JPH042034A - Method and device for mass-analysis - Google Patents

Method and device for mass-analysis

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JPH042034A
JPH042034A JP2100327A JP10032790A JPH042034A JP H042034 A JPH042034 A JP H042034A JP 2100327 A JP2100327 A JP 2100327A JP 10032790 A JP10032790 A JP 10032790A JP H042034 A JPH042034 A JP H042034A
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electrode
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河内 勝男
Konosuke Oishi
大石 公之助
Toyoji Okumoto
奥本 豊治
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Abstract

PURPOSE:To have easy setting of the electrode voltage at a plurality of levels by making scan for the voltages impressed on a plurality of electrode, and providing automatic voltage setting to the specified value on the basis of the ion sensing output obtained through these scans. CONSTITUTION:Initial voltage setting is made for electrodes A and B during mass spectral measurement of N<15>. The voltage of electrode A is scanned, and when the max. peak value is obtained, setting of the voltage VPA1 of the electrode A at the time is made. This is followed by voltage scan for the electrode B, and when the max. peak value is obtained, setting of the voltage VPB1 of the electrode B at the time is made. Then comparative judgement is made between the max. peak value PA1 and max. peak value PA2. In case the former is greater than the latter, the setting voltage of the electrode A remains at VPA1, and in the opposite case, the voltage of the electrode A is set anew to VPA2. As for how to consider about voltage setting, the same applies to the case with three or more electrodes as the case with two electrodes, provided that steps increase according to the number of electrodes.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は質量分析の方法および装置、特に発生したイオ
ンを質量分析部に導くために用いられる複数の電極の電
圧設定に特徴を有する質量分析の方法および装置に関す
る。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method and apparatus for mass spectrometry, particularly a mass spectrometer characterized by voltage settings of a plurality of electrodes used to guide generated ions to a mass spectrometer. METHODS AND APPARATUS.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

試料を霧状にして窒素ガスまたはアルゴンのような不活
性ガスと共にイオン化部に導き、そしてこれにマイクロ
波エネルギーを与えると、試料およびガスはイオン化し
、プラズマが生じる。このプラズマ中のイオンを質量分
析部に導いて質量分析する試みがなされつつある。
When the sample is atomized and introduced into the ionization section along with an inert gas such as nitrogen gas or argon and microwave energy is applied, the sample and gas are ionized and a plasma is generated. Attempts are being made to guide the ions in the plasma to a mass spectrometer for mass analysis.

このようなマイクロ波プラズマイオン質量分析に当って
は、発生したイオンをある定められた位置に集束した状
態で導き、その上でそのイオンを質量分析部に導入する
ことが望まれる。また、プラズマ中のイオンをある定め
られた位置に集束した状態で導くには、プラズマ発生部
と前記ある定められた位置の間に複数の電極を配置する
ことが望ましい。
In such microwave plasma ion mass spectrometry, it is desirable to guide the generated ions in a focused state at a certain predetermined position, and then introduce the ions into the mass spectrometer. Furthermore, in order to guide ions in the plasma in a focused manner to a certain predetermined position, it is desirable to arrange a plurality of electrodes between the plasma generation section and the certain predetermined position.

試料を霧状にしてアルゴンのような不活性ガスと共にイ
オン化部に導き、高周波磁界にさらすことによっても試
料および不活性ガスがイオン化してプラズマが生じる。
Plasma is also generated by ionizing the sample and the inert gas by introducing the sample into an ionization section together with an inert gas such as argon in atomized form and exposing it to a high-frequency magnetic field.

したがって、このプラズマ中のイオンを引出して質量分
析部に導入すれば同様に質量分析ができる。これは誘導
結合高周波プラズマイオン質量分析として知られている
もので、たとえば特開昭62−20231号公報(対応
米国特許筒4,740,696号明細書)や米国特許第
4,804,838号明細書などに記載されている。
Therefore, mass spectrometry can be similarly performed by extracting ions from this plasma and introducing them into the mass spectrometer. This is known as inductively coupled high-frequency plasma ion mass spectrometry, and is disclosed in, for example, JP-A-62-20231 (corresponding specification of U.S. Pat. No. 4,740,696) and U.S. Pat. No. 4,804,838. It is stated in the specification etc.

このような誘導結合高周波プラズマイオン質量分析の場
合にも、プラズマ中のイオンをある定められた位置に集
束した状態で導き、その上で質量分析部に導入すること
が望ましいことから、プラズマ発生部と前記ある定めら
れた位置の間にその位置にイオンを集束した状態で導く
複数の電極を配置することが望ましい。
Even in the case of such inductively coupled high-frequency plasma ion mass spectrometry, it is desirable to guide the ions in the plasma in a focused state at a certain predetermined position and then introduce them into the mass spectrometer. It is desirable to arrange a plurality of electrodes between and the certain predetermined position to guide ions in a focused state to that position.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

一般的に複数の電極には異なる電圧が印加されるが、そ
れらの電圧を最適な値に設定するのは容易でない。
Generally, different voltages are applied to multiple electrodes, but it is not easy to set these voltages to optimal values.

したがって、本発明の一つの目的は複数の電極電圧の設
定が容易、な質量分析の方法および装置を提供すること
にある。
Therefore, one object of the present invention is to provide a mass spectrometry method and apparatus in which it is easy to set a plurality of electrode voltages.

本発明のもう一つの目的は複数の電極電圧の正確な設定
を可能にするのに適した質量分析の方法および装置を提
供することにある。
Another object of the present invention is to provide a mass spectrometry method and apparatus suitable for allowing accurate setting of multiple electrode voltages.

本発明の他のもう一つの目的は複数の電極電圧のドリフ
トにもとづく感度変化の防止を図るのに適した質量分析
−の方法および装置を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a mass spectrometry method and apparatus suitable for preventing changes in sensitivity due to drift of multiple electrode voltages.

本発明の更に他のもう一つの目的はイオン検出出力の飽
和にもとづく誤った電圧設定を防ぐのに適した質量分析
の方法および装置を提供することにある。
Yet another object of the present invention is to provide a mass spectrometry method and apparatus suitable for preventing erroneous voltage settings due to saturation of ion detection output.

本発明の他の更にもう一つの目的は高計数効率化が可能
な質量分析の方法および装置を提供することにある。
Still another object of the present invention is to provide a mass spectrometry method and apparatus that enable high counting efficiency.

