JPH04130807A - Mos amplifier circuit - Google Patents

Mos amplifier circuit

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JPH04130807A
JPH04130807A JP2250267A JP25026790A JPH04130807A JP H04130807 A JPH04130807 A JP H04130807A JP 2250267 A JP2250267 A JP 2250267A JP 25026790 A JP25026790 A JP 25026790A JP H04130807 A JPH04130807 A JP H04130807A
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Japan
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circuit
load
capacitor
drains
mosfet
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JP2250267A
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Japanese (ja)
Inventor
Ryotaro Kudo
良太郎 工藤
Ryohei Saga
嵯峨 良平
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Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
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Abstract

PURPOSE:To prevent oscillation in a high frequency by including differential amplifier MOSFET, resistance means which are respectively provided for the drains of differential amplifier MOSFET and a load circuit provided through the resistance means. CONSTITUTION:A capacitor C1 provided between the drains of differential MOSFETQ1 and Q2 operates so that it suppresses the peak of the gain of the MOS amplifier circuit, which is generated when a capacitative load CL is connected. Namely, the capacitor C1 operates in such a way that it shorts the amplification output of a high frequency band component more than an interruption frequency f1 so as to cancel it. An input signal component consisting of a high band frequency band, which leaks from parasitic capacity CGD can be attenuated by setting the appropriate resistance value of resistances R1 and R2. Thus, a signal attenuation operation by the capacitor C1 and the resistances R1 and R2 synergistically operates and the gain can be reduced with the increase of the frequency, and danger that an oscillation phenomenon occurs can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、MOS増幅回路に関するものであり、特に
、比較的大きな容量性負荷を駆動するものに利用して有
効な技術に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a MOS amplifier circuit, and particularly relates to a technique that is effective when used for driving a relatively large capacitive load.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

PチャンネルMOSFET (絶縁ゲート型電界効果ト
ランジスタ、以下同じ)とNチャンネルMOSFETと
からなるCMOS回路により構成された演算増幅回路と
して、例えば特開平1−55771号公報がある。
There is, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 1-55771 as an operational amplifier circuit constituted by a CMOS circuit including a P-channel MOSFET (insulated gate field effect transistor, hereinafter the same) and an N-channel MOSFET.

従来の位相補償回路は、第4図に示すように、出力段M
OSFETQ7のゲートとドレイン、言い換えるならば
、出力端子Voutと差動回路の出力端子との間に位相
補償用キャパシタCFを設けるというものである。
The conventional phase compensation circuit has an output stage M as shown in FIG.
A phase compensation capacitor CF is provided between the gate and drain of OSFETQ7, in other words, between the output terminal Vout and the output terminal of the differential circuit.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記第4図に示すような位相補償回路を備えた演算増幅
回路をボルテージフォロワ形態に接続すると、言い換え
るならば、出力端子Voutと反転の入力端子Vin(
−)を接続すると、その高域遮断周波数はゲート・ドレ
イン間の位相補償用キャパシタCFと、入力差動MOS
 F ETQ 2のソース抵抗に太き(依存したものに
なる。よって、高域遮断周波数を位相マージンの大きな
点に設定して、発振マージンを大きくすることができる
。しかしながら、この場合には負荷容量CLの容量値は
非常に小さいものに限定される。
When an operational amplifier circuit equipped with a phase compensation circuit as shown in FIG. 4 is connected in a voltage follower configuration, in other words, the output terminal Vout and the inverted input terminal Vin(
-), the high cutoff frequency is determined by the phase compensation capacitor CF between the gate and drain and the input differential MOS
The oscillation margin can be increased by setting the high cutoff frequency to a point with a large phase margin.However, in this case, the load capacitance The capacitance value of CL is limited to a very small value.

すなわち、第5図に示した特性L4のように、その利得
は高域遮断周波数f1より減衰を始めるが、負荷容量C
Lの容量値を太き(すると、周波数fpにおいて大きな
ピークが現れる。このように、負荷に大容量を接続した
場合に現れる利得のピークが大きいと、演算増幅回路が
発振を生じてしまうという危険性がある。
That is, as shown in the characteristic L4 shown in FIG. 5, the gain starts to attenuate from the high cutoff frequency f1, but
If the capacitance value of L is increased (then a large peak will appear at the frequency fp), if the gain peak that appears when a large capacitance is connected to the load is large, there is a risk that the operational amplifier circuit will oscillate. There is sex.

