JPH0434096B2 - - Google Patents

Description

請求の範囲 １ 固有の屈曲率を有する流体物質中に存在する
粒子のサイズの現場測定を得る粒径測定装置にお
いて、 ａ 第１の位置に装着された第１のレンズホルダ
とこの第１のレンズホルダに関して離間されて
いる第２の位置に装着された第２のレンズホル
ダとを有し、前記第１および第２のレンズホル
ダはこれらの間に試料経路として作用する開放
領域を定め、前記第１のレンズホルダはその中
に形成された開口を有し、前記第２のレンズホ
ルダはその中に形成された開口を有し、前記第
２のレンズホルダの開口は前記第１のレンズホ
ルダの開口とのアライメントが出されていてそ
の第１のレンズホルダの開口より大きくされて
いるプローブヘツド部と、 ｂ 測定しようとする粒子を含有する流体物質が
前記プローブヘツド部の試料経路を通つて通過
するように流体物質中に前記プローブヘツド部
を位置させる手段と、 ｃ 複数の個々の光線から成る光のビームを発生
するよう作用するレーザーと、 ｄ 前記レーザーに光学的に結合されて前記レー
ザーからの光のビームを伝えるよう作用する光
フアイバケーブルから成る第１の光伝達手段
と、 ｅ 第１の面および第２の面を有し、その第１の
面が前記第１のレンズホルダの開口に関して並
置されるように前記第１のレンズホルダ内に装
着され、光のビームを受けるよう前記光フアイ
バケーブルに光学的に結合され、前記第１のレ
ンズホルダ内に形成された開口を通りそして光
のビームが前記試料経路を横切る時に前記試料
経路に存在する流体物質中に含有された粒子が
光のビームの個々の光線の散乱を生ぜしめるよ
うに前記試料経路を横切つていく光のビームに
焦点を合わせるよう作用する第１の色消しレン
ズと、 ｆ 前記第１のレンズホルダ内に形成され前記第
１の色消しレンズと流体流関係をもつて接続さ
れた第１の通路手段と前記プローブヘツド部に
支持され一端が前記第１の通路手段と流体流関
係をもつて接続された第１の清浄流体供給管と
を含み、前記第１の清浄流体供給管は前記試料
経路に存在する流体物質の屈折率と実質的に同
じ屈折率を有する清浄流体の第１の流れを前記
第１の通路手段に供給するよう作用し、前記第
１の通路手段はこれに供給された前記清浄流体
の第１の流れが第１のレンズホルダ内の開口を
通つて排出されるときに前記清浄流体の第１の
流れが前記第１の色消しレンズの前記第１の面
を通り越して流れて前記第１の色消しレンズの
前記第１の面に汚染物質が常にないようにする
第１の清浄手段と、 ｇ 第１の面および第２の面を有して前記第１の
色消しレンズより大きく、その第１の面が前記
第２のレンズホルダの開口に関して並置される
ように前記第２のレンズホルダ内に装着され、
前記試料経路を横切る途中で散乱された光線を
前記第２のレンズホルダに形成された開口によ
り受けて捕獲するよう作用する第２の色消しレ
ンズと、 ｈ 前記第２のレンズホルダ内に形成され前記第
２の色消しレンズと流体流関係をもつて接続さ
れた第２の通路手段と前記プローブヘツド部に
支持され一端が前記第２の通路手段と流体流関
係をもつて接続された第２の清浄流体供給管と
を含み、前記第２の清浄流体供給管は前記試料
経路に存在する流体物質の屈折率と実質的に同
じ屈折率を有する清浄流体の第２の流れを前記
第２の通路手段に供給するよう作用し、前記第
２の通路手段はこれに供給された前記清浄流体
の第２の流れが第２のレンズホルダ内の開口を
通つて排出されるときに前記清浄流体の第２の
流れが前記第２の色消しレンズの前記第１の面
を通り越して流れて前記第２の色消しレンズの
前記第１の面に汚染物質が常にないようにする
第２の清浄手段と、 ｉ 前記試料経路を横切る途中で散乱され第２の
色消しレンズによつて捕獲された光線を受ける
よう第２の色消しレンズに光学的に結合された
複数の半径方向リングを有するリング状部材
と、複数のフオトダイオードと、前記半径方向
リングを前記複数のフオトダイオードに光学的
に結合するよう作用する複数の光フアイバケー
ブル群から成る第２の光伝達手段とを含み、前
記複数のフオトダイオードは前記複数の半径方
向リングによつて受けられ前記複数の光フアイ
バケーブルによつて前記複数のフオトダイオー
ドに伝達される散乱光線の光の強度に基づいて
前記試料経路を横切る間に光線を散乱させる粒
子のサイズに関する信号を発生させるよう作用
する検出手段と、 を包含する粒径測定装置。

２ レーザーはヘリウムネオンレーザーである特
許請求の範囲第１項記載の粒径測定装置。

３ レーザーは半導体レーザーである特許請求の
範囲第１項記載の粒径測定装置。

関連出願の相互参照 本願は正規に出願され正規に譲渡された以下の
２つの特許出願に相互参照される。ジヨージ・エ
フ・シユロフおよびマイケル・ゼー・デイモント
の名義で（ ）に出願された「微粉化固体
制御装置」と題する米国特許出願第 号
（C850920）；およびマーク・ピー・エラモおよび
ジヨン・エム・ホーメスの名義で（ ）に
出願された「現場粒径測定装置のための装着兼横
移動アセンブリ」と題する米国特許出願第
号（C860010）。

発明の背景 本発明は測定装置に関し、特に流体物質中に存
在する粒子の粒径分布および体積密度の測定を同
時に現場で行うために使用するのに特に適した測
定装置に関する。

多くの工業プロセスの中で重要なパラメータの
１つは粒径である。それ自体は、従来では、粒子
の測定を行うために利用することができる装置を
用意することが古くから知られている。このた
め、従来には粒子の測定を得るために使用して来
た多くのタイプの装置例が存在する。この点に関
し、多くの場合、粒子の測定が遂行される技術に
は識別できる差がある。このような差の存在はほ
とんどの部分についてそのような装置が利用され
るよう設計された特別な適用と関連される種々の
機能要求に原因している。たとえば、特定の応用
に利用されるべき装置の特別なタイプの選定にお
いて、考慮しなければならない主要因の１つは測
定しようとする粒子が成している物質の性質であ
る。考慮しなければならない他の要因は測定して
いる時に粒子が存在する物質の性質である。考慮
しなければならない更に別の要因は測定すべき粒
子の相対サイズである。

