JPH04102238A - Semiconductor laser control circuit - Google Patents

Semiconductor laser control circuit

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JPH04102238A
JPH04102238A JP2219797A JP21979790A JPH04102238A JP H04102238 A JPH04102238 A JP H04102238A JP 2219797 A JP2219797 A JP 2219797A JP 21979790 A JP21979790 A JP 21979790A JP H04102238 A JPH04102238 A JP H04102238A
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JP
Japan
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power
semiconductor laser
erasing
light emitting
control circuit
Prior art date
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JP2219797A
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Japanese (ja)
Inventor
Tatsuaki Sakurai
桜井 樹明
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To reduce the fluctuation of a light emitting power due to self-heating by detecting the light emitting power in erasure, and controlling the light emitting power by correcting a current value for the acquisition of a reproducing power from an error with an erasing power. CONSTITUTION:Such control is performed that not only the erasing power in the erasure but the reprducing power after completing the erasure can be kept at appropriate values by detecting the error with the erasing power and correcting a first current driving circuit 4 to control the emitted light quantity of a semiconductor laser 1 at the reproducing power. To perform them above control, the output of an I-V converter 3 is compared with a reference voltage Vref equivalent to the erasing power by a comparator 12 in an erasure operation, and out-out in accordance with the error is obtained. The output of the comparator 12 is held with a peak holding circuit 13, and the current value of the first current driving circuit 4 is corrected. Also, the light emitting power is always kept at the reproducing power by a reproducing power control circuit 11.

Description

【発明の詳細な説明】 上の この発明は、光デイスク装置や光カード装置等における
光源の制御回路に係り、特に、半導体レーザの自己発熱
による発光パワーの変動を減少させることによって、光
デイスク装置等の動作の信頼性を高めた半導体レーザ制
御回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The above invention relates to a control circuit for a light source in an optical disk device, an optical card device, etc., and in particular, the present invention relates to a control circuit for a light source in an optical disk device, an optical card device, etc. This invention relates to a semiconductor laser control circuit with improved operational reliability.

丈来夏技権 光デイスク装置においては、記録時や再生時、あるいは
消去時に、光源である半導体レーザの電流を所定値に制
御する必要があり、従来から半導体レーザの発光パワー
の制御方法が、種々提案されている。
In optical disk devices, it is necessary to control the current of the semiconductor laser, which is the light source, to a predetermined value during recording, playback, or erasing. Various proposals have been made.

例えば、光デイスク装置における記録あるいは消去のた
めの従来の半導体レーザ制御方法として、記録あるいは
消去を行う直前に、半導体レーザを発光させ、このとき
に流した電流値と、発光パワーとから半導体レーザの微
分効率を求め、所要の記録あるいは消去パワーを出力す
る方法が知られている。
For example, in a conventional semiconductor laser control method for recording or erasing in an optical disk device, just before recording or erasing, the semiconductor laser is made to emit light, and the current value and emitted light power that flowed at this time are determined. A method is known in which the differential efficiency is determined and the required recording or erasing power is output.

ところが、半導体レーザは、温度によってI −L特性
(電流−光特性)が著しく変化する。
However, the I-L characteristics (current-light characteristics) of semiconductor lasers change significantly depending on temperature.

そのため、半導体レーザを使用する機器においては、温
度に対しても半導体レーザの発光パワーを正確に制御す
る必要がある。
Therefore, in devices that use semiconductor lasers, it is necessary to accurately control the emission power of the semiconductor laser also with respect to temperature.

例えば、光ディスクの各トラックの一部に、レーザ°コ
ントロールエリアを設け、この領域において、半導体レ
ーザの記録時あるいは消去時のパワーを制御している。
For example, a laser control area is provided in a part of each track of an optical disc, and in this area, the power of the semiconductor laser during recording or erasing is controlled.

第3図は、光ディスクの各トラックのセクタフォーマッ
トの一例を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the sector format of each track of an optical disc.

レーザ・コントロールエリアは、この第3図に示すよう
に、中央に位置するアドレスフィールドの一部に設けら
れており、テスト的に半導体レーザを発光させるために
、ブランクにされている。
As shown in FIG. 3, the laser control area is provided in a part of the address field located in the center, and is left blank in order to cause the semiconductor laser to emit light on a test basis.

