U1-U6 are connected to LEDs P1-P6 via resistors R14-R19, respectively.

上記接続状態により、コンパレータU1〜U6
の反転入力端子には比較基準電圧V1〜V6が夫々
印加される。電圧Vpはプローブ61の出力端子
に現われる電圧、即ち、抵抗ユニツト64の出力
抵抗に比例した電圧であり、この電圧Vpは次の
式で表わされる。コンパレータU1〜U6の出力
端子は抵抗R14〜R19を介してLED P1〜P6
に夫々接続される。
Depending on the above connection state, comparators U1 to U6
Comparison reference voltages V1 to V6 are applied to the inverting input terminals of , respectively. The voltage V p is the voltage appearing at the output terminal of the probe 61, that is, the voltage proportional to the output resistance of the resistor unit 64, and this voltage V p is expressed by the following equation. The output terminals of comparators U1 to U6 are connected to LEDs P1 to P6 via resistors R14 to R19.
are connected to each.

Vp=E・Rp/(Rp+R6) Rp:プローブの出力抵抗 第16図の実施例において、電源スイツチ66
が投入され、抵抗ユニツト64の出力抵抗値が所
定以下において放電スイツチ72がオンにされる
と、制御部71は充放電回路69に放電指令信号
を入力する。この放電指令信号に応答してプロー
ブ61の放電電極間で放電が生じる。放電回数は
制御部71に内蔵されたカウンタによりカウント
され、このカウント値が所定値に達すると、制御
部71は抵抗溶断回路74に溶断指令信号を供給
する。抵抗溶断回路74は溶断指令信号に応答し
て溶断電圧を抵抗ユニツト64に供給するがこの
抵抗ユニツト64の抵抗R1〜R5の全てが溶断
されていないときの抵抗ユニツト64の出力抵抗
Rp1は次式で表わされる。
V p = E・R p / (R p + R6) R p : Output resistance of the probe In the embodiment shown in FIG. 16, the power switch 66
When the discharge switch 72 is turned on when the output resistance value of the resistance unit 64 is equal to or less than a predetermined value, the control section 71 inputs a discharge command signal to the charging/discharging circuit 69. A discharge occurs between the discharge electrodes of the probe 61 in response to this discharge command signal. The number of discharges is counted by a counter built in the control section 71, and when this count value reaches a predetermined value, the control section 71 supplies a blowout command signal to the resistance blowing circuit 74. The resistor fusing circuit 74 supplies a fusing voltage to the resistor unit 64 in response to the fusing command signal, and the output resistance of the resistor unit 64 when all of the resistors R1 to R5 of the resistor unit 64 are not blown.
R p 1 is expressed by the following formula.

Rp1=R1//R2//R3//R4//R5 このときのプローブ61の出力端子に現われる
電圧Vp1は次式の値となる。
R p 1=R1//R2//R3//R4//R5 The voltage V p 1 appearing at the output terminal of the probe 61 at this time has the value of the following equation.

Vp1=E・Rp1/(Rp1+R6) この電圧Vp1はVp1<V6<V5<V4<V3<V2<
V1<Eとなるように設定されているので、LED
P1〜P6は全て点灯される。
V p 1 = E・R p 1/(R p 1 + R6) This voltage V p 1 is V p 1 < V6 < V5 < V4 < V3 < V2 <
Since it is set so that V1<E, the LED
P1 to P6 are all lit.

プローブ61が過去に2回使用され、抵抗ユニ
ツト64の抵抗R1,R2が溶断されていると、
このときの抵抗ユニツト64の出力抵抗Rp2は
次式で表わされる。
If the probe 61 has been used twice in the past and the resistors R1 and R2 of the resistor unit 64 have been fused,
The output resistance R p 2 of the resistance unit 64 at this time is expressed by the following equation.

Rp2=R3//R4//R5 このときのプローブ61の出力端子に現われる
電圧Vp2は次式の値となる。
R p 2=R3//R4//R5 The voltage V p 2 appearing at the output terminal of the probe 61 at this time has the value of the following equation.

Vp2=E・Rp2/(Rp2+R6) この電圧Vp2はV6<V5<Vp2<V4<V3<V2
<V1<Eとなるように設定されているので、
LED P1〜P4は点灯され、LED P4、P5は消灯さ
れる。即ち、LED P4、P5の消灯によりプローブ
が過去に2回使用されたことが分る。
V p 2 = E・R p 2 / (R p 2 + R6) This voltage V p 2 is V6 < V5 < V p 2 < V4 < V3 < V2
Since it is set so that <V1<E,
LEDs P1 to P4 are turned on, and LEDs P4 and P5 are turned off. That is, it can be seen that the probe has been used twice in the past by turning off the LEDs P4 and P5.

上記のように、抵抗ユニツトの抵抗R1〜R5
がプローブ61の使用回数に応じて順次溶断さ
れ、抵抗R1〜R5が順次溶断される毎に点灯し
ているLED P1〜P6が順次点灯される。抵抗R1
〜R5の全てが溶断されると、LED P1だけが点
灯し、残りのLED P2〜P6は全て消灯する。
LED P1が赤色光を発生し、残りのLED P2〜P6
は緑色光を発光すれば、緑色LEDの点灯数から
使用回数が認識でき、赤色LEDの発光により放
電禁止を知ることができる。
As mentioned above, the resistors R1 to R5 of the resistor unit
are sequentially blown out according to the number of times the probe 61 is used, and the lit LEDs P1 to P6 are sequentially lit up each time the resistors R1 to R5 are sequentially blown out. Resistance R1
When all of ~R5 are fused, only LED P1 lights up, and all remaining LEDs P2 to P6 go out.
LED P1 produces red light, the remaining LEDs P2~P6
If the battery emits green light, the number of times it has been used can be determined from the number of green LEDs lit, and the discharge prohibition can be determined by the red LED light.

第16図の実施例によると、プローブの放電電
極の寿命が2000回であるとすると、2000回の放電
により、抵抗R1〜R5の全てが溶断され、
LED P1だけが点灯され、プローブが使用不能と
なる。放電回数が500回に満たない時には電源投
入かつ6回放電毎に抵抗は溶断される。従つて、
5回の電源投入によりLED P1だけが点灯し、プ
ローブ使用不能が知らされる。
According to the embodiment shown in FIG. 16, assuming that the life of the discharge electrode of the probe is 2000 times, all of the resistors R1 to R5 are blown out by 2000 discharges.
Only LED P1 is lit and the probe becomes unusable. When the number of discharges is less than 500, the resistor is fused when the power is turned on and every 6 discharges. Therefore,
When the power is turned on five times, only LED P1 lights up, indicating that the probe cannot be used.

第16図の実施例では、未溶断の抵抗の数に対
応する数のLEDが点灯されているが出力抵抗値
に対応して設けられた1つのLEDが点灯されて
も良い。また、プローブ寿命を報知する手段とし
て発光ダイオードが用いられているがブザーまた
は音声発生装置が用いられても良い。
In the embodiment shown in FIG. 16, the number of LEDs corresponding to the number of unfused resistors is lit, but one LED provided corresponding to the output resistance value may be lit. Further, although a light emitting diode is used as a means for notifying the probe life, a buzzer or a sound generating device may also be used.

第18図に示す実施例によると、プローブにヒ
ユーズユニツト81が設けられ、このヒユーズユ
ニツト81には複数のヒユーズF1〜F5が設け
られる。これらヒユーズF1〜F5の一端は共に
端子82に接続され、他端は切換スイツチ83の
接点に夫々接続される。切換スイツチ84のコモ
ン接点は端子83に接続される。ヒユーズユニツ
ト81の端子82,83はプローブが結石破壊装
置のコネクタに接続された時にヒユーズ検出器8
5及びヒユーズ溶断回路86に接続される。
According to the embodiment shown in FIG. 18, the probe is provided with a fuse unit 81, and this fuse unit 81 is provided with a plurality of fuses F1 to F5. One ends of these fuses F1 to F5 are both connected to the terminal 82, and the other ends are connected to the contacts of the changeover switch 83, respectively. A common contact of the changeover switch 84 is connected to the terminal 83. Terminals 82 and 83 of the fuse unit 81 are connected to the fuse detector 8 when the probe is connected to the connector of the stone destruction device.
5 and the fuse blowing circuit 86.