粒子の測定を達成するために従来技術によつて
今まで利用して来た手法の中には音響法、光学計
数法、電気計数法、沈降法、分離法、および表面
測定法がある。更に、粒子の測定をするためにそ
のような手法を適用しようとしている粒子の種類
は血液粒子、食物粒子、化学粒子、無機物粒子な
どを含む。加えて、前に参照した手法の種々のも
のは、各種タイプのガスおよび各種タイプの液体
のような色々異なつたタイプの流体物質の中に存
在している粒子の測定を遂行させるために利用し
ようとしているものである。

しかしながら、あいにく、上に参照した手法を
実施できるようにするため今まで従来技術におい
て利用できる装置は１ないしそれ以上の点におい
て都合悪く特徴付けられることがわかつた。この
ため、工業プロセスへの調節を必要に応じて遂行
させるのに利用することができる粒径に関する情
報を発生させるため、工業プロセスを含む応用と
関連してこのような装置を利用しようとする場
合、従来形の装置の使用を通して十分に適時な方
法にておよび／または所望の精度をもつて必要情
報を発生させることは不可能である。すなわち、
工業プロセスへの調節を適時に行なうための利用
に関する限り、有意値とすべき情報として粒径に
関する所望情報を発生させるにはあまりに長い時
間がかかることおよび／またはあまりに多くの労
力を要することが判明している。大きな測定で
は、これは、粒径測定を行なうためには今まで用
いて来た従来装置を使つて現場で測定を行なうこ
とが不可能であることに基づいている。結果とし
て、今まで使用して来た従来装置を使用するため
には、測定しようとする粒子が存在する媒体から
試料を収集する必要性、この試料を粒径測定に使
用すべき装置へ送る必要性、その装置によつて粒
径測定を実際に行なう必要性が頻繁にあり、最終
的には得られた粒径に基づいて、測定された粒子
の採取された特定の工業プロセスがうまく作動さ
れるかどうかのサイズにその粒子があることを確
実にするために、測定は工業プロセスに対して調
節を行わなければならないものは何でも含ませて
いる。

粒径がプロセスの好結果の作動のための重要事
項とすべきことがわかつている工業プロセスの１
つの形態は、たとえば、限定する訳ではないが、
微粉炭の燃焼である。微粉炭の燃焼に関しては、
燃料として微粉炭を用いている蒸気発生装置の必
須要素は石炭をこのような用途に適したものにす
るために石炭を粉砕する装置であることが長らく
知られている。特に石炭の粉砕を行うためにしば
しば使用されている装置の１つの形態は、各種タ
イプの装置をこの目的のために利用することが知
られているが、この産業にて一般にボウルミルと
して参照されているものである。ボウルミルは中
で生じる石炭の微粉化、すなわち粉砕がボウルの
形にいくらか似た粉砕表面上にて発生されること
から主としてこの名を得ている。たとえば、ボウ
ルミルの従来の形を示すために、ゼー・エフ・ダ
ーレンベルグほかに対して1969年９月９日に発行
され本発明と同じ譲渡け人に譲渡された米国特許
第3465971号明細書を参照する。この発明は、石
炭焚き蒸気発生器に燃料を供給するのに使用され
る石炭を粉砕させるに適したボウルミルの構成の
種類および作動のモードを教示している。

蒸気発生装置における燃料としての微粉炭の使
用に特に関係するような微粉炭の有効燃焼は、石
炭の粒径が指定の粒径分布付近に保持されている
ことを要する。代表的には、中間反応石炭に対し
ては、200メツシユで70％が通過し50メツシユで
は１％が通過しないものである。代表的な
500MWの石炭焚き蒸気発生器発電プラントでの
経済的評価に基づき、指定した粒径分布を維持さ
せることによつて達成される炭素変換率の上昇の
ために、上に参照した規模の発電プラントの運転
コストが年間で何十万ドルもの意味深い節約を実
現することができると判断されている。しかしな
がら、明らかに、指定した粒径分布に近い石炭粒
径に保持させることによつて微粉炭燃料の供給さ
れる特定の発電プラントに関する限り、実際に実
現される節約は、石炭の反応速度論を含む多くの
要因、すなわち使用した特定の石炭についての粒
径に対して燃焼効率がどの程度左右されるか、石
炭粒子の最適粒径分布を維持するようボウルミル
をいかにうまく、いかなる頻度で制御するかに依
存している。しかし、すべての場合において石炭
粒子の粒径分布をその最適値付近に維持すること
はいくらか燃料の節約にはなるのである。

他の利益は石炭粒子の粒径分布をうまく制御す
ることからも発生する。これに関し、石炭粒子の
粒径分布の良好な分布により蒸気発生器での燃焼
生成物の付着が減るということが挙げられる。加
えて、石炭粒子の粒径分布に片寄りが発生してい
る場合には、これを、測定済み石炭粒子の微粉化
を行つたボウルミルの作動に関連した問題検出の
ための保守および診断助力として提供するような
ことに使用することができる。また、石炭粒径の
測定を行うことで貯えられた情報を使用してボウ
ルミルの運転を通して連続制御をすることができ
る。更に別の可能性は給炭パイプ中の燃料対空気
比の表示を得るために石炭粒径分布測定を行なう
ことから得られた情報を使用することであり、こ
れにより、すべてに周知な方法にて、ボウルミル
から微粉炭粒子の燃焼を行う蒸気発生器に微粉炭
粒子が運ばれる。

したがつて、従来においては、正確な粒径測定
を迅速に得ることができるような作動のモードを
実施する新規かつ改良された粒径測定装置の必要
性が明らかにされた。すなわち、オンライン測定
から得た情報を適時に得、これによつてこの情報
を、粒径が重要なパラメータである工業プロセス
に関して制御するために使用できるようにするよ
うな、粒径のオンライン測定を与えることができ
る新規かつ改良された形の粒径分析機の必要が明
らかにされた。換言すれば、粒径分布の測定に基
づいた調整が必要と思われる時、現場での粒径分
布によつて工業プロセスに対する調整をすること
ができる新規かつ改良された形の粒径分析機を得
ようとしている。加えて、粒径分布測定をなすと
同時に、現場の体積密度の測定を一緒に得ること
もできることを更に特徴とするそのような粒径分
析機を得ようとしている。