この従来の発光パワーの制御方法では、第3図のレーザ
・コントロールエリアを使用して、それまで半導体レー
ザの発光のために流していた電流値に、所定の電流を重
畳させ、発光パワーの増加分から微分効率を算出する。
In this conventional method of controlling light emitting power, the laser control area shown in Figure 3 is used to superimpose a predetermined current on the current value that was previously flowing for the semiconductor laser to emit light, thereby increasing the light emitting power. Calculate the differential efficiency from .

そして、算出された微分効率から、目的とする発光パワ
ーになるまでの電流値を求め、所望の発光出力が得られ
るように制御している。
Then, from the calculated differential efficiency, the current value until the target light emission power is obtained is determined, and control is performed so that the desired light emission output is obtained.

ところが、この制御方法では、記録あるいは消去前に、
I−L特性(電流−光特性)を測定する必要があり、例
えば消去時において、半導体レーザを高出力で連続的に
発光させると、I−L特性が変動する。
However, with this control method, before recording or erasing,
It is necessary to measure the I-L characteristic (current-light characteristic). For example, when a semiconductor laser is caused to emit light continuously at high output during erasing, the I-L characteristic changes.

その結果、発光パワーも変動してしまい、光デイスク装
置等の信頼性が低下する。という問題がある。
As a result, the light emission power also fluctuates, reducing the reliability of the optical disk device and the like. There is a problem.

また、再生時と消去時とでは、その最適電流値が異なる
ので、消去時においては、再生パワーを得るための電流
IRに対して、さらに、所定電流IEを加えることによ
って、消去パワーを得る制御方法も従来から知られてい
る。
In addition, since the optimum current value is different during reproduction and erasing, during erasing, control is performed to obtain erasing power by adding a predetermined current IE to current IR for obtaining reproduction power. Methods are also conventionally known.

この制御方法でも、温度変化に対しては特に考慮されて
いないので、同様に1発光パワーが変動し、光デイスク
装置等の信頼性が低下する、という不都合があった。
Even in this control method, since no particular consideration is given to temperature changes, there is a problem in that the single light emission power similarly fluctuates and the reliability of the optical disk device etc. decreases.

が  しようとする この発明では、従来の半導体レーザ制御回路における不
都合、特に、消去時においては、再生パワーを得るため
の電流1.に対して、さらに、所定電流■Eを加えるこ
とによって、消去パワーを得る制御方法の不都合を解決
し、温度変化に対しても発光パワーの変動を減少させる
ことによって、光ディスクの信頼性を向上させた半導体
レーザ制御回路を提供することを目的とする。
However, this invention aims to overcome the disadvantages of conventional semiconductor laser control circuits, especially when erasing, the current 1. In addition, by adding a predetermined current ■E, the inconveniences of the control method for obtaining erasing power are solved, and the reliability of the optical disk is improved by reducing fluctuations in the light emitting power even with temperature changes. The purpose of the present invention is to provide a semiconductor laser control circuit with improved performance.

課題を解決するための手 この発明では、 半導体レーザからのビームを対物レンズにより情報記録
媒体上に集光して情報の記録・再生あるいは消去を行う
装置における半導体レーザの発光パワー制御回路であり
、 かつ、消去時においては、前記半導体レーザに。
Means for Solving the Problems This invention provides a light emitting power control circuit for a semiconductor laser in a device that records, reproduces, or erases information by condensing a beam from a semiconductor laser onto an information recording medium using an objective lens. And at the time of erasing, the semiconductor laser.

再生パワーを得るための電流値工Rに、所定電流値工E
を加えて流すことにより、消去パワーを得る発光パワー
制御回路において、 消去時の発光パワーを検出し、消去パワーとの誤差から
上記再生パワーを得るための電流値工、を補正すること
により、発光パワーを制御するようにしている。
A predetermined current value E is added to the current value R for obtaining reproduction power.
The light emitting power control circuit obtains the erasing power by adding and flowing the light emitting power.The light emitting power control circuit detects the light emitting power at the time of erasing, and corrects the current value for obtaining the above playback power from the error with the erasing power. I try to control the power.

