JPH04208873A - Apparatus for detecting life of capacitor - Google Patents

Apparatus for detecting life of capacitor

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JPH04208873A
JPH04208873A JP2340318A JP34031890A JPH04208873A JP H04208873 A JPH04208873 A JP H04208873A JP 2340318 A JP2340318 A JP 2340318A JP 34031890 A JP34031890 A JP 34031890A JP H04208873 A JPH04208873 A JP H04208873A
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JP
Japan
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capacitor
life
alarm
capacitance value
backup
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Application number
JP2340318A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaya Kotoku
小徳 正也
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH04208873A publication Critical patent/JPH04208873A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/64Testing of capacitors

Abstract

PURPOSE:To prevent effectively the trouble occurrence by a capacity down, etc., by switching a capacitor over to a backup capacitor by a change-over switch when the capacity value of the capacitor becomes a threshold value and less. CONSTITUTION:The voltage according to the stored changes corresponding to each capacity value of capacitors 3, 5 is in order applied to a capacitor check circuit 12 through a switch SW5 and compared with a reference value by a comparator 13, an alarm generates from an alarm generating circuit 14 when the capacity of the capacitor 3 or 5 becomes a threshold value and less, and the life of the condenser 3 or 5 is informed. Simultaneously, the capacitor 3 or 5 is switched to the corresponding backup capacitor 10 or 11 by switches SW1 and SW2, SW3 and SW4 of the capacitor whose life has expired. The trouble occurrence of a capacity down, etc., is efficiently prevented and the life of the capacitor can be inspected without the reduction of reliability for the apparatus, using the capacitor by this.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば原子力発電所等において、高信頼性が
要求される放射線計fllllシステム等の電気回路等
に組込まれたコンデンサの寿命を検出するだめの寿命検
出装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Objective of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention is intended for use in electrical circuits, etc. of radiometer systems that require high reliability, for example in nuclear power plants, etc. This invention relates to a lifespan detection device for detecting the lifespan of a capacitor.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

電源、電子回路等に使用される電解コンデンサは、一般
的に他の電子部品(トランジスタ、抵抗体、IC等)に
比べて寿命が短く、電解コンデンサを使用する装置の寿
命を決める大きな要因となっていた。電解コンデンサが
劣化する原因は、時経過と共に電解液が封口部より徐々
に透過することによって起こる静電容量の減少によるも
のである。この電解液の拡散は、周囲温度やコンデンサ
自身の発熱温度に比例して進行する。
Electrolytic capacitors used in power supplies, electronic circuits, etc. generally have a shorter lifespan than other electronic components (transistors, resistors, ICs, etc.), and are a major factor in determining the lifespan of devices that use electrolytic capacitors. was. The cause of deterioration of electrolytic capacitors is a decrease in capacitance caused by electrolyte gradually permeating through the sealed portion over time. This diffusion of the electrolyte progresses in proportion to the ambient temperature and the heat generation temperature of the capacitor itself.

従来は、設計時にコンデンサの寿命を予想して、電子回
路内に組み込まれたコンデンサの予想R命が近付いたな
らば、そのコンデンサを交換してコンデンサの劣化に対
処していた。
Conventionally, the lifespan of a capacitor was predicted at the time of design, and when a capacitor built into an electronic circuit approached its expected lifespan, the capacitor was replaced to prevent deterioration of the capacitor.