本発明の更に別の目的は質量数誤差があればそれを明確
にすることができる質量分析の方法および装置を提供す
ることにある。
Still another object of the present invention is to provide a mass spectrometry method and apparatus that can clarify mass number errors, if any.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明においては、複数の電極に印加される電圧がそれ
ぞれ走査され、その走査を通じて得られるイオン検出出
力にもとづいて所定の値に自動的に設定される。
In the present invention, the voltages applied to the plurality of electrodes are each scanned and automatically set to a predetermined value based on the ion detection output obtained through the scanning.

本発明の一側面によれば、質量数走査はくり返し行われ
、前記電圧走査は質量数走査ごとにその質量数走査に先
立って行われる。
According to one aspect of the invention, the mass number scans are performed repeatedly, and the voltage scan is performed prior to each mass number scan.

本発明のもう一つの側面によれば、複数の電極に印加さ
れる電圧は所定の順序で走査され、そしてその走査を通
じて得られるイオン検出出力にもとづいて自動的に設定
される。続いて複数の電極のうちの選択された少なくと
も一つの電極の電圧が走査され、そしてその走査を通じ
て得られるイオン検出出力にもとづいて前記選択された
電極の電圧が自動的にチェックされ、再設定される。
According to another aspect of the invention, the voltages applied to the plurality of electrodes are scanned in a predetermined order and are automatically set based on the ion detection output obtained through the scan. Subsequently, the voltage of at least one selected electrode of the plurality of electrodes is scanned, and the voltage of the selected electrode is automatically checked and reset based on the ion detection output obtained through the scanning. Ru.

〔作用〕[Effect]

本発明にあっては、複数の電極に印加される電圧が走査
され、その走査を通じて得られるイオン検出出力にもと
づいて所定の値に自動的に設定されるので、その設定の
容易化が図られる。
In the present invention, the voltage applied to the plurality of electrodes is scanned, and is automatically set to a predetermined value based on the ion detection output obtained through the scanning, which facilitates the setting. .

本発明の一側面によれば、質量数走査がくり返し行われ
、電極電圧走査は質量数走査ごとにその質量数走査に先
立って行われるので、質量分析中に生じる電極電圧のド
リフトにもとづく感度変化の防止が図られる。
According to one aspect of the present invention, since mass number scans are performed repeatedly and electrode voltage scans are performed prior to each mass number scan, sensitivity changes due to electrode voltage drifts that occur during mass spectrometry can be avoided. This will help prevent this.

本発明のもう一つの側面によれば、複数の電極電圧の走
査の後、そのうちの選択された少なくとも一つの電極電
圧は再度走査され、したがってその電極電圧を適切な値
により近づけることができるようになる。すなわち、電
極電圧のより正確な設定が可能となる。
According to another aspect of the invention, after scanning the plurality of electrode voltages, at least one selected one of them is scanned again, so that the electrode voltage can be brought closer to the appropriate value. Become. That is, it is possible to more accurately set the electrode voltage.

〔実施例〕〔Example〕

第1図を参照するに、マイクロ波電力発生器(たとえば
2.45 ギガヘルツ、1キロワツト)1から導波管2
を通してプラズマ発生部にマイクロ波電力を供給する。
Referring to FIG.
Microwave power is supplied to the plasma generation section through.

このときN(窒素)の放電ガス3と共に、試料4をネプ
ライザ5で霧状にしてプラズマ発生部に導入し、プラズ
マをつくる。
At this time, a sample 4 is atomized by a nebulizer 5 and introduced into a plasma generation section together with a N (nitrogen) discharge gas 3 to generate plasma.

プラズマ中のイオンは真空中の質量分析部6に導かれる
。すなわち、イオンはイオンレンズ系6Aにより集束さ
れ、更に質量分析部である四重極マスフィルタ6Bによ
り質量分析され、その質量分析されたイオンはイオン検
出器7で検出される。
Ions in the plasma are guided to a mass spectrometer 6 in vacuum. That is, ions are focused by an ion lens system 6A, further subjected to mass analysis by a quadrupole mass filter 6B, which is a mass spectrometer, and the ions subjected to mass analysis are detected by an ion detector 7.

検出器7の出力はパルス増幅器8で増幅され、ディスク
リミネータ9に導入される。ディスクリミネータ9はマ
スタCPU29によって自動的に設定される弁別レベル
をもち、このレベル以上のパルス信号のみがゲート回路
12に入る。
The output of the detector 7 is amplified by a pulse amplifier 8 and introduced into a discriminator 9. The discriminator 9 has a discrimination level automatically set by the master CPU 29, and only pulse signals above this level enter the gate circuit 12.

一方、ユーザからパーソナルコンピュータ31により、
分析条件設定の情報がインタフェイス30を経て、マス
タCPU29に入り、このCPUはレジスタ28でその
情報信号をコマンド信号に変換しスレーブCPU20に
転送する。スレーブCPU20はレジスタ28のコマン
ド信号に従ってイオン質量分析部の四重極マスフィルタ
6Bによる質量数走査のためのスキャンメモリ18に走
査すべき質量数に対応する電圧のデータを記憶すること
ができるようになっている。そこで、スレーブCPU2
0はアドレス信号をラッチ回路16に一時記憶し、更に
アップダウンカウンタ17を経由してスキャンメモリ1
8にアドレスを設定する。そのアドレスに対応するスキ
ャンデータ(質量数)をバッファ19を通してスキャン
メモリ18に記憶する。この動作をくり返すことにより
一連の走査質量数データをスキャンメモリ18に記憶終
了する。
On the other hand, from the user via the personal computer 31,
Information on setting analysis conditions enters the master CPU 29 via the interface 30, and this CPU converts the information signal into a command signal in the register 28 and transfers it to the slave CPU 20. The slave CPU 20 can store voltage data corresponding to the mass number to be scanned in the scan memory 18 for mass number scanning by the quadrupole mass filter 6B of the ion mass spectrometer according to the command signal of the register 28. It has become. Therefore, slave CPU2
0 temporarily stores the address signal in the latch circuit 16 and further passes it through the up/down counter 17 to the scan memory 1.
Set the address to 8. The scan data (mass number) corresponding to the address is stored in the scan memory 18 through the buffer 19. By repeating this operation, a series of scanned mass number data is stored in the scan memory 18.

