JPH0436879A - Article checking device - Google Patents

Article checking device

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JPH0436879A
JPH0436879A JP14291890A JP14291890A JPH0436879A JP H0436879 A JPH0436879 A JP H0436879A JP 14291890 A JP14291890 A JP 14291890A JP 14291890 A JP14291890 A JP 14291890A JP H0436879 A JPH0436879 A JP H0436879A
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JP
Japan
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signal
circuit
comparison
primary color
relative chromaticity
Prior art date
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Application number
JP14291890A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshifumi Koyama
善文 小山
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KUMAMOTO TECHNO PORISU ZAIDAN
Original Assignee
KUMAMOTO TECHNO PORISU ZAIDAN
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0436879A publication Critical patent/JPH0436879A/en
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Abstract

PURPOSE:To eliminate the erroneous signal accompanied with an irregular reflection signal in a picture signal by processing a luminance signal and a relative chromaticity signal, or a relative chromaticity sum signal by an irregular reflection signal eliminating circuit. CONSTITUTION:The high level states of a luminance signal Y and a relative chromaticity signal the inverse of X or a relative chromaticity sum signal the inverse of XDELTA generated based on three primary color signals R, G, and B taken out from the picture signal of an article to be checked are counted by a counting circuit 48. The number of foreign matters mixed in or stuck to the article to be checked is counted. When the counted result exceeds a pre scribed value to generate a foreign matter detection signal V, the luminance signal Y and the relative chromaticity signal the inverse of X or the relative chromaticity sum signal the inverse of XDELTA are processed by an irregular reflec tion signal eliminating circuit 70 to eliminate the erroneous signal, which is accompanied with the irregular reflection signal in the picture signal, from the luminance signal Y and the relative chromaticity signal the inverse of x or the relative chromaticity sum signal the inverse of xDELTA.

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の目的 [産業上の利用分野] 本発明は、物品搬送部によって搬送されている被検査物
品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理す
ることにJ:り被検査物品に異物か混入ないしく一1着
しているか否かを検査してなる物品検査装置に関し1、
特に、被検査物品の画像信号から取出された三原色信号
R,G、Bに基づいて作成された輝度信号Y、相対色度
信号XもL < L;J相対色度和信号XΔの高レベル
状態を計数回路で計数して被検査物品に混入ないしは付
着した異物の個数を計数し、計数結果が所定値を超えた
とき異物検出信号■を発生ずるに際し、乱反射信号除去
回路で輝度信号Y、相対色度信号Xもしくは相対色度和
信号Xムを処理することにより、輝度信号Y、相対色度
信号Xもしくは相対色度和信号Xムから画像信号中の乱
反射信号に伴なう誤信号を除去してなる物品検査装置に
関するもの−Cある。
Detailed Description of the Invention (1) Purpose of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention processes an image signal obtained by imaging an article to be inspected, which is being conveyed by an article conveying section, by an article imaging section. In particular, J: Concerning an article inspection device for inspecting whether or not a foreign object is mixed in or attached to an article to be inspected.
In particular, the luminance signal Y and the relative chromaticity signal X created based on the three primary color signals R, G, and B extracted from the image signal of the inspected article are also in a high level state of L <L; J relative chromaticity sum signal XΔ is counted by a counting circuit to count the number of foreign objects mixed in or attached to the inspected item, and when the counting result exceeds a predetermined value, a foreign object detection signal ■ is generated. By processing the chromaticity signal There is a related item-C related to an article inspection device formed by:

[従来の技術] 従来、この種の物品検査装置としては、物品搬送部によ
って搬送されている被検査物品(たとえば海苔)を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より、被検査物品に光物か混入ないしく一1着している
か否かを検査するに際し、特に、(1)被検査物品の画
像信号から取出された三原色信号R,G、Bに基づき輝
度信号Yおよび相対色度信MXの少なくとも一方を作成
し、計数回路で輝度信号Yおよび相対色度信号Xの少な
くとも一方の高レベル状態を計数して被検査物品に混入
ないしは付着した異物の個数を計数し、計数結果か所定
値を超えたとき異物検出信号■を発生じ、もしくは(i
 i−)被検査物品の画像信号から取出された三原色信
号R,G、Bに基づき三原色相対色度信号Xll、X1
、X、を作成し、かつて原色信号R,G、Bのうち最大
のものに対応する三原色相対色度信号を除外した他の三
原色相対色度信号を所望の割合で互いに加算して相対色
度和信号xIllを作成し、計数回路で相対色度和信号
X、の高レベル状態を計数して被検査物品に混入ないし
く一1着した異物の個数を計数し、計数結果か所定値を
超えたとき異物検出信号■を発生してなるものが提案さ
れていた (特願平1−226640および特願平1−
31.5636参照)。
[Prior Art] Conventionally, this type of article inspection device processes an image signal obtained by imaging an article to be inspected (for example, seaweed) being conveyed by an article conveying section using an article imaging section. When inspecting whether or not a light object is mixed in or attached to the inspected article, in particular, (1) the luminance signal Y and producing at least one of the relative chromaticity signals MX, counting the high level state of at least one of the luminance signal Y and the relative chromaticity signal When the counting result exceeds a predetermined value, a foreign object detection signal ■ is generated, or (i
i-) Three primary color relative chromaticity signals Xll, X1 based on the three primary color signals R, G, B extracted from the image signal of the inspected article
, A sum signal xIll is created, and a counting circuit counts the high level state of the relative chromaticity sum signal It has been proposed to generate a foreign object detection signal ■ when
31.5636).

[解決すべき問題点] しかしなから、従来の物品検査装置では、単3 、.2 に、(i)被検査物品の画像信号から取出された三原色
信号R,G、Bに基づき輝度信号Yおよび相対色度信号
Xの少なくとも一方を作成し、ル]数回路で輝度信号Y
および相対色度信号Xの少なくとも一方の高レベル状態
を計数して被検査物品に混入ないしは付着した異物の個
数を計数し、計数結果が所定値を超えたとき異物検出信
号■を発生し、もしくは(j、i)被検査物品の画像信
号から取出された三原色信号R,G、Bに基づき三原色
相対色度信号Xll、 X a 、 X 8を作成し、
かつ三原色信号R,G、Bのうち最大のものに対応する
三原色相対色度信号を除外した他の三原色相対色度信号
を所望の割合で互いに加算して相対色度和信号XΔを作
成し、計数回路で相対色度和信号X、の高レベル状態を
計数して被検査物品に混入ないし付着した異物の個数を
計数し、計数結果が所定値を超えたとき異物検出信号を
発生するのみであったので、(1)被検査物品の表面に
おCづる乱反射に伴なう誤信号か画像信号に混入してし
まったとき被検査物品の表面に混入ないしはイ・1着し
た異物(海苔の場合たとえは小エビ、網クズあるいはワ
ラクズなど)として検出してしまう欠点かあり、ひいて
は(b)被検査物品の異物検査精度を向−にできない欠
点かあり、結果的にfij、i)被検査物品の品質を十
分には改善できない欠点かあった。
[Problems to be Solved] However, conventional article inspection devices cannot handle AA, . 2. (i) Create at least one of the luminance signal Y and the relative chromaticity signal X based on the three primary color signals R, G, and B extracted from the image signal of the inspected article,
and the high level state of at least one of the relative chromaticity signals (j, i) Create three primary color relative chromaticity signals Xll, Xa, X8 based on the three primary color signals R, G, B extracted from the image signal of the inspected article,
and adding the other three primary color relative chromaticity signals excluding the three primary color relative chromaticity signal corresponding to the largest one among the three primary color signals R, G, B to each other at a desired ratio to create a relative chromaticity sum signal XΔ, The counting circuit counts the high level state of the relative chromaticity sum signal (1) If an erroneous signal is mixed into the image signal due to diffuse reflection of C on the surface of the item to be inspected, there may be foreign matter (such as seaweed) mixed on the surface of the item to be inspected. (for example, small shrimp, net scraps, wood scraps, etc.), and (b) there is also a drawback that the accuracy of foreign matter inspection of the inspected article cannot be improved, resulting in fij, i) There were some drawbacks in that the quality of the products could not be sufficiently improved.

そこで、本発明は、これらの欠点を除去する目的で、被
検査物品の画像(2号から取出された三原色信号R,G
、Bに基ついて作成された輝度信号Y、相対色度信号X
もしくは相対色度和信号XΔの高レベル状態を計数回路
で計数して被検査物品に混入ないしは付着した異物の個
数を計数し、計数結果か所定値を超えたとき異物検出信
号入7を発生するに際し、乱反射信号除去回路で輝度信
号Y相対色度信号Xもしくは相対色度和信号XΔを処理
することにより、輝度信号Y、相対色度信号Xもしくは
相対色度和信号x6から画像1≦号中の乱反射信号に伴
なう誤信号を除去してなる物品検査装置を提供せんとす
るものである。
Therefore, in order to eliminate these defects, the present invention has developed an image of the article to be inspected (three primary color signals R, G extracted from No. 2).
, a luminance signal Y created based on B, and a relative chromaticity signal X
Alternatively, the high level state of the relative chromaticity sum signal At this time, by processing the luminance signal Y, relative chromaticity signal X, or relative chromaticity sum signal An object of the present invention is to provide an article inspection device that removes erroneous signals accompanying diffusely reflected signals.

(2)発明の構成 [問題点の解決手段] 本発明により提供される問題、屯の第1の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 ia)画像信号から三原色信号R,G、Bを取出すため
の三原色信号取出回路(41)と、(l〕)三原色信号
取出回路(旧)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、三原色信号取出回路(41)から与えられた三原色
信号R,G、Bから輝度信号Yを作成するための輝度信
号作成回路(42)と、 (c)輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
端が接続されており、輝度信号Yが設定値を超えたか否
かを判定して輝度信号Yが設定値を超えたときにのみ高
レベル状態となる輝度比較信号Y゛を出力すを備えてな
ることを特徴とする物品検査装置」 である。
(2) Structure of the Invention [Means for Solving Problems] The first means for solving the problems provided by the present invention is as follows. In an article inspection device that inspects whether foreign matter is mixed in or attached to the inspected article by processing the obtained image signal, ia) three primary color signals for extracting the three primary color signals R, G, and B from the image signal; The input terminal is connected to the output terminal of the signal extraction circuit (41) and (l) three primary color signal extraction circuit (old), and the three primary color signals R, G, given from the three primary color signal extraction circuit (41), (c) The input end is connected to the output end of the brightness signal creation circuit (42) for creating the brightness signal Y from B, and the brightness signal Y changes from the set value. An article inspection device characterized in that it outputs a brightness comparison signal Y' which becomes a high level state only when the brightness signal Y exceeds a set value.

本発明により提供される問題点の第2の解決手段は、 [物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物か混入ないし付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R,G、Bを取出すため
の三原色信号取出回路(Ill)と、(b)三原色信号
取出回路(41)の出力端に対して入力端が接続されて
おり、三原色信号取出回路(41)から与えられた三原
色信号R,G、Bを互いに加算して三原色和信号Xを作
成するための三原色信号加算回路(44)と、 (cl三原色信号取出回路(41)の出力端と三原色信
号加算回路(44)の出力端とに対してるだめの比較回
路(43)と、 (dl比較回路(43)の出力端に対して入力端か接続
されており、輝度比較信号Y゛に含まれた高レベル状態
を計数することに よって被検査物品に混入ないしは付着した異物を計数す
るための計数回路(48)と、 fe)輝度信号作成回路(42)の出力端と比較回路(
43)の入力端との間もしくは比較回路(43)の出力
端と計数回路(48)の入力端との間に挿入されており
、輝度信号Yもしくは輝度比較信号Y0から画像信号中
の乱反射信号に伴なう誤輝度信号YNもしくは誤輝度比
較信号YN+を除去するための乱反射信号除去回路(7
1)と、 [fl計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路(48)の計数結果が所定値を超
えたとき異物検出信号人・′を発生ずるための異物検出
信号発生回路(49)と 入力端が接続されており、三原色信号R、G、Bを三原
色和信号Xによって除することによって三原色信号R,
G、Bの原色相対色度信号X Il、 X、 α、 X
 nを算出し、最大のものを相対色度信号Xとして出力
するための割算回路(45)と、 (d)割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
さ、f′1でおり、相対色度信号Xが設定値を超えたか
否かを判定して相対色度信号Xが設定値を超えたときに
のみ高レベル状態となる相対色度比較信号X゛を出力す
るためのLt較回路(46)と、 tel比較回路(46)の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度比較信号X゛に含まれた高レベル
状態を計数することによって被検査物品に混入ないしは
付着した異物を計数するための計数回路(48)と、 (f)割算回路(45)の出力端と比較回路(46)の
入力端との間もしくは比較回路(46)の出先端と計数
回路(48)の入力端との間に挿入されており、相対色
度信号Xもしくは相対色度比較信号X゛から画像信号中
の乱反射信号に伴なう誤相対色度信号X Nもしくは誤
相対色度比較信号XN゛を除去するための乱反射信号除
去回路(72)と、(g)計数回路(48)の出力端に
対して入力端か接続されており、計数回路(48)の5
」数結果が所定値を超えたとき異物検出信号■を発生ず
るための異物検出信号発生回路(49)と を備えてなることを特徴とする物品1カ)査装置」 である。
A second solution to the problem provided by the present invention is as follows: [By processing an image signal obtained by capturing an image of the inspected article being conveyed by the article conveying section by the article imaging section, a foreign object is removed from the inspected article. In an article inspection device for inspecting whether or not color is mixed or attached, (a) a three primary color signal extraction circuit (Ill) for extracting three primary color signals R, G, and B from an image signal; and (b) three primary color signals. The input terminal is connected to the output terminal of the extraction circuit (41), and the three primary color signals R, G, and B given from the three primary color signal extraction circuit (41) are added together to create the three primary color sum signal X. a three-primary-color signal addition circuit (44), a comparator circuit (43) for connecting the output terminal of the (cl three-primary-color signal extraction circuit (41)) and the output terminal of the three-primary-color signal addition circuit (44), and (dl comparison circuit) The input terminal is connected to the output terminal of (43), and the counting circuit counts the foreign matter mixed in or attached to the inspected article by counting the high level state included in the brightness comparison signal Y'. (48) and fe) the output terminal of the luminance signal generation circuit (42) and the comparison circuit (
43) or between the output end of the comparator circuit (43) and the input end of the counting circuit (48), and is inserted between the input end of the comparison circuit (43) and the input end of the counting circuit (48), and is inserted between the input end of the comparison circuit (43) and the input end of the counting circuit (48), and is used to detect the diffused reflection signal in the image signal from the brightness signal Y or the brightness comparison signal Y0. A diffuse reflection signal removal circuit (7) for removing the erroneous luminance signal YN or the erroneous luminance comparison signal YN+ accompanying
1), [The input terminal is connected to the output terminal of the fl counting circuit (48), and when the counting result of the counting circuit (48) exceeds a predetermined value, a foreign object detection signal ` is generated. The input terminal is connected to the foreign object detection signal generation circuit (49), and the three primary color signals R, G, and B are divided by the three primary color sum signal X to generate the three primary color signals R, G, and B.
G, B primary color relative chromaticity signal X Il, X, α, X
(d) a division circuit (45) for calculating n and outputting the maximum value as a relative chromaticity signal X; (d) an input terminal connected to the output terminal of the division circuit (45); 1, and determines whether or not the relative chromaticity signal X exceeds the set value, and outputs the relative chromaticity comparison signal X' which becomes a high level state only when the relative chromaticity signal X exceeds the set value. The input terminals are connected to the output terminals of the Lt comparator circuit (46) and the tel comparator circuit (46). A counting circuit (48) for counting foreign substances mixed in or attached to the inspection article; and (f) between the output terminal of the division circuit (45) and the input terminal of the comparison circuit (46) or the comparison circuit (46). is inserted between the output end of the counter circuit (48) and the input end of the counting circuit (48), and detects the error relative chromaticity signal due to the diffused reflection signal in the image signal from the relative chromaticity signal X or the relative chromaticity comparison signal X'. The input end is connected to the diffuse reflection signal removal circuit (72) for removing XN or the erroneous relative chromaticity comparison signal 48) No. 5
``An article scanning device characterized by comprising a foreign object detection signal generating circuit (49) for generating a foreign object detection signal (4) when the numerical result exceeds a predetermined value.''

本発明により提供される問題点の第3の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物が混入ないしイコ、着しているか
否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R,G、Bを取出すため
の三原色信号取出回路(41)と、(1))三原色信号
取出回路(41)の出力端に対して入力端か接続されて
おり、三原色信号取出回路(41)から与えられた三原
色信号R,G、Bから輝度信号Yを作成するための輝度
信号作成回路(42)と、 (c)輝度信号作成回fl (42+の出力端に対して
入力端が接続されており、輝度信号Yが設定値を超えた
か否かを判定して輝度信号Yが設定値を超えたときにの
み高レベル状態となる輝度比較信号Y゛を出力するため
の第1の比較回路(43)と、 (d)三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
力端か接続されており、三原色信号取出回路(41)か
ら与えられた三原色信号R,G、Bを互いに加算して三
原色和信号Xを作成するための三原色信号加算回路(4
4)と、 (e)三原色信号取出回路(41)の出力端と三原色信
号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続さ
れており、三原色信号RG、Bを三原色和信号Xによっ
て除す ることによって三原色信号R,G、Bの相対色度XR,
XG、X、を算出し、最大のものを相対色度信号Xとし
て出力するための割算回路(45)と、 ff+割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度信号Xが設定値を超えたか否かを
判定して相対色度信号Xが設定値を超えたどきにのみ高
レベル状態となる相対色度比較信号X゛を出力するため
の第2の比較回路(46)と、(g)第1の比較回路(
43)の出力端と第2の比較回路(46)の出力端とに
対して入力端が接続されており、輝度比較信号Y゛と相
対色度比較信号X+とを組合わせて組合信号2を作成し
出力するための信号組合回路(47)と、 1)) R7度信号作成回路(42)の出力端と第1の
比較回路(43)の入力端との間もしくは第1の比較回
ff143)の出力端と信号組合回路(47)の入力端
との間に挿入されており、輝度信号Yもしくは輝度比較
信号 Y゛から画像信号中の乱反射信号に伴なう誤輝度信号Y
Nもしくは誤輝度比較信号YN+を除去するための第1
の乱反射信号除去回路(71)と、 (1)割算回路(45)の出力端と第2の比較回路(4
6)の入力端との間もしくは第2の比較回路(46)の
出力端と信号組合回路(47)の入力端との間に挿入さ
れており、相対色度信号Xもしくは相対色度比較信号X
“から画像信号中の乱反射信号に伴なう誤相対色度信号
XNもしくは誤相対色度比較信号XN゛を除去するため
の第2の乱反射信号除去回路(72)と、 (j)信号組合回路(47)の出力端に対して入力端か
接続されており、組合信号2に含まれた高レベル状態を
訓数することによって被検査物品に混入ないしは付着し
た異物を計数するための計数回路(48)と、fk)計
数回路(48)の出力端に対して入力端か接続されてお
り、計数回路(48)の計数結果が所定値を超えたとき
異物検出信号■を発生するための異物検出信号発生回路
(49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。
A third means of solving the problem provided by the present invention is as follows: ``By processing an image signal obtained by imaging an article to be inspected being conveyed by an article conveying section by an article imaging section, foreign particles can be detected on an article to be inspected. In an article inspection device for inspecting whether or not a color is mixed or contaminated, (a) a three primary color signal extraction circuit (41) for extracting three primary color signals R, G, and B from an image signal; ) The input terminal is connected to the output terminal of the three primary color signal extraction circuit (41), and the luminance signal is used to create the luminance signal Y from the three primary color signals R, G, and B given from the three primary color signal extraction circuit (41). A signal generation circuit (42), (c) a luminance signal generation circuit (fl) whose input terminal is connected to the output terminal of 42+, determines whether the luminance signal Y exceeds a set value, and generates the luminance signal Y. (d) to the output end of the three primary color signal extraction circuit (41); The input end is connected to the three primary color signal addition circuit (4
(e) The input terminal is connected to the output terminal of the three primary color signal extraction circuit (41) and the output terminal of the three primary color signal addition circuit (44), and the three primary color signals RG and B are converted into the three primary color sum signal X. The relative chromaticity XR of the three primary color signals R, G, B is divided by
The input terminal is connected to the output terminal of a division circuit (45) for calculating XG, X, and outputting the maximum value as a relative chromaticity signal , for determining whether or not the relative chromaticity signal X exceeds a set value and outputting a relative chromaticity comparison signal X' that becomes a high level state only when the relative chromaticity signal X exceeds the set value. 2 comparison circuit (46), and (g) first comparison circuit (
The input terminal is connected to the output terminal of the second comparison circuit (43) and the output terminal of the second comparison circuit (46), and a combination signal 2 is obtained by combining the luminance comparison signal Y' and the relative chromaticity comparison signal X+. a signal combination circuit (47) for creating and outputting; 1)) between the output end of the R7 degree signal creation circuit (42) and the input end of the first comparison circuit (43) or the first comparison circuit ff143; ) is inserted between the output terminal of the signal combining circuit (47) and the erroneous luminance signal Y accompanying the diffuse reflection signal in the image signal from the luminance signal Y or the luminance comparison signal Y'.
N or the first to remove the erroneous brightness comparison signal YN+.
(1) The output terminal of the division circuit (45) and the second comparison circuit (4
6) or between the output terminal of the second comparison circuit (46) and the input terminal of the signal combination circuit (47), and is inserted between the input terminal of the second comparison circuit (46) and the input terminal of the signal combination circuit (47), and is inserted between the input terminal of the second comparison circuit (46) and the input terminal of the signal combination circuit (47), and is inserted between the input terminal of the second comparison circuit (46) and the input terminal of the signal combination circuit (47), X
(j) a signal combination circuit; The input terminal is connected to the output terminal of (47), and the counting circuit ( 48) and fk) A foreign object whose input end is connected to the output end of the counting circuit (48) and which generates a foreign object detection signal ■ when the counting result of the counting circuit (48) exceeds a predetermined value. An article inspection device characterized by comprising a detection signal generation circuit (49).

本発明により提供される問題点の第4の解決手段は、 [物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処理することに
より被検査物品に異物か混入ないし44着しているか否
かを検査してなる物品検査装置において、 [a)画像信号から三原色信号R,G、13を取り出し
て出力するための三原色1ぺ号取出回路(141)と、 (b ) F1、、原色信号取出回路(141)の出力
端に文・]して入力端か接続されてお;フ、三原色信号
取出回路(141)から1うえられたミー原色信号R,
G、Bを互いに加算して三原色和信号Xを作成するため
の三原色信号加算回路(142)  と、 tc+三原色信号取出回路(141)の出力端および三
原色信号加算回路(142)の出力端に対して入力端が
接続されており、三原色 信号取出回路(141)から与えら1)た三原色信号R
,G、Bから選ばねた2つを 原色信号加算回路(1,42)から勾えられた原色和信
号Xで除することによって 原色相対色度信号X、R,XG、X、から選ばれた2つ
の三原色相対色度信号を算出して出力するための除算回
路(144A1、 1.448144c、)  と、 (d)除算回路[144A1.144B1.144C+
)の出力端に対して入力端が接続さ第1てお:つ、除騨
回路(144A)、 144B1、 1.446+)か
ら与えられた三原色相対色度信号XR,X1、X、から
選ばれた2つの三原色相対色度信号を所望の割合で互い
に加算して相対色度和信号XΔどして出力するための相
対色度和信号算出回路(1,4B] と、 fe)相対色度和信号算出回路(i、46]の出ノつ端
に対して入力端が接続されており、相対色度和信号×八
が設定値を超えたか否かを判定して相対色度和信号XΔ
が設定値を超えたときにのみ高レベル状態となる相対色
度和信号信号XΔ+を出力するための比較回路(1b7
)と、 (f)比較回路(i、47)の出力端に対して入力端が
接続されており、相対色度和比較信号X訂に含まれた高
レベル状態を計数することによって被検査物品に混入な
いしく:1着した異物の個数を計数するための計数回路
(1,48+ と、 (g)相対色度用(、i胃算出回路+146jの出力端
と比較回路(147)の入力端との間もしくCj゛比較
回路(147+の出力端と計数回路(i1、 48 +
の入力端との間に挿入されており、相対色度和信号XΔ
もしく lj:l11#対色度和比較信号Xl11)か
ら画像信号中の乱反射信号に伴なう誤相対色度和信号X
Δ14もしくは誤相対色度和比較信号X5N’を除去す
るための乱反射信号除去回路(1,731と、 (I(i)計数回路(1,48+ の出力端に対して入
力端が接続されており、計数回路(1,48+の計数結
果が所定値を超えたとき異物検出信号■を発生するため
の異物検出信号発生回路[1,49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。
A fourth solution to the problem provided by the present invention is to [process an image signal obtained by capturing an image of the inspected article being conveyed by the article conveyance section by the article imaging section, thereby detecting foreign matter in the inspected article. In an article inspection device for inspecting whether or not 44 is contaminated or not, it includes: [a) a three primary color 1 page extraction circuit (141) for extracting and outputting three primary color signals R, G, 13 from an image signal; , (b) F1, the input terminal is connected to the output terminal of the primary color signal extraction circuit (141);
To the output end of the three primary color signal addition circuit (142) for adding G and B to each other to create the three primary color sum signal The input end is connected to the three primary color signal R given from the three primary color signal extraction circuit (141)
, G, and B by the primary color sum signal X obtained from the primary color signal addition circuit (1, 42), the primary color relative chromaticity signals X, R, XG, and (d) division circuit [144A1.144B1.144C+
), whose input terminal is connected to the output terminal of a relative chromaticity sum signal calculation circuit (1, 4B) for adding the relative chromaticity signals of the two three primary colors to each other at a desired ratio and outputting the result as a relative chromaticity sum signal XΔ; and fe) a relative chromaticity sum signal The input end is connected to the output end of the signal calculation circuit (i, 46), and it determines whether the relative chromaticity sum signal x 8 exceeds the set value and calculates the relative chromaticity sum signal XΔ.
A comparison circuit (1b7) for outputting a relative chromaticity sum signal
), and (f) the input terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit (i, 47), and the inspection object is detected by counting the high level state included in the relative chromaticity sum comparison signal (g) For relative chromaticity (, i stomach calculation circuit + 146j output terminal and comparison circuit (147) input terminal Between the output terminal of Cj゛comparison circuit (147+) and the counting circuit (i1, 48+
is inserted between the input terminal of the relative chromaticity sum signal XΔ
Or from lj:l11# vs. chromaticity sum comparison signal Xl11) to the erroneous relative chromaticity sum signal
The input end is connected to the output end of the diffuse reflection signal removal circuit (1,731) and the (I(i) counting circuit (1,48+) for removing Δ14 or the erroneous relative chromaticity sum comparison signal X5N'. , a counting circuit (1,48+); and a foreign object detection signal generating circuit [1,49] for generating a foreign object detection signal ■ when the counting result of 1,48+ exceeds a predetermined value. It is.

