JPH04168347A - Method and apparatus for detecting parallax refractive index for liquid chromatography - Google Patents
Method and apparatus for detecting parallax refractive index for liquid chromatographyInfo
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- JPH04168347A JPH04168347A JP29383090A JP29383090A JPH04168347A JP H04168347 A JPH04168347 A JP H04168347A JP 29383090 A JP29383090 A JP 29383090A JP 29383090 A JP29383090 A JP 29383090A JP H04168347 A JPH04168347 A JP H04168347A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出方
法及びその装置に係り、さらに詳しくは、分析のための
高感度領域と、分取のための中感度領域との双方に用い
ることができる液体クロマトグラフィー用示差屈折率検
出方法及びその装置に関する。Detailed Description of the Invention [Industrial Field of Application] The present invention relates to a differential refractive index detection method and apparatus for liquid chromatography, and more particularly, to a high-sensitivity region for analysis and a method for detecting a differential refractive index for liquid chromatography. The present invention relates to a differential refractive index detection method and apparatus for liquid chromatography that can be used both in the intermediate sensitivity region and in the medium sensitivity region.
［従来の技術］
液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置は、溶液
物性型の汎用検出装置として広く用いられており、フレ
ネル型と偏光型との二つのタイプがある。[Prior Art] Differential refractive index detection devices for liquid chromatography are widely used as general-purpose detection devices of the solution physical property type, and there are two types: Fresnel type and polarization type.
第３図は、従来からある偏光型タイプの液体クロマトグ
ラフィー用示差屈折率検出装置の概略構成を示す説明図
である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a conventional polarization type differential refractive index detection device for liquid chromatography.
同図によれば、フィラメント型ランプにより形成される
光源１から出たスリット光Ｒは、入射スリット２を経て
レンズ３で集光された後、試料側セル５と対照側セル６
とからなるフローセル４を通過してミラー７へと至る。According to the figure, slit light R emitted from a light source 1 formed by a filament type lamp passes through an entrance slit 2 and is condensed by a lens 3, and then passes through a sample side cell 5 and a control side cell 6.
It passes through a flow cell 4 consisting of and reaches a mirror 7.
このミラー７から反射したスリット光Ｒは、再度フロー
セル４を通過し、二分割された受光素子８，９へと到達
し、これらの受光素子８．９により電気信号に変換され
、所定の処理を行なうことで屈折率を検出することがで
きるようになっている。The slit light R reflected from this mirror 7 passes through the flow cell 4 again and reaches the divided light receiving elements 8 and 9, where it is converted into an electrical signal and subjected to predetermined processing. By doing so, the refractive index can be detected.
この場合、フローセル４内で通過光の屈折に変化が生じ
た際には、受光素子８．９に到達するスリット像が基準
位置からずれ、その際のずれを電気的に出力することが
できるようになっている。In this case, when a change occurs in the refraction of the passing light within the flow cell 4, the slit image reaching the light receiving element 8.9 deviates from the reference position, and the deviation can be electrically output. It has become.
したがって、電気的な出力値には、直線性をもたせる必
要があり、このため、前記入射スリット２のスリット横
幅を例えば０．５ｍｍ程度の狭いものとし、受光素子８
．９上のスリット像のずれ幅が小さ（なるようにしてい
る。Therefore, it is necessary to provide linearity to the electrical output value, and for this reason, the slit width of the entrance slit 2 is made narrow, for example, about 0.5 mm, and the light receiving element 8
．． The deviation width of the slit image on 9 is made small.
また、フローセル４とミラー７とを備えるセルブロック
は、比較的大きく形成されているので、レンズ３からミ
ラー７までの距離Ｃ′も比較的長いものとなる結果、入
射スリット２も０．５ｍｍ程度の狭いスリット幅で形成
することで、スリット光Ｒに必要な光量を保持させる必
要があった。Further, since the cell block including the flow cell 4 and the mirror 7 is formed relatively large, the distance C' from the lens 3 to the mirror 7 is also relatively long, and as a result, the entrance slit 2 is also about 0.5 mm. By forming the slit with a narrow slit width, it was necessary to maintain the necessary amount of light for the slit light R.
しかも、レンズ３から受光素子８．９までの距離ｍ′は
、当該レンズ３の焦点距離に一致するものであることか
ら、その距離ｍ′も１５０〜２００ｍｍという比較的長
いものとなり、これらの光学系を収容するための温度調
節用框体も比較的大型化し、結果的に容積が大きなもの
となっていた。Moreover, since the distance m' from the lens 3 to the light receiving element 8.9 corresponds to the focal length of the lens 3, the distance m' is also relatively long at 150 to 200 mm. The temperature control frame for accommodating the system has also become relatively large, resulting in a large volume.