第18図の実施例において、ヒユーズユニツト
81のヒユーズF1が溶断されており、切換スイ
ツチ84がヒユーズF2に切換えられているとす
る。この状態の時に結石破壊装置の電源が投入さ
れると、ヒユーズ検出器85はヒユーズユニツト
81のヒユーズF2を検知する。このヒユーズF
2が溶断されていないと、プローブが使用可能と
判断され、結石破壊装置による放電磁石が実行で
きる。放電砕石が実行されると、ヒユーズ溶断回
路86がヒユーズ溶断電流をヒユーズF2に供給
し、このヒユーズF2を溶断する。この後、電源
が遮断されるまで放電の衝撃波により結石が破壊
される。
In the embodiment shown in FIG. 18, it is assumed that the fuse F1 of the fuse unit 81 is blown and the changeover switch 84 is switched to the fuse F2. When the stone destruction device is powered on in this state, the fuse detector 85 detects the fuse F2 of the fuse unit 81. This fuse F
If 2 is not fused, it is determined that the probe can be used, and the discharge magnet can be executed by the calculus destruction device. When discharge stone crushing is performed, the fuse blowing circuit 86 supplies a fuse blowing current to the fuse F2 to blow the fuse F2. After this, the stone is destroyed by the shock wave of the discharge until the power is cut off.

電源が遮断され、再度電源が投入されると、ヒ
ユーズ検出器85は再びヒユーズF2を検出す
る。このとき、ヒユーズF2は溶断されているの
でプローブは使用不能と判断される。この場合に
は、切換スイツチ84がヒユーズF3に切換えら
れ、ヒユーズ検出器85がヒユーズF3を検出す
ることによりプローブが使用可能となる。このよ
うに、電源が投入される毎に、ヒユーズが溶断さ
れヒユーズが切換えられて、最後ヒユーズF5が
溶断され、このヒユーズの溶断がヒユーズ検出器
により検出されたとき、このヒユーズユニツトを
備えたプローブが寿命と判断される。
When the power is turned off and then turned on again, the fuse detector 85 detects the fuse F2 again. At this time, the probe is determined to be unusable because the fuse F2 is blown. In this case, the changeover switch 84 is switched to the fuse F3, and the fuse detector 85 detects the fuse F3, thereby making the probe usable. In this way, each time the power is turned on, the fuse is blown and the fuse is switched.Fuse F5 is finally blown, and when the blown fuse is detected by the fuse detector, the probe equipped with this fuse unit is considered to be the lifespan.

ヒユーズユニツト81のヒユーズの切換には、
第19図乃至第21図に示される手段がある。第
19図によると、ヒユーズF1〜F5が収納され
たヒユーズシリンダ91がコネクタ92に回転可
能に装着される。ヒユーズシリンダ91はヒユー
ズを切換えるときに手により回転される。
To switch the fuse of fuse unit 81,
There are means shown in FIGS. 19 to 21. According to FIG. 19, a fuse cylinder 91 housing fuses F1 to F5 is rotatably attached to a connector 92. The fuse cylinder 91 is rotated by hand when switching the fuse.

第20図によると、ヒユーズF1〜F5が収納
された筒体93がコネクタ94の外周に回転可能
に装着される。筒体93は手により回転されるこ
とによりヒユーズF1〜F5が順次切換えられ
る。
According to FIG. 20, a cylindrical body 93 housing fuses F1 to F5 is rotatably mounted on the outer periphery of a connector 94. By rotating the cylindrical body 93 by hand, the fuses F1 to F5 are sequentially switched.

第21図によると、スライドスイツチ95がコ
ネクタ96に取付けられ、このスライドスイツチ
95の接点にヒユーズF1〜F5が接続される。
スライドスイツチ95が1から5へと順次切換え
られることによりヒユーズF1〜F5が順次切換
えられる。
According to FIG. 21, a slide switch 95 is attached to a connector 96, and fuses F1 to F5 are connected to the contacts of this slide switch 95.
By sequentially switching the slide switch 95 from 1 to 5, fuses F1 to F5 are sequentially switched.

尚、第19図乃至第21図において、ヒユーズ
シリンダ91、筒体93及びスライドスイツチ9
5は逆転不可能に構成されている。これら切換部
材が逆転可能に構成すると、例えば、ヒユーズF
1の溶断によりヒユーズF1からヒユーズF2に
切換えられ、ヒユーズ検出器85がヒユーズF2
の非溶断を検出した後に、切換部材が再びヒユー
ズF1に戻されると、ヒユーズF2は溶断される
ことなくプローブは永続的に使用可能となる。
In addition, in FIGS. 19 to 21, the fuse cylinder 91, the cylinder body 93, and the slide switch 9 are shown.
5 is configured to be non-reversible. If these switching members are configured to be reversible, for example, the fuse F
1, the fuse F1 is switched to the fuse F2, and the fuse detector 85 detects the fuse F2.
When the switching member is returned to the fuse F1 again after detecting that the fuse F2 is not blown, the probe can be used permanently without the fuse F2 being blown.

第22図の実施例によると、プローブのコネク
タピン101aが接点102に接続される。この
接点102は接続レバー103によつてパラフイ
ン部材104に連結されている。接点102は接
点105に接触されている。接点105は抵抗素
子により構成され、パラフイン部材104に当接
するストツパ106を介して一方の放電電極10
7aに接続される。他方の放電電極107bはコ
ネクタピン101bに接続される。
According to the embodiment of FIG. 22, the connector pin 101a of the probe is connected to the contact 102. This contact 102 is connected to a paraffin member 104 by a connecting lever 103. Contact 102 is contacted by contact 105. The contact 105 is constituted by a resistive element, and is connected to one discharge electrode 10 via a stopper 106 that comes into contact with the paraffin member 104.
7a. The other discharge electrode 107b is connected to the connector pin 101b.

第22図に示すプローブに放電電流がコネクタ
101a及び101bを介して供給され、放電電
極107a,107b間で放電が生じる毎に抵抗
ストツパ106に電流が流れ、このストツパ10
6が加熱される。ストツパ106の熱によりパラ
フイン部材104が溶解される。パラフイン部材
104はスプリング108により接点102の側
部から加えられる押圧力によりストツパ106に
圧接されているのでパラフイン部材104は放電
毎に発生するストツパ106の熱により変形され
る。所定回の放電が行われ、パラフイン部材10
4がストツパ106の熱により切断されると、パ
ラフイン部材104はストツパ106から外れ、
接点102が第23図に示すように接点105か
ら切離される。従つて、このプローブの放電電極
107a,107bには放電電流は供給されなく
なり、放電が不可能となる。即ち、第22図の実
施例によると、パラフイン部材104及び抵抗ス
トツパ106が放電電極寿命検出器として機能
し、プローブの使用限度が察知できる。
A discharge current is supplied to the probe shown in FIG. 22 through connectors 101a and 101b, and each time a discharge occurs between discharge electrodes 107a and 107b, a current flows through resistance stopper 106, and this stopper 10
6 is heated. The paraffin member 104 is melted by the heat of the stopper 106. Since the paraffin member 104 is pressed against the stopper 106 by the pressing force applied from the side of the contact point 102 by the spring 108, the paraffin member 104 is deformed by the heat of the stopper 106 generated each time electric discharge occurs. After a predetermined number of discharges, the paraffin member 10
4 is cut by the heat of the stopper 106, the paraffin member 104 comes off from the stopper 106,
Contact 102 is disconnected from contact 105 as shown in FIG. Therefore, no discharge current is supplied to the discharge electrodes 107a, 107b of this probe, making it impossible to discharge. That is, according to the embodiment shown in FIG. 22, the paraffin member 104 and the resistive stopper 106 function as a discharge electrode life detector, and the usage limit of the probe can be detected.

第24図の実施例においては、プローブの放電
電極111a,111b間に放電管110が接続
される。一般に放電電極111a,111b間で
の放電回数が増加するに従つて放電電極111
a,111bの消耗により放電電極111a,1
11b間のギヤツプが増加する。このために、電
極ギヤツプに応じて放電開始電圧が増加される。
In the embodiment shown in FIG. 24, a discharge tube 110 is connected between discharge electrodes 111a and 111b of the probe. Generally, as the number of discharges between the discharge electrodes 111a and 111b increases, the discharge electrode 111
Due to wear and tear of discharge electrodes 111a and 111b,
11b increases. For this purpose, the discharge starting voltage is increased according to the electrode gap.

