JPH04259857A - Gas chromatograph - Google Patents

Gas chromatograph

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JPH04259857A
JPH04259857A JP3042221A JP4222191A JPH04259857A JP H04259857 A JPH04259857 A JP H04259857A JP 3042221 A JP3042221 A JP 3042221A JP 4222191 A JP4222191 A JP 4222191A JP H04259857 A JPH04259857 A JP H04259857A
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sample gas
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Abstract

PURPOSE:To prevent the temperature decrease of a sample gas due to a sample piping, to achieve miniaturization and easy maintenance of the apparatus, and to reduce thermal influences of a heater and a thermostatic chamber to electric components. CONSTITUTION:A manifold 72 of an analyzer apparatus 3 is tightly connected to a housing block of a sample conditioner apparatus 2. A sample gas or standard gas discharging port is directly connected with a sample gas or standard gas introducing port 92. A detector 80 and a heater 90 are incorporated into a sample valve 73, and a first and a second columns 87, 88 are wound in the outer periphery of the valve 73, thereby constituting a unit of the valve. An analyzer board 75, a pressure reducing valve 76, a transformer, etc., are arranged at the bottom in an analyzer case 70. A printed board 101, connectors 106, 107 and the like are accommodated in an electric housing 100, which are separated from a thermostatic chamber 74.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、カラム内に固定相とし
て充填した充填剤と測定ガスとの吸着性の差を利用して
ガス分析を行なうガスクロマトグラフに関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gas chromatograph that performs gas analysis by utilizing the difference in adsorption between a packing material packed as a stationary phase in a column and a gas to be measured.

【0002】0002

【従来の技術】石油化学プロセスや鉄鋼プロセスなどに
おいて、プロセスガスの成分分析を行うこの種のプロセ
ス用ガスクロマトグラフは、プロセスラインから分取し
たサンプルガスをサンプルコンディショナ装置によって
分析に必要な最適条件に整え、このサンプルガスをアナ
ライザ装置に供給して各ガス成分を分離、検出し、その
測定結果に基づいてプロセス工程を監視したり、各種制
御を行うようにしている。図9はこのようなガスクロマ
トグラフの従来例を示すもので、1A、1Bはプロセス
ライン、2はサンプルコンディショナ装置、3はアナラ
イザ装置で、これらによってガスクロマトグラフを構成
している。サンプルコンディショナ装置2としては、サ
ンプルガスSG中の重成分を完全に気化しその凝縮を防
止するベーパライザ(図示せず)、サンプルガスSG中
のダストを除去するフィルタ(図示せず)、サンプルガ
スSGおよび標準ガスHGの流量を測定するロータメー
タ(図示せず)、標準ガスHGとサンプルガスSGの流
量を調整するニードル弁(図示せず)、流路を切り替え
る切換スイッチ(図示せず)等で構成され、これらをハ
ウジング4内に組み込み配管で接続している。一方、ア
ナライザ装置3は直列接続された第1、第2のカラム5
、6、サンプルバルブ7、バックフラッシュバルブ8、
検出器9、減圧弁(図示せず)、電気機器部10、恒温
槽11、加熱器12等を備えている。恒温槽11は、前
記第1、第2のカラム5、6、サンプルバルブ7、バッ
クフラッシュバルブ8、検出器9等を収納し、加熱器1
2によって加熱された空気の循環によって内部がサンプ
ルガスSGの分離分析に最適な温度に保持される。第1
のカラム5は、内径1mm〜4mm、長さ0.5〜3m
程度で内部に固定相を充填したパックドカラムからなり
、炭素(C)の少ない低沸点成分を高速で効率よく分離
することができ、第2のカラム6は内径0.1mm〜4
mm、長さ0.5〜3m程度で内壁に液相を塗布したキ
ャピラリカラムからなり、Cの少ない低沸点成分に対し
ては分離が困難であるが、Cの多い高沸点成分に対して
は高速で効率よく分離することができる特徴を有してい
る。分析に際しては、サンプルガスSG中のCの多い重
質成分(高沸点成分)は分析周期の短縮、カラム劣化の
保護のためバックフラッシュバルブ8によって排出して
測定せず、Cの少ない低沸点成分のみを第1のカラム5
によって高速で分離し、第2のカラム6はCの多い範囲
を測定する時、その範囲内でCの少ないガス成分(軽い
成分)を分離する。そして、第1、第2のカラム5、6
によって分離された各ガス成分は検出器9によって電気
信号に変換され、この電気信号は各ガス成分の濃度に比
例している。
[Prior Art] This type of process gas chromatograph, which analyzes the components of process gas in petrochemical processes, steel processes, etc., uses a sample conditioner to analyze the sample gas separated from the process line under the optimal conditions. This sample gas is supplied to an analyzer device to separate and detect each gas component, and based on the measurement results, process steps are monitored and various controls are performed. FIG. 9 shows a conventional example of such a gas chromatograph, in which 1A and 1B are process lines, 2 is a sample conditioner device, and 3 is an analyzer device, which constitute the gas chromatograph. The sample conditioner device 2 includes a vaporizer (not shown) that completely vaporizes heavy components in the sample gas SG and prevents their condensation, a filter (not shown) that removes dust from the sample gas SG, and a sample gas A rotameter (not shown) that measures the flow rate of SG and standard gas HG, a needle valve (not shown) that adjusts the flow rate of standard gas HG and sample gas SG, a changeover switch (not shown) that switches the flow path, etc. These are built into the housing 4 and connected through piping. On the other hand, the analyzer device 3 has first and second columns 5 connected in series.
, 6, sample valve 7, backflush valve 8,
It is equipped with a detector 9, a pressure reducing valve (not shown), an electrical equipment section 10, a constant temperature bath 11, a heater 12, and the like. The thermostatic chamber 11 houses the first and second columns 5 and 6, a sample valve 7, a backflush valve 8, a detector 9, etc., and a heater 1.
By circulating the air heated by 2, the inside is maintained at the optimum temperature for separation and analysis of the sample gas SG. 1st
The column 5 has an inner diameter of 1 mm to 4 mm and a length of 0.5 to 3 m.
The second column 6 has an inner diameter of 0.1 mm to 4 mm, and can efficiently separate low-boiling components containing less carbon (C) at high speed.
It consists of a capillary column with a length of about 0.5 to 3 m and a liquid phase coated on the inner wall, and it is difficult to separate low-boiling components with low C content, but it is difficult to separate high-boiling components with high C content. It has the characteristics of being able to perform high-speed and efficient separation. During analysis, heavy components with a high amount of C (high boiling point components) in the sample gas SG are discharged through the backflush valve 8 and are not measured in order to shorten the analysis cycle and protect against column deterioration. Only the first column 5
When measuring a C-rich range, the second column 6 separates C-poor gas components (light components) within that range. And the first and second columns 5 and 6
Each gas component separated by is converted into an electrical signal by the detector 9, and this electrical signal is proportional to the concentration of each gas component.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成からなる従来のガスクロマトグラフにあっては
、サンプルガスSG、キャリアガスCGの吹き出し口の
数や、構成部品の配置構成等によって恒温槽11内部の
温度分布を完全には均一にすることができず、また温度
の変動も生じるという問題があった。このため、カラム
5、6等の構成部品を最適温度条件に保持することがで
きず、成分濃度が本来のサンプル濃度と一致せず、正確
な測定が困難になる。例えば、液化し易いサンプルガス
SGの場合、サンプルバルブ7、バックフラッシュバル
ブ8は高い温度に保持することが望ましく、また第2の
カラム6は分離能を向上させるため温度の変動がないこ
とが望ましい。また、上記の従来装置は、サンプルコン
ディショナ装置2とアナライザ装置3間のサンプル導入
部をサンプル配管13によって接続していたため、この
部分での温度低下を防止するためサンプル配管13を二
重管構造とし、スチーム等で加熱、保温する必要があっ
た。そのため、配管構造が複雑で部品点数が増加し、サ
ンプルコンディショナ装置2とアナライザ装置3の距離
が近ければ、配管作業が困難となり、逆に離れ過ぎてい
ると、温度低下が大きくなり、加熱保温に要する熱量を
多く必要とするという問題があった。さらに、増幅器や
温度制御装置からなる電気機器部10は恒温槽11の上
部に加熱器12と共に配置されているので、恒温槽11
や加熱器12による熱的影響が大きく、装置の信頼性が
低下する。恒温槽11内部においてサンプルバルブ7、
カラム5、6、検出器9等が配管、継手等によって接続
されて配設されているため、これらのメインテナンス作
業が容易でないなど、多くの問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional gas chromatograph having such a configuration, the number of outlets for the sample gas SG and carrier gas CG, the arrangement of the component parts, etc. There was a problem in that the internal temperature distribution could not be made completely uniform, and temperature fluctuations also occurred. For this reason, components such as the columns 5 and 6 cannot be maintained at optimal temperature conditions, and the component concentrations do not match the original sample concentrations, making accurate measurement difficult. For example, in the case of sample gas SG that is easily liquefied, it is desirable to maintain the sample valve 7 and backflush valve 8 at a high temperature, and it is desirable that the temperature of the second column 6 does not fluctuate in order to improve separation performance. . In addition, in the conventional device described above, the sample introduction section between the sample conditioner device 2 and the analyzer device 3 was connected by the sample pipe 13, so the sample pipe 13 was constructed with a double pipe structure in order to prevent the temperature from decreasing in this part. It was necessary to heat and keep warm using steam, etc. Therefore, if the piping structure is complicated and the number of parts increases, and if the sample conditioner device 2 and analyzer device 3 are close, piping work becomes difficult, and if they are too far apart, the temperature will drop significantly, causing heating and heat retention. There was a problem in that a large amount of heat was required. Furthermore, since the electrical equipment section 10 consisting of an amplifier and a temperature control device is arranged together with the heater 12 at the upper part of the thermostatic oven 11, the thermostatic oven 11
The thermal influence caused by the heater 12 is large, and the reliability of the device is reduced. Inside the constant temperature chamber 11, a sample valve 7,
Since the columns 5, 6, the detector 9, etc. are connected and arranged by piping, joints, etc., there are many problems such as difficulty in maintaining them.

