JPH04176095A - Semiconductor memory device - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体メモリ装置に関するものである。[Detailed description of the invention] (Industrial application field) The present invention relates to a semiconductor memory device.
(従来の技術)
コンピューターの外部記憶装置としては、磁気ディスク
装置や光磁気ディスク装置、磁気テープ装置等が主に使
用されているが、情報量の増加やコンビエータ−のデー
タ処理能力の向上により、高速アクセス・高速データ転
送および高信頼性を有する外部記憶装置の要求が高まっ
てきた。そこで、磁気ディスク装置や光磁気ディスク装
置、磁気テープ装置等の記録部である磁気ディスク・光
磁気ディスク・磁気テープ等の記憶媒体を高速アクセス
・高速データ転送が可能である半導体メモリで置き換え
た半導体メモリ装置の一種である半導体ディスク装置が
提案されている。(Prior art) Magnetic disk devices, magneto-optical disk devices, magnetic tape devices, etc. are mainly used as external storage devices for computers, but as the amount of information increases and the data processing ability of combinators improves, There has been an increasing demand for external storage devices that have high-speed access, high-speed data transfer, and high reliability. Therefore, the storage media such as magnetic disks, magneto-optical disks, and magnetic tapes, which are the recording parts of magnetic disk devices, magneto-optical disk devices, and magnetic tape devices, are replaced with semiconductor memories that are capable of high-speed access and high-speed data transfer. A semiconductor disk device, which is a type of memory device, has been proposed.
半導体メモリには、揮発性のRAMと不揮発性のRAM
があるが、コスト的ンこは、不揮発性のRAMの方が高
価であり、また、不揮発性のRAMは、揮発性のRAM
よりアクセスタイムが遅いものである。現在、半導体メ
モリ装置の原価の大部分はRAMであり、そのビットコ
ストは、安価な揮発性のRAMを使用した場合でも、他
の上述のコンピューターの外部記憶装置のビットコスト
の2ケタ近く高価であり、また、アクセスタイムが遅い
ということもあって現実的には、不揮発性のRAMの採
用は少なく、揮発性のRAMの使−用が大部分を占めて
いるが、不揮発性のRAMと揮発性のRAMが1チツプ
となっているものを使用しているものもある。記憶部に
揮発性のRAMを使用するにあたって、停電時及び移動
時のデータの保持として、バッテリーによるバンクアッ
プを行う必要がある。このバックアップを行える時間が
長ければ長いほど長期停電や長期移動時のデータの保持
が可能となる。Semiconductor memory includes volatile RAM and non-volatile RAM.
However, in terms of cost, non-volatile RAM is more expensive, and non-volatile RAM is more expensive than volatile RAM.
The access time is slower. Currently, most of the cost of semiconductor memory devices is RAM, and even when using cheap volatile RAM, its bit cost is nearly two digits higher than the bit cost of the external storage devices of other computers mentioned above. In reality, non-volatile RAM is rarely used due to its slow access time, and volatile RAM accounts for most of the usage, but non-volatile RAM and volatile Some devices use a single-chip RAM. When using volatile RAM in the storage section, it is necessary to perform bank up with a battery to retain data during power outages and during movement. The longer this backup can be performed, the more data can be retained during long-term power outages or long-term travel.
以下、従来の半導体メモリ装置のバックアップ回路の1
例を示す。第2図の図中、Vはバックアップ回路の印加
電圧、VIはバックアップ時に電力を供給する必要のな
い回路の印加電圧、VBはバックアップ時に電力を供給
する必要のある回路の印加電圧である。6はバックアッ
プ電池であり・Eは・4ツクアツプ電池6の端子電圧で
ある。Below is one of the backup circuits of conventional semiconductor memory devices.
Give an example. In the diagram of FIG. 2, V is the applied voltage of the backup circuit, VI is the applied voltage of the circuit that does not need to supply power during backup, and VB is the applied voltage of the circuit that needs to be supplied with power during backup. 6 is a backup battery, and E is the terminal voltage of the 4-pull-up battery 6.
