JPH0399376A - Device for inspecting picture quality - Google Patents

Device for inspecting picture quality

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JPH0399376A
JPH0399376A JP1237647A JP23764789A JPH0399376A JP H0399376 A JPH0399376 A JP H0399376A JP 1237647 A JP1237647 A JP 1237647A JP 23764789 A JP23764789 A JP 23764789A JP H0399376 A JPH0399376 A JP H0399376A
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test pattern
image data
display screen
display device
camera
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Hiroshi Ikeda
池田 比呂志
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Fujitsu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To improve the quality of a display screen by allowing a tested device to output a test pattern, discriminating the 1st and 2nd images photographed by a camera and detecting the positional shift and inclination on the display screen of the tested display device. CONSTITUTION:Plural positions of respective sides are scanned at equal pitches based upon the center lines F1, F2 of a frame memory 5B and the coordinates Xi, Yi to be changed from '0' to '1' of the digital signal of the 1st image data stored in the memory 5B are detected to find out positional coordinates. Then a lighting 8 is turned off by the control of a controller 3A, a test pattern P is outputted on a display screen 1A and the 2nd image data D2 obtained by photographing the test pattern P by a camera 2 is inputted. A straight line the best fitted to the detected coordinates Xii, Yii is calculated by least square and the 2nd ID data D12 is formed to find out the inclinations phi3, phi4 of respec tive sides.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 被試験用表示装置をカメラによって撮影し、撮影した画
像データによって該被試験用表示装置に於ける画質のチ
ェックを行う画質検査装置に関し、撮影した画像データ
を識別することで良否の判定を行うことで試験の信鯨性
の向上および試験工数の削減を図ることを目的とし、 第1の画像データにより枠の識別を行った第1の識別デ
ータと第2の画像データによりテストパターンの識別を
行った第2の識別データとを作成する識別データ作成部
と、該第1の識別データを基準に該第2の識別データを
比較し、該被試験用表示装置に於ける表示画面の位置ず
れおよび傾きを算出するよう制御し、良否の判定を行う
CPUと、該良否の判定により信号を出力するインタフ
ェース部とによって画像処理装置を形成するように構成
する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] An image quality inspection device that photographs a display device under test with a camera and checks the image quality of the display device under test using the photographed image data. The purpose of this is to improve reliability of testing and reduce testing man-hours by determining pass/fail through identification. an identification data creation unit that creates second identification data in which the test pattern is identified using the image data of the test pattern, and compares the second identification data with the first identification data as a reference; An image processing device is configured to be formed by a CPU that controls the calculation of the positional deviation and tilt of a display screen in the device and makes a quality determination, and an interface unit that outputs a signal based on the quality determination.

〔産業上の利用分野] 本発明は被試験用表示装置をカメラによって撮影し、撮
影した画像データによって該被試験用表示装置に於ける
画質のチェックを行う画質検査装置に関する。
[Industrial Application Field] The present invention relates to an image quality inspection device that photographs a display device under test using a camera and checks the image quality of the display device under test using the photographed image data.

近年、情報化の発展に伴い、コンピュータの普及は目覚
ましく、一般の家庭内に於いてもパソコンなどが備えら
れるようになり、これらのパソコンなどに用いられる陰
極線管デイスプレィ(CRT)。
In recent years, with the development of information technology, the spread of computers has been remarkable, and even ordinary homes are now equipped with personal computers, and cathode ray tube displays (CRTs) are used in these personal computers.

液晶デイスプレィ(LCD) 、プラズマデイスプレィ
(PDP)等による表示装置の生産量が拡大される傾向
にある。
The production volume of display devices such as liquid crystal displays (LCDs) and plasma displays (PDPs) is increasing.

また、これらの表示装置を製造するメーカでは、その製
造工程に於いて、完成されたそれぞれの表示装置の画質
を検査する試験が行われている。
Additionally, manufacturers of these display devices conduct tests to inspect the image quality of each completed display device during the manufacturing process.

したがって、このような画質を検査する試験は、生産量
が拡大されることで膨大な試験工数を要することになる
ため、試験の合理化が図られることが望まれている。
Therefore, since the test for inspecting image quality will require a huge number of man-hours as the production volume increases, it is desired that the test be streamlined.