スー1−釘 次に、この発明の半導体レーザ制御回路について、図面
を参照しながら、その実施例を詳細に説明する。
Next, embodiments of the semiconductor laser control circuit of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は、この発明の半導体レーザ制御回路について、
その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図である1
図面において、1は半導体レーザ、2は受光素子、3は
I−V(電流−電圧)変換器、4は第1の電流駆動回路
、5はスイッチ素子、6は第2の電流駆動回路、7はD
/A変換器、8はCPU、9はA/D変換器、10はサ
ンプルホールド回路、11は再生パワー制御回路、12
は比較器、13はピークホールド回路、14は加算回路
を示し、また、■、、lは基準電圧を示す。
FIG. 1 shows the semiconductor laser control circuit of the present invention.
1 is a functional block diagram showing an example of the configuration of its main parts;
In the drawing, 1 is a semiconductor laser, 2 is a light receiving element, 3 is an IV (current-voltage) converter, 4 is a first current drive circuit, 5 is a switch element, 6 is a second current drive circuit, 7 is D
/A converter, 8 is a CPU, 9 is an A/D converter, 10 is a sample hold circuit, 11 is a reproduction power control circuit, 12
is a comparator, 13 is a peak hold circuit, 14 is an adder circuit, and ■, , l are reference voltages.

この発明の半導体レーザ制御回路でも、レーザ・コント
ロールエリアを使用する。
The semiconductor laser control circuit of the present invention also uses a laser control area.

まず、通常の再生時においては、半導体レーザ1から出
射された光の一部を、受光素子2で受光して光電変換し
、次段のI−V変換器3を通して、半導体レーザ1の発
光量に対応した電圧を発生させる。
First, during normal reproduction, a part of the light emitted from the semiconductor laser 1 is received by the light receiving element 2, photoelectrically converted, and then passed through the next stage IV converter 3. Generates a voltage corresponding to

また、サンプルホールド回路10をサンプルモードにし
て、この発光量に対応した電圧をサンプルホールド回路
10へ与え、再生パワー制御回路11を介して加算回路
14の一方へ入力する。
Further, the sample-and-hold circuit 10 is set to sample mode, and a voltage corresponding to this amount of light emission is applied to the sample-and-hold circuit 10, and is inputted to one side of the adder circuit 14 via the reproduction power control circuit 11.

この加算回路14の他方の人力には、初期値としてOV
を与えておく。
The other manual input of this adder circuit 14 has OV as an initial value.
I will give you.

そして、加算回路14の出力によって、第1の電流駆動
回路4をコントロールし、その出力によって、半導体レ
ーザ1の電流量を制御することにより、半導体レーザ1
の発光量を再生パワーに制御する。
Then, the first current drive circuit 4 is controlled by the output of the adder circuit 14, and the amount of current of the semiconductor laser 1 is controlled by the output thereof.
Controls the amount of light emitted by the reproducing power.

次に、レーザ・コントロールエリアにおいては、予めC
PU8によってD/A変換器7に所定の値を設定して、
第2の電流駆動回路6へ信号を与えておき、サンプルホ
ールド回路10をサンプルモードにして、スイッチ素子
5をオン状態にすることにより、半導体レーザ1を再生
時よりも強く発光させる。
Next, in the laser control area, C
A predetermined value is set in the D/A converter 7 by the PU 8,
A signal is applied to the second current drive circuit 6, the sample and hold circuit 10 is set to the sample mode, and the switch element 5 is turned on, thereby causing the semiconductor laser 1 to emit light more strongly than during reproduction.

このときの発光量に応じた電圧を、A/D変換器9でア
ナログ−デジタル変換して、CPUa内にそのデータを
与える。
The voltage corresponding to the amount of light emitted at this time is converted from analog to digital by the A/D converter 9, and the data is provided to the CPUa.

ここで、D/A変換器7を介して与えた電流値を11 
とし、再生パワーをP。、レーザ・コントロールエリア
で発生したパワーをPl とすると、このときの微分効
率ηは、 η=(PニーP、)/I□  ・・・・・・(1)で与
えられる。
Here, the current value given via the D/A converter 7 is 11
and the playback power is P. , the power generated in the laser control area is Pl, then the differential efficiency η is given by η=(P knee P,)/I□ (1).