したがつて、本発明の目的は流体物質中に存在
する粒子のサイズの測定を得るよう作動する新規
かつ改良された測定装置を提供するようにある。

本発明の他の目的は粒径の正確な測定を迅速に
得ることができるようにした新規かつ改良された
粒径測定装置を提供するにある。

本発明の一層他の目的は流体物質中に存在する
粒子のサイズの現場測定をなすことができる新規
かつ改良された粒径測定装置を提供するにある。

本発明の更なる目的は流体物質中に存在する粒
子の粒径分布の現場測定を行うよう作動する新規
かつ改良された粒径測定装置を提供するにある。

本発明の一層更なる目的は流体物質中に存在す
る粒子の粒径分布の現場測定をなすと同時に流体
物質中に存在する粒子の体積密度の現場測定を行
うよう作動する新規かつ改良された粒径測定装置
を提供するにある。

本発明の更に別の目的は粒径に関する情報を十
分に適時な方法で発生させて粒径測定から得られ
た情報に基づいて工業プロセスに関する制御を行
うことができる新規かつ改良された粒径測定装置
を提供するにある。

本発明のなお一層別の目的は製造および作動が
比較的簡単である一方、提供するのに比較的費用
がかからない新規かつ改良された粒径測定装置を
提供するにある。

発明の要約 本発明によれば、粒子のサイズの測定をなすの
に特に適した測定装置が提供される。このため、
この対象の測定装置は流体物質中に存在する粒子
の粒径分布および体積密度の測定を同時かつ現場
で行うよう作動する。その構成の性質によれば、
対象の測定装置は本質的に２つの主要素、すなわ
ち光源部およびプローブヘツド部から成る。光源
部は好ましくはヘリウムネオンレーザー形式のも
のがよい。このレーザーからの光は光フアイバケ
ーブルによつてプローブヘツドに送られ、光がケ
ーブルから出た時空間的にろ波され平行光線束に
される。平行にされた後、光は第１の焦点レンズ
に伝達される。この第１の焦点レンズは試料経路
を横切つた平行光を、試料経路の第１の焦点レン
ズが置かれた側と反対の側に置いた第２の焦点レ
ンズに焦点を合わせるよう作用する。試料経路を
横切つて通る途中で、レーザー光は試料経路中に
存在する粒子によつて散乱させられる。散乱され
た光は第２の焦点レンズによつて集められ、光の
強さ分布をつみ取る検出装置へ焦点が合うように
設計されている。検出装置によつて受けられた光
分布から粒径分布を推理することができ、一方、
或るパラメータ式を使つて体積密度が計算され
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に従つて構成された粒径測定装
置に使用することができる光源部の一実施例の側
面図である。第１ａ図は本発明に従つて構成され
た粒径測定装置に使用することができる光源部の
他の実施例の略示図である。第２図は本発明に従
つて構成された粒径測定装置のプローブヘツド部
の部分断面側面図である。第３図は実質的に第２
図の線３−３に沿つて見た第２図の本発明に従つ
て構成された粒径測定装置のプローブヘツド部の
断面図である。第４図は実質的に第２図の線４−
４に沿つて見た第２図の本発明に従つて構成され
た粒径測定装置のプローブヘツド部の断面図であ
る。第５図は実質的に第２図の線５−５に沿つて
見た第２図の本発明に従つて構成された粒径測定
装置のプローブヘツド部の断面図である。第６図
はプローブヘツド部の構成要素間に存在する関係
を示した本発明に従つて構成された粒径測定装置
のプローブヘツド部の一部の断面図である。

好適な実施例の説明 図面、特にその第１図、第１ａ図および第２図
を参照すれば、そこには流体物質中に存在する粒
子の粒径分布および体積密度の測定を同時かつ現
場で行うよう使用するのに適した測定装置が示さ
れている。本発明の最良の実施態様によれば、目
的の粒径測定装置は２つの主要素、すなわち図面
の第１図に参照符号１０によつて一般的に示した
光源部と、図面の第２図に参照符号１２によつて
一般的に示したプローブヘツド部との２つの主要
素から成る。

本発明に従つて構成された粒径測定装置の光源
部１０のこの種の構成をまず考えてみると、この
ためには特に図面の第１図を参照する。本発明の
最良の実施形態によれば、好ましくは本発明の粒
径測定装置に使用される光源は第１図に参照符号
１４によつて一般的に示したヘリウムネオンレー
ザーがよい。本発明の粒径測定装置の以下の説明
のために光源１４はガスレーザー、すなわちヘリ
ウムネオンレーザーであるとして述べるが、光源
１４は本発明の主旨を逸脱しない半導体レーザー
の形式をとることもできると理解すべきである。
すなわち、所望の作動モードを持つた本発明の粒
径測定装置を与えるために使用される光源はレー
ザーを必要とするだけで、この目的のために使用
されるレーザーの特定の形態はガスレーザーまた
は半導体レーザーのいずれでもよい。このため、
図面の第１ａ図を参照して、半導体レーザーを包
含し本発明に従つて構成された粒径測定装置の光
源１４として使用するのに適当な、参照符号１
０′によつて一般的に示した、光源部を後で説明
することになろう。

図面の第１図を更に参照すると、これを参照す
ると最もよく理解されるようにレーザー１４は第
１図に参照符号１６によつて一般的に示した囲い
の中に全体が収容されるように設計されている。
より詳しく言えば、図面の第１図の例示した囲い
１６は基部１８と、２つの端壁２０と、頂壁２２
と、第１図には１つしか見られない２つの側壁２
４とから成る。図面に示されるように、レーザー
１６はこれが第１図に２６で見られる支持ブロツ
クの上に乗せるようにされて囲い１６の中に装着
するように設計されている。支持ブロツク２６は
ねじ付き固定具（図示せず）のような従来の適当
な形の固定手段を使つて基部１８の内面に適当に
固定されている。支持ブロツク２６の上に支持関
係をもつてレーザー１４を保持するために、好ま
しくは、第１図に参照符号２８によつて示したレ
ーザークランプによつて支持ブロツク２６にレー
ザー１４を留めるようにするのがよい。レーザー
クランプ２８と支持ブロツク２６との間にレーザ
ー１４を留めるのに必要なクランプ作用はレーザ
ークランプ２８を支持ブロツク２６と相互係合さ
せるために利用することができるねじ付き固定具
（図示せず）のような従来の適当な形の固定手段
を使つて行われるのがよい。