(従来の技術〕 従来は第8図の従来の説明図に示すように行われていた
。第8図の(a)は斜視図、 (b1)は表示画面の正
面図、 (b2)はテストパターンの検出説明図である
(Prior art) Conventionally, this has been carried out as shown in the conventional explanatory diagram in Fig. 8. In Fig. 8, (a) is a perspective view, (b1) is a front view of the display screen, and (b2) is a test FIG. 3 is an explanatory diagram of pattern detection.

第8図の(a)に示すように、試験すべき被試験用表示
装置1を台板11に積載し、駆動されるコンベア10に
よって移送され、所定個所に位置させることで、被試験
用表示装置1の表示画面1Aに例えば、(b1)に示す
十字のテストパターンPAを出力させ、テストパターン
PAを矢印への方向から目視によってチェックを行う。
As shown in FIG. 8(a), the display device under test 1 to be tested is loaded on the base plate 11, transported by the driven conveyor 10, and positioned at a predetermined location. For example, a cross-shaped test pattern PA shown in (b1) is output on the display screen 1A of the device 1, and the test pattern PA is visually checked from the direction of the arrow.

この場合、十字のテストパターンPAは枠4の内側に形
成された表示画面1Aに於ける点線で示す最大表示エリ
ヤIB内に形成さる。
In this case, the cross-shaped test pattern PA is formed within the maximum display area IB shown by the dotted line on the display screen 1A formed inside the frame 4.

そこで、(b2)に示すように、被試験用表示装置1に
内設されているシャーシ(図示されていない)などによ
る基準水平レベルを基準位置BとしてテストパターンP
Aの水平度または垂直度によって良否の判定が行われて
いた。
Therefore, as shown in (b2), the test pattern P is set with the reference horizontal level provided by the chassis (not shown) installed inside the display device under test 1 as the reference position B.
Passage or failure was determined based on the horizontality or verticality of A.

通常、このような良否の判定はテストパターンPAの所
定の長さ!(約225 mob)に於ける水平方向の左
右の高さ旧とH2とを基準位置Bから測定し、その差が
3mmを越えた時、または、傾きθ、が約0.8°を越
えた時は、不良と判定が行われていた。
Normally, such a pass/fail judgment is made based on the predetermined length of the test pattern PA! (approximately 225 mobs), measure the left and right heights in the horizontal direction and H2 from the reference position B, and when the difference exceeds 3 mm, or the inclination θ exceeds approximately 0.8°. At the time, it was determined to be defective.

したがって、テストパターンPAの水平度または垂直度
を目視によってチェックし、所定の許容値以下であれば
、良品とし、許容値をオーバした場合は不良品とするこ
とで判別が行われていた。
Therefore, the horizontality or verticality of the test pattern PA is visually checked, and if it is below a predetermined tolerance value, it is determined to be a good product, and if it exceeds the tolerance value, it is determined to be a defective product.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、このような目視によってチェックすることでは
、目の疲労により検査規格が変動し、実際の傾きθを正
確に測定することは困難であり、更に、チェックする検
査要員によって判定に差が生じることになる。
However, when checking by visual inspection, the inspection standards fluctuate due to eye fatigue, making it difficult to accurately measure the actual slope θ, and furthermore, judgments may vary depending on the inspection personnel performing the check. become.

また、このような検査スピードには限界があるため、膨
大な工数を要し、多(の検査要員が必要となる。
Furthermore, since there is a limit to the speed of such an inspection, it requires a huge amount of man-hours and a large number of inspection personnel.

したがって、品質にバラツキが生じ、かつ、多くの検査
要員が必要となる問題を有していた。
Therefore, there were problems in that the quality varied and a large number of inspection personnel were required.

そこで、本発明では、撮影した画像データを識別するこ
とで良否の判定を行うことで試験の信顛性の向上および
試験工数の削減を図ることを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to improve test reliability and reduce test man-hours by determining pass/fail by identifying photographed image data.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図は本発明の原理説明図である。 FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention.