ところで、放射線計測システム等の極めて高い信頼性が
要求される装置でも電解コンデンサが使用されており、
この様な高信頼性か要求される装置では、電解コンデン
サが寿命となって“容量ぬけ”があると、装置全体に大
きな影響を与える可能性が高い。例えば、電解コンデン
サの“容量ぬけ”によって、dFI定データにノイズが
含まれると、このノイズに起因して誤警報が出力される
可能性がある。したがって、高信頼性が要求される装置
では、使用している電解コンデンサの寿命を正確に予f
il Lで、その電解コンデンサの寿命が来る前に確実
に交換する必要がある。
By the way, electrolytic capacitors are also used in equipment that requires extremely high reliability, such as radiation measurement systems.
In devices that require such high reliability, if an electrolytic capacitor reaches the end of its life and experiences "capacity leakage," it is likely to have a major impact on the entire device. For example, if noise is included in the dFI constant data due to "capacitance loss" of an electrolytic capacitor, a false alarm may be output due to this noise. Therefore, in equipment that requires high reliability, the lifespan of the electrolytic capacitors used can be accurately predicted.
il L, it is necessary to ensure that the electrolytic capacitor is replaced before it reaches the end of its life.

ところが、電解コンデンサは使用される周囲温度の変動
やコンデンサ自身の負荷変動等により、設計時に予想さ
れる寿命を大幅に下回ることがある。
However, due to fluctuations in the ambient temperature in which electrolytic capacitors are used, fluctuations in the load on the capacitor itself, etc., the lifespan of electrolytic capacitors may be significantly shorter than expected at the time of design.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

従って、従来はコンデンサの寿命を正確に予想すること
ができず、コンデンサの“容量ぬけ0等によるトラブル
か発生する恐れがあり、コンデンサを使用した装置の信
頼性を低下させる−っ゛の要因となっていた。
Therefore, in the past, it was not possible to accurately predict the lifespan of a capacitor, and there was a risk that troubles would occur due to the capacitor's ``capacitance leakage'', which was a factor that reduced the reliability of devices using capacitors. It had become.

本発明は以上のような実情に鑑みてなされたもので、電
気回路内に使用されているコンデンサの寿命を検出でき
て、“容量ぬけ“等によるトラブルの発生を有効に防止
でき、コンデンサを使用している装置の信頼性を向上さ
せることのできるコンデンサの寿命検出装置を提供する
ことを目的とする。
The present invention was made in view of the above-mentioned circumstances, and it is possible to detect the lifespan of capacitors used in electric circuits, effectively prevent troubles caused by "capacitance leakage", etc., and improve the use of capacitors. The purpose of the present invention is to provide a capacitor life detection device that can improve the reliability of the device.

[発明の構成] 〔課題を解決するための手段〕 上記目的を達成するために、第1の発明に係るコンデン
サの寿命検出装置は、所定の電気回路に組込まれたコン
デンサの寿命検査時に、該コンデンサに接続されその蓄
積電荷量に応じた電圧を検出してそのコンデンサの容量
値に変換する容量値検出手段と、前記コンデンサに対し
て並列に配置され、コンデンサの寿命検査時に、このコ
ンデンサに代わって前記電気回路内に組込まれるバック
アップ用コンデンサと、検査対象となるコンデンサとそ
のバックアップ用コンデンサとの切替えを行うための切
替スイッチと、前記容量値検出手段によって検出された
コンデンサの容量値がしきい値以下のとき、前記切替ス
イッチをバックアップ用コンデンサに切替えると共に、
検査対象となったコンデンサか寿命となった旨を報知す
るアラーム手段とを具備してなるものとし、 第2の発明に係るコンデンサの寿命検出装置は、所定の
電気回路に組込まれたコンデンサの近傍に設置された温
度センサと、前記温度センサから出力される温度データ
をモニタし、時間の経過と共に蓄積された温度変化量か
ら前記コンデンサが受けるダメージを算出するダメージ
量算出手段と、このダメージ量算出手段で算出されたダ
メージ量がそのコンデンサの許容値を超えたとき、その
コンデンサが寿命となった旨を報知するアラーム手段と
を具備してなるものとした。
[Structure of the Invention] [Means for Solving the Problem] In order to achieve the above object, a capacitor life detection device according to the first invention detects the life of a capacitor incorporated in a predetermined electric circuit. A capacitance value detection means is connected to the capacitor and detects a voltage according to the amount of charge accumulated in the capacitor and converts it into the capacitance value of the capacitor. a backup capacitor incorporated in the electric circuit, a changeover switch for switching between the capacitor to be inspected and its backup capacitor, and a capacitance value detected by the capacitance value detection means that is a threshold value. When the value is below the value, the selector switch is switched to the backup capacitor, and
The capacitor life detection device according to the second invention is equipped with an alarm means for notifying that the capacitor to be inspected has reached the end of its lifespan. a temperature sensor installed in the capacitor, and a damage amount calculation means for monitoring temperature data output from the temperature sensor and calculating damage to the capacitor from the amount of temperature change accumulated over time; The apparatus further includes an alarm means for notifying that the capacitor has reached the end of its life when the amount of damage calculated by the means exceeds the allowable value of the capacitor.

