JPH0456516A - Error check circuit and a/d converter - Google Patents
Error check circuit and a/d converterInfo
- Publication number
- JPH0456516A JPH0456516A JP16766190A JP16766190A JPH0456516A JP H0456516 A JPH0456516 A JP H0456516A JP 16766190 A JP16766190 A JP 16766190A JP 16766190 A JP16766190 A JP 16766190A JP H0456516 A JPH0456516 A JP H0456516A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- error
- circuit
- output
- data
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 59
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 30
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 14
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 44
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000013481 data capture Methods 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明4友 半導体電子回路のエラー検出回路及びA/
D変換器に関するものであム
従来の技術
(1)従来のマトリックス型エンコーダの一例として、
第10図に3ビツトのバイナリコードのマトリックス型
エンコーダの一例を示す。図において、 101、10
2、103はコーディング用ビットIL 104は定
電流源であもこのエンコーダは 入力信号7本のうち1
本だけH(高電血 以後このように記す)が入力されそ
れによりビット線をコーディングすa 例えば入力2が
Hで他が全てL(低電像 以後このように記す)の場合
ビット線102だけがHとなり、出力は[010](
[出力3、2、1]の順)となも しかしなが収 この
マトリックス型エンコーダの入力に接続された前段の回
路のエラー等により、マトリックス型エンコーダにエラ
ー入力がおこなわれる場合が時々発生する。例えば 今
、入力3がHとなって[011]が出力されているとす
ム 次の入力信号で、入力4がHとなり入力3がLとな
るべきとこへ 入力3の立ち下がりが遅くて入力3、4
が二つ共にHとなって入力されるエラーが発生したとす
ると、出力は[111]となり実際の正しい出力である
[100]に対して、十進数でいえば3の大きなエラー
となってしまう。このようなエラ一対策として、例えば
A/D変換器の中で使用されるマトリックス型エンコー
ダ等では コーディングにバイナリコードではなくグレ
イコードを用いてエラーを軽減する方法がよく使用され
も
第11図に3ビツトのグレイコードのマトリックス型エ
ンコーダの一例を示す。各構成要素は第10図と同様で
あるので、同一番号を付して詳しい説明を省略すも 第
11図において、上記のようなエラーが起こった場合、
すなわ板 本来入力4だけがHで他はすべてしてあるべ
きとこへ 入力3、4の二つが共にHとなったとすると
出力は[110]となる力丈 これは入力4だけがHの
ときの出力[110]と一致するためエラーとはならな
(℃ 逆く 入力3だけがHとなるべきとこへ入力3.
4が共にHとなった場合には出力は[110コとなり、
本来の正しい出力である[010]にたいしてエラーと
なる力丈 十進数に直した場合、わずか1のエラーでし
かな(℃ このよう圏 グレイコードはバイナリコード
に比較して、入力信号の上下のデータの混合に対してエ
ラーを軽減するのに非常に効果があり、エラ一対策とし
てよく用いられも また グレイコードは入力信号の上
下のデータの混合には効果がある力丈 入力信号が損失
した場合には全く0となってしまうたべ このような場
合の対策として入力信号を2本Hにしてコーディングす
る方法(特許出願番号62−105138)もあ4
第12図にこの方法の一例を示す。各構成要素は第10
医 第11図と同様であるので、同一番号を付して詳し
い説明を省略すも 第12図において、入力信号は前後
の2本がHとなってコーディングを行う。例えば 第1
1図の例において(よ入力4がHとなったとき出力は[
110]、入力5がHとなったとき出力は[111]
となる力丈第12図の例で(表 入力3、4が二っHと
なって出力が[110]、入力4、5がHとなって出力
が[111] とな4 このように入力信号が二っHと
なってコーディングをおこなうた数 入力信号の損失が
おこったとしても二つ同時に損失する確率は非常に少な
いか収 どちらか残った方の入力信号でコーディングさ
れ出力が全く0となってしまうのを防止でき4 例え(
L 今、入力4、5がHとなって[111]が出力され
るべきとこへエラーがおこって入力4がLとなってしま
ったとしても入力5でコーディングされるた数 出力は
[101]となって正しい値に対し十進数に直せばわず
か1のエラーでしかなt、X。[Detailed Description of the Invention] Industrial Field of Application Four Friends of the Present Invention Error detection circuit and A/D for semiconductor electronic circuits
Related to D converter: Conventional technology (1) As an example of a conventional matrix encoder,
FIG. 10 shows an example of a 3-bit binary code matrix encoder. In the figure, 101, 10
2, 103 is the bit IL for coding 104 is a constant current source This encoder is one of the seven input signals
Only the book inputs H (high voltage, written like this from now on) and codes the bit line accordingly. For example, if input 2 is H and all others are L (low electricity, written like this from now on), only bit line 102 is input. becomes H, and the output is [010](
[Outputs 3, 2, 1] (in the order of output 3, 2, 1)) However, there are cases where an error input is made to the matrix encoder due to an error in the previous stage circuit connected to the input of this matrix encoder. . For example, if input 3 is now H and [011] is being output, then with the next input signal, input 4 will become H and input 3 will become L. Input 3 falls slowly and input 3, 4
If both become H and an input error occurs, the output will be [111], which is a large error of 3 in decimal compared to the actual correct output of [100]. . As a countermeasure against such errors, for example, in matrix encoders used in A/D converters, a method is often used to reduce errors by using Gray code instead of binary code for coding, as shown in Figure 11. An example of a 3-bit Gray code matrix encoder is shown. Since each component is the same as in Fig. 10, the same number will be given and detailed explanation will be omitted. However, in Fig. 11, if the above error occurs,
In other words, the board is originally where only input 4 is H and everything else is. If both inputs 3 and 4 are H, the output will be [110]. This is when only input 4 is H. It is not an error because it matches the output [110] of (℃) On the contrary, when only input 3 should be H, input 3.
When both 4 become H, the output becomes [110,
The power of an error compared to the original correct output [010] When converted to a decimal number, there is only an error of 1 (℃) Gray code, compared to binary code, Gray code is very effective in reducing errors when mixing data, and is often used as a countermeasure against errors.Also, Gray code is effective in mixing data above and below the input signal.When the input signal is lost As a countermeasure for such a case, there is a method of coding the input signal with two H signals (patent application number 62-105138).4 Figure 12 shows an example of this method. The component is the 10th
Since it is the same as that in FIG. 11, the same numbers are given and detailed explanation is omitted. In FIG. 12, the input signals are encoded with the front and rear two input signals being H. For example, the first
In the example in Figure 1, when input 4 becomes H, the output is [
110], when input 5 becomes H, the output is [111]
In the example of Figure 12, inputs 3 and 4 become H and the output is [110], and inputs 4 and 5 become H and the output is [111]. The number of times when the signal becomes 2 H and coding is performed Even if a loss of input signals occurs, the probability of losing both signals at the same time is very small or even.The remaining input signal is coded and the output is completely 0 4. Example (
L Now, even if an error occurs and input 4 becomes L when inputs 4 and 5 should be H and [111] is output, the number coded by input 5 will be the output [101] So, if you convert the correct value to a decimal number, there will only be an error of 1, t,X.
