JPH04267355A - Wafer conveying robot - Google Patents

Wafer conveying robot

Info

Publication number
JPH04267355A
JPH04267355A JP2822191A JP2822191A JPH04267355A JP H04267355 A JPH04267355 A JP H04267355A JP 2822191 A JP2822191 A JP 2822191A JP 2822191 A JP2822191 A JP 2822191A JP H04267355 A JPH04267355 A JP H04267355A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
arm
wafer
vacuum chamber
wafer transfer
vacuum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2822191A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH07114231B2 (en
Inventor
Fumio Kondo
文雄 近藤
Yoichi Kanemitsu
金光 陽一
Hiroyuki Shinozaki
弘行 篠崎
Yukio Ikeda
幸雄 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Priority to JP3028221A priority Critical patent/JPH07114231B2/en
Publication of JPH04267355A publication Critical patent/JPH04267355A/en
Publication of JPH07114231B2 publication Critical patent/JPH07114231B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To provide a wafer conveying robot which does not produce dust or oil mist detrimental to the wafer and which is not influenced by the temperature or the degree of vacuum at a place where the wafer is processed. CONSTITUTION:A wafer conveying arm 10 comprises arm driving magnets 4, 5 disposed on the outside of a vacuum chamber R and magnetically coupled with parts composed of magnetic materials 11, 12 thus driving the parts, means 1 for rotating the arm driving magnets 4, 5 around a vertical axis C, and means for driving straight the arm driving magnets 4, 5. Since the wafer can be conveyed to a predetermined position without producing dust or chips detrimental to the wafer and without requiring a magnetic fluid seal which may cause gas leak, the wafer conveying robot can be operated even under a relatively high temperature environment or high vacuum environment. Furthermore, reduction in size and weight can be realized easily because power supply into the vacuum chamber is not required.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、減圧された室内(真空
室)或いはクリーンルーム内で作動するロボットに関し
、さらに詳しくは、半導体集積回路製造設備において真
空室内でウエハを所望の位置へ移動することのできるマ
ニプレータ或いはウエハ移送ロボットに関する。
[Field of Industrial Application] The present invention relates to a robot that operates in a reduced pressure room (vacuum chamber) or a clean room, and more specifically, the present invention relates to a robot that operates in a reduced pressure room (vacuum chamber) or a clean room. The present invention relates to a manipulator or wafer transfer robot that can perform

【0002】0002

【従来の技術】例えば半導体チップ或いはウエハは、製
造段階でゴミ、オイルミスト等が付着すると所謂粒子汚
染により歩留まりが悪化し、生産性が悪くなるので、ク
リーンルームで処理されている。また、製造プロセスは
真空中で行われることが多いため、製造装置内のウエハ
の移送はロボットにより真空中で行われる。ここで、ウ
エハ移送用のロボットの従来例が図2に示されている。
2. Description of the Related Art Semiconductor chips or wafers, for example, are processed in a clean room because if dirt, oil mist, etc. adhere to them during the manufacturing stage, the yield will deteriorate due to so-called particle contamination and productivity will deteriorate. Furthermore, since the manufacturing process is often performed in a vacuum, the transfer of wafers within the manufacturing equipment is performed in a vacuum by a robot. Here, a conventional example of a robot for transferring wafers is shown in FIG.

【0003】図2において、ウエハ移送用ロボットは、
大気中Aに設けられている駆動部50と、真空室V中に
設けられているハンドリング部60とから概略構成され
ている。駆動部50には、第1モータM1 と第2モー
タM2 とが設けられ、第1モータM1 の出力軸51
は垂直状の中空駆動軸62に接続されている。一方、第
2モータM2 の出力軸52は、中空駆動軸62内に設
けられている小駆動軸63に接続されている。従って、
これらのモータM1 、M2 が回転すると、駆動軸6
2、63は所定方向に所定量だけ回転駆動されることに
なる。
In FIG. 2, the wafer transfer robot is
It is roughly composed of a driving section 50 provided in the atmosphere A and a handling section 60 provided in the vacuum chamber V. The drive unit 50 is provided with a first motor M1 and a second motor M2, and an output shaft 51 of the first motor M1.
is connected to a vertical hollow drive shaft 62. On the other hand, the output shaft 52 of the second motor M2 is connected to a small drive shaft 63 provided within the hollow drive shaft 62. Therefore,
When these motors M1 and M2 rotate, the drive shaft 6
2 and 63 are rotated by a predetermined amount in a predetermined direction.