第25図には放電回数と電圧の関係が示されて
いる。この図において、曲線aが電極間放電開始
電圧を示し、直線b及びcは放電管110の放電
電圧及びキヤパシタ112の充電電圧を夫々示
す。トリガ回路114のトリガパルスにより放電
管113が導通し、キヤパシタ112の充電電圧
が放電管110及び放電電極111a,111b
に印加されるとき、放電電極の放電開始電圧が放
電管110の放電電圧以下であれば電極間で放電
するがその放電開始電圧aが放電管110の放電
電圧b以上となるとキヤパシタ112から印加さ
れる電圧は放電管110によりバイパスされる。
これにより、プローブの放電電極の寿命が検知さ
れる。
FIG. 25 shows the relationship between the number of discharges and the voltage. In this figure, a curve a shows the interelectrode discharge starting voltage, and straight lines b and c show the discharge voltage of the discharge tube 110 and the charging voltage of the capacitor 112, respectively. The discharge tube 113 is made conductive by the trigger pulse of the trigger circuit 114, and the charging voltage of the capacitor 112 is changed to the discharge tube 110 and the discharge electrodes 111a, 111b.
If the discharge starting voltage of the discharge electrode is lower than the discharge voltage of the discharge tube 110, a discharge will occur between the electrodes, but if the discharge starting voltage a becomes higher than the discharge voltage b of the discharge tube 110, the voltage will not be applied from the capacitor 112. The voltage generated by the discharge tube 110 is bypassed by the discharge tube 110.
This allows the life of the discharge electrode of the probe to be detected.

第26図の実施例によると、放電結石破壊装置
において検出される放電回数データ、例えば、第
1図のカウンタ18のカウント内容を記憶するメ
モリ121がプローブに設けられる。このメモリ
121はスイツチドライブ回路122に接続され
る。スイツチドライブ回路122には、所定放電
回数(電極寿命対応する放電回数)を表わす基準
データとメモリ121からの実際放電回数を表わ
すデータとを比較する比較器とこの比較器の出力
によりドライブ信号を出力するドライバが設けら
れている。このドライブ信号によつてトランジス
タ123がオフにされると結石破壊装置の放電回
路が開放される。即ち、放電が禁止される。
According to the embodiment shown in FIG. 26, the probe is provided with a memory 121 that stores data on the number of discharges detected in the discharge stone destruction device, for example, the count contents of the counter 18 in FIG. This memory 121 is connected to a switch drive circuit 122. The switch drive circuit 122 includes a comparator that compares reference data representing the predetermined number of discharges (the number of discharges corresponding to the electrode life) and data representing the actual number of discharges from the memory 121, and a drive signal is output from the output of this comparator. A driver is provided to do this. When the transistor 123 is turned off by this drive signal, the discharge circuit of the stone destruction device is opened. That is, discharge is prohibited.

第27図の実施例によると、放電電極124
a,124bを介して流れる放電電流が電流検出
用トランス125により検出され、このトランス
125により検出された放電電流がアナログメモ
リ121に記憶される。アナログメモリ121の
記憶内容、即ち、実際放電回数データはスイツチ
ドライブ回路122の基準データと比較される。
スイツチドライブ回路122からのドライブ信号
によりスイツチトランジスタ123がオフにされ
る。トランジスタ123のオフにより放電が禁止
される。
According to the embodiment of FIG. 27, the discharge electrode 124
The discharge current flowing through a and 124b is detected by the current detection transformer 125, and the discharge current detected by the transformer 125 is stored in the analog memory 121. The stored contents of the analog memory 121, ie, actual discharge count data, are compared with reference data of the switch drive circuit 122.
A drive signal from switch drive circuit 122 turns off switch transistor 123. Discharging is prohibited by turning off the transistor 123.

第28図の実施例によると、プローブコネクタ
131内にパルスモータ132が設けられ、この
パルスモータ132のシヤフトに回転接触子13
3が結合される。この回転接触子133の先端に
回転板134が取着されている。回転接触子13
3にはブラシ135に接触する接触片133a,
133bが設けられている。回転板134には、
第29図に示されるように接触片134a,13
4bが設けられている。接触片134a,134
bは結石破壊装置に接続されるコネクタ137に
設けられた接触ピン137a,137bに接触さ
れる。接触片133a,133b及び接触片13
4a,134bは夫々互いに接続されており、ブ
ラシ135の接触子135a,135bを介して
放電電極に接続される。
According to the embodiment shown in FIG.
3 are combined. A rotary plate 134 is attached to the tip of this rotary contact 133. Rotating contact 13
3 includes a contact piece 133a that contacts the brush 135;
133b is provided. On the rotating plate 134,
As shown in FIG. 29, contact pieces 134a, 13
4b is provided. Contact pieces 134a, 134
b is brought into contact with contact pins 137a and 137b provided on a connector 137 connected to a calculus destruction device. Contact pieces 133a, 133b and contact piece 13
4a and 134b are connected to each other and to the discharge electrode via contacts 135a and 135b of the brush 135.

パルスモータ132は放電に同期するドライブ
パルスにより駆動される。このドライブパルス
は、例えば、第1図の実施例の単安定マルチバイ
ブレータ17の出力に同期してパルスを発生する
ドライブパルス発生器から得ることができる。パ
ルスモータ132がドライブパルスにより回転さ
れると、このモータの回転に伴つて回転接触子1
33及び回転板134が回転する。回転板134
の回転中において結石破壊装置のコネクタ137
の接触ピン137a,137bが回転板134の
接触子134a,134bに接触している時に
は、放電電流が接触ピン137a,137b、接
触片134a,134b、接触片133a,13
3b及びブラシ接触子135a,135bを介し
て放電電極に流れる。接触ピン137a,137
bが回転板134の非導通部に位置すると、放電
電流路は遮断され、放電は禁止される。
The pulse motor 132 is driven by drive pulses synchronized with discharge. This drive pulse can be obtained, for example, from a drive pulse generator that generates pulses in synchronization with the output of the monostable multivibrator 17 of the embodiment shown in FIG. When the pulse motor 132 is rotated by the drive pulse, the rotating contact 1 is rotated as the motor rotates.
33 and rotating plate 134 rotate. Rotating plate 134
Connector 137 of the stone destruction device during rotation of
When the contact pins 137a, 137b are in contact with the contacts 134a, 134b of the rotating plate 134, a discharge current flows through the contact pins 137a, 137b, the contact pieces 134a, 134b, the contact pieces 133a, 13
3b and brush contacts 135a, 135b to the discharge electrode. Contact pins 137a, 137
When b is located at a non-conducting portion of the rotary plate 134, the discharge current path is cut off and discharge is prohibited.

回転板134に取付けられた指示ピン138は
回転板134と共に移動し、第30図に示すよう
に放電回数を指示する。
An indicator pin 138 attached to the rotating plate 134 moves together with the rotating plate 134 and indicates the number of discharges as shown in FIG. 30.

第31図及び第32図はラチエツト機構141
が設けられた実施例を示している。これによる
と、回転板142に近接して電磁プランジヤ14
3が設けられ、この電磁プランジヤ143が放電
を開始させるトリガパルスに同期して付勢される
ことによりラチエツト機構141が作動され、回
転板142が1ステツプ回転する。回転板142
がラチエツト機構の動作に従つて順次回転される
ことにより放電回数が測定でき、かつ放電寿命が
検出できる。
31 and 32 show the ratchet mechanism 141.
This figure shows an example in which the following is provided. According to this, the electromagnetic plunger 14 is located close to the rotating plate 142.
3 is provided, and when this electromagnetic plunger 143 is energized in synchronization with a trigger pulse that starts discharge, the ratchet mechanism 141 is operated and the rotary plate 142 is rotated by one step. Rotating plate 142
are sequentially rotated according to the operation of the ratchet mechanism, thereby making it possible to measure the number of discharges and detect the discharge life.

第33図の実施例では、パルスモータ132の
シヤフトに結合された回転板143に絶縁性突起
片143aが設けられている。この突起片143
aは回転板143が放電電極の寿命に対応する角
度だけ回転するとプローブコネクタ137の接触
ピン131aと結石破壊装置のコネクタ137の
接触ピン137aとの間に挿入される(第34
図)。この状態では、放電が不可能となり、放電
電極の寿命が検出される。
In the embodiment shown in FIG. 33, a rotating plate 143 connected to the shaft of the pulse motor 132 is provided with an insulating projection piece 143a. This protruding piece 143
A is inserted between the contact pin 131a of the probe connector 137 and the contact pin 137a of the connector 137 of the calculus destruction device when the rotary plate 143 rotates by an angle corresponding to the life of the discharge electrode (34th
figure). In this state, discharge becomes impossible and the life of the discharge electrode is detected.