さらに、上記構成からなる液体クロマトグラフィー用示
差屈折率検出装置の場合には、検出される屈折率に温度
依存性があるため、温度調節する必要があり、このため
、光学系は、熱容量の大きなアルムニウム製の温度調節
用框体内に収容され、外部周辺温度の影響を受けないよ
うにする必要があり、このような理由からも大きな温度
調節用框体が用いられることになる。Furthermore, in the case of a differential refractive index detection device for liquid chromatography with the above configuration, the detected refractive index has temperature dependence, so it is necessary to adjust the temperature. It is necessary to be housed in a temperature regulating frame made of aluminum so that it is not affected by the external ambient temperature, and for this reason as well, a large temperature regulating frame is used.
［発明が解決しようとする課題］
ところで、従来の示差屈折率検出装置における前記入射
スリット２は、そのスリット幅が０．５ｍ＋ｎ程度の狭
いものであることから、分析用の高感度領域の測定には
好適であるとしても、そのままの構成のもとでは分取用
の中感度領域の測定に対応させることができない。[Problems to be Solved by the Invention] Incidentally, the entrance slit 2 in the conventional differential refractive index detection device has a narrow slit width of about 0.5 m+n, so it is difficult to measure a high sensitivity region for analysis. Even if this method is suitable, it cannot be adapted to measurements in the intermediate sensitivity range for preparative separation with the current configuration.
このため、同一の装置を分取用の中感度領域の測定にも
用いようとする場合には、前記フローセル４をセル角度
が４５°の市販品から、例えば３０゜というようにセル
角度を落した特注品に交換する必要があり、それだけコ
スト高になる不都合があった。Therefore, if the same device is to be used for measurements in the intermediate sensitivity region for preparative separation, the flow cell 4 may be changed from a commercial product with a cell angle of 45 degrees to a cell angle of 30 degrees, for example. It was necessary to replace it with a custom-made product, which caused the inconvenience of increasing costs.
また、さきに述べた必要から大きな容量（体積のほか、
熱容量も含む）を有する温度調節用框体を用いるという
ことは、その内部の現在温度と所望する設定温度との間
に大きな隔たりがある場合、当該設定温度にまで立ち上
げるために多くの時間を要することを意味し、実際に測
定可能な状態にまで立ち上げるためには、通常、２時間
程度の待機時間を要するという作業性が悪くなる不都合
があった。In addition, due to the need mentioned earlier, large capacity (in addition to volume,
(including heat capacity) means that if there is a large gap between the current internal temperature and the desired set temperature, it will take a lot of time to reach the set temperature. This means that it usually takes about 2 hours of waiting time to bring the system up to a state where it can actually be measured, which has the disadvantage of worsening workability.
［課題を解決するための手段］
本発明は、従来装置にみられた上記課題に鑑みてなされ
たものである。[Means for Solving the Problems] The present invention has been made in view of the above-mentioned problems found in conventional devices.
そのうち、本発明に係る検出方法に係る構成上の特徴は
、示差屈折率を検出するための光学系が収容される熱容
量を小さくして形成された温度調節用框体に対する温度
調節をＰｒＤ制御手段により行ない、かつ、このＰＩＤ
制御手段に組み込まれているトランジスタを温度制御用
の熱源とするとともに、前記光学系においては、点光源
と同等な発光ダイオードから発せられる光を集光し、横
幅が１〜１．５＋＋ｍ前後のスリットを有する第１スリ
ット部を介して光量を均一に調整して照射されるスリッ
ト光を第２スリット部のスリットを介して散乱光を除去
したスリット光に調整した直後に平行光束にしてセル角
度が４５°のフローセル内を通過させ、この通過直後に
反射させたスリット光を再度前記フローセル内を通過さ
せた直後に集光し、前記第２スリット部のスリットを介
して再び散乱光を除去したスリット光に調整した後、こ
の第２スリット部と前記第１スリット部との間の距離と
同等の離間距離を有して配設されている二分割光電変換
素子上にスリット像として結像させ、−方の光電変換量
と他方の光電変換量とを比較することで移動相中の溶質
の濃度を測定して屈折率を検出することにある。Among these, the structural feature related to the detection method according to the present invention is that the PrD control means controls the temperature of the temperature control frame formed by reducing the heat capacity in which the optical system for detecting the differential refractive index is accommodated. and this PID
The transistor incorporated in the control means is used as a heat source for temperature control, and in the optical system, light emitted from a light emitting diode, which is equivalent to a point light source, is focused, and a slit with a width of about 1 to 1.5++ m is used. Immediately after adjusting the slit light that is irradiated by uniformly adjusting the light intensity through the first slit part having a slit part and adjusting it to the slit light with the scattered light removed through the slit of the second slit part, it is converted into a parallel light beam and the cell angle is adjusted. A slit in which the slit light is passed through the flow cell at an angle of 45° and reflected immediately after passing through the flow cell, and the light is condensed immediately after passing through the flow cell again, and the scattered light is removed again through the slit in the second slit section. After adjusting the light, forming a slit image on a two-split photoelectric conversion element arranged with a distance equal to the distance between the second slit part and the first slit part, The objective is to measure the concentration of solute in the mobile phase and detect the refractive index by comparing the amount of photoelectric conversion on one side with the amount of photoelectric conversion on the other side.