以上のように 従来マトリックス型エンコーダのエラ一
対策としては コーディングの方法を工夫することで対
応してい九
(2)従来の並列型A/D変換器の一例として、第7図
に並列型A/D変換器の構成図を示す。同図において、
71は基準電圧発生同区 72はコンパレータ列173
は論理回路夕1上 74はマトリックス型エンコーダ、
75はグレイバイナリ変換同区 76は出力バッファ
であ4
以上のように構成された並列型A/D変換器において、
まず基準電圧と入力電圧の比較をコンパレータ列72で
おこなった後、入力電圧の基準電圧に対する電位レベル
を論理回路列73で検出してマトリックス型エンコーダ
74で−Hグレイコードにコーディングしてか収 グレ
イバイナリ変換回路75でバイナリコードに直して、出
力バッフ776から出力されも エンコーダのコーディ
ングエラーを軽減するためへ グレイコードを用いるの
が一般的である力丈 エンコーダで直接バイナリコード
にコーディングして出力する場合もあム
発明が解決しようとする課題
(1)しかしなが収 従来の技術(1)に記載されたコ
ーディングの工夫のみによるエラ一対策しかとっていな
いマトリックス型エンコーダにおいて(戴 出力データ
が正常な値かどうか判断できないた数 エラーの起こっ
た値であっても正しい値だとして認識されるという課題
を有していたグレイコードを用いた場合 正しい入力信
号の前後の信号の混合にはかなり効果がある力丈 それ
以外の信号の混合が起こった場合には効果がなu%例え
E 第11図の例において正しい入力として入力2が
Hとなるべきとこへ その前後の入力1または入力3が
入力2と共にHとなった場合にζよ出力はいずれの場合
も[011]となってエラー出力とはならない力(入力
2と共に入カフがHとなるような入力エラーが起こった
場合 出力は[111]となって正しい出力に対して、
十進数でいえば3だけ大きく出力されることになる。こ
のように大きなエラーが起こった場合でL 出力された
データからではエラーが含まれているかどうか判断する
手段がなく、その出力されたデータを正しいデータとし
て後続の回路に出力していくか収 後続の回路ではエラ
ーデータに関して対策がたてられなかっ九 このた敦
マトリックス型エンコーダから出力されたエラーデータ
に対して効果的な対策をたてるためににL マトリッ
クス型エンコーダのエラーを検出する回路が必要であっ
九また(2)上述のような従来の並列型A/D変換器で
番ヨ 変換エラーに関して効果的な対策をとっていな
いた数 時折起こる変換エラーのためA/D変換器とし
ての変換特性を大きく劣化させてしまうという課題を存
していた ここで変換エラーと呼ぶの&よ コンパレー
タか次の論理回路あるイハエンコータ入力部のエラーの
ためエンコーダへの入力が正しくない場合のエラーをい
う。従来の技術(1)で説明した第10図の3ビツトの
バイナリコードのマトリックス型エンコーダの例におい
て、今、入力2がHで他が全てLの場合、ビット線10
2だけがHとなり、出力は[010]となも しかしな
か教 コンパレータかあるいは次の論理回路のエラーに
より、入力2のほかに入力6までHとなった場合、 ビ
ット線102、103がHとなり出力としては[110
]となる。この時の変換特性を第9図にしめす。図にお
いて、点線が正しい変換特性で実線が実際の変換特性で
あム 入力電圧がa−bの範囲で上述のエラーが起こっ
た場合を示していも 入力電圧c−dの範囲で(表 第
10図のエンコーダの入力カ丈 正しくは入力6がHと
なるべきとこへ エラーによって全てLとなった場合を
示していも このよう級時折起こる変換エラーによって
、A/D変換器の特性が非常に悪いものとなってしまう
。As mentioned above, errors in conventional matrix encoders can be countered by devising coding methods. (2) As an example of a conventional parallel A/D converter, Fig. The block diagram of a D converter is shown. In the same figure,
71 is the same section where the reference voltage is generated. 72 is the comparator row 173.
is the logic circuit No. 1, 74 is a matrix encoder,
75 is a gray binary conversion block. 76 is an output buffer. 4 In the parallel A/D converter configured as above,
First, the reference voltage and the input voltage are compared by the comparator array 72, and then the potential level of the input voltage with respect to the reference voltage is detected by the logic circuit array 73, and the matrix type encoder 74 encodes it into a -H Gray code. The code is converted into a binary code by the binary conversion circuit 75 and output from the output buffer 776.In order to reduce coding errors in the encoder, it is common to use a Gray code.The code is directly coded into a binary code by the encoder and output. Problems to be Solved by the Invention (1) However, in the case of a matrix encoder that only takes measures against errors by using the coding techniques described in the prior art (1), the output data is normal. When using the Gray code, which had the problem of being recognized as a correct value even if the value had an error, it was quite effective in mixing the signals before and after the correct input signal. In the example of Figure 11, where input 2 should be H as the correct input, input 1 or input 3 before and after it would be If input 2 becomes H, the ζ output will be [011] in any case, and will not be an error output (if an input error occurs such that input cuff becomes H together with input 2, the output will be [011]). 111] and for the correct output,
In decimal terms, the output will be 3 larger. When a large error occurs like this, there is no way to determine whether an error is included from the output data, and there is no way to determine whether the output data is correct and is output to the subsequent circuit. In this circuit, no countermeasures were taken against error data.9 Atsushi Konota
In order to take effective measures against error data output from a matrix encoder, a circuit for detecting errors in the matrix encoder is required. The problem with A/D converters is that no effective countermeasures have been taken to prevent conversion errors.The occasional conversion error causes a significant deterioration of the conversion characteristics of the A/D converter. It is called a conversion error. It is an error that occurs when the input to the encoder is incorrect due to an error in the encoder input section, which is a comparator or the next logic circuit. In the example of the 3-bit binary code matrix type encoder shown in FIG. 10 explained in Prior Art (1), if input 2 is H and all others are L, the bit line 10
However, due to an error in the comparator or the next logic circuit, if not only input 2 but also input 6 becomes H, bit lines 102 and 103 become H. The output is [110
]. The conversion characteristics at this time are shown in FIG. In the figure, the dotted line is the correct conversion characteristic, and the solid line is the actual conversion characteristic. The input power of the encoder shown in the figure is correct when input 6 should be H. Even though it shows the case where all the inputs are L due to an error, the characteristics of the A/D converter are very poor due to conversion errors like this that occasionally occur. It becomes a thing.