第1図に示すように、第1の画像データD1により枠4
の識別を行った第1の識別データD11 と第2の画像
データD2によりテストパターンPの識別を行った第2
の識別データ012とを作成する識別データ作成部5と
、該第1の識別データD11を基準に該第2の識別デー
タ012を比較し、該被試験用表示装置1に於ける表示
画面1Aの位置ずれσおよび傾きΦを算出するよう制御
し、良否の判定を行うCPU6と、該良否の判定により
信号Sを出力するインタフェース部7とによって画像処
理装置3を形成するように構成する。
As shown in FIG. 1, the frame 4 is
The test pattern P is identified using the first identification data D11 that identifies the test pattern P and the second image data D2 that identifies the test pattern P.
The identification data creation unit 5 creates the identification data 012 of The image processing device 3 is configured to include a CPU 6 that controls the calculation of the positional deviation σ and the inclination Φ and makes a quality determination, and an interface unit 7 that outputs a signal S based on the quality determination.

〔作用〕[Effect]

即ち、テストパターンPが表示された被試験用表示装置
1の枠4を撮影した第1の画像データD1によって枠4
を識別した第1の識別データD11 とテストパターン
Pを撮影した第2の画像データD2によってテストパタ
ーンPを識別した第2の識別データ012とを識別デー
タ作成部5により作成し、第1の識別データD11を基
準に第2の識別データ012を比較し、被試験用表示装
置1に於ける表示画面1Aの位置ずれσおよび傾きΦを
CPUの制御により算出し、良否の判定を行い、その良
否の判定がインタフェース部7からの出力信号Sによっ
て通知されるようにしたものである。
That is, the frame 4 is created using the first image data D1 obtained by photographing the frame 4 of the display device under test 1 on which the test pattern P is displayed.
The identification data creation unit 5 creates first identification data D11 that identifies the test pattern P and second identification data 012 that identifies the test pattern P based on the second image data D2 obtained by photographing the test pattern P. The second identification data 012 is compared with the data D11 as a reference, the positional deviation σ and the slope Φ of the display screen 1A in the display device under test 1 are calculated under the control of the CPU, and the quality is determined. The determination is notified by the output signal S from the interface section 7.

したがって、従来の目視によるチェックに比較して正確
な判定が行え、しかも、チェック作業は人手を要するこ
とな(行えるため、試験工数の削減が図れることになる
Therefore, compared to conventional visual checks, more accurate judgments can be made, and the checking work can be performed without requiring human labor, thereby reducing the number of testing man-hours.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明を第2図〜第7図を参考に詳細に説明する。 The present invention will be explained in detail below with reference to FIGS. 2 to 7.

第2図は本発明による一実施例の構成図。FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment according to the present invention.

第3図は本発明の表示画面の説明図で、(a)は正面図
、(b)は側面図、第4図は本発明のフローチャート図
、第5図は濃度ヒストグラム図、第6図の(a) (b
)は枠の識別説明図、第7図の(a1) (a2) (
b)(c)はテストパターンの識別説明図を示す。全図
を通じて、同一符号は同一対象物を示す。
3 is an explanatory diagram of the display screen of the present invention, (a) is a front view, (b) is a side view, FIG. 4 is a flowchart of the present invention, FIG. 5 is a density histogram, and FIG. (a) (b
) are explanatory diagrams for identifying frames, (a1) (a2) (
b) and (c) show diagrams for explaining the identification of test patterns. The same reference numerals indicate the same objects throughout the figures.

第2図に示すように、被試験用表示装置1の表示画面1
Aを撮影するカメラ2を配設し、カメラ2よって撮影さ
れた第1と第2の画像データDI、D2が画像処理装置
3に送出されるように構成したものである。
As shown in FIG. 2, the display screen 1 of the display device under test 1
A camera 2 for photographing A is provided, and the first and second image data DI and D2 photographed by the camera 2 are sent to an image processing device 3.

