JPH041538A - Measuring method for pressure distribution - Google Patents
Measuring method for pressure distributionInfo
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- JPH041538A JPH041538A JP10216990A JP10216990A JPH041538A JP H041538 A JPH041538 A JP H041538A JP 10216990 A JP10216990 A JP 10216990A JP 10216990 A JP10216990 A JP 10216990A JP H041538 A JPH041538 A JP H041538A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
この発明は圧力分布の測定方法に関し、特に、複数の圧
電素子の電圧を順次測定することによって圧力分布を測
定する、圧力分布の測定方法に関する。Detailed Description of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to a method for measuring pressure distribution, and in particular to a method for measuring pressure distribution in which pressure distribution is measured by sequentially measuring the voltage of a plurality of piezoelectric elements. .
（従来技術）
第１図は圧力分布の測定に用いられる圧電型圧力分布セ
ンサの一例を示す分解斜視図である。この圧電型圧力分
布センサ１０は基台１２を含む。(Prior Art) FIG. 1 is an exploded perspective view showing an example of a piezoelectric pressure distribution sensor used for measuring pressure distribution. This piezoelectric pressure distribution sensor 10 includes a base 12 .
基台１２上には、複数の圧電素子１４がマトリクス状に
配置される。これらの圧電素子１４上は、シート材１６
で被覆される。A plurality of piezoelectric elements 14 are arranged in a matrix on the base 12. A sheet material 16 is placed on these piezoelectric elements 14.
covered with.
この圧電型圧力分布センサ１０を使用する場合、シート
材１６上に被測定物が載せられる。この被測定物の圧力
によって、各圧電素子１４に電圧が発生する。これらの
圧電素子１４に発生した電圧は一定のサンプリング時間
で順次測定され、測定された電圧がメモリに記憶される
。このようなサンプリングが、繰り返し行われる。そし
て、メモリに記憶された圧力データを積分することによ
って、任意の時間における圧力分布を知ることができ、
しかも時間的な圧力分布の変化を知ることができる。When using this piezoelectric pressure distribution sensor 10, an object to be measured is placed on the sheet material 16. A voltage is generated in each piezoelectric element 14 due to the pressure of the object to be measured. The voltages generated in these piezoelectric elements 14 are sequentially measured at fixed sampling times, and the measured voltages are stored in memory. Such sampling is performed repeatedly. By integrating the pressure data stored in memory, the pressure distribution at any given time can be determined.
Furthermore, changes in pressure distribution over time can be known.
（発明が解決しようとする課Ｂ）
しかしながら、このような従来の圧力分布の測定方法で
は、メモリ容量に限界があるため、サンプリング回数が
制限されてしまう。そのため、サンプリング時間を長く
すれば、長時間の測定が可能であるが、圧力分布の変化
が急激な場合、それに追随できない。また、サンプリン
グ時間を短くすると、圧力分布の変化が急激な場合でも
、それに追随することができるが、全体の測定時間が短
くなってしまう。(Problem B to be Solved by the Invention) However, in such a conventional pressure distribution measuring method, there is a limit to the memory capacity, so the number of sampling times is limited. Therefore, if the sampling time is increased, long-term measurement is possible, but if the pressure distribution changes rapidly, it cannot be followed. Furthermore, if the sampling time is shortened, even if the pressure distribution changes rapidly, it can be followed, but the overall measurement time will be shortened.
これらのことを解決するために、メモリを増設すること
が考えられるが、この場合、メモリや積分回路などを含
むハードウェアが高価になってしまう。In order to solve these problems, it is possible to add more memory, but in this case, the hardware including the memory and integration circuit becomes expensive.
それゆえに、この発明の主たる目的は、ハードウェアの
コストを上げずに、長時間の測定が可能であり、しかも
必要な部分では圧力分布の変化状態を精密に測定するこ
とができる、圧力分布の測定方法を擾供することである
。Therefore, the main purpose of this invention is to provide a method for measuring pressure distribution that enables long-term measurement without increasing hardware costs, and that allows accurate measurement of changes in pressure distribution where necessary. The purpose is to provide measurement methods.