【0004】中空駆動軸62の上方端部には第1の水平
アーム64が固定され、その先端部には第2の水平アー
ム65が回動自在に設けられている。一方、小駆動軸6
3の上方端部にはプリー66が固定され、該プリー66
と、第2のアーム65の枢着部分に設けられているプリ
ー(図示せず)との間には、ベルト67が掛けまわされ
ている。したがって、ベルト67が駆動されると、第2
のアーム65が第1のアーム64に対して回動駆動され
る。
A first horizontal arm 64 is fixed to the upper end of the hollow drive shaft 62, and a second horizontal arm 65 is rotatably provided at the tip thereof. On the other hand, the small drive shaft 6
A pulley 66 is fixed to the upper end of the pulley 66.
A belt 67 is passed around between the pulley (not shown) provided at the pivot point of the second arm 65 and a pulley (not shown). Therefore, when the belt 67 is driven, the second
The arm 65 is rotationally driven with respect to the first arm 64.

【0005】モータM1 を所定方向に所定量回転させ
ると中空駆動軸62が回転し、これに一体的に固定され
ている第1のアーム64も矢印aで示されているように
水平面内で回動する。したがって、第2のアーム65も
一体的回動し、その先端に取付けられているハンド68
上のウエハ(図2では図示せず)は、水平面内の所定角
度位置へ移送される。一方、モータM2 を駆動すると
小駆動軸63が駆動され、第2のアーム65はプリー6
6、ベルト67により矢印bで示すように第1のアーム
64に対して水平面内で所定角度範囲に駆動される。そ
の結果、ハンド68上の図示しないウエハを、半径内方
或いは外方へ所定量だけ移送することができる。
When the motor M1 is rotated by a predetermined amount in a predetermined direction, the hollow drive shaft 62 rotates, and the first arm 64, which is integrally fixed to the hollow drive shaft 62, also rotates in a horizontal plane as shown by arrow a. move. Therefore, the second arm 65 also rotates integrally, and the hand 68 attached to the tip of the second arm 65 rotates integrally.
The upper wafer (not shown in FIG. 2) is transferred to a predetermined angular position in the horizontal plane. On the other hand, when the motor M2 is driven, the small drive shaft 63 is driven, and the second arm 65 is connected to the pulley 6.
6. The first arm 64 is driven within a predetermined angular range in a horizontal plane by a belt 67 as shown by arrow b. As a result, a wafer (not shown) on the hand 68 can be transferred radially inward or outward by a predetermined amount.

【0006】ここで、相対的に回転する部材を機械的に
支承した場合には、その部分から微粒子が発生し、ウエ
ハを汚染してしまう。そのため従来のロボットでは、発
塵を防ぐために軸受にも磁性流体シールを設けている。 また、モータと真空室はOリングによりシールされ、大
気側と真空側を貫通する駆動軸62と63は磁性流体シ
ールによりシールされる。
[0006] If relatively rotating members are mechanically supported, particulates are generated from the parts and contaminate the wafer. Therefore, in conventional robots, magnetic fluid seals are also installed on the bearings to prevent dust generation. Further, the motor and the vacuum chamber are sealed by an O-ring, and the drive shafts 62 and 63 passing through the atmosphere side and the vacuum side are sealed by magnetic fluid seals.

【0007】[0007]

【考案が解決しようとする課題】しかし、上記従来のロ
ボットにおいて採用されている磁性流体シールでは、例
えば10−6Torr程度の真空になるとガス発生が生
じ、発生したガスによりウエハが汚染されてしまい、歩
留まりが悪化するという問題がある。
[Problems to be solved by the invention] However, with the magnetic fluid seals used in the conventional robots mentioned above, gas is generated when the vacuum is reduced to, for example, about 10-6 Torr, and the generated gas contaminates the wafer. There is a problem that the yield rate deteriorates.