〔作用〕[Effect]

第1の発明によれば、電気回路内に組込まれたコンデン
サの寿命検査時には、バックアップ用コンデンサがその
コンデンサに代わって電気回路に組込まれ、コンデンサ
には容量値検出手段が接続されて容量値が検出される。
According to the first invention, when inspecting the life of a capacitor built into an electric circuit, a backup capacitor is built into the electric circuit in place of the capacitor, and the capacitance value detection means is connected to the capacitor to measure the capacitance value. Detected.

そして、この検出された容量値がしきい値以下のとき、
即ち寿命が近付いているときにはアラームが出力される
。よって、コンデンサが使用されている装置に欠測を生
じることなく任意の時期に又は所定の周期でコンデンサ
の寿命を検出することができる。
Then, when this detected capacitance value is below the threshold value,
In other words, an alarm is output when the life is nearing the end. Therefore, the life of the capacitor can be detected at any time or at a predetermined period without causing missing measurements in the device in which the capacitor is used.

第2の発明によれば、電気回路に組込まれたコンデンサ
の寿命に影響を与える温度変化が温度センサによって検
出され、この検出された温度変化量からコンデンサが受
けるダメージ量が算出され、このダメージ量がそのコン
デンサの許容値を超えたときアラームが出力される。よ
って、コンデンサの“容量ぬけ”が発生する前にコンデ
ンサの寿命が近付いたことが正確に報知され、寿命とな
る前にコンデンサを交換できる。
According to the second invention, a temperature change that affects the life of a capacitor incorporated in an electric circuit is detected by a temperature sensor, and the amount of damage to the capacitor is calculated from the detected amount of temperature change. An alarm is output when the value exceeds the allowable value of the capacitor. Therefore, it is accurately notified that the capacitor is nearing the end of its life before "capacitance loss" occurs in the capacitor, and the capacitor can be replaced before the end of its life.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention.

本実施例は、放射線計測システムの電源部に用いられる
直流電源回路に設けられた平滑用電解コンデンサ(以下
、「平滑コンデンサ」と呼ぶ)の寿命検出装置の例であ
る。
This embodiment is an example of a life detection device for a smoothing electrolytic capacitor (hereinafter referred to as a "smoothing capacitor") provided in a DC power supply circuit used in a power supply section of a radiation measurement system.

直流電源回路は、交流電源1で発生した交流電圧が、ダ
イオードブリッジ回路からなる全波整流回路2て全波整
流される。この余波整流回路2の両出力端子間に平滑コ
ンデンサ3が設けられている。同様に、両端子間に3端
子レギユレータ4の2端子か接続されていて、この3端
子レギユレータ4の残りの端子と金波整流回路2の(−
)側端子との間に平滑コンデンサ5が設けられている。
In the DC power supply circuit, an AC voltage generated by an AC power supply 1 is full-wave rectified by a full-wave rectifier circuit 2 consisting of a diode bridge circuit. A smoothing capacitor 3 is provided between both output terminals of the aftermath rectifier circuit 2. Similarly, two terminals of the three-terminal regulator 4 are connected between both terminals, and the remaining terminals of the three-terminal regulator 4 and the (-
) side terminal is provided with a smoothing capacitor 5.