【0004】したがって、本発明は上記したような従来
の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とするとこ
ろは、サンプルガスの加熱保温を確実に行うことができ
、また装置の小型化およびメインテナンスの容易化を図
ると共に、加熱器や恒温槽による増幅器や温度制御装置
の電気部品への熱的影響を減少させ得るようにしたガス
クロマトグラフを提供することにある。
[0004] Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and its purpose is to reliably heat and keep a sample gas warm, and also to miniaturize the device. It is an object of the present invention to provide a gas chromatograph which is easy to maintain and which can reduce the thermal influence of a heater and a constant temperature bath on electrical parts of an amplifier and a temperature control device.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、検出器およびヒータを内蔵したサンプルバル
ブと、その周囲に巻装された第1、第2のカラムを備え
たアナライザユニットを内設した恒温槽を中央に立設し
、その周囲下方にアナライザボ−ド、減圧弁、トランス
等を配設した楕円球状体からなるアナライザケースと、
プリント基板、コネクタ等を有して前記アナライザケー
スの外周に突設された円筒状のエレキハウジングと、キ
ャリアガス導入口、サンプルガスまたは標準ガス導入口
およびサンプルガス送出口を有し前記アナライザケース
の底部開口に嵌挿されたマニホールドと、前記マニホー
ルドの下面に密接固定されるハウジングブロックとを具
備し、前記ハウジングブロックに、サンプルガス供給口
、標準ガス供給口、キャリアガス供給口、バイパスベン
ト口、サンプルベント口、スチーム入口、スチーム出口
と、前記マニホールドのキャリアガス導入口、サンプル
ガスまたは標準ガス導入口およびサンプルガス送出口に
それぞれ連通するキャリアガス送出口、サンプルガスま
たは標準ガス送出口およびサンプルガス導入口と、これ
らの口を連通する連通路を形成し、また前記連通路の途
中にフィルタ、ロータメータ、ニードル弁、切換スイッ
チを配設して構成したものである。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention provides an analyzer unit comprising a sample valve incorporating a detector and a heater, and first and second columns wound around the sample valve. An analyzer case consisting of an elliptical spherical body with an internal constant temperature chamber set up in the center and an analyzer board, pressure reducing valve, transformer, etc. arranged around it below.
The analyzer case includes a cylindrical electric housing having a printed circuit board, a connector, etc., and protruding from the outer periphery of the analyzer case, and a carrier gas inlet, a sample gas or standard gas inlet, and a sample gas outlet. The housing block includes a manifold fitted into a bottom opening, and a housing block closely fixed to the lower surface of the manifold, and the housing block includes a sample gas supply port, a standard gas supply port, a carrier gas supply port, a bypass vent port, A sample vent port, a steam inlet, a steam outlet, and a carrier gas outlet, a sample gas or standard gas outlet, and a sample gas that communicate with the carrier gas inlet, sample gas or standard gas inlet, and sample gas outlet of the manifold, respectively. It is constructed by forming an inlet and a communication path that communicates these ports, and disposing a filter, a rotameter, a needle valve, and a changeover switch in the middle of the communication path.