1.2.5はダイオードで、ダイオード1.2はVの電
圧を落として回路動作範囲電圧のVl、VBとするため
のものであり、ダイオード5は、バックアップ時に電源
に電流が逆流しないようにするためのものである。4,
9.10は抵抗で、抵抗4はバックアップ電池の充電電
流を規制するためのもので、抵抗9.10は過電流防止
のためのものである。7は電源電圧監視用回路、16゜
17.18は電源電圧監視用回路7の端子で、16は電
圧検出端子、17は電源電圧監視用回路電源端子、18
はリセット端子である。電源監視用回路7は電圧検出端
子16に印加されている電圧が回路の最小動作電圧より
高いとリセット端子18の端子電圧を電源端子16と同
じ電圧に、回路最小動作電圧より低くなるとOvになる
ように設定されている。11はトランジスタで、バック
アップ電池6の電力なり■に供給するかどうかのスイッ
チの役割を果たすものである。ここで、回路の動作電圧
範囲を4.5〜5.5Vとすれば、バックアップ電池6
としては1.2vを直列に4個接続したものを使用する
。この場合バックアップ電池6が、充電を完了するには
Eに6v程度の電圧を印加せねばならず、そのためには
、抵抗4及びダイオード5の電圧降下を考慮したVの値
を設定しなけhばならない。そのため、■を直接、回路
に印加すると回路動作電圧範囲を越えてしまうのでダイ
オード1でVを回路動作範囲に電圧を落とした電圧Vl
となるようにし、ダイオード2でVをvlIとなるよう
にしている。また、電源監視用回路7では、vlを監視
電圧とし、電源端子17には、バックアップ電池電圧E
を印加しているので、バックアップ時にも電源監視用回
路7は、正常に動作を行うことができる。ここでの電源
監視用回路7は、電源端子17に6v程度の電圧を印加
しても十分動作するものである。以下、回路動作を説明
する。1.2.5 is a diode, diode 1.2 is for reducing the voltage of V to the circuit operating range voltages Vl and VB, and diode 5 is for preventing current from flowing back into the power supply during backup. It is for the purpose of 4,
9.10 is a resistor, resistor 4 is for regulating the charging current of the backup battery, and resistor 9.10 is for overcurrent prevention. 7 is a power supply voltage monitoring circuit, 16° 17.18 is a terminal of the power supply voltage monitoring circuit 7, 16 is a voltage detection terminal, 17 is a power supply voltage monitoring circuit power supply terminal, 18
is the reset terminal. The power supply monitoring circuit 7 sets the terminal voltage of the reset terminal 18 to the same voltage as the power supply terminal 16 when the voltage applied to the voltage detection terminal 16 is higher than the minimum operating voltage of the circuit, and becomes Ov when the voltage is lower than the circuit minimum operating voltage. It is set as follows. Reference numeral 11 denotes a transistor, which serves as a switch for supplying power to the backup battery 6 or not. Here, if the operating voltage range of the circuit is 4.5 to 5.5V, the backup battery 6
For example, four 1.2V voltages connected in series are used. In this case, in order for the backup battery 6 to complete charging, a voltage of approximately 6V must be applied to E, and in order to do so, the value of V must be set in consideration of the voltage drop across the resistor 4 and diode 5. No. Therefore, if ■ is applied directly to the circuit, it will exceed the circuit operating voltage range, so diode 1 is used to reduce V to the circuit operating range, which is the voltage Vl.
The diode 2 is used to set V to vlI. In the power supply monitoring circuit 7, vl is the monitoring voltage, and the power supply terminal 17 has a backup battery voltage E.
is applied, the power supply monitoring circuit 7 can operate normally even during backup. The power supply monitoring circuit 7 here operates satisfactorily even when a voltage of about 6V is applied to the power supply terminal 17. The circuit operation will be explained below.