また、被試験用表示装置1とカメラ2との間には外光を
遮蔽するようフード9が設けられており、一方、画像処
理装置3はカメラ2の光学系2Aに設けられた照明8を
点滅させるコントローラ3Aと、第1と第2の画像デー
タDI、D2を識別する識別データ作成部5と、良否の
判定を通知する信号Sを出力するインタフェース部7と
がCPU6のバス6^に接続されることで構成されてい
る。
Furthermore, a hood 9 is provided between the display device under test 1 and the camera 2 to block external light, while the image processing device 3 uses a light 8 provided in the optical system 2A of the camera 2. A controller 3A that causes blinking, an identification data creation unit 5 that identifies the first and second image data DI and D2, and an interface unit 7 that outputs a signal S that notifies pass/fail determination are connected to a bus 6^ of the CPU 6. It is made up of things that are done.

更に、表示画面1Aは第3図の(a) (b)に示すよ
、うに、斜線で示した外枠4Aのテーパ部の枠4の内側
に形成され、表示画面1Aには検査に際して矩形状のテ
ストパターンPが出力される。
Furthermore, as shown in FIGS. 3(a) and 3(b), the display screen 1A is formed inside the frame 4 of the tapered part of the outer frame 4A indicated by diagonal lines, and a rectangular shape is formed on the display screen 1A during inspection. A test pattern P is output.

この場合のテストパターンPの大きさは点線で示す高さ
CL幅C2の最大表示エリヤIBより多少小さく形成さ
れている。
The size of the test pattern P in this case is formed to be somewhat smaller than the maximum display area IB having the height CL width C2 shown by the dotted line.

そこで、枠4の撮影は照明8を点灯するのみで行い、テ
ストパターンPの撮影は照明8を消灯させ、更に、テス
トパターンPを表示画面1Aに出力することで行うよう
コントローラ3Aによって制御され、枠4とテストパタ
ーンPとの第1と第2の画像データDI、D2の取り込
みが行われる。
Therefore, the controller 3A controls the frame 4 to be photographed by simply turning on the illumination 8, and the test pattern P to be photographed by turning off the illumination 8 and further outputting the test pattern P to the display screen 1A. The first and second image data DI and D2 of the frame 4 and the test pattern P are captured.

また、第1と第2の画像データ01.02の入力が行わ
れる識別データ作成部5は、第1と第2の画像データD
i、D2をA/D変換するカメラインタフェース5Aと
、デジタル化された第1と第2の画像データ0.1.D
2を格納するフレームメモリ5Bと、識別プログラムを
格納したROM5Cと、デジタル化された画像データD
を識別プログラムの指令によって、枠4の第1の画像デ
ータD1およびテストパターンPの第2の画像データD
2を識別し、演算するハードプロセッサ5Eと、第1と
第2の画像データ01.02によって作成された第1と
第2の識別データD11.012を格納するRAM5D
とによって構成されている。
Further, the identification data creation unit 5 to which the first and second image data 01.02 are inputted is configured to input the first and second image data D.
i, a camera interface 5A that performs A/D conversion of D2, and digitized first and second image data 0.1. D
2, a ROM 5C that stores the identification program, and digitized image data D.
According to the instructions of the identification program, the first image data D1 of frame 4 and the second image data D of test pattern P are
2, and a RAM 5D that stores first and second identification data D11.012 created from the first and second image data 01.02.
It is composed of.

したがって、表示画面1Aの画像品質は第4図に示す順
序によってチェックを行う。
Therefore, the image quality of the display screen 1A is checked in the order shown in FIG.

先づ、コントローラ3Aの制御によって照明8を点灯し
、カメラ2によって枠4を撮影した第1の画像データD
1を取り込む、この場合、照明8による照射光は平坦な
外枠4への個所では小さく、枠4のテーパの個所では大
きくなるように照明8が配設されている。
First, the illumination 8 is turned on under the control of the controller 3A, and the frame 4 is photographed by the camera 2 to obtain first image data D.
In this case, the illumination 8 is arranged so that the light irradiated by the illumination 8 is small at a flat portion of the outer frame 4 and becomes large at a tapered portion of the frame 4.

そこで、カメラインタフェース5Aでは第5図に示すよ
うに、第1の画像データDIに於けるO〜255階調の
各濃度に対応した画素数をカウントし、濃度ヒストグラ
ムを作成する。
Therefore, as shown in FIG. 5, the camera interface 5A counts the number of pixels corresponding to each density of 0 to 255 gradations in the first image data DI, and creates a density histogram.