平滑コンデンサ3の(+)電極側は、全波整流回路2の
(+)側端子に対して、切替えスイッチSW1を介して
接続されると共に、この切替えスイッチSWIをバイパ
スする抵抗Ra、切替えスイッチSW2を介して接続さ
れている。また、平滑コンデンサ5は、その(+)側電
極が切替えスイッチSW3を介して3端子レギユレータ
4に接続されている。また、この切替えスイッチSW2
をバイパスするようにして抵抗Rb、切替えスイッチS
W4を介して3端子レギユレータ4に接続されている。
The (+) electrode side of the smoothing capacitor 3 is connected to the (+) side terminal of the full-wave rectifier circuit 2 via a changeover switch SW1, and a resistor Ra and a changeover switch SW2 that bypass this changeover switch SWI. connected via. Further, the (+) side electrode of the smoothing capacitor 5 is connected to the three-terminal regulator 4 via a changeover switch SW3. In addition, this changeover switch SW2
Bypassing the resistor Rb and selector switch S
It is connected to the three-terminal regulator 4 via W4.

この様に構成された直流電源回路に対して、本実施例の
寿命検出装置は、平滑コンデンサ3.5に対して、これ
と並列にバックアップ用コンデンサ1.0.11が設け
られている。バックアップ用コンデンサ10の一方の電
極が平滑コンデンサ3と同様に全波整流回路2の(−)
側出力端子に接続され、他方の電極が切替えスイッチS
WIを介して全波整流回路2の(−)側出力端子に接続
され、さらに切替えスイッチSW2を介して抵抗Raに
接続されている。もう一方のバックアップ用コンデンサ
11は、一方の電極が平滑コンデンサ5と共に全波整流
回路2の(−)側出力端子に接続され、他方の電極が切
替えスイッチSW3を介して3@子レギユレータ4の出
力端子に接続され、さらに切替えスイッチSW4を介し
て抵抗Rbに接続されている。
In the DC power supply circuit configured in this manner, the life detection device of this embodiment has a backup capacitor 1.0.11 provided in parallel with the smoothing capacitor 3.5. One electrode of the backup capacitor 10 is connected to the (-) of the full-wave rectifier circuit 2 similarly to the smoothing capacitor 3.
is connected to the side output terminal, and the other electrode is connected to the selector switch S.
It is connected to the (-) side output terminal of the full-wave rectifier circuit 2 via WI, and further connected to the resistor Ra via a changeover switch SW2. The other backup capacitor 11 has one electrode connected to the (-) side output terminal of the full-wave rectifier circuit 2 together with the smoothing capacitor 5, and the other electrode connected to the output terminal of the 3@ child regulator 4 via the changeover switch SW3. terminal, and further connected to the resistor Rb via a changeover switch SW4.

平滑コンデンサ3,5の容量値を検出するためのキャパ
シタチエツク回路12が、選択スイッチSW5を介して
平滑コンデンサ3,5の(+)側に接続されている。こ
のキャパシタチエツク回路12は、選択スイッチSW5
を介して接続された平滑コンデンサ3又は5の容量値に
応じた電圧を発生させる。このキャパシタチエツク回路
12の出力電圧はコンパレータ13の一方の入力端子に
印加される。コンパレータ13の他方の入力端子には平
滑コンデンサ3,5の容量値の許容値に対応した電圧レ
ベルが設定さていて、キャパシタチエツク回路12の出
力電圧が設定電圧以下となったときアラーム発生回路]
4にアクティブ信号を出力する。
A capacitor check circuit 12 for detecting the capacitance values of the smoothing capacitors 3 and 5 is connected to the (+) side of the smoothing capacitors 3 and 5 via a selection switch SW5. This capacitor check circuit 12 includes a selection switch SW5.
A voltage corresponding to the capacitance value of the smoothing capacitor 3 or 5 connected through the capacitor is generated. The output voltage of this capacitor check circuit 12 is applied to one input terminal of a comparator 13. The other input terminal of the comparator 13 is set to a voltage level corresponding to the permissible capacitance value of the smoothing capacitors 3 and 5, and when the output voltage of the capacitor check circuit 12 falls below the set voltage, an alarm generation circuit]
An active signal is output to 4.