また、入力差動MOSFETQIのゲートとドレイン間
寄生容量CODにより、周波数f2より高い領域では、
入力信号が位相補償用のキャパシタCFを介して出力側
にリークしてしまうため、利得が十分減衰せず、負荷容
量によっては発振の原因になる危険性がある。
Furthermore, due to the parasitic capacitance COD between the gate and drain of the input differential MOSFET QI, in the region higher than the frequency f2,
Since the input signal leaks to the output side via the phase compensation capacitor CF, the gain is not sufficiently attenuated, which may cause oscillation depending on the load capacitance.

この発明の目的は、大きな容量値を持つ容量性負荷を駆
動しつつ、発振現象の危険性を回避したMOS増幅回路
を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a MOS amplifier circuit that avoids the risk of oscillation while driving a capacitive load having a large capacitance value.

この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本■において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
A brief overview of typical inventions disclosed in this book (2) is as follows.

すなわち、出力回路に大きな容量性負荷が接続されるM
OS増幅回路において、差動増幅MOSFETのドレイ
ン間にキャパシタを設け、及び/又は上記差動増幅MO
SFETのドレインにそれぞれ抵抗手段を設けて負荷回
路に接続する。
That is, M when a large capacitive load is connected to the output circuit.
In the OS amplifier circuit, a capacitor is provided between the drains of the differential amplifier MOSFETs, and/or the differential amplifier MOSFET is
Resistance means are provided at the drains of the SFETs and connected to the load circuit.

〔作 用〕[For production]

上記した手段によれば、差動MOSFETのドレインに
設けられたキャパシタや抵抗手段より、寄生容量を介し
てリークした入力信号を減衰できること、及び/又は差
動増幅回路そのものの利得を低下させることにより、高
域遮断周波数より高い領域での利得のピークを抑えるこ
とができ、発振の危険性を回避できる。
According to the above means, the input signal leaked through the parasitic capacitance can be attenuated by the capacitor or resistance means provided at the drain of the differential MOSFET, and/or the gain of the differential amplifier circuit itself can be reduced. , the gain peak in the region higher than the high cutoff frequency can be suppressed, and the risk of oscillation can be avoided.

〔実施例〕〔Example〕

第1図には、この発明に係るMO5増幅回路の一実施例
の回路図が示されている。同図の各回路素子は、公知の
CMOS集積回路の製造技術よって、特に1iIJII
!されないが、単結晶シリコンのような1個の半導体基
板上において形成される。同図において、Pチャンネル
MOS F ETは、そのチャンネル(パックゲート)
部に矢印が付加されることによって、NチャンネルMO
SFETと区別される。このことは、第2図ないし第4
図に示した回路図においても同様である。
FIG. 1 shows a circuit diagram of an embodiment of an MO5 amplifier circuit according to the present invention. Each circuit element in the figure is manufactured using known CMOS integrated circuit manufacturing technology, especially 1iIJII.
! However, it is formed on a single semiconductor substrate such as single crystal silicon. In the figure, the P-channel MOS FET has its channel (pack gate)
By adding an arrow to the part, N-channel MO
Distinguished from SFET. This can be seen in Figures 2 to 4.
The same applies to the circuit diagram shown in the figure.

差動形態にされたPチャンネルMOSFETQlとQ2
の共通化されたソースには、定電流源として作用するP
チャンネルMOSFETQ9が設けられる。そして、こ
の実施例においては、前記のように高域遮断周波数f1
以上の高い帯域での利得を低減させるために、ドレイン
間にキャパシタC1が設けられる。また、ボルテージフ
ォロワ形態にした・ときの入力信号Vin(+)を受け
る差動MOSFETQIのゲート、ドレイン間の寄生容
量を介してスルーされた高域信号を減衰させるために差
動MOSFETQ1.Q2のドレインには抵抗R1,R
2が接続される。上記差動MOSFETQI、Q2のド
レインには、上記抵抗R1゜R2を介して、負荷回路を
構成する電流ミラー形態のNチャンネルMOSFETQ
3.Q4が設けられる。
P-channel MOSFETs Ql and Q2 in differential configuration
The common source of is P, which acts as a constant current source.
A channel MOSFET Q9 is provided. In this embodiment, as mentioned above, the high cutoff frequency f1
In order to reduce the gain in the above high band, a capacitor C1 is provided between the drains. In addition, in order to attenuate the high-frequency signal passed through through the parasitic capacitance between the gate and drain of the differential MOSFET QI that receives the input signal Vin (+) when the voltage follower configuration is used, the differential MOSFET Q1. Resistors R1 and R are connected to the drain of Q2.
2 is connected. The drains of the differential MOSFETs QI and Q2 are connected via the resistors R1 and R2 to a current mirror type N-channel MOSFET Q, which constitutes a load circuit.
3. Q4 is provided.

