JPH0429370Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0429370Y2 JPH0429370Y2 JP5603386U JP5603386U JPH0429370Y2 JP H0429370 Y2 JPH0429370 Y2 JP H0429370Y2 JP 5603386 U JP5603386 U JP 5603386U JP 5603386 U JP5603386 U JP 5603386U JP H0429370 Y2 JPH0429370 Y2 JP H0429370Y2
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- Japan
- Prior art keywords
- coating
- surface roughness
- amplitude
- frequency
- skin
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、塗装品質に起因して生じる塗膜表面
の粗さを測定する塗膜面の粗さ測定装置に関する
ものである。
の粗さを測定する塗膜面の粗さ測定装置に関する
ものである。
塗膜面の外観を構成する要素として、地肌を上
塗り塗膜が隠ぺいできないときに主として発生す
る隆起間隔が0.1〜１mm程度の所謂ちりちり肌、
噴霧塗装時の塗料の微粒化不良によつて主に発生
する隆起間隔が1.5〜７mm程度の所謂ゆず肌及び
つやの三要素がある。しかしながら、塗装品質を
管理する目的でゆず肌に相当する粗さを測定しよ
うとする場合、従来の表面粗さ計ではゆず肌及び
ちりちり肌が一括して測定され、互いの振幅成分
を分離できず、さらに光学式の表面粗さ計では隆
起間隔、即ち周波数がゆず肌及びちりちり肌の領
域にわたつて広く分布するつや成分が加わつてく
る。肉眼を利用することもできるが、評価者の視
力・経験度に頼るために信頼性に欠け、いずれに
してもゆず肌の精密な測定はできなかつた。
塗り塗膜が隠ぺいできないときに主として発生す
る隆起間隔が0.1〜１mm程度の所謂ちりちり肌、
噴霧塗装時の塗料の微粒化不良によつて主に発生
する隆起間隔が1.5〜７mm程度の所謂ゆず肌及び
つやの三要素がある。しかしながら、塗装品質を
管理する目的でゆず肌に相当する粗さを測定しよ
うとする場合、従来の表面粗さ計ではゆず肌及び
ちりちり肌が一括して測定され、互いの振幅成分
を分離できず、さらに光学式の表面粗さ計では隆
起間隔、即ち周波数がゆず肌及びちりちり肌の領
域にわたつて広く分布するつや成分が加わつてく
る。肉眼を利用することもできるが、評価者の視
力・経験度に頼るために信頼性に欠け、いずれに
してもゆず肌の精密な測定はできなかつた。
よつて、本考案は塗膜表面のゆず肌成分を抽出
し、しかもゆず肌の官能値に対する相関値を自動
的に得ることができる塗膜面の粗さ測定装置を提
供することを目的とする。
し、しかもゆず肌の官能値に対する相関値を自動
的に得ることができる塗膜面の粗さ測定装置を提
供することを目的とする。
本考案は、この目的を達成するために、ゆず肌
の塗膜面に映る像のゆがみ度合、即ちゆず肌に対
する官能値はゆず肌の傾斜による入射光の散乱度
に支配されること、そしてこの傾斜角度は隆起
度／隆起間隔に対応し、塗膜面を表面粗さセンサ
で検知した時には、凹凸の上下の隆起度に対応す
る±の振幅が所定の走査速度下での凹凸間隔に対
応した波長で発生することにより、振幅／波長、
即ち振幅×周波数に対応することに着眼した。こ
の際、センサで検知信号を解析して求めた各周波
数成分の振幅から所定の波長範囲についての傾斜
の密集度を評価するには、振幅の極性を無視する
ために、（振幅）2×（周波数）2にも相関させ得る。
したがつて、測定装置を、塗膜面の粗さを非光学
式に検知する表面粗さセンサと、このセンサに塗
膜面上を自動的に所定速度で走査させる走査機構
と、検知信号のうち所定の走査速度下で塗装品質
に起因して生じる周波数領域の信号成分の（振
幅）2×（周波数）2を算出する演算処理手段と、そ
の算出結果を表示もしくは記録する出力装置とよ
り構成した。
の塗膜面に映る像のゆがみ度合、即ちゆず肌に対
する官能値はゆず肌の傾斜による入射光の散乱度
に支配されること、そしてこの傾斜角度は隆起
度／隆起間隔に対応し、塗膜面を表面粗さセンサ
で検知した時には、凹凸の上下の隆起度に対応す
る±の振幅が所定の走査速度下での凹凸間隔に対
応した波長で発生することにより、振幅／波長、
即ち振幅×周波数に対応することに着眼した。こ
の際、センサで検知信号を解析して求めた各周波
数成分の振幅から所定の波長範囲についての傾斜
の密集度を評価するには、振幅の極性を無視する
ために、（振幅）2×（周波数）2にも相関させ得る。