キャパシタチエツク回路12は、第2図に示すように、
インピーダンス71PI定回路15と、インピーダンス
変換回路16とを組合わせて構成することかできる。イ
ンピーダンス4pj定回路15に平滑用コンデンサ3.
5の(+)側電極電圧を入力し、インピーダンスに応じ
た電圧がインピーダンス変換回路16に入力される。図
示の如く構成されたインピーダンス変換回路16の抵抗
R,,R2゜R9,容量 CRを調整することにより、
入力インピーダンスに応じた平滑用コンデンサ3,5の
容量値と一致するCxを設定することができ、この検出
容量値Cxに応じた電圧が発生される。
The capacitor check circuit 12, as shown in FIG.
The impedance 71PI constant circuit 15 and the impedance conversion circuit 16 can be combined. Impedance 4pj constant circuit 15 and smoothing capacitor 3.
5 (+) side electrode voltage is input, and a voltage corresponding to the impedance is input to the impedance conversion circuit 16. By adjusting the resistances R, , R2°R9, and capacitance CR of the impedance conversion circuit 16 configured as shown in the figure,
Cx can be set to match the capacitance value of the smoothing capacitors 3 and 5 depending on the input impedance, and a voltage corresponding to the detected capacitance value Cx is generated.

次に、以上の様に構成された本実施例の動作として、平
滑コンデンサ3の寿命検出動作を例に説明する。
Next, as an example of the operation of this embodiment configured as described above, the life detection operation of the smoothing capacitor 3 will be explained.

通常、切替えスイッチSW1は平滑コンデンサ3側端子
に接続されていて、寿命検出時にバックアップ用コンデ
ンサ10側端子に切替えられる。
Normally, the changeover switch SW1 is connected to the smoothing capacitor 3 side terminal, and is switched to the backup capacitor 10 side terminal when life is detected.

切替えスイッチSW2は、切替えスイッチSWIと同じ
コンデンサ側に接続され、切替えスイッチSWIが切替
わるときには常にそのコンデンサ側に接続されているよ
うに操作される。これにより、スイッチSWIが切替わ
るときに発生するサージノイズが防止される。
The changeover switch SW2 is connected to the same capacitor side as the changeover switch SWI, and is operated so as to be connected to the same capacitor side whenever the changeover switch SWI is switched. This prevents surge noise that occurs when the switch SWI is switched.

平滑コンデンサ3の寿命検出時には、外部操作によって
SWI、2がそれぞれバックアップ用コンデンサ10側
に切替えられ、選択スイッチSW5が平滑コンデンサ3
側に切替えられる。寿命検出動作中はバックアップ用コ
ンデンサ]0によって平滑処理が行われる。一方、検査
対象となる平滑コンデンサ3に蓄積されている電荷量に
応じた電圧か、キャパシタチエツク回路12へ入力され
る。キャパシタチエツク回路12は、平滑コンデンサ3
の現在の容量値を示す電圧をコンパレータ13へ出力す
る。コンパレータ13は、平滑コンデンサ3の現在の容
量値を示す電圧が設定値以下のとき、即ち平滑コンデン
サ3の許容容量値を下回っているときにアラーム出力回
路14へ信号を出力してアラームを出力する。
When detecting the life of the smoothing capacitor 3, SWI and 2 are switched to the backup capacitor 10 side by external operation, and the selection switch SW5 is switched to the smoothing capacitor 3 side.
can be switched to the side. During the life detection operation, smoothing processing is performed by the backup capacitor ]0. On the other hand, a voltage corresponding to the amount of charge accumulated in the smoothing capacitor 3 to be inspected is input to the capacitor check circuit 12. The capacitor check circuit 12 includes a smoothing capacitor 3
A voltage indicating the current capacitance value of is output to the comparator 13. The comparator 13 outputs a signal to the alarm output circuit 14 to output an alarm when the voltage indicating the current capacitance value of the smoothing capacitor 3 is below a set value, that is, when it is below the allowable capacitance value of the smoothing capacitor 3. .

