JPH0461049U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0461049U JPH0461049U JP10455090U JP10455090U JPH0461049U JP H0461049 U JPH0461049 U JP H0461049U JP 10455090 U JP10455090 U JP 10455090U JP 10455090 U JP10455090 U JP 10455090U JP H0461049 U JPH0461049 U JP H0461049U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- ray diffraction
- ray detector
- ray
- scanning
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例の平面配置図、第
２図は別の実施例の外観を示す斜視図、第３図は
第２図の装置の側面断面図、第４図は従来の装置
の平面配置図である。 ４……試料、１０……Ｘ線検出器、１６……装
置前面。
２図は別の実施例の外観を示す斜視図、第３図は
第２図の装置の側面断面図、第４図は従来の装置
の平面配置図である。 ４……試料、１０……Ｘ線検出器、１６……装
置前面。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 試料を中心としてＸ線検出器を回転走査する形
式のＸ線回折装置において、 前記Ｘ線検出器は、装置前面から見て試料の手
前に来ることなく、試料の後方空間だけを回転走
査することを特徴とするＸ線回折装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10455090U JPH0461049U (ja) | 1990-10-05 | 1990-10-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10455090U JPH0461049U (ja) | 1990-10-05 | 1990-10-05 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0461049U true JPH0461049U (ja) | 1992-05-26 |
Family
ID=31849873
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10455090U Pending JPH0461049U (ja) | 1990-10-05 | 1990-10-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0461049U (ja) |
-
1990
- 1990-10-05 JP JP10455090U patent/JPH0461049U/ja active Pending