本発明により提供される問題点の第5の解決千Yぷは、 [物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信号を処、理すること
により被検査物品に異物か混入ないし付着しているか否
かを検査してなる物品検査装置において、 (a、)画像信号から三原色信号R,G、Bを取り出し
て出力するための三原色信号取出回路f 1.41.+
  と、 (l〕)三原色信号取出回路(1411)の出力端に対
して入力端が接続されており、三原色信号取出回路(1
41)から与えら第1た三原色信号R,G、Bを互いに
加算して三原色和信号Xを作成するための三原色信号加
算回路(142)と、 (c)三原色信号取出回路(1411)の出力端および
三原色信号加算回路+ 1.42 +の出力端に対して
入力端が接続されており、三原色信号取出回路f1.4
1.+から与えら、lまた三原色信号R,G、Bから選
ばれた1つの三原色信号を三原色信号加算回路f142
)から勾えられた三原色和信号Xで除すること比較回路
f147]の入力端との間もしくは比較回路(1471
の出力端と計数回路f1.48+の入力端との間に挿入
されており、相対色度信号Xもしくは相対色度比 較信号X゛から画像信号中の乱反則信弓に伴なう該相対
色度信号XNもしくは誤相対色度比較信号XN”を除去
するための乱反射信号除去回路(73)と、 (g)計数回路(148+の出力端に対して入力端が接
続されており、計数回路(1,48+の計数結果が所定
値を超えたどき異物検出信号■を発生ずるための異物検
出信号発生回路+ 1.49 + と を備えてなることを特徴とする物品検査装置] である。
A fifth solution to the problem provided by the present invention is to: In an article inspection device for inspecting whether foreign matter is mixed in or attached to an inspection article, (a) a three primary color signal extraction circuit f1 for extracting and outputting three primary color signals R, G, and B from an image signal; .41. +
(l) The input terminal is connected to the output terminal of the three primary color signal extraction circuit (1411), and the input terminal is connected to the output terminal of the three primary color signal extraction circuit (1411).
(c) the output of the three primary color signal extraction circuit (1411); and (c) the output of the three primary color signal extraction circuit (1411). The input end is connected to the end and the output end of the three primary color signal addition circuit f1.4 +, and the three primary color signal extraction circuit f1.4
1. +, l, and one of the three primary color signals selected from the three primary color signals R, G, and B is added to the three primary color signal addition circuit f142.
) to the input terminal of the comparison circuit (f147) or the input terminal of the comparison circuit (1471
is inserted between the output terminal of the counting circuit f1.48+ and the input terminal of the counting circuit f1.48+, and calculates the relative color associated with the random error signal in the image signal from the relative chromaticity signal X or the relative chromaticity comparison signal X'. (g) A counting circuit (148+) whose input terminal is connected to the output terminal of the counting circuit (148+); 1.49 + A foreign object detection signal generation circuit for generating a foreign object detection signal (1) when the count result of 1.48+ exceeds a predetermined value.

本発明により提供される問題点の第6の解決手段は、 「物品搬送部によって搬送されている被検査物品を物品
撮像部によって撮像して得た画像信  Q とによって三原色相対色度信号X1、X6Xllからj
πばれた1つの三原色相対色度信号を算出して相対色度
信号Xとして出力するための除算回路(144A1、 
144B。
A sixth solution to the problem provided by the present invention is as follows: ``Three primary color relative chromaticity signals X1, X6Xll to j
A division circuit (144A1,
144B.

1.446、)と。1.446,).

(d)除算回路(144A1.1.44β、、 144
cl)の出力端に対して入力端か接続さ2′シており、
除算回路f144A1、 144β、、 1.44C1
)から向えら2″した相対色度信号Xか設定値を超えた
が否 かを判定して相対色度信号Xが設定値を超えたときにの
み高レベル状態となる相対色度比較信号、 x−を出力
するための比較回路(147) と、 (e)比較回路(1471の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度比較信号 X゛に含まれた高レベル状態を計数することによって被
検査物品に混入ないし411着した異物の個数を計数す
るための割数回路(148)  と、 (f)除算回路f144A1、 144β、、 144
C1)の出力端号を処理することにより被検査物品に異
物が混入ないし付着しているか否かを検査してなる物品
検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R,G、Bを取り出して
出力するための三原色信号取出回路(141,+  と
、 (b)三原色信号取出回路(141,j の出力端に対
して入力端か接続されており、三原色信 号取出回路f141)から与えられた三原色信号R,G
、Bを互いに加算して三原色和信号Xを作成するための
三原色信号加算回路(142)  と、 (c)三原色信号取出回路(141)の出力端および三
原色信号加算回路(1,42)の出力端に対して入力端
が接続されており、三原色信号取出回路f141.)か
ら与えられた三原色信号R,G、Bを三原色信号加算回
路f1121から与えられた三原色和信号Xで除するこ
とによって三原色相対色度信号X R,X α、 XI
]を算出して出力するための除算回路(1,44A1、
 144β、、 1446、) と、(d)除算回路(
144A1、144β、、1.44C1)の出力端に対
して入力端が接続されており、除算 回路(1,44A1、 144β、、 144c、)か
らノjえら第1た三原色相対色度信号x 1、 x (
1) x、に対し所望の係数α、β、γを乗して係数付 三原色相対色度信号αX1)、βX6.γX□を算出し
て出力するための乗算回路 f144A2、144C2)  と、 (e)三原色信号取出回路11.41.)の出力端に対
して入力端が接続されており、三原色信号取出回路(1
4]Δ+から与えられた三原色信号R,G、Bを互いに
比較することにJ:り最大のものに対応してOとなる選
択信号g n、 g o、 g nを算出して出力する
ための選択信号発生回路(1,43)と、ff1乗算回
路F144A2.144B2.1.44c2)の出力端
および選択信号発生回路(143)の出力端に対して入
力端が接続されており、選択信号発生回路f143)か
ら与えられた選択信号gu、gc、goど乗算回路(i
、44A2144B2.144c2+から与えられた係
数イ」三原色相対色度信号αXR,βX6.γXBとの
積を互いに加算して相対色度和信号XΔを出力するため
の相対色度和信号算出回路(146+  と、 (gl相対色度和信号算出回路(146)の出力端に対
して入力端が接続されており、相対色度和信号XΔが設
定値を超えたか否かを判定して相対色度和信号Xムか設
定値を超えたときにのみ高レベル状態となる相対色度和
信号信号XA)を出力するための比較回路f147)と
、 (11)比較回路(147)の出力端に対して入力端が
接続されており、相対色度和比較信号Xム゛に含まれた
高レベル状態を計数することによって被検査物品に混入
ないしく=1着した異物の個数を計数するための計数回
路(148]  と、 (1)相対色度和信号算出回路(146)の出力端5 
] と比較回路f1471の入力端との間もしくは比較回路
(147)の出力端と計数回路f1481 の入力端と
の間に挿入されており、相対色度和信号XΔもしくは相
対色 度和比較信号XΔ+から画像信号中の乱反射信号に伴な
う誤相対色度和信号XANもしくは誤相対色度和比較信
号XΔ□“を除去するための乱反射信号除去回路(73
)と、 (j)計数回路(1、48)の出力端に対して入力端が
接続されており、計数回路f1.48)の計数結果が所
定値を超えたとき異物検出信 号■を発生するための異物検出信号発生回路f1.49
) と を備えてなることを特徴とする物品検査装置」 である。
(d) Division circuit (144A1.1.44β, 144
The input end is connected to the output end of cl),
Division circuit f144A1, 144β, 1.44C1
) a relative chromaticity comparison signal that determines whether or not the relative chromaticity signal X exceeds a set value and becomes a high level state only when the relative chromaticity signal X exceeds the set value; A comparator circuit (147) for outputting x-, and an input terminal connected to the output terminal of (e) comparator circuit (1471), which detects the high level state included in the relative chromaticity comparison signal X'. A division circuit (148) for counting the number of foreign substances mixed in or attached to the inspected article by counting, and (f) division circuits f144A1, 144β, 144
In an article inspection device that processes the output terminal number of C1) to check whether foreign matter is mixed in or attached to the article to be inspected, (a) extracting the three primary color signals R, G, and B from the image signal; (b) The input terminal is connected to the output terminal of the three primary color signal extraction circuit (141,j, and the output terminal of the three primary color signal extraction circuit f141) Three primary color signals R, G
, B to each other to create the three primary color sum signal X; (c) the output end of the three primary color signal extraction circuit (141) and the output of the three primary color signal addition circuits (1, 42) The input end is connected to the three primary color signal extraction circuit f141. ) by dividing the three primary color signals R, G, B given from the three primary color signal addition circuit f1121 by the three primary color sum signal X given from the three primary color signal addition circuit f1121, the three primary color relative chromaticity signals X R,
) for calculating and outputting the division circuit (1,44A1,
144β,, 1446,) and (d) division circuit (
The input terminal is connected to the output terminal of the 144A1, 144β, 1.44C1), and the first three primary color relative chromaticity signals , x (
1) Multiply x by desired coefficients α, β, γ to obtain three primary color relative chromaticity signals with coefficients αX1), βX6 . Multiplication circuit f144A2, 144C2) for calculating and outputting γX□; (e) Three primary color signal extraction circuit 11.41. ), the input end is connected to the output end of the three primary color signal extraction circuit (1
4] To compare the three primary color signals R, G, and B given from Δ+ with each other, calculate and output the selection signals g n, g o, g n that correspond to the maximum value and become O. The input terminal is connected to the selection signal generation circuit (1, 43), the output terminal of the ff1 multiplication circuit F144A2.144B2.1.44c2), and the output terminal of the selection signal generation circuit (143), and the selection signal The selection signals gu, gc, go etc. given from the generation circuit f143) are
, 44A2144B2.144c2+, the three primary color relative chromaticity signals αXR, βX6 . A relative chromaticity sum signal calculation circuit (146+) for adding the products with γ A relative chromaticity sum whose ends are connected and which determines whether or not the relative chromaticity sum signal XΔ exceeds a set value and becomes a high level state only when the relative chromaticity sum signal XΔ exceeds the set value. (11) The input terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit (147), and the input terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit f147) for outputting the signal signal XA), and A counting circuit (148) for counting the number of foreign substances that have entered or landed on the inspected article by counting the high level state, and (1) an output terminal of the relative chromaticity sum signal calculation circuit (146). 5
] and the input terminal of the comparison circuit f1471 or between the output terminal of the comparison circuit (147) and the input terminal of the counting circuit f1481, and is inserted between the relative chromaticity sum signal XΔ or the relative chromaticity sum comparison signal XΔ+ A diffused reflection signal removal circuit (73
) and (j) The input terminal is connected to the output terminal of the counting circuit (1, 48), and when the counting result of the counting circuit f1.48) exceeds a predetermined value, a foreign object detection signal ■ is generated. Foreign object detection signal generation circuit f1.49 for
) An article inspection device characterized by comprising:

[作用] 本発明にかかる物品検査装置は、[問題点の解決1段]
の欄に、第1ないし第6の解決手段として挙げたごとき
構成を有しているので、(1)画像信号中の乱反射信号
に伴なう誤信号を除去する作用 をなし、ひいては fij)被検査物品に混入ないしは付着した異物の検査
精度を向上する作用 をなず。
[Function] The article inspection device according to the present invention achieves [1st step of solving the problem]
Since it has the configurations listed as the first to sixth solutions in the column, (1) it functions to remove the erroneous signal accompanying the diffusely reflected signal in the image signal, and as a result, fij) It has the effect of improving the accuracy of testing for foreign matter mixed in or attached to the test item.

本発明にかかる物品検査装置は、[問題点の解決手段]
の欄に、特に、第4ないし第6の解決手段として挙げた
ごとき構成を有しているので、上記(j、l (ii)
の作用に加え、 (iii)被検査物品に混入ないしは付着した異物を被
検査物品との間の色彩の差異を利用して検出する作用 をなし、ひいては (1■)被検査物品に混入ないし付着したの異物の検査
精度を一層向上せしめる作用 をなす。
The article inspection device according to the present invention [Means for solving problems]
In particular, the above (j, l (ii)
In addition to the effects of (iii) foreign matter mixed in or attached to the inspected article, it is detected by using the difference in color between the inspected article and (1) foreign matter mixed with or attached to the inspected article. This works to further improve the accuracy of inspecting foreign matter.

[実施例コ 次に、本発明にかかる物品検査装置について、その好ま
しい実施例を挙げ、添付図面を参照しつつ、具体的に説
明する。
[Example 2] Next, the article inspection apparatus according to the present invention will be specifically explained by citing preferred embodiments thereof and referring to the attached drawings.

しかしなから、以下に説明する実施例は、本発明の理解
を容易化ないし促進化するために記載されるものであっ
て、本発明を限定するために記載されるものではない。
However, the examples described below are described to facilitate or promote understanding of the present invention, and are not described to limit the present invention.

換言すれば、以下に説明する実施例において開示される
各要素は、本発明の精神ならびに技術的範囲に属する限
り、全ての設計変更ならびに均等物置換を含むものであ
る。
In other words, each element disclosed in the embodiments described below includes all design changes and equivalent substitutions as long as they fall within the spirit and technical scope of the present invention.

(添寸図面の説明) 第1図は、本発明にかかる物品検査装置の第1の実施例
を示すためのブロック回路図である。
(Explanation of attached drawings) FIG. 1 is a block circuit diagram showing a first embodiment of an article inspection apparatus according to the present invention.

第2図は、第1図実施例の一部を拡大して示すための部
分破断斜視図である。
FIG. 2 is a partially cutaway perspective view showing a part of the embodiment shown in FIG. 1 in an enlarged manner.

第3区は、第1図実施例の一部を拡大して示すための部
分ブロック回路図である。
The third section is a partial block circuit diagram for enlarging and showing a part of the embodiment of FIG.

第4図は、第1図実施例の動作を示すだめのフローヂャ
ート図である。
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the embodiment of FIG. 1.

第5図(a)〜(clは、ともに、第1図実施例の動作
を説明するための説明図であって、被検査物品Mの表面
におt、Jる光の乱反射に伴なう反則信号(“話し反射
信号°”という)P8が高彩度の異物1〈1.および低
彩度の異物NLにおける光の正反射Rfl−+1 Rf
t、に伴なう反射信号(゛異物反射信号゛′という)P
1、1、PLとともに画像信号Pに含まれてしまう状況
を説明している。
5(a) to 5(cl) are explanatory diagrams for explaining the operation of the embodiment in FIG. The foul signal (referred to as "talking reflection signal °") P8 is the specular reflection of light Rfl-+1 Rf at the foreign object 1 with high chroma and the foreign object NL with low chroma.
t, a reflected signal (referred to as a ``foreign object reflected signal'') P
1, 1, and PL are included in the image signal P.

第6図(a) (b)は、第1図実施例の動作を説明す
るための説明図であって、乱反射信号除去回路70の除
去回路71で画像信号P中に含まれた乱反射信号PNに
伴なう誤輝度比較信号Y、□1を輝度比較信号Y゛から
除去する動作を説明している。
6(a) and 6(b) are explanatory diagrams for explaining the operation of the embodiment of FIG. 1, in which the diffuse reflection signal PN included in the image signal P is The operation for removing the erroneous brightness comparison signal Y, □1 caused by the brightness comparison signal Y, □1 from the brightness comparison signal Y' is explained.

第7図(a) fly+は、第1図実施例の動作を説明
するための説明図であって、乱反射信号除去回路70の
除去回路72で画像信号P中に含まれた乱反射信号PN
に伴なう誤相対色度比較信号Xn”を相対色度比較信号
X゛から除去する動作を説明している。
FIG. 7(a) fly+ is an explanatory diagram for explaining the operation of the embodiment of FIG. 1, in which the diffuse reflection signal PN included in the image signal P is
The operation for removing the erroneous relative chromaticity comparison signal Xn'' caused by the relative chromaticity comparison signal X' is explained.

第8図は、本発明にかかる物品検査装置の第2の実施例
を示すためのブロック回路図である。
FIG. 8 is a block circuit diagram showing a second embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第9図は、本発明にかかる物品検査装置の第3の実施例
を示すだめのブロック回路図である。
FIG. 9 is a block circuit diagram showing a third embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第10図は、第9図実施例の動作を示すためのフローヂ
ャート図である。
FIG. 10 is a flowchart showing the operation of the embodiment shown in FIG.

第11図は、本発明にかかる物品検査装置の第4の実施
例を示すだめのブロック回路図である。
FIG. 11 is a block circuit diagram showing a fourth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第12図は、本発明にかかる物品検査装置の第5の実施
例を示すだめのブロック回路図である。
FIG. 12 is a block circuit diagram showing a fifth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第13図は、第12図実施例の動作を示すためのフロー
チャー1〜図である。
FIG. 13 is a flowchart 1 to diagram showing the operation of the embodiment of FIG. 12.

第14図は、本発明にかかる物品検査装置の第6の実施
例を示すだめのブロック回路図である。
FIG. 14 is a block circuit diagram showing a sixth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第15図は、本発明にかかる物品検査装置の第7の実施
例を示すだめのブロック回路図である。
FIG. 15 is a block circuit diagram showing a seventh embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第16図は、第15図実施例の動作を示すだめのフロー
ヂャート図である。
FIG. 16 is a preliminary flowchart showing the operation of the embodiment of FIG. 15.

第17図は、本発明にかかる物品検査装置の第8の実施
例を示すためのブロック回路図である。
FIG. 17 is a block circuit diagram showing an eighth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第18図は、本発明にかかる物品検査装置の第9の実施
例を示すだめのブロック回路図である。
FIG. 18 is a block circuit diagram showing a ninth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第19図は、第18図実施例の動作を示すだめのフロー
チャー1〜図である。
FIG. 19 is a flowchart 1 to diagram showing the operation of the embodiment of FIG. 18.

第20図は、本発明にかかる物品検査装置の第10の実
施例を示すためのブロック回路図である。
FIG. 20 is a block circuit diagram showing a tenth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第21図は、本発明にかかる物品検査装置の第11の実
施例を示すためのブロック回路図である。
FIG. 21 is a block circuit diagram showing an eleventh embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention.

第22図は、第21図実施例の動作を示すためのフロー
ヂャ−1・図である。
FIG. 22 is a flowchart 1 diagram showing the operation of the embodiment shown in FIG.

第23区は、本発明にかかる物品検査装置の第12の実
施例を示すためのブロック回路図である。
Section 23 is a block circuit diagram showing a twelfth embodiment of the article inspection device according to the present invention.

(第1の実施例の構成) まず、第1図ないし第3図を参照しつつ、本発明にかか
る物品検査装置の第1の実施例について、その構成を詳
細に説明する。
(Configuration of First Embodiment) First, the configuration of a first embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 3.

i生孤或 10ば、本発明にかかる物品検査装置であって、被検査
物品(たとえば海苔など;単に物品ともいう)Mを矢印
へ方向に向けて1つずつ搬送するための物品搬送部20
と、物品搬送部20の近傍に間膜されており物品搬送部
20によって搬送されている被検査物品Mを撮像して画
像信号Pを出力するための物品撮像部30とを備えてい
る。
In addition, the article inspection apparatus according to the present invention includes an article conveying section 20 for conveying inspected articles (for example, seaweed, etc.; also simply referred to as articles) M one by one in the direction of the arrow.
and an article imaging section 30 which is disposed near the article conveyance section 20 and is configured to image the inspected article M being conveyed by the article conveyance section 20 and output an image signal P.

本発明にかかる物品検査装置10は、また、物品撮像部
30に対して接続されており物品撮像部30h)ら出力
された被検査物品Mの画像信号Pを適宜に処理すること
によって被検査物品Mに異物Nか混入ないしは付和して
いるか否かを検出するための異物検出部40を備えてい
る。異物検出部40の検出結果は、たとえば、物品搬送
部20のうぢ物品撮像部30の下流側に配設された不良
物品除去部50に勾えて不良の被検査物品(すなわち異
物Nか比較的に多く混入ないし付着した被検査物品、以
下同様)M゛を個別に除去するために利用してもよく、
また不良率算出部60に与えて被検査物品群か含む不良
の被検査物品M“の割合(すなわち被検査物品群の不良
率)を算出して表示あるいは記録するために利用しても
よい。ここでは、説明の都合」二、異物検出部40の検
出結果(」、不良物品除去ない。
The article inspection apparatus 10 according to the present invention is also connected to an article imaging section 30 and outputs an image signal P of the article M to be inspected outputted from the article imaging section 30h). A foreign matter detection unit 40 is provided for detecting whether a foreign matter N is mixed or attached to M. The detection result of the foreign object detection section 40 is, for example, a defective inspected object (i.e. foreign object N or relatively It may also be used to individually remove M゛ (the same applies hereinafter) that has been mixed or adhered to the
It may also be applied to the defective rate calculation unit 60 to calculate and display or record the proportion of defective inspected articles M'' included in the inspected article group (ie, the defective rate of the inspected article group). Here, for the sake of explanation, "2. Detection results of the foreign object detection unit 40 ("), defective products are not removed.

本発明にかかる物品検査装置lOは、更に、異物検出部
40に組み込まれており画像信号Pに含まれた乱反射信
号PNに起因するg!!j (=号(たとえば記輝信号
号¥8.誤輝度比較信号¥8゛、誤相対合信号号×8.
誤相対色度比較信号XN’)を除去するための乱反射信
号除去回路70を備えている。ちな力に、乱反射信号P
Nは、被検査物品Mの表面におけイ)不用1[1な光の
乱反射に起因し、乱反口」光が後述の撮像手段32に受
光さ2′することにより、画像信号P中に含まれること
となる。乱反射信号P、。
The article inspection apparatus 1O according to the present invention further includes a g! ! j (= sign (for example, the recorded brightness signal signal ¥8.
A diffused reflection signal removal circuit 70 is provided for removing the erroneous relative chromaticity comparison signal (XN'). By the way, the diffuse reflection signal P
N is caused by the diffuse reflection of unwanted light on the surface of the inspected article M, and the diffused light is received by the imaging means 32 (to be described later), so that it is reflected in the image signal P. It will be included. Diffuse reflection signal P,.

は、したがって、−鍜に周期性かない。Therefore, there is no periodicity in -.

物品搬送部20 物品搬送部20は、ヘッドプーリ2]、Aとテールプー
リ21.Bとの周囲に対して配設されており被検査物品
1〜1を矢印へ方向に向けて1つずつ搬送するためのベ
ル1〜コンベア21と、ベルトコンベア2]の下流側に
不良物品除去部50を介して配置されかつヘットプーリ
22Aとゾールプーリ22Bとの周囲に対して配設され
ており不良物品除去部50によって除去されなかった被
検査物品Mを後続の処理装置(図示せず)に向(づて1
つずつ搬送するための他のベルトコンベア22とを備え
ている。
Article conveying section 20 The article conveying section 20 includes a head pulley 2], a tail pulley 21, and a tail pulley 21. Bells 1 to 21 are arranged around the belt conveyor 21 to convey the inspected articles 1 to 1 one by one in the direction of the arrow, and a belt conveyor 2 is provided with a belt for removing defective articles. The inspected articles M, which are disposed through the section 50 and around the head pulley 22A and the sol pulley 22B and have not been removed by the defective article removing section 50, are directed to a subsequent processing device (not shown). (Zute 1
It is also provided with another belt conveyor 22 for conveying the belts one by one.

物品撮像部30 物品撮像部30は、ベルトコンベア21の近傍に配置さ
れており搬送されてきたとき被検査物品Mを検知して物
品検知信号fを出力するためのセンサ31と、ベルトコ
ンベア21の」1方に配置されかつセンサ31に接続さ
れており物品検知信号fに応じてヘルドコンベア21に
よって搬送されている被検査物品Mを撮像するためのビ
デオカメラあるいはラインセンサカメラなとの撮像手段
32と、蛍光灯ハロゲンランプあるいは発光ダイオード
などによって形成されておりベルトコンベア21によっ
て搬送されている被検査物品Mを93躬する光(照射光
という)Lを発生ずるための光源33とを備えている。
Article Imaging Unit 30 The article imaging unit 30 is disposed near the belt conveyor 21 and includes a sensor 31 for detecting the inspected article M when it is being conveyed and outputting an article detection signal f; An imaging means 32, such as a video camera or a line sensor camera, is arranged on one side and connected to the sensor 31, and is configured to take an image of the inspected article M being conveyed by the heald conveyor 21 in accordance with the article detection signal f. and a light source 33 for generating light (referred to as irradiation light) L, which is formed by a fluorescent lamp, a halogen lamp, a light emitting diode, or the like, and which illuminates the inspected article M being conveyed by the belt conveyor 21. .

ここで、撮像手段32が物品搬送部20による被検査物
品Mの搬送速度に相応する速度で動作するシャッタを包
有しておれば、被検査物品Mに混入ないしく一1着した
異物Nか微小となっても良好に検知可能とできるので、
好ましい。このとき、光源33として蛍光灯を採用する
場合、インペラ(図示せず)を介して電極間に高周波の
電圧を印加ずれば、撮像手段32のシャッタ開放時期が
異なっても照射光りの光量を一定に維持できるので、好
ましい。
Here, if the imaging means 32 includes a shutter that operates at a speed corresponding to the conveyance speed of the article M to be inspected by the article conveyor 20, it is possible to detect foreign matter N that has entered or landed on the article M to be inspected. Even if it is minute, it can be detected well.
preferable. At this time, when a fluorescent lamp is used as the light source 33, by applying a high frequency voltage between the electrodes via an impeller (not shown), the amount of irradiated light can be kept constant even if the shutter opening timing of the imaging means 32 is different. This is preferable because it can be maintained at

物品撮像部30は、また、撮像手段32を包囲するよう
配設されており被検査物品Mの表面あるいLl異物Nの
表面による異常反射 (ここでは正反射)を抑制するよ
う光源33による!]8射光りを散乱ぜしめ散乱光ρと
してベルトコンベア21によって搬送されている被検査
物品Mに与えるための散乱部材34と、光源33および
散乱部材34を包囲しており外光を遮断しかつ照射光り
が周囲環境に漏出することを抑制するための遮光部材3
5とを備えている。
The article imaging section 30 is also arranged to surround the imaging means 32, and uses a light source 33 to suppress abnormal reflection (here, specular reflection) from the surface of the article M to be inspected or the surface of the foreign object N. ]8 A scattering member 34 for scattering the incident light and giving it as scattered light ρ to the inspected article M being conveyed by the belt conveyor 21, and surrounding the light source 33 and the scattering member 34 to block external light and Light shielding member 3 for suppressing irradiation light from leaking into the surrounding environment
5.