【0006】[0006]

【作用】本発明において、検出器、ヒータを内蔵したサ
ンプルバルブ、バルブの周囲に巻装された第1、第2の
カラムはアナライザユニットを形成し、組付け作業を容
易にする。エレキハウジングはアナライザケースに突設
されることで、恒温槽とプリント基板、コネクタ等とを
遠く離す。マニホールドと、ハウジングブロックとは互
いに密接され、キャリアガス導入口、サンプルガスまた
は標準ガス導入口およびサンプルガス送出口と、キャリ
アガス送出口、サンプルガスまたは標準ガス送出口およ
びサンプルガス導入口をそれぞれ連通させることで、サ
ンプル配管を不要にする。アナライザボード、トランス
等はアナライザケースの内部下方に配置されているため
、恒温槽による熱的影響が少ない。
[Operation] In the present invention, the detector, the sample valve with a built-in heater, and the first and second columns wrapped around the valve form an analyzer unit, which facilitates the assembly work. By protruding from the analyzer case, the electric housing separates the constant temperature chamber from the printed circuit board, connectors, etc. The manifold and the housing block are brought into close contact with each other, and the carrier gas inlet, sample gas or standard gas inlet, and sample gas outlet are in communication with the carrier gas outlet, sample gas or standard gas outlet, and sample gas inlet, respectively. This eliminates the need for sample piping. The analyzer board, transformer, etc. are located inside the analyzer case at the bottom, so there is little thermal influence from the constant temperature oven.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図1は本発明に係るガスクロマトグラ
フの一実施例を示す断面図、図2は同ガスクロマトグラ
フをスタンションに取り付けた状態を示す外観斜視図、
図3はサンプルコンディショナ装置の内部構造を示す斜
視図、図4はハウジングブロックの外観斜視図、図5は
図4のV−V線断面図、図6は図4のVI−VI線断面
図、図7はマニホールドの底面図、図8は図1のVII
I−VIII線断面図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be explained in detail below based on embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of the gas chromatograph according to the present invention, and FIG. 2 is an external perspective view showing the gas chromatograph attached to a stanchion.
3 is a perspective view showing the internal structure of the sample conditioner device, FIG. 4 is an external perspective view of the housing block, FIG. 5 is a sectional view taken along the line V-V in FIG. 4, and FIG. 6 is a sectional view taken along the line VI-VI in FIG. 4. , FIG. 7 is a bottom view of the manifold, and FIG. 8 is VII of FIG.
It is a sectional view taken along the line I-VIII.

【0008】図1および図2において、全体を符号20
で示すガスクロマトグラフは、サンプルコンディショナ
装置2と、サンプルコンディショナ装置2上に設置され
たアナライザ装置3と、アナライザ装置3の前面に接続
固定された電気機器部21とで構成され、スタンション
22に複数個のボルト23によりブラケット24を介し
て固定されている。
In FIGS. 1 and 2, the entire reference numeral 20
The gas chromatograph shown by is composed of a sample conditioner device 2, an analyzer device 3 installed on the sample conditioner device 2, and an electrical equipment section 21 connected and fixed to the front of the analyzer device 3. It is fixed via a bracket 24 with a plurality of bolts 23.

【0009】前記サンプルコンディショナ装置2の構成
等を図3〜図6に基づいて詳述すると、このコンディシ
ョナ装置2は、上面中央部が開放する箱型のハウジング
30を備え、その内部にはステンレス等の金属からなる
ハウジングブロック31が収納配置されている。
The structure of the sample conditioner device 2 will be described in detail with reference to FIGS. A housing block 31 made of metal such as stainless steel is housed.

【0010】前記ハウジングブロック31は、上下に対
向する略水平な上部および下部ブロック31A、31B
と、これら両ブロック31A、31Bを連結する略垂直
な連結部31Cとで構成され、上部ブロック31Aの上
面には、キャリアガス送出口32、サンプルガスまたは
標準ガス送出口33、サンプルガス導入口34および複
数個のねじ孔35を有する小ブロック36が止めねじ2
7によって固定され、且つカバー25(図1参照)によ
り覆われている。また、上部ブロック31Aの前面には
2つのニードル弁調整用孔37a、37bが、左側面に
はキャリアガス供給口38が、右側面にはバイパスベン
ト口39およびサンプルベント口40がそれぞれ開口さ
れている。そして、ハウジングブロック31の内部には
前記キャリアガス送出口32とキャリアガス供給口38
を連通するキャリアガス用流路41、前記サンプルガス
または標準ガス送出口33、サンプルガス供給口42ま
たは標準ガス供給口43を接続するサンプルガスまたは
標準ガス用流路44、前記バイパスベント口39とサン
プルガスまたは標準ガス用流路44の途中を接続するバ
イパスベント流路45、サンプルガス導入口34とサン
プルベント口40を接続するサンプルベント流路46、
標準ガス供給口43と切換スイッチ47を接続する標準
ガス流路48およびスチーム流路49が形成されている
。なお、図4において、28は後述するマニホールド7
2を固定するボルト65が下方より挿通されるボルト取
付用孔、29はマニホールド72を位置決めするための
位置決めピンである。
The housing block 31 has substantially horizontal upper and lower blocks 31A and 31B that face each other vertically.
and a substantially vertical connecting portion 31C that connects both blocks 31A and 31B.The top surface of the upper block 31A includes a carrier gas outlet 32, a sample gas or standard gas outlet 33, and a sample gas inlet 34. A small block 36 having a plurality of screw holes 35 is connected to the setscrew 2.
7 and covered by a cover 25 (see FIG. 1). Further, two needle valve adjustment holes 37a and 37b are opened on the front surface of the upper block 31A, a carrier gas supply port 38 is opened on the left side, and a bypass vent port 39 and a sample vent port 40 are opened on the right side. There is. Inside the housing block 31, the carrier gas outlet 32 and the carrier gas supply port 38 are provided.
a carrier gas flow path 41 that communicates with the sample gas or standard gas outlet 33, a sample gas or standard gas flow path 44 that connects the sample gas supply port 42 or the standard gas supply port 43, and the bypass vent port 39. a bypass vent flow path 45 that connects the sample gas or standard gas flow path 44; a sample vent flow path 46 that connects the sample gas inlet 34 and the sample vent port 40;
A standard gas flow path 48 and a steam flow path 49 connecting the standard gas supply port 43 and the changeover switch 47 are formed. In addition, in FIG. 4, 28 is a manifold 7, which will be described later.
A bolt mounting hole 29 through which a bolt 65 for fixing the manifold 2 is inserted from below is a positioning pin for positioning the manifold 72.