したがつて、測定装置を、塗膜面の粗さを非光学
式に検知する表面粗さセンサと、このセンサに塗
膜面上を自動的に所定速度で走査させる走査機構
と、検知信号のうち所定の走査速度下で塗装品質
に起因して生じる周波数領域の信号成分の（振
幅）2×（周波数）2を算出する演算処理手段と、そ
の算出結果を表示もしくは記録する出力装置とよ
り構成した。
走査機構が測定さるべき塗膜面を線状又は面状
に走査すると、表面粗さセンサはつや成分を含む
ことなく塗膜面の凹凸の上下の隆起度に対応した
±の振幅Ａの検知信号を走査速度及び凹凸間隔に
対応した周波数で発生する。演算処理手段は、
この検知信号のうちゆず肌に属する周波数領域の
信号成分のA2×2もしくはω2を算出する（ωは
その角周波数）。出力装置はモニタ又は記録面に
おいてもしくはω、即ち隆起間隔をＸ軸そして
A2×2もしくはω2をＹ軸にグラフ表示もしくは
記録させたり、或いは一定範囲の隆起間隔に対す
るA2×ω2を数値的に表示・記録させたり、一旦
メモリに記憶して表示・記録等する。
に走査すると、表面粗さセンサはつや成分を含む
ことなく塗膜面の凹凸の上下の隆起度に対応した
±の振幅Ａの検知信号を走査速度及び凹凸間隔に
対応した周波数で発生する。演算処理手段は、
この検知信号のうちゆず肌に属する周波数領域の
信号成分のA2×2もしくはω2を算出する（ωは
その角周波数）。出力装置はモニタ又は記録面に
おいてもしくはω、即ち隆起間隔をＸ軸そして
A2×2もしくはω2をＹ軸にグラフ表示もしくは
記録させたり、或いは一定範囲の隆起間隔に対す
るA2×ω2を数値的に表示・記録させたり、一旦
メモリに記憶して表示・記録等する。
第１図は本考案による塗膜面の粗さ測定装置を
示すもので、同図において１０は例えばそれ自体
周知の差動変圧器式の表面粗さセンサ１５を備え
た走査機構である。この走査機構は、ベース１１
と、このベース上をＹ軸方向に往復動し、かつ被
測定サンプル１３が載置されるテーブル１２と、
このサンプル面に沿つてＸ軸方向に表面粗さセン
サ１５を往復動させるブロツク１６より構成され
ている。２０は、例えばマイクロコンピユータ又
はパーソナルコンピユータにより構成される演算
処理手段である。この演算処理手段は、走査機構
１０から送られてくる動作制御信号を基に演算動
作を開始及び終了し、表面粗さセンサ１５のデイ
ジタル化された検知信号を逐次サンプリングする
ことにより、同様に送出されてくる走査速度信号
を基にゆず肌成分のエネルギスペクトルを例えば
FFT（高速フーリエ変換）処理により検出し、さ
らにA2×ω2を算出する。また、前述の動作制御
信号により規定される被測定サンプル１３の単位
領域についてのA2×ω2の積算値、つまり面積Ｓ
を算出する。２１はブラウン管モニタであり、演
算処理手段２０の出力するデータを取込んで所定
の波長範囲に対するA2×ω2、即ちゆず肌の傾斜
密度を繰り返し表示させる。２２はこのブラウン
管モニタに表示された波形を積算値と共に記録す
るＸ−Ｙプロツタである。
示すもので、同図において１０は例えばそれ自体
周知の差動変圧器式の表面粗さセンサ１５を備え
た走査機構である。この走査機構は、ベース１１
と、このベース上をＹ軸方向に往復動し、かつ被
測定サンプル１３が載置されるテーブル１２と、
このサンプル面に沿つてＸ軸方向に表面粗さセン
サ１５を往復動させるブロツク１６より構成され
ている。２０は、例えばマイクロコンピユータ又
はパーソナルコンピユータにより構成される演算
処理手段である。この演算処理手段は、走査機構
１０から送られてくる動作制御信号を基に演算動
作を開始及び終了し、表面粗さセンサ１５のデイ
ジタル化された検知信号を逐次サンプリングする
ことにより、同様に送出されてくる走査速度信号
を基にゆず肌成分のエネルギスペクトルを例えば
FFT（高速フーリエ変換）処理により検出し、さ
らにA2×ω2を算出する。また、前述の動作制御
信号により規定される被測定サンプル１３の単位
領域についてのA2×ω2の積算値、つまり面積Ｓ
を算出する。２１はブラウン管モニタであり、演
算処理手段２０の出力するデータを取込んで所定
の波長範囲に対するA2×ω2、即ちゆず肌の傾斜
密度を繰り返し表示させる。２２はこのブラウン
管モニタに表示された波形を積算値と共に記録す
るＸ−Ｙプロツタである。
以上のように構成された塗膜面の粗さ測定装置
の動作は次の通りである。
の動作は次の通りである。
走査機構１０は表面粗さセンサ１５をＸ軸方向
に走査させ、走査位置終端にくると始端位置へ復
動させる。次いで、テーブル１２をＹ軸方向へ所
定量変位させ、再びＸ軸方向へ走査する。この
間、表面粗さセンサ１５からは被測定サンプル１
３の塗膜面の粗面の凹凸に対応した検知信号を出
力する。これにより、演算処理手段２０は単位塗
膜面範囲のゆず肌のA2×ω2を算出し、その積算