第35図の実施例では、プローブコネクタ13
1に発光素子145及びこの発光素子145の発
光光に感光する感光フイルム146が設けられて
いる。発光素子145は放電に同期して発光さ
れ、感光フイルム146は発光素子145の発光
量に応じて感光される。感光フイルム146は感
光されるに従つて抵抗値が増加するのでこの感光
フイルム146に電極を接続し、この電極を介し
て感光フイルム146に電流を流すと、この電流
は第36図のグラフに示すように感光フイルム1
46の感光量に応じて変化する。従つて、感光フ
イルム146に流れる電流を検出することにより
この電流量から放電回数が検出できる。
In the embodiment of FIG. 35, the probe connector 13
1 is provided with a light emitting element 145 and a photosensitive film 146 that is sensitive to the light emitted from the light emitting element 145. The light emitting element 145 emits light in synchronization with the discharge, and the photosensitive film 146 is exposed according to the amount of light emitted by the light emitting element 145. The resistance value of the photosensitive film 146 increases as it is exposed to light, so if an electrode is connected to the photosensitive film 146 and a current is passed through the photosensitive film 146 through this electrode, this current will be as shown in the graph of FIG. photosensitive film 1
46 changes depending on the amount of exposure. Therefore, by detecting the current flowing through the photosensitive film 146, the number of discharges can be detected from the amount of current.

第37図の実施例では、プローブコネクタ13
1の接触ピン131bに発熱抵抗147が接続さ
れる。この発熱抵抗147は接触ピン131bに
供給される放電電流によつて発熱し、熱線または
赤外線を発生する。感光フイルム146は熱線また
は赤外線によつて感光される。従つて、第35図
の実施例と同様にして感光フイルム146に流れ
る電流を検出することにより放電電極の寿命が検
出できる。
In the embodiment of FIG. 37, the probe connector 13
A heating resistor 147 is connected to the first contact pin 131b. This heating resistor 147 generates heat due to the discharge current supplied to the contact pin 131b, and generates heat rays or infrared rays. The photosensitive film 146 is exposed to heat or infrared radiation. Therefore, the life of the discharge electrode can be detected by detecting the current flowing through the photosensitive film 146 in the same manner as in the embodiment shown in FIG.

第38図には、複数の放電プローブ151〜1
55が接続され、これらプローブの使用回数及び
寿命をチエツクするプローブチエツカ150が示
されている。このプローブチエツカ150はプロ
ーブ151〜155を接続するコネクタの下部に
放電チエツクスイツチ156〜160を有してい
る。また、上部には、使用回数を表示する表示パ
ネル161〜165が設けられている。プローブ
151〜155には放電回数を記録するメモリが
設けられ、これらメモリに記憶された放電回数デ
ータが表示パネル161〜165に夫々表示され
る。放電チエツクスイツチ156〜160はオン
にされると、対応するプローブが放電するか否か
チエツクできる。
FIG. 38 shows a plurality of discharge probes 151 to 1.
55 are connected, and a probe checker 150 is shown for checking the number of times of use and life of these probes. This probe checker 150 has discharge check switches 156-160 below a connector to which probes 151-155 are connected. Furthermore, display panels 161 to 165 are provided at the top to display the number of times of use. Probes 151-155 are provided with memories for recording the number of discharges, and the number of discharges data stored in these memories is displayed on display panels 161-165, respectively. When the discharge check switches 156-160 are turned on, they can check whether the corresponding probe is discharged or not.

第39図の実施例によると、プローブの電極ラ
イン172に接続される導電体171aを介して
励磁コイル174の一端に接続される。導電体1
72は補強材173により補強される。励磁コイ
ル174の他端は屈曲導電体175を介してコネ
クタ端子176aに接続される。この導電体17
5の一方端近傍に鉄芯177が取付けられ、この
鉄芯177は励磁コイル174に挿入される。電
極ライン171bはコネクタ端子176bに接続
される。
According to the embodiment shown in FIG. 39, it is connected to one end of an excitation coil 174 via a conductor 171a connected to an electrode line 172 of the probe. Conductor 1
72 is reinforced with a reinforcing material 173. The other end of the excitation coil 174 is connected to a connector terminal 176a via a bent conductor 175. This conductor 17
An iron core 177 is attached near one end of the coil 5, and this iron core 177 is inserted into the excitation coil 174. Electrode line 171b is connected to connector terminal 176b.

第39図において、端子176a,176b間
に放電電流が供給されると、励磁コイル174は
励磁され、鉄芯177が移動する。この鉄芯11
7の動きは導電体175に伝わり、この導電体1
75の屈曲部175aに曲げ力を加える。この曲
げ力は放電電流により励磁コイル174が励磁さ
れる毎に生じる。従つて、放電回数が進むに従つ
て導電体175の屈曲部175aが疲弊し、最終
的には破断する。この導電体の破断が放電寿命と
判断される。
In FIG. 39, when a discharge current is supplied between terminals 176a and 176b, exciting coil 174 is excited and iron core 177 moves. This iron core 11
The movement of 7 is transmitted to the conductor 175, and this conductor 1
A bending force is applied to the bent portion 175a of 75. This bending force is generated every time the exciting coil 174 is excited by the discharge current. Therefore, as the number of discharges progresses, the bent portion 175a of the conductor 175 becomes fatigued and eventually breaks. This breakage of the conductor is determined to be the end of the discharge life.

第40図は第39図の変形例を示す。これによ
ると、導電体178が磁石179のN極とS極と
の間に配設される。この導電体188に放電電流
が流れる毎にフアラデの左手の法則により導電体
178は震動される。このため放電が進むに連れ
て、導電体178は金属疲労を起こし、最終的に
破断される。
FIG. 40 shows a modification of FIG. 39. According to this, a conductor 178 is arranged between the north pole and the south pole of the magnet 179. Every time a discharge current flows through the conductor 188, the conductor 178 vibrates according to Farade's left-hand rule. Therefore, as the discharge progresses, the conductor 178 undergoes metal fatigue and is eventually broken.

第41図の実施例によると、放電電極181
a,181bが設けられたコネクタ182にダミ
ーコネクタ183、ダミーコネクタ184及びメ
インコネクタ185が順次結合される。コネクタ
182〜184の各々の凹部には接点A及び接点
Bが設けられ、凸部には接点Cが設けられる。メ
インコネクタ185の凸部には凹接点Dが設けら
れる。
According to the embodiment of FIG. 41, the discharge electrode 181
A dummy connector 183, a dummy connector 184, and a main connector 185 are sequentially connected to the connector 182 provided with connectors a and 181b. A contact point A and a contact point B are provided in the concave portion of each of the connectors 182 to 184, and a contact point C is provided in the convex portion. A concave contact D is provided on the convex portion of the main connector 185.

メインコネクタ185がダミーコネクタ184
に結合されると、メインコネクタ185の凹接点
Dにダミーコネクタ184の接点Aがはまり込
む。メインコネクタ185がダミーコネクタ18
4から抜脱されるときにダミーコネクタ184の
接点Aはメインコネクタ185の凹接点Dによつ
て掻き取られ、このダミーコネクタ184は次回
には使用できなくなる。従つて、2回目のプロー
ブの使用においては、メインコネクタ185がダ
ミーコネクタ183に差し込まれる。このよう
に、プローブの使用毎にダミーコネクタが順次交
換されるのでダミーコネクタの残りからプローブ
の使用限度が掴める。
Main connector 185 is dummy connector 184
, the contact A of the dummy connector 184 fits into the recessed contact D of the main connector 185. Main connector 185 is dummy connector 18
4, the contacts A of the dummy connector 184 are scraped off by the recessed contacts D of the main connector 185, and this dummy connector 184 cannot be used next time. Therefore, when using the probe for the second time, the main connector 185 is inserted into the dummy connector 183. In this way, the dummy connectors are replaced each time the probe is used, so the usage limit of the probe can be determined from the remaining dummy connectors.

第42図の実施例によると、プローブに抵抗体
191が設けられ、この抵抗体191が結石破壊
装置に設けられ、抵抗体191の抵抗値を検出す
る抵抗値検出器192に接続される。抵抗体19
1に対してレザー193が結石破壊装置内に配設
される。抵抗値検出器192及びレザー193は
CPU194に接続される。抵抗値検出器192
は抵抗値を表示する表示器195に接続される。
According to the embodiment shown in FIG. 42, the probe is provided with a resistor 191, this resistor 191 is provided in the calculus destruction device, and is connected to a resistance value detector 192 that detects the resistance value of the resistor 191. Resistor 19
1, a laser 193 is disposed within the stone destruction device. The resistance value detector 192 and the laser 193 are
Connected to CPU 194. Resistance value detector 192
is connected to a display 195 that displays the resistance value.

