JPH0417383A - Semiconductor laser device and assembly thereof - Google Patents

Semiconductor laser device and assembly thereof

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Publication number
JPH0417383A
JPH0417383A JP11983490A JP11983490A JPH0417383A JP H0417383 A JPH0417383 A JP H0417383A JP 11983490 A JP11983490 A JP 11983490A JP 11983490 A JP11983490 A JP 11983490A JP H0417383 A JPH0417383 A JP H0417383A
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JP
Japan
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semiconductor laser
wire
laser chips
supports
chips
Prior art date
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Pending
Application number
JP11983490A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Kato
猛 加藤
Katsuaki Chiba
千葉 勝昭
Kenichi Mizuishi
賢一 水石
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To improve workability of a wire bonding wiring of a semiconductor laser device by mutually shifting the opposing sides of the support bodies. CONSTITUTION:A superconductor laser chip 101 is set up on a supporting body (submount 103 and block 105) and a superconductor laser chip 102 is set up no a supporting body (submount 104 and block 106), the submounts 103 and 104 are provided with the projection conductors 107, 108 and the supporting bodies are set up on a base body by solder 109 and 110 so that fellow electrode sides of the semiconductors 101 and 102 may be parallel and opposing to mutually shift the opposing sides 133 and 134. Then, the semiconductor chip 101 is connected to an electrode terminal 119 by means of a wire 127, the part where the side 133 is not opposing to the side 134, a projection conductor 107 and a wire 129, while the semiconductor laser chip 102 is connected to an electrode terminal 118 by means of a wire 128, the part where the side 134 is not opposing to the side 133, the projection conductor 108 and a wire 130.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は複数の半導体レーザチップから成る半導体レー
ザ装置およびその組立方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor laser device comprising a plurality of semiconductor laser chips and a method for assembling the same.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、特開昭63−237490号公報に記載のような
ハイブリッド型半導体レーザアレイ装置や、その組立方
法として特開平1−241504号公報に記載のような
方法が知られている。
Hitherto, a hybrid semiconductor laser array device as described in Japanese Patent Laid-Open No. 63-237490 and a method for assembling the same as described in Japanese Patent Laid-Open No. 1-241504 have been known.

第6図に従来の半導体レーザ装置の概略図を示す。図に
おいて、一対の半導体レーザチップ1゜2は、それぞれ
一対の支持体(サブマウント3とブロック5.サブマウ
ント4とブロック6)に設置されている。ブロック5,
6は、半導体レーザチップ1,2の電極面同士がほぼ平
行かつ相対向するように基体9に設置されている。基体
9からは半導体レーザチップ1,2の電極端子12゜1
3が取り出されている。15と16は電極端子12.1
3と基体9間を絶縁するガラス、19と20はレーザ活
性層、21,22.23および24はサブマウント3,
4表面への部分メタライズ、25,26.27,28.
29および30は配線用ワイヤである。ブロック5,6
の面31゜32は、互いに正面同士向い合っている。
FIG. 6 shows a schematic diagram of a conventional semiconductor laser device. In the figure, a pair of semiconductor laser chips 1 and 2 are respectively installed on a pair of supports (submount 3 and block 5; submount 4 and block 6). block 5,
6 is installed on the base 9 so that the electrode surfaces of the semiconductor laser chips 1 and 2 are substantially parallel and face each other. From the base 9 are the electrode terminals 12°1 of the semiconductor laser chips 1 and 2.
3 has been taken out. 15 and 16 are electrode terminals 12.1
3 and the substrate 9, 19 and 20 are laser active layers, 21, 22, 23 and 24 are the submount 3,
Partial metallization on 4 surfaces, 25, 26. 27, 28.
29 and 30 are wiring wires. Blocks 5 and 6
The surfaces 31° and 32 face each other face-to-face.