その後パーソナルコンピュータ31により測定のスター
トを実行すると、スレーブCPU20からスキャンタイ
ミング回路15にスタート信号を送り、この回路15は
走査モードに従って、ゲート回路12のゲートを開く。
After that, when the personal computer 31 executes the start of measurement, the slave CPU 20 sends a start signal to the scan timing circuit 15, and this circuit 15 opens the gate of the gate circuit 12 according to the scan mode.

それと同時にアップダウンカウンタ17にクロックパル
ス信号を入力し、アップダウンカウンタ17のカウンタ
をインクリメントし、スキャン、メモリ18のメモリア
ドレスを走査して質量数データを出力し、ラッチ回路2
2に一時記憶しながらそのデータをD/A変換器23に
入力する。D/A変換器23は高周波電源24を駆動し
、四重極マスフィルタ6Bをステップスキャンする。す
なわち、質量数走査が行われる。そのステップの時間内
のイオンパルスをゲート回路12を通してパルスカウン
タ13で計数し、ラッチ回路14に送り、スレーブCP
U20中のメモリ部に各ステップスキャンごとの計数値
を記憶する。この走査を何回かくり返し、その走査位置
、いわゆる質量数に対応する各イオン計数量の平均値を
マスタCPU29で求め、スペクトルを算出しパーソナ
ルコンピュータ31の画面に表示する。更にバッファ2
1からスキャンメモリのデータを同時にスレーブCPU
20に送り、現時点でスキャンをしている質量数を、予
め記憶されである質量数と比較しながらパーソナルコン
ピュータ31の画面の横軸に質量数を表示する。
At the same time, a clock pulse signal is input to the up/down counter 17, the counter of the up/down counter 17 is incremented, the memory address of the memory 18 is scanned, the mass number data is output, and the latch circuit 2
The data is input to the D/A converter 23 while being temporarily stored in the D/A converter 23. The D/A converter 23 drives the high frequency power supply 24 to step-scan the quadrupole mass filter 6B. That is, mass number scanning is performed. The ion pulses within the time of that step are counted by the pulse counter 13 through the gate circuit 12, and sent to the latch circuit 14.
The count value for each step scan is stored in the memory section in U20. This scanning is repeated several times, and the average value of each ion count corresponding to the scanning position, so-called mass number, is determined by the master CPU 29, and a spectrum is calculated and displayed on the screen of the personal computer 31. Furthermore, buffer 2
Scan memory data from 1 to slave CPU at the same time
20 and displays the mass number on the horizontal axis of the screen of the personal computer 31 while comparing the mass number currently being scanned with the mass number stored in advance.

両者が不一致の場合は不一致表示をパーソナルコンピュ
ータ31の画面に行う。
If the two do not match, a mismatch display is displayed on the screen of the personal computer 31.

更にマスタCPU29はD/A変換器11を制御し、イ
オン検出器用高圧発生器1.0の電圧をその増倍感度の
良好な位置に設定する機能もそなえている。
Furthermore, the master CPU 29 has a function of controlling the D/A converter 11 and setting the voltage of the ion detector high voltage generator 1.0 to a position where its multiplication sensitivity is favorable.

第2図は第1図のイオンレンズ系の電極配置を示す。プ
ラズマ中のイオンは引出電極50によりサンプリングコ
ーン電極50′を通して引出され、更に加速電極51に
より引出電極50および加速電極51を通して加速され
る。このようにして加速されたイオンはレンズ系の中心
線上に配置された中心電極要素52とその周りに配置さ
れた周囲電極要素53からなる収集電極54によりそれ
らの電極要素間の間隙を通過する。このようにして通過
したイオンは集束電極55によりディファレンシャル開
口電極56を通してスリット電極57の位置に集束し、
この集束したイオンはスリット電極57を通して四重極
マスフィルタ6Bに入って質量分析される。
FIG. 2 shows the electrode arrangement of the ion lens system of FIG. 1. Ions in the plasma are extracted by the extraction electrode 50 through the sampling cone electrode 50', and further accelerated by the acceleration electrode 51 through the extraction electrode 50 and the acceleration electrode 51. The ions thus accelerated pass through the gap between the collecting electrodes 54, which consist of a central electrode element 52 disposed on the center line of the lens system and peripheral electrode elements 53 disposed around it. The ions that have passed through in this manner are focused by the focusing electrode 55 through the differential aperture electrode 56 to the position of the slit electrode 57,
The focused ions enter the quadrupole mass filter 6B through the slit electrode 57 and are subjected to mass analysis.

プラズマ生成時には発光も伴ない、その発光した光は中
心電極要素52により遮蔽される。
When plasma is generated, light is emitted, and the emitted light is blocked by the center electrode element 52.

サンプリングコーン電極50′、引出電極50およびス
リット電極57は接地されているが、これに対して加速
電極51.収集電極54.集束電極55およびディファ
レンシャル開口電極56にはそれぞれ一350ボルト、
+8ボルト、+31ボルトおよび+20ボルトの電圧が
印加される。
The sampling cone electrode 50', the extraction electrode 50, and the slit electrode 57 are grounded, whereas the accelerating electrode 51. Collection electrode 54. Focusing electrode 55 and differential aperture electrode 56 each have a voltage of -350 volts;
Voltages of +8 volts, +31 volts and +20 volts are applied.

これらの電圧はイオン検出器7の出力が最大になるよう
に定められるべきであるが、その調整は実際上はむずか
しい。そこで、本発明においては、その調整を自動的に
行うことによりその容易化を図るようにしている。
These voltages should be determined so that the output of the ion detector 7 is maximized, but adjustment thereof is difficult in practice. Therefore, in the present invention, the adjustment is automatically performed to facilitate the adjustment.

第3図は理解を容易にすへく、電圧が印加される加速電
極51.収集電極54.集束電極55およびディファレ
ンシャル開口電極56のうちの任意の2個の電極に限っ
てそれらに印加される電圧を自動的に調整し、設定する
フローを示す。ここで5選択された2個の電極をA、B
とする。
For ease of understanding, FIG. 3 shows the accelerating electrode 51 to which a voltage is applied. Collection electrode 54. A flow for automatically adjusting and setting the voltage applied to only arbitrary two electrodes of the focusing electrode 55 and the differential aperture electrode 56 is shown. Here, 5 the selected two electrodes are A and B.
shall be.

