JPH0412246A - 金属粉末の不純物検出方法 - Google Patents
金属粉末の不純物検出方法Info
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- JPH0412246A JPH0412246A JP11561390A JP11561390A JPH0412246A JP H0412246 A JPH0412246 A JP H0412246A JP 11561390 A JP11561390 A JP 11561390A JP 11561390 A JP11561390 A JP 11561390A JP H0412246 A JPH0412246 A JP H0412246A
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Landscapes
- Separation Of Solids By Using Liquids Or Pneumatic Power (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は粉末冶金の原料粉となる金属粉末の不純物検出
方法に関するものである。
方法に関するものである。
［従来の技術］
航空機用ディスク等の金属製品を粉末冶金により製作す
る場合において、金属粉末中に不純物（主にセラミック
ス）が含まれていると、その不純物が金属製品の疲労破
壊の起点となる問題がある。そのため、原料粉末中の不
純物を検出することにより原料粉の清浄度を評価するこ
とが必要である。
る場合において、金属粉末中に不純物（主にセラミック
ス）が含まれていると、その不純物が金属製品の疲労破
壊の起点となる問題がある。そのため、原料粉末中の不
純物を検出することにより原料粉の清浄度を評価するこ
とが必要である。
金属粉末中の不純物を検出する方法としては、密度差に
よる水中での物質の沈降速度の違いを利用して分離させ
るようにする水流法や、粉末をボタン溶解して密度の低
い異物を表面に浮き出させるようにするボタン溶解法等
が従来より知られている。
よる水中での物質の沈降速度の違いを利用して分離させ
るようにする水流法や、粉末をボタン溶解して密度の低
い異物を表面に浮き出させるようにするボタン溶解法等
が従来より知られている。
［発明が解決しようとする課題］
ところが、上記水流法の場合には、直径が５０μｍ以下
の不純物を検出することはできず、一方、上記ボタン溶
解法の場合には、直径か５０μｍ以下のものまで検出す
ることはできるか、完全に表面に浮かない不純物の検出
が困難である上、凝集によりサイズ宙吊に限界があると
いう問題がおる。
の不純物を検出することはできず、一方、上記ボタン溶
解法の場合には、直径か５０μｍ以下のものまで検出す
ることはできるか、完全に表面に浮かない不純物の検出
が困難である上、凝集によりサイズ宙吊に限界があると
いう問題がおる。
金属製品の欠陥に起因する破壊と結晶すべり変形による
破壊の境界は、応力にもよるが、般に欠陥の大きさが３
０μｍ程度とされている。したがって、安全面から見る
と、粒径か２０μｍ程度の不純物まで検出できることが
望ましい。
破壊の境界は、応力にもよるが、般に欠陥の大きさが３
０μｍ程度とされている。したがって、安全面から見る
と、粒径か２０μｍ程度の不純物まで検出できることが
望ましい。
そこで、本発明は、粒径が２０μｍ程度までの不純物の
検出を行うことができるような金属粉末の不純物検出方
法を提供しようとするものである。
検出を行うことができるような金属粉末の不純物検出方
法を提供しようとするものである。
［課題を解決するための手段］
本発明は、上記課題を解決するために、金属粉末を、ふ
るいにより粒径が２０μｍ以上のものと２０μｍ以下の
ものとに分離し、次に、上記粒径が２０μ■以上の金属
粉末を重液を用いて分離し、該重液による分離によって
浮遊した浮遊物を不純物として取り出して検出すること
を特徴とする金属粉末の不純物検出方法とする。
るいにより粒径が２０μｍ以上のものと２０μｍ以下の
ものとに分離し、次に、上記粒径が２０μ■以上の金属
粉末を重液を用いて分離し、該重液による分離によって
浮遊した浮遊物を不純物として取り出して検出すること
を特徴とする金属粉末の不純物検出方法とする。
１作 用］
セラミックス等の不純物は金属粉末に比して比重が軽い
ので、ふるいにより分離しておいた粒径が２０μｍ以上
の金属粉末を重液により分離させると、比重差により金
属粉末は沈澱するが不純物は浮遊状態となる。したがっ
て、粒径が２０μｍ程度までの不純物の検出が可能とな
る。
ので、ふるいにより分離しておいた粒径が２０μｍ以上
