JPH0453187A - Manufacture of printed board - Google Patents

Manufacture of printed board

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JPH0453187A
JPH0453187A JP15751590A JP15751590A JPH0453187A JP H0453187 A JPH0453187 A JP H0453187A JP 15751590 A JP15751590 A JP 15751590A JP 15751590 A JP15751590 A JP 15751590A JP H0453187 A JPH0453187 A JP H0453187A
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JP
Japan
Prior art keywords
resist
copper
plating
hole
solder resist
Prior art date
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Pending
Application number
JP15751590A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Kikuchi
廣 菊池
Makio Watabe
渡部 真貴雄
Isamu Tanaka
勇 田中
Shinichiro Imabayashi
今林 慎一郎
Hitoshi Oka
岡 斉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP15751590A priority Critical patent/JPH0453187A/en
Publication of JPH0453187A publication Critical patent/JPH0453187A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent deterioration in physical properties by emitting a UV light except a specific short wavelength component or less to a desired part, developing it, forming a photosensitive solder resist film, and precipitating copper in a through hole and on a desired part with chemical copper plating solution. CONSTITUTION:A through hole is formed at a desired position of a copper-plated laminated board, activated therein, and a part to become a rotary pattern is covered with resist. Then, a circuit is formed by etching, the resist is removed, the board formed with a circuit is coated with solder resist having plating resistance, preliminarily dried, and a UV light except a short wavelength component of at least 300nm or less is emitted to a desired part. The light is emitted to the desired part in vacuum of 10Torr or less of partial oxygen pressure of the resist surface and inert gas atmosphere, and copper is precipitated in the hole and on the desired part with chemical copper plating solution. Thus, dissolving of the resist in the solution can be prevented, and deterioration of the physical properties of the copper due to dissolving of the resist is prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はプリント基板の製造方法、特に耐めっき性のソ
ルダレジストを所望部に形成した後、化学銅めっきでス
ルーホール部を接続する方式の高密度プリント基板の製
造方法の改善に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method for manufacturing a printed circuit board, and in particular to a method of forming a plating-resistant solder resist on desired parts and then connecting through-hole parts with chemical copper plating. This invention relates to improvements in the manufacturing method of high-density printed circuit boards.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のプリント基板の製造方法の一例は特開昭62−2
95487号公報記載のようなものであり、該公報第1
図に示されるように銅張積層板の所定部に穴あけし、つ
いでスルーホール内を触媒活性化し、ついで回路のパタ
ーンエツチングを行ない、銅箔回路を含む所望部に感光
性ソルダレジスト層を形成し、この基板を化学銅めっき
液中に浸漬し、スルーホール部にのみ化学銅めっきを析
出させるものであった。
An example of a conventional printed circuit board manufacturing method is Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-2
It is as described in Publication No. 95487, and
As shown in the figure, holes are drilled in predetermined parts of the copper-clad laminate, the inside of the through-hole is then activated with a catalyst, and the circuit pattern is then etched to form a photosensitive solder resist layer on the desired part including the copper foil circuit. , this substrate was immersed in a chemical copper plating solution, and chemical copper plating was deposited only on the through-hole portions.

かかる製造方法は、安価で信頼性の良い、高密度なプリ
ント板を大量に製造するのに適した方法であることは周
知であるが、かかる方法を実現するには、化学的に苛酷
な条件の化学鋼めっき液に基板を長時間浸漬する工程で
問題の生じないレジストを用いることが必須となること
も周知である。
It is well known that this manufacturing method is suitable for mass manufacturing inexpensive, reliable, and high-density printed boards, but it requires harsh chemical conditions to realize this method. It is also well known that it is essential to use a resist that does not cause problems during the process of immersing the substrate in a chemical steel plating solution for a long time.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

めっき工程で生じる主要な問題としては、第1に、化学
銅めっきにより回路fJR箔とレジストが剥離してしま
い、ソルダレジストとしての機能をなさなくなる問題で
あり、かかる耐めっき性の問題に対しては、耐めっき性
を有する特殊な組成のレジストを用いるべきであること
が、特開昭62−295487号公報には記載されてい
る。
The main problems that occur in the plating process are, firstly, that the chemical copper plating causes the circuit fJR foil and the resist to peel off, making it no longer function as a solder resist. JP-A-62-295487 states that a resist with a special composition that has plating resistance should be used.

第2の問題としてはレジスト自体が化学銅めっきに溶は
出し、めっき膜の物性を劣化する結果、スルーホールの
接続信頼性を低下してしまう問題があった。かかる問題
は、めっき液に投入する基板の枚数が少ないときには顕
現化せず、基板枚数が増加するとその影響があられれる
傾向があり、基板の大量生産では基板の性能が劣化する
重大な問題であった。
The second problem is that the resist itself dissolves into the chemical copper plating, degrading the physical properties of the plating film and reducing the connection reliability of the through holes. This problem does not become apparent when the number of substrates put into the plating solution is small, and its effects tend to become more pronounced as the number of substrates increases.In mass production of substrates, it is a serious problem that deteriorates the performance of the substrates. Ta.

上記従来技術は、この第2の問題点について解決される
ことがなかった。
The above-mentioned conventional technology has not solved this second problem.

本発明の目的は、化学銅めっき液に溶は出し、物性を劣
化することのないプリント基板の製造力を提供すること
にある。
An object of the present invention is to provide the ability to manufacture printed circuit boards without deteriorating physical properties due to dissolution in a chemical copper plating solution.

本発明の他の目的は、安価で信頼性の高いプリント基板
の提供にある。
Another object of the present invention is to provide an inexpensive and highly reliable printed circuit board.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記課題を解決するための本発明のプリント基板の製造
方法の構成は、銅張積層板の所望の位置にスルーホール
(貫通孔)を形成し、スルーホール内を活性化し、レジ
ストで回路パターンとなる部分を被覆し、エツチングに
より回路を形成し、レジストを除去し、耐めっき性を有
するソルダレジストを回路形成した基板に塗布し、予備
乾燥し、少なくとも3001m以下の短波長成分を除い
たUV(紫外)光を所望部に照射し、およびまたは、レ
ジスト表面の酸素分圧を10Torr以下の真空下およ
び不活性ガス雰囲気でUV光を所望部に照射し、化学銅
めっき液によりスルーホール部および所望部上に銅を析
出させるようにしたことである。
The structure of the printed circuit board manufacturing method of the present invention to solve the above problems is to form a through hole at a desired position in a copper-clad laminate, activate the inside of the through hole, and form a circuit pattern with a resist. A circuit is formed by etching, the resist is removed, a plating-resistant solder resist is applied to the circuit-formed circuit board, pre-dried, and UV ( UV) light is irradiated to the desired area, and/or UV light is irradiated to the desired area under a vacuum with an oxygen partial pressure of 10 Torr or less and an inert gas atmosphere, and the through-hole area and the desired area are removed using a chemical copper plating solution. This is because copper is deposited on top of the parts.

〔作用〕[Effect]

プリント基板の製造工程中のメツキ工程において、感光
性ソルダレジストが化学銅メツキ液中に溶出すことを防
止する方策を検討した。
We investigated measures to prevent the photosensitive solder resist from eluting into the chemical copper plating solution during the plating process during the manufacturing process of printed circuit boards.

まず、使用するレジスト材料の組成を選定することは必
須であるが、製造方法の改善策として以下のことを考案
した。
First, it is essential to select the composition of the resist material to be used, but we devised the following as an improvement to the manufacturing method.

すなわち、化学銅メツキ工程の前のUV(紫外線)光を
用いてレジスト表面を露光する工程において、 (1) 300 nm以下の短波長のUV成分を除いた
UV光を利用する。
That is, in the step of exposing the resist surface using UV (ultraviolet) light before the chemical copper plating step, (1) UV light is used excluding UV components with short wavelengths of 300 nm or less.