【0008】また磁性流体シールは、その使用温度が0
〜80℃程度と比較的狭いという問題もある。
[0008] Furthermore, the magnetic fluid seal has an operating temperature of 0.
There is also the problem that the temperature is relatively narrow at about ~80°C.

【0009】本発明は上記した従来技術の問題点に鑑み
て提案されたもので、クリーンルーム内或いは真空室内
でウエハを移送することが出来て、しかもウエハに有害
なゴミ、オイルミスト等が生じるようなことがなく、ま
た使用温度や使用場所の真空度にも影響を受けないウエ
ハ移送ロボットを提供することを目的としている。
The present invention has been proposed in view of the problems of the prior art described above, and is capable of transporting wafers within a clean room or vacuum chamber, while also preventing harmful dust, oil mist, etc. from being generated on the wafers. The purpose of the present invention is to provide a wafer transfer robot that does not cause any problems and is not affected by the operating temperature or the degree of vacuum at the location where it is used.

【0010】0010

【課題を解決するための手段】本発明のウエハ移送ロボ
ットは、水平方向に且つ直線的にウエハを移動するウエ
ハ搬送用アームと、該ウエハ及びウエハ搬送用アームを
収容する真空室とを備え、前記ウエハ搬送用アームは磁
性材料で構成された部分を含み、前記真空室の外部に配
置され且つ前記磁性材料で構成された部分と磁気的に結
合してこれを駆動するアーム駆動用磁石を備え、該アー
ム駆動用磁石を垂直軸を中心として回動せしめる回動手
段と、該アーム駆動用磁石を直線移動せしめる直線駆動
手段とを含んでいる。
[Means for Solving the Problems] A wafer transfer robot of the present invention includes a wafer transfer arm that moves a wafer horizontally and linearly, and a vacuum chamber that accommodates the wafer and the wafer transfer arm. The wafer transfer arm includes a portion made of a magnetic material, and includes an arm driving magnet that is disposed outside the vacuum chamber and magnetically couples with and drives the portion made of the magnetic material. , a rotation means for rotating the arm drive magnet around a vertical axis, and a linear drive means for linearly moving the arm drive magnet.

【0011】本発明の実施に際して、真空室外部に設け
られた前記磁石、すなわちアーム駆動用磁石は電磁石で
あるのが好ましい。そして、真空室の隔壁とウエハ搬送
用アームとの距離を検知するセンサと、該センサからの
出力に応答して前記電磁石に供給する電流を制御する制
御ユニットとを備えるのが好ましい。
In carrying out the present invention, it is preferable that the magnet provided outside the vacuum chamber, ie, the arm driving magnet, be an electromagnet. Preferably, the electromagnet includes a sensor that detects the distance between the partition wall of the vacuum chamber and the wafer transfer arm, and a control unit that controls the current supplied to the electromagnet in response to the output from the sensor.

【0012】ここで、アーム駆動用磁石として永久磁石
を設けることも可能であるが、その場合、真空室の隔壁
とウエハ搬送用アームとの距離を所定範囲に保持する手
段を設ける必要がある。
[0012] Here, it is possible to provide a permanent magnet as the arm driving magnet, but in that case, it is necessary to provide means for maintaining the distance between the partition wall of the vacuum chamber and the wafer transfer arm within a predetermined range.

【0013】アーム駆動用磁石の個数及び取り付け位置
については特に限定するものではないが、ウエハ移送ロ
ボットに隣接する処理設備に干渉することなく且つアー
ムの移動距離が出来る限り長くなる様に構成することが
好ましい。
[0013] There are no particular restrictions on the number of arm-driving magnets and their mounting positions, but they should be configured so that they do not interfere with the processing equipment adjacent to the wafer transfer robot and the arm can move as long as possible. is preferred.