また、本発明に係る検出装置の構成上の特徴は、スリッ
ト光を放射するための発光部と、放射された前記スリッ
ト光を偏光反射するための偏光反射部と、反射された偏
光後の前記スリット光を光電変換するための受光部とを
熱容量を小さくすべくコンパクトに形成された温度調節
用框体内に収容して構成され、前記発光部は、点光源と
同等な発光ダイオードと１〜１．５ｍｍ前後の横幅のス
リットを有して照射光量を均一化するための第１スリッ
ト部との間に集光レンズを相互に近接配置して形成し、
前記偏光反射部は、通過光であるスリット光からの散乱
光の除去が可能なスリットを有する第２スリット部と反
射ミラーとの間にコリメーターレンズとセル角度が４５
＠のフローセルとを相互に近接配置して形成し、前記受
光部は、前記偏光反射部における第２スリット部との間
の距離をこの第２スリット部と前記発光部との間の距離
と同等に設定して配置される二分割光電変換素子を用い
て形成するとともに、前記温度調節用框体には、温度制
御のためのＰＩＤ制御手段を配設し、このＰＩＤ制御を
構成しているトランジスタを温度調節のための熱源とし
つつ温度制御可能としたことにある。Further, the configuration features of the detection device according to the present invention include: a light emitting section for emitting slit light; a polarization reflecting section for polarizing and reflecting the emitted slit light; A light receiving part for photoelectrically converting slit light is housed in a temperature control frame compactly formed to reduce heat capacity, and the light emitting part includes one to one light emitting diode equivalent to a point light source. A condenser lens is formed by arranging a condenser lens close to each other between the first slit portion having a slit having a width of around .5 mm and a first slit portion for uniformizing the amount of irradiated light,
The polarized light reflecting section includes a collimator lens and a cell angle of 45 mm between a second slit section having a slit capable of removing scattered light from the slit light that is passing light and the reflecting mirror.
and a flow cell of @ are arranged close to each other, and the distance between the light receiving section and the second slit section in the polarized light reflecting section is equal to the distance between the second slit section and the light emitting section. In addition, the temperature adjustment frame is provided with a PID control means for temperature control, and a transistor constituting this PID control is provided. The reason is that it is possible to control the temperature while using it as a heat source for temperature adjustment.
［作 用］
本発明は、スリット幅が従来よりも広い１〜１．５ｍｍ
前後のスリットを介して光量を均一に調整してスリット
光を照射することができ、しかも、発光部における発光
ダイオードと集光レンズと第１スリット部との相互のほ
か、偏光反射部における第２スリット部とコリメーター
レンズとフローセルと反射ミラーとの相互のそれぞれを
近接配置し、さらに、偏光反射部と受光部との離間距離
を発光部と偏光反射部との離間距離を同等としであるの
で、発光部から発せられるスリット光が１〜１．５ｍｍ
前後の広幅のものであっても、受光部における二分割光
電変換素子の横幅をさほど広げることなくスリット像と
して結像させることができ、したがって、分析用の高感
度領域から分取用の中感度領域までをカバーして測定す
ることができる。[Function] The present invention has a slit width of 1 to 1.5 mm, which is wider than the conventional one.