この場合、枠4の総画素数は、予め、既知であるため、
枠4の総画素数に等しくなる面積を濃度ヒストグラムの
明るい方から積算することで斜線のE部で示す面積を求
め、この時の濃度tをスライスレベルとして決定し、濃
度tを基準に二値化することで、第1の画像データD1
をデジタル信号に変換し、変換後、フレームメモリ5B
に格納を行う。
In this case, since the total number of pixels in frame 4 is known in advance,
The area indicated by the diagonal line E is calculated by integrating the area equal to the total number of pixels in frame 4 from the brightest side of the density histogram.The density t at this time is determined as the slice level, and the density t is determined as the slice level. By converting the first image data D1
is converted into a digital signal, and after conversion, the frame memory 5B
is stored.

次に、第6図の(a)に示すように、フレームメモリ5
Bの中心線Fl、F2を基準に等ピッチ間隔で各辺を1
0〜20個所のスキャンを行い、フレームメモリ5Bに
格納されたデジタル信号化された第1の画像データD1
の0′から1′に変化する座標Xi。
Next, as shown in FIG. 6(a), the frame memory 5
1 on each side at equal pitch intervals based on the center lines Fl and F2 of B.
0 to 20 locations are scanned and the first image data D1 is converted into a digital signal and stored in the frame memory 5B.
The coordinate Xi changes from 0' to 1'.

Yiを検出し、位置座標を求める。Detect Yi and find the position coordinates.

このように検出した座標Xi、Yiによる識別データD
11をRAM5Dに格納し、それぞれの座標Xi、Yi
に最もフィツトする直線を以下に示す(1)、 (2)
式の最小二乗法によって算出し、第1の識別データD1
1を(b)に示すように形成することを行う。
Identification data D based on the coordinates Xi and Yi detected in this way
11 in the RAM 5D, and the respective coordinates Xi, Yi
The straight lines that best fit are shown below (1), (2)
The first identification data D1 is calculated by the least squares method of the formula
1 is formed as shown in (b).

但し、求める直線がY =AX+8で示されるものとす
ると、 このように算出された各辺の直線に対する傾き01〜θ
4を第6図の(b)に示すように算出し、更に、(3)
式によって各辺に於ける平均の傾きθを算出することが
できる。
However, assuming that the straight line to be sought is represented by Y = AX + 8, the slope of each side calculated in this way with respect to the straight line is 01 ~ θ
4 is calculated as shown in FIG. 6(b), and further, (3)
The average slope θ on each side can be calculated using the formula.

θ=1/4(θ1+θ2+θ3+θ4)・・・(3)ま
た、各辺によって形成されたコーナを対角線で結ぶこと
で交点によって中心Gを求めることができる。
θ=1/4 (θ1+θ2+θ3+θ4) (3) Furthermore, by connecting the corners formed by each side with diagonal lines, the center G can be found from the intersection point.

このような演算は全てCPU6の制御下に於いて、RO
M5Gに格納された演算プログラムの指令によりハード
演算プロセッサ5Eを実行させることで行われる。
All such calculations are performed under the control of the CPU 6.
This is performed by causing the hardware processor 5E to execute according to instructions from the arithmetic program stored in the M5G.

更に、次には、コントローラ3Aの制御によって照明8
を消灯し、表示画面1AにテストパターンPを出力させ
、カメラ2によってテストパターンPを撮影した第2の
画像データD2を取り込むことを行う。
Furthermore, next, the lighting 8 is controlled by the controller 3A.
is turned off, the test pattern P is output on the display screen 1A, and second image data D2 obtained by photographing the test pattern P is captured by the camera 2.

第2の画像データD2が取り込まれたカメラインタフェ
ース5Aでは、前述の第1の画像データ01の場合と同
様にA/D変換を行い、フレームメモリ5Bに格納する
The camera interface 5A that has taken in the second image data D2 performs A/D conversion in the same manner as in the case of the first image data 01 described above, and stores it in the frame memory 5B.