なお、アラームが出力された場合には切替えスイッチS
WI、2の状態をそのまま保持して、平滑コンデンサ3
を交換する。また、アラームが出力されない場合には、
切替えスイッチSWI、2を平滑コンデレザ3側に戻し
て、通常の状態に戻る。
In addition, if an alarm is output, selector switch S
Keeping the state of WI, 2 as it is, smoothing capacitor 3
exchange. Also, if the alarm is not output,
Return the selector switch SWI, 2 to the smooth conduit laser 3 side to return to the normal state.

また、平滑コンデンサ5についても同様にして寿命検出
が実行される。
Furthermore, lifespan detection is executed in the same manner for the smoothing capacitor 5.

このように本実施例は、検査対象となる各平滑コンデン
サ3.5の各々にバックアップ用コンデンサ10.11
を設けておき、寿命検査時にはバックアップ用コンデン
サ10.11で平滑処理を行い、一方で、検査対象とな
る平滑コンデンサの容量値をキャパシタチエツク回路1
2て検出して、この容量値%(許容値以下のときにアラ
ームを出力するようにした。その結果、電気回路内に組
込まれた平滑コンデンサ3,5の容量値を必要に応じて
又は定期的にチエツクすることができ、平滑コンデンサ
3.5の寿命を事前に検出できて“容量ぬけ”を未然に
防止できる。よって、装置の信頼性を向上することがで
きる。
In this way, in this embodiment, each smoothing capacitor 3.5 to be inspected is connected to a backup capacitor 10.11.
The capacitor check circuit 1 performs smoothing processing using the backup capacitor 10.
2 is detected, and an alarm is output when this capacitance value (%) is less than the allowable value. The service life of the smoothing capacitor 3.5 can be detected in advance, and "capacitance leakage" can be prevented.Therefore, the reliability of the device can be improved.

次に、本発明の第2実施例について第3図を参照して説
明する。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

第3図は本実施例のブロック図である。図中の符号20
は、装置内に設置された寿命検査対象の電解コンデンサ
を示している。本実施例は、温度センサ21がこの電解
コンデンサ20の近傍に設置され、そのセンサ出力がA
/D変換器22を介して演算処理部23へ入力される。
FIG. 3 is a block diagram of this embodiment. Code 20 in the diagram
indicates an electrolytic capacitor to be tested for life installed in the device. In this embodiment, a temperature sensor 21 is installed near this electrolytic capacitor 20, and the sensor output is A.
The signal is input to the arithmetic processing unit 23 via the /D converter 22.

データベース24には、実験等によって予め求められた
使用コンデンサの推定寿命や、この推定寿命に対応した
アラーム設定値が蓄積されている。演算処理部23は、
所定の周期でA/D変換器22出力を取込み、その温度
データから後述する演算にてコンデンサ20が受けるダ
メージを算出する。そして、所定周期毎に算出されるダ
メージ量を加算していき、蓄積ダメージ量(加算値)が
アラーム設定値以上となったときアラーム出力指令信号
を出力する。アラーム出力回路25はアラーム出力指令
信号を受信するとアラームを発生する。
The database 24 stores estimated lifespans of capacitors used that have been determined in advance through experiments and the like, as well as alarm settings corresponding to these estimated lives. The arithmetic processing unit 23 is
The output of the A/D converter 22 is taken in at a predetermined period, and damage to the capacitor 20 is calculated from the temperature data by a calculation described later. Then, the amount of damage calculated at each predetermined period is added up, and when the accumulated damage amount (added value) exceeds the alarm setting value, an alarm output command signal is output. The alarm output circuit 25 generates an alarm upon receiving the alarm output command signal.