The slit light can be irradiated by uniformly adjusting the amount of light through the front and rear slits, and in addition to the mutual interaction between the light emitting diode, the condensing lens, and the first slit part in the light emitting part, the second slit light in the polarization reflecting part The slit section, the collimator lens, the flow cell, and the reflecting mirror are arranged close to each other, and the distance between the polarized light reflecting section and the light receiving section is set to be the same as that between the light emitting section and the polarized light reflecting section. , the slit light emitted from the light emitting part is 1 to 1.5 mm.
Even if the front and rear widths are wide, the image can be formed as a slit image without significantly increasing the width of the two-split photoelectric conversion element in the light receiving section. It is possible to cover and measure up to the area.
また、光学系の全体をこのようにしてコンパクト化する
ということは、温度調節用框体自体もこれに対応してコ
バクト化することができることを意味し、したがって、
その全体熱容量も小さくすることかできるので、この温
度調節用框体に対する温度調節を応答性の高いＰＩＤ制
御手段により行ない、かつ、このＰＩＤ制御手段に組み
込まれているトランジスタをその熱源とすることで、従
来は設定温度にまで立ち上げるために２時間程度を要し
ていたものを、約１５分間程度にまで短縮することがで
き、作業効率を格段に向上させることができる。Furthermore, making the entire optical system compact in this way means that the temperature control frame itself can also be made smaller, and therefore,
The overall heat capacity can also be reduced, so by controlling the temperature of this temperature control frame using a highly responsive PID control means and using the transistor incorporated in this PID control means as its heat source. Conventionally, it took about 2 hours to reach the set temperature, but this can be shortened to about 15 minutes, significantly improving work efficiency.
［実施例］ 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳説する。[Example] Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第１図は、本発明装置に係る全体構成の概要を示す説明
図である。FIG. 1 is an explanatory diagram showing an overview of the overall configuration of the apparatus of the present invention.
同図によれば、装置の全体は、スリット光Ｒを照射する
ための発光部１２と、照射された前記スリット光Ｒを偏
光反射するための偏光反射部１７と、反射された偏光後
の前記スリット光Ｒを光電変換処理するための受光部３
１とを有し、これらの光学系１１は、熱容量を小さくす
べくコンパクトに形成されたアルミニウムからなる温度
調節用框体Ｃ内に収容して構成されている。According to the figure, the entire device includes a light emitting unit 12 for irradiating the slit light R, a polarization reflecting unit 17 for polarizing and reflecting the irradiated slit light R, and a polarized light reflecting unit 17 for polarizing the slit light R. Light receiving unit 3 for photoelectric conversion processing of slit light R
1, and these optical systems 11 are housed in a temperature adjusting frame C made of aluminum and compactly formed to reduce heat capacity.
このうち、前記発光部１２は、その直径が１ｍｍ前後で
ある点光源と同等な発光面を有してなる発光ダイオード
１３と、１〜１゜５ｍｍ前後の横幅のスリット１６を有
して照射光量を均一化するための第１スリット部１５と
を有し、これら発光ダイオード１３と第１スリット部１
５との間には、集光レンズ１３が介在配置され、かつ、
それぞれを相互に近接配置することで形成されている。Of these, the light emitting section 12 has a light emitting diode 13 having a light emitting surface equivalent to a point light source with a diameter of about 1 mm, and a slit 16 with a width of about 1 to 1.5 mm to adjust the amount of light irradiated. The light emitting diode 13 and the first slit portion 1 have a first slit portion 15 for making the light uniform.
A condensing lens 13 is interposed between the
They are formed by arranging them close to each other.
また、前記偏光反射部１７は、入射時と反射時との通過
光であるスリット光Ｒから不必要な散乱光の除去が可能
な例えば１ｍｍ前後の横幅で形成されたスリット１９を
有する第２スリット部１８と反射ミラー２４との間（Ｉ
２）にコリメーターレンズ２０とセル角度が４５°に仕
切られた試料側セル２２と対照側セル２３とからなるフ
ローセル２１とが相互に近接配置されて形成されている
。なお、試料側セル２２には、効率的な熱交換が可能に
配設された導入路２５と排出路２６とが、対照側セル２
３には、同様に効率的な熱交換が可能な導入路２７と排
出路２８とがそれぞれ配管されている。Further, the polarized light reflecting section 17 has a second slit having a slit 19 formed with a width of about 1 mm, for example, which can remove unnecessary scattered light from the slit light R, which is the passing light at the time of incidence and at the time of reflection. Between the section 18 and the reflecting mirror 24 (I
2) A collimator lens 20 and a flow cell 21 consisting of a sample side cell 22 and a control side cell 23 partitioned at a cell angle of 45° are arranged close to each other. Note that the sample side cell 22 has an inlet path 25 and an exhaust path 26 that are arranged to enable efficient heat exchange.