【0014】また、ウエハ搬送用アームにおける磁性材
料で構成された部分(ターゲット)は、前記アーム駆動
用磁石と対応する位置に設けるのが好ましい。
[0014] Furthermore, it is preferable that a portion (target) made of a magnetic material in the wafer transfer arm be provided at a position corresponding to the arm driving magnet.

【0015】さらに、前記アームの先端にウエハ保持用
ハンドを取り付け、該ハンドにウエハを載置し或いは取
り外し自在に保持しておくのが好ましい。
[0015] Furthermore, it is preferable that a wafer holding hand is attached to the tip of the arm, and the wafer is placed on the hand or detachably held.

【0016】[0016]

【作用】本発明は、上記したように構成されているので
、回動手段によりアーム駆動用磁石を所定方向に所定量
だけ回動する。そうするとウエハ搬送用アームも一体と
なって垂直軸(回転軸)のまわりで所定量だけ回転する
。次に、直線駆動手段によりアーム駆動用磁石を直線方
向へ所定量だけ移動する。これにより、ウエハ搬送用ア
ームは所定量だけ直線移動する。
[Operation] Since the present invention is constructed as described above, the arm driving magnet is rotated by a predetermined amount in a predetermined direction by the rotating means. Then, the wafer transfer arm also rotates by a predetermined amount around the vertical axis (rotation axis). Next, the arm driving magnet is moved by a predetermined amount in the linear direction by the linear driving means. As a result, the wafer transfer arm moves linearly by a predetermined amount.

【0017】その結果、アームの先端に載置され或いは
着脱自在に取付けられているウエハを水平面内の所定の
位置へ移送することができる。
As a result, the wafer placed on or detachably attached to the tip of the arm can be transferred to a predetermined position in the horizontal plane.

【0018】これとは逆に、先ず直線駆動手段によりア
ーム駆動用磁石を直線方向へ所定量だけ移動し、その後
、回動手段により所定方向に所定量だけ回動しても良い
。さらに、直線移動と回動とを同時に行って、ウエハの
移送を行なうことも可能である。
On the contrary, the arm driving magnet may first be moved by a predetermined amount in a linear direction by the linear drive means, and then rotated by a predetermined amount in a predetermined direction by the rotation means. Furthermore, it is also possible to transfer the wafer by performing linear movement and rotation at the same time.

【0019】この様に、回動手段による回動量及び直線
移動手段による直線移動量を適宜設定することにより、
アームの例えば先端に取付けられているハンド上のウエ
ハを所望の位置へ移送することができる。
In this way, by appropriately setting the amount of rotation by the rotation means and the amount of linear movement by the linear movement means,
A wafer on a hand attached to, for example, the tip of the arm can be transferred to a desired position.

【0020】ここで、本発明においては磁気的な吸引力
によりアームを非接触に支持しているので、回動手段に
よる回動及び直線移動手段による直線移動に際して、微
粒子(粉塵)が発生することがない。また、磁性流体シ
ールも用いていないので、使用温度範囲も広くなり、又
、極高真空となってもガスの発生はない。
[0020] In the present invention, since the arm is supported in a non-contact manner by magnetic attraction, fine particles (dust) may be generated when the arm is rotated by the rotation means and linearly moved by the linear movement means. There is no. Furthermore, since no magnetic fluid seal is used, the operating temperature range is wide, and no gas is generated even under extremely high vacuum conditions.

【0021】この結果、ウエハの汚染が防止され、半導
体集積回路の製造の際の歩留まりが向上するのである。
[0021] As a result, contamination of the wafer is prevented and the yield in manufacturing semiconductor integrated circuits is improved.

【0022】これに加えて本発明によれば、真空室内部
に電力を供給する必要がないため、構造が簡単化され、
小型化、軽量化も容易であり、真空側の蓄熱という問題
も生じない。換言すると、(電磁石により構成した)ア
ーム駆動用磁石、回動手段及び直線移動手段はいずれも
真空室の外部に構成されているので、電力供給が容易に
行われるのである。
In addition, according to the present invention, there is no need to supply power to the inside of the vacuum chamber, so the structure is simplified;
It is easy to reduce the size and weight, and there is no problem of heat accumulation on the vacuum side. In other words, since the arm driving magnet (consisting of an electromagnet), the rotation means, and the linear movement means are all arranged outside the vacuum chamber, power can be easily supplied.