次に、実際に消去する場合には、その消去パワーをPE
とすれば、このときD/A変換器7を介して与えた電流
IEは、 1E=     ・ (PE   P−)η ・・・・・・(2) によって求めることができる。
Next, when actually erasing, change the erasing power to PE.
Then, the current IE applied via the D/A converter 7 at this time can be found as follows: 1E=.(PEP−)η (2).

すなわち、上記の式(2)の電流IEを、第2の電流駆
動回路6に設定することによって、消去が可能となる。
That is, by setting the current IE of the above equation (2) in the second current drive circuit 6, erasing becomes possible.

ところが、先に述べたように、消去動作をある程度連続
(サンプル・サーボ方式の場合には、継続的となる)的
に行うと、半導体レーザ1の自己発熱によって発光パワ
ーが低下してしまう。
However, as described above, when the erasing operation is performed to some extent continuously (continuously in the case of the sample servo method), the emission power decreases due to self-heating of the semiconductor laser 1.

その原因は、半導体レーザ1のI−L特性が、この第2
図に示すように変化するためである。
The reason for this is that the IL characteristics of the semiconductor laser 1 cause this second
This is because it changes as shown in the figure.

第2図は、半導体レーザ制御回路における電流−発光量
の関係の一例を示す特性図である。図面において、横軸
は電流(I)、縦軸は発光量(L)を示し、また、■は
通常時、■は自己発熱発生時、ITHはしきい値電流を
示す。
FIG. 2 is a characteristic diagram showing an example of the relationship between current and light emission amount in a semiconductor laser control circuit. In the drawings, the horizontal axis shows the current (I), the vertical axis shows the amount of light emitted (L), and ■ indicates the normal state, ■ indicates the time when self-heating occurs, and ITH indicates the threshold current.

この第2図に示すように、半導体レーザのI−L特性は
、電流がしきい(閾)値を超えると急激に変化する。
As shown in FIG. 2, the IL characteristics of the semiconductor laser change rapidly when the current exceeds a threshold value.

しかも、半導体レーザの自己発熱の発生によって、しき
い値が変化する。
Furthermore, the threshold value changes due to the occurrence of self-heating of the semiconductor laser.

このように、半導体レーザのI−L特性では、先の式(
2)で求めた微分効率よりも、しきい値電流(IT)I
)の変化による影響の方が支配的である。
In this way, the I-L characteristic of a semiconductor laser is expressed by the above equation (
From the differential efficiency obtained in 2), the threshold current (IT) I
) is more dominant.

したがって、微分効率によって電流を制御するだけでは
、消去パワーや、消去終了後の再生パワーを適正値に保
つことはできない。
Therefore, it is not possible to maintain the erasing power or the reproduction power after erasing at an appropriate value simply by controlling the current using differential efficiency.

この発明では、半導体レーザのI −L特性におけるこ
のような特性に着目し、消去パワーとの誤差を検出し、
第1の電流駆動回路4を補正することによって、消去時
の消去パワーは勿論、消去終了後の再生パワーも適正値
に保つことができるように制御している。
In this invention, we focus on such characteristics in the I-L characteristics of a semiconductor laser, detect the error with the erasing power,
By correcting the first current drive circuit 4, not only the erase power during erasing but also the reproduction power after erasing is controlled so as to be maintained at an appropriate value.

そのために、消去動作中においては、I−V変換器3の
出力を、比較器12によって消去パワーに相当する基準
電圧v1と比較し、誤差に応じた出力を得る。
Therefore, during the erase operation, the output of the IV converter 3 is compared with a reference voltage v1 corresponding to the erase power by the comparator 12, and an output corresponding to the error is obtained.

この比較器12の出力をピークホールド回路13で保持
して、第1の電流駆動回路4の電流値を補正する。
The output of the comparator 12 is held in a peak hold circuit 13 to correct the current value of the first current drive circuit 4.

また、消去動作の終了後は、比較器12の出方をオフに
し、ピークホールド回路13のホールド時間を所定値に
定めて、徐々にピークホールド回路13の出力をOVに
する。
After the erase operation is completed, the output of the comparator 12 is turned off, the hold time of the peak hold circuit 13 is set to a predetermined value, and the output of the peak hold circuit 13 is gradually brought to OV.