(2)UV光の照射にあたり、レジスト表面での酸素分
圧を、10Torr以下の真空下および不活性ガス雰囲
気中で行なう。
(2) UV light irradiation is carried out under a vacuum with an oxygen partial pressure of 10 Torr or less and in an inert gas atmosphere at the resist surface.

以下(1)、 (2)に分けて詳細に説明する。This will be explained in detail below, divided into (1) and (2).

(1)短波長のUV成分の光分解作用は、高エネルギー
のUV光がレジストに吸収され、レジスト骨格がラジカ
ル的に切断されることによるものと推定される。かかる
光切断は、カルボニル基の関与するノリッシュ型の光切
断が原因をなすものと考えられる。
(1) The photodecomposition effect of short-wavelength UV components is presumed to be due to the fact that high-energy UV light is absorbed by the resist and the resist skeleton is radically cut. Such photocleavage is thought to be caused by Norrish type photocleavage involving carbonyl groups.

かかる短波長成分を除いたUV光の露光は、レジストの
形成工程のなかでUV光を露光する工程毎に実施される
べきである。
Exposure to UV light excluding such short wavelength components should be performed in each step of exposing to UV light in the resist forming process.

露光に際してUV光からの300 nm以下の短波長成
分の除去法は、当該業者に周知の技術的手段を用いるこ
とができる。具体的にはUV光の光源とフィルタの選択
である。例えば、高圧水銀ランプやメタルハライドラン
プ等の250 nm程度から可視光までの広い波長成分
を含むUV光源を用い、300 nm以下の成分をカッ
トするフィルタを用いれば良い。経済的に入手できるU
V光源には250 nm程度の短波長成分が大量に含ま
れているが、かかる短波長成分も含まない特殊な光源を
用いればフィルタを使用しなくてすむことも自明である
。300 nm以下の短波長U■酸成分、上述したよう
にレジスト表面の化学結合を切断するため、レジスト表
面は架橋度が低下する。この結果、レジストはアルカリ
性の化学鋼めっき液に著しく溶解しやすくなる。
To remove short wavelength components of 300 nm or less from UV light during exposure, technical means well known to those skilled in the art can be used. Specifically, it is the selection of the UV light source and filter. For example, a UV light source including a wide wavelength component from about 250 nm to visible light, such as a high-pressure mercury lamp or a metal halide lamp, may be used, and a filter that cuts components of 300 nm or less may be used. Economically available U
Although the V light source contains a large amount of short wavelength components of about 250 nm, it is obvious that if a special light source that does not contain such short wavelength components is used, there is no need to use a filter. The acid component has a short wavelength of 300 nm or less, and as described above, cuts the chemical bonds on the resist surface, so the degree of crosslinking on the resist surface decreases. As a result, the resist becomes significantly more soluble in the alkaline chemical steel plating solution.

化学鋼めっきは銅表面の触媒活性を利用したホルムアル
デヒドの酸化反応および銅(II)イオンの還元反応を
主反応とする自己触媒反応である。かかる反応は、めっ
き液中に含まれる微量の有機物の銅めっき表面への吸着
などにより著しく影響を受ける傾向をもっている。
Chemical steel plating is an autocatalytic reaction whose main reactions are the oxidation reaction of formaldehyde and the reduction reaction of copper (II) ions using the catalytic activity of the copper surface. Such reactions tend to be significantly affected by the adsorption of trace amounts of organic matter contained in the plating solution onto the copper plating surface.

したがって、レジストがめつき液に溶解すると光切断に
よるレジストの分解物やレジスト中の未反応有機物がめ
つき液中台まれるようになり、微妙な触媒反応を含む化
学銅めっきの析出に悪影響を与え、銅の物性を著しく劣
化するものと推定される。
Therefore, when the resist is dissolved in the plating solution, the decomposition products of the resist due to photo-cutting and the unreacted organic matter in the resist become trapped in the plating solution, which adversely affects the deposition of chemical copper plating, which involves delicate catalytic reactions. It is estimated that the physical properties of copper will be significantly deteriorated.

本発明では、300 nm以下の成分を含まないUV光
を用いてレジストを形成するため、レジストのめっき液
への溶解を防止でき、レジストの溶は出しによる銅物性
の劣化の問題、すなわちスルーホール信頼性の問題を解
決できるのである。
In the present invention, since the resist is formed using UV light that does not contain components of 300 nm or less, dissolution of the resist in the plating solution can be prevented, and the problem of deterioration of physical properties of copper due to resist dissolution, that is, through-holes, can be prevented. This solves the reliability problem.

(2)めっき液中に浸漬されるレジスト面積が大きいと
スルーホールの接続信頼性が低下し、基板の大量生産が
不可能となる。これは、感光性ソルダレジスト膜を形成
する際に、UV光を所望部のみに照射し、照射部のみレ
ジスト成分中の光重合開始剤により発生したラジカルで
硬化するメカニズムである。ところが、発生したラジカ
ルは酸素と極めて反応しやすく、その結果、ラジカルは
重合開始を行わないまま消失してしまうことになる。す
なわち、感光性レジストを露光する際のレジスト表面で
の酸素濃度が大きければ大きいほどレジストは未硬化と
なる。また、レジストの表面はど、接触する酸素濃度が
大きいため、レジストは未硬化となり、UV光の照射部
でも次の工程の現像で現像液中に表面から溶は出しを生
じる。更に、現像液で溶は難い半硬化部のレジストが表
面に露出される。後のめっき液中への浸漬で、特に半硬
化のレジストは加水分解をおこし易く、その結果、めっ
き液中へレジストが溶は出すものと考えられる。
(2) If the area of the resist immersed in the plating solution is large, the connection reliability of the through holes will decrease, making mass production of substrates impossible. This is a mechanism in which when forming a photosensitive solder resist film, only desired areas are irradiated with UV light, and only the irradiated areas are cured by radicals generated by the photopolymerization initiator in the resist components. However, the generated radicals are extremely likely to react with oxygen, and as a result, the radicals disappear without initiating polymerization. That is, the higher the oxygen concentration on the resist surface when exposing the photosensitive resist, the more uncured the resist becomes. Furthermore, since the surface of the resist comes into contact with a high oxygen concentration, the resist becomes uncured, and even in the UV light irradiated area, the resist bleeds out from the surface into the developer during the next development step. Furthermore, a semi-hardened portion of the resist that is difficult to dissolve with a developer is exposed on the surface. Particularly, semi-hardened resists are likely to undergo hydrolysis during subsequent immersion into the plating solution, and as a result, it is thought that the resist dissolves into the plating solution.

化学鋼めっきは、銅表面の触媒活性を利用したホルムア
ルデヒドの酸化反応および飼(n)イオンの還元反応と
する自己触媒反応である。かかる反応は、めっき液中に
含まれる微少の有機物の銅表面への吸着などにより著し
く影響を受ける傾向を持っている。従って、この時のレ
ジスト溶は出し量が増すとめっき反応を阻害しめっき皮
膜の劣化となる。つまり、スルーホール接続信頼性の低
下につながる。そこで、アルカリ性のめっき液中でのレ
ジストの溶は出し量を低減させるには露光時にレジスト
表面での酸素濃度を低減することで達成できることを新
たに見出し、レジスト表面での酸素分圧を10Torr
以下の高真空下及び不活性ガス雰囲気中であれば大量生
産が十分可能となる。
Chemical steel plating is an autocatalytic reaction that utilizes the catalytic activity of the copper surface to perform an oxidation reaction of formaldehyde and a reduction reaction of (n) ions. Such reactions tend to be significantly affected by the adsorption of minute amounts of organic matter contained in the plating solution onto the copper surface. Therefore, when the amount of resist dissolution at this time increases, it inhibits the plating reaction and causes deterioration of the plating film. In other words, this leads to a decrease in through-hole connection reliability. Therefore, we newly discovered that reducing the amount of resist dissolution in an alkaline plating solution can be achieved by reducing the oxygen concentration on the resist surface during exposure, and the oxygen partial pressure on the resist surface was reduced to 10 Torr.
Mass production is fully possible under the following high vacuum and inert gas atmosphere.