（課題を解決するための手段）
この発明は、圧力変化に応じた電圧を出力する複数の圧
電素子を含む圧電型圧力分布センサを使用し、複数の圧
電素子の電圧を順次測定することによって圧力分布を測
定する圧力分布の測定方法であって、複数の圧電素子の
電圧を１巡して測定するためのサンプリング時間の長さ
を変化させる、圧力分布の測定方法である。(Means for Solving the Problems) The present invention uses a piezoelectric pressure distribution sensor including a plurality of piezoelectric elements that output a voltage according to pressure changes, and measures the voltage of the plurality of piezoelectric elements sequentially to increase pressure. The present invention is a pressure distribution measuring method for measuring a pressure distribution, and is a pressure distribution measuring method in which the length of a sampling time for measuring the voltage of a plurality of piezoelectric elements in one round is changed.
（作用）
圧力分布を測定する際に、必要に応して圧電素子の電圧
を測定するサンプリング時間が変化させられる。(Function) When measuring the pressure distribution, the sampling time for measuring the voltage of the piezoelectric element is changed as necessary.
（発明の効果）
この発明によれば、必要に応じて圧電素子の電圧を測定
するサンプリング時間が変化させられる。(Effects of the Invention) According to the present invention, the sampling time for measuring the voltage of the piezoelectric element can be changed as necessary.
したがって、圧力分布の変化の急激な時間帯でサンプリ
ング時間を短くし、圧力分布の変化の緩やかな時間帯で
サンプリング時間を長くすれば、長時間の測定が可能で
、かつ圧力分布の変化を精密に測定することができる。Therefore, by shortening the sampling time during times when the pressure distribution changes rapidly and increasing the sampling time during times when the pressure distribution changes slowly, long-term measurements can be made and changes in the pressure distribution can be accurately detected. can be measured.
また、圧力分布の変化の急速な場合でも、サンプリング
時間を変化させることによって、必要な時間帯のみを精
密に測定することができる。Further, even when the pressure distribution changes rapidly, by changing the sampling time, it is possible to precisely measure only the necessary time period.
しかも、この方法を用いれば、メモリを増設することな
く、このような効果を得ることができる。Moreover, by using this method, such effects can be obtained without adding memory.
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点
は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から
一層明らかとなろう。The above objects, other objects, features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description of embodiments with reference to the drawings.
（実施例）
第１図はこの発明の方法に用いられる圧電型圧力分布セ
ンサの一例を示す分解斜視図である。この圧電型圧力分
布センサｌＯは基台１２を含む。(Example) FIG. 1 is an exploded perspective view showing an example of a piezoelectric pressure distribution sensor used in the method of the present invention. This piezoelectric pressure distribution sensor lO includes a base 12.
基台１２上には、複数の圧電素子１４がマトリクス状に
配置される。これらの圧電素子１４上は、シート材１６
で被覆される。A plurality of piezoelectric elements 14 are arranged in a matrix on the base 12. A sheet material 16 is placed on these piezoelectric elements 14.
covered with.
シート材１６上には、被測定物が載せられる。An object to be measured is placed on the sheet material 16.
この被測定物の圧力によって、各圧電素子１４に電圧が
発生する。各圧電素子１４に発生した電圧は、サンプリ
ング時間Δｔごとに１巡して測定され、メモリに記憶さ
れる。このようなサンプリングを繰り返すことによって
、メモリにはサンプリング時間ごとの圧力分布に関する
データが蓄積される。A voltage is generated in each piezoelectric element 14 due to the pressure of the object to be measured. The voltage generated in each piezoelectric element 14 is measured once every sampling time Δt and stored in the memory. By repeating such sampling, data regarding the pressure distribution for each sampling time is accumulated in the memory.