【0023】[0023]

【実施例】以下、図1を参照して本発明の1実施例を具
体的に説明する。第1実施例のロボットは、真空室Rに
配置されているウエハ搬送用アーム10を含んでいる。
[Embodiment] Hereinafter, one embodiment of the present invention will be explained in detail with reference to FIG. The robot of the first embodiment includes a wafer transfer arm 10 placed in a vacuum chamber R.

【0024】アーム駆動用磁石4、5は電磁石から構成
されており、該電磁石は図示しない制御手段を介して電
流を供給されており、且つ、符号1で示す回動手段に取
り付けられている。この回動手段1は、例えばステップ
モータ2により垂直軸Cのまわりに、所定方向に所定量
だけ回転駆動(回動)されるようになっている。
The arm driving magnets 4 and 5 are composed of electromagnets, which are supplied with current through a control means (not shown) and are attached to a rotation means indicated by the reference numeral 1. This rotating means 1 is configured to be rotationally driven (rotated) by, for example, a step motor 2 around a vertical axis C by a predetermined amount in a predetermined direction.

【0025】アーム駆動用磁石4、5の下方には比較的
薄い仕切り壁3を介して2個の磁性材料11、12が設
けられており、磁石4、5と磁気的に結合している。な
お、図1から明らかな様に、磁性材料11、12はウエ
ハ搬送用アーム10の一部を構成している。
Two magnetic materials 11 and 12 are provided below the arm driving magnets 4 and 5 with a relatively thin partition wall 3 in between, and are magnetically coupled to the magnets 4 and 5. Note that, as is clear from FIG. 1, the magnetic materials 11 and 12 constitute a part of the wafer transfer arm 10.

【0026】これらの磁石4、5と磁性材料11、12
とは対になっている。回動手段1及びアーム駆動用磁石
4、5が軸Cを中心として回転(回動)すると、磁性材
料11、12も回動して、アーム10全体が回動手段1
と同一方向へ同一量だけ回動するのである。
These magnets 4 and 5 and magnetic materials 11 and 12
It is opposite to. When the rotating means 1 and the arm driving magnets 4 and 5 rotate (rotate) about the axis C, the magnetic materials 11 and 12 also rotate, and the entire arm 10 rotates around the rotating means 1.
It rotates by the same amount in the same direction.

【0027】しかしながら、図1において矢印Yで示す
方向には、図示されない直線駆動手段によって回動手段
1とは独立して駆動されるようになっている。
However, in the direction indicated by arrow Y in FIG. 1, it is driven independently of the rotation means 1 by a linear drive means (not shown).

【0028】ウエハ搬送用アーム10は、棒状体を呈し
ている。そしてその一方の端部には前記した磁性材料1
1、12が設けられ、他端部にはハンド13が着脱自在
に取付けられ、このハンドにウエハ14が載置されるよ
うになっている。
The wafer transfer arm 10 has a rod-like shape. The magnetic material 1 described above is attached to one end of the magnetic material 1.
1 and 12 are provided, and a hand 13 is detachably attached to the other end, and a wafer 14 is placed on this hand.

【0029】ウエハ搬送用アーム10は、仕切り壁3と
固定部材20とで仕切られた真空室R内で浮上した状態
に保持されている。そして図示しないセンサにより、真
空室Rの隔壁である仕切り壁3とアーム10との距離が
計測される。
The wafer transfer arm 10 is held in a floating state within a vacuum chamber R partitioned by a partition wall 3 and a fixing member 20. The distance between the partition wall 3, which is a partition wall of the vacuum chamber R, and the arm 10 is measured by a sensor (not shown).