上記差動回路の出力である負荷MOSFETQ3のドレ
インは、Nチャンネル型の駆動MOSFETQ5及び出
力MOS F ETQ 7のゲートに供給される。上記
駆動MOSFETQ5のドレイン側には、定電流負荷と
して作用するPチャンネルMOSFETQI Oが設け
られ、その反転信号信号が上記出力MOSFETQ7と
プッシュプル形態に接続された出力MOSFETQ6の
ゲートに伝えられる。すなわち、この実施例の出力回路
は、いわゆるインパーティフドプッシュブル出力回路が
用いられる。
The drain of the load MOSFETQ3, which is the output of the differential circuit, is supplied to the gates of an N-channel drive MOSFETQ5 and an output MOSFETQ7. A P-channel MOSFET QIO that acts as a constant current load is provided on the drain side of the drive MOSFET Q5, and its inverted signal is transmitted to the gate of an output MOSFET Q6 connected in a push-pull configuration to the output MOSFET Q7. That is, the output circuit of this embodiment is a so-called impartifed push-pull output circuit.

この実施例では、出力MOSFETQ7のゲートとドレ
イン間に、言い換えるならば、出力端子Voutと差動
回路の出力端子との間に、位相補償用のキャパシタC2
が設けられる。
In this embodiment, a phase compensation capacitor C2 is connected between the gate and drain of the output MOSFET Q7, in other words, between the output terminal Vout and the output terminal of the differential circuit.
is provided.

なお、基準定電流源1oをダイオード形態にされたPチ
ャンネルMOSFETQ8に流し、このPチャンネルM
OSFETQBとMOSFETQ9及びQIOを電流ミ
ラー形態に接続することによって、MOSFETQ9及
びQIOを定電流源として動作させる。
Note that the reference constant current source 1o is passed through a P-channel MOSFET Q8 in the form of a diode, and this P-channel MOSFET Q8 is
By connecting OSFETQB and MOSFETQ9 and QIO in a current mirror configuration, MOSFETQ9 and QIO operate as a constant current source.

上記差動MOSFETQI、Q2のドレイン間に設けら
れたキャパシタC1は、容量性の負荷CLを接続したと
きに発生するMOS増幅回路の利得のピークを抑え込む
ように作用する。すなわち、キャパシタC1は、上記遮
断周波数f1以上の高域周波数成分の増幅出力を短絡し
て相殺させるように作用する。また、上記のような寄生
容量CODによりリークした高域周波帯からなる入力信
号成分は、抵抗R1,R2の適切な抵抗値の設定により
減衰させることができる。
The capacitor C1 provided between the drains of the differential MOSFETs QI and Q2 acts to suppress the gain peak of the MOS amplifier circuit that occurs when a capacitive load CL is connected. That is, the capacitor C1 acts to short-circuit and cancel out the amplified output of the high frequency component above the cutoff frequency f1. Further, the input signal component in the high frequency band leaked due to the parasitic capacitance COD as described above can be attenuated by setting appropriate resistance values of the resistors R1 and R2.

これにより、第1図に示したMOS増幅回路においては
、その出力端子Voutと反転の入力端子Vin()と
を接読するというボルテージフォロワ形態にして、比較
的大きな容量値を持つ負荷CLを駆動するとき、第5図
の特性Llのように高域遮断周波数f1を越える高域周
波数成分に対しては、上記キャパシタC1と抵抗R1,
R2による信号減衰作用が相乗的に作用して、その周波
数の増大とともに利得を低下させることができる。
As a result, the MOS amplifier circuit shown in FIG. 1 uses a voltage follower configuration in which the output terminal Vout and the inverted input terminal Vin() are read directly, and drives the load CL having a relatively large capacitance value. At this time, for high frequency components exceeding the high cutoff frequency f1 as shown in the characteristic Ll of FIG. 5, the capacitor C1 and the resistor R1,
The signal attenuation effect of R2 acts synergistically to reduce the gain as its frequency increases.