本発明はかかる点に鑑へ 効果的なエラ一対策を講じる
ことが可能なマトリックス型エンコーダのエラー検出回
路を提供することを目的とすムまた本発明は並列型A/
D変換器の変換特性を、変換エラーが発生した場合でも
理想的な特性にできるだけ近いものとすることが可能な
A/D変換器を提供することを目的とす4
課題を解決するための手段
上述の課題(1)を解決するた数 本発明(1)は マ
トリックス型エンコーダの各入力信号線に各々ゲートを
接続したゲート素子列及びそのゲート素子列により駆動
される負荷とにより構成され入力電位が論理的に1であ
る前記入力信号線の本数に応じた電位もしくは電流を出
力する電位検出部と、前記電位検出部の出力から電位が
論理的に1である前記入力信号線の本数を判断する回路
とを有することを特徴とするエラー検出回路であムまた
上述の課題(1)を解決するた数 本発明(2)は マ
トリックス型エンコーダの各入力信号線を入力とする加
算器を論理回路で構成し 入力電位が論理的に1である
前記入力信号線の本数を加算によって求めることで、エ
ラーの判断をおこなうエラー検出回路であム
上述の課題(2)を解決するた取 本発明(3)は コ
ンパレータ列の出力 もしくは次の論理回路の出力部に
接続されたエラー検出回路と、そのエラー検出回路から
のエラー信号を受け取ることにより出力データの補正を
行う回路とを有することを特徴とすべ 全並列型もしく
は部分的に並列型の回路構成を持つA/D変換器であ4
作用
本発明は(1)の構成により、負荷と入力信号線1本に
つき1個のゲート素子を用いて、論理的に1である入力
信号線の本数に応じた電位を検出し その電位を簡単な
判別回路を用いて判別することにより、マトリックス型
エンコーダのエラーを検出すム また 本発明は(2)
の構成により、論理回路で加算器を構成しマトリックス
型エンコーダの論理的に1である入力信号線の本数を数
えることにより、エラーの検出をおこなう。In view of the above, an object of the present invention is to provide an error detection circuit for a matrix encoder that can take effective measures against errors.
It is an object of the present invention to provide an A/D converter that can make the conversion characteristics of the D converter as close to ideal characteristics as possible even when a conversion error occurs.4 Means for Solving the Problems The present invention (1) solves the above-mentioned problem (1).The present invention (1) is composed of a gate element array whose gate is connected to each input signal line of a matrix type encoder, and a load driven by the gate element array. a potential detection unit that outputs a potential or current corresponding to the number of input signal lines whose potential is logically 1; and a potential detection unit that determines the number of input signal lines whose potential is logically 1 based on the output of the potential detection unit. The present invention (2) is an error detection circuit characterized by having a circuit that solves the above-mentioned problem (1). An approach to solving the above-mentioned problem (2) is to provide an error detection circuit configured with a circuit and determining an error by adding up the number of input signal lines whose input potential is logically 1.The present invention (3) is characterized by having an error detection circuit connected to the output of the comparator array or the output of the next logic circuit, and a circuit that corrects the output data by receiving the error signal from the error detection circuit. Tosube is an A/D converter with a fully parallel or partially parallel circuit configuration.
Effect of the present invention With the configuration (1), the present invention uses one gate element for each load and input signal line to detect a potential corresponding to the number of input signal lines that is logically 1, and easily calculate the potential. The present invention also provides (2)
With this configuration, errors are detected by forming an adder using a logic circuit and counting the number of input signal lines that are logically 1 in the matrix encoder.
本発明は(3)の構成により、エラー検出回路と、その
出力によって制御されるデータ補正手段を有することに
より、変換エラーが起こった場合にそのエラーデータを
出力させすく 補正を加えた変換データを出力させるこ
とにより、A/D変換器の変換特性を理想的なものにで
きるだけ近いものとすム
実施例
(実施例1)
第1図は 本発明の第1の実施例における並列型A/D
変換器に用いられる3ビツトのマトリックス型エンコー
ダの入力エラー検出回路を示すものであム 11はA/
D変換器のコンパレータタ1上12はコンパレータ列1
1の出力から入力電位の位置を判断する論理回路Tl1
113はマトリックス型エンコーダであ、% 14は
エンコーダの入力信号を受けるNチャネルMO8FET
である。8個のNチャネルMO3FET14と、抵抗器
15により、各入力信号を電流で加算して出力電位を決
める電位検出部19を構成しており、その出力をコンパ
レータ16、17とNAND論理回路18でエラーかど
うかの判断を行う論理回路部20を構成していも
以上のように構成された本実施例のエラー検出回路につ
いて、以下その動作を説明すムここで、抵抗器15の抵
抗値をR,NチャネルMO8FET14のゲートに信号
線からHの信号が入ったときに流れるドレイン電流の値
をIN、Lの信号が入ったときに流れるドレイン電流の
値をILとすム このとき、 IN>ILである。今、
エンコーダの入力信号線のうち1本だけがHとなってコ
ーディングを行うとして、それ以外はエラーであるとす
ム 正常な場合、エンコーダの入力信号線のうち1本だ
けがHとなり、他はすべてしてあるため抵抗器15には
(IH+7IL)だけ電流がながれるたヘ コンパレー
タ16、17に接続された端子にはR(I14+7IL
)の電位が検出されも コンパレータ16、17は 図
において上側の端子が下側の端子に比べて高電位の場合
に出力がHとなるように設定されており、コンパレータ
16の上の端子にはVTHの電位力(コンパレータ17
の下の端子にはVTLの電位がそれぞれ与えられている
とすム ここで、
R(IN+7 IL) <VTH<R(2IH+6 I
L)8RIL<VTL<R(IN+7 IL)であると
すa 正常の場合において(よ 電位検出部19で検出
