JPH04343054A - Photoelectron spectral device - Google Patents

Photoelectron spectral device

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Publication number
JPH04343054A
JPH04343054A JP3114858A JP11485891A JPH04343054A JP H04343054 A JPH04343054 A JP H04343054A JP 3114858 A JP3114858 A JP 3114858A JP 11485891 A JP11485891 A JP 11485891A JP H04343054 A JPH04343054 A JP H04343054A
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JP
Japan
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photoelectron
photoelectrons
energy
fluorescent screen
image data
Prior art date
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Pending
Application number
JP3114858A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisazumi Oshima
久純 大島
Kunihiro Onoda
小野田 邦広
Masayuki Katayama
雅之 片山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
NipponDenso Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH04343054A publication Critical patent/JPH04343054A/en
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a photoelectron spectral device which can capture a distribution image of a photoelectron with a target energy two-dimensionally and with a simple method. CONSTITUTION:An X-ray source 2 is placed in a vacuum chamber 1 and X rays are applied to a specimen 15. Also, a fluorescent screen 5 is placed in the vacuum chamber 1. Furthermore, a barrier electrode 6 which allows only a photoelectron with an energy exceeding a photoelectron energy according to an application voltage to be selectively transmitted is placed between the specimen 15 and the fluorescent screen 5. Also, while a first and a second application voltages are applied to the barrier electrode 6 by an image processing device 12 and a computer 13 for control, a photoelectron image data is taken through the fluorescent screen 5, a view port 10, and a TV camera 11, and then a difference between the photoelectron image data by the first application voltage and that by the second application voltage is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】この発明は、光電子分光装置に係
り、詳しくは、試料表面の構造に関する情報を原素別に
二次元の像として捕らえる光電子分光装置に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photoelectron spectrometer, and more particularly to a photoelectron spectrometer that captures information regarding the structure of a sample surface as a two-dimensional image for each element.

【0002】0002

【従来の技術】従来、学術月報,Vol. 43,No
.9(1990,9月)においては、X線光電子分光装
置を活用して試料表面の構造を捕らえる手法が示されて
いる。ところが、必要な情報を得るためには分析試料を
回転及び傾斜させながら測定を行わなければならず、膨
大な測定時間を要する。これに対し、特開昭61−26
4241号公報に示す光学系を用いれば、あるエネルギ
ーの光電子の分布を二次元的に測定することが可能とな
る。つまり、グリッド電極にてハイパスフィルタを構成
するとともにグリッド電極にてローパスフィルタを構成
し、この二種類のグリッド電極にてバンドパスフィルタ
としている。
[Prior Art] Conventionally, Academic Monthly Report, Vol. 43,No.
.. 9 (September 1990), a method for capturing the structure of a sample surface using an X-ray photoelectron spectrometer is presented. However, in order to obtain the necessary information, it is necessary to perform measurements while rotating and tilting the analysis sample, which requires an enormous amount of measurement time. On the other hand, JP-A-61-26
By using the optical system shown in Japanese Patent No. 4241, it becomes possible to two-dimensionally measure the distribution of photoelectrons of a certain energy. That is, the grid electrodes constitute a high-pass filter, the grid electrodes constitute a low-pass filter, and these two types of grid electrodes constitute a band-pass filter.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この光
学系は、ローパスフィルタをグリッドで構成するととも
にハイパスフィルタをグリッドで構成しているため複雑
であり、像の歪を抑えながら組立てるのは非常に困難で
ある。この発明の目的は、目的のエネルギーを持った光
電子の分布像を二次元的に簡便な方法で捕らえることが
できる光電子分光装置を提供することにある。
[Problem to be Solved by the Invention] However, this optical system is complicated because the low-pass filter is composed of a grid and the high-pass filter is composed of a grid, and it is extremely difficult to assemble it while suppressing image distortion. It is. An object of the present invention is to provide a photoelectron spectroscopy device that can two-dimensionally capture a distribution image of photoelectrons having a desired energy using a simple method.