前記抵抗体191は第43図に示されるように
基板196とこの基板196の表面に形成される
抵抗膜197と基板196に設けられた電極19
8a,198bとにより構成される。レザー19
3のレザー光は可動ミラー199によつて抵抗膜
197に指向され、抵抗膜197を照射する。
As shown in FIG. 43, the resistor 191 includes a substrate 196, a resistive film 197 formed on the surface of the substrate 196, and an electrode 19 provided on the substrate 196.
8a and 198b. leather 19
The laser beam No. 3 is directed toward the resistive film 197 by a movable mirror 199, and irradiates the resistive film 197.

上記構成において、CPU194は放電回数カ
ウンタ(例えば、第1図のカウンタ18)から放
電回数データを受けるとレザー193に駆動命令
を与える。この駆動命令に応答してレザー193
はレザー光を発生し、抵抗体191の抵抗膜19
7を部分的に焼き取る。このとき、抵抗体191
の抵抗値は増加するがこの抵抗値は電極198
a,198bを介して抵抗値検出器192により
検出され、表示器195に表示される。
In the above configuration, the CPU 194 gives a driving command to the laser 193 upon receiving the discharge number data from the discharge number counter (for example, the counter 18 in FIG. 1). In response to this driving command, the laser 193
generates laser light, and the resistive film 19 of the resistor 191
Partially burn out 7. At this time, the resistor 191
Although the resistance value of electrode 198 increases, this resistance value
The resistance value is detected by the resistance value detector 192 via the resistance values a and 198b, and displayed on the display 195.

上記のように、所定回数の放電が行われる毎に
抵抗体191の抵抗値197がレザー光により焼
き取られ、抵抗値が増加する。この抵抗値が所定
値になるとCPU194は放電電極の寿命と判定
し放電回路系を遮断する。
As described above, each time the discharge is performed a predetermined number of times, the resistance value 197 of the resistor 191 is burned away by the laser light, and the resistance value increases. When this resistance value reaches a predetermined value, the CPU 194 determines that the life of the discharge electrode has come to an end, and shuts off the discharge circuit system.

レザー193が抵抗体193の抵抗膜197を
焼き取るときにレザー光を未焼き取り部分に移動
させる必要が有る。この場合、第44図に示され
るように、レザー193から抵抗体196の表面
に弱いレザー光が照射される。この弱いレザー光
が抵抗膜196表面にコーチングされたプラスチ
ツクフイルムから反射され、反射光がハーフミラ
ー199を介して光検出器200によつて検出さ
れた時にレザーがレザー光を発生する。弱いレザ
ー光が焼き取つた部分を照射し、反射光が得られ
ない場合には、ハーフミラー199が移動され、
レザー光のランデング位置が移動される。移動位
置では反射光が得られるのでレザー193はレザ
ー光の発生が可能となる。
When the laser 193 burns out the resistive film 197 of the resistor 193, it is necessary to move the laser light to the unburned part. In this case, as shown in FIG. 44, weak laser light is irradiated from the laser 193 onto the surface of the resistor 196. This weak laser light is reflected from the plastic film coated on the surface of the resistive film 196, and when the reflected light is detected by the photodetector 200 via the half mirror 199, the laser generates laser light. If the weak laser light illuminates the burnt-out part and no reflected light is obtained, the half mirror 199 is moved,
The landing position of the laser light has been moved. Since reflected light is obtained at the moving position, the laser 193 can generate laser light.

第45図の実施例によると、プローブに、放電
回数または電源投入回数を記憶するメモリ201
が設けられる。このメモリ201はヒユーズ
ROM、NV(non−volatile)RAM、バツテリバ
ツクアツプRAM並びにこれらのメモリとROM
との組合わせのメモリにより構成される。ヒユー
ズROMは例えば、マトリツクスに配列された多
数のヒユーズにより構成され、これらヒユーズを
選択的に溶断することにより情報の書込みを行な
う。NV RAM及びバツテリバツクアツプRAM
は電源が遮断されてもメモリ内容が消失しないメ
モリである。
According to the embodiment of FIG. 45, the probe has a memory 201 that stores the number of discharges or the number of times the power is turned on.
is provided. This memory 201 is a fuse
ROM, NV (non-volatile) RAM, battery backup RAM, and these memories and ROM
It is composed of memory in combination with. The fuse ROM is composed of, for example, a large number of fuses arranged in a matrix, and information is written by selectively blowing these fuses. NV RAM and battery backup RAM
is a memory that does not lose its contents even if the power is cut off.

メモリ201は結石破壊装置のインターフエイ
ス(IF)202を介してCPU203に結合され
る。メモリ201としてヒユーズメモリが使用さ
れた場合には放電毎または電源投入毎にIF20
2を介してメモリ201に供給される信号に応答
してヒユーズメモリのヒユーズが焼断される。従
つて、ヒユーズメモリのヒユーズの残り数から方
電電極の寿命が判断できる。この放電電極寿命の
判断はCPU203がメモリ201の内容を監視
することにより行われる。
Memory 201 is coupled to CPU 203 via an interface (IF) 202 of the stone destruction device. When fuse memory is used as memory 201, IF20 is
The fuses of the fuse memory are blown in response to a signal provided to the memory 201 via the memory 201. Therefore, the life of the square electrode can be determined from the number of remaining fuses in the fuse memory. This determination of the lifespan of the discharge electrode is performed by the CPU 203 monitoring the contents of the memory 201.

NV RAM及びバツテリバツクアツプRAMは
放電毎または電源投入毎にIF202を介してメ
モリ201に供給されるデータを記憶する。記憶
データはIF202を介してCPU203に入力さ
れることにより放電電極寿命が監視される。
CPU203が放電電極寿命を判断すると、CPU
203は放電回路系を遮断し、寿命のプローブに
よる放電を禁止する。
The NV RAM and the battery backup RAM store data supplied to the memory 201 via the IF 202 each time the power is turned on or discharged. The stored data is input to the CPU 203 via the IF 202 to monitor the discharge electrode life.
When the CPU 203 determines the discharge electrode life, the CPU
203 shuts off the discharge circuit system and prohibits discharge by the probe whose life has expired.

メモリ201に、プローブに適した放電パター
ンが発生できるようなプログラムが記憶されてい
れば、プローブは最適な放電パターンで放電を行
なうことができる。また、プローブの種類を表す
データがメモリに記憶されていると、結石破壊装
置にプロープが接続された時に、両者の適合がチ
エツクできる。
If the memory 201 stores a program that can generate a discharge pattern suitable for the probe, the probe can perform discharge with the optimal discharge pattern. Furthermore, if data representing the type of probe is stored in the memory, compatibility between the two can be checked when the probe is connected to the stone destruction device.

第46図の実施例によると、プローブ内に、メ
モリ201の他にCPU203及び表示器204
が収納されている。CPU203は結石破壊装置
本体から信号ラインを介して送られる放電回数デ
ータまたは電源投入回数データを受けることによ
りこれらデータをメモリ201に記憶させる。こ
のメモリ201がヒユーズメモリの場合には、デ
ータとしてヒユーズ溶断信号がCPU203に供
給され、この信号に応答してヒユーズメモリのヒ
ユーズが溶断される。メモリ201の記憶データ
はCPU203を介して表示器204に表示され
る。この場合には、プローブと結石破壊装置10
0との信号ラインの数がかなり減少できる。
According to the embodiment shown in FIG. 46, in addition to the memory 201, a CPU 203 and a display 204 are included in the probe.
is stored. The CPU 203 stores these data in the memory 201 by receiving discharge count data or power-on count data sent from the stone destruction device main body via a signal line. When this memory 201 is a fuse memory, a fuse blowing signal is supplied as data to the CPU 203, and the fuse of the fuse memory is blown in response to this signal. The data stored in the memory 201 is displayed on the display 204 via the CPU 203. In this case, the probe and stone destruction device 10
0 and the number of signal lines can be significantly reduced.

第47図の実施例では、プローブの使用回数が
機械的に測定される。プローブプラグ300の内
部には接続ピン301a,301bが設けられ
る。プローブプラグ300の外部にはカウンタユ
ニツト302が接続される。このカウンタユニツ
ト302にはスライドピン303が摺動可能に設
けられる。このスライドピン303に近接してカ
ウンタドラム304が回転可能に設けられる。カ
ウンタドラム304の周囲には使用回数を表わす
数字が付されている。カウンタドラム304の一
方端部にはスライド溝305が設けられている。
このスライド溝305にスライドピン303に設
けられた突起303aが係合される。カウンタド
ラム304の他方端部は押圧部材306により弾
性的に押圧される。
In the embodiment of FIG. 47, the number of times the probe is used is mechanically measured. Connection pins 301a and 301b are provided inside the probe plug 300. A counter unit 302 is connected to the outside of the probe plug 300. A slide pin 303 is slidably provided on this counter unit 302. A counter drum 304 is rotatably provided adjacent to this slide pin 303. Around the counter drum 304 are numbers indicating the number of times it has been used. A slide groove 305 is provided at one end of the counter drum 304.
A protrusion 303a provided on the slide pin 303 is engaged with this slide groove 305. The other end of the counter drum 304 is elastically pressed by a pressing member 306.