される電位はR(IN+7IL)であるた数 コンパレ
ータ16、17i表 どちらも上側の端子が高電位とな
るため出力は両方Hとなり、NAND論理回路18の出
力はLとなも ここで入力信号線のうち2本以上がHで
あるようなエラー信号が入力されたとすると、電位検出
部19で検出される電位はR(2In+6 IL)以上
になるた敢 コンパレータ16の出力はLとなりコンパ
レータ17の出力はHであるからNAND回路18の出
力はHとなってエラーであると判別できも次1 入力信
号線が全部してあるような入力エラーがおこったとする
と、電位検出部で検出される電位は8RILとなるた数
コンバレ、−夕16.17の両方とも出力がLとなり
、NAND論理回路18の出力はHとなってこの場合も
エラーであると判別できも
また 入力信号のうち2本がHとなってコーディングを
おこなうようなエンコーダであった場合にC友
R(2IN+ 6 IL) <VTH<R(3IH+
5 IL)R(IN+ 7 I L) <VTL<R
(2I++ 6 IL)となるようにVTH,VTLを
設定すればよく、その他の場合でもVTH,VTLの設
定を変えることで対応できも 今回の第1図の実施例の
場合、処理速度としては論理回路2ゲ一ト分とMOSF
ETを1ゲ一ト通過する時間があればよく、素子数でも
論理回路3ゲ一ト分とMOSFET8個及び抵抗1個で
構成できも エンコーダのビット数がさらに増えるにつ
れて、今回の発明では 素子数としては入力信号線1個
につきMOSFET1個増えるのみであり、処理速度と
してL 通過するゲート数は変わらないのでほとんど遅
くなることはな1、%
以上のようζへ 本実施例によればHである信号線の
本数の検出を、MOSFET14と抵抗15を用いて一
旦電流で加算した檄 電圧で処理することにより、簡単
な構成で高速にエラー検出が可能となム な耘 本実施
例ではゲート素子としてMOSFETを用1.% 負
荷として抵抗器を用いたカ(ゲート素子としては例えは
バイポーラ等で実施可能であり、負荷として他の回路
で構成できも
(実施例2)
第2図GEL 本発明の第2の実施例における並列型
A/D変換器に用いられる3ビツトのマトリックス型エ
ンコーダの入力エラー検出回路を示すものであム 21
は論理回路列12の出力のエラーを検出するためのエラ
ー検出同区 22はエラー検出回路21を構成するため
の全加算器 23は同じく半加算器であム 他の構成は
第1図と同様であるの六 同一構成部分には同一番号を
付して詳しい説明を省略すも 第5図に全加算器の一例
を、第6図に半加算器の一例を示す。両図において、5
1はAND論理回区 52は排他的論理回m 53は
OR論理回路であム 加算器に関して!よ 既知の技術
であるので詳しい説明を省略すも以上のように構成され
たエラー検出回路において、その動作を説明すも 3ビ
ツトのエンコーダの入力信号線は8本ス そのうち1本
だけがHとなることによりコーディングをおこなうとす
ると、エラー検出回路21への8本の入力線のうち1本
だけがHの時が正常でそれ以外はエラーとして検出すa
この場合、エラー検出論理回路21として1ビツト8
入力の加算器を構成しており、この出力端子lだけがH
で他の出力端子が全てLの場合のみ正常で、他は全てエ
ラーとして認識されも例えば エンコーダ13への入力
線のう板 2本がHとなればエラー検出回路21の出力
2がHで他がすべてLとなってエラーとして検出できも
また 入力線がHとなるのが3本までであれば出力1お
よび出力2で検出でき、出力3、4は計算する必要がな
いたべ その分の論理回路を省略できも −船釣く 正
常な回路において一本だけHの入力信号でコーディング
するとこへ 4零以上Hとなるようなエラーがおこる可
能性は極めて低く、出力1および出力2だけ計算すれば
十分だと考えられも
以上のよう艮 本実施例によればHである信号線の本数
の検出を、論理回路による加算器で加算することにより
、エラー検出が可能となも な耘実施例1及び実施例2
においてはA/D変換器に用いられるマトリックス型エ
ンコーダのエラー検出回路であった力交 特にA/D変
換器に関わらず、他のシステムで用いられるマトリック
ス型エンコーダにおいてL 本発明であるエラー検出回
路は使用可能であム
(実施例3)
第3図(友 本発明の一実施例における並列型A/D変
換器の構成図であも 同図において、 37はエラー検
出同区 38は出力データ補正回路であム 他の構成は
第7図と同様であるので、同一構成部分には同一番号
を付して詳細な説明を省略す4 以上のように構成され
た本実施例のA/D変換器について、以下その動作を説
明すもまず、正常な変換がおこなわれエラー検出回路3
7でエラー検出がおこなわれなかった場合 グレイバイ
ナリ変換回路75から送られてきた変換データを、出力
データ補正回路38では全く補正をおこなわ哄 そのま
ま出力バッファ76に送つて出力する。次に 変換エラ
ーがおこった場合、エラー検出回路37でエラーが検出
されてエラー信号が出力データ補正回路38に送られも
エラー信号を受け取ると、出力データ補正回路38で
ζよ グレイバイナリ変換回路75から送られてきた変
換データに 適当な補正を加えた後出力バッファ76に
送って出力させも このようにすれば時折起こる変換エ
ラーによってL 第9図の従来例の特性図のよう艮 大
きく変換特性を悪化させることなく、理想的特性に近い
特性を得ることが出来も
以上のよう番ζ 本実施例によればA/D変換器のエ
ラーがおこった時を検出して、そのエラーデータに適当
な補正を加えることにより、大きな変換エラーを防ぎ、
理想的特性に近い変換特性が得られも
(実施例4)
第4図41 本発明の一実施例における並列型A/D
変換器の構成図であム 同図において、 37はエラー
検出同区 48はデータ記憶同区49は出力制御回路で
あム 他め構成は 第7図と同様であるので、同一構成
部分には同一番号を付して詳細な説明を省略す4 以上
のように構成された本実施例のA/D変換器について、
以下その動作を説明すも
まず、正常な変換がおこなわれエラー検出回路37でエ
ラー検出がおこなわれなかった場合、データ記憶回路4
8ではエラー検出されなかった変換データを記憶し 出
力制御回路49ではその変換データをそのまま出力すム
その次の変換でエラーが起、った場合 エラー検出回
路37でエラーが検出されてエラー信号がデータ記憶回
路48と出力制御回路49に送られも データ記憶回路
48で(瓜 エラー信号が入った場合その変換データを
記憶せず、その前のデータを保持し続けも出力制御回路
49で(主 エラー信号を受け取ると、そのときの変換
データを出力せずにデータ記憶回路48で記憶されてい
黴 一つ前の変換データを出力バッファ76に出力すも
すなわ−& A/D変換器の動作としてC友 正
常な変換が行われた時にはそのまま変換データを出力し
変換エラーが起こった時にはその変換データを出力せ
ずに その一つ前の変換データを出力するように動作す
ムなおエラー検出回路37の構成についてζ友 第1図
のエラー検出回路力\ あるいは第2図で構成できる力
(その他にも適当な回路で実現可能であムまた データ
記憶回路48(上 −回分の変換データを記憶できれば
よく、わずかなメモリ回路で構成できるた八 素子数の
増加もわずかに抑えられも また 通常出力バッファ7
6にデータラッチ機能を含ませることが多い力(データ
取り込みをここで禁止することでも実現可能であり、こ
のような構成をとることで、素子数の増加もなく簡単に
構成できる。出力制御回路49についてL ビット数分
のスイッチ回路と、エラー信号を受けてスイッチを切り
換える制御回路があればよいので、素子数的にも大きな
負担とはならないので、今回のシステム構成に関しては
簡単な回路で構成できも 本実施例のA/D変換器の変
換特性を第8図に示す。点線が理想的A/D変換器の変
換特性て実線が本実施例の変換特性であも 第9図の従
来例の特性図のよう艮 入力電圧a−bとc−dの範囲
で同じようなエラーが起こったとしている力(この場合
エラーが起こったとしても正しい変換値からI LSB
Lかずれておらず、第9図の従来例の特性に比較して非
常になめらか頓 理想曲線に近い特性となム 今回の発
明でc友 A/D変換器の入力がこのようになめらかに
変化するような信号である場合非常に有効であり、例え
ば画像信号に用いられる場合などに効果がある。According to the configuration (3), the present invention includes an error detection circuit and a data correction means controlled by the output of the error detection circuit, so that when a conversion error occurs, the error data can be outputted. Embodiment (Embodiment 1) Fig. 1 shows a parallel A/D converter in the first embodiment of the present invention.