レーザー１４はその電力を第１図に参照符号３
０によつて一般に示したレーザー電源から得る。
レーザー電源３０は好ましくはねじ付き固定具
（図示せず）のような従来の任意の形式の固定手
段を使用して囲い１６の中のその基部１８の内面
上に適当に装着されるのがよい。レーザー電源３
０はヘリウムネオンレーザーに電力を与える目的
で使用するのに適当な任意の市販タイプの形式の
レーザー電源を採ることができる。第１図に示し
たようなレーザー電源３０は第１図に参照符号３
２によつて表したケーブルによつてレーザー１４
に接続され、これを介してレーザー電源３０から
レーザー１４へ電力が供給される。レーザー電源
３０自体はまた図面の第１図に３４で示したケー
ブルによつて外部電源（図示せず）に接続され、
これからレーザー電源３０用の電力が与えられ
る。このため、ケーブル３４は、囲い１６の端壁
２０の一方にこの目的のための開口（図示せず）
を介して出ており、そのようにするときには第１
図に３６で示した導管取付け具を介して貫通させ
るようにしている。

レーザー１４が発生する光のビームに合わせて
間隔を置いて装着されているのは第１図に参照符
号３８によつて一般的に示した光フアイバカプラ
である。光フアイバカプラ３８はレーザー１４か
ら光のビームを受けてこの光のビームを第１図お
よび第２図の両図に参照符号４０によつて表した
光フアイバケーブルに結合させるように設計され
ている。光フアイバケーブル４０は光源部１０の
レーザー１４からの光のビームを本発明の粒径測
定装置のプローブヘツド部１２へ伝送させる作用
をするように設計されている。このため、光フア
イバケーブル４０は図面の第１図および第２図を
参照することによつて最もよく理解されるよう
に、光源部１０からプローブヘツド部１２まで延
ばすのに十分な長さに作られている。上述のよう
に使用するのに適していて市販品が利用できる任
意の従来形の光フアイバカプラを、本発明の粒径
測定装置の光フアイバカプラ３８として使用する
のに選定してもよい。たとえば限定する訳ではな
いが、本発明の粒径測定装置の光フアイバカプラ
３８として使用するのに適していると考えられる
市販の光フアイバカプラの１つの形はニユーポー
トリサーチよりF915として市販されているもの
である。

先に述べたように、図面の第１図に示した光源
１４はまた本発明の主旨から逸脱することなく半
導体レーザーの形を採ることもできる。このた
め、ここで第１ａ図を参照すると光源としてレー
ザーダイオードを利用し参照符号９８によつて表
した光源部１０′を示しているのが見られる。こ
のように、第１図に示した光源部１０のこの種の
構成を述べた記載に関連して前に参照した図面の
第１図において符号１４で示したヘリウムネオン
ガスレーザーの代わりに、本発明に従つて構成さ
れた粒径測定装置用光源としてレーザーダイオー
ド９８を同様に役立てることができる。したがつ
て、図面の第１ａ図を更に参照すると、レーザー
ダイオード９８から発せられたレーザー光は第１
ａ図に示した光源部１０′のこの種の構成に従つ
て、第１ａ図に参照符号１００で表した球面レン
ズによつて受けられる。この球面レンズ１００か
ら、レーザー光は第１ａ図に参照符号１０２によ
つて表したグレーデツドインデツクスレンズに伝
達され、その後第１ａ図に参照符号１０４によつ
て認識することができるロツドレンズに伝達され
る。ロツドレンズ１０４を出た後、レーザー光
は、図面の第１図のヘリウムネオンガスレーザ
ー、すなわち光源１４によつて発生された光が光
源部１０から本発明の粒径測定装置のプローブヘ
ツド部１２へ光フアイバケーブル４０によつて伝
達される方法の記載に関してここに前述したと同
様の方法で、第１ａ図に参照符号１０６によつて
認識される単一モードフアイバにより本発明の粒
径測定装置のプローブヘツド部１２へ伝達される
ように設計されている。

本発明の粒径測定装置のこの種の構成の記載を
続けるが、次はプローブヘツド部１２の構成に注
意を向ける。このためには特に図面の第２図を参
照する。プローブヘツド部は第２図を参照するこ
とによつて最もよく理解されるように、第２図に
参照符号４２によつて一般的に示した光学的囲い
を包含している。本発明の最良の実際態様によれ
ば、この光学囲い４２は好適には管状部材、すな
わちパイプ状部材の形を成し、その一端は第２図
に４４で見られるように、更に述べる目的のため
にねじが切られている。光学囲い４２のねじ付き
端を介して、本発明の粒径測定装置の光源部１０
内に設けられたレーザー１４より発生の光のビー
ムをその光源部からプローブヘツド部１２へ伝送
させる前述の光フアイバケーブル４０はプローブ
ヘツド部１２へ入るように構成されている。

光学囲い４２の他端は閉止するようにされてい
る。これは第２図に参照符号４６によつて一般的
に表した従来では一般にフリーズプラグと呼ばれ
るものの使用を通じて行われる。第２図に符号４
６を与えたフリーズプラグの如きフリーズプラグ
のこの種の構成および作動のモードは周知なの
で、本発明の理解を得るためにここでその詳細を
述べる必要性はないと考える。ただ、フリーズプ
ラグ４６は、光学囲い４２の内径を越えた直径を
与えるように適当に寸法決めされ第２図に参照符
号４８によつて認識される第１部材を包含し、こ
の第１部材４８が第２図に示した方法で光学囲い
４２の開放端と接触係合するよう位置決めされる
時、第１部材４８は光学囲い４２のその他方の開
放端を閉止するよう作用する、と言うに止める。
フリーズプラグ４６は更に、図面の第２図に５０
で示した第２部材を包含する。第１部材４８に対
比して、第２部材５０は第２図に見られるように
その右側端にて測定したときに光学囲い４２の内
径よりも小さな直径を与えるように適当に寸法決
めされて第２図に方法で光学囲い４２に挿入でき
る。第１部材４８と第２部材５０との間には、ね
じ付き固定具５４とナツト５６との締めつけによ
つて第１部材４８と第２部材５０との間が圧縮さ
れるようになると光学囲い４２の内壁表面との間
でシールがもたらされるとした、第２図に参照符
号５２によつて認識される適当に寸法決めされた
圧縮性材料体が挿置されている。