【0030】磁性材料11、12は所定の間隔をおいて
設けられているが、その中心にウエハ搬送用アーム10
の重心がくるように、アームの図において左端にはカウ
ンタウエイト15が設けられている。このように重心が
中心に一致しているので、ウエハ搬送用アーム10は磁
性材料11、12により、真空室内でモーメントの釣り
合わせを保った状態で無理なく水平方向に支持される。 なおウエハ14の重量は極めて小さいので無視すること
ができるが、ウエハの重量も考慮してカウンタウエイト
を決定することもできる。
The magnetic materials 11 and 12 are provided at a predetermined interval, and a wafer transfer arm 10 is located at the center of the magnetic materials 11 and 12.
A counterweight 15 is provided at the left end of the arm in the drawing so that the center of gravity of the arm is located. Since the center of gravity is aligned with the center in this manner, the wafer transfer arm 10 is supported horizontally by the magnetic materials 11 and 12 without strain while maintaining moment balance within the vacuum chamber. Although the weight of the wafer 14 is extremely small and can be ignored, the counterweight can also be determined by considering the weight of the wafer.

【0031】次に、上記実施例の作用について説明する
。ウエハ搬送用アーム10上のウエハ14を矢印Y方向
に移送するときは、磁石4、5を図示しない直線移動手
段により適宜駆動する。前述した様に磁性材料11、1
2は磁石4、5と磁気的に結合しているので、該磁石4
、5がY方向へ移動するとアーム10及びウエハ14も
Y方向の所定位置へ移送されるのである。
Next, the operation of the above embodiment will be explained. When transferring the wafer 14 on the wafer transfer arm 10 in the direction of arrow Y, the magnets 4 and 5 are appropriately driven by linear movement means (not shown). As mentioned above, the magnetic materials 11, 1
2 is magnetically coupled with the magnets 4 and 5, so the magnet 4
, 5 move in the Y direction, the arm 10 and wafer 14 are also transferred to a predetermined position in the Y direction.

【0032】直線移動の方向を変えるときは、モータ2
を駆動して回動手段1及びアーム駆動用磁石4、5を所
定方向に所定量だけ回転駆動する。これにより、磁性材
料11、12及びアーム10も軸Cを中心として回転す
る。その結果、アーム10上のウエハ14は所定の方向
に位置決めされる。
When changing the direction of linear movement, motor 2
is driven to rotate the rotating means 1 and the arm driving magnets 4 and 5 by a predetermined amount in a predetermined direction. As a result, the magnetic materials 11 and 12 and the arm 10 also rotate about the axis C. As a result, the wafer 14 on the arm 10 is positioned in a predetermined direction.

【0033】このようにして、ウエハ14は平面内のあ
らゆる位置へ移送できるが、回動手段1と図示しない直
線移動手段の駆動順序を上記説明と逆にしても、或いは
同時に駆動しても同様に作用することは明らかである。
In this way, the wafer 14 can be transferred to any position within the plane, but the same effect can be obtained even if the rotation means 1 and the linear movement means (not shown) are driven in the opposite order to the above explanation, or even if they are driven simultaneously. It is clear that it affects

【0034】本実施例によると、ウエハ搬送用アーム1
0には、カウンターウエイト15が取付けられているの
で、磁性体11、12(或いは2個の磁気軸受)はアー
ム10の端部に設けられているが、アーム10の重心を
挟んでいるので、モーメントについても釣り合った状態
で、ウエハ搬送用アーム10を無理なく支持することが
できる。
According to this embodiment, the wafer transfer arm 1
Since the counterweight 15 is attached to the 0, the magnetic bodies 11 and 12 (or two magnetic bearings) are provided at the ends of the arm 10, but since they are sandwiched between the center of gravity of the arm 10, The wafer transfer arm 10 can be supported without difficulty in a state where the moments are also balanced.

【0035】また、アーム10の浮上状態の保持は、前
述したセンサの出力に基づいてアーム駆動用磁石4、5
に供給する電流を調節する制御ユニット(図示せず)を
設けることにより、仕切り壁3とアーム10との距離が
一定範囲の数値となる様に制御される。
The arm 10 is maintained in a floating state by the arm driving magnets 4 and 5 based on the output of the sensor described above.
By providing a control unit (not shown) that adjusts the current supplied to the arm 10, the distance between the partition wall 3 and the arm 10 is controlled to be within a certain range of values.