【0004】0004

【課題を解決するための手段】この発明は、試料から光
電子を励起するための励起源と、前記励起源による前記
試料からの光電子を二次元像化する撮像機と、前記試料
と撮像機との間に配置され、印加電圧に応じた光電子エ
ネルギー以上の光電子のみを選択的に通過させる障壁電
極と、第1及び第2の印加電圧を前記障壁電極に印加し
た状態で撮像機による光電子像データを取り込むデータ
採取手段と、前記データ採取手段による第1の印加電圧
での光電子像データと第2の印加電圧での光電子像デー
タとの差分を取る差分処理手段とを備えた光電子分光装
置をその要旨とするものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides an excitation source for exciting photoelectrons from a sample, an imager for converting the photoelectrons from the sample into a two-dimensional image by the excitation source, and a combination of the sample and the imager. A barrier electrode is arranged between the barrier electrode and selectively allows photoelectrons having photoelectron energy equal to or higher than the applied voltage to pass through, and photoelectron image data is obtained by an imager with first and second applied voltages being applied to the barrier electrode. A photoelectron spectrometer is provided with a photoelectron spectroscopy device comprising a data acquisition means for taking in the data, and a difference processing means for taking a difference between the photoelectron image data at the first applied voltage and the photoelectron image data at the second applied voltage by the data acquisition means. This is a summary.

【0005】[0005]

【作用】データ採取手段により第1及び第2の印加電圧
を障壁電極に印加した状態で撮像機による光電子像デー
タが取り込まれる。そして、差分処理手段によりデータ
採取手段による第1の印加電圧での光電子像データと第
2の印加電圧での光電子像データとの差分が取られる。 その結果、1つの電極にてハイパスフィタを構成し、2
つの光電子像データを画像処理することにより所定の光
電子エネルギー幅で分光することができる。
[Operation] Photoelectron image data is captured by the image pickup device while the first and second applied voltages are applied to the barrier electrodes by the data acquisition means. Then, the difference processing means calculates the difference between the photoelectron image data at the first applied voltage and the photoelectron image data at the second applied voltage by the data acquisition means. As a result, one electrode constitutes a high-pass filter, and two
By image processing the photoelectron image data, it is possible to perform spectroscopy with a predetermined photoelectron energy width.

【0006】[0006]

【実施例】以下、この発明を具体化した一実施例を図面
に従って説明する。図1にはX線光電子分光装置の全体
構成を示す。X線光電子分光装置には真空チェンバ1が
設けられ、この真空チェンバ1は超高真空排気系を有す
るものである。真空チェンバ1内にはX線源2が配置さ
れ、X線源2は通電加熱されたフィラメント3から放出
される熱電子を電界により加速しターゲット(通常はA
lやMg)に衝突させることによりX線を発生させるも
のである。このX線には特性X線と連続X線が含まれる
が、本実施例ではBeやAlのフィルターにより特性X
線のみを取り出している。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment embodying the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows the overall configuration of an X-ray photoelectron spectrometer. The X-ray photoelectron spectrometer is provided with a vacuum chamber 1, and this vacuum chamber 1 has an ultra-high vacuum evacuation system. An X-ray source 2 is disposed inside the vacuum chamber 1, and the X-ray source 2 accelerates thermionic electrons emitted from a filament 3 heated by electricity using an electric field to target a target (usually A
X-rays are generated by colliding with L and Mg). These X-rays include characteristic X-rays and continuous X-rays, but in this example, the characteristic X-rays are
Only the lines are taken out.

【0007】又、真空チェンバ1内にはX線分光器4が
配置され、X線分光器4にはLiF等のX線分光結晶が
使用されている。そして、X線源2からのX線がX線分
光器4にて集光されるとともにX線が単色化されて真空
チェンバ1内に配置された試料15に照射する。尚、こ
のX線分光器4は、通常のX線源のワークディスタンス
が数センチでありそのままX線源を使用すると後記蛍光
スクリーン5の視野を阻害するためワークディスタンス
を長くとれるX線分光器が用いられている。
[0007] Also, an X-ray spectrometer 4 is disposed within the vacuum chamber 1, and the X-ray spectrometer 4 uses an X-ray spectroscopy crystal such as LiF. Then, the X-rays from the X-ray source 2 are focused by the X-ray spectrometer 4, and the X-rays are made monochromatic and irradiated onto the sample 15 placed in the vacuum chamber 1. Note that this X-ray spectrometer 4 has a working distance of several centimeters for a normal X-ray source, and if the X-ray source is used as it is, it will obstruct the field of view of the fluorescent screen 5 described later, so an X-ray spectrometer with a longer working distance is required. It is used.