次に、デジタル信号化されることでフレームメモリ5B
に格納された第2の画像データD2をフレームメモリ5
Bの中心点Gを中心に前述の検出した傾きθによって回
転させ、第7図の(a1)に示す状態から(a2)に示
す状態にする。
Next, the frame memory 5B is converted into a digital signal.
The second image data D2 stored in the frame memory 5
It is rotated about the center point G of B by the previously detected inclination θ, and the state shown in (a1) of FIG. 7 is changed to the state shown in (a2).

この回転によって撮影時の被試験用表示装置1の傾き、
または、カメラ2自身の傾きを補正し、フレームメモリ
5Bに於ける中心線Fl、F2に枠4の姿勢を合致せる
This rotation causes the tilt of the display device 1 under test during photographing,
Alternatively, the tilt of the camera 2 itself is corrected to match the attitude of the frame 4 with the center lines Fl and F2 in the frame memory 5B.

そこで、第7図の(b)に示すように、フレームメモリ
5Bのメモリ領域の4辺を基準として前述の第1の画像
データD1を検出識別した場合と同様に所定のピッチの
スキャンによってテストパターンPによる第2の画像デ
ータD2の座標を検出する。
Therefore, as shown in FIG. 7(b), a test pattern is created by scanning at a predetermined pitch, similar to the case where the first image data D1 is detected and identified using the four sides of the memory area of the frame memory 5B as a reference. The coordinates of the second image data D2 based on P are detected.

このようにして検出された座標Xii、Yiiに最もフ
ィツトする直線を前述の(1)、 (2)式を用いた最
小二乗法によって算出し、(c)に示す第2の識別デー
タ012を形成し、各辺に於ける傾きΦ1.Φ2.Φ3
、Φ4を求める。
The straight line that best fits the coordinates Xii and Yii detected in this way is calculated by the least squares method using the above-mentioned equations (1) and (2), and the second identification data 012 shown in (c) is formed. And the slope Φ1 on each side. Φ2. Φ3
, find Φ4.

最後に、各4辺のコーナを算出し、そのコーナを対角線
で結び、対角線の交点によって中心G1の算出を行う。
Finally, the corners of each of the four sides are calculated, the corners are connected by diagonals, and the center G1 is calculated from the intersection of the diagonals.

したがって、フレームメモリ5Bの中心Gと第2の画像
データD2の識別によって算出された中心G1との位置
ずれ量σが所定の規格内であるかどうかによって位置ず
れの判定を行い、また、各辺の傾きΦ1〜Φ4の平均値
の傾きΦを前述の(3)式と同様に行うことで算出し、
傾きΦが所定の規格内であるかどうかによって傾きの判
定を行う。
Therefore, the positional deviation is determined based on whether the positional deviation amount σ between the center G of the frame memory 5B and the center G1 calculated by identifying the second image data D2 is within a predetermined standard. Calculate the slope Φ of the average value of slope Φ1 to Φ4 by performing the same as the above-mentioned equation (3),
The slope is determined based on whether the slope Φ is within a predetermined standard.

そこで、位置ずれ量σ、または、傾きΦのいづれかが所
定の規格よりオーバすることで不良と判定された場合は
インタフェース部7より信号Sが出力される。
Therefore, if either the positional deviation amount σ or the slope Φ exceeds a predetermined standard and it is determined to be defective, the interface section 7 outputs a signal S.

また、位置ずれ量σ、または、傾きΦのいづれも所定の
規格内であれば良品と判定され、次の被試験用表示装置
1に対するチェックが繰り返すことで行われる。
Further, if either the positional deviation amount σ or the inclination Φ is within a predetermined standard, it is determined that the product is good, and the next display device 1 to be tested is checked by repeating the check.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、被試験用表示装
置にテストパターンを出力させることでカメラによって
盪影した第1と第2の画像を識別することで被試験用表
示装置の表示画面に於ける位置ずれ、および、傾きを検
出し、該表示画面の品質のチェックを行うことができる
As described above, according to the present invention, the display screen of the display device under test is changed by causing the display device under test to output a test pattern and identifying the first and second images captured by the camera. It is possible to check the quality of the display screen by detecting positional deviations and inclinations in the display screen.