通常動作時、つまりVに電圧が印加されている状態では
、Vl−VBには、Vからダイオード1.2を通して電
力が供給され、それと平行して、バックアップ電池6e
こ抵抗4で規制された電流で充電が行なわれる。また、
Vlには、回路動作範囲内の電圧が印加されているので
、リセット出力端子18の端子電圧は、電源電圧監視用
回路電源端子17と同じ電圧を出力するので、トランジ
スタ11は、OFFとなり電流は流れない。During normal operation, that is, when a voltage is applied to V, Vl-VB is supplied with power from V through the diode 1.2, and in parallel, the backup battery 6e
Charging is performed using a current regulated by the resistor 4. Also,
Since a voltage within the circuit operating range is applied to Vl, the terminal voltage of the reset output terminal 18 outputs the same voltage as the power supply voltage monitoring circuit power supply terminal 17, so the transistor 11 is turned off and the current is Not flowing.
■の電圧がOVとなったバックアップ時は、バックアッ
プ電流が逆流しないので、Vlの電圧はOvとなる。す
なわち、Vlの電圧が回路最小動作電圧より低くなった
時であるから、リセット出力端子18はOvとなり、ト
ランジスタ11がONとなるのでトランジスタ11を通
して、バックアップ電池6の電力が供給され、VIlの
電圧が回路動作電圧を維持することになる。During backup when the voltage (2) becomes OV, the backup current does not flow backward, so the voltage of Vl becomes Ov. That is, when the voltage of Vl becomes lower than the circuit minimum operating voltage, the reset output terminal 18 becomes Ov, and the transistor 11 turns on, so power from the backup battery 6 is supplied through the transistor 11, and the voltage of VIl decreases. will maintain the circuit operating voltage.
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら上記従来の構成では、半導体メモリ装置に
保持する必要のあるデータの有無に関係なく半導体メモ
リ回路全部をバックアップし保持する必要のあるデータ
が少ないとき、あるいは保持する必要のあるデータがな
いときでもバックアップ時間が変わらず有効なバックア
ップ電力の利用が行なわれていないという問題点があっ
た。(Problem to be Solved by the Invention) However, in the conventional configuration described above, the entire semiconductor memory circuit is backed up regardless of whether or not there is data that needs to be held in the semiconductor memory device. There is a problem in that the backup time remains unchanged even when there is no data that needs to be saved, and backup power is not effectively utilized.
本発明の課題は、これらの問題点を解消し、データの保
存の必要性に応じてメモリを保存し、無駄な消費電力を
削減して低消費電力とし、又バッテリーのバックアップ
時間を長くでき、更にバッテリーの充電時間を短いもの
とすることができるという半導体メモリ装置の提供にあ
る。The object of the present invention is to solve these problems, save memory according to the need for data storage, reduce unnecessary power consumption to achieve low power consumption, and extend battery backup time. Furthermore, it is an object of the present invention to provide a semiconductor memory device that can shorten battery charging time.
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記課題を解決するため、バックアップ時に
半導体メモリ回路のデータを保持する必要があるか否か
を決定する判断制御部を有し、且つ必要時にバックアッ
プ回路を作動させる保存判断制御回路を備えるものとし
た。(Means for Solving the Problems) In order to solve the above problems, the present invention includes a judgment control unit that determines whether or not it is necessary to retain data in a semiconductor memory circuit at the time of backup, and also provides backup when necessary. It is equipped with a storage judgment control circuit that operates the circuit.
又、半導体メモリ回路のメモリ部を複数のエリアに分け
、各エリア毎にデータの保存の必要性を判断制御し、バ
ックアップ回路に各エリア毎に保存指令を出す構成とす
ることもできる。バックアップ回路として、半導体メモ
リ部の各エリアへの電力の供給・非供給によって、デー
タの保存・消去を決定するものもある。Alternatively, the memory section of the semiconductor memory circuit may be divided into a plurality of areas, the necessity of data storage may be determined and controlled for each area, and a storage command may be issued to the backup circuit for each area. Some backup circuits decide whether to save or erase data by supplying or not supplying power to each area of the semiconductor memory section.
更に、保存判断制御回路の判断制御部が、中央処理回路
の出力信号とバックアップ回路の構成回路である電源監
視用回路のリセット信号との条件により制御する構成と
することができる。Further, the determination control section of the storage determination control circuit may be configured to perform control based on the conditions of the output signal of the central processing circuit and the reset signal of the power supply monitoring circuit that is a constituent circuit of the backup circuit.