の金属粉末を重液により分離させると、比重差により金
属粉末は沈澱するが不純物は浮遊状態となる。したがっ
て、粒径が２０μｍ程度までの不純物の検出が可能とな
る。
［実 施 例］
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
図は本発明の方法を実施するだめのプロセスフローを示
すもので、金属粉末の試料をふるいで粒径別に分離し、
２０μ■以上で比較的粒径の小さいものを重液に入れて
遠心分離し、浮遊物をン濾過して取り出して検査するこ
とにより粒径が２０μｍ程度の不純物を検出することが
できるようにしたものである。
すもので、金属粉末の試料をふるいで粒径別に分離し、
２０μ■以上で比較的粒径の小さいものを重液に入れて
遠心分離し、浮遊物をン濾過して取り出して検査するこ
とにより粒径が２０μｍ程度の不純物を検出することが
できるようにしたものである。
詳述すると、重液中での固体の沈降速度は、密度差によ
り粒径に大きく依存するため、先ず、金属粉末の試料を
ふるいによる分離工程１で分離して粒径サイズをＡ、
Ｂ、 Ｃ，Ｄ、 Ｅの５つの群に分け、各群で粒径を一
応揃えるようにする。ここでは、試料の粒径が、Ａ群で
は１０５μ■を超えるもの、８群では１０５μｍ以下６
３μｍを超えるもの、０群では６３８ｍ以下３７μｍを
超えるもの、Ｄ群では３７μｍ以下２０μｍを超えるも
の、Ｅ群を２０μｍ以下としである。上記ふるいによる
分離工程１で分離された試料のうち、Ａ群と８群の試料
は不純物のみであり、これは金属製品の疲労破壊の起点
となることは明らかであるため、そのまま検査工程２に
送り、ＳＥＮ 、 ＥＤＸ等を用いて大きざ、形状、組
成などを検査する。又、Ｅ群の試料中の不純物は金属製
品の疲労破壊の起点とはならないので、除外する。一方
、０群とＤ群の試料は不純物と金属粉末の混合物であり
この不純物は金属製品の破壊の起点となり得るので、上
記検査工程２へ送るが、この際、Ｃ，Ｄ群の試料中から
不純物のみを分離する必要があるので、重液による分離
工程３へ送るようにする。
り粒径に大きく依存するため、先ず、金属粉末の試料を
ふるいによる分離工程１で分離して粒径サイズをＡ、
Ｂ、 Ｃ，Ｄ、 Ｅの５つの群に分け、各群で粒径を一
応揃えるようにする。ここでは、試料の粒径が、Ａ群で
は１０５μ■を超えるもの、８群では１０５μｍ以下６
３μｍを超えるもの、０群では６３８ｍ以下３７μｍを
超えるもの、Ｄ群では３７μｍ以下２０μｍを超えるも
の、Ｅ群を２０μｍ以下としである。上記ふるいによる
分離工程１で分離された試料のうち、Ａ群と８群の試料
は不純物のみであり、これは金属製品の疲労破壊の起点
となることは明らかであるため、そのまま検査工程２に
送り、ＳＥＮ 、 ＥＤＸ等を用いて大きざ、形状、組
成などを検査する。又、Ｅ群の試料中の不純物は金属製
品の疲労破壊の起点とはならないので、除外する。一方
、０群とＤ群の試料は不純物と金属粉末の混合物であり
この不純物は金属製品の破壊の起点となり得るので、上
記検査工程２へ送るが、この際、Ｃ，Ｄ群の試料中から
不純物のみを分離する必要があるので、重液による分離
工程３へ送るようにする。
重液による分離工程３では、重液として用意した比重３
．３のヨウ化メチレン（ＣＨ２■２ ）の液中に試料を
入れ、たとえば、１５０００Ｇ （Ｇ ：重力加速度）
で２０分間遠心分離を行う。セラミックス等の不純物は
純粋の金属粉末に比して比重が軽いので、上述した如く
重液中で遠心分離させると、その比重差（密度差）で金
属粉末は沈澱し、不純物は浮遊する。したがって、上記
浮遊物を、粒径が２０μｍ以上の不純物として検出する
ことができる。更に、検出した浮遊物は濾過した後、上
記検査工程２へ送って検査し、沈澱物は検査から除外す
る。
．３のヨウ化メチレン（ＣＨ２■２ ）の液中に試料を
入れ、たとえば、１５０００Ｇ （Ｇ ：重力加速度）
で２０分間遠心分離を行う。セラミックス等の不純物は
純粋の金属粉末に比して比重が軽いので、上述した如く
重液中で遠心分離させると、その比重差（密度差）で金
属粉末は沈澱し、不純物は浮遊する。したがって、上記
浮遊物を、粒径が２０μｍ以上の不純物として検出する
ことができる。更に、検出した浮遊物は濾過した後、上
記検査工程２へ送って検査し、沈澱物は検査から除外す
る。
このように、本発明においては、ふるいによる分離工程
１により分離させたＣ、Ｄ群の試料、すなわら、粒径が
２０μＩＩ＋以上で２０μｍ近辺の試料を、重液を用い
て遠心分離するので、粒径が２０μｍ程度のものまで不
純物を検出することができる。
１により分離させたＣ、Ｄ群の試料、すなわら、粒径が
２０μＩＩ＋以上で２０μｍ近辺の試料を、重液を用い
て遠心分離するので、粒径が２０μｍ程度のものまで不