以下、本発明で用いる材料等について詳細に説明する。Hereinafter, the materials used in the present invention will be explained in detail.

本発明で用いる感光性ソルダレジスト組成物はオルト、
イソまたはテレフタル酸のジアリルエステルのプレポリ
マーを含んでなるものである。かかるプレポリマーは、
β−ポリマーとも称され、例えば吉見直善著「ジアリル
フタレート樹脂」、日刊工業新聞社列(昭44)に、そ
のくわしい性質、製造法が記載されている。プレポリマ
ーとして、例えば大阪曹達KKより入手することも可能
である。
The photosensitive solder resist composition used in the present invention is ortho,
It comprises a prepolymer of diallyl ester of iso or terephthalic acid. Such prepolymers are
It is also called a β-polymer, and its detailed properties and manufacturing method are described, for example, in "Diallyl Phthalate Resin" by Naoyoshi Yoshimi, Nikkan Kogyo Shimbun Sha Series (1972). It can also be obtained as a prepolymer, for example from Osaka Soda KK.

本発明で用いる感光性ソルダレジストに必須なプレポリ
マーは、分子量として約3000〜30000が好まし
いものであるが、これに制限されるものではない。また
、プレポリマーを含むとの記載は、プレポリマーの合成
にともなって残留もしくは生成するジアリルフタレート
モノマーもしくは三次元網状構造のγ−ポリマーの少量
が含まれることを妨げるものではない。
The molecular weight of the prepolymer essential to the photosensitive solder resist used in the present invention is preferably about 3,000 to 30,000, but is not limited thereto. Furthermore, the statement that a prepolymer is included does not preclude the inclusion of a small amount of a diallyl phthalate monomer or a three-dimensional network structure γ-polymer that remains or is produced during the synthesis of the prepolymer.

さらに本発明で用いる感光性ソルダレジスト組成物は、
少くとも2個以上のエチレン結合を分子内に有する多官
能不飽和化合物を含んでなるものである。かかる化合物
は、例えば不飽和カルボン酸と2価以上のポリヒドロキ
シ化合物とのエステル化反応によって得られる。不飽和
カルボン酸としては、アクリル酸、メタクリル酸、イタ
コン酸クロトン酸、マレイン酸等が挙げられ、2価以上
のポリヒドロキシ化合物としては、エチレングリコール
、プロピレングリコール、トリエチレングリコール、ヒ
ドロキノン、ピロガロール等が挙げられる。かかる不飽
和カルボン酸とポリヒドロキシ化合物とのエステル化反
応によって得られた化合物としては、ジエチレングリコ
ールジアクリレート、ポリエチレングリコールジアクリ
レート。
Furthermore, the photosensitive solder resist composition used in the present invention is
It contains a polyfunctional unsaturated compound having at least two or more ethylene bonds in its molecule. Such a compound can be obtained, for example, by an esterification reaction between an unsaturated carboxylic acid and a divalent or higher polyhydroxy compound. Examples of unsaturated carboxylic acids include acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, crotonic acid, maleic acid, etc., and examples of divalent or higher polyhydroxy compounds include ethylene glycol, propylene glycol, triethylene glycol, hydroquinone, pyrogallol, etc. Can be mentioned. Compounds obtained by the esterification reaction between such unsaturated carboxylic acids and polyhydroxy compounds include diethylene glycol diacrylate and polyethylene glycol diacrylate.

ネオペンチルグリコールジアクリレート、1.5ベンタ
ンジオールジアクリレート、1.6ヘキサンジオールジ
アクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレー
ト、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ジエチレ
ングリコールジメタクリレート、トリメチロールプロパ
ントリメタクリレート、1.3ブタンジオールジメタク
リレート等に代表されるジアクリレート、ジメタクリレ
ート化合物やジペンタエリトリトールのトリ、テトラ、
ペンタアクリレートもしくはメタクリレート、ソルビト
ールのトリ、テトラ、ペンタ、ヘキサアゲリレートもし
くはメタクリレートなどに代表される多価アクリレート
、メタクリレート化合物や、オリゴエステルアクリレー
ト、オリゴエステルメタクリレート等、またエポキシ樹
脂とアクリル酸及びメタアクリル酸の反応によりできる
エポキシ(メタ)アクリレート等を挙げることができる
Neopentyl glycol diacrylate, 1.5bentanediol diacrylate, 1.6 hexanediol diacrylate, trimethylolpropane triacrylate, pentaerythritol triacrylate, diethylene glycol dimethacrylate, trimethylolpropane trimethacrylate, 1.3 butanediol dimethacrylate Diacrylate, dimethacrylate compounds represented by tri, tetra, dipentaerythritol, etc.
Polyhydric acrylates and methacrylate compounds such as pentaacrylate or methacrylate, sorbitol tri, tetra, penta, hexaagelylate or methacrylate, oligoester acrylate, oligoester methacrylate, etc., and epoxy resins and acrylic acid and methacrylic acid. Examples include epoxy (meth)acrylate produced by the reaction of

以上の例は、単官能不飽和化合物の添加を制限するもの
でないし、必要により多官能不飽和化合物の混合物も使
用できる。
The above examples do not limit the addition of monofunctional unsaturated compounds, and mixtures of polyfunctional unsaturated compounds can also be used if necessary.

さらに本発明で用いる感光性ソルダレジスト組成物は、
光重合開始剤を含んでなるものである。
Furthermore, the photosensitive solder resist composition used in the present invention is
It contains a photopolymerization initiator.

この光重合開始剤は、例えばアセトフェノン、アセトフ
ェノンの誘導体、ベンゾフェノン、ベンゾフェノンの誘
導体、ミヒラーケトン、ベンジル。
Examples of the photopolymerization initiator include acetophenone, acetophenone derivatives, benzophenone, benzophenone derivatives, Michler's ketone, and benzyl.

ベンゾイン、ベンゾインアルキルエーテル、ベンジルア
ルキルケタール、チオキサントン、チオキサントンの誘
導体、アントラキノン、アントラキノンの誘導体、テト
ラメチルチウラムモノサルファイド、l−ヒドロキシシ
グロへキシルフェニルケトン、2−メチル−1−(4−
(メチルチオ)フェニルクー2−モルフォリノ−プロペ
ン−1に代表されるα−アミノケトン化合物等が挙げら
れる。必要により、光重合開始剤の混合物を使用できる
。また必要により、光重合開始剤の作用を増感するアミ
ン化合物等を使用することも可能である。
Benzoin, benzoin alkyl ether, benzyl alkyl ketal, thioxanthone, thioxanthone derivative, anthraquinone, anthraquinone derivative, tetramethylthiuram monosulfide, l-hydroxycyclohexylphenyl ketone, 2-methyl-1-(4-
Examples include α-aminoketone compounds represented by (methylthio)phenylcou 2-morpholino-propene-1. If desired, mixtures of photoinitiators can be used. Furthermore, if necessary, it is also possible to use an amine compound or the like that sensitizes the action of the photopolymerization initiator.

さらに本発明で用いる感光性ソルダレジストはアルカリ
性のめつき液中で銅箔上のソルダレジストの剥離を防ぐ
ために、適量のエポキシ樹脂と硬化剤を含んでもよい。
Further, the photosensitive solder resist used in the present invention may contain an appropriate amount of an epoxy resin and a curing agent in order to prevent the solder resist from peeling off on the copper foil in an alkaline plating solution.

