JPH04210472A - Thin film forming device - Google Patents

Thin film forming device

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JPH04210472A
JPH04210472A JP40060590A JP40060590A JPH04210472A JP H04210472 A JPH04210472 A JP H04210472A JP 40060590 A JP40060590 A JP 40060590A JP 40060590 A JP40060590 A JP 40060590A JP H04210472 A JPH04210472 A JP H04210472A
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JP
Japan
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electrode
target
vapor deposition
thin film
sputtering
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JP40060590A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiromoto Ito
弘基 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To eliminate the oozing out of a melted vapor deposition material, to stably operate the device, to prevent corrosion and to improve ionization efficiency by generating a glow discharge between a target and a sputtering electrode and accelerating the formed ion. CONSTITUTION:This thin film forming device is formed with a target 22 of vapor deposition material, a sputtering electrode 23 having a through-hole 24, a vessel 25 for housing the material, a device 27 for introducing a gas into the vessel, a power source 36 and an accelerator 30. A voltage is impressed between the target 22 and the electrode 23 from the power source 36, and a glow discharge is generated in between. The accelerator 30 is arranged on the opposite side of the target 22, opposed to the electrode 23 and has a potential difference from the electrode 23.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

[00011 [00011

【産業上の利用分野]この発明は、薄膜を形成する装置
、特にプラズマを用いた物理的蒸着法(PVD法)によ
り高品質の薄膜を蒸着形成する薄膜形成装置のイオン源
装置に関するものである。 [0002] 【従来の技術】従来から半導体膜、光学薄膜、磁性膜、
絶縁膜などの高品質の薄膜がスパッタリング法もしくは
低エネルギーイオンビームアシスト蒸着法により形成さ
れている。図2は低エネルギー(20eV〜500eV
)のイオンを用いる後者の方法による従来の薄膜形成装
置を模式的に示す断面図であり、イオン源装置の部分の
みを示す。 図において、1は上方図示外の基板上に形成される薄膜
の材料である蒸着物質、2は蒸着物質1の蒸気を発生さ
せる蒸気発生源、3は蒸着物質1を収容する密閉形のる
つぼ、4はるつぼ3の上部に設けられたオリフィス、5
はるつぼ3を加熱するヒーターであり、るつぼ3、オリ
フィス4およびヒーター5で蒸気発生源2を構成してい
る。 [0003]6はるつぼ3の上方に設けられて、蒸着物
質1の蒸気をイオン化するイオン化装置、7は電子を放
出するカソード、8はカソード7から電子・を引き出す
アノードであり、カソード7とアノード8でイオン化装
置6を構成している。9はイオン化装置6の上方に設け
られて、装@6によってイオン化された蒸着物質1を電
界で加速する加速装置、10はアースに対して正の電位
が与えられた加速電極、11はアース電位になったアー
ス電極であり、加速電極10とアース電極11とで加速
装置9を構成している。以上が基板とともに図示しない
真空槽内に収納されている。 [0004]次に動作について説明する。まず、真空槽
内を10− ’ Torr程度以下の真空度になるまで
図示しない真空排気系により排気した後、ヒーター5で
るつぼ3を加熱すると、るつぼ3内の蒸着物質1が蒸発
し、オリフィス4を通ってイオン化装置6中へ噴出する
。そこで蒸着物質1の蒸気の一部が、カソード7から放
出された電子と衝突してイオン化される。イオン化され
た蒸着物質1の蒸気は、加速電極10とアース電極11
により形成される電界で加速され、イオン化されない蒸
気とともに基板に衝突してその表面に薄膜を形成する。 [0005]
[Industrial Application Field] The present invention relates to an ion source device for a thin film forming apparatus, particularly for forming a high quality thin film by physical vapor deposition (PVD) using plasma. . [0002] [Prior Art] Conventionally, semiconductor films, optical thin films, magnetic films,
High quality thin films such as insulating films are formed by sputtering or low energy ion beam assisted deposition. Figure 2 shows low energy (20eV to 500eV
) is a cross-sectional view schematically showing a conventional thin film forming apparatus using the latter method using ions, and only the ion source device is shown. In the figure, 1 is a vapor deposition material that is a material of a thin film formed on a substrate not shown above, 2 is a vapor generation source that generates vapor of the vapor deposition material 1, 3 is a closed crucible containing the vapor deposition material 1, 4 is an orifice provided at the top of the crucible 3, 5