図面の第２図を更に参照すると、これからは、
ねじ付き端４４を介して光学囲い４２に入つた後
の光フアイバケーブル４０が光学囲い４２のほぼ
全長にわたつて延びているのを見ることができ
る。図面の第２図を参照して最も良く理解される
ように、第２図に見られるような右側端の光フア
イバケーブル４０は第２図に参照符号６０によつ
て一般的に表した光フアイバカプラと協力的に関
連されている。光フアイバカプラ６０は光フアイ
バケーブル４０を介してレーザー１４から伝送さ
れて来た光のビームを、この光ビームがプローブ
ヘツド部１２の中に設けられた光フアイバケーブ
ル４０の端部に達した時、それから放出させるよ
うに設計されている。他端、すなわち光源部１０
の中に設けられた光フアイバケーブル４０の端部
が結合されている光フアイバカプラ３８の場合の
ように、上述の用途に適している市販品が利用で
きる従来の形の光フアイバカプラを、本発明の粒
径測定装置の光フアイバカプラとして使用するよ
う選択することができる。更に、たとえば限定す
る訳ではないが、本発明の粒径測定装置の光フア
イバカプラ６０として使用するのに適当と思われ
る市販の光フアイバカプラの１つの形態はセイコ
ーインストルメンツからSF−1Aなる名で市販さ
れているものである。

光フアイバカプラ６０によつて光フアイバケー
ブル４０から減結合された後、光フアイバケーブ
ル４０から出るレーザー光ビームは空間的にろ波
され平行光線束にされる。平行にする必要性は、
レーザー光ビームが円錐形の形で光フアイバケー
ブル４０から出ることから生じている。その結果
として、後述から明らかになるように、光線に関
する限りは、光フアイバケーブル４０を出た光線
が収束するモードから平行化後に光線が互いに平
行となるモードへの変化を行わせる必要がある。
このため、光フアイバカプラ６０を囲むようにし
て第２図に参照符号６２によつて一般的に表した
コリメータ囲いが位置されている。平行化に続い
て、レーザー光ビームは第２図に参照符号６４に
よつて一般的に認識される第１の焦点手段に当て
るようにされている。発明の最良の実施態様によ
れば、この第１の焦点手段６４は好ましくは、当
業者には色消しレンズとして周知の特殊調整レン
ズとするのがよい。

本発明の粒径測定装置の正しい作動のために
は、レーザー光ビームが出る光フアイバケーブル
４０の端部から予め定めた距離のところにレンズ
６４を配置することが重要である。詳述すると、
本発明の最良の実施態様によれば、レンズ６４は
光フアイバケーブル４０の端部から焦点距離だけ
離れて位置されるべきである。レンズ６４は更に
第２図に参照符号６６によつて一般的に示した第
１のレンズホルダ／隔壁手段の中に適宜装着され
るようにされている。図面の第２図を更に参照す
ると、前述のコリメータ囲い６２は本発明の実施
例に従つて、第１のレンズホルダ／隔壁手段６６
の所定位置にねじ込むことによつて固定される。
このため、コリメータ囲い６２および第１のレン
ズホルダ／隔壁手段６６の双方に適当に選ばれた
複数のねじ山が設けられ、それらの間で前述のね
じ込みを成すため互いにかみ合うようにしてい
る。最後に、第２図の例を参照すれば、第１のレ
ンズホルダ／隔壁手段６６は光学囲い４２の両端
の中間点に隔壁を確立するよう光学囲い４２の中
に位置されていることが明らかとなろう。図面の
第２図に示したプローブヘツド部１２の実施例の
この種構成によれば、第２図には１つだけが符号
６７にて見ることができるＯリングが好ましくは
第１のレンズホルダ／隔壁手段６６の光学囲い４
２への適当なアライメントおよび挿入を行う助け
となるように使用されるのがよい。

本発明の要旨をなす粒径測定装置の十分な作動
を行わせるためには、レンズ６４はきれいに保た
れていること、すなわちその正面の表面、すなわ
ち図面の第２図により見られるようにレンズ６４
の左端に汚染物を集めさせないことが重要であ
る。従つて、本発明の最良の実施態様によれば、
好適にはレンズ６４の前述の正面の表面に清浄空
気を流すようにしている。このため、第１のレン
ズホルダ／隔壁手段６６はその中に清浄空気を流
すように第２図に参照符号６８によつて認識され
る通路手段を適当に形成している。通路手段６８
は図面の第３図および第４図に符号５８で見られ
る清浄空気供給管に適当な方法で作動的に接続さ
れ、次いで前述のために使用するのに適した清浄
空気供給源に流体流関係をもつて接続するように
されている。空気は好ましくは本発明の最良の実
施態様に従つて清浄流体のように使用されるのが
よいが、これに関して使用するよう選択された流
体が被測定粒子を乗せている流体と同じ屈折率を
有する限り、この目的に対して他のタイプの流体
を使用することもできる。そうではなく、もし清
浄流体の屈折率が被測定粒子を乗せている流体の
屈折率と違つていたとすれば、本発明の粒径測定
装置の使用を通して得られた粒子の測定値の精度
は不利な方向に影響されることになる。

図面の第２図を再び参照すると、それからは、
前述の通路手段６８のほかに、第１のレンズホル
ダ／隔壁手段６６もまたその中に第２図にて符号
７０で示される開口を形成してあるのを見ること
ができる。開口７０は２つの機能を果たすように
されている。第１に、開口７０はレンズ６４の表
面を流過する清浄空気の出口として機能する。第
２に、開口７０はレンズ６４と正しくアライメン
トが出されて、後述のようにこの開口７０を介し
て平行光ビームを通過させるためにレンズ６４に
よつて平行光ビームに焦点が合わせられている。
開口７０の大きさに関する限り、この開口７０は
レーザー光ビームの直径に関して大きさが決めら
れる。詳述すると、開口７０は好ましくは、レー
ザー光ビームの直径よりも直径をわずかに小さく
してレンズ６４から来る光ビームの外側フリンジ
がこの開口７０を通過しないよう、すなわち除去
するように寸法決めされるのがよい。

本発明の粒径測定装置のプローブヘツド部１２
のこの種の構成を説明を続けると、図面の第２図
に見られるように、プローブヘツド部１２は第２
図に参照符号７２で一般的に表した第２のレンズ
ホルダ／隔壁手段を与えている。前述の第１のレ
ンズホルダ／隔壁手段６６と同様に、この第２の
レンズホルダ／隔壁手段７２は光学囲い４２の中
に設置されるように設計されており、これによつ
てその中に第２のレンズホルダ／隔壁手段７２に
よる隔壁が確立される。このため、図面の第２図
に示したプローブヘツド部１２のこの種の構成に
よれば、第２図には１つだけが符号７３にて見る
ことができるＯリングが好ましくは第２のレンズ
ホルダ／隔壁手段７２の光学囲い４２への適当な
アライメント出しおよび挿入を行う助けとなるよ
うに使用されるのがよい。第２のレンズホルダ／
隔壁手段７２更には第１のレンズホルダ／隔壁手
段６６を光学囲い４２の中の所定位置に固定させ
るために任意の適当な従来形の固定手段（図示せ
ず）を利用することができる。図面の第２図を参
照して見られるように、光学囲い４２の中にその
ように設定される時、第２のレンズホルダ／隔壁
手段７２は所定の距離を置いて位置させるように
第１のレンズホルダ／隔壁手段６６から適宜離間
されている。本発明の粒径測定装置の前述の説明
のために、光学囲い４２に形成された開口、すな
わち第１のレンズホルダ／隔壁手段６６と第２の
レンズホルダ／隔壁手段との間に存在する空間は
資料経路と呼び、その記載と関連して認識を容易
にするためここでは第２図に参照符号７４で示し
てある。光学囲い４２の内側から試料経路７４を
密封するため、好ましくは、溶接のような適当な
従来形式の固着手段を使用して第１のレンズホル
ダ／隔壁手段６６と第２のレンズホルダ／隔壁手
段７２との両方に、第２図に符号７６で見られる
シールプレートを固着するとよい。