これにより、発振現象の生じる危険性を防止することが
できる。
This can prevent the risk of oscillation occurring.

第2図には、この発明に係るMOS増幅回路の他の一実
施例の回路図が示されている。
FIG. 2 shows a circuit diagram of another embodiment of the MOS amplifier circuit according to the present invention.

この実施例においては、上記抵抗R1,R2が省略され
る。このように抵抗R1,R2を省略した場合において
も、キャパシタC1による利得制限作用によって、第5
図の特性L2のように寄生容量CODによって入力信号
がスルーする周波数f2までの周波数帯域では利得を減
衰させることができる。この場合、キャパシタC1によ
り、利得がある程度減衰させられているから、上記のよ
うな寄生容量CODによって入力信号の高域成分のスル
ーがあっても発振の原因にはならない。
In this embodiment, the resistors R1 and R2 are omitted. Even when the resistors R1 and R2 are omitted, the gain limiting effect of the capacitor C1 allows the fifth
As shown by the characteristic L2 in the figure, the gain can be attenuated in the frequency band up to the frequency f2 at which the input signal passes due to the parasitic capacitance COD. In this case, since the gain is attenuated to some extent by the capacitor C1, even if the high-frequency component of the input signal passes through due to the parasitic capacitance COD as described above, it does not cause oscillation.

上記第1図及び第2図の実施例のように、キャパシタC
1と抵抗R1,R2及び及びキャパシタCIを設ける構
成のMO5増幅回路は、上記のようにボルテージフォロ
ワ形態にし、液晶駆動用電圧発生回路に適したものとな
る。すなわち、図示しないが、直列抵抗回路等により分
圧して形成された電圧をインピーダンス変換して出力す
る。このような電圧は、例えば、薄膜トランジスタを用
いたアクティブマトリックス構成の液晶表示装置の信号
線駆動電圧として用いることができる。上記分圧回路と
ボルテージフォロワ形態のMO5増幅回路によって、液
晶パネルのコモン電極側の電圧を中心にして、正と負の
点灯レベルの駆動電圧、及び非点灯レベルの駆動電圧を
形成しておき、それを表示データに従って選択的に信号
線電極に供給して、選択された走査線の画素電橋に書き
込むようにするものである。この場合、液晶表示装置は
等傷内には大きな容量値を持つ負荷とみなすことができ
るから、上記のような発振対策が必要になるものである
。なお、液晶表示装置としては、上記のようなアクティ
ブマトリックス構成のもの他、走査線と信号との交差部
分に画素を構成するという単純マトリックス構成のもの
であってもよい。
As in the embodiments of FIGS. 1 and 2 above, the capacitor C
1, resistors R1, R2, and capacitor CI, the MO5 amplifier circuit is in the form of a voltage follower as described above, and is suitable as a voltage generating circuit for driving a liquid crystal. That is, although not shown, the voltage divided by a series resistor circuit or the like is converted into impedance and output. Such a voltage can be used, for example, as a signal line drive voltage of a liquid crystal display device with an active matrix structure using thin film transistors. By the voltage divider circuit and the MO5 amplifier circuit in the form of a voltage follower, positive and negative driving voltages for lighting levels and driving voltages for non-lighting levels are formed centered on the voltage on the common electrode side of the liquid crystal panel, The data is selectively supplied to the signal line electrode in accordance with display data, and written to the pixel bridge of the selected scanning line. In this case, since the liquid crystal display device can be regarded as a load having a large capacitance value within the same flaw, the above-mentioned oscillation countermeasures are required. In addition to the active matrix structure described above, the liquid crystal display device may have a simple matrix structure in which pixels are formed at the intersections of scanning lines and signals.

第3図には、この発明に係るMOS増幅回路の他の更に
一実施例の回路図が示されている。
FIG. 3 shows a circuit diagram of yet another embodiment of the MOS amplifier circuit according to the present invention.