第２図は、圧力分布の変化を測定する原理を説明するた
めに、１つの圧電素子に動的圧力を与えた場合を示すグ
ラフである。第２図かられがるように、サンプリング時
間Δｔごとに、その時間内で変化した圧力ΔＦが測定さ
れる。これらの複数の圧力ΔＦは、第３図に示すフロー
図にしたがって時間的に累積される。この場合、まず圧
電素子１４の出力を読み取り、そこからサンプリング時
間Δｔごとの圧力ΔＦが求められる。そして、圧力ΔＦ
を累積することによって、任意の時間における圧力を知
ることができる。つまり、任意の時間ｔにおける圧力Ｆ
（ｔ）は、次式で表される。FIG. 2 is a graph showing a case where dynamic pressure is applied to one piezoelectric element in order to explain the principle of measuring changes in pressure distribution. As shown in FIG. 2, at every sampling time Δt, the pressure ΔF that changes within that time is measured. These multiple pressures ΔF are accumulated over time according to the flow diagram shown in FIG. In this case, the output of the piezoelectric element 14 is first read, and the pressure ΔF for each sampling time Δt is determined therefrom. And the pressure ΔF
By accumulating , we can know the pressure at any given time. In other words, the pressure F at any time t
(t) is expressed by the following formula.
Ｆ （ｔ） ＝−ΣΔＦ□
１黍１
ここで、ｔ＝ｎΔｔである。この処理を全素子について
行えば、動的な圧力分布の測定が可能となる。F (t) = -ΣΔF□ 1 millet 1 Here, t=nΔt. If this process is performed on all elements, dynamic pressure distribution measurement becomes possible.
このような方法で時間的な圧力分布の変化を測定する際
に、たとえば第４図に示すように、サンプリング時間Δ
ｔが変化させられる。この場合、たとえば圧力分布の変
化の緩やかな時間帯では、サンプリング時間Δｔが長く
設定され、圧力分布Δｔの変化の急激な時間帯では、サ
ンプリング時間Δｔが短く設定される。このようにすれ
ば、圧力分布の変化の急激な場合にも、圧力分布の変化
状態を精密に測定することができる。また、圧力分布の
変化の緩やかな時間帯では、サンプリング時間Δｔを長
くしても、十分圧力分布の変化状態に追随することがで
きる。When measuring changes in pressure distribution over time using this method, for example, as shown in Figure 4, the sampling time Δ
t is varied. In this case, for example, the sampling time Δt is set long in a time zone where the pressure distribution changes slowly, and the sampling time Δt is set short in a time zone where the pressure distribution Δt changes rapidly. In this way, even when the pressure distribution changes rapidly, the state of change in the pressure distribution can be precisely measured. Further, in a time zone where the pressure distribution changes slowly, even if the sampling time Δt is made longer, it is possible to sufficiently follow the changing state of the pressure distribution.
さらに、圧力分布の変化が急激な場合であっても、サン
プリング時間を変化させることによって、必要な時間帯
のみを精密に測定することができる。Furthermore, even if the pressure distribution changes rapidly, by changing the sampling time, it is possible to accurately measure only the necessary time period.
このように、この発明の圧力分布の測定方法を用いれば
、必要に応じて、知りたい時間帯における圧力分布の変
化状態のみを精密に測定することができる。In this way, by using the pressure distribution measuring method of the present invention, it is possible to precisely measure only the state of change in pressure distribution during a desired time period, if necessary.
しかも、あまり必要でない時間帯においては、サンプリ
ング時間Δｔが長く設定されるため、メモリ容量を有効
に使用することができる。そのため、この発明の圧力分
布の測定方法を用いれば、従来の方法を用いた場合に比
べて、ハードウェアのコストを上げることなく、必要な
時間帯の圧力分布の変化状態を精密に測定することがで
き、しかも全体として長時間の圧力分布の変化状態を測
定することができる。Furthermore, since the sampling time Δt is set to be long during times when it is not so necessary, the memory capacity can be used effectively. Therefore, by using the pressure distribution measurement method of the present invention, it is possible to accurately measure the state of change in pressure distribution in a necessary time period without increasing hardware costs compared to when using conventional methods. Moreover, it is possible to measure changes in the pressure distribution over a long period of time as a whole.