【0008】又、真空チェンバ1内の側壁には蛍光スク
リーン5が配置され、同スクリーン5はX線が試料15
の表面に照射されると表面原子特有のエネルギーを持っ
た光電子が放出されるがこの光電子の像を見るためのも
のである。又、試料15と蛍光スクリーン5の間には障
壁電極6が配置され、障壁電極6には電圧発生器7が接
続されている。電圧発生器7は障壁電極6に印加する電
圧を発生する。障壁電極6は試料15からの光電子のう
ちの電圧発生器7で設定された電位以上のエネルギーを
持った光電子のみを通過させる。本実施例では、障壁電
極6は光電子が通過し易いように金属メッシュにより構
成しその形状は試料15のX線が照射されている部分を
中心とする半球状となっている。尚、障壁電極6の形状
を平板状としてもよい。
Further, a fluorescent screen 5 is arranged on the side wall of the vacuum chamber 1, and the screen 5 allows the X-rays to pass through the sample 15.
When the surface of the atom is irradiated, photoelectrons with energy unique to the surface atoms are emitted, and the image of these photoelectrons can be seen. Further, a barrier electrode 6 is arranged between the sample 15 and the fluorescent screen 5, and a voltage generator 7 is connected to the barrier electrode 6. Voltage generator 7 generates a voltage to be applied to barrier electrode 6. The barrier electrode 6 allows only photoelectrons from the sample 15 having energy higher than the potential set by the voltage generator 7 to pass through. In this embodiment, the barrier electrode 6 is made of a metal mesh so that photoelectrons can easily pass therethrough, and its shape is a hemisphere centered on the portion of the sample 15 that is irradiated with X-rays. Note that the barrier electrode 6 may have a flat shape.

【0009】さらに、障壁電極6と蛍光スクリーン5の
間には加速電極8が配置され、加速電極8には加速電源
9が接続されている。加速電源9は障壁電極6を通過し
た光電子を電界により加速し蛍光スクリーン5を光らせ
るための電源である。そして、加速電極8は障壁電極6
の電位以上のエネルギーを持った光電子が障壁電極6を
通過し加速電極8に達するがこの光電子では蛍光スクリ
ーン5を光らせるだけのエネルギーがないため加速電極
8と蛍光スクリーン5との間に電圧を印加することで光
電子に蛍光スクリーン5を光らせるにたるエネルギーを
与える。加速電極8は光電子が通過し易いように金属メ
ッシュにより構成しその形状は試料15のX線が照射さ
れている部分を中心とする半球形である。尚、加速電極
8の形状を平板形としてもよい。
Further, an accelerating electrode 8 is arranged between the barrier electrode 6 and the fluorescent screen 5, and an accelerating power source 9 is connected to the accelerating electrode 8. The acceleration power source 9 is a power source for accelerating photoelectrons that have passed through the barrier electrode 6 using an electric field to make the fluorescent screen 5 glow. The acceleration electrode 8 is the barrier electrode 6.
Photoelectrons with energy higher than the potential pass through the barrier electrode 6 and reach the accelerating electrode 8, but since these photoelectrons do not have enough energy to make the fluorescent screen 5 glow, a voltage is applied between the accelerating electrode 8 and the fluorescent screen 5. This gives the photoelectrons enough energy to make the fluorescent screen 5 glow. The accelerating electrode 8 is made of a metal mesh so that photoelectrons can easily pass therethrough, and its shape is a hemisphere centered on the portion of the sample 15 that is irradiated with X-rays. Note that the accelerating electrode 8 may have a flat shape.