したがって、従来の目視によるチェックに比較して、信
頼性の高い検査が行えることで品質の向上が図れると共
に、チェック作業の工数の削減を図ることができ、実用
的効果は大である。
Therefore, compared to conventional visual checks, it is possible to improve quality by performing highly reliable inspections, and to reduce the number of man-hours required for checking, which has great practical effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理説明図。 第2図は本発明による一実施例の構成図。 第3図は本発明の表示画面の説明図で、(a)は正面図
、(b)は側面図。 第4図は本発明のフローチャート図。 第5図は濃度ヒストグラム図。 第6図の(a)(b)は枠の識別説明図。 第7図の(a1) (a2) (b) (c)はテスト
ハターンノ識別説明図 第8図は従来の説明図で、(a)は斜視図、 (b1)
は表示画面の正面図、 (b2)はテストパターンの検
出説明図を示す。 図において、 1は被試験用表示装置、 2はカメラ。 3は画像処理装置、   4は枠。 5は識別データ作成部、 6はcpu。 7はインターフェース部、LAは表示画面。 本発明の原理説明図 第1図 Pテストパターン 第 図 1△表示画面 (b) 本発明の1!水表面の説明図 本発明のフローチマー ト図 濃度ヒストグラA図 第5図 粋 の箪 別 貌 明 図 第 図 テストパターンの識別況明図 那 図
FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention. FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment according to the present invention. FIG. 3 is an explanatory diagram of the display screen of the present invention, in which (a) is a front view and (b) is a side view. FIG. 4 is a flow chart diagram of the present invention. Figure 5 is a density histogram. (a) and (b) of FIG. 6 are explanatory diagrams for identifying frames. (a1) (a2) (b) (c) of Fig. 7 are explanatory diagrams for identifying the test pattern. Fig. 8 is an explanatory diagram of the conventional method. (a) is a perspective view.
(b2) shows a front view of the display screen, and (b2) shows an explanatory diagram of test pattern detection. In the figure, 1 is a display device under test, and 2 is a camera. 3 is an image processing device, 4 is a frame. 5 is an identification data creation unit, and 6 is a CPU. 7 is the interface section, and LA is the display screen. Diagram for explaining the principle of the present invention Fig. 1 P test pattern Fig. 1 △ display screen (b) 1 of the present invention! Explanatory diagram of the water surface Flowchart diagram of the present invention Density histogram A diagram

Claims (1)