上記構成のカウンタユニツト302を装着した
プローブプラグ300が結石破壊装置のソケツト
307に差し込まれると、ソケツト307に設け
られた突起307aがプラグ300のスライドピ
ン303を押込む。このとき、スライドピン30
3の突起303aがカウンタドラム304のスラ
イド溝305を滑り、カウンタドラム304を回
転させる。これにより、第48図に示されるよう
にカウント数字“1”がカウンタユニツト302
の表示窓302aに現われる。この数字はプロー
ブの1回目の使用を表わす。
When the probe plug 300 equipped with the counter unit 302 configured as described above is inserted into the socket 307 of the stone destruction device, the projection 307a provided on the socket 307 pushes the slide pin 303 of the plug 300. At this time, slide pin 30
The protrusion 303a of No. 3 slides on the slide groove 305 of the counter drum 304, causing the counter drum 304 to rotate. As a result, the count number "1" is transferred to the counter unit 302 as shown in FIG.
appears in the display window 302a. This number represents the first use of the probe.

結石破壊の治療が終了して、プローブプラグ3
00がソケツト307から抜脱されると、スライ
ドピン303はスプリング力により元の位置に復
帰される。このとき、カウンタドラム304はこ
のドラム304の他端に設けられた係止溝304
a及び押圧部材306に設けられた係合ピン30
6aに回動不能に保持される。
After stone destruction treatment is completed, probe plug 3
00 is removed from the socket 307, the slide pin 303 is returned to its original position by the spring force. At this time, the counter drum 304 is connected to the locking groove 304 provided at the other end of the drum 304.
a and the engagement pin 30 provided on the pressing member 306
6a so as not to rotate.

プローブプラグ300が再びソケツト307に
差し込まれると、同様な動作を経て表示窓302
aに数字“2”が現われる。このように、プロー
ブプラグ300がソケツト307に差し込まれる
毎に表示窓302aの数字が1つずつ増加し、プ
ローブの使用回数を表示する。この数字からプロ
ーブの寿命が判断される。プローブ寿命に対応す
る回数までカウンタドラム304が回転すると、
カウンタドラム304に設けられた突起304b
がスライドピン303の凹部303bに入り込
む。この状態では、スライドピンの移動が不可能
となり、この後のプローブの使用が禁止される。
When the probe plug 300 is inserted into the socket 307 again, the display window 302 goes through the same operation.
The number "2" appears in a. In this way, each time the probe plug 300 is inserted into the socket 307, the number in the display window 302a increases by one to display the number of times the probe has been used. The lifespan of the probe is determined from this number. When the counter drum 304 rotates a number of times corresponding to the probe life,
Protrusion 304b provided on counter drum 304
enters the recess 303b of the slide pin 303. In this state, the slide pin cannot be moved and subsequent use of the probe is prohibited.

第49図には、カウンタドラム301中央部に
スライドピン311が摺動可能に挿入されてい
る。このスライドピン311が結石破壊装置のソ
ケツト307の突起307aにより押し込まれる
と、カウンタドラム310の内面に設けられたス
ライド溝311aとスライドピン311の突起3
11aとの相互作用によりカウンタドラム310
が回転し、カウンタユニツト302がカウントア
ツプされる。
In FIG. 49, a slide pin 311 is slidably inserted into the center of the counter drum 301. When this slide pin 311 is pushed in by the protrusion 307a of the socket 307 of the calculus destruction device, the slide groove 311a provided on the inner surface of the counter drum 310 and the protrusion 3 of the slide pin 311
Counter drum 310 due to interaction with 11a
rotates, and the counter unit 302 counts up.

第50図には、使い捨てプローブを用いる実施
例が示されている。プローブのプラグ401に軸
方向のシリンダ穴402が設けられる。このシリ
ンダ穴402は結石破壊装置のソケツト410の
ピン411に位置的に対応するように設けられ
る。シリンダ穴402にピストン403が摺動可
能に設けられ、このピストン403はスプリング
404により外方向に付勢されている。シリンダ
穴402に直交して横穴405がプローブプラグ
401に設けられている。この横穴405にはロ
ツクピン406が摺動可能に設けられる。このロ
ツクピン405はスプリング407によりピスト
ン403の方向に付勢されている。
FIG. 50 shows an embodiment using a disposable probe. An axial cylinder hole 402 is provided in the plug 401 of the probe. This cylinder hole 402 is provided so as to correspond in position to the pin 411 of the socket 410 of the stone destruction device. A piston 403 is slidably provided in the cylinder hole 402, and the piston 403 is urged outward by a spring 404. A horizontal hole 405 is provided in the probe plug 401 orthogonally to the cylinder hole 402 . A lock pin 406 is slidably provided in this side hole 405. This lock pin 405 is biased toward the piston 403 by a spring 407.

第50図のプローブプラグ401が第51図に
示されるようにソケツト410に結合されると、
プラグ401のピストン403がピン411によ
つてシリンダ穴402に押込まれる。このとき、
ピストン403がロツクピン406から外れ、ロ
ツクピン406がスプリング407の付勢力によ
りシリンダ穴402に押込まれる。この状態でプ
ローブが使用され、プローブの放電電極における
放電により結石の破壊が行われる。
When probe plug 401 of FIG. 50 is coupled to socket 410 as shown in FIG.
Piston 403 of plug 401 is pushed into cylinder hole 402 by pin 411. At this time,
The piston 403 is disengaged from the lock pin 406, and the lock pin 406 is pushed into the cylinder hole 402 by the biasing force of the spring 407. The probe is used in this state, and the stone is destroyed by electric discharge at the discharge electrode of the probe.

結石破壊が終了すると、プローブプラグ401
はソケツト410から引き抜かれる。このとき、
ロツクピン406がシリンダ穴402に完全に入
り込み、シリンダ穴402が第52図に示される
ようにロツクピン406により塞がれる。この状
態では、プラグ401を再びソケツト410に結
合しようとしてもソケツト410のピン411が
プラグ401のロツクピン406に当接してプラ
グ401はソケツト410に結合できない。従つ
て、このプローブは再度の使用が不可能となり廃
棄処分される。即ち、第50図のプラグを備えた
プローブは一回の使用にて廃棄される使い捨てプ
ローブとなる。
When the stone destruction is completed, the probe plug 401
is pulled out from socket 410. At this time,
The locking pin 406 is completely inserted into the cylinder hole 402, and the cylinder hole 402 is closed by the locking pin 406 as shown in FIG. In this state, even if an attempt is made to connect the plug 401 to the socket 410 again, the pin 411 of the socket 410 comes into contact with the lock pin 406 of the plug 401, and the plug 401 cannot be connected to the socket 410. Therefore, this probe cannot be used again and is discarded. That is, the probe equipped with the plug shown in FIG. 50 is a disposable probe that is discarded after one use.

第53図は他の例の使い捨てプローブのプラグ
421を示している。プラグ421に設けられた
シリンダ穴422の内壁に、第54図に示すよう
に約90度だけシリンダ穴底方向に螺施状に延びる
溝423とこの溝423に連通して外方向に延び
る直線溝424が形成されている。この場合、螺
施溝423の先端よりも直線溝424の先端が若
干長くなるように直線溝424がシリンダ壁に形
成される。また、この直線溝424の先端には段
部428が設けられる。シリンダ穴422にはピ
ストン425が摺動可能に挿入される。ピストン
425にはシリンダ穴422の溝423に対応し
て溝426が形成される。この溝426とシリン
ダ溝423との間にストツパスプリング427が
嵌込まれる。
FIG. 53 shows a plug 421 of another example of a disposable probe. As shown in FIG. 54, the inner wall of the cylinder hole 422 provided in the plug 421 has a groove 423 extending in a spiral manner toward the bottom of the cylinder hole by about 90 degrees, and a straight groove communicating with the groove 423 and extending outward. 424 is formed. In this case, the straight groove 424 is formed in the cylinder wall so that the tip of the straight groove 424 is slightly longer than the tip of the threaded groove 423. Furthermore, a stepped portion 428 is provided at the tip of this straight groove 424 . A piston 425 is slidably inserted into the cylinder hole 422. A groove 426 is formed in the piston 425 to correspond to the groove 423 of the cylinder hole 422. A stopper spring 427 is fitted between this groove 426 and the cylinder groove 423.

