JPH04205440A - Fault inspection information collecting system for processor - Google Patents
Fault inspection information collecting system for processorInfo
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- JPH04205440A JPH04205440A JP2337047A JP33704790A JPH04205440A JP H04205440 A JPH04205440 A JP H04205440A JP 2337047 A JP2337047 A JP 2337047A JP 33704790 A JP33704790 A JP 33704790A JP H04205440 A JPH04205440 A JP H04205440A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、１または複数のワークステーションと、制御
装置とから構成されるプロセッサにおける障害調査情報
収集方式に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a fault investigation information collection method in a processor comprising one or more workstations and a control device.
［従来の技術］
従来、この種のプロセッサの障害調査情報収集方式は、
制御装置で異常を検知した場合、制御装置とワークステ
ーションの各々に対して操作を行い、障害調査情報を収
集方式となっていた。[Prior Art] Conventionally, the fault investigation information collection method for this type of processor is as follows:
When an abnormality is detected in the control device, operations are performed on both the control device and the workstation to collect fault investigation information.
［発明が解決しようとする課題］
前述した従来のプロセッサの障害調査情報収集方式は、
制御装置とワークステーションの各々に対して操作を行
い障害調査情報を収集しているので、ワークステーショ
ンの障害調査情報と制御装置の障害調査情報とに時間的
ずれが生じるという問題がある。[Problem to be solved by the invention] The conventional processor fault investigation information collection method described above is
Since failure investigation information is collected by performing operations on each of the control device and workstation, there is a problem in that a time lag occurs between the failure investigation information of the workstation and the failure investigation information of the control device.
［課題を解決するための手段］ 本発明によれば、１つのワークステーションと。[Means to solve the problem] According to the invention, one workstation.
このワークステーションを制御する制御装置を有するプ
ロセッサにおいて、前記制御装置は、該制御装置の異常
を検知する制御装置異常検知手段と。In this processor having a control device for controlling the workstation, the control device includes a control device abnormality detection means for detecting an abnormality in the control device.
該制御装置の障害調査のための情報を収集する制御装置
障害調査情報収集手段とを有し、前記ワークステーショ
ンは、該ワークステーションの゛障害調査のための情報
を収集するワークステーション障害調査情報収集手段を
有し、かつ、前記制御装置異常検知手段は、異常を検知
した場合に異常信号を前記制御装置障害調査情報収集手
段と前記ワークステーション障害情報収集手段のそれぞ
れに同時に与えることを特徴とするプロセッサの障害調
査情報収集方式がまた１本発明によれば、複数のワーク
ステーションと、これらのワークステーションの各々を
制御する複数の制御装置を有するプロセッサにおいて、
前記各制御装置は、該制御装置の異常を検知する制御装
置異常検知手段と。and a control device failure investigation information collection means for collecting information for fault investigation of the control device, and the workstation includes a workstation failure investigation information collection means for collecting information for fault investigation of the workstation. and the control device abnormality detection means, when an abnormality is detected, simultaneously gives an abnormality signal to each of the control device failure investigation information collection means and the workstation failure information collection means. According to the present invention, there is also a fault investigation information collection method for a processor, in which the processor has a plurality of workstations and a plurality of control devices that control each of these workstations.
Each of the control devices includes a control device abnormality detection means for detecting abnormality of the control device.
該制御装置の障害調査のための情報を収集する制御装置
障害調査情報収集手段とを有し、前記各ワークステーシ
ョンは、該ワークステーションの障害調査のための情報
を収集するワークステーション障害調査情報収集手段を
有し、かつ、前記制御装置異常検知手段は、異常を検知
した場合に異常信号を前記制御装置障害調査情報収集手
段と前記ワークステーション障害情報収集手段のそれぞ
れに同時に与えることを特徴とするプロセッサの障害調
査情報収集方式が得られる。and a control device failure investigation information collection means for collecting information for fault investigation of the control device, and each workstation has a workstation failure investigation information collection means for collecting information for fault investigation of the workstation. and the control device abnormality detection means, when an abnormality is detected, simultaneously gives an abnormality signal to each of the control device failure investigation information collection means and the workstation failure information collection means. A processor failure investigation information collection method is obtained.