この実施例においては、上記キャパシタC1が省略され
る。このようにキャパシタC1を省略した場合において
も、抵抗R1,R2により周波数12以上の高域周波数
成分が減衰させられるから利得制限作用によって、第5
図の特性L3のように寄生容量CODによって入力信号
がスルーする周波数12以上の周波数帯域では利得を減
衰させることができる。これにより、入力信号がスルー
してしまうことよる発振現象を防止することができる。
In this embodiment, the capacitor C1 is omitted. Even when the capacitor C1 is omitted in this way, the resistors R1 and R2 attenuate the high frequency components of frequency 12 or higher, so the gain limiting effect causes the fifth
As shown in characteristic L3 in the figure, the gain can be attenuated in a frequency band of frequency 12 or higher where the input signal passes through due to the parasitic capacitance COD. This makes it possible to prevent oscillation caused by input signals passing through.

なお、同図では、大きな容量値の負荷容量CLにより、
周波数rpで利得のピークが往じるように措かれている
が、このピークは負荷容量が小さくなると低減するので
、上記抵抗R1,R2のみによる発振防止を行うMOS
増幅回路は、比較的軽い負荷容量を用いるような回路に
有効なものとなる。上記抵抗R1,R2による信号減衰
動作は、差動回路の負荷を構成するNチャンネルMOS
FETQ3.Q4のドレイン寄生容量(図示ぜず)も作
用してロウパスフィルタを構成し、高域成分を減衰させ
るようになるものである。
In addition, in the same figure, due to the load capacitance CL having a large capacitance value,
The gain peak is set at the frequency rp, but this peak decreases as the load capacitance becomes smaller.
The amplifier circuit is effective for circuits that use relatively light load capacitance. The signal attenuation operation by the resistors R1 and R2 is performed by the N-channel MOS that constitutes the load of the differential circuit.
FETQ3. The drain parasitic capacitance (not shown) of Q4 also acts to form a low-pass filter, which attenuates high-frequency components.

上記の実施例から得られる作用効果は、下記の遺りであ
る。すなわち、 (1)  出力回路に大きな容量性負荷が接続されるM
O8増幅回路において、差動増幅MOSFETのドレイ
ンのドレイン間にキャパシタを設け、及び/又は上記差
動増4M05FETのドレインにそれぞれ抵抗手段を設
けてこの抵抗手段を介して負荷回路を接続するようにす
ることより、キャパシタや抵抗手段より、差動増幅回路
の増幅出力信号そのものを低下させること、及び/又は
入力寄生容量を通してスルーした高域成分を減衰できる
から遮断周波数以上の高帯域での発振の危険性を回避す
ることができるという効果が得られる。
The effects obtained from the above embodiments are as follows. That is, (1) M when a large capacitive load is connected to the output circuit.
In the O8 amplifier circuit, a capacitor is provided between the drains of the differential amplifier MOSFETs, and/or resistor means are provided at the drains of the differential amplifier 4M05FETs, and the load circuit is connected through the resistor means. In particular, it is possible to reduce the amplified output signal of the differential amplifier circuit itself and/or attenuate the high-frequency components passed through the input parasitic capacitance by means of capacitors and resistors, thereby reducing the risk of oscillation in high bands above the cutoff frequency. This has the effect of avoiding sex.

(2)差動増幅MOSFETのドレインにそれぞれ抵抗
手段を介して負荷回路を設けることによって、差動MO
SFETのゲートとドレイン間の寄生容量を介してスル
ーする高域入力信号成分を減衰させることができるから
、高域周波数での発振を防止することができるという効
果が得られる。
(2) By providing a load circuit to the drain of each differential amplification MOSFET via a resistance means, differential MOSFET
Since it is possible to attenuate the high frequency input signal component that passes through the parasitic capacitance between the gate and drain of the SFET, it is possible to obtain the effect that oscillation at high frequency can be prevented.