【特許請求の範囲】 テストパターン(P)を表示する被試験用表示装置(1
)と、 該テストパターン(P)および該被試験用表示装置(1
)の枠(4)を撮影するカメラ(2)と、該枠(4)を
撮影した第1の画像データ(D1)と該テストパターン
(P)を撮影した第2の画像データ(D2)とを識別す
る画像処理装置(3)とを備え、該被試験用表示装置(
1)に於ける画質をチェックする画質検査装置であって
、 前記第1の画像データ(D1)により前記枠(4)の識
別を行った第1の識別データ(D11)と前記第2の画
像データ(D2)により前記テストパターン(P)の識
別を行った第2の識別データ(D12)とを作成する識
別データ作成部(5)と、 該第1の識別データ(D11)を基準に該第2の識別デ
ータ(D12)を比較し、該被試験用表示装置(1)に
於ける表示画面(1A)の位置ずれ(σ)および傾き(
Φ)を算出するよう制御し、良否の判定を行うCPU(
6)と、 該良否の判定により信号(S)を出力するインタフェー
ス部(7)とによって前記画像処理装置(3)を形成す
ることを特徴とする画質検査装置。
[Claims] Display device under test (1) that displays a test pattern (P)
), the test pattern (P) and the display device under test (1
), a camera (2) that photographs the frame (4), first image data (D1) that photographs the frame (4), and second image data (D2) that photographs the test pattern (P). an image processing device (3) for identifying the display device under test (3);
An image quality inspection device for checking the image quality in step 1), wherein the first identification data (D11) identifying the frame (4) using the first image data (D1) and the second image an identification data creation unit (5) that creates second identification data (D12) that identifies the test pattern (P) based on the data (D2); The second identification data (D12) are compared, and the positional deviation (σ) and tilt (σ) of the display screen (1A) in the display device under test (1) are compared.
The CPU (
6) and an interface unit (7) that outputs a signal (S) based on the quality determination, forming the image processing device (3).
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5825414A (en) * 1994-06-13 1998-10-20 Display Laboratories, Inc. Method and apparatus for making corrections in a video monitor during horizontal scan
US6052146A (en) * 1994-06-13 2000-04-18 Display Laboratories, Inc. Alignment of a video monitor using an on-screen display chip and a gain matrix table
US7155119B2 (en) 2004-08-17 2006-12-26 Dialog Imaging Systems Gmbh Multi-processing of a picture to speed up mathematics and calculation for one picture
US7248347B2 (en) 2004-08-17 2007-07-24 Dialog Imaging Systems Gmbh Focus processing with the distance of different target wheels
JP2007185876A (en) * 2006-01-13 2007-07-26 Dainippon Printing Co Ltd Booklet sending material
CN100344164C (en) * 2004-11-03 2007-10-17 南京Lg同创彩色显示系统有限责任公司 Image quality tester for plasma display device
US7403229B2 (en) 2004-08-17 2008-07-22 Digital Imaging Systems Gmbh Testing of miniaturized digital camera modules with electrical and/or optical zoom functions
US7486309B2 (en) 2004-08-17 2009-02-03 Digital Imaging Systems Gmbh Digital camera module test system
US7505064B2 (en) 2004-08-17 2009-03-17 Digital Imaging Systems Gmbh Camera handling system
US7567273B2 (en) 2004-10-12 2009-07-28 Digital Imaging Systems Gmbh Multiple frame grabber
US7697031B2 (en) 2004-08-17 2010-04-13 Digital Imaging Systems Gmbh Intelligent light source with synchronization with a digital camera
JP2011123106A (en) * 2009-12-08 2011-06-23 Canon Inc Inspection apparatus, control method and program of inspection apparatus

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5825414A (en) * 1994-06-13 1998-10-20 Display Laboratories, Inc. Method and apparatus for making corrections in a video monitor during horizontal scan
US6052146A (en) * 1994-06-13 2000-04-18 Display Laboratories, Inc. Alignment of a video monitor using an on-screen display chip and a gain matrix table
US7403229B2 (en) 2004-08-17 2008-07-22 Digital Imaging Systems Gmbh Testing of miniaturized digital camera modules with electrical and/or optical zoom functions
US7248347B2 (en) 2004-08-17 2007-07-24 Dialog Imaging Systems Gmbh Focus processing with the distance of different target wheels
US7155119B2 (en) 2004-08-17 2006-12-26 Dialog Imaging Systems Gmbh Multi-processing of a picture to speed up mathematics and calculation for one picture
US7486309B2 (en) 2004-08-17 2009-02-03 Digital Imaging Systems Gmbh Digital camera module test system
US7505064B2 (en) 2004-08-17 2009-03-17 Digital Imaging Systems Gmbh Camera handling system
US7697031B2 (en) 2004-08-17 2010-04-13 Digital Imaging Systems Gmbh Intelligent light source with synchronization with a digital camera
US7948519B2 (en) 2004-08-17 2011-05-24 Digital Imaging Systems Gmbh Intelligent light source with synchronization with a digital camera
US7965316B2 (en) 2004-08-17 2011-06-21 Digital Imaging Systems Gmbh Intelligent light source with synchronization with a digital camera
US7567273B2 (en) 2004-10-12 2009-07-28 Digital Imaging Systems Gmbh Multiple frame grabber
CN100344164C (en) * 2004-11-03 2007-10-17 南京Lg同创彩色显示系统有限责任公司 Image quality tester for plasma display device
JP2007185876A (en) * 2006-01-13 2007-07-26 Dainippon Printing Co Ltd Booklet sending material
JP4684898B2 (en) * 2006-01-13 2011-05-18 大日本印刷株式会社 Booklet delivery
JP2011123106A (en) * 2009-12-08 2011-06-23 Canon Inc Inspection apparatus, control method and program of inspection apparatus

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