3 is provided with an inlet passage 27 and an outlet passage 28, respectively, which can similarly perform efficient heat exchange.
さらに、前記受光部３１は、偏光反射部１７における第
２スリット部１８との間の距離ｍ（ｍは、前記コリメー
ターレンズ２０の焦点距離に一致し、９０〜１３０ｍｍ
前後に設定される）をこの第２スリット部１８と前記発
光部１２との間の距離と同等に設定して配置される二分
割光電変換素子３３のほか、その入光側に配設されるナ
ルグラス３２を有して形成されている。なお、二分割光
電変換素子３３は、発光部１２における第１スリット部
１５のスリット１６を広幅に形成していることに対応し
て、比較的広い受光面積を有して形成されている。Further, the distance m between the light receiving section 31 and the second slit section 18 in the polarized light reflecting section 17 (m corresponds to the focal length of the collimator lens 20, and is 90 to 130 mm).
In addition to the two-split photoelectric conversion element 33, which is arranged so that the distance between the second slit section 18 and the light emitting section 12 is set equal to the distance between the second slit section 18 and the light emitting section 12, a photoelectric conversion element 33 is arranged on the light entrance side. It is formed with a null glass 32. Note that the two-split photoelectric conversion element 33 is formed to have a relatively wide light-receiving area, corresponding to the fact that the slit 16 of the first slit section 15 in the light-emitting section 12 is formed wide.
しかも、前記温度調節用框体Ｃは、温度検出素子３９を
有するＰＩＤ制御手段３７により温度制御されており、
このＰＩＤ制御手段３７を構成しているトランジスタ３
８が温度制御用の熱源として用いられている。Moreover, the temperature of the temperature adjusting frame C is controlled by a PID control means 37 having a temperature detection element 39,
Transistor 3 constituting this PID control means 37
8 is used as a heat source for temperature control.
次に、本発明装置の一実施例を示す第１図を参酌してそ
の作用ととも本発明方法の実施例を説明する。Next, an embodiment of the method of the present invention will be described along with its operation with reference to FIG. 1 showing an embodiment of the apparatus of the present invention.
すなわち、発光部１２と偏光反射部１７と受光部３１と
からなる示差屈折率を検出するための光学系１１が収容
される温度調節用框体Ｃは、第２スリット部１８と反射
ミラー２４との間の距離氾と、偏光反射 ′部１７にお
ける第２スリット部１８との間の距離ｍととが比較的短
（なっていることから、小型化して形成されたものが用
いらている。したがって、温度調節用框体Ｃは、その全
体熱容量も比較的小さなものとなっている。そして、こ
の温度調節用框体Ｃに対する温度調節は、応答性の高い
ＰＩＤ制御手段３７により行なわれ、しかも、このＰＩ
Ｄ制御手段３７に組み込まれているトランジスタ３８が
温度制御用の熱源として用いられている。That is, the temperature adjustment frame C in which the optical system 11 for detecting the differential refractive index, which is composed of the light emitting section 12, the polarized light reflecting section 17, and the light receiving section 31, is housed has the second slit section 18, the reflecting mirror 24, Since the distance between the two slits and the distance m between the polarization reflecting section 17 and the second slit section 18 are relatively short, a compact one is used. Therefore, the overall heat capacity of the temperature adjustment frame C is relatively small.The temperature adjustment for this temperature adjustment frame C is performed by the highly responsive PID control means 37. , this PI
A transistor 38 incorporated in the D control means 37 is used as a heat source for temperature control.
一方、前記光学系１１の発光部１２においては、点光源
と同等な発光ダイオード１３から発せられる光を集光レ
ンズ１４を介して集光し、横幅が１〜１．５ｍｍ前後の
スリット１６を有する第１スリット部１５を通過させる
ことでその光量を均一化させたスリット光Ｒが偏光反射
部１７に向けて照射される。On the other hand, the light emitting unit 12 of the optical system 11 collects light emitted from a light emitting diode 13, which is equivalent to a point light source, through a condensing lens 14, and has a slit 16 with a width of about 1 to 1.5 mm. The slit light R whose light intensity is made uniform by passing through the first slit section 15 is irradiated toward the polarized light reflecting section 17 .