第7図に、第6図の半導体レーザ装置の組立方法の概略
を示す。簡単のため、半導体レーザチップ1側のみを描
いたが、半導体レーザチップ2側も同様である。従来は
、ブロック5を保持具39によって(ブロック6と個別
に)保持し、半導体レーザチップ1を駆動させ保持具3
9を操作しながら半導体レーザチップ1,2間の相対的
な位置合せを行った後、ブロック5を半田7によって基
体9に固定していたくブロック6側も同様に固定)。
FIG. 7 schematically shows a method for assembling the semiconductor laser device shown in FIG. 6. For simplicity, only the semiconductor laser chip 1 side is depicted, but the same applies to the semiconductor laser chip 2 side. Conventionally, the block 5 is held by a holder 39 (separately from the block 6), and the semiconductor laser chip 1 is driven by the holder 39.
After relatively aligning the semiconductor laser chips 1 and 2 while operating the semiconductor laser chips 9, the block 5 is fixed to the base body 9 with solder 7 (the block 6 side is similarly fixed).

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記従来技術は、ブロック5,6(支持体)の面31と
面32が互いに正面同士対向しており、間隔が狭いので
、通常のワイヤボンディング装置ではワイヤ27.30
の配線作業が行えないという問題があった。
In the above prior art, the surfaces 31 and 32 of the blocks 5 and 6 (support bodies) face each other front to side, and the distance between them is narrow.
There was a problem that wiring work could not be done.

また、組立作業において、支持体(ブロック5゜6)を
個別に保持して位置合せする際、ワイヤ27と28、ワ
イヤ25と30等が接触して短絡するという問題があっ
た。接触を防ぐためにワイヤ27と30を短くすると1
位置決めの際に、保持具39の操作可能範囲が狭まるの
で、作業性が悪くなるという問題があった。
Further, during assembly work, when holding and aligning the supports (blocks 5.degree. 6) individually, there was a problem in that the wires 27 and 28, the wires 25 and 30, etc. came into contact and caused a short circuit. If wires 27 and 30 are shortened to prevent contact, 1
During positioning, the operable range of the holder 39 is narrowed, resulting in a problem of poor workability.

本発明の目的は、支持体へ通常のワイヤボンディング配
線作業が行える半導体レーザ装置を提供することにある
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor laser device that allows normal wire bonding wiring work to be performed on a support.

本発明の他の目的は、ワイヤ同士の短絡接触を防ぎ、且
つ位置合せ作業性の良い半導体レーザ装置およびその組
立方法を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a semiconductor laser device that prevents short-circuit contact between wires and has good alignment workability, and a method for assembling the same.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明は、上記目的を達成するために、一対の支持体の
相対向する面同士を互いにずらしたものである。
In order to achieve the above object, the present invention is such that the opposing surfaces of a pair of supports are shifted from each other.

また、上記他の目的を達成するために、上記ずれた面に
突起導体を設け、保持具を突起導体に接触させたもので
ある。
Moreover, in order to achieve the other object mentioned above, a protruding conductor is provided on the above-mentioned shifted surface, and the holder is brought into contact with the protruding conductor.

〔作用〕[Effect]

本発明によれば、上記ずれた面の正面には障害物(相手
の支持体)がなくなるので、ずれた面と電極端子間に通
常のワイヤボンディング配線作業を行うことができる。
According to the present invention, since there is no obstacle (mate support) in front of the shifted surface, normal wire bonding wiring work can be performed between the shifted surface and the electrode terminal.