This is a heater that heats the crucible 3, and the crucible 3, orifice 4, and heater 5 constitute a steam generation source 2. [0003] 6 is an ionization device provided above the crucible 3 to ionize the vapor of the vapor deposition substance 1; 7 is a cathode that emits electrons; 8 is an anode that extracts electrons from the cathode 7; 8 constitutes an ionization device 6. Reference numeral 9 denotes an accelerator which is provided above the ionization device 6 and accelerates the vapor deposition material 1 ionized by the device @6 using an electric field, 10 is an acceleration electrode given a positive potential with respect to the ground, and 11 is a ground potential. The acceleration electrode 10 and the earth electrode 11 constitute an accelerator 9. The above components are housed together with the substrate in a vacuum chamber (not shown). [0004] Next, the operation will be explained. First, the inside of the vacuum chamber is evacuated by a vacuum evacuation system (not shown) to a degree of vacuum of about 10-' Torr or less, and then the crucible 3 is heated with the heater 5, so that the vapor deposited substance 1 in the crucible 3 evaporates, and the orifice 4 through which it is ejected into the ionizer 6. There, part of the vapor of the vapor deposition material 1 collides with the electrons emitted from the cathode 7 and is ionized. The vapor of the ionized vapor deposition substance 1 is transferred to an accelerating electrode 10 and a grounding electrode 11.
It is accelerated by the electric field formed by the vapor and collides with the substrate together with non-ionized vapor, forming a thin film on the surface. [0005]

【発明が解決しようとする課題】従来の薄膜形成装置は
以上のように構成されているので、シリコンやアルミニ
ウムなどのるつぼ材料との濡れ性のよい蒸着物質を使う
と、熔融した蒸着物質がオリフィスまで這い上がったり
、さらにるつぼ外壁面に沿ってしみ出したりする現象が
おこり、イオン源装置を安定的に稼動させることができ
ない。また一般的に熔融した蒸着物質はイオン源装置を
構成する材料と激しい反応性を示すため、蒸着物質に濡
れた部分が腐食されて寿命が極端に短かくなるという問
題点があった。さらに、蒸着物質のイオンを加速してそ
のエネルギーを制御することにより薄膜の性能が向上す
るが、上記のような低エネルギーのイオンを用いた蒸着
法では、生成されるイオンが蒸気中に占める割合(イオ
ン化効率)がせいぜい5%以下であり、利用できるイオ
ンの割合が小さいので、イオンのエネルギーによる薄膜
の性能向上に限界があった。 [0006]また、スパッタリングにより成膜する方法
があるが、この場合は蒸着物質の粒子に対して加速が行
なわれず、したがって蒸着物質のエネルギーによる薄膜
の性能向上ができないなどの問題点があった。この発明
は上記のような問題点を解消するためになされたもので
、濡れ性のよい蒸着物質を使用しても安定的に稼動でき
、蒸着物質による腐食を防止できるとともに、イオン化
効率の高い薄膜形成装置を得ることを目的とし、また、
一定量のイオンが基板へ照射するのを保持しながらその
加速の度合いを制御できる薄膜形成装置を得ることを目
的とする。 [0007]
[Problem to be Solved by the Invention] Since the conventional thin film forming apparatus is constructed as described above, when a vapor deposition substance having good wettability with the crucible material such as silicon or aluminum is used, the molten vapor deposition substance can flow into the orifice. As a result, the ion source device cannot be stably operated due to the phenomenon that the ion source creeps up to the surface or seeps out along the outer wall surface of the crucible. Furthermore, since the molten vapor deposition material generally exhibits strong reactivity with the materials constituting the ion source device, there is a problem in that the parts wetted by the vapor deposition material are corroded and the service life is extremely shortened. Furthermore, the performance of thin films is improved by accelerating the ions of the vapor deposition material and controlling their energy, but in the vapor deposition method using low-energy ions such as the one described above, the proportion of the generated ions in the vapor increases. Since the ionization efficiency (ionization efficiency) is at most 5% or less, and the percentage of usable ions is small, there is a limit to how thin film performance can be improved by ion