散乱部材34は、半透明の化学合成樹脂(たとえば半透
明アクリル樹脂)なとの半透明材料によってJ形成され
ている。
The scattering member 34 is made of a translucent material such as a translucent chemical synthetic resin (for example, translucent acrylic resin).

遮光部材35ij、本発明にとって必須要素ではないの
で、所望により除去してもよい。
Since the light shielding member 35ij is not an essential element for the present invention, it may be removed if desired.

異物検出部40 異物検出部40は、撮像手段32の出力端に対して接続
されており撮像手段32によって撮像されて出力された
被検査物品Mの画像伝号Pを適宜に処理し遅延回路31
Aによって遅延された物品l!!知信−号f(これを遅
延物品検知信号fMという)に応じて三原色信号Q(す
なわち赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を
取り出すための三原色信号取出回路41と、三原色信号
取出回路41に対して接続されており三原色信号取出回
路41から与えられた三原色信号Q(すなわち赤色信号
R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)から輝度信号Yを
作成するための輝度信号作成回路42と、輝度信号作成
回路42の出力端に対し反転入力端か接続さ、PLかつ
非反転入力端か設定回路43Aに対し接続されており輝
度信号Yか設定回路43Aの設定値Y Oを超えたか否
かを判定することによって輝度信号Yかその設定値Y。
Foreign Object Detection Unit 40 The foreign object detection unit 40 is connected to the output end of the imaging means 32, and appropriately processes the image signal P of the inspected article M captured and output by the imaging means 32, and sends it to the delay circuit 31.
Goods delayed by A! ! A three primary color signal extraction circuit 41 for extracting three primary color signals Q (that is, a red signal R1, a green signal G, and a blue-violet signal B) in response to a signal f (this is referred to as a delayed article detection signal fM); and a three primary color signal extraction circuit. a luminance signal creation circuit 42 for creating a luminance signal Y from the three primary color signals Q (i.e., the red signal R1, the green signal G, and the blue-violet signal B), which is connected to the three primary color signal extraction circuit 41; Whether the inverting input terminal is connected to the output terminal of the luminance signal generation circuit 42, PL and the non-inverting input terminal is connected to the setting circuit 43A, and whether the luminance signal Y exceeds the set value YO of the setting circuit 43A. The brightness signal Y or its setting value Y is determined by determining the brightness signal Y or its set value Y.

を超えたときにのみ高レベル状態となる輝度比較信号Y
゛を出力するための比較回路43とを備えている。比較
回路43か輝度’l諷−’y yを設定値Y。と比較し
ている根拠は、輝度信号Yに含まれた低レベルのノイズ
(すなわち被検査物品Mの表面における異常反射IRf
Iに起因したノイズ第5図(a)−(c)谷間)を除去
し、被検査物品lX任の表面の凹凸をR物Nと誤認する
ことを回避するにある。
The brightness comparison signal Y becomes high level only when it exceeds
and a comparison circuit 43 for outputting . The comparison circuit 43 sets the brightness 'l'y to the set value Y. The reason for the comparison is that low-level noise included in the luminance signal Y (i.e., abnormal reflection IRf on the surface of the inspected article M)
The purpose is to remove the noise caused by I (Fig. 5 (a)-(c) valley) and to avoid misidentifying the surface irregularities of the inspected article IX as the R article N.

異物検出部蛙は、また、三原色信号取出回路41の出力
端に対して接続されており三原色信号Q(すなわち赤色
信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を互いに加算
して三原色和信号X(R4−G 十B )を作り出すた
めの三原色信号加算回路44と、三原色信号加算回路4
4の出力端および原色信号取出回路41の出ノつ端に対
して接続されており三原色信号Q(ずなわち赤色信号R
1緑色侶号Gおよび青紫色信号B)の三原色和信号Xに
対する相対色度信号(すなわち三原色相対色度信号XI
IX1、XB ;詳細には赤色相対色度信号XRR/X
 、緑色相対色度信号x、=G/Xおよび青紫色相対色
度信号X、−B/X)を算出し最大のものを相対色度信
号Xとして出力するための割算回路45と、割算回路4
5の出力端に対して反転入力端か接続されかつ非反転入
力端が設定回路46Aに対して接続されており相対色度
信号X(ずなわぢ赤色箱列色度信号X+1、緑色相対色
度信号x6および青紫色相対色度信号xllのうち最大
のもの)が設定回路46Aの設定値X。を超えたか否か
を判定することによって相対色度信号Xかその設定値X
。を超えたときにのみ高レベル状態となる相対色度比較
信号x1を出力するための比較回路46とを(611え
ている。比較回路46が相対色度信号Xを設定値X。と
比較している根拠は、相対色度信号Xに含まれた低レベ
ルのノイズ(すなわち被検査物品Mの表向におりる異常
反射Rf″に起因したノイズ;第5図(a)〜(cl参
照)を除去し、被検査物品Mの表面の色度の偏倚を異物
Nと!!!i詔することを回避するにある。
The foreign object detection section Frog is also connected to the output end of the three primary color signal extraction circuit 41, and adds the three primary color signals Q (namely, the red signal R1, the green signal G, and the blue-violet signal B) to each other to generate the three primary color sum signal X ( The three primary color signal addition circuit 44 and the three primary color signal addition circuit 4 for producing R4-G 1B )
4 and the output end of the primary color signal extraction circuit 41, and the three primary color signals Q (that is, the red signal R
Relative chromaticity signals (i.e., three primary color relative chromaticity signals XI
IX1, XB; In detail, red relative chromaticity signal XRR/X
, green relative chromaticity signal x, = G/X and blue-violet relative chromaticity signal X, -B/X) and outputs the maximum one as relative chromaticity signal X; Arithmetic circuit 4
The inverting input terminal is connected to the output terminal of 5, and the non-inverting input terminal is connected to the setting circuit 46A. The maximum value of the signal x6 and the blue-violet relative chromaticity signal xll) is the setting value X of the setting circuit 46A. The relative chromaticity signal X or its set value
. A comparison circuit 46 for outputting a relative chromaticity comparison signal x1 which becomes a high level state only when the value exceeds the set value X is set (611). The reason for this is that low-level noise contained in the relative chromaticity signal The purpose is to remove the chromaticity deviation on the surface of the object to be inspected M to avoid construing it as a foreign substance N.

異物検出部40は、更に、比較回路43.46の出力端
に対しそれぞれ乱反射信号除去回路70の除去回路71
.72を介して2つの入力端か接続されており比較回路
43から出力されかつ除去回路71で割戻q=を信号P
Nに起因した誤輝度比較信号YN″の除去された輝度比
較信号Y゛と比較回路46から出力されかつ除去回路7
2で乱反射信号P8に起因した誤用i1色度比較信号X
N”の除去された相対色度比較信号X゛とを適宜に組み
合わぜたのち組合信号Zとして出力するための信号組合
回路47を備えている。信号組合回路47は、2つの入
力端がそれぞれ除去回路71..72を介して比較回路
43.46の出力端に接続されており輝度比較信号Y゛
と相対色度比較信号X゛との論理積信号Y″X゛を作成
するためのアンド回路47Aと、2つの入力端がそれぞ
れ除去回路71..72を介して比較回路43.46の
出力端に接続されており輝度比較信号Y゛と相対色度比
較信号X゛との論理和信号Y”+X”を作成するための
オア回路47I3と、第1ないし第4の切替接点かそれ
ぞれアンド回路47Aの出力端とオア回路4713の出
力端と比較回路43の出力端 (除去回路71を介して
)と比較回路46の出力端 (除去回路72を介して)
とに接続されかつ共通接点か出力端とされており論理積
信号Y″X゛と論理和信号Y゛+X゛と輝度比較信号Y
゛と相対色度比較(g号X゛とのいずれかを組合信号Z
として出力するための切替スイッチ41Cとを備えてい
る。
The foreign object detection unit 40 further includes a removal circuit 71 of the diffuse reflection signal removal circuit 70 for each of the output terminals of the comparison circuits 43 and 46.
.. The two input terminals are connected via the comparator circuit 43, and the removal circuit 71 outputs the rebate q= as the signal P.
The brightness comparison signal Y'' from which the false brightness comparison signal YN'' caused by
2, the misuse i1 chromaticity comparison signal X caused by the diffuse reflection signal P8
A signal combining circuit 47 is provided for appropriately combining the relative chromaticity comparison signal It is connected to the output terminals of the comparison circuits 43 and 46 via the removal circuits 71..72, and is used to create an AND signal Y''X'' of the luminance comparison signal Y'' and the relative chromaticity comparison signal X''. The circuit 47A and the two input terminals each have a removal circuit 71. .. an OR circuit 47I3 connected to the output terminals of the comparison circuits 43 and 46 via 72 and for creating a logical sum signal Y''+X'' of the luminance comparison signal Y'' and the relative chromaticity comparison signal X''; The output terminal of the AND circuit 47A, the output terminal of the OR circuit 4713, the output terminal of the comparison circuit 43 (via the elimination circuit 71), and the output terminal of the comparison circuit 46 (via the elimination circuit 72) are connected to the output terminal of the first to fourth switching contacts, respectively. hand)
and is connected to the common contact or output terminal, and the AND signal Y''X'', the OR signal Y''+X'', and the brightness comparison signal Y
゛ and relative chromaticity comparison (g No.
It is equipped with a changeover switch 41C for outputting as an output signal.

異物検出部40ば、加えて、信号組合回路47の出力端
および遅延回路31Aに対して接続されて、!:3つ信
号組合回路47から与えられた組合信号Zに含まれたパ
ルス(すなわち高レベル状態)を計数して被検査物品M
に含まれている異物Iくを鱈数し計数結果を計数信号W
としで出力したのち遅延物品検知信号fMに応して計数
内容がクリアされる計数回路48と、計数回路48の出
力端に接続されており計数回路48から出力された計数
信号Wの内容(すなわち計数結果)が所定値Woを超え
たか否かを判定し所定値W。を超えたとき異物検出信号
■を発生ずるための異物検出信号発生回路49とを備え
ている。異物検出信号発生回路49によって発生された
異物検出信号■は、異物検出部40の検出結果として出
力されており、ここでは、不良の被検査物品(すなわぢ
異物Nの混入数ないし付着数か大きい被検査物品)M゛
を個別に除去するための不良物品除去部50に与えられ
、かつ被検査物品群の不良率を算出して表示しあるいは
記録するための不良率算出部60に与えられている。
The foreign object detection section 40 is also connected to the output terminal of the signal combination circuit 47 and the delay circuit 31A, and! : Counts the pulses (i.e., high level state) included in the combination signal Z given from the three signal combination circuit 47 and outputs the item M to be inspected.
The number of foreign substances contained in the cod is counted, and the counting result is sent to the counting signal W.
A counting circuit 48 whose counting contents are cleared in response to the delayed article detection signal fM after outputting the delayed article detection signal fM, and a counting circuit 48 which is connected to the output terminal of the counting circuit 48 and whose counting contents are A predetermined value W is determined by determining whether or not the count result (counting result) exceeds a predetermined value Wo. A foreign matter detection signal generation circuit 49 is provided for generating a foreign matter detection signal (2) when the foreign matter detection signal (2) exceeds the foreign matter detection signal (2). The foreign object detection signal (2) generated by the foreign object detection signal generation circuit 49 is output as the detection result of the foreign object detection section 40, and here, the foreign object detection signal (2) is output as a detection result of the foreign object detection section 40. It is given to the defective article removal section 50 for individually removing large inspected articles) M, and it is given to the defective rate calculation section 60 for calculating and displaying or recording the defective rate of a group of inspected articles. ing.

ンベア2】とベルトコンベア22との間に配設された切
替フィン51と、異物検出部40の異物検出信号発生回
路49に対して接続されており異物検出信号■に応して
不良の被検査物品M゛を除去するよう切替フィン51を
矢印Bで示ずごとく駆動するための駆動部拐(たとえば
ソレノイド)52と、切替フィン51によって除去され
た不良の被検査物品M“を収容するための収納箱53と
、切替フィン51の下流側に配設されており不良の被検
査物品M+とじて除去されなかった被検査物品Mを切替
フィン51からベルトコンベア22に向けて移送せしめ
るための移送プーリ54とを備えている。
A switching fin 51 disposed between the conveyor belt 2 and the belt conveyor 22 is connected to the foreign object detection signal generation circuit 49 of the foreign object detection section 40, and is connected to the foreign object detection signal generation circuit 49 of the foreign object detection section 40, and detects a defective object in response to the foreign object detection signal ■. A drive unit (for example, a solenoid) 52 for driving the switching fin 51 as shown by arrow B to remove the article M'', and a drive unit 52 for accommodating the defective inspection object M'' removed by the switching fin 51. A storage box 53 and a transfer pulley that is disposed downstream of the switching fin 51 and is used to transfer the inspected articles M that have not been removed as defective inspected articles M+ from the switching fins 51 to the belt conveyor 22. 54.

不良率算出部60 不良率算出部60は、異物検出信号発生回路49と遅延
回路31Aとに接続されており異物検出信号”(1の発
生回数および遅延物品検知信号fMの発生回数をそれぞ
れ計数したのち異物検出信号Vの発生回数の計数結果を
遅延物品検知信号fi+の発生回数の計数結果によって
除して被検査物品群の不良率を算出するための算出回路
61と、算出回路61に接続されておりその算出結果(
すなわち被検査物品群の不良率)を表示するための表示
装置62と、算出回路61に接続されておりその算出結
果(すなわち被検査物品群の不良率)を記録するための
記録装置63とを備えている。ちなみに、不良率算出部
60は、所望により、表示装置62および記録装置63
のいずれか一方を除去してもよい。また、不良率算出部
並の算出した不良率は、被検査物品群の等級イ」などに
利用される。
Defective rate calculation section 60 The defective rate calculation section 60 is connected to the foreign object detection signal generation circuit 49 and the delay circuit 31A, and counts the number of occurrences of the foreign object detection signal "(1) and the number of occurrences of the delayed article detection signal fM, respectively. A calculation circuit 61 is connected to the calculation circuit 61 for calculating the defective rate of the group of articles to be inspected by dividing the count result of the number of occurrences of the foreign object detection signal V by the count result of the number of occurrences of the delayed article detection signal fi+. The calculation result (
A display device 62 for displaying the defective rate of the group of inspected articles) and a recording device 63 connected to the calculation circuit 61 for recording the calculation result (that is, the defective rate of the group of inspected articles). We are prepared. Incidentally, the defective rate calculation unit 60 may be configured to include a display device 62 and a recording device 63 as desired.
Either one of them may be removed. In addition, the defective rate calculated by the defective rate calculation unit is used for determining the grade of the group of articles to be inspected.

乱反射信号除去回路70 乱反射信号除去回路70は、比較回路43の出力端と信
号組合回路47の一方の入力端との間に挿入されており
輝度比較信号Y+から乱反射信号PNに起因した誤輝度
比較信号YN+を除去するための除去回路71と、比較
回路46の出力端と信号組合回路47の他方の入力端と
の間に挿入されており相対色度比較信号X“から乱反射
信号PNに起因した誤相対色度比較信号XN″を除去す
るための除去回路72とを備えCいる。
Diffuse reflection signal removal circuit 70 The diffuse reflection signal removal circuit 70 is inserted between the output terminal of the comparison circuit 43 and one input terminal of the signal combination circuit 47, and performs erroneous luminance comparison caused by the diffuse reflection signal PN from the luminance comparison signal Y+. A removal circuit 71 for removing the signal YN+ is inserted between the output terminal of the comparison circuit 46 and the other input terminal of the signal combination circuit 47, and is inserted between the output terminal of the comparison circuit 46 and the other input terminal of the signal combination circuit 47 to remove the signal YN+ from the relative chromaticity comparison signal X" caused by the diffuse reflection signal PN. and a removal circuit 72 for removing the erroneous relative chromaticity comparison signal XN''.

除去回路71は、比較回路43の出力端に対して入力端
が接続されており1ii11度比較信号Y゛を画像信号
Pの1画面撮像時間に相当する時間だけ遅延せしめるた
めの遅延回路71.aと、比較回路43の出力端に対し
て一方の入力端が接続されかつ他方の入力端が遅延回路
71aの出力端に対して接続されかつ出力端が信号組合
回路47の一方の入力端に対して接続されており輝度比
較信号Y責+ y 2+ ′+と示す:第6図(l〕)
参照)と遅延回路71.aによって遅延された輝度比較
信号Y”+”Y、”’と示す、第6図(a)参照)との
間の論理積を求めて輝度比較信号¥1から乱反射信号P
Nに起因した誤輝度比較信号YN”を除去するための論
理積回路71bとを包有している。
The removal circuit 71 has an input terminal connected to the output terminal of the comparison circuit 43, and is a delay circuit 71. a, one input terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit 43, the other input terminal is connected to the output terminal of the delay circuit 71a, and the output terminal is connected to one input terminal of the signal combination circuit 47. The luminance comparison signal Y + y 2+ ′+ is connected to the luminance comparison signal Y + y 2+ ′+: Fig. 6 (l)
) and delay circuit 71. By calculating the AND between the luminance comparison signal Y"+"Y,"' shown in FIG.
It includes an AND circuit 71b for removing the erroneous brightness comparison signal YN'' caused by N.

除去回路72は、比較回路46の出力端に対して入力端
が接続されており相対色度比較信号X゛を画像信号Pの
1画面撮像時間に相当する時間だcl遅延セしめるため
の遅延回路72aと、比較回路46の出力端に対して一
方の入力端が接続されかつ他方の入力端が遅延回路72
aの出力端に対して接続されかつ出力端が信号組合回路
47の他方の入力端に対して接続されており相対色度比
較イ菖号X゛(x2”’と示す;第7図(1))参照)
と遅延回路71.aによって遅延された相対色度比較信
号X責“°XN“パと示ず;第7図(a)参照)との間
の論理積を求めて相対色度比較信号X゛から乱反射信号
P8に起因した誤相対色度比較信号XN.゛を除去する
ための論理積回路72bとを包有している。
The removal circuit 72 is a delay circuit whose input terminal is connected to the output terminal of the comparator circuit 46 and which delays the relative chromaticity comparison signal X by a time corresponding to one screen imaging time of the image signal P. 72a, one input terminal is connected to the output terminal of the comparator circuit 46, and the other input terminal is connected to the delay circuit 72a.
7 (1 ))reference)
and delay circuit 71. The logical product between the relative chromaticity comparison signal X and the delayed relative chromaticity comparison signal The erroneous relative chromaticity comparison signal XN. and an AND circuit 72b for removing .

(第1の実施例の下用 次いで、第1図ないし第7図1’al (blを参照し
つつ、本発明にかかる物品検査装置の第1の実施例につ
いて、その作用を詳細に説明する。
(First Embodiment) Next, the operation of the first embodiment of the article inspection device according to the present invention will be explained in detail with reference to FIGS. 1 to 7. .

゛検査物0Mの撮像 物品搬送部20のベル[・コンベア21によって被検査
物品Mが矢印へ方向に向けて搬送されてくるごとに、物
品撮像部四のセンサ31か被検査物品Mを検知して物品
検知信号fを発生ずる(ステップ1)。
゛Image of the inspection object 0M is captured by the bell of the article conveyance section 20 [・Every time the inspection object M is conveyed in the direction of the arrow by the conveyor 21, the sensor 31 of the article imaging section 4 detects the inspection object M. Then, an article detection signal f is generated (step 1).

物品撮像部凹の撮像手段32は、物品検知信号fが与え
られると、被検査物品Mの撮像を開始し、その画像信号
Pを送出し始める(ステップ2)。
Upon receiving the article detection signal f, the image pickup means 32 in the article image pickup section starts capturing an image of the article to be inspected M, and starts transmitting the image signal P thereof (step 2).

物品撮像部30では、光源33によって発生された照射
光りが散乱部材34によって散乱されたのぢ散乱光Cと
してベル[・コンベア2目二の被検査物品Mに与えられ
ているので、ベルトコンベア21上の被検査物品Mの表
面および被検査物品Mに混入ないしは付着した異物N 
(詳細には高彩度の異物N。
In the article imaging section 30, the irradiation light generated by the light source 33 is scattered by the scattering member 34 and is applied as scattered light C to the second inspection article M on the belt conveyor 21. Foreign matter N mixed in or attached to the surface of the above inspected article M and the inspected article M
(Details include high-chroma foreign matter N.

および低彩度の異物NL)の表面で反射されるとき、高
彩度の異物N、および低彩度の異物NLの表面における
正常反射(ここでは正反射)R2゜RfLの光量に比べ
、被検査物品Mの表面における異常反射(ここでは正反
射)Rとの光量を十分に減少せしめることができる(第
5図(a)参照)。
When reflected on the surface of foreign matter NL with high chroma and foreign matter NL with low chroma, compared to the normal reflection (here regular reflection) R2゜RfL on the surface of foreign matter NL with high chroma and foreign matter NL with low chroma, It is possible to sufficiently reduce the amount of light with abnormal reflection (here regular reflection) R on the surface of M (see FIG. 5(a)).

このため、画像信号Pは、異物N (すなわち高形度の
異物NHおよび低彩度の異物NL]のみに対応して顕著
に高レベル状態となる異物反射信号P1、、PLを含む
こととなる。しかしながら、被検査物品Mの表面で光の
乱反射が発生し撮像手段32に入射すると、画像信号P
ば、これに伴なって、異物反射信号p1、、p1、に匹
敵するレベルの乱反射信号PNも含むこととなる(第5
図(b)参照)。
Therefore, the image signal P includes the foreign object reflection signals P1, PL, which are at a significantly high level in response to only the foreign object N (that is, the foreign object NH with high shape and the foreign object NL with low saturation). However, when light is diffusely reflected on the surface of the inspected article M and enters the imaging means 32, the image signal P
For example, along with this, a diffuse reflection signal PN of a level comparable to the foreign object reflection signals p1, , p1 is also included (fifth
(See figure (b)).

被検査物品Mの表面における光の乱反射は、一般に、不
規則に発生し周期性がないので、所定時間(たとえば1
画面撮像時間に相当する時間)だけ経過すると、乱反射
信号PNが画像信号Pから消滅している(第5図(c)
参照)。
Diffuse reflection of light on the surface of the inspected article M generally occurs irregularly and has no periodicity.
After a period of time (equivalent to the screen imaging time) has elapsed, the diffuse reflection signal PN disappears from the image signal P (Fig. 5(c)).
reference).

五星色価号q五里団 被検査物品Mの画像信号Pは、異物検出部40の三原色
信号取出回路41に与えられる。三原色信号取出回路4
]では、画像信号Pから三原色信号Q(すなわち赤色信
号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を取出し、輝度
信号作成回路42.三原色信号加算回路44および割算
回路45に向けて出力する(ステップ2)。画像信号P
に乱反射信号PNが含まれているので、三原色信号Qに
は、乱反射信号PNに起因した誤信号が含まれている。
The image signal P of the article M to be inspected with the five-star color number q is given to the three primary color signal extraction circuit 41 of the foreign object detection section 40 . Three primary color signal extraction circuit 4
], the three primary color signals Q (namely, the red signal R1, the green signal G, and the blue-violet signal B) are extracted from the image signal P, and the luminance signal generation circuit 42. The signal is outputted to the three primary color signal addition circuit 44 and the division circuit 45 (step 2). Image signal P
includes the diffused reflection signal PN, so the three primary color signals Q include an erroneous signal caused by the diffused reflection signal PN.

輝 −号Y・輝度比較信号Y。Brightness - No. Y/Brightness comparison signal Y.

輝度信号作成回路42で(」、三原色信号Q(すなわち
赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)が、所望
の係数α、β、γ(ただしα+β→−γ=1:0≦α、
β、γ≦1)を用いて次式のY=aR+βG+γB ごとく互いに加算されることにより、輝度信号Yとされ
る(ステップ3)。ここで、係数aβ、γは、たとえば
、α=γ= 0.25gよびβ05とずればよい。三原
色信号Qに乱反射信号PNに起因した誤信号か含まれて
いるので、輝度信号Yにも、乱反射信号PNに起因した
誤信号(“誤輝度信号YN”という)が含まれている。
In the luminance signal generation circuit 42, the three primary color signals Q (i.e., the red signal R1, the green signal G, and the blue-violet signal B) are converted to desired coefficients α, β, and γ (however, α+β→−γ=1:0≦α,
β, γ≦1) and are added to each other as shown in the following equation, Y=aR+βG+γB, to obtain a luminance signal Y (step 3). Here, the coefficients aβ and γ may be deviated, for example, by α=γ=0.25g and β05. Since the three primary color signal Q includes an erroneous signal caused by the diffused reflection signal PN, the luminance signal Y also includes an erroneous signal (referred to as "erroneous luminance signal YN") caused by the diffused reflection signal PN.

輝度信号Yは、適宜に遅延せしめられたのち、比較回路
43に向けて出力される(ステップ4)。
After being appropriately delayed, the luminance signal Y is output to the comparison circuit 43 (step 4).

比較回路43は、輝度信号Yを設定回路43Aによって
設定された設定値Y。と比較し、その設定値Y。より輝
度信号Yが大きいときにのみ高レベル状態となる輝度比
較信号Y゛を発生して出力する(ステップ5)。輝度信
号Yに乱反射信号PNに起因した誤信号が含まれている
ので、輝度比較信号Y3にも、乱反射信号PHに起因し
た誤信号(゛誤輝度比較信号y N+ ”という)か含
ま1)でいる(第6図(a)参照)。
The comparison circuit 43 sets the luminance signal Y to a set value Y set by the setting circuit 43A. and its set value Y. A brightness comparison signal Y' which becomes a high level state only when the brightness signal Y is larger is generated and output (step 5). Since the brightness signal Y includes an erroneous signal caused by the diffuse reflection signal PN, the brightness comparison signal Y3 also contains an erroneous signal (referred to as "erroneous brightness comparison signal yN+") caused by the diffuse reflection signal PH. (See Figure 6(a)).