また１本発明によれば、１つのワークステーションと、
このワークステーションを制御する制御装置を有するプ
ロセッサにおいて、前記制御装置は、該制御装置の異常
を検知する制御装置異常検知手段と、該制御装置の障害
調査のための情報を収集する制御装置障害調査情報収集
手段と、該制御装置障害情報収集手段と接続されていて
該装置障害情報収集手段の情報を記憶する制御装置メモ
リと、前記装置障害情報収集手段と接続されている制御
装置ディスクとを有し、前記ワークステーションは１該
ワークステーシヨンの障害調査のための情報を収集する
ワークステーション障害調査情報収集手段と、該ワーク
ステーション障害調査情報収集手段と接続されていて該
ワークステーション障害調査情報収集手段の情報を記憶
するワークステーションメモリと、前記ワークステーシ
ョン障害情報収集手段と接続されているワークステーシ
ョンディスクとを有し、かつ、前記制御装置異常検知手
段は、異常を検知した場合に異常信号を前記制御装置障
害情報収集手段と前記ワークステーション障害情報収集
手段のそれぞれに同時に与え、前記制御装置障害情報検
知手段は、前記異常信号を受けると前記制御装置メモリ
の情報を収集して前記制御装置ディスクに与え、かつ、
前記ワークステーション障害情報収集手段は、前記異常
信号を受けると前記ワークステーションメモリの情報を
前記ワークステーションディスクに与えることを特徴と
するプロセッサの障害調査情報収集方式が得られる。Also, according to one invention, one workstation;
In this processor having a control device that controls the workstation, the control device includes a control device abnormality detection means for detecting an abnormality in the control device, and a control device failure investigation unit that collects information for investigating a failure in the control device. The device comprises an information collecting means, a control device memory connected to the control device fault information collecting means and storing information of the device fault information collecting means, and a control device disk connected to the device fault information collecting means. The workstation includes 1 a workstation failure investigation information collection means for collecting information for failure investigation of the workstation, and a workstation failure investigation information collection means connected to the workstation failure investigation information collection means. and a workstation disk connected to the workstation fault information collection means, and the control device abnormality detection means transmits an abnormality signal to the above when an abnormality is detected. The control device fault information collecting means and the workstation fault information collecting means each receive the error signal simultaneously, and upon receiving the abnormality signal, the control device fault information detecting means collects the information in the control device memory and stores it in the control device disk. give, and
A processor failure investigation information collection method is obtained, wherein the workstation failure information collection means provides information in the workstation memory to the workstation disk upon receiving the abnormality signal.
［実施例コ 次に１本発明の実施例を図面に基いて説明する。[Example code] Next, one embodiment of the present invention will be described based on the drawings.
第１図は２本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
本発明のプロセッサの障害調査情報収集方式を適用した
プロセッサ１は、制御装置２とワークステーション３と
て構成されている。A processor 1 to which the processor fault investigation information collection method of the present invention is applied is composed of a control device 2 and a workstation 3.
前記制御装置２は、制御装置異常検知手段２１と、制御
装置障害調査情報収集手段２２と、制御装置メモリ２３
と、制御装置ディスク２４とて構成されており、制御線
を介して前記ワークステーション３に接続されている。The control device 2 includes a control device abnormality detection means 21, a control device failure investigation information collection means 22, and a control device memory 23.
and a controller disk 24, which is connected to the workstation 3 via a control line.
前記ワークステーション３はワークステーション障害調
査情報収集手段３１と、ワークステーションメモリ３２
と、ワークステーションディスク３３とで構成されてい
る。The workstation 3 includes a workstation failure investigation information collection means 31 and a workstation memory 32.
and a workstation disk 33.
前記制御装置異常検知手段２１は、制御線を介して制御
装置障害調査情報収集手段２２に接続されているととも
に、制御線を介してワークステーション障害調査情報収
集手段３１に接続されている。また、前記制御装置障害
調査情報収集手段２２は、制御線を介して制御装置メモ
リ２３と制御装置ディスク２４とにそれぞれ接続されて
いる。The control device abnormality detection means 21 is connected to a control device failure investigation information collection means 22 via a control line, and is also connected to a workstation failure investigation information collection means 31 via a control line. Further, the control device failure investigation information collecting means 22 is connected to a control device memory 23 and a control device disk 24 via control lines, respectively.
前記ワークステーション障害調査情報収集手段３１は、
制御線を介して制御装置異常検知手段２１とワークステ
ーションメモリ３２とワークステーションディスク３３
とにそれぞれ接続されている。The workstation failure investigation information collection means 31 includes:
Control device abnormality detection means 21, workstation memory 32, and workstation disk 33 are connected via a control line.
are connected to each.