【0036】なお、ウエハ搬送用アーム10の先端部す
なわちウエハ14を載置した部分が真空室Rの外部に出
るときは、出口にゲートバルブを設けておき、これを開
閉して気密状態を保ってアーム10を外部へ出すことが
できる。
Note that when the tip of the wafer transfer arm 10, that is, the part on which the wafer 14 is placed, exits the vacuum chamber R, a gate valve is provided at the exit, and the gate valve is opened and closed to maintain an airtight state. arm 10 can be taken out to the outside.

【0037】図示はされていないが、本発明は色々と変
形した態様で実施できる。例えば、磁石及びこれと協働
する(磁気的に結合する)駆動用磁石は3個以上で実施
することもできる。しかしながら図面にはアーム駆動用
磁石は真空室の上方に、また磁性体は2個設けた実施例
のみが示されている。
Although not shown, the present invention can be implemented in various modifications. For example, the number of magnets and the driving magnets that cooperate with (magnetically couple with) the magnets may be three or more. However, the drawings only show an embodiment in which the arm driving magnet is provided above the vacuum chamber and two magnetic bodies are provided.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によるとウ
エハ搬送用アームは真空室に磁気軸受により非接触的に
支持され、そして外部より駆動用磁石により非接触的に
駆動される。そのため、真空室内には機械的に接触せず
、ウエハに有害なゴミ、チリ等を発生させることなく所
定箇所に移送できる。
As described in detail above, according to the present invention, the wafer transfer arm is supported in a vacuum chamber by a magnetic bearing in a non-contact manner, and is driven from the outside by a driving magnet in a non-contact manner. Therefore, there is no mechanical contact with the vacuum chamber, and the wafer can be transferred to a predetermined location without generating harmful dust or dirt on the wafer.

【0039】そして、従来のように磁性流体シールを必
要としないので、ガス発生もなく、比較的高温の環境下
や高真空環境下でも使用できる。
[0039] Furthermore, unlike conventional magnetic fluid seals, there is no need for a magnetic fluid seal, so there is no gas generation, and the device can be used even under relatively high temperature or high vacuum environments.

【0040】また、駆動用磁石はアーム駆動用磁石と共
に回転し、独立して直線的に駆動されるので、ウエハを
水平面内のあらゆる位置へ移送することができる。
Furthermore, since the driving magnet rotates together with the arm driving magnet and is driven independently and linearly, the wafer can be transferred to any position within the horizontal plane.

【0041】さらに、真空室内部に電流を供給する必要
がない。そのため、電流供給手段に関する構造上の制約
が全く存在せず、その分だけ構成が簡単化し、設計やデ
ザインの自由度が非常に大きくなる。これに伴い、小形
化、軽量化が極めて容易となり、製造コストも低く抑え
られるのである。
Furthermore, there is no need to supply current inside the vacuum chamber. Therefore, there are no structural restrictions regarding the current supply means, which simplifies the configuration and greatly increases the degree of freedom in design. Accordingly, it becomes extremely easy to reduce the size and weight, and the manufacturing cost can also be kept low.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の1実施例を示す断面正面図。FIG. 1 is a cross-sectional front view showing one embodiment of the present invention.

【図2】従来例を示す斜視図。FIG. 2 is a perspective view showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・回動手段 3・・・仕切壁 4、5・・・アーム駆動用磁石 10・・・ウエハ搬送用アーム 11、12・・・磁性材料 R・・・真空室 C・・・垂直軸 1... Rotating means 3...Partition wall 4, 5...Arm drive magnet 10...Wafer transfer arm 11, 12...magnetic material R...vacuum chamber C...Vertical axis