比較回路43から出力された輝度比較信号Y゛は、乱反
射信号除去回路70の除去回路71によって乱反射信号
Pl、に起因した誤輝度比較信号Y9.゛か除去される
。すなわち、除去回路71では、遅延回路71aによっ
て撮像手段32の1画面撮像時間に相当する時間だけ遅
延された輝度比較信号Y”fすなわちY1゛)と遅延回
路71.aによって遅延されていない輝度比較信号Y゛
(すなわちY2′)との間の論理積が、論理積回路71
1)で求められ、誤輝度比較信号’Y ++ 4が除去
される (ステップ6;第6図(at(bl?照)。ち
なみに、輝度比較信号Y’(ここではy l”+ y 
2”)  には、異物反射信号P +1. P tに対
応して異物輝度比較信号Y1、”、Y、どが含まれてい
る(第6図(a) (bl参照)。
The brightness comparison signal Y'' output from the comparison circuit 43 is processed by the removal circuit 71 of the diffused reflection signal removal circuit 70 to generate an erroneous brightness comparison signal Y9. ``or removed.'' That is, in the removal circuit 71, the luminance comparison signal Y"f, that is, Y1") delayed by the delay circuit 71a by a time corresponding to the one-screen imaging time of the imaging means 32, and the luminance comparison signal Y"f that is not delayed by the delay circuit 71.a are compared. The AND with the signal Y' (that is, Y2') is performed by the AND circuit 71.
1), and the erroneous luminance comparison signal 'Y ++ 4 is removed (Step 6; Fig. 6 (at(bl? see)).
2'') includes foreign object luminance comparison signals Y1, '', Y, etc. corresponding to the foreign object reflection signal P+1.Pt (see FIG. 6(a) (see BL)).

=原色信号加算回路4・1ては、三原色信号Q(すなわ
ち赤色信号R5緑色信号Gおよび青紫色偶買B)か互い
に加算されたのち三原色和信号Xとして出力される(ス
テップ7)。三原色信号Qに乱反射信号PNに起因した
誤信号か含まれているので、三原色和信号Xにも、乱反
射信号PNに起因した誤信号が含まれている。
= The primary color signal addition circuit 4.1 adds the three primary color signals Q (that is, the red signal R, the green signal G, and the blue-violet signal B) to each other and then outputs the resultant signal as the three primary color sum signal X (step 7). Since the three primary color signal Q includes an erroneous signal caused by the diffused reflection signal PN, the three primary color sum signal X also includes an erroneous signal caused by the diffused reflection signal PN.

1原色信号加算回路44によって出力された三原色和信
号Xば、割算回路45に与えられる。割算回路45では
、三原色和信号Xによって三原色信号0(すなわち赤色
信号R5緑色信号GJ3よび青紫色信号B)を除するこ
とにより、三原色相対色度信号XR,Xα、Xn  (
詳細には赤色相対色度信号XR1緑色相対色度信号×6
および青紫色相対色度信号xll)か発生される(ステ
ップ8)。
The three primary color sum signal X outputted by the one primary color signal addition circuit 44 is given to the division circuit 45. The division circuit 45 divides the three primary color signals 0 (namely, the red signal R5, the green signal GJ3, and the blue-violet signal B) by the three primary color sum signal X to obtain the three primary color relative chromaticity signals XR, Xα, Xn (
For details, red relative chromaticity signal XR1 green relative chromaticity signal x 6
and a blue-violet relative chromaticity signal xll) are generated (step 8).

割算回路45によって算出された三原色相対色度信号X
 R,X 1、 X 、  (詳細には赤色相対台度信
号X R、B色相対合信号号X。および青紫色イ目対色
度信号xl+)は、最大のもののみが相対色度信号Xと
して比較回路46に与えられる。三原色信号Xに乱反射
信号PNに起因した誤信号が含まれているので、イ目対
色度信号Xにも、乱反射信号P6に起因した誤信号(゛
誤相対色度信号X4.°“という)が含まれている。
Three primary color relative chromaticity signals X calculated by the division circuit 45
R, X 1, The signal is applied to the comparison circuit 46 as a signal. Since the three primary color signals X include an erroneous signal caused by the diffused reflection signal PN, the eye-to-eye chromaticity signal X also contains an erroneous signal caused by the diffused reflection signal P6 (referred to as "erroneous relative chromaticity signal X4. It is included.

比較回路46は、相対色度信号Xを設定回路46Aによ
って設定された設定値X。と比較し、その設定値X。よ
り相対色度信号Xが大きいどきにのみ高レベル状態とな
る相対色度比較信号X゛を発生して出力する(ステップ
9)。相対色信号M、 Xに乱反射信号PNに起因した
誤信号が含まれているので、相対色度比較信号X′″に
も、乱反射信号P1、に起因した誤信号(°゛誤相対対
合比較信号X ++ + ++という)が含まれている
(第7図(a)径間)。
The comparison circuit 46 sets the relative chromaticity signal X to a set value X set by the setting circuit 46A. and its set value X. A relative chromaticity comparison signal X' that becomes high level only when the relative chromaticity signal X is larger is generated and output (step 9). Since the relative color signals M and X include an erroneous signal caused by the diffuse reflection signal PN, the relative chromaticity comparison signal A signal X ++ + ++) is included (span in FIG. 7(a)).

比較回路46から出力された相対色度比較信号X“は、
乱反射信号除去回路70の除去回路72によって乱反射
信号P1.に起因した誤相対色度比較信号X 、 ”l
か除去さ2する。すなわち、除去回路72では、遅延回
路72aによって撮像手段32の1画面撮像時間に相当
する時間たり遅延された相対色度比較信号X゛けなわち
XN゛)と遅延回路72aによって遅延されていない相
対色度比較信号X゛げなわちX2゛)との開の論理積が
、論理積回路721)で求められ、誤相対色度比較信号
XN+が除去される (ステップ10.第7図(a) 
(b)参照)。ちなみに、相対色度比較信号X+にこで
はXN″’、 X2”)に!」、異物反射信号P )1
、 P Lに対応して異物相対色度Lヒ較信零x、’、
x、”が含まれている(第7図Da+ ++))参照)
The relative chromaticity comparison signal X" output from the comparison circuit 46 is
The removal circuit 72 of the diffused reflection signal removal circuit 70 generates the diffused reflection signal P1. The erroneous relative chromaticity comparison signal X, ”l caused by
or removed2. That is, in the removal circuit 72, the relative chromaticity comparison signal The logical product with the chromaticity comparison signal
(see (b)). By the way, the relative chromaticity comparison signal is X+Niko's XN''', X2'')! ”, foreign object reflection signal P)1
, P
x,” (see Figure 7 Da+ ++))
.

粧企皿旦l 比較回路43!、:よって発生されかつ乱反射信号除去
回路興の除去回路71で誤輝度比較信号YN′の除去さ
れた輝度比較信号Y1と、比較回路46によって発生さ
れかつ乱反射信号除去回路70の除去回路72で誤相対
色度比較信号XN+の除去された相対色度比較信号X゛
とは、信号組合回路47に局えら2′1、適宜に組の合
されたのぢ、組合信号Zどして出力さね、る(ステップ
11)。
Comparison circuit 43! ,: Therefore, the brightness comparison signal Y1 generated by the comparison circuit 46 and from which the erroneous brightness comparison signal YN' is removed by the removal circuit 71 of the diffuse reflection signal removal circuit 46, and the brightness comparison signal Y1 generated by the comparison circuit 46 and from which the erroneous brightness comparison signal YN' is removed by the removal circuit 72 of the diffuse reflection signal removal circuit 70. The relative chromaticity comparison signal X' from which the relative chromaticity comparison signal XN+ has been removed is appropriately combined in the signal combining circuit 47 and output as a combined signal Z. , (step 11).

組合信号Zは、切替スイッチ47Gの共通接点が第1な
いし第4の切替接点のうち接触された切替接点に応して
、論理積信号Y″X゛と論理和信号Y”+X”と輝度比
較信号)゛と相対色度比較信号X+とのうちから選択さ
れている。
The combination signal Z is compared in brightness with the logical product signal Y''X'' and the logical sum signal Y''+X'' according to which of the first to fourth switching contacts the common contact of the changeover switch 47G is in contact with. signal) and the relative chromaticity comparison signal X+.

及焦N9且数 センサ31の検知結果 (ずなわち物品検知イ5冒f)
は、遅延回路31.Aで適宜に遅延されなのち、遅延物
品検知信号f、Aとして計数回路48に与えられる(ス
テップ12)。
Detection results of focus N9 and number sensor 31 (i.e. article detection A5)
is the delay circuit 31. After being appropriately delayed at A, the delayed article detection signal f is applied to the counting circuit 48 as the delayed article detection signal f, A (step 12).

計数回路48は、遅延物品検知信号fヮか向えられると
所定時間だけ信号組合回路47から月えられた組合信号
Zに含まれているパルス(すなわち高レベル状態)を計
数することにより、被検査物品Mに混入ないしは付着し
た異物Nを計数する(ステップ13)。
The counting circuit 48 counts the pulses (i.e., high level state) included in the combination signal Z obtained from the signal combination circuit 47 for a predetermined period of time when the delayed article detection signal f is applied. The number of foreign substances N mixed into or attached to the inspection article M is counted (step 13).

凰惣購5光侘 異物検出信号発生回路49は、計数回路48から勾λら
れた旧数結果Wか設定値W。よりも大きいか否かを判定
する(ステップ14)。
The optical foreign object detection signal generation circuit 49 receives either the old number result W calculated from the counting circuit 48 or the set value W. It is determined whether the value is larger than (step 14).

計数結果\Vか設定値W。よりも大きい場合、異物検出
信号発生回路49は、異物検出信号Vを発生ずる。
Counting result \V or set value W. , the foreign object detection signal generation circuit 49 generates the foreign object detection signal V.

これに対し、計数結果Wが設定値W。よりも小さい場合
、異物検出信号発生回路49は、異物検出信号■を発生
しない。
On the other hand, the count result W is the set value W. If it is smaller than , the foreign object detection signal generation circuit 49 does not generate the foreign object detection signal (2).

このため、異物検出信号発生回路49の発生ずる放物検
出信号Vは、異物検出部40の検出結果とし。
Therefore, the parabolic detection signal V generated by the foreign object detection signal generation circuit 49 is the detection result of the foreign object detection section 40.

て機能する。It works.

不良の被検査物品M゛の除去 異物検出信号発生回路49から異物検出信号■が発生さ
れたとき、不良物品除去部50では、異物検出信号■に
応じて駆動部材52か切替フィン51を矢印Bて示すご
とく切替えて被検査物品M(ずなわぢ不良の被検査物品
M’)を収納箱53へ収納する(ステップ15)。
Removal of defective inspection object M' When the foreign object detection signal generation circuit 49 generates the foreign object detection signal (2), the defective article removal section 50 moves the drive member 52 or the switching fin 51 by the arrow B according to the foreign object detection signal (2). As shown in FIG. 3, the inspection object M (inspection object M' having a defective condition) is stored in the storage box 53 (step 15).

異物検出信号発生回路49から異物検出信号■か発生さ
れなかったとぎ、不良物品除去部50では、駆動部月5
2が切替フィン51を切替えることかなく、被検査物品
Mが移送プーリ54によって切替フィン51からベルト
コンベア22に向けて移送せしめられる。
When the foreign object detection signal ① is not generated from the foreign object detection signal generation circuit 49, the defective article removing section 50 outputs the driving section 5.
The article M to be inspected is transferred from the switching fin 51 to the belt conveyor 22 by the transfer pulley 54 without switching the switching fin 51.

正月j野γ匹出 異物検出信号発生回路49から異物検出信号■か発生さ
れるか否かにかかわらず、不良率算出部60では、算出
回路61が、異物検出信号■の発生回数とセンサ31か
ら巧えられた物品検知信号fの発生回数とをそれぞれ計
数したのぢ、異物検出信号■の計数結果を物品検知信号
fの計数結果によって除することにより、被検査物品群
の不良率を算出する(ステップ16)。
Regardless of whether or not the foreign object detection signal ■ is generated from the foreign object detection signal generation circuit 49, in the defective rate calculation unit 60, the calculation circuit 61 calculates the number of occurrences of the foreign object detection signal ■ and the sensor 31. The defective rate of the group of inspected articles is calculated by dividing the count result of the foreign object detection signal ■ by the count result of the article detection signal f. (Step 16).

算出回路61によって算出された被検査物品群の不良率
は、表示装置62によって表示され、また記録装置63
によって記録されることにより、その被検査物品群の品
質の判断などに供される(ステップ17)。
The defect rate of the inspected article group calculated by the calculation circuit 61 is displayed on the display device 62, and is also displayed on the recording device 63.
By recording the information, the information is used to judge the quality of the group of articles to be inspected (step 17).

第2の実施例の 成・作用) また、第8図を参照しつつ、本発明にかかる物品検査装
置の第2の実施例について、その構成および作用を詳細
に説明する。
Structure and Function of Second Embodiment Furthermore, with reference to FIG. 8, the structure and function of a second embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention will be described in detail.

第2の実施例では、比較回路43と信号組合回路47と
の間に挿入さ、l″した乱反射信号除去回路70の除去
回路71か輝度信号作成回路42と比較回路43との間
に挿入され、かつ比較回路46と信号組合回路47との
間に挿入された乱反射信号除去回路70の除去回路72
が割算回路45と比較回路46との間に挿入されている
ことを除ぎ、第1の実施例と同一の構成を有している。
In the second embodiment, the removal circuit 71 of the diffused reflection signal removal circuit 70 inserted between the comparison circuit 43 and the signal combination circuit 47 or the removal circuit 71 of the diffused reflection signal removal circuit 70 inserted between the comparison circuit 43 and the signal combination circuit 47 or the removal circuit 71 of the , and the removal circuit 72 of the diffuse reflection signal removal circuit 70 inserted between the comparison circuit 46 and the signal combination circuit 47
The second embodiment has the same configuration as the first embodiment except that the second embodiment is inserted between the division circuit 45 and the comparison circuit 46.

したがって、第2の実施例は、乱反射信号除去回路70
の除去回路71によって輝度信号Yから乱反射信号P 
11に起因した誤信号(すなわち誤輝度信号Y1.)を
除去し、かつ乱反射信号除去回路70の除去回路72に
よって相対色度信号Xから乱反射信号PNに起因した誤
信号(すなわち誤相対色度信号X4.)を除去すること
を除き、第1の実施例と同の1乍用をなしている。
Therefore, in the second embodiment, the diffuse reflection signal removal circuit 70
The removal circuit 71 extracts the diffused reflection signal P from the luminance signal Y.
11 (i.e., the erroneous luminance signal Y1.), and removes the erroneous signal (i.e., the erroneous relative chromaticity signal) from the relative chromaticity signal X by the removal circuit 72 of the diffused reflection signal removal circuit 70. This embodiment has the same functions as the first embodiment except that X4.) is removed.

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第1の実
施例に包有された部祠ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の説明を省略する。
Therefore, in order to simplify the explanation, the same reference numerals will be given to the parts or steps that correspond to the parts or steps included in the first embodiment, and other structures and operations will be described. The explanation of is omitted.

(第3の 施例の 成・ 用) 更に、第9図および第10図を参照しつつ、本発明にか
かる物品検査装置の第3の実施例について、その構成お
よび作用を詳細に説明する。
(Construction and Use of the Third Embodiment) Further, the structure and operation of the third embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 9 and 10.

第3の実施例では、異物検出部40において三原色信号
加算回路44ないし信号組合回路47か除去され、かつ
比較回路43の出力端が計数回路48の入力端に対し乱
反射信号除去回路70の除去回路71を介して接続され
ていることを除き、第1の実施例と同一の構成を有して
いる。
In the third embodiment, the three primary color signal addition circuit 44 or the signal combining circuit 47 are removed in the foreign object detection unit 40, and the output terminal of the comparison circuit 43 is connected to the input terminal of the counting circuit 48 to the removal circuit of the diffuse reflection signal removal circuit 70. It has the same configuration as the first embodiment except that it is connected via 71.

したがって、第3の実施例は、比較回路43から出力さ
れたのち乱反射信号除去回路70の除去回路71によっ
て誤輝度比較信号Y N”の除去された輝度比較信号Y
1に含ま第1るパルス(すなわち高レベル状態)のみを
計数回路48によって計数し、その計数結果に応じて不
良の被検査物品M゛を除去し7かつ被検査物品群の不良
率を算出することを除き、第1の実施例と同一の作用を
なしている。
Therefore, in the third embodiment, the brightness comparison signal Y is outputted from the comparison circuit 43 and then removed by the removal circuit 71 of the diffuse reflection signal removal circuit 70 from which the erroneous brightness comparison signal YN'' is removed.
The counting circuit 48 counts only the first pulse (that is, the high level state) included in the first pulse, and according to the counting result, the defective inspected articles M' are removed, and the defective rate of the inspected article group is calculated. Except for this, the operation is the same as that of the first embodiment.

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第1の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の説明を省略する。
Therefore, for the sake of brevity, the same reference numerals will be given to the members or steps corresponding to those included in the first embodiment, and other structures and operations will be described herein. The explanation will be omitted.

(第4の実施例の構成・作用) 更にまた、第11図を参jjQ シつつ、本発明にかか
る物品検査装置の第4の実施例について、その構成およ
び作用を詳細に説明する。
(Structure and operation of the fourth embodiment) Furthermore, with reference to FIG. 11, the structure and operation of the fourth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention will be described in detail.

第4の実施例では、比較回路43と計数回路48との間
に挿入された乱反射信号除去回路70の除去回路71が
輝度信号作成回路42と比較回路43との間に挿入され
ていることを除ぎ、第3の実施例と同の構成を有してい
る。
In the fourth embodiment, the removal circuit 71 of the diffuse reflection signal removal circuit 70 inserted between the comparison circuit 43 and the counting circuit 48 is inserted between the luminance signal generation circuit 42 and the comparison circuit 43. Except for this, it has the same configuration as the third embodiment.

したがって、第4の実施例は、乱反射信号除去回路70
の除去回路71によって輝度信号Yから乱反射信号P、
4に起因した誤信号〔すなわちi= h11度信信号N
)を除去することを除き、第3の実施例と同一の作用を
なしている。
Therefore, in the fourth embodiment, the diffuse reflection signal removal circuit 70
The removal circuit 71 converts the luminance signal Y into a diffuse reflection signal P,
Erroneous signal caused by 4 [i = h11 degree signal N
) has the same effect as the third embodiment, except that .

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第3の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことによ
り、その他の構成および作用の説明を省略する。
Therefore, in order to simplify the explanation, the same reference numerals are given to the members or steps corresponding to those included in the third embodiment, and other structures and operations will be explained. The explanation will be omitted.

(第5の実施例の構成・ 用) 加えて、第12図および第13図を参照しつつ、本発明
にかかる物品検査装置の第5の実施例について、その構
成および作用を詳細に説明する。
(Structure and Use of Fifth Embodiment) In addition, the structure and operation of the fifth embodiment of the article inspection device according to the present invention will be explained in detail with reference to FIGS. 12 and 13. .

第5の実施例では、異物検出部40において輝度信号作
成回路42.比較回路43.設定回路43Aおよび信号
組合回路47が除去されかつ比較回路46の出力端が計
数回路48に対し乱反射信号除去回路70の除去回路7
2を介して接続されていることを除き、第1の実施例と
同一の構成を有している。
In the fifth embodiment, in the foreign object detection section 40, the brightness signal generation circuit 42. Comparison circuit 43. The setting circuit 43A and the signal combination circuit 47 are removed, and the output terminal of the comparison circuit 46 is connected to the counting circuit 48 by the removal circuit 7 of the diffuse reflection signal removal circuit 70.
It has the same configuration as the first embodiment except that it is connected via 2.

したがって、第5の実施例は、比較回路46から出力さ
れたのち乱反射信号除去回路70の除去回路72によっ
て誤相対色度比較信号XN゛の除去された相対色度比較
信号X゛に含まれるパルス(すなわち高レベル状態)の
みを計数回路48によって對数12、その計数結果に応
じて不良の被検査物品M゛を除去しかつ被検査物品群の
不良率を算出することを除き、第1の実施例と同一の作
用をなしている。
Therefore, in the fifth embodiment, the pulses included in the relative chromaticity comparison signal (i.e., a high level state) is counted by the counting circuit 48 to the number 12, and according to the counting result, the defective inspected articles M' are removed and the defective rate of the inspected article group is calculated. It has the same effect as the embodiment.

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第1の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部材
ないしはステップに対し同一の参!1e番号を付すこと
により、その他の構成および作用の説明を省略する。
Therefore, for the sake of brevity, the same references will be made here to parts or steps that correspond to parts or steps included in the first embodiment. By assigning the number 1e, explanations of other configurations and functions will be omitted.

(第6の実施例の 成・作用) 加えてまた、第14区を参照しつつ、本発明にかかる物
品検査装置の第6の実施例について、その構成および作
用を詳細に説明する。
(Construction and Operation of Sixth Embodiment) In addition, with reference to Section 14, the configuration and operation of the sixth embodiment of the article inspection device according to the present invention will be described in detail.

第6の実施例では、比較回路46と計数回路48との間
に挿入された乱反射信号除去回路70の除去回路72が
割算回路45と比較回路46との間に挿入されているこ
とを除き、第5の実施例と同一の構成を有している。
In the sixth embodiment, except that the removal circuit 72 of the diffuse reflection signal removal circuit 70 inserted between the comparison circuit 46 and the counting circuit 48 is inserted between the division circuit 45 and the comparison circuit 46. , has the same configuration as the fifth embodiment.

したかって、第6の実施例は、乱反射信号除去回路70
の除去回路72によって相対色度信号Xから乱反射信号
P8に起因した誤信号(すなわち富り相対色度信号XN
)を除去することを除き、第5の実施例と同一の作用を
なしている。
Therefore, in the sixth embodiment, the diffuse reflection signal removal circuit 70
An error signal caused by the diffuse reflection signal P8 (i.e., rich relative chromaticity signal XN) is removed from the relative chromaticity signal X by the removal circuit 72
) is removed, but has the same effect as the fifth embodiment.

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第5の実
施例に包有された部1月ないしはステップに対応する部
材ないしはステップに対し同一の参照番号を倒すことに
より、その他の構成および作用の説明を省略する。
Therefore, for the sake of brevity, the same reference numerals will be used herein for parts or steps that correspond to parts or steps included in the fifth embodiment, and other structures and The explanation of the effect will be omitted.

(第7の実施例の構成) 併せて、第15図および第2図を参照しつつ、本発明に
かかる異物検査装置の第7の実施例について、その構成
を詳細に説明する。
(Structure of Seventh Embodiment) The structure of a seventh embodiment of the foreign matter inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 15 and 2.

支庄血威 10は、本発明にかかる異物検査装置であって、被検査
物品(たとえば海苔など:単に物品ともいう)Mを矢印
へ方向に向けて1つずつ搬送するための物品搬送部20
と、物品fllU送部20の近傍に配設されており物品
搬送部20によって搬送されている被検査物品Mを撮像
して画像信号Pを出力するための物品撮像部凹とを備え
ている。
The Shisho Kewei 10 is a foreign matter inspection device according to the present invention, and includes an article conveying section 20 for conveying inspected articles (for example, seaweed, etc.; also simply referred to as articles) M one by one in the direction of the arrow.
and an article imaging section recess, which is disposed near the article flIU transport section 20 and is configured to image the inspected article M being transported by the article transport section 20 and output an image signal P.

本発明にかかる異物検査装置耗は、また、物品撮像部3
0に対して接続されており物品撮像部30から出力され
た被検査物品Mの画像信号■)を適宜に処理することに
よって被検査物品Mに異物Nか混入ないし付着している
か否かを検出するための異物検出部40を備えている。
The wear of the foreign matter inspection device according to the present invention also occurs when the article imaging unit 3
By appropriately processing the image signal (■) of the inspected article M output from the article imaging unit 30, it is detected whether or not foreign matter N is mixed in or attached to the inspected article M. It is equipped with a foreign object detection section 40 for detecting foreign matter.

異物検出部40の検出結果は、たとえば、物品搬送部層
のうち物品撮像部30の下流側に配設された不良物品除
去部50に勾えて不良の被検査物品(すなわち異物Nか
比較的に多く混入ないし付着した被検査物品:以下同様
)M゛を個別に除去するために利用してもよく、また不
良率算出部60に与えて被検査物品群か含む不良の被検
査物品M゛の割合(すなわち被検査物品群の不良率)を
算出して表示あるいは記録するために利用してもよい。
The detection result of the foreign object detection section 40 is, for example, that a defective inspected object (that is, a foreign object N or relatively It may be used to individually remove the inspected articles M'' that have been mixed or adhered to a large amount (the same applies hereinafter), or it may be used to individually remove the inspected articles M'' that are included in the group of inspected articles. It may also be used to calculate and display or record the percentage (that is, the defective rate of the group of inspected articles).

ここでは、説明の都合上、異物検出部40の検出結果は
、不良物品除去部興および不良率算出部60に与えられ
ているものとするが、本発明をこれに限定する意図はな
い。
Here, for convenience of explanation, it is assumed that the detection results of the foreign object detection section 40 are given to the defective article removal section and the defective rate calculation section 60, but the present invention is not intended to be limited to this.

本発明にかかる物品検査装置厘ば、更に、異物検出部4
0に組み込まれてj3り画像信号■〕に含まれた乱反射
信号PNに起因する誤信号(たとえば誤相対合席料信号
XΔ8.誤相対色度和比較信号XΔ8゛)を除去するた
めの乱反射除去回路憩を備えている。
The article inspection device according to the present invention further includes a foreign object detection section 4.
Diffuse reflection removal circuit for removing erroneous signals (for example, erroneous relative chromaticity sum comparison signal XΔ8゛) caused by the diffuse reflection signal PN included in the image signal It has a rest area.

物品搬送部20 物品搬送部20は、ヘットプーリ21Δとテールプーリ
2]、Bとの周囲に対して配設されており被検査物品M
を矢印へ方向に向けて1つずつ搬送するためのベルトコ
ンベア21と、ベルトコンベア21の下流側に不良物品
除去部堕を介して配置されかつヘッドプーリ22Aとテ
ールプーリ2213との周囲に対して配設されており不
良物品除去部四によって除去されなかった被検査物品M
を後続の処理装置(図示せず)に向けて1つずつ搬送す
るための他ノベルトコンベア22とを備えている。
Article Conveying Unit 20 The article conveying unit 20 is disposed around the head pulley 21Δ and the tail pulley 2 and B, and carries the inspected article M.
A belt conveyor 21 for conveying the defective articles one by one in the direction of the arrow; The inspected articles M that were installed and were not removed by the defective article removal section 4
A second belt conveyor 22 is provided for conveying the sheets one by one toward a subsequent processing device (not shown).