エポキシ樹脂としては、平均して1分子当り2個以上の
エポキシ基を有するもので、例えばビスフェノールA、
ハロゲン化ビスフェノールA、カテコール、レゾルシノ
ール等のような多価フェノールまたはグリセリンのよう
な多価アルコールとエピクロルヒドリンとを塩基性触媒
の存在下で反応されて得られるポリグリシジルエーテル
あるいはポリグリシジルエステル、ノボラッグ型フェノ
ール樹脂とエピクロルヒドリンとを縮合せしめて得られ
るエポキシノボラック、過酸化法でエポキシ化したエポ
キシ化ポリオレフィン、エポキシ化ポリブタジェン、ジ
シクロペンタジェン化オキサイド、あるいはエポキシ化
植物油等が挙げられる。
Epoxy resins have an average of two or more epoxy groups per molecule, such as bisphenol A,
Polyglycidyl ether or polyglycidyl ester, novolag-type phenol obtained by reacting a polyhydric phenol such as halogenated bisphenol A, catechol, resorcinol, or a polyhydric alcohol such as glycerin with epichlorohydrin in the presence of a basic catalyst. Examples include epoxy novolak obtained by condensing a resin and epichlorohydrin, epoxidized polyolefin epoxidized by a peroxidation method, epoxidized polybutadiene, dicyclopentagenated oxide, and epoxidized vegetable oil.

また、硬化剤としては、ジアミノトリアジン変性イミダ
ゾール化合物とジシアンジアミドの混合物がソルダレジ
ストの剥離防止に対して好適である。
Further, as the curing agent, a mixture of a diaminotriazine-modified imidazole compound and dicyandiamide is suitable for preventing peeling of the solder resist.

本発明で用いる上記のジアミノトリアジン変性イミダゾ
ール化合物としては、下記の一般式で示される、エポキ
サイド化合物に対して潜在硬化性を有する化合物を用い
ることができる。
As the diaminotriazine-modified imidazole compound used in the present invention, a compound represented by the following general formula and having latent curability with respect to an epoxide compound can be used.

H,N \ 二N / H,N (Rはイミダゾール化合物である。) 例えば、2.4−ジアミノ−6(2′−メチルイミダゾ
ール−(1’))エチル−s−トリアジン、2.4−ジ
アミノ−6(2′−エチル−4′−メチルイミダゾール
−(1’))エチル−3−トリアジン、2.4−ジアミ
ノ−6(2′−ウンデシルイミダゾール=(1’))エ
チル−s−トリアジンもしくは2.4−ジアミノ−6(
2′−メチルイミダゾール(1’))エチル−3−トリ
アジン・イソシアヌール酸付加物等が挙げられる。
H,N\2N/H,N (R is an imidazole compound.) For example, 2,4-diamino-6(2'-methylimidazole-(1'))ethyl-s-triazine, 2,4- Diamino-6(2'-ethyl-4'-methylimidazole-(1'))ethyl-3-triazine, 2,4-diamino-6(2'-undecylimidazole=(1'))ethyl-s- triazine or 2,4-diamino-6(
Examples include 2'-methylimidazole (1'))ethyl-3-triazine/isocyanuric acid adduct.

さらに本発明で用いるレジスト組成物は、必要であれば
希釈剤としての有機溶剤1着色剤、消泡剤、充てん剤、
揺変剤を含むこともできる。
Furthermore, the resist composition used in the present invention contains an organic solvent as a diluent, a coloring agent, an antifoaming agent, a filler,
A thixotropic agent may also be included.

有機溶剤の適当な例としては、セロソルブ、セロソルブ
アセテート、メチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、カ
ルピトール、メチルカルピトールブチルカルピトール、
テルピネオール等高沸点溶剤が好ましいが、アセトン、
メチルエテルケトン。
Suitable examples of organic solvents include cellosolve, cellosolve acetate, methyl cellosolve, butyl cellosolve, calpitol, methyl carpitol butyl carpitol,
High boiling point solvents such as terpineol are preferred, but acetone,
Methyl ether ketone.

エタノール等が使用できないわけではない。This does not mean that ethanol etc. cannot be used.

着色剤は、フタロシアニングリーン、フタロシアニンブ
ルー等の着色材料を適宜用いればよい。
As the colorant, a coloring material such as phthalocyanine green or phthalocyanine blue may be used as appropriate.

消泡剤は、シリコーンオイルに代表されるシロキサン結
合を含む有機ケイ素化合物が好んで用いられる。
As the antifoaming agent, an organosilicon compound containing a siloxane bond, typified by silicone oil, is preferably used.

充てん剤は、無機フィラーとしてレジスト組成物に添加
するものであり、シリカ、アルミナ、タルク等の微粉末
が好んで用いられる。
The filler is added to the resist composition as an inorganic filler, and fine powders of silica, alumina, talc, etc. are preferably used.

揺変剤は、レジスト組成物の粘度、特にチキソトロピー
性の改善に寄与するものとして超微粉末シリカが好んで
用いられる。
As the thixotropic agent, ultrafine powdered silica is preferably used as it contributes to improving the viscosity of the resist composition, particularly the thixotropy.

本発明で用いる感光性ソルダレジストを構成するのに好
ましい組成比は、ジアリルフタレート樹脂100重量部
に対し、多官能不飽和化合物1〜30重量部、光重合開
始剤0.5〜20重量部、エポキシ樹脂5〜30重量部
であり、ジアミノトリアジン変性イミダゾール化合物の
配合は、エポキシ樹脂100重量部に対して1〜20重
量部、ジシアンジアミドの配合は0.5〜15重量部で
ある。
Preferred composition ratios for constituting the photosensitive solder resist used in the present invention are: 1 to 30 parts by weight of a polyfunctional unsaturated compound, 0.5 to 20 parts by weight of a photopolymerization initiator, to 100 parts by weight of diallyl phthalate resin; The amount of the epoxy resin is 5 to 30 parts by weight, the amount of the diaminotriazine-modified imidazole compound is 1 to 20 parts by weight, and the amount of dicyandiamide is 0.5 to 15 parts by weight per 100 parts by weight of the epoxy resin.

かかる配合組成の下限は、レジストの露光感度が不足し
ないことから、また上限は後述するレジストの密着露光
性、耐めっき性、耐熱性が確保できることから決めたも
のである。
The lower limit of the composition is determined so that the exposure sensitivity of the resist is not insufficient, and the upper limit is determined so that the contact exposure, plating resistance, and heat resistance of the resist described below can be ensured.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を第1図〜第4図を用いて説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 4.

第1図(a)〜(f)は、プリント基板製造法の工程図
である。第1図において、1は、ガラスエポキシ両面銅
張積層板、2′は、銅箔、2は、回路およびランド、3
は、貫通孔、4は、感光性ソルダレジスト層、5は、活
性化触媒、6は、スルーホール銅めっき、7は、エツチ
ングレジストである。
FIGS. 1(a) to 1(f) are process diagrams of a printed circuit board manufacturing method. In FIG. 1, 1 is a glass epoxy double-sided copper-clad laminate, 2' is copper foil, 2 is a circuit and land, and 3
4 is a through hole, 4 is a photosensitive solder resist layer, 5 is an activated catalyst, 6 is a through-hole copper plating, and 7 is an etching resist.

以下順を追って製造工程を詳細に説明する。The manufacturing process will be explained in detail below.

第1図(a)に示すような35μmの銅箔2′を張った
ガラスエポキシ両面銅張積層板lに第1図(b)に示す
ようにドリルで貫通孔3をあけ、Sn/Pd触媒液中に
浸漬して活性化触媒5をつけた。次で第1図(C)に示
すように常法により基板にドライフィルム7をラミネー
トし、露光、現像、エツチング、剥離の工程からなるテ
ンティング法により、基板上にランド及び回路2を形成
し第1図(d)のようにした。
As shown in FIG. 1(b), through-holes 3 are drilled in a glass epoxy double-sided copper-clad laminate l coated with a 35 μm copper foil 2' as shown in FIG. 1(a), and the Sn/Pd catalyst is The activated catalyst 5 was applied by immersing it in a liquid. Next, as shown in FIG. 1(C), a dry film 7 is laminated on the substrate by a conventional method, and a land and a circuit 2 are formed on the substrate by a tenting method consisting of steps of exposure, development, etching, and peeling. The procedure was as shown in FIG. 1(d).

