JPH0435043A - 静電チャック装置 - Google Patents
静電チャック装置Info
- Publication number
- JPH0435043A JPH0435043A JP2142364A JP14236490A JPH0435043A JP H0435043 A JPH0435043 A JP H0435043A JP 2142364 A JP2142364 A JP 2142364A JP 14236490 A JP14236490 A JP 14236490A JP H0435043 A JPH0435043 A JP H0435043A
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- JP
- Japan
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- anode
- anode electrodes
- electrostatic chuck
- electrodes
- wafer
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B3/00—Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties
- H01B3/002—Inhomogeneous material in general
- H01B3/006—Other inhomogeneous material
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
静電チャック装置に関し、
長時間使用しても、複数のアノード電極が片寄って劣化
しない静電チャ・7り装置を提供することを目的とし、 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ウェハ等を保持する静電チャック装置に関す
る。
しない静電チャ・7り装置を提供することを目的とし、 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ウェハ等を保持する静電チャック装置に関す
る。
一般に、エツチング装置などの半導体製造装置では、ウ
ェハをクリーン化したり、ウェハに発生した熱を外部に
速やかに逃がしたりするために、静電チャック装置によ
りウェハを垂直又は逆さに保持することがある。
ェハをクリーン化したり、ウェハに発生した熱を外部に
速やかに逃がしたりするために、静電チャック装置によ
りウェハを垂直又は逆さに保持することがある。
この静電チャック装置は、クーロン力によりウェハを吸
引する複数のアノード電極とカソード電極を有し、1〜
2KV程度の高圧直流電圧をアノード電極に印加するこ
とにより両電極間にクーロン力を発生し、このクーロン
力によりウェハを保持するように構成されている。
引する複数のアノード電極とカソード電極を有し、1〜
2KV程度の高圧直流電圧をアノード電極に印加するこ
とにより両電極間にクーロン力を発生し、このクーロン
力によりウェハを保持するように構成されている。
しかしながら、円形のウェハを保持する都合上、各アノ
ード電極の面積等が同一でないので、アノード電極の誘
電分極の方向を固定すると、複数のアノード電極が片寄
って劣化してウェハを充分保持することができなくなり
、この劣化を防止するために、例えばウェハ毎にアノー
ド電極の極性を反転することが行われる。
ード電極の面積等が同一でないので、アノード電極の誘
電分極の方向を固定すると、複数のアノード電極が片寄
って劣化してウェハを充分保持することができなくなり
、この劣化を防止するために、例えばウェハ毎にアノー
ド電極の極性を反転することが行われる。
第7図は、従来の静電チャック装置を示し、1はウェハ
、2はウェハ1を吸引して保持するための基板であり、
基板2には、例えばアノード電極AI、Bl、A2、B
2、A3、B3が円周方向に伸びるように、かつ半径方
向にこの順番で配設されている。尚、アノード電極A1
、A2、A3が短絡され、アノード電極B1、B2、B
3が短絡されている。また、アノード電極A1、B1、
A2、B2、A3、B3の上方にはカソード電極3が配
置されている。
、2はウェハ1を吸引して保持するための基板であり、
基板2には、例えばアノード電極AI、Bl、A2、B
2、A3、B3が円周方向に伸びるように、かつ半径方
向にこの順番で配設されている。尚、アノード電極A1
、A2、A3が短絡され、アノード電極B1、B2、B
3が短絡されている。また、アノード電極A1、B1、
A2、B2、A3、B3の上方にはカソード電極3が配
置されている。
アノード電極A1〜A3、B1−B5には、直流高圧電
源4の直流電圧が極性切替スイツチ5を介して印加され
、極性切替スイッチ5は、例えばウェハ1を1枚処理す
る毎に直流高圧電源4の直流電圧の極性を切り替える。
源4の直流電圧が極性切替スイツチ5を介して印加され
、極性切替スイッチ5は、例えばウェハ1を1枚処理す
る毎に直流高圧電源4の直流電圧の極性を切り替える。
しかしながら、上記従来の静電チャック装置は、例えば
ウェハ1を1枚処理する毎に直流高圧電源4の直流電圧
の極性を切り替えても、各ウェハlの処理時間が異なり
、長時間使用すると、やはりアノード電極At〜A3、
B1〜B3が片寄って劣化するという問題点がある。
ウェハ1を1枚処理する毎に直流高圧電源4の直流電圧
の極性を切り替えても、各ウェハlの処理時間が異なり
、長時間使用すると、やはりアノード電極At〜A3、
B1〜B3が片寄って劣化するという問題点がある。
本発明は上記従来の問題点に鑑み、複数のアノード電極