第２のレンズホルダ／隔壁手段７２はその名が
示すように、第２図に参照符号７８によつて一般
的に認識される第２の焦点手段を保持させるよう
設計されている。本発明の最良の実施態様によれ
ば、第２の焦点手段７８は好ましくは、当業者に
は色消しレンズとして周知の特殊調整レンズとす
るのがよい。後述する理由で色消しレンズ７８は
これの大きさがレンズ６４の大きさを越えるよう
な寸法を与えるよう形象的に作られている。

前に参照したレンズ６４の場合のように、本発
明の要旨をなす粒径測定装置の十分な作動を行う
という見地から同様に、レンズ７８はきれいに保
たれていること、すなわちその正面の表面、すな
わち図面の第２図により見られるようにレンズ７
８の右端に汚染物を集めさせないことが重要であ
る。したがつて、本発明の最良の実施態様によれ
ば、好適にはレンズ７８の前述の正面の表面に清
浄空気を流すようにしている。このため、第２の
レンズホルダ／隔壁手段７２はその中に清浄空気
を流すように第２図に参照符号７９によつて認識
される通路手段を適当に形成している。通路手段
７９は前述の目的のために使用するのに適した清
浄空気供給源に流体流関係をもつて接続するよう
にされている。ここでもまた、空気は好ましくは
本発明の最良の実施態様に従つて清浄流体のよう
に使用されるのがよいが、これに関して使用する
よう選択された流体が被測定粒子を乗せている流
体と同じ屈折率を有する限り、この目的に対して
他のタイプの流体を使用することもできる。そう
ではなく、もし、清浄流体の屈折率が被測定粒子
の乗せている流体の屈折率と違つていたとすれ
ば、本発明の粒径測定装置の使用を通して得られ
た粒子の測定値の精度は不利な方向に影響される
ことになる。

更に、構成の本質により、図面の第２図に示さ
れているように、第２のレンズホルダ／隔壁手段
７２は第２図に符号８０で示される開口を有し、
これは、前述のように第１のレンズホルダ／隔壁
手段６６が適宜備えている開口７０と整合されて
いるが試料経路７４の開口７４とは反対の側に配
置されるよう第２のレンズホルダ／隔壁手段７２
の中に形成されている。開口８０はこれが開口７
０より大きな寸法を与えるよう形象的に作られて
いる。基本的に、これの理由は開口７０から出る
光ビームが試料経路７４を横切つて集められるこ
とによる。試料経路７４を横切る途中で、以下に
十分に述べる方法にて光ビームを集中的に含む光
線は試料経路７４の領域に存在する粒子にぶつか
る結果、散乱させられる。このため、開口８０
は、試料経路７４の領域に存在する粒子にぶつか
ることによつて散乱させられた光線が開口８０内
で捕獲され、実質的にそこを通つて第２焦点手
段、すなわち色消しレンズ７８に伝達されること
を確実にするに十分な大きさに適宜寸法が定めら
れている。要するに、本発明の最良の実施態様に
よれば、開口８０は開口７０より大きく作られて
いるのである。これは光線が開口７０を出た時は
散乱されていないがこれが開口８０に達した時は
少なくともいくらかは散乱されていることを補償
する必要性から生じたものである。これに関し、
開口８０が作られる正確な寸法は光線が散乱され
る程度の関数になつており、この程度は光線が当
たることによつて光線が散乱させられる粒子の寸
法の関数であり、程度は非常に少ないが開口８０
が作られる正確な寸法は試料経路７４の寸法の関
数にもなつている。最後に、開口８０はレンズ７
８の表面を流れる清浄流体の出口としての更なる
機能をも果していることをここに述べておく。

試料経路７４を横切つて開口８０に受けられた
後の散乱光は次にレンズ７８に進む。レンズ７８
は散乱光を受け、その散乱光を、第２図に参照符
号８２によつて一般的に表した後述する検出手段
に集めさせる作用をするようにしている。レンズ
７８は前述のようにレンズ６４よりも形象的に大
きく作られている。この理由は開口８０が開口７
０よりも大きく作られている理由と本質的に同じ
である。すなわち、レンズ６４に集められた時の
光線はまだ散乱を受けていないのに対して、レン
ズ７８によつて受けられた時は試料経路７４を通
る途中で散乱の影響を受けるからである。

図面の第２図および第５図を参照することで最
もよく理解できるように、本発明の最良の実施態
様による検出手段８２は好ましくはリング状部材
の形を採るのがよい。更に説明すると、リング状
部材８２は複数の円弧状リング切片を与えるよう
にされており、これら切片の夫々は図面の第２図
および第５図の両図において同じ参照符号、すな
わち８４によつて表されている。加えて、その中
心において、リング状部材８２は第２図および第
５図の両図に符号８６で見られる貫通形成の光学
ポートを有している。