また、保持具を突起導体に接触させることにより半導体
レーザチップへ電流を供給できるので、位置合せ工程以
前にワイヤ27.30のような配線を予め行っておく必
要がない。したがって、位置合せ工程において短絡接触
することはなく、保持具の操作可能範囲は広くなる。
Further, since current can be supplied to the semiconductor laser chip by bringing the holder into contact with the protruding conductor, there is no need to perform wiring such as the wires 27 and 30 in advance before the alignment step. Therefore, there is no short-circuit contact during the alignment process, and the operable range of the holder is widened.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図面とともに説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明による半導体レーザ装置の一実施例の全
体斜視図、第2図は第1図の拡大上面図である。第1図
および第2図において、半導体レーザチップ101は支
持体(サブマウント103とブロック105)に、半導
体レーザチップ102は支持体(サブマウント104と
ブロック106)にそれぞれ設置されている。125と
126はそれぞれ半導体レーザチップの101と102
の活性層であり、レーザ光は第2図の紙面垂直方向に出
射する。サブマウント103と104には本発明により
突起導体107と108が設けられている。上記支持体
は、半導体レーザチップ101と102の電極面同士が
平行かつ相対向するように、半田109と110によっ
て基体(台座111と基板114)に設置されている。
FIG. 1 is an overall perspective view of an embodiment of a semiconductor laser device according to the present invention, and FIG. 2 is an enlarged top view of FIG. 1. In FIGS. 1 and 2, the semiconductor laser chip 101 is installed on a support (submount 103 and block 105), and the semiconductor laser chip 102 is installed on a support (submount 104 and block 106). 125 and 126 are semiconductor laser chips 101 and 102, respectively.
The laser beam is emitted in a direction perpendicular to the paper plane of FIG. The submounts 103 and 104 are provided with protruding conductors 107 and 108 according to the present invention. The support is installed on the base (pedestal 111 and substrate 114) with solders 109 and 110 so that the electrode surfaces of semiconductor laser chips 101 and 102 are parallel and face each other.

支持体の相対向する面133と134は本発明によって
互いにずらされている。基板114の穴115,116
はネジ固定用のものである。ホトダイオード113は台
座111の凸部112に設置されている。電極端子11
7はホトダイオード113用、電極端子118は半導体
レーザチップ102用、電極端子119は半導体レーザ
チップ101用、電極端子120はアース用の端子であ
る。半導体レーザチップ1.01は、ワイヤ127、面
134に対して面133が対向していない部分、突起導
体107゜ワイヤ129によって電極端子119に接続
されている。半導体レーザチップ102は、ワイヤ12
8、面133に対して面134が対向していない部分、
突起導体108.ワイヤ130によって電極端子118
に接続されている。ホトダイオード113の受光面(図
中の円形部分)は、ワイヤ131によって電極端子11
7に接続されている。電極端子117,118および1
19は、それぞれ絶縁ガラス121,122,132に
よって基板114に気密接着されている。半導体レーザ
チップ101,102がある中心部分はキャップ123
と窓124によって気密封止されている。
Opposing surfaces 133 and 134 of the support are offset relative to each other according to the invention. Holes 115 and 116 in the board 114
is for screw fixation. The photodiode 113 is installed on the convex portion 112 of the pedestal 111. Electrode terminal 11
Reference numeral 7 designates a terminal for the photodiode 113, an electrode terminal 118 for the semiconductor laser chip 102, an electrode terminal 119 for the semiconductor laser chip 101, and an electrode terminal 120 for grounding. The semiconductor laser chip 1.01 is connected to the electrode terminal 119 by a wire 127, a portion where the surface 133 is not opposed to the surface 134, and a protruding conductor 107.degree. wire 129. The semiconductor laser chip 102 has a wire 12
8. A portion where the surface 134 is not opposed to the surface 133;
Protruding conductor 108. Electrode terminal 118 by wire 130
It is connected to the. The light receiving surface of the photodiode 113 (circular part in the figure) is connected to the electrode terminal 11 by a wire 131.
7 is connected. Electrode terminals 117, 118 and 1
19 are hermetically bonded to the substrate 114 through insulating glasses 121, 122, and 132, respectively. The center part where the semiconductor laser chips 101 and 102 are located is a cap 123.
and a window 124 for airtight sealing.

レーザ光は窓124を透過して出射する。The laser light passes through the window 124 and is emitted.