この電圧調整に当っては、四重極マスフィルタの質量数
走査は行わず、ある質量数に固定して電圧調整が行われ
る。−例として、放電ガス中の窒素N15の同位体イオ
ンの質量数を用いての電圧調整法を説明する。
In this voltage adjustment, mass number scanning of the quadrupole mass filter is not performed, but voltage adjustment is performed with the mass number fixed at a certain mass number. - As an example, a voltage adjustment method using the mass number of nitrogen N15 isotope ions in the discharge gas will be explained.

第3図を参照するに、まずN15の質量スペクトルが測
定される。この測定中に電極A、Bの初期電圧の設定が
行われる。続いてn=1の設定が行われ、電極Aの電圧
が走査され、そのときのイオン検出器出力が最大かどう
か判断される。この判断ステップは最大ピーク値が得ら
れるまでくり返される。最大ピーク値が得られると、そ
のときの電極Aの電圧vp^1の設定が行われる。
Referring to FIG. 3, first, the mass spectrum of N15 is measured. During this measurement, the initial voltages of electrodes A and B are set. Subsequently, n=1 is set, the voltage of electrode A is scanned, and it is determined whether the ion detector output at that time is the maximum. This decision step is repeated until the maximum peak value is obtained. When the maximum peak value is obtained, the voltage vp^1 of the electrode A at that time is set.

次にn=1かどうかの判断が行われる。n;1の設定が
行われたのであるから、このステップではn = 1は
正しいとの判断が行われ、続いて電極Bの電圧走査に進
む。この電圧走査を通じてイオン検出器から得られる出
力信号が最大かどうかの判断が行われる。この判断は最
大ピーク値が得られるまでくり返される。最大ピーク値
が得られると、そのときの電極Bの電圧VPBIの設定
が行われる。この後n=1かどうかの判断が行われるが
、この場合はn=1が正しいので、その次にn=2かど
うかの判断が行われる。明らかに、n=2ではないから
、この場合はnの値が「1」だけインクリメントされる
。すなわち、n=2の設定が行われる。この状態で電極
Aの電圧走査が再度行われる。そして、n=1が正しい
かどうかが判断されるが、この場合はn=2なのでn=
1は正しくないと判断して2回目の電IBの走査を通し
て得られるイオン検出器出力が最大のときの電極Aの電
圧Vp^2が第1回の設定電圧Vp^工と等しいかどう
かが判断される。両者がもし等しければ電極Aの電圧は
Vp^1に設定されたままであるが、等しくない場合は
、第1回目のイオン検出器出力の最大ピーク値P^1と
第2回目のイオン検出器8力の最大ピーク値P^2の比
較判断が行われる。前者が後者より大きい場合には電極
Aの設定電圧はVp^1のままであるが、その反対の場
合は電極Aの電圧はVP^2に設定し直される。
Next, a determination is made as to whether n=1. Since n; 1 has been set, it is determined that n = 1 is correct in this step, and the process then proceeds to voltage scanning of electrode B. Through this voltage scanning, it is determined whether the output signal obtained from the ion detector is the maximum. This determination is repeated until the maximum peak value is obtained. When the maximum peak value is obtained, the voltage VPBI of electrode B at that time is set. After this, a determination is made as to whether n=1, but since n=1 is correct in this case, a determination is then made as to whether n=2. Obviously, n=2, so in this case the value of n is incremented by "1". That is, n=2 is set. In this state, voltage scanning of electrode A is performed again. Then, it is determined whether n=1 is correct, but in this case n=2, so n=
1 is judged to be incorrect, and it is judged whether the voltage Vp^2 of electrode A when the ion detector output obtained through the second IB scan is the maximum is equal to the first set voltage Vp^. be done. If they are equal, the voltage of electrode A remains set to Vp^1, but if they are not equal, the maximum peak value P^1 of the output of the first ion detector and the voltage of the second ion detector 8 are changed. A comparative judgment is made on the maximum peak value P^2 of the force. If the former is larger than the latter, the set voltage of electrode A remains Vp^1, but in the opposite case, the voltage of electrode A is reset to VP^2.

電極Bの電圧設定も第3図のフローかられかるように同
様に行われる。そして、最後にn=2かどうかの判断が
行われるが、この場合はn=2が正しいから、これで電
極A、Bの電圧設定調整は終了する。
The voltage setting of electrode B is also performed in the same manner as shown in the flowchart of FIG. Finally, it is determined whether n=2, but since n=2 is correct in this case, the voltage setting adjustment for electrodes A and B is completed.

電極が3個以上の場合も、その電極の数だけステップが
増えるだけで、電圧設定の考え方は2個の電極の場合と
全く同じである。
When there are three or more electrodes, the voltage setting concept is exactly the same as when there are two electrodes, except that the number of steps increases by the number of electrodes.

複数個の電極は1個のレンズを構成するものと考えるこ
とができる。電圧調整は1個の電極ごと行われので、こ
れにより電極相互間の電圧変化が生じ、全体としてイオ
ン検出器出力に影響が現われる。そこで、各電極電圧の
調整を複数回行えば、各電極電圧を全体として最大イオ
ン検出出力を与える最適電圧値に近づけることができる
The plurality of electrodes can be considered to constitute one lens. Since voltage adjustment is performed for each electrode, this causes a voltage change between the electrodes, which affects the ion detector output as a whole. Therefore, by adjusting each electrode voltage multiple times, it is possible to bring each electrode voltage closer to the optimal voltage value that provides the maximum ion detection output as a whole.

各電極電圧のイオン検出出力に与える影響の度合いは必
ずしも同じではなく、ある電極電圧は他の電極電圧に比
べてイオン検出出力に与える影響が非常に小さい場合が
ある。この場合は、影響度の大きい電極電圧類にその調
整を行うとよい。また、影響度の非常に小さい電極電圧
のチェックは1回だけでよいこともある。
The degree of influence of each electrode voltage on the ion detection output is not necessarily the same, and some electrode voltages may have a much smaller influence on the ion detection output than other electrode voltages. In this case, it is advisable to adjust the electrode voltages that have a large influence. Further, the electrode voltage, which has a very small influence, may only need to be checked once.