このようにして偏光反射部１７に到達したスリット光Ｒ
は、まず、第２スリット部１８のスリット１９を介する
ことで、不必要な散乱光を除去したスリット光Ｒとして
導入され、この直後に配置されているコリメーターレン
ズ２０を介することで平行光束となったスリット光Ｒは
、セル角度が４５”に仕切られたフローセル２１内の試
料側セル２２と対照側セル２３とを順次通過し、このフ
ローセル２１の直後に配置されている反射ミラー２４に
到達して反射される。The slit light R reaching the polarized light reflecting section 17 in this way
is first introduced as slit light R with unnecessary scattered light removed through the slit 19 of the second slit section 18, and then converted into a parallel light beam through the collimator lens 20 disposed immediately after this. The resulting slit light R sequentially passes through the sample side cell 22 and the control side cell 23 in the flow cell 21 partitioned at a cell angle of 45'', and reaches the reflection mirror 24 placed immediately after this flow cell 21. and is reflected.
反射されたスリット光Ｒは、再度、前記フローセル２１
を逆に対照側セル２３、試料側セル２２の順に通過し、
前記コリメータレンズ２０に逆方向から入光することで
、二分割光電変換素子３３の位置が焦点となるように集
光されながら前記第２スリット部１８のスリット１９へ
と至る。The reflected slit light R passes through the flow cell 21 again.
Reversely, it passes through the control side cell 23 and the sample side cell 22 in this order,
By entering the collimator lens 20 from the opposite direction, the light is focused so that the position of the two-split photoelectric conversion element 33 becomes a focal point, and reaches the slit 19 of the second slit section 18 .
この第２スリット部１８では、そのスリット１９を介し
て再び不必要な散乱光が除去されたスリット光Ｒに調整
され、しかる後、この第２スリット部１８と前記第１ス
リット部１５との間の距離と同等の離間距離ｍを有して
配設されている前記受光部３１方向へと送り出される。In this second slit section 18, the slit light R is adjusted again through the slit 19 from which unnecessary scattered light has been removed, and then, between this second slit section 18 and the first slit section 15, The light is sent toward the light receiving section 31, which is arranged with a separation distance m equivalent to the distance m.
受光部３１方向へと送り出されたスリット光Ｒは、二分
割フォトダイオードなどからなる二分割光電変換素子３
３上に到達し、第１光電変換部３４と第２光電変換部３
５とに対しスリット像として結像される。この場合、二
分割光電変換素子３３は、発光部１２における第１スリ
ット部１５のスリット１６が比較的広幅に形成されてこ
とから、これに対応すべく比較的広い面積を有するもの
が用いられているので、測定領域を広くとることができ
、したがって、特にその構成を変えることなく、分析用
の高感度領域から分取用の中感度領域に至るまで測定す
ることができる。The slit light R sent out in the direction of the light receiving section 31 is transmitted to a two-split photoelectric conversion element 3 consisting of a two-split photodiode or the like.
3, and the first photoelectric conversion section 34 and the second photoelectric conversion section 3
5 is formed as a slit image. In this case, since the slit 16 of the first slit section 15 in the light emitting section 12 is formed relatively wide, the two-split photoelectric conversion element 33 has a relatively wide area to accommodate this. Therefore, the measurement range can be widened, and therefore, it is possible to measure from a high sensitivity range for analysis to a medium sensitivity range for preparative separation without changing the configuration.
そして、前記二分割光電変換素子３３は、スリット像の
うち、第１光電変換部３４の結像割合と、第２光電変換
部３５の結像割合とに応じた電気量にそれぞれ変換し、
これを比較することで移動相中の溶質の濃度が測定され
、その屈折率を検出することができる。Then, the two-split photoelectric conversion element 33 converts the slit image into an amount of electricity according to the imaging ratio of the first photoelectric conversion unit 34 and the imaging ratio of the second photoelectric conversion unit 35,
By comparing this, the concentration of the solute in the mobile phase can be measured, and its refractive index can be detected.