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  水平方向に且つ直線的にウエハを移動
するウエハ搬送用アームと、該ウエハ及びウエハ搬送用
アームを収容する真空室とを備え、前記ウエハ搬送用ア
ームは磁性材料で構成された部分を含み、前記真空室の
外部に配置され且つ前記磁性材料で構成された部分と磁
気的に結合してこれを駆動するアーム駆動用磁石を備え
、該アーム駆動用磁石を垂直軸を中心として回動せしめ
る回動手段と、該アーム駆動用磁石を直線移動せしめる
直線駆動手段とを含むことを特徴とするウエハ移送ロボ
ット。
1. A wafer transfer arm that moves a wafer horizontally and linearly, and a vacuum chamber that accommodates the wafer and the wafer transfer arm, the wafer transfer arm being made of a magnetic material. an arm driving magnet disposed outside the vacuum chamber and magnetically coupled to and driving the part made of a magnetic material, the arm driving magnet being arranged around a vertical axis; A wafer transfer robot comprising: a rotation means for rotating the arm; and a linear drive means for linearly moving the arm driving magnet.
JP3028221A 1991-02-22 1991-02-22 Wafer transfer robot Expired - Lifetime JPH07114231B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3028221A JPH07114231B2 (en) 1991-02-22 1991-02-22 Wafer transfer robot

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3028221A JPH07114231B2 (en) 1991-02-22 1991-02-22 Wafer transfer robot

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04267355A true JPH04267355A (en) 1992-09-22
JPH07114231B2 JPH07114231B2 (en) 1995-12-06

Family

ID=12242567

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3028221A Expired - Lifetime JPH07114231B2 (en) 1991-02-22 1991-02-22 Wafer transfer robot

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07114231B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002036849A1 (en) * 2000-10-31 2002-05-10 Asys Automatic Systems Gmbh & Co. Kg Work table with a table top
RU2510546C2 (en) * 2009-05-28 2014-03-27 Земилев Гмбх Device to transfer substrates without formation of particles
WO2019009118A1 (en) * 2017-07-07 2019-01-10 東京エレクトロン株式会社 Placing table structure and treatment device

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0215993A (en) * 1988-07-05 1990-01-19 Seiko Instr Inc Specimen transfer device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0215993A (en) * 1988-07-05 1990-01-19 Seiko Instr Inc Specimen transfer device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002036849A1 (en) * 2000-10-31 2002-05-10 Asys Automatic Systems Gmbh & Co. Kg Work table with a table top
RU2510546C2 (en) * 2009-05-28 2014-03-27 Земилев Гмбх Device to transfer substrates without formation of particles
WO2019009118A1 (en) * 2017-07-07 2019-01-10 東京エレクトロン株式会社 Placing table structure and treatment device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07114231B2 (en) 1995-12-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1061557B1 (en) Substrate processing apparatus
US5583408A (en) Two-axis magnetically coupled robot
US5720590A (en) Articulated arm transfer device
US5234303A (en) In-vacuum conveyance robot
US5355066A (en) Two-axis magnetically coupled robot
KR102146825B1 (en) Substrate transport apparatus with compact shaftless direct drive
JP4784872B2 (en) Reciprocating drive for scanning a workpiece
US20080019816A1 (en) Drive Source And Transportation Robot
US6582175B2 (en) Robot for handling semiconductor wafers
JP7137049B2 (en) Article conveying device
JP2007019216A (en) Transfer robot for board
JPH11313477A (en) Plural shaft power transmission device and arm link for carrying wafer
JP4365605B2 (en) Substrate holding apparatus and substrate holding method, and substrate processing apparatus and substrate processing method using the same
JPH04267355A (en) Wafer conveying robot
JP2022133867A (en) Substrate transfer device and substrate processing system
JP2004207279A (en) Sheet-shaped object manufacturing facility
JPH0623687A (en) Robot
JPH04264748A (en) Wafer transfer robot
JPH04264749A (en) Wafer transfer robot
JPH11307609A (en) Arm driving device for carrier arm robot
KR20000048686A (en) Coaxial drive elevator
JP2001233450A (en) Lateral conveying mechanism
JPS63296235A (en) Wafer transfer device
JP3916851B2 (en) Substrate processing equipment
JPH11254378A (en) Substrate handling robot