【0011】前記サンプルガスまたは標準ガス用流路4
4とバイパスベント流路45の途中にはそれぞれニード
ル弁50、51が配設されている。ニードル弁50、5
1は前記ニードル弁調整用孔37a、37bにそれぞれ
挿入配置され、外部より調整されるように構成されてい
る。前記キャリアガス供給口38にはキャリアガスCG
が送給され、キャリアガス用流路41を通ってアナライ
ザ装置3に送り込まれる。サンプルガス導入口34には
アナライザ装置3によって分離分析された測定後のサン
プルガスSGが導かれ、サンプルベント流路46を通っ
てサンプルベント口40より廃棄される。
[0011] The sample gas or standard gas flow path 4
Needle valves 50 and 51 are disposed in the middle of the bypass vent flow path 4 and the bypass vent flow path 45, respectively. Needle valve 50, 5
1 are inserted into the needle valve adjustment holes 37a and 37b, respectively, and are configured to be adjusted from the outside. A carrier gas CG is supplied to the carrier gas supply port 38.
is fed into the analyzer device 3 through the carrier gas channel 41. A measured sample gas SG separated and analyzed by the analyzer device 3 is introduced into the sample gas inlet 34, passes through a sample vent channel 46, and is discarded from the sample vent port 40.

【0012】前記下部ブロック31Bの前面にはフィル
タ52、53をそれぞれ収納する2つのフィルタ取付用
孔54a、54bと、ベーパライザ55を収納するベー
パライザ取付用孔56が設けられ、下面には前記サンプ
ルガス供給口42、標準ガス供給口43、スチーム入口
57およびスチーム出口58が設けられ、内部には前記
フィルタ52、53およびベーパライザ55に加えて切
換スイッチ47が組み込まれている。前記サンプルガス
または標準ガス用流路44の途中には前記ニードル弁5
0、フィルタ52、53、ベーパライザ55、切換スイ
ッチ47および第2のロータメータ60が組み込まれて
いる。前記バイパスベント流路45には、前記ニードル
弁51に加えて第1のロータメータ59が組み込まれて
いる。ベーパライザ55はサンプルガス供給口42とフ
ィルタ52間の流路中に設けられている。標準ガス供給
口43には標準ガスHGが導かれる。
Two filter mounting holes 54a and 54b for accommodating filters 52 and 53, respectively, and a vaporizer mounting hole 56 for accommodating a vaporizer 55 are provided on the front surface of the lower block 31B, and the lower surface is provided with the sample gas A supply port 42, a standard gas supply port 43, a steam inlet 57, and a steam outlet 58 are provided, and in addition to the filters 52, 53 and vaporizer 55, a changeover switch 47 is incorporated inside. The needle valve 5 is provided in the middle of the sample gas or standard gas flow path 44.
0, filters 52 and 53, a vaporizer 55, a changeover switch 47, and a second rotameter 60 are incorporated. In addition to the needle valve 51, a first rotameter 59 is incorporated in the bypass vent flow path 45. The vaporizer 55 is provided in the flow path between the sample gas supply port 42 and the filter 52. Standard gas HG is introduced to the standard gas supply port 43.

【0013】前記第1、第2のロータメータ59、60
はそれぞれテーパ管とフロートで構成され、第1のロー
タメータ59でサンプルガスSGのバイパス流量を測定
し、第2のロータメータ60でアナライザ入力流量を測
定するもので、前記上部ブロック31Aと下部ブロック
31B間に上下端を着脱自在に保持されて配設されてい
る。また、上部ブロック31Aと下部ブロック31B間
にはハウジングブロック31の温度を測定する温度計6
2(図4)が両ロータメータ59、60間に位置して配
設されている。なお、第1のロータメータ59はフィル
タ52とニードル弁51との間に設けられ、第2のロー
タメータ60はフィルタ53とニードル弁50との間に
介在されている。
[0013] The first and second rotameters 59 and 60
are each composed of a tapered tube and a float, the first rotameter 59 measures the bypass flow rate of the sample gas SG, and the second rotameter 60 measures the analyzer input flow rate. The upper and lower ends are removably held in the holder. Further, a thermometer 6 for measuring the temperature of the housing block 31 is provided between the upper block 31A and the lower block 31B.
2 (FIG. 4) is located between both rotameters 59 and 60. Note that the first rotameter 59 is provided between the filter 52 and the needle valve 51, and the second rotameter 60 is interposed between the filter 53 and the needle valve 50.