This figure shows an input error detection circuit for a 3-bit matrix encoder used in a converter.
Comparator data 1 and 12 of the D converter are comparator row 1
Logic circuit Tl1 that determines the position of the input potential from the output of
113 is a matrix encoder, and %14 is an N-channel MO8FET that receives the input signal of the encoder.
It is. Eight N-channel MO3FETs 14 and a resistor 15 constitute a potential detection unit 19 that determines the output potential by adding each input signal with current, and the output is detected by comparators 16 and 17 and a NAND logic circuit 18 to detect errors. The operation of the error detection circuit of this embodiment configured as described above will be explained below. Let IN be the value of the drain current that flows when an H signal is input from the signal line to the gate of N-channel MO8FET14, and IL be the value of the drain current that flows when an L signal is input.In this case, IN>IL. be. now,
Suppose that only one of the input signal lines of the encoder becomes H and coding is performed, and the others are an error. In a normal case, only one of the input signal lines of the encoder becomes H and all others Because of this, a current of (IH+7IL) flows through the resistor 15, and a current of R(I14+7IL) flows through the terminals connected to the comparators 16 and 17.
) Even if the potential of VTH potential force (comparator 17
If the potential of VTL is applied to each of the lower terminals, then R(IN+7 IL) <VTH<R(2IH+6 I
L) If 8RIL<VTL<R(IN+7IL), then a In normal case, the potential detected by the potential detection section 19 is R(IN+7IL).Comparators 16 and 17i table Both upper terminals becomes high potential, both outputs become H, and the output of the NAND logic circuit 18 becomes L. If an error signal is input in which two or more of the input signal lines are H, then the potential detection section The potential detected at 19 must be equal to or higher than R (2In+6 IL). Since the output of comparator 16 is L and the output of comparator 17 is H, the output of NAND circuit 18 is H and it can be determined that there is an error. Next 1 If an input error occurs in which all the input signal lines are connected, the potential detected by the potential detection section will be 8RIL. The output of circuit 18 becomes H, and in this case as well, it can be determined that there is an error.However, if two of the input signals become H and the encoder performs coding, then C friend R (2IN + 6 IL) <VTH<R(3IH+
5 IL) R(IN+ 7 IL) <VTL<R
(2I++ 6 IL), and other cases can also be handled by changing the VTH and VTL settings.In the case of the example shown in Figure 1, the processing speed is Circuit 2 gates and MOSF
It only takes time for one gate to pass through the ET, and the number of elements can be configured with three logic circuit gates, eight MOSFETs, and one resistor. As a result, only one MOSFET is added for each input signal line, and the processing speed is L. Since the number of gates passing through remains the same, there is almost no slowdown of 1.% As shown above, ζ is H. By processing the detection of the number of signal lines using a voltage that is once added with a current using a MOSFET 14 and a resistor 15, it is possible to detect errors at high speed with a simple configuration.In this example, as a gate element Using MOSFET 1. % A resistor can be used as a load (for example, the gate element can be implemented with a bipolar circuit, etc., and the load can be configured with another circuit (Example 2). Figure 2 GEL Second example of the present invention 21 shows an input error detection circuit for a 3-bit matrix encoder used in a parallel A/D converter.
22 is a full adder for configuring the error detection circuit 21. 23 is also a half adder.Other configurations are the same as in FIG. 1. 6 Identical components are given the same numbers and detailed explanations are omitted. FIG. 5 shows an example of a full adder, and FIG. 6 shows an example of a half adder. In both figures, 5
1 is an AND logic circuit, 52 is an exclusive logic circuit, and 53 is an OR logic circuit.Regarding the adder! Since this is a known technology, detailed explanation will be omitted, but the operation of the error detection circuit configured as above will be explained.The 3-bit encoder has eight input signal lines, only one of which is If you try to perform coding based on the following, when only one of the eight input lines to the error detection circuit 21 is H, it is normal, and otherwise it is detected as an error.
In this case, 1 bit 8 is used as the error detection logic circuit 21.
It constitutes an input adder, and only this output terminal l is H.
It is normal only when all other output terminals are L, and all others are recognized as errors. For example, if two input wires to the encoder 13 are H, output 2 of the error detection circuit 21 is H and others are recognized as errors. If all of the input lines become L, it can be detected as an error, but if up to three input lines become H, it can be detected at output 1 and output 2, and there is no need to calculate outputs 3 and 4. Even if the circuit can be omitted, in a normal circuit, only one H input signal is used for coding.The possibility of an error that results in 4 or more H is extremely low, so only output 1 and output 2 should be calculated. However, according to the present embodiment, it is possible to detect errors by detecting the number of H signal lines and adding them using an adder using a logic circuit. 1 and Example 2
In particular, the error detection circuit of the present invention is an error detection circuit for a matrix encoder used in an A/D converter. can be used (Embodiment 3) Figure 3 (Friend) is a configuration diagram of a parallel A/D converter in an embodiment of the present invention. Since the other configurations are the same as those in FIG. 7, the same components are given the same numbers and detailed explanations are omitted. 4 The A/D of this embodiment configured as above The operation of the converter will be explained below. First, if a normal conversion is performed, the error detection circuit 3
If error detection is not performed in step 7, the output data correction circuit 38 does not perform any correction on the converted data sent from the gray binary conversion circuit 75 and directly sends it to the output buffer 76 for output. Next, when a conversion error occurs, the error detection circuit 37 detects the error and sends an error signal to the output data correction circuit 38. When the error signal is received, the output data correction circuit 38 converts the signal to ζ. After making appropriate corrections to the conversion data sent from the converter, it can be sent to the output buffer 76 and output.If this is done, conversion errors that occur occasionally will cause the conversion characteristics to become large, as shown in the characteristic diagram of the conventional example in Figure 9. As described above, it is possible to obtain characteristics close to ideal characteristics without deteriorating the characteristics.According to this embodiment, it is possible to detect when an error occurs in the A/D converter, and apply appropriate information to the error data. By adding appropriate corrections, large conversion errors can be prevented,
Although conversion characteristics close to ideal characteristics can be obtained (Example 4) Fig. 4 41 Parallel type A/D in an example of the present invention
This is a configuration diagram of the converter. In the figure, 37 is an error detection section, 48 is a data storage section, and 49 is an output control circuit.The other configurations are the same as in FIG. 7, so the same components are 4. The A/D converter of this embodiment configured as described above has the same number and its detailed explanation is omitted.