【0010】蛍光スクリーン5の裏面側にはビューポー
ト10が配置されるとともに、ビューポート10には真
空チェンバ1外においてTVカメラ11が対向配置され
ている。そして、障壁電極6を通過した光電子が電界に
より加速され蛍光スクリーン5に衝突することにより蛍
光剤が励起され発光してビューポート10を通して蛍光
スクリーン5に現れた光電子像がTVカメラ11で捕ら
えられる。尚、ビューポート10は真空チェンバ1内で
はX線が発生しているため材質としてはX線をカットで
きるようなものが選ばれる。
A view port 10 is arranged on the back side of the fluorescent screen 5, and a TV camera 11 is arranged opposite to the view port 10 outside the vacuum chamber 1. The photoelectrons passing through the barrier electrode 6 are accelerated by the electric field and collide with the fluorescent screen 5, thereby exciting the fluorescent agent and emitting light. A photoelectron image appearing on the fluorescent screen 5 through the view port 10 is captured by the TV camera 11. Note that since X-rays are generated within the vacuum chamber 1, the viewport 10 is made of a material that can block X-rays.

【0011】TVカメラ11には画像処理装置12が接
続されている。画像処理装置12には第1フレームメモ
リMF1と第2フレームメモリMF2とが内蔵され、各
フレームメモリMF1,MF2にはそれぞれ多数のデー
タ記憶領域が用意されており、この各記憶領域はTVカ
メラ11の画面の各座標に対応するものである。又、画
像処理装置12にはCRT14が接続されている。
An image processing device 12 is connected to the TV camera 11 . The image processing device 12 has a built-in first frame memory MF1 and a second frame memory MF2, and each of the frame memories MF1 and MF2 has a large number of data storage areas, and each storage area is used for the TV camera 11. This corresponds to each coordinate on the screen. Further, a CRT 14 is connected to the image processing device 12.

【0012】制御用コンピュータ13は電圧発生器7を
制御して障壁電極6の印加電圧を調整するとともに、画
像処理装置12を制御してTVカメラ11による光電子
像の取り込み、光電子像データの格納及び演算等を行わ
せるようになっている。本実施例においては、蛍光スク
リーン5とビューポート10とTVカメラ11とから撮
像機が構成されるとともに、画像処理装置12と制御用
コンピュータ13にてデータ採取手段及び差分処理手段
が構成されている。
The control computer 13 controls the voltage generator 7 to adjust the voltage applied to the barrier electrode 6, and also controls the image processing device 12 to capture the photoelectron image by the TV camera 11, store the photoelectron image data, and It is designed to perform calculations, etc. In this embodiment, the fluorescent screen 5, view port 10, and TV camera 11 constitute an image pickup device, and the image processing device 12 and control computer 13 constitute data acquisition means and difference processing means. .

【0013】次に、このように構成したX線光電子分光
装置の作用を説明する。図2に制御用コンピュータ13
が実行するフローチャートを示す。ここで、通常X線に
より発生した光電子は図3に示すような分布を有する。 ここで、ピーク(イ),(ロ),(ハ)は原素固有のも
のである。そして、測定しようとする光電子のエネルギ
ーをE1 ,E2 ,E3 とし、分解能(バンド幅)
をdEとする。
Next, the operation of the X-ray photoelectron spectrometer constructed as described above will be explained. Figure 2 shows the control computer 13.
shows a flowchart executed by Here, photoelectrons generated by normal X-rays have a distribution as shown in FIG. Here, peaks (a), (b), and (c) are unique to the elements. Then, let the energy of the photoelectrons to be measured be E1, E2, E3, and the resolution (bandwidth)
Let be dE.

【0014】まず、測定しようとする試料15を真空チ
ェンバ1内にセットし、真空チェンバ1内を10−8P
a 程度の超高真空にする。そして、制御用コンピュー
タ13はステップ100で障壁電極6に印加する電圧を
E1 −(1/2)dEとする。その後、X線源2より
X線分光器4を通して試料に照射する。照射されたX線
により試料15を構成している原子の内殻電子が励起さ
れ光電子となり真空中へ放出される。ここで、障壁電極
6に電圧発生器7を用いて電圧E1 −(1/2)dE
を印加すると、放出された光電子のうちのE1 −(1
/2)dE以上のエネルギーを持った光電子のみが加速
電極8に到達する。
First, the sample 15 to be measured is set in the vacuum chamber 1, and the inside of the vacuum chamber 1 is heated to 10-8P.
Create an ultra-high vacuum of about a. Then, in step 100, the control computer 13 sets the voltage applied to the barrier electrode 6 to E1 - (1/2) dE. Thereafter, the sample is irradiated from the X-ray source 2 through the X-ray spectrometer 4. The irradiated X-rays excites the inner shell electrons of atoms constituting the sample 15 to become photoelectrons, which are emitted into vacuum. Here, a voltage generator 7 is used for the barrier electrode 6 to generate a voltage E1 - (1/2) dE
When E1 −(1
/2) Only photoelectrons with energy greater than dE reach the accelerating electrode 8.