なお、この場合に、発光パワーは、再生パワー制御回路
11によって、常に再生パワーに保たれる。
In this case, the light emission power is always maintained at the reproduction power by the reproduction power control circuit 11.

このような制御によって、半導体レーザ1は、消去時に
自己発熱によって生じる発光パワーの変動を抑制するこ
とが可能になる。
Such control makes it possible for the semiconductor laser 1 to suppress fluctuations in light emission power caused by self-heating during erasing.

災班夏匁末 この発明の半導体レーザ制御回路によれば、消去時に半
導体レーザに流す電流値は、再生パワーを出力するため
の電流値IRに、消去パワーとなるための電流IEを加
えた値による即動方式であり、しかも、消去時のパワー
変動から再生パワーを出力するための電流値IRを補正
している。
According to the semiconductor laser control circuit of the present invention, the current value flowing through the semiconductor laser during erasing is the sum of the current value IR for outputting reproduction power and the current IE for producing erasing power. Moreover, the current value IR for outputting reproduction power is corrected based on power fluctuations during erasing.

したがって、消去パワーは勿論のこと、消去動作後の再
生パワーの変動も抑制され、光デイスク装置等の動作の
信頼性が著しく高められる、という優れた効果が奏せら
れる。
Therefore, fluctuations in not only the erasing power but also the reproduction power after the erasing operation are suppressed, and the reliability of the operation of the optical disk device and the like is significantly improved, which is an excellent effect.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明の半導体レーザ制御回路について、
その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図、 第2図は、半導体レーザ制御回路における電流−発光量
の関係の一例を示す特性図、 第3図は、光ディスクの各トラックのセクタフォーマッ
トの一例を示す図。 図面において、1は半導体レーザ、2は受光素子、3は
I−V(電流−電圧)変換器、4は第1の電流駆動回路
、5はスイッチ素子、6は第2の電流駆動回路、7はD
/A変換器、8はCPU、9はA/D変換器、10はサ
ンプルホールド回路、11は再生パワー制御回路、12
は比較器、13はピークホールド回路、14は加算回路
FIG. 1 shows the semiconductor laser control circuit of the present invention.
FIG. 2 is a characteristic diagram showing an example of the relationship between the current and the amount of light emitted in the semiconductor laser control circuit. FIG. 3 is a diagram showing the sector format of each track of the optical disc. A diagram showing an example. In the drawing, 1 is a semiconductor laser, 2 is a light receiving element, 3 is an IV (current-voltage) converter, 4 is a first current drive circuit, 5 is a switch element, 6 is a second current drive circuit, 7 is D
/A converter, 8 is a CPU, 9 is an A/D converter, 10 is a sample hold circuit, 11 is a reproduction power control circuit, 12
is a comparator, 13 is a peak hold circuit, and 14 is an adder circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 半導体レーザからのビームを対物レンズにより情報記録
媒体上に集光して情報の記録・再生あるいは消去を行う
装置における半導体レーザの発光パワー制御回路であり
、 かつ、消去時においては、前記半導体レーザに、再生パ
ワーを得るための電流値I_Rに、所定電流値I_Eを
加えて流すことにより、消去パワーを得る発光パワー制
御回路において、 消去時の発光パワーを検出し、消去パワーとの誤差から
上記再生パワーを得るための電流値I_Rを補正するこ
とにより、発光パワーを制御することを特徴とする半導
体レーザ制御回路。
[Claims] A semiconductor laser light emitting power control circuit in a device that records, reproduces, or erases information by condensing a beam from a semiconductor laser onto an information recording medium using an objective lens, and at the time of erasing. is a light emitting power control circuit that obtains erasing power by adding a predetermined current value I_E to a current value I_R for obtaining reproduction power to flow through the semiconductor laser, detects the light emitting power at the time of erasing, and determines the erasing power. A semiconductor laser control circuit, characterized in that the emission power is controlled by correcting the current value I_R for obtaining the reproduction power from the error between the two.
JP2219797A 1990-08-20 1990-08-20 Semiconductor laser control circuit Pending JPH04102238A (en)

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