(作用)
本発明では、バックアップする時に保存判断制御回路が
半導体メモリ回路のメモリ部の保存の必要性を判断し、
不必要なときは保存せず、又必要なときはバックアップ
回路を作動させて保存させるものである。これによって
消去してよいデータのメモリの保存に電力を消費するこ
とがなく電力を節約できる。特に半導体メモリ回路のメ
モリ部を複数のエリアに分割し、各エリア毎に必要性を
判断制御させればより低電力でデータを保存できる。(Function) In the present invention, when backing up, the storage judgment control circuit judges the necessity of saving the memory part of the semiconductor memory circuit,
It does not store data when it is not necessary, and operates a backup circuit to store it when it is necessary. As a result, power is not consumed for storing data that can be erased in the memory, and power can be saved. In particular, if the memory section of a semiconductor memory circuit is divided into a plurality of areas and the necessity is determined and controlled for each area, data can be stored with lower power consumption.
又・本発明では半導体メモリ回路を複数個のエリアに分
割し、バックアップ時にデータを保持する必要がある半
導体メモリ回路のメモリ部のエリアであるかどうかを中
央処理装置の信号の出力とバックアップ回路の構成回路
である電源監視用回路のリセット端子出力で制御する機
能を備えた半導体メモリ装置にしたことにより、保持す
る必要のあるデータが少ないときあるいは、保持する必
要のあるデータがないときでも有効なバックアップ電力
の利用が行なわれバックアップ時間を延ばすことができ
、また、バックアップ解除後の再充電の際には、従来よ
りもバックアップ電力の使用電力が少ないので充電完了
になる迄の充電時間の短縮化が図れるものである。In addition, in the present invention, the semiconductor memory circuit is divided into a plurality of areas, and it is determined whether the area of the memory part of the semiconductor memory circuit needs to hold data at the time of backup by outputting a signal from the central processing unit and controlling the area of the backup circuit. By using a semiconductor memory device that is equipped with a function that is controlled by the reset terminal output of the power supply monitoring circuit that is the component circuit, it is effective even when there is little data that needs to be held or when there is no data that needs to be held. By using backup power, the backup time can be extended, and when recharging after canceling the backup, less backup power is used than before, so the charging time until charging is completed is shortened. This is something that can be achieved.
(実施例)
以下、図面に基づいて本実施例の回路の説明をする。第
1図は、本実施例の回路構成である。第1図と第2図の
同一番号は、同一のものを示す。(Example) Hereinafter, the circuit of this example will be explained based on the drawings. FIG. 1 shows the circuit configuration of this embodiment. The same numbers in FIG. 1 and FIG. 2 indicate the same thing.
この実施例では、半導体メモリ回路のメモリ部を2つの
エリアに分割していて、それぞれメモリA・メモリBと
呼ぶことにする。V■はバックアップ時に電力な供給す
る必要のあるRAM以外の回路印加電圧、Vlaは2つ
に分割したメモリのメモリAの印加電圧、vlIbはメ
モリBの印加電圧である。3a、3bのダイオードは、
分割したメモリに通常時に■の電圧を回路動作範囲内に
落として、Via−Vlbとするためのものである。8
はCPUで半導体メモリの全ての制御を統括するもので
あり、19はCPU8の電源端子でvIIに接続L−(
いる、20.21i:lCPU8の信号出力端子である
。12a、12bは正論理和回路である。正論理和回路
12aには、電源監視用回路7のリセット端子18とC
PU8の信号出力20が入力され、又正論理和回路12
bには、電源監視用回路7のリセット端子18とCPU
8の信号出力21が入力されている。以下、本発明にお
ける回路動作を説明する。In this embodiment, the memory section of the semiconductor memory circuit is divided into two areas, which will be referred to as memory A and memory B, respectively. V■ is the applied voltage to circuits other than the RAM that need to be supplied with power during backup, Vla is the applied voltage to memory A of the memory divided into two, and vlIb is the applied voltage to memory B. The diodes 3a and 3b are
This is to reduce the normal voltage (2) to the divided memory within the circuit operating range and set it to Via-Vlb. 8
19 is the CPU that controls all the control of the semiconductor memory, and 19 is the power supply terminal of the CPU 8 connected to vII L-(
20.21i: This is the signal output terminal of the CPU8. 12a and 12b are positive OR circuits. The positive OR circuit 12a has a reset terminal 18 of the power monitoring circuit 7 and a C
The signal output 20 of the PU8 is input, and the positive OR circuit 12
b, the reset terminal 18 of the power supply monitoring circuit 7 and the CPU
8 signal outputs 21 are input. Hereinafter, the circuit operation in the present invention will be explained.