第4図〜第6図は3個の電極電圧を、n=3として調整
、設定する場合のフローである。ただし、第1および第
2の電極電圧チェックは3回行うが、第3の電極電圧の
チェックは2回行う場合の例である。3個の電極はそれ
ぞれA、BおよびCとして説明することにする。
FIGS. 4 to 6 are flowcharts for adjusting and setting three electrode voltages with n=3. However, although the first and second electrode voltage checks are performed three times, the third electrode voltage check is performed twice. The three electrodes will be described as A, B and C, respectively.

まず、NIBのスペクトル測定が行われる。その測定を
通じて電極A、BおよびCの初期電圧設定が行われる。
First, NIB spectrum measurement is performed. Through this measurement, initial voltage settings for electrodes A, B, and C are performed.

その後、n=1の設定が行われ、この状態で電極Aの電
圧走査が行われる。この走査はイオン検出器出力が最大
ピーク値を与えるまでくり返される。その出力が最大ピ
ークを与えると、そのときの電極Aの電圧VPA1が設
定される。その後n=1かどうかの判断が行われるが、
この場合はn=1が正しいから、この後電極Bの電圧チ
ェック、設定に移る(第5図)。このチェック。
Thereafter, n=1 is set, and voltage scanning of electrode A is performed in this state. This scan is repeated until the ion detector output gives the maximum peak value. When the output reaches its maximum peak, the voltage VPA1 of electrode A at that time is set. After that, a judgment is made whether n=1 or not,
In this case, since n=1 is correct, the next step is to check and set the voltage of electrode B (FIG. 5). This check.

設定は電極Aの電圧のそれと同様にして行われる。The setting is done in a similar way to that of the voltage of electrode A.

その後、n =1かどうかの判断が行われるが、n=1
が正しいから1次に電極Cの電圧のチェック。
After that, it is determined whether n = 1, but n = 1
is correct, so first check the voltage of electrode C.

設定に進む(第6図)。このチェック、設定も電極Aの
電圧のそれと同じである。最後にn=3がどうかの判断
がなされるが、この場合n=3は正しくないから、もう
−度電極Aの電圧のチェック。
Proceed to settings (Figure 6). This check and setting are also the same as those for the voltage of electrode A. Finally, it is determined whether n=3, but in this case n=3 is incorrect, so check the voltage of electrode A again.

設定に戻る。すなわち、nの値が「1ノだけインクリメ
ントされる。そのチェック、設定のやり方は第1回のそ
れと同じである。
Return to settings. That is, the value of n is incremented by 1.The checking and setting method is the same as the first time.

次いで、n=1かどうかの判断が行われるが、n=2が
正しいので、その後n=2がどうかの判断が行われる。
Next, it is determined whether n=1, but since n=2 is correct, it is then determined whether n=2.

この場合、n=2が正しいので、その後第2回目の電極
Aの電圧Vp^2と第1回目のそれV P A 1 と
の比較判断が行われる。両者が等しいならVPAIは変
更されないが5等しくないならば、第1回目のイオン検
出器出力P^1と第2回目のそれP^2との比較判断が
なされる。前者が後者よりも大きければVPAIの変更
はなされないが、その逆の場合は電極Aの電圧はVPA
Iではなく、Vp^2に設定し直される。
In this case, since n=2 is correct, the second voltage Vp^2 of the electrode A and the first voltage V P A 1 are then compared and judged. If they are equal, VPAI is not changed, but if they are not equal, a comparison is made between the first ion detector output P^1 and the second ion detector output P^2. If the former is greater than the latter, no change in VPAI is made, but in the opposite case, the voltage at electrode A becomes VPAI.
It is reset to Vp^2 instead of I.

その後電極BおよびCについても全く同様のことが実行
される。最後にn=3がどろかの判断がなされるが、ま
だn=2であるので、更にもう一度電極Aの電圧のチェ
ック設定に戻る。つまり、nが更にrlJだけインクリ
メントされる。これにより電極Aの電圧のチェック、設
定がまた行われる。そのやり方は第1回目および第2回
目のそれと同じである。その後n=1がどうかの判断が
行われるが、n==1ではないので、その後頁にn=2
かどうかの判断がなされる。もちろん、n;2ではなく
、n=3なので、今度は第3回目の電極Aの電圧Vp^
3と第2回目の設定電圧vPAiまたはVpAxとが等
しいがどうがが判断される。もし等しければ、電極Aの
電圧設定の変更は行われないが、等しくなければ第3回
目のイオン検出器出力P^8と第2回目のイオン検出出
方FAIまたはP^2との大小の判断がなされる。もち
ろん前者が小さいなら電極Aの電圧変更はなされないが
、その反対の場合は電極Aの電圧はVpAsに設定し直
される。
Exactly the same is then carried out for electrodes B and C. Finally, it is determined whether n=3, but since n=2, the process returns to checking the voltage of electrode A once again. That is, n is further incremented by rlJ. As a result, the voltage of electrode A is checked and set again. The method is the same as the first and second rounds. After that, a judgment is made as to whether n = 1, but since n = = 1, n = 2 on the subsequent page.
A judgment will be made as to whether Of course, since n=3 instead of n;2, this time the voltage Vp of electrode A for the third time
3 is equal to the second setting voltage vPAi or VpAx. If they are equal, the voltage setting of electrode A is not changed, but if they are not equal, the judgment of the magnitude of the third ion detector output P^8 and the second ion detection output FAI or P^2 is made. will be done. Of course, if the former is small, the voltage of electrode A is not changed, but in the opposite case, the voltage of electrode A is reset to VpAs.

その後電極Bの電圧の第3回目のチェック、設定ステッ
プに移行する(第5図)。そのやり方は電極Aについて
のそれと同じである。これが終ると、n;3かどうかの
判断が行われる。もちろん、n=3なので、これで全電
極の電圧の調整、設定が終了する。
Thereafter, the process moves to the third checking and setting step of the voltage of electrode B (FIG. 5). The procedure is the same as that for electrode A. When this is completed, a determination is made as to whether n;3. Of course, since n=3, this completes the adjustment and setting of the voltages of all electrodes.