半導体レーザチップ101と102の活性層125と1
26の位置は、ワイヤ127と128が互いに相手のレ
ーザチップに接触しないように、第2図紙面上下方向の
チップ中心位置からずらされている。半導体レーザチッ
プ101と102の仕様は任意に選択でき、例えば発振
波長670nmの低雑音レーザと発振波長780nmの
高出力レーザを組み合せて用いられる。
Active layers 125 and 1 of semiconductor laser chips 101 and 102
The position of 26 is shifted from the chip center position in the vertical direction of the paper of FIG. 2 so that the wires 127 and 128 do not come into contact with the other laser chip. The specifications of the semiconductor laser chips 101 and 102 can be arbitrarily selected, and for example, a low-noise laser with an oscillation wavelength of 670 nm and a high-power laser with an oscillation wavelength of 780 nm are used in combination.

サブマウント103と104は高熱伝導/電気絶縁性S
iCセラミックスから成り、その表面には電気配線のた
めに部分的にメタライズが施されている。突起導体10
7と108はAuから成る。
Submounts 103 and 104 have high thermal conductivity/electrical insulation S
It is made of iC ceramics, and its surface is partially metallized for electrical wiring. Protruding conductor 10
7 and 108 are made of Au.

半導体レーザチップ101と102や突起導体107と
108は、それぞれサブマウント103と104にA 
u −S n半田(融点280℃)によって固定されて
いる。
Semiconductor laser chips 101 and 102 and protruding conductors 107 and 108 are mounted on submounts 103 and 104, respectively.
It is fixed by u-Sn solder (melting point 280°C).

ホトダイオード113は、半導体レーザチップ101と
102の光パワーを検出するためにあり、凸部112に
Au−8n半田で固定されている。
The photodiode 113 is provided to detect the optical power of the semiconductor laser chips 101 and 102, and is fixed to the convex portion 112 with Au-8n solder.

ホトダイオード113からの反射光が半導体レーザチッ
プ101や102に戻るのを防ぐために、凸部112の
一部は斜面にしである。
In order to prevent reflected light from the photodiode 113 from returning to the semiconductor laser chips 101 and 102, a portion of the convex portion 112 is formed on an inclined surface.

ブロック105,106および台座111はCu製、基
板114はFe製である。これらの表面にはA u /
 N iメツキが施されている。台座111の形状は、
面133と134をずらしたのに合わせて加工した。ブ
ロック105.IC)6とサブマウント103,104
はAu−3n半田によって固定し、ブロック105,1
06と台座111はPb−5n半田(融点183℃)1
09゜110によって固定し、台座111と基板114
は銀ろうによって固定した。
The blocks 105, 106 and the pedestal 111 are made of Cu, and the substrate 114 is made of Fe. These surfaces have A u /
Ni plating has been applied. The shape of the pedestal 111 is
It was processed to match the displacement of surfaces 133 and 134. Block 105. IC) 6 and submount 103, 104
is fixed with Au-3n solder, and the block 105,1
06 and pedestal 111 are Pb-5n solder (melting point 183°C) 1
09°110, and the pedestal 111 and the board 114
was fixed with silver solder.

本実施例によれば、支持体の面133と134同士が互
いにずらされているので、該ずれだ面の正面には障害物
(相手の支持体)がない。したがって、第2図に一点鎖
線で示すように紙面左右方向から通常のボンディングツ
ール135や136を用いて、上記ずれた面にある突起
導体107゜108から電極端子119,118へワイ
ヤ129゜130の配線作業を行うことができる。電極
端子118.119のツール135,136側の面は、
それぞれ作業を行い易くするために平面状に加工されて
いる。
According to this embodiment, since the surfaces 133 and 134 of the supports are offset from each other, there is no obstacle (the other support) in front of the offset surfaces. Therefore, as shown by the dashed line in FIG. 2, wires 129° 130 are connected from the protruding conductor 107° 108 on the shifted surface to the electrode terminals 119, 118 by using ordinary bonding tools 135 and 136 from the left and right sides of the paper. Can perform wiring work. The surfaces of the electrode terminals 118 and 119 on the tool 135 and 136 side are
Each piece is processed into a flat shape to make it easier to work with.