純物を検出することができる。
したがって、かかる方法で選定した、粒径が２０μｍ程
度以上の不純物を含まない清浄度の高い金属粉末を使用
して金属製品を製作することにより、疲労破壊の起りに
くい高品質量の金属製品を得ることができる。
度以上の不純物を含まない清浄度の高い金属粉末を使用
して金属製品を製作することにより、疲労破壊の起りに
くい高品質量の金属製品を得ることができる。
なお、本発明は上記実施例にのみ限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更
を加え・得ることは勿論である。
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更
を加え・得ることは勿論である。
［発明の効果］
以上述べた如く、本発明の金属粉末の不純物検出方法に
よれば、予めふるいにより分離しておいた粒径が２０μ
ｍを超える金属粉末を、重液により比重差を利用して分
離させるようにし、重液による分離により浮遊した浮遊
物を不純物とするようにしたので、金属粉末中に含まれ
る不純物を、粒径が２０１１１１Ｉ程度のものまで検出
することができ、これにより金属粉末の清浄度を評価す
ることができて、この評価された金属粉末を用いて製品
を製作することにより金属製品の高品質化に寄与し得る
、という優れた効果を発揮する。
よれば、予めふるいにより分離しておいた粒径が２０μ
ｍを超える金属粉末を、重液により比重差を利用して分
離させるようにし、重液による分離により浮遊した浮遊
物を不純物とするようにしたので、金属粉末中に含まれ
る不純物を、粒径が２０１１１１Ｉ程度のものまで検出
することができ、これにより金属粉末の清浄度を評価す
ることができて、この評価された金属粉末を用いて製品
を製作することにより金属製品の高品質化に寄与し得る
、という優れた効果を発揮する。
図は本発明の金属粉末の検出方法の一実施例を示すプロ
セスフローである。 １・・・ふるいによる分離工程、３・・・重液による分
離工程。
セスフローである。 １・・・ふるいによる分離工程、３・・・重液による分
離工程。
Claims (1)
- （１）金属粉末を、ふるいにより粒径が２０μｍ以上の
ものと２０μｍ以下のものとに分離し、次に、上記粒径
が２０μｍ以上の金属粉末を重液を用いて分離し、該重
液による分離によって浮遊した浮遊物を不純物として取
り出して検出することを特徴とする金属粉末の不純物検
出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11561390A JPH0412246A (ja) | 1990-05-01 | 1990-05-01 | 金属粉末の不純物検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11561390A JPH0412246A (ja) | 1990-05-01 | 1990-05-01 | 金属粉末の不純物検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0412246A true JPH0412246A (ja) | 1992-01-16 |
Family
ID=14666986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11561390A Pending JPH0412246A (ja) | 1990-05-01 | 1990-05-01 | 金属粉末の不純物検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0412246A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8030082B2 (en) * | 2006-01-13 | 2011-10-04 | Honeywell International Inc. | Liquid-particle analysis of metal materials |
-
1990
- 1990-05-01 JP JP11561390A patent/JPH0412246A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8030082B2 (en) * | 2006-01-13 | 2011-10-04 | Honeywell International Inc. | Liquid-particle analysis of metal materials |
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