第２図に参照符号８８で示した検出器ホルダ／
隔壁手段は本発明の例示した実施例に従つて、光
学囲い４２の中にリング状部材８２を適当に位置
決めするために使用される。このため、前述の第
１のレンズホルダ／隔壁手段６６および第２のレ
ンズホルダ／隔壁手段７２と同様に、検出器ホル
ダ／隔壁手段８８もまた２つの機能を果たしてい
る。すなわち、検出器ホルダ／隔壁手段８８はリ
ング状部材８２を光学囲い４２の中の所定位置に
保持する手段として作用する。加えて、検出器ホ
ルダ／隔壁手段８８はまた、図面の第２図を参照
することにより見られるように光学囲い４２の右
端に向かい合つた左端に接近してリング状部材８
２を位置させるよう光学囲い４２の中でその長さ
に沿つて間を置いた地点に隔壁を確立させる役目
をしている。リング状部材８２がレンズ７８に関
して設置される正確な場所はレンズの焦点距離の
関数であり、これは本発明の要旨である粒径測定
装置を使つて測定しようとしている粒子のサイズ
の関数になつている。すなわち、リング状部材８
２をレンズ７８からどれ位離れて位置させるかを
確立するレンズ７８の焦点距離はリング状部材８
２が作用する粒径の範囲を決定する。更に、リン
グ状部材８２が備えている各種円弧状リング切
片、すなわちリング８４間に与えられた半径方向
の間隔は本発明に従つて構成された粒径測定装置
を使つて測定しようとしている粒子のサイズの関
数である。要するに、ここで達成しようとしてい
る目的は、リング状部材８２の各リング８４間に
存在する半径方向間隔が本発明の粒径測定装置に
よつて測定しようとしている粒子のサイズに合つ
た間隔であることを確保する距離だけレンズ７８
からリング状部材８２を離すことである。

リング状部材８２の各半径方向リング８４に存
在する光エネルギの量は光線が試料経路７４を進
む時にレーザー１４によつて作られた光を散乱さ
せる粒子のサイズの関数である。このため、試料
経路７４を横切る時の光ビームの散乱の影響は、
粒子のサイズがより大きいとリング状部材８２の
中心の近く、すなわちリング状部材８２の検出器
中心８６の近くに位置されたリング８４における
光の強さがより強くなる。逆もまた真で、すなわ
ち、粒子のサイズがより小さいとリング状部材８
２の中心から最も遠いところ、すなわちリング状
部材８２の検出器中心８６から最も離れたところ
に位置されたリング８４における光の強さがより
強くなるのである。結果として、リング状部材８
２の各種半径方向リング８４にて見られる光の強
さを観測することから粒径を定めることに関する
決定をなすことができる。

本発明の最良の実施態様によれば、このような
粒径を定めることに関する決定は本発明の粒径測
定装置のプローブヘツド部１２自体以外の場所で
なされる。このため、リング状部材８２の半径方
向リング８４の夫々および光学ポート、すなわち
検出器中心、８６は図面の第２図に符号９０で示
された複数の光フアイバケーブルと協力的に関連
している。当業者にはよく知られているように、
これら光フアイバケーブル９０の夫々は光導体に
似た方法で機能するようにされている。半径方向
リング８４の特定の１つとリング状部材８２の光
学ポート、すなわち検出器中心、８６とに関連し
た光フアイバケーブル９０の各グループはその他
端において第６図に参照符号９２で示した１個の
フオトダイオードに接続されている。すなわち、
各リング８４およびリング状部材８２の光学ポー
ト、すなわち検出器中心、８６は複数の光フアイ
バケーブル９０を介して個々のフオトダイオード
９２に接続されているのである。この意図は各フ
オトダイオード９２が所定の組の光フアイバケー
ブル９０を介して接続されている特定の半径方向
リング８４およびリング状部材８２の光学ポー
ト、すなわち検出器中心、８６において見られる
光に対して妨害のない焦点のような機能を各フオ
トダイオード９２が有することである。これらフ
オトダイオード９２の夫々は更に、各フオトダイ
オード９２が所定の組の光フアイバケーブル９０
を介して接続されている特定の半径方向リング８
４およびリング状部材８２の光学ポート、すなわ
ち検出器中心、８６において見られる光の強さに
比例した電流を周知方法にて発生されるよう機能
する。この電流は、本発明の要旨をなす粒径測定
装置を使用しようとする特定応用の種類に基づい
て後述する各種用途に提供することができる。

図面の第６図を更に参照すると、そこに示され
た本発明の実施例によれば、フオトダイオード９
２は第６図に参照符号９３によつて示されたケー
ブル／ダイオードホルダを使つて所定位置に適宜
保持される。更に、本発明の最良の実施態様によ
れば、フオトダイオード９２と協力的に関連され
るのは第６図に示されるように、第６図に符号９
５で見られるSA−100型増幅器基板と、第６図に
符号９７で示した20ピンコネクタとがある。した
がつて、フオトダイオード９２によつて発生され
増幅された後の信号は、本発明に従つて構成され
た粒径測定装置を使つて得られた粒径に関する情
報を利用しようとする適当な場所に20ピンコネク
タ９７から供給するようにされている。

散乱された光線をフオトダイオードに直接とい
うよりはリング状部材８２のようなリング状部材
に集めるという構成を利用している結果、いくつ
か特徴的な利点を得ている。その１つは検出器手
段８２のように光フアイバケーブル９０が接続さ
れた検出器手段を成す光フアイバ検出器が、散乱
された光線を直接フオトダイオードに集めるよう
にした場合に必要とすべき構成要素を用意するた
めのコストよりも低いコストで提供され得ること
から生じている。ここでは特に、リング状部材８
２および光フアイバケーブル９０の使用を通して
発生させることができるような光線の散乱を生ぜ
しめる粒子のサイズに関した同じ情報を発生させ
るのに必要な多くのフオトダイオードを与えるこ
とに関連したコストが参照される。図面の第２図
に見られる検出器手段８２および光フアイバケー
ブル９０の様式で構成されるような光フアイバ検
出器の使用から得られる利点の他の１つは、光フ
アイバ検出器が本発明の粒径測定装置の光学部分
と電気部分との間に防壁を確立するよう作用する
ことである。それ自体では、本発明の粒径測定装
置の電気部分から光学部分を分離することによつ
て、測定しようとする粒子を含んだ流体媒体の性
質が、本発明に従つて構成された粒径測定装置の
あるような方法では光学部分およびその電気部分
を分離していない粒径測定装置の使用を危険にさ
せるような応用にも本発明の粒径測定装置を利用
することができる。