ここで、演算処理部23におけるダメージ演算について
説明する。
Here, damage calculation in the calculation processing section 23 will be explained.

7に解コンデンサ20の寿命が周辺温度で決定されると
すると、推定寿命LTは、 L T、、 L oX 2tTo−T) ” I Oと
なる。なお、Tは周辺温度、Toは最大定格温度である
。Loは最大定格温度(To)での推定寿命であり、予
めル1定してデータベース24に格納される値である。
Assuming that the life of the capacitor 20 is determined by the ambient temperature, the estimated life LT is LT,, L oX 2tTo-T) "I O, where T is the ambient temperature and To is the maximum rated temperature. Lo is the estimated lifespan at the maximum rated temperature (To), and is a value that is determined in advance and stored in the database 24.

演算処理部23では、設π1温度(Ts)の時の寿命L
sと、実際に測定される周辺温度(T)での寿命LTと
の比、L s / L 7を′l−1定時の周辺温度で
のダメージ量として算出する。
In the arithmetic processing unit 23, the life L at the set π1 temperature (Ts)
s and the life LT at the actually measured ambient temperature (T), Ls/L7, is calculated as the amount of damage at the ambient temperature at a constant time of 'l-1.

この様な本実施例によれば、温度センサ2]によって電
解コンデンサ20の周辺温度が所定の周期で検出され、
演算処理部23においてその検出された周辺温度データ
に基づいてその温度で電解コンデンサ20が受けるダメ
ージが算出される。
According to this embodiment, the ambient temperature of the electrolytic capacitor 20 is detected at a predetermined period by the temperature sensor 2,
Based on the detected ambient temperature data, the arithmetic processing unit 23 calculates the damage that the electrolytic capacitor 20 receives at that temperature.

周辺温度が検出される度に電解コンデンサ20のダメー
ジが算出され、算出されたダメージ量の合計値がアラー
ム設定値を超えたときに、アラーム出力指令信号が出力
されて、アラーム発生回路25からアラームが発生され
る。
The damage to the electrolytic capacitor 20 is calculated every time the ambient temperature is detected, and when the total amount of damage calculated exceeds the alarm setting value, an alarm output command signal is output and the alarm generation circuit 25 issues an alarm. is generated.

従って、電解コンデンサ20が寿命となる前に、コンデ
ンサを確実に交換することかでき、“容量ぬけ”等によ
るトラブルの発生を防止でき、装置の信頼性を向上させ
ることかできる。
Therefore, the capacitor can be reliably replaced before the electrolytic capacitor 20 reaches the end of its life, preventing troubles such as "capacity leakage" from occurring, and improving the reliability of the device.

なお、上記各実施例では電解コンデンサを例に説明した
が、電解コンデンサは容量値の変動幅が他のものに比べ
て大きいため、“容量ぬけ“が発生した場合にはトラブ
ルか発生ずる確率が高いため、この様なコンデンサに適
用することは特に有効である。なお、他のコンデンサで
あっても適用できるのは勿論である。
In addition, in each of the above embodiments, electrolytic capacitors were used as an example, but electrolytic capacitors have a larger fluctuation range in capacitance value than other capacitors, so if "capacitance leakage" occurs, there is a high probability that a problem will occur. Because of the high cost, it is particularly effective to apply to such capacitors. It goes without saying that other capacitors can also be used.