次いで、感光性のソルダレジストの印刷前処理として、
基板をIN塩酸水溶液に30秒間浸漬してから基板全面
をパフ研磨し、水洗乾燥した。感光性のソルダレジスト
組成物は次のものを用いた。
Next, as a pre-printing treatment of the photosensitive solder resist,
The substrate was immersed in an aqueous IN hydrochloric acid solution for 30 seconds, and then the entire surface of the substrate was puff-polished, washed with water, and dried. The following photosensitive solder resist composition was used.

(イ)ジアリルフタレート樹脂・・・・・・・・・65
g(平均分子量7000 、イソタップ。大阪曹達KK
製) (ロ)トリメチロールプロパントリメタクリレート・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・2.6g(ハ)エポキシ樹脂(エピ
コート828.エビビス型エポキシ樹脂、油化シェルエ
ポキシKK製)・・・・・・・・・10g (ニ)2−メチル−1[4−(メチル)フェニルツー2
−モルフォリノ−プロパン−1・・・1.3g(ホ)ジ
シアンジアミド・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・0.7gくべ)2.4−ジアミノ−6〔2
′〜メチルイミダゾール−(1’))エチル−s−トリ
アジン・・・・・・・・・・・・0.25 g(ト)珪
素超微粉末アエロジル200・・・・・・・・・・・・
0.5g(日本アエロジルKK製) (チ)シリコーンオイル5R−203・・・・・・・・
・・・・1.5g(東しシリコーンKK製) (す)フタロシアニングリーン・・・・・・・・・・・
・・・・o、 os g(ヌ)エチレングリコールモノ
ブチルエーテル・・・・・・・・・44g 上記組成物のうち(イ)〜(ニ)を混合し、約80℃で
30分間加熱撹拌した。また(ホ)〜(ヌ)を三本ロー
ルにより混練した。(イ)〜(ニ)を常温にした後、(
ホ)〜(ヌ)を適量添加して感光性の耐めっきソルダレ
ジストとした。
(a) Diaryl phthalate resin...65
g (average molecular weight 7000, isotap. Osaka Soda KK
(B) Trimethylolpropane trimethacrylate...
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・2.6g (c) Epoxy resin (Epikoat 828. Ebisu type epoxy resin, manufactured by Yuka Shell Epoxy KK) ・・・・・・・・・10g (d) 2-Methyl- 1[4-(methyl)phenyl2
-morpholino-propane-1...1.3g (e)dicyandiamide......
...0.7g) 2.4-diamino-6 [2
' ~ Methylimidazole-(1'))ethyl-s-triazine 0.25 g (g) Ultrafine silicon powder Aerosil 200 200・・・
0.5g (manufactured by Nippon Aerosil KK) (chi) Silicone oil 5R-203...
...1.5g (manufactured by Toshi Silicone KK) (su) Phthalocyanine Green ......
... o, os g (nu) Ethylene glycol monobutyl ether ......44 g Among the above compositions, (a) to (d) were mixed and heated and stirred at about 80°C for 30 minutes. . Further, (E) to (N) were kneaded using a three-roll mill. After bringing (a) to (d) to room temperature, (
Appropriate amounts of (v) to (v) were added to obtain a photosensitive plating-resistant solder resist.

次いで上記感光性ソルダレジスト組成物を、回路形成し
た印刷配線板上に180メツシユステンレススクリ一ン
版を用いたスクリーン印刷機で全面に印刷し、約80℃
で30分内の予備乾燥を施した。
Next, the photosensitive solder resist composition was printed on the entire surface of the circuit-formed printed wiring board using a screen printing machine using a 180 mesh stainless steel screen plate, and heated at about 80°C.
Pre-drying was carried out for 30 minutes.

乾燥後にレジスト表面が固化しており、ネガマスクを密
着可能な状態にした。
After drying, the resist surface was solidified and a negative mask could be attached to it.

次で、第1の露光として、400W高圧水銀ランプを用
い0.5〜2分の範囲で紫外線でネガマスクを通しで露
光した後、1.1.1−トリクロルエタンを用いスプレ
ー現像した。このとき、ネガマスクに有機フィルム材を
用いることで、300 nm以下の成分を除去した。
Next, as a first exposure, the film was exposed to ultraviolet light through a negative mask for 0.5 to 2 minutes using a 400W high-pressure mercury lamp, and then spray-developed using 1.1.1-trichloroethane. At this time, components of 300 nm or less were removed by using an organic film material for the negative mask.

現像後に150℃で30分間の熱硬化処理を施し、つい
で、第2の露光としてメタルハライドランプを用いたベ
ルト式露光装置で1〜10J/−の露光を行い、ゾルダ
レシストパターン4を形成した。
After development, a heat curing treatment was performed at 150° C. for 30 minutes, and then a second exposure was performed using a belt type exposure device using a metal halide lamp at 1 to 10 J/− to form a solder resist pattern 4.

かかる露光の際には、ガラスフィルタにより300mm
以下の短波長成分を除去して露光した。
During such exposure, a glass filter was used to
Exposure was performed with the following short wavelength components removed.

次に、下記の組成の化学銅めっき液(シラプレー社製)
中に2分間浸漬し、約0.4μmの薄付は化学鋼めっき
を施した。
Next, apply a chemical copper plating solution (manufactured by Silapray) with the following composition:
The sample was immersed in the liquid for 2 minutes, and a chemical steel plating with a thickness of approximately 0.4 μm was applied.

カッパーミックス  328 A   125m Qカ
ッパーミックス  328 L   125m Qカッ
パーミックス  328 C25m Q蒸留水   全
量をIQとする量 その後、化学銅めっきで厚付けしてスルーホール化学銅
めっき層6を形成した。このときの化学鋼めっき液には
スルーホールの厚付は用の化学銅めっき液を用いた。め
っき条件は約70℃、 PH12,5の強アルカリ性の
めつき液中、15時間の浸漬であり、所定部に約20μ
mの銅めっきを施した。
Copper mix 328 A 125m Q Copper mix 328 L 125m Q Copper mix 328 C25m Q Distilled water The total amount is defined as IQ Thereafter, through-hole chemical copper plating layer 6 was formed by thickening with chemical copper plating. At this time, a chemical copper plating solution used for thickening through-holes was used as the chemical steel plating solution. The plating conditions were 15 hours of immersion in a strongly alkaline plating solution with a pH of 12.5 at approximately 70°C, and approximately 20 μm was applied to the designated area.
Copper plating of m.

めっき槽内のめっき液成分は自動管理により一定とした
The plating solution components in the plating tank were kept constant through automatic management.

このようにして製造したプリント回路板のレジスト塗膜
と回路鋼箔との密着性をクロスカットセロハンテープ試
験で評価した結果、レジスト膜の剥離がなく、良好な密
着性を有することがわかった。さらに260℃のはんだ
槽に20秒間浸漬してもレジスト膜にふくれ、剥離等の
劣化はなく、良好なはんだ耐熱性を有することもわかっ
た。
The adhesion between the resist coating film of the printed circuit board thus manufactured and the circuit steel foil was evaluated by a cross-cut cellophane tape test, and it was found that the resist film did not peel off and had good adhesion. Furthermore, even when immersed in a 260° C. solder bath for 20 seconds, there was no deterioration such as blistering or peeling of the resist film, and it was found that the resist film had good solder heat resistance.

また、めっき直後にスルーホール部およびランド部を観
察した結果、厚付は銅は均一に析出しており、所望部以
外のレジスト上等には銅の異常析出は見られなかった。
In addition, as a result of observing the through-hole portions and land portions immediately after plating, it was found that copper was deposited uniformly in the thick portions, and no abnormal copper deposits were observed on the resist other than in desired portions.

また、60℃95%RHの恒温恒湿槽中に1週間放置後
の回路間の絶縁抵抗を測定した結果、極端な絶縁劣化は
全く認められなかった。
Further, as a result of measuring the insulation resistance between the circuits after being left in a constant temperature and humidity chamber at 60° C. and 95% RH for one week, no extreme insulation deterioration was observed.