が片寄って劣化しない静電チャック装置を提供すること
を目的とする。
が片寄って劣化しない静電チャック装置を提供すること
を目的とする。
本発明は上記目的を達成するために、複数のアノード電
極と、前記アノード電極に3相以上の交流電圧を印加す
る多相交流電源とを有し、前記複数のアノード電極のそ
れぞれに前記多相交流の各相を独立に印加することを特
徴とする。
極と、前記アノード電極に3相以上の交流電圧を印加す
る多相交流電源とを有し、前記複数のアノード電極のそ
れぞれに前記多相交流の各相を独立に印加することを特
徴とする。
C作用〕
本発明は上記構成により、各アノード電極に印加される
電流量が同一になり、複数のアノード電極が片寄って劣
化しない。
電流量が同一になり、複数のアノード電極が片寄って劣
化しない。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第1〜
6図は本発明に係る静電チャック装置の一実施例を示す
概略構成図である。
6図は本発明に係る静電チャック装置の一実施例を示す
概略構成図である。
第1図において、11はウェハ、12はウェハ11を吸
引して保持するための基板であり、基板12には、例え
ばアノード電極Ul、Vl、Wl、B2、B3、W3が
円周方向に伸びるように、かつ半径方向にこの順番で配
設されている。
引して保持するための基板であり、基板12には、例え
ばアノード電極Ul、Vl、Wl、B2、B3、W3が
円周方向に伸びるように、かつ半径方向にこの順番で配
設されている。
尚、アノード電極U1、B2が短絡され、アノード電極
Vl、B2が短絡され、アノード電極W1、W2が短絡
され、また、アノード電極U1、Vl、Wl、B2、B
3、W3の上方にはカソード電極13が配置されている
。
Vl、B2が短絡され、アノード電極W1、W2が短絡
され、また、アノード電極U1、Vl、Wl、B2、B
3、W3の上方にはカソード電極13が配置されている
。
アノード電極Ul、U2、アノード電極v1、B2、ア
ノード電極W1、W2にはそれぞれ、多相交流電源とし
て例えば3相交流電源14の各相U、V、Wが印加され
ている。
ノード電極W1、W2にはそれぞれ、多相交流電源とし
て例えば3相交流電源14の各相U、V、Wが印加され
ている。
上記構成において、3相交流電源14が第2図(a)に
示すような3相交流U、V、Wを出力すると、アノード
電極Ul、U2、アノード電極V1、B2、アノード電
極W1、W2にはそれぞれ、第2図(b)に示すような
略一定のクーロン力がカソード電極13との間で発生す
る。
示すような3相交流U、V、Wを出力すると、アノード
電極Ul、U2、アノード電極V1、B2、アノード電
極W1、W2にはそれぞれ、第2図(b)に示すような
略一定のクーロン力がカソード電極13との間で発生す
る。
この場合、アノード電極Ul、U2、アノード電極■1
、B2、アノード電極Wl、W2にはそれぞれ同一の電
流量が印加されるので、アノード電極U1、vl、Wl
、B2、B3、W3が片寄って劣化しない。
、B2、アノード電極Wl、W2にはそれぞれ同一の電
流量が印加されるので、アノード電極U1、vl、Wl
、B2、B3、W3が片寄って劣化しない。
尚、上記実施例では、多相交流電源として3相交流電源
14を用いたが、例えば6相等の多相交流電源を用いて
もよい。ここで、2相交流電源を用いると、アノード電
極Ul、Vl、Wl、B2、U3、W3とカソード電極
13との間の電位差が「0」になるごとがあるので、望
ましくない。
14を用いたが、例えば6相等の多相交流電源を用いて
もよい。ここで、2相交流電源を用いると、アノード電
極Ul、Vl、Wl、B2、U3、W3とカソード電極
13との間の電位差が「0」になるごとがあるので、望
ましくない。
また、上記実施例では、アノード電極U1、U1、Wl
、U2、U3、W3が円周方向に伸びるよ)に、かつ半
径方向にこの順番で基板12に配設したが、これに限ら
ず、例えば、第3図に示すよ・うに、アノード電極U1
、vl、Wl、U2、U2、W2が半径方向に伸びるよ
うに、かつ円周方向にこの順番となるように配設しても
よく、または、第4図に示すように、アノード電極U1
、U1、Wl、U2、U2、W2をこの順序で外周側か
ら内周側へと順次に配設してもよく、または、第5図に
示すように、アノード′電極U1、U1、Wl、U2、
U2、W2、U3、U3、W3、・・・・・・を平行に
配設してもよ(、または、第6図に示すように、アノー
ド′電iU、V、W、・・・・・・をブロック状に配設
してもよい。
、U2、U3、W3が円周方向に伸びるよ)に、かつ半
径方向にこの順番で基板12に配設したが、これに限ら
ず、例えば、第3図に示すよ・うに、アノード電極U1
、vl、Wl、U2、U2、W2が半径方向に伸びるよ
うに、かつ円周方向にこの順番となるように配設しても
よく、または、第4図に示すように、アノード電極U1
、U1、Wl、U2、U2、W2をこの順序で外周側か
ら内周側へと順次に配設してもよく、または、第5図に
示すように、アノード′電極U1、U1、Wl、U2、
U2、W2、U3、U3、W3、・・・・・・を平行に
配設してもよ(、または、第6図に示すように、アノー
ド′電iU、V、W、・・・・・・をブロック状に配設
してもよい。
以上説明したように本発明は、各アノード電極に同一の
電流量が印加され、したがって、長時間使用してもアノ
ード電極が劣化しない。
電流量が印加され、したがって、長時間使用してもアノ
ード電極が劣化しない。
第1〜6図は本発明に係る静電チャック装置の一実施例
を示す図であり、 第1図はその概略構成図、 第2図(a)は第1図の3相交流電源の出力電流を示す