以上の電極電圧の調整、設定は質量数走査ごとにその走
査に先立って行われる。すなわち、高周波電源24の高
周波の走査、したがって質量数の走査を第78 (b)
に示すように行うと質量スペクトルは第7図(c)に示
すように得られるので、電極電圧の調整、設定はくり返
し質量数走査の前段T(第7図(a)参照)の間に行わ
れる。これにより、電極電圧のドリフトにもとづく感度
変化が軽減される8 窒素ガスには同位体存在比が99.6%のN14と0.
37%のN14がある。電極電圧の調整、設定のために
N14イオンを用いるとある電圧の場合、あるいは試料
濃度が高い場合はイオン検出出力が飽和する場合があり
得る。この問題は存在比の少ないN1Bイオンを用いる
ことにより解決される。
The above adjustment and setting of the electrode voltage is performed for each mass number scan prior to that scan. In other words, the scanning of the high frequency of the high frequency power supply 24, and therefore the scanning of the mass number, is performed in the 78th (b)
If the procedure is performed as shown in Figure 7(c), the mass spectrum will be obtained as shown in Figure 7(c), so the adjustment and setting of the electrode voltage should be repeated during the previous stage T of mass number scanning (see Figure 7(a)). be exposed. This reduces sensitivity changes due to electrode voltage drift.8 Nitrogen gas has an isotope abundance ratio of N14 of 99.6% and 0.9%.
There is 37% N14. When N14 ions are used to adjust and set the electrode voltage, the ion detection output may become saturated at a certain voltage or when the sample concentration is high. This problem can be solved by using N1B ions, which have a low abundance ratio.

また、不活性ガスであるアルゴンにも同位体存在比が0
.337%のA r36.0.063%のAr3899
.6%のAr40がある。したがって、マイクロ液プラ
ズマ生成のためにアルゴンを用いる場合は、存在比の少
ないAr”またはAr5gを用いるとよい。
Also, the isotope abundance ratio of argon, which is an inert gas, is 0.
.. 337% Ar36.0.063% Ar3899
.. There is 6% Ar40. Therefore, when using argon for micro liquid plasma generation, it is preferable to use Ar'' or Ar5g, which has a low abundance ratio.

なお、電極電圧調整、設定のためにマイクロ波プラズマ
生成用のガスイオンを用いる場合は、特別な標準試料を
特に用意する必要がないというメリットもある。
Note that when gas ions for generating microwave plasma are used to adjust and set the electrode voltage, there is also the advantage that there is no need to prepare a special standard sample.

第8図は電極電圧の調整時に表示される表示画面の例で
ある。電極A、B、CおよびDの電圧値が表示され、ま
たN”スペクトルについてイオン検出器出力パルスの計
数値が各電極電圧ごとに重ねて棒グラフ状に示される。
FIG. 8 is an example of a display screen displayed when adjusting the electrode voltage. The voltage values of electrodes A, B, C, and D are displayed, and the count value of the ion detector output pulses for the N'' spectrum is shown in bar graph form overlaid for each electrode voltage.

これにより、電極電圧の調整、設定状況が視覚的に確認
できる。
This allows you to visually check the adjustment and setting status of the electrode voltage.

第9図はディスクリミネータの弁別レベル設定用の構成
図で、イオン検出器7からの出力イオン信号はパルス増
幅器8で増幅され、ディスクリミネータ9に入力される
。マスタCPUはD/A変換器11′を制御し、ディス
クリミネータ9の弁別レベルを設定する。このとき第1
0図のようにプラズマ生成前にノイズNをパルス波高値
の調整範囲LDL−HDL内で各等間隔点におけるパル
スカウンタ数としてパルスカウンタ13で計数し。
FIG. 9 is a block diagram for setting the discrimination level of the discriminator. The output ion signal from the ion detector 7 is amplified by the pulse amplifier 8 and input to the discriminator 9. The master CPU controls the D/A converter 11' and sets the discrimination level of the discriminator 9. At this time, the first
As shown in FIG. 0, before plasma generation, the noise N is counted by a pulse counter 13 as the number of pulse counters at each equally spaced point within the pulse height value adjustment range LDL-HDL.

メモリ32に記憶する。次にプラズマを生成し、Nl”
イオンを測定し、同じ点における信号Sのカウント数を
計数し、マスタCPU29で各点のS/N比率を計算す
る。そしてS/Nカーブの最大ピーク値DLを求め、こ
の位置にディスクリミネータ9の弁別レベルを設定する
。これによりパルス計数効率が高められ、検出感度が高
められる。
It is stored in the memory 32. Next, a plasma is generated and Nl”
The ions are measured, the number of signals S at the same point is counted, and the master CPU 29 calculates the S/N ratio at each point. Then, the maximum peak value DL of the S/N curve is determined, and the discrimination level of the discriminator 9 is set at this position. This increases pulse counting efficiency and increases detection sensitivity.

なお、第10図の横軸はパルス波高値で、これは第11
図の縦軸であるパルスの大きさを表わすものである。
The horizontal axis in Fig. 10 is the pulse height value, which is the 11th
The vertical axis of the figure represents the magnitude of the pulse.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、次のような効果が期待できる。 According to the present invention, the following effects can be expected.

(1)複数の電極電圧の設定が容易である。(1) It is easy to set a plurality of electrode voltages.

(2)その電極電圧の設定を正確に行うことが可能であ
る。
(2) It is possible to accurately set the electrode voltage.

(3)電極電圧のドリフトにもとづく感度変化の防止が
図られる。
(3) Sensitivity changes due to electrode voltage drift can be prevented.

(4)イオン検出出力の飽和にもとづく誤った電圧設定
の防止が図られる。
(4) Erroneous voltage setting based on saturation of ion detection output can be prevented.

(5)高計数効率化が図られる。(5) High counting efficiency is achieved.