物品撮像部30 物品撮像部30は、ベルトコンベア21の近傍に配置さ
れており被検査物品Mが搬送されてぎたときそれを検知
して物品検知信号fを出力するためのセンサ31と、ベ
ルトコンベア21の−に方に配置されかつセンサ31に
接続されており物品検知信号fに応してベルトコンベア
21によって搬送されている被検査物品Mを撮像するた
めのビデオカメラあるいはラインセンサカメラなとの撮
像手段32と、蛍光灯、ハロゲンランプあるいは発光ダ
イオードなどによって形成されておりベルトコンベア2
1によって搬送されている被検査物品Mを間材する光(
照射光という)Lを発生するための光源33とを備えて
いる。ここで、撮像手段32か物品搬送部20による被
検査物品Mの搬送速度に相応する速度で動作するシャッ
タを包有しておれば、被検査物品Mに混入ないしは(7
1着した異物Nが微小となっても良好に検知可能とてき
るので、好ましい。このとき、光源33として蛍光灯を
採用する場合は、インバータ(図示せず)を介して電極
間に高周波の電圧を印加すれば、撮像手段32のシャッ
タ開放時期が異なっても照射光りの光量を一定に維持て
きるので、好ましい。
Article Imaging Unit 30 The article imaging unit 30 includes a sensor 31 that is disposed near the belt conveyor 21, detects when the inspected article M has been conveyed, and outputs an article detection signal f; 21 and connected to the sensor 31, such as a video camera or a line sensor camera, for taking an image of the inspected article M being conveyed by the belt conveyor 21 in response to the article detection signal f. The belt conveyor 2 is formed by an imaging means 32, a fluorescent lamp, a halogen lamp, a light emitting diode, etc.
Light (
A light source 33 for generating irradiation light (referred to as irradiation light) L is provided. Here, if the imaging means 32 includes a shutter that operates at a speed corresponding to the conveyance speed of the article M to be inspected by the article conveyor 20, the article M to be inspected may be contaminated with
This is preferable because even if the foreign matter N that has arrived is minute, it can be detected well. At this time, when a fluorescent lamp is used as the light source 33, by applying a high frequency voltage between the electrodes via an inverter (not shown), the amount of irradiated light can be controlled even if the shutter opening timing of the imaging means 32 is different. This is preferable because it can be maintained constant.

物品1最像部30ば、また、撮像子P9.32を包囲す
るよう配設されており被検査物品Mの表面あるいは異物
Nのに面による異常反q寸 にこては正反射)を抑制す
るよう光源33から与えられた叩躬光■−1を散乱せし
め散乱光aとしてベルトコンベア21によって搬送され
ている被検査物品Mに月えるための散乱部材34と、光
源338よび散乱部材34を包囲しており外光を遮断し
かつ昭躬光りか周囲成1現に漏出することを抑制するた
めの遮光部オ第35とを備えている。散乱部材34は、
半透明の化学合成樹脂 (たどえば半透明アクリル樹脂
)なとの半透明材料によって形成されている。
The most imaged part 30 of the article 1 is also arranged so as to surround the imager P9, 32, and suppresses abnormal reflection (regular reflection) caused by the surface of the article M to be inspected or the surface of the foreign object N. A light source 338 and a scattering member 34 are provided for scattering the reflected light (1) given from the light source 33 and transmitting it as scattered light (a) to the inspected article M being conveyed by the belt conveyor 21. It is provided with a light shielding part 35 for enclosing and blocking outside light and suppressing light from leaking into the surrounding area. The scattering member 34 is
It is made of a translucent material such as a translucent chemical synthetic resin (for example, translucent acrylic resin).

遮光部材35は、本発明にとって必須要素ではないので
、所望により除去してもよい。
Since the light shielding member 35 is not an essential element for the present invention, it may be removed if desired.

異物検出部40 異物検出部40は、撮像手段32の出力端に対して接続
されており撮像手段32によって撮像されて出力された
被検査物品Mの画像信号Pを適宜に処理し遅延回路3]
、Aによって遅延さ、lまた物品検知信号f(これを遅
延物品検知信号f1.lという)に応じて三原色信号Q
(すなわち赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B
)を取り出すための三原色信号取出回路141を備えて
いる。三原色信号l■ワ出回路141は、遅延物品検知
信号fヮに応じて画像化−1)からそれぞれ赤色信号R
9緑色信号Gおよび青紫色信号Bを取り出すための赤色
信号取出回路14]1、A1、緑色信号取出回路141
β、 、tiよび青紫色信号取出回路14 ]、 C+
 ど、赤色信号取出回路1.41−A1、緑色侶は取出
回路141Blおよび青紫色信号取出回路141C,の
出力端に対してそれそ21接続さ1)ており赤色信号R
5緑色(=i5Gおよび青紫色伝号■3を適宜にクラン
プするためのクランプ回路141A、。
Foreign object detection section 40 The foreign object detection section 40 is connected to the output end of the imaging means 32, and appropriately processes the image signal P of the inspected article M captured and outputted by the imaging means 32, and delays the delay circuit 3
, A, and the three primary color signals Q according to the article detection signal f (this is called delayed article detection signal f1.l).
(i.e. red signal R1 green signal G and blue-violet signal B
) is provided with a three primary color signal extraction circuit 141 for extracting the three primary color signals. The three primary color signal l* output circuit 141 outputs the red signal R from the imaging-1) in response to the delayed article detection signal f.
9 Red signal extraction circuit 14 for extracting green signal G and blue-violet signal B] 1, A1, green signal extraction circuit 141
β, , ti and blue-violet signal extraction circuit 14], C+
The red signal take-out circuit 1.41-A1, the green one is connected to the output terminal of the take-out circuit 141Bl and the blue-violet signal take-out circuit 141C, and the red signal R
Clamp circuit 141A for appropriately clamping 5 green (=i5G and blue-violet signal ■3).

141B7b41C2と、クランプ回路141A7.1
41B214H;2の出力端にそ21.ぞれ接続されて
」3り適宜にクランプされた赤色信号R1緑色18号G
および青紫色信号Bを適宜に増幅するための増幅回路1
41A、 14]、R3b,41C3とを包有している
141B7b41C2 and clamp circuit 141A7.1
41B214H; At the output end of 2, 21. Red signal R1 green No. 18 G connected and clamped accordingly
and an amplifier circuit 1 for appropriately amplifying the blue-violet signal B.
41A, 14], R3b, and 41C3.

異物検出部40は、また、三原色信号取出回路141の
L;3力端に対して接続されており三片色信号Q(すな
わち赤色信号R1録色信号Gおよび↑h紫色償号L)を
互いに加算して三原色和信号X(R+G+B)を作成す
るための三原色信号加算回路142ど、三原色信号取出
回路141の出力端に対して接続されており三原色信号
Q(すなわち赤色信号R5緑色信号Gおよび青紫色信号
B)を互いに比較した結果に応じてゲート信号(ずなわ
ぢ選択信号)gR,go、gaを出力するための比較回
路143とを備えている。ゲート信号g R,g α、
 g nは、通常1であるが、対応する三原色信号Qか
最大となったときOとされる。
The foreign object detection unit 40 is also connected to the L; three output terminals of the three primary color signal extraction circuit 141, and sends the three color signals Q (i.e., the red signal R1, the recording color signal G, and the ↑h purple compensation signal L) to each other. A three primary color signal addition circuit 142 for adding together to create a three primary color sum signal A comparison circuit 143 is provided for outputting gate signals (Zunawai selection signals) gR, go, and ga according to the results of comparing the purple signals B) with each other. Gate signal g R, g α,
g n is normally 1, but is set to O when the corresponding three primary color signals Q reach the maximum.

異物検出部40は、更に、三原色信号取出回路141の
出力端および三原色信号加算回路142の出力端に対し
て接続さ第1.ており三原色信号Q(すなわち赤色信号
R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)の三原色和信号X
に対する色度信号(すなわち相対色度信号)X(すなわ
ち赤色相対色度信号算して係数付相対色度信号(すなわ
ち係数付赤色相対色度信号αXR,係数(=1緑色相対
色度信弓l3X6および係数イτ1青紫色相対色度信号
γX3)を算出するための乗算回路144A、 144
B2.144C2ど、乗算回路144A2.144B2
.144C2の114力端および比較回路143の出力
端に対して接続されておりケート信号gR,gα、gn
に応して乗算回路144A21411β、、 1.44
C2の乗算結果すなわち係数イ」相対色度信号a X、
R,B XG、 Y Xllを通過せしめるためのケー
ト回路1.45A、 145β、 1.45Cと、ゲー
ト回路145A145β、 145cの出力端に対して
接続されておりゲト1.45A、 145β、 145
cを通過した係数イ」相対色度信号を互いに加算して相
対色度和信号XΔを次式のご算回路144.A)、 1
44B1、 1446+ と、除算回路144A1.4
4β、、 1446、の出力端に対して接続されており
相対色度信号×(すなわち赤色相対色度信号X R,緑
色相対色度信号X6および青紫色相対色度信号X、)に
対しそれぞれ所望の係計α、β、γをどく算出するため
の加算回路146と、加算回路146の出力端に対して
反転入力端が接続さねかつ非反転入力端が設定回路14
7Aに対して接続されており相対色度和信号XΔか設定
回路147Aの設定値X、 p、 oを超えたか否かを
判定することによって相対のみ高レベル状態となる相対
色度孔比較信号X6゛を出力するための比較回路】47
とを備えている。
The foreign object detection section 40 is further connected to the output end of the three primary color signal extraction circuit 141 and the output end of the three primary color signal addition circuit 142. The three primary color signals Q (i.e. red signal R1 green signal G and blue-violet signal B) are the three primary color sum signals X.
The chromaticity signal for (i.e., relative chromaticity signal) and multiplication circuits 144A, 144 for calculating the coefficient iτ1 and the blue-violet relative chromaticity signal γX3).
B2.144C2 etc., multiplication circuit 144A2.144B2
.. It is connected to the 114 output terminal of 144C2 and the output terminal of comparison circuit 143, and outputs gate signals gR, gα, gn.
Multiplying circuit 144A21411β, 1.44
The multiplication result of C2, that is, the coefficient a', the relative chromaticity signal aX,
Gate circuits 1.45A, 145β, 1.45C for passing R, B XG, Y
The relative chromaticity signals of the coefficients A and C that have passed through c are added to each other, and the relative chromaticity sum signal XΔ is calculated by the following calculation circuit 144. A), 1
44B1, 1446+ and division circuit 144A1.4
4β, , 1446, and outputs the desired signals for the relative chromaticity signal × (i.e., the red relative chromaticity signal XR, the green relative chromaticity signal an adder circuit 146 for calculating coefficients α, β, and γ; and a setting circuit 14 whose inverting input terminal is connected to the output terminal of the adder circuit 146 and whose non-inverting input terminal is connected
Relative chromaticity hole comparison signal Comparison circuit for outputting ゛】47
It is equipped with

ここで、比較回路147が相対色度相伝ぢXムを設定値
Xloと比較している根拠は、相対色度孔伝号XΔに含
まれた低レベルのノイズ(すなわち被検査物品Mの表面
における異常反射Rどに起因したノイズ;第5図(aj
〜(c)参照)を除去し、被検査物品Mの表面の色度の
偏倚を異物Nと誤認することを回避するにある。
Here, the reason why the comparison circuit 147 compares the relative chromaticity phase transmission Noise caused by abnormal reflection R etc.; Fig. 5 (aj
to (c)) to avoid misidentifying the deviation in chromaticity on the surface of the inspected article M as a foreign substance N.

異物検出信号は、加えて、比較回路147の出力端に対
し乱反射信号除去回路別の除去回路73を介して入力端
が接続されており比較回路147がら出力されかつ除去
回路73で乱反射信号PNに起因した諸相対合席料比較
信号XΔ、゛の除去された相対色度孔比較信号XΔ+に
含まれたパルス(すなわち高レベル状態)を計数して被
検査物品Mに含まれている異物Nの個数を言1数しg(
数結果を画数イに号Wとして出力したのち遅延物品検知
信号fMに応じて計数内容がクリアされる計数回路14
8と、計数回路148の出力端に対して接続されており
計数回路148から出力された計数信号Wの内容(すな
わち計数結果)か所定値W。を超えたか否かを判定し所
定値W。を超えたどき異物検出信号■を発生ずるための
異物検出信号発生回路149とを備えている。異物検出
信号発生回路149にJ:って発生された異物検出信号
IIは、異物検出部・1oの検出結果として出力されて
おり、ここでは、不良の被検査物品(すなわち異物Nの
混入数ないし付着数か大きい被検査物品)M゛を個別に
除去するための不良物品除去部興に与えられ、かつ被検
査物品群の不良率を算出して表示しあるいは記録するた
めの不良率算出部60に勾えられている。
In addition, the input end of the foreign object detection signal is connected to the output end of the comparison circuit 147 via a removal circuit 73 that is separate from the diffuse reflection signal removal circuit, and is outputted from the comparison circuit 147 and converted into the diffuse reflection signal PN by the removal circuit 73. The number of foreign substances N contained in the inspected article M is determined by counting the pulses (i.e., high level state) included in the relative chromaticity hole comparison signal XΔ+ which caused the relative chromaticity hole comparison signal XΔ and ゛. Say 1 count and g(
A counting circuit 14 in which the counting result is output as the number W to the stroke number A, and then the counting contents are cleared in response to the delayed article detection signal fM.
8 and a predetermined value W, which is connected to the output terminal of the counting circuit 148 and is the content (ie, counting result) of the counting signal W output from the counting circuit 148. It is determined whether the predetermined value W has been exceeded. A foreign matter detection signal generating circuit 149 is provided for generating a foreign matter detection signal (2) when the foreign matter detection signal (2) exceeds the foreign matter detection signal. The foreign object detection signal II generated by the foreign object detection signal generation circuit 149 is output as the detection result of the foreign object detection section 1o, and here, it is determined whether the defective inspected object (i.e., the number of foreign objects N mixed in or A defective rate calculation unit 60 is provided to the defective article removal unit for individually removing the inspected articles (with a large number of adhered articles) M, and is provided to the defective article removal unit 60 for calculating and displaying or recording the defective rate of the inspected article group. is leaning on.

不良物品除去部50 不良物品除去部50は、物品1殿送部20のベルトコン
ベア21とベルトコン・\ア22との間に配設された切
替フィン51と、異物検出部40の異物検出信号発生回
路149に対して接続さ、11ておりf9物検出信号■
に応じて不良の被検査物品M“を除去するよう切替フィ
ン51を駆動するための駆動部材(たとえばソレノイド
)52と、切替フィン51によって除去G された不良の被検査物品M゛を収容するための収納箱5
3と、切替フィン51の下流側に配設されており不良の
被検査物品M゛として除去されなかった被検査物品Mを
切替フィン51からヘルj・コンベア22に向けて移送
せしめるための移送ブー リ5・1とを備えている。
Defective article removal section 50 The defective article removal section 50 uses a switching fin 51 disposed between the belt conveyor 21 and the belt conveyor 22 of the article 1 transport section 20 and a foreign object detection signal generation of the foreign object detection section 40. Connected to circuit 149, 11 and f9 object detection signal ■
A driving member (for example, a solenoid) 52 for driving the switching fin 51 to remove the defective inspection object M'' according to the switching fin 51; storage box 5
3, and a transfer boot which is disposed on the downstream side of the switching fin 51 and is used to transfer the inspected article M that has not been removed as a defective inspected article M'' from the switching fin 51 toward the Hell J conveyor 22. It is equipped with 5.1.

不良率算出部60 不良率算出部60は、異物検出信号発生回路149の出
力端および遅延回路31Aの出力端に接続さ21ており
異物検出信号■の発生回毅および遅延物品検知信号fM
  (ひいては物品検知信号f)の発コ−L[す1数を
それぞれ計数したのち異物検出信号Vのブを生回数の計
数結果を物品検知信号fの発生回数の計数結果によって
除して被検査物品群の不良率を算出するための算出回路
61と、算出回路61の出力端に接続されておりその算
出結果(すなわち被検査物品群の不良率)を表示するた
めの表示装置62と、算出回路61の出力端に接続され
ておりその算出結果(すなわち被検査物品群の不良率)
を記録するための記H4(置63とを備え°Cいる。ち
なめに、不良率算出部60け、所望により表示装置62
および配録装置63のいずれか一方を除去してもよい。
Defective Rate Calculation Unit 60 The defective rate calculation unit 60 is connected to the output end of the foreign object detection signal generation circuit 149 and the output end of the delay circuit 31A, and calculates the generation cycle of the foreign object detection signal (■) and the delayed article detection signal fM.
After counting the number of emitted signals L [1] of the object detection signal f (and eventually the number of occurrences of the object detection signal f), divide the count result of the raw number of foreign object detection signals V by the result of counting the number of occurrences of the object detection signal f to be inspected. a calculation circuit 61 for calculating the defective rate of a group of articles; a display device 62 connected to the output terminal of the calculating circuit 61 for displaying the calculation result (i.e., the defective rate of the group of articles to be inspected); It is connected to the output terminal of the circuit 61 and calculates the result (i.e., defective rate of the group of inspected articles).
It is equipped with a record H4 (position 63) for recording the temperature of
Either one of the recording device 63 and the recording device 63 may be removed.

また、不良率算出部並の算出した不良率は、被検査物品
群の等綴付などに利用される。
In addition, the defective rate calculated by the defective rate calculation unit is used for sorting out the group of articles to be inspected.

乱反射イJ1号除去回路7゜ 乱反射信号除去回路70は、比較回路147の出力端と
計数回路148の入力端との間に挿入されており相対色
度孔比較信号XΔ+から乱反射信刊P Nに起因した誤
相対合席料比較仏号X((x”を除去するための除去回
路73とを備えている。
Diffuse reflection signal removal circuit 7° Diffuse reflection signal removal circuit 70 is inserted between the output terminal of the comparator circuit 147 and the input terminal of the counting circuit 148, and converts the relative chromaticity hole comparison signal XΔ+ to the diffuse reflection signal P N. It is equipped with a removal circuit 73 for removing the erroneous relative comparison number X ((x'') caused by the error.

除去回路73は、比較回路147の出力端に対して入力
端か接続されており相対色度和比較信吋XΔ+を画像信
号Pの1画面撮像時間に相当する時間だGプ遅延セしめ
るための遅延回路73aと、比較回路147の出力端に
対して一方の入力端が接続されかつ他方の入力端か遅延
回路73aの出力端(b″対して接続されかつ出力端力
柚計数回路148の入力端に対して接続さ(′1ており
相対色度相比較イ8号XΔ+と遅延回路゛13aによ−
)で遅延さ、!−1だ相対色度和LL較信号XΔ+との
間の論理積を求めて相対色度孔itφQ]信号XΔ+か
ら乱反射信号P 11に起因した55相対色度和比較信
号XAN”を除去するための論理fl[i”]路73b
とを包有している。
The removal circuit 73 has an input terminal connected to the output terminal of the comparison circuit 147, and is used to delay the relative chromaticity sum comparison signal XΔ+ for a time corresponding to one screen imaging time of the image signal P. One input terminal of the delay circuit 73a is connected to the output terminal of the comparison circuit 147, and the other input terminal is connected to the output terminal (b'' of the delay circuit 73a and the output terminal is connected to the input terminal of the power counting circuit 148. It is connected to the end ('1) and is connected to the relative chromaticity phase comparison unit No. 8 XΔ+ and the delay circuit 13a.
) delayed,! −1 and the relative chromaticity sum LL comparison signal XΔ+ to remove the 55 relative chromaticity sum comparison signal Logic fl[i”] path 73b
It encompasses.

(第7の実施例の作用) 併せてまた、第15図、第16図および第2図を参照し
つつ、本発明にかかる異物検査装置の第7の実施例につ
いて、その作用を詳細に説明する。
(Operation of Seventh Embodiment) In addition, with reference to FIGS. 15, 16, and 2, the operation of the seventh embodiment of the foreign object inspection device according to the present invention will be explained in detail. do.

被検査物品Mの撮像 物品搬送部20のベルトコンベア21によって被検査物
品Mが矢印へ方向に向けて搬送されてくるごとに、物品
撮像部30のセンサ31が被検査物品Mを検知して物品
検知信号fを発生ずる(ステップ1)。
Image of the inspected article M Every time the inspected article M is conveyed in the direction of the arrow by the belt conveyor 21 of the article conveying section 20, the sensor 31 of the article imaging section 30 detects the inspected article M and A detection signal f is generated (step 1).

物品撮像部陳の撮像手段32は、物品検知信号fが与え
られると、被検査物品IIAの撮像を開始し、その画像
信号Pを送出し始める(ステップ2)。
When receiving the article detection signal f, the image capturing means 32 of the article image capturing unit starts capturing an image of the inspected article IIA and starts transmitting the image signal P thereof (step 2).

物品撮像部30では、光源33によって発生された照射
光りが散乱部材34によって散乱されたのち散乱光ρと
してベルトコンベア21上の被検査物品Mに与えられて
いるので、ベルトコンベア21上の被検査物品Mの表面
および被検査物品Mに混入ないし付着した異物N(詳細
には高彩度の異物N、および低彩度の異物N、)の表面
で反則されるとき、高彩度の異物Noおよび低彩度の異
物Nlの表向における正常反射(ここでは正反射) R
f1、、 R,Lの光量に比べ、被検査物品Mの表面に
おC−+る異常反射(ここでは正反射)の光量を十分に
減少せしめることかできる。このため、画像信号Pは、
異物N(すなわち高彩度の異物N 11および低彩度の
異物NL)のみに対応して顕著に高レベル状態となる異
物反射信号P、(、PLを含むこととなる。しかしなが
ら、被検査物品Mの表面で光の乱反射か発生し撮像手段
32に入射すると、画像信号Pは、これに伴なって、異
物反射信号p1、p1、に匹敵するレベルの乱反射信号
PNも含むこととなる。被検査物品hqの表面におりる
光の乱反射は、一般に、不規則に発生し周期性がないの
で、所定時間(たとえば1画面撮像時間に相当する時間
)だけ経過すると、乱反射信号PNか画像信号Pから消
滅す1、 0 0 ることとなる。
In the article imaging unit 30, the irradiation light generated by the light source 33 is scattered by the scattering member 34 and then applied as scattered light ρ to the inspected article M on the belt conveyor 21. When the surface of the article M and the surface of the foreign matter N mixed or attached to the inspected article M (specifically, the foreign matter N with high chroma and the foreign matter N with low chroma) are violated, the foreign matter No. with high chroma and the foreign matter N with low chroma are detected. Normal reflection (here, specular reflection) on the surface of the foreign substance Nl R
Compared to the light intensity of f1, . Therefore, the image signal P is
This includes the foreign object reflection signals P, (, PL) that reach a significantly high level state only in response to the foreign object N (that is, the foreign object N11 with high chroma and the foreign object NL with low chroma). When diffused reflection of light occurs on the surface and enters the imaging means 32, the image signal P will also include a diffused reflection signal PN at a level comparable to the foreign object reflection signals p1, p1. Diffuse reflection of light falling on the surface of hq generally occurs irregularly and has no periodicity, so after a predetermined period of time (for example, the time equivalent to one screen image capturing time), the diffuse reflection signal PN or the image signal P disappears. 1, 0 0 .

また、センサ31の出力した物品検知信号fは、遅延回
路31Aにより、被検査物品Mが物品撮像部30を連通
するに必要とする時間に対応して適宜に遅延せしめられ
て遅延物品検知信号fMとされる(ステップ3)。
Further, the article detection signal f outputted by the sensor 31 is appropriately delayed by the delay circuit 31A in accordance with the time required for the inspected article M to communicate with the article imaging section 30, and a delayed article detection signal fM is generated. (Step 3).

三原色雪層Qの取出 被検査物品Mの画像信号Pは、異物検出部40の三原色
信号取出回路1.41に含まれた赤色信号取出回路14
1.A1、緑色信号取出回路]、 41. B +およ
び青紫色信号取出回路1.4 ]、 C+に与えられる
The image signal P of the object to be inspected M from which the three primary color snow layer Q has been extracted is transmitted to the red signal extraction circuit 14 included in the three primary color signal extraction circuit 1.41 of the foreign object detection section 40.
1. A1, green signal extraction circuit], 41. B+ and blue-violet signal take-out circuit 1.4], given to C+.

赤色信号取出回路141A)、緑色信号取出回路141
β、および青紫色信号取出回路1.41c、では、画像
信号Pから三原色信号Q(ずなわち赤色信号R緑色信号
Gおよび青紫色信号B)を取り出し、遅延物品検知信号
fi+が与えられたとき、クランプ回路141A2.1
41.82.141C2に向けて出力する(ステップ4
)。
Red signal extraction circuit 141A), green signal extraction circuit 141
β and the blue-violet signal extraction circuit 1.41c extract the three primary color signals Q (namely, the red signal, the green signal G, and the blue-violet signal B) from the image signal P, and when the delayed article detection signal fi+ is given. , clamp circuit 141A2.1
Output to 41.82.141C2 (Step 4
).

クランプ回路141A2b41B2.141c2ては、
それぞれ赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号Bを
適宜にクランプしたのち、増幅回路141A3.141
B。
The clamp circuit 141A2b41B2.141c2 is
After appropriately clamping the red signal R1, the green signal G, and the blue-violet signal B, the amplifier circuit 141A3.141
B.

141、C,に向けて出力する(ステップ5)。141, C, (step 5).

増幅回路]、41、A3.1.41B3.1旧C3では
、クランプ回路141A2.14]82141C2で適
宜にクランプされた赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫
色信号Bをそれぞれ適宜に増幅したのち、加算回路14
2.比較回路143および除算回路144A1、144
β、、144C,に向けて出力する(ステップ6)。画
像信号Pに乱反射信号P8が含まれているので、三原色
信号Qには、乱反射信号PNに起因した誤信号が含まれ
ている。
Amplifying circuit], 41, A3.1.41B3.1 In the old C3, the clamp circuit 141A2.14] After suitably amplifying the red signal R1, the green signal G, and the blue-violet signal B, which have been appropriately clamped by the 82141C2, circuit 14
2. Comparison circuit 143 and division circuit 144A1, 144
β, , 144C, (step 6). Since the image signal P includes the diffuse reflection signal P8, the three primary color signal Q includes an erroneous signal caused by the diffuse reflection signal PN.