通常の動作時では、VI7)!圧が回路動作範囲内の電
圧であれば、電源電圧監視用回路7のリセット端子18
の端子電圧は電源監視用回路電源端子17と同電圧なの
でトランジスタ15a、15bはOFFで電流は流れな
いことになり、VII、Via、Vl[bに対する電力
供給は、全てダイオード2.3a、3bを通して行なわ
れるものである。また、従来と同様にバックアップ電池
6に充電も行なわれている。During normal operation, VI7)! If the voltage is within the circuit operating range, the reset terminal 18 of the power supply voltage monitoring circuit 7
Since the terminal voltage is the same as that of the power supply monitoring circuit power supply terminal 17, the transistors 15a and 15b are OFF and no current flows, and power is supplied to VII, Via, and Vl[b through the diodes 2.3a and 3b. It is done. Further, the backup battery 6 is also charged as in the conventional case.
バックアップ時には、VIが回路の動作最低電圧より低
くなるので、電源監視用回路7のリセット出力18がO
Vを出力し、トランジスタ11はONとなり、vnにト
ランジスタ11を通じてバックアップ電池6の電力が供
給され、それによってバックアップ時に電力供給を必要
とする制御回路が動作できるものである。その時、正論
理和回路12 a 、 、12 bの出力は、リセット
端子18の接続された入力端子がOvなので、もう一方
の入力端子であるCPU8の出力信号端子20゜21の
電圧状態によりその出力電圧が変化する。During backup, VI becomes lower than the minimum operating voltage of the circuit, so the reset output 18 of the power supply monitoring circuit 7 becomes O.
V is output, the transistor 11 is turned on, and power from the backup battery 6 is supplied to vn through the transistor 11, thereby allowing the control circuit that requires power supply to operate during backup. At that time, since the input terminal connected to the reset terminal 18 is Ov, the output of the positive OR circuits 12a, 12b depends on the voltage state of the output signal terminals 20 and 21 of the CPU 8, which is the other input terminal. Voltage changes.
仮に、出力信号端子20.21が、それぞれOvならば
、正論理和回路12a、12bの出力電圧はOVが出力
され、トランジスタ15a、15bが、ONとなり、V
la、Vlbに回路動作電圧が印加され、メモリA、メ
モリBのデータが保持されることになる。また、CPU
8の出力信号端子20.21が、それぞれCPU8の電
源電圧端子19と同電位ならば、正論理和回路12a、
12bの出力電圧は、Eと同電位になる。すなわち、ト
ランジスタ15a、15bは、OFFとなり、Vlla
、Vlbに電圧は印加されないので、メモリA、メモリ
Bのデータは、失われることになる。この様に、CPU
8の信号出力20.21な変化させることにより、分割
したRAMのあるもののデータを保持したり、しなかっ
たりと設定できるものである。If the output signal terminals 20 and 21 are respectively Ov, the output voltage of the positive OR circuits 12a and 12b is OV, the transistors 15a and 15b are turned on, and the output voltage is V.
A circuit operating voltage is applied to la and Vlb, and data in memory A and memory B is held. Also, CPU
If the output signal terminals 20 and 21 of the CPU 8 are at the same potential as the power supply voltage terminal 19 of the CPU 8, the positive OR circuit 12a,
The output voltage of 12b becomes the same potential as E. That is, transistors 15a and 15b are turned off, and Vlla
, Vlb, the data in memory A and memory B will be lost. In this way, the CPU
By changing the signal outputs 20 and 21 of 8, it is possible to set whether or not to hold data in some of the divided RAMs.