(6)質量数誤差の確認ができる。(6) Mass number errors can be confirmed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す質量分析装置のブロッ
ク図、第2図は第1図のレンズ系の配置図、第3図は本
発明にもとづく電極電圧の一調整。 設定例のフロー図、第4図〜第6図は本発明にもとづく
電極電圧のもう一つの調整、設定例のフロー図、第7図
は本発明にもとづく質量数走査と電極電圧の調整、設定
との一つの関係を示す図、第8図は本発明にもとづく電
極電圧の調整、調定時の画面の一つの表示例、第9図は
第1図のディスクリミネータ回路図、第10図は弁別レ
ベル設定のための説明図、第11図は第10図の横軸を
説明するための図である。 質量分析部、 9・・・ディスクリミネータ、 ・・・スキャンメモリ、 20・・・スレーブcpu、 第 図 第 図 第 図 CR7画面 →時間 第 第11 図 図 峙聞
FIG. 1 is a block diagram of a mass spectrometer showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a layout diagram of the lens system in FIG. 1, and FIG. 3 is an adjustment of the electrode voltage according to the present invention. A flow diagram of a setting example, FIGS. 4 to 6 are a flow diagram of another adjustment of the electrode voltage according to the present invention, a flow diagram of a setting example, and FIG. 7 is a flow diagram of the adjustment and setting of mass number scanning and electrode voltage according to the present invention. FIG. 8 is an example of the screen display during adjustment of the electrode voltage according to the present invention, FIG. 9 is the discriminator circuit diagram of FIG. 1, and FIG. An explanatory diagram for setting the discrimination level, FIG. 11 is a diagram for explaining the horizontal axis of FIG. 10. Mass spectrometry section, 9...Discriminator,...Scan memory, 20...Slave CPU, Figure CR7 screen → Time Figure 11 Figure Screen