第53図のプラグ421がソケツト430に結
合されると、プラグ421のピストン425がシ
リンダ穴422に押込まれる。このとき、ストツ
パスプリング427が螺施溝423を摺動し、ピ
ストン425と共にシリンダ穴422内を約90度
だけ回転する。
When the plug 421 of FIG. 53 is coupled to the socket 430, the piston 425 of the plug 421 is pushed into the cylinder hole 422. At this time, the stopper spring 427 slides on the threaded groove 423 and rotates along with the piston 425 within the cylinder hole 422 by about 90 degrees.

プラグ421がソケツト430に確実に結合さ
れると、プローブの放電電極に放電電圧が印加さ
れ、結石破壊が行われる。結石破壊が終了し、プ
ラグ421がソケツト430から引抜かれると、
これに伴つてピストン425がスプリング429
によりシリンダ穴422から押出される。このと
き、ストツパスプリング427は直線溝424に
沿つて移動し、直線溝424の終端で段部428
に嵌り込み、シリンダ525の先端がプラグ42
1の端面から若干突出した状態でストツパスプリ
ング427によりロツクさる。この状態ではシリ
ンダ425は移動不能となる。従つて、このプロ
ーブは再使用できなく、廃棄処分される。この再
使用不能となつたプローブのプラグ421では第
56図に示されるようにピストン425の一部が
コネクタ421の端面より突出するので使用済み
のプローブの見分けが簡単に行なえる。
Once the plug 421 is securely connected to the socket 430, a discharge voltage is applied to the discharge electrode of the probe, causing stone destruction. When the stone destruction is completed and the plug 421 is pulled out from the socket 430,
Along with this, the piston 425 is moved by the spring 429.
is pushed out from the cylinder hole 422 by. At this time, the stopper spring 427 moves along the linear groove 424 and reaches the step 428 at the end of the linear groove 424.
The tip of the cylinder 525 is inserted into the plug 42.
It is locked by a stopper spring 427 in a state slightly protruding from the end surface of 1. In this state, the cylinder 425 becomes immovable. Therefore, this probe cannot be reused and is discarded. In the plug 421 of the probe that cannot be reused, a portion of the piston 425 protrudes from the end face of the connector 421, as shown in FIG. 56, so that used probes can be easily identified.

上述した実施例において、放電電極の寿命を伸
ばすために放電電極は電気的絶縁性及び高耐熱性
を有する材質、例えば、セラミツクまたはガラス
により構成されたプローブ先端チツプに電極間を
露出して埋め込まれる。このような構成のプロー
ブが用いられると、電極間で放電が生じたときの
熱によりプローブ先端チツプが損傷されることが
なく、プローブの寿命が増す。
In the embodiments described above, in order to extend the life of the discharge electrode, the discharge electrode is embedded in a probe tip made of a material having electrical insulation and high heat resistance, such as ceramic or glass, with the gap between the electrodes exposed. . When a probe with such a configuration is used, the probe tip is not damaged by heat generated when a discharge occurs between the electrodes, and the life of the probe is increased.