【0014】前記切換スイッチ47は、下部ブロック3
1Bの右側面に設けられた切替つまみ63を制御部から
の信号によって駆動するモータ等の駆動手段(もしくは
手動操作)によって回すことにより切り替えられるもの
で、標準ガスによる校正時にサンプルガスまたは標準ガ
ス用流路44を標準ガス流路48に接続し、サンプルガ
ス供給口42と切換スイッチ47間の流路64を閉止す
るように構成されている。したがって、標準ガスによる
校正時において、サンプルガス供給口42より導かれる
サンプルガスSGは、ベーパライザ55−第1のロータ
メータ59−ニードル弁51−バイパスベント流路45
を通ってバイパスベント口39より廃棄され、標準ガス
供給口43より供給される標準ガスHGは、切換スイッ
チ47−フィルタ53−第2のロータメータ60−ニー
ドル弁50−を経てアナライザ装置3に導かれる。この
時、前記流路64は切換スイッチ47によって閉止され
ている。
The changeover switch 47 is connected to the lower block 3.
It is switched by turning the switching knob 63 provided on the right side of 1B by a driving means such as a motor (or manual operation) driven by a signal from the control unit. The flow path 44 is connected to the standard gas flow path 48, and the flow path 64 between the sample gas supply port 42 and the changeover switch 47 is closed. Therefore, during calibration using the standard gas, the sample gas SG led from the sample gas supply port 42 is distributed between the vaporizer 55 - the first rotameter 59 - the needle valve 51 - the bypass vent channel 45
The standard gas HG that is disposed of through the bypass vent port 39 and supplied from the standard gas supply port 43 is guided to the analyzer device 3 via the changeover switch 47 - filter 53 - second rotameter 60 - needle valve 50. . At this time, the flow path 64 is closed by the changeover switch 47.

【0015】一方、測定時(サンプルガス供給時)にお
いては標準ガスHGの代わりにサンプルガスSGがベー
パライザ55−フィルタ52−切換スイッチ47−フィ
ルタ53−第2のロータメータ60−ニードル弁50を
経てアナライザ装置3に導かれ、該サンプルガスSGの
分取が終わると、切換スイッチ47が再び標準ガスHG
による校正状態に切り替わり標準ガスHGの供給が再開
されるように構成されている。
On the other hand, during measurement (when sample gas is supplied), sample gas SG is supplied to the analyzer via vaporizer 55 - filter 52 - changeover switch 47 - filter 53 - second rotameter 60 - needle valve 50 instead of standard gas HG. When the sample gas SG is guided to the device 3 and the sample gas SG is separated, the changeover switch 47 is switched back to the standard gas HG.
The calibration state is switched to the calibration state according to the calibration method, and the supply of the standard gas HG is restarted.

【0016】なお、ベーパライザ55、フィルタ52、
53、ロータメータ59、60、切換スイッチ47につ
いては従来周知のものであるため、その詳細な構成等に
ついては説明を省略する。
Note that the vaporizer 55, filter 52,
53, rotameters 59, 60, and changeover switch 47 are conventionally known, so detailed explanations of their configurations and the like will be omitted.

【0017】前記上、下部ブロック31A、31Bを連
結する連結部31Cの内部には前記スチーム流路49の
一部分が形成されており、これにスチームSTを供給す
ることで前記ハウジングブロック31が熱交換器を形成
し、サンプルガスSGを所定温度(120°C〜150
°C程度)に加熱保温するようにしている。スチームS
Tの温度は150°C程度、圧力は10Kgf/cm2
 以下である。
A portion of the steam flow path 49 is formed inside the connecting portion 31C that connects the upper and lower blocks 31A and 31B, and by supplying steam ST thereto, the housing block 31 performs heat exchange. The sample gas SG is heated to a predetermined temperature (120°C to 150°C).
It is heated and kept at a temperature of around 30°F (°C). Steam S
The temperature of T is about 150°C, the pressure is 10Kgf/cm2
It is as follows.

【0018】次に前記アナライザ装置3の詳細を図1及
び図7に基づいて詳細に説明する。アナライザ装置3は
、長軸を前後方向に向けて前記サンプルコンディショナ
装置2の小ブロック36上に設置固定される楕円球状体
からなるアルミダイキャスト製のアナライザケース70
を備えており、このアナライザケース70の下面開口部
71には前記ハウジングブロック31の小ブロック36
上に前記ピン(図4)29によって位置決めされて設置
され、小ブロック36の下方側からボルト65によって
固定されるマニホールド72が配設されている。マニホ
ールド72の上面にはサンプルバルブ73と、これを取
り囲む恒温槽74が配設され、さらにケース内底部の恒
温槽周囲には電気部品を搭載したアナライザボ−ド75
、キャリアガスCGの圧力を所定圧に減圧する減圧弁7
6、トランス77等が配設されている。
Next, details of the analyzer device 3 will be explained in detail based on FIGS. 1 and 7. The analyzer device 3 includes an aluminum die-cast analyzer case 70 made of an elliptical spherical body that is installed and fixed on the small block 36 of the sample conditioner device 2 with its long axis directed in the front-rear direction.
The small block 36 of the housing block 31 is provided in the lower opening 71 of the analyzer case 70.
A manifold 72 is positioned above the small block 36 by the pins 29 (FIG. 4) and fixed by bolts 65 from the lower side of the small block 36. A sample valve 73 and a thermostat 74 surrounding it are arranged on the top surface of the manifold 72, and an analyzer board 75 equipped with electrical components is arranged around the thermostat at the bottom of the case.
, a pressure reducing valve 7 that reduces the pressure of the carrier gas CG to a predetermined pressure.
6, a transformer 77, etc. are provided.