三原色相言?Lxの 出 加算回路142は、三原色信号取出回路141の出力端
(すなわち増幅回路141A3.14]、83.141
.C;3の出力端)から与えられた三原色信号Q(すな
わち赤色信号R1緑色信号Gおよび青紫色信号B)を互
いに加算することにより、三原色和信号X=R+G+B
を算出する(ステップ7)。三原色信号Qに乱反射信号
PNに起因した誤信号が含ま、flているので、三原色
和信号Xにも、乱反射信号PNに+1”+  9 起因した誤信号か含まれている。
Mihara hue language? The Lx output adder circuit 142 connects the output end of the three primary color signal extraction circuit 141 (that is, the amplifier circuit 141A3.14), 83.141
.. By adding together the three primary color signals Q (i.e. red signal R1 green signal G and blue-violet signal B) given from the output terminal of C; 3, the three primary color sum signal X=R+G+B
is calculated (step 7). Since the three primary color signal Q includes an erroneous signal caused by the diffused reflection signal PN, fl, the three primary color sum signal X also contains an erroneous signal caused by +1''+9 in the diffused reflection signal PN.

対仏  ′″’XIl、X1、、X[I(7)除算回路
144A1、144B1.144C,では、三原色信号
取出回路141の出力端(すなわち増幅回路14]A3
141β、、 141.c3の出力端)から与えられた
三原色信号Q(すなわち赤色信号R5緑色信号G、I−
3よび青紫色信号B)を加算回路142から与えられた
三原色和信号X=R+G+Hによって除することにより
、相対色度信号X(すなわち赤色相対色度信号ブ8)。
For France ''''XIl, X1, ,
141β,, 141. The three primary color signals Q (i.e. red signal R5 green signal G, I-
A relative chromaticity signal X (that is, a red relative chromaticity signal B8) is obtained by dividing the three primary color sum signals X=R+G+H given from the adder circuit 142.

三原色和信号Xに乱反射信号PNに起因した誤信号が含
まれているので、相対色度信号Xにも、乱反射信号P、
4に起因した誤信号が含まれている。
Since the three primary color sum signal X includes an error signal caused by the diffuse reflection signal PN, the relative chromaticity signal X also includes the diffuse reflection signal P,
Contains an erroneous signal caused by 4.

相対色度信号X(すなわち赤色相対色度信号x6.緑色
相対色度信号X6および青紫色相対色度信号XB)は、
乗算回路144A2.1.lNB2.144C2におい
て適宜の係数α、β、γが乗じられることにより、係数
(=1相対色度信号a X、 Rl  βX。
The relative chromaticity signal X (i.e. red relative chromaticity signal x6, green relative chromaticity signal X6 and blue-violet relative chromaticity signal XB) is
Multiplication circuit 144A2.1. By multiplying appropriate coefficients α, β, and γ in lNB2.144C2, the coefficients (=1 relative chromaticity signal aX, Rl βX.

γX8として出力される(ステップ9)。係数α、β、
γは、被検査物品Mと異物Iくとの色彩の差異に応じて
適宜に決定されている。
It is output as γX8 (step 9). Coefficients α, β,
γ is appropriately determined depending on the difference in color between the inspected article M and the foreign object I.

三原色 ′″’RG  Bの相互比・ 比較回路143では、三原色信号取出回路141の出力
端(すなわち増幅回路14]、A3.141B3.1.
41.C3の出力端)から与えられた三原色信号Q(す
なわち赤色信号R5緑色信号Gおよび青紫色信号B)を
互いに比較し、その比較結果に応じてゲート信号g 1
1. g α、 g Bを出力する(ステップ10. 
]、1.)。
In the three primary colors RG B mutual ratio/comparison circuit 143, the output terminal of the three primary color signal extraction circuit 141 (that is, the amplifier circuit 14), A3.141B3.1.
41. The three primary color signals Q (i.e. red signal R, green signal G and blue-violet signal B) given from the output terminal of C3 are compared with each other, and the gate signal g1 is output according to the comparison result.
1. Output g α, g B (step 10.
], 1. ).

ゲート信号g R,g c、 g nの値は、対応する
三原色信号Qか最大のときOどなることを除き、通常1
である。
The values of the gate signals gR, gc, and gn are usually 1, except that the corresponding three primary color signals Q are O when they are at their maximum.
It is.

相対色度和信号X の 出 乗算回路144A2.144B2.1.44c、2から
出力された係数側相対色度信号aX Rl /3 X 
a + Y X nは、ゲート回路1.45A、 1.
45β、 1.45Cにおいて、ゲート信号g+1、g
c、gnによって適宜に選択され(ひいては乗しら、f
″1. )たのち、加算回路】46にr:Jえられる(
ステップ12)。
Coefficient side relative chromaticity signal aX Rl /3 X output from output multiplication circuit 144A2.144B2.1.44c, 2 of relative chromaticity sum signal X
a + Y X n is a gate circuit 1.45A; 1.
45β, at 1.45C, gate signal g+1, g
selected appropriately by c, gn (and by extension, f
``1.) After that, r:J is added to the adder circuit】46 (
Step 12).

加算回路146では、ゲート回路145A、 1115
8.145Cを通過した係数付相対色度信号αXR6β
x6゜γX5が互いに加算され、相対色度和信号Xムg
RαX++ +ga BXa +ge 1’X+1とシ
テ出力される(ステップ13)。相対色度信号Xに乱反
射信号PNに起因した誤信号が含まれているので、相対
色度和信号XAにも、乱反射信号PNに起因した誤信号
(゛諸相対合度相伝号XΔ□”°という)が含まれてい
る。
In the adder circuit 146, gate circuits 145A, 1115
Relative chromaticity signal αXR6β with coefficient passed through 8.145C
x6゜γX5 are added together, and the relative chromaticity sum signal
RαX++ +ga BXa +ge 1'X+1 is output (step 13). Since the relative chromaticity signal X includes an error signal caused by the diffuse reflection signal PN, the relative chromaticity sum signal )It is included.

相対色度和信号XΔは、比較回路147の反転入力端に
与えられ、設定回路147Aから非反転入力端に与えら
れた設定値X、。と比較されている(ステップ14)。
The relative chromaticity sum signal XΔ is applied to the inverting input terminal of the comparison circuit 147, and the setting value X is applied to the non-inverting input terminal from the setting circuit 147A. (step 14).

比較回路147における比較結果は、相対色席料比較信
号x5+とじて出力される。相対色度和信号X、6に乱
反射信号P ++に起因した誤信号が含まれているので
、相対色度和信号信伺XΔ“にも、乱反射信号P Nに
起因した誤信号(“誤用対合席料比較信号x11)°°
という)が含まれていス 比較回路147かも出力された相対色度和比較信号Xム
4は、乱反射信号除去回路70の除去回路73によって
乱反射PNに起因した誤用対合席料比較信号XΔ8゛か
除去される。すなわち、除去回路73で(才、遅延回路
73aによって撮像手段32の1画面撮像時間に相当す
る時間だけ遅延された相対色席料比較信号XΔ+ど遅延
回路73aによって遅延さ第1ていない相対色度和比較
信号xム゛との間の論理積が、論理積回路731)で求
められ、諸相対合席料比較信号Xへ−か除去される(ス
テップ15)。ちなみに、相対色席料比較信号Xどには
、異物反射信号PH,P1、、に対応して異物相対色席
料比較信号X IH,X gが含まれている。
The comparison result in the comparison circuit 147 is output as a relative color space charge comparison signal x5+. Since the relative chromaticity sum signals X and 6 include an erroneous signal caused by the diffuse reflection signal P++, the relative chromaticity sum signal signal Seating fee comparison signal x11)°°
) is included, and the relative chromaticity sum comparison signal X 4 outputted from the comparison circuit 147 is removed by the removal circuit 73 of the diffuse reflection signal removal circuit 70 to eliminate the misuse versus interference comparison signal be done. That is, the removal circuit 73 calculates the relative chromaticity comparison signal XΔ which is delayed by the delay circuit 73a by a time corresponding to one screen imaging time of the imaging means 32+the relative chromaticity sum which is not delayed by the delay circuit 73a. The logical product between the comparison signal x and the comparison signal x is calculated by the logical product circuit 731), and the signal is removed from the comparison signal X (step 15). Incidentally, the relative color pigment comparison signal X includes foreign matter relative color pigment comparison signals X IH, X g corresponding to the foreign matter reflection signals PH, P1, .

異物Nの言)数 計数回路148は、遅延回路31.Aから遅延物品検知
信号ずつか与えられると所定時間だけ、比較回路147
から与えられた相対色席料比較信号XΔ+に含まオtた
パルス(すなわち高レベル状態)を計数して被検査物品
Mに混入ないし付着した異物Nの個数を計数する(ステ
ップ16)。
The count circuit 148 for counting the number of foreign objects N is connected to the delay circuit 31. When a delayed article detection signal is given from A, the comparator circuit 147
The number of foreign substances N mixed in or attached to the inspected article M is counted by counting the number of pulses (that is, high level state) included in the relative color pigment comparison signal XΔ+ given from (step 16).

毀膣1団a■9肚 異物検出信号発生回路149は、計数回路148から勾
えられた計数結果\Vが設定値W。よりも大きいか否か
を判定する(ステップ17)。
In the foreign object detection signal generation circuit 149, the count result \V obtained from the counting circuit 148 is the set value W. It is determined whether the value is larger than (step 17).

計数結果ytが設定値W。よりも大きい場合、異物検出
信号発生回路149は、異物検出信号■を発生ずる。
The counting result yt is the set value W. , the foreign object detection signal generation circuit 149 generates a foreign object detection signal (2).

これに対し、計数結果Wか設定値W。よりも・jXさい
場合、異物検出信号発生回路149は、異物検出信号■
を発生しない。
On the other hand, the counting result W or the set value W. If the foreign object detection signal generating circuit 149 is smaller than j
does not occur.

このため、異物検出信号発生回路149の発生ずる異物
検出信号■は、異物検出部40の検出結果として機能す
る。
Therefore, the foreign object detection signal ■ generated by the foreign object detection signal generation circuit 149 functions as the detection result of the foreign object detection section 40.

不良の被検査物品M゛の除去 異物検出信号発生回路149から異物検出伝号入lが発
生されたとき、不良物品除去部50ては、異物検出信号
■に応じて駆動部材52が切替フィン51を矢印Bで示
ずごとく切替えて被検査物品M(すなわち不良の被検査
物品M”)を収納箱53へ収納する(ステップ18)。
Removal of defective inspection object M' When the foreign object detection signal generation circuit 149 generates the foreign object detection signal I, the defective object removing section 50 causes the drive member 52 to switch the switching fin 51 in response to the foreign object detection signal ■. is switched as shown by the arrow B, and the article to be inspected M (that is, the defective article to be inspected M'') is stored in the storage box 53 (step 18).

異物検出信号発生回路49から異物検出信号■か発生さ
れなかったとぎ、不良物品除去部50てC」、駆動部材
52が切替フィン51を切替えることがなく、被検査物
品N4か移送プーリ54によって切替フィン51からベ
ルトコンヘア22に向けて移送ぜしめら、fする(ステ
ップ19)。
When the foreign object detection signal ① is not generated from the foreign object detection signal generating circuit 49, the defective article removing section 50 does not switch the switching fin 51, and the transfer pulley 54 switches the switching fin 51 to the inspected object N4. It is then transferred from the fin 51 toward the belt converter 22 (step 19).

不良率q算用 異物検出信号発生回路・19から異物検出(= −’y
 vか発生されるか否かにかかわらず、不良率算出部6
0では、算出回路61か、異物検出信号Vの発生回数と
遅延回路31.Aから与えられた遅延物品検知信号f1
.l(ひいては物品検知信号r)の発生回並とをそれぞ
れ計数したのち、異物検出伝号■の51′IA、結果を
物品検知信号fの計数結果によって除することにより、
被検査物品群の不良率を算出する(ステップ20)。
Foreign object detection signal generation circuit for calculating defective rate q - Foreign object detection from 19 (= -'y
Regardless of whether v is generated or not, the defective rate calculation unit 6
0, the calculation circuit 61 or the number of occurrences of the foreign object detection signal V and the delay circuit 31. Delayed article detection signal f1 given from A
.. After counting the number of occurrences of the foreign object detection signal (51'IA) and the number of occurrences of the object detection signal (f), the result of the foreign object detection signal (■) is divided by the counting result of the object detection signal (f).
The defect rate of the group of articles to be inspected is calculated (step 20).

算出回路61によって算出された被検査物品群の不良率
は、表示装置62によって表示され、また記録装置63
にJ、って記録されることにより、その被検査物品群の
品質の判断なとに供さね、る(スワンプ21)。
The defect rate of the inspected article group calculated by the calculation circuit 61 is displayed on the display device 62, and is also displayed on the recording device 63.
By recording "J" in the table, it is possible to judge the quality of the group of articles to be inspected (swamp 21).

(第8の実施例の構成・ 用) また加えて、第17図を参照しつつ1本発明にかかる異
物検査装置の第8の実施例について、その構成および作
用を詳細に説明する。
(Structure and Use of Eighth Embodiment) In addition, with reference to FIG. 17, the structure and operation of an eighth embodiment of the foreign matter inspection apparatus according to the present invention will be described in detail.

第8の実施例は、比較回路147と計数回路+48との
間に挿入された乱反射信号除去回路70の除去回路73
が加算回路146ど比較回路+47との間に挿入されて
いることを除き、第7の実施例と同一の構成を有してい
る。
In the eighth embodiment, the removal circuit 73 of the diffuse reflection signal removal circuit 70 is inserted between the comparison circuit 147 and the counting circuit +48.
It has the same configuration as the seventh embodiment, except that it is inserted between the adder circuit 146 and the comparator circuit +47.

したがって、第8の実施例は、乱反射信号除去回路70
の除去回路73によって相対色度和信号X/lから乱反
射信号PNに起因した誤信号(すなわち誤相対色度和信
号Xt、N)を除去することを除き、第7の実施例と同
一の作用をなしている。
Therefore, in the eighth embodiment, the diffuse reflection signal removal circuit 70
Same operation as the seventh embodiment except that the removal circuit 73 removes the erroneous signal caused by the diffused reflection signal PN (that is, the erroneous relative chromaticity sum signal Xt, N) from the relative chromaticity sum signal X/l. is doing.

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第7の実
施例に包有さ第1た部材ないしはステップに対応する部
材ないしはステップに対し同一の参H,H番号を付すこ
とにより、その他の構成および作用の詳細な説明を省略
する。
Therefore, in order to simplify the explanation, here, the same reference numbers H and H are given to the members or steps corresponding to the first member or step included in the seventh embodiment. A detailed explanation of the structure and operation will be omitted.

(第9の実施例の構成・作用) また更に、第18図」3よび第19図を参照しつつ、本
発明にかかる異物検査装置の第9の実施例について、そ
の構成および作用を詳細に説明する。ここでは、便宜ト
、被検査物品Mが動片であるとき、被検査物品Mの色彩
か赤色を強く帯びかつ異物(小エヒ、網クズあるいはワ
ラクズなど)Nか被検査物品Mに比べて緑色あるい(止
音紫色を帯びCいるので、赤色相対色度信号X Rを利
用することなく、異物Nの検出を実行する場合について
説明する。
(Structure and operation of the ninth embodiment) Furthermore, the structure and operation of the ninth embodiment of the foreign matter inspection device according to the present invention will be explained in detail with reference to FIGS. explain. For convenience, when the item M to be inspected is a moving piece, the color of the item M to be inspected is strongly reddish, and the color of foreign matter (such as small pieces of paper, scraps of netting, or scraps of wood) N is greener than that of the article M to be inspected. Alternatively, a case will be described in which the foreign object N is detected without using the red relative chromaticity signal XR because it has a static purple color.

第9の実施例は、比較回路143.除算回路144 A
乗算回路1.44A2およびゲート回路145A、 1
45β、 145cか除去されたことを除き、第7の実
施例と同一の構成を有している。
In the ninth embodiment, the comparison circuit 143. Division circuit 144A
Multiplier circuit 1.44A2 and gate circuit 145A, 1
It has the same structure as the seventh embodiment except that 45β and 145c are removed.

したかって、第9の実施例は、緑色相対色度信号X6お
よび青紫色相対色度信号XBを被検査物品N4と異物N
との間の色彩の差異に応して適宜の割合で互いに加算し
て相対色度和信号Xf1を作成しており、割戻!1−1
信号除去回路70の除去回路73によって相対色度比較
信号XΔ+から井原!1=t fハ弓(i)Nに起因し
た誤信号(すなわち諸相対合1旦和比較信号XΔ、゛)
を除去することを除き、第7の実施例と同一の作用をな
している。
Therefore, in the ninth embodiment, the green relative chromaticity signal X6 and the blue-violet relative chromaticity signal
The relative chromaticity sum signal Xf1 is created by adding them together at an appropriate ratio according to the difference in color between them. 1-1
Ihara! from the relative chromaticity comparison signal XΔ+ by the removal circuit 73 of the signal removal circuit 70! 1=tf(i) Erroneous signal caused by N (i.e., sum comparison signal XΔ,゛)
The operation is the same as that of the seventh embodiment except that .

それ故、ここでは、説明を簡潔とづるために、第7の実
施例に包有さ第1た部オオないしはステップに対応する
部+詞ないしはステップに対し同一の参照番号を伺ずこ
とにより、その池の構成」3、発明の詳細な説明を省略
する。
Therefore, in order to simplify the explanation, herein, the same reference numerals will not be used for parts or steps corresponding to the first part or steps included in the seventh embodiment. Structure of the Pond" 3. Detailed explanation of the invention will be omitted.

なお、上述においては、赤色相対色度(U 冒’ X 
Rが利用さ、tlない場合について説明したか、本発明
は、これに限定されるものではなく、被検査物品Mと異
物Nとの色彩の差異に応して緑色相対色度信号X6ある
いは青紫色相対色度信号X、 Bが利用されない場合も
包摂している。
In addition, in the above, red relative chromaticity (U
The present invention is not limited to this case, but the green relative chromaticity signal X6 or the blue relative chromaticity signal This also includes the case where the violet relative chromaticity signals X and B are not used.

(第10の実施例の構成・作用) また併せて、第20図を参照しつつ、本発明にかかる異
物検査装置の第10の実施例について、その構成および
作用を詳細に説明する。
(Structure and operation of tenth embodiment) Also, with reference to FIG. 20, the structure and operation of the tenth embodiment of the foreign matter inspection apparatus according to the present invention will be described in detail.

第10の実施例は、比較回路147と計数回路148と
の間に挿入された乱反射信号除去回路73か加算回路1
・+6と比較回路147との間に挿入されていることを
除き、第9の実施例と同一の構成を有している。
In the tenth embodiment, a diffuse reflection signal removing circuit 73 or an adding circuit 1 inserted between a comparison circuit 147 and a counting circuit 148 is used.
- It has the same configuration as the ninth embodiment except that it is inserted between +6 and the comparison circuit 147.

したかって、第10の実施例は、乱反射信号除去回路7
0の除去回路73によって相対色度和信号X。
Therefore, in the tenth embodiment, the diffuse reflection signal removal circuit 7
The relative chromaticity sum signal X is generated by the zero removal circuit 73.

から割戻躬信弓P9に起因した誤信号(ずなわぢ=呉相
対合席料仏号Xl1IN)を除去することを除さ、第9
の実施例と同一の作用をなしている。
The 9th
It has the same effect as the embodiment.

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第9の実
施例に包有された部材ないしはステップに対応する部+
1ないしはステップに対し同一の参照番号を付すことに
より、その他の構成および作用の詳細な説明を省略する
Therefore, in order to simplify the explanation, parts corresponding to the members or steps included in the ninth embodiment will be explained here.
By assigning the same reference numerals to 1 or steps, detailed explanations of other structures and operations will be omitted.

(第11の実施例の 成・作用) 最後に、第21図お」;び第22図を参照しつつ、本発
明にかかる異物検査装置の第11の実施例について、そ
の構成j3よび作用を詳細に説明する。ここで(」、便
宜上、被検査物品Mの色彩か赤色および青紫色を強く帯
びかつ異物Nか被検査物品Mに比べで緑色を帯びており
、赤色相対色度信士−,,および青紫色相対色度信号x
8を利用すること4f(、異物Nの検出を実行する場合
について説明する。
(Construction and operation of the eleventh embodiment) Finally, with reference to FIG. 21 and FIG. Explain in detail. Here, for convenience, the color of the inspected article M is strongly red and blue-violet, and the foreign substance N is greenish compared to the inspected article M. chromaticity signal x
A case will be described in which the detection of a foreign object N is performed using 4f(, 8).

第11の実施例は、比較回路143.除算回路付4Δ1
44(1、、乗算回路144A2b.44C2およびゲ
−1・回路145A 1458145cに加え加算回路
146か除去さ2またことを除き、第7の実施例と同一
の構成を有している。
In the eleventh embodiment, the comparison circuit 143. 4Δ1 with division circuit
It has the same structure as the seventh embodiment except that the adder circuit 146 is removed in addition to the multiplier circuits 144A2b, 44C2 and the gate 1 circuit 145A 1458145c.

したかって、第11の実施例は、緑色和文j色度仁号X
6を被検査物品Mと異物Nとの間の色彩の差異に応じて
適宜の割合で増幅して相対色度信号Xを作成しており、
乱反射信号除去回路並の除去回路73によって相対色度
比較信号X゛から乱反射伝号PNに起因した誤信号(す
なわち誤相対色度比較信号X、 、 ” )を除去する
ことを除き、第7の実施(列と同一のイ乍用をなしてい
る。
Therefore, the eleventh embodiment is green Japanese j chromaticity Jingo X
6 is amplified at an appropriate rate according to the difference in color between the inspected article M and the foreign substance N to create a relative chromaticity signal X,
The seventh method except that the erroneous signal caused by the diffuse reflection signal PN (that is, the erroneous relative chromaticity comparison signal X, , '') is removed from the relative chromaticity comparison signal Implementation (has the same meaning as column).

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第7の実
施例に包有された部祠ないしく」ステップに対応する部
材ないしはステップに対し同・の参11べ番号をイ・j
ずことにより、その他の構成および作用の詳細な説明を
省略する。
Therefore, here, in order to simplify the explanation, reference numbers will be used for the members or steps that correspond to the parts or steps included in the seventh embodiment.
Therefore, detailed explanations of other configurations and functions will be omitted.

なお、−ト述においては、赤色相対色度信号X3および
青紫色相対色度信号XBかftl用されない場合につい
て説明したか、本発明は、これに限定されるものではな
く、赤色相対色度信号XN.lおよび緑色相対色度信号
X。あるいは緑色相対色度信号X Gおよび青紫色相対
色度信号XBか利用されない場合も包摂している。
In addition, in the above description, the case where the red relative chromaticity signal X3 and the blue-violet relative chromaticity signal XN. l and green relative chromaticity signal X. Alternatively, the case where neither the green relative chromaticity signal XG nor the blue-violet relative chromaticity signal XB is used is also included.

(第12の実施例の構成・作用) ちなみに、第23図を参照しつつ、本発明にかかる物品
検査装置の第12の実施例について、その構成および作
用を詳細に説明する。
(Configuration and operation of the twelfth embodiment) Incidentally, the configuration and operation of the twelfth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to FIG. 23.

第12の実施例は、比較回路147と計数回路148と
の間に挿入された乱反射信号除去回路73か乗算回路1
44B2と比較回路147との間に挿入されていること
を除き、第11の実施例と同一の構成を有している。
In the twelfth embodiment, a diffuse reflection signal removing circuit 73 or a multiplication circuit 1 inserted between a comparison circuit 147 and a counting circuit 148 is used.
It has the same configuration as the eleventh embodiment except that it is inserted between the comparison circuit 147 and the comparison circuit 147.

したかって、第12の実施例は、乱反射信号除去回路7
0の除去回路73によ−〕で相対色度信号Xから乱反射
信号PNに起因した誤信号(すなわち誤相対色度信号X
7.)を除去することを除き、第11の実施例と同一の
作用をなしている。
Therefore, in the twelfth embodiment, the diffuse reflection signal removal circuit 7
0 removal circuit 73 removes an error signal caused by the diffuse reflection signal PN from the relative chromaticity signal X (i.e., the error relative chromaticity signal
7. ) has the same effect as the eleventh embodiment, except that .

それ故、ここでは、説明を簡潔とするために、第11の
実施例に包有された部材ないしはステップに対応する部
材ないしはステップに対し同一の参照番号を4−1ずこ
とにより、その他の構成および作用の詳細な説明を省略
する。
Therefore, for the sake of brevity, the same reference numerals will be used herein for elements or steps corresponding to elements or steps included in the eleventh embodiment, and other configurations will be referred to herein as 4-1. and a detailed explanation of its effects will be omitted.

(3)発明の効果 上述より明らかなように、本発明にかかる物品検査装置
は、[問題点の解決手段]の欄に、第1ないし第6の解
決手段として挙げたごとき構成を有しているので、 (1)画像信号の乱反射信号に伴なう誤信号を除去でき
る効果 を有し、ひいては (11)被検査物品に混入ないしは付着した9こ物の検
査精度を向上できる効果 を有する。
(3) Effects of the Invention As is clear from the above, the article inspection device according to the present invention has the configurations listed as the first to sixth solutions in the [Means for solving problems] column. (1) It has the effect of being able to remove the erroneous signal accompanying the diffuse reflection signal of the image signal, and furthermore, (11) it has the effect of improving the inspection accuracy of 9 objects mixed in or attached to the inspected article.