ここで、従来例とのバックアップ時間の比較を行う。例
えば400mAHのバックアップ電池6によりバックア
ップする。RAMの消費電力が2000mWとし回路部
における消費電力を10100Oとすれば、従来例では
0、総消費電力は、3000mWである。本実施例でR
AMを2つに分割し、その1つだけに電力を供給した場
合RAMの消費電力は10100Oで総消費電力は、2
000mWとなる。第3図に上記条件による従来及び本
実施例における放電電圧特性を示す。第3図の縦軸はv
nの電圧を横軸は放電時間である。回路の最小動作電圧
を4.5vとすれば、従来では、6.5時間だったバッ
クアップ時間が本実施例では10時間のバックアップが
可能となる。また、バックアップ電池6を20時間で空
の状態から充電完了になるように充電電流を規制したバ
ックアップ回路とした場合、充電完了後に上述の条件で
6.5時間バックアップを行ったとすれば、従来では再
充電完了までに20時間必要であるが、本発明では、1
3.3時間でよいことになる。Here, we will compare the backup time with the conventional example. For example, it is backed up by a 400 mAh backup battery 6. If the power consumption of the RAM is 2000 mW and the power consumption in the circuit section is 10100 O, then in the conventional example, the total power consumption is 0, and the total power consumption is 3000 mW. In this example, R
If the AM is divided into two parts and power is supplied to only one of them, the power consumption of the RAM is 10100O, and the total power consumption is 2
000mW. FIG. 3 shows the discharge voltage characteristics in the conventional and this embodiment under the above conditions. The vertical axis in Figure 3 is v
The horizontal axis of the voltage of n is the discharge time. If the minimum operating voltage of the circuit is 4.5V, the backup time that was conventionally 6.5 hours becomes 10 hours in this embodiment. Furthermore, if a backup circuit is used that regulates the charging current so that the backup battery 6 is completely charged from an empty state in 20 hours, and if the backup is performed for 6.5 hours under the above conditions after charging is completed, the conventional It takes 20 hours to complete recharging, but in the present invention, it takes 1 hour to complete recharging.
3.3 hours would be enough.
なお、本実施例では、メモリを2分割したものについて
説明したが、メモリを幾つに分割しても同様な結果を得
るのは、言うまでもない。In this embodiment, the memory is divided into two parts, but it goes without saying that the same result can be obtained no matter how many parts the memory is divided into.
(発明の効果)
本発明では、半導体メモリ回路のメモリの保存必要性に
応じてバックアップするので、バックアップのための消
費電力を少なく゛できる。又バックアップ時間を延長し
、充電時間の短縮化も図れるという利点がある。又RA
Mを複数個のエリアに分割し、電力を供給する必要のあ
るRAMのエリアであるかどうかをCPUの信号の出力
とバックアップ回路の構成回路である電源監視用回路の
リセット端子出力で制御する機能を備えた半導体メモリ
装置tこしたことにより、保持する必要のあるデータが
少ないときあるいは、保持する必要のあるデータがない
ときでも有効なバックアップ電力の利用が行なわれ、更
にバンクアップ時間を延ばすことができ、また、バック
アップ解除後の再充電の際には、従来よりもバックアッ
プ電力の使用電力が少ないので充電完了になる迄の充電
時間の短縮化が図れるものであり、その実用的効果は大
きい。(Effects of the Invention) In the present invention, the semiconductor memory circuit is backed up according to the need for memory storage, so power consumption for backup can be reduced. Further, there is an advantage that the backup time can be extended and the charging time can be shortened. Also RA
A function that divides M into multiple areas and controls whether or not it is a RAM area that requires power supply using the CPU signal output and the reset terminal output of the power supply monitoring circuit that is a component of the backup circuit. As a result of this, effective backup power can be used even when there is little data that needs to be held or when there is no data that needs to be held, and the bank-up time can be further extended. In addition, when recharging after canceling the backup, less backup power is used than before, so the charging time until charging is completed can be shortened, which has a great practical effect. .