【0019】前記サンプルバルブ73は、内部に形成さ
れた流体通路78を切替え、測定時にサンプルガスSG
を検出器80へ導き、非測定時およびバックフラッシュ
時にはキャリアガスCGを検出器80へ導くもので、例
えば周知の空気圧駆動式ダイヤフラム・バルブが使用さ
れることにより、センタープレート81と、センタープ
レート81の表裏面にそれぞれダイヤフラム82、83
を介して上下に対向配設された複数個のプランジャ84
と、上下のプランジャ84を交互に動作させる上、下ピ
ストン85、86等で構成され、サンプルガスSGとキ
ャリアガスCGのガス圧によってダイヤフラム82、8
3を交互に弾性変形させ、上下のプランジャ84をピス
トン85、86によって動作させてダイヤフラム82、
83に交互に押し付けることにより、流体通路78の上
側ルートと下側ルートを交互に切り替えるように構成さ
れている。サンプルバルブ73の周囲にはサンプルガス
SGを各ガス成分に分離する第1、第2のカラム87、
88が、第2のカラム88を内側にして巻装されている
。第1のカラム87は前述したパックドカラム、第2の
カラム88はキャピラリカラムとされる。そして、サン
プルバルブ73は、内部に前記検出器80と、前記第1
、第2のカラム87、88を所定温度に加熱するヒータ
90が組み込まれており、これらと前記カラム87、8
8とでアナライザユニットを形成している。なお、サン
プルバルブ73自体は、検出器80およびヒータ90を
該バルブ内に組み込んだ点を除いて従来周知の空気圧駆
動式ダイヤフラム・バルブと同様に構成されるものであ
るため、これ以上の説明を省略する。
The sample valve 73 switches the fluid passage 78 formed inside, and controls the sample gas SG during measurement.
to the detector 80, and the carrier gas CG to the detector 80 during non-measurement and backflushing.For example, by using a well-known pneumatically driven diaphragm valve, the center plate 81 and the center plate 81 diaphragms 82 and 83 on the front and back surfaces of the
A plurality of plungers 84 are arranged vertically to face each other.
The upper and lower pistons 85 and 86 actuate the upper and lower plungers 84 alternately, and the diaphragms 82 and 8
3 are alternately elastically deformed, and the upper and lower plungers 84 are operated by the pistons 85 and 86 to form the diaphragm 82,
By alternately pressing against 83, the upper route and lower route of the fluid passage 78 are alternately switched. Around the sample valve 73, there are first and second columns 87 for separating the sample gas SG into each gas component.
88 are wound with the second column 88 inside. The first column 87 is the aforementioned packed column, and the second column 88 is a capillary column. The sample valve 73 includes the detector 80 and the first
, a heater 90 that heats the second columns 87, 88 to a predetermined temperature is incorporated, and these and the columns 87, 88 are heated to a predetermined temperature.
8 forms an analyzer unit. The sample valve 73 itself is constructed in the same manner as a conventionally known pneumatically driven diaphragm valve, except that a detector 80 and a heater 90 are incorporated into the valve, so no further explanation will be given. Omitted.

【0020】前記マニホールド72の下面には図7に示
すようにキャリアガス導入口91、サンプルガスまたは
標準ガス導入口92およびサンプルガス送出口93が、
前記小ブロック36(図4)の上面に開口するキャリア
ガス送出口32、サンプルガスまたは標準ガス送出口3
3、サンプルガス導入口34にそれぞれ対応接続するよ
うに形成されており、またこれらのキャリアガス導入口
91、サンプルガスまたは標準ガス導入口92およびサ
ンプルガス送出口93は該マニホールド内に形成された
流路95(図1)を介して前記サンプルバルブ73の流
体通路78に連通されている。なお、アナライザケース
70は上面開口部96に蓋体97が螺合され、後述する
エレキハウジング100と共に防爆ケースを形成してい
る。また、図7において、98は前記ボルト65がねじ
込まれるねじ孔、99はサンプルコンディショナ装置3
無しの時のブラケット組み付け用ねじ孔である。
As shown in FIG. 7, the lower surface of the manifold 72 has a carrier gas inlet 91, a sample gas or standard gas inlet 92, and a sample gas outlet 93.
A carrier gas outlet 32 and a sample gas or standard gas outlet 3 open on the top surface of the small block 36 (FIG. 4).
3. The carrier gas inlet 91, the sample gas or standard gas inlet 92, and the sample gas outlet 93 are formed in the manifold so as to be respectively connected to the sample gas inlet 34. It communicates with the fluid passage 78 of the sample valve 73 via a flow path 95 (FIG. 1). A lid 97 is screwed into the top opening 96 of the analyzer case 70, forming an explosion-proof case together with an electric housing 100, which will be described later. Further, in FIG. 7, 98 is a screw hole into which the bolt 65 is screwed, and 99 is a sample conditioner device 3.
This is the screw hole for assembling the bracket when there is no one.

【0021】図1および図8において、前記電気機器部
21は、前記アナライザケース70の前面に突設された
前記エレキハウジング100を備えている。エレキハウ
ジング100はアルミダイキャストによって円筒状に形
成され、内部には恒温槽温度制御回路等のガスクロマト
グラフ20を駆動制御するためのプリント基板101、
プリント基板101を保持する基板固定ブラケット10
2、103、化粧板104、接地金具105、コネクタ
106、107等が収納配置されている。ケース側コネ
クタ107とアナライザ装置3はコード108よって電
気的に接続されている。また、エレキハウジング100
の内周面上下部分には、軸線方向に長い回り止め兼ガイ
ド溝110、111が前記各基板固定ブラケット102
、103に対応して形成されている。前記各基板固定ブ
ラケット102、103の奥端には前記各回り止め兼ガ
イド溝110、111に挿入される突起112、113
がそれぞれ突設されている。なお、121は、蓋体12
0の開口部122を塞ぐガラス、123は銘板である。
In FIGS. 1 and 8, the electric equipment section 21 includes the electric housing 100 projecting from the front surface of the analyzer case 70. As shown in FIGS. The electric housing 100 is formed into a cylindrical shape by die-casting aluminum, and includes a printed circuit board 101 for driving and controlling the gas chromatograph 20, such as a thermostat temperature control circuit, etc.
Board fixing bracket 10 that holds printed circuit board 101
2, 103, a decorative board 104, a grounding fitting 105, connectors 106, 107, etc. are housed. The case side connector 107 and the analyzer device 3 are electrically connected by a cord 108. Also, electric housing 100
On the upper and lower parts of the inner circumferential surface of each of the board fixing brackets 102, there are long detent/guide grooves 110 and 111 in the axial direction.
, 103. At the rear end of each of the board fixing brackets 102 and 103 are protrusions 112 and 113 that are inserted into the respective detent and guide grooves 110 and 111.
are protruding from each. In addition, 121 is the lid body 12
A glass 123 closes the opening 122 of 0, and a name plate.