以上本発明者により成された発明を実施例に基づき具体
的に説明したが、本願発明は前記実施例に限定されるも
のではな(、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない0例えば、出力回路として
は、上記のようなプツシニブル形態の出力MOSFET
Q6.Q7を用いるもの他、これらを省略してMOSF
ETQ5と定電流負荷MOSFETQI Oとから構成
するものであってもよい、あるいは、0MO8構成のプ
フシェプル出力回路を用いるものであってもよい、この
ように出力回路の構成は、櫂々の実施形態を持つことが
できる。また、差動増幅回路の負荷回路は、電流ミラー
形態にされりアクティブ負荷回路を用いるもの他、負荷
MOSFET等の抵抗手段から構成してもよい、また、
第1図ないし第3図の実施例において、MOS F E
Tの導電型を逆にするものであってもよい、すなわち、
差動MOSFETと、共通ソースに設けられる定電流M
 OS F E T f Nチ中ンネルMOSFETと
し、負荷MOSFETをPチャンネルMOSFETによ
り構成するものであってもよい。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained based on Examples above, the present invention is not limited to the above Examples (although it is understood that various changes can be made without departing from the gist of the invention). Needless to say, for example, as an output circuit, the output MOSFET of the pushinable type as mentioned above is used.
Q6. In addition to those using Q7, these are omitted and MOSF
The configuration of the output circuit may be configured from ETQ5 and constant current load MOSFETQIO, or it may be configured using a Puchscheple output circuit with 0 MO8 configuration. You can have it. In addition, the load circuit of the differential amplifier circuit may be a current mirror type active load circuit, or may be composed of resistance means such as a load MOSFET.
In the embodiments of FIGS. 1 to 3, MOS F E
The conductivity type of T may be reversed, i.e.,
Differential MOSFET and constant current M provided in common source
The OS FET may be an N-channel MOSFET, and the load MOSFET may be a P-channel MOSFET.