The operation will be explained below. First, if normal conversion is performed and no error is detected by the error detection circuit 37, the data storage circuit 4
8 stores the converted data for which no error was detected, and the output control circuit 49 outputs the converted data as is.If an error occurs in the next conversion, the error detection circuit 37 detects an error and outputs an error signal. If an error signal is sent to the data storage circuit 48 and the output control circuit 49, the data storage circuit 48 (main) does not store the converted data and continues to hold the previous data, but the output control circuit 49 (main When an error signal is received, the current conversion data is not output, but stored in the data storage circuit 48.The previous conversion data is output to the output buffer 76.In other words, the operation of the A/D converter As a C friend, when a normal conversion is performed, the converted data is output as is, and when a conversion error occurs, the error detection circuit operates so as to output the previous converted data without outputting the converted data. Regarding the configuration of 37, the error detection circuit power shown in Figure 1 or the power that can be configured as shown in Figure 2 (it can also be realized with an appropriate circuit). If possible, it can be configured with a small number of memory circuits, and the increase in the number of elements can be suppressed slightly.Also, the normal output buffer7
6 often includes a data latch function (this can also be achieved by prohibiting data capture here, and by adopting this configuration, the configuration can be easily configured without increasing the number of elements.Output control circuit Regarding 49, all we need is a switch circuit for the number of L bits and a control circuit that switches the switches in response to an error signal, so it does not impose a large burden on the number of elements, so the system configuration this time is configured with a simple circuit. The conversion characteristics of the A/D converter of this example are shown in Figure 8.The dotted line is the conversion characteristic of an ideal A/D converter, and the solid line is the conversion characteristic of this example. As shown in the example characteristic diagram, it is assumed that a similar error occurs in the range of input voltages a-b and c-d (in this case, even if an error occurs, the correct converted value is I LSB
L does not deviate, and the curve is very smooth compared to the characteristics of the conventional example shown in Figure 9.The characteristics are close to the ideal curve.With this invention, the input to the A/D converter can be made smooth like this. This method is very effective when the signal changes, and is effective when used as an image signal, for example.
以上のよう圏 本実施例によればA/D変換器のエラー
が起こった時を検出して、そのエラーデータのかわりに
その一つ前の変換データを出力することにより、大き
な変換エラーを防ぎ、なめらかな変換特性が得られも
(実施例5)
第13図ζよ 本発明の一実施例における並列型A/D
変換器の構成図であム 同図において、 37はエラー
検出同格 131は演算同区 132.133、134
はデータラッチ回路 135は出力制御回路であ4 他
の構成Cヨ 第7図と同様であるので、同一構成部分
には同一番号を付して詳細な説明を省略する。以上のよ
うに構成された本実施例のA/D変換器について、以下
その動作を説明すも
まず、グレイバイナリ変換回路75から出た変換データ
はデータラッチ回路132に入り、クロックにより13
3、134と順次移動して出力制御回路135を通り、
出力バッファ76から出力されも ここで、エラー検出
回路37によりエラーが検出されたとすると、そのエラ
ーデータがデータラッチ回路133に来た時に 演算回
路131ではデータラッチ回路132と134にあるデ
ータを取り込a この隊 134には133にあるエラ
ーデータの一つ前の変換データが保持されており、 1
32には一つ後の変換データが保持されていも そして
、演算回路131でCヨ 取り込んだ二つのデータの
平均値を計算すム そして、クロックによりエラーデー
タがデータラッチ回路134に移動した時に 出力制御
回路135ではスイッチを切り換えて134にあるエラ
ーデータを出力バッファに送らずに演算回路131で計
算したエラーデータの前後のデータの平均値を出力バッ
ファに送って出力する。演算回路131 C&エラー信
号が検出された時だけ演算をおこなってもよい力(エラ
ーの有無にかかわらず常に演算を行1.% エラー信
号によって出力制御回路135でどちらのデータを出力
するか選択するようにした方が制御が簡単であム 本実
施例の変換出力特性を第14図に示す。横軸が時間で、
縦軸が変換出力であ&a−b間とc−d間でエラーがお
こったとして、a−b間のようにその前後でデータが単
調に変化するばあいにζ友 今回の発明で完全に補正で
き4cmd間で3表 正しい変換出力が6であるとして
、前後の平均をとった場合5となり、正しいデータにた
いしてかなり近い値となム 変化のかなり激しいデータ
に対しては 今回の補正では正しいデータに対してかな
り異なる場合も考えられる力交 その場合にζよ 例え
ば 補正のための前後のデータ数を増やして、データの
傾向を判断して単なる平均値ではなく重み付けをして計
算するというように補正の方法を変えることも可能であ
る力(演算回路131がかなり複雑になるのと、データ
ラッチ回路の段数を増やす必要があも画像信号のように
入力データがゆるやかに変化するような信号の場合に
は 平均値をとるだけでもかなりの効果が期待できる。As described above, according to this embodiment, large conversion errors can be prevented by detecting when an error occurs in the A/D converter and outputting the previous conversion data instead of the error data. , although smooth conversion characteristics can be obtained (Example 5).
This is a configuration diagram of the converter. In the figure, 37 is an error detection apposition, 131 is an operation apposition 132, 133, 134
135 is a data latch circuit; 135 is an output control circuit; and 4. Other configurations are similar to those shown in FIG. The operation of the A/D converter of this embodiment configured as described above will be explained below. First, the converted data output from the gray binary conversion circuit 75 enters the data latch circuit 132, and the data is input to the data latch circuit 132 by the clock.