値を算出する。ブラウン管モニタ２１ではその演
算結果を波形としてモニタでき、Ｘ−Ｙプロツタ
２２には積算値と共にその波形を記録できる。
に走査させ、走査位置終端にくると始端位置へ復
動させる。次いで、テーブル１２をＹ軸方向へ所
定量変位させ、再びＸ軸方向へ走査する。この
間、表面粗さセンサ１５からは被測定サンプル１
３の塗膜面の粗面の凹凸に対応した検知信号を出
力する。これにより、演算処理手段２０は単位塗
膜面範囲のゆず肌のA2×ω2を算出し、その積算
値を算出する。ブラウン管モニタ２１ではその演
算結果を波形としてモニタでき、Ｘ−Ｙプロツタ
２２には積算値と共にその波形を記録できる。
第２図はこのような粗さ測定装置によるその記
録例を示すもので、横軸が波長そして縦軸がA2
×ω2、即ち（ゆず肌領域のスペクトル角周波数）
2×（この角周波数成分の±振幅）2＝ω2A2（ω）で
ある。そして第２図ａは下地肌が熱硬化性アミノ
アルキド樹脂塗料によつて形成された塗膜、上塗
塗料が熱硬化性アミノアルキド樹脂塗料の場合の
記録例であり、噴霧塗装時の塗料の微粒化が適切
に行われている場合の最良のゆず肌を意味する。
第２図ｂは、微粒化が不十分でａよりも大きな塗
粒径の場合の最悪の塗膜面を意味する。
録例を示すもので、横軸が波長そして縦軸がA2
×ω2、即ち（ゆず肌領域のスペクトル角周波数）
2×（この角周波数成分の±振幅）2＝ω2A2（ω）で
ある。そして第２図ａは下地肌が熱硬化性アミノ
アルキド樹脂塗料によつて形成された塗膜、上塗
塗料が熱硬化性アミノアルキド樹脂塗料の場合の
記録例であり、噴霧塗装時の塗料の微粒化が適切
に行われている場合の最良のゆず肌を意味する。
第２図ｂは、微粒化が不十分でａよりも大きな塗
粒径の場合の最悪の塗膜面を意味する。
以上、本考案の塗膜面の粗さ測定装置によれ
ば、塗膜面のゆず肌を自動的に測定でき、しかも
官能値に対応する塗膜面に映る像のゆがみ度合を
定量的に測定することができる。
ば、塗膜面のゆず肌を自動的に測定でき、しかも
官能値に対応する塗膜面に映る像のゆがみ度合を
定量的に測定することができる。
第１図は本考案の実施例による塗膜面の粗さ測
定装置の構成を示す図及び第２図はその測定例を
示す図である。 １０……走査機構、１５……表面粗さセンサ、
２０……演算処理手段、２１……ブラウン管モニ
タ、２２……Ｘ−Ｙプロツタ。
定装置の構成を示す図及び第２図はその測定例を
示す図である。 １０……走査機構、１５……表面粗さセンサ、
２０……演算処理手段、２１……ブラウン管モニ
タ、２２……Ｘ−Ｙプロツタ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 塗膜面の粗さを非光学式に検知する表面粗さ
センサと、このセンサに前記塗膜面上を所定の
走査速度で自動的に走査させる走査機構と、前
記検知信号のうち前記所定の走査速度下で塗装
品質に起因して生じる周波数領域の信号成分の
（振幅）2×（周波数）2を算出する演算処理手段
と、その算出結果を表示もしくは記録する出力
装置とを備えて成る塗膜面測定装置。 (2) 演算処理手段が所定の走査量に対する（振
幅）2×（周波数）2の積算値も算出する実用新案
登録請求の範囲第１項記載の塗膜面の粗さ測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5603386U JPH0429370Y2 (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5603386U JPH0429370Y2 (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62168421U JPS62168421U (ja) | 1987-10-26 |
| JPH0429370Y2 true JPH0429370Y2 (ja) | 1992-07-16 |
Family
ID=30884483
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5603386U Expired JPH0429370Y2 (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0429370Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-04-16 JP JP5603386U patent/JPH0429370Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62168421U (ja) | 1987-10-26 |
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