さらに、基板を260℃のはんだ槽に10秒間浸漬し、
室温まで空冷する作業を5回繰り返した後、スルーホー
ル断面を観察し、銅めつきのクラックの有無を調べたと
ころ、本発明に係る露光工程での300 nm以下の短
波長成分の有無と、めっき液に浸漬したレジスト面積と
の間の関係を取まとめて第1表に示す。
Furthermore, the board was immersed in a solder bath at 260°C for 10 seconds,
After repeating the process of air cooling to room temperature five times, the cross section of the through hole was observed and the presence or absence of cracks in the copper plating was investigated. Table 1 summarizes the relationship between the resist area and the resist area immersed in the liquid.

すなわち、第1表かられかるように、レジスト形成工程
で300 nm以下の成分を除去して露光した本発明の
場合には、試験番号1乃至4に示すようにめっき液中の
レジスト面積にががゎらず良質な銅めっきが得られ、5
回ものはんだ浸漬試験によってもスルーホール部の銅め
っきには、クラックが全く発生しなかった。これはレジ
ストが全くない場合の試験番号10と同じ特性である。
That is, as shown in Table 1, in the case of the present invention in which components of 300 nm or less were removed and exposed in the resist forming process, the resist area in the plating solution was affected as shown in Test Nos. 1 to 4. Good quality copper plating can be obtained without warping, 5
Even after multiple solder immersion tests, no cracks occurred in the copper plating of the through-holes. This is the same characteristic as Test No. 10 in which there is no resist at all.

これに対し、フィルタを用い300 nm以下を除去せ
ずに露光したレジストは、めっき液中のレジスト面積が
少い場合には良質な銅めっきが得られる(試験番号5.
6)が、レジスト面積が大となると、試験番号7.8の
ように銅めっきの膜質が著しく劣化し、わずか1〜2回
のはんだ浸漬試験でクラックが発生してしまい、実用的
なスルーホール信頼性が確保できないことがわかった。
On the other hand, when the resist is exposed using a filter without removing wavelengths of 300 nm or less, good quality copper plating can be obtained if the resist area in the plating solution is small (Test No. 5).
6) However, when the resist area becomes large, the quality of the copper plating deteriorates significantly as shown in test number 7.8, and cracks occur after just one or two solder immersion tests, making it difficult to use through-holes for practical purposes. It turned out that reliability could not be ensured.

このことがら、レジスト面積が大となる大量生産の場合
には、本発明の方法でプリント板を生産するのが極めて
優れた方法であることもわかった。このような傾向は、
工程中の露光位置によらないことも試験番号9がられか
った。
From this, it has been found that in the case of mass production where the resist area is large, the method of the present invention is an extremely excellent method for producing printed boards. This trend is
Test No. 9 was also found to be independent of the exposure position during the process.

第2図は、レジストの溶は出量とフィルタのカット波長
との関係を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing the relationship between the amount of resist dissolution and the cut wavelength of the filter.

すなわち、第2の露光の際に用いる短波長成分をカット
するガラスフィルタの種類、有無の観点から、レジスト
のめっき液への溶は出し量との関係を求めた。前述した
工程でレジストを形成し、化学銅めっき液中に70℃、
15時間浸漬したときのレジストの単位面積当りの重量
変化を求めたのが第2図である。図中のカット波長はそ
の波長以下の短波長成分を含まないことを示している。
That is, the relationship between the amount of resist dissolved in the plating solution and the amount of resist dissolved in the plating solution was determined from the viewpoint of the type and presence or absence of a glass filter that cuts short wavelength components used during the second exposure. A resist is formed in the above-mentioned process, and then placed in a chemical copper plating solution at 70°C.
FIG. 2 shows the change in weight per unit area of the resist when immersed for 15 hours. The cut wavelength in the figure indicates that short wavelength components below that wavelength are not included.

かかる結果より、レジストの溶は出し防止には300 
nm以下の波長成分の除去が必要にして十分であること
がわかった。
From these results, it was found that 300
It has been found that removal of wavelength components of nm or less is necessary and sufficient.

つぎに、本発明の第2実施例の製造工程について詳細に
説明する。ただし、前工程第1図(d)までは第1実施
例と同様なので省略する。
Next, the manufacturing process of the second embodiment of the present invention will be explained in detail. However, the pre-process up to FIG. 1(d) is the same as in the first embodiment, and will therefore be omitted.

ステンレス板(80mm X 80mm X厚さ0.5
mm )を1.1.1−トリクロロエタンで洗浄し、次
いで、感光性ソルダレジストをスクリーン印刷法により
60mm X 60mmのベタ印刷を行う。感光性ソル
ダレジスト組成物は、次のものを用いた。
Stainless steel plate (80mm x 80mm x thickness 0.5
mm) is washed with 1.1.1-trichloroethane, and then a photosensitive solder resist is printed in a 60 mm x 60 mm area using a screen printing method. The following photosensitive solder resist composition was used.

(感光性ソルダレジスト組成物) (イ) ジアリルフタレート樹脂・・・・・・・・・1
00g(平均分子量7000.イソダップ、大阪曹達に
、 K、製) (ロ)  トリメチロールプロパントリメタクリレート
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・1og(ハ) エポキシ樹脂(
エピコー)−828,エピビス形エポキシ樹脂、油化シ
ェルエポキシに、 K、製)・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・20g(ニ) 
2−メチル−〔4−(メチルチオ)フェニル〕2−モル
フォリノプロパン−1・・・・・・4g(ホ) ジシア
ンジアミド・・・・・・・・・・・・・・・・・・3g
(へ)2.4−ジアミノ6〔2′−メチルイミダゾール
(1’))エチル−s−トリアジン川1g(ト)  珪
素超微粉末アエロジルRK、−200・・・・・・・・
・5g (日本アエロジルに、 K、製) (チ) シリコーンオイル5H−203・・・・・・5
g(東しシリコーンに、 K、製) (す) フタロシアニングリーン・・・・・・・・・・
・・1g(ヌ) エチレングリコールモノブチルエーテ
ル・・−・・・−・・・−・40g 上記組成物のうち(イ)〜(ニ)および(ヌ)を混合し
、約80℃で30分間加熱撹拌した。次に、(イ)〜(
ニ)および(ヌ)を常温にし、(ホ)〜(りンを適量加
えて三本ロールにて混線して、耐めっき性を有する感光
性ソルダレジストとした。
(Photosensitive solder resist composition) (a) Diaryl phthalate resin...1
00g (average molecular weight 7000. Manufactured by Isodap, Osaka Soda Ni, K.) (b) Trimethylolpropane trimethacrylate・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・1og (c) Epoxy resin (
Epicor)-828, Epibis type epoxy resin, oil-based shell epoxy, manufactured by K,)...
・・・・・・・・・・・・・・・・・・20g(d)
2-Methyl-[4-(methylthio)phenyl]2-morpholinopropane-1...4g (e) Dicyandiamide...3g
(f) 2,4-diamino 6 [2'-methylimidazole (1')) ethyl-s-triazine 1 g (g) Ultrafine silicon powder Aerosil RK, -200...
・5g (manufactured by K, Nippon Aerosil) (chi) Silicone oil 5H-203...5
g (manufactured by Toshi Silicone, K) (su) Phthalocyanine green...
...1g (nu) Ethylene glycol monobutyl ether...40g Mix (a) to (d) and (n) of the above compositions and heat at about 80°C for 30 minutes Stirred. Next, (a) ~ (
(iv) and (nu) were brought to room temperature, and appropriate amounts of (e) to (phosphorus) were added and mixed using a three-roll roll to obtain a photosensitive solder resist having plating resistance.

次いで上記感光性ソルダレジスト組成物を、洗浄したス
テンレス板に前述したように120メツシユステンレス
スクリ一ン版を用いたスクリーン印刷機でベタ印刷し、
約80℃で30分間の予備乾燥を施した。乾燥後は、レ
ジスト表面が固化しており、ネガマスクを密着可能な状
態にした。
Next, the photosensitive solder resist composition was printed all over the cleaned stainless steel plate using a screen printing machine using a 120 mesh stainless steel screen plate as described above.
Pre-drying was performed at about 80° C. for 30 minutes. After drying, the resist surface was solidified and a negative mask could be attached to it.