［発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、スリット幅が従来よ
りも広くしたスリットを介して光量を均一に調整してス
リット光を照射することができ、しかも、発光部におけ
る発光ダイオードと集光レンズと第１スリット部との相
互のほか、偏光反射部における第２スリット部とコリメ
ーターレンズとフローセルと反射ミラーとの相互のそれ
ぞれを近接配置し、さらに、偏光反射部と受光部との離
間距離を発光部と偏光反射部との離間距離を同等としで
あるので、発光部から発せられるスリット光が広幅のも
のであっても、受光部における二分割光電変換素子を比
較的広くすることでスリット像として結像させることが
できるので、低いコストのもとて分析用の高感度領域か
ら分取用の中感度領域までをカバーして測定することが
できる。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, it is possible to uniformly adjust the amount of light and irradiate slit light through a slit with a wider slit width than before, and furthermore, the light emission in the light emitting part is reduced. In addition to the diode, the condensing lens, and the first slit section, the second slit section, the collimator lens, the flow cell, and the reflecting mirror in the polarized light reflecting section are arranged close to each other, and the polarized light reflecting section and the light receiving section are arranged close to each other. Since the distance between the light emitting part and the polarized light reflecting part is the same, even if the slit light emitted from the light emitting part is wide, the two-split photoelectric conversion element in the light receiving part can be relatively By widening the width, the image can be formed as a slit image, so it is possible to cover a high sensitivity range for analysis to a medium sensitivity range for preparative separation at low cost.
また、光学系の全体をこのようにしてコンパクト化し、
しかも、光源からの発熱もなくしであるので、小型化し
て熱容量が小さくなっている温度調節用框体に対する温
度調節を応答性の高いＰＩＤ制御手段により行ない、か
つ、とのＰＩＤ制御手段に組み込まれているトランジス
タをその熱源とすることで、従来は設定温度にまで立ち
上げるために２時間程度を要していたものを、約１５分
間程度にまで短縮することができ、作業効率を格段に向
上させることができる。In addition, the entire optical system can be made compact in this way,
Moreover, since there is no heat generation from the light source, the temperature control for the temperature control frame, which has been miniaturized and has a small heat capacity, can be performed by a highly responsive PID control means, and it can be incorporated into the PID control means. By using the transistor that is used as the heat source, the time required to raise the temperature to the set temperature can be shortened from about 2 hours to about 15 minutes, greatly improving work efficiency. can be done.
第１図は、本発明に係る装置の概略構成の一例を示す説
明図、第２図は、本発明における光学系の相互関係を示
す説明図、第３図は、従来例における光学系の相互関係
を示す説明図である。
１１・・・光学系、 １２・・・発光部、１３
・・・発光ダイオード、 １４・・・集光レンズ、１５
・・・第１スリット部、 １６・・・スリット、１７・
・・偏光反射部、 １８・・・第２スリット部、１
９・・・スリット、
２０・・・コリメーターレンズ、
２１・・・フローセル、 ２２・・・試料側セル、
２３・・・対照側セル、 ２４・・・反射ミラー、
２５、２７・・・導入路、 ２６．２８・・・排出
路、３１・・・受光部、 ３２・・・ナルグラ
ス、３３・・・二分割光電変換素子、
３４・・・第１光電変換部、 ３５・・・第２光電変換
部、３７・・・ＰＩＤ制御手段、 ３８・・・トラン
ジスタ、３９・・・温度検出素子、 Ｃ・・・温度調
節用框体、Ｒ・・・スリット光。
特許出願人 有限会社 島村計器製作所第２面
第３図FIG. 1 is an explanatory diagram showing an example of a schematic configuration of an apparatus according to the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram showing the mutual relationship of optical systems in the present invention, and FIG. 3 is an explanatory diagram showing the mutual relationship of optical systems in a conventional example. It is an explanatory diagram showing a relationship. 11... Optical system, 12... Light emitting section, 13
...Light emitting diode, 14...Condensing lens, 15
...first slit portion, 16...slit, 17.