【0015】そして、到達した光電子は加速電極8と蛍
光スクリーン5間に印加した電圧により加速され蛍光ス
クリーン5に衝突しその場所が蛍光励起する。このよう
にして、図4に示すように、スクリーン全体で見ればE
1 −(1/2)dE以上のエネルギーを持った光電子
が描く光電子像が得られる。制御用コンピュータ13は
ステップ101でこの像をTVカメラ11を通して画像
処理装置12の第1フレームメモリMF1に記憶させる
The photoelectrons that have arrived are accelerated by the voltage applied between the accelerating electrode 8 and the fluorescent screen 5, and collide with the fluorescent screen 5, causing fluorescence excitation at that location. In this way, as shown in Figure 4, if you look at the entire screen, E
A photoelectron image drawn by photoelectrons with energy of 1 - (1/2) dE or more can be obtained. In step 101, the control computer 13 stores this image in the first frame memory MF1 of the image processing device 12 through the TV camera 11.

【0016】次に、制御用コンピュータ13はステップ
102で障壁電極6に印加する電圧をE1 +(1/2
)dEとする。その結果、図5に示すように、E1 +
(1/2)dE以上のエネルギーを持った光電子が描く
光電子像が得られる。制御用コンピュータ13はステッ
プ103で蛍光スクリーンに現れている光電子像を画像
処理装置12の第2フレームメモリMF2に記憶させる
Next, the control computer 13 changes the voltage applied to the barrier electrode 6 to E1 + (1/2) in step 102.
)dE. As a result, as shown in Figure 5, E1 +
A photoelectron image drawn by photoelectrons with energy greater than (1/2) dE can be obtained. In step 103, the control computer 13 stores the photoelectronic image appearing on the fluorescent screen in the second frame memory MF2 of the image processing device 12.

【0017】そして、制御用コンピュータ13はステッ
プ104で第1フレームメモリMF1と第2フレームメ
モリMF2の各光電子像データの差分処理を行わせる。 その結果、図6に示すようにE1 のエネルギーを持っ
た光電子が描く光電子像が分解能dEとして得られる。 その後、制御用コンピュータ13はステップ105で差
分処理後に得られた光電子像をCRT14に表示させる
Then, in step 104, the control computer 13 performs differential processing on the photoelectron image data in the first frame memory MF1 and the second frame memory MF2. As a result, as shown in FIG. 6, a photoelectron image drawn by photoelectrons having an energy of E1 is obtained as a resolution dE. Thereafter, in step 105, the control computer 13 causes the CRT 14 to display the photoelectron image obtained after the differential processing.

【0018】このようにして図3でのピーク(イ)の分
光処理が終了すると、同様にしてピーク(ロ),(ハ)
についても行う。このように本実施例では、試料15と
蛍光スクリーン5との間に、印加電圧に応じた光電子エ
ネルギー以上の光電子のみを選択的に通過させる障壁電
極6を配置し、画像処理装置12と制御用コンピュータ
13により第1及び第2の印加電圧を障壁電極6に印加
した状態で光電子像データを取り込み、第1の印加電圧
での光電子像データと第2の印加電圧での光電子像デー
タとの差分を取るようにした。その結果、1つの電極に
てハイパスフィタを構成し、2つの光電子像データを画
像処理することにより所定の光電子エネルギー幅で分光
することができ、目的のエネルギーを持った光電子の分
布像を二次元的に簡便な方法で捕らえることができるこ
ととなる。
When the spectroscopic processing of peak (a) in FIG. 3 is completed in this way, peaks (b) and (c) are
We will also do this. As described above, in this embodiment, a barrier electrode 6 is arranged between the sample 15 and the fluorescent screen 5 to selectively pass only photoelectrons having photoelectron energy equal to or higher than the applied voltage. The computer 13 captures photoelectron image data while applying the first and second applied voltages to the barrier electrode 6, and calculates the difference between the photoelectron image data at the first applied voltage and the photoelectron image data at the second applied voltage. I decided to take it. As a result, by configuring a high-pass filter with one electrode and image processing the two photoelectron image data, it is possible to perform spectroscopy in a predetermined photoelectron energy width, creating a two-dimensional distribution image of photoelectrons with the desired energy. This means that it can be captured using a simple method.