前記制御装置異常検知手段２１は、異常を検知すると、
異常信号を制御線を介して制御装置障害調査情報収集手
段２２とワークステーション障害副情報収集手段３１と
に同時に与える。When the control device abnormality detection means 21 detects an abnormality,
An abnormality signal is simultaneously given to the control device failure investigation information collection means 22 and the workstation failure sub-information collection means 31 via the control line.
前記制御装置障害調査情報収集手段２２は、制御装置異
常検知手段２１からの異常信号を受けると、制御装置２
の障害調査のため情報である制御装置メモリ２３の情報
を制御線を介して収集し。When the control device failure investigation information collection means 22 receives an abnormality signal from the control device abnormality detection means 21, the control device failure investigation information collection means 22
The information in the control device memory 23, which is information for fault investigation, is collected via the control line.
かつ、制御線を介して制御装置ディスク２４に与える。It is also applied to the control device disk 24 via a control line.
前記ワークステーション障害調査情報収集手段３１は、
制御装置異常検知手段２１からの異常信号を受けると、
ワークステーション３の障害調査のための情報であるワ
ークステーションメモリ３２の情報を制御線を介して収
集し、かつ、制御線を介してワークステーションディス
ク３３に与える。The workstation failure investigation information collection means 31 includes:
Upon receiving an abnormality signal from the control device abnormality detection means 21,
Information in the workstation memory 32, which is information for fault investigation of the workstation 3, is collected via the control line and is provided to the workstation disk 33 via the control line.
なお、第１図に示した本発明の実施例においては、ワー
クステーション３の障害調査のための情報をワークステ
ーションディスク３３に与える例について説明している
が、ワークステーション３の障害調査のための情報を制
御装置ディスク２４に与えることによって同様の作用お
よび効果を得ることが可能である。Note that in the embodiment of the present invention shown in FIG. Similar effects and effects can be achieved by providing information to controller disk 24.
また１本発明は、複数のワークステーション３と、これ
らのワークステーション３の各々を制御する複数の制御
装置２を有するプロセッサにも適用することも可能であ
る。The present invention can also be applied to a processor having a plurality of workstations 3 and a plurality of control devices 2 that control each of these workstations 3.
［発明の効果］
以上説明したように１本発明は、制御装置とワークステ
ーションの障害調査情報を時間的に同期して収集するこ
とにより１時間的ずれを解消することができる。[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, a one-hour lag can be eliminated by collecting fault investigation information of a control device and a workstation in a time-synchronized manner.
第１図は１本発明の一実施例を示すブロック図である。
１・・・プロセッサ、２・・・制御装置、３・・・ワー
クステーション、２１・・・制御装置異常検知手段、２
２・・・制御装置障害調査情報収集手段、２３・・・制
御装置メモリ、２４・・・制御装置ディスク、３１・・
・ワークステーション障害調査情報収集手段、３２・・
・ワークステーションメモリ、３３・・・ワークステー
ションディスク。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Processor, 2... Control device, 3... Workstation, 21... Control device abnormality detection means, 2
2... Control device failure investigation information collection means, 23... Control device memory, 24... Control device disk, 31...
・Workstation failure investigation information collection means, 32...
- Workstation memory, 33... Workstation disk.
Claims (3)
ションを制御する制御装置を有するプロセッサにおいて
、前記制御装置は、該制御装置の異常を検知する制御装
置異常検知手段と、該制御装置の障害調査のための情報
を収集する制御装置障害調査情報収集手段とを有し、 前記ワークステーションは、該ワークステーションの障
害調査のための情報を収集するワークステーション障害
調査情報収集手段を有し、かつ、前記制御装置異常検知
手段は、異常を検知した場合に異常信号を前記制御装置
障害調査情報収集手段と前記ワークステーション障害情
報収集手段のそれぞれに同時に与えることを特徴とする
プロセッサの障害調査情報収集方式。(1) In a processor having one workstation and a control device that controls the workstation, the control device includes a control device abnormality detection means for detecting an abnormality in the control device, and a control device abnormality detection means for detecting a failure in the control device. a control device fault investigation information collection means for collecting information for fault investigation of the workstation; the workstation has a workstation fault investigation information collection means for collecting information for fault investigation of the workstation; A method for collecting fault investigation information for a processor, characterized in that the device abnormality detection means, when detecting an abnormality, simultaneously gives an abnormality signal to each of the control device fault investigation information collection means and the workstation fault information collection means.