次いで、レジスト表面を酸素から避けるために、レジス
ト表面とネガマスクとの間をロータリーポンプにて真空
引き(大気圧〜真空度0.5Torrまで)をした。
Next, in order to protect the resist surface from oxygen, the space between the resist surface and the negative mask was evacuated using a rotary pump (atmospheric pressure to a degree of vacuum of 0.5 Torr).

次に、400W高圧水銀ランプを用いた露光機でレジス
ト全面に1分間のUV露光を行い、1.1.1−トリク
ロロエタンを用い1分間スプレー現像を行った。この時
、現像の前後でレジストを塗布したステンレス基板の重
さの差を測定し、現像時のレジストが溶は出す量とした
。第3図は、各真空度で露光したレジストの現像時の減
量を示す関係図である。
Next, the entire surface of the resist was exposed to UV light for 1 minute using an exposure machine using a 400W high-pressure mercury lamp, and spray development was performed for 1 minute using 1.1.1-trichloroethane. At this time, the difference in weight of the stainless steel substrate coated with the resist before and after development was measured, and the amount of the resist dissolved during development was determined. FIG. 3 is a relationship diagram showing the weight loss during development of the resist exposed at each degree of vacuum.

すなわち、第3図から、現像時のレジストが溶は出す量
は、露光時の真空度が高真空であればある程少ないこと
がわかった。
That is, from FIG. 3, it was found that the amount of resist dissolved during development is smaller as the degree of vacuum during exposure is higher.

次いで、現像を行った基板を150℃で30分間の加熱
硬化処理を施し、次いで後露光を2J/ad行った。
Next, the developed substrate was subjected to heat curing treatment at 150° C. for 30 minutes, and then post-exposure was performed at 2 J/ad.

その後、基板を化学銅めっき液中に約12時間浸漬した
。この時も化学鋼めっき液中に浸漬する前後でレジスト
を塗布したステンレス基板の重さの差を測定し、めっき
液中にレジストが溶出す量とした。
Thereafter, the substrate was immersed in a chemical copper plating solution for about 12 hours. At this time as well, the difference in weight of the stainless steel substrate coated with resist was measured before and after being immersed in the chemical steel plating solution, and this was determined as the amount of resist eluted into the plating solution.

第4図は、各真空度で露光し、成膜したレジストのめっ
き液中への溶出量を示す特性図である。
FIG. 4 is a characteristic diagram showing the elution amount into the plating solution of the resist film formed by exposure at each degree of vacuum.

第4図かられかるように、めっき液中にレジストが溶は
出す量は、露光時の真空度が高真空であればある程少な
いことがわかった。これは、現像時のレジストの溶は出
し方と殆ど同じ傾向であった。前述した化学銅めっき液
の組成、めっき条件は次に示す通りである。
As can be seen from FIG. 4, the amount of resist dissolved into the plating solution was found to be smaller as the degree of vacuum during exposure was higher. This tendency was almost the same as the way the resist was dissolved during development. The composition of the chemical copper plating solution and plating conditions described above are as follows.

組成: Cu5O,−5)1.0        12
gEDTA −2Na           42gN
a0)I             12g界面活性剤
         0.1gK、S         
    1mg蒸留水     全量をIQとする量 条件:めつき液温度        70℃pH12,
3 時間            約12時間めっき槽内の
めっき液成分は自動管理により一定とした。
Composition: Cu5O,-5) 1.0 12
gEDTA-2Na 42gN
a0) I 12g surfactant 0.1g K, S
1mg distilled water Amount where the total amount is IQ Conditions: Plating solution temperature 70℃ pH 12,
3 hours The components of the plating solution in the plating tank were kept constant through automatic management for approximately 12 hours.

以上の結果からめつき液中に溶は出すレジスト量を低減
させるためには、露光時の真空度は、より高真空中であ
る程、有効であることがわかった。
From the above results, it was found that in order to reduce the amount of resist dissolved into the plating solution, the higher the degree of vacuum during exposure, the more effective it is.

つぎに、本発明の第3実施例について説明する。Next, a third embodiment of the present invention will be described.

第2実施例の結果より、露光時の真空度が、レジストの
溶は出す量を低減するのに有効であることがわかり、第
3実施例では、実際のプリント基板を製造し、スルーホ
ールの接続信頼性を評価した。
From the results of the second example, it was found that the degree of vacuum during exposure is effective in reducing the amount of resist dissolved.In the third example, an actual printed circuit board was manufactured and through-holes were The connection reliability was evaluated.

35μmの銅箔を張ったガラスエポキシ両面銅張り積層
板にドリルで貫通孔をあけ、Sn/Pd触媒溶液に浸漬
してスルーホール内を活性化させ、次いで常法により基
板に感光性エツチングドライフィルムをラミネートし、
露光、現像、エツチング、剥離の工程からなるテンティ
ング法により、基板上にランドおよび回路を形成した。
Drill a through hole in a glass epoxy double-sided copper clad laminate covered with 35 μm copper foil, activate the inside of the through hole by immersing it in a Sn/Pd catalyst solution, and then apply a photosensitive etching dry film to the substrate using a conventional method. Laminate and
Lands and circuits were formed on the substrate by a tenting method consisting of steps of exposure, development, etching, and peeling.

次いで、回路形成した基板を、印刷前処理としてIN塩
酸水溶液に30秒浸漬してから基板全面をパフ研磨し、
水洗乾燥した。次に、耐めっき性を有する感光性ソルダ
レジスト第2実施例と同様のものを用い第2実施例と同
様にレジストを印刷し、予備乾燥を施した。
Next, the circuit-formed board was immersed in an IN hydrochloric acid aqueous solution for 30 seconds as a pre-printing treatment, and then the entire surface of the board was puff-polished.
Washed with water and dried. Next, a resist was printed in the same manner as in the second example using a photosensitive solder resist having plating resistance similar to that in the second example, and pre-dried.

次いで、第2実施例と同様に、レジスト表面を酸素から
避けるために、レジスト表面とネガマスクとの間をロー
タリーポンプにて真空引き(大気圧〜真空度0.5To
rrまで)をした。
Next, in the same manner as in the second embodiment, in order to protect the resist surface from oxygen, a vacuum is drawn between the resist surface and the negative mask using a rotary pump (atmospheric pressure to vacuum degree 0.5 To
(up to rr).

次に、400w高圧水銀ランプを用いた露光機でレジス
トの所望のみに1分間のUV露光を行い、1.1.1−
トリクロロエタンを用い1分間スプレー現像により不要
なレジストを除去した。
Next, the resist was exposed to UV light for 1 minute as desired using an exposure machine using a 400W high-pressure mercury lamp.
Unnecessary resist was removed by spray development using trichloroethane for 1 minute.

次いで、現像を行った基板を150℃で30分間の加熱
硬化処理を施し、次いで後露光を2J/a1行った。
Next, the developed substrate was subjected to heat curing treatment at 150° C. for 30 minutes, and then post-exposure was performed at 2 J/a1.

その後第2実施例と同様に、化学銅めっきを施し、プリ
ント基板を製造した。
Thereafter, chemical copper plating was applied in the same manner as in the second example to produce a printed circuit board.

第2表は、このようにして製造したプリント基板のスル
ーホール接続信頼性をはんだサイクル試験により評価し
た結果を示す。
Table 2 shows the results of evaluating the through-hole connection reliability of the printed circuit board thus manufactured by a solder cycle test.

以上の結果から、露光を真空度50Torr以下の高真
空で行なえばldm”/Q  以上のレジストの面積を
投入できる。したがって、大量生産が可能となる。
From the above results, if exposure is performed in a high vacuum with a degree of vacuum of 50 Torr or less, a resist area of 1 dm''/Q or more can be used. Therefore, mass production becomes possible.