energy. [0006]Also, there is a method of forming a film by sputtering, but in this case, the particles of the vapor deposition material are not accelerated, so there are problems such as the inability to improve the performance of the thin film using the energy of the vapor deposition material. This invention was made in order to solve the above-mentioned problems.It is possible to operate stably even when using a deposited substance with good wettability, to prevent corrosion caused by the deposited substance, and to create a thin film with high ionization efficiency. The purpose is to obtain a forming device, and
The object of the present invention is to obtain a thin film forming apparatus that can control the degree of acceleration while maintaining a constant amount of ions irradiated onto a substrate. [0007]

【課題を解決するための手段】この発明に係る薄膜形成
装置は、蒸着物質から成るターゲットと透孔が形成され
たスパッタリング電極とを対向させるとともに、ターゲ
ットとは反対側でスパッタリング電極に対向して加速装
置を配置し、ターゲットとスパッタリング電極との間で
グロー放電を生じさせるようにしたものであり、さらに
、加速装置を互いに電位の異なる引出電極と加速制御電
極とで構成したものである。 [0008]
[Means for Solving the Problems] A thin film forming apparatus according to the present invention includes a target made of a vapor deposition material and a sputtering electrode in which a through hole is formed, and a target made of a vapor deposition material facing the sputtering electrode on the opposite side of the target. An accelerator is arranged to generate a glow discharge between the target and the sputtering electrode, and the accelerator is composed of an extraction electrode and an acceleration control electrode that have different potentials from each other. [0008]

【作用】この発明における薄膜形成装置は、グロー放電
を生成してターゲットの蒸着物質をスパッタし、プラズ
マ中のイオンを加速して基板へ照射する。また、加速装
置の引出電極でイオンをイオン化装置から引き出して加
速した後、加速制御電極でイオンの加速制御を行なう。 [0009]
[Operation] The thin film forming apparatus according to the present invention generates a glow discharge to sputter the vapor deposition material of the target, accelerates ions in the plasma, and irradiates the substrate with the accelerated ions. Further, after the ions are extracted from the ionization device and accelerated by the extraction electrode of the accelerator, the acceleration control of the ions is performed by the acceleration control electrode. [0009]

【実施例】以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1はこの発明の一実施例による薄膜形成装置を
模式的に示す断面図であり、図において、21は上方図
示外の基板上に形成される薄膜の材料である蒸着物質を
イオン化するイオン化装置、22は蒸着物質から成るタ
ーゲット、23はターゲット22に対向して配置された
スパッタリング電極、24はスパッタリング電極23に
多数形成された第1の透孔、25はターゲット22およ
びスパッタリング電極23を収容する容器、26はター
ゲット22と容器25との間を絶縁する第1の絶縁部で
あり、22〜26でイオン化装置21を構成している。 [0010127は容器25内へガスを導入するガス導
入装置、28は容器25の周囲に設けられた磁界発生装
置で、永久磁石または直流コイルによって構成され、容
器25内に、図において上下方向に磁界を発生させるよ
うになっている。29はターゲット22の、図において
下方に設けられた磁石で、ターゲット22の近傍でその
表面に沿った方向の成分の磁界を発生させるようになっ
ている。 [0011130はターゲット22とは反対側でスパッ
タリング電極23に対向して設けられた加速装置、31
はスパッタリング電極23に対向して配置された引出電
極、32は引出電極31に多数形成された第2の透孔、
33は加速制御電極としてのアース電極で、接地されて
おり、図において下方からスパッタリング電極23、引
出電極31、アース電極33の順に配置されている。3
4はアース電極33に多数形成された第3の透孔であり
、31〜34で加速装置30を構成している。35はス
パッタリング電極23、引出電極31およびアース電極
33を互いに絶縁する第2の絶縁部である。 [001,2136はターゲット22とスパッタリング
電極23の間に電圧を印加する電源装置で、高周波電圧
または直流電圧を発生する。37.38はスパッタリン
グ電極23と加速装置30の間に電位差を与える第1、
第2の直流電源で、第1の直流電源37により引出電極
31が、そして第2の直流電源38によりアース電極3
3がスパッタリング電極23に対してそれぞれ負の電位
が与えられ、引出電極31とアース電極33とは互いに
異なる電位になっている。この実施例では第2の直流電
源38の電圧を第1の直流電源37の電圧よりも低くし
ている。 [0013]次に動作について説明する。ガス導入装置
27から容器25内へガスを導入し、電源装置36によ
りターゲット22とスパッタリング電極23との間に高
周波電圧もしくは直流電圧を印加する。ターゲット22
とスパッタリング電極23との間に図中39で示すグロ
ー放電を発生させ、ターゲット22の蒸着物質をスパッ
タすると、導入したガスのプラズマが発生するとともに
、スパッタされた蒸着物質もその中で一部イオン化され
る。 [0014]この実施例ではグロー放@39のプラズマ
密度を増加させる磁界発生装置28を設けているので、
電子がらせん運動してガスおよび蒸着物質の原子の電離
が促進され、さらに効率よくイオン化を行なうことがで