3, 134 and pass through the output control circuit 135,
Here, if the error detection circuit 37 detects an error, when the error data reaches the data latch circuit 133, the arithmetic circuit 131 takes in the data in the data latch circuits 132 and 134. a This unit 134 holds the conversion data immediately before the error data in 133, and 1
Even if the next conversion data is held in 32, the arithmetic circuit 131 calculates the average value of the two captured data.Then, when the error data is moved to the data latch circuit 134 by the clock, it is output. In the control circuit 135, the switch is changed to send the average value of the data before and after the error data calculated by the arithmetic circuit 131 to the output buffer without sending the error data in 134 to the output buffer. Arithmetic circuit 131 C & Power that may perform arithmetic operations only when an error signal is detected (Always perform arithmetic operations regardless of the presence or absence of an error 1.% Select which data is output by the output control circuit 135 depending on the error signal) The conversion output characteristics of this embodiment are shown in Figure 14.The horizontal axis is time;
The vertical axis is the conversion output, and if an error occurs between a and b and between c and d, if the data changes monotonically before and after that, like between a and b, the 3 tables can be corrected for 4 cmd. Assuming that the correct conversion output is 6, if you take the average before and after, it will be 5, which is a value that is quite close to the correct data. For data that changes drastically, this correction will give the correct data. In that case, ζ may be quite different. For example, increase the number of data before and after the correction, judge the tendency of the data, and calculate by weighting rather than just an average value. It is also possible to change the correction method (the arithmetic circuit 131 becomes quite complex and the number of stages of the data latch circuit needs to be increased). In some cases, just taking the average value can be expected to be quite effective.
以上のよう&ζ 本実施例によれii A/D変換器の
エラーが起こった時を検出して、そのエラーデータの前
後のデータを利用して補正を行うことにより、理想特性
に近いなめらかな変換特性が得られも
発明の効果
以上の説明から明かなようく 本発明によれば(1)マ
トリックス型エンコーダの入力エラーの検出を、わずか
な素子数の付加と高速な処理時間でおこなうことができ
、その実用的効果は太き(〜(2)論理回路で加算器を
構成することにより、マトリックス型エンコーダのエラ
ー検出ができ、その実用的効果は太き一一 (3)並列
型A/D変換器の変換エラーの検出をおこなって、エラ
ーデータに適当な補正をくわえることにより、偶発的に
おこる変換エラーによるA/D変換器の変換特性の劣化
を防ぐことができ、その実用的効果は太き(℃As described above, according to this embodiment, ii) By detecting when an error occurs in the A/D converter and performing correction using the data before and after the error data, smooth conversion close to ideal characteristics can be achieved. As is clear from the above description, according to the present invention, (1) input errors in a matrix encoder can be detected with a small number of elements and a high processing time. (2) By configuring the adder with logic circuits, it is possible to detect errors in matrix encoders; By detecting conversion errors in the converter and adding appropriate correction to the error data, it is possible to prevent deterioration of the conversion characteristics of the A/D converter due to accidental conversion errors, and its practical effects are as follows: Thick (℃
第1図は本発明の第1の実施例におけるエラー検出回路
の回略図 第2図は本発明の第2の実施例におけるエラ
ー検出回路の回略図 第3図は本発明の一実施例におけ
る並列型A/D変換器の構成医 第4図は本発明の一実
施例における並列型A/D変換器の構成医 第5図は全
加算器回路の回路a 第6図は半加算器回路の回略図
第7図は従来の並列型A/D変換器の構成医 第8図は
本発明の一実施例における並列型A/D変換器の変換特
性図 第9図は従来の並列型A/D変換器の変換特性図
第10図は従来の3ビツトのバイナリコードのマトリ
ックス型エンコーダの回路医第11図は従来の3ビツト
のグレイコードのマトリックス型エンコーダの回略図
第12図は従来の3ビツトの複合入力のコーディングに
よるグレイコードのマトリックス型エンコーダの回路医
第13図は本発明の一実施例における並列型A/D変換
器の構成医 第14図は本発明の一実施例における並列
型A/D変換器の変換特性図であム14・・・Nチャネ
ルMO8FET、 15・・・抵抗器16.17・・
・コンバレー久 18・・・NAND論理回跋 19・
・・電位検出服 20・・・論理回路訊21・・・エラ
ー検出用論理同区 22・・・全加算器回路23・・・
半加算器回路 37・・・エラー検出回路 38・・・
出力データ補正同区 48・・・データ記憶同区49.
135・・・出力制御同区 131・・・演算同区13
2.133.134・・・データラッチ回臨代理人の氏
名 弁理士 粟野重孝 はか1名第1図
第5図
t
ANf)盲命理口路
OR協浬田賂
第6図
夕!
m−
」
ql
7?
り6
巷準電、L5f:伎1躇
コ〉パし−ク列
1#i理回路
マトリヅクス型エンつ−ダ酊焙
クレイハイすりコート斐棒口3各
山カバ・ノファ
tI人−rシャDの変キ央−1乍L
’10変撲器Q入出力輛A虹
入力を瓦
連票的A10の変朽IH吐
A足末仲tのA/、て′エラーカ゛
匙こ・fct為合の茨↑央牛1傷り
第
図
第10図
A/Q変f+、の入!力竹セし
入力tL
fOf 10ど 103
クーティンg用じノド線
定[ダえ、府、
第11図
EE
70/、101. fl)3
テインゲ用ヒツト濠
FE
10u02.JO3−−−コープインク用ピット柳Iu
−−一定t5北壜
EEFIG. 1 is a schematic diagram of an error detection circuit in a first embodiment of the invention. FIG. 2 is a schematic diagram of an error detection circuit in a second embodiment of the invention. Figure 4 shows the configuration of a parallel type A/D converter in an embodiment of the present invention. Figure 5 shows the circuit of the full adder circuit. schematic diagram
Fig. 7 is a configuration diagram of a conventional parallel type A/D converter. Fig. 8 is a conversion characteristic diagram of a parallel type A/D converter in an embodiment of the present invention. Fig. 9 is a diagram of a conventional parallel type A/D converter. Figure 10 is a circuit diagram of a conventional 3-bit binary code matrix encoder. Figure 11 is a schematic diagram of a conventional 3-bit Gray code matrix encoder.
FIG. 12 shows a circuit diagram of a Gray code matrix encoder based on conventional 3-bit composite input coding. FIG. 13 shows a configuration diagram of a parallel A/D converter according to an embodiment of the present invention. 14... N-channel MO8FET, 15... Resistor 16, 17...
・Convalley Hisashi 18...NAND logic expansion 19・
...Potential detection circuit 20...Logic circuit block 21...Logic circuit for error detection 22...Full adder circuit 23...
Half adder circuit 37...Error detection circuit 38...
Output data correction same section 48...Data storage same section 49.