本発明にかかる物品検査装置は、[問題点の解決手段]
の欄に、特に、第4ないし第6の解決手段として挙げた
ごとき構成を有しているので、上記fi)(j、lの効
果に加え、 fiii)被検査物品に?丘人ないしは(=1着した異
物を被検査物品との間の色彩の差異を利用して検出でき
る効果 を有し2、ひいては (1■)被検査物品に混入ないし付着した異物の検査精
度を一層向」−できる効果 を有する。
The article inspection device according to the present invention [Means for solving problems]
In particular, since it has the configurations mentioned as the fourth to sixth solution means in the column, in addition to the effects of fi) (j, l) above, fiii) on the inspected article? It has the effect of being able to detect foreign matter on the surface of the object by utilizing the difference in color between it and the object to be inspected (1). "More effective" - has the effect of being more effective.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1区C:j、本発明にかかる物品検査装置の第1の実
施例を示すためのブロック回路図、第2図は第1図実施
例の一部を拡大して示すための部分破断斜視図、第3図
は第1図実施例の一部を拡大して示すための部分ブロッ
ク回路図、第4図は第1図実施例の動作を示すためのフ
ローチャート図、第5図(al〜(c] は第1区実施
例の動作を説明する)]G だめの説明図、第6図+8+ (11)は第1図実施例
の動作を説明するための説明図、第7図(a) (i)
)は第1図実施例の動作を説明するための説明図、第8
図は本発明にかかる物品検査装置の第2の実施例を示す
ためのブロック回路図、第9図は本発明にかかる物品検
査装置の第3の実施例を示すだめのブロック回路図、第
10図は第9図実施例の動作を示すためのフローチャー
ト図、第11図は本発明にかかる物品検査装置の第4の
実施例を示すだめのブロック回路図、第12図は本発明
にかかる物品検査装置の第5の実施例を示すだめのブロ
ック回路図、第13図は第12図実施例の動作を示すだ
めのフローチャート図、第14図は本発明にかかる物品
検査装置の第6の実施例を示すだめのブロック回路図、
第15図は本発明にかかる物品検査装置の第7の実施例
を示すためのブロック回路図、第16図は第15図実施
例の動作を示すためのフローチャー1・図、第17図は
本発明にかかる物品検査装置の第8の実施例を示すため
のブロック回路図、第18図は本発明にかかる物品検査
装置の第9の実施例を示すためのブロック回路図、第1
9図は第18図実施例の動作を示すためのフローチャー
1・図、第20図は本発明にかかる物品検査装置の第1
Oの実施例を示すためのブロック回路図、第21図は本
発明にかかる物品検査装置の第11の実施例を示すだめ
のブロック回路図、第22図は第21図実施例の動作を
示すだめのフローチャート図、第23図は本発明にかか
る物品検査装置の第12の実施例を示すためのブロック
回路図である。 20 ・ 21、A  ・ 21、B 2A 2B 物品検査装置 ・物品搬送部 ベルトコンベア ・ヘッドプーリ テールプーリ ベルトコンベア へラドプーリ ・テールプーリ 物品擾像部 センサ 31A  ・・   ・ ・遅延回路 32  ・・・ ・ ・ ・・撮像手段33・  ・ 
・・ ・・・光源 34・・ ・ ・・ ・・・ ・・散乱部材35  ・
・ ・ ・    遮光部材40・・・ ・ ・・・・
 ・・・・異物検出部41 ・・・ ・   ・ 三原
色信号取出回路42・・・・・ ・ ・・ 輝度信号作
成回路43  ・  ・ ・・・・ 比較回路43A 
 ・・・・ ・・設定回路 44・・・・・・   ・・・三原色信号加算回路45
・・ −・・・  ・・割算回路 46・・・ ・ ・  ・比較回路 46A  ・・・・・・ ・設定回路 47・・・ ・・   信号組合回路 48・・・ ・・・  ・ ・計数回路49・・・・・
・・・   異物検出信号発生回路141  ・・・ 
 ・  ・・・三原色信号取出回路1.41A、・・・
 ・ ・赤色信号取出回路1、41 B 、  ・・・
 ・  緑色信号取出回路1、41. CI     
  青紫色信号取出回路1.41/12.1.41.B
2]41C2・・・ クランプ回路 1.41A3]41.B31.41.C3増幅回路 1112  ・      加算回路 143  ・ ・・  ・ 比較回路 144A1、144B1、144CI ・除算回路14
4A1、、 144B2.144c2・乗算回路145
A、 145β、 1.45C・ゲート回路146・・
・ ・  ・・ 加算回路 147  ・ ・・・・・ ・・・比較回路147A 
 ・     設定回路 148・    ・   計数回路 149・  ・・  ・ ・異物検出信号発生回路50
  ・・  ・・  ・・・・不良物品除去部51・ 
        ・切替フィン52・    ・ ・・
−駆動部材 53   ・      収納箱 54          移送プーリ
1st section C:j, a block circuit diagram for showing the first embodiment of the article inspection device according to the present invention, FIG. 2 is a partially cutaway perspective view for enlarging and showing a part of the embodiment in FIG. 3 is a partial block circuit diagram showing an enlarged part of the embodiment shown in FIG. 1, FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the embodiment shown in FIG. 1, and FIG. (c] is an explanatory diagram for explaining the operation of the embodiment in Section 1)]G is an explanatory diagram for explaining the operation of the embodiment in FIG. ) (i)
) is an explanatory diagram for explaining the operation of the embodiment in FIG.
9 is a block circuit diagram showing a second embodiment of the article inspection device according to the present invention, FIG. 9 is a block circuit diagram showing a third embodiment of the article inspection device according to the present invention, and FIG. 9 is a flowchart showing the operation of the embodiment, FIG. 11 is a block circuit diagram showing a fourth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 12 is an article inspection apparatus according to the present invention. FIG. 13 is a block circuit diagram showing the fifth embodiment of the inspection device, FIG. 13 is a flowchart showing the operation of the embodiment in FIG. 12, and FIG. 14 is a sixth embodiment of the article inspection device according to the present invention. A block diagram showing an example,
FIG. 15 is a block circuit diagram showing a seventh embodiment of the article inspection device according to the present invention, FIG. 16 is a flowchart 1 diagram showing the operation of the embodiment in FIG. 15, and FIG. FIG. 18 is a block circuit diagram showing an eighth embodiment of the article inspection device according to the present invention; FIG. 18 is a block circuit diagram showing the ninth embodiment of the article inspection device according to the present invention;
9 is a flowchart 1 diagram showing the operation of the embodiment shown in FIG. 18, and FIG.
21 is a block circuit diagram showing an eleventh embodiment of the article inspection device according to the present invention; FIG. 22 is a block circuit diagram showing the operation of the embodiment of FIG. 21; FIG. FIG. 23 is a block circuit diagram showing a twelfth embodiment of the article inspection apparatus according to the present invention. 20 ・ 21, A ・ 21, B 2A 2B Article inspection device / Article conveyance section Belt conveyor / Head pulley Tail pulley To the belt conveyor Lad pulley / Tail pulley Article image section sensor 31A ... . . . Delay circuit 32 ... . . .・Imaging means 33・・
... light source 34 ... ... scattering member 35 ...
・ ・ ・ Light shielding member 40 ・ ・ ・ ・
... Foreign object detection section 41 ... ... Three primary color signal extraction circuit 42 ... ... Luminance signal creation circuit 43 ... ... Comparison circuit 43A
... Setting circuit 44 ... Three primary color signal addition circuit 45
・・ −・・・ ・・割算回路46・・・ ・ ・ ・比較回路46A ・・・・・・ ・設定回路47・・・ ・・ 信号組合回路48・・・ ・・・ ・ ・計数回路49...
... Foreign object detection signal generation circuit 141 ...
・ ... Three primary color signal extraction circuit 1.41A, ...
・ ・Red signal extraction circuit 1, 41 B , ・ ・
- Green signal extraction circuit 1, 41. C.I.
Blue-violet signal extraction circuit 1.41/12.1.41. B
2]41C2... Clamp circuit 1.41A3]41. B31.41. C3 amplifier circuit 1112 - Addition circuit 143 - Comparison circuit 144A1, 144B1, 144CI - Division circuit 14
4A1,, 144B2.144c2・Multiplication circuit 145
A, 145β, 1.45C・Gate circuit 146...
・ ・ ... Addition circuit 147 ・ ... ... Comparison circuit 147A
- Setting circuit 148 - Counting circuit 149 - Foreign object detection signal generation circuit 50
. . . . Defective article removal section 51.
・Switching fin 52・ ・・
- Drive member 53, storage box 54, transfer pulley