...Polarized light reflecting section, 18...Second slit section, 1
9... Slit, 20... Collimator lens, 21... Flow cell, 22... Sample side cell,
23... Control side cell, 24... Reflection mirror,
25, 27... Inlet path, 26. 28... Outlet path, 31... Light receiving section, 32... Null glass, 33... Two-split photoelectric conversion element, 34... First photoelectric conversion section , 35... Second photoelectric conversion unit, 37... PID control means, 38... Transistor, 39... Temperature detection element, C... Temperature adjustment frame, R... Slit light. Patent applicant Shimamura Keiki Seisakusho Co., Ltd. 2nd page 3rd figure
Claims (2)
熱容量を小さくして形成された温度調節用框体に対する
温度調節をＰＩＤ制御手段により行ない、かつ、このＰ
ＩＤ制御手段に組み込まれているトランジスタを温度制
御用の熱源とするとともに、前記光学系においては、点
光源と同等な発光ダイオードから発せられる光を集光し
、横幅が１〜１．５ｍｍ前後のスリットを有する第１ス
リット部を介して光量を均一に調整して照射されるスリ
ット光を第２スリット部のスリットを介して散乱光を除
去したスリット光に調整した直後に平行光束にしてセル
角度が４５゜のフローセル内を通過させ、この通過直後
に反射させたスリット光を再度前記フローセル内を通過
させた直後に集光し、前記第２スリット部のスリットを
介して再び散乱光を除去したスリット光に調整した後、
この第２スリット部と前記第１スリット部との間の距離
と同等の離間距離を有して配設されている二分割光電変
換素子上にスリット像として結像させ、一方の光電変換
量と他方の光電変換量とを比較することで移動相中の溶
質の濃度を測定して屈折率を検出することを特徴とする
液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出方法。(1) The PID control means controls the temperature of the temperature control frame formed by reducing the heat capacity in which the optical system for detecting the differential refractive index is housed, and
The transistor incorporated in the ID control means is used as a heat source for temperature control, and the optical system collects light emitted from a light emitting diode, which is equivalent to a point light source, and has a width of about 1 to 1.5 mm. Immediately after the slit light that is irradiated by uniformly adjusting the light intensity through the first slit section having a slit is adjusted to the slit light with scattered light removed through the slit of the second slit section, it is converted into a parallel light beam and the cell angle is The slit light was passed through the flow cell at an angle of 45°, and the slit light was reflected immediately after passing through the flow cell, and immediately after it passed through the flow cell again, it was focused, and the scattered light was removed again through the slit in the second slit section. After adjusting to slit light,
A slit image is formed on a two-split photoelectric conversion element arranged with a distance equal to the distance between the second slit part and the first slit part, and the amount of photoelectric conversion of one side is A differential refractive index detection method for liquid chromatography, characterized in that the concentration of a solute in a mobile phase is measured and the refractive index is detected by comparing the amount of photoelectric conversion of the other.
た前記スリット光を偏光反射するための偏光反射部と、
反射された偏光後の前記スリット光を光電変換するため
の受光部とを熱容量を小さくすべくコンパクトに形成さ
れた温度調節用框体内に収容して構成され、前記発光部
は、点光源と同等な発光ダイオードと１〜１．５ｍｍ前
後の横幅のスリットを有して照射光量を均一化するため
の第１スリット部との間に集光レンズを相互に近接配置
して形成し、前記偏光反射部は、通過光であるスリット
光からの散乱光の除去が可能なスリットを有する第２ス
リット部と反射ミラーとの間にコリメーターレンズとセ
ル角度が４５゜のフローセルとを相互に近接配置して形
成し、前記受光部は、前記偏光反射部における第２スリ
ット部との間の距離をこの第２スリット部と前記発光部
との間の距離と同等に設定して配置される二分割光電変
換素子を用いて形成するとともに、前記温度調節用框体
には、温度制御のためのＰＩＤ制御手段を配設し、この
ＰＩＤ制御を構成しているトランジスタを温度調節のた
めの熱源としつつ温度制御可能としたことを特徴とする
液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置。(2) a light emitting section for emitting slit light; a polarization reflecting section for polarizing and reflecting the emitted slit light;
A light receiving part for photoelectrically converting the reflected polarized slit light is housed in a temperature control frame compactly formed to reduce heat capacity, and the light emitting part is equivalent to a point light source. A light emitting diode and a first slit portion having a width of about 1 to 1.5 mm are arranged close to each other to form a condensing lens for uniformizing the amount of irradiated light. A collimator lens and a flow cell having a cell angle of 45° are arranged close to each other between a second slit section having a slit that can remove scattered light from the slit light that is passing light and a reflecting mirror. The light-receiving section is formed by a two-part photoelectronic section arranged such that the distance between the polarization reflecting section and the second slit section is set to be equal to the distance between the second slit section and the light-emitting section. In addition to forming the conversion element using a conversion element, the temperature adjustment frame is provided with a PID control means for controlling the temperature, and the transistor making up the PID control is used as a heat source for temperature adjustment. A differential refractive index detection device for liquid chromatography, characterized by being controllable.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2293830A JP2732320B2 (en) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Differential refractive index detector for liquid chromatography |
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|---|---|---|---|
| JP2293830A JP2732320B2 (en) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Differential refractive index detector for liquid chromatography |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04168347A true JPH04168347A (en) | 1992-06-16 |
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| JP (1) | JP2732320B2 (en) |
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- 1990-10-31 JP JP2293830A patent/JP2732320B2/en not_active Expired - Fee Related
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