【0022】このような構成からなる電気機器部21に
おいて、プリント基板101のエレキハウジング100
内への装着に際しては、各突起112、113を各回り
止め兼ガイド溝110、111に挿入してプリント基板
101を基板固定ブラケット102、103と共にエレ
キハウジング100内へ挿入する。すると、基板側コネ
クタ106はケース側コネクタ107と対応一致して差
し込み接続され、完全に接続されると、突起112、1
13が回り止め兼ガイド溝110、111の奥壁に当接
してそれ以上の挿入を阻止される。次いで、蓋体120
をエレキハウジング100の前面側開口部に螺合するこ
とで、プリント基板101および蓋体120の取付け作
業を完了する。この蓋体120の螺合操作において、接
地金具105との間の摩擦力によりプリント基板101
および基板固定ブラケット102、103に回転モーメ
ントが作用するが、回り止め兼ガイド溝110、111
と突起112、113によってブラケット102、10
3の回転を防止しているため、プリント基板101、ブ
ラケット102、103、コネクタ106、107等が
捻れたり、破損することがない。
In the electrical equipment section 21 having such a configuration, the electrical housing 100 of the printed circuit board 101
When installing the printed circuit board 101 into the electric housing 100, the protrusions 112 and 113 are inserted into the locking/guide grooves 110 and 111, and the printed circuit board 101 is inserted into the electric housing 100 together with the circuit board fixing brackets 102 and 103. Then, the board-side connector 106 and the case-side connector 107 are matched and connected, and when the connection is complete, the protrusions 112, 1
13 comes into contact with the inner wall of the rotation stopper/guide grooves 110 and 111, and further insertion is prevented. Next, the lid body 120
By screwing into the front opening of the electric housing 100, the installation work of the printed circuit board 101 and the lid 120 is completed. In this screwing operation of the lid body 120, the printed circuit board 101 is
A rotational moment acts on the board fixing brackets 102 and 103, but the anti-rotation and guide grooves 110 and 111
and the brackets 102 and 10 by the protrusions 112 and 113.
3 is prevented from rotating, the printed circuit board 101, brackets 102, 103, connectors 106, 107, etc. are not twisted or damaged.

【0023】かくしてこのような構成からなるガスクロ
マトグラフ20によれば、アナライザケースの下端開口
部71を塞ぐマニホールド72にキャリアガス導入口9
1、サンプルガスまたは標準ガス導入口92およびサン
プルガス送出口93を設け、これらをサンプルコンディ
ショナ装置2の小ブロック36(図4)の上面に開口す
るキャリアガス送出口32、サンプルガスまたは標準ガ
ス送出口33、サンプルガス導入口34にそれぞれ直接
接続しているので、サンプルガスSGの温度低下を防止
することができ、またサンプル配管を必要としなければ
構造が簡単で継手等の部品さらには組立作業工数を削減
することができる。また、サンプルバルブ73に検出器
80とヒータ90を組込み、バルブ73と検出器80を
バルブ内に形成した流体通路78によって接続し、バル
ブ外周に第1、第2のカラム87、88を巻装してアナ
ライザユニットを形成し、このユニットを恒温槽74内
に配設しているので、バルブ73と検出器80の配管接
続が不要で、アナライザケース70の蓋体97と恒温槽
74の上部を開けば、アナライザユニットを簡単に取り
出すことができ、メインテナンスが容易である。さらに
恒温槽温度制御回路等のプリント基板101、コネクタ
106、107等の電気部品を、アナライザケース70
の前面に突設したエレキハウジング100内に収納配置
し、恒温槽74から遠く離しているので、恒温槽74に
よる熱的影響が少なく、装置の信頼性を向上させる。ま
た、アナライザケース70は楕円球状体に形成されて表
面積が大きく、恒温槽74による熱を効果的に放熱する
。また、アナライザボード75、減圧弁76、トランス
77等はアナライザケース70の内底部に配設されてい
るため、恒温槽74による熱的影響を少なくすることが
できる。
According to the gas chromatograph 20 having such a configuration, the carrier gas inlet 9 is provided in the manifold 72 that closes the lower end opening 71 of the analyzer case.
1. A sample gas or standard gas inlet 92 and a sample gas outlet 93 are provided, and these are opened on the top surface of the small block 36 (FIG. 4) of the sample conditioner device 2. Since they are directly connected to the outlet port 33 and the sample gas inlet port 34, it is possible to prevent the temperature of the sample gas SG from decreasing, and since no sample piping is required, the structure is simple and parts such as fittings can be easily assembled. Work man-hours can be reduced. In addition, a detector 80 and a heater 90 are incorporated into the sample valve 73, the valve 73 and the detector 80 are connected by a fluid passage 78 formed inside the valve, and first and second columns 87 and 88 are wound around the outer circumference of the valve. Since this unit is placed inside the thermostatic oven 74, there is no need to connect the valve 73 and the detector 80 with piping. Once opened, the analyzer unit can be easily taken out, making maintenance easy. Furthermore, electrical components such as a printed circuit board 101 such as a constant temperature oven temperature control circuit, connectors 106 and 107, etc. are attached to the analyzer case 70.
Since it is housed in an electric housing 100 protruding from the front surface of the electric housing 100 and is far away from the constant temperature bath 74, the thermal influence of the constant temperature bath 74 is small, improving the reliability of the device. Further, the analyzer case 70 is formed into an elliptical spherical shape and has a large surface area, and effectively radiates the heat generated by the constant temperature bath 74. Further, since the analyzer board 75, the pressure reducing valve 76, the transformer 77, etc. are arranged at the inner bottom of the analyzer case 70, the thermal influence of the thermostatic chamber 74 can be reduced.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したように本発明に係るガスク
ロマトグラフによれば、アナライザ装置とサンプルコン
ディショナ装置の流体通路口を直接接続し、サンプル配
管を不要にしているので、サンプルガスの温度低下を防
止することができ、また組立作業も簡単で継手等の部品
点数を削減することができる。また、本発明はサンプル
バルブの内部に検出器とヒータを組込み、外周に2つの
カラムを巻装してこれらをユニット化しているので、バ
ルブと検出器間の配管を不要とし、メインテナンスを容
易にする。また、増幅器や温度制御装置のプリント基板
、コネクタ等をエレキハウジング内に収納配置し、恒温
槽から離しているので、恒温槽による熱的影響も少なく
、装置の信頼性を向上させることができるなど、その効
果は大である。
Effects of the Invention As explained above, according to the gas chromatograph according to the present invention, the fluid passage ports of the analyzer device and the sample conditioner device are directly connected, eliminating the need for sample piping, which reduces the temperature of the sample gas. In addition, the assembly work is simple and the number of parts such as joints can be reduced. In addition, the present invention incorporates a detector and a heater inside the sample valve, and wraps two columns around the outer periphery to form a unit. This eliminates the need for piping between the valve and the detector, making maintenance easier. do. In addition, the amplifier, temperature control device printed circuit board, connectors, etc. are housed inside the electric housing and are separated from the thermostatic oven, so there is less thermal influence from the thermostatic oven, improving the reliability of the equipment. , the effect is great.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明に係るガスクロマトグラフの一実施例を
示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of a gas chromatograph according to the present invention.