【図面の簡単な説明】
第1@は、本発明の実施例の半導体メモリ装置を示す回
路図である。第2図は、従来例の半導体メモリ装置を示
す回路図である。第3図は、従来例及び本発明の半導体
メモリ装置の放i!圧特性を示す説明図である。
6:バックアップ回路
7:電源監視用回路
8:中央処理回路
12a、12b:正論理和回路
11.13a、13b: )ランジスタ20.21:
中央処理回路信号出力
VI:バックアップ時に電力供給を必要としない回路の
印加電圧
vn:バックアップ時に電力供給を必要とする回路の印
加電圧
Via: メモリAの印加電圧
■厘す二メモリBの印加電圧
■二バックアップ回路の印加電圧
特 許 出 願 人 松下電器産業株式会社第3図
佼(時間(時開)BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The first @ is a circuit diagram showing a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram showing a conventional semiconductor memory device. FIG. 3 shows the release i! of the semiconductor memory device of the conventional example and the present invention. It is an explanatory view showing pressure characteristics. 6: Backup circuit 7: Power supply monitoring circuit 8: Central processing circuit 12a, 12b: Positive OR circuit 11.13a, 13b: ) Transistor 20.21:
Central processing circuit signal output VI: Applied voltage of circuits that do not require power supply during backup vn: Applied voltage of circuits that require power supply during backup Via: Applied voltage of memory A■2 Applied voltage of memory B■ 2 Applied voltage patent for backup circuit Applicant: Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Claims (1)
とバックアップ回路とを有し、 バックアップ時に半導体メモリ回路のデータを保持する
必要があるか否かを決定する判断制御部を有し且つ必要
時にバックアップ回路を作動させる保存判断制御回路を
備えたことを特徴とする半導体メモリ装置。 2)半導体メモリ回路のメモリ部を複数のエリアに分割
し、保存判断制御回路は半導体メモリ回路のメモリ部の
各エリア毎に保存の必要性を判断制御し、バックアップ
回路への作動指令を行う請求項1記載の半導体メモリ装
置。 3)バックアップ回路が、バックアップ時にデータを保
持する半導体メモリ回路のメモリ部のエリアには電力を
供給し、データを保持しないエリアには電力を供給しな
いことでデータの保存・非保存を行う請求項2記載の半
導体メモリ装置。 4)保存判断制御回路の判断制御部が、中央処理回路の
出力信号とバックアップ回路の構成回路である電源監視
用回路のリセット信号との条件により制御する請求項1
乃至3何れか記載の半導体メモリ装置。[Scope of Claims] 1) A data storage semiconductor memory circuit that stores data and a backup circuit, and a judgment control unit that determines whether or not it is necessary to retain data in the semiconductor memory circuit at the time of backup. What is claimed is: 1. A semiconductor memory device comprising: a storage determination control circuit which operates a backup circuit when necessary. 2) A request for dividing the memory section of the semiconductor memory circuit into a plurality of areas, and for the storage determination control circuit to determine and control the necessity of storage for each area of the memory section of the semiconductor memory circuit, and to issue an operation command to the backup circuit. 2. The semiconductor memory device according to item 1. 3) A claim in which the backup circuit stores or non-saves data by supplying power to an area of the memory section of the semiconductor memory circuit that retains data during backup and not supplying power to an area that does not retain data. 2. The semiconductor memory device according to 2. 4) Claim 1 in which the judgment control section of the storage judgment control circuit performs control based on the conditions of the output signal of the central processing circuit and the reset signal of a power supply monitoring circuit that is a constituent circuit of the backup circuit.
3. The semiconductor memory device according to any one of 3 to 3.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2303591A JPH04176095A (en) | 1990-11-07 | 1990-11-07 | Semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2303591A JPH04176095A (en) | 1990-11-07 | 1990-11-07 | Semiconductor memory device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04176095A true JPH04176095A (en) | 1992-06-23 |
Family
ID=17922844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2303591A Pending JPH04176095A (en) | 1990-11-07 | 1990-11-07 | Semiconductor memory device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04176095A (en) |
-
1990
- 1990-11-07 JP JP2303591A patent/JPH04176095A/en active Pending
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