きる。また、ターゲット22の下方に磁石29を設けて
いるので、ターゲット22近傍で電子がらせん運動し、
プラズマが安定化して効率良く蒸着物質のスパッタリン
グができる効果がある。 [0015]このようにし7てイオン化装置21内で生
成した蒸着物質およびガスのイオンは、スパッタリング
電極23に形成された第1の透孔24を通って、図にお
いて上方へ移動する。蒸着物質として多く用いられる金
属では正電荷を持つイオンとなっているので、スパッタ
リング電極23に対して負電位の加速装@30により加
速され、第2、第3の透孔32.34を通って基板に達
しその表面に薄膜を形成する。 [0016]このとき、第1の直流電源37でスパッタ
リング電極23に対して負にバイアスされた引出電極3
1により引き出されたイオンはこの間で一旦加速される
。第1の直流電源37の電圧は第2の直流電源の電圧よ
りも高いので、引出電極31はアース電極33よりも電
位が低くなっており、加速されて第2の透孔32を通過
したイオンは、引出電極31とアース電極33の間で減
速される。結局、イオンはスパッタリング電極23とア
ース電極33の間の電位差(加速電圧)に応じた運動エ
ネルギーが与えられて、第3の透孔Mから基板へ入射す
ることになる。 [0017]スパツタリング電極23と引出電極31の
間の電圧をある一定値にすれば、加速電圧を変化させて
も、引き出されるイオンはあるレベル以−ヒの量が確保
できる。したがって、低エネルギーイオンの特性を生か
した薄膜を形成したいような場合、必要なイオン量を確
保しつつ、低い加速電圧で成膜を行なうことが可能であ
る。 また、この実施例では引出電極31の電位が、接地され
ている基板に対して常に負にバイアスされているので、
グロー放電39が生じている部分から飛び出してくる電
子が基板へ入射するのを抑制する効果がある。 [0018]なお、上記実施例では磁界発生装置28、
磁石29、引出電極31を設けたが、これらが設けられ
ていないものにも適用でき、そのために生じる効率低下
は導入するガスの圧力を高めることで補うことができる
。また、正電荷を持つイオンに対応できるようにスパッ
タリング電極23に対して加速装置30の電位を負にし
たが、負電荷を持つイオンを扱うために上記電位を正に
してもよい。 [00191 【発明の効果]以上のように、この発明によればターゲ
ットとスパッタリング電極の間でグロー放電を生じさせ
、そこで生じたイオンを加速するよう構成し、また加速
装置を、互いに電位の異なる引出電極と加速制御電極と
で構成したので、るつぼで蒸着物質を熔融する必要がな
く、したがって濡れ性のよい蒸着物質を使用しても、熔
融蒸着物質のしみ出しなどなく安定的に稼動でき、また
グロー放電部のプラズマからイオンを引き出して利用で
き、したがって、イオン化効率を高くできる。さらに、
引出allで引き出したイオンを加速制御電極で加速制
御することにより、一定量のイオンを保持しながらその
加速の度合いを制御できる効果がある。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a thin film forming apparatus according to an embodiment of the present invention, and in the figure, reference numeral 21 is an ionization device for ionizing a vapor deposition substance that is a material of a thin film to be formed on a substrate not shown above. , 22 is a target made of a vapor deposition material, 23 is a sputtering electrode placed opposite to the target 22, 24 is a first through hole formed in a large number in the sputtering electrode 23, and 25 is a housing for accommodating the target 22 and the sputtering electrode 23. The container 26 is a first insulating part that insulates between the target 22 and the container 25, and 22 to 26 constitute the ionization device 21. [0010127 is a gas introduction device that introduces gas into the container 25, and 28 is a magnetic field generating device provided around the container 25, which is composed of a permanent magnet or a DC coil, and generates a magnetic field inside the container 25 in the vertical direction in the figure. is designed to occur. A magnet 29 is provided below the target 22 in the figure, and is designed to generate a magnetic field component in the direction along the surface of the target 22 in the vicinity of the target 22. [0011130 is an accelerator provided facing the sputtering electrode 23 on the opposite side of the target 22, 31
32 is an extraction electrode arranged opposite to the sputtering electrode 23, and 32 is a second through hole formed in large numbers in the extraction electrode 31.
Reference numeral 33 designates a ground electrode as an acceleration control electrode, which is grounded and arranged in the order of sputtering electrode 23, extraction electrode 31, and ground electrode 33 from the bottom in the figure. 3
Reference numeral 4 designates a large number of third through holes formed in the ground electrode 33, and 31 to 34 constitute the accelerator 30. 35 is a second insulating part that insulates the sputtering electrode 23, the extraction electrode 31, and the ground electrode 33 from each other. [001, 2136 is a power supply device that applies a voltage between the target 22 and the sputtering electrode 23, and generates a high frequency voltage or a DC voltage. 37 and 38 are first ones that provide a potential difference between the sputtering electrode 23 and the accelerator 30;