【0019】尚、この発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、例えば、上記実施例では励起源としてX線
を用い信号として内殻電子を利用したが、励起源として
電子ビーム、信号としてオージェ電子を用いても表面原
子構造に関する情報が得られる。又、上記実施例では光
電子像を可視化するために蛍光スクリーンと加速電極を
用いたが、マルチチャンネルプレートを用いて可視化を
行ってもよい。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments; for example, in the above embodiments, X-rays were used as the excitation source and inner shell electrons were used as the signal; Information about the surface atomic structure can also be obtained using Auger electrons. Further, in the above embodiment, a fluorescent screen and an accelerating electrode were used to visualize the photoelectron image, but a multi-channel plate may be used for visualization.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
二次元測定を行う際に分光光学系を簡略化できる優れた
効果を発揮する。
[Effects of the Invention] As detailed above, according to the present invention,
It has an excellent effect of simplifying the spectroscopic optical system when performing two-dimensional measurements.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】実施例のX線光電子分光装置の全体構成を示す
図である。
FIG. 1 is a diagram showing the overall configuration of an X-ray photoelectron spectrometer according to an example.

【図2】フローチャートを示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a flowchart.

【図3】光電子のエネルギー分布を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the energy distribution of photoelectrons.

【図4】光電子のエネルギー分布を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the energy distribution of photoelectrons.

【図5】光電子のエネルギー分布を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing the energy distribution of photoelectrons.

【図6】光電子のエネルギー分布を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing the energy distribution of photoelectrons.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2  X線源 5  撮像機を構成する蛍光スクリーン6  障壁電極 10  撮像機を構成するビューポート11  撮像機
を構成するTVカメラ 12  データ採取手段及び差分処理手段を構成する画
像処理装置 13  データ採取手段及び差分処理手段を構成する制
御用コンピュータ 15  試料
2 X-ray source 5 Fluorescent screen 6 constituting the image pickup device Barrier electrode 10 Viewport 11 constituting the image pickup device TV camera 12 constituting the image pickup device Image processing device 13 constituting the data acquisition means and differential processing means Control computer 15 constituting the difference processing means Sample

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  試料から光電子を励起するための励起
源と、前記励起源による前記試料からの光電子を二次元
像化する撮像機と、前記試料と撮像機との間に配置され
、印加電圧に応じた光電子エネルギー以上の光電子のみ
を選択的に通過させる障壁電極と、第1及び第2の印加
電圧を前記障壁電極に印加した状態で撮像機による光電
子像データを取り込むデータ採取手段と、前記データ採
取手段による第1の印加電圧での光電子像データと第2
の印加電圧での光電子像データとの差分を取る差分処理
手段とを備えたことを特徴とする光電子分光装置。
1. An excitation source for exciting photoelectrons from a sample, an imager for converting the photoelectrons from the sample into a two-dimensional image by the excitation source, and an imager disposed between the sample and the imager, and an applied voltage. a barrier electrode that selectively passes only photoelectrons having a photoelectron energy equal to or higher than the photoelectron energy corresponding to the photoelectron energy; Photoelectron image data at the first applied voltage by the data acquisition means and the second
1. A photoelectron spectroscopy apparatus comprising: a difference processing means for calculating a difference between the photoelectron image data and the photoelectron image data at an applied voltage of .
JP3114858A 1991-05-20 1991-05-20 Photoelectron spectral device Pending JPH04343054A (en)

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