第１図はこの発明の方法および従来の方法によって圧力
分布の測定を行うために用いられる圧電型圧力分布セン
サの一例を示す分解斜視図である。
第２図は、圧力分布の変化を測定する原理を説明するた
めに、１つの圧電素子に動的圧力を与えた場合を示すグ
ラフである。
第３図は圧力分布の時間的な変化を測定するときのフロ
ー図である。
第４図はこの発明の方法を用いて圧力分布の時間的な変
化状態を測定する場合を説明するためのグラフである。
図において、１０は圧電型圧力分布センサ、１２は基台
、１４は圧電素子、１６はシート材を示す。
特許出願人 株式会社 村田製作所
代理人 弁理士 岡 １） 全 啓
１図
第３図
２図
↑
第４図
＋１４間FIG. 1 is an exploded perspective view showing an example of a piezoelectric pressure distribution sensor used for measuring pressure distribution by the method of the present invention and the conventional method. FIG. 2 is a graph showing a case where dynamic pressure is applied to one piezoelectric element in order to explain the principle of measuring changes in pressure distribution. FIG. 3 is a flow diagram when measuring temporal changes in pressure distribution. FIG. 4 is a graph for explaining the case where the temporal change state of pressure distribution is measured using the method of the present invention. In the figure, 10 is a piezoelectric pressure distribution sensor, 12 is a base, 14 is a piezoelectric element, and 16 is a sheet material. Patent Applicant Murata Manufacturing Co., Ltd. Representative Patent Attorney Oka 1) Zenkei Figure 1 Figure 3 Figure 2 ↑ Figure 4 + 14
Claims (1)
圧電型圧力分布センサを使用し、複数の前記圧電素子の
電圧を順次測定することによって圧力分布を測定する圧
力分布の測定方法であって、複数の前記圧電素子の電圧
を１巡して測定するためのサンプリング時間の長さを変
化させる、圧力分布の測定方法。A pressure distribution measurement method that uses a piezoelectric pressure distribution sensor including a plurality of piezoelectric elements that output a voltage according to a pressure change, and measures the pressure distribution by sequentially measuring the voltage of the plurality of piezoelectric elements, the method comprising: . A pressure distribution measuring method in which the length of sampling time for measuring the voltages of the plurality of piezoelectric elements in one cycle is changed.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10216990A JPH041538A (en) | 1990-04-17 | 1990-04-17 | Measuring method for pressure distribution |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10216990A JPH041538A (en) | 1990-04-17 | 1990-04-17 | Measuring method for pressure distribution |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH041538A true JPH041538A (en) | 1992-01-07 |
Family
ID=14320206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10216990A Pending JPH041538A (en) | 1990-04-17 | 1990-04-17 | Measuring method for pressure distribution |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH041538A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20070052850A (en) * | 2005-11-18 | 2007-05-23 | 고려대학교 산학협력단 | The device for measuring coefficient of lateral earth pressure and the method thereof |
| JP2008033202A (en) * | 2006-08-01 | 2008-02-14 | Sharp Corp | Video display apparatus |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6358121A (en) * | 1986-08-28 | 1988-03-12 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | Multifunctional matrix sensor |
| JPS63293429A (en) * | 1987-05-26 | 1988-11-30 | Shimadzu Corp | Data processor for spectrophotometer |
-
1990
- 1990-04-17 JP JP10216990A patent/JPH041538A/en active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6358121A (en) * | 1986-08-28 | 1988-03-12 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | Multifunctional matrix sensor |
| JPS63293429A (en) * | 1987-05-26 | 1988-11-30 | Shimadzu Corp | Data processor for spectrophotometer |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR20070052850A (en) * | 2005-11-18 | 2007-05-23 | 고려대학교 산학협력단 | The device for measuring coefficient of lateral earth pressure and the method thereof |
| JP2008033202A (en) * | 2006-08-01 | 2008-02-14 | Sharp Corp | Video display apparatus |
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