JPH0425046A - ウェハースケール集積回路 - Google Patents
ウェハースケール集積回路Info
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- integrated circuit
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Landscapes
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Transceivers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は半導体装置に関し、特にウェハー内での信号の
授受に無線回線を用いたウェハースケール集積回路に関
する。
授受に無線回線を用いたウェハースケール集積回路に関
する。
(従来の技術)
近年シリコンULSIの進展は著しく 1cm角程度の
チップに64M〜256MbitのDRAMを形成する
ばかりでなく、直径6インチ〜8インチのシリコンウェ
ハーの全面に各種回路を形成し、1枚のウェハーが1つ
のシステム(例えばスーパーコンピュータあるいは超大
規模メモリーを構成するといったウェハースケール集積
回路の研究開発も活発に行なわれている。このような例
はエレクトロニックデザイン誌1989年10月26日
号の51ページから54ページにわたってr Wafe
r−8cale Integration Arriv
es IN ”Disk”FormJと題して紹介され
ている。
チップに64M〜256MbitのDRAMを形成する
ばかりでなく、直径6インチ〜8インチのシリコンウェ
ハーの全面に各種回路を形成し、1枚のウェハーが1つ
のシステム(例えばスーパーコンピュータあるいは超大
規模メモリーを構成するといったウェハースケール集積
回路の研究開発も活発に行なわれている。このような例
はエレクトロニックデザイン誌1989年10月26日
号の51ページから54ページにわたってr Wafe
r−8cale Integration Arriv
es IN ”Disk”FormJと題して紹介され
ている。
第3図は従来例のウェハースケール集積回路の概略を示
す図である。同図において直径15cm(6インチ)の
シリコンウェハー」二に1辺が1.5cmの単位機能ブ
ロックが44個形成されている。各ブロック間は二酸化
ケイ素、チッ化ケイ素などの比誘電率ε、=4程度の媒
質」二または媒質中に設けられた金属、配線によって接
続されている。例えば図中A点から0点までの配線長は
直交する配線のみを使った場合13.5cmとなる。
す図である。同図において直径15cm(6インチ)の
シリコンウェハー」二に1辺が1.5cmの単位機能ブ
ロックが44個形成されている。各ブロック間は二酸化
ケイ素、チッ化ケイ素などの比誘電率ε、=4程度の媒
質」二または媒質中に設けられた金属、配線によって接
続されている。例えば図中A点から0点までの配線長は
直交する配線のみを使った場合13.5cmとなる。
(発明が解決しようとする課題)
第3図の従来例においてA点から0点まで信号が伝わる
時間Ta7E計算すると、 Ta=TM+To、、、、、、、、、、、、、、、、、
、、、、、、、、、、(1)となる。ここでTMはメデ
ィア遅延で媒質中を信号が伝1般する時間、Toは配線
容量を充電する時間である。まずTMを見積ると、ε、
=4の中の電磁波の伝搬速度■、は であるから(coは真空中の光の速さ)、v =1.5
X101°cm/secとなる。したがって13.5c
mを伝1般するのに要する時間は900psecとなる
。さらに配線容量を1cm当り1pF l、、論理振幅
VL=5V、駆動電流IL=1mAとするとQ=ILT
C= CVLよりTC= 68nsecとなりTa=6
9nsecとなる。
時間Ta7E計算すると、 Ta=TM+To、、、、、、、、、、、、、、、、、
、、、、、、、、、、(1)となる。ここでTMはメデ
ィア遅延で媒質中を信号が伝1般する時間、Toは配線
容量を充電する時間である。まずTMを見積ると、ε、
=4の中の電磁波の伝搬速度■、は であるから(coは真空中の光の速さ)、v =1.5
X101°cm/secとなる。したがって13.5c
mを伝1般するのに要する時間は900psecとなる
。さらに配線容量を1cm当り1pF l、、論理振幅
VL=5V、駆動電流IL=1mAとするとQ=ILT
C= CVLよりTC= 68nsecとなりTa=6
9nsecとなる。
このように従来の回路では6インチウェハー上で対角線
上の反対側に信号を伝えるのに69nsecもかかって
いた。現在スーパーコンピュータでは数n5ecクラス
のクロックが用いられているので、69nsecの遅延
はシステム設計上致命的な障害となっていた。
上の反対側に信号を伝えるのに69nsecもかかって
いた。現在スーパーコンピュータでは数n5ecクラス
のクロックが用いられているので、69nsecの遅延
はシステム設計上致命的な障害となっていた。
本発明の目的は前記欠点を除去しウェハースケール集積
回路における信号遅延を飛躍的に短縮するウェハースケ
ール集積回路を提供することにある。
回路における信号遅延を飛躍的に短縮するウェハースケ
ール集積回路を提供することにある。
(課題を解決するための手段)
」1記目的を達成するために本発明のウェハースケール
集積回路は大口径半導体ウェハー全体が1つの集積回路
として機能する・ウェハースケール集積回路において、
ウェハー内の距m1(:の離れたブロック間の信号の授
受を空間伝搬するマイクロ波ミリ波を介して行うために
、アンテナ付きマイクロ波ミリ波送受信モジュールおよ
び変復調器が、該大口径半導体ウェハー上に複数設けら
れていることを特徴としている。
集積回路は大口径半導体ウェハー全体が1つの集積回路
として機能する・ウェハースケール集積回路において、
ウェハー内の距m1(:の離れたブロック間の信号の授
受を空間伝搬するマイクロ波ミリ波を介して行うために
、アンテナ付きマイクロ波ミリ波送受信モジュールおよ
び変復調器が、該大口径半導体ウェハー上に複数設けら
れていることを特徴としている。
(作用)
このような本発明においてはウェハー内の距離の離れた
ブロック間の信号の授受に電磁波を使っている。この場
合の遅延をTa′とするとTa’=TM”+TMODE
M ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
(3)と表すことができる。(3)式においてTM’は