波形図、 第2図(b)は第1図のアノード電極とカッ]電極の間
で発生ずるクーロンノjを示す説明図、第3図は第1H
のアノード電極の第1変形例を示す平面図、 第4図は第1図のアノード電極の第2変形例を示す平面
図、 第5図は第1図のアノード電極の第3変形例を示す平面
図、 第6図は第1図のアノード電極の第4変形例を示す平面
図、 第7図は従来の静電チャック装置を示す概略構成図であ
る。 Ul、 vl、Wl、 U2、U2、W2・・・・・・アノード電極、11・・
・・・・ウェハ、 13・・・・・・カソード電極、 14・・・・・・3相交流電源(多相交流電源)。
を示す図であり、 第1図はその概略構成図、 第2図(a)は第1図の3相交流電源の出力電流を示す
波形図、 第2図(b)は第1図のアノード電極とカッ]電極の間
で発生ずるクーロンノjを示す説明図、第3図は第1H
のアノード電極の第1変形例を示す平面図、 第4図は第1図のアノード電極の第2変形例を示す平面
図、 第5図は第1図のアノード電極の第3変形例を示す平面
図、 第6図は第1図のアノード電極の第4変形例を示す平面
図、 第7図は従来の静電チャック装置を示す概略構成図であ
る。 Ul、 vl、Wl、 U2、U2、W2・・・・・・アノード電極、11・・
・・・・ウェハ、 13・・・・・・カソード電極、 14・・・・・・3相交流電源(多相交流電源)。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数のアノード電極と、 前記アノード電極に3相以上の交流電圧を印加する多相
交流電源とを有し、 前記複数のアノード電極のそれぞれに前記多相交流の各
相を独立に印加することを特徴とする静電チャック装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2142364A JPH0435043A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 静電チャック装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2142364A JPH0435043A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 静電チャック装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0435043A true JPH0435043A (ja) | 1992-02-05 |
Family
ID=15313667
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2142364A Pending JPH0435043A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 静電チャック装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0435043A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11150176A (ja) * | 1997-11-18 | 1999-06-02 | Tokyo Electron Ltd | 基板保持方法,基板保持装置及び基板処理方法 |
US6388861B1 (en) | 1990-06-08 | 2002-05-14 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Electrostatic wafer clamp |
JP2003520416A (ja) * | 1998-11-10 | 2003-07-02 | セムコ エンジニアリング エス.アー. | 静電保持装置 |
JP2016508292A (ja) * | 2012-12-28 | 2016-03-17 | アクセリス テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 静電クランプ状態の監視に基づく電荷集積 |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP2142364A patent/JPH0435043A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6388861B1 (en) | 1990-06-08 | 2002-05-14 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Electrostatic wafer clamp |
JPH11150176A (ja) * | 1997-11-18 | 1999-06-02 | Tokyo Electron Ltd | 基板保持方法,基板保持装置及び基板処理方法 |
JP2003520416A (ja) * | 1998-11-10 | 2003-07-02 | セムコ エンジニアリング エス.アー. | 静電保持装置 |
JP4763890B2 (ja) * | 1998-11-10 | 2011-08-31 | セムコ エンジニアリング エス.アー. | 静電保持装置 |
JP2016508292A (ja) * | 2012-12-28 | 2016-03-17 | アクセリス テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 静電クランプ状態の監視に基づく電荷集積 |
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