更に、耐めっき特性、レジストの耐熱性、JIS−C5
012の冷熱サイクル試験を行なったが、異常が認めら
れず優れた結果を得た。
Furthermore, plating resistance properties, resist heat resistance, JIS-C5
A cooling/heating cycle test was conducted on 012, but no abnormality was observed and excellent results were obtained.

さらに、本発明の第4実施例について説明する。Furthermore, a fourth embodiment of the present invention will be described.

第3実施例と同様に回路を形成した銅張り積層板に実施
例2で用いた耐めっき性を有する感光性ソルダレジスト
組成物を同様の方法で塗布し、予備乾燥、UV露光、溶
剤現像、加熱硬化、後露光の工程を経て成膜した。それ
ぞれの工程条件は、第3実施例と同じにした。但し、露
光はレジスト表面での酸素分圧を0.ITorr (酸
素濃度138ppm)になるように不活性ガス(窒素)
雰囲気にして行った。次に、成膜した基板を第3実施例
と同様のめっき処理を行いスルーホールの接続信頼性を
評価した。結果を第2表中に示す露光時の真空度0、5
Torrにした時と同様の結果が得られた。つまり、露
光時のレジスト表面での酸素分圧を低減することが、め
っき液中へのレジスト低減に有効であることを示してい
る。
The photosensitive solder resist composition having plating resistance used in Example 2 was applied to a copper-clad laminate on which a circuit was formed in the same manner as in Example 3, followed by pre-drying, UV exposure, solvent development, The film was formed through heat curing and post-exposure steps. The process conditions for each were the same as in the third example. However, during exposure, the oxygen partial pressure at the resist surface is set to 0. Inert gas (nitrogen) to achieve ITorr (oxygen concentration 138 ppm)
I went with the atmosphere. Next, the substrate on which the film was formed was subjected to the same plating treatment as in the third example, and the connection reliability of the through holes was evaluated. The results are shown in Table 2. Degree of vacuum during exposure: 0, 5
Similar results were obtained when using Torr. In other words, it is shown that reducing the oxygen partial pressure on the resist surface during exposure is effective in reducing the amount of resist in the plating solution.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、感光性のソルダレジストを用いるため
、パターン精度向上の効果があり、またこの感光性レジ
ストは、アルカリ性のめっきに耐えるため、めっき工程
の前にレジストを形成し、所望部だけにめっきを施すこ
とができる。さらに、レジストのめっき液への溶は出し
がないため、高品質のめっきを得ることができ、信頼性
の高いプリント板を製造できる。
According to the present invention, since a photosensitive solder resist is used, there is an effect of improving pattern accuracy, and since this photosensitive resist can withstand alkaline plating, a resist is formed before the plating process, and only desired parts are can be plated. Furthermore, since the resist does not dissolve into the plating solution, high-quality plating can be obtained and highly reliable printed boards can be manufactured.

本発明により信頼性の高い高密度プリント基板を低コス
トに量産できる経済効果には測り知れないものがある。
The present invention has immeasurable economic effects that allow mass production of highly reliable, high-density printed circuit boards at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明のプリント基板製造工程図、第2図は
、フィルタのカット波長とレジスト溶は出し量との関係
図、第3図は、露光時真空度と現像時のレジスト減量の
関係図、第4図は、露光時真空度とレジスト溶出量との
関係図である。 〈符号の説明〉 ■・・・ガラスエポキシ両面銅張・積層板2′・・・銅
箔 ・・・回路およびランド ・・・貫通孔(スルーホール) ・・・感光性ソルダレジスト層 ・・・活性化触媒 ・・・スルーホール銅めっき ・・・エツチングレジスト 力 図 1−一一力゛う入エボ+シ内面@張オV#茅及?−−一
訓箔 ?−−−ロ路8JひうしF 5−m−スルーホール ら 4−一っ凝\九aソノLりl゛スト 層5−一法すi(j角01( G−m−スルホー41月め・さ 7−−−エツナシダしジ人ト
Figure 1 is a diagram of the printed circuit board manufacturing process of the present invention, Figure 2 is a diagram of the relationship between the cut wavelength of the filter and the amount of resist dissolution, and Figure 3 is a diagram of the relationship between the degree of vacuum during exposure and the amount of resist loss during development. FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the degree of vacuum during exposure and the amount of resist elution. <Explanation of symbols> ■...Glass epoxy double-sided copper-clad laminate 2'...Copper foil...Circuit and land...Through hole...Photosensitive solder resist layer... Activated catalyst...Through-hole copper plating...Etching resist force Figure 1-11 Force Input Ebo + C inner surface @ Zhang O V# Kaya? --Ikkunhaku? --- Roji 8J Hiushi F 5-m-Through hole et al.・Sa7---Etsunashida Shijinto

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 1.銅張積層板の所望の位置にスルーホール(貫通孔)
を形成し、スルーホール内を活性化し、レジストで回路
パターンとなる部分を被覆し、エッチングにより回路を
形成し、レジストを除去し、耐めっき性を有するソルダ
レジストを回路形成した基板に塗布し、予備乾燥し、少
なくとも300nm以下の短波長成分を除いたUV(紫
外)光を所望部に照射し、現像し、感光性ソルダレジス
ト膜を形成し、化学銅めつき液によりスルーホール部お
よび所望部上に銅を析出させることを特徴とするプリン
ト基板の製造方法。
1. Through-holes at desired locations in copper-clad laminates
, activate the inside of the through hole, cover the part that will become the circuit pattern with resist, form the circuit by etching, remove the resist, apply a solder resist with plating resistance to the circuit board, Pre-dry, irradiate desired areas with UV (ultraviolet) light excluding short wavelength components of at least 300 nm or less, develop, form a photosensitive solder resist film, and coat through-hole areas and desired areas with chemical copper plating solution. A method for manufacturing a printed circuit board, characterized by depositing copper thereon.
2.銅張積層板の所望の位置にスローホールを形成し、
スルーホール内を活性化し、レジストで回路パターンと
なる部分を被覆し、エッチングにより回路を形成し、レ
ジストを除去し、耐めっき性を有するソルダレジストを
回路形成した基板に塗布し、予備乾燥し、レジスト表面
の酸素分圧を10Torr以下の真空下および不活性ガ
ス雰囲気でUV光を所望部に照射し、現像し、感光性ソ
ルダレジスト膜を形成し、化学銅めつき液によりスルー
ホール部および所望部上に銅を析出させることを特徴と
するプリント基板の製造方法。
2. Form slow holes in desired positions of copper-clad laminates,
Activate the inside of the through hole, cover the part that will become the circuit pattern with resist, form the circuit by etching, remove the resist, apply a plating-resistant solder resist to the circuit-formed board, pre-dry it, UV light is irradiated to the desired areas under a vacuum with an oxygen partial pressure of 10 Torr or less on the resist surface and in an inert gas atmosphere, developed, a photosensitive solder resist film is formed, and through-hole areas and desired areas are coated with a chemical copper plating solution. A method for manufacturing a printed circuit board, characterized by depositing copper on the board.
3.請求項1および2記載の製造方法において、耐めっ
き性を有する感光性ソルダレジストは、ジアリルフタレ
ートのプレポリマー、多官能不飽和化合物、光重合開始
剤、エポキシ樹脂およびジシアンジアミドとジアミノト
リアジン変性イミダゾール化合物の混合物よりなるもの
であることを特徴とするプリント基板の製造方法。
3. In the manufacturing method according to claims 1 and 2, the photosensitive solder resist having plating resistance comprises a diallyl phthalate prepolymer, a polyfunctional unsaturated compound, a photopolymerization initiator, an epoxy resin, and a dicyandiamide and diaminotriazine-modified imidazole compound. A method for manufacturing a printed circuit board, characterized in that it is made of a mixture.
4.請求項1記載の製造方法により製造することを特徴
とするプリント基板。
4. A printed circuit board manufactured by the manufacturing method according to claim 1.
5.請求項2記載の製造方法により製造することを特徴
とするプリント基板。
5. A printed circuit board manufactured by the manufacturing method according to claim 2.
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