次に、第1図および第2図に示した半導体レーザ装置の
組立方法を説明する。第3図は組立工程の一実施例を示
す図である。
Next, a method of assembling the semiconductor laser device shown in FIGS. 1 and 2 will be explained. FIG. 3 is a diagram showing an embodiment of the assembly process.

A、ホトダイオード取付工程(第3図501)まず、ホ
トダイオード113を台座111の凸部112に固定す
る。その後、受光面から電極端子117へ、ワイヤ13
1を第2図紙面垂直方向からボンディングする。
A. Photodiode mounting process (FIG. 3 501) First, the photodiode 113 is fixed to the convex portion 112 of the pedestal 111. Thereafter, the wire 13 is connected from the light receiving surface to the electrode terminal 117.
1 is bonded from the direction perpendicular to the paper surface of the second drawing.

B、レーザチップ取付工程(第3図502)半導体レー
ザチップ101.突起導体107゜サブマウント103
およびブロック105を固定する。半導体レーザチップ
102.突起導体108゜サブマウント104およびブ
ロック106を固定する。固定後、ワイヤ127,12
8を配線する。
B. Laser chip mounting process (FIG. 3 502) Semiconductor laser chip 101. Protruding conductor 107° submount 103
and fix block 105. Semiconductor laser chip 102. The protruding conductor 108° submount 104 and block 106 are fixed. After fixing, wires 127, 12
Wire 8.

予め、ブロック105と106には半田109と110
を迎え半田しておく。
Solder 109 and 110 are applied to blocks 105 and 106 in advance.
Pick it up and solder it.

C0支持体保持工程(第3図503.第4,5図参照) ブロック105,106を保持具によって個別に保持す
る。
C0 support holding step (see FIG. 3, 503, and FIGS. 4 and 5) The blocks 105 and 106 are held individually by a holder.

以下、ブロック105側について第4図を用いて説明す
る。ブロック105は保持具200と201、および押
え板202.板バネ204によって保持される0本発明
により、サブマウント103に設けられた突起導体10
7に板バネ204が接触している。半導体レーザチップ
101の一方の電極は一ワイヤ127.サブマウント1
03表面の部分メタライズ139.ワイヤ137.ブロ
ック105.保持具200を経てアースされる。
The block 105 side will be explained below using FIG. 4. The block 105 includes holders 200 and 201 and a presser plate 202. According to the present invention, the protruding conductor 10 provided on the submount 103 is held by the leaf spring 204.
7 is in contact with the leaf spring 204. One electrode of the semiconductor laser chip 101 is connected to one wire 127. Submount 1
03 Partial metallization of surface 139. Wire 137. Block 105. It is grounded via the holder 200.

もう一方の電極は、サブマウント103表面の部分メタ
ライズ138.突起導体1o7.板バネ204、保持具
201を経て、レーザ駆動電極(図示はしていない)に
接続される。
The other electrode is partially metallized 138. on the surface of the submount 103. Projection conductor 1o7. It is connected to a laser drive electrode (not shown) via the leaf spring 204 and the holder 201.

保持具200,201および押え板202は低熱膨張性
スーパーインバー合金から成る。低熱膨張性としたのは
、後述の半田固定工程において、熱変位によって半導体
レーザチップ101と102間の相対的な位置がずれる
のを防ぐためである。
The holders 200, 201 and the presser plate 202 are made of a low thermal expansion super invar alloy. The reason for the low thermal expansion is to prevent the relative positions of the semiconductor laser chips 101 and 102 from shifting due to thermal displacement in the soldering process described later.