電磁波が空間を伝搬するのに要する時間、’11”MO
DEMは信号の変復調に要する時間である。
ブロック間の信号の授受に電磁波を使っている。この場
合の遅延をTa′とするとTa’=TM”+TMODE
M ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
(3)と表すことができる。(3)式においてTM’は
電磁波が空間を伝搬するのに要する時間、’11”MO
DEMは信号の変復調に要する時間である。
まずTM’を求めると、電磁波は直進するので第1図に
示されるように点A−C間の距離は9.6cmとなる。
示されるように点A−C間の距離は9.6cmとなる。
この9.6cmを伝搬するのに要する時間TM’は、空
気の8よ、=1であるから320psecである。また
変復調に要する時間は高々2nsecであるのでTa+
は2.5nsec以下となり、したがってTaに比べて
1/28に飛躍的に短イ宿できる。
気の8よ、=1であるから320psecである。また
変復調に要する時間は高々2nsecであるのでTa+
は2.5nsec以下となり、したがってTaに比べて
1/28に飛躍的に短イ宿できる。
(実施例)
第2図は本発明の一実施例のウェハースケール集積回路
を示す図で上はウェハーの平面図、下は一部分を拡大し
た斜視図である。直径6インチ(約15cm)のシリコ
ン基板1上に44個の1.5cm角の単位機能ブロック
2ガ設けられている。このシリコン基板1−の4隅およ
び中央に合わせて5個のアンテナ付ミリ波送受信モジュ
ール3が設けられている。このモジュール3は裏面に接
地金属20を有する半絶縁性GaAs基板(チップ)1
2J:、に構成され、変復調器6、高出力増幅器5、低
雑音増幅器4、送受切換スイッチ7およびマイクロスト
リップダイポールアンテナ8を備えている。50GHz
の周波数を用いた場合、ε、、=12,7のGaAs上
の2分の1波長は約1mmとなり、従ってアンテナの幅
Wも約1mmとなる。このモジュール3はシリコン基板
1に接着され、シリコン基板]二の回路とはボンディン
グ線工1によって電気的に接続されている。
を示す図で上はウェハーの平面図、下は一部分を拡大し
た斜視図である。直径6インチ(約15cm)のシリコ
ン基板1上に44個の1.5cm角の単位機能ブロック
2ガ設けられている。このシリコン基板1−の4隅およ
び中央に合わせて5個のアンテナ付ミリ波送受信モジュ
ール3が設けられている。このモジュール3は裏面に接
地金属20を有する半絶縁性GaAs基板(チップ)1
2J:、に構成され、変復調器6、高出力増幅器5、低
雑音増幅器4、送受切換スイッチ7およびマイクロスト
リップダイポールアンテナ8を備えている。50GHz
の周波数を用いた場合、ε、、=12,7のGaAs上
の2分の1波長は約1mmとなり、従ってアンテナの幅
Wも約1mmとなる。このモジュール3はシリコン基板
1に接着され、シリコン基板]二の回路とはボンディン
グ線工1によって電気的に接続されている。
(発明の効果)
このような本発明の実施例においてはウェハースケール
集積回路の距離の離れたブロック間をミノ波を用いた無
線通信で結ぶため、配線の充放電時間による遅延および
誘電体による遅延を除去することができる。ミリ波モジ
ュールの送信および受信に係る遅延はモジュールの寸法
が高々2mm角以内であること、さらに化合物半導体を
用いることにより信号処理時間を短くできることなどに
より、各々:Lnsec以内である。また電磁波が8r
=1の空中を伝達することならびに直進することから、
メディア遅延も約173に減することができる。このた
めウェハー内の最も遠いブロック間の信号伝搬遅延は6
9nsecから2.5nsecへと飛躍的に改善される
。
集積回路の距離の離れたブロック間をミノ波を用いた無
線通信で結ぶため、配線の充放電時間による遅延および
誘電体による遅延を除去することができる。ミリ波モジ
ュールの送信および受信に係る遅延はモジュールの寸法
が高々2mm角以内であること、さらに化合物半導体を
用いることにより信号処理時間を短くできることなどに
より、各々:Lnsec以内である。また電磁波が8r
=1の空中を伝達することならびに直進することから、
メディア遅延も約173に減することができる。このた
めウェハー内の最も遠いブロック間の信号伝搬遅延は6
9nsecから2.5nsecへと飛躍的に改善される
。
各モジュール間での混信を避けるために、拡散スヘクト
ラム変調方式や、その他のマツチドフィルタ方式、アダ
プティブアンテナ方式を採用することも可能である。ま
た本実施例においてはGaAsチップをシリコン基板に
はりつけているが、有機金属気相成長法(MOVPE)
によりSi基板に直接GaAsを選択結晶成長すること
ももちろん可能でありコープレーナ回路を用いれば送受
信モジュールを含めて完全モノリシック化することも可
能である。さらに本実施例では6インチのシリコン基板
を用いている力へ基板の大きさは6インチ限らず、さら
に基板の種類もGaAs、 InP、 GaP等の化合
物半導体を用いても良いことはいうまでもない。
ラム変調方式や、その他のマツチドフィルタ方式、アダ
プティブアンテナ方式を採用することも可能である。ま
た本実施例においてはGaAsチップをシリコン基板に
はりつけているが、有機金属気相成長法(MOVPE)
によりSi基板に直接GaAsを選択結晶成長すること
ももちろん可能でありコープレーナ回路を用いれば送受
信モジュールを含めて完全モノリシック化することも可
能である。さらに本実施例では6インチのシリコン基板
を用いている力へ基板の大きさは6インチ限らず、さら
に基板の種類もGaAs、 InP、 GaP等の化合
物半導体を用いても良いことはいうまでもない。
第1図は本発明の詳細な説明する図、第2図は本発明の
一実施例を説明する図、第3図は従来例を示す図である
。 図において 1・・・シリコンウェハー、2・・・単位機能ブロック
、3・・・アンテナ付きミリ波送受信モジュール、4・
・・低雑音増幅器、5・・・高出力増幅器、6・・・変
復調器、7・・・送受切替スイッチ、8・・・マイクロ
ストリップダイポールアンテナ、11・・・ボンディン
グ線、工2・・・GaAsチップ、20・・・接地金属 である。
一実施例を説明する図、第3図は従来例を示す図である
。 図において 1・・・シリコンウェハー、2・・・単位機能ブロック
、3・・・アンテナ付きミリ波送受信モジュール、4・
・・低雑音増幅器、5・・・高出力増幅器、6・・・変
復調器、7・・・送受切替スイッチ、8・・・マイクロ
ストリップダイポールアンテナ、11・・・ボンディン