本発明の粒径測定装置のプローブヘツド部１２
の構成についての記載を完全にするため、図面の
第２図に例示した実施例によれば、光学囲い４２
のねじ付き端４４におけるプローブヘツド部１２
は第２図に参照符号９４で表した装着フランジと
協力的に関連している。第２図に示したように、
この装着フランジ９４は装着フランジ９４を光学
囲い４２に固定するために好ましくは内側にねじ
山を有して、光学囲い４２のねじ付き端４４とね
じ作用により係合させることができる。続いて、
装着フランジ９４を使用したことによつて、プロ
ーブヘツド部１２に与えた試料経路７４が本発明
の粒径測定装置を使用してサイズに関する測定を
得ようとしている粒子を乗せた流体媒体の流れに
関して適当に位置されるように、本発明の粒径測
定装置のプローブヘツド部１２を位置させること
ができる。このため、流体媒体の流れの中にプロ
ーブヘツド部１２を差し出すことによつて生ぜし
められるプローブヘツド部１２の摩耗に関して心
配がない応用の場合、本発明の粒径測定装置のプ
ローブヘツド部１２は測定しようとしている粒子
を乗せた流体媒体の流れの中に永久的に設置して
もよい。これは、第２図に符号９６で見られる開
口に受けられ装着フランジ９４がこの目的のため
に適当に備えている従来のねじ付き留め具（図示
せず）のような従来の形の固定手段（図示せず）
を使用し、装着フランジ９４およびプローブヘツ
ド部１２を適当な支持体（図示せず）に固着させ
ることによつて達成できる。本発明の粒径測定装
置のプローブヘツド部１２の摩耗が心配な他の応
用について、および／または粒子を乗せた流体媒
体の流れの幅が色々な場所において粒子の測定を
行わせる、すなわちプローブヘツド部１２の光学
囲い４２の中に与えた試料経路７４を流れの中の
各種地点に位置させ得るほどに十分に広いという
理由で、本発明の粒径測定装置のプローブヘツド
部１２を流れの中に周期的に挿入したりそれから
引込めたりする作動のモードを使用する必要があ
る。本発明の粒径測定装置を使用して測定を得よ
うとしている粒子を乗せた流体媒体の流れの中に
おけるプローブヘツド部１２、したがつて試料経
路７４のそのような挿脱を行うのに適した機構
は、本願の出願と同時にマーク・ピー・エラモお
よびジヨン・エム・ホーメスの名義で出願した
「現場粒径測定装置のための装着兼横移動アセン
ブリ」と題する正規に譲渡された同時系属米国特
許出願第 号（C860010）の要旨を成す
ものである。

ここで、本発明の要旨をなす粒径測定装置の作
動のモードの説明をすることにする。このため
に、特に図面の第１図および第２図を参照する。
本発明の粒径測定装置の作動のモードによれば、
ヘリウムネオンレーザー１４からの光は、本発明
に従つて構成された粒径測定装置の光源部１０か
らそのプローブヘツド部１２へ光フアイバケーブ
ル４０を介して伝達される。プローブヘツド部１
２の中では、光は光フアイバケーブル４０から
出、空間的にろ波され、平行光線束にされる。そ
の後、平行にされた光のビームは試料経路７４を
横切るようにされる。試料経路７４を横切る途中
で、光は試料経路７４の領域に存在する粒子に当
る結果、散乱される。この散乱された光はレンズ
７８によつて集められ、そしてその散乱光を検出
器手段８２に集光させるようにする。検出器手段
８２によつて観察される光の強さ分布は光が当る
ことによつて光を散乱させる粒子のサイズを表
す。検出器手段８２は臨界粒径に一致した半径方
向リング８４およびリング状部材８２の光学ポー
ト、すなわち検出器中心、８６における光エネル
ギを集めるように最適化されている。この検出器
手段８２からの光は複数のフオトダイオード９２
に伝達され、これらの夫々はその特定のフオトダ
イオード９２によつて受光された光の強さを表す
電流を発生するよう機能する。フオトダイオード
９２から発せられたこれら電流は種々の異なる手
段に使用することができる。これに関してたとえ
ば限定する訳ではないが、これら電流は、各種異
なつた装置に供給されて受けた後に更なる処理お
よび／または分析を行わせるような信号の様式で
作用できるものである。これに関連して、前述の
ように、検出器手段８２によつて観察された光分
布から試料経路７４内に存在する粒子の粒径分布
を推理することができる。他方、試料経路７４に
存在する粒子の体積密度は観測された粒子密度を
観測された光透過に適合させることによつて計算
することができる。このため、観測された光透過
は次式に従うものとする。

Ｔ＝e^-LfC(〓^D)N(D)dD ここに、Ｌ＝経路長さ、Ｃ＝消像断面積、λ＝
波長、Ｄ＝液滴の直径、およびＮ＝粒径分布。更
に、上記式のため、液滴サイズ分布は、大きな粒
子ではフラウンホーフアー回折理論を、小さな粒
子にはMIE散乱理論を使用して、強さ分布のデ
コンボリユーシヨンによつて計算される。

本発明の粒径測定装置の利用に特に適している
と思われる１つの特別な応用はボウルミルにて微
粉化された石炭の粒径測定動作を含んだものであ
る。詳述すれば、本発明の粒径測定装置は、石炭
の微粉化を行い、本発明の粒径測定装置を使つて
得られた粒径測定値に基づいてボウルミルの作動
に関する制御を行うよう使用されるタイプのボウ
ルミルと協力的に関連させることができる。本発
明に従つて構成された粒径測定装置を使用してボ
ウルミルの作動に関するそのような制御を行う方
法は、本願の出願と同時にジヨージ・エフ・シユ
ロフおよびマイケル・ゼー・デイモントの名義で
出願した「微粉化固体制御装置」と題する正規に
譲渡された同時係属米国特許出願第 号
（C850920）の要旨を成すものである。

したがつて、本発明によれば、流体物質中に存
在する粒子のサイズの測定を得るよう作用する新
規かつ改良された測定装置が提供される。更に、
本発明の粒径測定装置はこれを使用することで粒
径の正確な測定を迅速に得ることができるように
なる。加えて、本発明によれば、粒径測定装置が
提供され、これを使用することにより流体物質中
に存在する粒子のサイズの現場測定を行うことが
可能となる。更に、本発明の粒径測定装置は流体
物質中に存在する粒子の粒径分布の現場測定をな
すよう作動する。更に、本発明による粒径測定装
置は流体物質中に存在する粒子の粒子の粒径分布
の現場測定をなすと同時に流体物質中に存在する
粒子の体積密度の現場測定を行うよう作用する。
また、本発明の粒径測定装置はこれを使用するこ
とによつて十分に適当な方法で粒径に関する情報
を発生させることができ、これによつて粒径測定
装置から得られた情報に基づいて工業プロセスに
関する制御を行うことができる。更に、本発明に
よる粒径測定装置は製造および作動が比較的簡単
である一方、提供するのに比較的費用がかからな
いものが提供される。

ここには我々の発明の１つの実施例だけを示
し、記載したが、いくつかは前に示唆した変更を
更に当業者によつて容易になすことができる。し
たがつて、我々はここに示唆した変更、更には本
発明の真の精神および範囲に該当する他の変更を
請求の範囲によつてカバーしたつもりである。