〔効果〕〔effect〕

上記のようなこの発明によると、プローブの放
電回数、プローブの放電時間の積算値またはプロ
ーブと給電手段との着脱回数を計数することによ
りプローブの寿命を把握できるので、結石破壊治
療においてプローブの不良に気づかずに治療を進
めることが防止でき、安全で確実な結石破壊治療
が行える。
According to this invention as described above, the life of the probe can be determined by counting the number of discharges of the probe, the integrated value of the discharge time of the probe, or the number of times the probe is connected and disconnected from the power supply means, so that defective probes can be detected in stone destruction treatment. It is possible to prevent treatment from proceeding without noticing, and safe and reliable stone destruction treatment can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例に従つた放電結石
破壊装置の回路図、第2図は第1図の放電結石破
壊装置の正面図、第3図は第1図の装置の動作を
説明するためのタイムチヤート図、第4図はプロ
ーブ及びソケツトの斜視図、第5図は他の実施例
であり、放電回数データを記憶するメモリを有す
る放電結石破壊装置の回路図、第6図は第5図の
放電結石破壊装置に用いられるプローブ及びソケ
ツトの斜視図、第7図は他の実施例であり、電池
の放電を利用した放電結石破壊装置の回路図、第
8図は第7図の放電結石破壊装置の正面図、第9
図は他の実施例の放電結石破壊装置に用いられる
コネクタ及びソケツトの斜視図、第10図は互い
に結合された第9図のコネクタ及びソケツトの断
面図、第11図は第9図のソケツトを用いた放電
結石破壊装置の回路図、第12図は第11図の放
電結石破壊装置の正面図、第13図は他の実施例
の放電結石破壊装置に用いられるプローブソケツ
トの斜視図、第14図は他の実施例であり、プロ
ーブ放電回数毎に溶断される抵抗体を設けた放電
結石破壊装置の回路図、第15図は第14図に用
いられる抵抗体ユニツトの回路図、第16図は他
の実施例であり、プローブの使用回数を表示する
機能を有する放電結石破壊装置の回路図、第17
図は第16図の放電結石破壊装置に用いられる表
示回路の回路図、第18図は他の実施例の放電結
石破壊装置に用いられるプローブのヒユーズユニ
ツト及び寿命検出部の回路図、第19図乃至21
図は第18図の実施例に用いられるプローブの各
種プラグの斜視図、第22図は他の実施例の放電
結石破壊装置に用いられるプローブの回路図、第
23図は電極寿命到来時の第22図のプローブの
回路図、第24図は他の実施例であり、プローブ
に放電電圧検出用放電管を接続した放電結石破壊
装置の回路図、第25図は放電回数と放電電圧と
の関係を示すグラフ図、第26図は他の実施例で
あり、放電回数を記録するメモリ及び放電回路遮
断用スイツチ素子を設けた放電結石破壊装置の一
部回路図、第27図は他の実施例であり、放電電
流検出器、メモリ及び放電回路遮断用スイツチ素
子を設けた放電結石破壊装置の一部回路図、第2
8図は他の実施例の放電結石破壊装置に用いられ
るプローブコネクタの構成図、第29図は第28
図のコネクタに設けられモータを用いた寿命検出
部の斜視図、第30図は第28のコネクタの斜視
図、第31図は電磁プランジヤを用いた寿命検出
部の背面図、第32図は電磁プランジヤを用いた
寿命検出部の斜視図、第33図は他の実施例に用
いられるプローブに設けられる寿命検知部の斜視
図、第34図は寿命到来時における第33図の寿
命検知部の側面図、第35図は他の実施例に用い
られ、LEDと感光体を有する寿命検知部を備え
たプローブコネクタの構成図、第36図はLED
発行光量と感光体を流れる電流との関係を示すグ
ラフ図、第37図は他の実施例に用いられ、感光
体と発熱体とを有する寿命検知部を備えたプロー
ブコネクタの構成図、第38図は複数のプローブ
の寿命をチエツクする装置の斜視図、第39図及
び第40図は他の実施例に用いられる各種プロー
ブに設けられ、導電部材の物理的疲弊を利用した
寿命検知部の配線図、第41図は他の実施例に用
いられ、複数のコネクタを有するプローブの断面
図、第42図は他の実施例であり、レザーを用い
た寿命検知部の回路図、第43図及び第44図は
第42図の寿命検知部の構成図、第45図は他の
実施例に用いられ、放電回数を記憶するメモリを
用いた寿命検出部の回路図、第46図は他の実施
例に用いられ、放電回数を記憶するメモリ及び回
数表示器をプローブに設けた寿命検出部の回路
図、第47図及び第48図は他の実施例に用いら
れるプローブのコネクタの構成図、第49図は他
の実施例に用いられるプローブのコネクタの断面
図、第50図は他の実施例の放電結石破壊装置に
用いられるプローブのプラグとソケツトの側面
図、第51図は互いに結合した第50図のプラグ
とソケツトの側面図、第52図は第51図の状態
からプラグをソケツトから抜き脱したプラグとソ
ケツトの側面図、第53図は他の実施例の放電結
石破壊装置に用いられるプローブの部分的に切欠
したコネクタとソケツトの側面図、第54図は第
53図のプラグの断面図、第55図は第53図の
プラグのA−A′線に沿つた断面図、第56図は
使用済みプローブのプラグの側面図。 5……トランジスタスイツチ回路、7……キヤ
パシタ、8……放電管、10……コネクタ、11
……プローブ、11a……放電電極、13……放
電開始スイツチ、14……リレー、15……パル
ス発生器、18……カウンタ、19……表示器、
20……ブザー、24……設定スイツチ、25…
…カウンタ、26……メモリ、33……メータ、
43……電解式積算メータ、44……発行ダイオ
ードアレー、45……太陽電池アレー、52……
発光ダイオードアレー、61……プローブ、62
a,62b……放電電極、64……抵抗ユニツ
ト、69……充放電回路、71……制御部、73
……発光ダイオード、74……抵抗溶断回路、7
5……抵抗値検知回路、76……表示回路。
FIG. 1 is a circuit diagram of a discharge stone destruction device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a front view of the discharge stone destruction device shown in FIG. 1, and FIG. 3 explains the operation of the device shown in FIG. 1. Fig. 4 is a perspective view of the probe and socket, Fig. 5 is another embodiment, and Fig. 6 is a circuit diagram of a discharge calculus destruction device having a memory for storing data on the number of discharges. Figure 5 is a perspective view of the probe and socket used in the discharge stone destruction device, Figure 7 is another embodiment, and Figure 8 is a circuit diagram of the discharge stone destruction device using battery discharge. Front view of the discharge stone destruction device, No. 9
The figure is a perspective view of the connector and socket used in the discharge stone destruction device of another embodiment, FIG. 10 is a cross-sectional view of the connector and socket of FIG. 9 coupled to each other, and FIG. A circuit diagram of the discharge stone destruction device used, FIG. 12 is a front view of the discharge stone destruction device of FIG. 11, and FIG. 13 is a perspective view of a probe socket used in the discharge stone destruction device of another embodiment. Fig. 14 shows another embodiment, and Fig. 15 is a circuit diagram of a discharge calculus destruction device provided with a resistor that is blown out each time the probe discharges. Fig. 15 is a circuit diagram of a resistor unit used in Fig. 14. The figure shows another embodiment, and is a circuit diagram of a discharge stone destruction device having a function of displaying the number of times the probe is used, No. 17.
The figure is a circuit diagram of a display circuit used in the discharge stone destruction device of FIG. 16, FIG. 18 is a circuit diagram of a probe fuse unit and life detection section used in the discharge stone destruction device of another embodiment, and FIG. 19 is a circuit diagram of a display circuit used in the discharge stone destruction device of FIG. to 21
The figures are perspective views of various plugs of the probe used in the embodiment shown in Fig. 18, Fig. 22 is a circuit diagram of the probe used in the discharge calculus destruction device of another embodiment, and Fig. 23 is a diagram of the plugs at the end of the electrode life. Figure 22 is a circuit diagram of the probe, Figure 24 is another example, and a circuit diagram of a discharge stone destruction device in which a discharge tube for detecting discharge voltage is connected to the probe, and Figure 25 is the relationship between the number of discharges and the discharge voltage. 26 is another embodiment, and FIG. 27 is a partial circuit diagram of a discharge stone destruction device provided with a memory for recording the number of discharges and a switch element for cutting off the discharge circuit, and FIG. 27 is another embodiment. Partial circuit diagram of a discharge stone destruction device equipped with a discharge current detector, a memory, and a discharge circuit cutoff switch element, Part 2
FIG. 8 is a configuration diagram of a probe connector used in a discharge stone destruction device of another embodiment, and FIG.
Figure 30 is a perspective view of the 28th connector, Figure 31 is a rear view of the life detection unit using an electromagnetic plunger, Figure 32 is an electromagnetic FIG. 33 is a perspective view of a life detection section provided in a probe used in another embodiment; FIG. 34 is a side view of the life detection section shown in FIG. 33 at the end of its life. Figure 35 is a configuration diagram of a probe connector that is used in other embodiments and is equipped with a life detection section having an LED and a photoreceptor, and Figure 36 is a configuration diagram of a probe connector equipped with an LED and a photoreceptor.
FIG. 37 is a graph showing the relationship between the amount of emitted light and the current flowing through the photoconductor, and FIG. The figure is a perspective view of a device for checking the lifespan of multiple probes, and Figures 39 and 40 are wiring of a lifespan detection section that is installed in various probes used in other embodiments and utilizes physical fatigue of conductive members. 41 is a sectional view of a probe having a plurality of connectors, which is used in another embodiment, and FIG. 42 is a circuit diagram of a life detection section using a laser, and FIG. Fig. 44 is a configuration diagram of the life detection unit shown in Fig. 42, Fig. 45 is a circuit diagram of a life detection unit using a memory that stores the number of discharges, and is used in another embodiment, and Fig. 46 is a diagram of another embodiment. FIGS. 47 and 48 are circuit diagrams of the life detection unit used in the example, in which the probe is equipped with a memory for storing the number of discharges and a number display; FIGS. 47 and 48 are configuration diagrams of the probe connector used in other examples; Fig. 49 is a sectional view of a connector of a probe used in another embodiment, Fig. 50 is a side view of a plug and socket of a probe used in a discharge calculus destruction device of another embodiment, and Fig. 51 is a cross-sectional view of a connector of a probe used in another embodiment. Fig. 50 is a side view of the plug and socket, Fig. 52 is a side view of the plug and socket after the plug has been removed from the socket in the state shown in Fig. 51, and Fig. 53 is a side view of the plug and socket used in another embodiment of the discharge stone destruction device. 54 is a cross-sectional view of the plug of FIG. 53; FIG. 55 is a cross-sectional view of the plug of FIG. 53 along line A-A'; FIG. The figure is a side view of the plug of a used probe. 5...Transistor switch circuit, 7...Capacitor, 8...Discharge tube, 10...Connector, 11
... Probe, 11a ... Discharge electrode, 13 ... Discharge start switch, 14 ... Relay, 15 ... Pulse generator, 18 ... Counter, 19 ... Display,
20...buzzer, 24...setting switch, 25...
...Counter, 26...Memory, 33...Meter,
43...Electrolytic integration meter, 44...Issuing diode array, 45...Solar cell array, 52...
Light emitting diode array, 61...Probe, 62
a, 62b...discharge electrode, 64...resistance unit, 69...charge/discharge circuit, 71...control unit, 73
...Light emitting diode, 74 ...Resistance fusing circuit, 7
5...Resistance value detection circuit, 76...Display circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 放電電極を有するプローブと、前記放電電極
に放電を発生させるために前記プローブに放電電
圧を印加する給電手段と、前記プローブの放電回
数を計数する計数手段と、前記計数手段からの値
が設定値を越えると前記給電手段を停止させる停
止手段とを具備する放電結石破壊装置。 2 放電電極を有するプローブと、前記放電電極
に放電を発生させるために前記プローブに放電電
圧を印加する給電手段と、前記プローブの放電時
間を積算計算する計数手段と、前記計数手段から
の値が設定値を越えると前記給電手段を停止させ
る停止手段とを具備する放電結石破壊装置。 3 放電電極を有するプローブと、前記放電電極
に放電を発生させるために前記プローブに放電電
圧を印加する給電手段と、前記プローブと前記給
電手段との着脱回数を計数する計数手段と、前記
計数手段からの値が設定値を越えると前記給電手
段を停止させる停止手段とを具備する放電結石破
壊装置。
[Scope of Claims] 1. A probe having a discharge electrode, a power supply means for applying a discharge voltage to the probe in order to generate a discharge in the discharge electrode, a counting means for counting the number of discharges of the probe, and the counting means for counting the number of discharges of the probe; A discharge calculus destruction device comprising a stop means for stopping the power supply means when the value from the means exceeds a set value. 2. A probe having a discharge electrode, a power supply means for applying a discharge voltage to the probe in order to generate a discharge in the discharge electrode, a counting means for cumulatively calculating the discharge time of the probe, and a value from the counting means A discharge calculus destruction device comprising a stop means for stopping the power supply means when a set value is exceeded. 3. A probe having a discharge electrode, a power feeding means for applying a discharge voltage to the probe in order to generate a discharge in the discharge electrode, a counting means for counting the number of times the probe and the power feeding means are attached and detached, and the counting means. and a stop means for stopping the power supply means when a value from the power source exceeds a set value.
JP60272470A 1984-12-05 1985-12-05 Discharge stone crushing apparatus Granted JPS62148659A (en)

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JPS62148659A JPS62148659A (en) 1987-07-02
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