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、イオンを発生し、そのイオンを複数の電極を用いて
予め定められた位置に集束した状態で導き、その導かれ
たイオンを質量分析部に導いて質量分析し、その質量分
析されたイオンを検出する質量分析法であつて、前記複
数の電極に印加される電圧をそれぞれ走査し、その走査
を通じて得られる前記イオン検出出力にもとづいて前記
電圧を自動的に設定する質量分析法。 2、前記設定されるべき電圧の各々は前記イオン検出出
力が実質的に最大であるときの値である請求項1にもと
づく質量分析法。 3、前記イオンはマイクロ波プラズマイオンからなる請
求項1にもとづく質量分析法。 4、前記イオンは同位体のうちのその存在比の少ない方
の同位体のイオンからなる請求項3にもとづく質量分析
法。 5、前記プラズマイオン生成時の前記イオン検出出力の
、そのプラズマ非生成時の前記イオン検出出力ノイズ成
分に対する比の実質的な最大値に設定された弁別レベル
をもつディスクリミネータに前記イオン検出出力を導く
ことを特徴とする請求項3にもとづく質量分析法。 6、イオンを発生し、そのイオンを複数の電極を用いて
予め定められた位置に集束した状態で導き、その導かれ
たイオンを質量分析部に導いて質量数走査を行いながら
質量分析し、その質量分析されたイオンを検出する質量
分析法であつて、前記複数の電極に印加される電圧をそ
れぞれ走査し、その走査を通じて得られる前記イオン検
出出力にもとづいて前記電圧を自動的に設定する質量分
析法。 7、前記イオンの走査すべき質量数を前もつて記憶装置
に記憶しておき、前記質量分析を行うために前記質量数
を走査するときにこの走査中の質量数を前記記憶されて
いる質量数と逐次比較してその走査中の質量数の誤りを
チェックすることを特徴とする請求項7にもとづく質量
分析法。 8、イオンを発生し、そのイオンを複数の電極を用いて
予め定められた位置に集束した状態で導き、その導かれ
たイオンを質量分析部に導いて質量数走査をくり返し行
いながら質量分析し、その質量分析されたイオンを検出
する質量分析法であつて、前記質量数走査ごとにその質
量数走査に先立つて前記複数の電極に印加される電圧を
走査し、その走査を通じて得られる前記イオン検出出力
にもとづいて前記電圧を自動的に設定する質量分析法。 9、前記設定されるべき電圧の各々は前記イオン検出出
力が実質的に最大であるときの値であることを特徴とす
る請求項8にもとづく質量分析法。 10、イオンを発生し、そのイオンを複数の電極を用い
て予め定められた位置に集束した状態で導き、その導か
れたイオンを質量分析部に導いて質量分析し、その質量
分析されたイオンを検出する質量分析法であつて、前記
複数の電極に印加される電圧を所定の順序で走査して、
その走査を通じて得られる前記イオン検出出力にもとづ
いて前記電圧をそれぞれ自動的に設定し、しかる後に前
記複数の電極のうちの選択された少なくとも一つの電極
の電圧を走査して、その走査を通じて得られる前記イオ
ン検出出力にもとづいて前記選択された電極の電圧を自
動的にチェックし、再設定することを特徴とする質量分
析法。 11、前記質量分析のために前記イオンの質量数を複数
回走査し、その走査ごとにその走査に先立って前記複数
の電極の電圧の設定を行うことを特徴とする質量分析法
。 12、イオンを発生する手段と、その発生したイオンを
予め定められた位置に集束した状態で導く複数の電極と
、これらの電極にそれぞれ電圧を印加する手段と、前記
導かれたイオンを質量分析するように質量数走査をくり
返し行う手段と、質量分析されたイオンを検出する手段
と、前記質量数走査ごとにその走査に先立つて前記複数
の電極に印加される電圧を走査して、その走査を通じて
得られる前記イオン検出手段の出力にもとづいて前記電
圧を自動的に設定する手段とを備えている質量分析装置
。 13、前記設定されるべき電圧の各々は前記イオン検出
出力が実質的に最大であるときの値であることを特徴と
する請求項12にもとづく質量分析装置。 14、前記イオン発生手段はマイクロ波プラズマイオン
源を含む請求項12にもとづく質量分析装置。 15、前記イオンは同位体のうちのその存在比の少ない
方の同位体のイオンからなる請求項14にもとづく質量
分析装置。 16、前記イオン検出出力を弁別するディスクリミネー
タを備え、このディスクリミネータの弁別レベルは前記
プラズマイオン生成時の前記イオン検出出力の、そのプ
ラズマ非生成時の前記イオン検出出力ノイズ成分に対す
る比の実質的な最大値に設定されている請求項15にも
とづく質量分析装置。 17、前記イオンの走査すべき質量数を予め記憶する手
段を備え、前記質量分析のために前記質量数を走査する
ときにこの走査中の質量数を前記記憶されている質量数
と逐次比較してその走査中の質量数の誤りをチェックす
るように構成されている請求項12にもとづく質量分析
装置。 18、イオンを発生する手段と、その発生したイオンを
予め定められた位置に集束した状態で導く複数の電極と
、これらの電極にそれぞれ電圧を印加する手段と、前記
導かれたイオンを質量分析するように質量数走査をくり
返し行う手段と、前記質量数走査ごとにその走査に先立
つて前記複数の電極の電圧を順番に走査して、その走査
を通じて得られる前記イオン検出手段の出力にもとづい
てそれぞれの電極電圧を設定し、その後それらの電極の
うちの予め選択された少なくとも一つの電極の電圧を走
査して、その走査を通じて得られる前記イオン検出手段
の出力にもとづいてその選択された電極の電圧をチェッ
クし、設定するように前記電圧印加手段を調整する手段
とを備えている質量分析装置。 19、前記設定される電圧の各々はその走査を通じて得
られる前記イオン検出手段の出力が実質的に最大となる
値に設定されることを特徴とする請求項18にもとづく
質量分析装置。
[Claims] 1. Generate ions, guide the ions in a focused manner to a predetermined position using a plurality of electrodes, and guide the guided ions to a mass spectrometer for mass spectrometry; A mass spectrometry method for detecting the mass-analyzed ions, in which voltages applied to the plurality of electrodes are each scanned, and the voltages are automatically set based on the ion detection output obtained through the scanning. Mass spectrometry. 2. The mass spectrometry method according to claim 1, wherein each of the voltages to be set has a value when the ion detection output is substantially maximum. 3. The mass spectrometry method according to claim 1, wherein said ions are microwave plasma ions. 4. The mass spectrometry method according to claim 3, wherein said ions are ions of an isotope with a lower abundance ratio among isotopes. 5. The ion detection output is applied to a discriminator having a discrimination level set to a substantially maximum value of the ratio of the ion detection output when the plasma ions are generated to the noise component of the ion detection output when the plasma is not generated. A mass spectrometry method according to claim 3, characterized in that it leads to: 6. Generate ions, guide the ions in a focused state at a predetermined position using a plurality of electrodes, guide the guided ions to a mass spectrometer and perform mass analysis while performing mass number scanning, A mass spectrometry method for detecting the mass-analyzed ions, in which voltages applied to the plurality of electrodes are each scanned, and the voltages are automatically set based on the ion detection output obtained through the scanning. Mass spectrometry. 7. The mass number of the ions to be scanned is stored in advance in a storage device, and when scanning the mass number in order to perform the mass analysis, the mass number during this scanning is used as the stored mass number. 8. A mass spectrometry method according to claim 7, characterized in that an error in the mass number during the scan is checked by successive comparison with the mass number. 8. Generate ions, focus and guide the ions to a predetermined position using multiple electrodes, guide the guided ions to a mass spectrometer, and perform mass analysis while repeating mass number scanning. , a mass spectrometry method for detecting the mass-analyzed ions, in which the voltages applied to the plurality of electrodes are scanned prior to each mass number scan, and the ions obtained through the scan are A mass spectrometry method in which the voltage is automatically set based on the detection output. 9. The mass spectrometry method according to claim 8, wherein each of the voltages to be set has a value when the ion detection output is substantially maximum. 10. Generate ions, guide the ions in a focused manner to a predetermined position using multiple electrodes, guide the guided ions to a mass spectrometer for mass analysis, and collect the mass-analyzed ions. A mass spectrometry method for detecting
Each of the voltages is automatically set based on the ion detection output obtained through the scanning, and then the voltage of at least one electrode selected from the plurality of electrodes is scanned, and the voltage is obtained through the scanning. A mass spectrometry method characterized in that the voltage of the selected electrode is automatically checked and reset based on the ion detection output. 11. A mass spectrometry method, characterized in that the mass number of the ions is scanned multiple times for the mass spectrometry, and voltages of the plurality of electrodes are set prior to each scan. 12. A means for generating ions, a plurality of electrodes for guiding the generated ions in a focused state at a predetermined position, a means for applying a voltage to each of these electrodes, and mass spectrometry for the guided ions. means for repeatedly performing mass number scanning so as to perform mass number scanning; means for detecting mass-analyzed ions; and means for scanning voltages applied to the plurality of electrodes prior to each mass number scanning; and means for automatically setting the voltage based on the output of the ion detection means obtained through the ion detection means. 13. The mass spectrometer according to claim 12, wherein each of the voltages to be set has a value when the ion detection output is substantially maximum. 14. The mass spectrometer according to claim 12, wherein said ion generating means includes a microwave plasma ion source. 15. The mass spectrometer according to claim 14, wherein said ions are ions of an isotope with a lower abundance ratio among isotopes. 16. A discriminator is provided for discriminating the ion detection output, and the discrimination level of this discriminator is the ratio of the ion detection output when the plasma ions are generated to the ion detection output noise component when the plasma is not generated. 16. A mass spectrometer according to claim 15, wherein the mass spectrometer is set to a substantially maximum value. 17. A means for storing in advance the mass number to be scanned of the ions, and when scanning the mass number for the mass analysis, successively comparing the mass number during this scanning with the stored mass number. 13. A mass spectrometer according to claim 12, wherein the mass spectrometer is configured to check for mass number errors during its scanning. 18. A means for generating ions, a plurality of electrodes that guide the generated ions in a focused state at a predetermined position, a means for applying a voltage to each of these electrodes, and mass spectrometry for the guided ions. means for repeatedly performing mass number scanning so as to perform mass number scanning; and prior to each mass number scanning, sequentially scanning the voltages of the plurality of electrodes, based on the output of the ion detection means obtained through the scanning. The voltage of each electrode is set, and then the voltage of at least one preselected electrode is scanned, and the voltage of the selected electrode is determined based on the output of the ion detection means obtained through the scanning. and means for adjusting said voltage applying means to check and set the voltage. 19. The mass spectrometer according to claim 18, wherein each of the set voltages is set to a value that substantially maximizes the output of the ion detection means obtained through the scan.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07230786A (en) * 1994-02-17 1995-08-29 Shimadzu Corp Element analyzer
JP2011102714A (en) * 2009-11-10 2011-05-26 Jeol Ltd Spectrum signal correction method in quadrupole mass spectrometer
JP2011257333A (en) * 2010-06-11 2011-12-22 Shimadzu Corp Mass spectrometer

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