With the second DC power source, the first DC power source 37 connects the extraction electrode 31, and the second DC power source 38 connects the ground electrode 3.
3 is given a negative potential with respect to the sputtering electrode 23, and the extraction electrode 31 and the ground electrode 33 are at different potentials. In this embodiment, the voltage of the second DC power supply 38 is lower than the voltage of the first DC power supply 37. [0013] Next, the operation will be explained. Gas is introduced into the container 25 from the gas introduction device 27, and a high frequency voltage or a DC voltage is applied between the target 22 and the sputtering electrode 23 by the power supply device 36. target 22
When the glow discharge shown at 39 in the figure is generated between the target 22 and the sputtering electrode 23, and the vapor deposition material of the target 22 is sputtered, a plasma of the introduced gas is generated, and the sputtered vapor deposition material is also partially ionized. be done. [0014] This embodiment is provided with a magnetic field generator 28 that increases the plasma density of the glow emission @39.
The spiral movement of the electrons promotes the ionization of atoms in the gas and the vapor deposited material, allowing more efficient ionization. In addition, since the magnet 29 is provided below the target 22, the electrons move in a spiral manner near the target 22.
This has the effect of stabilizing the plasma and efficiently sputtering the deposition material. [0015] The ions of the vapor deposition material and gas generated in the ionization device 21 in this manner 7 pass through the first through hole 24 formed in the sputtering electrode 23 and move upward in the figure. Since metals that are often used as vapor deposition materials have positively charged ions, they are accelerated by the accelerator @30 with a negative potential with respect to the sputtering electrode 23, and pass through the second and third through holes 32 and 34. It reaches the substrate and forms a thin film on its surface. [0016] At this time, the extraction electrode 3 negatively biased with respect to the sputtering electrode 23 by the first DC power supply 37
The ions extracted by 1 are accelerated once during this period. Since the voltage of the first DC power supply 37 is higher than the voltage of the second DC power supply, the extraction electrode 31 has a lower potential than the ground electrode 33, and the ions that have been accelerated and passed through the second through hole 32. is decelerated between the extraction electrode 31 and the ground electrode 33. Eventually, the ions are given kinetic energy according to the potential difference (acceleration voltage) between the sputtering electrode 23 and the earth electrode 33, and enter the substrate through the third through hole M. [0017] If the voltage between the sputtering electrode 23 and the extraction electrode 31 is set to a certain constant value, even if the accelerating voltage is changed, a certain amount of ions can be extracted. Therefore, when it is desired to form a thin film that takes advantage of the characteristics of low-energy ions, it is possible to form the film at a low accelerating voltage while ensuring the necessary amount of ions. Furthermore, in this embodiment, the potential of the extraction electrode 31 is always negatively biased with respect to the grounded substrate.