135... Output control same section 131... Calculation same section 13
2.133.134...Name of Data Latch Visiting Agent Patent Attorney Shigetaka Awano Haka1 person Figure 1 Figure 5 t ANf) Blind Meiriguchi OR Cooperative Orientation Figure 6 Evening! m-” ql 7? ri 6 Street Junden, L5f: 1st place〉Pack row 1#i logic circuit matrix type engine 3 Change Kio-1 乍L '10 Transformation device Q input/output vehicle A rainbow input with a tile combination A10's transformation IH output A foot middle t A/, te' error Kajiko・fct Tamai's thorns ↑ Central cow 1 damage Figure 10 A/Q change f+, entered! Power take setting input tL fOf 10d 103 Cutting g use throat line setting [dae, fu, Fig. 11 EE 70/, 101. fl)3 Human moat FE 10u02. JO3---Pit Yanagi Iu for cop ink
--Constant t5 Kitabo EE
Claims (5)
ゲートを接続したゲート素子列及びそのゲート素子列に
より駆動される負荷とにより構成され、入力電位が論理
的に1である前記入力信号線の本数に応じた電位もしく
は電流を出力する電位検出部と、前記電位検出部の出力
から電位が論理的に1である前記入力信号線の本数を判
断する回路とを有することを特徴とするエラー検出回路
。(1) The number of input signal lines that are composed of a gate element array with a gate connected to each input signal line of the matrix encoder and a load driven by the gate element array, and whose input potential is logically 1. an error detection circuit comprising: a potential detection section that outputs a potential or a current according to the potential detection section; and a circuit that determines the number of input signal lines whose potential is logically 1 from the output of the potential detection section. .
とする加算器を論理回路で構成し、入力電位が論理的に
1である前記入力信号線の本数を加算によって求めるこ
とで、エラーの判断をおこなうエラー検出回路。(2) An adder that receives each input signal line of the matrix encoder as an input is configured with a logic circuit, and the number of input signal lines whose input potential is logically 1 is determined by addition, thereby determining an error. error detection circuit.
出力部に接続されたエラー検出回路と、そのエラー検出
回路からのエラー信号を受け取ることにより出力データ
の補正を行う回路とを有することを特徴とする全並列型
もしくは部分的に並列型の回路構成を持つA/D変換器
。(3) It is characterized by having an error detection circuit connected to the output of the comparator array or the output part of the next logic circuit, and a circuit that corrects the output data by receiving the error signal from the error detection circuit. An A/D converter with a fully parallel or partially parallel circuit configuration.
出力部に接続されたエラー検出回路と、そのエラー検出
回路からのエラー信号が無い場合にはデータを記憶し、
エラー信号がある場合にはデータを記憶せず前のデータ
を保持するデータ記憶回路と、前記エラー検出回路から
のエラー信号が無い場合にはデータをそのまま出力し、
エラー信号がある場合にはそのエラー検出されたデータ
を出力せずに前記データ記憶回路に記憶されているデー
タを出力する出力制御回路を有することを特徴とする特
許請求の範囲第3項記載のA/D変換器。(4) an error detection circuit connected to the output of the comparator array or the output of the next logic circuit; and if there is no error signal from the error detection circuit, store the data;
a data storage circuit that does not store data and retains the previous data when there is an error signal, and outputs the data as it is when there is no error signal from the error detection circuit;
Claim 3, further comprising an output control circuit that outputs the data stored in the data storage circuit without outputting the error-detected data when there is an error signal. A/D converter.
出力部に接続されたエラー検出回路と、そのエラー検出
回路からのエラー信号がある場合に、そのエラー検出さ
れたデータの前後のデータを取り込み、補正のための演
算をおこなう演算回路と、その演算のために必要なエラ
ーデータの前後のデータを一時保持しておくデータ保持
回路と、前記エラー検出回路からのエラー信号がある場
合にはそのエラー検出されたデータを出力せずに前記演
算回路で補正されたデータを出力する出力制御回路を有
することを特徴とする特許請求の範囲第3項記載のA/
D変換器。(5) If there is an error detection circuit connected to the output of the comparator array or the output part of the next logic circuit and an error signal from the error detection circuit, capture the data before and after the error-detected data. , an arithmetic circuit that performs calculations for correction, a data holding circuit that temporarily holds data before and after the error data necessary for the calculation, and an error signal from the error detection circuit, if any. A/C according to claim 3, further comprising an output control circuit that outputs data corrected by the arithmetic circuit without outputting error-detected data.
D converter.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16766190A JPH0456516A (en) | 1990-06-26 | 1990-06-26 | Error check circuit and a/d converter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16766190A JPH0456516A (en) | 1990-06-26 | 1990-06-26 | Error check circuit and a/d converter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0456516A true JPH0456516A (en) | 1992-02-24 |
Family
ID=15853888
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16766190A Pending JPH0456516A (en) | 1990-06-26 | 1990-06-26 | Error check circuit and a/d converter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0456516A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007306302A (en) * | 2006-05-11 | 2007-11-22 | Sony Corp | Encode circuit and analogue-to-digital converter |
-
1990
- 1990-06-26 JP JP16766190A patent/JPH0456516A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007306302A (en) * | 2006-05-11 | 2007-11-22 | Sony Corp | Encode circuit and analogue-to-digital converter |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5917364A (en) | Bi-directional interface circuit of reduced signal alteration | |
US6853098B1 (en) | Communications interface and floating devices including such an interface | |
JPH0125449B2 (en) | ||
JPS6331311A (en) | Variable impedance driving circuit | |
JP2005514595A5 (en) | ||
TWI664639B (en) | Memory Cell Data Processing | |
JPH0222570B2 (en) | ||
KR19980033281A (en) | Non-volatile semiconductor memory having memory cells that store multiple bit information, respectively | |
JPH0456516A (en) | Error check circuit and a/d converter | |
KR100235465B1 (en) | Flash type a/d converter | |
US6377497B2 (en) | Multilevel storage semiconductor memory read circuit | |
CA1124867A (en) | Analog-to-digital converters | |
JPS62120699A (en) | Semiconductor memory device | |
US5018099A (en) | Comparison circuit | |
JPH07106967A (en) | A/d converter | |
JP2003133937A (en) | Bidirectional level converter circuit | |
JP3164697B2 (en) | A / D converter | |
JP3364753B2 (en) | Memory error correction circuit | |
JPH07153279A (en) | Multiple coincidence detecting device | |
US10395703B2 (en) | Column decoder of memory device | |
JP3221127B2 (en) | Analog / digital conversion circuit | |
US6791358B2 (en) | Circuit configuration with signal lines for serially transmitting a plurality of bit groups | |
JPS6282823A (en) | Code converting circuit | |
JP2521850B2 (en) | Same level detection circuit | |
JPH04215318A (en) | A/d converter and d/a converter |