この発明に係るMO5増幅回路は、前記のような液晶駆
動電圧発生回路の他、比較的大きな容量性の負荷を駆動
するもの、あるいは高域までの増幅動作を必要とするも
の等に広く利用することができる。
The MO5 amplifier circuit according to the present invention can be widely used in devices that drive a relatively large capacitive load, or devices that require amplification operation up to high frequencies, in addition to the above-mentioned liquid crystal drive voltage generation circuit. be able to.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる簡単に説明すれば、下記の通りである。すな
わち、出力回路に大きな容量性負荷が接続されるMOS
増幅回路において、差動増幅MOSFETのドレインの
ドレイン間にキャパシタを設け、及び/又は上記差動増
幅MOSFETのドレインにそれぞれ抵抗手段を設けて
この抵抗手段を介して負荷回路を接続するようにするこ
とより、キャパシタや抵抗手段より、差動増幅回路の増
幅出力信号そのものを低下させること、及び/又は入力
寄生容量を通してスルーした高域成分を減衰できるから
遮断周波数以上の高帯域での発振の危険性を回避するこ
とができる。また、差動増幅MOSFETのドレインに
それぞれ抵抗手段を介して負荷回路を設けることによっ
て、差動MOSFETのゲートとドレイン間の寄生容量
を介してスルーする高域入力信号成分を減衰させること
ができるから、高域周波数での発振を防止することがで
きる。
A brief explanation of the results obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows. In other words, MOS in which a large capacitive load is connected to the output circuit
In the amplifier circuit, a capacitor is provided between the drains of the differential amplification MOSFETs, and/or a resistance means is provided at each drain of the differential amplification MOSFET, and a load circuit is connected through the resistance means. Therefore, it is possible to lower the amplified output signal of the differential amplifier circuit itself and/or attenuate the high-frequency components passed through the input parasitic capacitance using capacitors or resistive means, so there is a risk of oscillation in a high band above the cutoff frequency. can be avoided. Furthermore, by providing a load circuit to the drains of the differential amplification MOSFETs via resistive means, it is possible to attenuate the high-frequency input signal components that pass through via the parasitic capacitance between the gate and drain of the differential MOSFETs. , it is possible to prevent oscillation at high frequencies.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、この発明に係るPwl 0 S増幅回路の一
実施例を示す回路図、 第2図は、この発明に係るMOS増幅回路の他の一実施
例を示す回路図、 第3図は、この発明に係るMOS増幅回路の更に他の一
実施例を示す回路図、 第41j!jは、従来の位相補償回路を用いたMOS増
幅回路の一例を示す回路図、 第5図は、この発明のMOS増幅回路の動作を説明する
ための利得−周波数特性図である。 Q1〜Q7・・MOSFET、R1,R2・・抵抗、C
工・・キャパシタ、C2,CF・・位相補償用キャパシ
タ、CL・・負荷容量。
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of the Pwl 0 S amplifier circuit according to the invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing another embodiment of the MOS amplifier circuit according to the invention, and FIG. 3 is a circuit diagram showing another embodiment of the MOS amplifier circuit according to the invention. , a circuit diagram showing still another embodiment of the MOS amplifier circuit according to the present invention, No. 41j! j is a circuit diagram showing an example of a MOS amplifier circuit using a conventional phase compensation circuit, and FIG. 5 is a gain-frequency characteristic diagram for explaining the operation of the MOS amplifier circuit of the present invention. Q1~Q7...MOSFET, R1, R2...resistance, C
Engineering: Capacitor, C2, CF: Phase compensation capacitor, CL: Load capacitance.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、差動増幅MOSFETと、これら差動増幅MOSF
ETのドレインにそれぞれ設けられた抵抗手段と、この
抵抗手段を介して設けられた負荷回路とを含むことを特
徴とするMOS増幅回路。 2、差動増幅MOSFETと、これら差動増幅MOSF
ETのドレイン間に設けられたキャパシタと、上記差動
増幅MOSFETのドレインに設けられた負荷回路と、
上記負荷回路から得られる出力信号を受けて比較的大き
な容量性負荷を駆動する出力回路とを含むことを特徴と
するMOS増幅回路。 3、差動増幅MOSFETと、これら差動増幅MOSF
ETのドレインのドレイン間に設けられたキャパシタと
、上記差動増幅MOSFETのドレインにそれぞれ設け
られた抵抗手段と、この抵抗手段を介して設けられた負
荷回路と、上記負荷回路から得られる出力信号を受けて
比較的大きな容量性負荷を駆動する出力回路とを含むこ
とを特徴とするMOS増幅回路。 4、上記負荷回路は、電流ミラー形態に接続されたMO
SFETかららなるものであることを特徴とする特許請
求の範囲第1、第2又は第3項記載のMOS増幅回路。
[Claims] 1. Differential amplification MOSFET and these differential amplification MOSFETs
1. A MOS amplifier circuit comprising resistance means provided at the drains of the ETs, and a load circuit provided via the resistance means. 2. Differential amplification MOSFET and these differential amplification MOSFETs
a capacitor provided between the drains of the ET; a load circuit provided at the drains of the differential amplification MOSFET;
and an output circuit that receives an output signal obtained from the load circuit and drives a relatively large capacitive load. 3. Differential amplification MOSFET and these differential amplification MOSFETs
A capacitor provided between the drains of the ET, a resistance means provided at each of the drains of the differential amplification MOSFET, a load circuit provided via the resistance means, and an output signal obtained from the load circuit. and an output circuit for driving a relatively large capacitive load in response to a MOS amplification circuit. 4. The above load circuit is an MO connected in a current mirror configuration.
3. The MOS amplifier circuit according to claim 1, wherein the MOS amplifier circuit is comprised of an SFET.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6316998B1 (en) 1997-11-12 2001-11-13 Nec Corporation Differential amplifier and a method of compensation
US6480178B1 (en) 1997-08-05 2002-11-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Amplifier circuit and liquid-crystal display unit using the same
JP2008092106A (en) * 2006-09-29 2008-04-17 Nec Electronics Corp Differential amplifier circuit
JP2011135198A (en) * 2009-12-22 2011-07-07 Kyodo Denshi Engineering Co Ltd Current/voltage conversion combining output device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6480178B1 (en) 1997-08-05 2002-11-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Amplifier circuit and liquid-crystal display unit using the same
US6664941B2 (en) 1997-08-05 2003-12-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Amplifier circuit and liquid-crystal display unit using the same
US6316998B1 (en) 1997-11-12 2001-11-13 Nec Corporation Differential amplifier and a method of compensation
JP2008092106A (en) * 2006-09-29 2008-04-17 Nec Electronics Corp Differential amplifier circuit
JP2011135198A (en) * 2009-12-22 2011-07-07 Kyodo Denshi Engineering Co Ltd Current/voltage conversion combining output device

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