This has the effect of suppressing electrons ejected from the portion where the glow discharge 39 is occurring from entering the substrate. [0018] In the above embodiment, the magnetic field generator 28,
Although the magnet 29 and the extraction electrode 31 are provided, the present invention can also be applied to a device without these, and the resulting decrease in efficiency can be compensated for by increasing the pressure of the introduced gas. Furthermore, although the potential of the accelerator 30 is made negative with respect to the sputtering electrode 23 so as to be able to handle positively charged ions, the potential may be made positive in order to handle negatively charged ions. [00191] [Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, a glow discharge is generated between a target and a sputtering electrode, and the generated ions are accelerated. Since it is composed of an extraction electrode and an acceleration control electrode, there is no need to melt the vapor deposition material in a crucible, so even if a vapor deposition material with good wettability is used, stable operation is possible without the molten vapor deposition material seeping out. In addition, ions can be extracted from the plasma in the glow discharge section and used, thus increasing the ionization efficiency. moreover,
By controlling the acceleration of the ions extracted by the extraction all with the acceleration control electrode, there is an effect that the degree of acceleration can be controlled while retaining a certain amount of ions.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】この発明の一実施例による薄膜形成装置の断面
図である。
FIG. 1 is a sectional view of a thin film forming apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来の薄膜形成装置の断面図である。FIG. 2 is a sectional view of a conventional thin film forming apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

22  ターゲット 2:3  スパッタリング電極 24  第1の透孔 25  容器 27  ガス導入装置 30  加速装置 31  引出電極 32  第2の透孔 33  アース電極 34  第3の透孔 36  電源装置 37  第1の直流電源 38  第2の直流電源 39  グロー放電 22 Target 2:3 Sputtering electrode 24 First through hole 25 Container 27 Gas introduction device 30 Accelerator 31 Extraction electrode 32 Second through hole 33 Earth electrode 34 Third through hole 36 Power supply device 37 First DC power supply 38 Second DC power supply 39 Glow discharge

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】蒸着物質から成るターゲット、透孔が形成
され、上記ターゲットに対向して配置されたスパッタリ
ング電極、上記ターゲットとスパッタリング電極とを収
容する容器、この容器内へガスを導入するガス導入装置
、上記ターゲットとスパッタリング電極との間に電圧を
印加してその間でグロー放電を生じさせる電源装置、お
よび、上記ターゲットとは反対側で上記スパッタリング
電極に対向して配置され、上記スパッタリング電極に対
して電位差を有する加速装置を備えた薄膜形成装置。
1. A target made of a vapor deposition material, a sputtering electrode having a through hole formed therein and disposed facing the target, a container accommodating the target and the sputtering electrode, and a gas introduction method for introducing gas into the container. a power supply device that applies a voltage between the target and the sputtering electrode to generate a glow discharge therebetween; A thin film forming apparatus equipped with an accelerator that has a potential difference.
【請求項2】加速電極を、それぞれ透孔が形成された引
出電極と加速制御電極とで構成し、スパッタリング電極
、上記引出電極、上記加速制御電極の順に配置するとと
もに、上記引出電極と加速制御電極とに互いに異なる電
位を与えるようにした請求項1記載の薄膜形成装置。
2. The acceleration electrode is composed of an extraction electrode and an acceleration control electrode each having a through hole formed therein, and the sputtering electrode, the extraction electrode, and the acceleration control electrode are arranged in this order, and the extraction electrode and the acceleration control electrode are arranged in this order. 2. The thin film forming apparatus according to claim 1, wherein different potentials are applied to the electrodes.
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