押え板202は、ブロック105が傾くのを防ぐために
ある。板バネ204はリン青銅から成る。
The holding plate 202 is provided to prevent the block 105 from tilting. The leaf spring 204 is made of phosphor bronze.

保持具201と板バネ202がブロック105に接触す
る部分には、絶縁コーティング処理が施されている。
The portions where the holder 201 and the leaf spring 202 contact the block 105 are coated with an insulating coating.

なお、半導体レーザチップ101の電極の極性が異なる
場合には、第5図のような配線を行う。
Note that if the polarities of the electrodes of the semiconductor laser chip 101 are different, wiring as shown in FIG. 5 is performed.

半導体レーザチップ101の一方の電極は、ワイヤ14
0.サブマウント103の部分メタライズ143、突起
導体107を経てレーザ駆動電源へ接続され、もう一方
の電極は部分メタライズ142゜ワイヤ141.ブロッ
ク105を経てアースされる。
One electrode of the semiconductor laser chip 101 is connected to the wire 14
0. The partial metallization 143 of the submount 103 is connected to the laser drive power source through the protruding conductor 107, and the other electrode is connected to the partial metallization 142° wire 141. It is grounded via block 105.

以上、ブロック105側について説明したが、ブロック
106側も同様な構造である。
Although the block 105 side has been described above, the block 106 side has a similar structure.

D、レーザ位置合せ工程(第3図504)上記Cの工程
で述べたような電気配線経路により半導体レーザチップ
101と102を駆動させて、ブロック105と106
の位置を保持具(200。
D. Laser alignment step (FIG. 3 504) Semiconductor laser chips 101 and 102 are driven by the electrical wiring path as described in step C above, and blocks 105 and 106 are formed.
position with the holder (200).

201など)によって個別に操作しながら、半導体レー
ザチップ101と102の相対的位置合せを行う。
201, etc.), the semiconductor laser chips 101 and 102 are aligned relative to each other.

位置合せは、半導体レーザチップ101と102の活性
層125と126の近視野像(すなわち発光点位置)、
および半導体レーザチップ101と102の遠視野像(
すなわちレーザ光出射方向)を顕微鏡装置等によって観
察しながら行う。保持具の先にある微動機構(図示はし
ていない)を移動/回転させて、所定の位置と方向に半
導体レーザチップ101と102を合わせる。
The alignment is performed using near-field images (i.e., light emitting point positions) of the active layers 125 and 126 of the semiconductor laser chips 101 and 102;
and far-field images of semiconductor laser chips 101 and 102 (
That is, the laser beam emission direction) is observed while being observed using a microscope device or the like. A fine movement mechanism (not shown) at the end of the holder is moved/rotated to align the semiconductor laser chips 101 and 102 in a predetermined position and direction.

E、半田固定工程(第3図505) 半導体レーザチップ101と102間の相対的な位置を
保持具によって維持したまま、半田109と110を溶
融させ、台座111にブロック105と106を固定す
る。
E. Soldering process (FIG. 3, 505) Solders 109 and 110 are melted to fix blocks 105 and 106 to pedestal 111 while maintaining the relative position between semiconductor laser chips 101 and 102 using a holder.

ブロック105と106の両側の保持具は対称な構造で
あるので、半田が固化する際の熱変位は対称に起こる。
Since the holders on both sides of blocks 105 and 106 have a symmetrical structure, the thermal displacement when the solder solidifies occurs symmetrically.

したがって、両側の保持具の熱変位は互いに打ち消され
る。また、熱変位自体も前述したように低く抑えられて
いるので、半田固化時に位置がずれることはない。固化
時の半田109や110の体積収縮に対しても、保持具
によってブロック105と106の位置が十分保たれて
いるので問題はない。
Therefore, the thermal displacements of the holders on both sides cancel each other out. Furthermore, since the thermal displacement itself is kept low as described above, the position will not shift during solder solidification. There is no problem even with volumetric contraction of solder 109 and 110 during solidification because the positions of blocks 105 and 106 are sufficiently maintained by the holder.