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取出すため
の三原色信号取出回路(41)と、(b)三原色信号取
出回路(41)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、三原色信号 取出回路(41)から与えられた三原色信号R、G、B
から輝度信号Yを作成するた めの輝度信号作成回路(42)と、 (c)輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
端が接続されており、輝度信号Yが 設定値を超えたか否かを判定して輝度信 号Yが設定値を超えたときにのみ高レベ ル状態となる輝度比較信号Y^+を出力す るための比較回路(43)と、 (d)比較回路(43)の出力端に対して入力端が接続
されており、輝度比較信号Y^+に含 まれた高レベル状態を計数することに よって被検査物品に混入ないしは付着し た異物を計数するための計数回路(48) と、 (e)輝度信号作成回路(42)の出力端と比較回路(
43)の入力端との間もしくは比較回路(43)の出力
端と計数回路(48)の入力端との間に挿入されており
、輝度信号Yもし くは輝度比較信号Y^+から画像信号中の 乱反射信号に伴なう誤輝度信号Y_Nもし くは誤輝度比較信号Y_N^+を除去するための乱反射
信号除去回路(71)と、 (f)計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路(48)の計数結果が所定値を超
えたとき異物検出信号V を発生するための異物検出信号発生回路 (49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 (2)輝度信号Yが、総和が1であって0以上かつ1以
下の値をもつ3つの係数α、β、γと三原色信号R、G
、Bとを用いてαR+βG+γBと表わされてなること
を特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の物品検査
装置。 (3)乱反射信号除去回路(71)が、 (i)輝度信号作成回路(42)の出力端もしくは比較
回路(43)の出力端に対して入力 端が接続されており、輝度信号Yもし くは輝度比較信号Y^+を画像信号の1 画面撮像時間だけ遅延せしめるための 遅延回路(71a)と、 (ii)輝度信号作成回路(42)の出力端もしくは比
較回路(43)の出力端に対して一方 の入力端が接続されかつ他方の入力端 が遅延回路(71a)の出力端に対して接 続されかつ出力端が比較回路(43)の入 力端もしくは計数回路(48)の入力端に 対して接続されており、輝度信号Yも しくは輝度比較信号Y^+と遅延回路 (71a)によって遅延された輝度信号Y もしくは輝度比較信号Y^+との間の論 理積を求めて輝度信号Yもしくは輝度 比較信号Y^+から画像信号中の乱反射 信号に伴なう誤輝度信号Y_Nもしくは 誤輝度比較信号Y_N^+を除去するための論理積回路
(71b)と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第(1
)項もしくは第(2)項記載の物品検査装置。 (4)物品搬送部によって搬送されている被検査吻品を
物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取出すため
の三原色信号取出回路(41)と、(b)三原色信号取
出回路(41)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、三原色信号 取出回路(41)から与えられた三原色信号R、G、B
を互いに加算して三原色和信 号Xを作成するための三原色信号加算回 路(44)と、 (c)三原色信号取出回路(41)の出力端と三原色信
号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続さ
れており、三原色信号R 、G、Bを三原色和信号Xによって除す ることによって三原色相対色度信号X_R、X_G、X
_Bを算出し、最大のものを相対色度信号@X@として
出力するための割算回路(45)と、 (d)割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度信号@X@が設定値を超えたか否
かを判定して相対色度信 号@X@が設定値を超えたときにのみ高レベル状態とな
る相対色度比較信号@X^+@を出力するための比較回
路(46)と、 (e)比較回路(46)の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度比較信号@X^+@に含まれた高
レベル状態を計数すること によって被検査物品に混入ないしは付着 した異物を計数するための計数回路(48)と、 (f)割算回路(45)の出力端と比較回路(46)の
入力端との間もしくは比較回路(46)の出力端と計数
回路(48)の入力端との間に挿入されており、相対色
信号@X@もしくは 相対色度比較信号@X^+@から画像信号中の乱反射信
号に伴なう誤相対色度信号@X_N@もしくは誤相対色
度比較信号@X_N@を除去するための乱反射信号除去
回路(72)と、(g)計数回路(48)の出力端に対
して入力端が接続されており、計数回路(48)の計数
結果が所定値を超えたとき異物検出信号V を発生するための異物検出信号発生回路 (49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 (5)乱反射信号除去回路(72)が、 (i)割算回路(45)の出力端もしくは比較回路(4
6)の出力端に対して入力端が接続 されており、相対色度信号@X@もしくは 相対色度比較信号@X^+@を画像信号の1画面撮像時
間に相当する時間だけ遅延 せしめるための遅延回路(72a)と、 (ii)割算回路(45)の出力端もしくは比較回路(
46)の出力端に対して一方の入力端 が接続されかつ他方の入力端が遅延回 路(72a)の出力端に対して接続されか つ出力端が比較回路(46)の入力端もし くは計数回路(48)の入力端に対して接 続されており、相対色度信号@X@もし くは相対色度比較信号@X^+@と遅延回路(72a)
によって遅延された相対色度信 号@X@もしくは相対色度比較信号@X^+@との間の
論理積を求めて相対色度信号@X@ もしくは相対色度比較信号@X^+@から画像信号中の
乱反射信号に伴なう誤相対 色度信号@X_N@もしくは誤相対色度比較信号@X_
N@を除去するための論理積回路(72b)と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第(4
)項記載の物品検査装置。 (6)物品搬送部によって搬送されている被検査物品を
物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理するこ
とにより被検査物品に異物が混入ないし付着しているか
否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取出すため
の三原色信号取出回路(41)と、(b)三原色信号取
出回路(41)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、三原色信号 取出回路(41)から与えられた三原色信号R、G、B
から輝度信号Yを作成するた めの輝度信号作成回路(42)と、 (c)輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
端が接続されており、輝度信号Yが 設定値を超えたか否かを判定して輝度信 号Yが設定値を超えたときにのみ高レベ ル状態となる輝度比較信号Y^+を出力す るための第1の比較回路(43)と、 (d)三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
力端が接続されており、三原色信号 取出回路(41)から与えられた三原色信号R、G、B
を互いに加算して三原色和信 号Xを作成するための三原色信号加算回 路(44)と、 (e)三原色信号取出回路(41)の出力端と三原色信
号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続さ
れており、三原色信号R 、G、Bを三原色和信号Xによって除す ることによって三原色相対色度X_R、X_G、X_B
を算出し、最大のものを相対色度信 号@X@として出力するための割算回路(45)と、 (f)割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度信号@Xが@設定値を超えたか否
かを判定して相対色度信 号@X@が設定値を超えたときにのみ高レベル状態とな
る相対色度比較信号@X^+@を出力するための第2の
比較回路(46)と、 (g)第1の比較回路(43)の出力端と第2の比較回
路(46)の出力端とに対して入力端が接続されており
、輝度比較信号Y^+と相 対色度比較信号@X^+@とを組合わせて組合信号Zを
作成し出力するための信号組合 回路(47)と、 (h)輝度信号作成回路(42)の出力端と第1の比較
回路(43)の入力端との間もしくは第1の比較回路(
43)の出力端と信号組合回路(47)の入力端との間
に挿入されてお り、輝度信号Yもしくは輝度比較信号 Y^+から画像信号中の乱反射信号に伴な う誤輝度信号Y_Nもしくは誤輝度比較信 号Y_N^+を除去するための第1の乱反射信号除去回
路(71)と、 (i)割算回路(45)の出力端と第2の比較回路(4
6)の入力端との間もしくは第2の比較回路(46)の
出力端と信号組合回路(47)の入力端との間に挿入さ
れており、相対色 度信号@X@もしくは相対色度比較信号@X@^+から
乱画像信号中の反射信号に伴なう相 対色度信号@X@_Nもしくは誤相対色度比較信号@X
@_N^+を除去するための第2の乱反射信号除去回路
(72)と、 (j)信号組合回路(47)の出力端に対して入力端が
接続されており、組合信号Zに含ま れた高レベル状態を計数することによっ て被検査物品に混入ないしは付着した異 物を計数するための計数回路(48)と、 (k)計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路(48)の計数結果が所定値を超
えたとき異物検出信号V を発生するための異物検出信号発生回路 (49)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 (7)輝度信号Yが、総和が1であって0以上かつ1以
下の値をもつ3つの係数α、β、γと三原色信号R、G
、Bとを用いてαR+βG+γBと表わされてなること
を特徴とする特許請求の範囲第(6)項記載の物品検査
装置。 (8)信号組合回路(47)が、 (a)輝度比較信号Y^+と相対色度比較信号@X@^
+との論理積信号Y^+@X@^+を作成するためのア
ンド回路(47A)と、 (b)輝度比較信号Y^+と相対色度比較信号@X@^
+との論理和信号Y^++@X@^+を出力するための
オア回路(47B)と、 (c)アンド回路(47A)の出力端とオア回路(47
B)の出力端と第1の比較回路 (43)の出力端と第2の比較回路(46)の出力端と
に対してそれぞれ第1ないし 第4の切替接点が接続されかつ出力端 としての共通接点が計数回路(48)の 入力端に接続されており、論理積信号 Y^+@X@^+と論理和信号Y^++@X@^+と輝
度比較信号Y^+と相対色度比較信号 @X@^+とのうちのいずれか1つを選択して組合信号
Zとして出力するための切 替スイッチ(47C)と で形成されてなることを特徴とする特許請求の範囲第(
6)項もしくは第(7)項記載の物品検査装置。 (9)第1の乱反射信号除去回路(71)が、(i)輝
度信号作成回路(42)の出力端もしくは第1の比較回
路(43)の出力端に対し て入力端が接続されており、輝度信号 Yもしくは輝度比較信号Y^+を画像信 号の1画面撮像時間に相当する時間 だけ遅延せしめるための第1の遅延回 路(71a)と、 (ii)輝度信号作成回路(42)の出力端もしくは第
1の比較回路(43)の出力端に対し て一方の入力端が接続されかつ他方の 入力端が第1の遅延回路(71a)の出力 端に対して接続されかつ出力端が第1 の比較回路(43)の入力端もしくは計数 回路(48)の入力端に接続されており、 輝度信号Yもしくは輝度比較信号Y^+ と第1の遅延回路(71a)によって遅延 された輝度信号Yもしくは輝度比較信 号Y^+との間の論理積を求めて輝度信 号Yもしくは輝度比較信号Y^+から画 像信号中の乱反射信号に伴なう誤輝度 信号Y_Nもしくは誤輝度比較信号Y_N^+を除去す
るための第1の論理積回路 (i)割算回路(45)の出力端もしくは第2の比較回
路(46)の出力端に対して入力端 が接続されており、相対色度信号@X@も しくは相対色度比較信号@X@^+を画像信号の1画面
撮像時間に相当する時間 だけ遅延せしめるための第2の遅延回 路(72a)と、 (ii)割算回路(45)の出力端もしくは第2の比較
回路(46)の出力端に対して一方の 入力端が接続されかつ他方の入力端が 第2の遅延回路(72a)の出力端に対し て接続されかつ出力端が第2の比較回 路(46)の入力端もしくは計数回路(48)の入力端
に対して接続されており、相 対色度信号@X@もしくは相対色度比較信 号X^+と第2の遅延回路(72a)によって遅延され
た相対色度信号@X@もしくは 相対色度比較信号@X@^+との間の論理積を求めて相
対色度信号@X@もしくは相対 色度比較信号@X@^+から画像信号中の乱反射信号に
伴なう誤相対色度信号@X@_Nもしくは誤相対色度比
較信号@X@_N^+を除去するための第2の論理積回
路(72b) と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第(6
)項ないし第(8)項のいずれか一項記載の物品検査装
置。 (10)物品搬送部によって搬送されている被検査物品
を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理する
ことにより被検査物品に異物が混入ないし付着している
か否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取り出して
出力するための三原色信号取出 回路(141)と、 (b)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
入力端が接続されており、三原色信 号取出回路(141)から与えられた三原色信号R、G
、Bを互いに加算して三原色 和信号Xを作成するための三原色信号加 算回路(142)と、 (c)三原色信号取出回路(141)の出力端および三
原色信号加算回路(142)の出力端に対して入力端が
接続されており、三原色 信号取出回路(141)から与えられた三原色信号R、
G、Bから選ばれた2つを三 原色信号加算回路(142)から与えられた三原色和信
号Xで除することによって三 原色相対色度信号X_R、X_G、X_Bから選ばれた
2つの三原色相対色度信号を算出し て出力するための除算回路(144A_1、144B_
1、144C_1)と、 (d)除算回路(144A_1、144B_1、144
C_1)の出力端に対して入力端が接続されており、除
算 回路(144A_1、144B_1、144C_1)か
ら与えられた三原色相対色度信号X_R、X_G、X_
Bから選ばれた2つの三原色相対色度信号を所 望の割合で互いに加算して相対色度和信 号@X@_Δとして出力するための相対色度和信号算出
回路(146)と、 (e)相対色度和信号算出回路(146)の出力端に対
して入力端が接続されており、相対 色度和信号@X@_Δが設定値を超えたか否かを判定し
て相対色度和信号@X@_Δが設定値を超えたときにの
み高レベル状態となる 相対色度和比較信号@X@Δ_^+を出力するための比
較回路(147)と、 (f)比較回路(147)の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度和比較信号 X_Δ^+に含まれた高レベル状態を計数することによ
って被検査物品に混入ないし付 着した異物の個数を計数するための計数 回路(148)と、 (g)相対色度和信号算出回路(146)の出力端と比
較回路(147)の入力端との間もしくは比較回路(1
47)の出力端と計数回路 (148)の入力端との間に挿入されてお り、相対色度和信号@X@_Δもしくは相対色度和比較
信号@X@_Δ^+から画像信号中の乱反射信号に伴な
う誤相対色度和信号X_Δ_Nもしくは誤相対色度和比
較信号@X@_Δ_N^+を除去するための乱反射信号
除去回路(173)と、 (h)計数回路(148)の出力端に対して入力端が接
続されており、計数回路(148)の計数結果が所定値
を超えたとき異物検出信 号Vを発生するための異物検出信号発生 回路(149)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 (11)乱反射信号除去回路(73)が、 (i)相対色度和信号算出回路(146)の出力端もし
くは比較回路(147)の出力端に 対して入力端が接続されており、相対 色度和信号@X@_Δもしくは相対色度和比較信号@X
@_Δ^+を画像信号の1画面撮像時間に相当する時間
だけ遅延せしめるた めの遅延回路(73a)と、 (ii)相対色度和信号算出回路(146)の出力端も
しくは比較回路(147)の出力端に 対して一方の入力端が接続されかつ 他方の入力端が遅延回路(73a)の出力 端に対して接続されかつ出力端が比較 回路(147)の入力端もしくは計数回 路(148)の入力端に対して接続され ており、相対色度和信号@X@_Δもしく は相対色度和比較信号@X@_Δ^+と遅延回路(73
a)によって遅延された相対色度和 信号@X@_Δもしくは相対色度和比較信号@X@_Δ
^+との間の論理積を求めて相対色度和信号@X@_Δ
もしくは相対色度和比較信号@X@_Δ^+から画像信
号中の乱反射信号に伴なう誤相対色度和信号@X@_Δ
_Nもしくは誤相対色度和比較信号@X@_Δ_N^+
を除去するための論理積回路(73b)と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第(1
0)項記載の物品検査装置。 (12)物品搬送部によって搬送されている被検査物品
を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理する
ことにより被検査物品に異物が混入ないし付着している
か否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取り出して
出力するための三原色信号取出 回路(141)と、 (b)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
入力端が接続されており、三原色信 号取出回路(141)から与えられた三原色信号R、G
、Bを互いに加算して三原色 和信号Xを作成するための三原色信号加 算回路(142)と、 (c)三原色信号取出回路(141)の出力端および三
原色信号加算回路(142)の出力端に対して入力端が
接続されており、三原色 信号取出回路(141)から与えられた三原色信号R、
G、Bから選ばれた1つの三 原色信号を三原色信号加算回路(142)から与えられ
た三原色和信号Xで除するこ とによって三原色相対色度信号X_R、X_G、X_B
から選ばれた1つの三原色相対色 度信号を算出して相対色度信号@X@として出力するた
めの除算回路(144A_1、144B_1、144C
_1)と、 (d)除算回路(144A_1、144B_1、144
C_1)の出力端に対して入力端が接続されており、除
算 回路(144A_1、144B_1、144C_1)か
ら与えられた相対色度信号@X@が設定値を超えたか否
かを判定して相対色度信号@X@が設定値を超えたとき
にのみ高レベル状態となる相 対色度比較信号@X@^+を出力するための比較回路(
147)と、 (e)比較回路(147)の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度比較信号 @X@^+に含まれた高レベル状態を計数することによ
って被検査物品に混入ないし付 着した異物の個数を計数するための計数 回路(148)と、 (f)除算回路(144A_1、144B_1、144
C_1)の出力端と比較回路(147)の入力端との間
もしくは比較回路(147)の出力端と計数回路 (148)の入力端との間に挿入されてお り、相対色度信号@X@もしくは相対色度比較信号@X
@^+から画像信号中の乱反射信号に伴なう誤相対色度
信号@X@_Nもしくは誤相対色度比較信号@X@_N
^+を除去するための乱反射信号除去回路(73)と、 (g)計数回路(148)の出力端に対して入力端が接
続されており、計数回路(148)の計数結果が所定値
を超えたとき異物検出信 号Vを発生するための異物検出信号発生 回路(149)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 (13)乱反射信号除去回路(73)が、 (i)除算回路(144A_1、144B_1、144
C_1)の出力端もしくは比較回路(147)の出力端
に 対して入力端が接続されており、相対 色度信号@X@もしくは相対色度比較信号 @X@^+を画像信号の1画面撮像時間に相当する時間
だけ遅延せしめるための遅 延回路(73a)と、 (11)除算回路(144A_1、144B_1、14
4C_1)の出力端もしくは比較回路(147)の出力
端に 対して一方の入力端が接続されかつ他 方の入力端が遅延回路(73a)の出力端 に対して接続されかつ出力端が比較回 路(147)の入力端もしくは計数回路 (148)の入力端に対して接続されてお り、相対色度信号@X@もしくは相対色度 比較信号@X@^+と遅延回路(73a)によって遅延
された相対色度信号@X@もしくは 相対色度比較信号@X@^+との間の論理積を求めて相
対色度信号@X@もしくは相対 色度比較信号@X@^+から画像信号中の乱反射信号に
伴なう誤相対色度信号@X@_Nもしくは誤相対色度比
較信号@X@_N^+を除去するための論理積回路(7
3b)と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第(1
2)項記載の物品検査装置。 (14)物品搬送部によって搬送されている被検査物品
を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理する
ことにより被検査物品に異物が混入ないし付着している
か否かを検査してなる物品検査装置において、 (a)画像信号から三原色信号R、G、Bを取り出して
出力するための三原色信号取出 回路(141)と、 (b)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して
入力端が接続されており、三原色信 号取出回路(141)から与えられた三原色信号R、G
、Bを互いに加算して三原色 和信号Xを作成するための三原色信号加 算回路(142)と、 (c)三原色信号取出回路(142)の出力端および三
原色信号加算回路(142)の出力端に対して入力端が
接続されており、三原色 信号取出回路(141)から与えられた三原色信号R、
G、Bを三原色信号加算回路 (142)から与えられた三原色和信号Xで除すること
によって三原色相対色度信号 X_R、X_G、X_Bを算出して出力するための除算
回路(144A_1、144B_1、144C_1)と
、(d)除算回路(144A_1、144B_1、14
4C_1)の出力端に対して入力端が接続されており、
除算 回路(144A_1、144B_1、144C_1)か
ら与えられた三原色相対色度信号X_R、X_G、X_
Bに対し所望の係数α、β、γを乗じて係数付 三原色相対色度信号αX_R、βX_G、γX_Bを算
出して出力するための乗算回路 (144A_2、144B_2、144C_2)と、(
e)三原色信号取出回路(141)の出力端に対して入
力端が接続されており、三原色信 号取出回路(141)から与えられた三原色信号R、G
、Bを互いに比較することに より最大のものに対応して0となる選択 信号g_R、g_G、g_Bを算出して出力するための
選択信号発生回路(143)と、 (f)乗算回路(144A_2、144B_2、144
C_2)の出力端および選択信号発生回路(143)の
出力端に対して入力端が接続されており、選択 信号発生回路(143)から与えられた選 択信号g_R、g_G、g_Bと乗算回路(144A_
2、144B_2、144C_2)から与えられた係数
付三原色相対色度信号αX_R、βX_G、γX_Bと
の積を互いに加算して相対色度和信号@X@_Δを出力
するための相対色度和信号算出回 路(146)と、 (g)相対色度和信号算出回路(146)の出力端に対
して入力端が接続されており、相対 色度和信号@X@_Δが設定値を超えたか否かを判定し
て相対色度和信号@X@_Δが設定値を超えたときにの
み高レベル状態となる 相対色度和比較信号@X@_Δ^+を出力するための比
較回路(147)と、 (h)比較回路(147)の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度和比較信号 X_Δ^+に含まれた高レベル状態を計数することによ
って被検査物品に混入ないし付 着した異物の個数を計数するための計数 回路(148)と、 (i)相対色度和信号算出回路(146)の出力端と比
較回路(147)の入力端との間もしくは比較回路(1
47)の出力端と計数回路 (148)の入力端との間に挿入されてお り、相対色度和信号@X@_Δもしくは相対色度和比較
信号@X@_Δ^+から画像信号中の乱反射信号に伴う
誤相対色度和信号@X@_Δ_Nももしくは誤相対色度
和信号@X@_Δ_N^+を除去するための乱反射信号
除去回路(73) と、 (j)計数回路(148)の出力端に対して入力端が接
続されており、計数回路(148)の計数結果が所定値
を超えたとき異物検出信 号Vを発生するための異物検出信号発生 回路(149)と を備えてなることを特徴とする物品検査装置。 (15)乱反射信号除去回路(73)が、 (i)相対色度和信号算出回路(146)の出力端もし
くは比較回路(147)の出力端に 対して入力端が接続されており、相対 色度和信号@X@_Δもしくは相対色度和比較信号@X
@_Δ^+を画像信号の1画面撮像時間に相当する時間
だけ遅延せしめる ための遅延回路(73a)と、 (ii)相対色度和信号算出回路(146)の出力端も
しくは比較回路(147)の出力端に 対して一方の入力端が接続されかつ 他方の入力端が遅延回路(73a)の出力 端に対して接続されかつ出力端が比較 回路(147)の入力端もしくは計数回 路(148)の入力端に対して接続され ており、相対色度和信号@X@_Δもしく は相対色度和比較信号@X@_Δ^+と遅延回路(73
a)によって遅延された相対色度和 信号@X@_Δもしくは相対色度和比較信号X_Δ^+
との間の論理積を求めて相対色度和信号@X@_Δもし
くは相対色度和比較信号@X@_Δ^+から画像信号中
の乱反射信号に伴なう誤相対色度和信号@X@_Δ_N
もしくは誤相対色度和比較信号@X@_Δ_N^+を除
去するための論理積回路(73b)と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第(1
4)項記載の物品検査装置。
[Scope of Claims] (1) By processing an image signal obtained by capturing an image of the inspected article being conveyed by the article conveying section by the article imaging section, it is possible to determine whether foreign matter is mixed in or attached to the inspected article. In an article inspection device for inspecting the The input terminal is connected to the three primary color signals R, G, B given from the three primary color signal extraction circuit (41).
(c) The input end is connected to the output end of the brightness signal creation circuit (42), and the brightness signal Y exceeds the set value. (d) a comparison circuit (43) for outputting a brightness comparison signal Y^+ which becomes a high level state only when the brightness signal Y exceeds a set value by determining whether or not the brightness signal Y exceeds a set value; The input terminal is connected to the output terminal of the counting circuit (48), and the counting circuit (48 ) and (e) the output terminal of the luminance signal generation circuit (42) and the comparison circuit (
43) or between the output end of the comparator circuit (43) and the input end of the counting circuit (48), and is inserted between the input end of the comparator circuit (43) and the input end of the counting circuit (48), and is inserted between the input end of the comparator circuit (43) and the input end of the counting circuit (48). a diffused reflection signal removal circuit (71) for removing the erroneous brightness signal Y_N or the erroneous brightness comparison signal Y_N^+ accompanying the diffused reflection signal; and (f) an input end connected to the output end of the counting circuit (48). and a foreign object detection signal generation circuit (49) for generating a foreign object detection signal V when the counting result of the counting circuit (48) exceeds a predetermined value. (2) The luminance signal Y consists of three coefficients α, β, and γ whose sum is 1 and whose value is greater than or equal to 0 and less than or equal to 1, and the three primary color signals R and G.
, B, and expressed as αR+βG+γB, according to claim (1). (3) The diffuse reflection signal removal circuit (71) has an input terminal connected to the output terminal of (i) the luminance signal generation circuit (42) or the output terminal of the comparison circuit (43), and A delay circuit (71a) for delaying the comparison signal Y^+ by one screen imaging time of the image signal, and (ii) the output terminal of the luminance signal generation circuit (42) or the output terminal of the comparison circuit (43). One input terminal is connected, the other input terminal is connected to the output terminal of the delay circuit (71a), and the output terminal is connected to the input terminal of the comparator circuit (43) or the input terminal of the counting circuit (48). The brightness signal Y or the brightness comparison signal is calculated by calculating the AND between the brightness signal Y or the brightness comparison signal Y^+ and the brightness signal Y or the brightness comparison signal Y^+ delayed by the delay circuit (71a). It is characterized by including an AND circuit (71b) for removing an erroneous luminance signal Y_N or an erroneous luminance comparison signal Y_N^+ accompanying a diffuse reflection signal in an image signal from the signal Y^+. Claim No. 1
) or (2). (4) Inspecting whether or not foreign matter is mixed in or attached to the inspected article by processing the image signal obtained by imaging the inspected article being conveyed by the article conveying section by the article imaging section. In the article inspection apparatus, (a) a three primary color signal extraction circuit (41) for extracting three primary color signals R, G, and B from an image signal, and (b) an input terminal for the output end of the three primary color signal extraction circuit (41). are connected, and the three primary color signals R, G, B given from the three primary color signal extraction circuit (41)
(c) for the output end of the three primary color signal extraction circuit (41) and the output end of the three primary color signal addition circuit (44) for adding together the three primary color signal sum signals X. By dividing the three primary color signals R, G, B by the three primary color sum signal X, the three primary color relative chromaticity signals X_R, X_G,
A division circuit (45) for calculating _B and outputting the maximum value as a relative chromaticity signal @X@; and (d) an input terminal connected to the output terminal of the division circuit (45). The relative chromaticity comparison signal @X^ determines whether the relative chromaticity signal @X@ exceeds the set value and becomes a high level state only when the relative chromaticity signal @X@ exceeds the set value. (e) The input terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit (46) for outputting +@, and the input terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit (46) for outputting the relative chromaticity comparison signal @X^+@. a counting circuit (48) for counting foreign matter mixed in or attached to the inspected article by counting high level states; (f) an output terminal of the division circuit (45) and an input terminal of the comparison circuit (46); or between the output terminal of the comparison circuit (46) and the input terminal of the counting circuit (48), and the image signal is output from the relative color signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X^+@. Diffuse reflection signal removal circuit (72) for removing the erroneous relative chromaticity signal @X_N@ or erroneous relative chromaticity comparison signal @X_N@ accompanying the diffuse reflection signal in and a foreign object detection signal generation circuit (49) for generating a foreign object detection signal V when the counting result of the counting circuit (48) exceeds a predetermined value. An article inspection device characterized by: (5) The diffuse reflection signal removal circuit (72) is connected to (i) the output terminal of the division circuit (45) or the comparison circuit (45).
6) The input terminal is connected to the output terminal of (ii) the output terminal of the division circuit (45) or the comparison circuit (
One input terminal is connected to the output terminal of the comparator circuit (46), the other input terminal is connected to the output terminal of the delay circuit (72a), and the output terminal is connected to the input terminal of the comparator circuit (46) or the counting circuit (46). 48), and is connected to the input terminal of the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X^+@ and the delay circuit (72a).
From the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X^+@ by calculating the AND between the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X^+@ delayed by Erroneous relative chromaticity signal @X_N@ or erroneous relative chromaticity comparison signal @X_ accompanying the diffuse reflection signal in the image signal
and an AND circuit (72b) for removing N@.
) Article inspection device described in item 2. (6) By processing the image signal obtained by capturing an image of the inspected article being conveyed by the article conveyance section with the article imaging section, it is inspected whether or not foreign matter is mixed in or attached to the inspected article. In the article inspection device, (a) a three primary color signal extraction circuit (41) for extracting three primary color signals R, G, and B from an image signal, and (b) an input end for the output end of the three primary color signal extraction circuit (41). The three primary color signals R, G, B are connected and given from the three primary color signal extraction circuit (41).
(c) The input end is connected to the output end of the brightness signal creation circuit (42), and the brightness signal Y exceeds the set value. (d) three primary color signals; The input terminal is connected to the output terminal of the extraction circuit (41), and the three primary color signals R, G, B given from the three primary color signal extraction circuit (41) are connected to the output terminal of the extraction circuit (41).
(e) to the output end of the three primary color signal extraction circuit (41) and the output end of the three primary color signal addition circuit (44). By dividing the three primary color signals R, G, B by the three primary color sum signal X, the three primary color relative chromaticities X_R, X_G, X_B are
and (f) an input terminal is connected to the output terminal of the division circuit (45). , a relative chromaticity comparison signal @X^+ that determines whether the relative chromaticity signal @X exceeds the @ set value and becomes a high level state only when the relative chromaticity signal @X @ exceeds the set value. a second comparator circuit (46) for outputting @; (g) an input terminal connected to the output terminal of the first comparator circuit (43) and the output terminal of the second comparator circuit (46); a signal combination circuit (47) for combining the luminance comparison signal Y^+ and the relative chromaticity comparison signal @X^+@ to create and output a combination signal Z; (h) luminance signal creation; between the output terminal of the circuit (42) and the input terminal of the first comparator circuit (43) or the first comparator circuit (
43) and the input end of the signal combination circuit (47), and detects the error luminance signal Y_N or a first diffuse reflection signal removal circuit (71) for removing the false brightness comparison signal Y_N^+; (i) an output terminal of the division circuit (45) and a second comparison circuit (45);
6) or between the output terminal of the second comparison circuit (46) and the input terminal of the signal combination circuit (47), and is inserted between the input terminal of the second comparison circuit (46) and the input terminal of the signal combination circuit (47), and is inserted between the input terminal of From the comparison signal @X@^+, the relative chromaticity signal @X@_N or the erroneous relative chromaticity comparison signal @X accompanying the reflected signal in the disordered image signal
The input end is connected to the output end of the second diffuse reflection signal removal circuit (72) for removing @_N^+ and the (j) signal combination circuit (47). (k) an input terminal is connected to an output terminal of the counting circuit (48); and (k) an input terminal is connected to an output terminal of the counting circuit (48). and a foreign object detection signal generation circuit (49) for generating a foreign object detection signal V when the counting result of the counting circuit (48) exceeds a predetermined value. (7) The luminance signal Y consists of three coefficients α, β, and γ whose sum is 1 and whose value is greater than or equal to 0 and less than or equal to 1, and the three primary color signals R and G.
, B, and expressed as αR+βG+γB, according to claim (6). (8) The signal combination circuit (47) outputs (a) the luminance comparison signal Y^+ and the relative chromaticity comparison signal @X@^
(b) Luminance comparison signal Y^+ and relative chromaticity comparison signal @X@^
(c) an OR circuit (47B) for outputting an OR signal Y^++@X@^+, and (c) an output terminal of an AND circuit (47A) and an OR circuit (47
B), the output terminal of the first comparator circuit (43), and the output terminal of the second comparator circuit (46) are connected to first to fourth switching contacts, respectively, and serve as output terminals. A common contact is connected to the input terminal of the counting circuit (48), and the logical product signal Y^+@X@^+, the logical sum signal Y^++@X@^+, the brightness comparison signal Y^+, and the relative color are output. and a changeover switch (47C) for selecting one of the degree comparison signals @
The article inspection device described in item 6) or item (7). (9) The input terminal of the first diffuse reflection signal removal circuit (71) is connected to the output terminal of (i) the luminance signal generation circuit (42) or the output terminal of the first comparison circuit (43). , a first delay circuit (71a) for delaying the luminance signal Y or the luminance comparison signal Y^+ by a time corresponding to one screen imaging time of the image signal, and (ii) the output of the luminance signal generation circuit (42). One input terminal is connected to the terminal or the output terminal of the first comparison circuit (43), the other input terminal is connected to the output terminal of the first delay circuit (71a), and the output terminal is connected to the output terminal of the first delay circuit (71a). It is connected to the input terminal of the comparison circuit (43) of No. 1 or the input terminal of the counting circuit (48), and the luminance signal Y or the luminance comparison signal Y^+ and the luminance signal delayed by the first delay circuit (71a). Erroneous luminance signal Y_N or erroneous luminance comparison signal Y_N^+ accompanying the diffuse reflection signal in the image signal is obtained from the luminance signal Y or luminance comparison signal Y^+ by calculating the AND between Y or luminance comparison signal Y^+. The input terminal is connected to the output terminal of the first AND circuit (i) division circuit (45) or the output terminal of the second comparison circuit (46) for removing the relative chromaticity signal. a second delay circuit (72a) for delaying the @X@ or relative chromaticity comparison signal @X@^+ by a time corresponding to one screen imaging time of the image signal; (ii) a division circuit (45); One input terminal is connected to the output terminal of or the output terminal of the second comparison circuit (46), and the other input terminal is connected to the output terminal of the second delay circuit (72a), and the output terminal is connected to the input terminal of the second comparison circuit (46) or the input terminal of the counting circuit (48), and the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal X^+ and the second delay The logical product between the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X@^+ delayed by the circuit (72a) is calculated to generate the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X. A second AND circuit (72b) for removing the erroneous relative chromaticity signal @X@_N or the erroneous relative chromaticity comparison signal @X@_N^+ accompanying the diffuse reflection signal in the image signal from @^+. Claim No. 6 (6)
) to (8). (10) Inspecting whether or not foreign matter is mixed in or attached to the inspected article by processing the image signal obtained by imaging the inspected article being conveyed by the article conveying section by the article imaging section. In the article inspection device, (a) a three primary color signal extraction circuit (141) for extracting and outputting three primary color signals R, G, and B from an image signal, and (b) an output terminal of the three primary color signal extraction circuit (141). The input terminal is connected to the three primary color signals R and G given from the three primary color signal extraction circuit (141).
, B to each other to create the three primary color sum signal X; (c) the output end of the three primary color signal extraction circuit (141) and the output end of the three primary color signal addition circuit (142) The input end is connected to the three primary color signals R given from the three primary color signal extraction circuit (141),
Two primary color relative chromaticities selected from three primary color relative chromaticity signals X_R, X_G, and X_B are obtained by dividing two selected from G and B by a three primary color sum signal Division circuits (144A_1, 144B_
1, 144C_1) and (d) division circuit (144A_1, 144B_1, 144
The input terminal is connected to the output terminal of C_1), and the three primary color relative chromaticity signals X_R, X_G, X_ given from the division circuit (144A_1, 144B_1, 144C_1)
(e) a relative chromaticity sum signal calculation circuit (146) for adding the relative chromaticity signals of two primary colors selected from B to each other in a desired ratio and outputting the resultant as a relative chromaticity sum signal @X@_Δ; The input terminal is connected to the output terminal of the relative chromaticity sum signal calculation circuit (146), and it determines whether the relative chromaticity sum signal @X@_Δ exceeds a set value and generates the relative chromaticity sum signal. a comparison circuit (147) for outputting a relative chromaticity sum comparison signal @X@Δ_^+ which becomes a high level state only when @X@_Δ exceeds a set value; (f) a comparison circuit (147); The input end is connected to the output end of the chromaticity sum comparison signal (g) between the output terminal of the relative chromaticity sum signal calculation circuit (146) and the input terminal of the comparator circuit (147) or the comparator circuit (148);
47) and the input terminal of the counting circuit (148), it is inserted between the output terminal of the counting circuit (148) and the relative chromaticity sum signal @X@_Δ or the relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ^+ in the image signal. (h) a counting circuit (148); The input terminal is connected to the output terminal, and includes a foreign object detection signal generation circuit (149) for generating a foreign object detection signal V when the counting result of the counting circuit (148) exceeds a predetermined value. An article inspection device characterized by: (11) The diffuse reflection signal removal circuit (73) has an input terminal connected to the output terminal of the (i) relative chromaticity sum signal calculation circuit (146) or the output terminal of the comparison circuit (147), and the relative color Chromaticity sum signal @X@_Δ or relative chromaticity sum comparison signal @X
a delay circuit (73a) for delaying @_Δ^+ by a time corresponding to one screen imaging time of the image signal; and (ii) an output terminal of the relative chromaticity sum signal calculation circuit (146) or a comparison circuit (147). One input terminal is connected to the output terminal of the delay circuit (73a), and the other input terminal is connected to the output terminal of the delay circuit (73a), and the output terminal is the input terminal of the comparator circuit (147) or the counting circuit (148). It is connected to the input terminal of the relative chromaticity sum signal @X@_Δ or the relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ^+ and the delay circuit (73
Relative chromaticity sum signal @X@_Δ or relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ delayed by a)
The relative chromaticity sum signal @X@_Δ is obtained by calculating the logical product between
Or, from the relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ^+, the incorrect relative chromaticity sum signal @X@_Δ accompanying the diffuse reflection signal in the image signal
_N or incorrect relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ_N^+
and an AND circuit (73b) for removing the
0) Article inspection device described in item 0). (12) Inspecting whether or not foreign matter is mixed in or attached to the inspected article by processing an image signal obtained by capturing an image of the inspected article being conveyed by the article conveying section using the article imaging section. In the article inspection device, (a) a three primary color signal extraction circuit (141) for extracting and outputting three primary color signals R, G, and B from an image signal, and (b) an output terminal of the three primary color signal extraction circuit (141). The input terminal is connected to the three primary color signals R and G given from the three primary color signal extraction circuit (141).
, B to each other to create the three primary color sum signal X; (c) the output end of the three primary color signal extraction circuit (141) and the output end of the three primary color signal addition circuit (142) The input end is connected to the three primary color signals R given from the three primary color signal extraction circuit (141),
By dividing one of the three primary color signals selected from G and B by the three primary color sum signal X given from the three primary color signal addition circuit (142), three primary color relative chromaticity signals X_R, X_G, X_B are generated.
A division circuit (144A_1, 144B_1, 144C
_1) and (d) division circuit (144A_1, 144B_1, 144
The input terminal is connected to the output terminal of C_1), and the relative color is determined by determining whether the relative chromaticity signal @X@ given from the division circuit (144A_1, 144B_1, 144C_1) exceeds the set value. Comparison circuit for outputting the relative chromaticity comparison signal @X@^+ which becomes a high level state only when the chromaticity signal @X@ exceeds the set value (
147) and (e) the input terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit (147), and the test target is detected by counting the high level state included in the relative chromaticity comparison signal @X@^+. a counting circuit (148) for counting the number of foreign substances mixed in or attached to the article; and (f) a division circuit (144A_1, 144B_1, 144
C_1) and the input end of the comparison circuit (147) or between the output end of the comparison circuit (147) and the input end of the counting circuit (148), and the relative chromaticity signal @X @ or relative chromaticity comparison signal @X
From @^+ to incorrect relative chromaticity signal @X@_N or incorrect relative chromaticity comparison signal @X@_N accompanying the diffuse reflection signal in the image signal
The input terminal is connected to the output terminal of the diffuse reflection signal removal circuit (73) for removing ^+ and (g) the counting circuit (148), so that the counting result of the counting circuit (148) reaches a predetermined value. An article inspection device comprising: a foreign matter detection signal generation circuit (149) for generating a foreign matter detection signal V when the foreign matter detection signal V is exceeded. (13) The diffuse reflection signal removal circuit (73) (i) The division circuit (144A_1, 144B_1, 144
The input terminal is connected to the output terminal of C_1) or the output terminal of the comparison circuit (147), and the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X@^+ is used to capture one screen of image signals. (11) A division circuit (144A_1, 144B_1, 14
One input terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit (4C_1) or the output terminal of the comparison circuit (147), the other input terminal is connected to the output terminal of the delay circuit (73a), and the output terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit (147). 147) or the input terminal of the counting circuit (148), and is delayed by the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X@^+ and the delay circuit (73a). Calculate the logical product between the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X@^+, and calculate the logical product in the image signal from the relative chromaticity signal @X@ or the relative chromaticity comparison signal @X@^+. An AND circuit (7
Claim No. 3b)
2) Article inspection device described in section 2). (14) Inspecting whether or not foreign matter is mixed in or attached to the inspected article by processing an image signal obtained by capturing an image of the inspected article being conveyed by the article conveying section using the article imaging section. In the article inspection device, (a) a three primary color signal extraction circuit (141) for extracting and outputting three primary color signals R, G, and B from an image signal, and (b) an output terminal of the three primary color signal extraction circuit (141). The input terminal is connected to the three primary color signals R and G given from the three primary color signal extraction circuit (141).
, B to each other to create the three primary color sum signal The input end is connected to the three primary color signals R given from the three primary color signal extraction circuit (141),
Division circuits (144A_1, 144B_1, 144C_1) for calculating and outputting the three primary color relative chromaticity signals X_R, X_G, and X_B by dividing G and B by the three primary color sum signal X given from the three primary color signal addition circuit (142); ), and (d) division circuit (144A_1, 144B_1, 14
The input end is connected to the output end of 4C_1),
Three primary color relative chromaticity signals X_R, X_G, X_ given from the division circuit (144A_1, 144B_1, 144C_1)
A multiplication circuit (144A_2, 144B_2, 144C_2) for calculating and outputting coefficient-added three primary color relative chromaticity signals αX_R, βX_G, γX_B by multiplying B by desired coefficients α, β, and γ;
e) The input terminal is connected to the output terminal of the three primary color signal extraction circuit (141), and the three primary color signals R and G given from the three primary color signal extraction circuit (141)
, B are compared with each other to calculate and output selection signals g_R, g_G, and g_B which become 0 corresponding to the maximum one; (f) a multiplication circuit (144A_2, 144B_2, 144
The input terminal is connected to the output terminal of C_2) and the output terminal of the selection signal generation circuit (143), and the selection signals g_R, g_G, g_B given from the selection signal generation circuit (143) and the multiplication circuit (144A_
Relative chromaticity sum signal calculation for outputting a relative chromaticity sum signal @X@_Δ by adding together the products of the three primary color relative chromaticity signals αX_R, βX_G, γX_B with coefficients given from 2, 144B_2, 144C_2) The input terminal is connected to the output terminal of the circuit (146) and (g) relative chromaticity sum signal calculation circuit (146), and whether or not the relative chromaticity sum signal @X@_Δ exceeds the set value. a comparison circuit (147) for outputting a relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ^+ which becomes a high level state only when the relative chromaticity sum signal @X@_Δ exceeds a set value; (h) The input terminal is connected to the output terminal of the comparison circuit (147), and by counting the high level state included in the relative chromaticity sum comparison signal A counting circuit (148) for counting the number of attached foreign substances; and (i) between the output terminal of the relative chromaticity sum signal calculation circuit (146) and the input terminal of the comparator circuit (147) or the comparator circuit (148);
47) and the input terminal of the counting circuit (148), it is inserted between the output terminal of the counting circuit (148) and the relative chromaticity sum signal @X@_Δ or the relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ^+ in the image signal. a diffused reflection signal removal circuit (73) for removing the erroneous relative chromaticity sum signal @X@_Δ_N or the erroneous relative chromaticity sum signal @X@_Δ_N^+ accompanying the diffused reflection signal; and (j) a counting circuit (148). and a foreign object detection signal generation circuit (149) for generating a foreign object detection signal V when the counting result of the counting circuit (148) exceeds a predetermined value. An article inspection device characterized by: (15) The diffuse reflection signal removal circuit (73) has an input terminal connected to the output terminal of the (i) relative chromaticity sum signal calculation circuit (146) or the output terminal of the comparison circuit (147), and the relative color Chromaticity sum signal @X@_Δ or relative chromaticity sum comparison signal @X
a delay circuit (73a) for delaying @_Δ^+ by a time corresponding to one screen imaging time of the image signal; and (ii) an output terminal of the relative chromaticity sum signal calculation circuit (146) or a comparison circuit (147). One input terminal is connected to the output terminal of the delay circuit (73a), and the other input terminal is connected to the output terminal of the delay circuit (73a), and the output terminal is the input terminal of the comparator circuit (147) or the counting circuit (148). It is connected to the input terminal of the relative chromaticity sum signal @X@_Δ or the relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ^+ and the delay circuit (73
Relative chromaticity sum signal @X@_Δ or relative chromaticity sum comparison signal X_Δ^+ delayed by a)
From the relative chromaticity sum signal @X@_Δ or the relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ^+, calculate the logical product between the erroneous relative chromaticity sum signal @X due to the diffuse reflection signal in the image signal. @_Δ_N
or an AND circuit (73b) for removing the erroneous relative chromaticity sum comparison signal @X@_Δ_N^+.
4) Article inspection device described in section 4).
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