グ線、工2・・・GaAsチップ、20・・・接地金属 である。
Claims (1)
- 大口径半導体ウェハー全体が1つの集積回路として機
能するウェハースケール集積回路において、ウェハー内
の距離の離れたブロック間の信号の授受を空間伝搬する
マイクロ波ミリ波を介して行うために、アンテナ付きマ
イクロ波ミリ波送受信モジュールおよび変復調器が該大
口径半導体ウェハー上に複数設けられていることを特徴
とするウェハースケール集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2126160A JP2621577B2 (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | ウェハースケール集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2126160A JP2621577B2 (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | ウェハースケール集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0425046A true JPH0425046A (ja) | 1992-01-28 |
JP2621577B2 JP2621577B2 (ja) | 1997-06-18 |
Family
ID=14928165
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2126160A Expired - Fee Related JP2621577B2 (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | ウェハースケール集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2621577B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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WO2005074029A1 (ja) * | 2004-01-28 | 2005-08-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | モジュール及びこれを用いた実装構造体 |
JP2007088768A (ja) * | 2005-09-21 | 2007-04-05 | Mitsubishi Electric Corp | 高周波モジュール装置 |
JP2008135018A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-06-12 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
US7454229B2 (en) | 2004-07-06 | 2008-11-18 | Seiko Epson Corporation | Electronic apparatus and wireless communication terminal |
US7590397B2 (en) | 2003-09-10 | 2009-09-15 | Sony Corporation | Signal processing apparatus and signal processing method, program, and recording medium |
US7720453B2 (en) | 2005-03-23 | 2010-05-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device |
US8396425B2 (en) | 2006-10-31 | 2013-03-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
RU2507631C2 (ru) * | 2009-01-07 | 2014-02-20 | Сони Корпорейшн | Полупроводниковый прибор, способ изготовления полупроводникового прибора, устройство передачи сигналов миллиметрового диапазона через диэлектрик, способ изготовления устройства и система передачи сигналов миллиметрового диапазона через диэлектрик |
-
1990
- 1990-05-16 JP JP2126160A patent/JP2621577B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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GB2367691A (en) * | 2000-09-29 | 2002-04-10 | Roke Manor Research | Porcessor array with inter processor radio links |
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CN100429773C (zh) * | 2004-01-28 | 2008-10-29 | 松下电器产业株式会社 | 模块及使用它的安装构造体 |
US7859855B2 (en) | 2004-01-28 | 2010-12-28 | Panasonic Corporation | Module and mounted structure using the same |
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JP4652188B2 (ja) * | 2005-09-21 | 2011-03-16 | 三菱電機株式会社 | 高周波モジュール装置 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2621577B2 (ja) | 1997-06-18 |
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