F、保持具取外し工程 半導体レーザチップ101と102の駆動電源を切った
後、保持具をブロック105と106から取り外す。こ
のとき、不要な力がブロック105や106にかからな
いように保持具を操作する。
F. Holder Removal Step After turning off the driving power for the semiconductor laser chips 101 and 102, the holders are removed from the blocks 105 and 106. At this time, the holder is operated so that unnecessary force is not applied to the blocks 105 and 106.

G、ワイヤ配線工程(第3図507) 第2図の説明で述べたように、ツール135や136を
用いて、ワイヤ129を突起導体107から電極端子1
19へ、ワイヤ130を突起導体108から電極端子1
18へポルディングする。
G. Wire wiring process (FIG. 3 507) As described in the explanation of FIG.
19, the wire 130 is connected from the protruding conductor 108 to the electrode terminal 1.
Polding to 18.

H8気密封止工程(第3図508) 不活性ガス雰囲気中で、窓124付きキャップ123を
基板114に溶接し、半導体レーザチップ101と10
2がある中心部分を気密封止する。
H8 hermetic sealing process (FIG. 3 508) The cap 123 with the window 124 is welded to the substrate 114 in an inert gas atmosphere, and the semiconductor laser chips 101 and 10 are
The center part where 2 is located is hermetically sealed.

■、完成(第3図509) 上記の工程を経て、本実施例の半導体レーザ装置が完成
する。
(2) Completion (FIG. 3 509) Through the above steps, the semiconductor laser device of this example is completed.

以上説明した組立方法の実施例によれば、板バネ204
を突起導体107に接触させることによって半導体レー
ザチップ101へ電流を供給でき(チップ102側も同
様)、位置合せ工程以前にワイヤ129や130を配線
しなくてよい。したがって、従来のように位置合せ工程
中にワイヤ同士が短絡接触することはなくなり、ワイヤ
129や130によって保持具の操作範囲が狭まること
はない。
According to the embodiment of the assembly method described above, the leaf spring 204
By bringing the protruding conductor 107 into contact with the protruding conductor 107, current can be supplied to the semiconductor laser chip 101 (the same applies to the chip 102 side), and there is no need to wire the wires 129 and 130 before the alignment process. Therefore, the wires do not come into short-circuit contact with each other during the alignment process as in the conventional case, and the operating range of the holder is not narrowed by the wires 129 and 130.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、支持体の対向する面同士を互いにずら
したので、半導体レーザ装置のワイヤボンディング配線
の作業性が向上する効果がある。
According to the present invention, since the opposing surfaces of the support are shifted from each other, there is an effect that the workability of wire bonding wiring of a semiconductor laser device is improved.

また1組立工程中突起導体への接触によって半導体レー
ザチップを駆動できるので、短絡接触する危険性がなく
なる上、保持具の操作範囲が広がり更に組立作業が向上
する効果がある。
Furthermore, since the semiconductor laser chip can be driven by contact with the protruding conductor during one assembly process, there is no risk of short-circuit contact, and the operating range of the holder is expanded, furthermore, the assembly work is improved.