【図2】同ガスクロマトグラフをスタンションに取り付
けた状態を示す外観斜視図である。
FIG. 2 is an external perspective view showing the gas chromatograph attached to a stanchion.

【図3】サンプルコンディショナ装置の内部構造を示す
斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing the internal structure of the sample conditioner device.

【図4】ハウジングブロックの外観斜視図である。FIG. 4 is an external perspective view of the housing block.

【図5】図4のV−V線断面図である。FIG. 5 is a sectional view taken along the line V-V in FIG. 4;

【図6】図4のVI−VI線断面図である。FIG. 6 is a sectional view taken along the line VI-VI in FIG. 4;

【図7】マニホールドの底面図である。FIG. 7 is a bottom view of the manifold.

【図8】図1のVIII−VIII線断面図である。FIG. 8 is a sectional view taken along line VIII-VIII in FIG. 1;

【図9】ガスクロマトグラフの従来例を示す正面図であ
る。
FIG. 9 is a front view showing a conventional example of a gas chromatograph.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2  サンプルコンディショナ装置 3  アナライザ装置 20  ガスクロマトグラフ 31  ハウジングブロック 32  サンプルガス送出口 33  サンプルガスまたは標準ガス送出口34  サ
ンプルガス導入口 38  キャリアガス供給口 39  バイパスベント口 40  サンプルベント口 42  サンプルガス供給口 43  標準ガス供給口 47  切換スイッチ 50、51  ニードル弁 52、53  フィルタ 57  スチーム入口 58  スチーム出口 59、60  ロータメータ 70  アナライザケース 72  マニホールド 73  サンプルバルブ 74  恒温槽 75  アナライザボ−ド 76  減圧弁 77  トランス 80  検出器 87  第1のカラム 88  第2のカラム 90  ヒータ 91  キャリアガス導入口 92  サンプルガスまたは標準ガス導入口93  サ
ンプルガス送出口 100  エレキハウジング 101  プリント基板 106  107  コネクタ
2 Sample conditioner device 3 Analyzer device 20 Gas chromatograph 31 Housing block 32 Sample gas outlet 33 Sample gas or standard gas outlet 34 Sample gas inlet 38 Carrier gas supply port 39 Bypass vent port 40 Sample vent port 42 Sample gas supply port 43 Standard gas supply port 47 Changeover switch 50, 51 Needle valve 52, 53 Filter 57 Steam inlet 58 Steam outlet 59, 60 Rotameter 70 Analyzer case 72 Manifold 73 Sample valve 74 Constant temperature chamber 75 Analyzer board 76 Pressure reducing valve 77 Transformer 80 Detection Container 87 First column 88 Second column 90 Heater 91 Carrier gas inlet 92 Sample gas or standard gas inlet 93 Sample gas outlet 100 Electric housing 101 Printed circuit board 106 107 Connector

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  検出器およびヒータを内蔵したサンプ
ルバルブと、その周囲に巻装された第1、第2のカラム
を備えたアナライザユニットを内設した恒温槽を中央に
立設し、その周囲下方にアナライザボ−ド、減圧弁、ト
ランス等を配設した楕円球状体からなるアナライザケー
スと、プリント基板、コネクタ等を有して前記アナライ
ザケースの外周に突設された円筒状のエレキハウジング
と、キャリアガス導入口、サンプルガスまたは標準ガス
導入口およびサンプルガス送出口を有し前記アナライザ
ケースの底部開口に嵌挿されたマニホールドと、前記マ
ニホールドの下面に密接固定されるハウジングブロック
とを具備してなり、前記ハウジングブロックには、サン
プルガス供給口、標準ガス供給口、キャリアガス供給口
、バイパスベント口、サンプルベント口、スチーム入口
、スチーム出口と、前記マニホールドのキャリアガス導
入口、サンプルガスまたは標準ガス導入口およびサンプ
ルガス送出口にそれぞれ連通するキャリアガス送出口、
サンプルガスまたは標準ガス送出口およびサンプルガス
導入口と、これらの口を連通する連通路が形成され、ま
た前記連通路の途中にはフィルタ、ロータメータ、ニー
ドル弁、切換スイッチが配設されていることを特徴とす
るガスクロマトグラフ。
[Claim 1] A thermostat containing a sample valve with a built-in detector and a heater, and an analyzer unit with first and second columns wrapped around it is erected in the center; An analyzer case consisting of an elliptical spherical body with an analyzer board, a pressure reducing valve, a transformer, etc. arranged below, and a cylindrical electric housing having a printed circuit board, connectors, etc. and protruding from the outer periphery of the analyzer case. , a manifold having a carrier gas inlet, a sample gas or standard gas inlet, and a sample gas outlet and fitted into the bottom opening of the analyzer case, and a housing block closely fixed to the lower surface of the manifold. The housing block has a sample gas supply port, a standard gas supply port, a carrier gas supply port, a bypass vent port, a sample vent port, a steam inlet, a steam outlet, and a carrier gas inlet of the manifold, a sample gas a carrier gas outlet that communicates with the standard gas inlet and sample gas outlet, respectively;
A communication path is formed that communicates the sample gas or standard gas outlet and the sample gas inlet, and a filter, a rotameter, a needle valve, and a changeover switch are provided in the middle of the communication path. A gas chromatograph featuring:
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