[発明の効果] 以上詳記したように本発明によれば、電気回路内に使用
されているコンデンサの寿命を検出でき、適当なときに
コンデンサを交換することができて、“容量ぬけ”等に
よるトラブルの発生を有効に防止でき、コンデンサを使
用している装置の信頼性を向上させることのできるコン
デンサの寿命検出装置を提供できる。
[Effects of the Invention] As detailed above, according to the present invention, it is possible to detect the lifespan of a capacitor used in an electric circuit, replace the capacitor at an appropriate time, and prevent "capacitance loss" etc. Accordingly, it is possible to provide a capacitor life detection device that can effectively prevent troubles caused by this and improve the reliability of devices using capacitors.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1実施例の構成図、第2図は同実施
例に使用されるキャパシタチエツク回路の構成図、第3
図は第2実施例の構成図である。 3.5・・・平滑用電解コンデンサ、4・・3端子レギ
ユレータ、10.11・・・バックアップ用キャパシタ
、12・・・キャパシタチエツク回路、13・・コンパ
レータ、14.25・・・アラーム発生回路、21・温
度センサ、23・・・演算処理部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
Fig. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention, Fig. 2 is a block diagram of a capacitor check circuit used in the same embodiment, and Fig. 3 is a block diagram of a capacitor check circuit used in the same embodiment.
The figure is a configuration diagram of the second embodiment. 3.5...Smoothing electrolytic capacitor, 4...3-terminal regulator, 10.11...Backup capacitor, 12...Capacitor check circuit, 13...Comparator, 14.25...Alarm generation circuit , 21・Temperature sensor, 23... Arithmetic processing unit. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)所定の電気回路に組込まれたコンデンサの寿命検
査時に、該コンデンサに接続されその蓄積電荷量に応じ
た電圧を検出してそのコンデンサの容量値に変換する容
量値検出手段と、 前記コンデンサに対して並列に配置され、コンデンサの
寿命検査時に、このコンデンサに代わって前記電気回路
内に組込まれるバックアップ用コンデンサと、 検査対象となるコンデンサとそのバックアップ用コンデ
ンサとの切替えを行うための切替スイッチと、 前記容量値検出手段によって検出されたコンデンサの容
量値がしきい値以下のとき、前記切替スイッチをバック
アップ用コンデンサに切替えると共に、検査対象となっ
たコンデンサが寿命となった旨を報知するアラーム手段
と、 を具備したことを特徴とするコンデンサの寿命検出装置
(1) When inspecting the life of a capacitor incorporated in a predetermined electric circuit, a capacitance value detection means that is connected to the capacitor and detects a voltage corresponding to the amount of accumulated charge in the capacitor and converts it into a capacitance value of the capacitor; a backup capacitor that is placed in parallel with the capacitor and is incorporated into the electrical circuit in place of the capacitor during a lifespan test of the capacitor; and a changeover switch for switching between the capacitor to be tested and the backup capacitor. and, when the capacitance value of the capacitor detected by the capacitance value detection means is less than a threshold value, an alarm is generated to switch the changeover switch to a backup capacitor and to notify that the capacitor to be inspected has reached the end of its service life. A capacitor life detection device characterized by comprising: a means for detecting the life of a capacitor;
(2)所定の電気回路に組込まれたコンデンサの近傍に
設置された温度センサと、 前記温度センサから出力される温度データをモニタし、
時間の経過と共に蓄積された温度変化量から前記コンデ
ンサが受けるダメージを算出するダメージ量算出手段と
、 このダメージ量算出手段で算出されたダメージ量がその
コンデンサの許容値を超えたとき、そのコンデンサが寿
命となった旨を報知するアラーム手段と、 を具備したことを特徴とするコンデンサの寿命検出装置
(2) Monitoring a temperature sensor installed near a capacitor incorporated in a predetermined electric circuit and temperature data output from the temperature sensor,
damage amount calculation means for calculating the damage to the capacitor from the amount of temperature change accumulated over time; and when the damage amount calculated by the damage amount calculation means exceeds the allowable value of the capacitor, the capacitor A capacitor life detection device characterized by comprising: an alarm means for notifying that the life has come to an end;
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