テーションの各々を制御する複数の制御装置を有するプ
ロセッサにおいて、前記各制御装置は、該制御装置の異
常を検知する制御装置異常検知手段と、該制御装置の障
害調査のための情報を収集する制御装置障害調査情報収
集手段とを有し、前記各ワークステーションは、該ワー
クステーションの障害調査のための情報を収集するワー
クステーション障害調査情報収集手段を有し、かつ、前
記制御装置異常検知手段は、異常を検知した場合に異常
信号を前記制御装置障害調査情報収集手段と前記ワーク
ステーション障害情報収集手段のそれぞれに同時に与え
ることを特徴とするプロセッサの障害調査情報収集方式
。(2) In a processor having a plurality of workstations and a plurality of control devices that control each of these workstations, each of the control devices includes a control device abnormality detection means for detecting an abnormality in the control device, and a control device abnormality detection means for detecting an abnormality in the control device. and control device failure investigation information collection means for collecting information for fault investigation of the device, and each workstation has a workstation failure investigation information collection means for collecting information for fault investigation of the workstation. and wherein the control device abnormality detection means simultaneously provides an abnormality signal to each of the control device failure investigation information collection means and the workstation failure information collection means when an abnormality is detected. Failure investigation information collection method.
ションを制御する制御装置を有するプロセッサにおいて
、 前記制御装置は、該制御装置の異常を検知する制御装置
異常検知手段と、該制御装置の障害調査のための情報を
収集する制御装置障害調査情報収集手段と、該制御装置
障害情報収集手段と接続されていて該装置障害情報収集
手段の情報を記憶する制御装置メモリと、前記装置障害
情報収集手段と接続されている制御装置ディスクとを有
し、前記ワークステーションは、該ワークステーション
の障害調査のための情報を収集するワークステーション
障害調査情報収集手段と、該ワークステーション障害調
査情報収集手段と接続されていて該ワークステーション
障害調査情報収集手段の情報を記憶するワークステーシ
ョンメモリと、前記ワークステーション障害情報収集手
段と接続されているワークステーションディスクとを有
し、かつ、 前記制御装置異常検知手段は、異常を検知した場合に異
常信号を前記制御装置障害情報収集手段と前記ワークス
テーション障害情報収集手段のそれぞれに同時に与え、
前記制御装置障害情報検知手段は、前記異常信号を受け
ると前記制御装置メモリの情報を収集して前記制御装置
ディスクに与え、かつ、前記ワークステーション障害情
報収集手段は、前記異常信号を受けると前記ワークステ
ーションメモリの情報を前記ワークステーションディス
クに与えることを特徴とするプロセッサの障害調査情報
収集方式。(3) In a processor having one workstation and a control device that controls the workstation, the control device includes a control device abnormality detection means for detecting an abnormality in the control device, and a control device abnormality detection means for detecting a failure in the control device. a control device failure investigation information collection means for collecting information on the device; a control device memory connected to the control device failure information collection means and storing information on the device failure information collection means; and a control device memory connected to the device failure information collection means. The workstation has a control device disk configured to be connected to the workstation, and the workstation has a workstation failure investigation information collection means for collecting information for failure investigation of the workstation, and is connected to the workstation failure investigation information collection means. a workstation memory for storing information on the workstation failure investigation information collection means; and a workstation disk connected to the workstation failure information collection means; is detected, simultaneously giving an abnormal signal to each of the control device failure information collection means and the workstation failure information collection means,
The control device fault information detecting means collects information in the control device memory and provides it to the control device disk upon receiving the abnormal signal, and the workstation fault information collecting means collects information in the control device memory and provides the information to the control device disk upon receiving the abnormal signal. 1. A processor failure investigation information collection method, characterized in that information of a workstation memory is provided to the workstation disk.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2337047A JPH04205440A (en) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | Fault inspection information collecting system for processor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2337047A JPH04205440A (en) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | Fault inspection information collecting system for processor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04205440A true JPH04205440A (en) | 1992-07-27 |
Family
ID=18304928
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2337047A Pending JPH04205440A (en) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | Fault inspection information collecting system for processor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04205440A (en) |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2337047A patent/JPH04205440A/en active Pending
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