なお、本発明の効果は、支持体の対向面をずらしたこと
、突起導体への接触によって配線したことによるのであ
って、場合に応じて支持体や突起導体の形状や材料、接
触方法等を変えることが有り得る。
The effects of the present invention are due to the fact that the facing surfaces of the supports are shifted and the wiring is made by contacting the protruding conductors, and the shape, material, contact method, etc. of the supports and protruding conductors may be changed depending on the case. It is possible to change.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による半導体レーザ装置の一実施例の全
体斜視図、第2図は第1図の拡大上面図、第3図は本半
導体レーザ装置の組立方法の一実施例を示す組立工程図
、第4図および第5図は組立方法の一部分の実施例を示
す図、第6図は従来の半導体レーザ装置の上面図、第7
図は従来の組立方法の一部分を示す図である。 101.102・・・半導体レーザチップ、133゜1
34・・・面、107,108・・・突起導体、118
゜119・・・電極端子、129,130・・・ワイヤ
、巳 第 2  因 +32 IIど 第 巳 茅 図
FIG. 1 is an overall perspective view of an embodiment of a semiconductor laser device according to the present invention, FIG. 2 is an enlarged top view of FIG. 1, and FIG. 3 is an assembly process showing an embodiment of a method for assembling the semiconductor laser device of the present invention. 4 and 5 are views showing a partial embodiment of the assembly method, FIG. 6 is a top view of a conventional semiconductor laser device, and FIG. 7 is a top view of a conventional semiconductor laser device.
The figure shows a part of a conventional assembly method. 101.102...Semiconductor laser chip, 133°1
34... Surface, 107, 108... Projection conductor, 118
゜119...Electrode terminal, 129,130...Wire, Snake 2nd cause +32 II Doth Snake Diagram

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 1.少なくとも一対の半導体レーザチップをそれぞれ一
対の支持体に設置し、前記半導体レーザチップの電極面
同士がほぼ平行かつ相対向するように前記支持体を基体
に設置し、該基体から前記半導体レーザチップの電極を
取り出して成る半導体レーザ装置において、前記一対の
支持体に相対向する面を互いにずらし、該ずれた面を介
して前記半導体レーザチップと前記電極端子間を配線し
たことを特徴とする半導体レーザ装置。
1. At least a pair of semiconductor laser chips are installed on a pair of supports, and the supports are installed on a base so that the electrode surfaces of the semiconductor laser chips are substantially parallel and face each other, and the semiconductor laser chips are connected to the base from the base. A semiconductor laser device comprising an electrode taken out, characterized in that faces of the pair of supports that face each other are shifted from each other, and wiring is provided between the semiconductor laser chip and the electrode terminal via the shifted faces. Device.
2.請求項1記載の半導体レーザ装置において、上記ず
れた面に突起導体を設けたことを特徴とする半導体レー
ザ装置。
2. 2. A semiconductor laser device according to claim 1, further comprising a protruding conductor provided on said shifted surface.
3.請求項2記載の半導体レーザ装置の組立方法におい
て、前記一対の半導体レーザチップを前記一対の支持体
へそれぞれ固定する工程と、該支持体を個別に保持する
工程と、該保持具を前記突起導体へ接触させ前記半導体
レーザチップへ電流を供給する工程と、前記半導体レー
ザチップを駆動させ前記支持体を前記保持具によって個
別に操作しながら前記半導体レーザチップ間の相対的な
位置合せを行う工程と、該相対的な位置を維持して前記
支持体を前記基体に対して固定する工程と、前記保持具
を前記支持体から取り外す工程と、前記突起導体から前
記電極端子へ電気配線を行う工程を含むことを特徴とす
る半導体レーザ装置の組立方法。
3. 3. The method for assembling a semiconductor laser device according to claim 2, including the steps of fixing the pair of semiconductor laser chips to the pair of supports, respectively holding the supports individually, and attaching the holder to the protruding conductor. a step of bringing the semiconductor laser chips into contact with each other and supplying current to the semiconductor laser chips; and a step of relatively aligning the semiconductor laser chips while driving the semiconductor laser chips and individually manipulating the supports with the holders. , fixing the support to the base while maintaining the relative position, removing the holder from the support, and running electrical wiring from the protruding conductor to the electrode terminal. A method for assembling a semiconductor laser device, comprising:
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH114047A (en) * 1997-06-13 1999-01-06 Sharp Corp Semiconductor laser device and manufacture thereof
JP2013251295A (en) * 2012-05-30 2013-12-12 Nichia Chem Ind Ltd Light source device
WO2016170921A1 (en) * 2015-04-21 2016-10-27 三菱電機株式会社 Laser light source module

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